JPH1015678A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JPH1015678A
JPH1015678A JP8195684A JP19568496A JPH1015678A JP H1015678 A JPH1015678 A JP H1015678A JP 8195684 A JP8195684 A JP 8195684A JP 19568496 A JP19568496 A JP 19568496A JP H1015678 A JPH1015678 A JP H1015678A
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laser
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workpiece
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JP8195684A
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Inventor
Minoru Saito
実 斉藤
Houyo Kiyo
豊余 許
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Miyachi Technos Corp
Original Assignee
Miyachi Technos Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 励起ランプ電流、スキャナ走査速度等の加工
条件について、初心者でもその最適値が容易に設定可能
なレーザ加工装置を提供。 【解決手段】 被加工物の材質、所望の仕上げの形態に
対する、最適ランプ電流、走査速度、Qスイッチ周波数
等(加工条件)が、加工条件テーブル22に予め設定さ
れている。装置使用者が、そのときの被加工物に合せ
て、該当する材質、所望する仕上げの形態を選択する
と、加工条件テーブル22の中からそれに対応した加工
条件が読み出され、条件保持部27に設定される。作動
制御部28は、該設定された加工条件に従ってレーザ発
振器1の作動を制御。所望なら、加工条件の修正も可
能。修正後の値を加工条件テーブル22に上書きし、次
回の作業で利用することも可能。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ加工装置に関
し、詳しくはレーザ加工装置に於ける加工条件設定の為
の構成に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザマーキング装置、レーザ溶接機、
レーザ切断機等のレーザ加工装置に於ては、被加工物の
材質、厚さ等の寸法、或いはどのような仕上げにするか
によって、適切なレーザ光照射を得るための加工条件
(例えばランプ電流、加工速度など)を設定してやる必
要がある。最適な加工条件を探し出すのは難しく、何回
も試行する必要があり、多大の時間を要していた。これ
を図9のレーザマーキング装置を例にして説明する。
【0003】レーザ発振器1に於て、Krアークランプ
等の励起ランプ5でレーザ媒体たるNd:YAGロッド
6を照射して励起し、発光させる。この光を全反射ミラ
ー7と出力ミラー8との間で共振させ増幅させると強い
レーザ光が得られる。Qスイッチ9を開くことにより出
力ミラー8からレーザ光が取り出される。このレーザ光
をスキャニングヘッド4によるスキャニングでX−Y方
向に走査させ、被加工物Wに所望のマーキングを行う。
Qスイッチ9の開閉によりピーク値の高いパルスが得ら
れる。
【0004】レーザ媒体にはNd:YAGの他に、T
m:YAG、Tm,Ho:YLF、Nd:YVO4等が
ある。Nd:YAGから得られるレーザ光の波長は1.06
4μmで、肉眼では見えないので、可視光のレーザとし
てHe−Neレーザ10(赤色発光)を案内光として使
用する。アパーチャ11はレーザビームの直径の大きさ
を調節する。シャッタ12はレーザ光を遮断して外部に
出力させない時に使用される。制御/電源ユニット13
は、レーザ発振器1の作動の制御、電力供給等を行なう
もので、コントローラ2(マイクロコンピュータ)、表
示器3(CRT等)、レーザ電源14、クーラ15等を
備えている。
【0005】スキャニングヘッド4は、例えば図10に
示すように構成されている。レーザ発振器1からのレー
ザ光は、X軸ミラー16でX軸方向へ走査され、Y軸ミ
ラー18でY軸方向へ走査され、fθレンズ20で被加
工物Wに集光される。なおX軸ミラー16は第1の駆動
装置17で回転され、Y軸ミラー18は第2の駆動装置
19で回転される。
【0006】マーキングする文字や図形の作画データ
は、予め外部のコンピュータ又は前記コントローラ2等
で作成しておき、任意のファイル名を付してフレキシブ
ル・ディスク等の記憶媒体に記憶させておく。この記憶
媒体をコントローラ2に装填して当該ファイルを読み出
し、作画データに従ってマーキングを実行させる。
【0007】制御/電源ユニット13のスイッチを入
れ、装置を起動させると、表示器3に多くの項目が表示
される。図11にその一部を示す。レーザ光の強さや走
査速度は、例えばランプ電流、マーキング速度、Qスイ
ッチ周波数で制御できるので、これをコントローラ2の
キーボード(不図示)を使用して設定する。設定された
値は、図11の表示器3上の各位置に表示される。なお
「ファイル名」、「データバイト数」は、前記作画デー
タのファイル名、データバイト数である。
【0008】マーキングの仕上げ形態には、通常の深さ
の彫りと、深彫りとがあり、それぞれに応じた加工条件
(ランプ電流、マーキング速度、Qスイッチ周波数等)
を設定する必要がある。また、金属においては、白地ま
たは銀色地に黒っぽく見えるマーキングを行う黒色マー
キングや、表面に白っぽく見えるマーキングを行なう白
色マーキングなどがあり、合成樹脂においては、樹脂内
のフィラー(充填剤)や顔料などの化学反応を利用する
着色マーキングがある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】これらマーキングは、
被加工物の材質、仕上げ形態等によって加工条件が大き
く変わる。所望のマーキングを得るためには、それに適
した加工条件を選定しなければならない。しかし、この
選定作業は難しく、何回も試行してやっと決められるも
ので、従来は、これに多大の時間を要していた。
【0010】このような難しさは、マーキング装置だけ
ではなく、レーザ溶接機やレーザ切断機においても存在
していた。例えばレーザ溶接装置においては、溶接の形
態や、溶接する材質の組合わせ、夫々の厚さ等によって
加工条件を変える必要があり、また、レーザ切断装置に
おいては、切断されるものの材質とその厚さによって加
工条件を変える必要がある。
【0011】このように、レーザ加工においては、被加
工物の特性、加工の種類によってレーザ光の強さや走査
速度等の加工条件を選定しなければならなかったが、こ
れが難しく、それが為、熟練と、多大の工数と、実験材
料とを要するという問題があった。(被加工物の特性=
材質、その組合わせ、板厚、大きさその他。加工の種類
=マーキング、溶接、切断等の処理の種別や、マーキン
グの仕上げや溶接の形態等の種別など。請求項にいう
「特性等」はこの両者を合わせたものである。)
【0012】本発明の目的は、このような従来技術の欠
点を解消し、材質や所望される仕上げの形態等が異なっ
ても、いわば素人が、その加工条件を容易に選定するこ
とが出来るレーザ加工装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的達成のため請求
項1の発明では、被加工物の特性又はそれへの加工の種
類の夫々に対応して種々の加工条件が設定された加工条
件テーブルと、前記被加工物の特性又は加工の種類の夫
々の中から所望のものを選択する特性等選択手段と、該
選択された被加工物の特性又は加工の種類に対応した加
工条件を前記加工条件テーブルから読出してレーザ加工
の加工条件として設定する条件設定手段とを備える。
【0014】また、請求項2の発明では、請求項1の構
成に加え、条件設定手段で設定された条件を所望の値に
修正する条件修正手段を備える。更に、請求項3の発明
では、請求項2の構成に加え、前記加工条件テーブルの
当該加工条件を前記条件修正手段で修正された修正後の
加工条件に書き換える条件書換手段を備える。
【0015】
【発明の実施の形態】以下本発明の詳細を図示実施の形
態例に基づいて説明する。図2に本発明の第1の実施の
形態例であるレーザマーキング装置100を示す。この
レーザマーキング装置100の基本的構成は、従来のレ
ーザマーキング装置(図9)と同様である。従来のもの
と同様の部分は、同じ符号を付し、説明を略す。何れか
の図に於て説明をした箇所についても、他の図では、同
じ符号を付し、説明を略す。また、図1にレーザマーキ
ング装置100のコントローラの詳細を示す。
【0016】新たに付加された構成は以下のとおりであ
る。先ず、テーブル記憶媒体21が追加されている(図
2、図1)。このテーブル記憶媒体21は、例えばフレ
キシブルディスク、ハードディスク、RAM、ROM等
の既存の記憶媒体(外部或いは内蔵)で実現され、ここ
に加工条件テーブル22が保持される。加工条件テーブ
ル22は、例えば図3に示すような内容のもので、夫々
の材質名及び仕上げの形態毎に、予めその最適加工条件
が設定されている。
【0017】また、コントローラ2には、特性等選択部
23と(図1、以下同様)、条件設定部24と、条件修
正部25と、条件書換部26とが追加されている。夫々
が、請求項にいう特性等選択手段、条件修正手段、条件
書換手段にあたる。条件保持部27及び作動制御部28
は既存のものである。これらの追加構成も、既存の構成
上で実現され、夫々、レーザ発振器1、表示装置3、及
びテーブル記憶媒体21(加工条件テーブル22)と接
続されている。
【0018】条件選択部23は、加工条件を読み出すた
めのキーを与える、即ち加工条件テーブル22に保持さ
れている多数の候補の中から、そのときの被加工物に対
応する材質、仕上げの形態等(特性等)を選択する為の
もので、例えば装置使用者(以下「使用者」という)
が、表示装置3に表示される各種材質名、仕上げの形態
中から、キーボードを操作して(カーソル等を動かし
て)、所望のものを選択するとき、その処理を実行する
(図4参照。処理手順は後述。以下同じ。)。
【0019】条件設定部24は、選択された加工条件を
条件保持部27に設定する。作動制御部28は、ここに
設定された加工条件に従いレーザ発振器1の作動を制御
する。設定された加工条件は、言わば推奨値として図2
の各項目の位置に表示される。所望の仕上げの形態にな
らなかったとき、或いは標準とは異なった仕上げを望む
とき、使用者はキーボードを操作し加工条件を修正す
る。条件修正部25は、このときの処理を実行する。以
後はこの修正後の条件で加工したいときは、キーボード
を操作して書き換えを命令する。条件書換部26が、当
該材質の当該仕上げの形態に対応する各加工条件データ
を修正後のものに書き換える(上書きする)。
【0020】このレーザマーキング装置100の動作を
図4を引用して説明する。先ず、図3に例示したような
加工条件テーブル22を作成し、予めテーブル記憶媒体
21に格納しておく。即ち、テーブル22の各加工条件
(ランプ電流、速度、Qスイッチ周波数)の欄には、材
質名毎、仕上げの形態毎に、最適と思われる標準値を設
定しておく。
【0021】レーザマーキングでは、通常、ランプ電
流、レーザ光の走査速度、Qスイッチ周波数を加工条件
とし、これを調節することで所望の製品を得ることがで
きる。また、ここで例示したレーザマーキング装置10
0は、Krアークランプ等の励起ランプでYAGロッド
を照射して励起させる型であるので、図3の加工条件テ
ーブル22の加工条件としてランプ電流を採用した。
【0022】しかし、例えば半導体レーザ装置でYAG
ロッドを励起する型の装置ならば、半導体レーザ駆動電
流を採用することになる。また、炭酸ガスレーザ等の気
体レーザ装置ならば放電電圧を採用することになる。要
するに、加工条件テーブル22に採用するものは、レー
ザ光の出力状態等、加工の結果を支配する特性のうち、
加工作業時に、被加工物の特性、加工の種類に応じて所
望の製品を得るべく調節すべきパラメータである。従っ
て、加工条件テーブル22に採用されるパラメータは、
使用する装置、加工の種類等により変わり得るものであ
る。
【0023】図4に戻り、電源を投入して装置が起動さ
れたら、先ず表示器3に第1メニューが表示される(図
4ステップS1)(以下、図の番号及び「ステップ」の
語は省略する)。第1メニューの表示内容は「1.自動
設定 2.手動設定」というものであり(S1)、使用
者は、カーソル移動・リターンキー方式、或いは番号入
力方式等で、何れかのモードを選択する。「2.手動設
定」を選択をすると(S2「2」)、S11以下の手動
設定処理へ移行する(後述)。
【0024】「1.自動設定」を選択をすると(S2
「1」)、加工条件テーブル22から材質名と番号とが
読出され、第2メニューとして表示される(S3)。第
2メニューの内容は、加工条件テーブル22(図3)の
各材質名であり(S3)、使用者はその中から加工対象
の材質を選択する。対象材質名がない時は、その旨を入
力をする(S4「材質名無し」)。そうすると手動によ
る設定に切換わる(S11へ。後述)。
【0025】加工対象の材質が選択されると(S4「材
質名あり」)、加工条件テーブル22から当該材質に対
応する仕上げの形態が読出され、第3メニューとして表
示される(S5)。使用者は、どの仕上げを行うかの選
択を行う(S6)。すると、加工条件テーブル22から
選択された材質の選択された仕上げの形態についての各
加工条件が読出され(S7)、装置に設定される(S
8)。これらの処理は主として条件選択部23と条件設
定部24によって実行される。
【0026】使用者は、設定された加工条件でマーキン
グ作業を実行する(S9)。作業が終ると、「OKか?
(これで良いか?)」というメッセージが表示される
(S10)。加工条件テーブル22には標準的な材質に
対する標準的加工条件が設定されているから、通常は、
これで所望の仕上りになる。OKのときは、ここでの答
は「Yes(はい)」であり、例えば「Y」キーやリタ
ーンキーを押すと、図4の処理が終了する(S10「Y
es」)。
【0027】被加工品の材質が標準から少し異っていた
りすると、仕上り具合が期待から少しずれる場合がある
(S10(No))。或いは、少し濃くあるいは少し薄
く(又は少し深く或いは浅く)など、標準の仕上げの形
態とは異なる結果を得たい場合もある。このような場合
は、前記「OKか?」で、例えば「N」キーを押す(S
10「No」)。これにより手動設定に切換わる(S1
0→S11)。
【0028】加工条件を手動で設定したら(S11)、
当該加工を実行させる(S12)。満足すべき仕上げの
形態が得られないときは(S13「No」)、再び手動
による加工条件データ入力(S11)に戻る。満足すべ
き結果が得られたら(S13「Yes」)、その時のデ
ータでテーブルのデータを書換えるかどうかのメッセー
ジが表示される(S14)。書換える場合は、例えば
「Y」キーを入力する(S15「Yes」)。加工条件
テーブル22内の当該材質の当該仕上げの形態の各加工
条件データが書換えられる(S16)。書き換えを所望
しないときは例えば「N」キーを押す。そのときの手動
設定データは無視され処理は終る(S15「No」)。
【0029】本発明の第2の実施の形態例であるレーザ
溶接装置200を図5に示す。このレーザ溶接装置20
0の構成は、基本的には図1のレーザマーキング装置1
00と同じである。同様の構成には同じ符号を付し、説
明を略す。なおコントローラ2に設けられる構成(図2
に示されるもの)も第1の実施の形態例100と同様で
ある。なお区別の為、この実施例のレーザ発振器には符
号1bを付す。
【0030】図1のレーザマーキング装置100と異な
るのは、励起ランプ5としてXeフラッシュ・ランプが
使用されていること、従ってQスイッチ9が省略されて
いること、光センサ31及びパワーモニタ32が設けら
れていること、スキャニングヘッド4に代えてミラー3
3及びフィルタ34が設けられており、これら及び集光
レンズ35を介して被加工物Wにレーザ光が照射される
こと、並びにテーブル記憶媒体21に図6に示したよう
な加工条件テーブル41が格納されていることである。
光センサ31、パワーモニタ32、ミラー33、及びフ
ィルタ34は既存のものである。説明を略す。
【0031】溶接においては、溶接の形態、溶接し合う
材質Aと材質B、板厚等によって加工条件が異ってく
る。従って、これらの項目夫々について加工条件を設定
するのが良い。溶接においては、溶接部に投入するエネ
ルギーが重要な要素である。前述のように、この図5に
示した装置200は、励起ランプ5としてXeフラッシ
ュ・ランプを使用する。従って、レーザ光のエネルギー
を支配するパラメータ、即ち図6の加工条件テーブル4
1にその最適値を設定しておくべきパラメータは、パル
ス幅、ランプ電圧、及びアパーチャとなる。勿論これに
限定されない。
【0032】この例のように、レーザ光のエネルギーを
支配するパラメータは、当該装置の構造によって異なっ
てくる。例えば半導体レーザ装置でNd:YAGロッド
を励起したとすれば、パルス幅と半導体レーザ駆動電流
が加工条件テーブルに設定されるパラメータとなる。な
お、図6の加工条件テーブル41には、溶接の形態とし
て重ね溶接しか示していない。溶接の形態には突合せ、
T字、十字等数多くあるので、実際には、例えばJIS
Z3001(2.4)に準拠して、「重ね、突合せ、
T字、十字、角、スカーフ、せぎり、…、…」というよ
うに列挙するのが良いと思われる。
【0033】このレーザ溶接装置200の処理手順を図
6に示す。加工条件の読み出しに使用する要素(キー)
が多いため、ステップ数が多くなってはいるが(S2
3、S24、S25、S29)、処理の内容は、前述の
レーザマーキング装置100のもの(図4)と同様であ
る。図示だけで理解可能と思われる。処理手順の説明を
略す。
【0034】レーザ切断装置に適用する場合の加工条件
テーブルの例51を図8に示す。既存のレーザ切断装置
に付加すべきテーブル記憶媒体21や条件設定部24
等、及びその処理の手順は、既に説明した第1及び第2
の実施の形態例(100,200)から明かと思われ
る。ここでは加工条件テーブル51の内容についてのみ
説明し、構成、処理については説明を略す。
【0035】レーザ切断装置には、通常連続波レーザ光
が使用される。従って、Nd;YAGロッドを使用する
レーザ装置では、レーザ光のエネルギーを支配するパラ
メータとしてランプ電流と変調周波数が用いられる。半
導体レーザ装置でYAGロッドを励起する型のレーザ装
置の場合は、ランプ電流の代りに半導体レーザ駆動電流
が採用される。レーザ切断の場合、使用者が選択するの
は、材質名と厚さであるが、これ以外は第1又は第2の
実施の形態例と同様になる。説明を略す。
【0036】なお、S14からS16(図4)(S38
からS40(図7))のステップを省略して実施しても
良い。このようにした場合は請求項2の発明の一実施の
形態例となる。また、S10からS16(図4)(S3
4からS40(図7))のステップを省略して実施して
も良い。このようにした場合は請求項1の発明の一実施
の形態例となる。また、図4及び図7の各処理手順は一
例である。これに拘束されるものではない。
【0037】本発明は、光ファイバ光学系の装置にも適
用できる。光ファイバ光学系とは、図12に例示したよ
うな形式のもので、スキャニングヘッド4がレーザ発振
器1とは別体にされており、レーザ光は、光ファイバ4
5を介してスキャニングヘッド4に供給される(レーザ
発振器1は、光ファイバ45との接続関係以外、図2の
ものと同じ。図2のものとの相違点を表わすのに必要な
部分のみ表示)。レーザ光を光ファイバ45に入射させ
る時、レーザ光が光ファイバ45の入射口(光ファイバ
45の端面)に正しく焦点を結ぶように、運搬などの振
動、衝撃があっても焦点がずれないように光ファイバコ
ネクタ36を使用する。光ファイバ35の出口でも同
じ。
【0038】光ファイバ45から出たレーザ光は、ある
立体角で(円錐状に)拡がって出力する。これをコリメ
ータレンズ37で平行光にする。コリメータレンズ37
の焦点が光ファイバ45の出口と一致し、ずれないよう
に、光ファイバコネクタ38を使用する。このあとは図
2のものと同じで、レーザ光はX軸ミラー16(図1
0)に入射する。なお、実施の形態例(図2)は固定光
学系であり、スキャニングヘッド4はレーザ発振器1に
取着されていて、レーザ光は、空気中を直進してスキャ
ニングヘッド4に入射する。
【0039】本発明は、出射ユニットを使用する装置に
も適用できる。出射ユニットとは図13に例示したよう
なもの(40)で、レーザ溶接機などに於て、光ファイ
バ45を介して被加工物Wにレーザ光を照射する際に使
用される。レーザ発振器1bは、光ファイバ45との接
続関係以外、図5のものと同じであり、図5のものとの
相違点を表わすに必要な部分のみ表示する。またコリメ
ータレンズ46に到達する迄は、上記図12に示したス
キャニングユニット4の光ファイバ接続と同じである。
コリメータレンズ46から出たレーザ光は、集光レンズ
47で集光し、焦点が被加工物Wに当たるように調整す
る。保護ガラス39は、溶接などで蒸発した金属原子が
集光レンズ47を曇らすのを防ぐ。保護ガラス39は曇
ったら新品と交換する。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明で
は、被加工物の特性又はそれへの加工の種類の夫々に対
応した種々の最適加工条件を、予め加工条件テーブルと
して設定し、これらの候補の中からそのときの被加工物
の特性又はそれへの加工の種類に対応するものを使用者
が選択することにより、該選択された被加工物の特性又
は加工の種類に対応した加工条件が前記加工条件テーブ
ルから読出され、それに従ってレーザ加工が実施される
ようにした。
【0041】従って、使用者は、単にそのときの被加工
物の材質、仕上げの形態等を選ぶだけで、言わば自動的
に最適加工条件が設定される、ということになり、初心
者でも容易に所望のレーザ加工を行うことが出来る。ま
た、標準的加工条件を探し出すための試行実験が不要と
なり、所謂少量多品種生産にも柔軟に適合させることが
出来、また量産の場合でも、初心者がその立ち上げ、段
取替えなどを容易に実施することが出来るようになり、
試行実験に要する手間と材料費等が節約でき、また作業
者が経験を積み重ねることも必要でなくなる。
【0042】また、請求項2の発明では、上記請求項1
の発明の構成に加え、設定された加工条件を所望の値に
修正出来るようにした。従って、請求項1の発明と同様
の効果に加え、仕上りの形態等が所望のものでなかった
としても、或いは標準的加工条件と少し異った加工条件
に変更したい場合でも、設定された標準的加工条件を足
掛かりにしてそれを修正するという手順を踏むことで、
所望の仕上り形態等に容易に到達することが出来、請求
項1の発明より更に柔軟性が増し、一層使い勝手の良い
レーザ加工装置が実現できる。
【0043】請求項3の発明では、請求項1、請求項2
の構成に加え、修正後の加工条件を加工条件テーブルに
上書きする(書き換える)ことが出来るようにした。従
って、請求項2及び請求項3の発明の効果に加え、のち
に同様の加工をする時にも、この書き換え後の条件を利
用することで全く同じ品質の製品を再現出来るようにな
り、一層生産性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態例のレーザマーキング装置の
コントローラの詳細を示すブロック図。
【図2】第1の実施の形態例のレーザマーキング装置の
全体構成を示すブロック図。
【図3】第1の実施の形態例の加工条件テーブルを示す
図。
【図4】第1の実施の形態例のレーザマーキング装置の
処理手順を示すフローチャート。
【図5】第2の実施の形態例のレーザ溶接装置の構成を
示すブロック図。
【図6】第2の実施の形態例の加工条件テーブルを示す
図。
【図7】第2の実施の形態例のレーザ溶接装置の処理手
順を示すフローチャート。
【図8】レーザ切断装置に適用する場合の加工条件テー
ブルの例を示す図。
【図9】従来のレーザマーキング装置の構成例を示すブ
ロック図。
【図10】スキャニングヘッドの構造例を示す斜視図。
【図11】従来のレーザマーキング装置の表示器に示さ
れる項目例を示す図。
【図12】光ファイバ光学系レーザマーキング装置の例
を示すブロック図。
【図13】出射ユニットを使用するレーザ溶接装置の例
を示すブロック図。
【符号の説明】
1,1b レーザ発振器 2 コントローラ 3 表示器(CRT) 4 スキャニングヘッド 5 励起ランプ 6 YAGロッド 7 全反射ミラー 8 出力ミラー 9 Qスイッチ 10 He−Neレーザ 11 アパーチャ 12 シャッタ 13 制御/電源ユニット 14 レーザ電源 15 クーラ 16 X軸ミラー 17 第1の駆動装置 18 Y軸ミラー 19 第2の駆動装置 20 fθレンズ 21 テーブル記憶媒体 22 加工条件テーブル(レーザマーキング用) 23 特性等選択部 24 条件設定部 25 条件修正部 26 条件書換部 27 条件保持部 28 作動制御部 31 光センサ 32 パワーモニタ 33 ミラー 34 フィルタ 35 集光レンズ 36 光ファイバコネクタ 37 コリメータレンズ 38 光ファイバコネクタ 39 保護ガラス 40 出射ユニット 41 加工条件テーブル(レーザ溶接用) 45 光ファイバ 46 コリメータレンズ 47 集光レンズ 51 加工条件テーブル(レーザ切断用) 100 レーザマーキング装置 200 レーザ溶接装置 W 被加工物

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物の特性又はそれへの加工の種類
    の夫々に対応して種々の加工条件が設定された加工条件
    テーブルと、前記被加工物の特性又は加工の種類の夫々
    の中から所望のものを選択する特性等選択手段と、該選
    択された被加工物の特性又は加工の種類に対応した加工
    条件を前記加工条件テーブルから読出しレーザ加工の加
    工条件として設定する条件設定手段とを備えたことを特
    徴とするレーザ加工装置。
  2. 【請求項2】 被加工物の特性又はそれへの加工の種類
    の夫々に対応して種々の加工条件データが設定された加
    工条件テーブルと、前記被加工物の特性又は加工の種類
    の夫々の中から所望のものを選択する特性等選択手段
    と、該選択された被加工物の特性又は加工の種類に対応
    した加工条件を前記加工条件テーブルから読出しレーザ
    加工の加工条件として設定する条件設定手段と、前記設
    定された条件を所望の値に修正する条件修正手段とを備
    えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  3. 【請求項3】 被加工物の特性又はそれへの加工の種類
    の夫々に対応して種々の加工条件データが設定された加
    工条件テーブルと、前記被加工物の特性又は加工の種類
    の夫々の中から所望のものを選択する特性等選択手段
    と、該選択された被加工物の特性又は加工の種類に対応
    した加工条件を前記加工条件テーブルから読出してレー
    ザ加工の加工条件として設定する条件設定手段と、前記
    設定された条件を所望の値に修正する条件修正手段と、
    前記加工条件テーブルの当該加工条件を前記修正後の加
    工条件に書き換える条件書換手段とを備えたことを特徴
    とするレーザ加工装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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