JPH10135250A - Bonding unit - Google Patents
Bonding unitInfo
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- JPH10135250A JPH10135250A JP30573196A JP30573196A JPH10135250A JP H10135250 A JPH10135250 A JP H10135250A JP 30573196 A JP30573196 A JP 30573196A JP 30573196 A JP30573196 A JP 30573196A JP H10135250 A JPH10135250 A JP H10135250A
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- bonding
- magnet
- head
- pressure
- head holder
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ダイボンダにおい
て、ピックアップした半導体ペレット(チップ)を基板
やヒートシンクなどに所定の圧力でボンディングするボ
ンディングユニットに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bonding unit for bonding a semiconductor pellet (chip) picked up to a substrate or a heat sink at a predetermined pressure in a die bonder.
【0002】[0002]
【従来の技術】ボンディングにおける加圧コントロール
部を構成するボンディングユニットとして、特開平1−
291493号公報に記載のものが知られている。この
ボンディングユニットは、昇降機構により昇降するフレ
ームと、フレームのホルダ部に上下方向に摺動自在に保
持されるボンディングヘッドとを備えると共に、フレー
ムとボンディングヘッドとの間に、ボンディングヘッド
を互に相反する方向に付勢する加圧ばねおよびバランス
ばねを備えている。バランスばねは、ボンディングヘッ
ドを上方に付勢して、ボンディングヘッドの自重を相殺
し、ボンディングの際にボンディングヘッドの自重が影
響しないようにしている。また、加圧ばねは、フレーム
を介してボンディングヘッドが下降し、吸着したペレッ
トがヒートシンクなどに突き当たった時点から伸張し始
めて、ボンディングヘッドを下方に付勢する。この加圧
ばねによる付勢が、ボンディング圧力(荷重)としてペ
レットに作用し、ペレットをヒートシンクに適切な圧力
でボンディングすることになる。2. Description of the Related Art Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei.
The thing described in 291493 is known. The bonding unit includes a frame that is moved up and down by an elevating mechanism, and a bonding head that is slidably held in a vertical direction on a holder of the frame. And a balance spring. The balance spring urges the bonding head upward to offset the weight of the bonding head so that the bonding head does not affect the weight of the bonding head. Further, the pressing spring lowers the bonding head through the frame and starts to expand from the time when the sucked pellet hits the heat sink or the like, and urges the bonding head downward. The urging by the pressure spring acts on the pellet as a bonding pressure (load), and the pellet is bonded to the heat sink with an appropriate pressure.
【0003】したがって、ペレットが、ヒートシンクに
突き当たった状態から停止するまでのフレームの下降ス
トロークと、加圧ばねのばね定数とによりボンディング
圧力が決定する。この場合、ボンディング圧力は、ペレ
ットとヒートシンクとの間に介在させるハンダや接着剤
の種別により、またペレットの接触面積により区々とな
り、且つ高いものから低いものまでその範囲はかなり広
くなる。このため、ばね定数の異なる複数の加圧ばねを
用意しておき、これを適宜交換する必要があるが、上記
公報に記載のボンディングユニットでは、加圧ばねの一
端をモータにより伸縮させ、加圧ばねを交換することな
く、ボンディング圧力を広い範囲で調整できるようにな
っている。[0003] Therefore, the bonding pressure is determined by the lowering stroke of the frame from when the pellet abuts the heat sink until it stops, and the spring constant of the pressure spring. In this case, the bonding pressure varies depending on the type of solder or adhesive interposed between the pellet and the heat sink, and on the contact area of the pellet, and its range from a high to a low is considerably wide. For this reason, it is necessary to prepare a plurality of pressure springs having different spring constants and replace them as appropriate. However, in the bonding unit described in the above publication, one end of the pressure spring is expanded and contracted by a motor, The bonding pressure can be adjusted over a wide range without replacing the spring.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】このように従来のボン
ディングユニットでは、単一の加圧ばねにより、ボンデ
ィング圧力を広い範囲で調整できるが、構造が複雑にな
ると共に、その前提として、加圧ばねがばねストローク
の極めて長いものである必要があり、ボンディングユニ
ットが大型化する不具合があった。もちろん、加圧ばね
にばねストロークの短いものを用いれば、ボンディング
ユニットが小型化することができるが、かかる場合に
は、加圧ばねの交換が必要となり、取扱いが煩雑になる
不具合があった。また、ボンディングヘッドの自重の影
響は排除することができるが、加圧ばねの自重の影響は
排除することができなかった。As described above, in the conventional bonding unit, the bonding pressure can be adjusted over a wide range by a single pressure spring. However, the structure becomes complicated and the premise is that the pressure spring However, there is a problem that the spring unit needs to have a very long spring stroke, and the bonding unit becomes large. Of course, if a pressure spring having a short spring stroke is used, the size of the bonding unit can be reduced. However, in such a case, the pressure spring needs to be replaced, and the handling becomes complicated. Further, the influence of the self-weight of the bonding head can be eliminated, but the influence of the self-weight of the pressure spring cannot be eliminated.
【0005】本発明は、極めて単純な構造で且つ部品交
換を必要とすることなく、ボンディング圧力を広い範囲
で且つ精度良く調整することができるボンディングユニ
ットを提供することをその目的としている。An object of the present invention is to provide a bonding unit having a very simple structure and capable of adjusting a bonding pressure in a wide range and with high accuracy without requiring replacement of parts.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明のボンディングユ
ニットは、昇降手段により昇降するヘッドホルダと、ヘ
ッドホルダに上下方向に摺動自在に支持したボンディン
グヘッドと、ボンディングヘッドに固定したアームと、
アームに水平に取り付けた第1マグネットと、ヘッドホ
ルダに取り付けられ、第1マグネットの上方に同極同士
を対向させて配置した第2マグネットと、ヘッドホルダ
に取り付けられ、第1マグネットの下方に同極同士を対
向させて配置した第3マグネットとを備えたことを特徴
とする。According to the present invention, there is provided a bonding unit comprising: a head holder which is raised and lowered by lifting means; a bonding head which is slidably supported by the head holder in a vertical direction; and an arm which is fixed to the bonding head.
A first magnet mounted horizontally on the arm, a second magnet mounted on the head holder and arranged above the first magnet with the same poles facing each other, and a second magnet mounted on the head holder and mounted below the first magnet; A third magnet in which the poles are arranged to face each other.
【0007】この構成によれば、第1マグネットと第3
マグネットとの間に生ずる反発力が、アームを介してボ
ンディングヘッドを浮き上がらせる方向に作用するた
め、ヘッドホルダに摺動自在に支持されたボンディング
ヘッドの自重と、この反発力とが釣り合う。このため、
ボンディングの際に、ボンディングヘッドの自重の影響
(慣性などを含む)を排除することができる。一方、昇
降手段により、ボンディングヘッドがヘッドホルダと共
に下降してゆく過程で、ボンディングヘッドに吸着した
ペレットが被ボンディング対象物に突き当たると、ボン
ディングヘッドを残してヘッドホルダのみが下降し、や
がて停止する。すると、静止側の第1マグネットに移動
側の第2マグネットが十分に接近し、両者間に一定の反
発力が生ずる。この反発力は、第1マグネットからアー
ムを介してボンディングヘッドを下方に付勢し、ボンデ
ィング圧力(荷重)としてペレットに作用する。この場
合、ボンディング圧力は、第1、第2両マグネットの磁
束密度と両マグネットの離間距離とで決定する。両マグ
ネットの磁束密度は一定しているため、装置が必要とす
る最大のボンディング圧力に比して十分な磁力を有する
両マグネットを搭載すれば、両マグネットの離間距離、
すなわちヘッドホルダの下降ストロークでボンディング
圧力が決定する。したがって、予め下降ストロークと両
マグネットの反発力との関係(常に一定している)を計
測しておけば、ゼロから必要最大圧力までの範囲で、任
意のボンディング圧力の調整が可能になる。また、マグ
ネットは、従来のばねと異なり部材間(ヘッドホルダと
ボンディングヘッド間)に跨って配設されるものではな
いため、ばね自体の自重の影響も排除することができ
る。According to this configuration, the first magnet and the third magnet
Since the repulsive force generated between the magnet and the magnet acts in a direction in which the bonding head is lifted up via the arm, the weight of the bonding head slidably supported by the head holder is balanced with the repulsive force. For this reason,
At the time of bonding, the influence (including inertia and the like) of the weight of the bonding head can be eliminated. On the other hand, when the pellets adsorbed on the bonding head strike the object to be bonded in the process of lowering the bonding head together with the head holder by the elevating means, only the head holder is lowered leaving the bonding head, and eventually stops. Then, the second magnet on the moving side sufficiently approaches the first magnet on the stationary side, and a certain repulsive force is generated therebetween. The repulsive force urges the bonding head downward from the first magnet via the arm, and acts on the pellet as a bonding pressure (load). In this case, the bonding pressure is determined by the magnetic flux densities of the first and second magnets and the separation distance between the two magnets. Since the magnetic flux density of both magnets is constant, if both magnets with sufficient magnetic force are installed compared to the maximum bonding pressure required by the device, the separation distance between both magnets,
That is, the bonding pressure is determined by the downward stroke of the head holder. Therefore, if the relationship between the descending stroke and the repulsive force of both magnets (which is always constant) is measured in advance, it is possible to adjust the bonding pressure arbitrarily from zero to the required maximum pressure. Also, unlike the conventional spring, the magnet is not disposed across the members (between the head holder and the bonding head), so that the influence of the weight of the spring itself can be eliminated.
【0008】この場合、第2マグネットが第1マグネッ
トから受ける反発力を検出する圧力センサを、更に備え
ることが好ましい。In this case, it is preferable to further include a pressure sensor for detecting a repulsive force received by the second magnet from the first magnet.
【0009】この構成によれば、圧力センサを利用し
て、後述するように警報を発することができると共に、
ボンディング圧力のゼロおよびゼロからの立上り、更に
所定のボンディング圧力が加わっているか否かなどの検
出を行うことができる。ゼロからの立上りを利用すれ
ば、ボンディング圧力が加わってからのヘッドホルダの
下降ストロークを制御でき、ボンディング対象物および
被ボンディング対象物に厚みのばらつきなどがあって
も、ボンディング圧力を精度良く加えることとができ
る。もちろん、この検出結果をヘッドホルダの下降動作
にフィードバックすれば、ボンディング圧力の精度を、
より高めることができる。また、ハンダの供給不良、ご
みの噛み込みなども検出することができる。According to this configuration, an alarm can be issued using the pressure sensor as described later.
It is possible to detect whether the bonding pressure is zero, rise from zero, and whether or not a predetermined bonding pressure is applied. By using the rise from zero, the descending stroke of the head holder after the application of the bonding pressure can be controlled, and the bonding pressure can be accurately applied even if the thickness of the object to be bonded and the object to be bonded vary. Can be. Of course, if this detection result is fed back to the lowering operation of the head holder, the accuracy of the bonding pressure can be improved.
Can be more enhanced. In addition, it is possible to detect a defective supply of solder, a bite of dust, and the like.
【0010】この場合、圧力センサには警報手段が接続
されており、警報手段は、圧力センサの検出値が所定の
圧力値を越えた場合に、警報を行うことが好ましい。In this case, an alarm is connected to the pressure sensor, and the alarm preferably issues an alarm when the detected value of the pressure sensor exceeds a predetermined pressure value.
【0011】適切なボンディングを行うためには、ボン
ディング圧力が所定の値(範囲)になる必要があり、こ
れを越えた場合には装置側或いは被ボンディング対象物
側のいずれかの部分に不具合が生じていることである。
したがって、このような場合に警報を行うことで、不適
切なボンディングが継続して行われるのを回避すること
ができる。もちろん、この警報と同時に装置の駆動を停
止させるようにしてもよい。In order to perform proper bonding, the bonding pressure needs to be a predetermined value (range). If the bonding pressure exceeds this value, a defect occurs on either the device side or the object to be bonded. That is what is happening.
Therefore, by issuing an alarm in such a case, it is possible to prevent inappropriate bonding from continuing. Of course, the driving of the apparatus may be stopped simultaneously with this alarm.
【0012】これらの場合、圧力センサの検出結果に基
づいて、昇降手段を介してヘッドホルダの下降端位置を
制御する制御手段を、更に備えることが好ましい。[0012] In these cases, it is preferable to further include control means for controlling the lower end position of the head holder via the elevating means based on the detection result of the pressure sensor.
【0013】この構成によれば、圧力センサが所望の設
定圧力になったところで、昇降手段を介してヘッドホル
ダの下降を停止させる。これにより、ヘッドホルダの下
降ストロークに関係なく、ボンディング対象物に所望の
ボンディング圧力を加えることができる。したがって、
ボンディング対象物および被ボンディング対象物に厚み
のばらつきなどがあっても、所望のボンディング圧力を
精度良く加えることができ、ボンディングを正確かつ安
定に行うことがいできる。According to this configuration, when the pressure sensor reaches a desired set pressure, the lowering of the head holder is stopped via the elevating means. Thus, a desired bonding pressure can be applied to the bonding target regardless of the descending stroke of the head holder. Therefore,
Even if the bonding object and the object to be bonded vary in thickness, a desired bonding pressure can be applied with high accuracy, and bonding can be performed accurately and stably.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の一実施形態に係るボンディングユニットを搭載した
電子部品装着装置について説明する。図1は電子部品装
着装置の正面図であり、同図に示すように、この電子部
品装着装置1は、ヒートシンク供給装置2とボンディン
グ装置3とマウント装置4とで構成されている。ヒート
シンク供給装置2は、いわゆるパーツフィーダであり、
被ボンディング対象物となるヒートシンクを、一列に整
列させた状態で、ボンディング装置3に送り込む。ボン
ディング装置3は、外部から供給された半導体ペレット
(チップ)を、ヒートシンク供給装置2から供給された
ヒートシンク上に、ハンダを介してボンディングし、マ
ウント装置4に送り込む。マウント装置4は、ヒートシ
ンクにボンディングされた半導体ペレットを、基板上に
実装する。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component mounting apparatus having a bonding unit according to an embodiment of the present invention; FIG. 1 is a front view of the electronic component mounting device. As shown in FIG. 1, the electronic component mounting device 1 includes a heat sink supply device 2, a bonding device 3, and a mounting device 4. The heat sink supply device 2 is a so-called parts feeder,
The heat sink to be bonded is sent to the bonding apparatus 3 in a state of being aligned in a line. The bonding device 3 bonds semiconductor pellets (chips) supplied from the outside to the heat sink supplied from the heat sink supply device 2 via solder, and sends the semiconductor pellets (chips) to the mounting device 4. The mounting device 4 mounts the semiconductor pellet bonded to the heat sink on a substrate.
【0015】図1の正面図および図2の側面図に示すよ
うに、ボンディング装置3は、キャビネット5内に、ヒ
ートシンク供給装置2からマウント装置4に向かってほ
ぼ水平に延びるヒートシンク用の搬送通路6を備えると
共に、この搬送通路6に臨むように2組のダイボンダ3
a,3aを備えている。ヒートシンクは2個を単位とし
て間欠送りされ、それぞれのダイボンダ3a,3aに1
個ずつほぼ同時に供給される。なお、図中の符号7は、
ヒートシンクを間欠送りする送り爪である。As shown in the front view of FIG. 1 and the side view of FIG. 2, the bonding device 3 includes a transfer passage 6 for a heat sink extending substantially horizontally from the heat sink supply device 2 to the mounting device 4 in the cabinet 5. And two sets of die bonders 3 so as to face the transport passage 6.
a, 3a. The heat sink is intermittently fed in units of two, and one die is attached to each die bonder 3a, 3a.
The pieces are supplied almost simultaneously. In addition, the code | symbol 7 in a figure is
These are feed claws for intermittently feeding the heat sink.
【0016】各ダイボンダ3aは、ハンダ供給部11と
ダイ供給部12とプリアライメント部13とボンディン
グ部14とで構成されている。ハンダ供給部11は、シ
リンジを用いたディスペンサ形式のものであり、ヒータ
を組み込んだ搬送通路6で加熱されたヒートシンクの上
面にハンダを塗布する。Each die bonder 3a comprises a solder supply unit 11, a die supply unit 12, a pre-alignment unit 13, and a bonding unit 14. The solder supply unit 11 is of a dispenser type using a syringe, and applies solder to the upper surface of the heat sink heated by the transport passage 6 incorporating a heater.
【0017】ダイ供給部12は、上側のピックアップ機
構15と、ピックアップ機構15に対峙する下側の突上
げ機構16と、ピックアップ機構15および突上げ機構
16の中間に配設したXYテーブル17とを備えてい
る。ダイである半導体ペレットは、半導体ウェーハをダ
イシングした状態で供給される場合と、ダイシング後各
半導体ペレットに分離した状態で供給される場合とがあ
る。前者は、半導体ペレットをウェーハ粘着テープに貼
着したまま専用キャリアに搭載し、XYテーブル17に
セットするが、後者は、半導体ペレットを格子状に整列
させるようにして専用トレイに収容して、XYテーブル
17にセットする。後者の専用トレイの場合には、XY
テーブル17を駆動させて所望の半導体ペレットを、ピ
ックアップ機構15の直下に臨ませてピックアップを行
うが、後者の専用キャリアの場合には、ピックアップ機
構15の直下において、突上げ機構16を駆動し、半導
体ペレットを突き上げ、ウェーハ粘着テープから剥すよ
うにしてからピックアップを行う。そして、ピックアッ
プされた半導体ペレットは、ピックアップ機構15によ
り、プリアライメント部13に搬送される。なお、図中
の符号18は、XYテーブル17上において、半導体ペ
レットの不良品を識別するカメラである。The die supply unit 12 includes an upper pickup mechanism 15, a lower push-up mechanism 16 facing the pickup mechanism 15, and an XY table 17 provided between the pickup mechanism 15 and the push-up mechanism 16. Have. The semiconductor pellet which is a die may be supplied in a state where the semiconductor wafer is diced, or may be supplied in a state where each semiconductor pellet is separated after dicing. In the former, the semiconductor pellets are mounted on a dedicated carrier while being adhered to the wafer adhesive tape, and are set on the XY table 17. In the latter, the semiconductor pellets are arranged in a lattice and stored in a dedicated tray, and Set it on the table 17. In the case of the latter dedicated tray, XY
The table 17 is driven to pick up the desired semiconductor pellets directly under the pickup mechanism 15 for picking up. In the case of the latter dedicated carrier, the push-up mechanism 16 is driven immediately below the pickup mechanism 15, The semiconductor pellet is pushed up and peeled off from the wafer adhesive tape, and then picked up. Then, the picked-up semiconductor pellets are transported to the pre-alignment unit 13 by the pick-up mechanism 15. Reference numeral 18 in the figure denotes a camera for identifying defective semiconductor pellets on the XY table 17.
【0018】プリアライメント部13は、回転テーブル
19と、回転テーブル19上の半導体ペレットの角度を
認識する認識カメラ20とを備えている。ピックアップ
機構15から搬送されてきた半導体ペレットは、回転テ
ーブル19上に載置され、この半導体ペレットを認識カ
メラ20が上側から撮像して、半導体ペレットの水平面
内のおける角度の認識が行われる。そして、この認識結
果に基づいて、回転テーブル19が微小回転し、半導体
ペレットの角度補正が行われる。角度補正が行われた半
導体ペレットは、ボンディング部14に受け渡される。The pre-alignment unit 13 has a rotary table 19 and a recognition camera 20 for recognizing the angle of the semiconductor pellet on the rotary table 19. The semiconductor pellets conveyed from the pick-up mechanism 15 are placed on the turntable 19, and the recognition camera 20 takes an image of the semiconductor pellets from above, and the angle of the semiconductor pellets in the horizontal plane is recognized. Then, based on the recognition result, the rotary table 19 rotates minutely, and the angle correction of the semiconductor pellet is performed. The semiconductor pellets whose angles have been corrected are transferred to the bonding unit 14.
【0019】ボンディング部14は、半導体ペレットを
吸着すると共にこれをヒートシンク上にボンディングす
るボンディングユニット21と、ボンディングユニット
21を水平方向(Y軸方向)に移動させると共に、昇降
させる(Z軸方向)昇降機構(昇降手段)22とを備え
ている。昇降機構22は、ボンディングユニット21を
プリアライメント部13の回転テーブル19と搬送通路
6との間で移動させると共に、回転テーブル19および
搬送通路6に臨んだボンディングユニット21を昇降さ
せる。そして、回転テーブル19に臨んだボンディング
ユニット21は、下降して回転テーブル19上の半導体
ペレットを吸着し、搬送通路6に臨んだボンディングユ
ニット21は、下降して半導体ペレットを搬送通路6上
のヒートシンクにボンディングする。The bonding unit 14 adsorbs the semiconductor pellet and bonds the semiconductor pellet to a heat sink. The bonding unit 21 moves the bonding unit 21 in the horizontal direction (Y-axis direction) and moves up and down (Z-axis direction). And a mechanism (elevating means) 22. The elevating mechanism 22 moves the bonding unit 21 between the rotary table 19 of the pre-alignment unit 13 and the transport path 6, and moves the bonding unit 21 facing the rotary table 19 and the transport path 6 up and down. Then, the bonding unit 21 facing the rotary table 19 descends to adsorb the semiconductor pellets on the rotary table 19, and the bonding unit 21 facing the transport path 6 descends and removes the semiconductor pellets from the heat sink on the transport path 6. Bonding.
【0020】図3に示すように、ボンディングユニット
21は、半導体ペレットAを吸着するボンディングヘッ
ド31と、ボンディングヘッド31を上下方向に摺動自
在に保持するヘッドホルダ32とを備えており、ヘッド
ホルダ32は昇降機構22の下端部に固定されている。
ヘッドホルダ32は、昇降機構22に固定される取付部
33と、取付部33から延び、上保持部34aおよび下
保持部34bから成る断面「C」字状の保持部34とで
構成されている。上保持部34aおよび下保持部34b
の先端には、同軸上にガイド孔35,35がそれぞれ形
成されており、この両ガイド孔35,35にボンディン
グヘッド31が保持されている。一方、ボンディングヘ
ッド31は、半導体ペレットAを吸着するコレット36
と、コレット36を保持するホルダ本体38および軸部
39から成るコレットホルダ37とで構成されている。As shown in FIG. 3, the bonding unit 21 includes a bonding head 31 for sucking the semiconductor pellet A, and a head holder 32 for holding the bonding head 31 slidably in the vertical direction. 32 is fixed to the lower end of the lifting mechanism 22.
The head holder 32 includes a mounting portion 33 fixed to the elevating mechanism 22, and a holding portion 34 extending from the mounting portion 33 and having an “C” -shaped cross-section including an upper holding portion 34 a and a lower holding portion 34 b. . Upper holding part 34a and lower holding part 34b
Guide holes 35, 35 are formed coaxially at the tips of the two, respectively, and the bonding head 31 is held in both the guide holes 35, 35. On the other hand, the bonding head 31 is provided with a collet 36 for adsorbing the semiconductor pellet A.
And a collet holder 37 including a holder body 38 for holding the collet 36 and a shaft 39.
【0021】ボンディングヘッド31は、その軸部39
を上記の上保持部34aおよび下保持部34bの両ガイ
ド孔35,35に挿通しており、この状態で軸部39の
ほぼ中間部分には、上保持部34aと下保持部34bと
の間隙に位置するようにアーム40が固定されている。
これにより、ボンディングヘッド31は、アーム40が
上保持部34aと下保持部34bとに突き当たる範囲
で、上下方向に摺動する。アーム40は、保持部34の
内側空間に向かって延びる水平片41と、上保持部34
aの先端面に沿うように上方に延びる垂直片42とを有
している。垂直片42は、上保持部34aの先端面に取
り付けた一対のローラ43に挟み込まれており、ボンデ
ィングヘッド31の回止めとして機能している。また、
水平片41には、水平片41の厚みよりわずかに薄い第
1マグネット44が埋め込まれている。The bonding head 31 has a shaft 39
Are inserted into both the guide holes 35 of the upper holding portion 34a and the lower holding portion 34b, and in this state, a gap between the upper holding portion 34a and the lower holding portion 34b is provided substantially in the middle of the shaft portion 39. The arm 40 is fixed so as to be located at the position.
As a result, the bonding head 31 slides vertically in a range where the arm 40 abuts on the upper holding portion 34a and the lower holding portion 34b. The arm 40 includes a horizontal piece 41 extending toward the inner space of the holding portion 34 and an upper holding portion 34.
and a vertical piece 42 extending upward along the tip end surface of FIG. The vertical piece 42 is sandwiched between a pair of rollers 43 attached to the distal end surface of the upper holding portion 34a, and functions as a rotation stopper for the bonding head 31. Also,
A first magnet 44 slightly thinner than the thickness of the horizontal piece 41 is embedded in the horizontal piece 41.
【0022】第1マグネット44の直上には、第1マグ
ネット44と同極同士を対向させるようにして第2マグ
ネット45が配設されている。第2マグネット45はマ
グネットアーム46に埋め込まれるようにして取り付け
られており、マグネットアーム46はその基部で上保持
部34aから延びるブラケット47に上下方向揺動自在
に取り付けられている。また、ブラケット47には、マ
グネットアーム46の上側に位置して、ロードセルなど
から成る圧力センサ48が取り付けられている。圧力セ
ンサ48の検出端48aは、マグネットアーム46を介
して第2マグネット45の上側に当接しており、第2マ
グネット45が受ける力(圧力)を検出できるようにな
っている。一方、第1マグネット44の直下には、下保
持部34bから突出した着座部49に、第1マグネット
44と同極同士を対向させるようにして第3マグネット
50が埋め込まれている。なお、実施形態における各マ
グネット44,45,50は永久磁石で構成されている
が、電磁石で構成するようにしてもよい。A second magnet 45 is provided directly above the first magnet 44 so that the same poles as the first magnet 44 face each other. The second magnet 45 is attached so as to be embedded in a magnet arm 46, and the magnet arm 46 is attached at its base to a bracket 47 extending from the upper holding portion 34a so as to be vertically swingable. A pressure sensor 48 composed of a load cell or the like is attached to the bracket 47 above the magnet arm 46. The detection end 48a of the pressure sensor 48 is in contact with the upper side of the second magnet 45 via the magnet arm 46, so that the force (pressure) received by the second magnet 45 can be detected. On the other hand, immediately below the first magnet 44, a third magnet 50 is buried in a seating portion 49 protruding from the lower holding portion 34b so that the first magnet 44 and the same pole face each other. Although each of the magnets 44, 45, and 50 in the embodiment is constituted by a permanent magnet, it may be constituted by an electromagnet.
【0023】上述したように、第1マグネット44に対
して第2、第3マグネット45,50は、同極同士を対
向させて相互に反発するように配設されている。第1マ
グネット44と第3マグネット50との間に生ずる反発
力は、ボンディングヘッド31の自重を相殺し、第1マ
グネット44と第2マグネット45との間に生ずる反発
力は、ボンディングにおけるボンディング圧力(荷重)
の加圧源となる。すなわち、第1、第3マグネット4
4,50間の反発力は、アーム40を上方に付勢し、ア
ーム40を下保持部34bからわずかに浮かせるように
して、ボンディングヘッド(+アーム40)31の自重
と釣り合う。またこの状態で、第1、第3マグネット4
4,50間の反発力と第1、第2マグネット44,45
間の反発力とは釣り合っており、ボンディング圧力(圧
力センサ48はゼロ値ではないが)はゼロとなってい
る。As described above, the second and third magnets 45 and 50 are arranged so as to oppose the first magnet 44 and to repel each other with the same poles facing each other. The repulsive force generated between the first magnet 44 and the third magnet 50 cancels the self-weight of the bonding head 31, and the repulsive force generated between the first magnet 44 and the second magnet 45 is determined by the bonding pressure ( load)
Pressure source. That is, the first and third magnets 4
The repulsive force between 4, 50 urges the arm 40 upward and slightly lifts the arm 40 from the lower holding portion 34b, and balances with the own weight of the bonding head (+ arm 40) 31. In this state, the first and third magnets 4
4 and 50 and the first and second magnets 44 and 45
The repulsion force is balanced, and the bonding pressure (although the pressure sensor 48 is not a zero value) is zero.
【0024】一方、昇降機構22により、このボンディ
ングユニット21が下降し、ボンディングヘッド31に
吸着されている半導体ペレットAがヒートシンク(実際
にはハンダC)Bに接地(接触)すると、その後ヘッド
ホルダ32の下降が停止するまで、ヘッドホルダ32に
対しボンディングヘッド31が相対的に上昇する。これ
により、第1マグネット44が第2マグネット45に接
近し、両者間の反発力が増大する。ヘッドホルダ32の
下降端位置は、半導体ペレットAの厚み、ヒートシンク
Bの厚みおよびハンダCの性状により、予め設定されて
おり、ヘッドホルダ32が下降端位置で停止した状態の
第1、第2マグネット44,45間の反発力が、ボンデ
ィング圧力となる。On the other hand, when the bonding unit 21 is moved down by the elevating mechanism 22 and the semiconductor pellet A adsorbed on the bonding head 31 is grounded (contacted) with the heat sink (actually, the solder C) B, the head holder 32 is thereafter moved. Until the lowering of the bonding stops, the bonding head 31 moves up relative to the head holder 32. As a result, the first magnet 44 approaches the second magnet 45, and the repulsive force between them increases. The lower end position of the head holder 32 is preset according to the thickness of the semiconductor pellet A, the thickness of the heat sink B, and the properties of the solder C, and the first and second magnets in a state where the head holder 32 stops at the lower end position. The repulsive force between 44 and 45 is the bonding pressure.
【0025】そして、このボンディング圧力は、わずか
に揺動する第2マグネット45を介して圧力センサ48
により検出される。この場合、圧力センサ48の検出結
果を昇降機構22にフィードバックして、ボンディング
圧力を制御することも可能であるが、実施形態では、圧
力の立上りを検出してヘッドホルダ32の下降端位置を
制御すると共に、所定の圧力値を越えた場合に警報を発
するようにしている(コントローラ、警報装置等は図示
省略)。すなわち、ボンディング圧力は、ボンディング
ヘッド31に吸着した半導体ペレットAがハンダCに接
地してからのヘッドホルダ32の下降ストロークで決定
されるため、圧力センサ48の圧力の立上りでこの接地
を検出すれば、半導体ペレットAの厚みやヒートシンク
Bの厚みに製造上のばらつき(許容できる範囲)があっ
ても、ボンディング圧力を一定にすることができる。ま
た、所定の圧力値を越えた場合に警報を発するようにす
れば、半導体ペレットAとヒートシンクBとの間にごみ
などが噛み込んでも、これを認識することができる。Then, the bonding pressure is supplied to the pressure sensor 48 via the second magnet 45 which slightly swings.
Is detected by In this case, the detection result of the pressure sensor 48 can be fed back to the elevating mechanism 22 to control the bonding pressure. However, in the embodiment, the rising end of the pressure is detected to control the lower end position of the head holder 32. At the same time, an alarm is issued when a predetermined pressure value is exceeded (a controller, an alarm device, and the like are not shown). That is, since the bonding pressure is determined by the descending stroke of the head holder 32 after the semiconductor pellet A attracted to the bonding head 31 is grounded to the solder C, if this grounding is detected at the rise of the pressure of the pressure sensor 48, Even if the thickness of the semiconductor pellet A and the thickness of the heat sink B have manufacturing variations (acceptable range), the bonding pressure can be kept constant. If an alarm is issued when the pressure exceeds a predetermined pressure value, even if dust or the like is caught between the semiconductor pellet A and the heat sink B, this can be recognized.
【0026】以上のように、本実施形態のボンディング
ユニット21によれば、第1および第3マグネット4
4,50により、半導体ペレットAのボンディングにお
いて、ボンディングヘッド31の自重の影響(慣性など
を含む)を排除することができる。この場合、ボンディ
ングヘッド31の自重より、ボンディング圧力が小さい
場合には、特に有効である。また、第1および第3マグ
ネット44,45により、半導体ペレットAのボンディ
ングにおいて、半導体ペレットAに適切なボンディング
圧力を加えることができる。この場合のボンディング圧
力は、第1および第3マグネット44,45の反発力で
決定され、この反発力は両マグネット44,45の磁力
と離間距離で決定される。このため、半導体ペレット
A、ヒートシンクBおよびハンダC別に、予めこの離間
距離とヘッドホルダ32の下降ストローク(実際には、
ボンディングヘッド31に吸着した半導体ペレットAが
ハンダCに接地してからの下降ストローク)との関係を
測定しておけば、所望のボンディング圧力でボンディン
グを行うことができる。しかも、使用するマグネット4
4,45の磁力が十分強ければ、マグネット44,45
の反発力を利用することで、ボンディング圧力を広い範
囲で設定することができ、かつ半導体ペレットAに安定
したボンディング圧力を付与することができる。As described above, according to the bonding unit 21 of the present embodiment, the first and third magnets 4
4, 50, it is possible to eliminate the influence (including inertia and the like) of the bonding head 31 in the bonding of the semiconductor pellet A. In this case, it is particularly effective when the bonding pressure is smaller than the weight of the bonding head 31. In addition, the first and third magnets 44 and 45 can apply an appropriate bonding pressure to the semiconductor pellet A in bonding the semiconductor pellet A. In this case, the bonding pressure is determined by the repulsive force of the first and third magnets 44 and 45, and the repulsive force is determined by the magnetic force of the two magnets 44 and 45 and the separation distance. Therefore, for each of the semiconductor pellet A, the heat sink B, and the solder C, the separation distance and the descending stroke of the head holder 32 (actually,
If the relationship between the semiconductor pellet A adsorbed by the bonding head 31 and the descending stroke after the semiconductor pellet A is grounded to the solder C) is measured, bonding can be performed at a desired bonding pressure. Moreover, the magnet 4 to be used
If the magnetic force of 4, 45 is sufficiently strong, magnets 44, 45
By using the repulsive force of (1), the bonding pressure can be set in a wide range, and a stable bonding pressure can be applied to the semiconductor pellet A.
【0027】[0027]
【発明の効果】以上のように本発明のボンディングユニ
ットによれば、相互に反発するように配設した3個のマ
グネットにより、ボンディングヘッドの自重を相殺する
と共にボンディング圧力の加圧源を構成しているため、
極めて単純な構造で且つ部品交換を必要とすることな
く、ボンディング圧力を広い範囲で且つ精度良く調整す
ることができる。したがって、これをボンディング装置
に搭載した場合、装置の取扱い性および信頼性を向上さ
せることができる。As described above, according to the bonding unit of the present invention, the self-weight of the bonding head is offset by the three magnets arranged so as to repel each other, and a pressure source for the bonding pressure is formed. Because
The bonding pressure can be adjusted over a wide range and with high accuracy without having a very simple structure and requiring component replacement. Therefore, when this is mounted on a bonding apparatus, the handleability and reliability of the apparatus can be improved.
【図1】本発明の一実施形態に係るボンディングユニッ
トが搭載された電子部品装着装置の正面図である。FIG. 1 is a front view of an electronic component mounting apparatus on which a bonding unit according to an embodiment of the present invention is mounted.
【図2】実施形態に係るボンディングユニットが搭載さ
れたボンディング装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of a bonding apparatus equipped with a bonding unit according to the embodiment.
【図3】実施形態に係るボンディングユニットの側面図
である。FIG. 3 is a side view of the bonding unit according to the embodiment.
1 電子部品装着装置 3 ボンディング装置 14 ボンディング部 21 ボンディングユニット 22 昇降機構 31 ボンディングヘッド 32 ヘッドホルダ 40 アーム 44 第1マグネット 45 第2マグネット 48 圧力センサ 50 第3マグネット DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electronic component mounting device 3 Bonding device 14 Bonding part 21 Bonding unit 22 Elevating mechanism 31 Bonding head 32 Head holder 40 Arm 44 First magnet 45 Second magnet 48 Pressure sensor 50 Third magnet
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西尾 幸 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 市川 良雄 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Sachi Nishio 2-5-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Yoshio Ichikawa 2-chome, Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka No. 5 Sanyo Electric Co., Ltd.
Claims (4)
と、 当該ヘッドホルダに上下方向に摺動自在に支持したボン
ディングヘッドと、 当該ボンディングヘッドに固定したアームと、 当該アームに水平に取り付けた第1マグネットと、 前記ヘッドホルダに取り付けられ、前記第1マグネット
の上方に同極同士を対向させて配置した第2マグネット
と、 前記ヘッドホルダに取り付けられ、前記第1マグネット
の下方に同極同士を対向させて配置した第3マグネット
とを備えたことを特徴とするボンディングユニット。1. A head holder which is moved up and down by an elevating means, a bonding head slidably supported by the head holder in a vertical direction, an arm fixed to the bonding head, and a first magnet horizontally mounted on the arm. A second magnet attached to the head holder and arranged above the first magnet with the same poles facing each other; and a second magnet attached to the head holder and facing the same poles below the first magnet. A bonding unit, comprising: a third magnet arranged in a vertical direction.
トから受ける反発力を検出する圧力センサを、更に備え
たことを特徴とする請求項1に記載のボンディングユニ
ット。2. The bonding unit according to claim 1, further comprising a pressure sensor for detecting a repulsive force received by the second magnet from the first magnet.
ており、 当該警報手段は、前記圧力センサの検出値が所定の圧力
値を越えた場合に、警報を行うことを特徴とする請求項
2に記載のボンディングユニット。3. An alarm means is connected to the pressure sensor, and the alarm means issues an alarm when a detected value of the pressure sensor exceeds a predetermined pressure value. 3. The bonding unit according to 2.
前記昇降手段を介して前記ヘッドホルダの下降端位置を
制御する制御手段を、更に備えたことを特徴とする請求
項2または3に記載のボンディングユニット。4. Based on a detection result of the pressure sensor,
4. The bonding unit according to claim 2, further comprising control means for controlling a lower end position of the head holder via the elevating means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30573196A JP3369877B2 (en) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | Bonding unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30573196A JP3369877B2 (en) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | Bonding unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10135250A true JPH10135250A (en) | 1998-05-22 |
JP3369877B2 JP3369877B2 (en) | 2003-01-20 |
Family
ID=17948675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30573196A Expired - Fee Related JP3369877B2 (en) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | Bonding unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3369877B2 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003001572A2 (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-03 | Datacon Semiconductor Equipment Gmbh | Positioning device |
AT414079B (en) * | 2002-12-20 | 2006-08-15 | Datacon Semiconductor Equip | DEVICE FOR POSITIONING |
JP2010027726A (en) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Nikon Corp | Substrate joining apparatus |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5762185B2 (en) * | 2011-07-12 | 2015-08-12 | 株式会社新川 | Die bonding equipment |
-
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- 1996-10-31 JP JP30573196A patent/JP3369877B2/en not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
WO2003001572A2 (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-03 | Datacon Semiconductor Equipment Gmbh | Positioning device |
WO2003001572A3 (en) * | 2001-06-26 | 2003-09-12 | Datacon Semiconductor Equip | Positioning device |
AT411855B (en) * | 2001-06-26 | 2004-06-25 | Datacon Semiconductor Equip | POSITIONING DEVICE |
AT414079B (en) * | 2002-12-20 | 2006-08-15 | Datacon Semiconductor Equip | DEVICE FOR POSITIONING |
JP2010027726A (en) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Nikon Corp | Substrate joining apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3369877B2 (en) | 2003-01-20 |
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