JPH1012849A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents
Semiconductor integrated circuit deviceInfo
- Publication number
- JPH1012849A JPH1012849A JP8164929A JP16492996A JPH1012849A JP H1012849 A JPH1012849 A JP H1012849A JP 8164929 A JP8164929 A JP 8164929A JP 16492996 A JP16492996 A JP 16492996A JP H1012849 A JPH1012849 A JP H1012849A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- integrated circuit
- region
- mos transistor
- unit element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路装置
に関し、詳しくはゲートアレイやエンベデッドアレイ等
といわれる半導体集積回路装置の構成に関する。The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and more particularly, to a structure of a semiconductor integrated circuit device called a gate array or an embedded array.
【0002】[0002]
【従来の技術】比較的少量の半導体集積回路装置を短期
間且つ安価に形成しようとする場合には、一般的に、A
SIC(Application Specific Integrated Circuit )
技術によるゲートアレイやエンベデッドアレイ等といわ
れる半導体集積回路装置を用いることが多かった。2. Description of the Related Art In order to form a relatively small amount of semiconductor integrated circuit devices in a short period of time and at a low cost, generally, an A
SIC (Application Specific Integrated Circuit)
In many cases, a semiconductor integrated circuit device called a gate array or an embedded array based on technology is used.
【0003】ゲートアレイは、ゲート回路や機能回路等
のレイアウトパターン等のデータを有する配線層による
回路ライブラリを予め用意しているとともに、配線工程
前の共通層のみを予め形成した半導体チップ(以下「ベ
ースチップ」と称する(「マスタ」ともいう))が用意
されており、応用回路が決定したときにベースチップを
用いて配線層以降の工程を行うことにより所望の回路機
能を有する半導体集積回路装置を得られるようになって
いる。従って、同一のベースチップを用いながら回路の
異なる半導体集積回路装置を容易に得られるようになっ
ているとともに、半導体チップを最初の工程から形成す
る場合に比べて回路決定以後の製造時間を大幅に短縮で
きるようになっている。更に、ベースチップ形成に用い
るマスクを共通使用できるので製造費用を削減すること
もできるようになっている。The gate array prepares a circuit library of wiring layers having data such as layout patterns of gate circuits and functional circuits in advance and prepares a semiconductor chip (hereinafter referred to as a "chip") in which only a common layer before a wiring step is formed. A semiconductor integrated circuit device having a desired circuit function by performing a process after the wiring layer using the base chip when an application circuit is determined, which is referred to as a “base chip” (also referred to as a “master”). You can get. Therefore, a semiconductor integrated circuit device having a different circuit can be easily obtained using the same base chip, and the manufacturing time after the circuit is determined is greatly reduced as compared with a case where the semiconductor chip is formed from the first step. It can be shortened. Further, since the mask used for forming the base chip can be commonly used, the manufacturing cost can be reduced.
【0004】一方、エンベデッドアレイは、CPUやメ
モリ等の大規模な回路のレイアウトパターンやその評価
結果等のデータを有する回路ライブラリを予め用意して
いるとともに、ランダムロジック回路を形成する領域と
してゲートアレイをも有しており、必要な機能のライブ
ラリを組み合わせることにより半導体集積回路装置を容
易に形成できるようになっている。従って、全ての回路
を設計し評価するのに比べて回路設計や評価に要する時
間を大幅に短縮できるとともに、ゲートアレイに比べて
回路の集積度を高くできるので半導体チップのチップ面
積を小さく形成して半導体チップの歩留まりを向上し単
価を低減できるようになっている。On the other hand, in the embedded array, a circuit library having data such as a layout pattern of a large-scale circuit such as a CPU and a memory and an evaluation result thereof is prepared in advance, and a gate array is formed as a region for forming a random logic circuit. The semiconductor integrated circuit device can be easily formed by combining libraries of necessary functions. Therefore, the time required for circuit design and evaluation can be greatly reduced as compared to designing and evaluating all circuits, and the degree of circuit integration can be increased as compared with the gate array, so that the chip area of the semiconductor chip can be reduced. As a result, the yield of semiconductor chips can be improved and the unit price can be reduced.
【0005】このように、上述のようなASICでは、
様々な基本回路のレイアウトデータやその評価結果を有
する回路ライブラリが予め用意されているので、この回
路ライブラリを用いることにより、要求される回路の動
作をシミュレーション装置を用いて容易に検証したり、
検証した回路を自動配置配線装置を用いてレイアウトパ
ターンに自動的に変換したりできるようになっている。
また、自動配置配線のデータを用いてマスク作成を行
い、このマスクを用いて一般的なCMOSの製造方法で
半導体集積回路装置を形成すれば、短期間且つ安価に所
望の回路を得ることができる。ただし、現状の自動配置
配線では、配線が長くなることも多く配線効率はあまり
良くないとともに、配線抵抗や配線容量が増えて信号に
遅延時間差を生じることによってシミュレーション通り
の動作を行えないこともあった。As described above, in the ASIC as described above,
Circuit libraries having various basic circuit layout data and evaluation results are prepared in advance, and by using this circuit library, required circuit operations can be easily verified using a simulation device,
The verified circuit can be automatically converted into a layout pattern using an automatic placement and routing apparatus.
If a mask is created using the data of the automatic placement and routing and a semiconductor integrated circuit device is formed by a general CMOS manufacturing method using the mask, a desired circuit can be obtained in a short period of time and at low cost. . However, with the current automatic placement and routing, the wiring length is often long and the wiring efficiency is not very good, and the operation as simulated cannot be performed due to the increase in wiring resistance and wiring capacitance and the delay time difference in the signal. Was.
【0006】ゲートアレイについて図4及び図5に基づ
いて更に説明する。図4はその全体配置を説明するため
のレイアウト図、図5はその内部の回路領域の基本セル
の配置及びそれを用いた回路例を示すレイアウト説明図
である。尚、図4では説明用として電源電圧線(VDD)
及び基準電位線(GND)の主要部のパターンのみを図
示し、図5では配線を模式的に図示している。The gate array will be further described with reference to FIGS. FIG. 4 is a layout diagram for explaining the overall arrangement thereof, and FIG. 5 is a layout explanatory diagram showing an arrangement of basic cells in a circuit region therein and a circuit example using the same. In FIG. 4, the power supply voltage line (VDD) is used for explanation.
Only the pattern of the main part of the reference potential line (GND) is shown in FIG. 5, and the wiring is schematically shown in FIG.
【0007】図4のゲートアレイ10aは、半導体チッ
プの周辺部に形成された複数の入出力(I/O)部3
と、その内側に形成された内部回路領域2aとから構成
され、入出力部3には半導体集積回路装置のリード端子
(図示なし)に信号を接続するための電極パッド3aが
それぞれ設けられ、内部回路領域2aには電源電圧線と
基準電位線とからなる電源線間にトランジスタ素子の基
本となる単位素子領域(以下「基本セル」と称す)1が
複数配置された構成になっている。The gate array 10a shown in FIG. 4 has a plurality of input / output (I / O) units 3 formed on the periphery of a semiconductor chip.
And an internal circuit area 2a formed on the inside thereof. The input / output unit 3 is provided with electrode pads 3a for connecting signals to lead terminals (not shown) of the semiconductor integrated circuit device. The circuit region 2a has a configuration in which a plurality of unit element regions (hereinafter, referred to as “basic cells”) 1 that are basic transistor devices are arranged between power supply lines including a power supply voltage line and a reference potential line.
【0008】そして、基本セル1は、半導体基板上にP
型のMOSトランジスタが形成されるPMOS領域
(P)と右下がり斜線で示すPウェル上にN型のMOS
トランジスタが形成されるNMOS領域(N)とから構
成され、図面の左右方向(以下この並びの方向を「行方
向」と称する)に複数並んで配置(以下「セル行並び」
と称する)されている。更に、図面の上下方向(以下こ
の並びの方向を「列方向」と称する)には、セル行並び
の各MOSトランジスタ領域が上側からPNPNPNP
N・・・というように同じ向きに繰り返し配置(以下
「セル列並び」と称する)されている。Then, the basic cell 1 has a P
N-type MOS on the PMOS region (P) where the MOS transistor of the type is formed and the P-well shown by oblique lines falling to the lower right
And a plurality of NMOS regions (N) in which transistors are formed, and are arranged in plural numbers in the horizontal direction of the drawing (hereinafter, this arrangement direction is referred to as “row direction”) (hereinafter, “cell row arrangement”).
). Further, in the vertical direction of the drawing (hereinafter, this arrangement direction is referred to as “column direction”), each MOS transistor region in the cell row is arranged from the upper side to PNPNPNP.
N are repeatedly arranged in the same direction (hereinafter, referred to as “cell row arrangement”).
【0009】図5(a)に示す内部回路領域の基本セル
1は、同図の下方にベースチップのときのレイアウトを
示すように、MOSトランジスタのソース/ドレインと
なるPMOS領域1a及びNMOS領域1bと、一対の
PMOS領域1a及びNMOS領域1b上に2本形成さ
れたMOSトランジスタのゲートや配線として用いられ
るポリシリコン1cとが電源線間に形成された構成にな
っている。そして、図5(a)の上側に示すように、実
線で示す1層めの配線や点線で示す2層めの配線と黒点
(・)で示すコンタクト(接続孔)を形成することによ
り、各配線層間や各配線層と各MOS領域との間等を接
続して任意の回路を形成できるようになっている。The basic cell 1 in the internal circuit region shown in FIG. 5A has a PMOS region 1a and a NMOS region 1b serving as a source / drain of a MOS transistor as shown in the layout of a base chip below the diagram. And polysilicon 1c used as a gate or wiring of two MOS transistors formed on a pair of the PMOS region 1a and the NMOS region 1b is formed between power supply lines. Then, as shown on the upper side of FIG. 5A, by forming a first-layer wiring shown by a solid line or a second-layer wiring shown by a dotted line and a contact (connection hole) shown by a black dot (•), Arbitrary circuits can be formed by connecting wiring layers or between each wiring layer and each MOS region.
【0010】図5(a)には、図5(b)にトランジス
タレベルの回路図を示し、図5(c)にシンボル図を示
すようなCMOS構成のインバータ回路がレイアウトさ
れている。このインバータ回路は、電源電圧線と基準電
位との間にPMOSトランジスタ1eとNMOSトラン
ジスタ1fが直列接続されるとともにゲートが共通接続
された最小インバータ回路が4個並列に接続されて、1
つの大電流インバータ回路を形成するようになってい
る。FIG. 5A shows a circuit diagram of a transistor level shown in FIG. 5B, and FIG. 5C shows a layout of a CMOS inverter circuit as shown in a symbol diagram. In this inverter circuit, a PMOS transistor 1e and an NMOS transistor 1f are connected in series between a power supply voltage line and a reference potential, and four minimum inverter circuits whose gates are commonly connected are connected in parallel.
One large current inverter circuit is formed.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】従来のゲートアレイや
エンベデッドアレイ等は、全ての基本セル1が同じ方向
に複数並んだ配置をしているとともに、セル行並びの上
側及び下側に電源電圧線及び基準電位線をそれぞれ配置
するように使用するので、内部回路領域内の電源線の本
数が多くなり各セル行並び間に配線を多く採れないとと
もに、基本セル1を高密度に配置することが難しかっ
た。In a conventional gate array, embedded array, or the like, all the basic cells 1 are arranged in a plurality in the same direction, and a power supply voltage line is provided above and below the cell row arrangement. And the reference potential lines are arranged, so that the number of power supply lines in the internal circuit area increases, so that a large number of wirings cannot be taken between the cell rows and the basic cells 1 can be arranged at high density. was difficult.
【0012】また、カウンタ回路等の回路を自動配置配
線で形成する場合には同一行並びの基本セルを用いて回
路を形成するように配置されることが多く回路の行並び
が長くなり易いので、下位段のカウンタ出力と上位段の
カウンタ出力との位置が遠くなり各出力の配線距離が長
くなって配線抵抗や配線容量が増えてしまうとともに、
各信号線の信号に遅延時間差を生じてしまい予期しない
ヒゲ状のパルス信号を生じてしまうこともあった。When a circuit such as a counter circuit is formed by automatic placement and routing, the circuits are often arranged using basic cells arranged in the same row, and the row arrangement of the circuits tends to be long. , The position of the lower stage counter output and the upper stage counter output becomes farther, the wiring distance of each output becomes longer, the wiring resistance and the wiring capacitance increase,
In some cases, a delay time difference occurs between the signals on the respective signal lines, resulting in an unexpected mustache-like pulse signal.
【0013】そこで本発明はこれらの問題を解決し、各
セル行並び間の電源線の数を少なくできるようにするこ
とにより信号線等を自動配置配線し易くするとともに、
自動配置配線を行った場合でもカウンタ回路等の行並び
方向のレイアウト距離を短くできるようにして安定した
回路動作を行えるようにした半導体集積回路装置を提供
できるようにすることを目的とする。Therefore, the present invention solves these problems and makes it easy to automatically arrange and wire signal lines and the like by making it possible to reduce the number of power supply lines between each row of cells.
It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing a stable circuit operation by shortening a layout distance of a counter circuit or the like in a row arrangement direction even when automatic placement and routing is performed.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】上述の問題を解決するた
めに、請求項1の記載に係わる半導体集積回路装置は、
予めP型のMOSトランジスタが形成されるPMOS領
域(P)とN型のMOSトランジスタが形成されるNMO
S領域(N)とからなる単位素子領域1が縦横に複数並列
して形成されているとともに、随時単位素子領域1間を
接続する配線層を形成することにより所望の集積回路を
得るための半導体集積回路装置において、単位素子領域
1はMOSトランジスタに電源を供給するための電源電
圧線(VDD)側にPMOS領域が形成され基準電位線
(GND)側にNMOS領域が形成されるように複数並
列して配置されたセル行並びを有し、セル行並びを電源
電圧線または基準電位線を基準にして略線対称に配置し
たことを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit device, comprising:
A PMOS region (P) in which a P-type MOS transistor is formed in advance and an NMO in which an N-type MOS transistor is formed
A plurality of unit element regions 1 each including an S region (N) are formed in parallel in a matrix, and a semiconductor layer for obtaining a desired integrated circuit by forming a wiring layer connecting the unit element regions 1 as needed. In the integrated circuit device, a plurality of unit element regions 1 are arranged in parallel such that a PMOS region is formed on a power supply voltage line (VDD) side for supplying power to a MOS transistor and an NMOS region is formed on a reference potential line (GND) side. And the cell rows are arranged substantially line-symmetrically with respect to a power supply voltage line or a reference potential line.
【0015】また、請求項2の記載に係わる半導体集積
回路装置は、請求項1に記載の半導体集積回路装置にお
いて、集積回路に用いるゲート回路または機能回路の一
部は、線対称に配置された単位素子領域1を複数用いて
構成したことを特徴とする。本発明のような半導体集積
回路装置の構成をとることにより、各セル行並び間の電
源線の数が少なくなるので、信号線等を自動配置配線し
易くなるとともに、自動配置配線を行った場合でもカウ
ンタ回路等の行並び方向のレイアウト距離が短くなって
信号線の長さを短くできるようなる。According to a second aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit device according to the first aspect, wherein a part of a gate circuit or a functional circuit used in the integrated circuit is arranged line-symmetrically. It is characterized by comprising a plurality of unit element regions 1. With the configuration of the semiconductor integrated circuit device according to the present invention, the number of power supply lines between each cell row is reduced, so that it is easy to automatically arrange and route signal lines and the like, and to perform automatic arrangement and wiring. However, the layout distance of the counter circuit and the like in the row arrangement direction is shortened, and the length of the signal line can be shortened.
【0016】[0016]
【実施の形態】以下、本発明の実施形態を図1乃至図3
を参照しながら詳細に説明する。図1及び図2は本発明
の第1の実施形態としてのゲートアレイのレイアウト例
を示し、図3は本発明の第2の実施形態としてのエンベ
デッドアレイのレイアウト例を示している。尚、本明細
書では全図面を通して同一または同様の回路要素には同
一の符号を付して説明を簡略化するようにしている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
This will be described in detail with reference to FIG. 1 and 2 show a layout example of a gate array as a first embodiment of the present invention, and FIG. 3 shows a layout example of an embedded array as a second embodiment of the present invention. In the present specification, the same or similar circuit elements are denoted by the same reference numerals throughout the drawings to simplify the description.
【0017】まず、第1の実施形態について説明する。
図1はゲートアレイ構成の半導体集積回路装置10の全
体配置を説明するためのレイアウト図、図2はその内部
回路領域2の基本セル1の配置及びそれを用いた回路ラ
イブラリ例を示すレイアウト説明図であり、従来の説明
と同様に、図1では説明用として電源電圧線及び基準電
位線の主要部のパターンのみを図示し、図2では配線層
を模式的に図示している。First, a first embodiment will be described.
FIG. 1 is a layout diagram for explaining the overall layout of a semiconductor integrated circuit device 10 having a gate array configuration, and FIG. 2 is a layout explanatory diagram showing the layout of basic cells 1 in an internal circuit area 2 and an example of a circuit library using the same. As in the description of the related art, FIG. 1 illustrates only patterns of main parts of a power supply voltage line and a reference potential line for description, and FIG. 2 schematically illustrates a wiring layer.
【0018】この実施形態で、従来例の構成と異なるの
は、内部回路領域2内のセル並びが電源線を基準にして
略線対称になるように配置され各MOSトランジスタ領
域が上側からPNNPPNNP・・・というように交互
に配置されているとともに、2つのNMOS領域のPウ
ェルが1つにまとめられていることである。従って、各
セル行並びの間には電源電圧線または基準電位線の内の
一方の電源線のみが設けられるようになり従来に比べて
電源線の本数が半減されるようになるとともに、内部回
路領域2内のPウェル及び半導体基板の幅が広くなって
シート抵抗のカウント値が小さくなっているのでPウェ
ルや半導体基板を所定の電位にバイアスするためのコン
タクト数を減らせるようになる。This embodiment differs from the configuration of the prior art in that the cell arrangement in the internal circuit region 2 is arranged so as to be substantially line-symmetric with respect to the power supply line, and each MOS transistor region is arranged from the upper side as PNPNPPNNP. .. And the P wells of the two NMOS regions are combined into one. Therefore, only one of the power supply voltage lines or the reference potential lines is provided between the cell rows, so that the number of power supply lines is reduced by half as compared with the prior art, and the internal circuit is reduced. Since the width of the P-well and the semiconductor substrate in the region 2 is increased and the count value of the sheet resistance is reduced, the number of contacts for biasing the P-well and the semiconductor substrate to a predetermined potential can be reduced.
【0019】また、このようなセル列並びの配置をして
いるので、従来と同様の配線領域を確保したいときには
基本セル1をより高密度に配置できるようになるととも
に、図5のインバータ回路の配線層の回路ライブラリを
形成する場合には、図2に示すように、基準電位線を基
準にして線対称に対向した2つの基本セル1を用いてレ
イアウトすることにより効率の良い回路ライブラリを形
成できるようになる。特に、PMOSまたはNMOSの
みを多数用いたオープンドレイン出力回路や、PMOS
またはNMOSの使用数を代えることにより特別な入力
スレッショルド電圧に設定したゲート回路等のレイアウ
トを行う場合には、電源線を基準にして線対称に対向し
た2つの基本セル1を用いて形成する方が総配線距離を
短くできるようになる。更に、このような回路ライブラ
リを用いて所望の回路を形成すれば、信号線等をセル行
並び間に電源線の本数が少ない分2層目の配線層による
配線をし易くなっているので自動配置配線が容易にな
る。尚、従来のセル列並びのゲートアレイでも、2つの
セル行並びを用いて回路ライブラリをレイアウトするこ
とはできるが、本実施形態の方が電源線の本数が少ない
ので、その分配線し易くなっている。Since such a cell array arrangement is used, the basic cells 1 can be arranged at a higher density when it is desired to secure the same wiring area as in the prior art, and the inverter circuit shown in FIG. When a circuit library of a wiring layer is formed, as shown in FIG. 2, an efficient circuit library is formed by laying out using two basic cells 1 symmetrically opposed with respect to a reference potential line. become able to. In particular, an open drain output circuit using a large number of PMOS or NMOS only,
Alternatively, when laying out a gate circuit or the like set to a special input threshold voltage by changing the number of NMOSs used, it is preferable to use two basic cells 1 symmetrically opposed with respect to the power supply line. Can shorten the total wiring distance. Furthermore, if a desired circuit is formed by using such a circuit library, the number of power supply lines between the signal lines and the like can be reduced, so that the wiring with the second wiring layer can be easily performed. Placement and wiring becomes easy. Although a circuit library can be laid out using two cell rows even in a conventional gate array having cell rows, the present embodiment has a smaller number of power supply lines, and accordingly, wiring is easier. ing.
【0020】また、フリップフロップ回路等を線対称に
配置された基本セル1を複数用いて構成するようにすれ
ば、その入力と出力との間のレイアウト的な距離を従来
よりも短くできるようになるので、フリップフロップ回
路を多数用いたカウンタ回路等の下位段のカウンタ出力
と上位段のカウンタ出力との位置を近づけることが容易
にできるようになり、各出力信号間の遅延時間差が少な
くなって安定した回路動作を行えるようになる。Further, if the flip-flop circuit and the like are constituted by using a plurality of basic cells 1 arranged in line symmetry, the layout distance between the input and the output can be made shorter than before. Therefore, the position of the lower stage counter output such as the counter circuit using a large number of flip-flop circuits and the position of the upper stage counter output can be easily brought close to each other, and the delay time difference between each output signal is reduced. A stable circuit operation can be performed.
【0021】次に、本発明の他の実施形態について説明
する。図3の半導体集積回路装置20は、プログラムに
応じて動作を制御するための中央演算装置(CPU)部
21と、プログラムやデータ等を保持するためのROM
やRAM等の記憶素子が設けられたメモリ部22と、第
1の実施形態の内部回路領域2と同様な構成のゲートア
レイ部23と、各回路部の信号を入出力するための入出
力(I/O)部24とから構成されたエンベデッドアレ
イ型の1チップマイクロコンピュータを示している。Next, another embodiment of the present invention will be described. The semiconductor integrated circuit device 20 shown in FIG. 3 includes a central processing unit (CPU) unit 21 for controlling operation according to a program, and a ROM for storing a program, data, and the like.
, A memory array provided with storage elements such as a RAM, a gate array unit 23 having the same configuration as the internal circuit area 2 of the first embodiment, and an input / output (I / O) for inputting / outputting signals of each circuit. 1 shows an embedded array type one-chip microcomputer including an I / O section 24.
【0022】このような構成により、周辺のランダム回
路をゲートアレイ部23に取り込んで外付け部品を少な
くした1チップマイクロコンピュータを短期間に設計で
きるようになるとともにその評価時間を短縮できるよう
になるので、開発時間の短縮により開発費用を低減でき
るようになっている。また、外付け部品削減により、部
品の購入費やその管理費、更には部品を取付るための回
路基板の縮小等により付随する費用を大幅に低減できる
ようにもなる。With such a configuration, a one-chip microcomputer in which peripheral random circuits are incorporated into the gate array unit 23 and external components are reduced can be designed in a short time, and the evaluation time can be shortened. Therefore, development costs can be reduced by shortening the development time. Further, by reducing the number of external components, it is possible to greatly reduce the costs for purchasing and managing the components, and the accompanying costs due to the reduction of the circuit board for mounting the components.
【0023】尚、本発明は上述の実施形態に限定される
ものではなく、N型の半導体基板を用いたCMOS構造
にも用いることができるのは勿論のこと、内部回路領域
内に略均一に基本セル敷き詰めて全面敷き詰め型のゲー
トアレイを構成するようにしても構わない。また、ゲー
トとしてPMOS領域及びNMOS領域の上部にそれぞ
れ独立したポリシリコンを設けた構成の基本セルを用い
ても構わないし、2層より多層の配線層を用いるゲート
アレイでも構わない。更に、電源線を基準にして線対称
に対向した2つの基本セルを用いて全ての回路ライブラ
リを形成するのではなく、従来と同様な1つのセル行並
びのみを用いた回路ライブラリをも形成し、回路規模や
目的に応じて各回路ライブラリを混在して使用すれば良
い。It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be used not only for a CMOS structure using an N-type semiconductor substrate but also for forming a substantially uniform structure in an internal circuit region. Basic cells may be spread to form a gate array of a whole-surface spread type. Further, a basic cell having a configuration in which independent polysilicon is provided above the PMOS region and the NMOS region may be used as a gate, or a gate array using a wiring layer having more than two layers may be used. Further, instead of forming all circuit libraries using two basic cells which are symmetrically opposed to each other with respect to the power supply line, a circuit library using only one cell row similar to the related art is formed. The circuit libraries may be used in combination according to the circuit scale and purpose.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上説明したように、半導体集積回路装
置の構成を本発明のような構成にすることにより、各セ
ル行並び間の電源線の数を少なくできるようになって信
号線等を自動配置配線し易くなるので、自動配置配線す
るときの配線効率及び基本セルの使用効率を向上できる
ようになるという効果がある。また、自動配置配線を行
った場合でもカウンタ回路等の行並び方向のレイアウト
距離を短くできるようになるので、回路の総配線距離が
短くなって配線抵抗や配線容量が小さくなるとともに各
配線の信号の遅延時間差が少なくなり、遅延時間差によ
って不要な信号を出力することが少なくなって安定した
回路動作を行えるようになるという効果がある。As described above, the configuration of the semiconductor integrated circuit device according to the present invention makes it possible to reduce the number of power supply lines between the cell rows and to reduce the number of signal lines and the like. Since the automatic placement and routing becomes easy, there is an effect that the wiring efficiency and the use efficiency of the basic cell at the time of the automatic placement and routing can be improved. In addition, even when automatic placement and routing is performed, the layout distance in the row arrangement direction of the counter circuit and the like can be shortened, so that the total wiring distance of the circuit is shortened, the wiring resistance and the wiring capacitance are reduced, and the signal of each wiring is reduced. The delay time difference is reduced, and unnecessary signal output is reduced due to the delay time difference, so that a stable circuit operation can be performed.
【図1】 本発明の実施形態を示すレイアウト図、FIG. 1 is a layout diagram showing an embodiment of the present invention;
【図2】 本発明の基本セルの配置例を示すレイアウト
説明図、FIG. 2 is a layout explanatory view showing an example of arrangement of basic cells according to the present invention;
【図3】 本発明の他の実施形態を示すレイアウト図、FIG. 3 is a layout diagram showing another embodiment of the present invention;
【図4】 従来の半導体チップの配置を示すレイアウト
図、FIG. 4 is a layout diagram showing an arrangement of a conventional semiconductor chip;
【図5】 従来の基本セルの配置例を示すレイアウト説
明図である。FIG. 5 is an explanatory view of a layout showing an example of a conventional arrangement of basic cells.
1 :基本セル 1a :P型MOSトランジスタ(PMOS)領域 1b :N型MOSトランジスタ(NMOS)領域 1c :ゲート(ポリシリコン) 1d :Pウェル(領域) 2 :内部回路領域 3 :入出力領域(I/O領域) 3a :電極パッド 10 :半導体チップ(ゲートアレイ) 20 :半導体チップ(エンベデッドアレイ) 1: Basic cell 1a: P-type MOS transistor (PMOS) region 1b: N-type MOS transistor (NMOS) region 1c: Gate (polysilicon) 1d: P well (region) 2: Internal circuit region 3: Input / output region (I / O region) 3a: electrode pad 10: semiconductor chip (gate array) 20: semiconductor chip (embedded array)
Claims (2)
れるPMOS領域とN型のMOSトランジスタが形成さ
れるNMOS領域とからなる単位素子領域が縦横に複数
並列して形成されているとともに、随時前記単位素子領
域間を接続する配線層を形成することにより所望の集積
回路を得るための半導体集積回路装置において、前記単
位素子領域は前記MOSトランジスタに電源を供給する
ための電源電圧線側に前記PMOS領域が形成され基準
電位線側に前記NMOS領域が形成されるように複数並
列して配置されたセル行並びを有し、前記セル行並びを
前記電源電圧線または前記基準電位線を基準にして略線
対称に配置したことを特徴とする半導体集積回路装置。A plurality of unit element regions each including a PMOS region in which a P-type MOS transistor is formed and an NMOS region in which an N-type MOS transistor is formed are previously formed in parallel in a matrix, and the unit region is formed as needed. In a semiconductor integrated circuit device for obtaining a desired integrated circuit by forming a wiring layer connecting the unit element regions, the unit element region is provided with a power supply voltage line for supplying power to the MOS transistor. A plurality of cell rows are arranged in parallel so that a region is formed and the NMOS region is formed on the side of the reference potential line. The cell row is arranged with respect to the power supply voltage line or the reference potential line. A semiconductor integrated circuit device which is arranged substantially symmetrically with respect to a line.
機能回路の一部は、線対称に配置された前記単位素子領
域を複数用いて構成したことを特徴とする請求項1に記
載の半導体集積回路装置。2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein a part of a gate circuit or a functional circuit used in the integrated circuit is configured by using a plurality of the unit element regions arranged in line symmetry. apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8164929A JPH1012849A (en) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | Semiconductor integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8164929A JPH1012849A (en) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | Semiconductor integrated circuit device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1012849A true JPH1012849A (en) | 1998-01-16 |
Family
ID=15802532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8164929A Pending JPH1012849A (en) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | Semiconductor integrated circuit device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1012849A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007243211A (en) * | 2000-11-27 | 2007-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device |
-
1996
- 1996-06-25 JP JP8164929A patent/JPH1012849A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007243211A (en) * | 2000-11-27 | 2007-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6765245B2 (en) | Gate array core cell for VLSI ASIC devices | |
US7508238B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
KR890003184B1 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR900000202B1 (en) | Manufacturing of semiconductor integrated circuit device | |
US7698680B2 (en) | Engineering change order cell and method for arranging and routing the same | |
US6327166B1 (en) | Semiconductor device | |
US8788984B2 (en) | Gate array architecture with multiple programmable regions | |
JPH0247862B2 (en) | ||
JPS6361778B2 (en) | ||
US8178904B2 (en) | Gate array | |
KR100277249B1 (en) | Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device | |
JPH10284605A (en) | Semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit with layout designed according to cell-base scheme | |
KR920006750B1 (en) | Semiconductor device | |
US5434436A (en) | Master-slice type semiconductor integrated circuit device having multi-power supply voltage | |
KR100269494B1 (en) | Small semiconductor device using soi cmos technology | |
JP3644138B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and placement and routing method thereof | |
KR100310116B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JP3996735B2 (en) | Semiconductor device | |
JPH1012849A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPS6329826B2 (en) | ||
EP1009031B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device and method of producing the same | |
JPS59163836A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JPS60134435A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JP4441541B2 (en) | Semiconductor device | |
US7968917B2 (en) | Semiconductor memory device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040210 |