JPH10125434A - 導通検査装置およびその製造方法 - Google Patents

導通検査装置およびその製造方法

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JPH10125434A
JPH10125434A JP8278199A JP27819996A JPH10125434A JP H10125434 A JPH10125434 A JP H10125434A JP 8278199 A JP8278199 A JP 8278199A JP 27819996 A JP27819996 A JP 27819996A JP H10125434 A JPH10125434 A JP H10125434A
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秀男 田中
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Abstract

(57)【要約】 【課題】検査対象となるコネクタ1、2の多様化に対応
すること。 【解決手段】検査対象となるコネクタ1(2)を保持す
るコネクタ受け部13を介して当該コネクタ1(2)を
検査時に位置決めする検査ブロック15を設ける。この
検査ブロック15には、検出子ホルダ17が交換可能に
設けられる。検出子ホルダ17は、コネクタ受け部13
に保持されるコネクタ1(2)毎に対応する複数の検出
子20を保持する。 【効果】同一の検査ブロック15で複数種類のコネクタ
1(2)の端子5(6)を対応する検出子20に位置決
めすることが可能になる。検査部14の種類増加を可及
的に低減することができる。導通検査装置10の部品管
理が容易になり、導通検査装置10の製造コスト、ひい
ては導通検査のコストを低減することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は導通検査装置および
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にワイヤーハーネスやワイヤーハー
ネスを構成するサブアセンブリ(以下、「ワイヤーアセ
ンブリ」と総称する)には、コネクタが採用されてい
る。このコネクタは、合成樹脂材料を用いて成形された
コネクタハウジングと、このコネクタハウジングに形成
された端子収容室に収容される金属製の端子とを有して
いる。端子は、コネクタハウジングと一体的なランスと
いう部材によって、コネクタハウジングからの抜けが防
止されている。また、端子には、薄板状の接触子を有す
る雄端子と、雄端子の接触子を受ける筒状の雌端子とが
コネクタ毎に種類分けされており、雄端子を有する雄コ
ネクタと雌端子を有する雌コネクタとを互いに嵌合させ
ることにより、相互に接続すべき端子同士が互いに位置
合わせされて、両者の電気的導通が達成される。
【0003】上述のようなコネクタの導通検査を行う際
に採用される導通検査ユニットとして、例えば、実開平
5−87877号公報に開示されているものが知られて
いる。そのような従来の技術に係る導通検査装置は、検
査対象となるコネクタの端子毎に検査子と、検査子を含
む検査部と、検査部に対し、コネクタを検査可能に位置
決めするコネクタ受け部とを当該コネクタの品番(種
類)毎に設けていた。上記検査部は、各検査子を検査対
象となるコネクタの端子に位置決めするために、当該コ
ネクタのハウジングの外周部分を覆う凹部内に検査子を
突出させていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の導通検査装置は、コネクタ毎に検査部やコネクタ受け
部が特定される専用仕様になっていた。しかるに、近年
では、検査対象となるコネクタの種類が増加しており、
それに伴って、検査部やコネクタ受け部の種類を増加さ
せる必要が生じてきた。この結果、導通検査装置の部品
管理が困難になり、導通検査装置の製造コスト、ひいて
は導通検査のコストが高くなるという不具合があった。
特に、検査部やコネクタ受け部は、それらをコネクタの
形状に適応させるために切削加工で形成されているの
で、コスト面での改良が望まれていた。
【0005】本発明は上記不具合に鑑みてなされたもの
であり、検査対象となるコネクタの多様化に対応するこ
とのできる導通検査装置およびその製造方法を提供する
ことを課題としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、複数の端子を収容しているコネクタを保
持するコネクタ受け部と、このコネクタ受け部に対向し
て設けられ、コネクタの各端子に対応した検出子が、上
記コネクタ受け部に保持されたコネクタの各端子に向か
って突出して並設されている検査部と、各端子に検出子
を接触させる検査姿勢とコネクタ受け部に対しコネクタ
を着脱させる着脱姿勢との間でコネクタ受け部と検査部
とを相対変位可能に連結する連結手段と、連結されたコ
ネクタ受け部と検査部とを上記検査姿勢と着脱姿勢との
間で相対的に変位させる駆動手段とを備えている導通検
査装置において、上記検査部は、検査姿勢にあるコネク
タ受け部を介してコネクタの端子を検出子に位置決め可
能な検査ブロックと、検査ブロックに対し交換可能に装
着され、コネクタ受け部に保持されるコネクタ毎に対応
する上記複数の検出子を保持する検出子ホルダとを含ん
でいることを特徴とする導通検査装置である。
【0007】この特定事項を含む発明では、検査部の検
査ブロックがコネクタ受け部を介してコネクタ(および
その端子)を位置決めするので、検査対象となるコネク
タの外寸の相違を同一の外寸に設定されたコネクタ受け
部で吸収することができる。また、検出子ホルダの交換
によってコネクタ受け部に対応する検出子を検査ブロッ
クに対して着脱することができるので、同一の検査ブロ
ックで複数種類のコネクタの端子を対応する検出子に位
置決めすることが可能になる。
【0008】また、本発明の好ましい態様において、上
記検出子ホルダは、検出子を貫通させることにより検出
子を保持する板状部材であるとともに、表面と裏面とで
検出子の突出位置を変更可能な起伏を区画しているもの
である。この特定事項を含む発明では、同一の検出子ホ
ルダの表面と裏面とで、当該検出子ホルダを貫通するこ
とにより検出子ホルダに担持される検出子の突出位置を
変更することができるので、使用される検出子の突出寸
法に応じて取付け面を選択することにより、同一部材で
複数種類の検出子に対応することができる。
【0009】また、本発明の別の好ましい態様におい
て、上記コネクタ受け部は、上記連結部材から取外し可
能に構成されているとともに、ワイヤーアセンブリの組
立図板上に立設される立設部材に組付可能な組付部材を
含んでいる。この特定事項を含む発明では、コネクタ受
け部を連結部材から取外し、組付部材によってワイヤー
アセンブリの組立図板上に立設される立設部材に組付け
られることにより、コネクタ受け部を組立図板に立設さ
れるコネクタホルダとして兼用することが可能になる。
【0010】また、本発明の別の態様は、コネクタ受け
部で保持したコネクタを、当該コネクタ受け部と相対的
に変位する検査ブロックに担持された複数の検出子で検
査する導通検査装置を製造するための導通検査装置の製
造方法において、上記検査ブロックを共通部品として製
造し、同一の検査ブロックによってガイドされることに
より、保持しているコネクタが検出子に位置決めされる
コネクタ受け部と、上記検査ブロックに対して着脱可能
な状態で上記複数の検出子を担持する検出子ホルダと
を、検査対象となるコネクタの種類に応じて複数種類製
造し、検査対象として選択されたコネクタに対応する一
のコネクタ受け部および検出子ホルダを、共用部品とし
ての検査ブロックに対して、導通検査可能に組み合わせ
ることを特徴とする導通検査装置の製造方法である。
【0011】この特定事項を含む発明では、検査ブロッ
クをインターフェイス部材として、検査対象となるコネ
クタに対応するコネクタ受け部および検出子ホルダを選
択し、導通検査装置を製造することが可能になる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施の形態について詳述する。図1は
本発明の実施の一形態における導通検査装置10の使用
状態を示しており、(A)は雄コネクタ1の検査状態を
示す平面部分略図、(B)は雌コネクタ2の検査状態を
示す平面部分略図であり、図2は図1の実施の形態にお
ける導通検査装置10の斜視図である。なお、以下の説
明において、図1の左側並びにそれに対応する各図の方
向を仮に前方とする。
【0013】先ず、図1(A)(B)を参照して、図示
の例における導通検査装置10の検査対象となるコネク
タ1(2)は、樹脂成形品であるハウジング3(4)内
に複数の端子収容室を区画し、それぞれに、雄端子5ま
たは雌端子6を収容したものであり、図示しないランス
によって各端子5、6は、対応するコネクタ1、2に係
止されている。図では省略されているが、各コネクタ
1、2のハウジング3、4は、それぞれ用途に応じて複
雑な起伏を有しており、その外寸も異なっている。
【0014】次に図2を参照して、導通検査装置10
は、一般に「作業図板」と呼称される図示しない作業台
に固定される、連結手段としてのベース部11を備えて
いる。ベース部11は、平面視長方形に形成されてお
り、その上面には、長手方向に沿って延びる一対のレー
ル部材12が一体形成されている。レール部材12の長
手方向一端部には、検査されるべきコネクタ1(2)を
受ける、コネクタ受け部13が固定されている。また、
このレール部材12の上には、検査部14がスライド自
在に取付けられており、この検査部14は、コネクタ受
け部13の背面に対し接近または離反できるようになっ
ている。
【0015】上記コネクタ受け部13は、上記ベース部
11の一端に固定されているホルダ部13Aを、モール
ド成形によって形成したものである。このホルダ部13
には、検査対象となるコネクタ1(2)の外郭に対応し
て形成された収容凹部13Cが区画されており、この収
容凹部13Cによって、コネクタ1(2)のハウジング
3、4を収容し、端子5(6)を後方に向けて、検査可
能に保持している。
【0016】ここで、コネクタ受け部13は、図示しな
いボルトによって、レール部材12に対し、着脱可能に
固定されており、保持されるコネクタ1(2)の種類に
よって適宜、変更することができるようになっている。
この際、交換部品としての各ホルダ部13Aの後端部分
には、幅方向の外寸Lおよび高さ方向の外寸H(以下、
「規定外寸」と総称する)が後述する検査ブロック15
に対応して同一寸法に設定されたガイド部13Eが後方
に突出している。
【0017】図3は図1の実施の形態における導通検査
装置10のコネクタ受け部13の使用態様を示す斜視図
である。同図に示すように、上記ホルダ部13Aの底部
には、組付部材としてのナット部材13Dがインサート
成形されており、このナット部材13Dに、図示しない
ワイヤーアセンブリの組立図板30上に立設される立設
部材41のボルト34を螺合させることにより、組立図
板30上でのコネクタホルダ35としても使用すること
が可能になっている。このコネクタホルダ35は、ワイ
ヤーアセンブリの分岐電線にコネクタを接続する際、当
該分岐電線の寸法規定を図った状態でコネクタを保持す
るために用いるためのものである。コネクタホルダ35
を構成する立設部材36は、種々のものを採用すること
が可能である。図示の構成は、組立図板30に立設され
たブラケット37の支軸38回りに、上記ボルト34の
根元を支持する根元部材39を回動変位可能に構成して
いる周知のものである(例えば、特開平7−28265
4号参照)。
【0018】次に図2を参照して、検査部14は、上記
コネクタ受け部13に保持されているコネクタ1(2)
の端子5(6)に対応する複数の検査プローブ20を接
触させることによって、当該端子5(6)の導通を検査
するためのものである。各検査プローブ20は、コネク
タ受け部13に対向し、検査対象となるコネクタ1
(2)の端子5(6)の位置に対応して前方に向かって
突出する周知のものであり、この検査プローブ20によ
って、コネクタ受け部13に保持されたコネクタ1
(2)の端子5(6)の導通を検査することができるよ
うに構成されている。各検査プローブ20には、リード
線21が接続されており、このリード線21のプラグ2
2を介して図示しない検査装置に接続される。
【0019】上記複数の検査プローブ20を保持するた
めに、検査部14は、外郭が概ね直方体形状に形成され
た検査ブロック15を備えている。検査ブロック15
は、上記レール部材12に連結されることにより、レー
ル部材12に沿って前後に変位することができるように
なっている樹脂成形品である。そして、これにより、検
査部14とコネクタ受け部13は、相対的に離反して、
コネクタ受け部13に対するコネクタ1(2)の着脱を
許容する着脱姿勢(図2参照)と、相対的に近接して、
コネクタ1(2)の検査を行うことのできる検査姿勢
(図1参照)とに変位できるようになっている。
【0020】図4は図1の実施の形態における導通検査
装置10の検査部14の分解斜視図である。図1、図
2、および図4を参照して、検査ブロック15は、上部
および前後部が解放された収容空間15Sを区画してお
り、この収容空間15S内には、平面視略凸字形の検出
子ホルダ17がビス16によって着脱可能に固定されて
いる。
【0021】ここで、図示の具体例では、上記収容凹部
15S内に上記コネクタ受け部13の後端側に形成され
た上記ガイド部13Eを摺動可能に嵌入させることによ
り、コネクタ1(2)を直接位置決めするのではなく、
コネクタ受け部13のホルダ部材13Aを介してコネク
タ1(2)を位置決めすることができるようになってい
る。
【0022】上述したように、ホルダ部材13Aは、そ
れが保持するコネクタ1(2)の種類に応じて交換可能
な交換部材となっているが、図1(A)(B)に示すよ
うに、各ホルダ部材13Aの規定外寸L、Hは、何れも
上記検査ブロック15の収容凹部15S内に摺動可能に
嵌入する同一寸法に設定されている。従って、図示の具
体例では、同一の検査ブロック15に対して、複数種類
のコネクタ受け部13から選択されたものを組み合わせ
ることが可能になる。
【0023】図1によく示すように、検出子ホルダ17
は、検出子としての検査プローブ20を貫通させること
により検査プローブ20を保持する板状部材であり、表
面と裏面とで検査プローブ20の突出位置を変更可能な
起伏を区画している。より詳細に説明すると、検出子ホ
ルダ17の一方の面の中央部分には、矩形の段差を区画
する厚肉部17Aが区画されており、検査プローブ20
は、この厚肉部17Aを貫通してる。他方、上記厚肉部
17Aの両側には薄肉部17Bが区画されており、上記
ビス16は、この薄肉部17Bを貫通して、検査ブロッ
ク15の背面側端板15Aに薄肉部17Bを固定してい
る。さらに、検査ブロック15の背面側端板15Aに
は、上記厚肉部17Aを貫通可能な切欠15Bが形成さ
れている。この結果、図1(A)に示すように、厚肉部
17Aを後方に向けて取り付けた場合と、図1(B)に
示すように、前方に向けて取り付けた場合とでは、当該
厚肉部17Aを貫通する検査プローブ20の突出位置
(検出子ホルダ17から前方に露出している位置)が変
わるので、使用される検査プローブ20の突出寸法D
1、D2に応じて、取付け面(検出子ホルダ17の表
裏)を選択することにより、同一部材で複数種類の検査
プローブ20に対応することができるようになってい
る。
【0024】また、図示の具体例において、検査ブロッ
ク15の上部は、図4に示すように、透明のアクリル樹
脂で形成されたカバー部材18がビス19で固定されて
いる。カバー部材18は、後方に延長部18Aが延びる
平面視略T字形に形成されており、上記延長部18Aに
は、上記検査プローブ20のリード線21を束ねるクラ
ンプバンド18Bが付設されている。
【0025】図2を参照して、導通検査装置10に採用
されている駆動手段の一例としてのトグル機構40は、
ベース部11の後端部に立設された一対の支持部41を
含んでいる。この支持部41には、ハンドル42が軸A
1によって回動可能に支持されている。ハンドル42
は、軸A1の近傍に形成され、検査部14の検査ブロッ
ク15の背面に当接するカム状の加圧部43と、加圧部
43に連続する把手部44とを備えている。上記加圧部
43の周面には、加圧面43Aが形成されており、この
加圧面43Aに上記検査部14の検査ブロック15は、
図示しないばねによって常時押圧されている。そして、
ハンドル42を上述した軸A1回りに図2において、反
時計回り方向に回動させることにより、加圧面43Aの
形状によって検査ブロック15を前方に付勢することが
できるとともに、所定量、回動させることにより、軸A
1と協働して検査姿勢にある検査ブロック15をトグル
状にロックすることが可能になっている。
【0026】次に、図示の実施の形態における作用につ
いて説明する。先ず、図2を参照して、上述した構成で
は、検査部14が後方に退避してコネクタ受け部13が
解放されている着脱姿勢にある場合、検査対象となるコ
ネクタ1(2)をコネクタ受け部13に装着することが
できる。その後、トグル機構40のハンドル42を操作
して、検査部14の検査ブロック15を前方に移動させ
ることにより、コネクタ受け部13と検査部14とを検
査姿勢に相対変位させ、導通検査を行うことが可能にな
る。
【0027】ここで、図1(A)(B)に示すように、
コネクタ1(2)の各端子5(6)と検査プローブ20
とは、何れもコネクタ受け部13のガイド部13Eが検
査部14の収容凹部15S内に摺動することにより、位
置決めされている。従って、図示の具体例によれば、同
一の検査ブロック15で複数種類のコネクタ1(2)の
端子5(6)を対応する検査プローブ20に位置決めす
ることが可能になるので、検査部14の種類増加を可及
的に低減することができる結果、導通検査装置10の部
品管理が容易になり、導通検査装置10の製造コスト、
ひいては導通検査のコストを低減することができる。従
って、図示の実施の形態によれば、検査対象となるコネ
クタ1(2)の多様化に対応することができるという顕
著な効果を奏する。
【0028】特に、図示の具体例では、同一の検出子ホ
ルダ17で複数種類の検査プローブ20に対応すること
ができるので、検出子ホルダ17の種類をも低減し、製
造コストを一層下げることが可能になるという利点があ
る。また、コネクタ受け部13を組立図板30のコネク
タホルダ35として兼用することができる場合には、導
通検査装置10の部品(ホルダ部13A)の流用化を図
ることができるという利点がある。
【0029】上述した導通検査装置10は、レール部材
12に共用部品としての検査ブロック15およびトグル
機構40を組み立てて共用ユニットとしておく一方、コ
ネクタ受け部13と検出子を担持した検出子ホルダ17
とを、検査対象となるコネクタ1(2)の種類に応じて
複数種類製造し、適宜選択されたコネクタ受け部13お
よび検出子ホルダ17を上記共用ユニットに対して、導
通検査可能に組み立てることにより製造される。
【0030】このような製造方法によれば、コネクタ1
(2)毎に仕様を変更して成形することを要する最もコ
ストの高い部材をコネクタ受け部13だけに低減するこ
とができるため、製造コストを大幅に低減することが可
能になる。従って、コネクタ1(2)毎に仕様を変更し
て成形することを要する最もコストの高い部材をコネク
タ受け部13だけに低減することができるため、製造コ
ストを大幅に低減することが可能になるという利点があ
る。
【0031】上述した実施の形態は本発明の好ましい具
体例を例示したものに過ぎず、本発明は上述した実施の
形態に限定されない。本発明の特許請求の範囲内で種々
の設計変更が可能であることは云うまでもない。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
同一の検査ブロックで複数種類のコネクタの端子を対応
する検出子に位置決めすることが可能になるので、検査
部の種類増加を可及的に低減することができる結果、導
通検査装置の部品管理が容易になり、導通検査装置の製
造コスト、ひいては導通検査のコストを低減することが
できる。従って、本発明によれば、検査対象となるコネ
クタの多様化に対応することができるという顕著な効果
を奏する。
【0033】特に、同一の検出子ホルダで複数種類の検
出子に対応することができる場合には、検出子ホルダの
種類をも低減し、製造コストを一層下げることが可能に
なるという利点がある。また、コネクタ受け部をコネク
タホルダとして兼用することができる場合には、導通検
査装置の部品の流用化を図ることができるという利点が
ある。
【0034】加えて、本発明の製造方法によれば、コネ
クタ毎に仕様を変更して成形することを要する最もコス
トの高い部材をコネクタ受け部だけに低減することがで
きるため、製造コストを大幅に低減することが可能にな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態における導通検査装置の
使用状態を示しており、(A)は雄コネクタの検査状態
を示す平面部分略図、(B)は雌コネクタの検査状態を
示す平面部分略図である。
【図2】図1の実施の形態における導通検査装置の斜視
図である。
【図3】図1の実施の形態における導通検査装置のコネ
クタ受け部の使用態様を示す斜視図である。
【図4】図1の実施の形態における導通検査装置の検査
部の分解斜視図である。
【符号の説明】
1 雄コネクタ 2 雌コネクタ 11 ベース部(連結手段) 13 コネクタ受け部 13A ホルダ部材 13D ナット部材(組付部材) 13E ガイド部 14 検査部 15 検査ブロック 15S 収容凹部 17 検出子ホルダ 20 検査プローブ(検出子) 35 立設部材 40 トグル機構(駆動手段)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の端子を収容しているコネクタを保持
    するコネクタ受け部と、 このコネクタ受け部に対向して設けられ、コネクタの各
    端子に対応した検出子が、上記コネクタ受け部に保持さ
    れたコネクタの各端子に向かって突出して並設されてい
    る検査部と、 各端子に検出子を接触させる検査姿勢とコネクタ受け部
    に対しコネクタを着脱させる着脱姿勢との間でコネクタ
    受け部と検査部とを相対変位可能に連結する連結手段
    と、 連結されたコネクタ受け部と検査部とを上記検査姿勢と
    着脱姿勢との間で相対的に変位させる駆動手段とを備え
    ている導通検査装置において、 上記検査部は、検査姿勢にあるコネクタ受け部を介して
    コネクタの端子を検出子に位置決め可能な検査ブロック
    と、検査ブロックに対し交換可能に装着され、コネクタ
    受け部に保持されるコネクタ毎に対応する上記複数の検
    出子を保持する検出子ホルダとを含んでいることを特徴
    とする導通検査装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の導通検査装置において、 上記検出子ホルダは、検出子を貫通させることにより検
    出子を保持する板状部材であるとともに、表面と裏面と
    で検出子の突出位置を変更可能な起伏を区画しているも
    のである導通検査装置。
  3. 【請求項3】請求項1または2記載の導通検査装置にお
    いて、 上記コネクタ受け部は、上記連結部材から取外し可能に
    構成されているとともに、ワイヤーアセンブリの組立図
    板上に立設される立設部材に組付可能な組付部材を含ん
    でいる導通検査装置。
  4. 【請求項4】コネクタ受け部で保持したコネクタを、当
    該コネクタ受け部と相対的に変位する検査ブロックに担
    持された複数の検出子で検査する導通検査装置を製造す
    るための導通検査装置の製造方法において、 上記検査ブロックを共通部品として製造し、 同一の検査ブロックによってガイドされることにより、
    保持しているコネクタが検出子に位置決めされるコネク
    タ受け部と、上記検査ブロックに対して着脱可能な状態
    で上記複数の検出子を担持する検出子ホルダとを、検査
    対象となるコネクタの種類に応じて複数種類製造し、 検査対象として選択されたコネクタに対応する一のコネ
    クタ受け部および検出子ホルダを、共用部品としての検
    査ブロックに対して、導通検査可能に組み合わせること
    を特徴とする導通検査装置の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014157660A (ja) * 2013-02-14 2014-08-28 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ導通検査装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07161429A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ検査装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07161429A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006117988A1 (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 住友電装株式会社 ワイヤーハーネスの導通検査器
JP2014157660A (ja) * 2013-02-14 2014-08-28 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタ導通検査装置

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