JPH10134354A - 光記録媒体の最適記録及び再生光量の決定方法並びに記録再生方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ランドグルーブ型光磁気記録媒体を最適な記
録光パワー及び再生光パワーでそれぞれ記録・再生し
て、クロスライトを防止する。 【解決手段】 ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記
録光量を決定する方法である。ランド94に予め定めた記
録光量でテストパターン96を記録し、グルーブ92,94 に
種々の記録光量でテストパターン98,99 を記録する。テ
ストパターン９６のテストパターン98,99 に挟まれた磁
区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再
生信号との差を、テストパターン98,99 の記録光量毎に
求める。再生信号の差が所定の範囲内である場合のテス
トパターン98,99 の記録光量のうち最大記録光量を最適
記録光量として決定する。種々の記録光量で記録した磁
区への再生光量を種々の値に変更して再生することによ
り最適再生光量を決定することもできる。磁気超解像媒
体の再生信号のＳ／Ｎを向上することもできる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光記録媒体への最
適記録光量及び再生光量を決定する方法に関し、さらに
詳細には、ランドグルーブ型光記録媒体の最適記録光量
及び再生光量を決定するため方法並びに当該決定方法を
用いたランドグルーブ型光記録媒体の記録再生方法に関
する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気記録媒体は、透明基板上に、絶縁
膜を介して少なくとも一層の磁気記録膜及び反射膜等か
ら構成される多層膜が形成されている。基板は、射出成
型により予めグルーブ及びプリピットがトラック方向に
形成されており、グルーブ間にランド部（凸部）が画成
されている。ランド部には情報を記録するデータ記録領
域とアドレス信号等がプリピットの形で記録されたヘッ
ダ領域が存在する。グルーブは光ヘッドのトラッキング
を行うための案内溝として機能するため、情報は記録さ
れない。

【０００３】近年の情報処理量の増大に伴い高密度記録
が可能な光記録媒体が要求されており、グルーブを幅の
広いグルーブとして形成し、ランド部のみならずグルー
ブ内にも情報を書き込むいわゆるランドグルーブ型の光
磁気記録媒体が考案されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ランドグルーブ型光磁
気記録媒体の場合、トラックピッチが０．５〜０．８μ
ｍと狭く、しかもグルーブ部にも情報が記録されるた
め、記録光のパワーを高精度に調整して記録ドメインを
各トラックを構成するランド部及びグルーブ部内にそれ
ぞれ最適な大きさで形成する必要がある。記録パワーが
オーバーパワーであると、グルーブ部（またはランド
部）に記録したドメインは隣接するランド部（またはグ
ルーブ部）にまではみ出して形成され、隣接するトラッ
クに記録された情報を破壊することになる（クロスライ
ト／クロスイレーズ）。一方、記録パワーがアンダーパ
ワーであると、ドメインがトラック幅に対して小さくな
るため再生信号のＳ／Ｎが低下する。さらに、ランド部
とグルーブ部はフォーカス位置が異なるため、最適な記
録光パワーが異なり、それぞれ独立して調整することが
望ましい。

【０００５】ところで、光磁気記録はヒートモード記録
であるため、同一記録条件で記録を行っても記録装置温
度や媒体温度の影響によって記録磁区の大きさが変化し
てしまう。このため、記録装置温度や媒体温度の影響を
記録条件にフィードバックしながら記録を行う必要があ
る。また、光ヘッドの収差やデフォーカスに伴う光スポ
ット形状の違い、レーザ光源の特性の違いなどによる記
録装置のばらつき、あるいは記録媒体のロット間ばらつ
き等も記録条件に大きく影響する。

【０００６】本発明者らは、特願平８−１１８４９４号
において、上記のような種々の要因による記録条件の違
いにかかわらず一定の大きさの磁区を得るために、実際
の記録を行う前にテスト信号を種々の記録レーザパワー
で試し書きし、それを再生することによって記録光の最
適パワーを決定する方法を開示した。この方法では、レ
ーザ光パワーまたはレーザ光パルス幅を増減しつつ、テ
スト用データに応じた極性の磁界印加の下で、記録され
る磁区同士が重なり合わないような周期Ｔ₁ のレーザ光
パルスと記録される磁区同士が重なり合う周期Ｔ₂ のレ
ーザ光パルスをそれぞれ照射することにより孤立磁区群
と連続磁区群を形成する。次いで、それらの磁区群を再
生して再生信号の平均値の差Δ₁ を求め、基準値Δ₀ に
最も近いΔ₁ に対応するレーザ光パワーまたはレーザ光
パルス幅を選択する。選択されたレーザ光パワーまたは
レーザ光パルス幅を用いて光磁界変調記録を行うことに
より調整された磁区幅がトラック上に形成される。

【０００７】前記のようにランド部及びグルーブ部内に
それぞれ最適な大きさで磁区を形成する必要があるラン
ドグルーブ型光磁気記録媒体においても、なんらかの方
法で試し書きを行って記録光のパワー等を最適化するこ
とが望ましい。さらに、試し書きを行う領域では、通常
のユーザーデータ領域よりも高出力の記録レーザーで記
録を行う部分があるため、何度も試し書きを繰り返す
と、記録媒体が熱的にダメージを受け、試し書きを行う
領域の記録特性が変化してしまう。このため試し書きか
ら得られた記録条件は実際に記録が行われる記録領域の
最適条件を反映しない場合も生じる。

【０００８】また、光磁気記録媒体の高密度化を達成す
る技術の一つとして磁気超解像による再生方法が知られ
ている。この方法では記録層上に積層されたマスク層の
温度分布を利用して一つの微小磁区のみを検出すること
ができる。しかしながら、マスク層のマスクの大きさは
再生光のパワーにより変化するため、再生光のパワーを
最適化しなければＳ／Ｎが低下し、また磁気超解像によ
る高分解能は得られない。従って、磁気超解像をランド
グルーブ型光磁気記録媒体に用いた場合には、記録パワ
ーのみならず再生パワーも緻密に制御する必要がある。

【０００９】本発明の第１の目的は、ランドグルーブ型
光記録媒体の記録時のクロスライトを防止するための最
適記録光量を決定する方法を提供することにある。本発
明の第２の目的は、ランドグルーブ型光磁気記録媒体を
最適な記録光量で記録するためのランドグルーブ型光磁
気記録媒体の記録方法及び記録再生装置を提供すること
にある。

【００１０】また、本発明の第３の目的は、ランドグル
ーブ型光記録媒体の記録時のクロスライトを防止し且つ
再生時のＳ／Ｎを向上するための最適記録光量を決定す
る方法を提供することにある。本発明の第４の目的は、
ランドグルーブ型光磁気記録媒体を最適な記録光量及び
再生光量でそれぞれ記録・再生するためのランドグルー
ブ型光磁気記録媒体の記録再生方法及び記録再生装置を
提供することにある。

【００１１】本発明の第５の目的は、試し書きを行う領
域の過度の使用を防止して、試し書きによる最適記録光
量及び／または最適再生光量の決定を確実に行なうこと
ができる方法を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の態様に従
えば、ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を
決定する方法であって、第ｎトラックに予め定めた記録
光量でテストパターンＡを記録し、第ｎ＋１トラック及
び第ｎ−１トラックに、上記テストパターンＡの一部を
挟むように種々の記録光量でそれぞれテストパターンＢ
を記録し、第ｎトラックに記録されたテストパターンＡ
のうち、テストパターンＢに挟まれたテストパターンＡ
の部分からの再生信号と、テストパターンＢに挟まれて
いないテストパターンＡの部分からの再生信号との差
を、テストパターンＢの記録光量毎に求め、上記テスト
パターンＢに挟まれたテストパターンＡの部分からの再
生信号とテストパターンＢに挟まれていないテストパタ
ーンＡの部分からの再生信号との差が所定の範囲内であ
る場合のテストパターンＢを記録する記録光量のうち最
大記録光量を最適記録光量として決定することを含むラ
ンドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する
方法が提供される。

【００１３】本発明のランドグルーブ型の光記録媒体の
最適記録光量を決定する方法によれば、第ｎトラック、
例えば、ランド部に予め定めたテストパターンＡを記録
し、その両側に隣接するグルーブ部に種々の記録光量、
例えば、記録パワーでテストパターンＢを記録する（試
し書き：図９〜１１参照）。そしてランド部からのテス
トパターンＡのうちテストパターンＢで挟まれた部分か
らの再生信号と挟まれていない部分から再生信号とをそ
れぞれ再生しその差を求める。この差を求める操作を種
々の記録光量でテストパターンＢが記録された部分につ
いてそれぞれ行う。ここで、もし、グルーブ部のテスト
パターンＢがグルーブ部に挟まれたランド部のテストパ
ターン（マーク）をクロスライトまたはクロスイレーズ
していなければ、上記再生信号の差は所定の極めて小さ
な範囲、例えば、検出誤差範囲あるいは実質的になくな
る。上記再生信号の差が上記範囲内あるいは実質的にな
くなるグルーブ部への記録光量のうち最大記録光量がト
ラック幅内に最も有効にテストパターンを記録すること
ができる光量、すなわち、最もＳ／Ｎを高くする記録光
量とみなすことができる。こうして最適記録光量を決定
することができる。

【００１４】上記試し書きは最初にランドまたはグルー
ブの一方（第ｎ＋１及び第ｎ−１トラック）の最適記録
光量を決定した後に、その記録光量でランドまたはグル
ーブの一方を第ｍトラックに記録し、次いでその両側に
隣接するランドまたはグルーブの他方（第ｍ＋１及び第
ｍ−１トラック）を種々の記録光量で記録し、上記と同
様の操作に従ってランドまたはグルーブの他方の最適記
録光量を決定することができる。こうすることによっ
て、ランド部とグルーブ部について、それぞれ、クロス
ライトを生じない範囲で且つ最大Ｓ／Ｎをもたらすよう
に独立して最適記録光量を決定することができる。

【００１５】本発明では、特願平８−１１８４９４号に
記載されたような方法で最初にランド部またはグルーブ
部に記録する記録光量（記録パワーまたはパルス幅）を
決定することができる。すなわち、第ｎトラックに相当
するランド部またはグルーブ部に孤立磁区群と連続磁区
群を種々の記録光量で形成し、孤立磁区群からの再生信
号レベルの平均値と連続磁区群からの再生信号レべルの
平均値の差Δ₁ がゼロとなる記録光量を求め、それを上
記テストパターンＡの予め定めた記録光量として用いる
ことができる。こうすることによって、最初にランド部
またはグルーブ部に記録されるマークの幅を容易に制御
することができる。

【００１６】本発明の第２の態様に従えば、ランドグル
ーブ型の光記録媒体の最適記録光及び再生光量を決定す
る方法であって、ランド部またはグルーブ部の複数の領
域にそれぞれ異なる記録光量でテストパターンを記録す
る第１工程と、上記ランド部またはグルーブ部の複数の
領域の両側に隣接するグルーブ部またはランド部の複数
の領域にそれぞれ異なる記録光量でテストパターンを記
録する第２工程と、上記第１の工程で記録した複数のテ
ストパターンをそれぞれ種々の再生光量で再生する第３
工程と、第３工程で再生された複数のテストパターンか
らの種々の再生光量による複数の再生信号のうち最もエ
ラーの少ない再生信号をもたらす領域からの再生光量を
最適再生光量とし、当該最もエラーの少ない再生信号を
もたらす領域に記録した記録光量を最適記録光量とする
第４工程とを含むことを特徴とするランドグルーブ型の
光記録媒体の最適記録光及び再生光量を決定する方法が
提供される。

【００１７】上記本発明の第２または第３の態様におい
ては、例えば、ランド部の両側のグルーブ部を記録する
際に、記録光量を種々の値に変調するのみならずランド
部を再生する際の再生光量も種々の量に変調することに
よって種々の記録光量及び再生光量の組合せで得られた
複数の再生信号を得、かかる複数の再生信号のうちエラ
ーレートを最低にする最適記録光量及び最適再生光量の
組合せを決定している。また、この方法では記録光量の
みならず再生光量も同時に最適化することができるため
に、再生光の量により分解能及びＳ／Ｎが著しく変化す
る磁気超解像再生方式を用いた光磁気記録媒体に極めて
好適である。

【００１８】上記第４工程において、第３工程で再生さ
れた、種々の記録光量及び再生光量の組合せで記録及び
再生されたテストパターンからの再生信号のエラーをそ
れぞれ求め、当該エラーを再生光量毎に全ての記録光量
に渡って合計して、最もエラー合計が少なかった再生光
量を最適再生光量とし、当該最適再生光量で再生された
再生信号のうち最もエラーの少ない再生信号を生成する
記録光量を最適記録光量とすることによって最適再生光
量及び最適記録光量を決定することができる。第４工程
において、このような決定法を用いることによって再生
光のパワーマージンを最大にすることができる。

【００１９】あるいは、上記第４工程において、第３工
程で再生された、種々の記録光量及び再生光量の組合せ
で記録及び再生されたテストパターンからの再生信号の
エラーをそれぞれ求め、当該エラーを記録光量毎に全て
の再生光量に渡って合計して、最もエラー合計が少なか
った記録光量を最適記録光量とし、当該最適記録光量で
記録されたテストパターンからの再生信号のうち最もエ
ラーの少ない再生信号を生成する再生光量を最適再生光
量とすることによって最適記録光量及び最適再生光量を
決定することができる。第４工程においてこのような決
定法を採用することによって、記録光のパワーマージン
を最大にすることができる。

【００２０】上記本発明の第１及び第２の態様に従う方
法において、上記光記録媒体が上記テストパターンを記
録する領域を複数有し、テストパターンを記録する際
に、該複数のテストパターン記録領域から一つのテスト
パターン記録領域を選択するための、補助情報をテスト
パターン領域とは異なる領域に格納することが好まし
い。こうすることによって同一のテストパターン記録領
域の過度の使用による劣化が防止される。

【００２１】本発明の方法において、記録光の量または
記録光のパルス幅を変更することによって記録光量を種
々の光量に調整することができる。記録光のパルス幅を
変更することには一つの記録マークを記録する際に記録
光を複数のパルスに分割したり、一つの記録光パルスの
パルス長を変更する場合を含む。

【００２２】本発明の第３の態様に従えば、ランドグル
ーブ型の光記録媒体の記録再生装置において、記録光及
び再生光を上記光記録媒体に照射する光ヘッドと、上記
記録光及び再生光の少なくとも一方の光量を調整する光
量調整系と、記録された情報を上記再生光から検出する
再生信号検出系と、第ｎトラックに予め定めた記録光量
でテストパターンＡを記録し、第ｎ＋１トラック及び第
ｎ−１トラックに、上記テストパターンＡの一部を挟む
ように種々の記録光量でそれぞれテストパターンＢを記
録するように上記光ヘッド及び光量調整系を制御する制
御系と、第ｎトラックに記録されたテストパターンＡの
うち、テストパターンＢに挟まれたテストパターンＡの
部分からの再生信号とテストパターンＢに挟まれていな
いテストパターンＡの部分からの再生信号との差を記録
光量毎に演算する演算手段と、上記テストパターンＢに
挟まれたテストパターンＡの部分からの再生信号とテス
トパターンＢに挟まれていないテストパターンＡの部分
からの再生信号との差が所定の範囲内である場合のテス
トパターンＢを記録する記録光量のうち最大記録光量を
最適記録光量として決定する手段とを含むランドグルー
ブ型の光記録媒体の記録再生装置が提供される。

【００２３】本発明の第３の態様に従う記録再生装置に
より第１の態様に従う最適記録光量の決定方法を実行す
ることができ、決定された最適記録光量により情報の記
録が行われる。この記録再生装置は光磁気記録媒体を記
録再生する記録再生装置にすることができる。

【００２４】本発明の第３の態様に従う記録再生装置に
おいて、上記光量調整系、制御系、演算手段及び最適記
録光量の決定手段の機能を具現化する装置として、例え
ば、後述する実施例に示したように、上記光量調整系は
レーザ駆動装置により機能し、上記制御系及び上記最適
記録光量決定手段は記録再生装置のコントローラにより
機能し、上記演算手段は図１３、１５及び１７に示した
ような回路により機能することができる。

【００２５】本発明の第４の態様に従えば、ランドグル
ーブ型の光記録媒体の記録再生装置において、記録光及
び再生光を上記光記録媒体に照射する光ヘッドと、上記
記録光及び再生光の光量を調整する光量調整系と、記録
された情報を上記再生光から検出する再生信号検出系
と、ランド部またはグルーブ部の複数の領域にそれぞれ
異なる記録光量でテストパターンＡを記録させ、該ラン
ド部またはグルーブ部の複数の領域の両側に隣接するグ
ルーブ部またはランド部の複数の領域にそれぞれ異なる
記録光量でテストパターンＢを記録させ、上記複数のテ
ストパターンＡをそれぞれ種々の再生光量で再生させる
ように上記光ヘッド及び光量調整系を制御する制御系
と、検出された再生信号からエラーレートを算出するエ
ラーレート算出手段と、複数のテストパターンＡからの
種々の再生光量による複数の再生信号のうち最もエラー
の少ない再生信号をもたらす領域からの再生光量を最適
再生光量とし、当該最もエラーの少ない再生信号をもた
らす領域に記録した記録光量を最適記録光量とする最適
光量決定手段と、を含むことを特徴とするランドグルー
ブ型の光記録媒体の記録再生装置が提供される。

【００２６】第４の態様に従う本発明の記録再生装置に
より第２の態様に従う最適記録及び再生光量の決定方法
を実行することができ、決定された最適記録及び再生光
量により情報の記録が行われる。上記領域はセクタまた
は後述する実施例２に記録のようなブロックにすること
ができる。

【００２７】本発明の第４の態様に従う記録再生装置に
おいて、上記光量調整系、制御系、エラーレート算出手
段及び最適光量決定手段の機能を具現化する装置とし
て、例えば、後述する実施例に示したように、上記光量
調整系はレーザ駆動装置により機能し、上記制御系、エ
ラーレート算出手段及び最適記録光量決定手段は記録再
生装置のコントローラにより機能させることができる。

【００２８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態及び実
施例を図面を参照しながら具体的に説明する。

【００２９】図１に、ランドグルーブ型光磁気記録媒体
の最適記録光パワー及び再生光パワーを決定する方法に
用いることができる記録再生装置（ドライブ）の概要を
示す。この装置は、後述するランドグルーブ型光磁気デ
ィスク２１にコードデータと同期した一定周期でパルス
化された光を照射するためのレーザ制御系と、光磁気デ
ィスク２１に印加する磁界を制御する磁界制御系と、光
磁気ディスク２１からの信号を検出する信号検出系と、
それらの制御系を統括するドライブコントローラ３２０
から主に構成されている。レーザ制御系において、レー
ザ２２はレーザ駆動回路３２に接続されており、レーザ
駆動回路３２は、ＰＬＬ回路３９から後述するクロック
信号を受けてレーザ２２を制御する。磁界制御系におい
て、磁界を印加する磁気コイル２９は磁気コイル駆動回
路３４と接続されており、磁気コイル駆動回路３４はデ
ータが入力される符号器３０から位相調整回路３１を通
じて入力データを受けて磁気コイル２９を制御する。

【００３０】信号検出系において、レーザ２２と光磁気
ディスク２１との間には第１の偏光プリズム２５が配置
され、その側方には第２の偏光プリズム２５１及び検出
器２８及び２８１が配置されている。検出器２８及び２
８１は、それぞれ、Ｉ／Ｖ変換器３１１及び３１２を介
して、共に、減算器３０２及び加算器３０１に接続され
る。加算器３０１は及びクロック抽出回路３７を介して
ＰＬＬ回路３９に接続されている。減算器３０２は再生
信号検出回路３３を介して複号器３８に接続されてい
る。

【００３１】ドライブコントローラ３２０は、クロック
源３２２及びテストデータタイミング生成回路３２４を
備え、テストデータタイミング生成回路３２４は後述す
るサンプルホールドパルス、タイミングパルスを発生す
る。

【００３２】上記装置構成において、レーザ２２から出
射した光はコリメータレンズ２３によって平行光にさ
れ、偏光プリズム２５を通って対物レンズ２４によって
ディスク１上に集光される。ディスク２１からの反射光
は偏光プリズム２５によって偏光プリズム２５１の方向
に向けられ、１／２波長板２６を透過した後、偏光プリ
ズム２５１で二方向に分割される。分割された光はそれ
ぞれ検出レンズ２７で集光されて光検出器２８及び２８
１に導かれる。ここで、ディスク２１上にはトラッキン
グエラー信号及びクロック信号生成用のピットが予め形
成されている。クロック信号生成用ピットからの反射光
を示す信号が検出器２８及び２８１で検出された後、ク
ロック抽出回路３７において抽出される。次いでクロッ
ク抽出回路３７に接続されたＰＬＬ回路３９においてデ
ータチャネルクロックが発生される。

【００３３】データ記録の際に、レーザ２２はレーザ駆
動回路３２によってデータチャネルクロックに同期する
ように一定周波数で光変調され、幅の狭い連続したパル
ス光を放射し、回転するディスク２１のデータ記録エリ
アを等間隔に局部的に加熱する。また、データチャネル
クロックは、磁界制御系の符号器３０を制御して、基準
クロック周期の整数倍のデータ信号を発生させる。デー
タ信号は位相調整回路３１を経て磁気コイル駆動装置３
４に送られる。磁気コイル駆動装置３４は、磁界コイル
２９を制御してデータ信号に対応した極性の磁界をデー
タ記録エリアの加熱部分に印加する。

【００３４】光磁気ディスク２１の構造の一例を図２に
示す。光磁気ディスク２１は、幅広のグルーブ部１１４
を有し、ランド部１１２及グルーブ部１１４の両方に磁
区１１０が形成されるランドグルーブ型の光磁気ディス
クである。基板１０１上にには、通常、誘電体層、磁気
光学効果を奏する記録層、誘電体層、反射層及び保護層
を含む積層部１０３が形成されている（ここでは、説明
を簡単にするために各層の構成は省略する）。

【００３５】実施例１ この実施例では、図２に示したランドグルーブ型光磁気
ディスク２１に図１に示した記録再生装置（ドライブ）
を用いて種々の記録光パワーのレーザ光を照射すること
によってテスト信号を記録し（試し書き）、それらを再
生することによって、ランド部及びグルーブ部のそれぞ
れに最適な記録用レーザパワーを決定する方法を説明す
る。

【００３６】〔第１工程：試し書きのための仮の記録光
パワー設定〕まず、図１の記録再生装置にランドグルー
ブ型光磁気ディスク２１を搭載し、回転駆動した後、レ
ーザ２２を含む光学ヘッドをテストパターンの試し書き
が行われるランド部のトラック（第ｎトラック）に、磁
気コイル２９を含む磁気ヘッドを上記トラックの近傍に
それぞれ位置付ける。次いで、図３に示したテスト信号
用の記録外部磁界及び記録レーザパルスに従って、ディ
スク１に外部磁界を印加しつつ、レーザビームを照射し
てテスト信号を記録する。

【００３７】光磁界変調記録方式において実際に記録信
号を記録する際、図３の磁区群６５に示すようにすべて
の記録クロックでレーザを発光させて互いに重なりあっ
た磁区列を形成させる。この実施例では適正記録光パワ
ー決定用のテスト信号を記録するために（試し書き）、
レーザ発光の周期を記録クロックが間引きされるように
調整し、テスト信号用記録トラック領域に孤立した短い
磁区６４（以下、孤立磁区６４という）をいくつか形成
する（図３の磁区パターン左側）。孤立磁区６４の間隔
は、記録される磁区幅をトラックピッチよりも狭く且つ
狭すぎないようにするためにトラックピッチの約２倍の
長さに調整した。また、テスト記録領域には孤立磁区６
４に加えて、記録クロックでレーザを発光させて得られ
た互いに重なりあった磁区列６５（以下、連続磁区６５
という）を形成した。

【００３８】かかる孤立磁区６４及び連続磁区６５を、
上記領域とは別のいくつかのテスト信号用記録トラック
のランド部の領域で、記録光パワーを変化させてテスト
記録を行った。種々の記録光パワーで記録された孤立磁
区６４及び連続磁区６５からの再生信号を図４に示す。
図４において適正パワーとは、後述するΔ₁ がΔ₁ ＝０
になるパワーとし、それより大きいレーザパワー及び小
さいレーザパワーをそれぞれをオーバパワー及びアンダ
ーパワーとした。連続磁区６５からの再生信号は磁区が
互いに重なっているために、レーザパワーが低くても各
磁区からの再生信号の波形も重なっており、レーザパワ
ーを変化させても各信号の振幅は殆ど変化しない。

【００３９】一方、孤立磁区６４の方は、レーザパワー
により、隣会う磁区からの信号波形の重なりの度合いが
変化するために、図４中、水平破線で示した信号レベル
の平均値は大きく変動する。ここで、孤立磁区６４の再
生信号レベルの平均値と連続磁区６５のからの再生信号
レべルの平均値の差Δ₁ は、記録光パワーの変化に伴っ
て大きく変化している。このΔ₁ のレーザパワーに対す
る変化量は、図５に示すように連続磁区６５の信号、す
なわち、すべての記録クロックで記録を行った場合の信
号レベルの変化量Δ₂ よりも大きいことがわかる。従っ
て、通常の光磁界変調記録方式にて記録された磁区（連
続磁区）から得られる再生信号レベルに基づいてレーザ
パワー等を調整して磁区幅を制御するよりも、上記Δ₁
に基づいてレーザパワー等を調整することによって磁区
幅を制御する方がより高精度な制御が可能である。上記
のようにして得られた各レーザパワーでのΔ₁ (p) を、
レーザパワーと対応させて制御系（図示しない）に記憶
させておく。

【００４０】ここで、上記Δ₁ (p) を検出するための検
出系の一例を図６のブロック図で示す。種々のレーザパ
ワーの下で記録された上記孤立磁区６４及び連続磁区６
５から再生されたテスト記録信号を、信号周波数より低
いカットオフ周波数を持ったローパスフィルタに通し、
サンプルホールドパルスによりピーク値及びボトム値を
得、その差を減算器から求めることにより孤立磁区６４
及び連続磁区６５の信号レベルの平均値の差を得る。各
レーザパワーでのピーク値及びボトム値の差（振幅Δ₁
(p) ）をＡ／Ｄ変換した後、それらのΔ₁(p)値と基準値
（基準信号振幅）Δ₀ とを比較して、基準値Δ₀ に最も
近い値のΔ₁(p)を検索し、それに対応するレザーパワー
ｐを得る。ここで、基準値Δ₀ はランド部における目標
とする磁区幅に対応する理想的なΔ₁ 値であり、クロス
トーク、トラックピッチ等を考慮して予め設計段階で決
定される一定値である。この基準値Δ₀ は、光磁気記録
媒体のカー回転角のばらつきによる信号振幅変化が回路
のＤＣオフセット等の影響を受けにくいという理由から
Δ₀ ＝０になるようにした。

【００４１】上記得られたレーザ光パワーｐがランド部
へのテストパターンの記録時に基準値Δ₀ ＝０に対応す
る所定の磁区幅を得るためのレーザパワーとなる。

【００４２】次いで、グルーブ部においても、上記と同
様の方法で種々のレーザパワーでテストパターンの磁区
を試し書きして、Δ₁(p)が基準値Δ₀ ＝０となるような
レーザパワーｐを決定する。こうして、ランド部及びグ
ルーブ部についてそれぞれ独立に決定されたレーザパワ
ーｐをそれぞれＰＬ（０）及びＰＧ（０）と表す。これ
らのレーザパワーＰＬ（０）及びＰＧ（０）はランド部
とグルーブ部において独立して決定されたパワーである
ため、それぞれ隣接するトラックに対してクロスライト
を生じない範囲の最適パワーであるかどうかはわからな
い。そこで、以下の工程ではＰＬ（０）及びＰＧ（０）
を初期値として、それぞれグルーブ部に記録する際のパ
ワーとランド部に記録する際のパワーを隣接するトラッ
クからの再生信号を参照することにより調整する。

【００４３】なお、前記テスト信号用記録トラックとし
ては、図７に示したようにディスク最内周或いはおよび
最外周のユーザエリア４２外の一部４１、または、図８
に示したようにＺＣＡＶフォーマットであればユーザの
使用しないゾーン境界部近傍の非ユーザトラックの一部
４１であってもよい。

【００４４】〔第２工程：グルーブ部の記録光パワーＰ
Ｇ（ｉ）の設定〕最初に、第１工程で決定された初期パ
ワー値ＰＬ（０）でテスト信号を記録するランド部とそ
の両側に隣接するグルーブ部を各々ＰＬ（０）及びＰＧ
（０）より大きな記録光パワーで初期化して各磁区の磁
化の向きを一方向にそろえる。そして、図９に示したよ
うに、中央のランド部９２にレーザパワーＰＬ（０）で
単一繰り返しパターン９６を記録し、その後、両側に隣
接するグルーブ部９２，９４に１０バイト程度おきに初
期化された磁化の向きと同じ向きに連続パターン９８，
９９を記録する。グルーブ部９２，９４を記録する際、
記録光パワーは、ＰＧ（０）を中心にパワーを増減させ
る。例えば、セクタ毎にＰＧ（０）−２．０ｍＷ、ＰＧ
（０）−１．０ｍＷ、ＰＧ（０）、ＰＧ（０）＋０．１
ｍＷ、ＰＧ（０）＋０．２ｍＷのように順次パワーを変
えながら同一パターン９８，９９を記録する。図９は、
グルーブ部をＰＧ（０）＋０．２ｍＷ(b) のパワーで記
録した場合を示し、図１０は，グルーブ部をＰＧ（０）
のパワーで記録した場合を示し、図１１は、グルーブ部
をＰＧ（０）−０．２ｍＷ(b) のパワーで記録した場合
を示す。

【００４５】上記のように種々のパワーで両側のグルー
ブ部９２，９４を記録した後に、中央のランド部９０の
テストパターン９６を再生する。図９〜１１の磁区パタ
ーンの下方に再生信号の波形をそれぞれ示した。図９で
は、オーバーパワーでグルーブ部９２，９４にパターン
９８，９９が記録されたと考えられるために、パターン
９８，９９に挟まれたランド部の磁区８０からの再生信
号の振幅はクロスライトの影響でグルーブ部９２，９４
にパターン９８，９９が記録されていないランド部の磁
区８２からの再生信号の振幅よりも小さい。図１０で
は、適性パワーでグルーブ部９２，９４にパターン９
８，９９が記録されたと考えられるために、パターン９
８，９９に挟まれたランド部の磁区８０からの再生信号
の振幅はパターン９８，９９に挟まれていないランド部
の磁区８２からの再生信号の振幅とほぼ等しくなってい
る。また、図１１では、アンダーパワーでグルーブ部９
２，９４にパターン９８，９９が記録されたと考えられ
るために、パターン９８，９９に挟まれたランド部の磁
区８０からの再生信号の振幅は、両側のパターン９８，
９９からの影響を受けておらず、再生信号の振幅は、磁
区８０と磁区８２において再生信号の振幅は等しい。従
って、隣接グルーブ部が記録されているランド部の磁区
８０からの再生信号の振幅から、隣接グルーブ部が記録
されていないランド部の磁区８２からの再生信号の振幅
を差し引いて０となるグルーブ部の記録光パワーＰＧの
うち最大のパワーが適正パワーである（図１０の場合の
記録光パワー）。

【００４６】図１２(a) にＰＬ（０）のパワーで記録さ
れたランド部の磁区８０と磁区８２からの再生信号の比
（相対振幅）と、隣接するグルーブ部へ記録した記録光
パワーの関係を示す。図１２(a) に示したように、グル
ーブ部への記録光パワーが適正パワーを超えるとランド
部の磁区８０と磁区８２からの再生信号の比（相対振
幅）は低下してくる。

【００４７】上記第２工程で決定されたグルーブ部記録
用の適正パワーをＰＧ（１）とする。

【００４８】〔記録光パワーＰＧ（ｉ）決定のための回
路〕ここで、上記第２工程において記録光パワーＰＧ
（ｉ）決定のための回路について説明する。図１３は、
記録光パワーＰＧ（ｉ）決定のための回路の一例であ
る。図１３において、テスト波形のピーク値とボトム値
をピークホールド回路とボトムホールド回路（負のピー
クホールド回路）で求め、その２つの回路の出力の差を
差分検出回路で求める。差分検出回路はローパスフィル
タの機能をも備える。得られた差信号をサンプルホール
ド回路（Ｓ／Ｈ回路）でサンプルホールドした後、Ａ／
Ｄ変換して隣接したグルーブ部に記録が行われていた部
分と記録が行われていなかった部分からの信号レベルを
比較器で比較する。比較器の比較結果に基づいて記録光
パワー設定回路においてランド部（またはグルーブ部）
に記録される記録光パワーが設定される。記録光パワー
設定回路にはメモリが接続されており、一旦設定された
記録光パワー値を一時的にメモリに記憶しておき、次回
の記録時にＰＧ（０）（またはＰＬ（０））として用い
ることができる。

【００４９】図１４に、図１３に示したサンプルホール
ド回路に供給されるサンプルホールドパルス及びタイミ
ングパルス１，２の波形を図９に示したランド部の磁区
パターン及び再生信号波形とともに示した。また、図１
４には、差分検出回路からの出力波形を同時に示した。

【００５０】図１３に示した回路の変形例として、２つ
のサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ回路）を用いてピーク
ホールドとボトムホールドを実行する例を図１５に示
す。図１５に示した２つのサンプルホールド回路に入力
されるサンプルホールドパルス１及びサンプルホールド
パルス２及びレベル比較器に入力されるタイミングパル
ス１及びタイミングパルス２の波形をそれぞれ図１６に
示す。図１５に示した回路は、図１３に示した回路より
も多くの点で信号をサンプリングするためにＰＧ（ｉ）
（またはＰＬ（ｉ））を一層高精度に決定することがで
きる。

【００５１】図１７に、図１３に示した回路の別の変形
例を示す。図１７に示したブロック図は、テスト信号の
再生波形をサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ回路）にてＰ
ＬＬクロックのタイミングでサンプルホールドして、さ
らにＡ／Ｄ変換して各磁区におけるデジタル化した振幅
データを得る。隣接したグルーブ部に記録を行ったラン
ド部での初期化方向（白）の磁区のデータの振幅データ
をＤ0 、同じく記録方向（黒）の磁区（図９の８０）の
振幅データをＤ1 とする。隣接したグルーブ部に記録を
行っていない部分での初期化方向（白）の磁区のデータ
の振幅データをＤ2 、同じく記録方向（黒）の磁区（図
９の８２）の振幅データをＤ3 とする。これらのデータ
Ｄ3 ，Ｄ2 ，Ｄ1 ，Ｄ0 をＭＰＵ内の４つのメモリにそ
れぞれ格納しておき、演算処理部で（ΣＤ3 −ΣＤ2 ）
−（ΣＤ1 −ΣＤ0 ）＝ΔＤの演算を行って、隣接グル
ーブ部に記録を行った場所と行っていない場所の振幅の
差ΔＤを求める。図１７に示したようにΔＤが所定の値
ａ以下でない場合には、記録光パワー設定回路において
再び記録光パワーを設定して記録及び再生を行った後、
上記演算を再び行う。そしてΔＤが所定の値ａ以下にな
るまで記録光パワーを変更しながら上記演算を繰り返
し、それによってグルーブ部への適正記録光パワーを設
定することができる。

【００５２】また、図１７に示した回路を用いて、隣接
したグルーブ部からのクロスライトの影響を受けた場所
ではＳ／Ｎの低下、ジッタの増加が生じるのでＭＰＵに
おいてＤ0 〜Ｄ3 の標準偏差を演算してそれを比較して
も良い。あるいは、信号の振幅の差の代わりにエラー率
の差で比較しても良い。

【００５３】〔第３工程：ランド部の記録光パワーＰＬ
（ｉ）の設定〕第２工程で決定されたグルーブ部記録用
の適正パワーＰＧ（１）を用いてランド部記録用の適正
パワーを調整する。

【００５４】この工程での操作は第２工程で行ったのと
同様の操作を中央のグルーブ部がランド部により挟まれ
た３つのトラックについて行う。最初に、グルーブ部と
それに両側に隣接するランド部を各々ＰＧ（１）及びＰ
Ｌ（０）より大きな記録光パワーで初期化して磁化の向
きを一方向にそろえる。そして、中央のグルーブ部にＰ
Ｇ（１）の記録光パワーで単一繰り返しパターンを記録
する。その後、両側に隣接するランド部に１０バイト程
度おきに初期化された磁化の向きと同じ向きに記録を行
う（図９参照）。なお、このときランド部に記録する記
録光パワーは、ＰＬ（０）を中心にパワーを増減させ
る。例えば、セクタ毎にＰＧ（０）−２．０ｍＷ、ＰＧ
（０）−１．０ｍＷ、ＰＧ（０）、ＰＧ（０）＋０．１
ｍＷ、ＰＧ（０）＋０．２ｍＷのように順次パワーを変
えながら同一テストパターンを記録する。

【００５５】その後、中央のグルーブ部を再生し、隣接
ランド部に記録を行った場所と行っていない場所の振幅
を比較して適正パワーＰＬ（１）を決める。適正パワー
ＰＬ（１）は、前記の適正パワーＰＧ（１）を決定した
のと同様にして、隣接ランド部に記録を行ったグルーブ
部の磁区と隣接ランド部に記録を行っていないグルーブ
部の磁区からの再生信号の振幅の差が０となる最大のパ
ワーとする。図１２(b) にＰＧ（１）のパワーで記録さ
れた隣接ランド部に記録を行ったグルーブ部の磁区と隣
接ランド部に記録を行っていないグルーブ部の磁区から
の再生信号の比（相対振幅）と、隣接するランド部へ記
録した記録光パワーの関係を示す。図１２(b) に示した
ように、グルーブ部への記録光パワーが適正パワーを超
えるとグルーブ部からの再生信号の比（相対振幅）は低
下してくる。適正パワーの検出方法は第２工程と同様で
あり、図１３、図１５または図１７に示した回路を用い
ることができる。

【００５６】こうして決定されたランド部への適正記録
光パワーＰＬ（１）が最適であるかどうかは、ＰＬ
（１）とＰＬ（０）の差を求めることによって調べるこ
とができる。すなわち、ＰＬ（１）とＰＬ（０）の差が
十分小さいとき、例えば、｜ＰＬ（０）−ＰＬ（１）｜
＜１ｍＷのときは、これまでに得られたＰＧ（１）とＰ
Ｌ（１）を最適な記録光パワーとして一連の試し書き動
作を終了する。

【００５７】ＰＬ（１）とＰＬ（０）の差が予め決めて
おいた設定値より大きな場合は、ＰＬ（１）を用いて第
２工程を再度行いＰＧ（２）を決定し、ＰＧ（２）を用
いて第３工程における適正記録光パワーＰＬを決定し直
す。

【００５８】〔操作手順の例〕ランド部及びグルーブ部
に記録するための最適記録光パワーを決定するための操
作手順の一例を図１８のフローチャートに示した。この
フローチャートは、ランドグルーブ型光磁気記録媒体に
記録を行う際や記録再生装置の電源がオンにされたとき
にスタートする（ステップ２００）。前述の第１工程に
従ってＰＬ（０）とＰＧ（０）を決定する（ステップ２
０２及び２０４）。次いで、上記第２工程に従ってＰＬ
（０）を用いて適正パワーＰＧ（ｉ）（ｉ＝１）を決定
する（ステップ２０６）。そして、ＰＧ（ｉ）が最適パ
ワーであるかどうかを、｜ＰＧ（ｉ）−ＰＧ（ｉ−１）
｜＜ΔG （ΔG は予め設定した値であり、例えば１ｍ
Ｗ）を満足するか否かによって調べる（ステップ２０
８）。満足しない場合または満足するがｉ＝１の場合
（ステップ２２４）、ステップ２１０に進み、ｉ＞Ｎを
判別する（ここで、Ｎは繰り返し回数の最大値であり、
通常３〜４である）。ｉ＞Ｎである場合には異常終了す
る（ステップ２３０）。

【００５９】ｉ≦Ｎである場合には、上記第３工程で説
明した方法に従って、ステップ２１２でＰＧ（ｉ）を用
いてランド部の適正パワーＰＬ（ｉ）を決定する。次い
で、適正パワーＰＬ（ｉ）が最適か否かを、｜ＰＬ
（ｉ）−ＰＬ（ｉ−１）｜＜ΔL（ΔL は予め設定した
値であり、例えば１ｍＷ）を満足するか否かによって調
べる（ステップ２１４）。満足する場合で且つＰＧ
（ｉ）が最適である場合には、ＰＬ（ｉ）及びＰＧ
（ｉ）の両方のパワーが最適であるために正常終了する
（ステップ２３２）。｜ＰＬ（ｉ）−ＰＬ（ｉ−１）｜
＜ΔL は満足するが、ステップ２０６で決定したＰＧ
（ｉ）が最適でない場合、及び｜ＰＬ（ｉ）−ＰＬ（ｉ
−１）｜＜ΔL を満足しない場合には、ステップ２１６
に進みｉ＞Ｎが判断される。

【００６０】ステップ２１６でｉ≦Ｎである場合には、
ｉ＝ｉ＋１（ステップ２１８）とした後、ステップ２０
６に戻り、再びＰＧ（ｉ）を決定し、ステップ２０８以
降の操作を続ける。そして、ステップ２０８で条件を満
足し且つ｜ＰＬ（ｉ−１）−ＰＬ（ｉ−２）｜＜ΔL を
満足する場合にはいずれの最適パワーＰＬ，ＰＧも決定
されたために正常終了する（ステップ２３４）。ステッ
プ２１６でｉ＞Ｎである場合には異常終了する（ステッ
プ２３０）。

【００６１】図１８に示した操作手順は一例にすぎず、
種々の手順でランド部及びグルーブ部の最適パワーを決
定することができる。例えば、前記第１工程の操作（ス
テップ２０２及び２０４）において、ＰＬ（０）及びＰ
Ｇ（０）として予め設定した値を用いてもよい。この設
定値は記録再生装置（ドライブ）のメモリ等に格納して
おくことができる。また、上記フローチャートに従って
一旦最適記録光パワーＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）が決定
された場合には、一定の条件下で、次の記録を行うとき
にその最適記録光パワーＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）をＰ
Ｌ（０）及びＰＧ（０）の値として使用することができ
る。最適記録光パワーＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）の値
は、例えば、図１３及び図１５に示した記録光パワー設
定回路に接続されたメモリに格納しておくことができ
る。

【００６２】上記実施例では、ランド部にパワーＰＬ
（０）でテストパターンを記録するとともにその両側の
グルーブ部に記録するパワーを変更してグルーブ部の適
正記録光パワーを決定する操作と、グルーブ部にパワー
ＰＧ（０）でテストパターンを記録するとともにその両
側のランド部に記録するパワーを変更してランド部の適
正記録光パワーを決定する操作とを連続して行ったが、
いずれか一方の操作だけを行ってもよい。いずれか一方
の操作だけでもクロスライトを防止するためには有効と
なる。

【００６３】上記実施例で説明した試し書きによる最適
記録光パワーを決定する方法を、ランドグルーブ型光磁
気記録媒体が装着された記録再生装置の動作開始時点で
実行することが好ましい。または、上記方法を、光磁気
記録媒体を記録再生装置に装着した時点あるいは光磁気
記録媒体を記録再生装置に装着した時点から１分〜１０
分の間隔で実行してもよい。さらに、媒体の内周または
外周から順に長時間記録を行う場合、記録開始前に実行
してもよい。ＺＣＬＶで内周または外周から順に長時間
記録を行う場合、ゾーン境界部で毎回あるいは数ゾーン
毎に実行することもできる。

【００６４】実施例２ 実施例１ではランドグルーブ型光磁気記録媒体の記録光
の最適パワーを決定したが、この実施例では試し書きに
より記録光のみならず再生光の最適パワーを同時に決定
する方法を説明する。

【００６５】図２に示したランドグルーブ型光記録媒体
に以下のような第１工程から第４工程に従ってテストパ
ターンを記録再生する。ここで、ランドグルーブ型光記
録媒体の一周（１トラック）をＢ個のブロックに区画す
る。セクタ数をＬとすると、各ブロックにはＢ／Ｌ個の
セクタが含まれる。

【００６６】〔第１工程：テストパターンＡの記録〕テ
スト信号を記録する領域の第ｎトラック（ランド部とす
る）に光ヘッドを位置づけた後、第０ブロック（第０セ
クタ）から第Ｂブロックまでブロックが変わるごとに順
次記録光パワーを上げながらテストパターンＡを記録す
る。例えば、第０ブロックをパワーＰ０で記録し、第１
ブロックをパワーＰ０＋Δ、第２ブロックをパワーＰ０
＋２Δで記録し、・・・・・、第ｍブロックをパワーＰ
０＋ｍΔで記録する。同一番号のブロックに含まれる各
セクタには同一のパワーのレーザ光で記録が行われる。
第ｎトラックの第ｍブロックの記録光パワーＰｗを、Ｐ
ｗ（ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔで表す。

【００６７】〔第２工程：テストパターンＢの記録〕次
に、上記のようにしてテストパターンＡが記録されたラ
ンド部（第ｎトラック）の両側に隣接するグルーブ部、
すなわち、第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、
ランド部の各ブロックに記録したパワーと同一パワーで
テストパターンＢを記録する。ｎ＋１トラック及び第ｎ
−１トラックの記録光パワーＰｗ（ｎ＋１，ｍ）＝Ｐｗ
（ｎ−１，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔ。この例では、Ｂ＝５、Ｌ
＝２０、Ｐ０＝５ｍＷ，Δ＝１ｍＷとした。

【００６８】〔第３工程：テストパターンＡの再生〕上
記のようにして両側のグルーブ部にテストパターンＢを
記録した後、第ｎトラックの各ブロックに記録したパタ
ーンＡを再生する。再生光のパワーＰｒを種々の強度、
この例では、Ｐｒ＝１．０ｍＷ、１．５ｍＷ，２．０ｍ
Ｗ，２．５ｍＷ，３．０ｍＷに変更しながら、第ｎトラ
ックを再生した。

【００６９】〔第４工程：最適記録・再生光パワーの決
定〕再生信号からエラー数を測定し、各ブロック内のセ
クタのエラー数が基準値を超えないセクタ数Ｓ（Ｐｒ）
を求めた。この操作を各再生光パワーＰｒ毎に行い、種
々の記録光パワー及び種々の再生光パワーにおけるＳ
（Ｐｒ）を図２０のテーブルに示した。テーブルの右端
には各再生光パワーにおけるすべてのブロックからＳ
（Ｐｒ）の合計Ｓを表示した。Ｓが最も大きくなるＰｒ
を最適再生光パワーＰｒbestとすることができ、テーブ
ルの結果よりＰｒbest＝２．０ｍＷであることがわか
る。また、最適記録光パワーＰｗbestはＰｒbestにおけ
るＳ（Ｐｒ）内で最も大きなＳ（Ｐｒ）をもたらす記録
光パワーとすることができる。テーブル中、Ｐｒ＝２．
０ｍＷの場合、Ｐｗ＝６ｍＷ，７ｍＷ，８ｍＷにおいて
いずれもＳ（Ｐｒ）＝４であるため、中央のパワーとし
てＰｗ＝７ｍＷを最適記録光パワーＰｗbestとした。こ
うして最適再生光パワーＰｒbest＝２．０ｍＷ及び最適
記録光パワーＰｗbest＝７ｍＷが求められた。

【００７０】上記第１工程において、最初に、同一記録
光パワーでパターンＡを第ｎトラックの各ブロックを記
録した後、各セクタのエラー測定し、予め不良セクタを
除外しておいてもよい。こうすることで、欠陥などの初
期不良に基づく再生信号のエラーをクロスライトによる
再生信号によるエラーから取り除いておくことができ、
最適記録及び再生光パワーを一層正確に決定することが
できる。

【００７１】上記第４工程において、各再生光パワーに
おけるすべてのブロックからＳ（Ｐｒ）の合計Ｓを求
め、Ｓが最大のＰｒを最適再生光パワーとしたが、記録
光パワー毎に全ての再生光パワーで再生された信号から
のＳ（Ｐｒ）の合計Ｓ’を求め、最大Ｓ’となる記録光
パワーを最適記録光パワーＰｗbestとすることができ
る。図２０のテーブルにおいて最適記録光パワーＰｗbe
stは７ｍＷとなる。そして、最適再生光パワーＰｒbest
は、最適記録光パワーＰｗbestにおけるＳ（Ｐｒ）が最
大になるパワー、すなわち、２．０ｍＷまたは２．５ｍ
Ｗにすることができる。このように最適記録光パワー及
び最適再生光パワーを選択すると、記録光パワーマージ
ンを最大に設定できる。

【００７２】上記実施例では、テストパターンＡをラン
ド部（第ｎトラック）を記録するとともにその両側のグ
ルーブ部（第ｎ＋１及び第ｎ−１トラック）にテストパ
ターンＢを記録した後に、ランド部を再生してランド部
への最適記録及び再生光パワーをこのランドグルーブ型
光記録媒体の最適記録光パワー及び最適再生光パワーと
した。しかしながら、グルーブ部（例えば、第ｎ＋１ト
ラック）にテストパターンＡを記録し、その両側のラン
ド部（例えば、第ｎ及び第ｎ＋２トラック）にテストパ
ターンＢを記録して、上記第３及び第４工程に準じてグ
ルーブ部からの再生信号を検出してグルーブ部への記録
及び再生のための最適パワーを決定することができる。
すなわち、ランド部及びグルーブ部についてそれぞれ最
適な記録及び再生光パワーを決定することができ、ラン
ド部及びグルーブ部への記録及び再生光のフォーカスの
相違に対処することが可能となる。

【００７３】上記の第１から第４工程の操作は、ドライ
ブの始動時等の所定のタイミングで繰り返して行われ
る。あるタイミングで第１から第４工程の操作を行った
後、次のタイミングで第１から第４工程の操作を再び行
う場合には、第１の工程において記録光パワー順次減少
させることが好ましい。例えば、上記第１の工程で定め
た第ｎブロックの記録光パワーＰｗ（ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋
ｍΔを、Ｐｗ（ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋（Ｌ−ｍ）Δとするこ
とができる。このように試し書きのたびに記録光パワー
の順序を入れ替えることによって、最大記録光パワー部
が同一トラック内の２ヶ所のブロックに分散されるので
試し書き領域の劣化が少なくなる。

【００７４】実施例２の変形例 実施例２の変形例を図２７に示す。実施例２の第２工程
ではテストパターンＡが記録されたランド部の両側に隣
接するグルーブ部に同一の記録光パワーでテストパター
ンＢを記録したが、この変形例では両側に隣接するグル
ーブ部にそれぞれ異なる記録光パワーでテストパターン
を記録する例を示す。図２７は、ランドグルーブ型光記
録媒体のテストパターンが記録される（試し書きが行わ
れる）領域のセクタ配置図であり、図面横方向にセクタ
Ｎ，Ｎ＋１，Ｎ＋２・・Ｎ＋Ｑが配列され、図面縦方向
にトラックｍ，ｍ＋１，ｍ＋２・・・ｍ＋Ｒが配列して
いるものとする。各トラックのセクタにテストパターン
がそれぞれ異なる記録光パワーで記録されている。

【００７５】記録光パワーは、例えば、Ｗｒ１０＜Ｗｒ
１１＜Ｗｒ１２＜Ｗｒ１３・・・＜Ｗｒ１Ｑ、Ｗｒ１Ｑ
＜Ｗｒ１０、Ｗｒ１０＜Ｗｒ２０＜Ｗｒ３０＜Ｗｒ４０
・・・ＷｒＲ０になるように一定の変化率で変化させ
て、セクタ番号及びトッラク番号に従って増大するもの
とする。例えば、セクタ毎の記録光パワーの変化率をα
としトラック毎の記録光パワーの変化率をβ（α＜β）
とすることができる。すなわち、全てのセクタはそれぞ
れ異なる記録光パワーで記録されているために、例え
ば、第ｍ＋１のトラック（例えば、ランド部とする）の
第Ｎセクタと、それに隣接する第ｍトラック（この場
合、グルーブ部）の第Ｎセクタと、第ｍ＋２トラック
（この場合、グルーブ部）の第Ｎセクタとはそれぞれ異
なる記録光パワーで記録されている。この場合、隣接す
るセクタ間の記録光パワーの関係によってはクロスライ
トが発生する。そして、上記実施例２と同様に各セクタ
について再生光パワーを種々の値に変調して再生する。

【００７６】各セクタについて再生光パワーを種々の値
に変調する場合、再生光パワーを全領域を再生する毎に
変化させることができる。そして、図２０に示したよう
に、記録光パワーと再生光パワーとの関係を示すマトリ
ック条件を作成する。前述のような手法で最適記録光パ
ワーと最適再生光パワーを決定することができる。最適
記録光パワーは、エラーレートの最も少ないセクタの両
側のセクタの記録光パワーの平均を採ることで求めるこ
とができる。この変形例では実施例２の場合に比べてテ
スト領域の縮小とテスト時間の短縮を図ることができ
る。また、グルーブ部とランド部とについてそれぞれ独
立して最適記録光パワーを決定することができる。

【００７７】この実施例２及び変形例では図２に示した
ランドグルーブ型光記録媒体に光磁気記録を行う場合に
ついて説明してきたが、本発明は磁気超解像による再生
が可能な光磁気記録媒体に有効である。磁気超解像再生
方式はマスク層の温度特性を利用することにより光学的
分解能を飛躍的に高めることができる。すなわち、、再
生光のスポット径の１／２未満の大きさの微小磁区でさ
えも独立に再生することができる。しかしながら、再生
光から他の微小磁区をマスクするマスク層のマスク形状
は再生光の強度によっても変化する。そのため、再生光
強度が適切でなければ、磁気超解像再生方式による高分
解能は得られず、また、再生信号のＳ／Ｎが低下するお
それもある。そこで、この実施例の方法を磁気超解像に
よる再生が可能な光磁気記録媒体に適用して、磁気超解
像の再生光の最適パワー強度を図２０に示したようなテ
ーブルを用いて求めることができる。これにより、磁気
超解像再生方式のランドグルーブ型光磁気記録媒体から
高分解能且つ高Ｓ／Ｎの再生信号が得られる。

【００７８】実施例３ 前記実施例１及び２では最適記録パワー及び最適再生パ
ワーを決定するためにテストパターンの試し書きを行っ
た。本実施例では、試し書き領域の過度の使用による劣
化を防止することができる光磁気記録媒体の記録再生方
法を説明する。

【００７９】図２１を用いて本発明の方法を説明する。
図２１は、図２に示したような光記録媒体の第ｎトラッ
ク内の配置の一部を概念的に示した図である。図中、第
ｎトラック内には複数の試し書き領域が存在し、各試し
書き領域の後方にはデータ領域が配置されている。本発
明においては、複数の試し書き領域から一つの試し書き
領域を選択するための補助情報が、試し書き領域とは異
なる領域に記録される。また、補助情報のアドレスに
は、通常のユーザーはユーザーデータを記録することが
できないようにする。

【００８０】図２１では、補助情報の後方に、試し書き
領域Ａ、データ領域Ａ、試し書き領域Ｂ、データ領域Ｂ
が配置されている。以下、簡単のため、複数の試し書き
領域としては試し書き領域Ａ及び試し書き領域Ｂのみが
あるものとして、図２２（ａ）及び（ｂ）に示された二
つのタイプの補助情報の例を用いながら説明する。

【００８１】図２２（ａ）においては、補助情報は、各
試し書き領域を用いて試し書きを行った回数と、各試し
書き領域への試し書きが許容されるか、否かを判別でき
る情報から構成される。すなわち、図２２（ａ）に示す
補助情報は、試し書き領域Ａを用いて試し書きを行った
回数を示すＣＮＴ＿Ａと、試し書き領域Ａへの試し書き
が許容されるか、否かを判別できる情報ＦＬＧ＿Ａ、試
し書き領域Ｂを用いて試し書きを行った回数を示すＣＮ
Ｔ＿Ｂと、試し書き領域Ｂへの試し書きが許容される
か、否かを判別できる情報ＦＬＧ＿Ｂとから構成されて
いる。

【００８２】ＦＬＧ＿Ａには、試し書き領域Ａへの試し
書きが許容される場合は“１”が、試し書き領域Ａへの
試し書きが許容されない場合は“０”が記録される。同
様に、ＦＬＧ＿Ｂには、試し書き領域Ｂへの試し書きが
許容される場合は“１”が、試し書き領域Ｂへの試し書
きが許容されない場合は“０”が記録される。

【００８３】図２２（ａ）に示した補助情報を用いて試
し書き領域Ａと試し書き領域Ｂの二つの領域から一つの
試し書き領域を選択する手順を、図２３及び図２５を参
照して説明する。図２３は、図２２（ａ）に示した補助
情報から、試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの
試し書き領域を選択する手順の一例をフローチャートで
示す。図２５は、補助情報の内容と、使用される試し書
き領域の関係を示している。

【００８４】試し書きが許容されている試し書き領域Ａ
を用いて、試し書きを行った回数が、あらかじめ設定し
た回数以上となった場合に、試し書き領域Ａへのこれ以
上の書き込みが許容されないように、補助情報が書き換
えられる。ここでは、ＣＮＴ＿Ａが１６進数のＦＦＦＦ
に達した場合に、ＦＬＧ＿Ａが“１”から“０”に変更
されることが相当する。また、試し書きが許されている
試し書き領域を用いて、試し書きを行った回数が、あら
かじめ設定した回数より大なる場合に、過去に試し書き
が行われていない別の試し書き領域を、新しい試し書き
領域として試し書きを許容できるように補助情報を書き
換える。ここでは、ＣＮＴ＿Ａが１６進数のＦＦＦＦに
達した場合に、ＦＬＧ＿Ｂが“０”から“１”に変更さ
れることが相当する。次いで、試し書き領域Ｂにおいて
領域Ａと同様に試し書き回数がその上限に達するまで試
し書きが行われる。そして領域Ｂでの試し書き回数がそ
の上限に達したならば、ＦＬＧ＿Ｂが再び“０”に書き
換えられ、次の試し書き領域（Ｃ）で試し書きが行われ
る。

【００８５】このように、各試し書き領域は、試し書き
回数の上限が設定されているため、何度も試し書きを繰
り返して、記録媒体が熱的にダメージを受け、記録特性
が変化する前に、別の試し書き領域を用いることができ
る。このため、安定した記録特性を有する試し書き領域
を用いての試し書きが可能となり、記録条件の最適化が
図れる。

【００８６】一方、図２２（ｂ）においては、試し書き
が許容された試し書き領域を用いて試し書きを実行した
回数ＣＮＴと、試し書きが許容される試し書き領域を指
定する情報ＤＳＴから構成される。

【００８７】図２２（ｂ）に示した補助情報を用いて、
試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領
域を選択する手順を、図２４と図２６を参照して説明す
る。図２４は、図２２（ｂ）に示した補助情報から、試
し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域
を選択する手順のフローチャートを示す。図２６は、補
助情報の内容と、使用される試し書き領域の関係を示し
ている。

【００８８】図２６において、ＤＳＴが“１”の場合は
試し書き領域Ａを使用し、ＤＳＴが“２”の場合は試し
書き領域Ｂを使用して試し書きを行う。試し書きが許容
されている試し書き領域を用いて、試し書きを行った回
数ＣＮＴが、あらかじめ設定した回数より大なる場合
に、過去に試し書きが行われていない別の試し書き領域
を、新しい試し書き領域として試し書きを許容できるよ
うに補助情報を書き換える。ここでは、ＣＮＴが１６進
数のＦＦＦＦに達した場合に、ＤＳＴが“１”から
“２”に変更されて、使用される試し書き領域が試し書
き領域Ａから試し書き領域Ｂに変更されることが相当す
る。このように、各試し書き領域は、試し書き回数の上
限が設定されているため、何度も試し書きを繰り返し
て、記録媒体が熱的にダメージを受け、記録特性が変化
することを回避でき、安定した試し書きが可能となるの
は、図２２（ａ）の場合と同様である。

【００８９】なお、図２１の説明において、同一トラッ
ク上に複数の試し書き領域を有することを想定したが、
同一セクター上に複数の試し書き領域を有することも可
能であり、本発明の範囲に包含される。

【００９０】上記実施例１〜３において、試し書き領域
の近傍、または試し書き領域の一部に、試し読み領域を
設けることもできる。試し読み領域においては、記録周
波数等を変えた記録磁区を出荷時に記録しておく。試し
読み領域は、通常のユーザーは消去も記録もできない領
域とする。試し読み領域に記録された再生条件設定用信
号を用いて、クロックマークを基準にジッターを測定す
ることが可能となり、再生信号の振幅も評価できる。ま
た、ビット誤り率を測定してもよい。これらの試し読み
の結果を用いて、再生レーザーの出力、照射タイミング
等、必要な場合は外部磁界の印加タイミングや強度等を
最適に調整し、かかる最適条件でユーザーデータを再生
することが可能となる。試し読み領域への、再生条件設
定用信号は、出荷前にメーカーが行うことができる。磁
気超解像やランドグルーブ記録では、再生条件が最適化
されていることが望まれるので、これらの用途には再生
条件を含む情報を予め媒体に記録しておき、それを試し
読みすることは特に有効である。

【００９１】本発明の実施例をランドグルーブ型の光磁
気記録媒体を用いて光磁界変調方式で記録する場合を例
に挙げて説明してきたが、光変調方式または磁界変調方
式を用いることもできる。また、光記録媒体は、図２に
示したランドグルーブ型光磁気記録媒体に限定されず、
ランドグルーブ型の相変化型光記録媒体等の種々の書換
え可能なランドグルーブ型の光記録媒体の記録及び再生
に本発明を適用することができる。

【００９２】

【発明の効果】本発明のランドグルーブ型の光記録媒体
の最適記録光パワーを決定する方法によれば、ランド部
またはグルーブ部の両側に隣接するグルーブ部またはラ
ンド部に記録する際にクロスライトまたはクロスイレー
ズが起こらずしかも最もＳ／Ｎを最大にすることができ
る記録光パワーを選択することができる。

【００９３】本発明のランドグルーブ型の光記録媒体の
最適記録光パワー及び最適再生パワーを決定する方法に
よれば、ランド部の両側のグルーブ部を記録する際に、
記録光パワーを種々の値に変調するのみならずランド部
を再生する際の再生光パワーも種々のパワーに変調し、
種々の記録光パワー及び再生光パワーの組合せで得られ
た複数の再生信号の中から、エラーレートを最低にする
最適記録光パワー及び最適再生光パワーの組合せを決定
することができる。この方法では記録光パワーのみなら
ず再生光パワーも同時に最適化することができるため
に、再生光のパワーにより分解能及びＳ／Ｎが著しく変
化する磁気超解像再生方式を用いた光磁気記録媒体に極
めて好適である。

【００９４】また、本発明では、該複数のテストパター
ン記録領域から一つのテストパターン記録領域を選択す
るための補助情報をテストパターン領域とは異なる光記
録媒体の領域に格納させたため、特定の試し書き領域の
過度の使用による劣化を防止することができる。本発明
の記録再生装置は本発明の最適記録光量の決定方法並び
に最適記録及び光量の決定方法を実行させるのに好適な
装置であり、決定された最適光量により情報の記録及び
再生を行うことにより、ランドグルーブ型の光記録媒体
のランド及びグルーブ間のクロスライトがなく、しかも
高Ｓ／Ｎの再生を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例で用いたランドグルーブ型光磁
気記録媒体用の記録再生装置の全体構成を示す図であ
る。

【図２】本発明の実施例で用いたランドグルーブ型の光
磁気ディスクの構造を示す模式図である。

【図３】実施例１の第１工程におけるＰＬ（０）を決定
する方法を説明する図であり、光磁界記録方法の記録レ
ーザパルス、記録外部磁界、記録磁区及びそれから再生
された信号の関係を示すタイミングチャートである。

【図４】実施例１の第１工程において記録された記録磁
区からの再生信号と記録レーザパワーの関係を示す図で
ある。

【図５】実施例１の第１工程において光磁界記録方法で
記録された記録磁区からの再生信号におけるΔ₁ 及びΔ
₂ とレーザ記録パワーとの関係を示すグラフである。

【図６】実施例においてΔ₁ を求めるための検出系のブ
ロック図である。

【図７】本発明の実施例において光磁気記録方式により
テスト信号が記録されるテスト記録領域を示すランドグ
ルーブ型の光磁気ディスクの平面図である。

【図８】本発明の実施例において光磁気記録方法により
テスト信号が記録されるテスト記録領域を示すランドグ
ルーブ型の光磁気ディスクの平面図である。

【図９】実施例１の第２工程においてランド部を挟むグ
ルーブ部へオーバーパワーで記録した場合の記録磁区の
パターン及びランド部から得られた再生信号波形を示す
図である。

【図１０】実施例１の第２工程においてランド部を挟む
グルーブ部へ適正パワーで記録した場合の記録磁区のパ
ターン及びランド部から得られた再生信号波形を示す図
である。

【図１１】実施例１の第２工程においてランド部を挟む
グルーブ部へアンダーパワーで記録した場合の記録磁区
のパターン及びランド部から得られた再生信号波形を示
す図である。

【図１２】ＰＬ（０）のパワーで中央のトラックの磁区
からの相対振幅と、隣接するトラックへ磁区を記録した
記録パワーとの関係を示すグラフであり、図１２(a) は
中央のトラックがランドの場合であり、図１２(b) は中
央のトラックがグルーブである場合の結果を示す。

【図１３】実施例１で用いた記録パワーＰＧ（ｉ）を決
定するための回路を示す図である。

【図１４】図１３の回路に使用するサンプルホールドパ
ルス及びタイミングパルス並びに差分検出回路からの出
力を示す減算後の信号波形を示すタイミングチャートで
ある。

【図１５】実施例１で用いた記録パワーＰＧ（ｉ）を決
定するための回路の別の例を示す図である。

【図１６】図１５の回路に入力されるサンプルホールド
パルス及びタイミングパルスを示すタイミングチャート
である。

【図１７】実施例１で用いた記録パワーＰＧ（ｉ）を決
定するための別の回路ブロック図である。

【図１８】実施例１の最適記録光パワーを決定するため
の手順の一例を示すフローチャートである。

【図１９】実施例２で用いたランドグルーブ型の光記録
媒体のトラックのブロック及びセクタの区分並びに各セ
クタに記録されるテストパターンＡ／Ｂを示す。

【図２０】実施例２において各ブロックにテストパター
ンを記録する際に用いた種々の記録光パワー及び各記録
パワーで記録したテストパターンを再生する際に用いた
種々の再生光パワーの組合せを示すテーブルである。

【図２１】実施例３において使用した光記録媒体の第ｎ
トラックの一部の区分を概念的に示す図である。

【図２２】図２１に示した第ｎトラック中に格納された
補助情報の内容を示す概念図であり、２種類の補助情報
の内容を示す（(a) 及び(b) ）。

【図２３】図２２(a) に示した補助情報を用いて試し書
き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選
択する手順の一例を示すフローチャートである。

【図２４】図２２(b) に示した補助情報を用いて試し書
き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選
択する手順の一例を示すフローチャートである。

【図２５】図２２(a) に示した補助情報の内容と使用さ
れる試し書き領域との関係を示すテーブルである。

【図２６】図２２(b) に示した補助情報の内容と使用さ
れる試し書き領域との関係を示すテーブルである。

【図２７】実施例２の変形例において用いたランド゛グ
ルーブ型光記録媒体のセクタの配置を概念的に示す図で
ある。

【符号の説明】

２１ 光磁気ディスク ２２ レーザ ２５ 偏光プリズム ２８ 光検出器 ２９ 磁気コイル ３１ 位相調整回路 ３７ 埋め込みクロック抽出回路 ３８ 復号器 ３９ ＰＬＬ回路 ４１ テスト領域 ４２ ユーザ領域 ６１ トラッキングピット ６２ 埋め込みロックピット ６４ 孤立磁区 ６５ 連続磁区 ９０，１１２ ランド部 ９４，１１４ グルーブ部 １１０ 記録磁区 ３２２ クロック源 ３２４ テストデータタイミング生成回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｃ ５７２Ｆ (72)発明者 飯田 保 大阪府茨木市丑寅一丁目１番88号 日立マ クセル株式会社内 (72)発明者 太田 憲雄 大阪府茨木市丑寅一丁目１番88号 日立マ クセル株式会社内

Claims (30)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記
   録光量を決定する方法であって、 第ｎトラックに予め定めた記録光量でテストパターンＡ
   を記録し、 第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、上記テスト
   パターンＡの一部を挟むように種々の記録光量でそれぞ
   れテストパターンＢを記録し、 第ｎトラックに記録されたテストパターンＡのうち、テ
   ストパターンＢに挟まれたテストパターンＡの部分から
   の再生信号と、テストパターンＢに挟まれていないテス
   トパターンＡの部分からの再生信号との差を、テストパ
   ターンＢの記録光量毎に求め、 上記テストパターンＢに挟まれたテストパターンＡの部
   分からの再生信号とテストパターンＢに挟まれていない
   テストパターンＡの部分からの再生信号との差が所定の
   範囲内である場合のテストパターンＢを記録する記録光
   量のうち最大記録光量を最適記録光量として決定するこ
   とを含むランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量
   を決定する方法。
2. 【請求項２】 上記テストパターンＢに挟まれたテスト
   パターンＡの部分からの再生信号とテストパターンＢに
   挟まれていないテストパターンＡの部分からの再生信号
   とが実質的に同一の大きさである場合のテストパターン
   Ｂの記録光量のうち最大記録光量を最適記録光量として
   決定することを特徴とする請求項１に記載のランドグル
   ーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
3. 【請求項３】 第ｎトラックがランド部またはグルーブ
   部の一方であり、第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラッ
   クがランド部またはグルーブ部の他方であることを特徴
   とする請求項１または２記載のランドグルーブ型の光記
   録媒体の最適記録光量を決定する方法。
4. 【請求項４】 上記決定された最適記録光量を上記ラン
   ド部またはグルーブ部の上記他方の最適記録光量とし、
   当該最適光量でランド部またはグルーブ部の他方に相当
   する第ｍトラックにテストパターンＣを記録し、 第ｍ＋１トラック及び第ｍ−１トラックに上記テストパ
   ターンＣの一部を挟むように種々の記録光量でそれぞれ
   テストパターンＤを記録し、 第ｍトラックに記録されたテストパターンＣのうち、テ
   ストパターンＤに挟まれたテストパターンＣの部分から
   の再生信号と、テストパターンＤに挟まれていないテス
   トパターンＣの部分からの再生信号との差を、テストパ
   ターンＤの記録光量毎に求め、 上記テストパターンＤに挟まれたテストパターンＣの部
   分からの再生信号とテストパターンＤに挟まれていない
   テストパターンＣの部分からの再生信号との差が所定の
   範囲内である場合のテストパターンＤの記録光量のうち
   最大記録光量をランド部またはグルーブ部の上記一方の
   最適記録光量として決定することを含み、それによって
   ランド部及びグルーブ部についてそれぞれ最適記録光量
   を決定することを特徴とする請求項３記載のランドグル
   ーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
5. 【請求項５】 上記テストパターンＤに挟まれたテスト
   パターンＣの部分からの再生信号とテストパターンＤに
   挟まれていないテストパターンＣの部分からの再生信号
   とが実質的に同一の大きさである場合のテストパターン
   Ｄの記録光量のうち最大記録光量を上記ランド部または
   グルーブ部の上記一方の最適記録光量として決定するこ
   とを特徴とする請求項４に記載のランドグルーブ型の光
   記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
6. 【請求項６】 上記光記録媒体が光磁気記録媒体である
   ことを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の
   ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定す
   る方法。
7. 【請求項７】 第ｎトラックに相当するランド部または
   グルーブ部に孤立磁区群と連続磁区群を種々の記録光量
   で形成し、孤立磁区群からの再生信号レベルの平均値と
   連続磁区群からの再生信号レべルの平均値の差Δ₁ がゼ
   ロとなる記録光量を求め、それを上記テストパターンＡ
   の予め定めた記録光量として用いることを特徴とする請
   求項１〜６のいずれか一項に記載のランドグルーブ型の
   光記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
8. 【請求項８】 記録光のパワーまたは記録光のパルス幅
   を変更することによって記録光量を種々の光量に調整す
   ることを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項記載の
   ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定す
   る方法。
9. 【請求項９】 上記テストパターンＡ〜Ｄを、光記録媒
   体の最内周、最外周のユーザエリア外の領域及びＺＣＡ
   Ｖフォーマットの光記録媒体のユーザの使用しないゾー
   ン境界部近傍並びにゾーン境界部内周部の少なくともい
   ずれかの領域に記録することを特徴とする請求項１〜８
   のいずれか一項に記載のランドグルーブ型の光記録媒体
   の最適記録光量を決定する方法。
10. 【請求項１０】 請求項１に記載の方法で決定された最
    適記録光量でランドグルーブ型の光記録媒体に情報を記
    録する記録方法。
11. 【請求項１１】 ランドグルーブ型の光記録媒体の最適
    記録及び再生光量を決定する方法であって、 ランド部またはグルーブ部の複数の領域にそれぞれ異な
    る記録光量でテストパターンを記録する第１工程と、 上記ランド部またはグルーブ部の複数の領域の両側に隣
    接するグルーブ部またはランド部の複数の領域にそれぞ
    れ異なる記録光量でテストパターンを記録する第２工程
    と、 上記第１の工程で記録した複数のテストパターンをそれ
    ぞれ種々の再生光量で再生する第３工程と、 第３工程で再生された複数のテストパターンからの種々
    の再生光量による複数の再生信号のうち最もエラーの少
    ない再生信号をもたらす領域からの再生光量を最適再生
    光量とし、当該最もエラーの少ない再生信号をもたらす
    領域に記録した記録光量を最適記録光量とする第４工程
    と、を含むことを特徴とするランドグルーブ型の光記録
    媒体の最適記録及び再生光量を決定する方法。
12. 【請求項１２】 上記第４工程において、第３工程で再
    生された、種々の記録光量及び再生光量の組合せで記録
    及び再生されたテストパターンからの再生信号のエラー
    をそれぞれ求め、当該エラーを再生光量毎に合計して、
    最もエラー合計が少なかった再生光量を最適再生光量と
    し、当該最適再生光量で再生された再生信号のうち最も
    エラーの少ない再生信号を生成する記録光量を最適記録
    光量とすることによって最適再生光量及び最適記録光量
    を決定することを特徴とする請求項１１記載のランドグ
    ルーブ型の光記録媒体の最適記録及び再生光量を決定す
    る方法。
13. 【請求項１３】 上記第４工程において、第３工程で再
    生された、種々の記録光量及び再生光量の組合せで記録
    及び再生されたテストパターンからの再生信号のエラー
    をそれぞれ求め、当該エラーを記録光量毎に合計して、
    最もエラー合計が少なかった記録光量を最適記録光量と
    し、当該最適記録光量で記録されたテストパターンから
    の再生信号のうち最もエラーの少ない再生信号を生成す
    る再生光量を最適再生光量とすることによって最適記録
    光量及び最適再生光量を決定することを特徴とする請求
    項１１記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録
    及び再生光量を決定する方法。
14. 【請求項１４】 上記第１工程において、第ｎトラック
    の上記ランド部またはグルーブ部をＢ個の領域に区画
    し、第ｍ領域（０≦ｍ≦Ｂ）に記録する記録光量Ｐｗ
    （ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔとし（ここで、Ｐ０はｍ＝０の
    領域に記録した記録光量であり、Δは記録光量の変化率
    である）、 上記第２工程において、第ｎ＋１及び第ｎ−１トラック
    の上記グルーブ部またはランド部をＢ個の領域に区画
    し、第ｎ＋１トラックの第ｍ領域（０≦ｍ≦Ｂ）に記録
    する記録光量ＰｗをＰｗ（ｎ＋１，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔと
    し、第ｎ−１トラックの第ｍ領域（０≦ｍ≦Ｂ）に記録
    する記録光量ＰｗをＰｗ（ｎ−１，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔと
    することを特徴とする請求項１１または１２に記載のラ
    ンドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光及び再生光量
    を決定する方法。
15. 【請求項１５】 上記第１工程において各領域が複数の
    セクタを含み、同一領域内の複数のセクタは同一の記録
    光量で記録され、上記第４工程においてセクタ内のエラ
    ー数が基準値を超えないセクタ数の合計Ｓ（Ｐｒ）を各
    領域で求め、同一再生光量で再生された領域のＳ（Ｐ
    ｒ）の合計Ｓが最も多い再生光量を最適再生光量とする
    ことを特徴とする請求項１１記載のランドグルーブ型の
    光記録媒体の最適記録及び再生光量を決定する方法。
16. 【請求項１６】 請求項１１の方法で決定された記録光
    量及び再生光量で情報を記録及び再生するランドグルー
    ブ型の光記録媒体の記録再生方法。
17. 【請求項１７】 光記録媒体が磁気超解像により再生さ
    れる光磁気記録媒体であることを特徴とする請求項１６
    記載のランドグルーブ型の光記録媒体の記録再生方法。
18. 【請求項１８】 上記光記録媒体が上記テストパターン
    を記録する領域を複数有し、テストパターンを記録する
    際に、該複数のテストパターン記録領域から一つのテス
    トパターン記録領域を選択するための、補助情報をテス
    トパターン領域とは異なる領域に格納することを特徴と
    する請求項１〜９のいずれか一項に記載のランドグルー
    ブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
19. 【請求項１９】 上記光記録媒体が上記テストパターン
    を記録する領域を複数有し、テストパターンを記録する
    際に、該複数のテストパターンの記録領域から一つのテ
    ストパターンの記録領域を選択するための、補助情報を
    テストパターン領域とは異なる領域に格納することを特
    徴とする請求項１１〜１５のいずれか一項に記載のラン
    ドグルーブ型の光記録媒体の最適記録及び再生光量の決
    定方法。
20. 【請求項２０】 上記補助情報に、各テストパターン記
    録領域への記録が許容されるか、否かを判別できる情報
    が含まれていることを特徴とする請求項１８または１９
    に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録及び
    再生光量の決定方法。
21. 【請求項２１】 上記補助情報に、テストパターンの記
    録が許容されているテストパターン記録領域を用いて記
    録を行った回数が含まれていることを特徴とする請求項
    １８〜２０のいずれか一項に記載のランドグルーブ型の
    光記録媒体の最適記録及び再生光量の決定方法。
22. 【請求項２２】 上記テストパターンの記録が許容され
    ているテストパターン記録領域を用いて、テストパター
    ンの記録を行った回数が、予め設定した回数より大なる
    場合に、該テストパターン記録領域へのそれ以上の書き
    込みが許容されないように補助情報を書き換えることを
    特徴とする請求項２１に記載のランドグルーブ型の光記
    録媒体の最適記録及び再生光量の決定方法。
23. 【請求項２３】 上記テストパターンの記録が許容され
    ているテストパターン記録領域を用いて、テストパター
    ンの記録を行った回数が、予め設定した回数より大なる
    場合に、過去にテストパターンの記録が行われていない
    別のテストパターンの記録領域を、新しいテストパター
    ン記録領域としてテストパターンの記録を許容できるよ
    うに補助情報を書き換えることを特徴とする請求項２２
    に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録及び
    再生光量の決定方法。
24. 【請求項２４】 同一トラック上に複数のテストパター
    ンの記録領域を有することを特徴とする請求項１８〜２
    ３のいずれか一項に記載のランドグルーブ型の光記録媒
    体の最適記録及び再生光量の決定方法。
25. 【請求項２５】 同一セクター上に複数のテストパター
    ンの記録領域を有することを特徴とする請求項請求項１
    ８〜２４のいずれか一項に記載のランドグルーブ型の光
    記録媒体の最適記録及び再生光量の決定方法。
26. 【請求項２６】 再生条件を最適化するための信号が記
    録されている光記録媒体を用いて、試し読みを行い、再
    生条件を設定する請求項１〜８のいずれか一項に記載の
    ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方
    法。
27. 【請求項２７】 ランドグルーブ型の光記録媒体の記録
    再生装置において、 記録光及び再生光を上記光記録媒体に照射する光ヘッド
    と、 上記記録光及び再生光の少なくとも一方の光量を調整す
    る光量調整系と、 記録された情報を上記再生光から検出する再生信号検出
    系と、 第ｎトラックに予め定めた記録光量でテストパターンＡ
    を記録し、第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、
    上記テストパターンＡの一部を挟むように種々の記録光
    量でそれぞれテストパターンＢを記録するように上記光
    ヘッド及び光量調整系を制御する制御系と、 第ｎトラックに記録されたテストパターンＡのうち、テ
    ストパターンＢに挟まれたテストパターンＡの部分から
    の再生信号とテストパターンＢに挟まれていないテスト
    パターンＡの部分からの再生信号との差を記録光量毎に
    演算する演算手段と、 上記テストパターンＢに挟まれたテストパターンＡの部
    分からの再生信号とテストパターンＢに挟まれていない
    テストパターンＡの部分からの再生信号との差が所定の
    範囲内である場合のテストパターンＢを記録する記録光
    量のうち最大記録光量を最適記録光量として決定する手
    段とを含むランドグルーブ型の光記録媒体の記録再生装
    置。
28. 【請求項２８】 上記記録再生装置が光磁気記録媒体を
    記録再生する光磁気記録再生装置であることを特徴とす
    る請求項２７記載の記録再生装置。
29. 【請求項２９】 ランドグルーブ型の光記録媒体の記録
    再生装置において、 記録光及び再生光を上記光記録媒体に照射する光ヘッド
    と、 上記記録光及び再生光の光量を調整する光量調整系と、 記録された情報を上記再生光から検出する再生信号検出
    系と、 ランド部またはグルーブ部の複数の領域にそれぞれ異な
    る記録光量でテストパターンＡを記録させ、該ランド部
    またはグルーブ部の複数の領域の両側に隣接するグルー
    ブ部またはランド部の複数の領域にそれぞれ異なる記録
    光量でテストパターンＢを記録させ、上記複数のテスト
    パターンＡをそれぞれ種々の再生光量で再生させるよう
    に上記光ヘッド及び上記光量調整系を制御する制御系
    と、 検出された再生信号からエラーレートを算出するエラー
    レート算出手段と、 複数のテストパターンＡからの種々の再生光量による複
    数の再生信号のうち最もエラーの少ない再生信号をもた
    らす領域からの再生光量を最適再生光量とし、当該最も
    エラーの少ない再生信号をもたらす領域に記録した記録
    光量を最適記録光量とする最適光量決定手段と、を含む
    ことを特徴とするランドグルーブ型の光記録媒体の記録
    再生装置。
30. 【請求項３０】 上記領域がセクタであることを特徴と
    する請求項２９に記載の記録再生装置。