JPH10176904A - 透明又は半透明ラップフィルムの上縁検出方法 - Google Patents

透明又は半透明ラップフィルムの上縁検出方法

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JPH10176904A
JPH10176904A JP35260396A JP35260396A JPH10176904A JP H10176904 A JPH10176904 A JP H10176904A JP 35260396 A JP35260396 A JP 35260396A JP 35260396 A JP35260396 A JP 35260396A JP H10176904 A JPH10176904 A JP H10176904A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 びんの胴部外周に巻き付けられた透明又は半
透明のラップフィルムの上縁を的確に検出できるように
する。 【解決手段】 ラップフィルム2の上縁2aの高さが、
びん3の胴部3aと肩部3bとの境界線高さ以下である
びんに対し、カメラ4をラップフィルムの上縁高さとほ
ぼ同じ高さに設置するとともに、投光器1をカメラと同
じ側でラップフィルムの上縁高さより低い位置に設置し
て、ラップフィルムの上縁に向けて斜め上方へと仰角に
して投光し、照明されているラップフィルムの上縁を反
射光によりカメラで撮像する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、びんの胴部に巻き
付けられた透明又は半透明ラップフィルムが正しく巻き
付けられているか否かを確認するため、ラップフィルム
の上縁をカメラで撮像し、画像処理により検出する方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】特開平6−186002号公報には、び
んの胴部に貼り付けられたラベルの外観不良を検査する
方法が開示されている。このラベル外観検査方法は、び
んを挟んで一方側にカメラ、他方側に照明装置を対向配
置し、カメラとは反対側からびんを照明してラベルを影
として撮像し、そのシャドウ映像の輪郭部分のみを強調
抽出する画像処理を行い、抽出したラベル輪郭部分によ
りラベルの外観不良(めくれや破れ等)の有無を判定す
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この方法は、
照明装置からの光がびん本体では透過し、ラベルでは遮
光されることを利用したもので、透明又は半透明のラッ
プフィルムの場合には、光がびん本体と同様に透過して
しまうため、びん本体とラップフィルムの輪郭部分との
違いが画像上歴然とせず、ラップフィルムの輪郭線を明
確に検出することができない。
【0004】従って、びん胴部に巻き付けられた透明又
は半透明のラップフィルムの輪郭部分を検出する場合に
は、透過光方式ではなく反射光方式の方が良い。しか
し、反射光方式を採用するとしても、反射には、主とし
て、図1に示すように投光器1からの光がラップフィル
ム2で散乱される散乱光の内面反射と、図2に示すよう
にラップフィルム2及びびん3を一旦透過してびん内面
で反射する直接光の内面反射と、図3に示すようにびん
3の外表面(ガラス面)をそのまま反射する直接光の外
面反射の3種類があり、この3種類の反射光がカメラ4
に入光する。カメラ4で撮像した画像において、ラップ
フィルム2の上縁2aの輪郭線が他の画像に比べて可及
的に歴然と現れるような方法を採用することが、画像処
理の容易性の観点から重要なことであるが、それには上
記3種類の反射を考慮し、不必要な反射光はカメラ4に
極力入光しないようにする必要がある。また、びんの外
面に彫刻が有る場合には、それからの反射も考慮しなけ
ればならない。
【0005】更に、ラップフィルムは、円形に湾曲した
びん胴部外面に巻き付けられているため、カメラの指向
方向がラップフィルムの上縁に向かって上下方向に斜め
になっていると、その上縁がカメラの映像では歪んで湾
曲線となって現れ、上縁の高さや傾き等を正確に算出で
きなくなるので、カメラの指向方向は、ラップフィルム
の上縁に対して極力水平になるようにすることが好まし
い。
【0006】本発明の目的は、以上のようなことを踏ま
え、透明又は半透明のラップフィルムの上縁の輪郭線
が、カメラの映像上において他の画像と歴然と区別でき
るように現れ、しかもびん胴部外面の湾曲に極力影響さ
れないようにして、ラップフィルムの上縁の検出処理を
容易にするとともに、その高さや傾き等の算出を正確に
行えるようにすることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、びんの胴部外
周に巻き付けられた透明又は半透明のラップフィルムの
上縁をカメラで撮像し、電気的な画像処理により検出す
る方法であって、図4に示すようにラップフィルム2の
上縁2aの高さが、びん3の胴部3aと肩部3bとの境
界線高さ以下であるびんに対し、カメラ4をラップフィ
ルム2の上縁2aの高さとほぼ同じ高さに設置するとと
もに、投光器1をカメラ4と同じ側でラップフィルム2
の上縁2aの高さより低い位置に設置して、ラップフィ
ルム2の上縁2aに向けて斜め上方へと仰角にして投光
し、照明されているラップフィルム2の上縁2aを反射
光によりカメラ4で撮像する。
【0008】ラップフィルム2の上縁2aに対してカメ
ラ4と投光器1とを図4のような配置関係として、投光
器1の指向方向を仰角とした場合には、びん3の胴部外
面の垂直部分及び肩部外面における反射光は、上向きと
なってカメラ4にほとんど入光しないため、上縁2aの
検出は可能である。しかし、図5のように、カメラ4と
投光器1とを図4とは逆の配置関係として、投光器1の
指向方向を俯角とした場合には、びん1の胴部外面の垂
直部分における反射光が、水平又は僅かに下向きとなっ
てカメラ4に入光するため、上縁2aの検出が不可能に
なる。
【0009】また、図6に示すようにラップフィルム2
の上縁2aより上方のびん外面に彫刻部分3cが存在す
るびんの場合には、カメラ4をラップフィルム2の上縁
2aの高さとほぼ同じ高さに設置するとともに、投光器
1をカメラ4と同じ側でラップフィルム2の上縁2aの
高さより高い位置に設置して、ラップフィルム2の上縁
2aに向けて斜め下方へと俯角にして投光し、照明され
ているラップフィルム2の上縁2aを反射光によりカメ
ラ4で撮像する。
【0010】ラップフィルム2の上縁2aに対してカメ
ラ4と投光器1とを図6のような配置関係として、投光
器1の指向方向を俯角とした場合には、びん3の胴部外
面の彫刻部分3cにおける反射光は、下向きとなってカ
メラ4にほとんど入光しないため、上縁2aの検出は可
能である。しかし、図7のように、カメラ4と投光器1
とを図6とは逆の配置関係として、投光器1の指向方向
を仰角とした場合には、びん1の胴部外面の彫刻部分3
cにおける反射光が、水平又は僅かに下向きとなってカ
メラ4に入光するため、上縁2aの検出が不可能にな
る。
【0011】びん胴部は円形に湾曲しているため、照明
ムラが起きないように、図9に示すように1台のカメラ
に対し、平面で見てその両側に2台の投光器を配置する
と良い。
【0012】びん胴部は円形に湾曲しているため、カメ
ラの指向方向がラップフィルムの上縁に向かって上下方
向に斜めになっていると、その上縁がカメラの映像では
歪んで湾曲線となって現れる。そこで、カメラの画像か
らラップフィルムの上縁の輪郭線を抽出した後、その輪
郭線の高さを、該輪郭線におけるびんの直径Dと、カメ
ラの光軸の水平に対する上下方向の角度θとから補正演
算する。カメラの指向方向は、上述のように極力水平に
することが望ましいが、透明なラップフィルムの場合に
は、その上縁高さによってびん内面をとおして反対側の
フィルム上縁が映像となって現れるため、カメラの指向
方向の上下角を水平(θ=0)ではなく、下から上へ向
けて(仰角)、反対側のフィルム上縁が映像として映ら
ないようにすることもある。
【0013】びんをコンベアで搬送しながら上記のよう
にラップフィルムの上縁検出を行う場合には、びんがコ
ンベアの中心線上に常に正しく整列しておらず、コンベ
アの中心線に対するびん位置がずれていると、カメラか
らびんまでの距離がまちまちになるため、ラップフィル
ムの上縁の高さが同じびんでも、カメラの指向方向が水
平でない場合には、カメラから見ると高さが異なること
になる。そこで、コンベア上で光軸が交差するように配
置された2組の光電センサをびんが通過するとき得られ
る電気信号の時間幅の差から、コンベア上でのびんの中
心線のずれ量を算出し、このずれ量から、ラップフィル
ムの上縁の輪郭線の高さを補正演算する。
【0014】抽出したラップフィルムの上縁の輪郭線の
左右両端の高さから輪郭線の傾きを算出することができ
る。
【0015】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳述する。
【0016】図8(平面図)において、透明又は半透明
のラップフィルムが胴部に巻き付けられたびん3は、コ
ンベア5上を垂直の起立状態で搬送される。このコンベ
ア5に対して、その搬送速度を検出するための第1及び
第2の2組の光電センサ10・11が搬送方向に所定の
間隔をおいて配置され、その発光部10a・11bと受
光部10b・11bは、光軸がそれぞれコンベア5と直
交するように各組毎にコンベア5を挟んで対向してい
る。
【0017】また、コンベア5上におけるびん3の中心
を検出するための第1及び第2の2組の光電センサ12
・13が、それらの発光部12a・13bと受光部12
b・13bとを対角関係にして、つまり互いの光軸が上
記2組の光電センサ10・11の中間でしかもコンベア
5の中心線上の一点O(以下、この点を基準点とする)
で交差する関係にして配置されている。
【0018】このように配置された光電センサ10・1
1・12・13よりも搬送方向の下流でコンベア5の片
側に、二次元CCD撮像素子を用いた第1カメラ14が
設置され、更にそれより下流の反対側に同様の第2カメ
ラ15が設置されている。これらカメラ14・15のそ
れぞれに対して2つの投光器16・17が、平面で見て
両側に配置されている。両投光器16・17は、その投
光光軸がコンベア5の中心線上でカメラ14・15の光
軸と交わるように指向させてある。図9にこの関係を拡
大して示す。第2カメラ15から離れた更に下流には、
ラップフィルム2の巻き付け不良びんを排除する排除装
置18が設置されている。
【0019】図4を参照して解説したように、ラップフ
ィルム2の上縁2aの高さが、びん3の胴部3aと肩部
3bとの境界線高さ以下であるびんの場合には、第1カ
メラ14及び第2カメラ15のそれぞれについて、カメ
ラ14・15をラップフィルム2の上縁2aの高さとほ
ぼ同じ高さに設置するとともに、投光器16・17を、
対応するカメラと同じ側でラップフィルム2の上縁2a
の高さより低い位置に設置して、ラップフィルム2の上
縁2aに向けて斜め上方へと仰角にして投光する。
【0020】また、図6を参照して解説したように、ラ
ップフィルム2の上縁2aより上方のびん外面に彫刻3
cが存在するびんの場合には、第1カメラ14及び第2
カメラ15のそれぞれについて、カメラをラップフィル
ム2の上縁2aの高さとほぼ同じ高さに設置するととも
に、投光器16・17を、対応するカメラと同じ側でラ
ップフィルム2の上縁2aの高さより高い位置に設置し
て、ラップフィルム2の上縁2aに向けて斜め下方へと
俯角にして投光する。
【0021】図10に検査装置全体の概要構成を示す。
光電センサ10・11・12・13からの信号はタイミ
ングコントローラ19へ入力され、その信号に基づいて
タイミングコントローラ19が、第1カメラ14のため
のカメラコントローラ及びA/D変換部20と、第2カ
メラ15のためのカメラコントローラ及びA/D変換部
21とを制御するとともに、第1カメラ14のための画
像取込信号及び画像処理信号、第2カメラ15のための
画像取込信号及び画像処理信号を生成して画像処理部2
2へ出力する。カメラコントローラ及びA/D変換部2
0・21は、それぞれの投光器電源23・24をトリガ
して投光器16・17を短い所定時間だけ発光(閃光)
させるとともに、それぞれのカメラ14・15を制御し
てその撮像された画像をそれぞれの画像メモリ25・2
6に記憶させる。その記憶された画像は画像モニタ27
・28に映し出される。
【0022】画像処理部22は、タイミングコントロー
ラ19からの画像取込信号の入力により画像メモリ及び
D/A変換部25又は26から画像データを取り込み、
これをタイミングコントローラ19からの画像処理信号
の入力により画像処理し、その結果(ラップフィルムの
良否結果)をタイミングコントローラ19へ通知する。
タイミングコントローラ19は、画像処理部22からの
良否結果が不良のときは、排除装置18へ排除信号を出
力してコンベア5上から当該びんを排除させる。
【0023】図11に、光電センサ10・11・12・
13の動作から不良びんの排除動作までのタイミングを
示す。同図及び図8において、 TAon:光電センサ10がびん3で遮光になった時刻 TAoff:光電センサ10が通光になった時刻 TBon:光電センサ11がびん3で遮光になった時刻 TBoff:光電センサ11が通光になった時刻 DA=TAoff−TAon TA=TAon+DA/2 DB=TBoff−TBon TB=TBon+DB/2 DAB=TB−TA とすると、びん3の中心線が基準点Oを通過した時刻T
sは、 Ts=TA+DAB/2 となる。
【0024】また、 TCon:光電センサ12がびん3で遮光になった時刻 TCoff:光電センサ12が通光になった時刻 TDon:光電センサ13がびん3で遮光になった時刻 TDoff:光電センサ13が通光になった時刻 LAB:光電センサ10と光電センサ11との間の距離 DC=TCoff−TCon DD=TDoff−TDon とすると、コンベア5の搬送速度Vconは、 Vcon=LAB/DAB となる。また、びん3の中心線のずれ量LCDは、 LCD=(DC−DD)/2×Vcon/tan(φ) となる。
【0025】更に、 LcamA:基準点Oから第1カメラ14までの距離 LcamB:基準点Oから第2カメラ15までの距離 Lrj:基準点Oから排除装置18までの距離 とすると、 DcamA1=LcamA/Vcon DcamB1=LcamB/Vcon となる。なお、 DcamA2=DcamA3=システム固有の値 DcamB2=DcamB3=システム固有の値 である。
【0026】図12から図14に、タイミングコントロ
ーラ19による上記のようなタイミング制御動作の流れ
を示す。図12のステップS1からステップS16で
は、光電センサ10・11・12・13のオン・オフの
検出とその時刻の記憶、図13のステップS17からス
テップS24では上述した計算式の算出及びそのデータ
の記憶、同図のステップS25からステップS30で
は、検査対象のびん毎に識別番号を付して画像処理部2
2からの良否の判定結果を受け取る。図14のステップ
S31からステップS48では、カメラコントローラ及
びA/D変換部20・21、画像処理部22、排除装置
18への信号出力を行う。
【0027】図15に、画像メモリ25・26への画像
データの記憶と、それを読み出して行う画像処理部22
での画像処理の大凡の流れを示す。
【0028】図16及び図17に、画像処理部22にお
ける画像処理の中の主として検査動作を示す。画像処理
は、画像メモリ25・26に記憶されているカメラ別の
且つびん毎の画像データを読み出して行われる。
【0029】図18に、図16中のステップS63にお
けるびん位置の検出動作の一つとして行われるびん中心
線の検出動作、図19にその検出手法を示す。第1カメ
ラ14又は第2カメラ15によりびん3を背景と共に撮
像すると、その画像は、図19に示すように、びん胴部
のラップフィルムを巻いた部分が最も明るく、次にびん
のそれ以外の部分が明るく、背景部分は暗くなる。そこ
で、画像の中の最小輝度を検索し、その最小輝度にある
値αを加えてスライスレベルTHとし、このレベル以上
の画素を画像の左端から右方へ、また右端から左方へ検
索していくと、暗い背景部分から明るく変わるびん胴部
の左側縁と右側縁とを容易に検出することができる。検
出した左側縁のX座標をXl、右側縁のX座標をXr、
びん胴部の左右の幅員をWとすると、びんの中心線のX
座標Xcは次式で求められる。
【0030】 Xc=Xl+{W−(Xl+Xr)}/2
【0031】図18のステップ91からステップ99
に、このような検出及び算出手順を示し、求めたXcは
ステップ100でメモリに記憶される。
【0032】図16に戻り、ステップS66で画像デー
タに公知のようなエッジ強調処理を施すことで、ラップ
フィルム2の上縁2aを明確化してから、次のステップ
S67において上縁2aの輪郭線を抽出する。次のステ
ップS68では、抽出された輪郭線をラベリングにより
認識してから、認識したラベルである輪郭線が複数存在
する場合には、それぞれの輪郭線の両端のx方向とy方
向の座標から相互の距離を調べ、距離が一定以下のとき
は同一の輪郭線として結合させる(分断部分を補間す
る)。図20にその処理手順を示す。ここで、結合処理
を行うのは、透明フィルムの場合には、輝度が低いため
輪郭線が切れて分離されることがあり、また半透明フィ
ルムでも、びんのガラス面からの反射光や屈折光などに
より分断されることがあるためである。
【0033】このように処理した輪郭線の中にも、ラッ
プフィルム2の上縁2aによるもの以外のものもあるの
で、次のステップS69で最適な輪郭線のみを特定す
る。その特定は、次の4つの特徴量を抽出してその値の
大小によって行う。 (1)輝度 ラップフィルムの種類によってその上縁の輝度が異なる
ので、輝度を調べ、極端に輝度が異なるラベル(輪郭
線)は排除する。 (2)長さ ラップフィルム上縁の長さはびんの直径によって決まる
ので、極端に長いものや短いものは排除する。 (3)画素密度 輪郭線抽出の際に分断個所(補間個所)が多い場合に
は、ラップフィルムの上縁によらない場合が多いので、
長さに対する補間割合が大きい(画素密度が小さい)場
合には排除する。 (4)位置(高さ) 上記3つの条件を満足したラベル(輪郭線)が複数存在
する場合には、更に高さの最も高いもの、又は低いもの
を選ぶ。図21にこのような特定処理の手順を示す。
【0034】特定できたラベル、つまりラップフィルム
上縁について図16のステップS71で画像上での位置
(高さ)を検出した後、ステップS72において、カメ
ラの傾き等による誤差の補正を行うが、本装置では、カ
メラ14・15の設置情報を事前に得るために、ラップ
フィルム2が正しく巻かれた標準サンプルびんを標準ゲ
ージとして、カメラ14・15毎に予め次のようなキャ
リブレーションを行う。
【0035】図22において、同図の左側に示す標準の
ラップフィルムの上縁について、上述と同様のエッジ強
調、輪郭線抽出、ラベリング及びラベル結合、ラベル特
定の処理を行った結果、第1カメラ14及び第2カメラ
15のそれぞれについて同図の右側に示すような輪郭線
(ゲージ)として検出されたものとする。ここで、 d1l:第1カメラ14側のゲージの中心を基準とした
左端の高さ d1r:第1カメラ14側のゲージの中心を基準とした
右端の高さ d2l:第2カメラ15側のゲージの中心を基準とした
左端の高さ d2r:第2カメラ15側のゲージの中心を基準とした
右端の高さ W1:第1カメラ14側のゲージの横方向の幅 W2:第2カメラ15側のゲージの横方向の幅 H1:第1カメラ14側の検査範囲の縦方向の幅 H2:第2カメラ15側の検査範囲の縦方向の幅 H1c:第1カメラ14側の検査範囲におけるゲージ中心
の高さ H2c:第2カメラ15側の検査範囲におけるゲージ中心
の高さ D:ゲージの直径 r:ゲージの半径 H:ゲージの高さ とすると、次のようにしてカメラ14・15毎の分解能
(mm/画素)、上下角(俯角又は仰角)、回転角(左
右の傾き)、コンベア5から検査範囲の中心までの高さ
を算出する。
【0036】第1カメラ14の分解能=D/W1 第2カメラ15の分解能=D/W2 第1カメラ14の上下角=tan-1(d1l+d1r)/2
/(r−cosθ×r) 第2カメラ15の上下角=tan-1(d2l+d2r)/2
/(r−cosθ×r) 第1カメラ14の回転角=tan-1(d1l−d1r)/2
/(r−cosθ×r) 第2カメラ15の上下角=tan-1(d2l−d2r)/2
/(r−cosθ×r) 第1カメラ14の高さ=H+H1+/2−H1c 第2カメラ15の高さ=H+H2+/2−H2c 図23にこのようなキャリブレーションの処理手順を示
す。
【0037】図24に、図16におけるステップS72
で行われる補正処理の詳細な手順を示す。その補正は、
カメラの上下角による場合と回転角による場合とがあ
る。前者の補正から説明すると、図24のステップS1
51において、ラップフィルムの上縁の高さデータを中
心から左右へ1画素分ずつ順に画像メモリから読み出
し、またステップS152において、上記のようにして
検出したカメラの分解能と中心からの画素数とから、当
該画素について中心からの距離Lを算出する。そして、
次のステップS153において、この距離Lと上記のよ
うにして検出したカメラの上下角θとラップフィルム上
縁部分における直径Dとから、図25に示すように補正
値Faを算出する。補正値Faは次式で求められる。
【0038】Fa=D/2×(1−√〔1−(2L/
D)2〕)×sin(θ) ここで、括弧記号“〔”から括弧記号“〕”までが平方
根√で括られることを示す。
【0039】補正前の高さをH0とすると、補正後の高
さH1は、 H1=H0+Fa となり、その加算した値に記憶が書き換えられる。この
ような補正は、ラップフィルム上縁を形成する全画素デ
ータについて行われる。
【0040】また、カメラの回転角による補正は、図2
4のステップ156からステップS160によって行わ
れる。この場合、当該画素について中心からの距離を上
記と同様にL、カメラの回転角をαとすると、図26に
示すように補正値Fbは次式で求められる。
【0041】Fb=L×tan(α)
【0042】補正前の高さをH1とすると、補正後の高
さH2は、 H2=H1+Fb となり、その加算した値に記憶が書き換えられる。この
ような補正も、ラップフィルム上縁を形成する全画素デ
ータについて行われる。
【0043】次に、図16のステップS73において、
びん中心線の位置ずれによる補正を行う。その処理手順
を図27に示す。びん中心線の位置(X座標)は、図1
8及び図19を参照して説明したように求められ、また
それ以前にコンベア5上におけるびん3のずれは、前述
したように2組の光電センサ12・13からの信号によ
りタイミングコントローラ19で検出されて事前に記憶
されているので、びん中心線のずれ量は、これらのデー
タから容易に求められる。そこで、図27のステップS
161では、そのずれ量Ldとカメラの上下角θとから
補正値Fcを次式により求める。
【0044】Fc=Ld×tan(θ)
【0045】次のステップS162では、ラップフィル
ム上縁の高さデータを左端から右端へ1画素分ずつ順に
画像メモリから読み出し、そのそれぞれにステップS1
63で補正値Fcを加算して記憶を書き換える。
【0046】ラップフィルム上縁の位置データは、以上
のような補正を行った後、図16のステップS74にお
いてびんの下端からの高さに変換され、各カメラ別及び
びんの識別番号別に記憶されてから(ステップS89、
S90)、次の検査として図17に示す処理が行われ
る。
【0047】その検査は、ラップフィルム上縁の傾斜の
大きさを算出するとともに、ラップフィルム上縁の最大
値及び最小値の算出した後、その算出値が限界値を越え
ているか否か又は満たないか否かの判定を行う。本装置
では、2台のカメラ14・15を用いているため、1台
のカメラによる画像から算出することも、2台のカメラ
の画像から算出することも可能であるが、1台の場合と
2台の場合とで算出方法が異なる。
【0048】図28は1台のカメラによる場合の算出方
法を示す。ここで、 d1:検査範囲の中心を基準としたラップフィルム上縁
の左端の高さ d2:検査範囲の中心を基準としたラップフィルム上縁
の右端の高さ Hmin:ラップフィルム上縁の高さの最小値 Hmax:ラップフィルム上縁の高さの最大値 L1:検査範囲の中心から左端までの距離 L2:検査範囲の中心から右端までの距離 D:検査対象のラップフィルム上端部分の直径 θ:sin-1(L1/D)又はsin-1(L2/D) とすると、ラップフィルム上縁の傾斜の大きさSは次式
で与えられる。
【0049】S=√〔(d1×D/L1)2+(d2×D/
L2/cos(90−θ))2〕 ここで、括弧記号“〔”から括弧記号“〕”までが平方
根√で括られることを示す。
【0050】このようにして求めた傾斜の大きさSを限
界値と比較し、限界値を越えている場合には不良びんと
して排除装置18へ排除信号を送る。また、ラップフィ
ルム上縁の高さの最小値Hminが限界値未満のとき、及
びラップフィルム上縁の高さの最大値Hmaxが限界値を
越えたときも不良びんとする(図17のステップS86
〜S90を参照)。
【0051】図29は2台のカメラによる場合の算出方
法を示す。ここで、 H1l:第1カメラ14側のラップフィルム上縁の左端
の高さ H1r:第1カメラ14側のラップフィルム上縁の右端
の高さ H2l:第2カメラ15側のラップフィルム上縁の左端
の高さ H2l:第2カメラ15側のラップフィルム上縁の右端
の高さ とすると、ラップフィルム上縁の傾斜の大きさSは次式
で与えられる。
【0052】 S=√〔(H1r−H2l)2+(H1r−H2r)2〕 ここで、括弧記号“〔”から括弧記号“〕”までが平方
根√で括られることを示す。
【0053】また、ラップフィルム上縁の最大値Hmax
及び最小値Hminは、高さH1l、H2l、H1r、H2r
と傾斜の大きさSとから、次式により求められる。
【0054】 Hmax=(H1l+H2l+H1r+H2r)/4+S/2 Hmin=(H1l+H2l+H1r+H2r)/4−S/2
【0055】そして、カメラ1台の場合と同様に、傾斜
の大きさSを限界値と比較し、限界値を越えている場合
には不良びんとして排除装置18へ排除信号を送る。ま
た、ラップフィルム上縁の高さの最小値Hminが限界値
未満のとき、及びラップフィルム上縁の高さの最大値H
maxが限界値を越えたときも不良びんとする。
【0056】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、透
明又は半透明のラップフィルムの上縁の輪郭線が、カメ
ラの映像上において他の画像と歴然と区別できるように
現れ、しかもびん胴部外面の湾曲に極力影響されないよ
うにして、ラップフィルムの上縁の検出を行うので、そ
の検出を的確に行ってその高さや傾き等の算出を正確に
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】びん胴部に巻き付けられたラップフィルムの上
縁を投光器で照明し、カメラで撮像する場合に、ラップ
フィルムで散乱された反射光がカメラに入光することを
示す光学関係図である。
【図2】同じくびん内面からの反射光がカメラに入光す
ることを示す光学関係図である。
【図3】同じくびん外表面からの反射光がカメラに入光
することを示す光学関係図である。
【図4】本発明の第1の実施形態を示す光学関係図であ
る。
【図5】投光器とカメラの配置関係を図4とは逆にした
場合の光学関係図である。
【図6】本発明の第2の実施形態を示す光学関係図であ
る。
【図7】投光器とカメラの配置関係を図6とは逆にした
場合の光学関係図である。
【図8】本発明の方法を実施する検査装置の平面配置関
係を示す図である。
【図9】図8中における1台のカメラと2台の投光器と
びんとの平面位置関係を拡大した図である。
【図10】上記検査装置の電気的構成を示すブロック図
である。
【図11】同検査装置の動作のタイミングチャートであ
る。
【図12】図10中のタイミングコントローラによるタ
イミング制御動作のフローチャートである。
【図13】図12に続くフローチャートである。
【図14】図13に続くフローチャートである。
【図15】図10中の画像処理部による処理の概要を示
すフローチャートである。
【図16】画像処理部における検査処理を主に示すフロ
ーチャートである。
【図17】図16に続くフローチャートである。
【図18】びんの中心線の位置を検出する処理のフロー
チャートである。
【図19】びん中心線の位置検出処理の手法を説明する
解説図である。
【図20】ラップフィルム上縁の分断された輪郭線を結
合する処理のフローチャートである。
【図21】ラップフィルム上縁を特定する処理のフロー
チャートである。
【図22】ラップフィルムが正しく巻かれた標準サンプ
ルびんを標準ゲージとして、2台のカメラ毎に予め行う
キャリブレーションの解説図である。
【図23】キャリブレーション処理のフローチャートで
ある。
【図24】カメラの傾きによる誤差補正を行う処理のフ
ローチャートである。
【図25】カメラの上下角による補正を説明する解説図
である。
【図26】カメラの左右方向の回転角による補正を説明
する解説図である。
【図27】びん中心線のずれによる誤差補正を行う処理
のフローチャートである。
【図28】1台のカメラからの画像でラップフィルム上
縁の傾斜の大きさを算出する方法を説明する解説図であ
る。
【図29】2台のカメラからの画像でラップフィルム上
縁の傾斜の大きさを算出する方法を説明する解説図であ
る。
【符号の説明】
1 投光器 2 ラップフィルム 2a ラップフィルムの上縁 3 びん 3a びんの胴部 3b びんの肩部 3c びんの彫刻部分 4 カメラ 5 コンベア 10・11・12・13 光電センサ 14・15 カメラ 16・17 投光器 19 タイミングコントローラ 22 画像処理部
【手続補正書】
【提出日】平成9年1月29日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0051
【補正方法】変更
【補正内容】
【0051】図29は2台のカメラによる場合の算出方
法を示す。ここで、 H1l:第1カメラ14側のラップフィルム上縁の左端
の高さ H1r:第1カメラ14側のラップフィルム上縁の右端
の高さ H2l:第2カメラ15側のラップフィルム上縁の左端
の高さ H2r:第2カメラ15側のラップフィルム上縁の右端
の高さ とすると、ラップフィルム上縁の傾斜の大きさSは次式
で与えられる。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0052
【補正方法】変更
【補正内容】
【0052】 S=√〔(H1r−H2l)2+(H1l−H2r)2〕 ここで、括弧記号“〔”から括弧記号“〕”までが平方
根√で括られることを示す。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】びんの胴部外周に巻き付けられた透明又は
    半透明のラップフィルムの上縁をカメラで撮像し、電気
    的な画像処理により検出する方法であって、ラップフィ
    ルムの上縁高さが、びんの胴部と肩部との境界線高さ以
    下であるびんに対し、カメラをラップフィルムの上縁高
    さとほぼ同じ高さに設置するとともに、投光器をカメラ
    と同じ側でラップフィルムの上縁高さより低い位置に設
    置して、ラップフィルムの上縁に向けて斜め上方へと仰
    角にして投光し、照明されているラップフィルムの上縁
    を反射光によりカメラで撮像することを特徴とする透明
    又は半透明ラップフィルムの上縁検出方法。
  2. 【請求項2】びんの胴部外周に巻き付けられた透明又は
    半透明のラップフィルムの上縁をカメラで撮像し、電気
    的な画像処理により検出する方法であって、ラップフィ
    ルムの上縁より上方のびん外面に彫刻が存在するびんに
    対し、カメラをラップフィルムの上縁高さとほぼ同じ高
    さに設置するとともに、投光器をカメラと同じ側でラッ
    プフィルムの上縁高さより高い位置に設置して、ラップ
    フィルムの上縁に向けて斜め下方へと俯角にして投光
    し、照明されているラップフィルムの上縁を反射光によ
    りカメラで撮像することを特徴とする透明又は半透明ラ
    ップフィルムの上縁検出方法。
  3. 【請求項3】1台のカメラに対し、平面で見てその両側
    に2台の投光器を配置したことを特徴とする請求項1又
    は2に記載の透明又は半透明ラップフィルムの上縁検出
    方法。
  4. 【請求項4】カメラの画像からラップフィルムの上縁の
    輪郭線を抽出した後、その輪郭線の高さを、該輪郭線に
    おけるびんの直径Dと、カメラの光軸の水平に対する上
    下方向の角度θとから補正演算することを特徴とする請
    求項1、2又は3に記載の透明又は半透明ラップフィル
    ムの上縁検出方法。
  5. 【請求項5】びんをコンベアで搬送し、該コンベア上で
    光軸が交差するように配置された2組の光電センサをび
    んが通過するとき得られる電気信号の時間幅の差から、
    コンベア上でのびんの中心線のずれ量を算出し、このず
    れ量から、ラップフィルムの上縁の輪郭線の高さを補正
    演算することを特徴とする請求項4に記載の透明又は半
    透明ラップフィルムの上縁検出方法。
  6. 【請求項6】抽出したラップフィルムの上縁の輪郭線の
    左右両端の高さから輪郭線の傾きを算出することを特徴
    とする請求項4に記載の透明又は半透明ラップフィルム
    の上縁検出方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008304231A (ja) * 2007-06-06 2008-12-18 Nidec Tosok Corp シュリンクラベル装着状態検査方法
JP2021043220A (ja) * 2017-02-06 2021-03-18 東洋ガラス株式会社 ガラスびんの検査装置

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