JPH10232494A - レジスト樹脂組成物及びこれらの硬化物 - Google Patents

レジスト樹脂組成物及びこれらの硬化物

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JPH10232494A
JPH10232494A JP9051164A JP5116497A JPH10232494A JP H10232494 A JPH10232494 A JP H10232494A JP 9051164 A JP9051164 A JP 9051164A JP 5116497 A JP5116497 A JP 5116497A JP H10232494 A JPH10232494 A JP H10232494A
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JP
Japan
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epoxy resin
resist
sulfonio
phenothiazine
acrylate
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Application number
JP9051164A
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Minoru Yokoshima
実 横島
Tetsuo Okubo
哲男 大久保
Kazunori Sasahara
数則 笹原
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Nippon Kayaku Co Ltd
Original Assignee
Nippon Kayaku Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】高解像度で、現像性に優れ、その硬化物が、耐
溶剤性、耐めっき液性に優れ、更には、はんだ付け工程
の温度にも耐える耐熱性をもそなえた硬化物を与えるレ
ジスト樹脂組成物を提供する。 【解決手段】エポキシ樹脂および/又はカルキシル基含
有エポキシ樹脂(A)と光カチオン重合開始剤(B)と
フェノチアジン化合物(C)及び任意成分として希釈剤
(D)を含有することを特徴とするレジスト樹脂組成
物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板用
レジストとして有用なレジスト樹脂組成物及びその硬化
物に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、プリント配線板は銅張積層板を用
い、銅箔の回路に不要な部分をエッチングにより除去す
るサブトラクティブ法によって製造されているが、この
サブトラクティブ法は、ファインパターン、高密度配線
板を形成するのが困難であること、また、小径スルーホ
ール、バイアホールが電気めっきでは均一に行えないこ
となどの欠点を有し、電子機器の高密度化に対応しきれ
なくなっているのが現状である。
【0003】これに対して最近は、絶縁基材よりなる積
層板に接着剤層を形成し、そこへ無電解めっきにより回
路及びスルーホールを形成するフルアディティブ法が注
目されている。この方法では導体パターン精度はめっき
レジストの転写精度のみで決定され、また導体部分が無
電解めっきのみで形成されるため、高アスペクト比スル
ーホールを有する基板においても、スローイングパワー
の高い均一なスルーホールめっきを行うことが可能であ
る。これまでは一般民生用に適するとされてきたアディ
ティブ法であるが、産業用、高密度、高多層基板製造プ
ロセスとしても実用され始めている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一般に民生用途の基板
製造のためのアディティブ法では、めっきレジストパタ
ーンはスクリーン印刷法によって転写されているが、高
密度配線を有するプリント配線板を製造するためには、
めっきレジストパターンを写真製版によって形成するこ
と、すなわちフォトレジストを用いたフォトアディティ
ブ法を採用することが必要となってくる。フォトアディ
ティブ法に適したフォトレジストには、感度や解像度、
現像性のようなフォトレジスト本来の特性のほかに、次
のような特性が要求される。現像は、1,1,1−トリ
クロロエタン系有機溶剤又はアルカリ水溶液に限定され
るため、いずれかで現像可能であること、高温、高アル
カリ性条件下で長時間行われる無電解めっきに耐えるこ
と、めっき処理後、永久レジストとして優れたソルダー
レジスト特性を有すること、はんだ付け工程での260
℃前後の温度にも耐える耐熱性、及びはんだ付け時に用
いるフラックスを洗浄する有機溶剤に対する耐溶剤性を
有すること、更には、積層されても基板全体の熱的信頼
性を低下させないことなどである。現在、このアディテ
ィブ法に使用可能なフォトレジストも市販されているが
未だ十分であるとはいえない。
【0005】従って、本発明の目的とするところは、硬
化性が良好で写真法によりパターン精度の良いレジスト
形成がアルカリ水溶液あるいは水と有機溶剤の混合液を
用いた現像で可能であり、フルアディティブ法の無電解
銅めっき液に十分に耐え、また、はんだ付け工程の26
0℃前後の温度にも耐える耐熱性、およびはんだ付け時
に用いるフラックスを洗浄する有機溶剤に対する耐溶剤
性を備えていて、最終製品まで除去することなく使用さ
れるレジスト樹脂組成物及びその硬化物を提供すること
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明によるレジスト樹脂組成物及びその硬化物
は、下記の組成を有し、永久レジストとしての優れた特
性と、このレジスト樹脂組成物を用いたプリント配線板
を製造し得ることを性能上の特長とするものである。
【0007】即ち、本発明は、(1)エポキシ樹脂およ
び/又はカルボキシル基含有エポキシ樹脂(A)と光カ
チオン重合開始剤(B)とフェノチアジン化合物(C)
及び任意成分として希釈剤(D)を含有することを特徴
とてるレジスト樹脂組成物。(2)光カチオン重合開始
剤(B)が波長360〜500nmの領域における最大
モル吸光係数が100以上である光カチオン重合開始剤
である(1)項のレジスト樹脂組成物、(3)(1)項
又は(2)項記載のレジスト組成物の硬化物、(4)
(3)項記載のレジスト組成物の硬化物からなる皮膜を
有する物品、に関する。
【0008】本発明では、エポキシ樹脂および/又はカ
ルボキシル基含有エポキシ樹脂(A)を使用する。その
ようなエポキシ樹脂の具体例としては、例えば、ビスェ
ノールA、ビスフェノールFとエピクロロヒドリンの縮
合生成物である高分子量のビスフェノール型エポキシ樹
脂、テトラブロモビスフェノールAのエポキシ化ジグリ
シジルエーテル、フェノール・ノボラックやクレゾール
・ノボラック等のノボラック樹脂とエピクロロヒドリン
の反応物であるノボラック型エポキシ樹脂、トリスフェ
ノールメタン型エポキシ樹脂、ビスフェノールAのホル
ムアルデヒド縮合物とエピクロロヒドリンの反応物であ
るビスフェノールAホルムアルデヒド・ノボラック型エ
ポキシ樹脂、3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−
3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、ビ
ス(3,4−エポキシシクロヘキシル)アジペート、2
−〔3,4−エポキシシクロヘキシル−5,5−スピロ
−3,4−エポキシ〕シクロヘキサンメタジオキサン、
エポキシ化ポリブタンジエン樹脂、エポキシ基含有(メ
タ)アクリレート(a)(例えば、グリシジル(メタ)
アクリレート、
【0009】
【化1】
【0010】
【化2】
【0011】等)と単官能性モノマー(b)(例えば、
単官能性(メタ)アクリレート、スチレン、α−メチル
スチレン等)の共重合物であるエポキシ樹脂等を挙げる
ことができる。
【0012】カルボキシル基含有エポキシ樹脂の具体例
としては、例えば、前記、エポキシ樹脂と分子中に1個
のカルボン酸と1個以上の水酸基を含有する化合物(例
えば、ジメチロールプロピオン酸、ヒドロキシジメチル
プロピオン酸、等)の反応生成物の水酸基と多塩基酸無
水物(例えば、無水マレイン酸、無水コハク酸、無水フ
タル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水
フタル酸、3−メチル−テトラヒドロ無水フタル酸、4
−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸等)の反応物であ
るの酸価(mgKOH/g)が好ましくは20〜150の生成
物、前記エポキシ基含有(メタ)アクリレート(a)と
水酸基含有モノ(メタ)アクリレート(c)(例えば、
2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒド
ロキシプロピル(メタ)アクリレート、4−ヒドロキシ
ブチル(メタ)アクリレート等)と任意成分として
(a)及び(c)成分以外の単官能性モノマー(例え
ば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アク
リレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、ter−
ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メ
タ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、イ
ソボルニル(メタ)アクリレート、スチレン、α−メチ
ルフチレン等)の共重合物の水酸基と前記多塩基酸無水
物の反応物である酸価(mgKOH/g)が好ましくは20〜1
50の生成物等を挙げることができる。
【0013】本発明で使用される光カチオン重合開始剤
(B)の具体例としては、例えば、トリフェニルスルホ
ニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルス
ルホニウムヘキサフルオロホスフェート、4,4′−ビ
ス〔ジフェニルスルホニオ〕フェニルスルフィド−ビス
−ヘキサフルオロアンチモネウト、4,4′−ビス〔ジ
フェニルスルホニオ〕フェニルスルフィド−ビス−ヘキ
サフルオロホスフェート、4,4′ビス〔ジ(β−ヒド
ロキシエトキシ)フェニルスルホニオ〕フェニルスルフ
ィド−ビス−ヘキサフルオロアンチモネート、4,4′
−ビス〔ジ(β−ヒドロキシエトキシ)フェニルスルホ
ニオ〕フェニルスルフィドービス−ヘキサフルオロホス
フェート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアン
チモネート、ジフェニルヨードニウムテトラ(ペンタフ
ルオロフェニル)ボレート、7−〔ジ(p−フルオロフ
ェニル)スルホニオ〕−2−イソプロピルチオキサント
ンヘキサフルオロホスフェート、7〔ジ(p−フルオロ
フェニル)スルホニオ〕−2−イソプロピルチオキサン
トンヘキサフルオロアンチモネート、7−〔ジ(p−フ
ルオロフェニル)スルホニオ〕−2−イソプロピルチオ
キサントンテトラ(ペンタフルオロフェニル)ボレー
ト、7−〔ジ(p−トルイル)フルホニオ〕−2−イソ
プロピルチオキサントンヘキサフルオロアンチモネー
ト、7−〔ジ(p−トルイル)スルホニオ〕−2−イソ
プロピルチオキサントンヘキサフルオロホスフェート、
7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホニオ〕−2−
クロロチオキサントンヘキサフルオロアンチモネート、
7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホニオ〕−2−
クロロチオキサントンヘキサフルオロホスフェート、7
−ジフェニルスルホニオ−1−クロロ−4−ブトキシチ
オキサントンヘキサフルオロアンチモネート、7−ジフ
ェニルスルホニオ−1−クロロ−4−ブトキシチオキサ
ントンヘキサフルオロホスフェート、7−〔ジ(p−β
−ヒドロキシエトキシフェニル)スルホニオ〕−2−イ
ソプロピルチオキサントンヘキサフルオロアンチモネー
ト等を挙げることができる。これらの成分(B)は単
独、若しくは2種以上を併用して用いても差し支えな
い。また、これらの成分(B)のうち、特に波長360
〜500nmの領域における最大モル吸光係数が100
以上、好ましくは1000以上、特に2000以上であ
るものが好ましく、そのような光カチオン重合開始剤の
例としては、例えば、7−〔ジ(p−フルオロフェニ
ル)スルホニオ〕−2−イソプロピルチオキサントンヘ
キサフルオロアンチモネート、7−〔ジ(p−フルオロ
フェニル)スルホニオ〕−2−イソプロピルチオキサン
トンヘキサフルオロホスフェート、7−〔ジ(p−フル
オロフェニル)スルホニオ〕−2−イソプロピルチオキ
サントンテトラ(ペンタフルオロフェニル)ボレート、
7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホニオ〕−2−
クロロチオキサントンヘキサフルオロアンチモネート、
7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホニオ〕−2−
クロロチオキサントンヘキサフルオロホスフェート、7
−〔ジ(p−フルオロフェニル(スルホニオ〕−1−ク
ロロ−4−ブトキシチオキサントンヘキサフルオロアン
チモネート、7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホ
ニオ〕−1−クロロ−4−ブトキシチオキサントンヘキ
サフルオロホスフェート、7−〔ジ(p−トルイル)ス
ルホニオ〕−2−イソプロピルチオキサントンヘキサフ
ルオロアンチモネート、7−〔ジ(p−トルイル)スル
ホニオ〕−2−イソプロピルチオキサントンヘキサフル
オロホスフェート、7−〔ジ(p−トルイル)スルホニ
オ〕−2−クロロチオキサントンヘキサフルオロアンチ
モネート等のチオキサントン構造を有するスルホニウム
塩等を挙げることができる。
【0014】本発明で使用されるフェノチアジン骨格を
有するフェノチアジン化合物は、本発明の組成物の硬化
性をより向上させる上で有用な成分である。(C)成分
の具体例としては、フェノチアジン、2−クロロフェノ
チアジン、2−(トリフルオロメチル)フェノチアジ
ン、2−アセチルフェノチアジン、2−メトキシフェノ
シアジン、2−クロロ−10−(3−ジメチルアミノプ
ロピル)−フェノチアジン、10−(2−ジエチルアミ
ノプロピル)フェノチアジン等が挙げられるがこれらに
限定されない。
【0015】これらのフェノチアジン化合物のうち、好
ましいものとしては、フェノチアジンが挙げられる。
【0016】本発明において必要により用いられる希釈
剤(D)の具体例としては、例えば、プロピレングリコ
ールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセ
テート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、エ
トキシエタノール、ソルベントナフサ、メチルエチルケ
トン、N−メチルピロリドン、プロピレンカーボネー
ト、γ−ブチロラクトン等の有機溶剤類を挙げることが
できる。
【0017】本発明の組成物において、各成分(A)〜
(D)の使用割合は、(A)成分は、本発明の組成物
中、20〜99.7重量%が好ましく、特に好ましくは
30〜95重量%である。(B)成分は、本発明の組成
物中、0.3〜15重量%が好ましく、特に好ましくは
1〜16重量%である。(C)成分は、本発明の組成物
中、0.01〜5重量%が好ましく、特に好ましくは
0.05〜3重量%である。(D)成分は、本発明の組
成物中、0〜70重量%、好ましくは、10〜60重量
%である。
【0018】本発明の組成物には必要に応じて更に、着
色剤、顔料、フィラー、消泡剤、レベリング剤、酸化防
止剤、シランカップリング剤、可塑剤、あるいは、構造
中にウレタン基を有する化合物(例えば、ウレタン変性
エポキシ樹脂、ウレタン変性エポキシ(メタ)アクリレ
ート、ウレタン(メタ)アクリレート等)等を添加する
こともできる。
【0019】本発明の組成物は、各成分(A)〜(D)
を加熱、混合、溶解、分散等を行うことにより調製する
ことができる。
【0020】本発明のレジスト樹脂組成物は、接着剤付
き積層板上に20〜60μmの厚みで塗布し、60〜1
30℃で約5〜60分間、乾燥してレジスト層を形成す
る。また、予めキャリアーフィルム上に塗布し、上記と
同様の条件でフィルム状にしたものを接着剤層上に積層
してもよい。このようにして得られたレジスト層の上に
ネガマスクを置き、ネガマスクを通して高圧水銀灯露光
装置を用い紫外線を照射し、次いで60〜130℃で1
〜30分加熱し、光カチオン重合開始剤の光分解生成物
によって開始される架橋反応を促進させる。次に、希ア
ルカリ水溶液又は水と有機溶剤の混合液による現像で未
露光部分を現像する。次いで、水洗乾燥後、全面に後露
光をして、100〜200℃で10〜60分間熱処理し
硬化物を得ることができる。
【0021】
【実施例】以下、本発明を実施例により、より具体的に
説明する。尚、実施例中の部は重量部である。 (合成例1)カルボキシル基含有エポキシ樹脂の合成ク
レゾール・ノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬(株)
製、EOCN−102S、エポキシ当量217、軟化点
86℃)217部、ジメチロールプロピオン酸39.4
部、トリフェニルホスフィン2.0部及びプロピレング
リコールモノメチルエーテルアセテート138.2部を
仕込み、95℃で酸価(mgKOH/g)が0.5以下になるま
で約15時間反応し、次いでクミルパーオキサイド、
1.7部を仕込み、98℃で4時間反応し、反応触媒で
あるトリフェニルホスフィンをトリフェニルホスフィン
オキサイドに酸化し不活性化する。次いで、テトラヒド
ロ無水フタル酸44.7部及びプロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテート48.9部を仕込み、95
℃で4時間反応し、固形分酸価(mgKOH/g)54のカルボ
キシル基含有エポキシ樹脂(A−1)を得た。 実施例1〜3、比較例1 表1に示す配合組成(数値は重量部である。)に従って
各成分を配合してそれぞれレジスト樹脂組成物を調製し
た。得られた樹脂組成物を接着剤付き積層板上に50μ
mの厚みで塗布し、90℃で30分間熱処理し溶剤を乾
燥後、ネガフィルムを接着させ、超高圧水銀灯を用い照
射量700mJ/cm2で露光し、次いで90℃で15分加熱
した後、1.0%Na2CO3水溶液により2kg/cm2のスプレ
ー圧で2分間(35℃)現像を行なった。水洗乾燥後、
全面に1000mJ/cm2の後露光をして150℃で30分
間加熱処理を行なった。これを70℃の無電解銅めっき
液に10時間浸漬し、約20μmの無電解銅めっき皮膜
を形成し、アディティブ法多層プリント配線板を作製し
た。このようにしてアディティブ法多層プリント配線板
が得られる過程でのレジスト特性について評価した結果
を表1に示す。
【0022】評価方法 1.現像性 ○・・・・未露光部分が現像され露光部分に全く異常が
ない。 △・・・・露光部分の溶解が若干あり。 ×・・・・露光部分の溶解がある。 2.耐溶剤性 アセトン浸漬20分間で全く変化が見られないものを○
とした。 3.耐めっき液性 無電解銅めっき工程で全く変化が見られないものを○と
した。 4.半田耐熱性n=5で、全ての試験片が260℃、2
0秒で変化が見られないものを○とした。
【0023】
【表1】 表1 実施例 比較例 1 2 3 1 2 合成例1で得た化合物(A-1) 123 123 123 123 123 EOCN−102S*1 20 10 15 20 10 BF−1000 *2 10 10 7−〔ジ(p−フルオロフェ ニル)スルホニオ〕−2−イ ソプロピルチオキサントンヘ キサフルオロアンチモネート*3 3 3 3 7−〔ジ(p−フルオロフェ ニル)スルホニオ〕−2−ク ロロチオキサントンヘキサフ ルオロアンチモネート *4 3 3 フェノチアジン 0.2 0.2 0.2 プロピレングリコールモノメ チルエーテルアセテート 15 10 15 15 10 その他 KAYARAD UX-8101 *5 5 現像性 ○ ○ ○ × × 耐溶剤性 ○ ○ ○ × × 耐めっき液性 ○ ○ ○ △ △ 半田耐熱性 ○ ○ ○ △ △
【0024】注) *1 EOCN−102S:
日本化薬(株)製、o−クレゾール・ノボラック型エポ
キシ樹脂。 *2 BF−1000:旭電化工業(株)製、エポ
キシ化(1,2−ポリブタジエン) *3 7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホニ
オ〕−2−イソプロピルチオキサントンヘキサフルオロ
アンキモネート:光カチオン重合開始剤、波長382n
mでモル吸光係数5090。 *4 7−〔ジ(p−フルオロフェニル)スルホニ
オ〕−2−クロロチオキサントンヘキサフルオロアンチ
モネート:光カチオン重合開始剤、波長385nmでモ
ル吸光係数4950。 *5 KAYARAD UXX−8101:日本化
薬(株)製、ポリエーテルウレタンアクリレート。
【0025】表1の結果から明らかなように、本発明の
組成物は、現像耐性に優れ、又、その硬化物は耐溶剤
性、耐めっき液性、半田耐熱性等に優れている。
【0026】
【発明の効果】本発明のレジスト樹脂組成物は、高解像
度で、現像性に優れ、イソプロピルアルコール,トリク
ロロエチレン、塩化メチレン、アセトンなどに対する耐
溶剤性、高温、高アルカリ性条件下で長時間行われる無
電解めっきに対する耐めっき液性に優れ、更には、はん
だ付け工程の260℃前後の温度に耐える耐熱性をもそ
なえ、プリント配線板等の製造に適した硬化物を与え
る。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H05K 3/06 H05K 3/06 H 3/18 3/18 D 3/28 3/28 D 3/46 3/46 T

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】エポキシ樹脂および/又はカルボキシル基
    含有エポキシ樹脂(A)と光カチオン重合開始剤(B)
    とフェノチアジン化合物(C)及び任意成分として希釈
    剤(D)を含有することを特徴とするレジスト樹脂組成
    物。
  2. 【請求項2】光カチオン重合開始剤(B)が波長360
    〜500nmの領域における最大モル吸光係数が100
    以上である光カチオン重合開始剤である請求項1のレジ
    スト樹脂組成物。
  3. 【請求項3】請求項1又は2記載のレジスト樹脂組成物
    の硬化物。
  4. 【請求項4】請求項3に記載のレジスト組成物の硬化物
    からなる皮膜を有する物品。
JP9051164A 1997-02-20 1997-02-20 レジスト樹脂組成物及びこれらの硬化物 Pending JPH10232494A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007049488A1 (ja) * 2005-10-24 2007-05-03 Matsui Chemical Co., Ltd. セラミックス被覆用組成物

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007049488A1 (ja) * 2005-10-24 2007-05-03 Matsui Chemical Co., Ltd. セラミックス被覆用組成物

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