JPH10187778A - レイアウト図形検証方法及びレイアウト図形検証装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ノッチ領域の検証時間を短縮することができる
レイアウト図形検証装置を提供する。 【解決手段】レイアウト図形検証装置１のＣＰＵ２は、
先ず、レイアウト図形を形成する線分を所定の方向に検
索可能なリンク構造のベクトルデータに変換する。次
に、ＣＰＵ２は、変換したベクトルに基づいて、検証の
対象となる図形外側領域を検出し、その領域が予め設定
された設計基準を満たさない場合に、当該領域を設計基
準違反箇所として検出する。そして、ＣＰＵ２は、検出
された違反箇所に応じた疑似線分を生成し、その違反箇
所を削除する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レイアウト図形検
証方法及びレイアウト図形検証装置に関する。近年、半
導体集積回路は、大規模化・高集積化が進められ、その
レイアウト図形（パターン）もますます複雑になってい
る。そのため、半導体集積回路の設計において、素子幅
や素子間隔等が予め定められた設計基準を満たしている
か検証するレイアウト図形検証に多くの時間がかかる傾
向にあり、その検証時間の短縮が要求されている。

【０００２】

【従来の技術】従来、半導体集積回路を構成する素子や
配線等のレイアウト図形では、素子や配線などの線幅や
素子間隔等とともに、ノッチ領域の間隔幅が予め設計基
準に規定されている。ノッチ領域は、一般的にレイアウ
ト図形において、その図形のくぼんでいる領域であり、
同一レイヤに格納された複数の図形を論理合成すること
により形成される。そのノッチ領域を有するレイアウト
図形を図１３（ａ）〜（ｃ）に示す。

【０００３】図１３（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ
１は、ノッチ領域Ｎ１，Ｎ２を有する。また、図１３
（ｂ）に示されるレイアウト図形Ｌ２は、ノッチ領域Ｎ
１１，Ｎ１２が階層的に形成されたノッチ領域Ｎ１３
と、ノッチ領域Ｎ１４，Ｎ１５を有する。更に、図１３
（ｃ）に示されるレイアウト図形Ｌ３は、水平方向（図
１３において左右方向）から任意の角度だけ傾いて形成
されているとともに、ノッチ領域Ｎ２１が階層的に形成
されたノッチ領域Ｎ２２を有する。

【０００４】レイアウト図形検証を行うレイアウト図形
検証装置（以下、単に検証装置という）は、図１３
（ａ）〜（ｃ）に示されるレイアウト図形Ｌ１〜Ｌ３の
ノッチ領域Ｎ１〜Ｎ２２を検出し、各ノッチ領域Ｎ１〜
Ｎ２２の間隔が、予め定めた設計基準値よりも小さい場
合に、そのノッチ領域を設計基準違反箇所として抽出す
る。また、検証装置は、抽出したノッチ領域に対して、
そのノッチ領域に対応した形状の補正図形をレイアウト
図形とは別のレイヤに生成する。

【０００５】開発者は、抽出された設計基準違反箇所を
ＣＲＴ等により目視で確認し、そのノッチ領域の間隔値
が狭い場合、レイアウト図形を修正してノッチ領域の間
隔値を設計基準値以上にする。また、開発者は、抽出さ
れたノッチ領域が不要な場合、生成された別のレイヤの
補正図形をノッチ領域のレイヤに移動させてレイアウト
図形と合成することにより、ノッチ領域を削除する。

【０００６】例えば、図１３（ａ）に示されるレイアウ
ト図形Ｌ１に対してレイアウト図形検証を行う場合、先
ずレイアウト図形Ｌ１を形成する全ての線分をベクトル
化したデータに変換する。この場合、ベクトルの方向
は、レイアウト図形Ｌ１の右回り又は左回りの方向に設
定される。右回りとは、例えば向きに沿って辺上を進む
ときにその右側にレイアウト図形Ｌ１の内部が見える向
きのことをいい、左回りはその逆の向きのことをいう。
そして、検証装置は、変換したレイアウト図形Ｌ１の各
ベクトルのうちの１つに着目する。

【０００７】例えば、図１４（ａ）に示すように、レイ
アウト図形Ｌ１を構成する全ての線分は、左回りのベク
トルＶ１〜Ｖ１６に変換されている。検証装置は、レイ
アウト図形Ｌ１の１つ、例えばベクトルＶ１５に注目す
る。そして、図１４（ｂ）に示すように、検証装置は、
注目したベクトルＶ１５の外側領域に、予め設定された
設計基準の最小間隔値Ｃ１からなる矩形の検証範囲Ｒ１
を形成する。外側領域とは、レイアウト図形Ｌ１の内部
に対して外側であって、各ベクトルの右側の領域のこと
をいう。

【０００８】次に、検証装置は、形成した検証範囲Ｒ１
内に存在する他のベクトルと、注目ベクトルＶ１５とで
外側領域を形成するベクトルを検索する。図１４（ａ）
において、検証領域Ｒ１には、ベクトルＶ１５と同じ方
向ではないベクトルＶ１３が存在し、そのベクトルＶ１
３とベクトルＶ１５とからレイアウト図形Ｌ１の外側に
所定の間隔の間隔領域を形成する。従って、検証装置
は、ベクトル１３を抽出する。一方、検証装置は、ベク
トルＶ１１が検証領域Ｒ１内に存在しても、そのベクト
ルＶ１１はベクトルＶ１５と同じ方向であるので、その
ベクトルＶ１１を抽出しない。

【０００９】そして、検証装置は、着目したベクトルＶ
１５と、抽出したベクトルＶ１３とからなるノッチ領域
を、違反箇所Ｈ１として検出する。さらに、図１４
（ｃ）に示すように、検証装置は、検出した設計基準違
反箇所Ｈ１のノッチ領域を補正するため、ベクトルＶ１
３の端点（図１４（ｃ）に「○」で示す始点及び終点）
と、ベクトルＶ１５の端点の合計４点を頂点とした矩形
を補正図形Ｆ１として生成する。

【００１０】同様に、検証装置は、図１４（ａ）に示さ
れるベクトルＶ９に注目し、そのベクトルＶ９に基づい
て形成した検証範囲内に存在するベクトルＶ１１を抽出
する。そして、検証装置は、注目したベクトルＶ９と抽
出したベクトルＶ１１とからなるノッチ領域を違反箇所
Ｈ２として検出する。さらに、検証装置は、図１４
（ｃ）に示すように、検出した違反箇所Ｈ２のノッチ領
域を補正する補正図形Ｆ２を生成する。

【００１１】しかしながら、注目したベクトルに対して
ノッチ領域を形成する相手のベクトルを抽出する条件
は、両ベクトルの方向関係しかないことから、異なるベ
クトルを抽出する場合がある。例えば、図１４（ａ）に
示すレイアウト図形Ｌ１において、注目したベクトルＶ
１５により形成された検証範囲Ｒ１内にベクトルＶ３が
存在する場合、そのベクトルＶ３はベクトルＶ１５と逆
方向であるため、検証装置は、そのベクトルＶ３をベク
トルＶ１５の相手ベクトルとして抽出する。そして、ベ
クトルＶ３とベクトルＶ１５との間を違反箇所Ｅ１とし
て誤検出する。同様に、検証装置は、注目したベクトル
Ｖ９に対してベクトルＶ５を抽出し、両ベクトルＶ５，
Ｖ９からなる違反箇所Ｅ２を検出する。

【００１２】即ち、検証装置は、真の違反箇所Ｈ１，Ｈ
２と同様に、真ではない違反箇所Ｅ１，Ｅ２を誤検出す
る。この場合、検出する違反箇所に対する真の違反箇所
の比率である的中率は、５０％となる。そして、開発者
は、検出された真の違反箇所Ｈ１，Ｈ２と、誤検出され
た違反箇所Ｅ１，Ｅ２をＣＲＴ等の表示装置上で確認
し、真の違反箇所Ｈ１，Ｈ２についてのみ補正処理等を
施す必要があるため、設計時間が長くなるという問題が
ある。

【００１３】そのため、図１４（ｄ）に示すように、検
証装置には、図１４（ｂ）に示す検証領域Ｒ１に比べて
縮小した検証領域Ｒ２を形成するものがある。検証装置
は、注目したベクトルＶ１５の両端に接続されるベクト
ルＶ１４，Ｖ１６を検索する。そして、検証装置は、検
索したベクトルＶ１４の図形領域側（ベクトルＶ１４の
左側）には、注目したベクトルＶ１５と外側領域を形成
する相手ベクトルは存在しないとして、図１４（ｂ）に
示される検証領域Ｒ１をベクトルＶ１５に接続されたベ
クトルＶ１４により切断して縮退した検証領域Ｒ２を形
成する。この検証領域Ｒ２によって、検証装置は、真の
違反箇所Ｈ１，Ｈ２のみを検出し、違反箇所Ｅ１，Ｅ２
の誤検出を防止する。その結果、検証装置による的中率
が向上し、開発者による確認のための時間が短くなるの
で、設計時間を短縮することができる。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、予め設
定された設計基準値内に複数のノッチ領域が存在する場
合、図形領域を乗り越えて真ではない違反箇所を検出す
る場合がある。例えば、図１４（ａ）に示すように、設
計基準値Ｃ２内にベクトルＶ９〜Ｖ１１よりなるノッチ
領域と、ベクトルＶ１３〜Ｖ１５よりなるノッチ領域が
存在する。この場合、検証装置は、注目したベクトルＶ
１５に対して、相手ベクトルとして検索したベクトルＶ
１３との間に違反領域Ｈ１を検出するとともに、相手ベ
クトルとして検索したベクトルＶ９との間に、ベクトル
Ｖ１１〜Ｖ１３よりなる図形領域を乗り越えた真ではな
い違反箇所Ｅ３を誤検出する。この違反箇所Ｅ３に対応
して注目ベクトルＶ１５と、相手ベクトルＶ９とから生
成される補正図形は、レイアウト図形Ｌ１の図形領域に
重複してしまう。

【００１５】また、図１３（ｂ）に示されるように、ノ
ッチ領域Ｎ１３内に段差があってノッチ領域Ｎ１１，Ｎ
１２が階層的に形成されている場合、図１５（ａ）に示
すように、ノッチ領域Ｎ１３に対応して形成された補正
図形は、ノッチ領域Ｎ１１，Ｎ１２に対応して生成され
た補正図形と、レイアウト図形Ｌ２の図形領域とに重複
してしまう。

【００１６】上記の真ではない違反箇所Ｅ３の誤検出を
防止する方法として、注目ベクトルに基づいて形成する
検証範囲を、その注目ベクトルに接続されるベクトルに
より切断するだけでなく、注目ベクトルと平行に切断す
るベクトルの走査が必要になる。しかしながら、注目し
たベクトルに最も近接するベクトルにより単純に検証範
囲を切断した場合、図１３（ｂ）に示されるように、ノ
ッチ領域Ｎ１３の中に段差があってノッチ領域Ｎ１１，
Ｎ１２が階層的に形成されている場合や、図１３（ｃ）
に示されるように、ノッチ領域Ｎ２１，Ｎ２２が階層的
に形成されている場合では、上層のノッチ領域Ｎ１３，
Ｎ２２が違反箇所として検出できない場合がある。

【００１７】また、図１３（ｃ）に示されるレイアウト
図形Ｌ３の場合、図１５（ｂ）に示すように、ノッチ領
域Ｎ２２に対応して形成される補正図形（図１５（ｂ）
において斜線で示す部分）は、レイアウト図形Ｌ３に重
複するのみならず、元のレイアウト図形Ｌ３を変形させ
てしまう場合がある。すると、開発者は、生成された補
正図形を単純に使用することができず、補正図形を更に
人手で修正するか、補正図形を削除して新たな補正図形
を生成しなければならないので、やはり検証時間が長く
なるという問題がある。

【００１８】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的はノッチ領域の検証時間を
短縮することができるレイアウト図形検証方法及びレイ
アウト図形検証装置を提供することにある。

【００１９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、半導体集積回路のレイア
ウト図形に対して、レイアウト図形の外側領域に対して
予め設定された設計基準に基づいて図形検証を行うレイ
アウト図形検証方法であって、前記レイアウト図形を形
成する線分を所定の方向に検索可能なリンク構造のベク
トルデータに変換し、その変換したベクトルに基づい
て、検証の対象となる図形外側領域を検出し、検出され
た領域が予め設定された設計基準を満たさない場合に、
当該領域を設計基準違反箇所として検出し、その検出さ
れた違反箇所を削除するために、該違反箇所に対応した
疑似線分を生成することを要旨とする。

【００２０】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
のレイアウト図形検証方法において、前記リンク構造の
ベクトルデータから、違反箇所を形成するベクトルを削
除するとともに前記疑似線分を追加してベクトルデータ
を更新し、新たなレイアウト図形を生成するようにした
ことを要旨とする。

【００２１】請求項３に記載の発明は、請求項１又は２
に記載のレイアウト図形検証方法において、前記検出さ
れた違反箇所を削除するために、該違反箇所を形成する
複数のベクトルと、前記生成された疑似線分とに基づい
て補正図形を生成するようにしたことを要旨とする。

【００２２】請求項４に記載の発明は、請求項３に記載
のレイアウト図形検証方法において、前記レイアウト図
形の図形外側領域を形成する線分に疑似線分が含まれる
場合、その領域に対応した補正図形を生成しないように
したことを要旨とする。

【００２３】請求項５に記載の発明は、半導体集積回路
のレイアウト図形に対して、レイアウト図形の外側領域
に対して予め設定された設計基準に基づいて図形検証を
行うレイアウト図形検証装置であって、予め設定された
設計基準を満たさない設計基準違反箇所となる図形外側
領域を検出する違反箇所検出手段と、前記検出された違
反箇所となる領域に対応した疑似線分を生成する疑似線
分生成手段とを備えたことを要旨とする。

【００２４】請求項６に記載の発明は、半導体集積回路
のレイアウト図形に対して、レイアウト図形の外側領域
に対して予め設定された設計基準に基づいて図形検証を
行うレイアウト図形検証装置であって、前記レイアウト
図形を形成する線分を所定の方向に検索可能なリンク構
造のベクトルデータに変換するベクトルデータ生成手段
と、前記変換されたベクトルに基づいて、検証の対象と
なる図形外側領域を検出する領域検出手段と、前記検出
された領域が予め設定された設計基準を満たさない場合
に、当該領域を設計基準違反箇所として検出する違反箇
所検出手段と、前記検出された違反箇所を削除するため
に、該違反箇所に対応した疑似線分を生成する疑似線分
生成手段とを備えたことを要旨とする。

【００２５】請求項７に記載の発明は、請求項６に記載
のレイアウト図形検証装置において、前記領域検出手段
は、前記変換されたベクトルに基づいて、レイアウト図
形の各頂点をそれぞれ凹頂点か凸頂点かを判定する凹凸
判定手段と、前記判定結果に基づいて、連続して出現す
る凹頂点を形成する複数のベクトルにより形成される図
形外側領域をノッチ領域として検出するノッチ領域検出
手段とから構成され、前記違反箇所検出手段は、前記検
出されたノッチ領域が予め設定された設計基準を満たさ
ない場合に、そのノッチ領域を設計基準違反箇所として
検出するようにしたことを要旨とする。

【００２６】請求項８に記載の発明は、請求項６又は７
に記載のレイアウト図形検証装置において、前記リンク
構造のベクトルデータから、違反箇所を形成するベクト
ルを削除するとともに前記疑似線分を追加してベクトル
データを更新し、新たなレイアウト図形を生成するベク
トルデータ更新手段を備えたことを要旨とする。

【００２７】請求項９に記載の発明は、請求項６乃至８
に記載のレイアウト図形検証装置において、前記検出さ
れた違反箇所を削除するために、該違反箇所を形成する
複数のベクトルと、前記生成された疑似線分とに基づい
て補正図形を生成する補正図形生成手段を備えたことを
要旨とする。

【００２８】請求項１０に記載の発明は、請求項６乃至
９に記載のレイアウト図形検証装置において、前記疑似
線分生成手段は、前記違反箇所を形成するベクトルの前
後のベクトルを検索し、それらのベクトルの一方を選択
し、その選択したベクトルを延長して前記疑似線分を生
成するようにしたことを要旨とする。

【００２９】請求項１１に記載の発明は、請求項６乃至
９に記載のレイアウト図形検証装置において、前記疑似
線分生成手段は、前記違反箇所を形成するベクトルの端
点を接続する疑似線分を生成するようにしたことを要旨
とする。

【００３０】請求項１２に記載の発明は、請求項６乃至
１１に記載のレイアウト図形検証装置において、前記補
正図形生成手段は、前記レイアウト図形の図形外側領域
を形成する線分に疑似線分が含まれる場合、その領域に
対応した補正図形を生成しないようにしたことを要旨と
する。

【００３１】（作用）従って、請求項１に記載の発明に
よれば、レイアウト図形を形成する線分は、所定の方向
に検索可能なリンク構造のベクトルデータに変換され
る。その変換されたベクトルに基づいて、検証の対象と
なる図形外側領域が検出され、その検出された領域が予
め設定された設計基準を満たさない場合に、当該領域が
設計基準違反箇所として検出される。そして、その検出
された違反箇所を削除するために、違反箇所に対応した
疑似線分が生成される。

【００３２】請求項２に記載の発明によれば、リンク構
造のベクトルデータから、違反箇所を形成するベクトル
が削除されるとともに生成された疑似線分が追加してベ
クトルデータが更新され、新たなレイアウト図形が生成
される。

【００３３】請求項３に記載の発明によれば、検出され
た違反箇所を削除するために、違反箇所を形成する複数
のベクトルと、生成された疑似線分とに基づいて補正図
形が生成される。

【００３４】請求項４に記載の発明によれば、レイアウ
ト図形の図形外側領域を形成する線分に疑似線分が含ま
れる場合、その領域に対応した補正図形は生成されな
い。請求項５に記載の発明によれば、違反箇所検出手段
と疑似線分生成手段とが備えられる。違反箇所検出手段
は、予め設定された設計基準を満たさない設計基準違反
箇所となる図形外側領域を検出する。疑似線分生成手段
は、検出された違反箇所となる領域に対応した疑似線分
を生成する。

【００３５】請求項６に記載の発明によれば、ベクトル
データ生成手段は、レイアウト図形を形成する線分を所
定の方向に検索可能なリンク構造のベクトルデータに変
換する。領域検出手段は、変換されたベクトルに基づい
て、検証の対象となる図形外側領域を検出する。違反箇
所検出手段は、検出された領域が予め設定された設計基
準を満たさない場合に、当該領域を設計基準違反箇所と
して検出する。そして、疑似線分生成手段は、検出され
た違反箇所を削除するために、違反箇所に対応した疑似
線分を生成する。

【００３６】請求項７に記載の発明によれば、領域検出
手段は、変換されたベクトルに基づいて、レイアウト図
形の各頂点をそれぞれ凹頂点か凸頂点かを判定する凹凸
判定手段と、判定結果に基づいて、連続して出現する凹
頂点を形成する複数のベクトルにより形成される図形外
側領域をノッチ領域として検出するノッチ領域検出手段
とから構成される。そして、違反箇所検出手段は、検出
されたノッチ領域が予め設定された設計基準を満たさな
い場合に、そのノッチ領域を設計基準違反箇所として検
出する。

【００３７】請求項８に記載の発明によれば、更に、リ
ンク構造のベクトルデータから、違反箇所を形成するベ
クトルを削除するとともに疑似線分を追加してベクトル
データを更新し、新たなレイアウト図形を生成するベク
トルデータ更新手段が備えられる。

【００３８】請求項９に記載の発明によれば、更に、検
出された違反箇所を削除するために、違反箇所を形成す
る複数のベクトルと、生成された疑似線分とに基づいて
補正図形を生成する補正図形生成手段が備えられる。

【００３９】請求項１０に記載の発明によれば、疑似線
分生成手段は、違反箇所を形成するベクトルの前後のベ
クトルを検索し、それらのベクトルの一方を選択し、そ
の選択したベクトルを延長して疑似線分を生成する。

【００４０】請求項１１に記載の発明によれば、疑似線
分生成手段は、違反箇所を形成するベクトルの端点を接
続する疑似線分を生成する。請求項１２に記載の発明に
よれば、補正図形生成手段は、レイアウト図形の図形外
側領域を形成する線分に疑似線分が含まれる場合、その
領域に対応した補正図形を生成しない。

【００４１】

【発明の実施の形態】

（第一実施形態）以下、本発明を具体化した第一実施形
態を図１〜図８に従って説明する。

【００４２】図２は本発明を適用したレイアウト図形検
証装置のシステム構成を示す模式図である。レイアウト
図形検証装置１はＣＡＤ（Computer Aided Design ）装
置からなり、中央処理装置（以下、ＣＰＵという）２、
メモリ３、磁気ディスク４、ＣＲＴ等の表示器５，及
び、キーボード（マウス等を含む）６等から構成され、
それらはシステムバス７により互いに接続されている。
ＣＰＵ２はメモリ３に記憶された所定のプログラムデー
タに基づいて動作する。

【００４３】メモリ３にはＣＰＵ２が実行する前記プロ
グラムとその実行に必要な各種データが予め記憶される
とともに、当該プログラムデータに基づくＣＰＵ２の処
理結果等が一時格納される。キーボード６はメモリ３に
格納され前記プログラムの実行に必要なデータを入力し
たり、プリンタ５や表示器６に処理結果等の出力命令を
入力するために用いられる。

【００４４】磁気ディスク４には、レイアウトデータ８
が格納されている。レイアウトデータ８には、あらかじ
め論理回路データなどから作成された半導体装置のレイ
アウト図形が格納されている。ＣＰＵ２は、レイアウト
データ８に格納されたレイアウト図形に対して、あらか
じめ設定された設計基準値に基づいて、図１に示される
処理のフローチャートに従って設計基準違反箇所を検出
する図形検証を行う。

【００４５】そして、ＣＰＵ２は、図形検証の結果、設
計基準違反箇所が存在する場合、その違反箇所のレイア
ウト図形に対して違反箇所となるノッチ領域を削除する
ための補正図形を生成する。そして、ＣＰＵ２は、レイ
アウトデータ８に格納されたレイアウト図形と、生成し
た補正図形とからなる補正レイアウトデータ９を磁気デ
ィスク４に格納する。

【００４６】レイアウト図形検証装置１のＣＰＵ２は、
キーボード６の操作によりメモリ３に記憶されたレイア
ウト図形検証処理のプログラムが起動されると、図１に
示す処理フローのステップＳ１〜Ｓ７における各処理を
実行する。

【００４７】先ず、ステップＳ１はベクトルデータ生成
処理（ベクトルデータ生成手段）であって、図１に示さ
れるＣＰＵ２は、レイアウトデータ８に格納されたレイ
アウト図形を形成する全ての線分をベクトル化したデー
タに変換する。この場合、ＣＰＵ２は、変換するベクト
ルの方向を、レイアウト図形の右回り又は左回りの何れ
か一方の方向に設定する。

【００４８】右回りとは、レイアウト図形の辺上を進む
ときに、その方向に向かって右側にレイアウト図形の内
部（内側領域）が、左側にレイアウト図形の外部（外側
領域）が見える向きのことをいう。逆に、左回りは、レ
イアウト図形の辺上を進むときに、その方向に向かって
右側にレイアウト図形の外部（外側領域）が、左側にレ
イアウト図形の内部（内側領域）が見える向きのことを
いう。尚、本実施形態では、ＣＰＵ２は、レイアウト図
形の全ての線分を左回りの方向のベクトルに変換するよ
うに設定されている。

【００４９】また、変換されたベクトルは、各ベクトル
の方向に沿った順方向及び逆方向に検索が可能なリンク
構造となっている。即ち、検証処理においてその時々に
あるベクトルに注目した場合、その注目したベクトル
（以下、他のベクトルと区別するために注目ベクトルと
いう）の終点は、順方向に次のベクトルの始点と一致し
ている。従って、ＣＰＵ２は、注目ベクトルの次のベク
トルを検索することができる。また、注目ベクトルの始
点は、逆方向に次のベクトル、即ち、順方向に１つ前の
ベクトルの終点と一致している。従って、ＣＰＵ２は、
注目ベクトルの次のベクトルの１つ前のベクトルを検索
することができる。

【００５０】そして、他のベクトルに注目した場合、Ｃ
ＰＵ２は、同様に注目ベクトルの前後のベクトルを検索
することができる。従って、ＣＰＵ２は、レイアウト図
形を構成する全てのベクトルを順方向・逆方向に検索す
ることができる。

【００５１】次に、ステップＳ２は頂点の凹凸判定処理
（凹凸判定手段）であって、図２中のＣＰＵ２は、先ず
変換したベクトルデータに基づいて、レイアウト図形の
各頂点の凹凸を判定する。各頂点の凹凸は、頂点を形成
する２つのベクトルの方向によって判定される。

【００５２】即ち、注目ベクトルに対して次のベクトル
がレイアウト図形の外側領域に向いている、即ち、右方
向に向かっている場合、両ベクトルにより形成される頂
点は、凹頂点となる。一方、注目ベクトルに対して次の
ベクトルがレイアウト図形の内側領域に向いている、即
ち、左方向に向かっている場合、両ベクトルにより形成
される頂点は、凸頂点となる。

【００５３】ＣＰＵ２は、レイアウト図形を構成する全
てのベクトルを順方向又は逆方向に検索し、レイアウト
図形に存在する全ての頂点が凹頂点か凸頂点かを判定す
る。そして、全ての頂点に対する凹凸判定を終了する
と、図２中のＣＰＵ２は、図１に示されるステップＳ３
に移る。

【００５４】次に、図１に示されるステップＳ３はノッ
チ領域検出処理（ノッチ領域検出手段）であって、図２
中のＣＰＵ２は、ステップＳ２において判定された頂点
の凹凸に基づいて、レイアウト図形に存在するノッチ領
域を検出する。

【００５５】注目ベクトルに対して、そのベクトルの始
点及び終点に凹頂点が存在する場合、そのベクトルと、
１つ前のベクトル、及び、次のベクトルによりレイアウ
ト図形のくぼみとなるノッチ領域が形成される。従っ
て、ＣＰＵ２は、始点及び終点が凹頂点となるベクトル
と、そのベクトルの前後のベクトルを検索することによ
り、レイアウト図形のノッチ領域を検出する。

【００５６】即ち、図１に示されるステップＳ２とステ
ップＳ３とによりレイアウト図形のノッチ領域を検出す
る領域検出手段が構成される。そして、図２中のＣＰＵ
２は、レイアウト図形のノッチ領域を検出した場合には
図１に示されるステップＳ３からステップＳ４に移る。
一方、ノッチ領域がレイアウト図形に存在しない場合、
ＣＰＵ２は、図１に示されるレイアウト図形検証処理を
終了する。

【００５７】次に、図１に示されるステップＳ４は違反
箇所検出処理（違反箇所検出手段）であって、図２中の
ＣＰＵ２は、レイアウト図形に存在するノッチ領域のう
ち、予め設定された設計基準値を満たさないノッチ領域
を設計基準違反箇所（以下、単に違反箇所という）を抽
出する。具体的には、ＣＰＵ２は、先ず、レイアウト図
形に存在するノッチ領域を抽出する。次に、ＣＰＵ２
は、抽出したノッチ領域を構成するベクトルのうち、注
目ベクトルの前後の２つのベクトルの線分間の距離を演
算し、その距離をノッチ領域の間隔値とする。そして、
ＣＰＵ２は、ノッチ領域の間隔値と設計基準値とを比較
し、その比較結果に基づいて、ノッチ領域の間隔値が設
計基準値よりも小さい場合に、そのノッチ領域を違反箇
所として検出する。

【００５８】図１に示されるステップＳ５は疑似線分生
成処理（疑似線分生成手段）であって、図２中のＣＰＵ
２は、ステップＳ４において違反箇所として検出された
ノッチ領域に対応した疑似線分としての疑似ベクトルを
生成する。疑似ベクトルは、違反箇所となるノッチ領域
をレイアウト図形から削除するために生成される。

【００５９】具体的には、ＣＰＵ２は、違反箇所として
検出したノッチ領域に対して、そのノッチ領域を形成す
るベクトルの前後、合計２個のベクトルを検索する。そ
して、ＣＰＵ２は、検索した２個のベクトルの内の一方
のベクトルを選択し、その選択したベクトルを延長して
疑似ベクトルを生成する。

【００６０】そして、ＣＰＵ２は、そのノッチ領域の形
状に基づいて、２個のベクトルの内の一方を選択する。
具体的には、ＣＰＵ２は、ノッチ領域に段差がない場
合、前後のベクトルの内の一方、例えば、後方のベクト
ル（ノッチ領域の１つ前のベクトル）を選択する。一
方、ノッチ領域に段差がある場合、段差の低い方のベク
トルを選択する。そして、ＣＰＵ２は、選択した一方の
ベクトルを延長した疑似ベクトルを生成する。そのノッ
チ領域の段差は、ノッチ領域を形成する注目ベクトルの
前後のベクトルの長さの違いにより形成される。

【００６１】例えば、図３（ａ）に示すように、レイア
ウト図形１１には、注目ベクトルＳ３と、その前後のベ
クトルＳ２，Ｓ４とからノッチ領域１２が形成されてい
る。そして、このノッチ領域１２を形成するベクトルＳ
２，Ｓ４は、同じ長さのベクトルであるので、そのノッ
チ領域１２には段差がない。従って、図２中のＣＰＵ２
は、ノッチ領域１２を形成するベクトルＳ２，Ｓ４の前
後のベクトルＳ１，Ｓ５のうちの任意の一方、例えば、
後方のベクトルＳ１を選択する。

【００６２】更に、両ベクトルＳ１，Ｓ５は、同じ方向
を向いている。従って、一方のベクトルＳ１を延長した
場合、その延長したベクトルは、他方のベクトルＳ５と
重なる。そのため、図２中のＣＰＵ２は、図３（ｂ）に
示すように、選択したベクトルＳ１を、他方のベクトル
に重なるように延長した疑似ベクトルＧ１を生成する。

【００６３】また、図４（ａ）に示すように、レイアウ
ト図形１４には、注目ベクトルＳ１３と、その前後のベ
クトルＳ１２，Ｓ１４とからノッチ領域１５が形成され
ている。そして、このノッチ領域１５を形成するベクト
ルＳ１２，Ｓ１４は、異なる長さのベクトルであって、
注目ベクトルＳ１３の後方（リンク構造の検索方向にお
いて後方であって、ベクトルとは逆方向）のベクトルＳ
１２の方が、注目ベクトルＳ１３の前方のベクトルＳ１
４よりも短く、形成する段差が低い。従って、図２中の
ＣＰＵ２は、低い段差を形成するベクトルＳ１２に接続
される後方のベクトルＳ１１を選択し、そのベクトルＳ
１１を延長する。この時、ＣＰＵ２は、選択したベクト
ルＳ１１の終点を、ノッチ領域１５を削除するように、
即ち、図４（ｂ）に示すように、形成する段差が高い方
のベクトルＳ１４との交点まで延長した疑似ベクトルＧ
２を生成する。更に、図２中のＣＰＵ２は、図４（ｂ）
に示すように、疑似ベクトルＧ２と交わるベクトルＳ１
４の終点を、疑似ベクトルＧ２との交点まで縮小したベ
クトルＳ１４ａを生成する。

【００６４】更に、図４（ｃ）に示すように、レイアウ
ト図形１７には、注目ベクトルＳ２３と、その前後のベ
クトルＳ２２，Ｓ２４とからノッチ領域１８が形成され
ている。そして、このノッチ領域１８を形成するベクト
ルＳ２２，Ｓ２４は、異なる長さのベクトルであって、
注目ベクトルＳ２３の前方のベクトルＳ２４の方が、注
目ベクトルＳ２３の後方のベクトルＳ２２よりも短く、
形成する段差が低い。従って、図２中のＣＰＵ２は、低
い段差を形成するベクトルＳ２４に接続される前方のベ
クトルＳ２５を選択し、そのベクトルＳ２５を延長す
る。この時、ＣＰＵ２は、選択したベクトルＳ２５の始
点を、ノッチ領域１８を削除するように、即ち、図４
（ｄ）に示すように、形成する段差が高い方のベクトル
Ｓ２２との交点まで延長した疑似ベクトルＧ３を生成す
る。更に、図２中のＣＰＵ２は、図４（ｄ）に示すよう
に、疑似ベクトルＧ３と交わるベクトルＳ２２の終点
を、疑似ベクトルＧ３との交点まで縮小したベクトルＳ
２２ａを生成する。

【００６５】次に、図１に示されるステップＳ６は補正
図形生成処理（補正図形生成手段）であって、図２中の
ＣＰＵ２は、ステップＳ５において、ノッチ領域を削除
するための補正図形を形成する。ＣＰＵ２は、ノッチ領
域の形状に対応して生成された疑似ベクトルと、ノッチ
領域を構成するベクトルとにより形成される補正図形を
生成する。

【００６６】例えば、図３（ａ）に示されるレイアウト
図形１１の場合、ノッチ領域１２はベクトルＳ２〜Ｓ４
により構成される。そして、図２中のＣＰＵ２は、図１
に示されるステップＳ５において、そのノッチ領域１２
に対して、図３（ｂ）に示される疑似ベクトルＧ１を生
成している。従って、ＣＰＵ２は、図３（ａ）中のベク
トルＳ２〜Ｓ４と、図３（ｂ）中の疑似ベクトルＧ１と
から形成される補正図形１３（図３（ｂ）において斜線
で示される部分）を生成する。

【００６７】同様に、図４（ａ）に示されるレイアウト
図形１４の場合、ノッチ領域１５はベクトルＳ１２〜Ｓ
１４により構成され、図２中のＣＰＵ２は、そのノッチ
領域１５に対して図４（ｂ）に示される疑似ベクトルＧ
２を生成している。従って、ＣＰＵ２は、図４（ａ）中
のベクトルＳ１２〜Ｓ１４と、図４（ｂ）中の疑似ベク
トルＧ２とから形成される補正図形１６（図４（ｂ）に
おいて斜線で示される部分）を生成する。

【００６８】また、図４（ｃ）に示されるレイアウト図
形１７の場合、ノッチ領域１８はベクトルＳ２２〜Ｓ２
４により構成され、図２中のＣＰＵ２は、そのノッチ領
域１８に対して図４（ｄ）に示される疑似ベクトルＧ３
を生成している。従って、ＣＰＵ２は、図４（ｃ）中の
ベクトルＳ２２〜Ｓ２４と、図４（ｄ）中の疑似ベクト
ルＧ３とから形成される補正図形１９（図４（ｄ）にお
いて斜線で示される部分）を生成する。

【００６９】更に次に、図１に示されるステップＳ７は
ベクトルデータ更新処理（ベクトルデータ更新手段）で
あって、図２中のＣＰＵ２は、レイアウト図形のベクト
ルデータを更新し、そのレイアウト図形のノッチ領域を
削除する。具体的には、ＣＰＵ２は、ノッチ領域を形成
するベクトルと、図１に示されるステップＳ５において
生成した疑似ベクトルとを置き換えて、レイアウト図形
のベクトルデータを更新する。すると、レイアウト図形
は、ノッチ領域が削除された新たなレイアウト図形とな
る。

【００７０】そして、抽出したノッチ領域に対するベク
トルデータの更新を終了すると、図２に示されるＣＰＵ
２は、図１に示されるステップＳ３に移る。そして、そ
のステップＳ３において、ＣＰＵ２は、ノッチ領域が存
在するか否かを判断する。

【００７１】即ち、ＣＰＵ２は、レイアウト図形にノッ
チ領域が残存する場合、ステップＳ３〜Ｓ７の各処理を
繰り返し実行し、違反箇所となる全てのノッチ領域のベ
クトルを生成した疑似ベクトルに置き換えてベクトルデ
ータを更新し、ノッチ領域を削除する。そして、ステッ
プＳ２において抽出された全てのノッチ領域に対して検
証が終了すると、図２中のＣＰＵ２は、ステップＳ７に
おいて更新した新たなレイアウト図形のベクトルデータ
（線分）と、ステップＳ６において生成した補正図形と
を、図２中の補正レイアウトデータ９に格納し、レイア
ウト処理を終了する。

【００７２】次に、上記のレイアウト図形検証装置１の
作用を図１３（ａ）〜（ｃ）に示されるレイアウト図形
Ｌ１〜Ｌ３に基づいて説明する。先ず、図１３（ａ）に
示されるレイアウト図形Ｌ１に対するレイアウト図形検
証処理を、図１に示されるフローチャート及び図５
（ａ）〜（ｄ）に従って説明する。

【００７３】先ず、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ１において、図１３（ａ）に示されるレイ
アウト図形Ｌ１を構成する全ての線分を、図５（ａ）に
示すように、左回りのベクトルＶ１〜Ｖ１６に変換す
る。各ベクトルＶ１〜Ｖ１６は、レイアウト図形Ｌ１の
内側（図形領域）をベクトル方向に対して左側に持つと
する矢印の方向を持つ。更に、各ベクトルＶ１〜Ｖ１６
は、全ベクトルを始点・終点でつなげて常に図形領域を
左側に見ながら図形を一周するＶ１，Ｖ２，・・・、Ｖ
１６，Ｖ１の順方向に、又は、逆方向に検索可能とする
リンク構造になっている。

【００７４】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ２において、図５（ａ）に示されるレイア
ウト図形Ｌ１の全ての頂点の凹凸判定を行う。凹凸判定
は、１つのベクトルに対して次のベクトルの方向が右方
向か左方向かによって、それら２つのベクトルにより形
成される頂点が、凹頂点か凸頂点かを判断する。尚、本
実施形態では、左回りによりレイアウト図形Ｌ１を形成
する全ての線分をベクトルＶ１〜Ｖ１６に変換してい
る。従って、１つのベクトルに対して次のベクトルの方
向が右方向の場合には、両ベクトルにより形成される頂
点は凹頂点となる。逆に、１つのベクトルに対して次の
ベクトルが左方向の場合、両ベクトルにより形成される
頂点は凸頂点となる。従って、図５（ａ）に示されるレ
イアウト図形Ｌ１には、凹頂点Ｐ１〜Ｐ６を有すること
になる。尚、図５（ａ）においては、凹頂点Ｐ１〜Ｐ６
に対して「○」印を付してある。

【００７５】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図５（ａ）に示されるレイア
ウト図形Ｌ１に対して、任意のベクトルから所定の方
向、例えば、ベクトルＶ１からリンク構造の順方向（各
ベクトルの方向）に各頂点を走査する。そして、図２中
のＣＰＵ２は、凹頂点が連続して出現するＰ３，Ｐ４か
らノッチ領域Ｎ１を検出する。そのノッチ領域Ｎ１は、
ベクトルＶ９〜Ｖ１１により構成される。尚、単体で出
現する凹頂点Ｐ１，Ｐ２には、ノッチ領域は存在しな
い。そして、図２中のＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ１を検
出したので、図１に示されるステップＳ３からステップ
Ｓ４に移る。

【００７６】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ４において、検出したノッチ領域Ｎ１が設
計基準違反箇所か否かを判断する。図５（ａ）に示すよ
うに、ＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ１を構成するベクトル
Ｖ９〜Ｖ１１に基づいて、ベクトルＶ９とベクトルＶ１
１の線分間の距離からノッチ領域Ｎ１の間隔値を求め
る。この間隔値は、設計基準値Ｃよりも小さいので、Ｃ
ＰＵ２は、このノッチ領域Ｎ１を設計基準違反箇所とし
て検出する。

【００７７】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ５において、違反箇所として検出したノッ
チ領域Ｎ１に対して、そのノッチ領域Ｎ１を削除するた
めの疑似ベクトルを生成する。この場合、ノッチ領域Ｎ
１を構成するベクトルＶ９，Ｖ１１は、同じ長さである
ので、図３（ａ）（ｂ）に示される処理に従って、図５
（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ１を削除する疑似ベクト
ルＭ１を生成する。

【００７８】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ６において、違反箇所として検出したノッ
チ領域Ｎ１に、補正図形を生成する。この場合、ステッ
プＳ５における疑似ベクトルＭ１の生成と同様に、図３
（ａ）（ｂ）に示される処理に従って、段差を含まない
ノッチ領域Ｎ１の補正図形Ｆ１（図５（ｄ）参照）を生
成する。

【００７９】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ７において、レイアウト図形Ｌ１のベクト
ルデータを更新する。ＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ１を構
成するベクトルＶ８〜Ｖ１２をレイアウト図形Ｌ１のベ
クトルデータのリンク構造から除外し、疑似ベクトルＭ
１を追加してベクトルデータを更新する。その結果、図
５（ｂ）に示すように、ベクトルＶ１〜Ｖ７、疑似ベク
トルＭ１、及び、ベクトルＶ１３〜Ｖ１６よりなる新た
なリンク構造のベクトルデータにより形成される新たな
レイアウト図形Ｌ１ａが生成される。

【００８０】そして、疑似ベクトルＭ１の始点はベクト
ルＶ７の終点と接続され、レイアウト図形Ｌ１ａの図形
領域に対して凸頂点を形成する。また、疑似ベクトルＭ
１の終点はベクトルＶ１３の始点と接続され、レイアウ
ト図形Ｌ１ａの図形領域に対して凸頂点を形成する。従
って、図５（ａ）に示される元のレイアウト図形Ｌ１に
対して、図５（ｂ）に示される新たなレイアウト図形Ｌ
１ａは、ノッチ領域Ｎ１が１個減少している。そして、
図２中のＣＰＵ２は、図１に示されるステップＳ３に戻
る。

【００８１】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図２中のＣＰＵ２は、上記と
同様にして、図５（ｂ）に示すように、連続する凹頂点
Ｐ５，Ｐ６からノッチ領域Ｎ２を検出する。そして、そ
のＣＰＵ２は、検出したノッチ領域Ｎ２に対して、図５
（ｃ）に示される疑似ベクトルＭ２と補正図形Ｆ２（図
５（ｄ）参照）とを新たに生成する。そして、ベクトル
更新処理を施すことにより、図２中のＣＰＵ２は、ベク
トルＶ１〜Ｖ７と、生成した疑似ベクトルＭ２とからな
るリンク構造のベクトルデータにより、新たなレイアウ
ト図形Ｌ１ｂを生成する。

【００８２】そして、疑似ベクトルＭ２の始点はベクト
ルＶ７の終点と接続され、レイアウト図形Ｌ１ｂの図形
領域に対して凸頂点を形成する。また、疑似ベクトルＭ
２の終点はベクトルＶ１の始点と接続され、レイアウト
図形Ｌ１ｂの図形領域に対して凸頂点を形成する。従っ
て、図５（ｂ）に示されるレイアウト図形Ｌ１ａに対し
て、図５（ｃ）に示される新たなレイアウト図形Ｌ１ｂ
は、ノッチ領域Ｎ２が１個減少している。そして、図２
中のＣＰＵ２は、図１に示されるステップＳ３に戻る。

【００８３】そのステップＳ３において、図２中のＣＰ
Ｕ２は、図５（ｃ）に示される新たなレイアウト図形Ｌ
１ｂからノッチ領域を検出しない。レイアウト図形Ｌ１
ｂには凹頂点Ｐ１，Ｐ２が存在するものの、連続しない
のでノッチ領域を構成しない。従って、ＣＰＵ２は、図
５（ｄ）に示される違反箇所となるノッチ領域がないレ
イアウト図形Ｌ１ｂと、補正図形Ｆ１，Ｆ２とを図２中
の補正レイアウトデータ９に格納し、レイアウト図形Ｌ
１に対する検証処理を終了する。

【００８４】以上の処理により、図２中のＣＰＵ２は、
ノッチ領域を有するレイアウト図形に対するレイアウト
図形検証処理を行って、図５（ｄ）に示される違反箇所
のないレイアウト図形Ｌ１ｂを生成する。更に、ＣＰＵ
２は、図５（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ１に対応
して、違反箇所として検出したノッチ領域Ｎ１，Ｎ２
（図５（ａ）（ｂ）参照）に対応した形状の補正図形Ｆ
１，Ｆ２（図５（ｄ）参照）を生成する。

【００８５】次に、図１３（ｂ）に示される階層構造の
ノッチ領域を有するレイアウト図形Ｌ２に対するレイア
ウト図形検証処理を、図１に示されるフローチャート及
び図６（ａ）〜（ｅ）に従って説明する。

【００８６】先ず、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ１において、図１３（ｂ）に示されるレイ
アウト図形Ｌ２を構成する全ての線分を、図６（ａ）に
示すように、左回りのベクトルＶ２１〜Ｖ４０に変換す
る。

【００８７】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ２において、図６（ａ）に示されるレイア
ウト図形Ｌ２の全ての頂点の凹凸判定を行う。すると、
図６（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ２には、凹頂点
Ｐ１１〜Ｐ１８を有することになる。尚、図６（ａ）に
おいては、凹頂点Ｐ１１〜Ｐ１８に対して「○」印を付
してある。

【００８８】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図６（ａ）に示されるレイア
ウト図形Ｌ２に対して、凹頂点が連続して出現するＰ１
１，Ｐ１２からノッチ領域Ｎ１１を検出する。そのノッ
チ領域Ｎ１１は、ベクトルＶ２３〜Ｖ２５により構成さ
れる。この場合、凹頂点Ｐ１１，Ｐ１２を始点・終点と
するベクトルＶ２４が注目ベクトルとなる。

【００８９】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ４において、検出したノッチ領域Ｎ１１を
構成するベクトルＶ２３〜Ｖ２５に基づいて、ベクトル
Ｖ２３とベクトルＶ２５の線分間の距離からノッチ領域
Ｎ１１の間隔値を求める。この間隔値は、設計基準値Ｃ
よりも小さいので、ＣＰＵ２は、このノッチ領域Ｎ１１
を設計基準違反箇所として検出する。

【００９０】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ５において、違反箇所として検出したノッ
チ領域Ｎ１１に対して、そのノッチ領域Ｎ１１を削除す
るための疑似ベクトルを生成する。この場合、ノッチ領
域Ｎ１１を構成するベクトルＶ２３，Ｖ２５は、長さが
異なる。また、注目ベクトルＶ２４の前方のベクトルＶ
２５は、後方のベクトルＶ２３よりも短い。従って、図
１中のＣＰＵ２は、図４（ｃ）（ｄ）に示される処理に
従って、ベクトルＶ２３とベクトルＶ２６との交点Ｋ１
を求め、図６（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ１１を削除
する疑似ベクトルＭ１１を生成する。更に、図１中のＣ
ＰＵ２は、ベクトルＶ２３の終点を交点Ｋ１まで縮退さ
せる。

【００９１】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ６において、図１中のＣＰＵ２は、違反箇
所として検出したノッチ領域Ｎ１１に、補正図形を生成
する。この場合、ステップＳ５における疑似ベクトルＭ
１１の生成と同様に、図４（ｃ）（ｄ）に示される処理
に従って、ノッチ領域Ｎ１１の補正図形Ｆ１１（図６
（ｅ）参照）を生成する。

【００９２】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ７において、レイアウト図形Ｌ２のベクト
ルデータを更新する。ＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ１１を
構成するベクトルＶ２３〜Ｖ２６をレイアウト図形Ｌ２
のベクトルデータのリンク構造から除外し、縮退させた
ベクトルＶ２３と疑似ベクトルＭ１１を追加してベクト
ルデータを更新する。その結果、図６（ｂ）に示すよう
に、ベクトルＶ２１〜Ｖ２３、疑似ベクトルＭ１１、及
び、ベクトルＶ２７〜Ｖ４０よりなる新たなリンク構造
のベクトルデータにより形成される新たなレイアウト図
形Ｌ２ａが生成される。

【００９３】そして、疑似ベクトルＭ１１とベクトルＶ
２３との交点Ｋ１は、レイアウト図形Ｌ２ａの図形領域
に対して凹頂点を形成する。しかし、疑似ベクトルＭ１
１と次のベクトルＶ２７は、凸頂点を形成する。そし
て、疑似ベクトルＭ１１の前方のベクトルＶ２２，Ｖ２
３もまた凸頂点を形成する。従って、連続する２つの凹
頂点が無くなるため、図６（ａ）に示される元のレイア
ウト図形Ｌ２に対して、図６（ｂ）に示される新たなレ
イアウト図形Ｌ２ａは、最下層のノッチ領域Ｎ１１が１
個減少している。そして、図２中のＣＰＵ２は、図１に
示されるステップＳ３に戻る。

【００９４】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図２中のＣＰＵ２は、上記と
同様にして図６（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ１２を検
出する。そして、そのＣＰＵ２は、検出したノッチ領域
Ｎ１２に対して、上記のノッチ領域Ｎ１１に対する処理
と同様に、疑似ベクトルＭ１１とベクトルＶ２９との交
点Ｋ２を求め、図６（ｃ）に示される疑似ベクトルＭ１
２と補正図形Ｆ１２（図６（ｅ）参照）とを新たに生成
する。そして、ベクトル更新処理を施すことにより、図
２中のＣＰＵ２は、ベクトルＶ２１〜Ｖ２３、疑似ベク
トルＭ１２、ベクトルＶ２９〜Ｖ４０からなるリンク構
造のベクトルデータにより、新たなレイアウト図形Ｌ２
ｂを生成する。

【００９５】そして、疑似ベクトルＭ１２とベクトルＶ
２３との交点Ｋ１は、レイアウト図形Ｌ２ｂの図形領域
に対して凹頂点を形成する。また、疑似ベクトルＭ１２
とベクトルＶ２９との交点Ｋ２は、レイアウト図形Ｌ２
ｂの図形領域に対して凹頂点を形成する。従って、生成
された疑似ベクトルＭ１２と、その疑似ベクトルＭ１２
の前後のベクトルＶ２３，Ｖ２９とによりノッチ領域Ｎ
１３が形成される。しかしながら、ノッチ領域Ｎ１２は
削除されているため、新たに形成されたノッチ領域Ｎ１
３は、階層構造を形成しない。

【００９６】従って、図２中のＣＰＵ２は、図１３
（ａ）に示される階層構造を有しないレイアウト図形Ｌ
１に対する処理と同様に、図６（ｃ）に示される新たな
レイアウト図形Ｌ２ｂに対して図形検証処理を行うこと
ができる。即ち、図２中のＣＰＵ２は、図１に示される
ステップＳ３〜Ｓ７を繰り返し実行することにより、図
６（ｃ）に示されるノッチ領域Ｎ１３と、他の連続する
凹頂点Ｐ１５，Ｐ１６、凹頂点Ｐ１７，Ｐ１８によりそ
れぞれ形成されるノッチ領域Ｎ１４，Ｎ１５に対して図
形検証を行う。そして、図２中のＣＰＵ２は、図６
（ｄ）に示される疑似ベクトルＭ１３，Ｍ１４，Ｍ１５
を生成するとともに、図６（ｅ）に示される補正図形Ｆ
１３，Ｆ１４，Ｆ１５を生成する。

【００９７】そして、ステップＳ３において、図２中の
ＣＰＵ２は、図６（ｄ）に示される新たなレイアウト図
形Ｌ２ｃからノッチ領域を検出しない。従って、ＣＰＵ
２は、図６（ｅ）に示される違反箇所となるノッチ領域
がないレイアウト図形Ｌ２ｃと、補正図形Ｆ１１〜Ｆ１
５とを図２中の補正レイアウトデータ９に格納し、レイ
アウト図形Ｌ２に対する検証処理を終了する以上の処理
により、図２中のＣＰＵ２は、鋭角ノッチ領域を有する
レイアウト図形に対するレイアウト図形検証処理を行っ
て、図６（ｅ）に示される違反箇所のないレイアウト図
形Ｌ２ｃを生成する。更に、ＣＰＵ２は、図６（ａ）に
示されるレイアウト図形Ｌ２に対応して、違反箇所とし
て検出したノッチ領域Ｎ１１〜Ｎ１５（図６（ａ）〜
（ｃ）参照）に対応した形状の補正図形Ｆ１１〜Ｆ１５
（図３（ｅ）参照）を生成する。

【００９８】次に、図１３（ｃ）に示される斜線を含む
ノッチ領域を有するレイアウト図形Ｌ３に対するレイア
ウト図形検証処理を、図１に示されるフローチャート及
び図７（ａ）〜（ｄ）に従って説明する。尚、図７
（ａ）〜（ｄ）において、その時々に必要となる部材に
ついてのみ符号を付し、図面が煩雑になるのを防いでい
る。

【００９９】先ず、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ１において、図１３（ｃ）に示されるレイ
アウト図形Ｌ３を構成する全ての線分を、図７（ａ）に
示すように、左回りのベクトルに変換する。次に、図２
中のＣＰＵ２は、図１に示されるステップＳ２におい
て、図７（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ３の全ての
頂点の凹凸判定を行う。

【０１００】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図７（ａ）に示されるレイア
ウト図形Ｌ３に対して、２個の連続する凹頂点からノッ
チ領域Ｎ２１を検出する。そのノッチ領域Ｎ２１は、ベ
クトルＶ５１〜Ｖ５３により構成される。この場合、凹
頂点を始点・終点とするベクトルＶ５２が注目ベクトル
となる。

【０１０１】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ４において、検出したノッチ領域Ｎ２１を
構成するベクトルＶ５１〜Ｖ５３に基づいて、ベクトル
Ｖ５１とベクトルＶ５３の線分間の距離からノッチ領域
Ｎ２１の間隔値を求める。この間隔値は、設計基準値Ｃ
よりも小さいので、ＣＰＵ２は、このノッチ領域Ｎ２１
を設計基準違反箇所として検出する。

【０１０２】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ５において、違反箇所として検出したノッ
チ領域Ｎ２１に対して、そのノッチ領域Ｎ２１を削除す
るための疑似ベクトルを生成する。この場合、ノッチ領
域Ｎ２１を構成するベクトルＶ５１，Ｖ５３は、長さが
異なり、注目ベクトルＶ５２の前方のベクトルＶ５３
は、後方のベクトルＶ５１よりも短い。従って、図１中
のＣＰＵ２は、図４（ｃ）（ｄ）に示される処理に従っ
て、ベクトルＶ５１とベクトルＶ５４との交点を求め、
図７（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ２１を削除する疑似
ベクトルＭ２１を生成する。更に、図１中のＣＰＵ２
は、ベクトルＶ５１の終点を交点まで縮退させる。

【０１０３】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ６において、図１中のＣＰＵ２は、違反箇
所として検出したノッチ領域Ｎ２１に、補正図形を生成
する。この場合、ステップＳ５における疑似ベクトルＭ
１の生成と同様に、図４（ｃ）（ｄ）に示される処理に
従って、ノッチ領域Ｎ２１の補正図形Ｆ２１（図７
（ｄ）参照）を生成する。

【０１０４】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ７において、レイアウト図形Ｌ３のベクト
ルデータを更新する。ＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ２１を
構成するベクトルＶ５１〜Ｖ５４をレイアウト図形Ｌ３
のベクトルデータのリンク構造から除外し、縮退させた
ベクトルＶ５１と疑似ベクトルＭ２１を追加してベクト
ルデータを更新する。その結果、図７（ｂ）に示す新た
なリンク構造のベクトルデータにより形成される新たな
レイアウト図形Ｌ３ｂが生成される。

【０１０５】そして、図７（ｂ）において、疑似ベクト
ルＭ２１とベクトルＶ５１との交点は、レイアウト図形
Ｌ３ｂの図形領域に対して凹頂点を形成する。また、疑
似ベクトルＭ２１とベクトルＶ５５との交点は、レイア
ウト図形Ｌ３ｂの図形領域に対して凹頂点を形成する。
従って、生成された疑似ベクトルＭ２１と、その疑似ベ
クトルＭ２１の前後のベクトルＶ５１，Ｖ５５とにより
ノッチ領域Ｎ２２が形成される。しかしながら、ノッチ
領域Ｎ２１は削除されているため、新たに形成されたノ
ッチ領域Ｎ２２は、階層構造を形成しない。

【０１０６】従って、図２中のＣＰＵ２は、図１３
（ａ）に示される階層構造を有しないレイアウト図形Ｌ
１に対する処理と同様に、図７（ｂ）に示される新たな
レイアウト図形Ｌ３ｂに対して図形検証処理を行うこと
ができる。即ち、図２中のＣＰＵ２は、図１に示される
ステップＳ３〜Ｓ７を繰り返し実行することにより、図
７（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ２２に対して図形検証
を行う。そして、図２中のＣＰＵ２は、図７（ｃ）に示
される疑似ベクトルＭ２２を生成するとともに、図７
（ｄ）に示される補正図形Ｆ２２を生成する。

【０１０７】そして、ステップＳ３において、図２中の
ＣＰＵ２は、図７（ｃ）に示される新たなレイアウト図
形Ｌ３ｃからノッチ領域を検出しない。従って、ＣＰＵ
２は、図７（ｄ）に示される違反箇所となるノッチ領域
がないレイアウト図形Ｌ３ｃと、補正図形Ｆ２１，Ｆ２
２とを図２中の補正レイアウトデータ９に格納し、レイ
アウト図形Ｌ３に対する検証処理を終了する 以上の処理により、図２中のＣＰＵ２は、ノッチ領域を
有するレイアウト図形に対するレイアウト図形検証処理
を行って、図７（ｄ）に示される違反箇所のないレイア
ウト図形Ｌ３ｃを生成する。更に、ＣＰＵ２は、図７
（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ３に対応して、違反
箇所として検出したノッチ領域Ｎ２１，Ｎ２２（図７
（ａ），（ｂ）参照）に対応した形状の補正図形Ｆ２
１，Ｆ２２（図７（ｄ）参照）を生成する。

【０１０８】ところで、ノッチ領域には、鋭角の凹頂点
により形成されるものがある。その鋭角の凹頂点よりな
るノッチ領域を有するレイアウト図形を図８（ａ）に示
す。このレイアウト図形Ｌ４には、鋭角の凹頂点により
形成されるノッチ領域３１と、そのノッチ領域３１の上
層となるノッチ領域３２とを備える。図２中のＣＰＵ２
は、鋭角の凹頂点よりなるノッチ領域３１を設計基準値
に関わらず検証違反箇所とする。

【０１０９】ＣＰＵ２は、上記したように、頂点を形成
する２つのベクトルの方向により凹頂点か凸頂点かを判
定する。また、ＣＰＵ２は、両ベクトルの方向に基づい
て、両ベクトルの成す角度が直角（９０°）よりも大き
い場合にその頂点を鈍角と判定し、角度が直角よりも小
さい場合には鋭角と判定する。

【０１１０】ＣＰＵ２は、図８（ｂ）に示される鋭角を
有するノッチ領域（以下、鋭角ノッチ領域という）Ｎ３
１を構成するベクトルＶ６５，Ｖ６６を抽出する。そし
て、図２中のＣＰＵ２は、抽出したベクトルＶ６５，Ｖ
６６に基づいて、疑似ベクトル及び補正図形を生成す
る。

【０１１１】この場合、後方のベクトルＶ６５の方が前
方のベクトルＶ６６よりも短い。従って、図２中のＣＰ
Ｕ２は、図４（ａ）（ｂ）に示される処理に従って、鋭
角ノッチ領域Ｎ３１を削除する疑似ベクトルを生成す
る。尚、図４（ａ）においては、ノッチ領域１５は３つ
のベクトルＳ１２〜Ｓ１４から構成されるが、図８
（ｂ）に示される鋭角ノッチ領域Ｎ３１は２つのベクト
ルＶ６５，Ｖ６６により構成される。従って、図２中の
ＣＰＵ２は、図４（ａ）のベクトルＳ１３の長さがゼロ
（０）、即ち、ベクトルＳ２２の終点とベクトルＳ２４
の始点とが同じ位置にあるとして扱うことにより、図４
（ａ）（ｂ）に示される処理により図８（ｃ）に示され
る疑似ベクトルＭ３１を生成する。更に、図２中のＣＰ
Ｕ２は、図８（ｂ）に示される鋭角ノッチ領域Ｎ３１に
対応した形状の補正図形Ｆ３１（図８（ｅ）参照）を生
成し、ベクトルデータを更新する。

【０１１２】その結果、図８（ｂ）に示される鋭角ノッ
チ領域Ｎ３１を有するレイアウト図形Ｌ４ａは、図８
（ｃ）に示すように、生成された疑似ベクトルＭ３１
と、その両端のベクトルＶ６３，Ｖ６６よりなる段差が
ないノッチ領域Ｎ３２を有するレイアウト図形Ｌ４ｂと
なる。

【０１１３】そして、図２中のＣＰＵ２は、図８（ｃ）
に示されるレイアウト図形Ｌ４ｂに対して、図３（ａ）
（ｂ）に示される処理に従って、図８（ｄ）の疑似ベク
トルＭ３２と、図８（ｅ）の補正図形Ｆ３２を生成し、
ベクトルデータを更新する。その結果、図８（ｃ）のレ
イアウト図形Ｌ４ｂは、図８（ｄ）のノッチ領域を有し
ないレイアウト図形Ｌ４ｃとなる。

【０１１４】以上の処理により、図２中のＣＰＵ２は、
鋭角ノッチ領域を有するレイアウト図形に対するレイア
ウト図形検証処理を行って、図８（ｅ）に示される違反
箇所のないレイアウト図形Ｌ４ｃを生成する。更に、Ｃ
ＰＵ２は、図８（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ４に
対応して、違反箇所として検出したノッチ領域Ｎ３１，
Ｎ３２に対応した形状の補正図形Ｆ３１，Ｆ３２を生成
する。

【０１１５】以上記述したように、本実施形態によれ
ば、以下の効果を奏する。 （１）レイアウト図形検証装置１のＣＰＵ２は、先ず、
レイアウト図形を形成する線分を所定の方向に検索可能
なリンク構造のベクトルデータに変換する。次に、ＣＰ
Ｕ２は、変換したベクトルに基づいて、検証の対象とな
る図形外側領域を検出し、その領域が予め設定された設
計基準を満たさない場合に、当該領域を設計基準違反箇
所として検出する。そして、ＣＰＵ２は、検出された違
反箇所に応じた疑似線分を生成し、その違反箇所を削除
するようにした。

【０１１６】その結果、従来の抽出方法に比べて、図形
領域を乗り越えた真ではない違反箇所を検出することを
防ぐことができるので、開発者は、真ではない違反箇所
に対する処理を行う必要がないため、設計時間を短縮す
ることが可能となる。

【０１１７】（２）ＣＰＵ２は、変換されたベクトルに
基づいて、レイアウト図形の各頂点をそれぞれ凹頂点か
凸頂点かを判定する。そして、ＣＰＵ２は、その判定結
果に基づいて、連続して出現する凹頂点を形成する複数
のベクトルにより形成される図形外側領域をノッチ領域
として検出するようにした。その結果、従来のように注
目するベクトルから検証範囲を設定する必要が無いの
で、図形領域をノッチ領域であると誤認して違反箇所を
検出することは回避でき、容易に検証対象となるノッチ
領域を検出することができる。

【０１１８】（３）ＣＰＵ２は、生成した疑似ベクトル
によりノッチ領域を構成するベクトルをベクトルデータ
から削除し、疑似ベクトルを含む新たなレイアウト図形
を生成するようにした。その結果、ノッチ領域が階層的
に構成されるレイアウト図形に対して、最下層のノッチ
領域から削除することにより、全てのノッチ領域に対す
る検証を確実に行うことができる。

【０１１９】（第二実施形態）以下、本発明を具体化し
た第二実施形態を図９〜図１２に従って説明する。尚、
説明の便宜上、第一実施形態と同様の構成については同
一の符号を付してその説明を一部省略する。また、本実
施形態では、図１に示されるレイアウト図形検証処理に
おけるステップＳ５〜Ｓ７における処理が異なるので、
それら異なるステップにおける各処理についてのみ詳細
に説明する。

【０１２０】図１に示されるステップＳ５は疑似線分生
成処理（疑似線分生成手段）であって、図２中のＣＰＵ
２は、ステップＳ４において違反箇所として検出された
ノッチ領域に対応した疑似線分としての疑似ベクトルを
生成する。疑似ベクトルは、違反箇所となるノッチ領域
をレイアウト図形から削除するために生成される。

【０１２１】具体的には、ＣＰＵ２は、違反箇所として
検出したノッチ領域に対して、そのノッチ領域を形成す
るベクトルの始点及び終点を結ぶ疑似ベクトルを生成す
る。更に具体的には、ＣＰＵ２は、注目ベクトルの後方
のベクトルの始点をその始点とし、注目ベクトルの前方
のベクトルの終点を終点とする疑似ベクトルを生成す
る。

【０１２２】例えば、図９（ａ）に示すように、レイア
ウト図形１１には、注目ベクトルＳ３と、その前後のベ
クトルＳ２，Ｓ４とからノッチ領域１２が形成されてい
る。従って、図２中のＣＰＵ２は、ノッチ領域１２を削
除する、即ち、ベクトルＳ２〜Ｓ４を削除するべく、図
９（ｂ）に示すように、ベクトルＳ１の終点からベクト
ルＳ５の始点までの疑似ベクトルＧ１ａを生成する。

【０１２３】また、図１０（ａ）に示すように、レイア
ウト図形１４には、注目ベクトルＳ１３と、その前後の
ベクトルＳ１２，Ｓ１４とからノッチ領域１５が形成さ
れている。そして、このノッチ領域１５を形成するベク
トルＳ１２，Ｓ１４は、異なる長さのベクトルであっ
て、注目ベクトルＳ１３の後方のベクトルＳ１２の方
が、注目ベクトルＳ１３の前方のベクトルＳ１４よりも
短く、段差が形成されている。この場合、図２中のＣＰ
Ｕ２は、ノッチ領域１５を削除する、即ち、ベクトルＳ
１２〜Ｓ１４を削除するべく、図１０（ｂ）に示すよう
に、ベクトルＳ１１の始点からベクトルＳ１５の終点ま
での斜めの疑似ベクトルＧ２ａを生成する。

【０１２４】更に、図１０（ｃ）に示すように、レイア
ウト図形１７には、注目ベクトルＳ２３と、その前後の
ベクトルＳ２２，Ｓ２４とからノッチ領域１８が形成さ
れている。そして、このノッチ領域１８を形成するベク
トルＳ２２，Ｓ２４は、異なる長さのベクトルであっ
て、注目ベクトルＳ２３の前方のベクトルＳ２４の方
が、注目ベクトルＳ２３の後方のベクトルＳ２２よりも
短く、段差が形成されている。この場合も同様に、図２
中のＣＰＵ２は、ノッチ領域１８を削除する、即ち、ベ
クトルＳ２２〜Ｓ２４を削除するべく、図１０（ｄ）に
示すように、ベクトルＳ２１の終点からベクトルＳ２５
の始点までの斜めの疑似ベクトルＧ３ａを生成する。

【０１２５】次に、図１に示されるステップＳ６は補正
図形生成処理（補正図形生成手段）であって、図２中の
ＣＰＵ２は、ステップＳ５において、ノッチ領域を削除
するための補正図形を形成する。ＣＰＵ２は、ノッチ領
域の形状に対応して生成された疑似ベクトルと、ノッチ
領域を構成するベクトルとにより形成される補正図形を
生成する。

【０１２６】例えば、図９（ａ）に示されるレイアウト
図形１１の場合、ノッチ領域１２はベクトルＳ２〜Ｓ４
により構成される。そして、図２中のＣＰＵ２は、図１
に示されるステップＳ５において、そのノッチ領域１２
に対して、図９（ｂ）に示される疑似ベクトルＧ１ａを
生成している。従って、ＣＰＵ２は、図９（ａ）中のベ
クトルＳ２〜Ｓ４と、図９（ｂ）中の疑似ベクトルＧ１
ａとから形成される補正図形１３ａ（図９（ｂ）におい
て斜線で示される部分）を生成する。

【０１２７】同様に、図１０（ａ）に示されるレイアウ
ト図形１４の場合、ノッチ領域１５はベクトルＳ１２〜
Ｓ１４により構成され、図２中のＣＰＵ２は、そのノッ
チ領域１５に対して図１０（ｂ）に示される疑似ベクト
ルＧ２ａを生成している。従って、ＣＰＵ２は、図１０
（ａ）中のベクトルＳ１２〜Ｓ１４と、図１０（ｂ）中
の疑似ベクトルＧ２ａとから形成される補正図形１６ａ
（図１０（ｂ）において斜線で示される部分）を生成す
る。

【０１２８】また、図１０（ｃ）に示されるレイアウト
図形１７の場合、ノッチ領域１８はベクトルＳ２２〜Ｓ
２４により構成され、図２中のＣＰＵ２は、そのノッチ
領域１８に対して図１０（ｄ）に示される疑似ベクトル
Ｇ３ａを生成している。従って、ＣＰＵ２は、図１０
（ｃ）中のベクトルＳ２２〜Ｓ２４と、図１０（ｄ）中
の疑似ベクトルＧ３ａとから形成される補正図形１９ａ
（図１０（ｄ）において斜線で示される部分）を生成す
る。

【０１２９】また、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ６において補正図形を生成する際に、ノッ
チ領域を形成するベクトルに疑似ベクトルが含まれる場
合、そのノッチ領域に対する補正図形を生成しない。

【０１３０】例えば、図９（ａ）に示されるレイアウト
図形１１のノッチ領域１２を形成するベクトルＳ２〜Ｓ
４に疑似ベクトルが含まれる場合、図２中のＣＰＵ２
は、そのノッチ領域１２に対して図９（ｂ）に示される
補正図形１３ａを生成しない。同様に、図１０（ａ），
（ｃ）にそれぞれ示されるレイアウト図形１４，１７の
ノッチ領域１５，１８を形成するベクトルＳ１２〜Ｓ１
４，Ｓ２２〜Ｓ２４に疑似ベクトルが含まれる場合、図
２中のＣＰＵ２は、ノッチ領域１４，１７に対して図１
０（ｂ），（ｄ）にそれぞれ示される補正図形１６ａ，
１９ａを生成しない。すると、補正図形１３ａ，１６
ａ，１９ａを生成しない分だけ、レイアウト図形検証装
置１の処理時間が短くなる。

【０１３１】ところで、ノッチ領域を形成するベクトル
に疑似ベクトルが含まれる場合は、そのノッチ領域が階
層構造に構成されている場合である。従って、ＣＰＵ２
は、階層構造に構成される複数のノッチ領域に対して、
最下層のノッチ領域に対してのみ補正図形を生成し、最
下層以外のノッチ領域に関しては、補正図形を生成する
処理を省略する。

【０１３２】また、階層構造のノッチ領域の場合、最下
層のノッチ領域を構成する注目ベクトルの前後のベクト
ルは長さが異なる。そのため、その最下層のノッチ領域
に対して生成される疑似ベクトルは、図１０（ｂ）
（ｄ）に示されるように、他のレイアウト図形を形成す
るベクトルとは方向が異なる場合が多い。また、最下層
のノッチ領域に対応して生成される補正図形は、図１０
（ｂ）（ｄ）に示されるように、他のノッチ領域に対応
して生成される補正図形とは形状が異なる。最下層のノ
ッチ領域を形成するベクトルは、長さが異なるため、生
成される疑似ベクトルは他のベクトルに対して斜めの方
向を持つためである。

【０１３３】図形検証処理システムを必要とするレイア
ウト設計開発者の要求として、全ての違反箇所を網羅し
て検出する要望とは別に、大規模化する設計データの検
証時間を短縮する要望がある。例えば、複数の違反箇所
を有するレイアウト図形の場合、それら複数の違反箇所
の内の一部を提示する。

【０１３４】すると、開発者は、提示された違反箇所に
対する確認・修正作業を行うときに、生成された疑似ベ
クトル又は補正図形により提示された違反箇所の周辺
に、更に上層のノッチ領域が存在することが容易に確認
できる。従って、開発者は、その上層のノッチ領域が違
反箇所か否かを容易に判断することができる。即ち、提
示した違反箇所から開発者がその違反箇所の周辺に存在
するノッチ領域に対する設計違反箇所か否か容易に判断
できることが期待できる場合に、そのノッチ領域に対す
る図形検証処理を省略する。すると、ノッチ領域が設計
値を満たしているか否かの判断、疑似ベクトルの生成、
及び、補正図形を生成する分だけ、図形検証のための時
間が短くなり、レイアウト図形検証処理は早く終了す
る。従って、開発者は早く違反箇所を確認することがで
きる。

【０１３５】次に、上記のように構成されたレイアウト
図形検証装置の作用を図１１〜図１３に従って説明す
る。先ず、図１３（ｂ）に示される階層構造のノッチ領
域を有するレイアウト図形Ｌ２に対するレイアウト図形
検証処理を、図１に示されるフローチャート及び図１１
（ａ）〜（ｅ）に従って説明する。

【０１３６】先ず、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ１において、図１３（ｂ）に示されるレイ
アウト図形Ｌ２を構成する全ての線分を、図１１（ａ）
に示すように、左回りのベクトルＶ２１〜Ｖ４０に変換
する。

【０１３７】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ２において、図１１（ａ）に示されるレイ
アウト図形Ｌ２の全ての頂点の凹凸判定を行う。する
と、図１１（ａ）に示されるレイアウト図形Ｌ２には、
凹頂点Ｐ１１〜Ｐ１８を有することになる。尚、図１１
（ａ）においては、凹頂点Ｐ１１〜Ｐ１８に対して
「○」印を付してある。

【０１３８】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図１１（ａ）に示されるレイ
アウト図形Ｌ２に対して、凹頂点が連続して出現するＰ
１１，Ｐ１２からノッチ領域Ｎ１１を検出する。そのノ
ッチ領域Ｎ１１は、ベクトルＶ２３〜Ｖ２５により構成
される。この場合、凹頂点Ｐ１１，Ｐ１２を始点・終点
とするベクトルＶ２４が注目ベクトルとなる。

【０１３９】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ４において、検出したノッチ領域Ｎ１１を
構成するベクトルＶ２３〜Ｖ２５に基づいて、ベクトル
Ｖ２３とベクトルＶ２５の線分間の距離からノッチ領域
Ｎ１１の間隔値を求める。この間隔値は、設計基準値Ｃ
よりも小さいので、ＣＰＵ２は、このノッチ領域Ｎ１１
を設計基準違反箇所として検出する。

【０１４０】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ５において、違反箇所として検出したノッ
チ領域Ｎ１１に対して、そのノッチ領域Ｎ１１を削除す
るための疑似ベクトルを生成する。この場合、ノッチ領
域Ｎ１１を構成するベクトルＶ２３，Ｖ２５は、長さが
異なる。また、注目ベクトルＶ２４の前方のベクトルＶ
２５は、後方のベクトルＶ２３よりも短い。従って、図
１中のＣＰＵ２は、図１０（ｃ）（ｄ）に示される処理
に従って、図１１（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ１１を
削除する斜め方向の疑似ベクトルＭ４１（図１１（ｂ）
参照）を生成する。

【０１４１】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ６において、図１中のＣＰＵ２は、違反箇
所として検出したノッチ領域Ｎ１１に、補正図形を生成
する。この場合、ステップＳ５における疑似ベクトルＭ
４１の生成と同様に、図１０（ｃ）（ｄ）に示される処
理に従って、ノッチ領域Ｎ１１の補正図形Ｆ１１ａ（図
１１（ｅ）参照）を生成する。

【０１４２】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ７において、レイアウト図形Ｌ２のベクト
ルデータを更新する。ＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ１１を
構成するベクトルＶ２３〜Ｖ２６をレイアウト図形Ｌ２
のベクトルデータのリンク構造から除外し、縮退させた
ベクトルＶ２３と疑似ベクトルＭ４１を追加してベクト
ルデータを更新する。その結果、図１１（ｂ）に示すよ
うに、ベクトルＶ２１，Ｖ２２、疑似ベクトルＭ４１、
及び、ベクトルＶ２６〜Ｖ４０よりなる新たなリンク構
造のベクトルデータにより形成される新たなレイアウト
図形Ｌ２ｄが生成される。

【０１４３】そして、図１１（ｂ）に示されるように、
疑似ベクトルＭ４１とベクトルＶ２６との頂点Ｐ３１
は、レイアウト図形Ｌ２ａの図形領域に対して凹頂点を
形成する。しかし、疑似ベクトルＭ４１の前方のベクト
ルＶ２６，Ｖ２７は、凸頂点を形成する。そして、疑似
ベクトルＭ４１の後方のベクトルＶ２２もまた凸頂点を
形成する。従って、連続する２つの凹頂点が無くなるた
め、図１１（ａ）に示される元のレイアウト図形Ｌ２に
対して、図１１（ｂ）に示される新たなレイアウト図形
Ｌ２ｄは、最下層のノッチ領域Ｎ１１が１個減少してい
る。そして、図２中のＣＰＵ２は、図１に示されるステ
ップＳ３に戻る。

【０１４４】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３において、図２中のＣＰＵ２は、上記と
同様にして図１１（ｂ）に示されるノッチ領域Ｎ１２を
検出する。そして、そのＣＰＵ２は、検出したノッチ領
域Ｎ１２に対して、上記のノッチ領域Ｎ１１に対する処
理と同様に、図１１（ｃ）に示される斜め方向の疑似ベ
クトルＭ４２と、補正図形Ｆ１２ａ（図１１（ｅ）参
照）とを新たに生成する。そして、ベクトル更新処理を
施すことにより、図２中のＣＰＵ２は、ベクトルＶ２
１，Ｖ２２、疑似ベクトルＭ４１、ベクトルＶ２６、疑
似ベクトルＭ４２、及び、ベクトルＶ３０〜Ｖ４０から
なるリンク構造のベクトルデータにより、新たなレイア
ウト図形Ｌ２ｅを生成する。

【０１４５】図１１（ｃ）に示すように、疑似ベクトル
Ｍ４１とベクトルＶ２６よりなる頂点Ｐ３１は、レイア
ウト図形Ｌ２ｅの図形領域に対して凹頂点となる。ま
た、ベクトルＶ２６と疑似ベクトルＭ４２よりなる頂点
Ｐ３２は、レイアウト図形Ｌ２ｅの図形領域に対して凹
頂点となる。従って、２つの凹頂点が連続するため、生
成された疑似ベクトルＭ４１，Ｍ４２と、その間のベク
トルＶ２６とによりノッチ領域Ｎ４１が形成される。し
かしながら、ノッチ領域Ｎ１２は削除されているため、
新たに形成されたノッチ領域Ｎ４１は、階層構造を形成
しない。

【０１４６】更に次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示
されるステップＳ３において、図２中のＣＰＵ２は、上
記と同様にして図１１（ｃ）に示されるノッチ領域Ｎ４
１を検出する。そして、そのＣＰＵ２は、検出したノッ
チ領域Ｎ４１に対して、そのノッチ領域Ｎ４１を削除す
るための疑似ベクトルを生成する。この場合、ノッチ領
域Ｎ４１を構成する疑似ベクトルＭ４１，Ｍ４２は、長
さが等しいので、図２中のＣＰＵ２は、図９（ａ）
（ｂ）に示される処理に従って、図１１（ｃ）に示され
るノッチ領域Ｎ４１を削除するための疑似ベクトルＭ４
３（図１１（ｄ）参照）を生成する。

【０１４７】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ６において、図１中のＣＰＵ２は、違反箇
所として検出したノッチ領域Ｎ４１に、補正図形を生成
する。この場合、ノッチ領域Ｎ４１を構成するベクトル
には、先に生成した疑似ベクトルＭ４１，Ｍ４２が含ま
れる。従って、図１中のＣＰＵ２は、このノッチ領域Ｎ
４１に対する補正図形を生成しない。

【０１４８】次に、図２中のＣＰＵ２は、図１に示され
るステップＳ３〜Ｓ７を繰り返し実行することにより、
図１１（ｃ）に示されるように、連続する凹頂点Ｐ１
５，Ｐ１６、凹頂点Ｐ１７，Ｐ１８によりそれぞれ形成
されるノッチ領域Ｎ１４，Ｎ１５に対して図形検証を行
う。そして、図２中のＣＰＵ２は、図１１（ｄ）に示さ
れる疑似ベクトルＭ４４，Ｍ４５を生成するとともに、
図１１（ｅ）に示される補正図形Ｆ１４，Ｆ１５を生成
する。

【０１４９】そして、ステップＳ３において、図２中の
ＣＰＵ２は、図１１（ｄ）に示される新たなレイアウト
図形Ｌ２ｆからノッチ領域を検出しない。従って、ＣＰ
Ｕ２は、図１１（ｅ）に示される違反箇所となるノッチ
領域がないレイアウト図形Ｌ２ｆと、補正図形Ｆ１１
ａ，Ｆ１２ａ，Ｆ１４，Ｆ１５とを図２中の補正レイア
ウトデータ９に格納し、レイアウト図形Ｌ２に対する検
証処理を終了する開発者は、表示器５上に表示された図
１１（ｅ）のレイアウト図形Ｌ２ｆに対して、提示され
た違反箇所に対応する補正図形Ｆ１１ａ，Ｆ１２ａ，Ｆ
１４，Ｆ１５に基づいて、それらの違反箇所に対する確
認・修正作業を行う。この時、図１１（ａ）（ｂ）に示
される階層構造の最下層のノッチ領域Ｎ１１，Ｎ１２に
対応して生成された補正図形Ｆ１１ａ，Ｆ１２ａは、図
１１（ｃ）に示される階層構造ではないノッチ領域Ｎ１
４，Ｎ１５に対応して生成された補正図形Ｆ１４，Ｆ１
５とそれらの形状が異なる。従って、開発者は、補正図
形Ｆ１１ａ，Ｆ１２ａの形状に基づいて、補正図形によ
り違反箇所が提示されていなくても、その補正図形Ｆ１
１ａ，Ｆ１２ａの近傍に図１１（ｃ）に示されるノッチ
領域Ｎ４１が存在することを容易に確認でき、補正図形
Ｆ１４，Ｆ１５の近傍にはノッチ領域が存在しないこと
を容易に確認することができる。

【０１５０】従って、開発者は、違反箇所として提示さ
れた各補正図形Ｆ１１ａ，Ｆ１２ａ，Ｆ１４，Ｆ１５に
対する検証作業とともに、確認されるノッチ領域Ｎ４１
に対する検証作業を行うことができる。

【０１５１】同様に、図１３（ｃ）に示される斜線を含
むレイアウト図形Ｌ３に対して、図２中のＣＰＵ２は、
図１３（ｃ）のノッチ領域Ｎ２１を削除するために、図
１２に示される疑似ベクトルＭ５１と補正図形Ｆ５１と
を生成する。更に、図２中のＣＰＵ２は、図１３（ｃ）
に示されるノッチ領域Ｎ２２を削除するために、図１２
に示される疑似ベクトルＭ５２を生成する。しかし、図
２中のＣＰＵ２は、ノッチ領域Ｎ２２を構成するベクト
ルには、疑似ベクトルＭ５１が含まれるので、そのノッ
チ領域Ｎ２２に対する補正図形を生成しない。そして、
ＣＰＵ２は、図１２に示されるレイアウト図形Ｌ３ｄ
と、補正図形Ｆ５１とを図２中の補正レイアウトデータ
９に格納し、レイアウト図形Ｌ３に対する検証処理を終
了する。この場合、図１１（ｅ）に示されるレイアウト
図形Ｌ２ｆの場合と同様に、階層構造の最下層のノッチ
領域Ｎ２１に対応して生成された補正図形Ｆ５１は、通
常のノッチ領域に対応して生成された補正図形、例え
ば、図１１（ｅ）に示される補正図形Ｆ１４，Ｆ１５に
比べて、その形状が異なる。従って、開発者は、補正図
形Ｆ５１の形状により、補正図形により違反箇所が提示
されていなくても、その補正図形Ｆ５１の近傍に図１３
（ｃ）に示されるノッチ領域Ｎ２２が存在することを容
易に確認でき、そのノッチ領域Ｎ２２に対する検証作業
を行うことができる。

【０１５２】以上記述したように、本実施形態によれ
ば、以下の効果を奏する。 （１）レイアウト図形検証装置１のＣＰＵ２は、複数の
ノッチ領域が階層的に構成されるレイアウト図形に対し
て、そのノッチ領域を構成するベクトルに疑似ベクトル
が含まれる場合には、そのノッチ領域に対する補正図形
を生成しないようにした。従って、ノッチ領域が階層的
に構成されるレイアウト図形では、最下層のノッチ領域
に対してのみ補正図形が生成される。その結果、上層の
ノッチ領域に対する補正図形を生成しない分だけ、レイ
アウト図形検証装置１における検証時間を短縮すること
ができる。

【０１５３】（２）レイアウト図形検証装置１のＣＰＵ
２は、ステップＳ５において疑似線分を生成する場合
に、ノッチ領域を構成するベクトルの端点をつなげるだ
けであるので、ノッチ領域の形状に依ることなく、第一
実施形態に比べて容易に疑似線分を生成することができ
る。そのため、違反箇所の検出効率（検出時間の短時間
化）を最優先とした検証が可能となる。

【０１５４】尚、本発明は前記実施の形態の他、以下の
態様で実施してもよい。 （１）上記各実施形態において、図１に示されるステッ
プＳ６を省略、即ち、ノッチ領域に対する補正図形の生
成を省略する。その補正図形を生成する処理の分の時間
だけレイアウト処理装置１の稼働時間（図形検証処理時
間）が短縮されるので、上記各実施形態に比べて検証結
果を早く確認することが可能となり、開発者が早期に確
認・修正処理に取りかかることができる。

【０１５５】（２）上記各実施形態では、図１に示され
るステップＳ１においてレイアウト図形を左回りのベク
トルに変換するようにしたが、右回りのベクトルに変換
するようにしてもよい。その場合、ステップＳ２におい
て頂点の凹凸判定を行う場合に、注目ベクトルに対して
次のベクトルがレイアウト図形の外側領域（右方向）に
向いている場合には、両ベクトルにより形成される頂点
を凸頂点と判断し、逆に次のベクトルがレイアウト図形
の外側領域（右方向）に向いている場合には、両ベクト
ルにより形成される頂点を凹頂点と判断する。

【０１５６】（３）上記第一実施形態おいて、図１に示
されるステップＳ６における補正図形を生成する際に、
第二実施形態と同様に、ノッチ領域を形成するベクトル
に疑似ベクトルが含まれる場合、そのノッチ領域に対し
て補正図形を生成しないようにする。

【０１５７】また、上記第二実施形態において、図１に
示されるステップＳ６における補正図形を生成する際
に、第一実施形態と同様に、全てのノッチ領域に対して
補正図形を生成するようにする。

【０１５８】

【発明の効果】以上詳述したように、請求項１乃至４に
記載の発明によれば、ノッチ領域の検証時間を短縮する
ことが可能なレイアウト図形検証方法を提供することが
できる。

【０１５９】また、請求項５乃至１２に記載の発明によ
れば、ノッチ領域の検証時間を短縮することが可能なレ
イアウト図形検証装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のレイアウト図形検証処理を示すフロー
チャート。

【図２】本発明のレイアウト図形検証装置の概略構成
図。

【図３】(a) ，(b) は、第一実施形態の擬似線分作成の
説明図。

【図４】(a) 〜(d) は、第一実施形態の擬似線分作成の
説明図。

【図５】(a) 〜(d) は、第一実施形態のレイアウト図形
検証処理の説明図。

【図６】(a) 〜(e) は、第一実施形態のレイアウト図形
検証処理の説明図。

【図７】(a) 〜(d) は、第一実施形態のレイアウト図形
検証処理の説明図。

【図８】(a) 〜(e) は、第一実施形態のレイアウト図形
検証処理の説明図。

【図９】(a) ，(b) は、第二実施形態の擬似線分作成の
説明図。

【図１０】(a) 〜(d) は、第二実施形態の擬似線分作成
の説明図。

【図１１】(a) 〜(e) は、第二実施形態のレイアウト図
形検証処理の説明図。

【図１２】第二実施形態のレイアウト図形検証処理の説
明図。

【図１３】(a) 〜(c) は、ノッチ領域を有するレイアウ
ト図形の説明図。

【図１４】(a) 〜(d) は、従来のレイアウト図形検証処
理の説明図。

【図１５】(a),(b) は、従来のレイアウト図形検証処理
の説明図。

【符号の説明】

Ｓ１ ベクトルデータ生成手段 Ｓ２ 領域検出手段及び凹凸判定手段 Ｓ３ 領域検出手段及びノッチ領域検出手段 Ｓ４ 違反箇所検出手段 Ｓ５ 疑似線分生成手段 Ｓ６ 補正図形生成手段 Ｓ７ ベクトルデータ更新手段

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体集積回路のレイアウト図形に対し
   て、レイアウト図形の外側領域に対して予め設定された
   設計基準に基づいて図形検証を行うレイアウト図形検証
   方法であって、 前記レイアウト図形を形成する線分を所定の方向に検索
   可能なリンク構造のベクトルデータに変換し、その変換
   したベクトルに基づいて、検証の対象となる図形外側領
   域を検出し、検出された領域が予め設定された設計基準
   を満たさない場合に、当該領域を設計基準違反箇所とし
   て検出し、その検出された違反箇所を削除するために、
   該違反箇所に対応した疑似線分を生成するレイアウト図
   形検証方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載のレイアウト図形検証方
   法において、 前記リンク構造のベクトルデータから、違反箇所を形成
   するベクトルを削除するとともに前記疑似線分を追加し
   てベクトルデータを更新し、新たなレイアウト図形を生
   成するようにしたレイアウト図形検証方法。
3. 【請求項３】 請求項１又は２に記載のレイアウト図形
   検証方法において、 前記検出された違反箇所を削除するために、該違反箇所
   を形成する複数のベクトルと、前記生成された疑似線分
   とに基づいて補正図形を生成するようにしたレイアウト
   図形検証方法。
4. 【請求項４】 請求項３に記載のレイアウト図形検証方
   法において、 前記レイアウト図形の図形外側領域を形成する線分に疑
   似線分が含まれる場合、その領域に対応した補正図形を
   生成しないようにしたレイアウト図形検証方法。
5. 【請求項５】 半導体集積回路のレイアウト図形に対し
   て、レイアウト図形の外側領域に対して予め設定された
   設計基準に基づいて図形検証を行うレイアウト図形検証
   装置であって、 予め設定された設計基準を満たさない設計基準違反箇所
   となる図形外側領域を検出する違反箇所検出手段と、 前記検出された違反箇所となる領域に対応した疑似線分
   を生成する疑似線分生成手段とを備えたレイアウト図形
   検証装置。
6. 【請求項６】 半導体集積回路のレイアウト図形に対し
   て、レイアウト図形の外側領域に対して予め設定された
   設計基準に基づいて図形検証を行うレイアウト図形検証
   装置であって、 前記レイアウト図形を形成する線分を所定の方向に検索
   可能なリンク構造のベクトルデータに変換するベクトル
   データ生成手段と、 前記変換されたベクトルに基づいて、検証の対象となる
   図形外側領域を検出する領域検出手段と、 前記検出された領域が予め設定された設計基準を満たさ
   ない場合に、当該領域を設計基準違反箇所として検出す
   る違反箇所検出手段と、 前記検出された違反箇所を削除するために、該違反箇所
   に対応した疑似線分を生成する疑似線分生成手段とを備
   えたレイアウト図形検証装置。
7. 【請求項７】 請求項６に記載のレイアウト図形検証装
   置において、 前記領域検出手段は、 前記変換されたベクトルに基づいて、レイアウト図形の
   各頂点をそれぞれ凹頂点か凸頂点かを判定する凹凸判定
   手段と、 前記判定結果に基づいて、連続して出現する凹頂点を形
   成する複数のベクトルにより形成される図形外側領域を
   ノッチ領域として検出するノッチ領域検出手段とから構
   成され、 前記違反箇所検出手段は、前記検出されたノッチ領域が
   予め設定された設計基準を満たさない場合に、そのノッ
   チ領域を設計基準違反箇所として検出するようにしたレ
   イアウト図形検証装置。
8. 【請求項８】 請求項６又は７に記載のレイアウト図形
   検証装置において、 前記リンク構造のベクトルデータから、違反箇所を形成
   するベクトルを削除するとともに前記疑似線分を追加し
   てベクトルデータを更新し、新たなレイアウト図形を生
   成するベクトルデータ更新手段を備えたレイアウト図形
   検証装置。
9. 【請求項９】 請求項６乃至８に記載のレイアウト図形
   検証装置において、 前記検出された違反箇所を削除するために、該違反箇所
   を形成する複数のベクトルと、前記生成された疑似線分
   とに基づいて補正図形を生成する補正図形生成手段を備
   えたレイアウト図形検証装置。
10. 【請求項１０】 請求項６乃至９に記載のレイアウト図
    形検証装置において、 前記疑似線分生成手段は、 前記違反箇所を形成するベクトルの前後のベクトルを検
    索し、それらのベクトルの一方を選択し、その選択した
    ベクトルを延長して前記疑似線分を生成するようにした
    レイアウト図形検証装置。
11. 【請求項１１】 請求項６乃至９に記載のレイアウト図
    形検証装置において、 前記疑似線分生成手段は、 前記違反箇所を形成するベクトルの端点を接続する疑似
    線分を生成するようにしたレイアウト図形検証装置。
12. 【請求項１２】 請求項６乃至１１に記載のレイアウト
    図形検証装置において、 前記補正図形生成手段は、 前記レイアウト図形の図形外側領域を形成する線分に疑
    似線分が含まれる場合、その領域に対応した補正図形を
    生成しないようにしたレイアウト図形検証装置。