JPH10106705A - Socket for electric part - Google Patents

Socket for electric part

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JPH10106705A
JPH10106705A JP27758596A JP27758596A JPH10106705A JP H10106705 A JPH10106705 A JP H10106705A JP 27758596 A JP27758596 A JP 27758596A JP 27758596 A JP27758596 A JP 27758596A JP H10106705 A JPH10106705 A JP H10106705A
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contact
lead
socket
package
contact piece
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a socket for an electric part by enhancing conductivity and preventing adhesion of dusts to the lower face of a lead. SOLUTION: In an IC socket 11, a mounting portion 12a, on which an IC package 1 is mounted, is formed on a socket body 12, and a plurality of contact pins 13 which are brought into contact with or separation from a lead 2 projecting sideways of a circumferential edge 1a of the IC package 1 mounted. The contact pins 13 can be elastically deformed by free motion of an operating member 14, to be thus brought into contact with or separation from the lead 2. The contact pin 13 is provided with an upper contact piece 13e to be brought into contact with the upper face 2b of the lead 2 and a lower contact piece 13d to be brought into contact with the lower face 2a of the lead 2 in such a manner as to hold the lead 2 therebetween. During the free motion of the operating member 14, the upper and lower contact pieces 13e, 13d are deviated integrally. When the pieces 13e, 13d hold the lead 2 therebetween, the upper and lower contact pieces 13e, 13d slide on the upper and lower faces 2b, 2a of the lead 2, respectively.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電気部品のリー
ドに対し、弾性的な押圧状態で電気的に接続されるコン
タクトピンを有する電気部品用ソケットに関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a socket for an electrical component having a contact pin electrically connected to a lead of the electrical component in an elastically pressed state.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のこの種のものとしては、例えば図
7に示すようなものがある(特公平6ー32241号公
報参照)。図中符号1は「電気部品」としてのいわゆる
ガルウイングタイプのICパッケージで、このICパッ
ケージ1には、周縁部から側方に突出するリード2が形
成されている。また、図中符号3は「電気部品用ソケッ
ト」としてのICソケット3で、前記ICパッケージ1
を保持して、このICパッケージ1の検査(例えば、バ
ーンインテストと称される耐熱性テスト)のため、この
ICソケット3を加熱炉に入れて、そのICパッケージ
1の良、不良を判別するようにしている。
2. Description of the Related Art FIG. 7 shows an example of this type (see Japanese Patent Publication No. Hei 6-32241). In the drawing, reference numeral 1 denotes a so-called gull-wing type IC package as an “electric component”, and the IC package 1 is formed with a lead 2 projecting laterally from a peripheral portion. In the figure, reference numeral 3 denotes an IC socket 3 as an “electric component socket”,
The IC socket 3 is put into a heating furnace for inspection (for example, a heat resistance test called a burn-in test) of the IC package 1 to determine whether the IC package 1 is good or defective. I have to.

【0003】このICソケット3にICパッケージ1を
保持するには、まず、図7の(a)に示す状態から、押
えカバー4をロボット又は手動にて押し下げることによ
り、回動レバー5を回動させて、図7の(b)に示すよ
うに、コンタクトピン6を弾性変形させて接触部6aを
退避させる。この状態で、上方からICパッケージ1を
ソケット本体7の載置部7a上に載置させる。その後、
押えカバー4の押圧力を解除すると、図7の(c)に示
すように、このカバー4が上昇し、コンタクトピン6の
接触部6aがICパッケージ1のリード2の上面に接触
することにより、導通されることとなる。
In order to hold the IC package 1 in the IC socket 3, first, from the state shown in FIG. Then, as shown in FIG. 7B, the contact pin 6 is elastically deformed to retract the contact portion 6a. In this state, the IC package 1 is mounted on the mounting portion 7a of the socket body 7 from above. afterwards,
When the pressing force of the press cover 4 is released, as shown in FIG. 7C, the cover 4 is raised, and the contact portion 6a of the contact pin 6 comes into contact with the upper surface of the lead 2 of the IC package 1, whereby It will be conducted.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のものにあっては、ICパッケージ1のリード
2の上面のみにコンタクトピン6が接触するようになっ
ているため、導通性が今一つ良好とは言い難い。また、
このICパッケージ1のリード2の下面は、図7の
(c)に示すように、ソケット本体載置部7aに当接
し、この載置部7a上のゴミがそのリード2の下面に付
着することがあり、かかるICパッケージ1を表面実装
する場合には、リード2の下面がプリント基板回路との
接触面となることから、実装状態での導通性の悪化等の
悪影響を与えることがある。
However, in such a conventional device, since the contact pins 6 come into contact only with the upper surfaces of the leads 2 of the IC package 1, the conductivity is further improved. Hard to say. Also,
As shown in FIG. 7C, the lower surface of the lead 2 of the IC package 1 comes into contact with the socket main body mounting portion 7a, and dust on the mounting portion 7a adheres to the lower surface of the lead 2. When the IC package 1 is surface-mounted, the lower surface of the lead 2 serves as a contact surface with a printed circuit board, which may adversely affect the conductivity in the mounted state.

【0005】そこで、この発明は、導通性の向上を図る
と共に、リード下面のゴミの付着を防止する電気部品用
ソケットを提供することを課題としている。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an electrical component socket which improves conductivity and prevents dust from adhering to the lower surface of a lead.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】かかる課題を達成するた
めに、請求項1に記載の発明は、ソケット本体に電気部
品が載置される載置部が形成されると共に、該載置され
た電気部品の周縁部から側方に突出するリードに離接す
るコンタクトピンが複数設けられ、更に、操作部材を可
動させることにより、前記コンタクトピンを弾性変形さ
せて前記リードに離接させるようにした電気部品用ソケ
ットにおいて、前記コンタクトピンには、前記リードの
上面部に接触される上部接触片と前記リードの下面部に
接触される下部接触片とが、前記リードをくわえ込むよ
うな形状に形成され、前記操作部材の可動時に、前記上
部,下部接触片が一体となって変位し、前記リードをく
わえ込むときには、該リードの上下面部を、前記上部,
下部接触片が摺動するように設定された電気部品用ソケ
ットとしたことを特徴としている。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a mounting portion for mounting an electric component on a socket body is formed and the mounting portion is provided. A plurality of contact pins are provided to be in contact with a lead protruding laterally from a peripheral portion of the electric component, and furthermore, by moving an operation member, the contact pin is elastically deformed so as to be separated from and connected to the lead. In the component socket, the contact pin has an upper contact piece that is in contact with the upper surface of the lead and a lower contact piece that is in contact with the lower surface of the lead, and is formed into a shape that holds the lead. When the operating member is movable, the upper and lower contact pieces are integrally displaced, and when holding the lead, the upper and lower surfaces of the lead are moved to the upper and lower portions.
It is characterized in that it is an electrical component socket set so that the lower contact piece slides.

【0007】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の構成に加え、前記上部接触片のリード側の先端部を、
前記下部接触片の先端部より、電気部品の周縁部側に接
近するように突出させたことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first aspect, a tip end of the upper contact piece on the lead side is formed as follows.
It is characterized in that the lower contact piece is protruded from the tip end portion so as to approach the peripheral edge side of the electric component.

【0008】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の構成に加え、前記上部接触片と前記下部接触片
が、前記リードから離間させたときには、広がり、該リ
ードをくわえ込むときには、狭まるように形成されたこ
とを特徴とする。
[0008] The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2.
In addition to the above configuration, the upper contact piece and the lower contact piece are formed so as to expand when separated from the lead, and to narrow when holding the lead.

【0009】請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3
の何れかに記載の構成に加え、前記コンタクトピンが複
数併設され、該各コンタクトピンに連結ロッドが掛け渡
され、前記操作部材を可動させることにより、前記連結
ロッドを介して前記各コンタクトピンの両接触片が変位
されるように設定されたことを特徴とする。
The invention described in claim 4 is the first to third aspects of the present invention.
In addition to the configuration according to any one of the above, a plurality of the contact pins are provided in parallel, a connecting rod is hung over each of the contact pins, and by moving the operating member, the contact pins are connected to each other via the connecting rod. It is characterized in that both contact pieces are set to be displaced.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below.

【0011】[発明の実施の形態1]図1乃至図4に
は、この発明の実施の形態1を示す。
[First Embodiment of the Invention] FIGS. 1 to 4 show a first embodiment of the present invention.

【0012】まず構成を説明すると、図中符号11は、
「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、この
ICソケット11は、「電気部品」であるICパッケー
ジ1の性能試験を行うために、このパッケージ1を保持
できるようになっている。
First, the structure will be described.
The IC socket 11 is an “electric component socket”. The IC socket 11 can hold the IC package 1 as an “electric component” in order to perform a performance test on the IC package 1.

【0013】このICパッケージ1は、いわゆるガルウ
イングタイプで、周縁部1aからリード2が側方に向け
て突設されている。このリード2は、図4に示すよう
に、先端が下がるように角度θ傾斜している。
This IC package 1 is of a so-called gull wing type, and has leads 2 protruding laterally from a peripheral portion 1a. As shown in FIG. 4, the lead 2 is inclined at an angle θ such that the tip is lowered.

【0014】また、ICソケット11は、ソケット本体
12を有し、このソケット本体12には前記ICパッケ
ージ1を載置する載置部12aが形成されている。この
載置部12aに載置された状態では、このICパッケー
ジ1の周縁部1aに載置部12aの周壁12bが当接し
て位置決めされる一方、リード2はその周壁12bから
側方に突出するようになっている。
The IC socket 11 has a socket body 12, on which a mounting portion 12a for mounting the IC package 1 is formed. When mounted on the mounting portion 12a, the peripheral wall 12b of the mounting portion 12a abuts on the peripheral edge 1a of the IC package 1 and is positioned, while the lead 2 projects laterally from the peripheral wall 12b. It has become.

【0015】そして、このソケット本体12には、IC
パッケージ1のリード2に離接する多数のコンタクトピ
ン13が併設され、又、操作部材14を可動させること
により、このコンタクトピン13が弾性変形されて前記
リード2に離接されるようになっている。
The socket body 12 has an IC
A large number of contact pins 13 which are separated from and connected to the leads 2 of the package 1 are provided in parallel, and by moving the operation member 14, the contact pins 13 are elastically deformed and separated from and connected to the leads 2. .

【0016】詳しくは、コンタクトピン13は、ソケッ
ト本体12の貫通孔12cに挿入され、係止凸部13a
がその貫通孔12cの内周面に係止されることにより装
着されている。このコンタクトピン13には、下部にソ
ケット本体12から下方に突出する端子部13bが形成
され、上方に向かうに従って順次、湾曲部13c、下部
接触片13d、上部接触片13e及び被押圧部13fが
形成されている。
More specifically, the contact pin 13 is inserted into the through hole 12c of the socket body 12, and
Is attached by being locked to the inner peripheral surface of the through hole 12c. The contact pin 13 has a terminal portion 13b projecting downward from the socket body 12 at a lower portion, and a curved portion 13c, a lower contact piece 13d, an upper contact piece 13e, and a pressed portion 13f are sequentially formed upward. Have been.

【0017】この湾曲部13cは、大略C字状を呈し、
弾性変形されるようになっている。また、前記両接触片
13d,13eは弾性変形可能で、下部接触片13dは
前記リード2の下面部2aに接触され、又、上部接触片
13eはリード2の上面部2bに接触されるようになっ
ており、両接触片13d,13eが一体となって可動す
ることによりリード2をくわえ込むような形状に形成さ
れている。この上部接触片13eの先端部13hは、下
部接触片13dの先端部13gより、ICパッケージ1
の周縁部1a側に接近するように突出されている。ま
た、被押圧部13fは、上方に向けて突設され、前記操
作部材14のカム部14aに押圧接触して摺動されるよ
うになっている。
The curved portion 13c has a substantially C-shape.
It is elastically deformed. The contact pieces 13d and 13e are elastically deformable, so that the lower contact piece 13d is in contact with the lower surface 2a of the lead 2 and the upper contact piece 13e is in contact with the upper surface 2b of the lead 2. The contact pieces 13d and 13e are formed in such a shape as to hold the lead 2 by moving together. The tip 13h of the upper contact piece 13e is separated from the tip 13g of the lower contact piece 13d by the IC package 1.
Is protruded so as to approach the side of the peripheral edge 1a. The pressed portion 13f is protruded upward, and is slid by being pressed into contact with the cam portion 14a of the operation member 14.

【0018】一方、操作部材14には、ポスト部14b
が形成され、このポスト部14bがソケット本体12の
ガイド孔12dに挿通されることにより、前記操作部材
14は上下動自在に案内され、スプリング15により上
方に付勢されている。この操作部材14の中央部には、
ICパッケージ1が挿入される大きさの開口部14cが
形成されている。この操作部材14を下降させることに
より、カム部14aを介してコンタクトピン13の被押
圧部13fが押圧され、湾曲部13cが弾性変形して、
両接触片13d,13eが上方への多少の回動を伴いな
がら外側に変位する一方、操作部材14の押圧力を解除
すると、スプリング15により、この操作部材14が上
昇し、両接触片13d,13eが復帰して、両接触片1
3e,13dがリード2の上面部2b及び下面部2aを
順に摺動してくわえ込むように設定されている。
On the other hand, the operating member 14 has a post portion 14b.
When the post portion 14b is inserted into the guide hole 12d of the socket body 12, the operating member 14 is guided to be vertically movable and urged upward by a spring 15. At the center of the operation member 14,
An opening 14c having a size into which the IC package 1 is inserted is formed. By lowering the operation member 14, the pressed portion 13f of the contact pin 13 is pressed via the cam portion 14a, and the curved portion 13c is elastically deformed.
When the contact pieces 13d and 13e are displaced outward with some upward rotation, and when the pressing force of the operating member 14 is released, the operating member 14 is raised by the spring 15, and the contact pieces 13d and 13e are moved. 13e returns, and both contact pieces 1
3e and 13d are set so as to slide and hold the upper surface 2b and the lower surface 2a of the lead 2 in order.

【0019】次に、かかる構成のICソケット11の使
用方法について説明する。
Next, a method of using the IC socket 11 having such a configuration will be described.

【0020】まず、予め、ICソケット11のコンタク
トピン13の端子部13bを図示省略のプリント配線板
の挿通孔に挿入して半田付けすることにより、プリント
配線板上に複数のICソケット11を配設しておく。
First, the terminal portions 13b of the contact pins 13 of the IC socket 11 are inserted into insertion holes of a printed wiring board (not shown) and soldered, so that a plurality of IC sockets 11 are arranged on the printed wiring board. Set it up.

【0021】そして、かかるICソケット11にICパ
ッケージ1を例えば自動機によりセットして電気的に接
続する。
Then, the IC package 1 is set in the IC socket 11 by, for example, an automatic machine and electrically connected.

【0022】すなわち、自動機により、ICパッケージ
1を保持した状態で、操作部材14をスプリング15の
付勢力に抗して下方に押圧して下降させる。すると、図
2に示すように、この操作部材14のカム部14aによ
り、コンタクトピン13の被押圧部13fが押圧されて
湾曲部13cが弾性変形されて、両接触片13d,13
eが外側に向けて多少の回動を伴いながら変位し、この
両接触片13d,13eがICパッケージ1挿入範囲か
ら退避される。この状態で、保持されていたICパッケ
ージ1が自動機から開放されてソケット本体12の載置
部12a上に載置され、ICパッケージ1の側縁部1a
がソケット本体載置部12aの周壁12bに係止された
状態で位置決めされる。
That is, the operating member 14 is pressed downward against the urging force of the spring 15 and lowered while holding the IC package 1 by an automatic machine. Then, as shown in FIG. 2, the pressed portion 13f of the contact pin 13 is pressed by the cam portion 14a of the operation member 14, and the curved portion 13c is elastically deformed.
e is displaced outwardly with some rotation, and both contact pieces 13d and 13e are retracted from the IC package 1 insertion range. In this state, the held IC package 1 is released from the automatic machine and mounted on the mounting portion 12a of the socket body 12, and the side edge portion 1a of the IC package 1 is opened.
Is locked with the peripheral wall 12b of the socket body mounting portion 12a.

【0023】その後、自動機による操作部材14の押圧
力を解除すると、スプリング15の付勢力により、この
操作部材14が上昇され、コンタクトピン13の湾曲部
13cが弾性力により復帰し、両接触片13d,13e
が元の位置に戻り、ICパッケージ1のリード2がくわ
え込まれる。
Thereafter, when the pressing force of the operating member 14 by the automatic machine is released, the operating member 14 is raised by the urging force of the spring 15, and the curved portion 13c of the contact pin 13 is returned by the elastic force. 13d, 13e
Returns to the original position, and the lead 2 of the IC package 1 is held.

【0024】このようにして、多数のコンタクトピン1
3の両接触片13d,13eにてICパッケージ1のリ
ード2が挟持されることにより、このリード2とコンタ
クトピン13とが導通される。この状態で、ICパッケ
ージ1の試験が行われることとなる。
Thus, a large number of contact pins 1
The lead 2 of the IC package 1 is sandwiched between the two contact pieces 13d and 13e of the third 3, so that the lead 2 and the contact pin 13 are conducted. In this state, the test of the IC package 1 is performed.

【0025】そのリード2のくわえ込み時には、上部接
触片13eの先端部13hが下部接触片13dの先端部
13gより突出されているため、まず、上部接触片13
eの先端部13hがICパッケージ1のリード2の上面
部2bに接触する。その後、下部接触片13dがリード
2の下面部2aに接触する。このように上部接触片13
eが先にICパッケージ1のリード2の上面部2bに接
触するため、この両接触片13d,13eによるリード
2のくわえ込み時に、コンタクトピン13側からICパ
ッケージ1のリード2に力が作用しても、このICパッ
ケージ1が浮き上がるようなことがない。
When the lead 2 is clamped, the tip 13h of the upper contact piece 13e projects from the tip 13g of the lower contact piece 13d.
The tip 13h of e contacts the upper surface 2b of the lead 2 of the IC package 1. After that, the lower contact piece 13 d contacts the lower surface 2 a of the lead 2. Thus, the upper contact piece 13
e contacts the upper surface 2b of the lead 2 of the IC package 1 first, so that when the lead 2 is held by the contact pieces 13d and 13e, a force acts on the lead 2 of the IC package 1 from the contact pin 13 side. However, the IC package 1 does not rise.

【0026】また、このくわえ込み時には、両接触片1
3d,13eがリード2の上下面部2b,2aを摺動す
るため、いわゆるワイピング効果が発揮される。特に、
従来では、リード2の下面部2aにゴミが付着していた
が、この発明では、このリード下面部2aは、ソケット
本体載置部12aに接触しないと共に、このリード2の
下面部2aをコンタクトピン13の下部接触片13dが
摺動するため、この下面部2aへのゴミの付着が防止さ
れる。従って、試験が終了したICパッケージ1を表面
実装する場合に導通不良等の悪影響を及ぼすようなこと
がない。
At the time of holding, both contact pieces 1
Since 3d and 13e slide on the upper and lower surfaces 2b and 2a of the lead 2, a so-called wiping effect is exhibited. Especially,
Conventionally, dust adheres to the lower surface 2a of the lead 2. In the present invention, the lead lower surface 2a does not contact the socket body mounting portion 12a, and the lower surface 2a of the lead 2 is Since the lower contact piece 13d of the slide 13 slides, adhesion of dust to the lower surface 2a is prevented. Therefore, when the IC package 1 after the test is surface-mounted, there is no adverse effect such as poor conduction.

【0027】また、リード2の傾斜角度θに合わせて両
接触片13d,13eにてそのリード2をくわえ込むこ
とができるように、この両接触片13d,13eの可動
方向を調整する必要がある。
It is necessary to adjust the movable direction of the contact pieces 13d and 13e so that the lead 2 can be held by the contact pieces 13d and 13e in accordance with the inclination angle θ of the lead 2. .

【0028】[発明の実施の形態2]図5には、発明の
実施の形態2を示す。
[Second Embodiment of the Invention] FIG. 5 shows a second embodiment of the invention.

【0029】この実施の形態2は、コンタクトピン13
の両接触片13d,13eの間の連結部13iが細く形
成されることにより、操作部材14が下降されて、カム
部14aにて被押圧部13fが押圧された時に、両接触
片13d,13eの間が多少広がりながら、可動するよ
うになっている。
In the second embodiment, the contact pins 13
When the operating member 14 is lowered and the pressed portion 13f is pressed by the cam portion 14a by forming the connecting portion 13i between the two contact pieces 13d and 13e thin, the two contact pieces 13d and 13e are pressed. It is designed to be movable while the space between them is slightly widened.

【0030】このように、両接触片13d,13eの間
が広がるようにすれば、リード2を両側から挟み込む場
合に、一層挟み易い。
If the space between the contact pieces 13d and 13e is widened, the lead 2 can be more easily inserted when the lead 2 is inserted from both sides.

【0031】勿論、この場合でも、両接触片13d,1
3eでリード2をくわえてから完全に挟持するまでの間
に、これら接触片13d,13eが、リード2の上下面
部2b,2aを摺動してワイピングするようになってい
る。
Of course, even in this case, both the contact pieces 13d, 1
The contact pieces 13d and 13e slide on the upper and lower surfaces 2b and 2a of the lead 2 and wipe the lead 2 between the time when the lead 2 is added and completely clamped by 3e.

【0032】他の構成及び作用は実施の形態1と同様で
ある。
Other configurations and operations are the same as those of the first embodiment.

【0033】[発明の実施の形態3]図6には、発明の
実施の形態3を示す。
[Third Embodiment of the Invention] FIG. 6 shows a third embodiment of the invention.

【0034】この実施の形態3は、コンタクトピン23
の構造等が上記各実施の形態のものと異なっている。
In the third embodiment, the contact pins 23
Are different from those of the above embodiments.

【0035】すなわち、このコンタクトピン23には、
直線状の変形部23aが形成されると共に、この変形部
23aの上側に下部接触片23bが接続され、更に、こ
の下部接続片23bの上側にC字状の連結部23cを介
して上部接触片23dが形成されている。
That is, the contact pins 23
A linear deformed portion 23a is formed, a lower contact piece 23b is connected to the upper side of the deformed portion 23a, and an upper contact piece is formed above the lower connective piece 23b via a C-shaped connecting portion 23c. 23d are formed.

【0036】そして、これら複数の併設されたコンタク
トピン23の連結部23cの内側に連結ロッド24が掛
け渡されるように挿通されている。
The connecting rod 24 is inserted inside the connecting portion 23c of the plurality of contact pins 23 provided so as to be bridged.

【0037】操作部材14を下降させると、カム部14
aにより、連結ロッド24が押されることにより、この
ロッド24を介して変形部23aが弾性変形され、両接
触片23b,23dが外側に向けて変位される。
When the operating member 14 is lowered, the cam portion 14
When the connecting rod 24 is pushed by a, the deformed portion 23a is elastically deformed via the rod 24, and the contact pieces 23b and 23d are displaced outward.

【0038】このように複数のコンタクトピン23に跨
る連結ロッド24を押してコンタクトピン23を変位さ
せるようにしているため、上記各実施の形態のように、
各コンタクトピン23を直接押す場合と異なり、操作部
材14のカム部14aの数を減少させることができると
共に、各コンタクトピン23の両接触片23b,23d
の変位量のバラ付きを抑えることができる。
Since the contact pins 23 are displaced by pushing the connecting rods 24 straddling the plurality of contact pins 23 as described above, as in each of the above embodiments,
Unlike the case where each contact pin 23 is directly pressed, the number of cam portions 14a of the operation member 14 can be reduced, and both contact pieces 23b and 23d of each contact pin 23 can be used.
Can be suppressed from varying.

【0039】なお、上記各実施の形態では、操作部材1
4を上下動させることにより、コンタクトピン13,2
3を変位させるようにしているが、これに限らず、例え
ば、図7の従来例で示すような回動レバー5及び押えカ
バー4を用いることもできるし、又、回動レバー5のみ
を用いてコンタクトピン13,23を変位させることも
できる。また、この発明をICソケット11に適用した
が、これに限らず、電気部品の側方に突出するリードと
の電気的接続を図るようなもので有れば、他の装置にも
適用できることは勿論である。
In each of the above embodiments, the operating member 1
4 is moved up and down, so that the contact pins 13 and 2 are moved.
3 is displaced, but the present invention is not limited to this. For example, a rotating lever 5 and a pressing cover 4 as shown in the conventional example of FIG. 7 can be used, or only the rotating lever 5 is used. Thus, the contact pins 13 and 23 can be displaced. Further, the present invention is applied to the IC socket 11. However, the present invention is not limited to this, but may be applied to other devices as long as the electrical connection with a lead protruding to the side of the electric component is achieved. Of course.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1に記
載の発明によれば、電気部品のリードの上下面部に、コ
ンタクトピンの上部及び下部接触片が接触するため、導
通性が向上すると共に、両接触片がリードの上下面部を
くわえ込むようにして摺動するため、ワイピング効果が
得られる。しかも、リードの下面部をワイピングするこ
とにより、ゴミの付着を抑制でき、電気部品を表面実装
するような場合でも、悪影響を与えるようなことがな
い。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the upper and lower contact pieces of the contact pins come into contact with the upper and lower surface portions of the leads of the electric component, so that the conductivity is improved. At the same time, since both contact pieces slide while holding the upper and lower surfaces of the lead, a wiping effect can be obtained. Moreover, by wiping the lower surface of the lead, adhesion of dust can be suppressed, and there is no adverse effect even when an electric component is surface-mounted.

【0041】請求項2に記載の発明によれば、請求項1
の効果に加え、前記上部接触片のリード側の先端部を、
前記下部接触片の先端部より、電気部品の周縁部に接近
するように突出させることにより、リードくわえ込み時
には、まず、上部接触片の先端部が電気部品のリードの
上面部に接触し、その後、下部接触片がリードの下面部
に接触することから、この両接触片によるリードくわえ
込み時に、コンタクトピン側から電気部品のリードに力
が作用しても、この電気部品が浮き上がるようなことが
ない。
According to the invention of claim 2, according to claim 1,
In addition to the above effect, the tip of the upper contact piece on the lead side is
By protruding from the tip of the lower contact piece so as to approach the peripheral edge of the electric component, at the time of holding the lead, first, the tip of the upper contact piece contacts the upper surface of the lead of the electric component, and then Since the lower contact piece comes into contact with the lower surface of the lead, even when a force acts on the lead of the electrical component from the contact pin side when the lead is gripped by the two contact pieces, the electrical component may rise. Absent.

【0042】請求項3に記載の発明によれば、請求項1
又は2の効果に加え、前記上部接触片と前記下部接触片
が、前記リードから離間させたときには、広がり、該リ
ードをくわえ込むときには、狭まるように形成されるこ
とにより、リードを両側からくわえ込む場合に、一層効
果的である。
According to the invention described in claim 3, according to claim 1
In addition to the effect of 2, the upper contact piece and the lower contact piece are formed so as to expand when separated from the lead and to be narrowed when holding the lead, thereby holding the lead from both sides. In that case, it is more effective.

【0043】請求項4に記載の発明によれば、請求項1
乃至3の何れかの効果に加え、前記コンタクトピンが複
数併設され、該各コンタクトピンに連結ロッドが掛け渡
され、前記操作部材を可動させることにより、前記連結
ロッドを介して前記コンタクトピンの両接触片が変位さ
れるように設定されたため、各コンタクトピンを直接押
す場合と異なり、操作部材のカム部の数を減少させるこ
とができると共に、各コンタクトピンの両接触片の変位
量のバラ付きを抑えることができる。
According to the invention described in claim 4, according to claim 1
In addition to the effects of any one of (1) to (3), a plurality of the contact pins are provided in parallel, a connecting rod is hung over each of the contact pins, and by moving the operation member, both of the contact pins are connected via the connecting rod. Since the contact piece is set to be displaced, unlike the case where each contact pin is directly pressed, the number of cams of the operating member can be reduced, and the displacement amount of both contact pieces of each contact pin varies. Can be suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施の形態1に係るICソケットの
操作部材の下降前の状態を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a state before a lowering of an operation member of an IC socket according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】同実施の形態1に係るICソケットの操作部材
を下降させた状態を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where an operation member of the IC socket according to the first embodiment is lowered.

【図3】同実施の形態1に係るICソケットのコンタク
トピンでICパッケージのリードをくわえ込んだ状態を
示す図1に相当する断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view corresponding to FIG. 1, showing a state in which a lead of an IC package is held by a contact pin of the IC socket according to the first embodiment;

【図4】同実施の形態1に係るICパッケージのリード
を示す拡大図である。
FIG. 4 is an enlarged view showing leads of the IC package according to the first embodiment;

【図5】この発明の実施の形態2に係るコンタクトピン
等を示す図である。
FIG. 5 is a view showing contact pins and the like according to a second embodiment of the present invention.

【図6】この発明の実施の形態3に係るコンタクトピン
等を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing contact pins and the like according to a third embodiment of the present invention.

【図7】従来例を示すICソケットの断面図で、(a)
は押えカバーが上昇している状態、(b)はコンタクト
ピンを弾性変形させた状態、(c)はICソケットを保
持した状態を示す。
7A and 7B are cross-sectional views of an IC socket showing a conventional example, and FIG.
Shows a state in which the holding cover is raised, (b) shows a state in which the contact pin is elastically deformed, and (c) shows a state in which the IC socket is held.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ICパッケージ(電気部品) 1a 周縁部 2 リード 11 ICソケット(電気部品用ソケット) 12 ソケット本体 12a 載置部 13,23 コンタクトピン 13d,23b 下部接触片 13e,23d 上部接触片 13g.13h 先端部 24 連結ロッド DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 IC package (electric part) 1a Peripheral part 2 Lead 11 IC socket (electric part socket) 12 Socket body 12a Placement part 13,23 Contact pin 13d, 23b Lower contact piece 13e, 23d Upper contact piece 13g.13h Tip 24 Connecting rod

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ソケット本体に電気部品が載置される載
置部が形成されると共に、該載置された電気部品の周縁
部から側方に突出するリードに離接するコンタクトピン
が複数設けられ、更に、操作部材を可動させることによ
り、前記コンタクトピンを弾性変形させて前記リードに
離接させるようにした電気部品用ソケットにおいて、 前記コンタクトピンには、前記リードの上面部に接触さ
れる上部接触片と前記リードの下面部に接触される下部
接触片とが、前記リードをくわえ込むような形状に形成
され、 前記操作部材の可動時に、前記上部,下部接触片が一体
となって変位し、前記リードをくわえ込むときには、該
リードの上下面部を、前記上部,下部接触片がそれぞれ
摺動するように設定されたことを特徴とする電気部品用
ソケット。
1. A mounting portion on which an electric component is mounted is formed on a socket body, and a plurality of contact pins which are separated from and contact with a lead protruding laterally from a peripheral portion of the mounted electric component are provided. Further, in an electrical component socket in which an operating member is moved to elastically deform the contact pin so as to be separated from and brought into contact with the lead, the contact pin has an upper portion which is in contact with an upper surface portion of the lead. A contact piece and a lower contact piece that is in contact with the lower surface of the lead are formed to hold the lead, and the upper and lower contact pieces are integrally displaced when the operating member is moved. An electric component socket characterized in that the upper and lower contact pieces are slid on upper and lower surfaces of the lead when the lead is held.
【請求項2】 前記上部接触片のリード側の先端部を、
前記下部接触片の先端部より、電気部品の周縁部側に接
近するように突出させたことを特徴とする請求項1記載
の電気部品用ソケット。
2. A lead-side tip of the upper contact piece,
The electrical component socket according to claim 1, wherein the lower contact piece protrudes from a tip portion of the lower contact piece so as to approach a peripheral edge side of the electrical component.
【請求項3】 前記上部接触片と前記下部接触片が、前
記リードから離間させたときには、広がり、該リードを
くわえ込むときには、狭まるように形成されたことを特
徴とする請求項1又は2記載の電気部品用ソケット。
3. The device according to claim 1, wherein the upper contact piece and the lower contact piece are formed so as to expand when separated from the lead and to narrow when holding the lead. Socket for electrical components.
【請求項4】 前記コンタクトピンが複数併設され、該
各コンタクトピンに連結ロッドが掛け渡され、前記操作
部材を可動させることにより、前記連結ロッドを介して
前記各コンタクトピンの両接触片が変位されるように設
定されたことを特徴とする請求項1乃至3記載の電気部
品用ソケット。
4. A plurality of contact pins are provided in parallel, a connecting rod is hung over each of the contact pins, and by moving the operation member, both contact pieces of each of the contact pins are displaced via the connecting rod. The electrical component socket according to any one of claims 1 to 3, wherein the electrical component socket is set to be operated.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003045592A (en) * 2001-07-13 2003-02-14 Molex Inc Ic socket
JP2016046438A (en) * 2014-08-25 2016-04-04 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor device manufacturing method

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