JPH10255223A - Manufacture of magnetic head - Google Patents

Manufacture of magnetic head

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JPH10255223A
JPH10255223A JP5965197A JP5965197A JPH10255223A JP H10255223 A JPH10255223 A JP H10255223A JP 5965197 A JP5965197 A JP 5965197A JP 5965197 A JP5965197 A JP 5965197A JP H10255223 A JPH10255223 A JP H10255223A
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JP
Japan
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coil
magnetic
conductive material
film
magnetic head
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Withdrawn
Application number
JP5965197A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuka Monma
由香 門馬
Teruyuki Inaguma
輝往 稲熊
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a recess to form a coil not including level-different area to control breaking of coil by previously forming a resist layer thinner than the resist to become a mask on a conductive material in the etching region at the time of etching. SOLUTION: A recess to form a coil 29 is formed, by the etching process, to the area between the area filled with the low melting point glass 26 the terminal groove 27 filled with a conductive material 28 on the joining surface of the nonmagnetic substrates 20, 21. Since the etching rate of the low melting point glass 26 is higher than that of the conductive material 28, a resist layer 31 in the predetermined thickness is previously formed on the conductive material 28. Therefore, difference in amount of etching is alleviated and the recess 29 to form a coil. not including level-different area can be formed. Accordingly, the thin film coil formed in the recess 29 to form the coil can be well connected to the conductive material 28 to control the generation of breaking of the coil and improve the manufacturing yield.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、少なくとも一方に
薄膜コイルが形成された一対の磁気コア半体が接合一体
化され、接合面に磁気ギャップが形成されてなる磁気ヘ
ッドの製造方法に関し、詳しくは、コイルを形成するた
めの凹部に段差を生じさせないようにした磁気ヘッドの
製造方法に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing a magnetic head in which a pair of magnetic core halves having at least one thin-film coil formed thereon are joined and integrated, and a magnetic gap is formed on a joining surface. The present invention relates to a method of manufacturing a magnetic head in which no step is formed in a concave portion for forming a coil.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、ビデオカセットレコーダ(V
CR)用の磁気ヘッドとして、単結晶フェライト等から
なる一対の磁気コア半体のそれぞれの磁気ギャップ形成
面に金属磁性膜を成膜し、この一対の磁気コア半体を磁
気ギャップ形成面を突き合わせ面として接合一体化して
なるいわゆるメタル・イン・ギャップ(MIG)型の磁
気ヘッドや、非磁性セラミック基板で金属磁性膜を挟み
込んだ形のいわゆる積層型磁気ヘッドが提案され、実用
化されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a video cassette recorder (V
As a magnetic head for CR), a metal magnetic film is formed on each magnetic gap forming surface of a pair of magnetic core halves made of single crystal ferrite or the like, and this pair of magnetic core halves is joined to the magnetic gap forming surface. A so-called metal-in-gap (MIG) type magnetic head which is integrally joined as a surface and a so-called laminated type magnetic head in which a metal magnetic film is sandwiched between nonmagnetic ceramic substrates have been proposed and put into practical use.

【0003】ところで、VCR等の磁気記録再生装置に
おいては、画質を向上させるために信号をデジタル化し
て記録するデジタル記録が進められており、これに対応
して記録の高密度化、記録周波数の高周波数化がなされ
ている。そして、VCRに搭載される磁気ヘッドもより
高周波帯域で良好な電磁変換特性を示すことができるも
のが望まれている。また、VCR用の磁気ヘッドとして
は、小さなドラムに複数個搭載できるように小型化が望
まれている。
In a magnetic recording / reproducing apparatus such as a VCR, digital recording for digitizing and recording a signal has been promoted in order to improve image quality. In response to this, recording density has been increased and recording frequency has been increased. Higher frequencies are being used. Also, a magnetic head mounted on a VCR is desired to exhibit good electromagnetic conversion characteristics in a higher frequency band. Further, it is desired to reduce the size of a magnetic head for a VCR so that a plurality of magnetic heads can be mounted on a small drum.

【0004】しかしながら、上述したMIG型の磁気ヘ
ッドは、インピーダンスが大きく高周波帯域での使用に
適さない。また、積層型の磁気ヘッドは、高密度記録化
によるトラック幅の減少にともない磁路を構成する金属
磁性膜の膜厚を減少させる必要があるため、再生効率が
低下する上に、ヘッドの小型化にもある程度の限界があ
る。
However, the above-mentioned MIG type magnetic head has a large impedance and is not suitable for use in a high frequency band. In addition, in the stacked magnetic head, it is necessary to reduce the thickness of the metal magnetic film constituting the magnetic path in accordance with the reduction of the track width due to the high density recording, so that the reproduction efficiency is reduced and the size of the head is reduced. There are some limits to the conversion.

【0005】そこで、高周波帯域で良好な電磁変換特性
を示すことのできる磁気ヘッドとして、上述したMIG
型の磁気ヘッドや積層型の磁気ヘッドよりも金属磁性膜
で構成される磁路を小さくすると共に、コイルを薄膜形
成工程によって形成した磁気ヘッド(以下、バルク薄膜
型磁気ヘッドという。)が提案されている。
[0005] Therefore, as a magnetic head capable of exhibiting good electromagnetic conversion characteristics in a high frequency band, the above-mentioned MIG is used.
A magnetic head (hereinafter, referred to as a bulk thin-film magnetic head) in which a magnetic path formed of a metal magnetic film is made smaller than that of a conventional magnetic head or a stacked magnetic head and a coil is formed by a thin film forming process is proposed. ing.

【0006】このバルク薄膜型磁気ヘッドは、非磁性基
板に磁気コアとして金属磁性膜が形成されてなる一対の
磁気コア半体が接合一体化され、接合面間に磁気ギャッ
プが形成されている。そして、このバルク薄膜型磁気ヘ
ッドは、一対の磁気コア半体のうち少なくとも一方の磁
気コア半体の接合面に薄膜コイルが形成されている。
In this bulk thin-film magnetic head, a pair of magnetic core halves each having a metal magnetic film formed as a magnetic core on a non-magnetic substrate are joined and integrated, and a magnetic gap is formed between joining surfaces. In this bulk thin-film magnetic head, a thin-film coil is formed on a joining surface of at least one of the pair of magnetic core halves.

【0007】この薄膜コイルを形成する際には、まず、
低融点ガラスが充填された磁気コア半体の接合面に、コ
イル形状に応じた形状のコイル形成用の凹部がイオンエ
ッチング等の方法により形成される。そして、この凹部
内に、電解メッキ法等の方法により、Cu等からなる薄
膜コイルが形成される。
In forming this thin-film coil, first,
A concave portion for coil formation having a shape corresponding to the coil shape is formed on the joint surface of the magnetic core half filled with the low melting point glass by a method such as ion etching. Then, a thin film coil made of Cu or the like is formed in the concave portion by a method such as an electrolytic plating method.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このバルク
薄膜型磁気ヘッドは、磁気コア半体の接合面に、コイル
の端子を外部に引き出すための端子溝が形成され、この
端子溝内にCu等の導電材料が充填されている。そし
て、薄膜コイルは、その一端がこの端子溝内の導電材料
に接続されるように形成される。
In this bulk thin-film magnetic head, a terminal groove is formed on the joining surface of the magnetic core halves for leading out the terminals of the coil to the outside. Is filled with the conductive material. The thin-film coil is formed such that one end thereof is connected to the conductive material in the terminal groove.

【0009】したがって、コイル形成用の凹部は、コイ
ルの一端を導電材料に接続させるために、磁気コア半体
の低融点ガラスが充填された個所から導電材料が充填さ
れた端子溝にかけて形成される。
Therefore, the concave portion for forming the coil is formed from the portion of the magnetic core half filled with the low melting point glass to the terminal groove filled with the conductive material in order to connect one end of the coil to the conductive material. .

【0010】しかしながら、導電材料と低融点ガラスと
は、エッチングレートが異なるために、そのままコイル
形成用凹部を形成しようとしたのでは、導電材料のエッ
チング量と低融点ガラスのエッチング量とに差が生じ、
図15に示すように、コイル形成用凹部100内に段差
101が形成されてしまう。例えば、導電材料102に
Cuを用いた場合、導電材料102のエッチングレート
は0.0232μm/minであり、一方、低融点ガラ
ス103のエッチングレートは0.0196μm/mi
nである。したがって、イオンエッチングにより306
分間エッチングを行った場合、導電材料102のエッチ
ング量は約7μm、低融点ガラス103のエッチング量
は約6μmとなり、約1μmの段差101が形成されて
しまう。
However, since the etching rate is different between the conductive material and the low-melting glass, if the concave portion for forming the coil is to be formed as it is, there is a difference between the etching amount of the conductive material and the etching amount of the low-melting glass. Arises
As shown in FIG. 15, a step 101 is formed in the coil forming recess 100. For example, when Cu is used for the conductive material 102, the etching rate of the conductive material 102 is 0.0232 μm / min, while the etching rate of the low-melting glass 103 is 0.0196 μm / mi.
n. Therefore, 306 is obtained by ion etching.
When etching is performed for one minute, the etching amount of the conductive material 102 is about 7 μm, and the etching amount of the low melting point glass 103 is about 6 μm, so that a step 101 of about 1 μm is formed.

【0011】このように、コイル形成用凹部100内に
段差101が形成されてしまうと、段差101の壁部1
01aにコイルの材料となるCu等をメッキ成長させる
ことが困難で、コイルに断線を生じさせ、製造歩留まり
を低下させてしまう。
As described above, when the step 101 is formed in the coil forming recess 100, the wall portion 1 of the step 101
It is difficult to grow Cu or the like, which is the material of the coil, by plating on 01a, which causes disconnection of the coil and lowers the production yield.

【0012】そこで、本発明は、段差のないコイル形成
用凹部を形成し、コイルの断線を抑制することにより製
造歩留まりを向上させる磁気ヘッドの製造方法を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a magnetic head in which a coil-forming concave portion having no step is formed and the disconnection of the coil is suppressed to improve the manufacturing yield.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気ヘッド
の製造方法は、磁気コア半体の接合面のコイル形成領域
にガラスを充填するとともに、コイルの端子位置に対応
して導電材料を埋め込んだ後、これらガラス及び導電材
料をレジストをマスクとしてエッチングしてコイル形状
に応じた凹部を形成し、この凹部内に薄膜コイルを形成
する磁気ヘッドの製造方法において、エッチングの際
に、マスクとなるレジストよりも厚さの薄いレジスト層
を予めエッチング領域の導電材料上に形成しておくこと
を特徴としている。
In a method of manufacturing a magnetic head according to the present invention, a coil forming region on a joining surface of a magnetic core half is filled with glass, and a conductive material is embedded corresponding to a terminal position of the coil. Thereafter, the glass and the conductive material are etched using a resist as a mask to form a concave portion corresponding to the coil shape, and in a method of manufacturing a magnetic head in which a thin film coil is formed in the concave portion, it becomes a mask at the time of etching. It is characterized in that a resist layer thinner than the resist is formed in advance on the conductive material in the etching region.

【0014】この磁気ヘッドの製造方法によれば、導電
材料上に予め形成されたレジスト層が、ガラスと導電材
料とのエッチングレートの違いによるエッチング量の差
を緩和するので、段差のない凹部が形成される。
According to this method of manufacturing a magnetic head, the resist layer formed in advance on the conductive material reduces the difference in the etching amount due to the difference in the etching rate between the glass and the conductive material. It is formed.

【0015】すなわち、ガラスと導電材料とのエッチン
グレートの違いとエッチング時間とから、そのエッチン
グ量の差を算出し、このエッチング量の差に応じた厚さ
のレジスト層を予め導電材料上に形成してエッチングを
行うことにより、導電材料のエッチング量がガラスのエ
ッチング量と略同じとすることができ、段差のない凹部
が形成される。
That is, the difference in the amount of etching is calculated from the difference in the etching rate between the glass and the conductive material and the etching time, and a resist layer having a thickness corresponding to the difference in the amount of etching is previously formed on the conductive material. By performing the etching, the amount of etching of the conductive material can be made substantially the same as the amount of etching of the glass, and a concave portion having no step is formed.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施の形
態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0017】バルク薄膜型磁気ヘッド1は、図1(A)
に全体斜視図で、図1(B)に要部拡大斜視図で示すよ
うに、非磁性基板2に磁気コアとなる金属磁性膜3がス
パッタリング法等によって形成された一対の磁気コア半
体4,5が、低温金属拡散接合によって接合一体化さ
れ、接合面間に磁気ギャップGが形成されてなる。そし
て、このバルク薄膜型磁気ヘッド1は、一対の磁気コア
半体4,5のうち少なくとも一方の磁気コア半体4の接
合面に、図示しないコイル形成用凹部が形成され、この
コイル形成用凹部内に励磁用又は誘導起電圧検出用の薄
膜コイル6が形成されている。
The bulk thin-film magnetic head 1 is shown in FIG.
1B, a pair of magnetic core halves 4 each having a metal magnetic film 3 serving as a magnetic core formed on a non-magnetic substrate 2 by a sputtering method or the like, as shown in an enlarged perspective view of a main part in FIG. , 5 are bonded and integrated by low-temperature metal diffusion bonding, and a magnetic gap G is formed between the bonding surfaces. The bulk thin-film magnetic head 1 has a coil-forming recess (not shown) formed on a joining surface of at least one of the pair of magnetic core halves 4 and 5. A thin film coil 6 for exciting or detecting an induced electromotive voltage is formed therein.

【0018】また、このバルク薄膜型磁気ヘッド1は、
金属磁性膜3が形成された一対の磁気コア半体4,5の
接合面に、金属磁性膜3の接合面側の一部を分離するよ
うに、巻線溝7が形成されている。したがって、このバ
ルク薄膜型磁気ヘッド1においては、磁気ギャップG
は、この巻線溝7によって作動ギャップであるフロント
ギャップ8とバックギャップ9とに分離されている。
The bulk thin-film magnetic head 1 has the following features.
A winding groove 7 is formed in the joining surface of the pair of magnetic core halves 4 and 5 on which the metal magnetic film 3 is formed so as to separate a part of the joining surface side of the metal magnetic film 3. Therefore, in the bulk thin film magnetic head 1, the magnetic gap G
Are separated into a front gap 8 and a back gap 9 which are operating gaps by the winding grooves 7.

【0019】また、このバルク薄膜型磁気ヘッド1は、
図2に示すように、一対の磁気コア半体4,5の接合面
に、コイル端子を外部に引き出すための端子溝10が形
成され、この端子溝10内に導電材料11が充填されて
いる。そして、バルク薄膜型磁気ヘッド1は、薄膜コイ
ル6の一端が、この端子溝10内の導電材料11に接続
されるように形成され、コイル端子を外部に引き出すよ
うになされている。
The bulk thin-film magnetic head 1 has the following features.
As shown in FIG. 2, a terminal groove 10 for leading a coil terminal to the outside is formed on a joint surface of the pair of magnetic core halves 4 and 5, and the terminal groove 10 is filled with a conductive material 11. . The bulk thin-film magnetic head 1 is formed such that one end of the thin-film coil 6 is connected to the conductive material 11 in the terminal groove 10, and the coil terminal is drawn out.

【0020】そして、このバルク薄膜型磁気ヘッド1
は、例えばVCR等に搭載され、フロントギャップ8側
の媒体摺動面を磁気記録媒体が摺動することにより、磁
気記録媒体に対して信号を記録し又は信号磁界を再生す
る。
The bulk thin-film magnetic head 1
Is mounted on, for example, a VCR or the like, and records a signal on the magnetic recording medium or reproduces a signal magnetic field by sliding the magnetic recording medium on the medium sliding surface on the front gap 8 side.

【0021】ところで、以上のように構成されるバルク
薄膜型磁気ヘッド1は、複数個の磁気コア半体が同一基
板上に形成される。そして、このバルク薄膜型磁気ヘッ
ド1は、この基板を一対貼り合わせ、個々のヘッドごと
に切り離すことにより形成される。
The bulk thin-film magnetic head 1 configured as described above has a plurality of magnetic core halves formed on the same substrate. The bulk thin-film magnetic head 1 is formed by bonding a pair of the substrates and separating the individual substrates.

【0022】以下、このバルク薄膜型磁気ヘッド1の製
造方法について、詳細に説明する。
Hereinafter, a method of manufacturing the bulk thin-film magnetic head 1 will be described in detail.

【0023】まず、図3に示すように、一対の略平板状
の非磁性基板材20,21が準備される。この非磁性基
板材20,21は、最終的に切断されて上述したバルク
薄膜型磁気ヘッド1の非磁性基板2となるものであり、
摺動特性、摩耗特性が良好で機械化構成に優れた材料が
用いられ、例えば、チタン酸カルシウム,チタン酸カリ
ウム,チタン酸バリウム,酸化ジルコニウム(ジルコニ
ア),アルミナ,アルミナチタンカーバイト,SI
2 ,MnO―NiO混合焼結材,Znフェライト,結
晶化ガラス,高硬度ガラス等が用いられる。本例におい
ては、厚さが約2mm、長さ及び幅が約30mmのMn
O―NiO混合焼結材を用いている。
First, as shown in FIG. 3, a pair of substantially flat non-magnetic substrate members 20 and 21 are prepared. The non-magnetic substrate members 20 and 21 are finally cut to become the non-magnetic substrate 2 of the bulk thin-film magnetic head 1 described above.
Materials having good sliding characteristics and wear characteristics and excellent mechanized composition are used. For example, calcium titanate, potassium titanate, barium titanate, zirconium oxide (zirconia), alumina, alumina titanium carbide, SI
O 2 , MnO—NiO mixed sintered material, Zn ferrite, crystallized glass, high hardness glass and the like are used. In this example, Mn having a thickness of about 2 mm, a length and a width of about 30 mm
An O—NiO mixed sintered material is used.

【0024】そして、図4に示すように、この一対の非
磁性基板材20,21のそれぞれの主面20a,21a
上に、この主面20a,21aに対し所定の角度をもっ
て傾斜する傾斜面22aを有する磁気コア形成用溝22
が複数列形成される。この磁気コア形成用溝22の傾斜
面22aの角度は25度から60度の範囲内で設定され
るが、疑似ギャップやトラック幅精度を考慮すると、こ
の傾斜面22aの角度は、35度から50度程度である
ことが望ましい。本例においては、非磁性基板材20,
21の主面20a,21aに対し45度の角度をもって
傾斜する傾斜面22aを有し、その深さが約130μ
m、幅が約150μmとなる磁気コア形成用溝22を形
成する。この磁気コア形成用溝22は、片面を斜めに成
形した砥石を用いて形成される。
Then, as shown in FIG. 4, the main surfaces 20a and 21a of the pair of non-magnetic substrate members 20 and 21 respectively.
A magnetic core forming groove 22 having an inclined surface 22a inclined at a predetermined angle with respect to the main surfaces 20a, 21a.
Are formed in a plurality of rows. The angle of the inclined surface 22a of the magnetic core forming groove 22 is set within the range of 25 degrees to 60 degrees. However, in consideration of the pseudo gap and the track width accuracy, the angle of the inclined surface 22a is 35 degrees to 50 degrees. It is desirable that the degree is about the degree. In this example, the non-magnetic substrate material 20,
21 has an inclined surface 22a inclined at an angle of 45 degrees with respect to the main surfaces 20a, 21a, and has a depth of about 130 μm.
Then, a magnetic core forming groove 22 having a width of about 150 μm is formed. The magnetic core forming groove 22 is formed using a grindstone having one surface formed obliquely.

【0025】次に、図5に示すように、磁気コア形成用
溝22の傾斜面22a上に、金属磁性膜23が、マグネ
トロンスパッタリング法等のPVD法又はCVD法等の
薄膜形成方法により均一の膜厚となるように形成され
る。この金属磁性膜23は、最終的に上述したバルク薄
膜型磁気ヘッド1の磁気コアを構成する金属磁性膜3と
なるものであり、高飽和磁化かつ高透磁率であり、薄膜
化が容易な材料が用いられ、例えば、センダスト(Fe
―Al―Si系合金),Fe―Al系合金,Fe―Si
―Co系合金,Fe―Ga―Si系合金,Fe―Ga―
Si―Ru系合金,Fe―Al―Ge系合金,Fe―G
a―Ge系合金,Fe―Si―Ge系合金,Fe―Co
―Si―Al系合金,Fe―Ni系合金等の結晶質合金
等が用いられる。あるいは、金属磁性膜23は、Fe,
Co,Niのうちの1以上の元素とP,C,B,Siの
うちの1以上の元素とからなる合金、またはこれを主成
分としAl,Ge,Be,Sn,In,Mo,W,T
i,Mn,Cr,Zr,Hf,Nb等を含んだ合金等に
代表されるメタル−メタロイド系アモルファス合金や、
Co,Hf,Zr等の遷移金属と希土類元素を主成分と
するメタル−メタル系アモルファス合金等の非晶質合金
からなるようなものであってもよい。
Next, as shown in FIG. 5, a metal magnetic film 23 is formed on the inclined surface 22a of the magnetic core forming groove 22 by a PVD method such as a magnetron sputtering method or a thin film forming method such as a CVD method. It is formed to have a thickness. The metal magnetic film 23 finally becomes the metal magnetic film 3 constituting the magnetic core of the bulk thin-film magnetic head 1 described above. The metal magnetic film 23 has a high saturation magnetization and a high magnetic permeability, and is a material that can be easily thinned. Is used, for example, Sendust (Fe
-Al-Si alloy), Fe-Al alloy, Fe-Si
-Co alloy, Fe-Ga-Si alloy, Fe-Ga-
Si-Ru alloy, Fe-Al-Ge alloy, Fe-G
a-Ge alloy, Fe-Si-Ge alloy, Fe-Co
Crystalline alloys such as -Si-Al alloys and Fe-Ni alloys are used. Alternatively, the metal magnetic film 23 is made of Fe,
Alloy composed of one or more elements of Co, Ni and one or more elements of P, C, B, Si, or an alloy containing Al, Ge, Be, Sn, In, Mo, W, T
metal-metalloid amorphous alloys typified by alloys containing i, Mn, Cr, Zr, Hf, Nb, etc .;
It may be made of an amorphous alloy such as a metal-metal-based amorphous alloy mainly containing a transition metal such as Co, Hf, or Zr and a rare earth element.

【0026】また、金属磁性膜23は、上述した金属磁
性材料の単層膜であってもよいが、より高周波領域にお
いて高感度を持たせるために、非磁性層により金属磁性
材料を複数の層に分断する積層構造とする方が好まし
い。このように、金属磁性膜23を金属磁性層と非磁性
層との積層構造とすることにより、渦電流損失を低減さ
せることができる。また、この場合、非磁性層の厚さ
は、最低限絶縁効果の得られる厚み以上が必要である
が、疑似ギャップとして作用してしまわない程度の厚み
とする。本例においては、厚さ約5μmのセンダストか
らなる金属磁性層、厚さ約0.15μmのアルミナから
なる非磁性層を交互に積層し、3層の磁性層を有するよ
うにしている。
The metal magnetic film 23 may be a single-layer film of the above-described metal magnetic material. However, in order to provide high sensitivity in a higher frequency region, the metal magnetic material 23 is formed of a non-magnetic layer by a plurality of layers. It is preferable to have a laminated structure in which the structure is divided. As described above, by forming the metal magnetic film 23 to have a laminated structure of the metal magnetic layer and the nonmagnetic layer, eddy current loss can be reduced. In this case, the thickness of the non-magnetic layer is required to be at least a thickness at which an insulating effect can be obtained, but is set to a thickness that does not act as a pseudo gap. In this example, a metal magnetic layer made of sendust having a thickness of about 5 μm and a nonmagnetic layer made of alumina having a thickness of about 0.15 μm are alternately laminated to have three magnetic layers.

【0027】次に、図6に示すように、それぞれの非磁
性基板材20,21の主面20a,21a上に、磁気コ
ア形成用溝22と直交する方向に、分離溝24及び巻線
溝25が交互に複数列形成される。
Next, as shown in FIG. 6, the separation grooves 24 and the winding grooves are formed on the main surfaces 20a and 21a of the non-magnetic substrate members 20 and 21 in a direction orthogonal to the magnetic core forming grooves 22. 25 are alternately formed in a plurality of rows.

【0028】分離溝24は、金属磁性膜23を磁気的に
分離して磁気コアを形成し、最終的にバルク薄膜型磁気
ヘッド1となったときの閉磁路を構成するためのもので
ある。したがって、分離溝24は、金属磁性膜23を確
実に分断するだけの深さが必要であるが、その形状には
制限はない。本例においては、磁気コア形成用溝22の
底辺より約150μm深く、すなわち、約280μmの
深さを有し、断面略コの字状の溝として形成する。
The separation groove 24 is used to magnetically separate the metal magnetic film 23 to form a magnetic core and to form a closed magnetic path when the bulk thin-film magnetic head 1 is finally formed. Therefore, the separation groove 24 needs to have a depth enough to surely divide the metal magnetic film 23, but the shape is not limited. In this example, the groove is formed to have a depth of about 150 μm, that is, a depth of about 280 μm from the bottom of the magnetic core forming groove 22, and has a substantially U-shaped cross section.

【0029】また、この分離溝24は、図6の例示では
2本形成されているが、形成される磁気コア半体の列の
数だけ設ける必要がある。
Although two separation grooves 24 are formed in the example of FIG. 6, it is necessary to provide as many as the number of rows of magnetic core halves to be formed.

【0030】巻線溝25は、後述する工程で形成される
薄膜コイル6の巻き線に供するとともに、最終的にバル
ク薄膜型磁気ヘッド1となったときに、フロントギャッ
プ8とバックギャップ9とを分離するものであり、金属
磁性膜23を切断しない程度の深さ寸法で形成される必
要がある。そして、この巻線溝25は、その形状がフロ
ントギャップ8及びバックギャップ9の長さ寸法に応じ
て決定されるが、ここでは、幅が約140μm程度とさ
れ、フロントギャップ8の長さが約300μmとなり、
バックギャップ9の長さが約85μmとなるように形成
される。なお、この巻線溝25は、金属磁性膜23を切
断することのない程度の深さ寸法でよいが、深すぎると
磁路長が大きくなって磁束伝達の効率が低下する虞れが
ある。
The winding groove 25 is used for winding the thin film coil 6 formed in a step described later, and when the bulk thin film magnetic head 1 is finally formed, the front gap 8 and the back gap 9 are formed. The metal magnetic film 23 must be formed to have such a depth that the metal magnetic film 23 is not cut. The shape of the winding groove 25 is determined according to the length of the front gap 8 and the back gap 9. Here, the width is about 140 μm, and the length of the front gap 8 is about 300 μm,
The back gap 9 is formed to have a length of about 85 μm. The winding groove 25 may have such a depth that the metal magnetic film 23 is not cut. However, if the winding groove 25 is too deep, there is a possibility that the magnetic path length increases and the efficiency of magnetic flux transmission decreases.

【0031】また、この巻線溝25は、最終的にバルク
薄膜型磁気ヘッド1となったときにフロントギャップ8
側の端部が鋭角に絞り込まれた形状となっている方が、
磁束を集中させ、ヘッドの記録感度を向上させることが
できる。したがって、この巻線溝25は、フロントギャ
ップ8側が傾斜した形状に形成することが望ましく、本
例においては、フロントギャップ8側の壁面が45度の
傾斜面となるように形成する。
The winding groove 25 is formed in the front gap 8 when the bulk thin-film magnetic head 1 is finally formed.
If the end on the side is narrowed down to an acute angle,
The magnetic flux can be concentrated, and the recording sensitivity of the head can be improved. Therefore, it is desirable that the winding groove 25 be formed in a shape in which the front gap 8 side is inclined. In this example, the winding groove 25 is formed such that the wall surface on the front gap 8 side has a 45-degree inclined surface.

【0032】次に、図7に示すように、磁気コア形成用
溝22、分離溝24及び巻線溝25が形成された非磁性
基板材20,21の主面20a,21a上に、溶融した
低融点ガラス26が充填される。そして、低融点ガラス
26が充填された非磁性基板材20,21の主面20
a,21aの表面がポリッシング等により平坦化され
る。
Next, as shown in FIG. 7, the magnetic core forming groove 22, the separation groove 24 and the winding groove 25 are melted on the main surfaces 20a and 21a of the non-magnetic substrate members 20 and 21, respectively. The low melting point glass 26 is filled. Then, the main surfaces 20 of the nonmagnetic substrate materials 20 and 21 filled with the low melting point glass 26 are formed.
The surfaces of a and 21a are flattened by polishing or the like.

【0033】次に、図8に示すように、平坦化された非
磁性基板材20,21の主面20a,21a上に、砥石
等を用いた研削加工により端子溝27が形成される。こ
の端子溝27は、上述した分離溝24の直上に位置し、
その幅及び深さが約100μmとなるように形成され
る。そして、この端子溝27内に、Cu等の導電材料2
8が電解メッキ法等により充填され、表面が平坦化され
る。
Next, as shown in FIG. 8, terminal grooves 27 are formed on the main surfaces 20a, 21a of the flattened non-magnetic substrate members 20, 21 by grinding using a grindstone or the like. This terminal groove 27 is located immediately above the above-described separation groove 24,
It is formed so that its width and depth are about 100 μm. Then, a conductive material 2 such as Cu is
8 is filled by an electrolytic plating method or the like, and the surface is flattened.

【0034】次に、図9(A),図9(B)に示すよう
に、平坦化された非磁性基板材20,21の主面20
a,21a上に、コイル形状に応じた形状のコイル形成
用凹部29が形成される。そして、このコイル形成用凹
部29内に、電解メッキ法等の方法により薄膜コイル6
が形成される。
Next, as shown in FIGS. 9A and 9B, the main surfaces 20 of the planarized non-magnetic substrate members 20 and 21 are formed.
A coil-forming recess 29 having a shape corresponding to the coil shape is formed on a and 21a. Then, the thin-film coil 6 is formed in the coil forming recess 29 by a method such as an electrolytic plating method.
Is formed.

【0035】本例においては、イオンエッチングにより
約6μmの深さを有するコイル形成用凹部29を形成
し、このコイル形成用凹部29内に、Cu電解メッキ法
により約4μmのCuメッキを成長させて薄膜コイル6
を形成する。
In this embodiment, a coil forming recess 29 having a depth of about 6 μm is formed by ion etching, and a Cu plating of about 4 μm is grown in the coil forming recess 29 by Cu electroplating. Thin film coil 6
To form

【0036】ところで、薄膜コイル6は、端子を外部に
引き出すために、上述した端子溝27内の導電材料28
に接続されるように形成される必要がある。したがっ
て、コイル形成用凹部29も非磁性基板材20,21の
主面20a,21a上における低融点ガラス26の充填
個所から端子溝27にかけて形成される。
The thin-film coil 6 is provided with a conductive material 28 in the above-described terminal groove 27 in order to extract the terminal to the outside.
It needs to be formed to be connected to Therefore, the coil forming recess 29 is also formed from the portion where the low melting point glass 26 is filled on the main surfaces 20 a and 21 a of the nonmagnetic substrate materials 20 and 21 to the terminal groove 27.

【0037】このコイル形成用凹部29を形成する際
は、まず、図10に示すように、低融点ガラス26が充
填された非磁性基板材20,21の主面20a,21a
上におけるコイル形成用凹部29を形成しない個所に、
レジスト30をパターニングする。
When forming the coil forming recess 29, first, as shown in FIG. 10, the main surfaces 20a, 21a of the nonmagnetic substrate materials 20, 21 filled with the low melting point glass 26 are formed.
In a place where the coil forming recess 29 is not formed,
The resist 30 is patterned.

【0038】このレジスト30は、その厚さが十分でな
いと、エッチング終了前に完全に除去されてしまい、レ
ジスト30の塗布面である低融点ガラス26までエッチ
ングされてしまうことになる。レジスト30の塗布面の
低融点ガラス26がエッチングされてしまうと、コイル
形成用凹部29の深さが相対的に変化してしまい、コイ
ル形成用凹部29の深さを正確な値とすることができな
い。したがって、レジスト30は、コイル形成用凹部2
9のエッチング中には適度な膜厚を保ちながら残ってい
ることが望ましい。そこで、パターニングされるレジス
ト30は、エッチング面となる低融点ガラス26のエッ
チングレート、使用するレジスト30のエッチングレー
ト及び目的とするコイル形成用凹部29の深さから、適
切な膜厚を算出して塗布することが望ましい。
If the thickness of the resist 30 is not sufficient, the resist 30 is completely removed before the end of the etching, so that the low-melting glass 26 on which the resist 30 is coated is etched. If the low-melting glass 26 on the application surface of the resist 30 is etched, the depth of the coil-forming concave portion 29 changes relatively, and the depth of the coil-forming concave portion 29 is set to an accurate value. Can not. Therefore, the resist 30 is formed in the concave portion 2 for coil formation.
During the etching of No. 9, it is desirable that the film remains while maintaining an appropriate film thickness. Therefore, the resist 30 to be patterned has an appropriate film thickness calculated from the etching rate of the low-melting glass 26 serving as an etching surface, the etching rate of the resist 30 to be used, and the intended depth of the coil forming recess 29. It is desirable to apply.

【0039】本例において使用する低融点ガラス26の
エッチングレートは、0.0196μm/minであ
り、レジスト30のエッチングレートは、0.0165
μm/minである。したがって、約6μmの深さを有
するコイル形成用凹部29を形成する場合は、約306
分間のエッチングが必要であり、306分間エッチング
した場合におけるレジスト30のエッチング量は、5μ
mに達することがわかる。そこで、レジスト30の膜厚
は、5μm以上とし、7〜8μm程度の値にすることが
望ましい。
The etching rate of the low-melting glass 26 used in this example is 0.0196 μm / min, and the etching rate of the resist 30 is 0.0165.
μm / min. Therefore, when forming the coil forming recess 29 having a depth of about 6 μm, about 306
Minute etching is required, and the amount of etching of the resist 30 in the case of etching for 306 minutes is 5 μm.
m. Therefore, it is desirable that the thickness of the resist 30 be 5 μm or more, and a value of about 7 to 8 μm.

【0040】また、導電材料28が充填された端子溝2
7上には、予め、上述したレジスト30よりも薄いレジ
スト層31を形成しておく。これは、上述した低融点ガ
ラス26と導電材料28のエッチングレートの違いによ
るエッチング量の差を緩和し、コイル形成用凹部29内
に段差が形成されないようにするためである。
The terminal groove 2 filled with the conductive material 28
A resist layer 31 that is thinner than the above-described resist 30 is previously formed on 7. This is for reducing the difference in the etching amount due to the difference in the etching rate between the low melting point glass 26 and the conductive material 28 so that no step is formed in the coil forming recess 29.

【0041】このレジスト層31の厚さは、低融点ガラ
ス26のエッチングレート、導電材料28のエッチング
レート、レジスト31のエッチングレート及び形成され
るコイル形成用凹部29の深さから算出することができ
る。すなわち、レジスト層31の厚さDは、低融点ガラ
ス26のエッチングレートをR1 、導電材料28のエッ
チングレートをR2 、レジスト31のエッチングレート
をR3 、コイル形成用凹部29の深さをLとしたとき
に、D=R3 ・(L/R1 ―L/R2 )で表すことがで
きる。
The thickness of the resist layer 31 can be calculated from the etching rate of the low-melting glass 26, the etching rate of the conductive material 28, the etching rate of the resist 31, and the depth of the coil-forming concave portion 29 to be formed. . That is, the thickness D of the resist layer 31 is such that the etching rate of the low-melting glass 26 is R 1 , the etching rate of the conductive material 28 is R 2 , the etching rate of the resist 31 is R 3 , and the depth of the coil forming recess 29 is When L, it can be represented by D = R 3 · (L / R 1 -L / R 2 ).

【0042】この値は、レジスト層31の最適な厚さで
あり、コイル形成用凹部29内に薄膜コイル6の断線を
生じさせるような段差が形成されない範囲で多少の誤差
が許容される。この段差は、導電材料28が凹の状態で
0.5μm内に抑えられれば、薄膜コイル6に断線を生
じさせないことが確認されている。したがって、レジス
ト層31の厚さDは、R3 ・{L/R1 ―(L+0.
5)/R2 }≦D≦R3・(L/R1 ―L/R2 )で表
される範囲内であれば、コイル形成用凹部29内に薄膜
コイル6に断線を生じさせるような段差が形成されない
ので、この範囲内で形成されればよい。
This value is the optimum thickness of the resist layer 31, and a slight error is allowed within a range in which a step that causes disconnection of the thin film coil 6 is not formed in the coil forming recess 29. It has been confirmed that this step does not cause disconnection in the thin film coil 6 if the conductive material 28 is suppressed to within 0.5 μm in a concave state. Therefore, the thickness D of the resist layer 31 is R 3 · {L / R 1- (L + 0.
5) If it is within the range represented by / R 2 } ≦ D ≦ R 3 · (L / R 1 -L / R 2 ), the thin film coil 6 may be disconnected in the coil forming recess 29. Since no step is formed, the step may be formed within this range.

【0043】本例においては、低融点ガラスのエッチン
グレートR1 は0.0196μm/min、導電材料2
8であるCuのエッチングレートR2 は0.0232μ
m/min、レジスト31のエッチングレートR3
0.0165μm/minであり、形成されるコイル形
成用凹部29の深さLは6μmである。したがって、レ
ジスト層31はその厚さDが、約0.43μm〜0.8
4μmの範囲内で形成される。
In this example, the etching rate R 1 of the low melting point glass is 0.0196 μm / min, and the conductive material 2
The etching rate R 2 of Cu, which is 8, is 0.0232 μm.
m / min, the etching rate R 3 of the resist 31 is 0.0165 μm / min, and the depth L of the coil-forming recess 29 to be formed is 6 μm. Therefore, the resist layer 31 has a thickness D of about 0.43 μm to 0.8 μm.
It is formed within a range of 4 μm.

【0044】そして、図11(A)〜図11(C)に順
を追って示すように、パターニングされたレジスト30
をマスクとして、イオンエッチング等の方法により、コ
イル形成用凹部29を形成する。このとき、低融点ガラ
ス26のエッチングレートよりも導電材料28のエッチ
ングレートの方が大であるが、導電材料28上に所定の
厚さを有するレジスト層31が形成されているので、こ
のエッチングレートの違いによるエッチング量の差が緩
和され、段差のないコイル形成用凹部29が形成され
る。したがって、このコイル形成用凹部29内に形成さ
れる薄膜コイル6は、断線の発生が抑制され、製造歩留
まりが向上する。
Then, as shown in FIG. 11A to FIG. 11C, the patterned resist 30
Is used as a mask to form the coil forming recess 29 by a method such as ion etching. At this time, the etching rate of the conductive material 28 is higher than the etching rate of the low-melting glass 26, but since the resist layer 31 having a predetermined thickness is formed on the conductive material 28, the etching rate is lower. Thus, the difference in the etching amount due to the difference is alleviated, and the coil forming recess 29 having no step is formed. Therefore, in the thin film coil 6 formed in the coil forming recess 29, the occurrence of disconnection is suppressed, and the production yield is improved.

【0045】なお、本例においては、薄膜コイル6を電
解メッキ法により形成する例について説明したが、薄膜
コイル6は、電解メッキ法によらなくても、スパッタリ
ング法や蒸着法等の薄膜形成法により形成するようにし
てもよい。
In this embodiment, an example in which the thin film coil 6 is formed by the electrolytic plating method has been described. However, the thin film coil 6 may be formed by a thin film forming method such as a sputtering method or a vapor deposition method without using the electrolytic plating method. May be formed.

【0046】薄膜コイル6をスパッタリング法や蒸着法
等により形成した場合も、コイル形成用凹部29内に段
差が形成されていないので、薄膜コイル6の断線が抑制
される。
Even when the thin film coil 6 is formed by a sputtering method, a vapor deposition method or the like, since no step is formed in the coil forming recess 29, disconnection of the thin film coil 6 is suppressed.

【0047】次に、図示は省略するが、薄膜コイル6上
に、薄膜コイル6のコイル間リークや断線を防止するた
めのコイル保護膜が形成される。そして、非磁性基板材
20,21の表面全域に磁気ギャップGとなる金属膜を
スパッタリング法等の薄膜形成方法により形成し、レジ
スト等を用いてエッチング処理することにより、非磁性
基板材20,21上に所定の形状にパターンニングされ
た金属接合膜を形成する。この金属接合膜は、低温金属
拡散接合により一対の非磁性基板材20,21を接合す
るものであるので、その材料としては、Au,Ag,P
t,Cu,Al等の金属が好ましい。本例においては、
金属接合膜として、膜厚が約0.1μmのAu膜を形成
する。
Next, although not shown, a coil protection film is formed on the thin-film coil 6 to prevent leakage between the coils and disconnection of the thin-film coil 6. Then, a metal film which becomes a magnetic gap G is formed on the entire surface of the non-magnetic substrate materials 20 and 21 by a thin film forming method such as a sputtering method, and is etched using a resist or the like, whereby the non-magnetic substrate materials 20 and 21 are etched. A metal bonding film patterned into a predetermined shape is formed thereon. Since this metal bonding film bonds the pair of non-magnetic substrate materials 20 and 21 by low-temperature metal diffusion bonding, the material is Au, Ag, P
Metals such as t, Cu, and Al are preferred. In this example,
An Au film having a thickness of about 0.1 μm is formed as a metal bonding film.

【0048】次に、図12に示すように、上述のように
同時に形成された複数個の磁気コア半体が横方向に一列
に並ぶように、非磁性基板材20,21が切断され、磁
気コア半体ブロック32,33が作成される。
Next, as shown in FIG. 12, the non-magnetic substrate members 20, 21 are cut so that the plurality of magnetic core halves formed simultaneously as described above are arranged in a line in the horizontal direction. Core half blocks 32 and 33 are created.

【0049】そして、接合面が洗浄された一対の磁気コ
ア半体ブロック32,33が、図13に示すように、低
温金属拡散接合によって貼り合わされる。このように、
一対の磁気コア半体ブロック32,33を低温金属拡散
接合により接合一体化することにより、一対の磁気コア
半体ブロック32,33間で電気的に接続する必要のあ
る部分を確実に接合することができる。
Then, the pair of magnetic core half-blocks 32 and 33 whose joint surfaces have been cleaned are bonded by low-temperature metal diffusion bonding as shown in FIG. in this way,
By joining and integrating the pair of magnetic core half-blocks 32 and 33 by low-temperature metal diffusion bonding, it is possible to reliably join a portion that needs to be electrically connected between the pair of magnetic core half-blocks 32 and 33. Can be.

【0050】次に、図14に示すように、一対の磁気コ
ア半体ブロック32,33を貼り合わせることにより得
られた磁気コアブロック34を個々のバルク薄膜型磁気
ヘッド1に分離する。このとき、磁気コアブロック34
は、図14中A1−A2,B1―B2で示す線に沿って
切断される。これにより、フロントギャップ8間に磁気
ギャップGを有するバルク薄膜型磁気ヘッド1が形成さ
れる。
Next, as shown in FIG. 14, the magnetic core block 34 obtained by bonding the pair of magnetic core half blocks 32 and 33 is separated into individual bulk thin film magnetic heads 1. At this time, the magnetic core block 34
Are cut along the lines indicated by A1-A2 and B1-B2 in FIG. Thus, the bulk thin-film magnetic head 1 having the magnetic gap G between the front gaps 8 is formed.

【0051】そして、図示を省略するが、このバルク薄
膜型磁気ヘッド1の媒体摺動面が円筒形を呈するよう
に、この媒体摺動面に円筒研磨加工が施される。また、
磁気記録媒体との当たり特性を良好なものとするため
に、磁気記録媒体の摺動方向に対して略平行となるよう
に、媒体摺動面に当たり規制溝が形成され、上述したバ
ルク薄膜型磁気ヘッド1が完成する。
Although not shown, the medium sliding surface of the bulk thin-film magnetic head 1 is subjected to cylindrical polishing so that the medium sliding surface has a cylindrical shape. Also,
In order to improve the contact characteristics with the magnetic recording medium, a restricting groove is formed on the medium sliding surface so as to be substantially parallel to the sliding direction of the magnetic recording medium. The head 1 is completed.

【0052】以上のように製造されるバルク薄膜型磁気
ヘッド1は、コイル形成用凹部29内に段差が形成され
ないので、薄膜コイル6の断線の発生が抑制される。し
たがって、バルク薄膜型磁気ヘッド1をこの方法により
製造することにより、製造歩留まりの向上を図ることが
できる。
In the bulk thin film magnetic head 1 manufactured as described above, since no step is formed in the coil forming concave portion 29, the occurrence of disconnection of the thin film coil 6 is suppressed. Therefore, by manufacturing the bulk thin-film magnetic head 1 by this method, the manufacturing yield can be improved.

【0053】[0053]

【発明の効果】本発明に係る磁気ヘッドの製造方法は、
磁気コア半体の接合面のガラスが充填された個所から導
電材料が充填された個所にわたり、コイル形成用の凹部
をエッチングにより形成する際に、導電材料上に、予
め、マスクとなるレジストよりも厚さの薄いレジスト層
を形成するようにしているので、ガラスと導電材料との
エッチングレートの違いによるエッチング量の差を緩和
し、段差のない凹部を形成することができる。
According to the method of manufacturing a magnetic head of the present invention,
When forming a concave portion for forming a coil by etching from a portion filled with glass on a joining surface of a magnetic core half to a portion filled with a conductive material, the conductive material is formed on the conductive material in advance by using a resist which is a mask. Since a thin resist layer is formed, a difference in etching amount due to a difference in etching rate between the glass and the conductive material can be reduced, and a recess having no step can be formed.

【0054】したがって、この磁気ヘッドの製造方法に
よれば、製造される磁気ヘッドのコイル断線の発生が抑
制されるので、製造歩留まりを向上させることができ
る。
Therefore, according to the method of manufacturing a magnetic head, the occurrence of disconnection of the coil of the manufactured magnetic head is suppressed, so that the manufacturing yield can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】バルク薄膜型磁気ヘッドを示す図であり、
(A)は同磁気ヘッドの全体斜視図であり、(B)は
(A)におけるA部を拡大して示す要部拡大斜視図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing a bulk thin film magnetic head;
FIG. 2A is an overall perspective view of the magnetic head, and FIG. 2B is an enlarged perspective view of a main part of the magnetic head in FIG.

【図2】図1に示す磁気ヘッドの分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of the magnetic head shown in FIG.

【図3】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、一対の非磁性基板材の斜視図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view of a pair of non-magnetic substrate materials.

【図4】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、磁気コア形成用溝を形成した一対の非磁性基
板材の斜視図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view of a pair of non-magnetic substrate materials in which a magnetic core forming groove is formed.

【図5】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、金属磁性膜を形成した一対の非磁性基板材の
斜視図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view of a pair of non-magnetic substrate materials on which a metal magnetic film is formed.

【図6】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、ギャップ分離溝及び巻線溝を形成した一対の
非磁性基板材の斜視図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view of a pair of non-magnetic substrate members in which a gap separation groove and a winding groove are formed.

【図7】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、低融点ガラスを充填した一対の非磁性基板材
の斜視図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view of a pair of non-magnetic substrate materials filled with low-melting glass.

【図8】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、端子溝を形成した一対の非磁性基板材の斜視
図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view of a pair of non-magnetic substrate materials on which terminal grooves are formed.

【図9】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明する
図であり、(A)は薄膜コイルが形成された一対の非磁
性基板材の全体斜視図であり、(B)は同非磁性基板材
の要部拡大斜視図である。
9A and 9B are diagrams illustrating a manufacturing process of a bulk thin-film magnetic head, wherein FIG. 9A is an overall perspective view of a pair of non-magnetic substrate materials on which a thin-film coil is formed, and FIG. It is a principal part expansion perspective view of a board | plate material.

【図10】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明す
る図であり、コイル形成用凹部を形成するためのレジス
トをパターニングした状態を示す非磁性基板材の要部平
面図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a plan view of a main part of a nonmagnetic substrate material showing a state in which a resist for forming a coil forming recess is patterned;

【図11】コイル形成用凹部を形成する過程を経時的に
示す図であり、(A)はレジストを形成した非磁性基板
材の図10におけるA―A断面図であり、(B)はエッ
チング中の非磁性基板材の断面図であり、(C)はコイ
ル形成用凹部が形成された非磁性基板材の断面図であ
る。
11A and 11B are diagrams showing a process of forming a coil-forming concave portion over time, wherein FIG. 11A is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 10 of a non-magnetic substrate material on which a resist is formed, and FIG. It is sectional drawing of the non-magnetic board | substrate material inside, (C) is sectional drawing of the non-magnetic board | substrate material in which the recessed part for coil formation was formed.

【図12】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明す
る図であり、一対の磁気コアブロック半体の全体斜視図
である。
FIG. 12 is a diagram for explaining a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is an overall perspective view of a pair of magnetic core block halves.

【図13】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明す
る図であり、一対の磁気コアブロック半体を接合する状
態を示す斜視図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is a perspective view illustrating a state in which a pair of magnetic core block halves are joined.

【図14】バルク薄膜型磁気ヘッドの製造工程を説明す
る図であり、磁気コアブロックの全体斜視図である。
FIG. 14 is a diagram for explaining a manufacturing process of the bulk thin-film magnetic head, and is an overall perspective view of the magnetic core block.

【図15】従来の磁気ヘッドの製造方法を説明する図で
あり、コイル形成用凹部内に段差が形成された状態を示
す非磁性基板材の断面図である。
FIG. 15 is a view for explaining a conventional method of manufacturing a magnetic head, and is a cross-sectional view of a non-magnetic substrate material showing a state in which a step is formed in a coil forming recess.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 バルク薄膜型磁気ヘッド、4,5 磁気コア半体、
6 薄膜コイル、10,27 端子溝、11,28 導
電材料、26 低融点ガラス、29 コイル形成用凹
部、30 レジスト、31 レジスト層
1 bulk thin film magnetic head, 4,5 magnetic core halves,
6 Thin film coil, 10, 27 terminal groove, 11, 28 conductive material, 26 low melting point glass, 29 coil forming recess, 30 resist, 31 resist layer

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気コア半体の接合面のコイル形成領域
にガラスを充填するとともに、コイルの端子位置に対応
して導電材料を埋め込んだ後、これらガラス及び導電材
料をレジストをマスクとしてエッチングしてコイル形状
に応じた凹部を形成し、この凹部内に薄膜コイルを形成
する磁気ヘッドの製造方法において、 上記エッチングの際に、上記マスクとなるレジストより
も厚さの薄いレジスト層を予めエッチング領域の導電材
料上に形成しておくことを特徴とする磁気ヘッドの製造
方法。
After filling a coil forming region of a joining surface of a magnetic core half with glass and embedding a conductive material corresponding to a terminal position of the coil, the glass and the conductive material are etched using a resist as a mask. Forming a concave portion corresponding to the coil shape, and forming a thin-film coil in the concave portion. In the method of manufacturing a magnetic head, a resist layer having a thickness smaller than that of the resist serving as the mask is previously etched in the etching region. A method of manufacturing a magnetic head, comprising forming the magnetic head on a conductive material.
【請求項2】 上記ガラスのエッチングレートをR1
上記導電材料のエッチングレートをR2 、上記導電材料
上に形成されるレジストのエッチングレートをR3
し、形成される凹部の深さをLとしたときに、上記導電
材料上に形成されるレジストの厚さDは、 R3 ・{L/R1 ―(L+0.5)/R2 }≦D≦R3
・(L/R1 ―L/R2 ) で表されることを特徴とする請求項1記載の磁気ヘッド
の製造方法。
2. The etching rate of the glass is R 1 ,
When the etching rate of the conductive material is R 2 , the etching rate of the resist formed on the conductive material is R 3, and the depth of the formed recess is L, the resist formed on the conductive material is The thickness D of R 3 · {L / R 1- (L + 0.5) / R 2 } ≦ D ≦ R 3
· (L / R 1 -L / R 2) The process according to claim 1, magnetic head, wherein the represented by.
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