JPH10154873A - Multilayered printed wiring board and its manufacture - Google Patents

Multilayered printed wiring board and its manufacture

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JPH10154873A
JPH10154873A JP1896897A JP1896897A JPH10154873A JP H10154873 A JPH10154873 A JP H10154873A JP 1896897 A JP1896897 A JP 1896897A JP 1896897 A JP1896897 A JP 1896897A JP H10154873 A JPH10154873 A JP H10154873A
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JP
Japan
Prior art keywords
plating
layer
printed wiring
wiring board
conductor circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP1896897A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Ono
嘉隆 小野
Kota Noda
宏太 野田
Hiroshi Segawa
博史 瀬川
Motoo Asai
元雄 浅井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP1896897A priority Critical patent/JPH10154873A/en
Publication of JPH10154873A publication Critical patent/JPH10154873A/en
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a multilayered printed wiring board having such a highly reliable heat cycle characteristic, etc., that no crack is produced toward interlayer resin insulating layers from the boundaries between plate resists and conductor circuits due to heat cycles and a method by which the printed wiring board can be manufactured profitably. SOLUTION: In a multilayered printed wiring in which interlayer resin insulating layers and conductor circuit layers provided in no-resist forming sections are alternately laminated upon another through plate resists, clearances are formed between the facing faces of the plate resists and conductor circuits and roughened layers are formed on the surfaces of the conductor circuits. In a method for manufacturing the multilayered printed wiring board, the plate resists are cured and shrunk by heating the resists after the conductor circuits are formed by electroless plating at the no-resist forming sections where the exposed and cured resists are not formed for providing the clearances between the facing faces of the plate resists and conductor circuits.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板とその製造方法に関し、とくに、ヒートサイクルによ
ってめっきレジストと導体回路の界面から層間樹脂絶縁
層に向けてクラックが発生することがない、ヒートサイ
クル特性等の信頼性に優れた多層プリント配線板と、こ
のプリント配線板を有利に製造する方法を提案するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a method for preventing a crack from being generated from an interface between a plating resist and a conductor circuit toward an interlayer resin insulating layer by a heat cycle. The present invention proposes a multilayer printed wiring board having excellent reliability such as cycle characteristics and a method for advantageously producing the printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来技術】アディティブ配線板は、基板上に、層間樹
脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)を形成し、次いで
導体パターン非形成部分にめっきレジストを形成し、そ
の後、このめっきレジストを除く部分に無電解めっきを
施して導体回路を形成する、一連の処理を含む工程を経
て製造される。
2. Description of the Related Art In an additive wiring board, an interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) is formed on a substrate, a plating resist is formed on a portion where a conductor pattern is not formed, and then the plating resist is removed. It is manufactured through a process including a series of processes of forming a conductor circuit by applying electroless plating to a portion.

【0003】このアディティブ配線板において形成され
る上記めっきレジストとしては、特開平6−3179045 号
公報で開示されているように、クレゾールノボラック型
エポキシ樹脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤から
なる樹脂組成物の層で構成したものが知られている。
As the plating resist formed on the additive wiring board, a layer of a resin composition comprising an acrylate of cresol novolak type epoxy resin and an imidazole curing agent, as disclosed in JP-A-6-3179045. Is known.

【0004】このようなアディティブ配線板は、めっき
レジストを樹脂組成物の層で構成し、一方、導体回路を
金属層で構成することから、対面する側壁面で互いに接
する前記めっきレジストと前記導体回路とは、熱膨張率
が著しく異なる。また、めっきレジストは、ファインパ
ターンの要請から従来、導体回路と接触する側壁面を平
滑な面としていた。
In such an additive wiring board, the plating resist is composed of a layer of a resin composition, while the conductor circuit is composed of a metal layer. Has a significantly different coefficient of thermal expansion. Conventionally, a plating resist has a smooth side wall surface in contact with a conductor circuit due to a demand for a fine pattern.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】そのため、基板上にめ
っきレジストを永久レジストとして残留させるプリント
配線板の場合、めっきレジストと導体回路との対面する
側壁面では、平滑であるが故に良好な密着性が得られ
ず、しかも、熱膨張率が互いに異なるためにヒートサイ
クルによって層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤
層)に向けてクラックが発生するといった問題があっ
た。
Therefore, in the case of a printed wiring board in which a plating resist is left as a permanent resist on a substrate, good adhesion is obtained because the side wall surface between the plating resist and the conductor circuit is smooth because it is smooth. However, there is a problem that cracks are generated toward the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) by a heat cycle because the thermal expansion coefficients are different from each other.

【0006】また、めっきレジストを介してレジスト非
形成部分に導体回路を設けた配線基板の表面を研磨して
平滑化し、さらにその上に層間樹脂絶縁層と導体回路を
形成するプリント配線板の場合にも、ヒートサイクルに
よってめっきレジストと導体回路の界面から層間樹脂絶
縁層に向けてクラックが発生するという問題があった。
この理由は、研磨により導体回路が研磨方向に塑性変形
して突起ができ、めっきレジストと導体回路との熱膨張
率差によって、この突起に応力が集中し、ここからクラ
ックが発生するものと考えられる(図2参照)。
Further, in the case of a printed wiring board in which a surface of a wiring board having a conductive circuit provided on a portion where a resist is not formed is polished and smoothed via a plating resist, and an interlayer resin insulating layer and a conductive circuit are further formed thereon. In addition, there is a problem that cracks are generated from the interface between the plating resist and the conductor circuit toward the interlayer resin insulating layer due to the heat cycle.
The reason is considered that the conductor circuit is plastically deformed in the polishing direction by polishing, and a protrusion is formed, and stress is concentrated on the protrusion due to a difference in thermal expansion coefficient between the plating resist and the conductor circuit, and cracks are generated from this. (See FIG. 2).

【0007】本発明の主たる目的は、先行技術が抱えて
いる上述した問題を解消し、耐熱性や電気特性に優れる
ことはもちろん、とくにヒートサイクルによってめっき
レジストと導体回路の界面から層間樹脂絶縁層に向けて
クラックが発生することがない、ヒートサイクル特性等
の信頼性に優れた多層プリント配線板を提供することに
ある。本発明の他の目的は、上記多層プリント配線板を
有利に製造することができる方法を提供することにあ
る。
The main object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to provide not only excellent heat resistance and electrical characteristics, but also, in particular, an interlayer resin insulation layer from the interface between the plating resist and the conductor circuit by a heat cycle. An object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board which does not generate cracks and has excellent reliability such as heat cycle characteristics. Another object of the present invention is to provide a method by which the above-mentioned multilayer printed wiring board can be advantageously manufactured.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】発明者は、上記目的の実
現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨構成
とする発明を完成するに至った。すなわち、 (1) 本発明の多層プリント配線板は、基板上に、層間樹
脂絶縁層とめっきレジストを介してレジスト非形成部分
に設けられる導体回路層とが交互に積層されてなる多層
プリント配線板において、前記めっきレジストと前記導
体回路との対面する壁面間には隙間を有し、かつ導体回
路の表面には粗化層を有することを特徴とする。
Means for Solving the Problems The inventor of the present invention has made intensive studies for realizing the above-mentioned object, and as a result, has completed the invention having the following features as the gist. That is, (1) The multilayer printed wiring board of the present invention is a multilayer printed wiring board in which an interlayer resin insulating layer and a conductor circuit layer provided in a portion where a resist is not formed are alternately laminated on a substrate via a plating resist. Wherein a gap is provided between wall surfaces of the plating resist and the conductor circuit facing each other, and a roughened layer is provided on a surface of the conductor circuit.

【0009】ここで、本発明にかかる上記多層プリント
配線板において、前記層間樹脂絶縁層は無電解めっき用
接着剤層であることが望ましく、また、前記めっきレジ
ストの表面は、導体回路の表面と同一平面上になるよう
に研磨して平滑化されていることが望ましい。
Here, in the multilayer printed wiring board according to the present invention, the interlayer resin insulating layer is preferably an adhesive layer for electroless plating, and the surface of the plating resist is in contact with the surface of the conductor circuit. Desirably, it is polished and smoothed so as to be on the same plane.

【0010】そして、上記多層プリント配線板を製造す
る方法として、本発明は、基板上に、層間樹脂絶縁層と
めっきレジストを介してレジスト非形成部分に設けられ
る導体回路層とが交互に積層されてなる多層プリント配
線板の製造に当って、少なくとも下記 (a)〜(d) の処
理、即ち、(a) 基板上に形成された層間樹脂絶縁層の表
面に、感光性樹脂絶縁層を形成し、これを所定のパター
ンに露光硬化し、ついで現像処理して、めっきレジスト
を形成する処理、(b) めっきレジスト非形成部分に無電
解めっきによる導体回路を形成する処理、(c) 加熱硬化
により前記めっきレジストを硬化収縮させて、該めっき
レジストと前記導体回路との対面する壁面間に隙間を形
成する処理、(d) 前記導体回路の表面に粗化層を設ける
処理、を行うことを特徴とする多層プリント配線板の製
造方法を提案する。
As a method of manufacturing the above-mentioned multilayer printed wiring board, the present invention provides a method in which an interlayer resin insulating layer and a conductor circuit layer provided in a portion where no resist is formed are alternately laminated on a substrate via a plating resist. In the manufacture of a multilayer printed wiring board comprising: (a) forming at least a photosensitive resin insulating layer on the surface of an interlayer resin insulating layer formed on a substrate; Then, this is exposed and cured in a predetermined pattern, and then developed to form a plating resist, (b) a conductor circuit formed by electroless plating on a portion where no plating resist is formed, and (c) heat curing. By curing and shrinking the plating resist to form a gap between the facing wall surfaces of the plating resist and the conductor circuit, and (d) providing a roughened layer on the surface of the conductor circuit. Features We propose a method for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0011】ここで、本発明にかかる上記多層プリント
配線板の製造方法において、前記層間樹脂絶縁層は、無
電解めっき用接着剤を用いて形成することが望ましく、
前記めっきレジストの表面は、導体回路の表面と同一平
面上になるように研磨して平滑化することが望ましい。
Here, in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, it is preferable that the interlayer resin insulating layer is formed using an adhesive for electroless plating.
The surface of the plating resist is desirably polished and smoothed so as to be flush with the surface of the conductor circuit.

【0012】本発明にかかる上記多層プリント配線板の
製造方法において、前記(c) の処理後に、めっきレジス
ト表面の溶解処理、あるいは導体回路表面の溶解処理を
行うことが望ましい。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, it is preferable to perform a dissolution treatment on the surface of the plating resist or a dissolution treatment on the surface of the conductor circuit after the treatment (c).

【0013】本発明にかかる上記多層プリント配線板の
製造方法において、前記処理(a) における露光硬化時の
基板温度は 100℃以下に調整することが望ましく、前記
処理(b) は、前記(a) の処理後に基板を温水に浸漬して
から行うことが望ましい。
In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, it is preferable that the substrate temperature at the time of exposure and curing in the process (a) is adjusted to 100 ° C. or less, and the process (b) It is preferable that the substrate is immersed in warm water after the treatment of (2).

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明にかかる多層プリント配線
板は、めっきレジストと導体回路との対面する各壁面間
に隙間を設けて、導体回路とめっきレジストが互いに接
触しないようにすると共に、導体回路の表面に粗化層を
設けた点に特徴がある。一方、本発明にかかる多層プリ
ント配線板の製造方法は、めっきレジストと導体回路と
の対面する各壁面間に隙間を設けるために、露光硬化し
ためっきレジストの非形成部分に無電解めっきによる導
体回路を形成した後に、そのめっきレジストを加熱処理
により硬化収縮させた点に特徴がある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A multilayer printed wiring board according to the present invention is provided with a gap between each of opposing wall surfaces of a plating resist and a conductor circuit so that the conductor circuit and the plating resist do not contact each other. The feature is that a roughened layer is provided on the surface of the circuit. On the other hand, the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention includes a method of forming a conductive circuit by electroless plating on a non-formed portion of the exposed and cured plating resist in order to provide a gap between each of the facing walls of the plating resist and the conductive circuit. Is formed, and then the plating resist is cured and shrunk by heat treatment.

【0015】これにより、導体回路は、粗化層のアンカ
ー効果によって層間樹脂絶縁層と強固に密着され、導体
回路の膨張収縮を抑制でき、導体回路とめっきレジスト
の界面では、層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤
層)に向けてクラックが発生することはない。
Thus, the conductor circuit is firmly adhered to the interlayer resin insulation layer by the anchor effect of the roughened layer, and the expansion and contraction of the conductor circuit can be suppressed. At the interface between the conductor circuit and the plating resist, the interlayer resin insulation layer ( Cracks do not occur toward the electroless plating adhesive layer).

【0016】なお、めっきレジストは、無電解めっきの
際に存在していれば十分であり、そのめっき後に硬化収
縮させても、導体パターンの形状に何ら影響を及ぼすも
のではない。
It is sufficient that the plating resist is present at the time of electroless plating. Even if the plating resist cures and contracts after plating, it does not affect the shape of the conductor pattern at all.

【0017】以下に、本発明にかかるプリント配線板の
製造方法について説明する。 (1)まず、コア基板の表面に、内層銅パターンを形成す
る。この基板への銅パターンの形成は、銅張積層板をエ
ッチングして行うか、あるいは、ガラスエポキシ基板や
ポリイミド基板、セラミック基板、金属基板などの基板
に無電解めっき用接着剤層を形成し、この接着剤層表面
を粗化して粗化面とし、ここに無電解めっきを施して行
う方法がある。なお、コア基板には、スルーホールが形
成され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層
を電気的に接続することができる。
Hereinafter, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described. (1) First, an inner layer copper pattern is formed on the surface of the core substrate. The formation of a copper pattern on this substrate is performed by etching a copper-clad laminate, or an adhesive layer for electroless plating is formed on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, and a metal substrate, There is a method in which the surface of the adhesive layer is roughened to a roughened surface, and electroless plating is performed thereon. Note that a through hole is formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole.

【0018】(2)次に、前記 (1)で内層銅パターンを形
成した基板の上に、層間樹脂絶縁層を形成する。特に、
本発明では、層間樹脂絶縁層として無電解めっき用接着
剤層を用いることが望ましい。
(2) Next, an interlayer resin insulation layer is formed on the substrate on which the inner layer copper pattern has been formed in (1). Especially,
In the present invention, it is desirable to use an adhesive layer for electroless plating as the interlayer resin insulating layer.

【0019】この無電解めっき用接着剤は、酸あるいは
酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中に酸あるいは酸
化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子が分散さ
れてなるものが最適である。これは、酸あるいは酸化剤
に可溶性の耐熱性樹脂粒子を粗化して除去することによ
り、表面に蛸壺状のアンカーを形成でき、導体回路との
密着性を改善できるからである。
The adhesive for electroless plating is obtained by dispersing hardened heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. Optimal. This is because by roughening and removing the heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent, an octopus-shaped anchor can be formed on the surface and the adhesion to the conductor circuit can be improved.

【0020】上記無電解めっき用接着剤において、酸あ
るいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂としては、感光化し
た熱硬化性樹脂、感光化した熱硬化性樹脂と熱可塑性樹
脂の複合体が望ましい。感光化することにより、露光、
現像により、バイアホールを容易に形成できるからであ
る。また、熱可塑性樹脂と複合化することにより靱性を
向上させることができ、導体回路のピール強度の向上、
ヒートサイクルによるバイアホール部分のクラック発生
を防止できるからである。具体的には、エポキシ樹脂を
アクリル酸やメタクリル酸などと反応させたエポキシア
クリレートやエポキシアクリレートとポリエーテルスル
ホンとの複合体がよい。エポキシアクリレートは、全エ
ポキシ基の20〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと
反応したものが望ましい。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, as the heat-resistant resin which is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, a photosensitive thermosetting resin or a composite of a photosensitive thermosetting resin and a thermoplastic resin is preferable. . Exposure by photosensitization,
This is because via holes can be easily formed by development. In addition, by forming a composite with a thermoplastic resin, the toughness can be improved, and the peel strength of the conductor circuit can be improved,
This is because the occurrence of cracks in the via holes due to the heat cycle can be prevented. Specifically, epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid, methacrylic acid, or the like, or a composite of epoxy acrylate and polyether sulfone is preferable. The epoxy acrylate is preferably one in which 20 to 80% of all epoxy groups have reacted with acrylic acid or methacrylic acid.

【0021】上記無電解めっき用接着剤において、前記
耐熱性樹脂粒子としては、平均粒径が10μm以下の耐
熱性樹脂粉末、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉
末を凝集させて平均粒径2〜10μmの大きさとした凝集
粒子、平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末と平均
粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均
粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が
2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれか
少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子から選ばれる
ことが望ましい。これらは、複雑なアンカーを形成でき
るからである。耐熱性樹脂粒子の樹脂としては、エポキ
シ樹脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナ
ミン樹脂)などがよい。特に、エポキシ樹脂は、そのオ
リゴマーの種類、硬化剤の種類、架橋密度を変えること
により任意に酸や酸化剤に対する溶解度を変えることが
できる。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂オリ
ゴマーをアミン系硬化剤で硬化処理したものは、酸化剤
に溶解しやすい。しかし、ノボラックエポキシ樹脂オリ
ゴマーをイミダゾール系硬化剤で硬化させたものは、酸
化剤に溶解しにくい。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, the heat-resistant resin particles include a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less. Agglomerated particles having a size of 2 to 10 μm, a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, and a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm It is desirable to select from pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder and an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less on the surface. These are because they can form complex anchors. As the resin of the heat-resistant resin particles, epoxy resin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin) and the like are preferable. Particularly, the solubility of an epoxy resin in an acid or an oxidizing agent can be arbitrarily changed by changing the type of the oligomer, the type of the curing agent, and the crosslinking density. For example, a bisphenol A-type epoxy resin oligomer cured with an amine-based curing agent is easily dissolved in an oxidizing agent. However, the novolak epoxy resin oligomer cured with an imidazole-based curing agent is hardly dissolved in the oxidizing agent.

【0022】なお、本発明において、上記層間樹脂絶縁
層は、単一層である必要はなく、例えば、最初に未硬化
の樹脂絶縁材を塗布し、これを乾燥した後、さらに無電
解めっき用接着剤を塗布して2層構造の樹脂絶縁層とす
ることができる。また、下層を平均粒径が 0.1〜0.3 μ
m以下の耐熱性樹脂粉末を含有する無電解めっき用接着
剤の層とし、上層を平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂
粉末と平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末の混合物
を含有する無電解めっき用接着剤の層とした2層構造の
樹脂絶縁層とすることも可能である。
In the present invention, the interlayer resin insulating layer does not need to be a single layer. For example, first, an uncured resin insulating material is applied, dried, and then further adhered for electroless plating. An agent can be applied to form a two-layer resin insulating layer. The lower layer has an average particle size of 0.1 to 0.3 μm.
m or less, and the upper layer contains a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less. It is also possible to use a resin insulating layer having a two-layer structure as an adhesive layer for electroless plating.

【0023】(3) 上記(2) で形成した層間樹脂絶縁層を
乾燥した後、感光性樹脂の場合は、露光,現像してから
熱硬化することにより、また、熱硬化性樹脂の場合は、
熱硬化したのちレーザー加工することにより、層間樹脂
絶縁層にバイアホール用の開口部を設ける。
(3) After drying the interlayer resin insulation layer formed in (2) above, in the case of a photosensitive resin, it is exposed and developed and then thermally cured, and in the case of a thermosetting resin, ,
After thermosetting, laser processing is performed to provide an opening for a via hole in the interlayer resin insulating layer.

【0024】(4) 上記(3) でバイアホール用の開口部を
設けた層間樹脂絶縁層の表面を酸あるいは酸化剤で粗化
処理した後、触媒核を付与する。ここで、上記粗化処理
に使用できる酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるい
は蟻酸や酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸が望ま
しい。粗化処理した場合に、バイアホールから露出する
金属導体層を腐食させにくいからである。一方、酸化剤
としては、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガン酸カ
リウムなど)が望ましい。特に、アミノ樹脂を溶解除去
する場合は、酸と酸化剤で交互に粗化処理することが望
ましい。また、上記触媒核の付与には、貴金属イオンや
貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一般的に
は、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。
なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望
ましい。このような触媒核としてはパラジウムがよい。
(4) After roughening the surface of the interlayer resin insulating layer provided with the opening for via hole in (3) with an acid or an oxidizing agent, a catalyst nucleus is provided. Here, examples of the acid that can be used for the above-mentioned roughening treatment include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and organic acids are particularly desirable. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. On the other hand, as the oxidizing agent, chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) are desirable. In particular, in the case of dissolving and removing the amino resin, it is preferable to perform a roughening treatment alternately with an acid and an oxidizing agent. In addition, it is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus. Generally, palladium chloride or a palladium colloid is used.
Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0025】(5) 上記(4) で触媒核を付与した基板の表
面に、めっきレジスト組成物の溶液を塗布して乾燥させ
て樹脂層を形成し、次いで、この樹脂層を紫外線照射に
より所定のパターンに露光硬化したのち現像処理するこ
とにより、めっきレジストを形成する。特に本発明で
は、この段階で熱処理による硬化は行われない。例え
ば、上記の露光,現像処理は、 600mJ/cm2 で露光し、
次いでDMTG等のグリコールエーテル系の溶媒と水からな
る現像液を用いて現像したのち、30℃,3分間で加熱乾
燥することにより行う。
(5) A solution of the plating resist composition is applied to the surface of the substrate to which the catalyst nucleus has been applied in (4), and dried to form a resin layer. After exposure and curing to the pattern described above, development processing is performed to form a plating resist. In particular, in the present invention, curing by heat treatment is not performed at this stage. For example, in the above exposure and development processing, exposure is performed at 600 mJ / cm 2 ,
Next, development is carried out using a developer comprising a glycol ether solvent such as DMTG and water and water, followed by heating and drying at 30 ° C. for 3 minutes.

【0026】ここで本発明では、上記露光硬化時の基板
温度は 100℃以下に調整することが望ましい。露光硬化
時に基板温度が 100℃を超えると、めっきレジストの露
光硬化時に熱硬化が進み、無電解めっき膜を形成した
後、加熱してもめっきレジストが熱硬化により収縮せ
ず、めっきレジストと導体回路との隙間を設けることが
できないからである。
Here, in the present invention, it is desirable that the substrate temperature during the above-mentioned exposure and curing be adjusted to 100 ° C. or less. If the substrate temperature exceeds 100 ° C during exposure curing, thermal curing proceeds during exposure curing of the plating resist, and after forming an electroless plating film, the plating resist does not shrink due to thermal curing even when heated, and the plating resist and conductor This is because a gap with the circuit cannot be provided.

【0027】上記めっきレジスト組成物としては、例え
ばエポキシ樹脂をアクリル酸やメタクリル酸などと反応
させたエポキシアクリレートなどの感光性樹脂とイミダ
ゾール硬化剤からなる組成物、あるいはエポキシアクリ
レートなどの感光性樹脂とポリエーテルスルホンなどの
熱可塑性樹脂およびイミダゾール硬化剤からなる組成物
が例示でき、他に市販品を使用することもできる。
As the plating resist composition, for example, a composition comprising a photosensitive resin such as epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid or methacrylic acid and an imidazole curing agent, or a photosensitive resin such as epoxy acrylate is used. A composition comprising a thermoplastic resin such as polyether sulfone and an imidazole curing agent can be exemplified, and other commercially available products can also be used.

【0028】ここで、上記エポキシアクリレートの基本
骨格樹脂であるエポキシ樹脂としては、ノボラック型エ
ポキシ樹脂が望ましい。ノボラック型エポキシ樹脂は、
剛直骨格を持ち、架橋密度が高く、硬化物の吸水率が
0.1%以下に調整でき、耐塩基性に優れるからである。
ノボラック型エポキシ樹脂としては、クレゾールノボラ
ック型、フェノールノボラック型がある。
Here, as the epoxy resin which is the basic skeleton resin of the epoxy acrylate, a novolak type epoxy resin is desirable. Novolak type epoxy resin
Has a rigid skeleton, high crosslinking density, and high water absorption of the cured product
This is because it can be adjusted to 0.1% or less and has excellent base resistance.
Novolak type epoxy resins include cresol novolak type and phenol novolak type.

【0029】エポキシアクリレートは、全エポキシ基の
20〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応したも
のが望ましい。アクリル化率が高過ぎるとOH基による親
水性が高くなり吸湿性が上がり、アクリル化率が低過ぎ
ると解像度が低下するからである。エポキシアクリレー
トとポリエーテルスルホンの比率は、50/50〜80/20程
度が望ましい。エポキシアクリレートが多過ぎると可撓
性が低下し、少な過ぎると感光性、耐塩基性、耐酸性、
耐酸化剤特性が低下するからである。
Epoxy acrylate is used for all epoxy groups.
It is desirable that 20 to 80% react with acrylic acid or methacrylic acid. If the acrylate ratio is too high, the hydrophilicity due to the OH group increases and the hygroscopicity increases, and if the acrylate ratio is too low, the resolution decreases. The ratio of the epoxy acrylate to the polyether sulfone is desirably about 50/50 to 80/20. If the amount of epoxy acrylate is too large, the flexibility decreases, and if it is too small, photosensitivity, base resistance, acid resistance,
This is because the antioxidant properties decrease.

【0030】めっきレジスト組成物の樹脂成分である上
記感光性樹脂の硬化剤としてイミダゾール硬化剤を使用
するのは、イミダゾール硬化剤で硬化したエポキシ樹脂
は、耐熱性や耐薬品性に優れ、塩基に対する特性に優れ
るからである。
The imidazole curing agent is used as a curing agent for the photosensitive resin, which is a resin component of the plating resist composition, because the epoxy resin cured with the imidazole curing agent has excellent heat resistance and chemical resistance, and has a high resistance to bases. This is because the properties are excellent.

【0031】このイミダゾール硬化剤は、25℃で液状で
あることが望ましい。粉末では均一混練が難しく、液状
の方が均一に混練できるからである。このような液状イ
ミダゾール硬化剤としては、1-ベンジル-2- メチルイミ
ダゾール(品名:1B2MZ )、1-シアノエチル-2- エチル
-4- メチルイミダゾール(品名:2E4MZ-CN)、4-メチル
-2- エチルイミダゾール(品名:2E4MZ )が挙げられ
る。イミダゾール硬化剤の添加量は、1〜10重量%とす
ることが望ましい。この理由は、添加量がこの範囲内に
あれば均一混合がしやすいからである。
This imidazole curing agent is desirably liquid at 25 ° C. This is because uniform kneading is difficult with powder, and liquid can be kneaded more uniformly. Examples of such a liquid imidazole curing agent include 1-benzyl-2-methylimidazole (product name: 1B2MZ), 1-cyanoethyl-2-ethyl
-4-methylimidazole (product name: 2E4MZ-CN), 4-methyl
2-ethylimidazole (product name: 2E4MZ). The addition amount of the imidazole curing agent is desirably 1 to 10% by weight. The reason for this is that if the added amount is within this range, uniform mixing is easy.

【0032】このようなめっきレジスト組成物には、そ
の他に、開始剤であるベンゾフェノンや増感剤であるミ
ヒラーケトン、耐熱性や耐塩基性の改善、可撓性付与の
ために熱硬化性樹脂、解像度改善のために感光性モノマ
ー、レベリング剤としてのアクリル酸エステルポリマー
を添加混合することができる。
Such a plating resist composition further includes benzophenone as an initiator, Michler's ketone as a sensitizer, a thermosetting resin for improving heat resistance and base resistance, and imparting flexibility. To improve the resolution, a photosensitive monomer and an acrylate polymer as a leveling agent can be added and mixed.

【0033】開始剤(光重合開始剤)であるベンゾフェ
ノンと増感剤(光重合助剤)であるミヒラーケトンは、
加熱したグリコールエーテル系溶剤中に同時に溶解さ
せ、これをめっきレジスト組成物に相溶させることが望
ましい。ミヒラーケトンのみでは、上記溶剤に対する溶
解度が低く、加熱しても溶解残渣が生じ、常温にすると
析出してしまうからである。ベンゾフェノンとミヒラー
ケトンを上記溶剤中で同時に混合すると完全に溶解する
理由は、不明であるが、ベンゾフェノンとミヒラーケト
ンが溶剤中で錯体に類似する構造となり、この錯体に類
似した構造を形成することによって、ミヒラーケトンの
溶解性を高めているのではないかと推定している。 こ
のような方法によれば、ベンゾフェノンとミヒラーケト
ンはグリコールエーテル系溶媒中に完全に溶解するの
で、これを相溶させた前記めっきレジスト組成物は均一
相となる。その結果、前記めっきレジスト組成物の層
は、露光,現像処理によって未露光部が完全に除去でき
る。
Benzophenone as an initiator (photopolymerization initiator) and Michler's ketone as a sensitizer (photopolymerization auxiliary) are
It is desirable to dissolve them in a heated glycol ether-based solvent at the same time and to dissolve them in the plating resist composition. This is because the use of only Michler's ketone has low solubility in the above-mentioned solvent, causes a dissolved residue even when heated, and precipitates at room temperature. The reason why benzophenone and Michler's ketone are completely dissolved when mixed simultaneously in the above-mentioned solvent is unknown, but benzophenone and Michler's ketone have a structure similar to a complex in a solvent, and by forming a structure similar to this complex in Michler's ketone, It is presumed that the solubility of is increased. According to such a method, since benzophenone and Michler's ketone are completely dissolved in the glycol ether-based solvent, the plating resist composition in which the benzophenone and the Michler's ketone are compatible becomes a uniform phase. As a result, the unexposed portions of the layer of the plating resist composition can be completely removed by exposure and development.

【0034】ベンゾフェノンとミヒラーケトンを溶解さ
せる上記グリコールエーテル系溶剤は、ジエチレングリ
コールジメチルエーテル(DMDG)および/またはト
リエチレングリコールジメチルエーテル(DMTG)で
あることが望ましい。これらの溶剤は、30〜50℃程度の
加温によりベンゾフェノンやミヒラーケトンを完全に溶
解させることができるからである。
The glycol ether solvent for dissolving benzophenone and Michler's ketone is preferably diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) and / or triethylene glycol dimethyl ether (DMTG). This is because these solvents can completely dissolve benzophenone and Michler's ketone by heating at about 30 to 50 ° C.

【0035】添加成分としての上記熱硬化性樹脂は、ビ
スフェノール型エポキシ樹脂であることが望ましい。ビ
スフェノール型エポキシ樹脂は、耐塩基性を向上させる
ことができるからである。ビスフェノール型エポキシ樹
脂には、ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノ
ールF型エポキシ樹脂があり、耐塩基性を重視する場合
には前者が、塗布性を重視する場合には後者がよい。
The thermosetting resin as an additional component is preferably a bisphenol type epoxy resin. This is because a bisphenol-type epoxy resin can improve base resistance. The bisphenol type epoxy resin includes a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin, and the former is better when the basic resistance is important, and the latter is better when the applicability is important.

【0036】添加成分としてのアクリル酸エステルポリ
マーは、めっきレジスト組成物全体を均一化させること
ができる。この場合、従来のような液状レジストを得る
ために実施した混練が不要となる。このようなアクリル
酸エステルポリマーによれば、レジスト組成物中に消泡
剤を分散させる必要性がなくなるので、現像残りを発生
させることがなく、レジスト表面を平滑にすることがで
きる。ここで、アクリル酸エステルポリマーとは、分子
量 500〜5000で、アクリル酸あるいはメタクリル酸など
とアルコールとのエステルの1種もしくは2種以上のも
のを重合させた重合体である。
The acrylate polymer as an additional component can make the whole plating resist composition uniform. In this case, the kneading performed to obtain a liquid resist as in the related art becomes unnecessary. According to such an acrylate polymer, there is no need to disperse an antifoaming agent in the resist composition, so that the resist surface can be smoothened without developing residue. Here, the acrylate polymer is a polymer obtained by polymerizing one or more esters of an ester of acrylic acid or methacrylic acid with an alcohol having a molecular weight of 500 to 5,000.

【0037】(6) 上記(5) の処理でめっきレジストが形
成されなかった部分に一次めっきを施す。このとき、銅
パターンだけでなく、バイアホールを形成する。この一
次めっきとしては、銅、ニッケル、コバルトおよびリン
から選ばれる少なくとも2種以上の金属イオンを使用し
た合金めっきであることが望ましい。この理由は、これ
らの合金は強度が高く、ピール強度を向上させることが
できるからである。上記一次めっきの無電解めっき液に
おいて、銅、ニッケルおよびコバルトから選ばれる少な
くとも2種以上の金属イオンを使用することが必要であ
るが、この理由は、これらの合金は強度が高く、ピール
強度を向上させることができるからである。
(6) Primary plating is applied to the portion where the plating resist has not been formed in the process (5). At this time, not only a copper pattern but also a via hole is formed. The primary plating is desirably an alloy plating using at least two or more metal ions selected from copper, nickel, cobalt and phosphorus. This is because these alloys have high strength and can improve the peel strength. In the electroless plating solution for the primary plating, it is necessary to use at least two kinds of metal ions selected from copper, nickel and cobalt. The reason for this is that these alloys have high strength and peel strength. This is because it can be improved.

【0038】上記一次めっきの無電解めっき液におい
て、銅、ニッケル、コバルトイオンと塩基性条件下で安
定した錯体を形成する錯化剤としては、ヒドロキシカル
ボン酸を用いることが望ましい。上記一次めっきの無電
解めっき液において、金属イオンを還元して金属元素に
するための還元剤は、アルデヒド、次亜リン酸塩(ホス
フィン酸塩と呼ばれる)、水素化ホウ素塩、ヒドラジン
から選ばれる少なくとも1種であることが望ましい。こ
れらの還元剤は、水溶性であり、還元力に優れるからで
ある。特に、ニッケルを析出させる点では次亜リン酸塩
が望ましい。上記一次めっきの無電解めっき液におい
て、塩基性条件下に調整するためのpH調整剤として
は、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシ
ウムから選ばれる少なくとも1種の塩基性化合物を用い
ることが望ましい。塩基性条件下において、ヒドロキシ
カルボン酸はニッケルイオンなどと錯体を形成するから
である。このヒドロキシカルボン酸としては、クエン
酸、リンゴ酸、酒石酸などが望ましい。これらは、ニッ
ケル、コバルト、銅と錯体を形成しやすいからである。
前記ヒドロキシカルボンの濃度は 0.1〜0.8 Mであるこ
とが望ましい。この理由は、 0.1Mより少ないと十分な
錯体が形成できず、異常析出や液の分解が生じる。一
方、0.8 Mを超えると析出速度が遅くなったり、水素の
発生が多くなったりするなどの不具合が発生するからで
ある。上記一次めっきの無電解めっき液は、ビピリジル
を含有してなることが望ましい。この理由は、ビピリジ
ルはめっき浴中の金属酸化物の発生を抑制してノジュー
ルの発生を抑制できるからである。なお、銅イオン、ニ
ッケルイオン、コバルトイオンは、硫酸銅、硫酸ニッケ
ル、硫酸コバルト、塩化銅、塩化ニッケル、塩化コバル
トなどの銅、ニッケル、コバルトの化合物を溶解させる
ことにより供給する。
In the above electroless plating solution for the primary plating, it is desirable to use hydroxycarboxylic acid as a complexing agent for forming a stable complex with copper, nickel and cobalt ions under basic conditions. In the electroless plating solution for the primary plating, a reducing agent for reducing metal ions to a metal element is selected from aldehyde, hypophosphite (referred to as phosphinate), borohydride, and hydrazine. Desirably, at least one kind is used. This is because these reducing agents are water-soluble and have excellent reducing power. In particular, hypophosphite is desirable in terms of depositing nickel. In the electroless plating solution for the primary plating, at least one basic compound selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide, and calcium hydroxide may be used as a pH adjuster for adjusting under basic conditions. desirable. This is because under basic conditions, hydroxycarboxylic acid forms a complex with nickel ions and the like. As the hydroxycarboxylic acid, citric acid, malic acid, tartaric acid and the like are desirable. This is because these easily form a complex with nickel, cobalt, and copper.
The concentration of the hydroxycarboxylic acid is preferably 0.1 to 0.8M. The reason for this is that if it is less than 0.1 M, a sufficient complex cannot be formed, resulting in abnormal precipitation and decomposition of the liquid. On the other hand, if it exceeds 0.8 M, problems such as a low deposition rate and an increase in generation of hydrogen occur. The electroless plating solution for the primary plating desirably contains bipyridyl. The reason for this is that bipyridyl can suppress the generation of metal oxides in the plating bath and the generation of nodules. Note that copper ions, nickel ions, and cobalt ions are supplied by dissolving a compound of copper, nickel, and cobalt such as copper sulfate, nickel sulfate, cobalt sulfate, copper chloride, nickel chloride, and cobalt chloride.

【0039】このような無電解めっき液により形成され
た一次めっき膜は、無電解めっき用接着剤層の粗化面に
対する追従性に優れ、粗化面の形態をそのままトレース
する。そのため、一次めっき膜は、粗化面と同様にアン
カーを持つ。従って、この一次めっき膜上に形成される
二次めっき膜は、このアンカーにより、密着性が確保さ
れるのである。従って、一次めっき膜は、ピール強度を
支配するために、上述したような無電解めっき液によっ
て析出する強度が高いめっき膜が望ましく、一方、二次
めっき膜は、電気導電性が高く、析出速度が早いことが
望ましいので、複合めっきよりも単純な銅めっき液によ
って析出するめっき膜が望ましい。
The primary plating film formed by such an electroless plating solution has excellent followability to the roughened surface of the adhesive layer for electroless plating, and traces the form of the roughened surface as it is. Therefore, the primary plating film has an anchor like the roughened surface. Therefore, the adhesion of the secondary plating film formed on the primary plating film is secured by the anchor. Therefore, in order to control the peel strength, the primary plating film is desirably a plating film having a high strength to be deposited by the electroless plating solution as described above, while the secondary plating film has a high electric conductivity and a high deposition rate. Therefore, a plating film deposited with a simple copper plating solution is more desirable than composite plating.

【0040】(7) 上記(6) で形成した一次めっき膜の上
に二次めっきを施して、一次めっき膜と二次めっき膜か
らなるバイアホールを含む導体回路を形成する。この二
次めっきによるめっき膜は、銅めっき膜であることが望
ましい。上記二次めっきの無電解めっき液は、銅イオ
ン、トリアルカノールアミン、還元剤、pH調整剤から
なる無電解めっき液において、銅イオンの濃度が 0.005
〜0.015mol/l、pH調整剤の濃度が、0.25〜0.35 mol
/lであり、還元剤の濃度が0.01〜0.04 mol/lである
無電解めっき液を用いることが望ましい。このめっき液
は、浴が安定であり、ノジュールなどの発生が少ないか
らである。上記二次めっきの無電解めっき液において、
トリアルカノールアミンの濃度は0.1〜0.8 Mであるこ
とが望ましい。この範囲でめっき析出反応が最も進行し
やすいからである。このトリアルカノールアミンは、ト
リエタノールアミン、トリイソパノールアミン、トリメ
タノールアミン、トリプロパノールアミンから選ばれる
少なくとも1種であることが望ましい。水溶性だからで
ある。上記二次めっきの無電解めっき液において、還元
剤は、アルデヒド、次亜リン酸塩、水素化ホウ素塩、ヒ
ドラジンから選ばれる少なくとも1種であることが望ま
しい。水溶性であり、塩基性条件下で還元力を持つから
である。pH調整剤は、水酸化ナトリウム、水酸化カリ
ウム、水酸化カルシウムから選ばれる少なくとも1種で
あることが望ましい。
(7) Secondary plating is performed on the primary plating film formed in (6) to form a conductor circuit including a via hole composed of the primary plating film and the secondary plating film. The plating film formed by the secondary plating is preferably a copper plating film. The electroless plating solution for the above-mentioned secondary plating has a copper ion concentration of 0.005 in an electroless plating solution comprising copper ions, trialkanolamine, a reducing agent and a pH adjuster.
~ 0.015mol / l, concentration of pH adjuster is 0.25 ~ 0.35mol
/ L, and it is preferable to use an electroless plating solution having a reducing agent concentration of 0.01 to 0.04 mol / l. This is because the plating solution has a stable bath and generates little nodules and the like. In the above electroless plating solution for secondary plating,
Desirably, the concentration of trialkanolamine is 0.1-0.8M. This is because the plating precipitation reaction most easily proceeds in this range. The trialkanolamine is desirably at least one selected from triethanolamine, triisopanolamine, trimethanolamine, and tripropanolamine. Because it is water-soluble. In the above electroless plating solution for secondary plating, the reducing agent is desirably at least one selected from aldehyde, hypophosphite, borohydride, and hydrazine. This is because it is water-soluble and has a reducing power under basic conditions. The pH adjuster is desirably at least one selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide, and calcium hydroxide.

【0041】ここで本発明では、上述した無電解めっき
による導体回路の形成は、めっきレジストを形成した基
板を温水に浸漬してから行うことが望ましい。このと
き、基板に形成されているめっきレジストは、その温水
浸漬により膨潤するので、無電解めっき後に行う下記
(8) の加熱処理による脱水、収縮量が大きくなり、めっ
きレジストと導体回路の間に生じる隙間をさらに大きく
することができる。これにより、導体表面の粗化処理に
用いる無電解めっき液やエッチング液の液回りがよくな
り、導体回路の側面の粗化がしやすくなるからである。
Here, in the present invention, the formation of the conductor circuit by the above-described electroless plating is desirably performed after the substrate on which the plating resist is formed is immersed in warm water. At this time, since the plating resist formed on the substrate swells due to the immersion in the warm water, the following is performed after the electroless plating.
(8) The amount of dehydration and shrinkage due to the heat treatment increases, and the gap generated between the plating resist and the conductor circuit can be further increased. Thereby, the flow of the electroless plating solution or the etching solution used for the roughening treatment of the conductor surface is improved, and the side surface of the conductor circuit is easily roughened.

【0042】(8) 特に、本発明では、上記(6),(7) でめ
っきレジスト非形成部分に一次めっき膜と二次めっき膜
からなるバイアホールを含む導体回路を形成した基板
を、 120〜200 ℃、好ましくは 150〜180 ℃の温度で1
〜5時間(最適3時間)、加熱処理することにより、め
っきレジストを硬化により収縮させて、めっきレジスト
と導体回路との対面する各壁面間に隙間を形成すること
が必要である。
(8) In particular, according to the present invention, the substrate in which the conductor circuit including the via hole composed of the primary plating film and the secondary plating film is formed on the portion where the plating resist is not formed in the above (6) and (7), 1 to 200 ° C, preferably 150 to 180 ° C.
Heat treatment for up to 5 hours (optimal 3 hours) requires shrinkage of the plating resist due to curing, and it is necessary to form a gap between each of the facing wall surfaces of the plating resist and the conductor circuit.

【0043】ここで本発明では、上記(8) に記載の処理
を終えた後、めっきレジスト表面の溶解処理を行うこと
で、導体回路とめっきレジストの間に生じた隙間をさら
に大きくすることが望ましい。隙間を大きくすることに
より、導体表面の粗化処理に用いる無電解めっき液やエ
ッチング液の液回りがよくなり、導体回路の側面の粗化
がしやすくなるからである。このとき、前記溶解処理
は、クロム酸や過マンガン酸などの酸化剤、ギ酸や酢
酸、硫酸、塩酸等の酸などを用いる化成処理が望まし
い。
Here, in the present invention, after the treatment described in the above (8) is completed, by performing a dissolution treatment on the surface of the plating resist, it is possible to further increase the gap generated between the conductor circuit and the plating resist. desirable. The reason for this is that by increasing the gap, the electroless plating solution or the etching solution used for the roughening treatment of the conductor surface becomes more circulating, and the side surface of the conductor circuit is easily roughened. At this time, the dissolution treatment is desirably a chemical treatment using an oxidizing agent such as chromic acid or permanganic acid, or an acid such as formic acid, acetic acid, sulfuric acid, or hydrochloric acid.

【0044】また本発明では、上記(8) に記載の処理を
終えた後、導体回路表面の溶解処理を行うことで、導体
回路とめっきレジストの間に生じた隙間をさらに大きく
することが望ましい。隙間を大きくすることにより、導
体表面の粗化処理に用いる無電解めっき液やエッチング
液の液回りがよくなり、導体回路の側面の粗化がしやす
くなるからである。このとき、前記溶解処理は、クロム
酸や過マンガン酸などの酸化剤、ギ酸や酢酸、硫酸、塩
酸等の酸、硫酸と過酸化水素水の混合物、過硫酸アンモ
ニウム、過硫酸ナトリウム、過硫酸カリウムなどの過硫
酸塩の水溶液、塩化第二鉄水溶液、塩化第二銅水溶液、
銅アンモニウム錯体イオンを有するアルカリ性水溶液な
どを用いる化成処理が望ましい。
Further, in the present invention, it is desirable to further increase the gap generated between the conductor circuit and the plating resist by performing the dissolution treatment on the surface of the conductor circuit after completing the process described in (8) above. . The reason for this is that by increasing the gap, the electroless plating solution or the etching solution used for the roughening treatment of the conductor surface becomes more circulating, and the side surface of the conductor circuit is easily roughened. At this time, the dissolving treatment includes an oxidizing agent such as chromic acid and permanganic acid, an acid such as formic acid, acetic acid, sulfuric acid, and hydrochloric acid, a mixture of sulfuric acid and hydrogen peroxide, ammonium persulfate, sodium persulfate, and potassium persulfate. Persulfate aqueous solution, ferric chloride aqueous solution, cupric chloride aqueous solution,
A chemical conversion treatment using an alkaline aqueous solution containing a copper ammonium complex ion is desirable.

【0045】なお、本発明においては、導体回路とめっ
きレジストの間に生じる上記隙間の大きさは0.1〜1
0μmとすることが望ましい。上記隙間の大きさがこの
範囲内にあれば、液回りがよく、めっきレジスト収縮に
伴う無電解めっき用接着剤層に対する応力発生が比較的
少ないからである。
In the present invention, the size of the gap generated between the conductor circuit and the plating resist is 0.1 to 1
Desirably, it is 0 μm. This is because if the size of the gap is within this range, the liquid flow is good and relatively little stress is generated on the adhesive layer for electroless plating due to shrinkage of the plating resist.

【0046】(9) さらに、本発明では、導体回路に対
し、黒化還元処理もしくは、Cu−Ni−Pからなる針状め
っきを施すことにより、その導体回路の表面に粗化層を
形成することが必要である。特に、Cu−Ni−Pからなる
針状めっきの層は、導電性を持つため、バイアホールを
形成する場合でも除去する必要がなく有利に用いること
ができる。かかる粗化層は、その厚さを0.5〜5μm
とすることが望ましい。厚すぎると粗化層自体が損傷、
剥離しやすく、薄すぎると密着性が低下するからであ
る。
(9) Further, in the present invention, a roughening layer is formed on the surface of the conductor circuit by subjecting the conductor circuit to blackening reduction treatment or needle-like plating made of Cu-Ni-P. It is necessary. In particular, since the needle-shaped plating layer made of Cu-Ni-P has conductivity, it does not need to be removed even when forming a via hole and can be advantageously used. Such a roughened layer has a thickness of 0.5 to 5 μm.
It is desirable that If it is too thick, the roughened layer itself will be damaged,
This is because the film is easily peeled off, and if it is too thin, the adhesion is reduced.

【0047】ここで、上記黒化還元処理では、黒化浴と
しては、NaOH、NaClO2、Na3PO4の混合液、また、還元浴
としては、NaOHとNaBH4 の混合液を用いることができ
る。具体的には、酸化浴(黒化浴)としてNaOH(1
0g/l)、NaClO2(40g/l)およびNa3
PO4 (6g/l)の混合液、還元浴として、NaOH
(10g/l)およびNaBH4 (5g/l)の混合液
を用いることができる。
Here, in the above-mentioned blackening reduction treatment, a mixed solution of NaOH, NaClO 2 and Na 3 PO 4 is used as a blackening bath, and a mixed solution of NaOH and NaBH 4 is used as a reducing bath. it can. Specifically, NaOH (1) is used as an oxidation bath (blackening bath).
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l) and Na 3
PO 4 (6 g / l) mixed solution, NaOH as a reducing bath
(10 g / l) and a mixture of NaBH 4 (5 g / l) can be used.

【0048】一方、Cu−Ni−Pからなる針状めっきで
は、硫酸銅、硫酸ニッケル、クエン酸、次亜リン酸ナト
リウム、ホウ酸、界面活性剤からなる無電解めっき液を
使用できる。この無電解めっき液の組成としては、銅イ
オン濃度、ニッケルイオン濃度、次亜リン酸イオン濃度
は、それぞれ2.2×10-2〜4.1×10-2mol/
l、2.2×10-3〜4.1×10-3mol/l、0.
20〜0.25mol/lであることが望ましい。この
範囲で析出するめっき被膜は、結晶構造が針状構造にな
るため、アンカー効果に優れているからである。また、
荏原ユージェライト社製の商品名「インタープレート」
なるめっき液を用いることができる。このような無電解
めっき液を用いて得られる合金層の組成は、銅、ニッケ
ル、リンの割合で、それぞれ90〜96wt%、1〜5wt%、
0.5〜2wt%であることが望ましい。これらの組成割合
のときに、合金層が針状構造を示すからである。
On the other hand, in the needle plating made of Cu-Ni-P, an electroless plating solution containing copper sulfate, nickel sulfate, citric acid, sodium hypophosphite, boric acid, and a surfactant can be used. As for the composition of the electroless plating solution, the copper ion concentration, the nickel ion concentration, and the hypophosphite ion concentration were 2.2 × 10 −2 to 4.1 × 10 −2 mol / mol, respectively.
1, 2.2 × 10 −3 to 4.1 × 10 −3 mol / l,
Desirably, it is 20 to 0.25 mol / l. This is because the plating film deposited in this range has an excellent anchor effect because the crystal structure becomes a needle-like structure. Also,
EBARA Eugerite Co., Ltd. product name "Interplate"
Plating solution can be used. The composition of the alloy layer obtained by using such an electroless plating solution is 90 to 96 wt%, 1 to 5 wt%,
Desirably, it is 0.5 to 2% by weight. This is because the alloy layer has a needle-like structure at these composition ratios.

【0049】さらに、特開平7−292483号公報に
記載されているように、イミダゾール、2−メチルイミ
ダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−
メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−
ウンデシルイミダゾール、ベンズイミダゾールなどのア
ゾール類の第二銅錯体および飽和脂肪酸(ギ酸、プロピ
オン酸、酪酸、吉草酸)、不飽和脂肪酸(アクリル
酸)、脂肪族飽和ジカルボン酸(シュウ酸、マロン酸、
コハク酸)、オキシカルボン酸(グリコール酸、クエン
酸)などの有機酸からなるエッチング液、またはアゾー
ル類の第二銅錯体、有機酸およびフッ素イオン、塩素イ
オン、臭素イオンなどのハロゲンイオンからなるエッチ
ング液を用い、導体回路の表面に粗化層を形成すること
ができる。これらのエッチング液を配線基板の表面にス
プレーすることにより、導体の銅がアゾール類の第二銅
錯体により酸化され、有機酸がこの酸化銅を溶解してエ
ッチングが進行するのである。また、「電子材料 19
95年 10月号」の第26頁から第30頁にかけてメ
ック社製の「MEC etch Bond」なる商品名
のエッチング液が開示されており、このような市販品を
使用することもできる。
Further, as described in JP-A-7-292483, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-
Methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-
Undecyl imidazole, cupric complexes of azoles such as benzimidazole and saturated fatty acids (formic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid), unsaturated fatty acids (acrylic acid), aliphatic saturated dicarboxylic acids (oxalic acid, malonic acid,
Etching solution consisting of organic acids such as succinic acid) and oxycarboxylic acid (glycolic acid, citric acid), or etching consisting of cupric complexes of azoles, organic acids and halogen ions such as fluorine ion, chloride ion and bromine ion Using the liquid, a roughened layer can be formed on the surface of the conductor circuit. By spraying these etching solutions on the surface of the wiring board, the copper of the conductor is oxidized by the cupric complex of azoles, and the organic acid dissolves the copper oxide and the etching proceeds. Also, "Electronic materials 19
An etching solution having a trade name of "MEC etch Bond" manufactured by MEC Corporation is disclosed from page 26 to page 30 of the October 1995 issue, and such a commercially available product can also be used.

【0050】なお、Cu−Ni−Pからなる針状めっきに代
表される上記粗化層は、イオン化傾向が銅よりも大きく
かつチタンよりも小さい金属や貴金属で表面被覆される
ことが望ましい。かかる被覆金属層の厚さは0.1〜2
μmとすることが望ましい。特にスズは、置換めっきが
でき、針状形状を破壊せず、また局部電池反応を抑制し
て針状めっきの層の溶解を防止できる点で好適である。
このスズによる置換反応は、ホウふっ化スズ、チオ尿素
からなる混合液を用いて行うことが望ましい。
It is desirable that the above-mentioned roughened layer typified by needle-shaped plating made of Cu-Ni-P is surface-coated with a metal or a noble metal whose ionization tendency is larger than copper and smaller than titanium. The thickness of the coating metal layer is 0.1 to 2
μm is desirable. In particular, tin is preferable because it can be subjected to displacement plating, does not destroy the needle-like shape, and can suppress local battery reaction to prevent dissolution of the needle-like plating layer.
This substitution reaction with tin is desirably performed using a mixed solution composed of tin borofluoride and thiourea.

【0051】ここで、イオン化傾向が銅より大きくチタ
ン以下の金属としては、チタン、アルミニウム、亜鉛、
鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、ス
ズ、鉛、ビスマスから選ばれるいずれか少なくとも1種
がある。貴金属としては、金、銀、白金、パラジウムが
ある。これらの金属のうち、特にスズがよい。スズは無
電解置換めっきにより薄い層を形成でき、粗化層に追従
できるため有利である。具体的には、ホウフッ化スズ
0.1mol/l、チオ尿素1.0mol/l、温度5
0℃、pH=1.2の条件の無電解置換めっき液を採用
できる。
Here, the metals having an ionization tendency higher than copper and lower than titanium include titanium, aluminum, zinc,
There is at least one selected from iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, and bismuth. Noble metals include gold, silver, platinum and palladium. Of these metals, tin is particularly preferred. Tin is advantageous because it can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow the roughened layer. Specifically, tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l, temperature 5
An electroless displacement plating solution under the conditions of 0 ° C. and pH = 1.2 can be employed.

【0052】(10)さらに、必要に応じて、めっきレジス
トの表面とバイアホールを含む導体回路の表面が同一面
に揃うように研磨し、 (2)〜(8) または(9) の処理を繰
り返して、所望の多層プリント配線板を得る。こうして
得られた多層プリント配線板の表層は、層間樹脂絶縁層
の表面が粗化され、その粗化面にめっきレジストが形成
され、このめっきレジストの非形成面に導体回路が露出
した状態で設けられた構造になっている。このため、露
出した上記導体回路は、はんだ層を形成する部分に開口
を有するソルダーレジストで被覆して保護する。
(10) Further, if necessary, the surface of the plating resist and the surface of the conductive circuit including via holes are polished so as to be flush with each other, and the processing of (2) to (8) or (9) is performed. By repeating, a desired multilayer printed wiring board is obtained. The surface layer of the multilayer printed wiring board thus obtained is provided in a state where the surface of the interlayer resin insulating layer is roughened, a plating resist is formed on the roughened surface, and the conductor circuit is exposed on the non-formed surface of the plating resist. It has a structure. Therefore, the exposed conductor circuit is protected by covering with a solder resist having an opening in a portion where a solder layer is to be formed.

【0053】(11) そして、上記ソルダーレジスト開口
部のはんだ層を形成する部分(パッド部分)に、ニッケ
ル−金めっきを施し、この部分に、はんだ転写法やスク
リーン印刷法などにより、はんだ層を形成する。なお、
はんだ転写法は、フィルム上にはんだパターンを形成
し、このはんだパターンをパッドに接触させながら加熱
リフローしてはんだをパッドに転写する方法である。な
お、はんだ層ははんだバンプであってもよい。
(11) Then, nickel-gold plating is applied to a portion (pad portion) of the solder resist opening where the solder layer is to be formed, and the solder layer is formed on this portion by a solder transfer method or a screen printing method. Form. In addition,
The solder transfer method is a method in which a solder pattern is formed on a film, and the solder pattern is transferred to the pad by heating and reflowing while the solder pattern is in contact with the pad. Note that the solder layer may be a solder bump.

【0054】[0054]

【実施例】以下に、本発明を実施例を用いて説明する。 (実施例1) (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマ
レイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に18μ
mの銅箔9がラミネートされてなる銅張積層板を出発材
料とした(図1(a) 参照)。この銅張積層板の銅箔9を
常法に従いパターン状にエッチングすることにより、基
板1の両面に内層銅パターン2を形成した(図1(b) 参
照)。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to embodiments. Example 1 (1) 18 μm on both sides of a substrate 1 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm.
A copper-clad laminate obtained by laminating m copper foils 9 was used as a starting material (see FIG. 1 (a)). By etching the copper foil 9 of the copper-clad laminate in a pattern according to a conventional method, the inner layer copper pattern 2 was formed on both surfaces of the substrate 1 (see FIG. 1B).

【0055】(2) 前記(1) で内層銅パターン2を形成し
た基板を水洗いし、乾燥した後、その基板を酸性脱脂し
てソフトエッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機
酸からなる触媒溶液で処理してPd触媒を付与し、この
触媒を活性化した後、無電解めっき浴にてめっきを施
し、銅導電体とバイアホールパッドの表面にCu−Ni−P
合金の厚さ2.5 μmの凹凸層(粗化面)を形成した。そ
してさらに、その基板を水洗いし、ホウふっ化スズーチ
オ尿素液からなる無電解スズめっき浴に50℃で1時間浸
漬し、前記Cu−Ni−P合金の粗化面の表面に厚さ0.3 μ
mのスズ置換めっき層を形成した(なお、上記凹凸層お
よびスズ置換めっき層は、図1において省略する。)。
(2) The substrate on which the inner layer copper pattern 2 has been formed in the above (1) is washed with water and dried, and then the substrate is acid-degreased and soft-etched. Then, the substrate is treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid. After treatment to give a Pd catalyst and activate this catalyst, plating is carried out in an electroless plating bath, and Cu-Ni-P
An uneven layer (roughened surface) having a thickness of 2.5 μm of the alloy was formed. Further, the substrate was washed with water and immersed in an electroless tin plating bath composed of a tin borofluoride-thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour, and a 0.3 μm-thick surface was formed on the roughened surface of the Cu-Ni-P alloy.
m of tin-substituted plating layers were formed (note that the above-mentioned uneven layer and tin-substituted plating layers are omitted in FIG. 1).

【0056】(3) クレゾールノボラックエポキシ樹脂の
25%アクリル化物(日本化薬製)70重量部、ポリエーテ
ルスルフォン(三井東圧製)25重量部、ベンゾフェノン
4重量部、ミヒラーケトン0.4 重量部およびイミダゾー
ル系硬化剤を混合した後、N−メチルピロリドン(NM
P)を添加しながらホモディスパ攪拌器で粘度30Pa・s
に調整し、さらに3本ロールで混練して層間絶縁剤を得
た。
(3) Cresol novolak epoxy resin
After mixing 70 parts by weight of a 25% acrylate (manufactured by Nippon Kayaku), 25 parts by weight of polyether sulfone (manufactured by Mitsui Toatsu), 4 parts by weight of benzophenone, 0.4 part by weight of Michler's ketone and an imidazole-based curing agent, N-methylpyrrolidone is mixed. (NM
While adding P), the viscosity is 30 Pa · s with a homodisper stirrer.
And kneaded with three rolls to obtain an interlayer insulating agent.

【0057】(4) DMDG(ジエチレングリコールジメ
チルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化
物を70重量部、ポリエーテルスルフォン(PES)30重
量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4M
Z-CN)4重量部、感光性モノマーであるカプロラクトン
変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東
亜合成製、商品名:アロニックスM325 )10重量部、光
開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)5重量
部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)0.
5 重量部、さらにこの混合物に対してエポキシ樹脂粒子
の平均粒径5.5 μmのものを35重量部、平均粒径0.5 μ
mのものを5重量部を混合した後、ノルマルメチルピロ
リドン(NMP)を添加しながら混合し、ホモディスパ
ー攪拌機で粘度2000cps に調整し、続いて3本ロールで
混練して感光性接着剤溶液を得た。
(4) 70% by weight of a 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), 30 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4M
4 parts by weight of Z-CN), 10 parts by weight of caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name: Alonix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) as a photosensitive monomer, and benzophenone (manufactured by Kanto Chemical) 5 as a photoinitiator Parts by weight, Michler's ketone as a photosensitizer (Kanto Chemical)
5 parts by weight, 35 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 5.5 μm,
After mixing 5 parts by weight of m, the mixture was mixed while adding normal methylpyrrolidone (NMP), the viscosity was adjusted to 2000 cps with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls to obtain a photosensitive adhesive solution. Obtained.

【0058】(5) 前記(3) で得た層間絶縁剤を、前記
(2) の処理を終えた基板の両面に、ロールコータを用い
て塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で乾燥
(プリベーク)を行い、絶縁剤層3を形成した。さらに
絶縁剤層3の上に、前記(4) で得た感光性接着剤溶液
を、ロールコータを用いて塗布し、水平状態で20分間放
置してから、60℃で乾燥(プリベーク)を行い、接着剤
層4を形成した(図1(c) 参照)。
(5) The interlayer insulating agent obtained in the above (3) is
Using a roll coater, both surfaces of the substrate after the treatment of (2) were applied, left in a horizontal state for 20 minutes, and then dried (prebaked) at 60 ° C. to form an insulating layer 3. Further, the photosensitive adhesive solution obtained in the above (4) is applied on the insulating layer 3 by using a roll coater, left in a horizontal state for 20 minutes, and then dried (prebaked) at 60 ° C. Then, an adhesive layer 4 was formed (see FIG. 1 (c)).

【0059】(6) 前記(5) で絶縁剤層3と接着剤層4か
らなる層間樹脂絶縁層を形成した基板の両面に、バイア
ホールが描画されたフォトマスクフィルムを載置し、紫
外線を照射して露光する。 (7) 露光した基板をトリエチレングリコールジメチルエ
ーテル(DMTG)でスプレー現像することにより、層
間樹脂絶縁層に 100μmφのバイアホールとなる開口を
形成した。さらに、当該基板を超高圧水銀灯にて3000mJ
/cm2 で露光し、100℃で1時間、その後 150℃で5時
間加熱処理することにより、フォトマスクフィルムに相
当する寸法精度に優れた開口(バイアホール形成用開口
5)を有する厚さ50μmの層間樹脂絶縁層(2層構造)
を形成した。なお、バイアホールとなる開口には、スズ
メッキ層を部分的に露出させる。
(6) A photomask film on which via holes are drawn is placed on both sides of the substrate on which the interlayer resin insulating layer composed of the insulating layer 3 and the adhesive layer 4 is formed in the above (5). Irradiate and expose. (7) The exposed substrate was spray-developed with triethylene glycol dimethyl ether (DMTG) to form an opening as a 100 μmφ via hole in the interlayer resin insulating layer. Furthermore, the substrate is 3,000 mJ
/ Cm 2 , and heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 5 hours to obtain a 50 μm-thick film having an opening (via hole forming opening 5) with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film. Interlayer resin insulation layer (two-layer structure)
Was formed. Note that the tin plating layer is partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0060】(8) 前記(6),(7) でバイアホール形成用開
口5を形成した基板を、クロム酸に2分間浸漬し、次い
で、層間樹脂絶縁層中のエポキシ樹脂粒子を溶解して、
当該層間樹脂絶縁層の表面を粗化し、その後、中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬したから水洗いした(図1(d)
参照)。
(8) The substrate having the via hole forming openings 5 formed in the above (6) and (7) is immersed in chromic acid for 2 minutes, and then the epoxy resin particles in the interlayer resin insulating layer are dissolved. ,
The surface of the interlayer resin insulation layer was roughened, and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water (FIG. 1 (d)).
reference).

【0061】(9) 前記(8) で粗面化処理を行った基板に
対し、パラジウム触媒(アトテック製)を付与すること
により、層間樹脂絶縁層およびバイアホール用開口の表
面に触媒核を付けた。
(9) By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the substrate subjected to the surface roughening treatment in the above (8), a catalyst nucleus is formed on the surface of the interlayer resin insulating layer and the opening of the via hole. Was.

【0062】(10)DMDGに溶解させた60重量部のクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポ
キシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー
(分子量4000)を46.67 g、メチルエチルケトンに溶解
させた80重量部のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油
化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダゾール硬
化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感光性
モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、商
品名:R604 )3.0 g、同じく多価アクリルモノマー
(共栄社化学製、商品名:DPE6A )1.5 gを混合し、さ
らにこれらの混合物の全重量に対して 0.5重量部の2-エ
チルヘキシルアクリレート、ブチルアクリレート、エチ
ルアクリレート、ヒドロキシアクリレートからなるアク
リル酸エステルポリマーを0.36g、NMPに溶解させた
30%ポリエーテルスルフォン(PES)を12g 混合し
て攪拌して混合液Aを調製した。一方で、光開始剤とし
てのベンゾフェノン(関東化学製)2g、光増感剤とし
てのミヒラーケトン(関東化学製)0.2 gを40℃に加温
した3gのDMDGに溶解させて混合液Bを調製した。
上記混合液Aと上記混合液Bを混合攪拌して液状レジス
ト組成物を得た。
(10) 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight: 4000) obtained by acrylizing 50% of an epoxy group of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) in 60 parts by weight of DMDG dissolved in methyl ethyl ketone. 15.0 g of 80 parts by weight of dissolved bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001), 1.6 g of imidazole hardener (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), polyvalent acrylic as a photosensitive monomer A monomer (Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name: R604) (3.0 g) and a polyvalent acrylic monomer (Kyoeisha Chemical, trade name: DPE6A) 1.5 g were mixed, and 0.5 part by weight based on the total weight of these mixtures. 0.36 g of acrylate polymer consisting of 2-ethylhexyl acrylate, butyl acrylate, ethyl acrylate and hydroxy acrylate was dissolved in NMP. 30% polyethersulfone obtained by (PES) to prepare a mixed liquid A was stirred with 12g mixed. On the other hand, a mixed solution B was prepared by dissolving 2 g of benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Kagaku) and 0.2 g of Michler's ketone as a photosensitizer (manufactured by Kanto Kagaku) in 3 g of DMDG heated to 40 ° C. .
The liquid mixture A and the liquid mixture B were mixed and stirred to obtain a liquid resist composition.

【0063】(11)上記(9) で触媒核付与の処理を終えた
基板の両面に、上記液状レジスト組成物をロールコータ
ーを用いて塗布し、70℃で60分の乾燥を行い、PESと
エポキシアクリレートを相分離させて、厚さ30μm樹脂
層を形成した。
(11) The liquid resist composition is applied on both sides of the substrate, which has been subjected to the treatment for providing catalyst nuclei in the above (9), using a roll coater, dried at 70 ° C. for 60 minutes, and dried with PES. The epoxy acrylate was phase-separated to form a 30 μm thick resin layer.

【0064】(12)上記(11)で形成した樹脂層にパターン
が描画されたマスクを積層し、1000mJ/cm2 の条件で紫
外線を照射して露光硬化した。
(12) A mask on which a pattern was drawn was laminated on the resin layer formed in the above (11), and the film was exposed to ultraviolet light under the conditions of 1000 mJ / cm 2 and cured by exposure.

【0065】(13)上記(12)で露光硬化した樹脂層をDM
TG+水からなる現像液で溶解現像し、基板上に導体回
路パターン部の抜けためっきレジストを形成し、更に、
超高圧水銀灯にて6000mJ/cm2 で露光硬化した。
(13) The resin layer exposed and cured in the step (12) is
Dissolve and develop with a developing solution composed of TG + water to form a plating resist on the substrate where the conductor circuit pattern portion has been removed.
It was exposed and cured with an ultrahigh pressure mercury lamp at 6000 mJ / cm 2 .

【0066】(14)前記(13)の処理を終えた基板に、予
め、めっき前処理(具体的には硫酸処理等および触媒核
の活性化)を行い、その後、無電解銅めっき浴(一次め
っき浴、二次めっき浴)による無電解めっきによって、
レジスト非形成部に厚さ15μm程度の無電解銅めっきを
析出させて、外層銅パターン7,バイアホール8を形成
することにより、アディティブ法による導体層を形成し
た(図1(e) 参照)。
(14) A pre-plating treatment (specifically, a sulfuric acid treatment or the like and activation of catalyst nuclei) is performed on the substrate after the treatment of the above (13) in advance, and thereafter, an electroless copper plating bath (primary plating) is performed. Electroless plating by plating bath, secondary plating bath)
Electroless copper plating having a thickness of about 15 μm was deposited on the non-resist-formed portions to form outer layer copper patterns 7 and via holes 8, thereby forming a conductor layer by an additive method (see FIG. 1 (e)).

【0067】(15)前記(14)で導体層を形成した基板に対
し、100 ℃で1時間、さらに、 150℃で3時間の加熱処
理を行い、層間樹脂絶縁層の上の永久レジスト6を、X
−Y方向に3μm、Z方向に2〜3μm、硬化収縮させ
ることにより、永久レジスト6と導体回路7,8の対面
する各壁面間に隙間を形成した。
(15) The substrate on which the conductor layer has been formed in the above (14) is subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and further at 150 ° C. for 3 hours to remove the permanent resist 6 on the interlayer resin insulation layer. , X
A gap was formed between the permanent resist 6 and each of the facing walls of the conductor circuits 7 and 8 by curing and shrinking by 3 μm in the −Y direction and 2 to 3 μm in the Z direction.

【0068】(16)さらに、本実施例では、黒化浴(酸化
浴)としてNaOH(10g/l),NaClO2(40g/l),Na
3PO4(6g/l)の混合液を用いて、銅導体回路の表面
を酸化して粗化層10を設け、次いで、還元浴としてNaOH
とNaBH4 の混合液を用いて、その表面を還元した(図1
(f) 参照)。
(16) Further, in this embodiment, NaOH (10 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na
Using a mixed solution of 3 PO 4 (6 g / l), the surface of the copper conductor circuit is oxidized to provide a roughened layer 10, and then NaOH is used as a reducing bath.
Using a mixture of NaBH 4 and was reduced and the surface (Fig. 1
(f)).

【0069】(17)そして、前述の(5) 〜(15)の工程を繰
り返すことにより、アディティブ法による導体層を更に
もう一層形成した。このように配線層をビルドアップし
ていくことにより6層の多層プリント配線板を形成した
(図1(g) 参照)。
(17) By repeating the above-mentioned steps (5) to (15), further conductive layers were formed by the additive method. By building up the wiring layers in this way, a six-layer multilayer printed wiring board was formed (see FIG. 1 (g)).

【0070】(実施例2)実施例1における(16)の工程
において、導体回路の表面に粗化層を形成するために、
まず、導体回路を形成した基板に対し、硫酸銅(0.05 m
ol/l)、硫酸ニッケル(0.0039 mol/l)、クエン酸
(0.078mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(0.33 mol/
l)、ホウ酸(0.5mol/l)、界面活性剤( 0.1g/
l)からなる無電解めっき液(pH=9)を用いてめっき
処理を行い、導体回路の表面にCu−Ni−Pからなる針状
めっき層を形成し、次いで、ホウふっ化スズ(0.1mol/
l)、チオ尿素(1.0mol/l)からなる置換めっき液
(温度50℃)を用いて、Cu−Ni−Pからなる厚さ3μm
の前記針状めっき層の表面を厚さ0.3μmのスズで置
換したこと以外は、実施例1と同様にして6層の多層プ
リント配線板を形成した(図1(f) 参照)。
(Embodiment 2) In the step (16) in Embodiment 1, in order to form a roughened layer on the surface of a conductor circuit,
First, a copper sulfate (0.05 m
ol / l), nickel sulfate (0.0039 mol / l), citric acid (0.078 mol / l), sodium hypophosphite (0.33 mol / l)
l), boric acid (0.5 mol / l), surfactant (0.1 g /
1) A plating process is performed using an electroless plating solution (pH = 9), a needle-like plating layer made of Cu-Ni-P is formed on the surface of the conductor circuit, and then tin borofluoride (0.1 mol /
l), using a displacement plating solution (temperature: 50 ° C) consisting of thiourea (1.0 mol / l), a thickness of 3 µm consisting of Cu-Ni-P
A six-layer multilayer printed wiring board was formed in the same manner as in Example 1 except that the surface of the needle-shaped plating layer was replaced with tin having a thickness of 0.3 μm (see FIG. 1 (f)).

【0071】(実施例3)本実施例では、実施例1にお
ける(15)の処理の後に、基板を、 800g/lのクロム酸
に70℃で5分間浸漬して、めっきレジスト表面を2μm
溶解し、めっきレジスト6と導体回路7,8の対面する
各壁面間に形成した隙間をさらに大きくした。そしてさ
らに実施例1における(16)の処理に代えて、硫酸銅(0.
05 mol/l)、硫酸ニッケル(0.0039 mol/l)、クエ
ン酸(0.078mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(0.33 m
ol/l)、ホウ酸(0.5mol/l)、界面活性剤(0.5 g
/l)からなる無電解めっき液(pH=9)を用いてめっ
き処理を行い、導体回路の表面にCu−Ni−Pからなる針
状めっき層を形成し、次いで、ホウ酸フッ化スズ(0.1m
ol/l)、チオ尿素(1.0mol/l)からなる置換めっき
液(温度50℃)を用いて、Cu−Ni−Pからなる前記針状
めっき層の表面をスズで置換した。
Example 3 In this example, after the treatment (15) in Example 1, the substrate was immersed in 800 g / l of chromic acid at 70 ° C. for 5 minutes to reduce the plating resist surface to 2 μm.
After melting, the gap formed between the plating resist 6 and each of the facing wall surfaces of the conductor circuits 7 and 8 was further increased. Further, instead of the treatment of (16) in Example 1, copper sulfate (0.
05 mol / l), nickel sulfate (0.0039 mol / l), citric acid (0.078 mol / l), sodium hypophosphite (0.33 m
ol / l), boric acid (0.5 mol / l), surfactant (0.5 g)
/ L) to perform a plating treatment using an electroless plating solution (pH = 9), to form a needle-shaped plating layer made of Cu-Ni-P on the surface of the conductor circuit, and then to perform tin borate ( 0.1m
ol / l) and thiourea (1.0 mol / l) using a displacement plating solution (temperature: 50 ° C.), the surface of the needle-shaped plating layer made of Cu—Ni—P was replaced with tin.

【0072】本実施例は、上記以外に、以下に述べる
とに変更したこと以外は、実施例1と同様にして6層
の多層プリント配線板を形成した(図4参照)。 .実施例1における (4)の工程において、DMDG
(ジエチレングリコールジメチルエーテル)に溶解した
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製、分
子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、ポリエーテ
ルスルフォン(PES)12重量部、イミダゾール硬化剤
(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)2重量部、感光性モ
ノマーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエ
チル)イソシアヌレート(東亜合成製、商品名:アロニ
ックスM325 )4重量部、光開始剤としてのベンゾフェ
ノン(関東化学製)2重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学製)0.2 重量部、さらにこの混合物
に対してエポキシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリ
マーポール)の平均粒径3.0 μmのものを10.3重量部、
平均粒径0.5 μmのものを3.09重量部を混合した後、ノ
ルマルメチルピロリドン(NMP)を添加しながら混合
し、ホモディスパー攪拌機で粘度7Pa・sに調整し、続
いて3本ロールで混練して感光性接着剤溶液を得た。
In this embodiment, a six-layered multilayer printed wiring board was formed in the same manner as in Embodiment 1 except that the following changes were made in addition to the above (see FIG. 4). . In step (4) in Example 1, DMDG
35 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in (diethylene glycol dimethyl ether), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.) Name: 2E4MZ-CN) 2 parts by weight, 4 parts by weight of caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name: Alonix M325) manufactured by Toagosei Co., Ltd., benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) ) 2 parts by weight, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer, and an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: Polymer Pole) having an average particle diameter of 3.0 μm was added to this mixture. 10.3 parts by weight,
After mixing 3.09 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, mixing was performed while adding normal methylpyrrolidone (NMP), and the mixture was adjusted to a viscosity of 7 Pa · s with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls. A photosensitive adhesive solution was obtained.

【0073】.実施例1における(10)の工程におい
て、DMDGに溶解させた60重量部のクレゾールノボラ
ック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基50%を
アクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量4000)
を46.67 g、メチルエチルケトンに溶解させた80重量部
のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エ
ピコート1001)15.0g、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノマーである
多価アクリルモノマー(日本化薬製、商品名:R604 )
1.5 g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、
商品名:DPE6A )3.0 gを混合し、さらにこれらの混合
物の全重量に対して 0.5重量部の2-エチルヘキシルアク
リレート、ブチルアクリレート、エチルアクリレート、
ヒドロキシアクリレートからなるアクリル酸エステルポ
リマーを0.36g混合して攪拌して混合液Aを調製し、一
方で、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)
2g、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)
0.2 gを40℃に加温した3gのDMDGに溶解させて混
合液Bを調製し、これらを混合して液状レジスト組成物
を得た。
[0073] In the step (10) in Example 1, a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of epoxy groups of 60 parts by weight of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG.
46.67 g, 15.0 g of 80 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, 1.6 g of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), photosensitive property Polyacrylic monomer as a monomer (Nippon Kayaku, trade name: R604)
1.5 g, also polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical,
Trade name: DPE6A) 3.0 g, and 0.5 part by weight based on the total weight of these mixtures of 2-ethylhexyl acrylate, butyl acrylate, ethyl acrylate
Mixture A was prepared by mixing and stirring 0.36 g of an acrylate polymer composed of hydroxyacrylate, while benzophenone as a photoinitiator (Kanto Chemical)
2g, Michler's ketone as photosensitizer (Kanto Chemical)
0.2 g was dissolved in 3 g of DMDG heated to 40 ° C. to prepare a mixed solution B, and these were mixed to obtain a liquid resist composition.

【0074】(実施例4)本実施例では、実施例1にお
ける(15)の処理の後に、基板を、過酸化水素水12g/
l、硫酸40g/lからなるエッチング液に30℃で3分間
浸漬して、導体回路表面を2μm溶解し、めっきレジス
ト6と導体回路7,8の対面する各壁面間に形成した隙
間をさらに大きくした。そしてさらに実施例1における
(16)の処理に代えて、硫酸銅(0.05 mol/l)、硫酸ニ
ッケル(0.0039 mol/l)、クエン酸(0.078mol/
l)、次亜リン酸ナトリウム(0.33 mol/l)、ホウ酸
(0.5mol/l)、界面活性剤(0.5 g/l)からなる無
電解めっき液(pH=9)を用いてめっき処理を行い、導
体回路の表面にCu−Ni−Pからなる針状めっき層を形成
し、次いで、ホウ酸フッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿
素(1.0mol/l)からなる置換めっき液(温度50℃)を
用いて、Cu−Ni−Pからなる前記針状めっき層の表面を
スズで置換した。
(Embodiment 4) In this embodiment, after the process (15) in the first embodiment, the substrate is treated with 12 g of hydrogen peroxide / water.
immersed in an etching solution consisting of 40 g / l of sulfuric acid at 30 ° C. for 3 minutes to dissolve the conductor circuit surface by 2 μm, and to further increase the gap formed between the plating resist 6 and the facing wall surfaces of the conductor circuits 7 and 8. did. And further in Example 1.
Instead of the treatment of (16), copper sulfate (0.05 mol / l), nickel sulfate (0.0039 mol / l), citric acid (0.078 mol / l)
l), electroless plating solution (pH = 9) composed of sodium hypophosphite (0.33 mol / l), boric acid (0.5 mol / l) and surfactant (0.5 g / l) Then, a needle-shaped plating layer made of Cu-Ni-P is formed on the surface of the conductor circuit, and then a displacement plating solution made of tin fluoride fluoride (0.1 mol / l) and thiourea (1.0 mol / l) Using a temperature of 50 ° C.), the surface of the needle-shaped plating layer made of Cu—Ni—P was replaced with tin.

【0075】本実施例は、上記以外に、以下に述べる
とに変更したこと以外は、実施例1と同様にして6層
の多層プリント配線板を形成した(図5参照)。 .実施例1における (4)の工程において、DMDG
(ジエチレングリコールジメチルエーテル)に溶解した
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製、分
子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、ポリエーテ
ルスルフォン(PES)12重量部、イミダゾール硬化剤
(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)2重量部、感光性モ
ノマーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエ
チル)イソシアヌレート(東亜合成製、商品名:アロニ
ックスM325 )4重量部、光開始剤としてのベンゾフェ
ノン(関東化学製)2重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学製)0.2 重量部、さらにこの混合物
に対してエポキシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリ
マーポール)の平均粒径3.0 μmのものを10.3重量部、
平均粒径0.5 μmのものを3.09重量部を混合した後、ノ
ルマルメチルピロリドン(NMP)を添加しながら混合
し、ホモディスパー攪拌機で粘度7Pa・sに調整し、続
いて3本ロールで混練して感光性接着剤溶液を得た。
In the present example, a six-layered multilayer printed wiring board was formed in the same manner as in Example 1 except that the following changes were made in addition to the above (see FIG. 5). . In step (4) in Example 1, DMDG
35 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in (diethylene glycol dimethyl ether), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.) Name: 2E4MZ-CN) 2 parts by weight, 4 parts by weight of caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name: Alonix M325) manufactured by Toagosei Co., Ltd., benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) ) 2 parts by weight, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer, and an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: Polymer Pole) having an average particle diameter of 3.0 μm was added to this mixture. 10.3 parts by weight,
After mixing 3.09 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, mixing was performed while adding normal methylpyrrolidone (NMP), and the mixture was adjusted to a viscosity of 7 Pa · s with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls. A photosensitive adhesive solution was obtained.

【0076】.実施例1における(10)の工程におい
て、DMDGに溶解させた60重量部のクレゾールノボラ
ック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基50%を
アクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量4000)
を46.67 g、メチルエチルケトンに溶解させた80重量部
のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エ
ピコート1001)15.0g、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノマーである
多価アクリルモノマー(日本化薬製、商品名:R604 )
1.5 g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、
商品名:DPE6A )3.0 gを混合し、さらにこれらの混合
物の全重量に対して 0.5重量部の2-エチルヘキシルアク
リレート、ブチルアクリレート、エチルアクリレート、
ヒドロキシアクリレートからなるアクリル酸エステルポ
リマーを0.36g混合して攪拌して混合液Aを調製し、一
方で、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)
2g、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)
0.2 gを40℃に加温した3gのDMDGに溶解させて混
合液Bを調製し、これらを混合して液状レジスト組成物
を得た。
. In the step (10) in Example 1, a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of epoxy groups of 60 parts by weight of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG.
46.67 g, 15.0 g of 80 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, 1.6 g of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), photosensitive property Polyacrylic monomer as a monomer (Nippon Kayaku, trade name: R604)
1.5 g, also polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical,
Trade name: DPE6A) 3.0 g, and 0.5 part by weight based on the total weight of these mixtures of 2-ethylhexyl acrylate, butyl acrylate, ethyl acrylate
Mixture A was prepared by mixing and stirring 0.36 g of an acrylate polymer composed of hydroxyacrylate, while benzophenone as a photoinitiator (Kanto Chemical)
2g, Michler's ketone as photosensitizer (Kanto Chemical)
0.2 g was dissolved in 3 g of DMDG heated to 40 ° C. to prepare a mixed solution B, and these were mixed to obtain a liquid resist composition.

【0077】(実施例5)実施例1における(12)および
(13)の露光硬化時に、25℃の空気を吹きつけて冷却しな
がら露光硬化を行った。このとき、実施例1よりもさら
に 0.5μm程度大きな隙間を形成することができた。そ
してさらに、実施例1における(16)の処理に代えて、メ
ック社製の商品名「メックエッチボンドCZ」なるエッ
チング液を用いる処理を行い、導体回路の表面を粗化処
理したこと以外は、実施例1と同様にして6層の多層プ
リント配線板を形成した(図6参照)。
(Embodiment 5) (12) and
At the time of exposure curing of (13), exposure curing was performed while blowing air at 25 ° C. to cool. At this time, a gap larger by about 0.5 μm than in Example 1 could be formed. In addition, in place of the treatment of (16) in Example 1, a treatment using an etching solution having a trade name of “Mech etch bond CZ” manufactured by Mec Co., Ltd. was performed, and the surface of the conductor circuit was roughened. A six-layer multilayer printed wiring board was formed in the same manner as in Example 1 (see FIG. 6).

【0078】(実施例6)本実施例では、実施例1にお
ける(13)の処理の後に、基板を、90℃の温水に15分間浸
漬してめっきレジスト6を膨潤させ、次いで、実施例1
における(14)および(15)の処理により、めっきレジスト
6と導体回路7,8の対面する各壁面間に4μmの隙間
を形成した。このときの隙間は、実施例1よりも大きい
隙間であった。そしてさらに実施例1における(16)の処
理に代えて、硫酸銅(0.05 mol/l)、硫酸ニッケル
(0.0039 mol/l)、クエン酸(0.078mol/l)、次亜
リン酸ナトリウム(0.33 mol/l)、ホウ酸(0.5mol/
l)、界面活性剤(0.5 g/l)からなる無電解めっき
液(pH=9)を用いてめっき処理を行い、導体回路の表
面にCu−Ni−Pからなる針状めっき層を形成し、次い
で、ホウ酸フッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素(1.0m
ol/l)からなる置換めっき液(温度50℃)を用いて、
Cu−Ni−Pからなる前記針状めっき層の表面をスズで置
換した。
(Embodiment 6) In this embodiment, after the process (13) in the embodiment 1, the substrate is immersed in warm water of 90 ° C. for 15 minutes to swell the plating resist 6, and then the embodiment 1
By the processes (14) and (15) in the above, a gap of 4 μm was formed between the plating resist 6 and the wall surfaces of the conductor circuits 7 and 8 facing each other. The gap at this time was larger than that in Example 1. Further, instead of the treatment of (16) in Example 1, copper sulfate (0.05 mol / l), nickel sulfate (0.0039 mol / l), citric acid (0.078 mol / l), sodium hypophosphite (0.33 mol / l) / L), boric acid (0.5mol /
1) Plating using an electroless plating solution (pH = 9) comprising a surfactant (0.5 g / l) to form a needle-like plating layer comprising Cu-Ni-P on the surface of the conductor circuit. Then, tin fluoride borate (0.1 mol / l), thiourea (1.0 m
ol / l) using a displacement plating solution (temperature 50 ° C.)
The surface of the needle-shaped plating layer made of Cu-Ni-P was replaced with tin.

【0079】本実施例は、上記以外に、以下に述べる
とに変更したこと以外は、実施例1と同様にして6層
の多層プリント配線板を形成した。 .実施例1における (4)の工程において、DMDG
(ジエチレングリコールジメチルエーテル)に溶解した
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製、分
子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、ポリエーテ
ルスルフォン(PES)12重量部、イミダゾール硬化剤
(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)2重量部、感光性モ
ノマーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエ
チル)イソシアヌレート(東亜合成製、商品名:アロニ
ックスM325 )4重量部、光開始剤としてのベンゾフェ
ノン(関東化学製)2重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学製)0.2 重量部、さらにこの混合物
に対してエポキシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリ
マーポール)の平均粒径3.0 μmのものを10.3重量部、
平均粒径0.5 μmのものを3.09重量部を混合した後、ノ
ルマルメチルピロリドン(NMP)を添加しながら混合
し、ホモディスパー攪拌機で粘度7Pa・sに調整し、続
いて3本ロールで混練して感光性接着剤溶液を得た。
In this example, a six-layered multilayer printed wiring board was formed in the same manner as in Example 1 except that the following changes were made. . In step (4) in Example 1, DMDG
35 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in (diethylene glycol dimethyl ether), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.) Name: 2E4MZ-CN) 2 parts by weight, 4 parts by weight of caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name: Alonix M325) manufactured by Toagosei Co., Ltd., benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) ) 2 parts by weight, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer, and an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: Polymer Pole) having an average particle diameter of 3.0 μm was added to this mixture. 10.3 parts by weight,
After mixing 3.09 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, mixing was performed while adding normal methylpyrrolidone (NMP), and the mixture was adjusted to a viscosity of 7 Pa · s with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls. A photosensitive adhesive solution was obtained.

【0080】.実施例1における(10)の工程におい
て、DMDGに溶解させた60重量部のクレゾールノボラ
ック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基50%を
アクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量4000)
を46.67 g、メチルエチルケトンに溶解させた80重量部
のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エ
ピコート1001)15.0g、イミダゾール硬化剤(四国化成
製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノマーである
多価アクリルモノマー(日本化薬製、商品名:R604 )
1.5 g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、
商品名:DPE6A )3.0 gを混合し、さらにこれらの混合
物の全重量に対して 0.5重量部の2-エチルヘキシルアク
リレート、ブチルアクリレート、エチルアクリレート、
ヒドロキシアクリレートからなるアクリル酸エステルポ
リマーを0.36g混合して攪拌して混合液Aを調製し、一
方で、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)
2g、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)
0.2 gを40℃に加温した3gのDMDGに溶解させて混
合液Bを調製し、これらを混合して液状レジスト組成物
を得た。
[0080] In the step (10) in Example 1, a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of epoxy groups of 60 parts by weight of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG.
46.67 g, 15.0 g of 80 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, 1.6 g of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), photosensitive property Polyacrylic monomer as a monomer (Nippon Kayaku, trade name: R604)
1.5 g, also polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical,
Trade name: DPE6A) 3.0 g, and 0.5 part by weight based on the total weight of these mixtures of 2-ethylhexyl acrylate, butyl acrylate, ethyl acrylate
Mixture A was prepared by mixing and stirring 0.36 g of an acrylate polymer composed of hydroxyacrylate, while benzophenone as a photoinitiator (Kanto Chemical)
2g, Michler's ketone as photosensitizer (Kanto Chemical)
0.2 g was dissolved in 3 g of DMDG heated to 40 ° C. to prepare a mixed solution B, and these were mixed to obtain a liquid resist composition.

【0081】(実施例7)実施例1における(16)の処理
に代えて、イミダゾール銅(II)錯体10重量%、グリ
コール酸7重量%、塩化カリウム5重量%からなる水溶
液をエッチング液とし、これを40℃、60秒の条件で
スプレー処理して、銅導体回路の表面をエッチングして
粗化層を形成したこと以外は、実施例1と同様にして6
層の多層プリント配線板を形成した。
(Example 7) Instead of the treatment (16) in Example 1, an aqueous solution consisting of 10% by weight of imidazole copper (II) complex, 7% by weight of glycolic acid and 5% by weight of potassium chloride was used as an etching solution. This was sprayed under the conditions of 40 ° C. and 60 seconds, and the surface of the copper conductor circuit was etched to form a roughened layer.
A multi-layer printed wiring board of layers was formed.

【0082】(比較例)基本的に実施例1と同様である
が、DMDGに溶解させたクレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂(日本化薬製、商品名:EOCN−103S)のエポキ
シ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分
子量4000)、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品
名:2E4MZ-CN)、感光性モノマーであるアクリル系イソ
シアネート(東亜合成製:商品名アロニックスM215
)、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学
製)、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)
を以下の組成でNMPを用いて混合して、ホモディスパ
ー攪拌機で粘度3000cps に調整し、続いて3本ロールで
混練して得た液状レジスト組成物を用い、多層プリント
配線板を製造した。 レジスト組成物;感光性エポキシ/PES /M215 /BP/
MK/イミダゾール=70/30/10/5/0.5 /5
(Comparative Example) Basically the same as in Example 1, except that 50% of the epoxy groups of the cresol novolak type epoxy resin (trade name: EOCN-103S, manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG were acrylated. Oligomer (molecular weight 4000), imidazole curing agent (product name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.), acrylic isocyanate that is a photosensitive monomer (product name: Alonix M215, manufactured by Toagosei Co., Ltd.)
), Benzophenone as photoinitiator (Kanto Chemical), Michler's ketone as photosensitizer (Kanto Chemical)
Was mixed with NMP using the following composition, the viscosity was adjusted to 3000 cps with a homodisper stirrer, and then kneaded with three rolls to produce a multilayer printed wiring board. Resist composition; photosensitive epoxy / PES / M215 / BP /
MK / imidazole = 70/30/10/5 / 0.5 / 5

【0083】なお、本比較例では、層間樹脂絶縁層の表
面を粗化して触媒核を付与した基板に対し、上記液状レ
ジスト組成物を塗布して乾燥し、次いで、露光,現像し
てから熱硬化させてめっきレジストを形成した後に、無
電解めっきによる導体回路を形成した。従って、本比較
例では、永久レジストと導体回路との対面する各壁面間
には隙間が生じない。
In this comparative example, the liquid resist composition was applied to a substrate to which the surface of the interlayer resin insulating layer was roughened and catalyst nuclei were applied, dried, exposed, developed, and then heated. After curing to form a plating resist, a conductor circuit was formed by electroless plating. Therefore, in this comparative example, no gap is formed between the wall surfaces facing the permanent resist and the conductor circuit.

【0084】上記の実施例1〜7と比較例で製造した多
層プリント配線板について、−65℃〜125 ℃で2000回の
ヒートサイクル試験を行った。その結果、実施例1〜6
の多層プリント配線板は、導体回路とめっきレジストの
界面に接する上下の層間樹脂絶縁層に、何らクラックは
発生しなかった。これに対し比較例の多層プリント配線
板は、導体回路とめっきレジストの界面に接する上下の
層間樹脂絶縁層に、クラックが発生した。
The multilayer printed wiring boards manufactured in Examples 1 to 7 and Comparative Example were subjected to a heat cycle test at −65 ° C. to 125 ° C. 2,000 times. As a result, Examples 1 to 6
In the multilayer printed wiring board, no crack occurred in the upper and lower interlayer resin insulating layers in contact with the interface between the conductor circuit and the plating resist. On the other hand, in the multilayer printed wiring board of the comparative example, cracks occurred in the upper and lower interlayer resin insulating layers in contact with the interface between the conductor circuit and the plating resist.

【0085】なお、多層プリント配線板の製造過程で、
永久レジストの表面とバイアホールを含む導体回路の最
上面とが同一平面上に揃うまで研磨すると、図2および
図3に示すように導体回路が塑性変形して突起が生じ
る。本発明によれば、図3に示すように、このような突
起が生じた研磨面の上にさらに層間樹脂絶縁層を形成し
て製造した多層プリント配線板についても、ヒートサイ
クル試験により、層間樹脂絶縁層にクラックは発生しな
いことが確認できた。
In the process of manufacturing a multilayer printed wiring board,
When the polishing is performed until the surface of the permanent resist and the uppermost surface of the conductor circuit including the via hole are aligned on the same plane, the conductor circuit is plastically deformed as shown in FIGS. According to the present invention, as shown in FIG. 3, a multilayer printed wiring board manufactured by further forming an interlayer resin insulating layer on the polished surface on which such protrusions are formed is also subjected to a heat cycle test, It was confirmed that no cracks occurred in the insulating layer.

【0086】[0086]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、導
体回路とめっきレジストが互いに接触しないようにする
と同時に、内層に位置する前記導体回路の表面に粗化層
を設けているので、めっきレジストと導体回路の熱膨張
率差による応力集中はなく、しかも導体回路と層間樹脂
絶縁層は強固に密着し、耐熱性や電気特性に優れること
はもちろん、ヒートサイクル特性等の信頼性にも優れた
プリント配線板を提供することができる。
As described above, according to the present invention, since the conductor circuit and the plating resist are prevented from contacting each other, the roughening layer is provided on the surface of the conductor circuit located in the inner layer. There is no stress concentration due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the resist and the conductor circuit.In addition, the conductor circuit and the interlayer resin insulation layer are firmly adhered to each other and have excellent heat resistance and electrical characteristics, as well as excellent reliability such as heat cycle characteristics. Printed wiring board can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例における本発明にかかる多層プリント配
線板の一製造工程を示す図である。
FIG. 1 is a view showing one manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention in an example.

【図2】めっきレジストと導体回路の界面から樹脂絶縁
層に向けて発生するクラックの状態を示す拡大断面略図
である。
FIG. 2 is an enlarged schematic cross-sectional view showing a state of a crack generated from an interface between a plating resist and a conductor circuit toward a resin insulating layer.

【図3】実施例において、めっきレジストと導体回路の
表面を研磨して製造した多層プリント配線板に関するヒ
ートサイクル試験後の状態を示す拡大断面略図である。
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional schematic view showing a state after a heat cycle test on a multilayer printed wiring board manufactured by polishing a surface of a plating resist and a conductive circuit in an example.

【図4】めっきレジスト表面を溶解して、めっきレジス
トと導体回路とが対面する各壁面間に形成した隙間をさ
らに大きくする処理を含む部分製造工程図である。
FIG. 4 is a partial manufacturing process diagram including a process of dissolving the plating resist surface to further increase the gap formed between the wall surfaces of the plating resist and the conductor circuit facing each other.

【図5】導体回路表面を溶解して、めっきレジストと導
体回路とが対面する各壁面間に形成した隙間をさらに大
きくする処理を含む示す部分製造工程図である。
FIG. 5 is a partial manufacturing process diagram showing a process of melting a surface of a conductive circuit to further increase a gap formed between respective wall surfaces facing the plating resist and the conductive circuit.

【図6】導体回路表面の粗化層をエッチング処理にて形
成した多層プリント配線板の部分拡大断面図である
FIG. 6 is a partially enlarged cross-sectional view of a multilayer printed wiring board in which a roughened layer on the surface of a conductive circuit is formed by etching.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 内層銅パターン 3 絶縁剤層(層間樹脂絶縁層) 4 接着剤層(層間樹脂絶縁層) 5 バイアホール用開口 6 めっきレジスト(永久レジスト) 7 外層銅パターン(めっきレジストを介した導体回
路) 8 バイアホール 9 銅箔 10 粗化層
REFERENCE SIGNS LIST 1 substrate 2 inner layer copper pattern 3 insulating layer (interlayer resin insulating layer) 4 adhesive layer (interlayer resin insulating layer) 5 opening for via hole 6 plating resist (permanent resist) 7 outer layer copper pattern (conductor circuit via plating resist) 8 Via hole 9 Copper foil 10 Roughened layer

フロントページの続き (72)発明者 浅井 元雄 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場内Continuation of the front page (72) Inventor Motoo Asai 1-1, Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture Ibiden Ogaki-Kita Plant

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に、層間樹脂絶縁層とめっきレジ
ストを介してレジスト非形成部分に設けられる導体回路
層とが交互に積層されてなる多層プリント配線板におい
て、 前記めっきレジストと前記導体回路との対面する壁面間
には隙間を有し、かつ導体回路の表面には粗化層を有す
ることを特徴とする多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board comprising an interlayer resin insulating layer and a conductor circuit layer provided in a portion where no resist is formed via a plating resist on a substrate, wherein the plating resist and the conductor circuit are provided. Characterized by having a gap between the wall surfaces facing each other and a roughened layer on the surface of the conductive circuit.
【請求項2】 前記層間樹脂絶縁層が無電解めっき用接
着剤層であることを特徴とする請求項1に記載の多層プ
リント配線板。
2. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the interlayer resin insulating layer is an adhesive layer for electroless plating.
【請求項3】 基板上に、層間樹脂絶縁層とめっきレジ
ストを介してレジスト非形成部分に設けられる導体回路
層とが交互に積層されてなる多層プリント配線板の製造
に当って、少なくとも下記 (a)〜(d) の処理、即ち、 (a) 基板上に形成された層間樹脂絶縁層の表面に、感光
性樹脂絶縁層を形成し、 これを所定のパターンに露光硬化し、ついで現像処理し
て、めっきレジストを形成する処理、(b) めっきレジス
ト非形成部分に無電解めっきによる導体回路を形成する
処理、(c) 加熱硬化により前記めっきレジストを硬化収
縮させて、該めっきレジストと前記導体回路との対面す
る壁面間に隙間を形成する処理、(d) 前記導体回路の表
面に粗化層を設ける処理、を行うことを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法。
3. A method of manufacturing a multilayer printed wiring board comprising a substrate and an interlayer resin insulating layer and a conductive circuit layer provided on a portion where a resist is not formed via a plating resist is alternately laminated. a) to (d), that is, (a) forming a photosensitive resin insulating layer on the surface of the interlayer resin insulating layer formed on the substrate, exposing and curing it in a predetermined pattern, and then developing Then, a process of forming a plating resist, (b) a process of forming a conductive circuit by electroless plating in a portion where the plating resist is not formed, and (c) curing and shrinking of the plating resist by heating and curing, the plating resist and the A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising: performing a process of forming a gap between wall surfaces facing a conductor circuit; and (d) a process of providing a roughened layer on a surface of the conductor circuit.
【請求項4】 前記層間樹脂絶縁層は、無電解めっき用
接着剤を用いて形成することを特徴とする請求項3に記
載の製造方法。
4. The method according to claim 3, wherein the interlayer resin insulating layer is formed using an adhesive for electroless plating.
【請求項5】 前記(c) の処理後に、めっきレジスト表
面の溶解処理を行うことを特徴とする請求項3に記載の
製造方法。
5. The method according to claim 3, wherein a dissolution treatment of the plating resist surface is performed after the treatment (c).
【請求項6】 前記(c) の処理後に、導体回路表面の溶
解処理を行うことを特徴とする請求項3に記載の製造方
法。
6. The method according to claim 3, wherein a dissolution treatment of the surface of the conductor circuit is performed after the treatment (c).
【請求項7】 前記処理(a) における露光硬化時の基板
温度を 100℃以下に調整することを特徴とする請求項3
に記載の製造方法。
7. The method according to claim 3, wherein the substrate temperature at the time of exposure and curing in the processing (a) is adjusted to 100 ° C. or less.
The production method described in 1.
【請求項8】 前記(a) の処理後に、基板を温水に浸漬
してから、前記処理(b) により導体回路を形成すること
を特徴とする請求項3に記載の製造方法。
8. The method according to claim 3, wherein the substrate is immersed in hot water after the treatment (a), and then a conductor circuit is formed by the treatment (b).
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