JPH10144123A - 検査用照明装置 - Google Patents

検査用照明装置

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Publication number
JPH10144123A
JPH10144123A JP30460196A JP30460196A JPH10144123A JP H10144123 A JPH10144123 A JP H10144123A JP 30460196 A JP30460196 A JP 30460196A JP 30460196 A JP30460196 A JP 30460196A JP H10144123 A JPH10144123 A JP H10144123A
Authority
JP
Japan
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light
metal halide
halide lamp
wafer
mirror
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Application number
JP30460196A
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English (en)
Inventor
Nobuyuki Yamamoto
信幸 山本
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Yokogawa Precision Corp
Original Assignee
Yokogawa Precision Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 寿命が長く、スポット径が大きく、しかもウ
エハの目視検査に最適な光を生成できる検査用照明装置
を実現する。 【解決手段】 (1)ウエハの目視検査で用いる照射光
を生成する検査用照明装置において、メタルハライドラ
ンプと、笠状に形成され内面にはディンプルが形成され
ていて、前記メタルハライドランプの照射光を前記内面
で拡散してから集光し、拡散によりメタルハライドラン
プの輝度分布を均一化する楕円ミラーと、前記メタルハ
ライドランプの照射光から橙色の波長付近の光を抽出す
る色変換フィルタとを具備したことを特徴とする検査用
照明装置。 (2)前記メタルハライドランプは水平軸を光軸とする
光を照射し、前記メタルハライドランプが照射した水平
軸方向の光を反射し、ウエハに対して所定の角度をなし
て当たる光に変換する反射ミラーを具備したことを特徴
とする(1)記載の検査用照明装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ウエハの目視検査
で用いる照射光を生成する検査用照明装置に関するもの
である。更に詳しくは、寿命を長くしかもスポット径を
大きくするための改良を施した検査用照明装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】半導体を形成するためのシリコンウエハ
に汚れやきず等がないかを検査するときに、目視で検査
をしていた。目視検査を行うときは、シリコンウエハを
照明で照らし出した状態で検査する。従来、シリコンウ
エハの目視検査に用いる検査用照明装置として、ハロゲ
ンランプがあった。シリコンウエハは研磨面が紫色で裏
面が茶色であるため、橙色の光に対して感度が強い。従
って、ハロゲンランプが発する橙色系の照射光は目視検
査に最適であった。しかし、ハロゲンランプは、最大光
束を照射したときの寿命は約30時間と短い。従って、
例えば1日10時間ずつ点灯して検査すると、3日毎に
ランプを交換しなければならない。また、ハロゲンラン
プのスポット径は70mmと小さく、シリコンウエハが
6インチウエハ、8インチウエハ、12インチウエハと
大口径化してくると、1枚のウエハを検査するときに光
スポットを動かす回数が多くなり、目視検査に要する時
間が長くなる。例えば、スポット径は70mmで8イン
チのウエハを検査するときは、8回も光スポットを移動
しなければならない。ハロゲンランプよりも高輝度でス
ポット径が大きくかつ寿命が長い照明としてメタルハラ
イドランプがある。しかし、メタルハライドランプの照
射光は白色系で検査に適した色合いを帯びていない。ま
た、メタルハライドランプは放電により発光を行ってい
るため、放電ポイントがある。放電ポイントは他の部分
よりも輝度が高い。放電ポイントがあることによりメタ
ルハライドランプの光スポットには輝点ができる。図6
は輝点ができた光スポットの例を示した図である。図6
でSは光スポット、Cは輝点である。輝点Cは光スポッ
トSの他の部分よりも明るくなっている。輝点Cがシリ
コンウエハを目視検査するときに邪魔になる。このた
め、メタルハライドランプの光はそのままではシリコン
ウエハの検査には使えなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した問題
点を解決するためになされたものであり、メタルハライ
ドランプに、照射光を拡散して輝度分布を均一化する楕
円ミラーと、橙色の波長付近の光を抽出するフィルタを
付加することにより、寿命が長く、スポット径が大き
く、しかもウエハの目視検査に最適な光を生成できる検
査用照明装置を実現することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は次の構成になっ
た検査用照明装置である。 (1)ウエハの目視検査で用いる照射光を生成する検査
用照明装置において、メタルハライドランプと、笠状に
形成され内面にはディンプルが形成されていて、前記メ
タルハライドランプの照射光を前記内面で拡散してから
集光し、拡散によりメタルハライドランプの輝度分布を
均一化する楕円ミラーと、前記メタルハライドランプの
照射光から橙色の波長付近の光を抽出する色変換フィル
タと、を具備したことを特徴とする検査用照明装置。 (2)前記メタルハライドランプは水平軸を光軸とする
光を照射し、前記メタルハライドランプが照射した水平
軸方向の光を反射し、ウエハに対して所定の角度をなし
て当たる光に変換する反射ミラーを具備したことを特徴
とする(1)記載の検査用照明装置。
【0005】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明を説明
する。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。
図1で、1は光源となるメタルハライドランプである。
2は笠状に形成され内面にはディンプル(凹凸)が形成
された楕円ミラーである。楕円ミラー2は内面のディン
プルによりメタルハライドランプ1の照射光を拡散して
から集光する。このとき、メタルハライドランプ1の照
射光に含まれた可視光線は集光し、熱線は笠の外へ放出
する。このことから、楕円ミラー2はディンプル付きの
コールドミラーとなっている。メタルハライドランプ1
は放電により発光を行っているため、メタルハライドラ
ンプ1の照射光をそのまま当てると、光スポットに輝点
ができる。楕円ミラー2はディンプルでメタルハライド
ランプ1の照射光を拡散することによって、輝度分布を
均一化する。これによって、光スポットには輝点ができ
ない。メタルハライドランプ1と楕円ミラー2はユニッ
トになっていて、ワンタッチで交換可能になっている。
【0006】3は反射ミラーで、メタルハライドランプ
1の光軸Lに対して45°の角度をなし、さらに光軸L
のまわりに所定角度例えば45°傾けた姿勢で配置され
ている。4は集光凸レンズで、反射ミラー3で反射され
た光を集光する。5は楕円穴をもったアパーチャーマス
クで、楕円光を生成する。6は色変換フィルタで、アパ
ーチャーマスク5を通過後した光から橙色の波長付近の
光を抽出する。メタルハライドランプ1の照射光は、そ
のままだと白色系の光である。色変換フィルタ6は、メ
タルハライドランプ1の照射光の中から橙色系の光を抽
出する。これによって、ハロゲンランプの光と近似した
色合いの光を得る。
【0007】7は投射レンズで、色変換フィルタ6を通
過後の光をウエハ8に照射する。アパーチャーマスク5
で変換された楕円光は、ウエハ面に対して45°の角度
をなして照射される。これによって、ウエハ8上の光ス
ポットの形状はほぼ真円に近い形になる。ウエハ面に対
して45°の角度をなして光を照射しているのは、垂直
に光を照射するときに比べて斜めに光を照射したときの
方がウエハの目視検査を行いやすいためである。なお、
照射角は45°以外でもよい。9は装置の駆動電力を供
給する電源部、10は電源部9から供給された電力をも
とにメタルハライドランプ1に高電圧をかけて点灯させ
るイグナイターである。
【0008】図の破線で囲んだ部分が照明装置の部分
で、光源部20と鏡筒部21とからなる。これらの部分
は光軸Lのまわりに回転自在に保持されている。
【0009】図2は図1の矢印A方向から見た図であ
る。図2で光軸Lの方向は紙面と直交する方向である。
光源部20と鏡筒部21が光軸Lのまわりに回転位置を
変えることにより照射光の方向とウエハ面がなす照射角
θが変わる。これによって、任意の照射角でウエハに光
を照射できる。
【0010】本発明の装置の動作を説明する。メタルハ
ライドランプ1から照射した光は楕円ミラー2の内面の
ディンプルで拡散されてから集光される。メタルハライ
ドランプ1は放電により光を照射しているため、そのま
ま光を照射すると光スポットには輝点ができる。楕円ミ
ラー2の内面のディンプルでメタルハライドランプ1の
照射光を拡散し、輝度分布を均一化することによって光
スポットには輝点ができない。
【0011】図3は光スポットの照度分布の実験データ
を示した図である。図3て、G1は楕円ミラーを設けな
い場合、G2は設けた場合の照度分布である。図3に示
すように、楕円ミラーを設けた場合は設けない場合に比
べて照度分布が均一化される。これによって、光スポッ
トには輝点ができない。
【0012】楕円ミラー2で集光された光は反射ミラー
3で反射され、アパーチャマスク5で楕円光に変換され
る。反射ミラー3は光軸Lのまわりに45°傾けた姿勢
をとっているため、ウエハ面に対して45°の照射角で
当たる。楕円光が45°の照射角で当たることによっ
て、ウエハ8上にはほぼ真円に近い形の光スポットがで
きる。楕円ミラー2で集めた光は白色系の光になる。光
路上に設けた色変換フィルタ6は照射光の中から橙色系
の光を抽出する。これによって、ハロゲンランプの光と
近似した色相の光が得られる。
【0013】図4及び図5は光の色温度特性を示した図
である。図4は色変換フィルタ6を通過前の光の色温度
特性、図5は通過後の光の色温度特性の実験データを示
した図である。図4及び図5のグラフの縦軸には得られ
た実験データの個数をとっている。これらの図に示すよ
うに、色変換フィルタ6を通過前の光は波長が6100
ケルビン付近の白色系の光になり、色変換フィルタ6を
通過後の光は波長が3300ケルビン付近の橙色系の光
になる。この実験データから、色変換フィルタ6を設け
たことにより、ハロゲンランプの光と近似した橙色系の
色相の光が得られる。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば次の効果が得られる。 メタルハライドランプの照射光を拡散して輝度分布を
均一化する楕円ミラーを設けているため、メタルハライ
ドランプの光スポットには輝点は映らない。また、橙色
の波長付近の光を抽出するフィルタを設けているため、
メタルハライドランプの照射光の中から橙色系の光を抽
出できる。これによって、本発明によれば、メタルハラ
イドランプが本来もっていた欠点がカバーされ、メタル
ハライドランプを用いて、寿命が長く、スポット径が大
きく、しかもウエハの目視検査に最適な色合いの光を生
成する検査用照明装置を実現できる。 メタルハライドランプの照射光を反射し、ウエハに対
して所定の角度をなして当たる光に変換する反射ミラー
が設けられているため、メタルハライドランプは光軸を
水平にして配置できる。これによって、ランプの寿命を
長くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】図1の矢印A方向から見た図である。
【図3】光スポットの照度分布の実験データを示した図
である。
【図4】光の色温度特性を示した図である。
【図5】光の色温度特性を示した図である。
【図6】メタルハライドランプの光スポットを示した図
である。
【符号の説明】
1 メタルハライドランプ 2 楕円ミラー 3 反射ミラー 6 色変換フィルタ 8 ウエハ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハの目視検査で用いる照射光を生成
    する検査用照明装置において、 メタルハライドランプと、 笠状に形成され内面にはディンプルが形成されていて、
    前記メタルハライドランプの照射光を前記内面で拡散し
    てから集光し、拡散によりメタルハライドランプの輝度
    分布を均一化する楕円ミラーと、 前記メタルハライドランプの照射光から橙色の波長付近
    の光を抽出する色変換フィルタと、を具備したことを特
    徴とする検査用照明装置。
  2. 【請求項2】 前記メタルハライドランプは水平軸を光
    軸とする光を照射し、 前記メタルハライドランプが照射した水平軸方向の光を
    反射し、ウエハに対して所定の角度をなして当たる光に
    変換する反射ミラーを具備したことを特徴とする請求項
    1記載の検査用照明装置。
JP30460196A 1996-11-15 1996-11-15 検査用照明装置 Pending JPH10144123A (ja)

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JP30460196A JPH10144123A (ja) 1996-11-15 1996-11-15 検査用照明装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30460196A JPH10144123A (ja) 1996-11-15 1996-11-15 検査用照明装置

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Publication Number Publication Date
JPH10144123A true JPH10144123A (ja) 1998-05-29

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ID=17934976

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JP30460196A Pending JPH10144123A (ja) 1996-11-15 1996-11-15 検査用照明装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1494017A1 (de) * 2003-07-03 2005-01-05 Leica Microsystems Semiconductor GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Wafer-Inspektion

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1494017A1 (de) * 2003-07-03 2005-01-05 Leica Microsystems Semiconductor GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Wafer-Inspektion
US7224446B2 (en) 2003-07-03 2007-05-29 Vistec Semiconductor Systems Gmbh Apparatus, method, and computer program for wafer inspection

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