JPH10242413A - 半導体メモリ、配線基板及びメモリモジュール - Google Patents

半導体メモリ、配線基板及びメモリモジュール

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JPH10242413A
JPH10242413A JP9038703A JP3870397A JPH10242413A JP H10242413 A JPH10242413 A JP H10242413A JP 9038703 A JP9038703 A JP 9038703A JP 3870397 A JP3870397 A JP 3870397A JP H10242413 A JPH10242413 A JP H10242413A
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剛 樋口
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    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
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    • HELECTRICITY
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    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components

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  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】配線基板に半導体メモリを実装してなるメモリ
モジュールに関し、データ伝送の高速化を図ると共に、
信号波形の良好なデータ信号伝送を行うことができるよ
うにする。 【解決手段】配線基板20の接続部39にDRAM22
のデータ入出力端子28の配列ピッチと同一の配列ピッ
チのデータ入出力端子42を設け、DRAM22が設け
るVDDQ端子26、VSSQ端子27及びデータ入出
力端子28の端子列が接続部39側に接続部39と平行
になるようにDRAM22を実装して、DRAM22が
設けるデータ入出力端子28と配線基板20が設けるデ
ータ入出力端子42とをデータ用配線34で接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板に実装し
てメモリモジュールを構成するに好適な半導体メモリ、
メモリモジュール用の配線基板及びメモリモジュールに
関する。
【0002】近年、特に、マザーボードや増設ボード等
に設けられている配線基板用コネクタに接続して使用さ
れるメモリモジュールに実装されている半導体メモリ
と、マザーボードや増設ボード等に形成されているデー
タバスとの間のデータ転送の高速化が要請されている。
【0003】
【従来の技術】図8は従来のメモリモジュールの一例の
要部を示す概略的平面図である。図8中、1は配線基
板、2、3は配線基板1に形成されているデータ用配
線、4、5は配線基板用コネクタに接続される接続部に
形成されているデータ入出力端子であり、データ用配線
2はデータ入出力端子4に接続され、データ用配線3は
データ入出力端子5に接続されている。
【0004】また、6、7は配線基板1に実装されたダ
イナミック・ランダム・アクセス・メモリ(以下、DR
AMという)である。これらDRAM6、7において、
8、9はデータ入出力端子であり、DRAM6のデータ
入出力端子8はデータ用配線2に接続され、DRAM7
のデータ入出力端子9はデータ用配線3に接続されてい
る。
【0005】なお、DRAM6、7が設けているアドレ
ス信号入力端子、コントロール信号入力端子及び電源端
子が接続されている配線基板1上の配線及び配線基板1
の接続部に形成されているアドレス信号入力端子、コン
トロール信号入力端子、電源端子は、図示を省略してい
る。
【0006】また、図9は従来のメモリモジュールの他
の例の要部を示す概略的平面図である。図9中、11は
配線基板、12は配線基板11に形成されているデータ
用配線、13は配線基板用コネクタに接続される接続部
に形成されたデータ入出力端子であり、データ用配線1
2はデータ入出力端子13に接続されている。
【0007】また、14は配線基板11に実装されたD
RAMである。DRAM14において、15はデータ入
出力端子であり、DRAM14のデータ入出力端子15
は、データ用配線12に接続されている。
【0008】なお、DRAM14が設けているアドレス
信号入力端子、コントロール信号入力端子及び電源端子
が接続されている配線基板11上の配線及び配線基板1
1の接続部に形成されているアドレス信号入力端子、コ
ントロール信号入力端子、電源端子は、図示を省略して
いる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図8に示す従来のメモ
リモジュールにおいては、DRAM6、7の端子配列方
向と、配線基板1の接続部の端子配列方向が直交するよ
うに、DRAM6、7を配線基板1に実装している。
【0010】このため、データ入出力端子8、9によっ
てデータ用配線2、3の長さが異なってしまい、データ
入力時に必要な同期マージンを大きくとらなければなら
ず、データ伝送の高速化を図ることができないという問
題点があった。
【0011】また、データ入出力端子8、9によって
は、データ用配線2、3の長さがかなり長くなってしま
い、データ信号の反射成分が大きくなり、データ信号波
形のリンギングが大きくなってしまうという問題点もあ
った。
【0012】図9に示す従来のメモリモジュールにおい
ては、DRAM14の端子配列方向と、配線基板11の
接続部の端子配列方向とが一致するように、DRAM1
4を実装しているが、DRAM14は、データ入出力端
子15をチップの両側に存在させている。
【0013】このため、データ入出力端子15によって
は、データ用配線12の長さが異なってしまい、図8に
示す従来のメモリモジュールよりもデータ入力時に必要
な同期マージンを小さくすることができるが、それでも
尚、データ入力時に必要な同期マージンを大きくとらな
ければならず、データ伝送の高速化を図ることができな
いという問題点があった。
【0014】本発明は、かかる点に鑑み、データ伝送の
高速化を図ることができると共に、信号波形の良好なデ
ータ伝送を行うことができるようにした半導体メモリ、
配線基板及びメモリモジュールを提供することを目的と
する。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明中、第1の発明
(請求項1記載の半導体メモリ)は、データ出力回路用
の第1の電源電圧が印加される複数の第1の電源端子
と、第1の電源電圧よりも低電圧のデータ出力回路用の
第2の電源電圧が印加される複数の第2の電源端子と、
データが入出力される複数のデータ入出力端子とを備え
る半導体メモリにおいて、第1の電源端子と第2の電源
端子とデータ入出力端子とを、第1の電源端子と第2の
電源端子との間にデータ入出力端子が配置され、かつ、
第1の電源端子と第2の電源端子とが交互に配置される
ように、一列に配列しているというものである。
【0016】第1の発明の半導体メモリによれば、デー
タ入出力端子の配列ピッチは、第1、第2の電源端子及
びデータ入出力端子の配列ピッチの2倍となるので、第
1の発明の半導体メモリを実装するメモリモジュール用
の配線基板の配線基板用コネクタとの接続部には、第1
の発明の半導体メモリが設けるデータ入出力端子の配列
ピッチと同一の配列ピッチのデータ入出力端子を無理な
く形成することがことができる。
【0017】そこで、メモリモジュール用の配線基板の
配線基板用コネクタとの接続部に、第1の発明の半導体
メモリが設けるデータ入出力端子の配列ピッチと同一の
配列ピッチのデータ入出力端子を形成し、第1の発明の
半導体メモリのデータ入出力端子側がメモリモジュール
用の配線基板の接続部側に接続部と平行になるように第
1の発明の半導体メモリを実装することを前提とする場
合には、第1の発明が設けるデータ入出力端子と配線基
板に設けるデータ入出力端子とを接続するために形成す
べきデータ用配線の長さを第1の発明の半導体メモリが
設ける全データ入出力端子について同一、かつ、短くす
ることができる。
【0018】本発明中、第2の発明(請求項2記載の配
線基板)は、配線基板用コネクタに接続される接続部を
有し、データ出力回路用の第1の電源電圧が印加される
第1の電源端子と、第1の電源電圧よりも低電圧のデー
タ出力回路用の第2の電源電圧が印加される第2の電源
端子と、データが入出力されるデータ入出力端子とを、
第1の電源端子と第2の電源端子との間にデータ入出力
端子が配置され、かつ、第1の電源端子と第2の電源端
子とが交互に配置されるように、一列に配列している半
導体メモリが実装される配線基板であって、接続部に半
導体メモリが設ける複数のデータ入出力端子の配列ピッ
チと同一の配列ピッチの複数のデータ入出力端子を設
け、半導体メモリが設けるデータ入出力端子列が接続部
側に接続部と平行になるように半導体メモリを実装する
ことができるように、半導体メモリが設けるデータ入出
力端子と接続部が設けるデータ入出力端子とを接続する
データ用配線を形成しているというものである。
【0019】第2の発明の配線基板によれば、半導体メ
モリが設けるデータ入出力端子と接続部に設けるデータ
入出力端子とを接続するデータ用配線の長さを半導体メ
モリが設ける全データ入出力端子について同一、かつ、
短くすることができる。
【0020】本発明中、第3の発明(請求項3記載のメ
モリモジュール)は、データ出力回路用の第1の電源電
圧が印加される複数の第1の電源端子と、第1の電源電
圧よりも低電圧のデータ出力回路用の第2の電源電圧が
印加される複数の第2の電源端子と、データが入出力さ
れる複数のデータ入出力端子とを備える半導体メモリ
を、配線基板用コネクタに接続される接続部を有する配
線基板に実装してなるメモリモジュールにおいて、半導
体メモリは、第1の電源端子と第2の電源端子とデータ
入出力端子とを、第1の電源端子と第2の電源端子との
間にデータ入出力端子が配置され、かつ、第1の電源端
子と第2の電源端子とが交互に配置されるように、一列
に配列している部分を有し、配線基板は、接続部に半導
体メモリが設ける複数のデータ入出力端子の配列ピッチ
と同一の配列ピッチの複数のデータ入出力端子を設け、
半導体メモリが設けるデータ入出力端子列が接続部側に
接続部と平行になるように半導体メモリを実装し、半導
体メモリが設けるデータ入出力端子と配線基板が設ける
データ入出力端子とをデータ用配線で接続しているとい
うものである。
【0021】第3の発明のメモリモジュールによれば、
半導体メモリが設けるデータ入出力端子と接続部に設け
るデータ入出力端子とを接続するデータ用配線の長さを
半導体メモリが設ける全データ入出力端子について同
一、かつ、短くすることができる。
【0022】本発明中、第4の発明(請求項4記載のメ
モリモジュール)は、第3の発明において、配線基板
は、接続部に形成されたデータ入出力端子列の外側に第
1、第2の電源端子をそれぞれ1個形成し、半導体メモ
リの複数の第1の電源端子及び複数の第2の電源端子を
それぞれ配線基板の第1、第2の電源端子に接続してい
るというものである。
【0023】第4の発明のメモリモジュールによれば、
第3の発明のメモリモジュールと同様の作用を得ること
ができると共に、配線基板は、接続部に形成されたデー
タ入出力端子列の外側に第1、第2の電源端子をそれぞ
れ1個形成するとしているので、配線基板の接続部に形
成すべき端子の数を低減し、接続部の長さを短くするこ
とができる。
【0024】本発明中、第5の発明(請求項5記載のメ
モリモジュール)は、第3の発明において、配線基板
は、接続部の両面にデータ入出力端子を形成し、配線基
板の両面に半導体メモリを実装しているというものであ
る。
【0025】第5の発明のメモリモジュールによれば、
第3の発明のメモリモジュールと同様の作用を得ること
ができると共に、配線基板の両面に半導体メモリを実装
するとしているので、半導体メモリの実装密度を高くす
ることができる。
【0026】本発明中、第6の発明(請求項6記載のメ
モリモジュール)は、第3の発明において、配線基板
は、接続部の表面側に複数のデータ入出力端子を形成
し、接続部の裏面側に半導体メモリが設ける複数の第
1、第2の電源端子の配列ピッチと同一の配列ピッチの
第1、第2の電源端子を形成し、半導体メモリが設ける
第1、第2の電源端子と配線基板が設ける第1、第2の
電源端子とを接続しているというものである。
【0027】第6の発明のメモリモジュールによれば、
第3の発明のメモリモジュールと同様の作用を得ること
ができると共に、接続部の裏面側に半導体メモリが設け
る複数の第1、第2の電源端子の配列ピッチと同一の配
列ピッチの第1、第2の電源端子を形成するとしている
ので、接続部の長さを短くすることができる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図7を参照して、本
発明のメモリモジュールの第1実施形態、第2実施形態
について、本発明の半導体メモリの一実施形態及び本発
明の配線基板の第1実施形態、第2実施形態を含めて説
明する。
【0029】本発明のメモリモジュールの第1実施形態
・・図1〜図5 図1は本発明のメモリモジュールの第1実施形態の表面
側の要部を示す概略的平面図、図2は本発明のメモリモ
ジュールの第1実施形態の裏面側の要部を示す概略的平
面図である。
【0030】図1又は図2において、20は本発明の配
線基板の第1実施形態である配線基板、21は配線基板
20の表面、22は配線基板20の表面21側に実装さ
れたDRAM、23は配線基板20の裏面、24は配線
基板20の裏面23側に実装されたDRAMであり、D
RAM22、24は本発明の半導体メモリの一実施形態
である。
【0031】図3は本発明の半導体メモリの一実施形態
を示す概略的平面図であり、図3中、25はDRAM本
体、26はデータ出力回路用の電源電圧VDDQ(例え
ば、3[V])が印加されるVDDQ端子、27は電源
電圧VDDQよりも低電圧のデータ出力回路用の電源電
圧VSSQ(例えば、0[V])が印加されるデータ出
力回路用のVSSQ端子である。
【0032】また、28は入出力データDQ0〜DQ1
5に対応して設けられているデータ入出力端子、29は
アドレス信号入力端子、コントロール信号入力端子、デ
ータ出力回路以外の内部回路用の電源電圧VDDが印加
されるVDD端子又はデータ出力回路以外の回路用の接
地電圧VSSが印加されるVSS端子である。
【0033】即ち、本発明の半導体メモリの一実施形態
であるDRAMは、DRAM本体25の一辺に、VDD
Q端子26とVSSQ端子27とデータ入出力端子28
とを、VDDQ端子26とVSSQ端子27との間にデ
ータ入出力端子28が配置され、かつ、VDDQ端子2
6とVSSQ端子27とが交互に配置されるように、一
列に配列するというものである。
【0034】また、図1において、30、31は配線基
板20の表面21に形成されたVDDQ用配線、32、
33は配線基板20の表面21に形成されたVSSQ用
配線、34は配線基板20の表面21に形成されたデー
タ用配線、35、36、37、38はコンタクトホール
である。
【0035】また、39はマザーボードや増設ボードな
どに設けられている配線基板用コネクタに接続される接
続部であり、40はVDDQ用配線31が接続されたV
DDQ端子、41はVSSQ用配線33が接続されたV
SSQ端子、42はデータ用配線34が接続されたデー
タ入出力端子である。
【0036】また、図2において、43、44は配線基
板20の裏面23に形成されたVDDQ用配線、45、
46は配線基板20の裏面23に形成されたVSSQ用
配線、47は配線基板20の裏面23に形成されたデー
タ用配線である。
【0037】また、接続部39において、48はVDD
Q用配線44が接続されたVDDQ端子、49はVSS
Q用配線46が接続されたVSSQ端子、50はデータ
用配線47が接続されたデータ入出力端子である。
【0038】また、図4は配線基板20の2層目の要部
を示す概略的平面図である。図4中、51は配線基板2
0の2層目に形成されたVDDQ用配線であり、VDD
Q用配線30とVDDQ用配線51とVDDQ用配線4
3とはコンタクトホール35を介して接続されており、
VDDQ用配線31とVDDQ用配線51とVDDQ用
配線44とはコンタクトホール36を介して接続されて
いる。
【0039】また、図5は配線基板20の3層目の要部
を示す概略的平面図である。図5中、52は配線基板2
0の3層目に形成されたVSSQ用配線であり、VSS
Q用配線32とVSSQ用配線52とVSSQ用配線4
5とはコンタクトホール37を介して接続されており、
VSSQ用配線33とVSSQ用配線52とVSSQ用
配線46とはコンタクトホール38を介して接続されて
いる。
【0040】ここに、DRAM22のVDDQ端子26
はVDDQ用配線30に接続され、DRAM22のVS
SQ端子27はVSSQ用配線32に接続され、DRA
M22のデータ入出力端子28はデータ用配線34に接
続されている。
【0041】また、DRAM24のVDDQ端子26は
VDDQ用配線43に接続され、DRAM24のVSS
Q端子27はVSSQ用配線45に接続され、DRAM
24のデータ入出力端子28はデータ用配線47に接続
されている。
【0042】このように、本発明のメモリモジュールの
第1実施形態においては、配線基板20の接続部39
に、DRAM22、24のデータ入出力端子28の配列
ピッチと同一の配列ピッチのデータ入出力端子42、5
0を設けるとしている。
【0043】また、DRAM22、24が設けるVDD
Q端子26、VSSQ端子27及びデータ入出力端子2
8の端子列が接続部39側に接続部39と平行になるよ
うにDRAM22、24を実装して、DRAM22、2
4が設けるデータ入出力端子28と配線基板20に設け
るデータ入出力端子42、50とをデータ用配線34、
47で接続している。
【0044】したがって、本発明のメモリモジュールの
第1実施形態によれば、データ用配線34、47の長さ
をDRAM22、24の全データ入出力端子28につい
て同一、かつ、短いものとすることができるので、デー
タDQ0〜DQ15の入力時に必要な同期マージンを小
さくし、データ伝送の高速化を図ることができると共
に、データ信号の反射成分を小さくして、信号波形のリ
ンギングの発生を抑制し、信号波形の良好なデータ伝送
を行うことができる。
【0045】また、配線基板20は、表面21に形成し
たデータ入出力端子42列の外側にVDDQ端子40及
びVSSQ端子41をそれぞれ1個形成すると共に、裏
面23に形成したデータ入出力端子50列の外側にVD
DQ端子48及びVSSQ端子49をそれぞれ1個形成
するとしているので、配線基板20の接続部39に形成
すべき端子の数を低減し、接続部39の長さを短くする
ことができる。
【0046】また、配線基板20の表面21側にDRA
M22を実装すると共に、配線基板20の裏面23側に
DRAM24を実装するとしているので、DRAMの実
装密度を高くすることができる。
【0047】本発明のメモリモジュールの第2実施形態
・・図6、図7 図6は本発明のメモリモジュールの第2実施形態の表面
側の要部を示す概略的平面図、図7は本発明のメモリモ
ジュールの第2実施形態の裏面側の要部を示す概略的平
面図である。
【0048】図6において、60は本発明の配線基板の
第2実施形態である配線基板、61は配線基板60の表
面、62は配線基板60の表面61側に実装されたDR
AMであり、DRAM62は図3に示す本発明の半導体
メモリの一実施形態である。
【0049】また、63は配線基板60の表面61に形
成されたVDDQ用配線、64は配線基板60の表面6
1に形成されたVSSQ用配線、65は配線基板60の
表面61に形成されたデータ用配線、66、67はコン
タクトホールである。
【0050】また、68はマザーボードや増設ボードな
どに設けられている配線基板用コネクタに接続される接
続部であり、69はデータ用配線65が接続されたデー
タ入出力端子である。
【0051】また、図7において、70は配線基板60
の裏面、71は配線基板60の裏面70に形成されたV
DDQ用配線、72は配線基板60の裏面70に形成さ
れたVSSQ用配線であり、接続部68において、73
はVDDQ端子、74はVSSQ端子である。
【0052】ここに、VDDQ用配線63は、コンタク
トホール66を介して、VDDQ用配線71に接続さ
れ、VSSQ用配線64は、コンタクトホール67を介
して、VSSQ用配線72に接続されている。
【0053】また、DRAM62のVDDQ端子26
は、VDDQ用配線63に接続され、VSSQ端子27
は、VSSQ用配線64に接続され、データ入出力端子
28は、データ用配線65に接続されている。
【0054】このように、本発明のメモリモジュールの
第2実施形態においては、配線基板60の接続部68
に、DRAM62のデータ入出力端子28の配列ピッチ
と同一の配列ピッチのデータ入出力端子69を設けると
している。
【0055】また、DRAM62が設けるVDDQ端子
26、VSSQ端子27及びデータ入出力端子28の端
子列が配線基板60の接続部68側に接続部68と平行
になるようにDRAM62を実装して、DRAM62が
設けるデータ入出力端子28と配線基板60に設けるデ
ータ入出力端子69とをデータ用配線65で接続してい
る。
【0056】したがって、本発明のメモリモジュールの
第2実施形態によれば、データ用配線65の長さをDR
AM62の全データ入出力端子28について同一、か
つ、短いものとすることができるので、データDQ0〜
DQ15の入力時に必要な同期マージンを小さくし、デ
ータ伝送の高速化を図ることができると共に、データ信
号の反射成分を小さくして、信号波形のリンギングの発
生を抑制し、信号波形の良好なデータ伝送を行うことが
できる。
【0057】また、接続部68の裏面70にDRAM6
2が設けるVDDQ端子26及びVSSQ端子27の配
列ピッチと同一の配列ピッチのVDDQ端子73及びV
SSQ端子74を形成するとしているので、接続部68
の長さを短くすることができる。
【0058】
【発明の効果】本発明中、第1の発明の半導体メモリ
(請求項1記載の半導体メモリ)によれば、メモリモジ
ュール用の配線基板の配線基板用コネクタとの接続部
に、第1の発明の半導体メモリが設けるデータ入出力端
子の配列ピッチと同一の配列ピッチのデータ入出力端子
を形成し、第1の発明の半導体メモリのデータ入出力端
子側がメモリモジュール用の配線基板の接続部側に接続
部と平行になるように第1の発明の半導体メモリを実装
することを前提とする場合には、第1の発明が設けるデ
ータ入出力端子と配線基板に設けるデータ入出力端子と
を接続するために形成すべきデータ用配線の長さを第1
の発明の半導体メモリが設ける全データ入出力端子につ
いて同一、かつ、短くすることができるので、データ伝
送の高速化を図ることができると共に、信号波形の良好
なデータ伝送を行うことができる。
【0059】本発明中、第2の発明の配線基板(請求項
2記載の配線基板)によれば、半導体メモリが設けるデ
ータ入出力端子と接続部に設けるデータ入出力端子とを
接続するデータ用配線の長さを半導体メモリが設ける全
データ入出力端子について同一、かつ、短くすることが
できるので、データ伝送の高速化を図ることができると
共に、信号波形の良好なデータ伝送を行うことができ
る。
【0060】本発明中、第3の発明のメモリモジュール
(請求項3記載のメモリモジュール)によれば、半導体
メモリが設けるデータ入出力端子と接続部に設けるデー
タ入出力端子とを接続するデータ用配線の長さを半導体
メモリが設ける全データ入出力端子について同一、か
つ、短いものとすることができるので、データ伝送の高
速化を図ることができると共に、信号波形の良好なデー
タ伝送を行うことができる。
【0061】本発明中、第4の発明のメモリモジュール
(請求項4記載のメモリモジュール)によれば、第3の
発明のメモリモジュールと同様の効果を得ることができ
ると共に、配線基板は、接続部に形成されたデータ入出
力端子列の外側に第1、第2の電源端子をそれぞれ1個
形成するとしているので、配線基板の接続部に形成すべ
き端子の数を低減し、接続部の長さを短くすることがで
きる。
【0062】本発明中、第5の発明のメモリモジュール
(請求項5記載のメモリモジュール)によれば、第3の
発明のメモリモジュールと同様の効果を得ることができ
ると共に、配線基板の両面に半導体メモリを実装すると
しているので、半導体メモリの実装密度を高くすること
ができる。
【0063】本発明中、第6の発明のメモリモジュール
(請求項6記載のメモリモジュール)によれば、第3の
発明のメモリモジュールと同様の効果を得ることができ
ると共に、接続部の裏面側に半導体メモリが設ける複数
の第1、第2の電源端子の配列ピッチと同一の配列ピッ
チの第1、第2の電源端子を形成するとしているので、
接続部の長さを短くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のメモリモジュールの第1実施形態の表
面側の要部を示す概略的平面図である。
【図2】本発明のメモリモジュールの第1実施形態の裏
面側の要部を示す概略的平面図である。
【図3】本発明のメモリモジュールの第1実施形態が実
装するDRAM(本発明の半導体メモリの一実施形態)
を示す概略的平面図である。
【図4】本発明のメモリモジュールの第1実施形態が備
える配線基板(本発明の配線基板の第1実施形態)の2
層目の要部を示す概略的平面図である。
【図5】本発明のメモリモジュールの第1実施形態が備
える配線基板(本発明の配線基板の第1実施形態)の3
層目の要部を示す概略的平面図である。
【図6】本発明のメモリモジュールの第2実施形態の表
面側の要部を示す概略的平面図である。
【図7】本発明のメモリモジュールの第2実施形態の裏
面側の要部を示す概略的平面図である。
【図8】従来のメモリモジュールの一例の要部を示す概
略的平面図である。
【図9】従来のメモリモジュールの他の例の要部を示す
概略的平面図である。
【符号の説明】
(図1、図2) 40、48 VDDQ端子 41、49 VSSQ端子 42、50 データ入出力端子 (図6、図7) 69 データ入出力端子 73 VDDQ端子 74 VSSQ端子

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】データ出力回路用の第1の電源電圧が印加
    される複数の第1の電源端子と、前記第1の電源電圧よ
    りも低電圧の前記データ出力回路用の第2の電源電圧が
    印加される複数の第2の電源端子と、データが入出力さ
    れる複数のデータ入出力端子とを備える半導体メモリに
    おいて、 前記第1の電源端子と前記第2の電源端子と前記データ
    入出力端子とを、前記第1の電源端子と前記第2の電源
    端子との間に前記データ入出力端子が配置され、かつ、
    前記第1の電源端子と前記第2の電源端子とが交互に配
    置されるように、一列に配列していることを特徴とする
    半導体メモリ。
  2. 【請求項2】配線基板用コネクタに接続される接続部を
    有し、データ出力回路用の第1の電源電圧が印加される
    第1の電源端子と、前記第1の電源電圧よりも低電圧の
    前記データ出力回路用の第2の電源電圧が印加される第
    2の電源端子と、データが入出力されるデータ入出力端
    子とを、前記第1の電源端子と前記第2の電源端子との
    間に前記データ入出力端子が配置され、かつ、前記第1
    の電源端子と前記第2の電源端子とが交互に配置される
    ように、一列に配列している半導体メモリが実装される
    配線基板であって、 前記接続部に前記半導体メモリが設ける複数のデータ入
    出力端子の配列ピッチと同一の配列ピッチの複数のデー
    タ入出力端子を設け、前記半導体メモリが設けるデータ
    入出力端子列が前記接続部側に前記接続部と平行になる
    ように前記半導体メモリを実装することができるよう
    に、前記半導体メモリが設けるデータ入出力端子と前記
    接続部が設けるデータ入出力端子とを接続するデータ用
    配線を形成していることを特徴とする配線基板。
  3. 【請求項3】データ出力回路用の第1の電源電圧が印加
    される複数の第1の電源端子と、前記第1の電源電圧よ
    りも低電圧の前記データ出力回路用の第2の電源電圧が
    印加される複数の第2の電源端子と、データが入出力さ
    れる複数のデータ入出力端子とを備える半導体メモリ
    を、配線基板用コネクタに接続される接続部を有する配
    線基板に実装してなるメモリモジュールにおいて、 前記半導体メモリは、前記第1の電源端子と前記第2の
    電源端子と前記データ入出力端子とを、前記第1の電源
    端子と前記第2の電源端子との間に前記データ入出力端
    子が配置され、かつ、前記第1の電源端子と前記第2の
    電源端子とが交互に配置されるように、一列に配列して
    いる部分を有し、 前記配線基板は、前記接続部に前記半導体メモリが設け
    る複数のデータ入出力端子の配列ピッチと同一の配列ピ
    ッチの複数のデータ入出力端子を設け、前記半導体メモ
    リが設けるデータ入出力端子列が前記接続部側に前記接
    続部と平行になるように前記半導体メモリを実装し、前
    記半導体メモリが設けるデータ入出力端子と配線基板が
    設けるデータ入出力端子とをデータ用配線で接続してい
    ることを特徴とするメモリモジュール。
  4. 【請求項4】前記配線基板は、前記接続部に形成された
    データ入出力端子列の外側に第1、第2の電源端子をそ
    れぞれ1個形成し、前記半導体メモリの複数の第1の電
    源端子及び複数の第2の電源端子をそれぞれ前記配線基
    板の第1、第2の電源端子に接続していることを特徴と
    する請求項3記載のメモリモジュール。
  5. 【請求項5】前記配線基板は、前記接続部の両面に前記
    データ入出力端子を形成し、前記配線基板の両面に前記
    半導体メモリを実装していることを特徴とする請求項3
    記載のメモリモジュール。
  6. 【請求項6】前記配線基板は、前記接続部の表面側に前
    記複数のデータ入出力端子を形成し、前記接続部の裏面
    側に前記半導体メモリが設ける複数の第1、第2の電源
    端子の配列ピッチと同一の配列ピッチの第1、第2の電
    源端子を形成し、前記半導体メモリが設ける第1、第2
    の電源端子と前記配線基板が設ける第1、第2の電源端
    子とを接続していることを特徴とする請求項3記載のメ
    モリモジュール。
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