JPH10136265A - 欠陥画素補正装置 - Google Patents
欠陥画素補正装置Info
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- JPH10136265A JPH10136265A JP8283629A JP28362996A JPH10136265A JP H10136265 A JPH10136265 A JP H10136265A JP 8283629 A JP8283629 A JP 8283629A JP 28362996 A JP28362996 A JP 28362996A JP H10136265 A JPH10136265 A JP H10136265A
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 title claims abstract description 67
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 30
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の構成では、片フィールドで検出した欠
陥画素情報だけでは同一フォトダイオードを原因とする
他フィールドの欠陥画素の相対位置を特定できず、もう
一度他フィールドにおいても検出することが必要とな
り、相対位置データを格納するメモリ容量が2倍程度必
要となっていた。 【解決手段】 固体撮像素子21を駆動させる駆動回路
22は、欠陥画素検出期間マイコン28からの制御信号
によって垂直方向のフォトダイオードを加算させないフ
レーム読み出し駆動部22bを選択する。このフレーム
読み出し駆動部22bを選択した駆動回路22の駆動信
号によって、固体撮像素子21から読み出した映像信号
は各フィールド毎にフォトダイオード単独のデータを読
み出すことになる。
陥画素情報だけでは同一フォトダイオードを原因とする
他フィールドの欠陥画素の相対位置を特定できず、もう
一度他フィールドにおいても検出することが必要とな
り、相対位置データを格納するメモリ容量が2倍程度必
要となっていた。 【解決手段】 固体撮像素子21を駆動させる駆動回路
22は、欠陥画素検出期間マイコン28からの制御信号
によって垂直方向のフォトダイオードを加算させないフ
レーム読み出し駆動部22bを選択する。このフレーム
読み出し駆動部22bを選択した駆動回路22の駆動信
号によって、固体撮像素子21から読み出した映像信号
は各フィールド毎にフォトダイオード単独のデータを読
み出すことになる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビデオカメラ等に
備えられた固体撮像素子に用いて有効な欠陥画素補正装
置に関するものである。
備えられた固体撮像素子に用いて有効な欠陥画素補正装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、ビデオカメラに使用される撮像素
子としては電荷結合型固体撮像素子(CCD)が主流と
なっている。一般にビデオカメラに使用される固体撮像
素子としては光電変換部が20万個以上必要となるため
無欠陥で作ることは困難を極めている。このため欠陥画
素の発生が固体撮像素子の歩留まりに大きく関係してお
り製品コストにも影響を与えている。従って、この欠陥
画素を補正させることがコスト力向上並びに、性能向上
に大きく関係することとなる。
子としては電荷結合型固体撮像素子(CCD)が主流と
なっている。一般にビデオカメラに使用される固体撮像
素子としては光電変換部が20万個以上必要となるため
無欠陥で作ることは困難を極めている。このため欠陥画
素の発生が固体撮像素子の歩留まりに大きく関係してお
り製品コストにも影響を与えている。従って、この欠陥
画素を補正させることがコスト力向上並びに、性能向上
に大きく関係することとなる。
【0003】以下に従来の欠陥画素補正装置について説
明する。図3は従来の欠陥画素のブロック図を示すもの
である。また図4には図3に示す固体撮像素子の内部の
ブロック図を示す。
明する。図3は従来の欠陥画素のブロック図を示すもの
である。また図4には図3に示す固体撮像素子の内部の
ブロック図を示す。
【0004】図3において、1は駆動回路2により駆動
される固体撮像素子、3は水平/垂直基準信号を駆動回
路2に出力する基準信号発生回路、4は固体撮像素子1
から出力された映像信号中の欠陥信号を検出して検出信
号を出力する欠陥検出回路、6は欠陥検出回路4より出
力された検出信号が入力されると共に基準信号発生回路
3より水平/垂直基準信号が入力される相対位置検出回
路で、相対位置検出回路6から検出された相対位置デー
タは、マイコン8からの制御信号によってメモリ7に入
力される。5はメモリ7からの相対位置データが入力さ
れ補正される補正回路である。
される固体撮像素子、3は水平/垂直基準信号を駆動回
路2に出力する基準信号発生回路、4は固体撮像素子1
から出力された映像信号中の欠陥信号を検出して検出信
号を出力する欠陥検出回路、6は欠陥検出回路4より出
力された検出信号が入力されると共に基準信号発生回路
3より水平/垂直基準信号が入力される相対位置検出回
路で、相対位置検出回路6から検出された相対位置デー
タは、マイコン8からの制御信号によってメモリ7に入
力される。5はメモリ7からの相対位置データが入力さ
れ補正される補正回路である。
【0005】以上のように構成された従来の欠陥画素補
正装置について、以下その動作について説明する。
正装置について、以下その動作について説明する。
【0006】まず、固体撮像素子1は、基準信号発生回
路3からの水平/垂直基準信号に同期して駆動回路2か
らの駆動信号により映像信号を出力する。この場合、固
体撮像素子1内部では図4に示すように、フォトダイオ
ード11を例えば奇数フィールドではb・cの組み合わ
せ順で、偶数フィールドではa・bの組み合わせ順で垂
直方向の2つのフォトダイオードを順次加算し、垂直転
送CCD12及び水平転送CCD13をそれぞれ転送し
ながら出力する、いわゆるインターライン型固体撮像素
子の動作を行っている。
路3からの水平/垂直基準信号に同期して駆動回路2か
らの駆動信号により映像信号を出力する。この場合、固
体撮像素子1内部では図4に示すように、フォトダイオ
ード11を例えば奇数フィールドではb・cの組み合わ
せ順で、偶数フィールドではa・bの組み合わせ順で垂
直方向の2つのフォトダイオードを順次加算し、垂直転
送CCD12及び水平転送CCD13をそれぞれ転送し
ながら出力する、いわゆるインターライン型固体撮像素
子の動作を行っている。
【0007】固体撮像素子1から出力された映像信号
は、欠陥検出回路4に入力され欠陥画素を検出されると
共に補正回路5に入力される。欠陥検出回路4より検出
された欠陥画素検出信号は相対位置検出回路6に入力さ
れる。また、相対位置検出回路6には基準信号発生回路
3より水平/垂直基準信号が入力されており、この水平
/垂直基準信号から各フィールド毎に欠陥画素の存在す
る相対位置データを検出し出力させる。検出された相対
位置データは、マイコン8からの制御信号によってメモ
リ7に順次書き込まれる。通常の撮像時においてはメモ
リ7からの相対位置データによって、補正回路5で固体
撮像素子1からの映像信号中の欠陥画素を補正させる。
は、欠陥検出回路4に入力され欠陥画素を検出されると
共に補正回路5に入力される。欠陥検出回路4より検出
された欠陥画素検出信号は相対位置検出回路6に入力さ
れる。また、相対位置検出回路6には基準信号発生回路
3より水平/垂直基準信号が入力されており、この水平
/垂直基準信号から各フィールド毎に欠陥画素の存在す
る相対位置データを検出し出力させる。検出された相対
位置データは、マイコン8からの制御信号によってメモ
リ7に順次書き込まれる。通常の撮像時においてはメモ
リ7からの相対位置データによって、補正回路5で固体
撮像素子1からの映像信号中の欠陥画素を補正させる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、第1フィールドで検出した欠陥画素情報
だけでは加算する前のどちらのフォトダイオードに欠陥
が生じているかは判断できないため、第2フィールドの
欠陥画素の相対位置を特定することができない。そのた
め第2フィールドにおいても同一フォトダイオードによ
る欠陥画素の検出が必要となり、その両方の相対位置情
報を記憶させるか、または検出フィールドの相対位置情
報と逆フィールドの上下位置情報を記憶させる必要があ
る。従ってメモリ容量としては欠陥フォトダイオード数
の2倍程度必要となるという問題点を有していた。
来の構成では、第1フィールドで検出した欠陥画素情報
だけでは加算する前のどちらのフォトダイオードに欠陥
が生じているかは判断できないため、第2フィールドの
欠陥画素の相対位置を特定することができない。そのた
め第2フィールドにおいても同一フォトダイオードによ
る欠陥画素の検出が必要となり、その両方の相対位置情
報を記憶させるか、または検出フィールドの相対位置情
報と逆フィールドの上下位置情報を記憶させる必要があ
る。従ってメモリ容量としては欠陥フォトダイオード数
の2倍程度必要となるという問題点を有していた。
【0009】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、欠陥画素を検出したフィールドにおいてその欠陥画
素の相対位置を検出すれば、同一フォトダイオードを原
因とする他フィールドの欠陥画素相対位置を特定するこ
とができるとともに、検出位置情報を記憶するメモリ容
量も従来の半分で実現することができる欠陥画素補正装
置を提供することを目的とする。
で、欠陥画素を検出したフィールドにおいてその欠陥画
素の相対位置を検出すれば、同一フォトダイオードを原
因とする他フィールドの欠陥画素相対位置を特定するこ
とができるとともに、検出位置情報を記憶するメモリ容
量も従来の半分で実現することができる欠陥画素補正装
置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の欠陥画素補正装置は、水平/垂直基準信号を
発生させる基準信号発生手段と、前記基準信号発生手段
からの水平/垂直基準信号に従って前記固体撮像素子を
駆動させる駆動手段と、固体撮像素子より出力した映像
信号より欠陥画素を検出させる検出手段と、前記検出手
段より検出された欠陥画素と前記基準信号発生手段から
の水平、垂直基準信号とにより欠陥画素の相対位置を検
出する相対位置検出手段と、前記相対位置検出手段から
の相対位置データを順次記憶するメモリ手段と、前記メ
モリ手段から出力される相対位置データによって固体撮
像素子から出力される映像信号を補正させる補正手段と
を備え、前記駆動手段は、欠陥画素検出期間に上下垂直
方向の2つのフォトダイオードを加算させず奇数フィー
ルドに奇数ラインの信号を出力させ、偶数フィールドに
偶数ラインを出力する撮像素子駆動を行わせるような構
成を有している。
に本発明の欠陥画素補正装置は、水平/垂直基準信号を
発生させる基準信号発生手段と、前記基準信号発生手段
からの水平/垂直基準信号に従って前記固体撮像素子を
駆動させる駆動手段と、固体撮像素子より出力した映像
信号より欠陥画素を検出させる検出手段と、前記検出手
段より検出された欠陥画素と前記基準信号発生手段から
の水平、垂直基準信号とにより欠陥画素の相対位置を検
出する相対位置検出手段と、前記相対位置検出手段から
の相対位置データを順次記憶するメモリ手段と、前記メ
モリ手段から出力される相対位置データによって固体撮
像素子から出力される映像信号を補正させる補正手段と
を備え、前記駆動手段は、欠陥画素検出期間に上下垂直
方向の2つのフォトダイオードを加算させず奇数フィー
ルドに奇数ラインの信号を出力させ、偶数フィールドに
偶数ラインを出力する撮像素子駆動を行わせるような構
成を有している。
【0011】この構成によって、欠陥画素を検出したフ
ィールドにおいてその欠陥画素の相対位置を検出すれ
ば、同一フォトダイオードを原因とする他フィールドの
欠陥画素相対位置を特定することができるとともに、検
出位置情報を記憶するメモリ容量も従来の半分で実現す
ることができる欠陥画素補正装置が得られる。
ィールドにおいてその欠陥画素の相対位置を検出すれ
ば、同一フォトダイオードを原因とする他フィールドの
欠陥画素相対位置を特定することができるとともに、検
出位置情報を記憶するメモリ容量も従来の半分で実現す
ることができる欠陥画素補正装置が得られる。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、水平/垂直基準信号を発生させる基準信号発生手段
と、前記基準信号発生手段からの水平/垂直基準信号に
従って前記固体撮像素子を駆動させる駆動手段と、固体
撮像素子より出力した映像信号より欠陥画素を検出させ
る検出手段と、前記検出手段より検出された欠陥画素と
前記基準信号発生手段からの水平/垂直基準信号とによ
り欠陥画素の相対位置を検出する相対位置検出手段と、
前記相対位置検出手段からの相対位置データを順次記憶
するメモリ手段と、前記メモリ手段から出力される相対
位置データによって前記固体撮像素子から出力される映
像信号を補正させる補正手段とを備え、前記駆動手段
は、欠陥画素検出期間に上下垂直方向の2つのフォトダ
イオードを加算させず奇数フィールドに奇数ラインの信
号を出力させ、偶数フィールドに偶数ラインを出力する
撮像素子駆動を行うものである。
は、水平/垂直基準信号を発生させる基準信号発生手段
と、前記基準信号発生手段からの水平/垂直基準信号に
従って前記固体撮像素子を駆動させる駆動手段と、固体
撮像素子より出力した映像信号より欠陥画素を検出させ
る検出手段と、前記検出手段より検出された欠陥画素と
前記基準信号発生手段からの水平/垂直基準信号とによ
り欠陥画素の相対位置を検出する相対位置検出手段と、
前記相対位置検出手段からの相対位置データを順次記憶
するメモリ手段と、前記メモリ手段から出力される相対
位置データによって前記固体撮像素子から出力される映
像信号を補正させる補正手段とを備え、前記駆動手段
は、欠陥画素検出期間に上下垂直方向の2つのフォトダ
イオードを加算させず奇数フィールドに奇数ラインの信
号を出力させ、偶数フィールドに偶数ラインを出力する
撮像素子駆動を行うものである。
【0013】そしてこのような構成により、欠陥画素を
検出する間、片フィールド毎に分離したフォトダイオー
ド単位の欠陥画素検出を行うことができ、片フィールド
のみで欠陥を有するフォトダイオードを特定でき、この
欠陥を有したフォトダイオードを用いる他フィールドの
ラインをも同時に確定できるという作用を有する。
検出する間、片フィールド毎に分離したフォトダイオー
ド単位の欠陥画素検出を行うことができ、片フィールド
のみで欠陥を有するフォトダイオードを特定でき、この
欠陥を有したフォトダイオードを用いる他フィールドの
ラインをも同時に確定できるという作用を有する。
【0014】以下、本発明の実施の形態について、図1
から図2を用いて説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態における欠
陥画素補正装置のブロック図である。図1において、2
1は光電変換を行い映像信号を出力する固体撮像素子、
22は固体撮像素子21を駆動する駆動回路であり、こ
の駆動回路22は制御信号にて垂直方向の2つのフォト
ダイオードを加算するフィールド読み出し駆動部22a
と、フォトダイオードの加算処理をしないフレーム読み
出し駆動部22bとを、スイッチ22cで選択できる構
成となっている。23は水平/垂直基準信号を発生する
基準信号発生回路、24は映像信号から欠陥画素を検出
する欠陥検出回路であり、例えば注目画素と周辺画素と
の信号レベルを比較し突出程度によって検出する構成と
なっている。26は基準信号発生回路23からの水平/
垂直基準信号より1フィールド画像中の相対的な位置座
標を検出する相対位置検出回路、27はメモリであり、
相対位置検出回路26からの相対位置データをマイコン
28からの制御信号により格納するものである。25は
メモリ27からの相対位置データによって映像信号の欠
陥画素を補正する補正回路であり、例えば欠陥画素位置
の周辺画素の1つまたは平均値のデータを置き換えるよ
うな回路である。29は補正回路25で補正された映像
信号を出力する出力端子である。
から図2を用いて説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態における欠
陥画素補正装置のブロック図である。図1において、2
1は光電変換を行い映像信号を出力する固体撮像素子、
22は固体撮像素子21を駆動する駆動回路であり、こ
の駆動回路22は制御信号にて垂直方向の2つのフォト
ダイオードを加算するフィールド読み出し駆動部22a
と、フォトダイオードの加算処理をしないフレーム読み
出し駆動部22bとを、スイッチ22cで選択できる構
成となっている。23は水平/垂直基準信号を発生する
基準信号発生回路、24は映像信号から欠陥画素を検出
する欠陥検出回路であり、例えば注目画素と周辺画素と
の信号レベルを比較し突出程度によって検出する構成と
なっている。26は基準信号発生回路23からの水平/
垂直基準信号より1フィールド画像中の相対的な位置座
標を検出する相対位置検出回路、27はメモリであり、
相対位置検出回路26からの相対位置データをマイコン
28からの制御信号により格納するものである。25は
メモリ27からの相対位置データによって映像信号の欠
陥画素を補正する補正回路であり、例えば欠陥画素位置
の周辺画素の1つまたは平均値のデータを置き換えるよ
うな回路である。29は補正回路25で補正された映像
信号を出力する出力端子である。
【0015】以上のように構成された本実施の形態の欠
陥画素補正装置について、図1および固体撮像素子の内
部動作を示す図2を用いてその動作を説明する。
陥画素補正装置について、図1および固体撮像素子の内
部動作を示す図2を用いてその動作を説明する。
【0016】まず、固体撮像素子21を駆動する駆動回
路22は、通常はスイッチ22cがa側に切り換えられ
フィールド読み出し駆動部22aを選択するが、欠陥画
素検出期間は、スイッチ22cをb側に切り換えてマイ
コン28からの制御信号によって垂直方向のフォトダイ
オードを加算しないフレーム読み出し駆動部22bを選
択する。このフレーム読み出し駆動部22bを選択した
駆動回路22の駆動信号によって固体撮像素子21から
の読み出し映像信号は、各フィールド毎にフォトダイオ
ード単独のデータを読み出すことになる。すなわち、図
2のフォトダイオード31は垂直方向に加算することな
く例えば奇数フィールドではa・c・eの順に、偶数フ
ィールドではb・dの順に読み出され、それぞれ垂直転
送CCD32及び水平転送CCD33で転送され、映像
信号として出力される。
路22は、通常はスイッチ22cがa側に切り換えられ
フィールド読み出し駆動部22aを選択するが、欠陥画
素検出期間は、スイッチ22cをb側に切り換えてマイ
コン28からの制御信号によって垂直方向のフォトダイ
オードを加算しないフレーム読み出し駆動部22bを選
択する。このフレーム読み出し駆動部22bを選択した
駆動回路22の駆動信号によって固体撮像素子21から
の読み出し映像信号は、各フィールド毎にフォトダイオ
ード単独のデータを読み出すことになる。すなわち、図
2のフォトダイオード31は垂直方向に加算することな
く例えば奇数フィールドではa・c・eの順に、偶数フ
ィールドではb・dの順に読み出され、それぞれ垂直転
送CCD32及び水平転送CCD33で転送され、映像
信号として出力される。
【0017】この固体撮像素子21から出力された映像
信号より欠陥画素検出回路24で欠陥画素を検出し、相
対位置検出回路26で画像中の欠陥画素すなわち欠陥を
有するフォトダイオードの相対位置をメモリ27に書き
込むことになる。これは例えば偶数フィールドの(n−
1)ラインの水平画素m段目に欠陥画素があった場合、
図2のフォトダイオード31の中のcを特定できること
になる。
信号より欠陥画素検出回路24で欠陥画素を検出し、相
対位置検出回路26で画像中の欠陥画素すなわち欠陥を
有するフォトダイオードの相対位置をメモリ27に書き
込むことになる。これは例えば偶数フィールドの(n−
1)ラインの水平画素m段目に欠陥画素があった場合、
図2のフォトダイオード31の中のcを特定できること
になる。
【0018】従って、この片フィールドの相対位置デー
タが分かれば通常のフィールド読み出し駆動部22aを
駆動回路22で選択し、固体撮像素子21より得られる
映像信号で発生する同一フォトダイオードによる欠陥画
素の相対位置は、両フィールド共に特定することができ
る。メモリ27より読み出した相対位置データにより補
正回路25で両フィールドで発生する欠陥画素を補正
し、出力端子29より出力する。
タが分かれば通常のフィールド読み出し駆動部22aを
駆動回路22で選択し、固体撮像素子21より得られる
映像信号で発生する同一フォトダイオードによる欠陥画
素の相対位置は、両フィールド共に特定することができ
る。メモリ27より読み出した相対位置データにより補
正回路25で両フィールドで発生する欠陥画素を補正
し、出力端子29より出力する。
【0019】以上のように本実施の形態によれば、欠陥
画素を検出する間、固体撮像素子21の上下垂直方向の
2つのフォトダイオードを加算させず奇数フィールドに
奇数ラインの信号を出力させ、駆動回路22を偶数フィ
ールドに偶数ラインを出力させるフレーム読み出し駆動
部22bに切り替えることにより、欠陥を有するフォト
ダイオードを特定させることができるため、その同一フ
ォトダイオードで発生する両フィールドの欠陥画素を片
フィールドの相対位置データのみで特定させることがで
き、その相対位置データを格納するメモリ容量も半分で
済むことになる。
画素を検出する間、固体撮像素子21の上下垂直方向の
2つのフォトダイオードを加算させず奇数フィールドに
奇数ラインの信号を出力させ、駆動回路22を偶数フィ
ールドに偶数ラインを出力させるフレーム読み出し駆動
部22bに切り替えることにより、欠陥を有するフォト
ダイオードを特定させることができるため、その同一フ
ォトダイオードで発生する両フィールドの欠陥画素を片
フィールドの相対位置データのみで特定させることがで
き、その相対位置データを格納するメモリ容量も半分で
済むことになる。
【0020】
【発明の効果】以上のように本発明は、欠陥画素を検出
したフィールドにおいてその欠陥画素の相対位置を検出
すれば、同一フォトダイオードを原因とする他フィール
ドの欠陥画素相対位置を特定することができるととも
に、検出位置情報を記憶するメモリ容量も従来の半分で
実現することができるという優れた効果が得られる。
したフィールドにおいてその欠陥画素の相対位置を検出
すれば、同一フォトダイオードを原因とする他フィール
ドの欠陥画素相対位置を特定することができるととも
に、検出位置情報を記憶するメモリ容量も従来の半分で
実現することができるという優れた効果が得られる。
【図1】本発明の実施の形態における欠陥画素補正装置
のブロック図
のブロック図
【図2】同実施の形態における固体撮像素子の内部の模
式図
式図
【図3】従来の欠陥画素補正装置のブロック図
【図4】従来の固体撮像素子の内部の模式図
21 固体撮像素子 22 駆動回路 23 基準信号発生回路 24 欠陥検出回路 25 補正回路 26 相対位置検出回路 27 メモリ 28 マイコン
Claims (1)
- 【請求項1】 上下2つのフォトダイオードを加算し各
フィールド毎に垂直方向の組み合わせをずらせて奇数フ
ィールドと偶数フィールドに対応する映像信号を出力さ
せる固体撮像素子に用いる欠陥画素補正装置であって、
水平/垂直基準信号を発生する基準信号発生手段と、前
記基準信号発生手段からの水平/垂直基準信号に従って
前記固体撮像素子を駆動する駆動手段と、前記固体撮像
素子より出力した映像信号より欠陥画素を検出する欠陥
画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段より検出された
欠陥画素と前記基準信号発生手段からの水平/垂直基準
信号とにより欠陥画素の相対位置を検出する相対位置検
出手段と、前記相対位置検出手段からの相対位置データ
を順次記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段から出力
される相対位置データによって前記固体撮像素子から出
力される映像信号を補正する補正手段とを備え、前記駆
動手段は、欠陥画素検出期間に上下垂直方向の2つのフ
ォトダイオードを加算させず奇数フィールドに奇数ライ
ンの信号を出力させ、偶数フィールドに偶数ラインを出
力する撮像素子駆動を行わせることを特徴とする欠陥画
素補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8283629A JPH10136265A (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 欠陥画素補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8283629A JPH10136265A (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 欠陥画素補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10136265A true JPH10136265A (ja) | 1998-05-22 |
Family
ID=17667997
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8283629A Pending JPH10136265A (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 欠陥画素補正装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JPH10136265A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002185861A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-06-28 | Olympus Optical Co Ltd | 撮像装置 |
JP2016167886A (ja) * | 2011-03-24 | 2016-09-15 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
-
1996
- 1996-10-25 JP JP8283629A patent/JPH10136265A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2002185861A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-06-28 | Olympus Optical Co Ltd | 撮像装置 |
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