JPH10245682A - Formation of wiring and wiring board - Google Patents
Formation of wiring and wiring boardInfo
- Publication number
- JPH10245682A JPH10245682A JP4794197A JP4794197A JPH10245682A JP H10245682 A JPH10245682 A JP H10245682A JP 4794197 A JP4794197 A JP 4794197A JP 4794197 A JP4794197 A JP 4794197A JP H10245682 A JPH10245682 A JP H10245682A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- wiring
- zinc oxide
- forming
- transparent conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/18—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、配線の形成方法及
び配線に関する。更に詳しくは、本発明は、光触媒反応
を利用した、メッキ法による配線の形成方法に関する。
本発明の形成方法により得られた配線は、液晶ディスプ
レイ、プラズマディスプレイ等の電極に好適に使用でき
る。The present invention relates to a method for forming a wiring and a wiring. More specifically, the present invention relates to a method for forming a wiring by a plating method using a photocatalytic reaction.
The wiring obtained by the formation method of the present invention can be suitably used for an electrode of a liquid crystal display, a plasma display and the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、液晶ディスプレイ(LCD)、プ
ラズマディスプレイ(PDP)等に代表されるフラット
パネルディスプレイにおいては、ガラスパネル側にはマ
トリックス電極の対極が形成されている。この対極は、
NESA膜(酸化アンチモンと酸化スズの混晶膜)、I
TO膜(酸化インジウムと酸化スズの混晶膜)等の透明
導電性酸化物膜が一般に使用されている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a flat panel display such as a liquid crystal display (LCD) and a plasma display (PDP), a counter electrode of a matrix electrode is formed on a glass panel side. This opposite pole,
NESA film (mixed crystal film of antimony oxide and tin oxide), I
A transparent conductive oxide film such as a TO film (a mixed crystal film of indium oxide and tin oxide) is generally used.
【0003】ここで、上記対極は、スパッタリング等の
真空成膜法により基板上の全面に透明導電性酸化物膜を
成膜し、その後エッチングレジストとエッチャントを用
いたサブトラクティブ技術によりパターニングして形成
されている。しかしながら、従来の透明導電性酸化物膜
に使用される材料は、エッチングによる加工が困難であ
り、かつ材料自体が高価であるという問題があった。Here, the counter electrode is formed by forming a transparent conductive oxide film on the entire surface of the substrate by a vacuum film forming method such as sputtering, and then patterning by a subtractive technique using an etching resist and an etchant. Have been. However, the conventional material used for the transparent conductive oxide film has a problem that processing by etching is difficult and the material itself is expensive.
【0004】このような現状の下で、近年酸化亜鉛をベ
ース材料としてアルミニウム等をドープすることにより
電気抵抗率を調整した透明導電性酸化物膜が盛んに検討
されている。酸化亜鉛を含む透明導電性酸化物膜の基板
全面への成膜方法としては、例えば特開平2−3048
11号公報、特開平4−94174号公報では、スパッ
タリング等の真空成膜法等が報告されている。また別の
方法として、酸化亜鉛の電解析出(所謂、電気メッキ)
方式、化学析出(所謂、無電解メッキ)方式等の低コス
トな湿式成膜方法が大阪市立工業研究所から報告されて
いる。Under such circumstances, a transparent conductive oxide film whose electrical resistivity is adjusted by doping aluminum or the like with zinc oxide as a base material has been actively studied in recent years. As a method for forming a transparent conductive oxide film containing zinc oxide over the entire surface of a substrate, see, for example, JP-A-2-3048.
No. 11, JP-A-4-94174 reports a vacuum film forming method such as sputtering. As another method, electrolytic deposition of zinc oxide (so-called electroplating)
A low-cost wet film formation method such as a method and a chemical deposition (so-called electroless plating) method is reported by Osaka City Industrial Research Institute.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記成
膜方法では、透明導電性酸化物膜が基板全面に形成され
るため、所望のパターンの配線を形成するには、上記サ
ブトラクティブ技術を用いる必要がある。サブトラクテ
ィブ技術を使用して所望のパターンの配線を形成するに
は、レジストを使用して所望部分以外の透明導電性酸化
物膜をエッチングにより除去すること、即ちパターニン
グする必要がある。つまり、従来の形成方法では、レジ
ストによるパターニングに係わる工程の増加が避けられ
ない。更に、レジストは、最終的には不要物として剥離
除去されるので、レジストそのものが産業廃棄物となっ
てしまうという問題があった。However, in the above-described film forming method, since the transparent conductive oxide film is formed on the entire surface of the substrate, it is necessary to use the above-described subtractive technique in order to form a wiring having a desired pattern. There is. In order to form a wiring having a desired pattern by using a subtractive technique, it is necessary to remove a transparent conductive oxide film other than a desired portion by etching using a resist, that is, to perform patterning. That is, in the conventional forming method, an increase in the number of steps related to the patterning using the resist is inevitable. Further, since the resist is finally stripped and removed as an unnecessary substance, there has been a problem that the resist itself becomes an industrial waste.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の発明者等は、酸
化亜鉛が有する光触媒能力を効果的に利用すれば、レジ
ストを使用することなく、所望のパターンの配線を形成
することができることを見いだし本発明に至った。かく
して本発明によれば、硝酸亜鉛と還元剤を含む水溶液中
に基板を浸漬し、酸化亜鉛の光学的バンドギャップ以上
のエネルギーの光を基板に選択的に照射することによ
り、基板上に酸化亜鉛を含む配線を形成することを特徴
とする配線の形成方法が提供される。Means for Solving the Problems The present inventors have found that if the photocatalytic ability of zinc oxide is effectively utilized, it is possible to form a wiring having a desired pattern without using a resist. The present invention has been found. Thus, according to the present invention, the substrate is immersed in an aqueous solution containing zinc nitrate and a reducing agent, and the substrate is selectively irradiated with light having an energy equal to or greater than the optical band gap of zinc oxide. And a method for forming a wiring, characterized by forming a wiring including:
【0007】更に、本発明によれば、上記配線の形成方
法により配線が形成されてなる基板が提供される。Further, according to the present invention, there is provided a substrate on which wiring is formed by the above-described wiring forming method.
【0008】[0008]
【発明の実施の態様】本発明に使用できる基板として
は、特に限定されず、ガラス基板、石英基板、シリコン
基板等が挙げられる。この内、形成される配線が透明で
あるという性質を考慮すると、ガラス基板、石英基板等
の透明基板が好ましい。次に、基板上に酸化亜鉛を含む
配線が形成される。即ち、硝酸亜鉛と還元剤を含む水溶
液中に基板を浸漬し、酸化亜鉛の光学的バンドギャップ
以上のエネルギーの光を基板に選択的に照射することに
より、基板上に酸化亜鉛を含む配線を形成することがで
きる。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The substrate which can be used in the present invention is not particularly limited, and includes a glass substrate, a quartz substrate, a silicon substrate and the like. Of these, a transparent substrate such as a glass substrate or a quartz substrate is preferable in consideration of the property that the formed wiring is transparent. Next, a wiring containing zinc oxide is formed on the substrate. That is, the substrate is immersed in an aqueous solution containing zinc nitrate and a reducing agent, and the substrate is selectively irradiated with light having energy equal to or greater than the optical band gap of zinc oxide, thereby forming a wiring containing zinc oxide on the substrate. can do.
【0009】ここで配線の形成に使用する水溶液は、硝
酸亜鉛及び還元剤を各々0.5モル/リットル以下の量
で使用することが好ましく、特に0.01〜0.1モル
/リットルの範囲の量で使用することが好ましい。ここ
で硝酸亜鉛を0.5モル/リットルより多い量で使用す
ると、水酸化亜鉛が生成されてしまい、効率よく酸化亜
鉛を形成できないので好ましくない。還元剤を0.5モ
ル/リットルより多い量で使用すると、化学析出用水溶
液自体が異常反応し、化学析出用水溶液として使用する
ことができないので好ましくない。なお、還元剤として
は、ジメチルアミンボラン、次亜リン酸塩等が挙げられ
る。Here, the aqueous solution used for forming the wiring preferably uses zinc nitrate and a reducing agent in amounts of 0.5 mol / l or less, particularly in the range of 0.01 to 0.1 mol / l. Is preferably used. If zinc nitrate is used in an amount of more than 0.5 mol / liter, zinc hydroxide is generated, and zinc oxide cannot be efficiently formed, which is not preferable. If the reducing agent is used in an amount of more than 0.5 mol / l, the aqueous solution for chemical deposition itself will not react normally and cannot be used as an aqueous solution for chemical deposition. Note that examples of the reducing agent include dimethylamine borane and hypophosphite.
【0010】この水溶液には、アンモニア、硝酸等の無
機酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸等の有機酸等のpH
調節剤、シアニン系色素、キサンテン系色素、塩化ルテ
ニウム等の透明導電性酸化物薄膜の光学的バンドギャッ
プを調節する(光増感する)ための水溶性色素や水溶性
金属塩を添加してもよい。また、形成条件は、pHが5
〜7、温度が40〜70℃であることが好ましい。pH
が7より高い又は5より低いと、酸化亜鉛は、両性化合
物であるため、配線自体が溶解してしまうので好ましく
ない。一方、形成温度が40℃より低い場合、水溶液中
の還元剤の活性を別の手段で上げる必要があり、一方7
0℃より高い場合、還元剤が分解するので好ましくな
い。次に、照射される光は、紫外線、可視光(透明導電
性酸化物薄膜の光学的バンドギャップを調節した場合)
のいずれでもよく、光のエネルギーが酸化亜鉛の光学的
バンドギャップ3.3eV=5.3×10-19 J以上で
あることが好ましい。The aqueous solution contains a pH of inorganic acids such as ammonia and nitric acid, and organic acids such as malic acid, tartaric acid and citric acid.
Even if a water-soluble dye or a water-soluble metal salt for adjusting (photosensitizing) the optical band gap of a transparent conductive oxide thin film such as a regulator, a cyanine dye, a xanthene dye, or ruthenium chloride is added. Good. In addition, the formation condition is that the pH is 5
-7, the temperature is preferably 40-70 ° C. pH
Is higher than 7 or lower than 5, zinc oxide is an amphoteric compound, so that the wiring itself dissolves, which is not preferable. On the other hand, when the formation temperature is lower than 40 ° C., it is necessary to increase the activity of the reducing agent in the aqueous solution by another means.
If the temperature is higher than 0 ° C., the reducing agent is decomposed, which is not preferable. Next, the irradiated light is ultraviolet light or visible light (when the optical band gap of the transparent conductive oxide thin film is adjusted).
It is preferable that the light energy is not less than 3.3 eV = 5.3 × 10 −19 J of the optical band gap of zinc oxide.
【0011】基板に光を選択的に照射する方法として
は、(1)配線の形成を所望する部分のみ光を通過させ
るようなパターンが形成されたマスク(例えば、ガラス
マスク)を使用し、このマスクを介して基板全体に光を
照射することにより、配線の形成を所望する部分のみに
光を照射する方法、(2)配線の形成を所望する部分の
みに、レーザー光を走査する方法等が挙げられる。As a method for selectively irradiating the substrate with light, (1) a mask (for example, a glass mask) having a pattern formed so as to allow light to pass only in a portion where wiring is desired to be formed, is used. By irradiating the entire substrate with light through a mask, a method of irradiating light only to a portion where wiring is desired to be formed, and (2) a method of scanning a laser beam only to a portion where wiring is desired to be formed, etc. No.
【0012】なお、配線の形成に先立って、基板表面の
清浄化、基板表面の梨子地化、触媒核の形成、化学析出
(無電解メッキ)による透明導電性酸化物薄膜の形成等
の前処理を行ってもよい。基板表面の清浄化は、主に脱
脂が目的であり、例えばイソプロピルアルコール(IP
A)、アセトン等の有機溶剤中に基板を浸漬することに
より行うことができる。なお、有機溶媒中への浸漬時に
超音波を基板に付与すれば、より清浄効果を向上させる
ことができる。更に、有機溶媒での清浄化の前に、予め
公知の洗剤により基板の表面を洗浄処理しておいてもよ
い。Prior to the formation of wiring, pretreatment such as cleaning of the substrate surface, matting of the substrate surface, formation of catalyst nuclei, formation of a transparent conductive oxide thin film by chemical deposition (electroless plating), etc. May be performed. The purpose of cleaning the substrate surface is mainly for degreasing. For example, isopropyl alcohol (IP
A), by immersing the substrate in an organic solvent such as acetone. Note that the cleaning effect can be further improved by applying ultrasonic waves to the substrate during immersion in the organic solvent. Furthermore, before cleaning with an organic solvent, the surface of the substrate may be subjected to a cleaning treatment with a known detergent in advance.
【0013】基板表面の梨子地化は、硫酸、フッ酸等の
強酸性溶液や水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の強
アルカリ性溶液等で処理することにより行うことができ
る。梨子地化の程度は、Ra=10〜50nm程度であ
ることが好ましい。基板表面を梨子地化することによ
り、以降の触媒核の吸着率、透明導電性酸化物薄膜及び
配線と基板との密着性を向上させることができる。The surface of the substrate can be made into a satin finish by treating it with a strongly acidic solution such as sulfuric acid or hydrofluoric acid or a strongly alkaline solution such as sodium hydroxide or potassium hydroxide. It is preferable that the degree of the pear ground is Ra = about 10 to 50 nm. By making the surface of the substrate a satin finish, it is possible to improve the subsequent adsorption rate of the catalyst nucleus and the adhesion between the transparent conductive oxide thin film and the wiring and the substrate.
【0014】次に、基板上に触媒核を形成してもよい。
この触媒核の形成により、後の透明導電性酸化物薄膜や
酸化亜鉛からなる配線を効率よく形成することができ
る。触媒核としては、例えば、Pdや、Pt、Au等の
貴金属、Pd−Sn等のコロイドが挙げられる。触媒核
の形成方法は、例えば、前記触媒核を構成する金属の水
溶液中に浸漬することにより、簡便に形成することがで
きる。より具体的には、Pd−Snコロイドからなる触
媒核を形成する場合、水1リットルあたり10〜30g
の塩化スズと0.1〜1gの塩化パラジウムを含む水溶
液中に基板を浸漬することにより、基板上にPd−Sn
コロイドからなる触媒核を吸着担持させることができ
る。なお、この水溶液には、塩酸等の無機酸を添加して
おいてもよい。Next, a catalyst nucleus may be formed on the substrate.
By the formation of the catalyst nucleus, a wiring made of a later transparent conductive oxide thin film or zinc oxide can be efficiently formed. Examples of the catalyst nucleus include noble metals such as Pd, Pt, and Au, and colloids such as Pd-Sn. The catalyst nucleus can be easily formed by, for example, immersing the catalyst nucleus in an aqueous solution of a metal constituting the catalyst nucleus. More specifically, when forming a catalyst core composed of a Pd-Sn colloid, 10 to 30 g per liter of water is used.
By dipping the substrate in an aqueous solution containing tin chloride and 0.1-1 g of palladium chloride, Pd-Sn
The catalyst nucleus composed of colloid can be adsorbed and carried. Note that an inorganic acid such as hydrochloric acid may be added to the aqueous solution.
【0015】更に、基板上に化学析出(無電解メッキ)
又はスパッタリング等の真空成膜法により透明導電性酸
化物薄膜を形成してもよい。この透明導電性酸化物薄膜
は、後の酸化亜鉛を含む配線を効率よく形成するための
所謂触媒として機能する。なお、透明導電性酸化物薄膜
は、触媒核を形成した後に形成してもよく、触媒核を形
成していない基板上に形成してもよい。ここで、透明導
電性酸化物薄膜には、酸化亜鉛、酸化チタン等が使用で
きるが、後の配線の形成を考慮すると酸化亜鉛を使用す
ることが好ましい。なお、透明導電性酸化物薄膜の厚さ
は、10〜100nmが好ましい。Further, chemical deposition (electroless plating) on the substrate
Alternatively, a transparent conductive oxide thin film may be formed by a vacuum film formation method such as sputtering. This transparent conductive oxide thin film functions as a so-called catalyst for efficiently forming a wiring containing zinc oxide later. The transparent conductive oxide thin film may be formed after forming the catalyst nucleus, or may be formed on a substrate on which no catalyst nucleus is formed. Here, zinc oxide, titanium oxide, or the like can be used for the transparent conductive oxide thin film, but it is preferable to use zinc oxide in consideration of later formation of wiring. Note that the thickness of the transparent conductive oxide thin film is preferably from 10 to 100 nm.
【0016】透明導電性酸化物薄膜の形成に使用される
化学析出用水溶液は、上記配線形成用の水溶液と同じも
のを使用することができる。また、透明導電性酸化物薄
膜の形成と配線の形成とを同じ組成の水溶液を使用して
もよく、異なる組成の水溶液を使用してもよい。同じ組
成の水溶液を使用する場合は、透明導電性酸化物薄膜の
形成と配線の形成を水溶液から基板を取り出すことなく
連続で行ってもよく、一旦基板を取り出し、乾燥させた
後、改めて水溶液中に基板を浸漬してもよい。The aqueous solution for chemical deposition used for forming the transparent conductive oxide thin film may be the same as the aqueous solution for forming the wiring. Further, the formation of the transparent conductive oxide thin film and the formation of the wiring may be performed using an aqueous solution having the same composition, or an aqueous solution having a different composition may be used. When an aqueous solution having the same composition is used, the formation of the transparent conductive oxide thin film and the formation of the wiring may be performed continuously without removing the substrate from the aqueous solution. May be immersed in the substrate.
【0017】また、透明導電性酸化物薄膜の形成条件
は、pHが5〜7、温度が40〜70℃であることが好
ましい。pHが7より高い又は5より低いと、酸化亜鉛
からなる透明導電性酸化物薄膜は、両性化合物であるた
め、薄膜自体が溶解してしまうので好ましくない。一
方、形成温度が40℃より低い場合、水溶液中の還元剤
の活性を上げる必要があり、一方70℃より高い場合、
還元剤が分解するので好ましくない、なお、酸化亜鉛か
らなる透明導電性酸化物薄膜は、それ自身は自己触媒能
力を有していないため、基板の水溶液への浸漬のみで得
られる膜厚は数nm程度と薄い。より厚い透明導電性酸
化物薄膜を所望する場合は、酸化亜鉛の光学的バンドギ
ャップ以上のエネルギーを有する光を照射しつつ透明導
電性酸化物薄膜を形成すればよい。ここで照射される光
は、配線の形成時に照射される光と同様の光を使用する
ことができる。Preferably, the conditions for forming the transparent conductive oxide thin film are a pH of 5 to 7 and a temperature of 40 to 70 ° C. If the pH is higher than 7 or lower than 5, the transparent conductive oxide thin film made of zinc oxide is an amphoteric compound, and thus the thin film itself is undesirably dissolved. On the other hand, if the formation temperature is lower than 40 ° C., it is necessary to increase the activity of the reducing agent in the aqueous solution, while if it is higher than 70 ° C.,
Since the reducing agent decomposes, it is not preferable.Since the transparent conductive oxide thin film made of zinc oxide does not itself have an autocatalytic ability, the film thickness obtained only by immersing the substrate in an aqueous solution is a few. It is as thin as nm. When a thicker transparent conductive oxide thin film is desired, the transparent conductive oxide thin film may be formed while irradiating light having energy equal to or more than the optical band gap of zinc oxide. Here, the same light as the light irradiated at the time of forming the wiring can be used.
【0018】この後、基板上の透明導電性酸化物薄膜に
選択的に光を照射し配線を形成している場合は、基板を
ソフトエッチング工程に付すことにより、上部に配線が
形成されておらず露出している透明導電性酸化物薄膜を
除去して基板を露出させて、独立した配線を形成するこ
とができる。ソフトエッチングに使用できるエッチャン
トとしては、塩酸等の無機酸の水溶液が挙げられ、市販
の塩酸数十ml/リットル程度の濃度で使用することが
できる。なお、ソフトエッチングは室温で行うことが好
ましい。Thereafter, when the transparent conductive oxide thin film on the substrate is selectively irradiated with light to form a wiring, the substrate is subjected to a soft etching process to form a wiring on the upper portion. Independent wirings can be formed by removing the transparent conductive oxide thin film that is exposed in advance and exposing the substrate. An etchant that can be used for soft etching includes an aqueous solution of an inorganic acid such as hydrochloric acid, and a commercially available hydrochloric acid having a concentration of about several tens of ml / liter can be used. Note that the soft etching is preferably performed at room temperature.
【0019】なお、透明導電性酸化物薄膜の除去前又は
除去後に、100℃以上(より好ましくは、100〜2
00℃)で熱処理に付すことが好ましい。この熱処理に
より配線と基板との密着性をより向上させることができ
る。ここで、本発明の配線の形成方法を図1及び2を参
照しつつ説明する。酸化亜鉛は、それ自身では化学析出
(無電解メッキ)に対して自己触媒能力をもたないた
め、自己成長及び堆積することはできない。しかしなが
ら、酸化亜鉛は光触媒能力を有するため、図2に記載し
たように、その光学的バンドギャップ以上のエネルギー
を持つ光を照射することにより、酸化亜鉛から光励起電
子が発生する。この光励起電子を利用することにより酸
化亜鉛に疑似的な自己触媒能力を付与することが可能と
なる。図中、e- は光励起電子、h+ は光励起正孔を示
している。また、図2は、光励起電子は、硝酸イオン及
び水分子を還元して亜硝酸イオン及び水酸化物イオンに
変換し、光励起正孔は、還元剤を酸化して酸化体に変換
することを表している。Before or after removing the transparent conductive oxide thin film, the temperature is 100 ° C. or more (more preferably, 100 to 2 ° C.).
(00 ° C.). This heat treatment can further improve the adhesion between the wiring and the substrate. Here, the method for forming a wiring according to the present invention will be described with reference to FIGS. Zinc oxide by itself does not have the ability to self-catalyze chemical deposition (electroless plating) and therefore cannot grow and deposit itself. However, since zinc oxide has a photocatalytic ability, photoexcited electrons are generated from zinc oxide by irradiating light having energy equal to or more than the optical band gap as shown in FIG. By utilizing this photoexcited electron, it becomes possible to impart pseudo autocatalytic capability to zinc oxide. In the figure, e − indicates photoexcited electrons, and h + indicates photoexcited holes. FIG. 2 shows that photoexcited electrons reduce nitrate ions and water molecules to be converted to nitrite ions and hydroxide ions, and photoexcited holes oxidize a reducing agent to be converted to oxidized forms. ing.
【0020】このように光触媒能力を有する酸化亜鉛を
使用すれば、例えば、図1に示すように、基板1上に酸
化亜鉛が有する光学的バンドギャップ以上のエネルギー
を持つ光を選択的に照射しつつ、酸化亜鉛を析出させる
ことにより、光励起電子を選択的に光照射領域に発生さ
せることができる(図中、Aは未照射部、Bは光を示
す)。選択的に発生した光励起電子は、酸化亜鉛を更に
光照射部のみに選択的に析出させて配線5を形成するこ
ととなる。従って、従来のサブトラクティブ技術を使用
することなく配線を形成することができる。When zinc oxide having photocatalytic ability is used, for example, as shown in FIG. 1, the substrate 1 is selectively irradiated with light having energy equal to or more than the optical band gap of zinc oxide. In addition, by precipitating zinc oxide, photoexcited electrons can be selectively generated in the light-irradiated region (in the figure, A indicates an unirradiated portion, and B indicates light). The selectively generated photo-excited electrons cause the zinc oxide to be selectively deposited only on the light-irradiated portion to form the wiring 5. Therefore, wiring can be formed without using a conventional subtractive technique.
【0021】本発明の形成方法により得られた配線は、
どのような分野の配線にも使用できる。しかしながら、
透明であるという性質を生かして、LCD、PDP等の
透明基板側の電極として使用することが好ましい。The wiring obtained by the forming method of the present invention is
It can be used for wiring in any field. However,
Taking advantage of the property of being transparent, it is preferable to use it as an electrode on the transparent substrate side of LCDs, PDPs and the like.
【0022】[0022]
【実施例】次に、実施例に基づいて本発明を具体的に説
明する。Next, the present invention will be specifically described based on examples.
【0023】実施例1 図3は、実施例1の配線の形成方法の概略工程断面図で
ある。図中、1は基板(絶縁性ガラス基板)、2はSn
−Pdからなる触媒核、3は透明導電性酸化物薄膜、4
はフォトマスク(ガラスマスク)、5は配線、6は硝酸
亜鉛と還元剤を含む配線形成用の水溶液、Bは光であ
る。以下、配線の形成方法を説明する。Embodiment 1 FIG. 3 is a schematic cross-sectional process diagram of a method for forming a wiring according to Embodiment 1. In the figure, 1 is a substrate (insulating glass substrate), 2 is Sn
-Pd catalyst nucleus, 3 is a transparent conductive oxide thin film, 4
Is a photomask (glass mask), 5 is wiring, 6 is an aqueous solution for forming wiring containing zinc nitrate and a reducing agent, and B is light. Hereinafter, a method for forming the wiring will be described.
【0024】工程1 基板1の表面の清浄化(主として脱脂)を目的として、
イソプロピルアルコール(IPA)、アセトン等の有機
溶剤中で基板1を洗浄した。Step 1 For the purpose of cleaning (mainly degreasing) the surface of the substrate 1,
The substrate 1 was washed in an organic solvent such as isopropyl alcohol (IPA) and acetone.
【0025】工程2(図3(a)参照) 次に、硫酸、フッ酸等の強酸性溶液又は水酸化ナトリウ
ム、水酸化カリウム等の強アルカリ性溶液により、上記
基板1の表面を梨子地化(Ra=10〜50nm程度)
した。この梨子地化により、基板1の比表面積が増大す
るので、触媒核の吸着量を増加させることができると共
に、いわゆるアンカー(投錨)効果により基板と透明導
電性酸化物薄膜の密着性を向上させることができる。Step 2 (see FIG. 3 (a)) Next, the surface of the substrate 1 is made into a satin finish using a strongly acidic solution such as sulfuric acid or hydrofluoric acid or a strongly alkaline solution such as sodium hydroxide or potassium hydroxide. Ra = about 10 to 50 nm)
did. Since the specific surface area of the substrate 1 is increased by the formation of the pears, the amount of catalyst nuclei adsorbed can be increased, and the adhesion between the substrate and the transparent conductive oxide thin film is improved by a so-called anchor effect. be able to.
【0026】次いで、40℃程度で、塩化スズ水溶液
(純水1リットルに対して、市販塩酸数十ml、塩化ス
ズ数十g)と塩化パラジウム水溶液(純水1リットルに
対して、市販塩酸数ml、塩化スズ数百mg)へ順次基
板1を浸漬することにより、基板1上にSn−Pdから
なる触媒核2を形成した。Then, at about 40 ° C., an aqueous solution of tin chloride (several tens of ml of commercially available hydrochloric acid and tens of g of tin chloride per liter of pure water) and an aqueous solution of palladium chloride (one liter of pure water, commercially available hydrochloric acid The catalyst nucleus 2 made of Sn-Pd was formed on the substrate 1 by successively immersing the substrate 1 in the substrate 1 and a few hundred mg of tin chloride.
【0027】工程3(図3(b)参照) 次に、以下の方法により上記触媒核2を基に化学析出
(無電解メッキ)により透明導電性酸化物薄膜3を形成
した。すなわち、無電解メッキ液として、電気導電率が
10μS/cm以下の純水に硝酸亜鉛(0.5モル/リ
ットル以下)と還元剤(ジメチルアミンボラン1モル/
リットル以下)を含むpH=6の水溶液6を使用した。
この水溶液6を40〜70℃に加熱し、基板1を浸漬す
ることにより数十nmの膜厚の透明導電性酸化物薄膜3
を形成した。Step 3 (see FIG. 3B) Next, a transparent conductive oxide thin film 3 was formed by chemical deposition (electroless plating) based on the catalyst core 2 by the following method. That is, as an electroless plating solution, zinc nitrate (0.5 mol / l or less) and a reducing agent (dimethylamine borane 1 mol / l) are added to pure water having an electric conductivity of 10 μS / cm or less.
(Liters or less) was used.
The aqueous solution 6 is heated to 40 to 70 ° C. and the substrate 1 is immersed in the transparent conductive oxide thin film 3 having a thickness of several tens nm.
Was formed.
【0028】工程4(図3(c)参照) 基板1上に配線の形成を所望する部分を開口したフォト
マスク4を載置した。次いで、基板1とフォトマスク4
を、上記工程3と同じ水溶液6に浸漬し、酸化亜鉛の光
学的バンドギャップ以上のエネルギー(3.3eV=
5.3×10-19J)を有する光(紫外線)Bを照射し
た。この照射により、光Bが照射された基板1上にのみ
配線5が厚く成長した(膜厚約5μm)。Step 4 (see FIG. 3C) A photomask 4 having an opening in a portion where a wiring is desired to be formed was placed on the substrate 1. Next, the substrate 1 and the photomask 4
Is immersed in the same aqueous solution 6 as in the above step 3, and the energy (3.3 eV =
Light (ultraviolet light) B having 5.3 × 10 −19 J) was applied. Due to this irradiation, the wiring 5 grew thickly only on the substrate 1 irradiated with the light B (thickness: about 5 μm).
【0029】この配線5の成長のメカニズムは、以下の
式(i)〜(iv)に基づいていると考えられる。まず、
下記(i)式のように、硝酸亜鉛の溶解により、亜鉛イ
オンと硝酸イオンが生成される。次に、紫外線の照射に
より透明導電性酸化物薄膜中に光励起電子が生成される
と共に光励起正孔も生成される。光励起正孔は水溶液6
中の還元剤により消費される。一方、光励起電子は下記
(ii)式の化学反応に関与して亜硝酸イオンと水酸化物
イオンを生成させる。ここで生じた水酸化物イオンは、
亜鉛イオンと結合して水酸化亜鉛となる(下記(iii)式
参照)。この後、水酸化亜鉛は脱水され、酸化亜鉛が析
出するものと考えられる。従って、この反応において、
光励起電子は、酸化亜鉛を析出させるための疑似的な自
己触媒として作用すると考えられる。 (i)Zn(NO3 )2 →Zn2++2NO3 - (ii)NO3 - +H2 O+2e→NO2 - +2OH- (iii)Zn2++2OH- →Zn(OH)2 (iv)Zn(OH)2 →ZnO+H2 OIt is considered that the mechanism of the growth of the wiring 5 is based on the following equations (i) to (iv). First,
As shown in the following formula (i), zinc ions and nitrate ions are generated by dissolution of zinc nitrate. Next, photo-excited electrons and photo-excited holes are generated in the transparent conductive oxide thin film by irradiation with ultraviolet light. Photoexcited holes are aqueous solution 6
It is consumed by the reducing agent inside. On the other hand, photoexcited electrons are involved in the chemical reaction of the following formula (ii) to generate nitrite ions and hydroxide ions. The hydroxide ion generated here is
It combines with zinc ions to form zinc hydroxide (see formula (iii) below). Thereafter, the zinc hydroxide is dehydrated, and it is considered that zinc oxide precipitates. Therefore, in this reaction,
It is believed that the photoexcited electrons act as pseudo autocatalysts for depositing zinc oxide. (I) Zn (NO 3 ) 2 → Zn 2+ + 2NO 3 − (ii) NO 3 − + H 2 O + 2e → NO 2 − + 2OH − (iii) Zn 2+ + 2OH − → Zn (OH) 2 (iv) Zn ( OH) 2 → ZnO + H 2 O
【0030】工程5(図3(d)参照) 工程4で得られた基板1を希塩酸に数十秒間浸漬し、配
線が形成されていない部分の透明導電性酸化物薄膜3を
除去することにより、エッチングレジストやメッキレジ
ストを使用することなく、酸化亜鉛からなる配線5を形
成することができた。Step 5 (see FIG. 3D) The substrate 1 obtained in Step 4 is immersed in dilute hydrochloric acid for several tens of seconds to remove the portion of the transparent conductive oxide thin film 3 where no wiring is formed. Thus, the wiring 5 made of zinc oxide could be formed without using an etching resist or a plating resist.
【0031】実施例2 図4は、実施例2の配線の形成方法の概略工程断面図で
ある。図中、1は基板(絶縁性ガラス基板)、2はSn
−Pdからなる触媒核、7は透明導電性酸化物薄膜、8
は配線、9は硝酸亜鉛と還元剤を含む配線形成用水溶
液、Bは光である。以下、配線の形成方法を説明する。Second Embodiment FIG. 4 is a schematic cross-sectional process diagram of a method for forming a wiring according to a second embodiment. In the figure, 1 is a substrate (insulating glass substrate), 2 is Sn
-Pd catalyst nucleus, 7 is a transparent conductive oxide thin film, 8
Is a wiring, 9 is an aqueous solution for forming wiring containing zinc nitrate and a reducing agent, and B is light. Hereinafter, a method for forming the wiring will be described.
【0032】工程1及び工程2は、実施例1と同様に操
作した(図4(a)参照)。 工程3(図4(b)参照) 透明導電性酸化物薄膜7を形成する水溶液として、電気
導電率が10μS/cm以下の純水に硝酸亜鉛(0.5
モル/リットル以下)、還元剤(ジメチルアミンボラン
1モル/リットル以下)、酸化亜鉛の光学的バンドギャ
ップを調整する(光増感する)ための水溶性の色素(シ
アニン系色素やキサンテン色素)及び水溶性の金属塩
(塩化ルテニウム)を含むpH=6の水溶液9を使用す
ること以外は、実施例1と同様にして透明導電性酸化物
薄膜7を形成した。Steps 1 and 2 were performed in the same manner as in Example 1 (see FIG. 4A). Step 3 (see FIG. 4B) As an aqueous solution for forming the transparent conductive oxide thin film 7, zinc nitrate (0.5%) was added to pure water having an electric conductivity of 10 μS / cm or less.
Mol / l or less), a reducing agent (dimethylamine borane 1 mol / l or less), a water-soluble dye (cyanine dye or xanthene dye) for adjusting (photosensitizing) the optical band gap of zinc oxide, and A transparent conductive oxide thin film 7 was formed in the same manner as in Example 1, except that an aqueous solution 9 having a pH of 6 containing a water-soluble metal salt (ruthenium chloride) was used.
【0033】工程4(図4(c)参照) 次いで、水溶液9に基板1を浸漬し、酸化亜鉛の調整さ
れた(光増感された)光学的バンドギャップ以上のエネ
ルギーを有するアルゴンレーザー光を光学レンズ系によ
り直径数十μm以下に収束させたスポット光(ビーム
光)Bを所望のパターン状に照射走査した。この照射走
査により、光Bで照射走査された部分の基板1上にのみ
配線8が厚く成長した(膜厚約5μm)。Step 4 (see FIG. 4C) Next, the substrate 1 is immersed in an aqueous solution 9 and an argon laser beam having energy equal to or more than the adjusted (photosensitized) optical band gap of zinc oxide is applied. Spot light (beam light) B converged to several tens μm or less in diameter by an optical lens system was irradiated and scanned in a desired pattern. As a result of this irradiation scanning, the wiring 8 grew thickly (about 5 μm thick) only on the portion of the substrate 1 irradiated and scanned with the light B.
【0034】工程5(図4(d)参照) 実施例1と同様に希塩酸に浸漬することにより、酸化亜
鉛からなる配線8を形成することができた。Step 5 (see FIG. 4D) By immersing in dilute hydrochloric acid in the same manner as in Example 1, the wiring 8 made of zinc oxide could be formed.
【0035】[0035]
【発明の効果】本発明の配線の形成方法は、硝酸亜鉛と
還元剤を含む水溶液中に基板を浸漬し、酸化亜鉛の光学
的バンドギャップ以上のエネルギーの光を基板に選択的
に照射することにより、基板上に酸化亜鉛を含む配線を
形成することを特徴とする。つまり、酸化亜鉛の光触媒
反応を効果的に利用することにより、従来のサブトラク
ティブ技術を使用することなく(即ち、レジストを使用
することなく)、簡単なメッキ法により透明かつ導電性
の配線を形成することができる。従って、配線の形成コ
ストを低減することが可能となる。According to the method for forming a wiring of the present invention, a substrate is immersed in an aqueous solution containing zinc nitrate and a reducing agent, and the substrate is selectively irradiated with light having an energy greater than the optical band gap of zinc oxide. Accordingly, a wiring containing zinc oxide is formed on a substrate. In other words, by effectively utilizing the photocatalytic reaction of zinc oxide, a transparent and conductive wiring can be formed by a simple plating method without using a conventional subtractive technique (that is, without using a resist). can do. Therefore, it is possible to reduce the cost of forming the wiring.
【図1】本発明の原理を説明する概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram illustrating the principle of the present invention.
【図2】本発明の原理を説明する概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating the principle of the present invention.
【図3】実施例1の配線の形成方法の概略工程断面図で
ある。FIG. 3 is a schematic process sectional view of a method for forming a wiring according to the first embodiment;
【図4】実施例2の配線の形成方法の概略工程断面図で
ある。FIG. 4 is a schematic process sectional view of a method for forming a wiring according to a second embodiment;
1 基板 2 触媒核 3、7 透明導電性酸化物薄膜 5、8 配線 4 フォトマスク 6、9 水溶液 A 未照射部 B 光 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Catalyst core 3, 7 Transparent conductive oxide thin film 5, 8 Wiring 4 Photomask 6, 9 Aqueous solution A Non-irradiated part B Light
Claims (4)
を浸漬し、酸化亜鉛の光学的バンドギャップ以上のエネ
ルギーの光を基板に選択的に照射することにより、基板
上に酸化亜鉛を含む配線を形成することを特徴とする配
線の形成方法。1. A method comprising: immersing a substrate in an aqueous solution containing zinc nitrate and a reducing agent; and selectively irradiating the substrate with light having an energy equal to or more than the optical band gap of zinc oxide, whereby the substrate contains zinc oxide. A method for forming a wiring, comprising forming a wiring.
物薄膜を形成し、配線の形成後に露出している透明導電
性酸化物薄膜を除去することからなる請求項1の配線の
形成方法。2. The method according to claim 1, further comprising: forming a transparent conductive oxide thin film on the substrate before forming the wiring, and removing the transparent conductive oxide thin film exposed after forming the wiring. Method.
の形成前に基板上に触媒核を形成することからなる請求
項1又は2の配線の形成方法。3. The method according to claim 1, wherein a catalyst nucleus is formed on the substrate before forming the wiring or before forming the transparent conductive oxide thin film.
法により配線が形成されてなる配線基板。4. A wiring board on which wiring is formed by the wiring forming method according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04794197A JP3499106B2 (en) | 1997-03-03 | 1997-03-03 | Wiring forming method and wiring board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04794197A JP3499106B2 (en) | 1997-03-03 | 1997-03-03 | Wiring forming method and wiring board |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10245682A true JPH10245682A (en) | 1998-09-14 |
JP3499106B2 JP3499106B2 (en) | 2004-02-23 |
Family
ID=12789404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04794197A Expired - Fee Related JP3499106B2 (en) | 1997-03-03 | 1997-03-03 | Wiring forming method and wiring board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3499106B2 (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002241951A (en) * | 2001-02-16 | 2002-08-28 | C Uyemura & Co Ltd | Method for depositing electroless zinc oxide film |
US6607981B1 (en) | 1999-09-13 | 2003-08-19 | Nec Corporation | Method for forming a Cu interconnect pattern |
JP2006161157A (en) * | 2004-11-10 | 2006-06-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Process for forming metal oxide film |
JP2006161156A (en) * | 2004-11-10 | 2006-06-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Method for producing metal oxide film |
US20080020133A1 (en) * | 2004-11-10 | 2008-01-24 | Hiroyuki Kobori | Method of Producing Metal Oxide Film |
JP2014181373A (en) * | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corp | SILICON WAFER ON WHICH Ni AND Ni ALLOY FILM IS FORMED, FORMING METHOD OF Ni AND Ni ALLOY FILM ON Si WAFER, SURFACE ROUGHENING PROCESSING LIQUID TO SURFACE OF Si WAFER IN FORMING Ni AND Ni ALLOY FILM, AND SURFACE ROUGHENING PROCESSING METHOD OF THE SURFACE |
JPWO2014007250A1 (en) * | 2012-07-05 | 2016-06-02 | 株式会社ニコン | Zinc oxide thin film manufacturing method, thin film transistor manufacturing method, zinc oxide thin film, thin film transistor, and transparent oxide wiring |
JP2020147789A (en) * | 2019-03-13 | 2020-09-17 | マクセルホールディングス株式会社 | Method for manufacturing plated component |
-
1997
- 1997-03-03 JP JP04794197A patent/JP3499106B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6607981B1 (en) | 1999-09-13 | 2003-08-19 | Nec Corporation | Method for forming a Cu interconnect pattern |
JP2002241951A (en) * | 2001-02-16 | 2002-08-28 | C Uyemura & Co Ltd | Method for depositing electroless zinc oxide film |
JP4600623B2 (en) * | 2001-02-16 | 2010-12-15 | 上村工業株式会社 | Method for forming electroless zinc oxide film |
JP2006161157A (en) * | 2004-11-10 | 2006-06-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Process for forming metal oxide film |
JP2006161156A (en) * | 2004-11-10 | 2006-06-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Method for producing metal oxide film |
US20080020133A1 (en) * | 2004-11-10 | 2008-01-24 | Hiroyuki Kobori | Method of Producing Metal Oxide Film |
JP4594846B2 (en) * | 2004-11-10 | 2010-12-08 | 大日本印刷株式会社 | Method for producing metal oxide film |
JPWO2014007250A1 (en) * | 2012-07-05 | 2016-06-02 | 株式会社ニコン | Zinc oxide thin film manufacturing method, thin film transistor manufacturing method, zinc oxide thin film, thin film transistor, and transparent oxide wiring |
JP2014181373A (en) * | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Jx Nippon Mining & Metals Corp | SILICON WAFER ON WHICH Ni AND Ni ALLOY FILM IS FORMED, FORMING METHOD OF Ni AND Ni ALLOY FILM ON Si WAFER, SURFACE ROUGHENING PROCESSING LIQUID TO SURFACE OF Si WAFER IN FORMING Ni AND Ni ALLOY FILM, AND SURFACE ROUGHENING PROCESSING METHOD OF THE SURFACE |
JP2020147789A (en) * | 2019-03-13 | 2020-09-17 | マクセルホールディングス株式会社 | Method for manufacturing plated component |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3499106B2 (en) | 2004-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1055818C (en) | Method for-selectively metallizing a substrate | |
EP0884934A2 (en) | Substrate and method for producing it | |
KR100815376B1 (en) | Novel Method for forming Metal Pattern and Flat Panel Display using the Metal Pattern | |
KR100959751B1 (en) | Method for forming Metal Pattern and EMI Filter using this pattern | |
KR20150097412A (en) | Electroless deposition of continuous platinum layer | |
JP3499106B2 (en) | Wiring forming method and wiring board | |
KR100709446B1 (en) | Method of Preparing Metal Pattern having Low Resistivity | |
US7488570B2 (en) | Method of forming metal pattern having low resistivity | |
US7205098B2 (en) | Method for manufacturing high-transmittance optical filter for image display devices | |
US7641944B2 (en) | Method for forming gold plating | |
JP4081625B2 (en) | Preparation method of transparent zinc oxide film | |
US3839083A (en) | Selective metallization process | |
JP3619016B2 (en) | Substrate and manufacturing method thereof | |
EP0290577A1 (en) | An improved photo-selective plating method | |
US3791939A (en) | Method of selectively depositing a metal on a surface | |
JP2572430B2 (en) | Method of providing metal locally on the surface of a substrate | |
KR100996316B1 (en) | Method of Forming Metal Pattern for Hermetic Sealing of Package | |
JP4600623B2 (en) | Method for forming electroless zinc oxide film | |
JP2000144437A (en) | Electroless plating method, electroless plating device, production of wiring board and device for producing wiring board | |
JP3161407B2 (en) | Activating catalyst solution for electroless plating and electroless plating method | |
JP2002210364A (en) | Zinc oxide film having photocatalytic property and method for forming the film | |
JP3726126B2 (en) | Method for producing patterned oxide ceramic film | |
JPH10317155A (en) | Formation of metallic film | |
JPH06235169A (en) | Method of metallizing surface of polyester fiber | |
JPH03277778A (en) | Plating method and surface treating solution usable therefor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20031118 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071205 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081205 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091205 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091205 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101205 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131205 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |