JPH10227730A - 人工孔食作製方法 - Google Patents
人工孔食作製方法Info
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- JPH10227730A JPH10227730A JP3072897A JP3072897A JPH10227730A JP H10227730 A JPH10227730 A JP H10227730A JP 3072897 A JP3072897 A JP 3072897A JP 3072897 A JP3072897 A JP 3072897A JP H10227730 A JPH10227730 A JP H10227730A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 不必要な傷をつけることなく、孔食部表層金
属に組成変形の影響を受けず、また、加工面の精度を向
上することによって、孔食モデルの標準として適する孔
食を作製し、しかも短時間で作業できる人工孔食作製方
法を提供すること。 【解決手段】 人工孔食作製方法は、金属表面に陽極電
解を施すことによっ孔食が作製されるものであり、試験
片１に形成された保護膜２の一部にピンホール２ａを形
成し、試験片１の一部表面に、ピンホール２ａより大き
な孔９ａが形成されたビニールテープ９を貼着する。そ
して、ピンホール２ａに合わせるように電気ペン３が配
置される。電気ペン３には、電解液４が浸透されたガラ
ス綿５が収納され、電気ペン３に直流電源の陰極を接続
し、試験片１に直流電源の陽極を接続することによっ
て、電解液４がピンホール２ａから試験片１に侵食し、
数分間の電解時間で孔食が作製される。
属に組成変形の影響を受けず、また、加工面の精度を向
上することによって、孔食モデルの標準として適する孔
食を作製し、しかも短時間で作業できる人工孔食作製方
法を提供すること。 【解決手段】 人工孔食作製方法は、金属表面に陽極電
解を施すことによっ孔食が作製されるものであり、試験
片１に形成された保護膜２の一部にピンホール２ａを形
成し、試験片１の一部表面に、ピンホール２ａより大き
な孔９ａが形成されたビニールテープ９を貼着する。そ
して、ピンホール２ａに合わせるように電気ペン３が配
置される。電気ペン３には、電解液４が浸透されたガラ
ス綿５が収納され、電気ペン３に直流電源の陰極を接続
し、試験片１に直流電源の陽極を接続することによっ
て、電解液４がピンホール２ａから試験片１に侵食し、
数分間の電解時間で孔食が作製される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、金属の人工欠陥
材の強度評価や耐久性・強度試験を行なったり、腐食試
験等を行なうために、金属に人工孔食を作製する方法に
関する。
材の強度評価や耐久性・強度試験を行なったり、腐食試
験等を行なうために、金属に人工孔食を作製する方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的に、各種機械や装置を長期間使用
していると、さまざまな条件下のもとで孔食が発生する
ことがあり、この孔食に対応するために、各種機械や装
置に使用されている金属材料を検査することが行なわれ
る。孔食とは、金属が安定した保護膜の条件下のもとで
皮膜の欠陥箇所から発生する局部的な点状の腐食をい
い、試験片を使ってこの孔食と同様な人工孔食を作製
し、この試験片で疲労試験、腐食試験等を行ない、寿命
予測等の評価をする。
していると、さまざまな条件下のもとで孔食が発生する
ことがあり、この孔食に対応するために、各種機械や装
置に使用されている金属材料を検査することが行なわれ
る。孔食とは、金属が安定した保護膜の条件下のもとで
皮膜の欠陥箇所から発生する局部的な点状の腐食をい
い、試験片を使ってこの孔食と同様な人工孔食を作製
し、この試験片で疲労試験、腐食試験等を行ない、寿命
予測等の評価をする。
【０００３】従来、この人工孔食を作製する方法は、ド
リル等による機械的な方法、放電加工を利用して行なう
方法、陽極分極法等によって行なわれていた。
リル等による機械的な方法、放電加工を利用して行なう
方法、陽極分極法等によって行なわれていた。
【０００４】ドリル等による機械的な方法は、試験片を
ボール盤に装着しドリル等の工具で試験片に孔食を作製
することによって行なわれていた。この方法では容易な
作業で行なうことができるので、短時間で作業すること
ができる。
ボール盤に装着しドリル等の工具で試験片に孔食を作製
することによって行なわれていた。この方法では容易な
作業で行なうことができるので、短時間で作業すること
ができる。
【０００５】また、放電加工による人工孔食作製方法
は、放電加工機の加工液の中に試験片をおき、電極工具
と試験片との間に放電を発生させスパークを繰り返して
孔食を作製するものであり、試験片に作製される孔食の
面精度が良く正確な検査を行なうことができる。
は、放電加工機の加工液の中に試験片をおき、電極工具
と試験片との間に放電を発生させスパークを繰り返して
孔食を作製するものであり、試験片に作製される孔食の
面精度が良く正確な検査を行なうことができる。
【０００６】陽極分極法による人工孔食作製方法は、求
めた陽極分曲線から条件を設定し、試験片の孔食発生予
定域を直接分極することによって、孔食を発生させる電
気化学的方法の１つであり、図１１に示されるように、
照合電極２１と試料電極２２をそれぞれポテンションス
タット２３に接続するとともに試料溶液２４中に浸し、
電位掃引装置２５で電圧を所定時間上昇させ、所定電位
に達すると電流値が急激に上昇し、試料電極２２に配置
された試験片に孔食を発生させるようにしたものであ
る。この方法では、微小な孔については短時間で精度良
い孔食が作製できる。
めた陽極分曲線から条件を設定し、試験片の孔食発生予
定域を直接分極することによって、孔食を発生させる電
気化学的方法の１つであり、図１１に示されるように、
照合電極２１と試料電極２２をそれぞれポテンションス
タット２３に接続するとともに試料溶液２４中に浸し、
電位掃引装置２５で電圧を所定時間上昇させ、所定電位
に達すると電流値が急激に上昇し、試料電極２２に配置
された試験片に孔食を発生させるようにしたものであ
る。この方法では、微小な孔については短時間で精度良
い孔食が作製できる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のそれぞ
れの人工孔食作製方法には、次のような課題が挙げられ
ている。例えば、ドリル等による機械的な方法では、微
小な孔食を形成する場合に加工しにくく、また、油によ
って表面が汚くなったり、切り粉等により試験片表面に
不必要な傷をつけたり、さらに、孔の表層金属に機械加
工による組成変形層が形成され、正確な孔食を作製でき
ないおそれがある。
れの人工孔食作製方法には、次のような課題が挙げられ
ている。例えば、ドリル等による機械的な方法では、微
小な孔食を形成する場合に加工しにくく、また、油によ
って表面が汚くなったり、切り粉等により試験片表面に
不必要な傷をつけたり、さらに、孔の表層金属に機械加
工による組成変形層が形成され、正確な孔食を作製でき
ないおそれがある。
【０００８】また、放電加工による孔食作製方法では、
放電加工機そのものが大規模な装置のため、設置スペー
スが必要となり、また、加工面に放電に伴う熱が加わる
ため、部分的に金属の溶融が発生して他の部分と金属組
成が異なってくるおそれがある。
放電加工機そのものが大規模な装置のため、設置スペー
スが必要となり、また、加工面に放電に伴う熱が加わる
ため、部分的に金属の溶融が発生して他の部分と金属組
成が異なってくるおそれがある。
【０００９】さらに、陽極分極法による孔食作製方法で
は、その手法が複雑で深く大きい孔食を形成する場合に
はかなりの時間がかかり、不必要な部分に腐食が発生し
やすい。
は、その手法が複雑で深く大きい孔食を形成する場合に
はかなりの時間がかかり、不必要な部分に腐食が発生し
やすい。
【００１０】この発明は、上述の課題を解決するもので
あり、不必要な傷をつけることなく、深く大きな孔食を
形成する場合でも孔食加工面の精度が良く、しかも短時
間で正確な孔食を作製できる人工孔食作製方法を提供す
ることを目的とする。
あり、不必要な傷をつけることなく、深く大きな孔食を
形成する場合でも孔食加工面の精度が良く、しかも短時
間で正確な孔食を作製できる人工孔食作製方法を提供す
ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明にかかわる人工
孔食作製方法は、上記の課題を解決するために以下の方
法によるものである。即ち、金属材料の試験・検査を行
なうために、前記金属の試験片表面に人工孔食を作製す
る人工孔食作製方法であって、前記金属表面に陽極電解
を施すことを特徴とするものである。
孔食作製方法は、上記の課題を解決するために以下の方
法によるものである。即ち、金属材料の試験・検査を行
なうために、前記金属の試験片表面に人工孔食を作製す
る人工孔食作製方法であって、前記金属表面に陽極電解
を施すことを特徴とするものである。
【００１２】さらに、この人工孔食作製方法は、金属材
料の試験・検査を行なうために、前記金属の試験片表面
に人工孔食を作製する人工孔食作製方法であって、前記
試験片表面に、電気絶縁性の保護膜を形成し、前記保護
膜にピンホールを形成し、電解液が浸透された電解ペン
を前記ピンホール部に当接させて陽極電解を行なった
後、溶剤で前記保護膜を除去するようにして、孔食を作
製することを特徴とするものである。
料の試験・検査を行なうために、前記金属の試験片表面
に人工孔食を作製する人工孔食作製方法であって、前記
試験片表面に、電気絶縁性の保護膜を形成し、前記保護
膜にピンホールを形成し、電解液が浸透された電解ペン
を前記ピンホール部に当接させて陽極電解を行なった
後、溶剤で前記保護膜を除去するようにして、孔食を作
製することを特徴とするものである。
【００１３】また、前記保護膜が、前記金属表面に形成
される薄膜と、前記薄膜上に形成されるピンホール回り
に貼着される絶縁テープと、を有し、前記絶縁テープに
前記ピンホールの孔径以上に設定された孔が形成されて
いることを特徴とするものであれば好ましい。
される薄膜と、前記薄膜上に形成されるピンホール回り
に貼着される絶縁テープと、を有し、前記絶縁テープに
前記ピンホールの孔径以上に設定された孔が形成されて
いることを特徴とするものであれば好ましい。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施の形態を
図面に基づいて説明する。図１は、電解人工孔食作製装
置Ｍの模式図を示すものであり、タービンロータの腐食
疲労試験における、孔食の形状・深さ等が破談寿命に及
ぼす影響について調査するために行なうものである。試
験片１は鉄クロムニッケル合金で形成され、両端部に雄
ねじ中央部が丸棒で形成されている。試験片１の表面に
は、電気絶縁性塗膜（以下、保護膜という）２が付着さ
れ、保護膜２上に電気ペン３が配置されている。電気ペ
ン３内には電解液４を浸透したガラス綿５が充填されて
いる。電気ペン３は、直流電源６の（−）側に接続さ
れ、直流電源６の（＋）側は試験片１に接続されてい
る。
図面に基づいて説明する。図１は、電解人工孔食作製装
置Ｍの模式図を示すものであり、タービンロータの腐食
疲労試験における、孔食の形状・深さ等が破談寿命に及
ぼす影響について調査するために行なうものである。試
験片１は鉄クロムニッケル合金で形成され、両端部に雄
ねじ中央部が丸棒で形成されている。試験片１の表面に
は、電気絶縁性塗膜（以下、保護膜という）２が付着さ
れ、保護膜２上に電気ペン３が配置されている。電気ペ
ン３内には電解液４を浸透したガラス綿５が充填されて
いる。電気ペン３は、直流電源６の（−）側に接続さ
れ、直流電源６の（＋）側は試験片１に接続されてい
る。
【００１５】この装置の詳細と孔食を作製する手順を図
２〜５によって示す。まず、図２に示されるように、試
験片１の丸棒表面上にニトロセルロース、または、アク
リル樹脂を主成分として形成されるマニュキュア等のコ
ーティング材を塗布して、電気絶縁性の保護膜２を形成
する。
２〜５によって示す。まず、図２に示されるように、試
験片１の丸棒表面上にニトロセルロース、または、アク
リル樹脂を主成分として形成されるマニュキュア等のコ
ーティング材を塗布して、電気絶縁性の保護膜２を形成
する。
【００１６】次に、図３に示されるように、予め所定の
位置に孔８ａが形成されたプラスティック製のフィルム
版８を保護膜２の上に載置する。フィルム版８は厚さ
０．１〜０．２ｍｍで、図４に示されるように、Ｈ形に
形成され中央の渡り部に微小の孔８ａが複数個形成され
ている。フィルム版８は治具として使用されるため、そ
の材料はプラスティックに限るものではない。フィルム
版８に形成された孔８ａに沿って、試験片１の表面上に
形成された保護膜２を針７等で削り落として除去する。
フィルム版８を取り外すと、試験片１にはフィルム版８
に形成された孔８ａと同様な形状をした孔（以下、ピン
ホールという）２ａが保護膜２に複数個形成されること
になる。従って、ピンホール２ａ部には試験片１の表面
が表れることになる。なお、ピンホール２ａの孔径は孔
深さと相関関係にあり、その詳細は後述する。
位置に孔８ａが形成されたプラスティック製のフィルム
版８を保護膜２の上に載置する。フィルム版８は厚さ
０．１〜０．２ｍｍで、図４に示されるように、Ｈ形に
形成され中央の渡り部に微小の孔８ａが複数個形成され
ている。フィルム版８は治具として使用されるため、そ
の材料はプラスティックに限るものではない。フィルム
版８に形成された孔８ａに沿って、試験片１の表面上に
形成された保護膜２を針７等で削り落として除去する。
フィルム版８を取り外すと、試験片１にはフィルム版８
に形成された孔８ａと同様な形状をした孔（以下、ピン
ホールという）２ａが保護膜２に複数個形成されること
になる。従って、ピンホール２ａ部には試験片１の表面
が表れることになる。なお、ピンホール２ａの孔径は孔
深さと相関関係にあり、その詳細は後述する。
【００１７】続いて、図５〜６に示されるように、１ｃ
ｍ□の孔９ａが形成された絶縁状のビニールテープ９
を、ピンホール２ａを中心として試験片１の丸棒表面を
覆うように保護膜２上に貼着する。ビニールテープ９
は、保護膜としての役割をするとともに、特に、電解液
３が丸状の試験片１から外部に流れることを防止するた
めに貼着されるものであり、試験片１が平面状に形成さ
れているものについては、貼着しない場合もある。
ｍ□の孔９ａが形成された絶縁状のビニールテープ９
を、ピンホール２ａを中心として試験片１の丸棒表面を
覆うように保護膜２上に貼着する。ビニールテープ９
は、保護膜としての役割をするとともに、特に、電解液
３が丸状の試験片１から外部に流れることを防止するた
めに貼着されるものであり、試験片１が平面状に形成さ
れているものについては、貼着しない場合もある。
【００１８】そして、電解液４が浸透されたガラス綿５
を内部に含んだ電気ペン３を、直流電源６の陰極（−）
側に接続させ、試験片１を直流電源６の陽極（＋）側に
接続させた状態で、図７のように、電気ペン３をガラス
綿４がピンホール２ａ内に表れた試験片１の表面に当接
するように配置させる。
を内部に含んだ電気ペン３を、直流電源６の陰極（−）
側に接続させ、試験片１を直流電源６の陽極（＋）側に
接続させた状態で、図７のように、電気ペン３をガラス
綿４がピンホール２ａ内に表れた試験片１の表面に当接
するように配置させる。
【００１９】電解液４は、試験片の材料によってそれぞ
れ適合されたものが使用され、本形態のように鉄系の場
合、主に塩化アンモニア（約１２％）、グリセリン（約
３７％）、水（約５１％）から構成される電解液４が使
用されている。本形態の場合、リン酸（約６３％）、硫
酸（約１５％）、無水クロム酸（約１０％）及び水（約
１２％）から構成されるものであっても良い。
れ適合されたものが使用され、本形態のように鉄系の場
合、主に塩化アンモニア（約１２％）、グリセリン（約
３７％）、水（約５１％）から構成される電解液４が使
用されている。本形態の場合、リン酸（約６３％）、硫
酸（約１５％）、無水クロム酸（約１０％）及び水（約
１２％）から構成されるものであっても良い。
【００２０】なお、試験片がアルミあるいはアルミ合金
の場合は、炭酸ナトリウム（約１５％）、りん酸三ナト
リウム（約５％）、水（約８０％）で構成された電解液
でも良く、また、りん酸（約７５％）、硫酸（約４．７
％）、無水クロム酸（約６．５％）、ＡＬ＆Ｃｒ（約６
％）、水（約７．８％）で構成された電解液でも良い。
さらに、銅や銅合金、あるいはニッケルあるいはニッケ
ル合金等で形成される試験片も、それぞれ適合した電解
液を使用することになる。
の場合は、炭酸ナトリウム（約１５％）、りん酸三ナト
リウム（約５％）、水（約８０％）で構成された電解液
でも良く、また、りん酸（約７５％）、硫酸（約４．７
％）、無水クロム酸（約６．５％）、ＡＬ＆Ｃｒ（約６
％）、水（約７．８％）で構成された電解液でも良い。
さらに、銅や銅合金、あるいはニッケルあるいはニッケ
ル合金等で形成される試験片も、それぞれ適合した電解
液を使用することになる。
【００２１】電解液３が浸透されたガラス綿５は、細か
い網目状に形成され電気ペン３の先端部に充填されてい
る。しかし、電解液３を電気ペン３内に直接充填するこ
とができればガラス綿を特に必要とすることはない。
い網目状に形成され電気ペン３の先端部に充填されてい
る。しかし、電解液３を電気ペン３内に直接充填するこ
とができればガラス綿を特に必要とすることはない。
【００２２】なお、本装置Ｍによって作製される孔食の
径は５０μｍ以下のものから５００μｍ以上のものまで
適用され、孔食深さは５００μｍ以上のものまで適用さ
れる。本形態においては、孔食深さを２５０μｍで行な
うものとする。孔食深さは電界時間とともに上昇し、孔
食径は孔食深さが深くなるとともに広がる。この関係は
図８〜９のグラフによって示される。このグラフでは電
圧は２０Ｖに設定されたもので、孔食深さは電界時間約
７２秒で２５０μｍになり、孔食深さ２５０μｍの時に
孔食の径は３００μｍ広がることがわかる。従って、保
護膜２に形成されるピンホール２ａの径は、作製される
孔食径より３００μｍ小さくなるように形成され、アス
ペクト比（孔食深さ／孔食半径）を０．７に設定する
と、孔食の径は７１４μｍになり、ピンポールの径は４
１４μｍになる。
径は５０μｍ以下のものから５００μｍ以上のものまで
適用され、孔食深さは５００μｍ以上のものまで適用さ
れる。本形態においては、孔食深さを２５０μｍで行な
うものとする。孔食深さは電界時間とともに上昇し、孔
食径は孔食深さが深くなるとともに広がる。この関係は
図８〜９のグラフによって示される。このグラフでは電
圧は２０Ｖに設定されたもので、孔食深さは電界時間約
７２秒で２５０μｍになり、孔食深さ２５０μｍの時に
孔食の径は３００μｍ広がることがわかる。従って、保
護膜２に形成されるピンホール２ａの径は、作製される
孔食径より３００μｍ小さくなるように形成され、アス
ペクト比（孔食深さ／孔食半径）を０．７に設定する
と、孔食の径は７１４μｍになり、ピンポールの径は４
１４μｍになる。
【００２３】人工孔食作製装置Ｍは、直流電源６を試験
片１と電気ペン３に接続することによって、ガラス綿５
に浸された電解液４が、保護膜２のピンホール２ａを通
って試験片１に侵入するとともに、電解液４内で電解が
行なわれ、塩化物イオンが試験片１側に移動し、アンモ
ニウムイオンが電気ペン３に移動して電流が流れ、試験
片１に孔食が作製される。そして上述のように電界時間
１〜２分で陽極電解を行なうと、深さ２５０μｍ、外径
約７１４μｍの孔食が作製される。なお、図７における
電気ペン３とビニールテープ９との間には、リング状の
ゴムパッキン１０が挿入され電解液４の外部への洩れを
防止している。そして、ピンホール２ａが形成された他
の部分においても同様に陽極電極を行なった後、ビニー
ルテープ９をすべて剥し、保護膜２をアセトン等の溶剤
で除去する。
片１と電気ペン３に接続することによって、ガラス綿５
に浸された電解液４が、保護膜２のピンホール２ａを通
って試験片１に侵入するとともに、電解液４内で電解が
行なわれ、塩化物イオンが試験片１側に移動し、アンモ
ニウムイオンが電気ペン３に移動して電流が流れ、試験
片１に孔食が作製される。そして上述のように電界時間
１〜２分で陽極電解を行なうと、深さ２５０μｍ、外径
約７１４μｍの孔食が作製される。なお、図７における
電気ペン３とビニールテープ９との間には、リング状の
ゴムパッキン１０が挿入され電解液４の外部への洩れを
防止している。そして、ピンホール２ａが形成された他
の部分においても同様に陽極電極を行なった後、ビニー
ルテープ９をすべて剥し、保護膜２をアセトン等の溶剤
で除去する。
【００２４】このように作製された孔食１２は、図１０
（ａ）、（ｂ）のように、顕微鏡写真によって撮影され
た拡大断面で示される。（ａ）は１００倍に拡大された
もので（ｂ）は孔食１２の底部中央部１２ｂの８８０倍
に拡大したものである。これによると、作製された孔食
面１２ａは極めて明瞭に表されていて、その組成は孔食
されていない試験片の他部とほぼ同様の状態を示してい
る。従って、従来でのドリルによって加工形成する際に
生じる傷等が発生せず、また、放電加工する際に生じる
孔食面付近の溶融を発生することがないため、実際に腐
食によって生じる孔食に近く孔食モデルの標準として適
している。
（ａ）、（ｂ）のように、顕微鏡写真によって撮影され
た拡大断面で示される。（ａ）は１００倍に拡大された
もので（ｂ）は孔食１２の底部中央部１２ｂの８８０倍
に拡大したものである。これによると、作製された孔食
面１２ａは極めて明瞭に表されていて、その組成は孔食
されていない試験片の他部とほぼ同様の状態を示してい
る。従って、従来でのドリルによって加工形成する際に
生じる傷等が発生せず、また、放電加工する際に生じる
孔食面付近の溶融を発生することがないため、実際に腐
食によって生じる孔食に近く孔食モデルの標準として適
している。
【００２５】
【発明の効果】本発明の人工孔食作製方法は、陽極電解
法によって試験片に孔食を作製するため、作製された孔
食面が精度良く形成され、また、５０μｍ以下の径の孔
食から５００μｍ以上の径の孔食まで幅広く作製するこ
とができる。しかも、試験の際に他の要素で試験片を変
化させることがないので、孔食の標準モデルとして極め
て適している。
法によって試験片に孔食を作製するため、作製された孔
食面が精度良く形成され、また、５０μｍ以下の径の孔
食から５００μｍ以上の径の孔食まで幅広く作製するこ
とができる。しかも、試験の際に他の要素で試験片を変
化させることがないので、孔食の標準モデルとして極め
て適している。
【００２６】さらに、陽極電解する際に、前記試験片表
面に、電気絶縁性の保護膜を形成し、前記保護膜にピン
ホールを形成し、電解液が浸透された電解ペンを前記ピ
ンホール部に当接させて陽極電解を行なった後、溶剤で
前記保護膜を除去する方法で行なわれるため、大きな装
置を必要とせず、極めて容易な手順でしかも極めて短時
間で孔食を作製することができる。
面に、電気絶縁性の保護膜を形成し、前記保護膜にピン
ホールを形成し、電解液が浸透された電解ペンを前記ピ
ンホール部に当接させて陽極電解を行なった後、溶剤で
前記保護膜を除去する方法で行なわれるため、大きな装
置を必要とせず、極めて容易な手順でしかも極めて短時
間で孔食を作製することができる。
【図１】本発明の人工孔食作製方法の一形態による装置
を示す模式図
を示す模式図
【図２】図１の装置によって孔食を作製する手順を示す
図
図
【図３】図２の次の手順を示す図
【図４】図３で使用されるフィルム版を示す斜視図
【図５】図３の次の手順を示す図
【図６】図５の斜視図
【図７】図５の次の手順を示す図
【図８】孔食の深さと電界時間の関係を示すグラフ
【図９】孔食の深さと孔径の広がりの関係を示すグラフ
【図１０】作製された孔食の顕微鏡写真（（ａ）は１０
０倍、（ｂ）は８８０倍の拡大顕微鏡写真）
０倍、（ｂ）は８８０倍の拡大顕微鏡写真）
【図１１】従来の陽極電極法を示す概略図
１…試験片 ２…保護膜 ２ａ…ピンホール ３…電気ペン ４…電解液 ５…ガラス面 ６…直流電源 ８…フィルム版 ９…ビニールテープ Ｍ…電解人工孔食作製方法
Claims (3)
- 【請求項１】 金属材料の試験・検査を行なうために、
前記金属の試験片表面に人工孔食を作製する人工孔食作
製方法であって、 前記金属表面に陽極電解を施すことを特徴とする人工孔
食作製方法。 - 【請求項２】 金属材料の試験・検査を行なうために、
前記金属の試験片表面に人工孔食を作製する人工孔食作
製方法であって、 前記試験片表面に、電気絶縁性の保護膜を形成し、 前記保護膜にピンホールを形成し、 電解液が浸透された電解ペンを前記ピンホール部に当接
させて陽極電解を行なった後、 溶剤で前記保護膜を除去するようにして、 孔食を作製することを特徴とする人工孔食作製方法。 - 【請求項３】 前記保護膜が、前記金属表面に形成され
る薄膜と、前記薄膜上に形成されるピンホール回りに貼
着される絶縁テープと、を有し、前記絶縁テープに前記
ピンホールの孔径以上で設定された孔が形成されている
ことを特徴とする請求項２記載の人工孔食作製方法。
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