JPH10223696A - Tab tape and manufacture thereof - Google Patents

Tab tape and manufacture thereof

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Publication number
JPH10223696A
JPH10223696A JP2263197A JP2263197A JPH10223696A JP H10223696 A JPH10223696 A JP H10223696A JP 2263197 A JP2263197 A JP 2263197A JP 2263197 A JP2263197 A JP 2263197A JP H10223696 A JPH10223696 A JP H10223696A
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JP
Japan
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ball pad
lead
plating layer
plating
tab tape
Prior art date
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Application number
JP2263197A
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Japanese (ja)
Inventor
Gunichi Takahashi
軍一 高橋
Tsukasa Chiba
司 千葉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
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Publication of JPH10223696A publication Critical patent/JPH10223696A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid damage to leads due to electroless plating by providing a thicker Sn plated layer on ball pad leads than an Sn plated layer on inner leads. SOLUTION: An alkanol sulphonate electroless plating liq. is applied to form an Sn plated layer of 0.4μm on a resist surface as a plated part 6b. After removing a plating resist, a photo resist is applied to a ball pad-forming surface, exposed to form a wiring pattern 3, developed, coated with a backing agent, and etched to form a wiring pattern, inner leads 4 and ball pad leads 6a. An insulative protection paint is applied to the entire surface from the outside of the ball pad part 6 to the inside of a device hole 3 and heated at 150 deg.C for 60min. Using an electroless plating liq. an Sn plating is applied to form plated inner leads of 0.4μm thick. From evaluated results it is verified that the inner leads are 0.2μm thick and Sn plated layer on ball pad part 6 is 0.5μm thick.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置用のT
ABテープおよびその製造方法に関し、特に、配線パタ
ーン内において異なるめっき厚さ、または種類の異なる
めっきを有するTABテープおよびその製造方法に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a T
The present invention relates to an AB tape and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a TAB tape having different plating thicknesses or different types of plating in a wiring pattern and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】図1は、半導体装置に用いるTAB(Ta
pe Automated Bonding)テープを示す。図に示すよう
に、絶縁性フィルム2の両側には、半導体素子(ICチ
ップ)の実装工程における搬送および位置決めを行うた
めのスプロケットホール1が形成されており、中央部に
は、半導体素子を収容するための四角形の開口したデバ
イスホール3が形成されている。このデバイスホール3
の中心に向かってデバイスホール3の各片から垂直に、
かつ、一定間隔に突出したインナーリード4が絶縁性フ
ィルム2上に形成されている。
2. Description of the Related Art FIG. 1 shows a TAB (TaB) used for a semiconductor device.
pe Automated Bonding) tape. As shown in the figure, a sprocket hole 1 for carrying and positioning a semiconductor element (IC chip) in a mounting process of a semiconductor element (IC chip) is formed on both sides of an insulating film 2, and a semiconductor element is accommodated in a central portion. A device hole 3 having a rectangular opening is formed. This device hole 3
Vertically from each piece of device hole 3 toward the center of
Further, inner leads 4 protruding at regular intervals are formed on the insulating film 2.

【0003】インナーリード4の他端は絶縁性フィルム
2上に配線された配線パターン5に接続されている。こ
の配線パターン5の他端には、円形のボールパッド部6
が設けられている。配線パターン5およびインナーリー
ド4の殆どを含むようにし、かつ、ボールパッド部6の
ハンダボールが設けられる領域を除いてデバイスホール
3の近傍に至る全域には、絶縁性保護塗料7が塗布され
ている。
[0005] The other end of the inner lead 4 is connected to a wiring pattern 5 wired on the insulating film 2. At the other end of the wiring pattern 5, a circular ball pad 6
Is provided. Insulating protective paint 7 is applied to the entire area of the ball pad portion 6 near the device hole 3 except for the area where the solder balls are provided, including the wiring pattern 5 and the inner leads 4 and most of the area. I have.

【0004】絶縁性保護塗料7には、パッケージング時
およびボール形成時の加熱に耐えられるものが用いられ
ている。インナーリード4,配線パターン5およびボー
ルパッド部6は銅箔のエッチングによって形成されてい
る。
[0004] As the insulating protective coating 7, a coating that can withstand heating during packaging and ball formation is used. The inner leads 4, the wiring patterns 5, and the ball pad portions 6 are formed by etching a copper foil.

【0005】半導体素子の片面には、インナーリード4
の先端部に接続されるパッドが所定位置に設けられてお
り、このパッドをインナーリード4の先端部に位置合わ
せしながら、デバイスホール3を塞ぐように半導体素子
を位置決めし、絶縁性フィルム2の裏面に接着剤で接着
する。その後、インナーリード4と半導体素子のパッド
とがボンディング接着される。
On one side of the semiconductor element, an inner lead 4
A pad connected to the tip of the inner lead 4 is provided at a predetermined position. The semiconductor element is positioned so as to cover the device hole 3 while aligning the pad with the tip of the inner lead 4. Glue to the back with adhesive. Thereafter, the inner leads 4 and the pads of the semiconductor element are bonded to each other.

【0006】図2は、ボールパッド部6の詳細を示し、
配線パターン5の終端に接続するように形成された円形
のボールパッドリード6aと、このボールパッドリード
6aに同心状に設けられためっき部6bを備えている。
このめっき部6b上にハンダボール(図示せず)が設け
られ、基板等との接続が行われる。
FIG. 2 shows details of the ball pad section 6.
It has a circular ball pad lead 6a formed so as to be connected to the end of the wiring pattern 5, and a plating portion 6b provided concentrically on the ball pad lead 6a.
A solder ball (not shown) is provided on the plating portion 6b, and connection with a substrate or the like is performed.

【0007】図3は、ボールパッド部6の断面を示し、
めっき部6bを残すようにして絶縁性保護材料7が塗布
されている。めっき部6bは、ハンダボール(図示せ
ず)との接合を良好にするため、0.4μm以上の厚み
の錫めっきが施されている。インナーリード4には、半
導体素子のパッドとの接合を良好にするため、0.2μ
m程度の錫めっきが施されている。
FIG. 3 shows a cross section of the ball pad portion 6,
The insulating protection material 7 is applied so as to leave the plated portion 6b. The plated portion 6b is plated with tin having a thickness of 0.4 μm or more in order to improve the bonding with a solder ball (not shown). The inner lead 4 has a thickness of 0.2 μm for good bonding with the pad of the semiconductor element.
m of tin plating is applied.

【0008】図4(a)〜(g)は、このTABテープ
の製造方法を示す。以下、図1〜図3をも参照しなが
ら、図4(a)〜(g)に基づきTABテープの製造手
順を説明する。 (1)まず、絶縁性フィルム2の片面に接着剤10を塗
布し、デバイスホール用のパンチングを施してパンチン
グホール11を形成した後、接着剤10の塗布面にラミ
ネート銅箔テープ12を熱ローラで貼着する(図4
(a))。 (2)次に、貼着したラミネート銅箔テープ12に対
し、パターンやリードを形成するためのフォトレジスト
13を塗布し(図4(b))、露光・現像の処理を行う
(図4(c))。 (3)露光・現像の後、裏止剤14を塗布し(図4
(d))、フォトエッチングによりインナーリード4,
配線パターン5およびボールパッドリード6aを形成
(図4(e))し、不要となったフォトレジスト13を
ラミネート銅箔テープ12から剥離する(図4
(f))。 (4)そして、インナーリード4の先端部およびボール
パッドリード6aの部分を除いて絶縁性保護塗料7を塗
布し(図4(g))、所定温度で所定時間加熱し乾燥す
る。 (5)乾燥後、インナーリード4の先端部をマスキング
し、ボールパッドリード6a上の所定部分に無電解錫め
っき液で錫めっきを施し、めっき部6bを形成する。 (6)その後、インナーリード4の先端部に設けたマス
キングを除去し、この部分およびめっき部6bに錫めっ
きを施し、所定温度で所定時間加熱を行う。以上により
TABテープが完成する。
FIGS. 4A to 4G show a method of manufacturing this TAB tape. Hereinafter, the procedure for manufacturing the TAB tape will be described with reference to FIGS. 4A to 4G while also referring to FIGS. (1) First, an adhesive 10 is applied to one surface of the insulating film 2 and punched for a device hole to form a punched hole 11, and then a laminated copper foil tape 12 is applied to a surface to which the adhesive 10 is applied by a hot roller. (Fig. 4
(A)). (2) Next, a photoresist 13 for forming a pattern or a lead is applied to the adhered laminated copper foil tape 12 (FIG. 4B), and exposure and development are performed (FIG. 4 (B)). c)). (3) After exposure and development, a backing agent 14 is applied (FIG. 4).
(D)), inner leads 4 by photo-etching
After forming the wiring pattern 5 and the ball pad leads 6a (FIG. 4E), the unnecessary photoresist 13 is peeled off from the laminated copper foil tape 12 (FIG. 4).
(F)). (4) Then, an insulating protective paint 7 is applied except for the tip of the inner lead 4 and the portion of the ball pad lead 6a (FIG. 4 (g)), and is heated and dried at a predetermined temperature for a predetermined time. (5) After drying, the tip of the inner lead 4 is masked, and a predetermined portion on the ball pad lead 6a is tin-plated with an electroless tin plating solution to form a plated portion 6b. (6) Thereafter, the masking provided at the tip of the inner lead 4 is removed, tin plating is applied to this portion and the plating portion 6b, and heating is performed at a predetermined temperature for a predetermined time. Thus, the TAB tape is completed.

【0009】以上の説明から明らかなように、従来のT
ABテープの製造方法によると、ボールパッド部6には
錫めっきが2回施される。即ち、インナーリード4をマ
スキングした後にボールパッド部6のめっき部6bに第
1回目の錫めっきが行われ、マスキングを除去した後に
インナーリード4とボールパッド部6のめっき部6bに
第2回目の錫めっきが行われる。
As is apparent from the above description, the conventional T
According to the method of manufacturing the AB tape, the tinning is applied twice to the ball pad portion 6. That is, the first tin plating is performed on the plated portion 6b of the ball pad portion 6 after the inner lead 4 is masked, and the second tin plating is performed on the plated portion 6b of the inner lead 4 and the ball pad portion 6 after removing the masking. Tin plating is performed.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
TABテープの製造方法によると、めっき部6bに2回
にわたって錫めっきを施しているが、この錫めっきは無
電解錫めっき液を用いて行われているため、ボールパッ
ド部の信頼性に問題がある。
According to the conventional TAB tape manufacturing method, however, tin plating is applied twice to the plated portion 6b. This tin plating is performed using an electroless tin plating solution. Therefore, there is a problem in the reliability of the ball pad portion.

【0011】即ち、無電解錫めっき液の特性として銅を
溶解する性質があり、絶縁性保護塗料との界面の銅箔を
損傷することがある。損傷は錫めっき液に浸漬する時間
が長いほど大きくなる。厚い錫めっきにするためには長
い時間の浸漬が必要である。従来のTABテープの製造
方法によると、ボールパッド部は錫めっき液に2回浸漬
するのでインナーリードのめっきの2倍以上のめっき時
間が必要になる。この時間は損傷が無視できない程度に
なる。
That is, as a characteristic of the electroless tin plating solution, there is a property of dissolving copper, and the copper foil at the interface with the insulating protective paint may be damaged. The damage increases as the time of immersion in the tin plating solution increases. A long time immersion is required for thick tin plating. According to the conventional method of manufacturing a TAB tape, the ball pad portion is immersed twice in the tin plating solution, so that a plating time twice or more as long as the plating of the inner lead is required. This time is such that damage is not negligible.

【0012】銅が損傷するということは、銅箔と絶縁性
保護塗料との界面に図5に示すような隙間8ができると
いうことである。この隙間8ができればボール形状やテ
ープとの整合性に悪影響を与え、信頼性を損なう。ま
た、徹底した洗浄を行ったとしても信頼性に対するリス
クがあり、きめ細かな検査が必要となる。
The fact that copper is damaged means that a gap 8 as shown in FIG. 5 is formed at the interface between the copper foil and the insulating protective paint. The formation of the gap 8 adversely affects the shape of the ball and the consistency with the tape, and impairs the reliability. In addition, even if thorough cleaning is performed, there is a risk to reliability, and a detailed inspection is required.

【0013】また、配線パターンを形成した後、最初の
めっきを施してはならない部分をレジストでマスキング
しなければならないため、パンチングホールのリードが
変形するおそれがある。
In addition, after the wiring pattern is formed, a portion which must not be subjected to the first plating must be masked with a resist, so that the lead of the punching hole may be deformed.

【0014】[0014]

【発明の目的】従って、本発明の目的は、無電解錫めっ
きに起因するリードの損傷を防止するとともに、マスキ
ングに伴うパンチングホールのリードの変形を防止する
ことができるTABテープおよびその製造方法を提供す
ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a TAB tape and a method for manufacturing the same, which can prevent lead damage due to electroless tin plating and prevent deformation of punched hole leads due to masking. To provide.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、半導体チップと接続されるインナーリー
ドおよびはんだボール等によって他の電気導体部と接続
されるボールパッドリードを備えたTABテープにおい
て、前記インナーリードと前記ボールパッドリードは表
面に錫めっき層を有し、前記ボールパッドリードの前記
錫めっき層は前記インナーリードの錫めっき層より大な
る厚さを有することを特徴とするTABテープを提供す
るものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a TAB having an inner lead connected to a semiconductor chip and a ball pad lead connected to another electric conductor by solder balls or the like. In the tape, the inner lead and the ball pad lead have a tin plating layer on a surface, and the tin plating layer of the ball pad lead has a thickness larger than that of the inner lead. A TAB tape is provided.

【0016】また、本発明は、上記目的を達成するため
に、半導体チップと接続されるインナーリードおよびは
んだボール等によって他の電気導体部と接続されるボー
ルパッドリードを備えたTABテープにおいて、前記イ
ンナーリードは表面に錫めっき層を有し、前記ボールパ
ッドリードは表面に金めっき層を有することを特徴とす
るTABテープを提供するものである。この場合、前記
金めっき層は、表面に錫めっき層を有するようにしても
良い。
According to another aspect of the present invention, there is provided a TAB tape having an inner lead connected to a semiconductor chip and a ball pad lead connected to another electric conductor by solder balls or the like. The inner lead has a tin plating layer on the surface, and the ball pad lead has a gold plating layer on the surface. In this case, the gold plating layer may have a tin plating layer on the surface.

【0017】更に、本発明は、上記目的を達成するため
に、デバイスホールを有する絶縁フィルムにラミネート
した銅箔の表面にボールパッド形成部分を除いてめっき
レジストを塗布し、前記ボールパッド形成部分に錫めっ
き層を形成し、前記めっきレジストを除去してフォトレ
ジストを塗布し、インナーリードと前記ボールパッド形
成部分を含むボールパッド部を接続する配線リードの露
光を行い、現像およびエッチングを行って前記インナー
リード,前記ボールパッド部および前記配線リードを形
成し、前記インナーリードおよび前記錫めっき層を除い
て絶縁性保護塗料を塗布し、前記インナーリードおよび
前記錫めっき層に錫めっきを施すことを特徴とするTA
Bテープの製造方法を提供するものである。
Further, in order to achieve the above object, the present invention provides a method in which a plating resist is applied to a surface of a copper foil laminated on an insulating film having a device hole except for a portion where a ball pad is formed, and Forming a tin plating layer, removing the plating resist, applying a photoresist, performing exposure of wiring leads connecting the inner leads and the ball pad portion including the ball pad forming portion, and performing development and etching. Forming an inner lead, the ball pad portion, and the wiring lead, applying an insulating protective paint except for the inner lead and the tin plating layer, and applying tin plating to the inner lead and the tin plating layer. TA
A method of manufacturing a B tape is provided.

【0018】更に、また、本発明は、上記目的を達成す
るために、デバイスホールを有する絶縁フィルムにラミ
ネートした銅箔の表面にボールパッド形成部分を除いて
めっきレジストを塗布し、前記ボールパッド形成部分に
金めっき層を形成し、前記めっきレジストを除去してフ
ォトレジストを塗布し、インナーリードと前記ボールパ
ッド形成部分を含むボールパッド部を接続する配線リー
ドの露光を行い、現像およびエッチングを行って前記イ
ンナーリード,前記ボールパッド部および前記配線リー
ドを形成し、前記インナーリードおよび前記金めっき層
を除いて絶縁性保護塗料を塗布し、前記金めっき層にマ
スキングして、あるいは、マスキングせずに錫めっきを
施すことを特徴とするTABテープの製造方法を提供す
るものである。
Further, in order to achieve the above object, the present invention provides a method of forming a ball pad on a surface of a copper foil laminated on an insulating film having device holes, except for applying a plating resist except for a ball pad forming portion. A gold plating layer is formed on the portion, the plating resist is removed, a photoresist is applied, a wiring lead for connecting an inner lead and a ball pad portion including the ball pad forming portion is exposed, and development and etching are performed. To form the inner leads, the ball pad portions, and the wiring leads, apply an insulating protective paint except for the inner leads and the gold plating layer, and mask the gold plating layer or not. And a method for producing a TAB tape characterized by applying tin plating to a TAB tape.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。本発明においては、インナーリードおよびボール
パッドリードのめっき部は従来通り錫めっきを施すもの
とするが、ボールパッドリードのめっき部は錫めっきに
代えて金めっきを施す構成としても良い。金めっきによ
ると、ハンダ濡れ性や導電性,耐腐食性等に優れるた
め、ハンダボール等のボールパッドを高い信頼性で設け
ることができる。
Embodiments of the present invention will be described below. In the present invention, the plating portions of the inner leads and the ball pad leads are plated with tin as in the past, but the plating portions of the ball pad leads may be plated with gold instead of tin plating. Since gold plating is excellent in solder wettability, conductivity, corrosion resistance, and the like, a ball pad such as a solder ball can be provided with high reliability.

【0020】[0020]

【実施例】次に、本発明のTABテープおよびその製造
方法について説明する。TABテープの形状は、図1〜
図3に示した通りである。 〔実施例1〕まず、インナーリード4およびボールパッ
ドリード6aのめっき部6bを錫めっきする場合の製造
方法について説明する。 (1)絶縁性フィルム2の片面にラミネートした銅箔の
表面にめっきレジストを塗布する。このめっきレジスト
は印刷によって行い、ボールパッドリード6aのめっき
部6b相当部分を除いた全面に施す。 (2)アルカノールスルホン酸系の無電解錫めっき液で
レジスト面に0.4μm厚さの錫めっきを施し、めっき
部6bを形成する。 (3)上記(1)で施しためっきレジストを除去する。 (4)上記(1)でボールパッド部6を形成した面にフ
ォトレジストを塗布し、配線パターン5を作るための露
光を行う。 (5)上記(4)による露光の後、現像,裏止め剤の塗
布,エッチングを順次施し、配線パターン5,インナー
リード4,ボールパッドリード6aの各々を形成する。 (6)ボールパッド部6の外側からデバイスホール3の
内側に至る全面(錫めっき部分を除く)に絶縁性保護塗
料を塗布し、150℃で60分加熱する。 (7)上記(2)の無電解錫めっき液を用い、インナー
リード4が0.4μm厚になるように錫めっきを施す。 (8)ホイスカ対策のため、130℃で90分加熱す
る。
Next, a TAB tape of the present invention and a method for manufacturing the same will be described. The shape of the TAB tape is shown in Figs.
This is as shown in FIG. [Embodiment 1] First, a description will be given of a manufacturing method in the case of plating the inner lead 4 and the plated portion 6b of the ball pad lead 6a with tin. (1) A plating resist is applied to the surface of the copper foil laminated on one side of the insulating film 2. This plating resist is applied by printing, and is applied to the entire surface of the ball pad lead 6a except for the portion corresponding to the plating portion 6b. (2) Tin plating of 0.4 μm thickness is performed on the resist surface with an alkanolsulfonic acid-based electroless tin plating solution to form a plated portion 6b. (3) The plating resist applied in (1) is removed. (4) A photoresist is applied to the surface on which the ball pad portion 6 has been formed in (1), and exposure for forming the wiring pattern 5 is performed. (5) After the exposure according to (4), development, application of a backing agent, and etching are sequentially performed to form each of the wiring pattern 5, the inner lead 4, and the ball pad lead 6a. (6) An insulating protective paint is applied to the entire surface (excluding the tin-plated portion) from the outside of the ball pad portion 6 to the inside of the device hole 3, and heated at 150 ° C. for 60 minutes. (7) Using the electroless tin plating solution of the above (2), tin plating is performed so that the inner lead 4 has a thickness of 0.4 μm. (8) Heat at 130 ° C. for 90 minutes to prevent whiskers.

【0021】以上のようにして製作したTABテープに
対し評価を行った。その結果、インナーリードが0.2
μm厚、ボールパッド部6が0.4μm厚の錫めっき厚
さであることが断面写真で確認された。また、ボールパ
ッド部6の絶縁性保護塗料と錫めっきの界面にめっき液
による損傷がないことが確認された。
The TAB tape manufactured as described above was evaluated. As a result, the inner lead was 0.2
The cross-sectional photograph confirmed that the thickness of the ball pad portion 6 was 0.4 μm and the thickness of the tin plating was 0.4 μm. In addition, it was confirmed that there was no damage by the plating solution on the interface between the insulating protective paint of the ball pad portion 6 and the tin plating.

【0022】〔実施例2〕次に、インナーリード4を錫
めっきし、めっき部6bを金めっきする場合の製造方法
について説明する。 (1)絶縁性フィルム2の片面にラミネートした銅箔の
表面にめっきレジストを塗布する。このめっきレジスト
は印刷によって行い、ボールパッドリード6aのめっき
部6b相当部分を除いた全面に施す。 (2)スルファニル酸系のニッケルめっき液でレジスト
面に0.2μm厚の電気ニッケルめっきを施した後、こ
の電気ニッケルめっきの表面にシアン系の金めっき液で
1μm厚の電気金めっきを施し、めっき部6bを形成す
る。 (3)上記(1)で施しためっきレジストを除去する。 (4)上記(1)でボールパッド部6を形成した面にフ
ォトレジストを塗布し、配線パターン5を作るための露
光を行う。 (5)上記(4)による露光の後、現像,裏止め剤の塗
布,エッチングを順次施し、配線パターン5,インナー
リード4,ボールパッドリード6aの各々を形成する。 (6)ボールパッド部6の外側からデバイスホール3の
内側に至る全面(金めっき部分を除く)に絶縁性保護塗
料を塗布し、150℃で60分加熱する。ボールパッド
リード6aへの絶縁性保護塗料の塗布は、めっき部6b
と一部重なり合っても良い。 (7)上記(6)における金めっき部分にめっきレジス
トをスクリーン印刷で塗布する。 (8)無電解錫めっき液を用い、インナーリード4が
0.4μm厚になるように錫めっきを施した後、めっき
レジストを除去する。 (8)ホイスカ対策のため、130℃で90分加熱す
る。
[Embodiment 2] Next, a manufacturing method in which the inner lead 4 is plated with tin and the plated portion 6b is plated with gold will be described. (1) A plating resist is applied to the surface of the copper foil laminated on one side of the insulating film 2. This plating resist is applied by printing, and is applied to the entire surface of the ball pad lead 6a except for the portion corresponding to the plating portion 6b. (2) After applying 0.2 μm-thick electric nickel plating to the resist surface with a sulfanilic acid-based nickel plating solution, 1 μm-thick electrogold plating is applied to the surface of this electric nickel plating with a cyan-based gold plating solution. The plating part 6b is formed. (3) The plating resist applied in (1) is removed. (4) A photoresist is applied to the surface on which the ball pad portion 6 has been formed in (1), and exposure for forming the wiring pattern 5 is performed. (5) After the exposure according to (4), development, application of a backing agent, and etching are sequentially performed to form each of the wiring pattern 5, the inner lead 4, and the ball pad lead 6a. (6) An insulating protective paint is applied to the entire surface (except for the gold-plated portion) from the outside of the ball pad portion 6 to the inside of the device hole 3, and heated at 150 ° C. for 60 minutes. The application of the insulating protective paint to the ball pad lead 6a is performed by the plating portion 6b.
And may partially overlap. (7) A plating resist is applied to the gold-plated portion in the above (6) by screen printing. (8) Using an electroless tin plating solution, tin plating is performed so that the inner leads 4 have a thickness of 0.4 μm, and then the plating resist is removed. (8) Heat at 130 ° C. for 90 minutes to prevent whiskers.

【0023】なお、実施例2においては、金めっき部分
にめっきレジストを塗布してインナーリード4に錫めっ
きを施すようにしているが、めっきレジストを金めっき
部分に塗布せずにインナーリード4とともに金めっき部
分にも錫めっきを施すようにしても良い。
In the second embodiment, the plating resist is applied to the gold-plated portion and tin plating is applied to the inner lead 4. However, the plating resist is not applied to the gold-plated portion but is applied together with the inner lead 4. Tin plating may be applied also to the gold plating portion.

【0024】以上のようにして製作したTABテープに
対し評価を行った。その結果、インナーリード4が0.
2μm厚の錫めっき厚さ、ボールパッド部6が0.4μ
m厚の金めっき厚さであることが断面写真で確認され
た。また、ボールパッド部6の絶縁性保護塗料と金めっ
きの界面にめっき液による損傷がないことが確認され
た。
The TAB tape manufactured as described above was evaluated. As a result, the inner lead 4 is set at 0.
2 μm thick tin plating, ball pad 6 0.4 μm
The cross-sectional photograph confirmed that the gold plating thickness was m. Also, it was confirmed that there was no damage by the plating solution at the interface between the insulating protective paint of the ball pad portion 6 and the gold plating.

【0025】なお、以上の実施例においては、TABテ
ープおよびその製造方法について種々述べてきたが、言
うまでもなく、本発明はこれに限定されるものではな
い。例えば、配線パターン形成前に必要な部分に予めめ
っきしておき、配線パターン形成後に予めめっきした部
分を含めて、あるいは、含めずにめっきを施すことが可
能なBGA(Ball Grid Allay )テープおよびその製造
方法にも本発明を適用することができる。
In the above embodiments, various descriptions have been made on the TAB tape and the method of manufacturing the same, but it goes without saying that the present invention is not limited to this. For example, a BGA (Ball Grid Allay) tape that can be plated beforehand with a necessary portion before forming a wiring pattern, and with or without a pre-plated portion after forming the wiring pattern and its The present invention can be applied to a manufacturing method.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上述べたように、本発明のTABテー
プおよびその製造方法によれば、絶縁性保護塗料を塗布
した後の無電解錫めっきを1回にするとともに、絶縁性
保護塗料を塗布した後のマスキング工程を省略するよう
にしたので、無電解錫めっきに起因するリードの損傷を
防止するとともに、マスキングに伴うパンチングホール
のリードの変形を防止することができる。その結果、信
頼性に優れたTABテープおよびその製造方法を提供す
ることができる。
As described above, according to the TAB tape and the method of manufacturing the same of the present invention, the electroless tin coating after the application of the insulating protective coating is performed once, and the insulating protective coating is applied. Since the masking step after this is omitted, it is possible to prevent the lead from being damaged due to the electroless tin plating and to prevent the lead of the punched hole from being deformed due to the masking. As a result, a highly reliable TAB tape and a method for manufacturing the same can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】TABテープを示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a TAB tape.

【図2】図1のボールパッド部の詳細を示す平面図であ
る。
FIG. 2 is a plan view showing details of a ball pad unit in FIG. 1;

【図3】図2のボールパッド部の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the ball pad section of FIG. 2;

【図4】TABテープの製造方法を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a method of manufacturing a TAB tape.

【図5】図3のボールパッド部の絶縁性保護塗料とボー
ルパッドリードの界面に損傷が発生した様子を示す図。
FIG. 5 is a view showing a state in which an interface between the insulating protective paint of the ball pad portion of FIG. 3 and a ball pad lead is damaged.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スプロケットホール 2 絶縁性フィルム 3 デバイスホール 4 インナーリード 5 配線パターン 6 ボールパッド部 6a ボールパッドリード 6b めっき部 7 絶縁性保護塗料 8 損傷 10 接着剤 11 パンチングホール 12 ラミネート銅箔テープ 13 フォトレジスト 14 裏止剤 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sprocket hole 2 Insulating film 3 Device hole 4 Inner lead 5 Wiring pattern 6 Ball pad part 6a Ball pad lead 6b Plating part 7 Insulating protective paint 8 Damage 10 Adhesive 11 Punching hole 12 Laminated copper foil tape 13 Photoresist 14 Back Stopper

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体チップと接続されるインナーリード
およびはんだボール等によって他の電気導体部と接続さ
れるボールパッドリードを備えたTABテープにおい
て、 前記インナーリードと前記ボールパッドリードは表面に
錫めっき層を有し、 前記ボールパッドリードの前記錫めっき層は前記インナ
ーリードの錫めっき層より大なる厚さを有することを特
徴とするTABテープ。
1. A TAB tape having an inner lead connected to a semiconductor chip and a ball pad lead connected to another electric conductor by solder balls or the like, wherein the inner lead and the ball pad lead are tin-plated on the surface. The TAB tape according to claim 1, wherein the tin plating layer of the ball pad lead has a thickness greater than that of the tin plating layer of the inner lead.
【請求項2】半導体チップと接続されるインナーリード
およびはんだボール等によって他の電気導体部と接続さ
れるボールパッドリードを備えたTABテープにおい
て、 前記インナーリードは表面に錫めっき層を有し、前記ボ
ールパッドリードは表面に金めっき層を有することを特
徴とするTABテープ。
2. A TAB tape having an inner lead connected to a semiconductor chip and a ball pad lead connected to another electric conductor portion by a solder ball or the like, wherein the inner lead has a tin plating layer on a surface, A TAB tape, wherein the ball pad lead has a gold plating layer on a surface.
【請求項3】前記金めっき層は、表面に錫めっき層を有
することを特徴とする請求項2記載のTABテープ。
3. The TAB tape according to claim 2, wherein the gold plating layer has a tin plating layer on a surface.
【請求項4】デバイスホールを有する絶縁フィルムにラ
ミネートした銅箔の表面にボールパッド形成部分を除い
てめっきレジストを塗布し、 前記ボールパッド形成部分に錫めっき層を形成し、 前記めっきレジストを除去してフォトレジストを塗布
し、 インナーリードと前記ボールパッド形成部分を含むボー
ルパッド部を接続する配線リードの露光を行い、 現像およびエッチングを行って前記インナーリード,前
記ボールパッド部および前記配線リードを形成し、 前記インナーリードおよび前記錫めっき層を除いて絶縁
性保護塗料を塗布し、 前記インナーリードおよび前記錫めっき層に錫めっきを
施すことを特徴とするTABテープの製造方法。
4. A plating resist is applied to a surface of a copper foil laminated on an insulating film having a device hole except for a ball pad forming portion, a tin plating layer is formed on the ball pad forming portion, and the plating resist is removed. Then, a photoresist is applied, and a wiring lead for connecting the inner lead and the ball pad portion including the ball pad forming portion is exposed. The inner lead, the ball pad portion, and the wiring lead are developed and etched. A method for producing a TAB tape, comprising: forming an insulating protective coating except for the inner leads and the tin plating layer; and applying tin plating to the inner leads and the tin plating layer.
【請求項5】デバイスホールを有する絶縁フィルムにラ
ミネートした銅箔の表面にボールパッド形成部分を除い
てめっきレジストを塗布し、 前記ボールパッド形成部分に金めっき層を形成し、 前記めっきレジストを除去してフォトレジストを塗布
し、 インナーリードと前記ボールパッド形成部分を含むボー
ルパッド部を接続する配線リードの露光を行い、 現像およびエッチングを行って前記インナーリード,前
記ボールパッド部および前記配線リードを形成し、 前記インナーリードおよび前記金めっき層を除いて絶縁
性保護塗料を塗布し、 前記金めっき層にマスキングして、あるいは、マスキン
グせずに錫めっきを施すことを特徴とするTABテープ
の製造方法。
5. A plating resist is applied to a surface of a copper foil laminated on an insulating film having a device hole except for a ball pad forming portion, a gold plating layer is formed on the ball pad forming portion, and the plating resist is removed. Then, a photoresist is applied, and a wiring lead for connecting the inner lead and the ball pad portion including the ball pad forming portion is exposed. The inner lead, the ball pad portion, and the wiring lead are developed and etched. Forming a TAB tape characterized by applying an insulating protective paint except for the inner leads and the gold plating layer, and masking the gold plating layer or applying tin plating without masking Method.
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