JPH1019735A - プリズム - Google Patents
プリズムInfo
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- JPH1019735A JPH1019735A JP8179706A JP17970696A JPH1019735A JP H1019735 A JPH1019735 A JP H1019735A JP 8179706 A JP8179706 A JP 8179706A JP 17970696 A JP17970696 A JP 17970696A JP H1019735 A JPH1019735 A JP H1019735A
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- prism
- divided bodies
- bodies
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 歪みやひけが無く、成形が容易で、かつ光量
が十分な屈折光を得ることができ、しかも、測定条件へ
の順応性が早く、測定室に持ち込んで短時間で測定する
ことができるプリズムを提供する。 【解決手段】 光線の入射面と出射面が平行でないプリ
ズム１１において、透明な複数の分割体１２を有し、該
各分割体１２には、それぞれ入射面１２ａと出射面１２
ｂが形成されると共に、隣接する分割体１２との間には
両分割体１２を係合する係合手段が、前記光線が通る範
囲以外に設けられ、該係合手段により、前記複数の分割
体１２を、光線方向と直交する方向に隣接させて互いに
平行に配設することにより構成された。
が十分な屈折光を得ることができ、しかも、測定条件へ
の順応性が早く、測定室に持ち込んで短時間で測定する
ことができるプリズムを提供する。 【解決手段】 光線の入射面と出射面が平行でないプリ
ズム１１において、透明な複数の分割体１２を有し、該
各分割体１２には、それぞれ入射面１２ａと出射面１２
ｂが形成されると共に、隣接する分割体１２との間には
両分割体１２を係合する係合手段が、前記光線が通る範
囲以外に設けられ、該係合手段により、前記複数の分割
体１２を、光線方向と直交する方向に隣接させて互いに
平行に配設することにより構成された。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、屈折率の測定等
に用いられるプリズムに関するものである。
に用いられるプリズムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来からプリズムには、光学材料の光学
的性質の評価法として屈折率の測定に用いられていたも
のがある。この測定は、光学材料を通る光の波長によっ
て屈折率が異なるので、光学機器の光学設計において材
料の屈折率を正確につかんでおくために重要である。一
般的にはヘリウムのスペクトルのｄ線に対する屈折率ｎ
ｄをもって代表されるが、その光学機器で用いられる光
の波長での屈折率で光学設計を行うことは当然のことで
ある。
的性質の評価法として屈折率の測定に用いられていたも
のがある。この測定は、光学材料を通る光の波長によっ
て屈折率が異なるので、光学機器の光学設計において材
料の屈折率を正確につかんでおくために重要である。一
般的にはヘリウムのスペクトルのｄ線に対する屈折率ｎ
ｄをもって代表されるが、その光学機器で用いられる光
の波長での屈折率で光学設計を行うことは当然のことで
ある。
【０００３】例えば、半導体製造装置に用いられる光学
材料においては、使用される光は波長域の狭い単色光，
ｇ線やｉ線である。半導体製造装置用のレンズでは高分
解能が要求されるため焦点深度が非常に浅くなる。光学
設計の段階で用いる屈折率の値の違いは結像位置の誤差
となって現れるので、そのレンズに用いられる光学材料
の屈折率を非常に高い精度で測定しておく必要がある。
同種の硝子でも硝子の溶解毎に屈折率は異なり、標準値
に対して±０．０００５以内の変動があり得るので、溶
解毎に試料を作って屈折率の測定が行われている。
材料においては、使用される光は波長域の狭い単色光，
ｇ線やｉ線である。半導体製造装置用のレンズでは高分
解能が要求されるため焦点深度が非常に浅くなる。光学
設計の段階で用いる屈折率の値の違いは結像位置の誤差
となって現れるので、そのレンズに用いられる光学材料
の屈折率を非常に高い精度で測定しておく必要がある。
同種の硝子でも硝子の溶解毎に屈折率は異なり、標準値
に対して±０．０００５以内の変動があり得るので、溶
解毎に試料を作って屈折率の測定が行われている。
【０００４】一方、３５ｍｍカメラやビデオカメラなど
に用いられるレンズやプリズムにおいては、比重の軽い
こと、成形が容易で大量生産に向くことなどから光学材
料としてプラスチックが多数使われるようになってい
る。プラスチックの屈折率としては、一般的にプラスチ
ックメーカのカタログ値として、小数点３桁まで提示さ
れており、それ以下は製造ロットにより変動することに
なる。したがって、プラスチックメーカより購入した材
料のロット毎に試料を作って屈折率の測定を行う必要が
ある。
に用いられるレンズやプリズムにおいては、比重の軽い
こと、成形が容易で大量生産に向くことなどから光学材
料としてプラスチックが多数使われるようになってい
る。プラスチックの屈折率としては、一般的にプラスチ
ックメーカのカタログ値として、小数点３桁まで提示さ
れており、それ以下は製造ロットにより変動することに
なる。したがって、プラスチックメーカより購入した材
料のロット毎に試料を作って屈折率の測定を行う必要が
ある。
【０００５】屈折率の測定方法としては、従来より、最
小偏角法、オートコリメーション法、Ｖブロック法、プ
ルフリッヒ法などが知られている。上記の方法を用いて
光学材料の屈折率を測定する場合、その多くが測定する
光学材料より所定の三角形のプリズムを作って試料とし
て測定している。
小偏角法、オートコリメーション法、Ｖブロック法、プ
ルフリッヒ法などが知られている。上記の方法を用いて
光学材料の屈折率を測定する場合、その多くが測定する
光学材料より所定の三角形のプリズムを作って試料とし
て測定している。
【０００６】このプリズム７は、図９に示すように、厚
さＴの三角柱形状を呈し、三角形に一面側に入射面７ａ
が、又、この入射面７ａと直角の角度を成す出射面７ｂ
が形成されている。
さＴの三角柱形状を呈し、三角形に一面側に入射面７ａ
が、又、この入射面７ａと直角の角度を成す出射面７ｂ
が形成されている。
【０００７】このプリズム７の屈折率を測定するには、
例えば図１０に示すようなＶブロック法が用いられてい
る。これは、光源１と、フィルタ２と、スリット３と、
コリメータ４と、光源１の波長に対して屈折率が既知で
ある硝子製のＶブロック（以下、Ｖブロックという。）
５と、対物レンズと対物レンズの焦点面に標線のある焦
点板とその焦点板に結像した像を拡大して観察できる接
眼レンズとを有した望遠鏡６により構成されている。光
源１としてはスペクトルランプを用い、フィルタ２によ
り測定に必要な波長の光を取り出す。スリット３はコリ
メータ４の前側焦点位置にあるので、スリット３を通っ
た光は平行光束となってＶブロック５に入射する。Ｖブ
ロック５、「試料」としてのプリズム７、Ｖブロック５
を透過した光は、屈折により、出射面からγ度傾いた角
度で出てくる。観察者は望遠鏡６の接眼レンズを覗き込
み、Ｖブロック５より出射した光のスリット像と望遠鏡
６の標線が一致するまで望遠鏡６を動かす。一致した時
の角度γ度を読み取る。波長λでの試料７の屈折率ｎλ
は、Ｖブロック５の屈折率Ｎλと測定で読み取った角度
γから次の式によって求められる。
例えば図１０に示すようなＶブロック法が用いられてい
る。これは、光源１と、フィルタ２と、スリット３と、
コリメータ４と、光源１の波長に対して屈折率が既知で
ある硝子製のＶブロック（以下、Ｖブロックという。）
５と、対物レンズと対物レンズの焦点面に標線のある焦
点板とその焦点板に結像した像を拡大して観察できる接
眼レンズとを有した望遠鏡６により構成されている。光
源１としてはスペクトルランプを用い、フィルタ２によ
り測定に必要な波長の光を取り出す。スリット３はコリ
メータ４の前側焦点位置にあるので、スリット３を通っ
た光は平行光束となってＶブロック５に入射する。Ｖブ
ロック５、「試料」としてのプリズム７、Ｖブロック５
を透過した光は、屈折により、出射面からγ度傾いた角
度で出てくる。観察者は望遠鏡６の接眼レンズを覗き込
み、Ｖブロック５より出射した光のスリット像と望遠鏡
６の標線が一致するまで望遠鏡６を動かす。一致した時
の角度γ度を読み取る。波長λでの試料７の屈折率ｎλ
は、Ｖブロック５の屈折率Ｎλと測定で読み取った角度
γから次の式によって求められる。
【０００８】
【数１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
プリズム７にあっては、望遠鏡６により光を絞って測定
しており、プリズム７の厚さＴが薄いと光量が不足して
スリット像と測定マークを正確に合致させることができ
ない場合があるため、その厚さＴはある程度必要となっ
てくる。しかし、厚さＴを厚くすると、プラスチック製
のプリズムを製造する場合には、歪みやひけが発生し易
く、精度の良いプリズムを成形するのは非常に難しいと
いう問題があった。
プリズム７にあっては、望遠鏡６により光を絞って測定
しており、プリズム７の厚さＴが薄いと光量が不足して
スリット像と測定マークを正確に合致させることができ
ない場合があるため、その厚さＴはある程度必要となっ
てくる。しかし、厚さＴを厚くすると、プラスチック製
のプリズムを製造する場合には、歪みやひけが発生し易
く、精度の良いプリズムを成形するのは非常に難しいと
いう問題があった。
【０００９】また、屈折率測定を行う場合には、実際に
光学部品が使用される条件と同じ条件（温度、湿度等）
で測定を行うのが良いが、プリズムの厚さＴが厚いと、
その条件への順応性が遅いため、測定室へ持ち込んで短
時間で測定することができない。
光学部品が使用される条件と同じ条件（温度、湿度等）
で測定を行うのが良いが、プリズムの厚さＴが厚いと、
その条件への順応性が遅いため、測定室へ持ち込んで短
時間で測定することができない。
【００１０】そこで、この発明は、歪みやひけが無く、
成形が容易で、かつ光量が十分な屈折光を得ることがで
き、しかも、測定条件への順応性が早く、測定室に持ち
込んで短時間で測定することができるプリズムを提供す
ることを課題としている。
成形が容易で、かつ光量が十分な屈折光を得ることがで
き、しかも、測定条件への順応性が早く、測定室に持ち
込んで短時間で測定することができるプリズムを提供す
ることを課題としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
めに、請求項１に記載の発明は、光線の入射面と出射面
が平行でないプリズムにおいて、透明な複数の分割体を
有し、該各分割体には、それぞれ入射面と出射面が形成
されると共に、隣接する分割体との間には両分割体を係
合する係合手段が、前記光線が通る範囲以外に設けら
れ、該係合手段により、前記複数の分割体を、光線方向
と直交する方向に隣接させて互いに平行に配設すること
により構成されたプリズムとしたことを特徴とする。
めに、請求項１に記載の発明は、光線の入射面と出射面
が平行でないプリズムにおいて、透明な複数の分割体を
有し、該各分割体には、それぞれ入射面と出射面が形成
されると共に、隣接する分割体との間には両分割体を係
合する係合手段が、前記光線が通る範囲以外に設けら
れ、該係合手段により、前記複数の分割体を、光線方向
と直交する方向に隣接させて互いに平行に配設すること
により構成されたプリズムとしたことを特徴とする。
【００１２】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
構成に加え、前記係合手段は、前記各分割体を一定の間
隙を設けて組み付けるようにしたことを特徴とする。
構成に加え、前記係合手段は、前記各分割体を一定の間
隙を設けて組み付けるようにしたことを特徴とする。
【００１３】請求項３に記載の発明は、請求項１又は２
に記載の構成に加え、前記係合手段は、前記分割体の前
記光線に沿う一方の片面側に凸部を一体成形し、他方の
片面側に前記凸部が嵌合する凹部を形成したことを特徴
とする。
に記載の構成に加え、前記係合手段は、前記分割体の前
記光線に沿う一方の片面側に凸部を一体成形し、他方の
片面側に前記凸部が嵌合する凹部を形成したことを特徴
とする。
【００１４】請求項４に記載の発明は、請求項２に記載
の構成に加え、前記係合手段は、前記各分割体に前記光
線と直交する方向に沿う貫通孔が形成されると共に、該
各貫通孔に挿通される取付軸が設けられ、更に、該取付
軸が挿入されると同時に前記各分割体の間に介在するス
ペーサが設けられ、該スペーサにより隣接する分割体の
間に一定の間隙を形成したことを特徴とする請求項２記
載のプリズム。
の構成に加え、前記係合手段は、前記各分割体に前記光
線と直交する方向に沿う貫通孔が形成されると共に、該
各貫通孔に挿通される取付軸が設けられ、更に、該取付
軸が挿入されると同時に前記各分割体の間に介在するス
ペーサが設けられ、該スペーサにより隣接する分割体の
間に一定の間隙を形成したことを特徴とする請求項２記
載のプリズム。
【００１５】請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４
の何れか一つに記載されたプリズムは屈折率測定用の試
料であることを特徴とする。
の何れか一つに記載されたプリズムは屈折率測定用の試
料であることを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を説
明する。
明する。
【００１７】［発明の実施の形態１］図１乃至図３に
は、この発明の実施の形態を示す。
は、この発明の実施の形態を示す。
【００１８】まず構成について説明すると、図１には、
試料として用いられるプリズム１１を示す。このプリズ
ム１１は、同形状及び同材質の３枚の分割体１２,１２,
１２が重ね合わされることにより構成されている。
試料として用いられるプリズム１１を示す。このプリズ
ム１１は、同形状及び同材質の３枚の分割体１２,１２,
１２が重ね合わされることにより構成されている。
【００１９】すなわち、この分割体１２は、合成樹脂製
で射出成形により形成され、図２に示すように、厚みｔ
の直角二等辺三角形の板状を呈し、直角を挟む一方の面
側が光線の入射面１２ａとされ、又、直角を挟む他方の
面側が光線の出射面１２ｂとされている。この実施の形
態では、一例として、直角を挟む二辺の長さがそれぞれ
２０ｍｍ程度で、厚みｔが３ｍｍ程度に設定されてい
る。そして、この分割体１２の厚みｔの一方の片面側
（光線方向に沿う一方の片面側）には、三角形の各角部
の近傍にそれぞれ円柱形状の凸部１２ｃが形成され、他
方の片面部には、その凸部１２ｃと対応した位置にこの
凸部１２ｃが嵌合される形状の凹部１２ｄが形成されて
いる。この実施の形態では、これら凸部１２ｃ及び凹部
１２ｄの形成位置を、三角形の角部の近傍とすることに
より、光線が通る範囲外としている。この凸部１２ｃ
は、この実施の形態では、一例として直径が２ｍｍ、高
さが０．６ｍｍで、先端部にＲ０．２ｍｍ程度の面取り
が施してあり、又、凹部１２ｄは、直径が１．９９ｍ
ｍ、深さが１ｍｍである。この凸部１２ｃ及び凹部１２
ｄで、隣接する分割体１２を互いに嵌合させる「係合手
段」が構成されている。この凸部１２ｃの直径（２ｍ
ｍ）は、凹部１２ｄの直径（１．９９ｍｍ）より僅かに
大きく形成されており、嵌合時には両者が多少弾性変形
して確実に嵌合するようになっている。
で射出成形により形成され、図２に示すように、厚みｔ
の直角二等辺三角形の板状を呈し、直角を挟む一方の面
側が光線の入射面１２ａとされ、又、直角を挟む他方の
面側が光線の出射面１２ｂとされている。この実施の形
態では、一例として、直角を挟む二辺の長さがそれぞれ
２０ｍｍ程度で、厚みｔが３ｍｍ程度に設定されてい
る。そして、この分割体１２の厚みｔの一方の片面側
（光線方向に沿う一方の片面側）には、三角形の各角部
の近傍にそれぞれ円柱形状の凸部１２ｃが形成され、他
方の片面部には、その凸部１２ｃと対応した位置にこの
凸部１２ｃが嵌合される形状の凹部１２ｄが形成されて
いる。この実施の形態では、これら凸部１２ｃ及び凹部
１２ｄの形成位置を、三角形の角部の近傍とすることに
より、光線が通る範囲外としている。この凸部１２ｃ
は、この実施の形態では、一例として直径が２ｍｍ、高
さが０．６ｍｍで、先端部にＲ０．２ｍｍ程度の面取り
が施してあり、又、凹部１２ｄは、直径が１．９９ｍ
ｍ、深さが１ｍｍである。この凸部１２ｃ及び凹部１２
ｄで、隣接する分割体１２を互いに嵌合させる「係合手
段」が構成されている。この凸部１２ｃの直径（２ｍ
ｍ）は、凹部１２ｄの直径（１．９９ｍｍ）より僅かに
大きく形成されており、嵌合時には両者が多少弾性変形
して確実に嵌合するようになっている。
【００２０】この分割体１２の凹部１２ｄに、他の分割
体１２の凸部１２ｃを嵌合させることにより、これら３
枚の分割体１２は光線方向と直交する方向に隣接されて
互いに平行に配設されて、プリズム１１が構成されるよ
うになっている。この重ねた状態での厚みＴは、９ｍｍ
（５ｍｍ〜２０ｍｍ程度が好ましい）に設定されてい
る。
体１２の凸部１２ｃを嵌合させることにより、これら３
枚の分割体１２は光線方向と直交する方向に隣接されて
互いに平行に配設されて、プリズム１１が構成されるよ
うになっている。この重ねた状態での厚みＴは、９ｍｍ
（５ｍｍ〜２０ｍｍ程度が好ましい）に設定されてい
る。
【００２１】かかるプリズム１１の屈折率を測定するに
は、従来と同様に、図３に示すように行う。
は、従来と同様に、図３に示すように行う。
【００２２】すなわち、まず、このプリズム１１をＶブ
ロック５にセットする。このセット時には、浸触液をＶ
ブロック５へ供給しながらプリズム１１を挿入すること
で、Ｖブロック５とプリズム１１とが接触する面は、オ
プティカルコンタクトさせることができる。
ロック５にセットする。このセット時には、浸触液をＶ
ブロック５へ供給しながらプリズム１１を挿入すること
で、Ｖブロック５とプリズム１１とが接触する面は、オ
プティカルコンタクトさせることができる。
【００２３】この状態で、光源１から光を出射させ、フ
ィルタ２で測定に必要な波長の光を取り出し、スリット
３及びコリメータ４を介して平行光束をＶブロック５に
入射させる。この光束は、Ｖブロック５、プリズム１
１、Ｖブロック５を透過し、屈折により、Ｖブロック５
からγ度傾いた角度で出てくる。観察者は、望遠鏡６の
接眼レンズを覗き込み、Ｖブロック５より出射した光の
スリット像と望遠鏡６の標線が一致するまで望遠鏡６を
動かし、一致した時の角度γ度を読み取る。波長λでの
試料７の屈折率ｎλは、Ｖブロック５の屈折率Ｎλと測
定で読み取った角度γから所定の計算式にて求められ
る。
ィルタ２で測定に必要な波長の光を取り出し、スリット
３及びコリメータ４を介して平行光束をＶブロック５に
入射させる。この光束は、Ｖブロック５、プリズム１
１、Ｖブロック５を透過し、屈折により、Ｖブロック５
からγ度傾いた角度で出てくる。観察者は、望遠鏡６の
接眼レンズを覗き込み、Ｖブロック５より出射した光の
スリット像と望遠鏡６の標線が一致するまで望遠鏡６を
動かし、一致した時の角度γ度を読み取る。波長λでの
試料７の屈折率ｎλは、Ｖブロック５の屈折率Ｎλと測
定で読み取った角度γから所定の計算式にて求められ
る。
【００２４】このプリズム１１は、３枚の分割体１２か
ら構成されているため、厚みＴを確保できることから、
かかるプリズム１１を通る光線を絞ることにより、明る
いスリット像を得ることができ、測定を正確に行うこと
ができる。しかも、各分割体１２は厚みｔをそれ程厚く
する必要がないため、成形により歪みやひけの発生を従
来より抑制でき、均質性の良いプリズム１１を構成する
ことができる。
ら構成されているため、厚みＴを確保できることから、
かかるプリズム１１を通る光線を絞ることにより、明る
いスリット像を得ることができ、測定を正確に行うこと
ができる。しかも、各分割体１２は厚みｔをそれ程厚く
する必要がないため、成形により歪みやひけの発生を従
来より抑制でき、均質性の良いプリズム１１を構成する
ことができる。
【００２５】また、このプリズム１１は、各分割体１２
の凸部１２ｃと凹部１２ｄを嵌合させるだけで良いた
め、組付けが簡単であると同時に、凸部１２ｃと凹部１
２ｄとは、光線が通る範囲以外に形成されているため、
測定に影響を与えることがない。しかも、各分割体１２
は、入射面１２ａと出射面１２ｂとを有しており、隣接
する分割体１２との境界面は、光線方向に沿っているた
め、この境界面が存在しても屈折率測定に悪影響を与え
るようなことがない。
の凸部１２ｃと凹部１２ｄを嵌合させるだけで良いた
め、組付けが簡単であると同時に、凸部１２ｃと凹部１
２ｄとは、光線が通る範囲以外に形成されているため、
測定に影響を与えることがない。しかも、各分割体１２
は、入射面１２ａと出射面１２ｂとを有しており、隣接
する分割体１２との境界面は、光線方向に沿っているた
め、この境界面が存在しても屈折率測定に悪影響を与え
るようなことがない。
【００２６】さらに、屈折率測定を行う場合には、実際
に光学部品が使用される条件と同じ条件（温度、湿度
等）で測定を行うのが良いため、各分割体１２を組み付
ける前に、かかる条件とすれば、各分割体１２は薄いこ
とから、その条件への順応性が早く、それらを組み付け
ることにより、短時間で測定を行うことができる。
に光学部品が使用される条件と同じ条件（温度、湿度
等）で測定を行うのが良いため、各分割体１２を組み付
ける前に、かかる条件とすれば、各分割体１２は薄いこ
とから、その条件への順応性が早く、それらを組み付け
ることにより、短時間で測定を行うことができる。
【００２７】さらにまた、各分割体１２は、同形状であ
るため、同一の金型で成形できることから、コスト面で
も有利である。
るため、同一の金型で成形できることから、コスト面で
も有利である。
【００２８】［発明の実施の形態２］図４には、この発
明の実施の形態２を示す。
明の実施の形態２を示す。
【００２９】この実施の形態２は、実施の形態１の分割
体１２の各凸部１２ｃに窪み１２ｅが形成されている点
で実施の形態１と異なっている。
体１２の各凸部１２ｃに窪み１２ｅが形成されている点
で実施の形態１と異なっている。
【００３０】このように窪み１２ｅを形成することによ
り、凸部１２ｃを凹部１２ｄに嵌合させる場合に、凸部
１２ｃが弾性変形し易く、嵌合させ易く、歪みの発生を
抑制できる。
り、凸部１２ｃを凹部１２ｄに嵌合させる場合に、凸部
１２ｃが弾性変形し易く、嵌合させ易く、歪みの発生を
抑制できる。
【００３１】［発明の実施の形態３］図５及び図６に
は、この発明の実施の形態３を示す。
は、この発明の実施の形態３を示す。
【００３２】この実施の形態３は、分割体１２の凸部１
２ｆが大径部１２ｇと小径部１２ｈの２段に形成される
一方、その反対面部に形成される凹部１２ｉはその凸部
１２ｆの小径部１２ｈが嵌合される径に設定されてい
る。
２ｆが大径部１２ｇと小径部１２ｈの２段に形成される
一方、その反対面部に形成される凹部１２ｉはその凸部
１２ｆの小径部１２ｈが嵌合される径に設定されてい
る。
【００３３】従って、各分割体１２の凸部１２ｆと凹部
１２ｉとを嵌合させて組み付けた状態では、図５に示す
ように、各分割体１２の間には、大径部１２ｇの高さ分
の間隙ｃが形成されることとなる。
１２ｉとを嵌合させて組み付けた状態では、図５に示す
ように、各分割体１２の間には、大径部１２ｇの高さ分
の間隙ｃが形成されることとなる。
【００３４】このようにすれば、分割体１２を組み立て
た状態で、間隙ｃが形成されているため、かかるプリズ
ム１１を測定環境への順応させるのに、実施の形態１と
異なり分解した状態でなく、組み立てた状態で順応させ
ることができ、より短時間で測定できることとなる。
た状態で、間隙ｃが形成されているため、かかるプリズ
ム１１を測定環境への順応させるのに、実施の形態１と
異なり分解した状態でなく、組み立てた状態で順応させ
ることができ、より短時間で測定できることとなる。
【００３５】［発明の実施の形態４］図７及び図８に
は、この発明の実施の形態４を示す。
は、この発明の実施の形態４を示す。
【００３６】この実施の形態４は、分割体１２の角部の
近傍に光線と直交する方向に沿う貫通孔１２ｋが形成さ
れると共に、この各貫通孔１２ｋに挿通される取付軸１
４が設けられ、更に、この取付軸１４が挿入されると同
時に各分割体１２の間に介在するスペーサ１５が設けら
れ、このスペーサ１５により、隣接する分割体１２の間
に一定の間隙ｃが形成されるようになっている。これら
貫通孔１２ｋ,取付軸１４及びスペーサ１５等で、「係
合手段」が構成されている。
近傍に光線と直交する方向に沿う貫通孔１２ｋが形成さ
れると共に、この各貫通孔１２ｋに挿通される取付軸１
４が設けられ、更に、この取付軸１４が挿入されると同
時に各分割体１２の間に介在するスペーサ１５が設けら
れ、このスペーサ１５により、隣接する分割体１２の間
に一定の間隙ｃが形成されるようになっている。これら
貫通孔１２ｋ,取付軸１４及びスペーサ１５等で、「係
合手段」が構成されている。
【００３７】このようにすれば、厚みの異なるスペーサ
１５を準備することで、プリズム成形型を変更すること
なく、スペーサ１５のみを交換することにより、分割体
１２間の間隙ｃの寸法を任意に変化させることが可能と
なる。
１５を準備することで、プリズム成形型を変更すること
なく、スペーサ１５のみを交換することにより、分割体
１２間の間隙ｃの寸法を任意に変化させることが可能と
なる。
【００３８】他の作用等は実施の形態３と同様である。
【００３９】なお、この発明は、上記各実施の形態で
は、本発明のプリズム１１を屈折率測定用の試料として
用いているが、これに限らず、各分割体の間の境界部分
が光学装置の用途上影響なければ、試料以外の光学装置
の一部品として使用できることは勿論である。また、プ
リズムの形状も上記実施の形態のように三角形である必
要はなく、入射面と出射面が平行でないものであれば多
角形でも良く、又、係合手段も、各分割体を位置決めし
て組み立てることができるものであれば、上記実施の形
態のように凸部１２ｃ,凹部１２ｄ等が３カ所である必
要はなく２カ所等でも良く、その形状も円形である必要
はなく四角等でも良い。勿論、プリズムの各部の寸法等
も上記実施の形態に限定されるものでなく、プリズムが
用いられる状況等に応じて適宜設定する。
は、本発明のプリズム１１を屈折率測定用の試料として
用いているが、これに限らず、各分割体の間の境界部分
が光学装置の用途上影響なければ、試料以外の光学装置
の一部品として使用できることは勿論である。また、プ
リズムの形状も上記実施の形態のように三角形である必
要はなく、入射面と出射面が平行でないものであれば多
角形でも良く、又、係合手段も、各分割体を位置決めし
て組み立てることができるものであれば、上記実施の形
態のように凸部１２ｃ,凹部１２ｄ等が３カ所である必
要はなく２カ所等でも良く、その形状も円形である必要
はなく四角等でも良い。勿論、プリズムの各部の寸法等
も上記実施の形態に限定されるものでなく、プリズムが
用いられる状況等に応じて適宜設定する。
【００４０】
【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、プリズ
ムは、複数の分割体から構成されているため、厚みを確
保できることから、かかるプリズムを通る光線を絞るこ
とにより、明るいスリット像を得ることができ、測定を
正確に行うことができる。しかも、各分割体は厚みをそ
れ程厚くする必要がないため、成形により歪みやひけの
発生を従来より抑制でき、均質性の良いプリズムを構成
することができる。
ムは、複数の分割体から構成されているため、厚みを確
保できることから、かかるプリズムを通る光線を絞るこ
とにより、明るいスリット像を得ることができ、測定を
正確に行うことができる。しかも、各分割体は厚みをそ
れ程厚くする必要がないため、成形により歪みやひけの
発生を従来より抑制でき、均質性の良いプリズムを構成
することができる。
【００４１】また、このプリズムは、各分割体の係合手
段が、光線が通る範囲以外に形成されているため、測定
に影響を与えることがない。
段が、光線が通る範囲以外に形成されているため、測定
に影響を与えることがない。
【００４２】さらに、屈折率測定を行う場合には、実際
に光学部品が使用される条件と同じ条件（温度、湿度
等）で測定を行うのが良いが、各分割体を組み付ける前
に、かかる条件とすれば、各分割体は薄いことから、そ
の条件への順応性が早く、それらを組み付けることによ
り、短時間で測定を行うことができる。
に光学部品が使用される条件と同じ条件（温度、湿度
等）で測定を行うのが良いが、各分割体を組み付ける前
に、かかる条件とすれば、各分割体は薄いことから、そ
の条件への順応性が早く、それらを組み付けることによ
り、短時間で測定を行うことができる。
【００４３】請求項２に記載の発明によれば、請求項１
の効果に加え、分割体を組み立てた状態で、間隙が形成
されているため、かかるプリズムを測定環境への順応さ
せるのに、組み立てた状態で順応させることができ、よ
り短時間で測定できる。
の効果に加え、分割体を組み立てた状態で、間隙が形成
されているため、かかるプリズムを測定環境への順応さ
せるのに、組み立てた状態で順応させることができ、よ
り短時間で測定できる。
【００４４】請求項３に記載の発明によれば、請求項１
又は２の効果に加え、簡単な構造で係合手段を形成する
ことができる。
又は２の効果に加え、簡単な構造で係合手段を形成する
ことができる。
【００４５】請求項４に記載の発明によれば、請求項２
の効果に加え、分割体間の間隙を容易に変更できる。
の効果に加え、分割体間の間隙を容易に変更できる。
【００４６】請求項５に記載の発明によれば、請求項１
乃至４の何れかに記載の効果と同様な効果が得られる。
乃至４の何れかに記載の効果と同様な効果が得られる。
【図１】この発明の実施の形態１に係るプリズムの斜視
図である。
図である。
【図２】同実施の形態１の係る分割体の斜視図である。
【図３】同実施の形態１に係るプリズムの屈折率を測定
する状態を示す概略図である。
する状態を示す概略図である。
【図４】この発明の実施の形態２に係るプリズムの分割
体の斜視図である。
体の斜視図である。
【図５】この発明の実施の形態３に係るプリズムの斜視
図である。
図である。
【図６】同実施の形態３に係るプリズムの分割体の斜視
図である。
図である。
【図７】この発明の実施の形態４に係るプリズムの斜視
図である。
図である。
【図８】同実施の形態４に係るプリズムの分割体等を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図９】従来のプリズムを示す斜視図である。
【図１０】同従来のプリズムの屈折率を測定する状態を
示す図３に相当する概略図である。
示す図３に相当する概略図である。
11 プリズム 12 分割体 12a 入射面 12b 出射面 係合手段 12c,12f 凸部 12d,12i 凹部 12k 貫通孔 14 取付軸 15 スペーサ
Claims (5)
- 【請求項１】 光線の入射面と出射面が平行でないプリ
ズムにおいて、 透明な複数の分割体を有し、該各分割体には、それぞれ
入射面と出射面が形成されると共に、隣接する分割体と
の間には両分割体を係合する係合手段が、前記光線が通
る範囲以外に設けられ、該係合手段により、前記複数の
分割体を、光線方向と直交する方向に隣接させて互いに
平行に配設することにより構成されたことを特徴とする
プリズム。 - 【請求項２】 前記係合手段は、前記各分割体を一定の
間隙を設けて組み付けるようにしたことを特徴とする請
求項１記載のプリズム。 - 【請求項３】 前記係合手段は、前記分割体の前記光線
に沿う一方の片面側に凸部を一体成形し、他方の片面側
に前記凸部が嵌合する凹部を形成したことを特徴とする
請求項１又は２記載のプリズム。 - 【請求項４】 前記係合手段は、前記各分割体に前記光
線と直交する方向に沿う貫通孔が形成されると共に、該
各貫通孔に挿通される取付軸が設けられ、更に、該取付
軸が挿入されると同時に前記各分割体の間に介在するス
ペーサが設けられ、該スペーサにより隣接する分割体の
間に一定の間隙を形成したことを特徴とする請求項２記
載のプリズム。 - 【請求項５】 請求項１乃至４の何れか一つに記載され
たプリズムは屈折率測定用の試料であることを特徴とす
るプリズム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8179706A JPH1019735A (ja) | 1996-07-09 | 1996-07-09 | プリズム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8179706A JPH1019735A (ja) | 1996-07-09 | 1996-07-09 | プリズム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1019735A true JPH1019735A (ja) | 1998-01-23 |
Family
ID=16070460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8179706A Pending JPH1019735A (ja) | 1996-07-09 | 1996-07-09 | プリズム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1019735A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009037190A (ja) * | 2007-07-10 | 2009-02-19 | Meidensha Corp | 電子機器の表示装置 |
-
1996
- 1996-07-09 JP JP8179706A patent/JPH1019735A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009037190A (ja) * | 2007-07-10 | 2009-02-19 | Meidensha Corp | 電子機器の表示装置 |
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