JPH10111690A - Position of hitting point detector - Google Patents

Position of hitting point detector

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JPH10111690A
JPH10111690A JP8264644A JP26464496A JPH10111690A JP H10111690 A JPH10111690 A JP H10111690A JP 8264644 A JP8264644 A JP 8264644A JP 26464496 A JP26464496 A JP 26464496A JP H10111690 A JPH10111690 A JP H10111690A
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wave
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健次 平野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a position of hitting point detector capable of detecting a position of hitting point correctly with a simple structure. SOLUTION: The analog waveform A outputted from a batting sensor 21 is converted into a digital waveform by an A/D converter circuit 32 and a waveform B in which a DC component is removed by passing the digital waveform through a DC cutting filter 33 is obtained and a waveform C is obtained by subjecting the waveform B to a full-wave rectification in a rectifier circuit 34. The maximum value of the first half-wave of the waveform C subjected to the full-wave rectification is detected in a first half-wave detecting circuit 35 and a first half-wave maximum value detecting circuit 36 and, also, the maximum value of the waveform C is detected in an input waveform maximum vaue detecting circuit 37 and, then, the position of hitting point is determined by comparing and calculating the maximum value of the first half-wave of the waveform C and the maximum value of the waveform C in a comparing and calculating circuit 38.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、打撃パッドの打撃
面内の打点位置を検出する打点位置検出装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a hit point position detecting device for detecting a hit point position on a hitting surface of a hitting pad.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、打撃が与えられる打撃面を有
し、その打撃面に与えられた打撃に対応する振動波形を
出力する打撃パッドが知られており、またその打撃パッ
ドから出力された振動波形を入力し、その振動波形に基
づいて、打撃面内の打点位置を検出する打点位置検出装
置が知られている。
2. Description of the Related Art A hitting pad which has a hitting surface on which a hit is given and which outputs a vibration waveform corresponding to the hitting given on the hitting surface has been known. 2. Description of the Related Art There is known a hit point position detecting device which inputs a vibration waveform and detects a hit point position on a hitting surface based on the vibration waveform.

【0003】特開平3−107900号公報には、打撃
面の下面に張り合せた第1の電極と、その第1の電極の
下面に張り合せた感圧抵抗素子と、その感圧抵抗素子の
下部に設けられた抵抗面と、その抵抗面に設けられた第
2の電極および第3の電極とを備え、打撃面が打撃され
ると、感圧抵抗素子の打撃された部分が抵抗面に接触
し、これにより定まる第2,第3の電極間の抵抗の比率
に基づいて打点位置を検出する技術が提案されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-107900 discloses a first electrode bonded to a lower surface of a hitting surface, a pressure-sensitive resistance element bonded to a lower surface of the first electrode, and a pressure-sensitive resistor element. A resistive surface provided at a lower portion; and a second electrode and a third electrode provided on the resistive surface. When the striking surface is struck, the struck portion of the pressure-sensitive resistance element is moved to the resistive surface. There has been proposed a technique for detecting a hitting position based on the ratio of the resistance between the second and third electrodes determined by contact with each other.

【0004】また特開平5−143071号公報には、
打撃パッドに設けられた振動センサから出力される振動
波形の最初の半波が、その打撃パッドの中心位置を叩く
と+側に立ち上がり、外周位置を叩くと−側に立ち上が
ることを利用して、その半波の立ち上がり極性を極性検
出回路により検出し、検出した極性に基づいて打撃パッ
ドの打点を検出する技術が提案されている。
[0004] Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-143071 discloses that
Utilizing that the first half wave of the vibration waveform output from the vibration sensor provided on the striking pad rises to the + side when the center position of the striking pad is hit, and rises to the-side when the outer peripheral position is struck. A technique has been proposed in which the rising polarity of the half wave is detected by a polarity detection circuit, and the hit point of the hit pad is detected based on the detected polarity.

【0005】さらに特開平5−232943号公報に
は、打撃パッドの打撃面に複数の振動センサを設け、複
数の振動センサそれぞれに振動が到達するまでの時間差
に基づいて打点位置を検出する技術が提案されている。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-232943 discloses a technique in which a plurality of vibration sensors are provided on a striking surface of a striking pad, and a striking position is detected based on a time difference until the vibration reaches each of the plurality of vibration sensors. Proposed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
3−107900号公報に提案された、打撃面の下面
に、第1の電極、感圧抵抗素子、抵抗面、第2,第3の
電極を備えた技術では、打点位置は正確に検出されるも
のの、構造が複雑になりコストが高くなるという問題が
ある。
However, the first electrode, the pressure-sensitive resistance element, the resistance surface, and the second and third electrodes, which are proposed in JP-A-3-107900, are provided on the lower surface of the hitting surface. With the technology provided, although the hit position is accurately detected, there is a problem that the structure is complicated and the cost is high.

【0007】また、特開平5−143071号公報に提
案された技術では、振動センサから出力された振動波形
の最初の半波の立ち上がり極性を検出する極性検出回路
が必要である。また、打撃パッドから出力される振動波
形の最初の半波の立ち上がり極性は、その打撃パッドの
メーカーや種類によって異なったり、あるいはその極性
を自在に切り換えられることができるものもあるため、
極性の異なる打撃パッドを接続したり、あるいは誤って
極性を切り換えた場合等には、打撃パッドの中心位置を
叩いたにもかかわらず外周位置を叩いたときの打点位置
が検出されたり、あるいは外周位置を叩いたにもかかわ
らず中心位置を叩いたときの打点位置が検出されるとい
う問題がある。
The technique proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-130771 requires a polarity detection circuit for detecting the rising polarity of the first half wave of the vibration waveform output from the vibration sensor. Also, the rising polarity of the first half-wave of the vibration waveform output from the striking pad may differ depending on the manufacturer and type of the striking pad, or the polarity may be freely changed,
If a strike pad with a different polarity is connected, or the polarity is accidentally switched, etc., the strike point position when the strike position at the outer peripheral position is detected despite striking the center position of the strike pad, or There is a problem that the hit point position when the center position is hit despite the hit position is detected.

【0008】また特開平5−232943号公報に提案
された技術では、複数の振動センサそれぞれに振動が到
達するまでの時間差に基づいて打点位置を検出するもの
であるため、複数のセンサそれぞれの位置配置関係や打
撃パッドを形成する振動体の振動の伝達速度等に起因す
る要素が大きく、打点位置を正確に検出するのは困難で
あるという問題がある。また複数のセンサを必要とする
ことから構造や回路が複雑となり、高コスト化を招く結
果となる。
In the technique proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-232943, the hitting position is detected based on the time difference until the vibration reaches each of the plurality of vibration sensors. There are many factors due to the arrangement relationship, the transmission speed of the vibration of the vibrating body forming the impact pad, and the like, and there is a problem that it is difficult to accurately detect the impact point position. Further, since a plurality of sensors are required, the structure and the circuit become complicated, resulting in an increase in cost.

【0009】本発明は、上記事情に鑑み、簡単な構造
で、打点位置を正確に検出することのできる打点位置検
出装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a hit point position detecting device capable of accurately detecting a hit point position with a simple structure.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の第1の打点位置検出装置は、打撃が与えられる打撃
面を有しその打撃面に与えられた打撃に対応する振動波
形を出力する打撃パッドに接続され、その打撃パッドか
ら出力された上記振動波形を入力しその振動波形に基づ
いて上記打撃面内の打点位置を検出する打点位置検出装
置であって、 (1−1)上記振動波形の、打撃後の初期の半波の振幅
との相関を有する第1の量を検出する第1の検出手段 (1−2)上記振動波形のパワーとの相関を有する第2
の量を検出する第2の検出手段 (1−3)上記第1の量と上記第2の量とに基づいて、
上記打撃面内の打点位置を求める打点位置演算手段 を備えたことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a hitting point position detecting device having a hitting surface to which a hit is applied, and outputting a vibration waveform corresponding to the hitting applied to the hitting surface. A hitting point detecting device connected to the hitting pad for detecting the hitting position on the hitting surface based on the vibration waveform input from the hitting pad and the vibration waveform; First detecting means for detecting a first quantity having a correlation with the amplitude of the initial half-wave after the impact of the vibration waveform (1-2) a second means having a correlation with the power of the vibration waveform
(1-3) Based on the first amount and the second amount,
A hit point position calculating means for obtaining a hit point position in the hitting surface is provided.

【0011】本発明の第1の打点位置検出装置は、打撃
パッドからの振動波形の、打撃後の初期の半波の振幅と
の相関を有する第1の量(例えば、打撃後の初期の半波
の振幅そのもの、その初期の半波の瞬時パワー波形のピ
ーク、あるいはその半波の積分パワー等)と、その振動
波形のパワーとの相関を有する第2の量(例えば、その
振動波形の整流後の積分パワー、あるいはその振動波形
の最大振幅等)に基づいて打点位置を検出するものであ
るため、従来の、打撃面の下面に、第1の電極、感圧抵
抗素子、抵抗面、第2,第3の電極を備えた打点位置検
出装置と比較し、構造が簡単でありコストの低減化が図
られる。また、従来の、振動波形の最初の半波の立ち上
がり極性を検出し、これに基づいて打点位置を検出する
打点位置検出装置と比較し、打撃パッドによる半波の立
ち上がり極性の相違等に起因する誤検出が防止される。
さらに、従来の、振動センサそれぞれに振動が到達する
までの時間差に基づいて打点位置を検出する打点位置検
出装置と比較し、打点位置を正確に検出することができ
るとともに、コストの低減化が図られる。
[0011] The first hit point position detecting device of the present invention provides a first quantity (for example, an initial half after the impact) having a correlation with the amplitude of the initial half wave after the impact of the vibration waveform from the impact pad. A second quantity having a correlation between the amplitude of the wave itself, the peak of the instantaneous power waveform of the initial half-wave, or the integrated power of the half-wave, and the power of the vibration waveform (for example, rectification of the vibration waveform) Since the hitting position is detected based on the integrated power afterward or the maximum amplitude of the vibration waveform), the first electrode, the pressure-sensitive resistance element, the resistance surface, 2. The structure is simpler and the cost can be reduced as compared with the hit point position detecting device provided with the third electrode. In addition, compared with a conventional hitting position detecting device that detects the rising polarity of the first half wave of the vibration waveform and detects the hitting position based on this, it is caused by a difference in the rising polarity of the half wave by the hitting pad, etc. False detection is prevented.
Furthermore, compared to the conventional hitting position detecting device that detects the hitting position based on the time difference until the vibration reaches each of the vibration sensors, the hitting position can be accurately detected, and the cost can be reduced. Can be

【0012】ここで、上記第1の検出手段が、所定の選
択基準に従って、上記振動波形の、打撃後の最初の半波
もしくはその最初の半波に続く次の半波を、上記初期の
半波として採用するものであることが効果的である。打
撃パッドからの振動波形に含まれる打撃後の最初の半波
は乱れた波形であってきれいに立ち上がらないこともあ
る。そこで、その最初の半波が有効な情報を有する波形
であるか否かを判定し、打撃後の最初の半波が有効な情
報を有する半波であるか否に応じて、それぞれ、最初の
半波もしくはその最初の半波に続く次の半波を、初期の
半波として採用すると、例えばノイズにより振動波形の
立ち上がりが乱れ、最初の半波の値が極めて小さいなど
で検出を行なう上で有効でない値であっても、その最初
の半波に続く次の半波を初期の半波として取り扱うこと
により高精度の検出が行なわれる。
Here, the first detecting means determines the first half-wave after impact or the next half-wave following the first half-wave of the vibration waveform according to a predetermined selection criterion. It is effective to adopt it as a wave. The first half-wave after the impact included in the vibration waveform from the impact pad is a distorted waveform and may not rise up cleanly. Therefore, it is determined whether or not the first half wave is a waveform having valid information, and depending on whether the first half wave after impact is a half wave having valid information, When the half wave or the next half wave following the first half wave is adopted as the initial half wave, for example, the rise of the vibration waveform is disturbed by noise, and the value of the first half wave is extremely small. Even if the value is not valid, highly accurate detection is performed by treating the next half wave following the first half wave as the initial half wave.

【0013】また、上記第1の検出手段が、上記振動波
形の、上記第2の量に基づいて定められたしきい値を最
初に越える振幅を有する半波の直前の半波を、上記初期
の半波として採用するものであることが好ましい。この
ように、第2の量に基づいて定められたしきい値を最初
に越える振幅を有する半波の直前の半波を初期の半波と
して採用すると、例えば例えばノイズにより振動波形の
立ち上がりが乱れ、最初の半波およびその最初の半波に
続く次の半波の値が極めて小さいなどで検出を行なう上
で有効でない値であっても、第3波以降の半波を初期の
半波として取り扱うことにより一層高精度の検出が行な
われる。
[0013] The first detecting means may detect the half-wave immediately before the half-wave of the vibration waveform having an amplitude that first exceeds a threshold value determined based on the second quantity by the initial wave. Is preferably adopted as the half-wave of. As described above, when the half wave immediately before the half wave having the amplitude exceeding the threshold value determined based on the second amount is adopted as the initial half wave, for example, the rise of the vibration waveform is disturbed by noise, for example. Even if the value of the first half-wave and the value of the next half-wave following the first half-wave are extremely small and are not effective in performing the detection, the half-wave after the third wave is regarded as the initial half-wave. More accurate detection is performed by handling.

【0014】また、上記目的を達成する本発明の第2の
打点位置検出装置は、打撃が与えられる打撃面を有しそ
の打撃面に与えられた打撃に対応する振動波形を出力す
る打撃パッドに接続され、該打撃パッドから出力された
上記振動波形を入力しその振動波形に基づいて上記打撃
面内の打点位置を検出する打点位置検出装置であって、 (2−1)上記振動波形の包絡線の、打撃後の所定区間
内の傾きとの相関を有する第3の量を検出する第3の検
出手段 (2−2)上記振動波形のパワーとの相関を有する第2
の量を検出する第2の検出手段 (2−3)上記第3の量と上記第2の量とに基づいて、
上記打撃面内の打点位置を求める打点位置演算手段 を備えたことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a hitting position detecting device which has a hitting surface to which a hit is applied and which outputs a vibration waveform corresponding to the hitting applied to the hitting surface. A hit point position detecting device connected to the vibration pad, which receives the vibration waveform output from the hitting pad, and detects a hit point position on the hitting surface based on the vibration waveform. (2-1) Envelope of the vibration waveform Third detection means for detecting a third quantity having a correlation with the inclination of the line in a predetermined section after the impact (2-2) a second quantity having a correlation with the power of the vibration waveform
(2-3) Based on the third amount and the second amount,
A hit point position calculating means for obtaining a hit point position in the hitting surface is provided.

【0015】本発明の第2の打点位置検出装置は、打撃
パッドからの振動波形の包絡線の、打撃後の所定区間内
の傾きとの相関を有する第3の量(例えば、その傾きそ
のもの等)と、その振動波形のパワーとの相関を有する
第2の量(例えば前述した最大振幅等)とに基づいて、
打撃面内の打点位置を求めるものである。振動波形の包
絡線や、その包絡線の傾きは、エンベロープ検出回路や
傾き検出回路により容易に得られるため、簡単な回路構
成で正確な打点位置を検出することができる。
A second hitting position detecting device according to the present invention is characterized in that a third quantity (for example, the inclination itself) having a correlation with the inclination of the envelope of the vibration waveform from the striking pad within a predetermined section after striking. ) And a second quantity having a correlation with the power of the vibration waveform (for example, the maximum amplitude described above),
The position of the hit point on the hitting surface is determined. Since the envelope of the vibration waveform and the inclination of the envelope can be easily obtained by the envelope detection circuit and the inclination detection circuit, it is possible to accurately detect the hitting position with a simple circuit configuration.

【0016】ここで、本発明の第1の打点位置検出装置
および第2の打点位置検出装置において、上記第2の検
出手段が、上記第2の量として、上記振動波形の最大振
幅との相関を有する量を検出するものであることが好ま
しい。このように、打撃パッドから出力された振動波形
のパワーとの相関を有する量を、振動波形の最大振幅と
の相関を有する量として検出すると、その振動波形の最
大振幅のみの検出で済み、回路構成がより簡素化され
る。
Here, in the first hitting point position detecting device and the second hitting point position detecting device of the present invention, the second detecting means sets the second quantity as a correlation with the maximum amplitude of the vibration waveform. It is preferable to detect the amount having As described above, when an amount having a correlation with the power of the vibration waveform output from the impact pad is detected as an amount having a correlation with the maximum amplitude of the vibration waveform, only the maximum amplitude of the vibration waveform can be detected, and the circuit The configuration is simplified.

【0017】さらに、上記目的を達成する本発明の第3
の打点位置検出装置は、打撃が与えられる打撃面を有し
その打撃面に与えられた打撃に対応する振動波形を出力
する打撃パッドに接続され、該打撃パッドから出力され
た上記振動波形を入力しその振動波形に基づいて上記打
撃面内の打点位置を検出する打点位置検出装置であっ
て、 (3−1)上記振動波形から、互いに異なる周波数成分
比を有する複数の振動波形を生成するフィルタリング手
段 (3−2)上記フィルタリング手段で生成された後の複
数の振動波形それぞれのパワーとの相関をそれぞれ有す
る複数の第4の量を検出する第4の検出手段 (3−3)これら複数の第4の量に基づいて、上記打撃
面内の打点位置を求める打点位置演算手段 を備えたことを特徴とする。
Further, a third aspect of the present invention for achieving the above object.
Is connected to a striking pad that has a striking surface to which a striking is applied and outputs a vibration waveform corresponding to the striking applied to the striking surface, and inputs the vibration waveform output from the striking pad. A hit point position detecting device for detecting a hit point position in the hitting surface based on the vibration waveform; (3-1) filtering for generating a plurality of vibration waveforms having different frequency component ratios from the vibration waveform; Means (3-2) Fourth detecting means for detecting a plurality of fourth quantities each having a correlation with the power of each of the plurality of vibration waveforms generated by the filtering means (3-3) And a hit point position calculating means for obtaining a hit point position in the hitting surface based on the fourth amount.

【0018】本発明の第3の打点位置検出装置は、打撃
パッドからの振動波形の周波数成分の比率により打点位
置を検出するものであるため、簡単なバンドパスフィル
タ等の回路構成で打点位置を正確に検出することができ
る。ここで、上記第4の検出手段が、上記第4の量とし
て、上記フィルタリング手段で生成された振動波形の最
大振幅との相関を有する量を検出するものであることが
好ましい。
Since the third hitting position detecting device of the present invention detects the hitting position based on the ratio of the frequency components of the vibration waveform from the hitting pad, the hitting position can be detected by a simple circuit configuration such as a band-pass filter. It can be detected accurately. Here, it is preferable that the fourth detector detects an amount having a correlation with the maximum amplitude of the vibration waveform generated by the filtering unit as the fourth amount.

【0019】このように、第4の量を、振動波形の最大
振幅との相関を有する量として検出すると、前述と同
様、その振動波形の最大振幅のみの検出で済み、回路構
成が一層簡素化される。
As described above, when the fourth quantity is detected as a quantity having a correlation with the maximum amplitude of the vibration waveform, only the maximum amplitude of the vibration waveform can be detected, as described above, and the circuit configuration is further simplified. Is done.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る打点位置
検出装置を内蔵した電子打楽器のブロック図である。打
撃センサ11は、打撃面を有する打撃パッドに取り付け
られており、打撃面の打撃に応じたアナログ波形(振動
波形)を出力する。この打撃センサ11には、圧力セン
サや圧電センサ等が用いられる。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram of an electronic percussion instrument incorporating a hit point position detecting device according to an embodiment of the present invention. The striking sensor 11 is attached to a striking pad having a striking surface, and outputs an analog waveform (vibration waveform) corresponding to the striking of the striking surface. As the impact sensor 11, a pressure sensor, a piezoelectric sensor, or the like is used.

【0021】打点位置・打撃力検出部12は、本発明に
いう打点位置検出装置に相当し、その内容についてはい
くつかの実施形態を挙げて後述するが、打撃センサ11
からのアナログ波形を入力し、入力されたアナログ波形
に基づいて打撃位置情報および打撃力情報を出力する。
音源部13は、後述するパラメータ制御部15からの音
色情報をROM16のテーブルアドレスに変換し、アド
レスに格納された波形データをROM16から読み出す
とともに、該音色情報にしたがって楽音を発生させる。
The hitting point / hitting force detecting section 12 corresponds to the hitting point detecting device according to the present invention, and its contents will be described later with reference to some embodiments.
And outputs hitting position information and hitting force information based on the input analog waveform.
The tone generator 13 converts the timbre information from the parameter controller 15 to be described later into a table address in the ROM 16, reads out the waveform data stored in the address from the ROM 16, and generates a musical tone according to the timbre information.

【0022】操作子群14は、打撃に対応して発音され
る楽音の音色等のパラメータを設定する操作子群であ
り、その操作子群14には、例えば、アコースティック
ドラムのヘッド部分の直径、胴体部分の深さ、材質、お
よび形状等のパラメータが入力される。入力の方法とし
ては、音色選択スイッチによる方法、ボリューム等によ
って種々のパラメータを直接入力する方法、あるいは、
それらの組み合わせをパッチとして入力する方法等があ
る。
The operator group 14 is a group of operators for setting parameters such as the timbre of a musical tone to be produced in response to a strike. The operator group 14 includes, for example, the diameter of the head of an acoustic drum, Parameters such as the depth, material, and shape of the body are input. As a method of input, a method using a tone selection switch, a method of directly inputting various parameters according to volume, or the like, or
There is a method of inputting those combinations as a patch.

【0023】パラメータ制御部15は、操作子群14の
操作により入力されたパラメータ、および、打点位置・
打撃力検出部12からの打点位置、打撃力情報を音色情
報(音源部13を制御するための各種係数)、および表
示情報を出力する。ROM16は、各種の打楽器音の波
形データを記憶しており、パラメータ制御部15からの
音色情報に対応した波形データを音源部13に供給す
る。
The parameter control unit 15 controls the parameters input by operating the operator group 14,
The striking point position from the striking force detection unit 12, the striking force information, timbre information (various coefficients for controlling the sound source unit 13), and display information are output. The ROM 16 stores waveform data of various percussion sounds, and supplies waveform data corresponding to timbre information from the parameter control unit 15 to the sound source unit 13.

【0024】表示器17は、パラメータ制御部15から
の表示情報に基づいて音色の設定状態を表示する。表示
の仕方としては、音色情報(ドラムのヘッド部分の直
径、胴体部分の深さ、材質、および形状等)に対応した
アコースティックドラムの形状をグラフィカルに表示す
る。このようにアコースティックドラムの形状と音色と
を対応づけることにより、音色をアコースティックドラ
ムの形状に置き換えることができ、音色を直感的に理解
することができる。
The display 17 displays the setting state of the tone based on the display information from the parameter control unit 15. As a display method, the shape of the acoustic drum corresponding to the tone color information (diameter of the head portion of the drum, depth of the body portion, material, shape, etc.) is graphically displayed. By associating the shape of the acoustic drum with the timbre in this way, the timbre can be replaced with the shape of the acoustic drum, and the timbre can be intuitively understood.

【0025】図2は、本発明の第1の打点位置検出装置
の第1実施形態を示すブロック図、図3は、打撃センサ
から出力される打点位置検出装置に入力される振動波形
のうちの最初の半波(第1半波)を示す図である。先
ず、図3に示す波形について説明する。図3には、打撃
センサから出力された、打撃パッドの中心位置およびそ
の打撃パッドの中心位置から外周に向けた複数の位置そ
れぞれを所定の強さで叩いた場合の振動波形のうちの第
1半波が示されている。打撃パッドを叩いたときに打撃
センサから出力される振動波形を観察すると、図3に示
すように、中心位置を所定の強さで叩いたときに出力さ
れる振動波形の第1半波の振幅は、その打撃センサから
出力される振動波形の最大振幅に対する比は相対的に大
きく、一方、中心位置から外周に向けた複数の位置それ
ぞれを所定の強さで叩いたときに出力される振動波形の
第1半波の振幅は外周位置に近づくにつれ徐々に大きく
なるものの、打撃センサから出力される振動波形の最大
振幅に対する比は中心位置を叩いたときと比べ相対的に
小さい特性を示す。
FIG. 2 is a block diagram showing a first embodiment of the first hit point position detecting device of the present invention. FIG. 3 is a block diagram showing the vibration waveform of the hit point position detecting device output from the hit sensor. It is a figure showing the first half wave (first half wave). First, the waveform shown in FIG. 3 will be described. FIG. 3 shows the first one of the vibration waveforms output from the impact sensor when the center position of the impact pad and a plurality of positions from the center position of the impact pad toward the outer periphery are hit with a predetermined strength. Half waves are shown. When observing the vibration waveform output from the impact sensor when the impact pad is hit, as shown in FIG. 3, the amplitude of the first half wave of the oscillation waveform output when the center position is hit with a predetermined strength is shown. Is a relatively large ratio of the vibration waveform output from the impact sensor to the maximum amplitude, while the vibration waveform output when a plurality of positions from the center position toward the outer periphery are hit with a predetermined strength. Although the amplitude of the first half-wave gradually increases as approaching the outer peripheral position, the ratio of the vibration waveform output from the impact sensor to the maximum amplitude shows a characteristic relatively smaller than when the center position is hit.

【0026】そこで、外周位置を叩いたときに打撃セン
サから出力される振動波形のうちの第1半波の振幅が、
その振動波形の最大振幅を一定値で割り算した値「波形
最大値/一定値」を超えないように、かつ中心位置を叩
いたときに打撃センサから出力される振動波形のうちの
第1半波の振幅が、その「波形最大値/一定値」を超え
るように「一定値」を設定しておく。すると、中心位置
を叩いたときに出力される振動波形のうちの初期の半波
の振幅は、「波形最大値/一定値」より必ず大きくな
る。このように「波形最大値」の関数で、初期の半波の
振幅が大きい(中心位置を叩いた)か、小さい(外周位
置を叩いた)かの判断基準を示すスレッシュホールド値
を設定することができる。本実施形態の打点位置検出装
置は、このような観点に着目したものである。
Therefore, the amplitude of the first half wave of the vibration waveform output from the impact sensor when the outer peripheral position is hit is
The first half wave of the vibration waveform output from the impact sensor when the center position is hit so as not to exceed a value obtained by dividing the maximum amplitude of the vibration waveform by a constant value “waveform maximum value / constant value” Is set so that the amplitude of the waveform exceeds the “waveform maximum value / constant value”. Then, the amplitude of the initial half-wave of the vibration waveform output when the center position is hit is always larger than “waveform maximum value / constant value”. As described above, a threshold value indicating a criterion for determining whether the amplitude of the initial half-wave is large (the center position is hit) or small (the outer position is hit) is set by the function of the "maximum waveform value". Can be. The hit point position detecting device of the present embodiment focuses on such a viewpoint.

【0027】図2に示す打撃センサ21には、圧電素子
が用いられており、その打撃センサ21は打撃パッドの
打撃面に取り付けられている。この打撃センサ21は、
打撃に応じたアナログ波形Aを出力する。本実施形態の
打点位置検出装置を構成するA/D変換回路32は、打
撃センサ21からのアナログ波形Aを入力し、入力され
たアナログ波形Aをデジタル波形に変換する。
The striking sensor 21 shown in FIG. 2 uses a piezoelectric element, and the striking sensor 21 is attached to a striking surface of a striking pad. This impact sensor 21
An analog waveform A corresponding to the impact is output. The A / D conversion circuit 32 constituting the hit position detecting device of the present embodiment receives the analog waveform A from the impact sensor 21 and converts the input analog waveform A into a digital waveform.

【0028】DCカットフィルタ33は、直流成分を取
り除くハイパスフィルタであり、入力されたディジタル
波形の直流成分を取り除き、直流成分が取り除かれた波
形Bを出力する。整流回路34は、入力された波形Bを
全波整流(−側の波形を+側の方向に折り返す)して波
形Cを出力する。
The DC cut filter 33 is a high-pass filter that removes a DC component, removes the DC component of the input digital waveform, and outputs a waveform B from which the DC component has been removed. The rectifier circuit 34 outputs the waveform C by full-wave rectifying the input waveform B (turning the negative waveform back in the positive direction).

【0029】第1半波検出回路35は、入力された波形
Cの立ち上がりと、最初のゼロクロスとを検出すること
により第1半波C1を検出する。第1半波最大値検出回
路36(本発明にいう第1の検出手段)は、第1半波C
1の最大値(振幅)C1MAX を検出する。入力波形最大
値検出回路37(本発明にいう第2の検出手段)は、波
形Cの立ち上がりから一定時間内の最大値(最大振幅)
MAX を検出する。
The first half-wave detecting circuit 35 detects the first half-wave C1 by detecting the rising of the input waveform C and the first zero cross. The first half-wave maximum value detecting circuit 36 (first detecting means according to the present invention) is a first half-wave C
The maximum value (amplitude) C1 MAX of 1 is detected. The input waveform maximum value detection circuit 37 (second detection means according to the present invention) provides a maximum value (maximum amplitude) within a predetermined time from the rise of the waveform C.
Detect C MAX .

【0030】比較・演算回路38(本発明にいう打点位
置演算手段)は、第1半波C1の最大値C1MAX と波形
Cの最大値CMAX との比率を求め、その比率に基づいた
打点位置情報を出力する。図4は、図2に示す比較・演
算回路で処理されるルーチンのフローチャートである。
[0030] (dot position calculating means of the present invention) comparison and calculation circuit 38 calculates the ratio between the maximum value C MAX of the maximum value C1 MAX and the waveform C of the first half-wave C1, based on the ratio RBI Output location information. FIG. 4 is a flowchart of a routine processed by the comparison / arithmetic circuit shown in FIG.

【0031】先ずステップS11において、第1半波C
1の最大値C1MAX が、波形Cの最大値CMAX を一定値
(RATE)で割り算した値αより小さいか否かが判断
される。第1半波C1の最大値C1MAX が、値α未満で
あると判断された場合は打点位置が中心から外れている
ため、ステップS12に進む。ステップS12では、位
置パラメータに第1半波C1の最大値C1MAX を代入し
てステップS14に進む。この最大値C1MAX は、図3
を参照して説明したように中心から外れている程度によ
り変化する。
First, in step S11, the first half wave C
1 of the maximum value C1 MAX is the maximum value C MAX a fixed value of the waveform C (RATE) whether the value α is smaller than the division in or not. If it is determined that the maximum value C1 MAX of the first half-wave C1 is less than the value α, the process proceeds to step S12 because the hitting position is off the center. In step S12, the maximum value C1 MAX of the first half-wave C1 is substituted for the position parameter, and the process proceeds to step S14. This maximum value C1 MAX is shown in FIG.
As described with reference to FIG.

【0032】一方、第1半波C1の最大値CMAX が、値
αより大きいと判断された場合は打点位置が中心である
ため、ステップS13に進む。ステップS13では、位
置パラメータに0を代入してステップS14に進む。ス
テップS14では、位置パラメータの値と、入力された
波形Cの最大値CMA X とを比較・演算して打点位置を決
定する。このようにして、第1半波C1の最大値C1
MAX と、波形Cの最大値CMAX との比率に基づいて打点
位置を決定する。
On the other hand, if it is determined that the maximum value C MAX of the first half-wave C1 is larger than the value α, the process proceeds to step S13 because the hit point is located at the center. In step S13, 0 is substituted for the position parameter, and the process proceeds to step S14. In step S14, it determines the value of the location parameter, the comparison and calculation to strike position and a maximum value C MA X input waveform C. Thus, the maximum value C1 of the first half-wave C1
The hit position is determined based on the ratio between MAX and the maximum value CMAX of the waveform C.

【0033】尚、本実施形態では、第1半波検出回路3
5により、波形Cの立ち上がりと、最初のゼロクロスと
を検出することにより第1半波C1を検出したが、これ
に限られるものではなく、波形Cの立ち上がりと傾きの
変化を検出することにより第1半波C1を検出してもよ
い。また、比較・演算回路38では、第1半波C1の最
大値と、波形Cの最大値を一定値で割り算した値との比
較・演算を行なったが、これに限られるものではなく、
第1半波C1の最大値と波形Cの最大値ないし波形Cの
パワーをパラメータとして求められた値に基づいて、比
較、演算を行なうものであってもよく、一般的には、打
撃センサ21から出力されるアナログ波形の、打撃後の
初期の波形の半波の振幅との相関を有する第1の量と、
そのアナログ波形のパワーとの相関を有する第2の量と
に基づいて、比較、演算を行なうものであればよい。
In this embodiment, the first half-wave detection circuit 3
5, the first half-wave C1 is detected by detecting the rising edge of the waveform C and the first zero cross, but the present invention is not limited to this, and the first half-wave C1 is detected by detecting the rising edge of the waveform C and a change in the slope. One half-wave C1 may be detected. The comparison / arithmetic circuit 38 compares / calculates the maximum value of the first half-wave C1 and the value obtained by dividing the maximum value of the waveform C by a constant value. However, the present invention is not limited to this.
Comparison and calculation may be performed based on the maximum value of the first half-wave C1 and the maximum value of the waveform C or the value obtained using the power of the waveform C as a parameter. A first quantity having a correlation with the amplitude of the half-wave of the initial waveform after impact of the analog waveform output from
What is necessary is to perform comparison and calculation based on the second amount having a correlation with the power of the analog waveform.

【0034】図5は、本発明の第1の打点位置検出装置
の第2実施形態を示すブロック図である。図2に示す第
1実施形態の打点位置検出装置では、理想的な立ち上が
りを有する振動波形を想定したが、実際には、振動波形
は、ノイズ等の影響により理想的に立ち上がらない場合
がある。そこで本実施形態では、以下に述べるような、
振動波形の立ち上がりの乱れによる誤検出を防止するた
めの手段が取り入れられている。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the first hit point position detecting device of the present invention. In the hit point position detecting device of the first embodiment shown in FIG. 2, a vibration waveform having an ideal rising is assumed. However, the vibration waveform may not actually rise due to the influence of noise or the like. Therefore, in the present embodiment, as described below,
Means for preventing erroneous detection due to disturbance of rising of the vibration waveform is adopted.

【0035】打撃センサ21から出力されたアナログ波
形Aは、本実施形態の打点位置検出装置を構成するA/
D変換回路52でデジタル波形に変換され、さらにDC
カットフィルタ53を経由して直流成分が取り除かれ、
これにより波形Bが生成され、その波形Bが第1の整流
回路54に入力される。第1の整流回路54は、波形B
の+側を半波整流する(波形B1)。
The analog waveform A output from the impact sensor 21 is A / A which constitutes the hit point position detecting device of this embodiment.
The signal is converted into a digital waveform by the D conversion circuit 52,
The DC component is removed via the cut filter 53,
As a result, a waveform B is generated, and the waveform B is input to the first rectifier circuit 54. The first rectifier circuit 54 has a waveform B
Is half-wave rectified (waveform B1).

【0036】第2の整流回路55は、波形Bの−側を半
波整流し、さらに半波整流された波形を+側に折り返す
(波形B2)。第3の整流回路56は、波形Bを全波整
流する(波形B3)。第1の第1半波検出回路57は、
第1の整流回路54からの波形B1を入力して、その波
形B1の最初の半波B11(波形Bの+側の第1半波)
を検出する。
The second rectifier circuit 55 performs half-wave rectification on the negative side of the waveform B, and returns the half-wave rectified waveform to the positive side (waveform B2). The third rectifier circuit 56 performs full-wave rectification on the waveform B (waveform B3). The first first half-wave detection circuit 57
The waveform B1 from the first rectifier circuit 54 is input, and the first half wave B11 of the waveform B1 (the first half wave on the + side of the waveform B)
Is detected.

【0037】第2の第1半波検出回路58は、第2の整
流回路55からの波形B2を入力して、その波形B2の
最初の半波B21(波形Bの−側の第1半波)を検出す
る。第1の最大検出回路59は、第1の第1半波検出回
路57により検出された半波B11を入力し、その半波
B11の最大値aを検出する。第2の最大値検出回路6
0は、第2の第1半波検出回路58により検出された半
波B21を入力し、その半波B21の最大値bを検出す
る。
The second first half-wave detecting circuit 58 receives the waveform B2 from the second rectifier circuit 55 and inputs the first half-wave B21 of the waveform B2 (the first half-wave on the negative side of the waveform B). ) Is detected. The first maximum detection circuit 59 receives the half-wave B11 detected by the first first half-wave detection circuit 57, and detects the maximum value a of the half-wave B11. Second maximum value detection circuit 6
0 inputs the half-wave B21 detected by the second first half-wave detection circuit 58 and detects the maximum value b of the half-wave B21.

【0038】第3の最大値検出回路61は、第3の整流
回路56からの波形B3の、立ち上がりから一定時間内
の最大値cを検出する。第1半波・第2半波判定回路6
2は、半波B11の最大値aと半波B21の最大値bと
の時間差および大きさに基づき、それら半波B11,B
21のいずれか一方を第1半波、他の一方をその第1半
波に続く次の半波である第2半波である旨の判定を行な
う。ここでは、最大値aの方が最大値bよりも時間的に
早くかつ小さいため、半波B11を第1半波,半波B2
1を第2半波と判定する。
The third maximum value detection circuit 61 detects the maximum value c of the waveform B3 from the third rectification circuit 56 within a predetermined time from the rise. First half-wave / second half-wave determination circuit 6
2 is based on the time difference and the magnitude between the maximum value a of the half-wave B11 and the maximum value b of the half-wave B21.
21 is determined to be the first half-wave, and the other is determined to be the second half-wave which is the next half-wave following the first half-wave. Here, since the maximum value a is earlier and smaller in time than the maximum value b, the half-wave B11 is changed to the first half-wave and the half-wave B2.
1 is determined as the second half wave.

【0039】比較・演算回路63は、第1半波・第2半
波判定回路62で判定した第1半波B11,第2半波B
21の最大値と、第3の最大値検出回路61からの波形
B3の最大値Cを、後述するように比較・演算してその
結果を打点位置情報として出力する。図6は、図5に示
す比較・演算回路で処理されるルーチンのフローチャー
ト、図7は、図6に示すフローチャートを説明するため
の波形を示す図である。
The comparison / arithmetic circuit 63 includes a first half-wave B11 and a second half-wave B determined by the first half-wave / second half-wave determination circuit 62.
The maximum value of 21 and the maximum value C of the waveform B3 from the third maximum value detection circuit 61 are compared and calculated as described later, and the result is output as hit point position information. FIG. 6 is a flowchart of a routine processed by the comparison / arithmetic circuit shown in FIG. 5, and FIG. 7 is a diagram showing waveforms for explaining the flowchart shown in FIG.

【0040】先ず、図6に示すステップ21において、
第1半波B11の最大値aが、波形B3の最大値cを一
定値(RATE)で割り算した値αより小さいか否かが
判断される。第1半波B11の最大値aが値αより大き
いと判断された場合は、打点位置が中心にあるため、ス
テップS23に進む。図7(a)には、ステップS23
に進む場合の波形が示されている。ここでは、打撃パッ
ドの中心が打撃され、これによりDCカットフィルタ5
3から出力された波形Bと、その波形Bが第3の整流回
路56により全波整流された、第1半波B11,第2半
波B21を含む波形B3とが示されている。図7(a)
に示すように第1半波B11の最大値aは値α(最大値
/RATE)を超えている。ステップS23では、位置
パラメータに0を代入してステップS26に進む。
First, in step 21 shown in FIG.
It is determined whether the maximum value a of the first half-wave B11 is smaller than a value α obtained by dividing the maximum value c of the waveform B3 by a constant value (RATE). If it is determined that the maximum value a of the first half-wave B11 is larger than the value α, the process proceeds to step S23 because the hitting position is at the center. FIG. 7A shows a step S23.
The waveform when the process proceeds to is shown. Here, the center of the striking pad is struck, whereby the DC cut filter 5 is struck.
3 shows a waveform B output from the third and a waveform B3 including the first half-wave B11 and the second half-wave B21 obtained by full-wave rectifying the waveform B by the third rectifier circuit 56. FIG. 7 (a)
As shown in the figure, the maximum value a of the first half-wave B11 exceeds the value α (maximum value / RATE). In step S23, 0 is substituted for the position parameter, and the process proceeds to step S26.

【0041】一方、第1半波B11の最大値aが、値α
未満であると判断された場合は打点位置が中心から外れ
ているため、ステップS22に進む。hステップS22
では、第2半波B21の最大値bが値αよりも小さいか
否かが判断される。第2半波B21の最大値bが値α未
満であると判断された場合はステップS24に進む。図
7(b)には、ステップS24に進む場合の波形が示さ
れている。ここでは、打撃パッドの中心から外れた位置
が打撃され、これにより、立ち上がりが乱れた波形B
と、その波形Bが全波整流された、第1半波B11,第
2半波B21を含む波形B3とが示されている。図7
(b)に示すように、第2半波B21の最大値bは値α
未満になっている。ステップS24では、位置パラメー
タに第2半波B21の最大値bを代入してステップS2
6に進む。このように振動波形の立ち上がりが乱れ、第
1半波B11の最大値aが極めて小さく、第2半波を実
質的な第1半波とみなす場合は、第2半波B21の最大
値bを位置パラメータに代入することにより、振動波形
の乱れによる誤検出が防止される。
On the other hand, the maximum value a of the first half wave B11 is the value α
If it is determined that the distance is less than the center, the hit position is off the center, and the process proceeds to step S22. h step S22
Then, it is determined whether or not the maximum value b of the second half-wave B21 is smaller than the value α. When it is determined that the maximum value b of the second half-wave B21 is less than the value α, the process proceeds to step S24. FIG. 7B shows a waveform when the process proceeds to step S24. Here, a position deviated from the center of the striking pad is struck, whereby the rising edge of the waveform B is disturbed.
And a waveform B3 including the first half-wave B11 and the second half-wave B21, in which the waveform B is full-wave rectified. FIG.
As shown in (b), the maximum value b of the second half wave B21 is the value α
Is less than. In step S24, the maximum value b of the second half-wave B21 is substituted for the position parameter, and step S2
Proceed to 6. In this way, when the rise of the vibration waveform is disturbed, the maximum value a of the first half wave B11 is extremely small, and when the second half wave is regarded as the substantial first half wave, the maximum value b of the second half wave B21 is determined as follows. By substituting for the position parameter, erroneous detection due to vibration waveform disturbance is prevented.

【0042】一方、第2半波B21の最大値bが値αよ
りも大きいと判断された場合は、ステップS25に進
む。図7(c)には、ステップS25に進む場合の波形
が示されている。ここでは、打撃パッドの中心から外れ
た位置が打撃され、これによりDCカットフィルタ53
から出力された波形Bと、その波形Bが全波整流され
た、第1半波B11,第2半波B21を含んだ波形B3
とが示されている。図7(c)に示すように、第2半波
B21の最大値bは値αを超えている。ステップS25
では、位置パラメータに第1半波B11の最大値aを代
入してステップS26に進む。
On the other hand, if it is determined that the maximum value b of the second half-wave B21 is larger than the value α, the process proceeds to step S25. FIG. 7C shows a waveform when the process proceeds to step S25. Here, a position deviated from the center of the striking pad is struck, and thereby the DC cut filter 53
B3 and a waveform B3 including the first half-wave B11 and the second half-wave B21 obtained by full-wave rectifying the waveform B.
Are shown. As shown in FIG. 7C, the maximum value b of the second half-wave B21 exceeds the value α. Step S25
Then, the maximum value a of the first half-wave B11 is substituted for the position parameter, and the process proceeds to step S26.

【0043】ステップS26では、位置パラメータの値
と、波形B3の最大値cとを比較・演算して打点位置を
決定する。尚、本実施形態では、第1の整流回路54,
第1の第1半波検出回路57のペア、第2の整流回路5
5,第2の第1半波検出回路58のペアにより第1,第
2半波を検出したが、これに限られるものではなく、全
波整流した後、その波形の立ち上がりと、ゼロクロスま
たは傾きを検知することにより、第1,第2半波を検出
してもよい。
In step S26, the position of the hit point is determined by comparing and calculating the value of the position parameter and the maximum value c of the waveform B3. In the present embodiment, the first rectifier circuit 54,
A pair of the first first half-wave detection circuit 57 and the second rectifier circuit 5
5, the first and second half-waves are detected by the pair of the second first half-wave detection circuits 58, but the present invention is not limited to this. After full-wave rectification, the rise of the waveform, zero crossing or slope , The first and second half-waves may be detected.

【0044】さらに、より確実な方法として、第3半波
以降の検出をしてもよい。即ち、「波形最大値」/「一
定値」を最初に超えた第n半波の、ひとつ前の第(n−
1)半波を打点位置パラメータにしてもよい。図8は、
本発明の第2の打点位置検出装置の一実施形態を示すブ
ロック図である。また、図9は、打撃センサから出力さ
れた振動波形(a)およびその振動波形のエンベロープ
波形(b)を示す図、図10は、図9に示すエンベロー
プ波形の傾きとベロシティ(打撃の強さ)の関係を示す
グラフ、図11は、打撃センサから出力された、図10
に示すグラフの各点と対応する振動波形とそのエンベロ
ープ波形の傾きを示した図である。
Further, as a more reliable method, detection of the third and subsequent half waves may be performed. In other words, the (n−n) -th half-wave that precedes the “waveform maximum value” / “constant value” first,
1) A half wave may be used as the hit point position parameter. FIG.
It is a block diagram showing one embodiment of a second hit point position detecting device of the present invention. 9 is a diagram showing a vibration waveform (a) output from the impact sensor and an envelope waveform (b) of the vibration waveform, and FIG. 10 is a diagram showing the slope and velocity (strength of the impact) of the envelope waveform shown in FIG. FIG. 11 is a graph showing the relationship of FIG.
FIG. 7 is a diagram showing a vibration waveform corresponding to each point of the graph shown in FIG.

【0045】先ず、図9に示す波形について説明する。
図9(a)に示す、打撃センサからの振動波形の包絡線
を求めて、図9(b)に示すエンベロープ波形を得る。
このエンベロープ波形上の2点に対応するレベルをA,
Bとすると、このエンベロープ波形の所定時間Tにおけ
る傾きは、(B−A)/Tと表わされる。
First, the waveform shown in FIG. 9 will be described.
The envelope of the vibration waveform from the impact sensor shown in FIG. 9A is obtained, and the envelope waveform shown in FIG. 9B is obtained.
The levels corresponding to the two points on this envelope waveform are A,
Assuming B, the slope of this envelope waveform at a predetermined time T is expressed as (BA) / T.

【0046】図10のグラフに示すA点は、打撃パッド
の内側(中心位置)を強打した場合のベロシティとエン
ベロープ波形の傾きの関係を示しており、図11(a)
に示す振動波形およびそのエンベロープ波形の傾きに対
応している。またB点は打撃パッドの内側を弱打した場
合のベロシティとエンベロープ波形の傾きの関係を示し
ており、図11(b)に示す振動波形およびそのエンベ
ロープ波形の傾きに対応している。さらにC点は打撃パ
ッドの外側(外周位置)を強打した場合のベロシティと
エンベロープ波形の傾きの関係を示しており、図11
(c)に示す振動波形およびそのエンベロープ波形の傾
きに対応している。またD点は打撃パッドの外側を弱打
した場合のベロシティとエンベロープ波形の傾きの関係
を示しており、図11(d)に示す振動波形およびその
エンベロープ波形の傾きに対応している。図10、11
から明らかなように打撃パッドの打点位置や叩く強さに
よってエンベロープ波形の傾きが変化している。本実施
形態ではこの点に着目して打点位置を検出するものであ
る。
Point A shown in the graph of FIG. 10 shows the relationship between the velocity and the slope of the envelope waveform when the inside (center position) of the striking pad is strongly struck.
And the slope of the envelope waveform. Point B shows the relationship between the velocity and the slope of the envelope waveform when the inside of the striking pad is lightly hit, and corresponds to the vibration waveform and the slope of the envelope waveform shown in FIG. Point C shows the relationship between the velocity and the slope of the envelope waveform when the outside (outer peripheral position) of the striking pad is strongly struck.
This corresponds to the vibration waveform shown in (c) and the slope of its envelope waveform. Point D indicates the relationship between the velocity and the slope of the envelope waveform when the outside of the hit pad is hit lightly, and corresponds to the vibration waveform and the slope of the envelope waveform shown in FIG. 10 and 11
As is clear from FIG. 5, the slope of the envelope waveform changes depending on the hitting position and hitting strength of the hitting pad. In the present embodiment, the hit point position is detected by focusing on this point.

【0047】図8に示す打撃センサ21から出力された
アナログ波形Aは、本実施形態の打点位置検出装置を構
成するA/D変換回路112によりデジタル波形に変換
され、さらにDCカットフィルタ113を経由して直流
成分が取り除かれた波形Bが生成され、その波形Bが整
流回路114に入力される。整流回路114は、DCカ
ットフィルタ113からの波形Bを全波整流して波形C
を出力する。
The analog waveform A output from the impact sensor 21 shown in FIG. 8 is converted into a digital waveform by the A / D conversion circuit 112 constituting the hit point detecting device of the present embodiment, and further passes through the DC cut filter 113. As a result, a waveform B from which the DC component has been removed is generated, and the waveform B is input to the rectifier circuit 114. The rectifier circuit 114 performs full-wave rectification on the waveform B from the DC cut filter 113 to generate a waveform C.
Is output.

【0048】エンベロープ検出回路115は、整流回路
114により全波整流された波形Cのエンベロープ(包
絡)を検出し、これにより図8に示すようなエンベロー
プ波形Dを出力する。傾き検出回路116(本発明にい
う第3の検出手段)は、エンベロープ波形Dのうちの一
定区間Tの傾きを検出する。
The envelope detection circuit 115 detects the envelope (envelope) of the waveform C that has been full-wave rectified by the rectification circuit 114, and outputs an envelope waveform D as shown in FIG. The inclination detection circuit 116 (third detection means according to the present invention) detects an inclination of a certain section T of the envelope waveform D.

【0049】最大値検出回路117は、整流回路114
により全波整流された波形Cの立ち上がりから一定時間
内の最大値を検出する。比較・演算回路118は、エン
ベロープ波形Dのうちの一定区間Tの傾きと、波形Cの
最大値とを比較・演算してその結果を打点位置情報とし
て出力する。尚、本実施形態では、整流回路114を用
いてDCカットフィルタ113からの波形Bを全波整流
したが、これに限られるものではなく、DCカットフィ
ルタ113からの波形Bを半波整流してもよい。また傾
き検出回路116によりエンベロープ波形Dにおける波
高値(レベル)を複数検出し、これら複数の波高値によ
り定まる複数の傾きを検出してもよい。さらに比較、演
算回路118において、傾きの値だけでなく、傾きを検
出したときの波高値も演算のパラメータにしてもよい。
The maximum value detection circuit 117 includes a rectifier circuit 114
To detect the maximum value within a predetermined time from the rise of the full-wave rectified waveform C. The comparison / calculation circuit 118 compares / calculates the slope of the fixed section T of the envelope waveform D with the maximum value of the waveform C, and outputs the result as hit point position information. In the present embodiment, the waveform B from the DC cut filter 113 is full-wave rectified using the rectifier circuit 114. However, the present invention is not limited to this, and the waveform B from the DC cut filter 113 is half-wave rectified. Is also good. Alternatively, a plurality of peak values (levels) in the envelope waveform D may be detected by the slope detection circuit 116, and a plurality of slopes determined by the plurality of peak values may be detected. Further, in the comparison / calculation circuit 118, not only the value of the slope but also the peak value when the slope is detected may be used as a parameter for the calculation.

【0050】図12は、本発明の第3の打点位置検出装
置の一実施形態を示すブロック図である。本実施形態の
打点位置検出装置は、打撃センサから出力される振動波
形の周波数成分が打点位置により変化するという特性に
着目して打点位置を検出するものである。
FIG. 12 is a block diagram showing an embodiment of the third hit point position detecting device of the present invention. The hit point position detecting device of the present embodiment detects the hit point position by focusing on the characteristic that the frequency component of the vibration waveform output from the hit sensor changes depending on the hit point position.

【0051】打撃センサ21(圧電センサ)から出力さ
れたアナログ波形Aは、本実施形態の打点位置検出装置
を構成するA/D変換回路122でデジタル波形に変換
され、DCカットフィルタ123を経由して直流成分が
取り除かれた波形Bが生成され、その波形Bが第1のバ
ンドパスフィルタ124に入力される。第1のバンドパ
スフィルタ124(本発明にいうフィルタリング手段)
は、入力された波形Bの周波数成分のうちの低周波成分
を除去し、高周波成分からなる波形Cを出力する。
An analog waveform A output from the impact sensor 21 (piezoelectric sensor) is converted into a digital waveform by an A / D conversion circuit 122 constituting the hit point position detecting device of the present embodiment, and passes through a DC cut filter 123. Thus, a waveform B from which the DC component has been removed is generated, and the waveform B is input to the first band-pass filter 124. First bandpass filter 124 (filtering means according to the present invention)
Removes the low-frequency components of the frequency components of the input waveform B and outputs a waveform C composed of high-frequency components.

【0052】第1の整流回路125は、第1のバンドパ
スフィルタ124からの波形Cを全波整流して波形Dを
出力する。第1の振幅検出回路126(本発明にいう第
4の検出手段)は、第1の整流回路125からの波形D
の最大振幅値(最大値)aを検出する。また波形Bは第
2のバンドパスフィルタ127(本発明にいうフィルタ
リング手段)にも入力される。第2のバンドパスフィル
タ127は、入力された波形Bの周波数成分のうちの高
周波成分を除去し、低周波成分からなる波形Eを出力す
る。
The first rectifier circuit 125 performs full-wave rectification on the waveform C from the first band-pass filter 124 and outputs a waveform D. The first amplitude detection circuit 126 (fourth detection means according to the present invention) outputs the waveform D from the first rectification circuit 125.
Is detected as the maximum amplitude value (maximum value) a. The waveform B is also input to the second bandpass filter 127 (the filtering means according to the present invention). The second band-pass filter 127 removes high-frequency components from the frequency components of the input waveform B, and outputs a waveform E including low-frequency components.

【0053】第2の整流回路128は、第2のバンドパ
スフィルタ127からの波形Eを全波整流して波形Fを
出力する。第2の振幅検出回路129(本発明にいう第
4の検出手段)は、第2の整流回路128からの波形F
の最大振幅値(最大値)bを検出する。比較・演算回路
130は、第1,第2の振幅検出回路126,129に
より得られた最大値a,bを比較・演算してその結果を
打点位置情報として出力する。
The second rectifier circuit 128 performs full-wave rectification on the waveform E from the second bandpass filter 127 and outputs a waveform F. The second amplitude detecting circuit 129 (fourth detecting means according to the present invention) outputs the waveform F from the second rectifying circuit 128.
Is detected as the maximum amplitude value (maximum value) b. The comparison / calculation circuit 130 compares and calculates the maximum values a and b obtained by the first and second amplitude detection circuits 126 and 129, and outputs the result as hit point position information.

【0054】このように本実施形態では、入力される振
動波形の周波数成分の比率で打点位置を検出するもので
あるため、簡単なバンドパスフィルタ等を用いればよ
く、従って回路構成が簡単で済むとともに打点位置を正
確に検出することができる。尚、本実施形態では、打撃
センサ21に圧電センサを用いたが、振動波形(周波数
成分を含む波形)を出力するものであれば、マイクや他
のセンサでもよい。また振動波形の周波数成分を抽出す
るものとして、第1,第2のバンドパスフィルタ12
4,127を用いたが、打点位置の違いによって変化す
る特徴的な周波数帯域を抽出できるものであれば他のフ
ィルタを用いてもよく、あるいは第1,第2のバンドパ
スフィルタ124,127のいずれか一方をスルー(フ
ィルタなし)にしてもよい。
As described above, in the present embodiment, the hit point is detected based on the ratio of the frequency components of the input vibration waveform. Therefore, a simple band-pass filter or the like may be used, and the circuit configuration may be simplified. At the same time, the hitting position can be accurately detected. In this embodiment, a piezoelectric sensor is used as the impact sensor 21, but a microphone or another sensor may be used as long as it outputs a vibration waveform (a waveform including a frequency component). The first and second bandpass filters 12 are used to extract the frequency component of the vibration waveform.
Although 4,127 was used, another filter may be used as long as it can extract a characteristic frequency band that changes depending on the difference in the hitting position, or the first and second bandpass filters 124,127 may be used. Either one may be through (no filter).

【0055】また第1,第2の整流回路125,128
により全波整流したが、半波整流(−方向のみ,+方向
のみ)であってもよい。さらに第1,第2の振幅検出回
路126,129により最大振幅値を検出したが、波形
の立ち上がりから一定時間経過した時点での値を検出し
てもよい。また、バンドパスフィルタ,整流回路,振幅
検出回路の組が3つ以上であってもよい。
Also, the first and second rectifier circuits 125 and 128
However, half-wave rectification (only in the minus direction and only in the plus direction) may be used. Further, the maximum amplitude value is detected by the first and second amplitude detection circuits 126 and 129, but the value may be detected at a point in time when a predetermined time has elapsed from the rise of the waveform. Further, the number of sets of the bandpass filter, the rectifier circuit, and the amplitude detection circuit may be three or more.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の打点位置
検出装置によれば、簡単な構造で打点位置を正確に検出
することができる。
As described above, according to the hit position detecting device of the present invention, the hit position can be accurately detected with a simple structure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る打点位置検出装置を
内蔵した電子打楽器のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of an electronic percussion instrument incorporating a hit point position detecting device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の打点位置検出装置の第1実施形
態を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a first embodiment of a first hit point position detecting device of the present invention.

【図3】図2に示す打撃センサから出力され打点位置検
出装置に入力される振動波形のうちの最初の半波(第1
半波)を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing the first half wave (first wave) of the vibration waveform output from the impact sensor shown in FIG. 2 and input to the hit point position detecting device;
FIG.

【図4】図2に示す比較・演算回路で処理されるルーチ
ンのフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart of a routine processed by a comparison / arithmetic circuit shown in FIG. 2;

【図5】本発明の第1の打点位置検出装置の第2実施形
態を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the first hitting position detecting device of the present invention.

【図6】図5に示す比較・演算回路で処理されるルーチ
ンのフローチャートである。図6に示すフローチャート
を説明するための波形を示す図である。
FIG. 6 is a flowchart of a routine processed by the comparison / arithmetic circuit shown in FIG. 5; FIG. 7 is a diagram showing waveforms for explaining the flowchart shown in FIG. 6.

【図7】図6に示すフローチャートを説明するための波
形を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing waveforms for explaining the flowchart shown in FIG. 6;

【図8】本発明の第2の打点位置検出装置の一実施形態
を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram showing an embodiment of a second hitting position detecting device of the present invention.

【図9】打撃センサから出力された振動波形(a)およ
びその振動波形のエンベロープ波形(b)を示す図であ
FIG. 9 is a diagram showing a vibration waveform (a) output from the impact sensor and an envelope waveform (b) of the vibration waveform.

【図10】図9に示すエンベロープ波形の傾きとベロシ
ティ(打撃の強さ)の関係を示すグラフである。
10 is a graph showing the relationship between the slope of the envelope waveform shown in FIG. 9 and the velocity (strength of impact).

【図11】打撃センサから出力された図10に示すグラ
フの各点と対応する振動波形とそのエンベロープ波形の
傾きを示した図である。
11 is a diagram showing a vibration waveform corresponding to each point of the graph shown in FIG. 10 output from the impact sensor and a slope of an envelope waveform thereof.

【図12】本発明の第3の打点位置検出装置の一実施形
態を示すブロック図である。
FIG. 12 is a block diagram showing an embodiment of a third hitting position detecting device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11,21 打撃センサ 12 打点位置・打撃力検出部 13 音源部 14 操作子群 15 パラメータ制御部 16 ROM 17 表示器 32,52,112,122 A/D変換回路 33,53,113,123 DCカットフィルタ 34,54,55,56,114,125,128 整
流回路 35,57,58 第1半波検出回路 36 第1半波最大値検出回路 37 入力波形最大値検出回路 38,63,118,130 比較・演算回路 59,60,61,117 最大値検出回路 62 第1半波・第2半波判定回路 115 エンベロープ検出回路 116 傾き検出回路 124,127 バンドパスフィルタ 126,129 振幅検出回路
11, 21 Impact sensor 12 Hitting position / hitting force detection unit 13 Sound source unit 14 Operator group 15 Parameter control unit 16 ROM 17 Display 32, 52, 112, 122 A / D conversion circuit 33, 53, 113, 123 DC cut Filters 34, 54, 55, 56, 114, 125, 128 Rectifier circuits 35, 57, 58 First half-wave detection circuit 36 First half-wave maximum value detection circuit 37 Input waveform maximum value detection circuit 38, 63, 118, 130 Comparison / arithmetic circuit 59, 60, 61, 117 Maximum value detecting circuit 62 First half-wave / second half-wave determining circuit 115 Envelope detecting circuit 116 Slope detecting circuit 124, 127 Band-pass filter 126, 129 Amplitude detecting circuit

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 打撃が与えられる打撃面を有し該打撃面
に与えられた打撃に対応する振動波形を出力する打撃パ
ッドに接続され、該打撃パッドから出力された前記振動
波形を入力し該振動波形に基づいて前記打撃面内の打点
位置を検出する打点位置検出装置であって、 前記振動波形の、打撃後の初期の半波の振幅との相関を
有する第1の量を検出する第1の検出手段と、 前記振動波形のパワーとの相関を有する第2の量を検出
する第2の検出手段と、 前記第1の量と前記第2の量とに基づいて、前記打撃面
内の打点位置を求める打点位置演算手段とを備えたこと
を特徴とする打点位置検出装置。
1. A striking pad which has a striking surface to which a striking is applied and which is connected to a striking pad which outputs a vibration waveform corresponding to the striking applied to the striking surface, inputs the vibration waveform output from the striking pad, and A hit point position detecting device that detects a hit point position in the hitting surface based on a vibration waveform, wherein a first amount of the vibration waveform having a correlation with an amplitude of an initial half-wave after the hitting is detected. 1 detecting means, 2nd detecting means for detecting a second amount having a correlation with the power of the vibration waveform, and based on the first amount and the second amount, in the hitting surface. And a hit point position calculating means for calculating a hit point position.
【請求項2】 前記第1の検出手段が、前記振動波形
の、前記第2の量に基づいて定められたしきい値を最初
に越える振幅を有する半波の直前の半波を、前記初期の
半波として採用するものであることを特徴とする請求項
1記載の打点位置検出装置。
2. The method according to claim 1, wherein the first detecting unit detects a half-wave immediately before a half-wave of the vibration waveform having an amplitude that first exceeds a threshold value determined based on the second amount. 2. The hit point position detecting device according to claim 1, wherein the hit point position detecting device is used as a half-wave.
【請求項3】 前記第1の検出手段が、所定の選択基準
に従って、前記振動波形の、打撃後の最初の半波もしく
は該最初の半波に続く次の半波を、前記初期の半波とし
て採用するものであることを特徴とする請求項1記載の
打点位置検出装置。
3. The first detecting means according to a predetermined selection criterion, converts the first half-wave after the impact or the next half-wave following the first half-wave of the vibration waveform into the initial half-wave. 2. The hit point position detecting device according to claim 1, wherein the hit point position detecting device is adopted.
【請求項4】 打撃が与えられる打撃面を有し該打撃面
に与えられた打撃に対応する振動波形を出力する打撃パ
ッドに接続され、該打撃パッドから出力された前記振動
波形を入力し該振動波形に基づいて前記打撃面内の打点
位置を検出する打点位置検出装置であって、 前記振動波形の包絡線の、打撃後の所定区間内の傾きと
の相関を有する第3の量を検出する第3の検出手段と、 前記振動波形のパワーとの相関を有する第2の量を検出
する第2の検出手段と、 前記第3の量と前記第2の量とに基づいて、前記打撃面
内の打点位置を求める打点位置演算手段とを備えたこと
を特徴とする打点位置検出装置。
4. A striking pad which has a striking surface to which a striking is applied and which is connected to a striking pad for outputting a vibration waveform corresponding to the striking applied to said striking surface, inputs said vibration waveform outputted from said striking pad, and A hit point position detecting device for detecting a hit point position in the hitting surface based on a vibration waveform, wherein a third quantity having a correlation with an inclination of an envelope of the vibration waveform in a predetermined section after hitting is detected. A third detecting means for detecting a second amount having a correlation with a power of the vibration waveform; and a hitting based on the third amount and the second amount. A hit point position detecting device comprising: a hit point position calculating means for obtaining an in-plane hit point position.
【請求項5】 前記第2の検出手段が、前記第2の量と
して、前記振動波形の最大振幅との相関を有する量を検
出するものであることを特徴とする請求項1又は4記載
の打点位置検出装置。
5. The apparatus according to claim 1, wherein the second detecting means detects an amount having a correlation with a maximum amplitude of the vibration waveform as the second amount. Hit point position detection device.
【請求項6】 打撃が与えられる打撃面を有し該打撃面
に与えられた打撃に対応する振動波形を出力する打撃パ
ッドに接続され、該打撃パッドから出力された前記振動
波形を入力し該振動波形に基づいて前記打撃面内の打点
位置を検出する打点位置検出装置であって、 前記振動波形から、互いに異なる周波数成分比を有する
複数の振動波形を生成するフィルタリング手段と、 前記フィルタリング手段で生成された後の複数の振動波
形それぞれのパワーとの相関をそれぞれ有する複数の第
4の量を検出する第4の検出手段と、 これら複数の第4の量に基づいて、前記打撃面内の打点
位置を求める打点位置演算手段とを備えたことを特徴と
する打点位置検出装置。
6. A striking pad which has a striking surface to which a striking is applied and which is connected to a striking pad for outputting a vibration waveform corresponding to the striking applied to said striking surface, inputs said vibration waveform outputted from said striking pad, and A hit point position detecting device that detects a hit point position in the hitting surface based on a vibration waveform, wherein: a filtering unit that generates a plurality of vibration waveforms having different frequency component ratios from the vibration waveform; A fourth detecting unit that detects a plurality of fourth amounts each having a correlation with the power of each of the plurality of generated vibration waveforms, based on the plurality of fourth amounts, A hit point position detecting device, comprising a hit point position calculating means for obtaining a hit point position.
【請求項7】 前記第4の検出手段が、前記第4の量と
して、前記フィルタリング手段で生成された振動波形の
最大振幅との相関を有する量を検出するものであること
を特徴とする請求項6記載の打点位置検出装置。
7. The method according to claim 1, wherein the fourth detecting means detects an amount having a correlation with a maximum amplitude of the vibration waveform generated by the filtering means as the fourth amount. Item 6. A hit point position detecting device according to Item 6.
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