JPH098460A - Electronic component mounting board - Google Patents
Electronic component mounting boardInfo
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- JPH098460A JPH098460A JP15190095A JP15190095A JPH098460A JP H098460 A JPH098460 A JP H098460A JP 15190095 A JP15190095 A JP 15190095A JP 15190095 A JP15190095 A JP 15190095A JP H098460 A JPH098460 A JP H098460A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品搭載用基板に
関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a board for mounting electronic parts.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、フリップチップ等のようなベアチ
ップや、BGA等のようなパッケージを搭載するための
プリント配線板として、例えば図3に示されるような電
子部品搭載用基板21が知られている。2. Description of the Related Art Conventionally, as a printed wiring board for mounting a bare chip such as a flip chip or a package such as a BGA, an electronic component mounting substrate 21 as shown in FIG. 3 has been known. There is.
【0003】この種の電子部品搭載用基板21には、ベ
ース基板22として、主にサブトラクティブ法によって
形成された導体層を表裏に持つ両面板が使用される。ベ
ース基板22の表面の中央部には、部品搭載用エリアが
設けられている。同エリア内には、多数のパッド23か
らなる第1のパッド群が密集した状態で形成されてい
る。前記各パッド23の形成位置は、電子部品であるベ
アチップC1 の底面にあるバンプBPの位置に対応して
いる。一方、ベース基板22の裏面の外周部には、多数
のパッド24からなる第2のパッド群が形成されてい
る。これらのパッド24上には、マザーボード側との接
続を図るための突起電極としてバンプ25が形成されて
いる。また、ベース基板22の外周部には、表裏を貫通
する多数のスルーホール26が形成されている。これら
のスルーホール26と表面側のパッド23とは、ベース
基板22の表面に形成された導体パターン27を介して
接続されている。また、スルーホール26と裏面側のパ
ッド24とは、同様にベース基板22の裏面に形成され
た導体パターン28を介して接続されている。その結
果、この電子部品搭載用基板21においては、第1のパ
ッド群と第2のパッド群とが互いに電気的に接続された
状態となっている。In this type of electronic component mounting substrate 21, a double-sided plate having conductor layers formed on the front and back sides, which are mainly formed by a subtractive method, is used as a base substrate 22. A component mounting area is provided in the center of the surface of the base substrate 22. In the same area, a first pad group including a large number of pads 23 is formed in a dense state. The formation position of each pad 23 corresponds to the position of the bump BP on the bottom surface of the bare chip C1 which is an electronic component. On the other hand, a second pad group including a large number of pads 24 is formed on the outer peripheral portion of the back surface of the base substrate 22. Bumps 25 are formed on these pads 24 as projecting electrodes for connecting to the motherboard. Further, a large number of through holes 26 penetrating the front and back are formed on the outer peripheral portion of the base substrate 22. These through holes 26 and the pads 23 on the front surface side are connected via a conductor pattern 27 formed on the surface of the base substrate 22. Further, the through hole 26 and the pad 24 on the back surface side are similarly connected via a conductor pattern 28 formed on the back surface of the base substrate 22. As a result, in the electronic component mounting board 21, the first pad group and the second pad group are electrically connected to each other.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の電子
部品搭載用基板21の場合、図3に示されるように、表
面側においていったん外周部まで引き出した配線を裏面
側において再び中心方向に引き戻す、という構造になっ
ている。従って、パッド23,24間を接続する配線が
必要以上に長くなりやすく、配線効率が悪かった。ま
た、このような電子部品搭載用基板21を用いた電子部
品搭載装置では、高速化の達成が難しいという問題があ
った。However, in the case of the conventional electronic component mounting substrate 21, as shown in FIG. 3, the wiring which has been once pulled out to the outer peripheral portion on the front surface side is pulled back toward the center on the rear surface side. It has a structure. Therefore, the wiring connecting the pads 23 and 24 is apt to be longer than necessary, and the wiring efficiency is poor. Further, in the electronic component mounting apparatus using such an electronic component mounting substrate 21, there is a problem that it is difficult to achieve high speed.
【0005】また、パッド23,24間を最短の配線長
でつなぐためには、スルーホール26を基板外周部では
なく基板中央部に形成すればよいとも考えられる。しか
し、この場合にはスルーホール26の形成面積分だけ配
線不能なスペース(デッドスペース)ができてしまう。
よって、配線可能なスペースを確保しようとすると、全
体の大型化が避けられないという事情があった。Further, in order to connect the pads 23 and 24 with the shortest wiring length, it is considered that the through hole 26 may be formed not in the outer peripheral portion of the substrate but in the central portion of the substrate. However, in this case, an unwiring space (dead space) is formed by the formation area of the through hole 26.
Therefore, when trying to secure a space for wiring, there is a situation in which the size of the entire device cannot be avoided.
【0006】本発明は上記の課題を解決するためなされ
たものであり、その目的は、全体の大型化を回避しつつ
配線効率を向上させることができる電子部品搭載用基板
を提供することにある。The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an electronic component mounting substrate capable of improving wiring efficiency while avoiding an increase in size of the whole. .
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明は、表面側の中央部に密集
した状態で形成された複数の接続端子からなる第1の接
続端子群と、裏面側の外周部に形成された複数の接続端
子からなる第2の接続端子群とが電気的に接続されてな
る電子部品搭載用基板において、前記第1の接続端子群
は、酸あるいは酸化剤に難溶性の感光性樹脂と酸あるい
は酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子とからなる層間絶縁
層及び内層導体層を交互に積層してなるビルドアップ層
の最外層に形成されてなり、前記第1の接続端子群と前
記第2の接続端子群とをつなぐ前記内層導体層は、前記
層間絶縁層に形成されたバイアホールによって接続され
つつ、基板外周部に向かって常に順方向にかつ遠心的に
配線されてなる電子部品搭載用基板をその要旨とする。In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 is a first connection comprising a plurality of connection terminals densely formed in the central portion on the front surface side. In the electronic component mounting board, in which the terminal group and a second connection terminal group formed of a plurality of connection terminals formed on the outer peripheral portion on the back surface side are electrically connected, the first connection terminal group includes: Formed on the outermost layer of the build-up layer, which is formed by alternately stacking an interlayer insulating layer and an inner conductor layer, which are composed of a photosensitive resin hardly soluble in an acid or an oxidant and heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidant. The inner conductor layer connecting the first connection terminal group and the second connection terminal group is always connected in the forward direction toward the outer peripheral portion of the substrate while being connected by the via hole formed in the interlayer insulating layer. And the wires are centrifugally wired. The component mounting board as its gist.
【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1におい
て、前記層間絶縁層は、酸あるいは酸化剤に難溶性であ
って熱硬化性樹脂を感光化した樹脂及び熱可塑性樹脂の
複合樹脂と、酸あるいは酸化剤の可溶性の耐熱性樹脂粒
子とからなることをその要旨とする。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the interlayer insulating layer is a composite resin of a resin that is hardly soluble in an acid or an oxidant and is made by sensitizing a thermosetting resin, and a thermoplastic resin. The main point is that the heat-resistant resin particles are soluble in an acid or an oxidizing agent.
【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2におい
て、前記酸あるいは酸化剤に難溶性であって熱硬化性樹
脂を感光化した樹脂は、エポキシアクリレート及び感光
性ポリイミドから選択される少なくともいずれか1つの
樹脂であり、前記熱可塑性樹脂は、ポリエーテルスルホ
ン、ポリスルホン、フェノキシ樹脂及びポリエチレンの
うちから選択される少なくともいずれか1つの樹脂であ
ることをその要旨とする。According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the resin which is hardly soluble in the acid or the oxidizing agent and which is obtained by sensitizing a thermosetting resin is at least selected from an epoxy acrylate and a photosensitive polyimide. It is any one resin, and the gist is that the thermoplastic resin is at least one resin selected from polyether sulfone, polysulfone, phenoxy resin, and polyethylene.
【0010】請求項4に記載の発明は、請求項2または
3において、前記耐熱性樹脂粒子は、アミノ樹脂粒子及
びエポキシ樹脂粒子のうちから選択される少なくともい
ずれか1つであることをその要旨とする。The invention according to claim 4 is the invention according to claim 2 or 3, wherein the heat resistant resin particles are at least one selected from amino resin particles and epoxy resin particles. And
【0011】[0011]
【作用】請求項1〜4に記載の発明によると、配線を引
き戻すことがない分だけ、第1及び第2の接続端子間を
接続する配線の長さが短くなる。また、層間絶縁層中に
は耐熱性樹脂粒子が含まれていることから、露光時に光
の散乱が起こりやすくなる。そのため、アスペクト比の
高いバイアホールであっても、その形成時に現像残りが
生じにくくなる。よって、小径のバイアホールを容易に
かつ確実に形成することができる。それゆえ、バイアホ
ールを配線が密集する中央部に形成できるため、このバ
イアホールを介して配線を中央部から外周部へと順方向
に配置でき、配線を引き戻すことがない分だけ、第1及
び第2の接続端子間の配線長が短くなる。According to the first to fourth aspects of the invention, the length of the wiring connecting the first and second connection terminals is shortened because the wiring is not pulled back. Further, since the heat resistant resin particles are contained in the interlayer insulating layer, light scattering is likely to occur during exposure. Therefore, even if the via hole has a high aspect ratio, the undeveloped residue is less likely to occur during the formation thereof. Therefore, a small-diameter via hole can be formed easily and reliably. Therefore, since the via hole can be formed in the central portion where the wiring is densely arranged, the wiring can be arranged in the forward direction from the central portion to the outer peripheral portion through the via hole, and the wiring is not pulled back. The wiring length between the second connection terminals becomes shorter.
【0012】[0012]
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図1に
基づき詳細に説明する。この電子部品搭載用基板1で
は、ベース基板として両面板2が使用されている。この
両面板2は、サブトラクティブ法によって形成された導
体層3,4を樹脂製の基材5の表面S1 及び裏面S2 の
両方に有している。この両面板2には、全面にわたっ
て、導体層3,4間の導通を図るためのスルーホール6
が形成されている。これらのスルーホール6内には、銅
などの金属粉末を含む導電性樹脂7等が充填されてい
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIG. In this electronic component mounting substrate 1, a double-sided plate 2 is used as a base substrate. The double-sided plate 2 has conductor layers 3 and 4 formed by a subtractive method on both the front surface S1 and the back surface S2 of a resin base material 5. Through-holes 6 are formed over the entire surface of the double-sided plate 2 for establishing conduction between the conductor layers 3 and 4.
Are formed. The through holes 6 are filled with a conductive resin 7 containing a metal powder such as copper.
【0013】ベース基板である両面板2の表面S1 及び
裏面S2 には、層間絶縁層8a,8bと導体層9a,9
bとを交互に積層してなるビルドアップ層B1 ,B2 が
それぞれ形成されている。Interlayer insulating layers 8a, 8b and conductor layers 9a, 9 are provided on the front surface S1 and the back surface S2 of the double-sided plate 2 which is a base substrate.
Buildup layers B1 and B2 are formed by alternately stacking b and B, respectively.
【0014】表面S1 側に形成されたビルドアップ層B
1 において、内層に位置する第1の層間絶縁層8aの上
面には、永久レジスト10が形成されている。この永久
レジスト10が形成されていない部分には、内層導体層
9aが形成されている。そして、この内層導体層9aと
両面板2側の内層導体層3とは、第1の層間絶縁層8a
に設けられたバイアホール11によって電気的に接続さ
れている。また、前記層間絶縁層8aに設けられた第2
の層間絶縁層8b上にも、同様に永久レジスト10が形
成されている。この永久レジスト10が形成されていな
い部分には、外層導体層9bが形成されている。そし
て、この外層導体層9bと内層導体層9aとは、第2の
層間絶縁層8bに設けられたバイアホール11によって
電気的に接続されている。また、第2の層間絶縁層8b
の中央部は、電子部品としてのLSIのベアチップC1
を搭載するための部品搭載エリアになっている。このエ
リア内には、接続端子としての多数のパッド12からな
る第1のパッド群が密集した状態で形成されている。な
お、これらのパッド12の位置は、ベアチップC1 の底
面に形成されたバンプBPの形成位置に対応している。Build-up layer B formed on the surface S1 side
In 1, the permanent resist 10 is formed on the upper surface of the first interlayer insulating layer 8a located in the inner layer. The inner conductor layer 9a is formed in the portion where the permanent resist 10 is not formed. The inner conductor layer 9a and the inner conductor layer 3 on the double-sided plate 2 side are the first interlayer insulating layer 8a.
Are electrically connected by a via hole 11 provided in the. In addition, a second layer provided on the interlayer insulating layer 8a
A permanent resist 10 is similarly formed on the interlayer insulating layer 8b. An outer conductor layer 9b is formed on a portion where the permanent resist 10 is not formed. The outer conductor layer 9b and the inner conductor layer 9a are electrically connected to each other by a via hole 11 provided in the second interlayer insulating layer 8b. In addition, the second interlayer insulating layer 8b
The central part of is a bare chip C1 of an LSI as an electronic component.
It is a component mounting area for mounting. In this area, a first pad group including a large number of pads 12 as connection terminals is formed in a dense state. The positions of these pads 12 correspond to the positions of the bumps BP formed on the bottom surface of the bare chip C1.
【0015】表面S2 側に形成されたビルドアップ層B
2 において、内層に位置する第1の層間絶縁層8a上に
は、永久レジスト10が形成されている。この永久レジ
スト10が形成されていない部分には、内層導体層9a
が形成されている。そして、この内層導体層9aと両面
板2側の内層導体層4とは、第1の層間絶縁層8aに設
けられたバイアホール11によって電気的に接続されて
いる。また、前記層間絶縁層8aに設けられた第2の層
間絶縁層8b上にも、同様に永久レジスト10が形成さ
れている。この永久レジスト10が形成されていない部
分には、外層導体層9bが形成されている。そして、こ
の外層導体層9bと内層導体層9aとは、第2の層間絶
縁層8bに設けられたバイアホール11によって電気的
に接続されている。また、第2の層間絶縁層8bの外周
部には、接続端子としての多数のパッド13からなる第
2のパッド群が形成されている。これらのパッド13上
には、図示しないマザーボード側との電気的な接続を図
るための突起電極としてバンプ14が形成されている。Build-up layer B formed on the surface S2 side
2, a permanent resist 10 is formed on the first interlayer insulating layer 8a located in the inner layer. The inner conductor layer 9a is formed on the portion where the permanent resist 10 is not formed.
Are formed. The inner conductor layer 9a and the inner conductor layer 4 on the double-sided plate 2 side are electrically connected to each other by a via hole 11 provided in the first interlayer insulating layer 8a. Further, a permanent resist 10 is similarly formed on the second interlayer insulating layer 8b provided on the interlayer insulating layer 8a. An outer conductor layer 9b is formed on a portion where the permanent resist 10 is not formed. The outer conductor layer 9b and the inner conductor layer 9a are electrically connected to each other by a via hole 11 provided in the second interlayer insulating layer 8b. In addition, a second pad group including a large number of pads 13 as connection terminals is formed on the outer peripheral portion of the second interlayer insulating layer 8b. Bumps 14 are formed on these pads 13 as projecting electrodes for electrical connection with the motherboard (not shown).
【0016】この電子部品搭載用基板1において、第1
のパッド群を構成するパッド12は、外層導体層9b、
バイアホール11、内層導体層9a、バイアホール11
及び内層導体層3を介してスルーホール6に接続されて
いる。そして、同スルーホール6に接続される内層導体
層4は、バイアホール11、内層導体層9a、バイアホ
ール11及び外層導体層9bを介して第2のパッド群を
構成するパッド13に接続されている。また、内層導体
層3,4,9a及び外層導体層9bは、バイアホール1
1によって接続されつつ、基板外周部に向かって常に順
方向にかつ遠心的に配線されている。なお、前記パッド
12,13のうちの一部のものについては、外層導体層
9bに接続されることなく、バイアホール11の上面に
じかに接続されていてもよい。また、第1の層間絶縁層
8a内のバイアホール11及び第2の層間絶縁層8b内
のバイアホール11は、直列に配置されていてもよい。In this electronic component mounting substrate 1, the first
The pads 12 constituting the pad group of are outer conductor layers 9b,
Via hole 11, inner conductor layer 9a, via hole 11
And to the through hole 6 through the inner conductor layer 3. The inner conductor layer 4 connected to the through hole 6 is connected to the pad 13 constituting the second pad group via the via hole 11, the inner conductor layer 9a, the via hole 11 and the outer conductor layer 9b. There is. In addition, the inner conductor layers 3, 4, 9a and the outer conductor layer 9b are the via holes 1
While being connected by 1, the wires are always wired forward and centrifugally toward the outer peripheral portion of the substrate. Note that some of the pads 12 and 13 may be directly connected to the upper surface of the via hole 11 without being connected to the outer conductor layer 9b. The via hole 11 in the first interlayer insulating layer 8a and the via hole 11 in the second interlayer insulating layer 8b may be arranged in series.
【0017】ここで、ビルドアップ層B1 ,B2 を構成
する層間絶縁層8a,8bは、酸あるいは酸化剤に難溶
性の感光性樹脂と、酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性
樹脂粒子とからなることが必要である。その理由は、耐
熱性樹脂粒子が含まれていると露光時に光の散乱が起こ
りやすく、よってアスペクト比の高いバイアホール11
であってもその形成時に現像残りが生じにくくなるから
である。なお、単なる感光性樹脂を使用した場合には、
小径(直径約80μm以下)のバイアホール11を形成
することが困難になる。Here, the interlayer insulating layers 8a and 8b constituting the buildup layers B1 and B2 are composed of a photosensitive resin which is hardly soluble in an acid or an oxidant, and heat resistant resin particles which are soluble in the acid or the oxidant. It is necessary. The reason for this is that when heat-resistant resin particles are contained, light is likely to be scattered during exposure, so that the via hole 11 having a high aspect ratio is used.
Even in this case, it is difficult for the residual development to occur during the formation. In addition, when only a photosensitive resin is used,
It becomes difficult to form the via hole 11 having a small diameter (about 80 μm or less).
【0018】前記層間絶縁層8a,8bは、酸あるいは
酸化剤に難溶性であって熱硬化性樹脂を感光化した樹脂
及び熱可塑性樹脂の複合樹脂と、酸あるいは酸化剤の可
溶性の耐熱性樹脂粒子とからなることが好ましい。その
理由は、層間剤と銅めっきとの密着性を向上させるため
のアンカーを形成するためである。なお、ここでいう酸
あるいは酸化剤とは、例えば表面粗化工程において使用
されるクロム酸、クロム酸塩、過マンガン塩等を指す。The interlayer insulating layers 8a and 8b are composed of a composite resin of a resin and a thermoplastic resin which are poorly soluble in an acid or an oxidizing agent and which are made by sensitizing a thermosetting resin, and a heat-resistant resin soluble in an acid or an oxidizing agent. It is preferably composed of particles. The reason is to form an anchor for improving the adhesion between the interlayer agent and the copper plating. The acid or oxidizing agent referred to herein means, for example, chromic acid, chromate, permanganate, etc. used in the surface roughening step.
【0019】前記酸あるいは酸化剤に難溶性であって熱
硬化性樹脂を感光化した樹脂は、エポキシアクリレート
及び感光性ポリイミド(感光性PI)から選択される少
なくともいずれか1つの樹脂であることが好ましい。そ
の理由は、高耐熱、高強度を有するからである。The resin which is hardly soluble in the acid or the oxidant and which is obtained by sensitizing a thermosetting resin is at least one resin selected from epoxy acrylate and photosensitive polyimide (photosensitive PI). preferable. The reason is that it has high heat resistance and high strength.
【0020】前記熱可塑性樹脂は、ポリエーテルスルホ
ン(PES)、ポリスルホン(PSF)、フェノキシ樹
脂及びポリエチレン(PE)のうちから選択される少な
くともいずれか1つの樹脂であることが好ましい。その
理由は、前記熱硬化性樹脂の特性を保持したまま、高T
g、高弾性率を付与することができるためである。The thermoplastic resin is preferably at least one resin selected from polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), phenoxy resin and polyethylene (PE). The reason is that while maintaining the characteristics of the thermosetting resin, high T
This is because it is possible to impart a high elastic modulus.
【0021】前記耐熱性樹脂粒子は、アミノ樹脂粒子及
びエポキシ樹脂(EP樹脂)粒子のうちから選択される
少なくともいずれか1つであることが好ましい。その理
由は、層間絶縁層の特性を劣化させないことである。な
お、アミン系硬化剤で硬化したエポキシ樹脂はヒドロエ
キシエーテル構造を持っていることから、この樹脂から
なる粒子は特に溶けやすいという有利な性質を有する。
また、アミノ樹脂粒子としては、例えばメラミン樹脂、
尿素樹脂、グアナミン樹脂等が選択可能である。なかで
も、メラミン樹脂を選択することが、電気特性、PC
T、HHBT特性が良好になるという点において好まし
い。The heat-resistant resin particles are preferably at least one selected from amino resin particles and epoxy resin (EP resin) particles. The reason is that the characteristics of the interlayer insulating layer are not deteriorated. Since the epoxy resin cured with the amine-based curing agent has a hydroexiether structure, particles made of this resin have an advantageous property of being particularly easily dissolved.
As the amino resin particles, for example, melamine resin,
Urea resin, guanamine resin, etc. can be selected. Among them, the choice of melamine resin is important for electrical characteristics, PC
It is preferable in that the T and HHBT characteristics are improved.
【0022】前記耐熱性樹脂粒子の粒子径は10μm以
下であることがよい。その理由は、層間膜厚を薄くで
き、またファインパターンの形成ができるからである。
なお、耐熱性樹脂粒子の形状としては、真球状、破砕
片、凝集粒子など種々のものを選択することができる。The heat-resistant resin particles preferably have a particle size of 10 μm or less. The reason is that the interlayer film thickness can be reduced and a fine pattern can be formed.
As the shape of the heat resistant resin particles, various shapes such as true spheres, crushed pieces, and aggregated particles can be selected.
【0023】このような構成の電子部品搭載用基板1
は、例えば以下のような手順を経ることによって作製す
ることができる。層間絶縁層8a,8bを形成するため
のアディティブ用接着剤の調製方法は、以下の通りであ
る。クレゾールノボラック型エポキシ樹脂のエポキシ基
の25%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(C
NA25,分子量4000)、PES(分子量1700
0)、イミダゾール硬化剤(四国化成製,商品名:2B
4MZ−CN)、感光性モノマーであるトリメチルトリ
アクリレート(TMPTA)、光開始剤(チバガイギー
製,商品名:I−907)を用い、下記組成でDMFを
用いて混合し、さらにこの混合物に対してエポキシ樹脂
粉末(東レ製,商品名:トレパールEP−B)を平均粒
径5.5μmのものを20重量部、平均粒径0.5μm
のものを10重量部を混合した後、ホモディスパー攪拌
機で粘度120cps に調整し、続いて3本ロールで混練
することによって、アディティブ用接着剤とする。次い
で、この接着剤を両面板2の両面全体に塗布した後、8
0℃で乾燥を行い、さらにUV硬化及び熱硬化を行う。
その結果、まず第1の層間絶縁層8aが形成される。The electronic component mounting substrate 1 having such a configuration
Can be produced, for example, by the following procedure. The method for preparing the additive adhesive for forming the interlayer insulating layers 8a and 8b is as follows. A sensitizing oligomer (C) in which 25% of the epoxy groups of a cresol novolac type epoxy resin is acrylated
NA25, molecular weight 4000), PES (molecular weight 1700)
0), imidazole curing agent (Shikoku Kasei, trade name: 2B
4MZ-CN), trimethyltriacrylate (TMPTA) which is a photosensitive monomer, and a photoinitiator (manufactured by Ciba-Geigy, trade name: I-907), and mixed with DMF in the following composition, and to this mixture: Epoxy resin powder (Toray, trade name: Trepearl EP-B) having an average particle size of 5.5 μm, 20 parts by weight, an average particle size of 0.5 μm
After mixing 10 parts by weight of the above, the viscosity is adjusted to 120 cps with a homodisper stirrer, and then kneaded with a three-roll mill to obtain an adhesive for additives. Then, after applying the adhesive to both sides of the double-sided plate 2,
Drying is performed at 0 ° C., and UV curing and heat curing are further performed.
As a result, first, the first interlayer insulating layer 8a is formed.
【0024】次に、この第1の層間絶縁層8aの表面を
クロム酸等の粗化剤で処理することによって、多数のア
ンカー用凹部を備える粗化面を形成する。この後、常法
に従って触媒核付与、永久レジスト10の形成、活性化
処理及び無電解銅めっきを行うことによって、内層導体
層9a及びバイアホール11を形成する。Next, the surface of the first interlayer insulating layer 8a is treated with a roughening agent such as chromic acid to form a roughened surface having a large number of anchor recesses. Then, the inner layer conductor layer 9a and the via hole 11 are formed by applying catalyst nuclei, forming the permanent resist 10, activation treatment, and electroless copper plating according to a conventional method.
【0025】さらに、同じアディティブ用接着剤を両面
に塗布・硬化することにより、第2の層間絶縁層8bを
形成する。次いで、得られた第2の層間絶縁層8bの表
面を粗化剤で処理することによって、粗化面を形成す
る。この後、触媒核付与、永久レジスト10の形成、活
性化処理及び無電解銅めっきを行い、所定部分に外層導
体層9b、パッド12,13及びバイアホール11を形
成する。以上の工程を経ると、所望の電子部品搭載用基
板1が完成する。そして、このようにして得られた電子
部品搭載用基板1上にベアチップC1 を搭載すれば、図
1のような電子部品搭載装置M1 を得ることができる。Further, the same adhesive for additive is applied and cured on both sides to form the second interlayer insulating layer 8b. Then, the surface of the obtained second interlayer insulating layer 8b is treated with a roughening agent to form a roughened surface. After that, catalyst nucleation, formation of permanent resist 10, activation treatment and electroless copper plating are performed to form outer conductor layer 9b, pads 12 and 13 and via holes 11 at predetermined portions. Through the above steps, the desired electronic component mounting substrate 1 is completed. Then, by mounting the bare chip C1 on the electronic component mounting substrate 1 thus obtained, the electronic component mounting apparatus M1 as shown in FIG. 1 can be obtained.
【0026】さて、本実施例においては、パッド12,
13間をつなぐ内層導体層3,4,9b及び外層導体層
9bが、バイアホール11によって接続されつつ基板外
周部に向かって常に順方向にかつ遠心的に配線されてい
る。従って、いったん外周部まで引き出した配線を再び
中心方向に引き戻す、という従来の構造とは異なってい
る(図3参照)。従って、このような配線の引き戻しが
ない分だけ、パッド12,13間を接続する配線の長さ
が短くなり、配線効率も確実に向上する。このため、処
理速度の速い電子部品搭載装置M1 を実現することがで
きる。In the present embodiment, the pads 12,
The inner conductor layers 3, 4, 9b and the outer conductor layer 9b connecting between 13 are connected by via holes 11 and are always wired forward and centrifugally toward the outer peripheral portion of the substrate. Therefore, this is different from the conventional structure in which the wiring that has been once pulled to the outer peripheral portion is pulled back toward the center (see FIG. 3). Therefore, the length of the wiring connecting between the pads 12 and 13 is shortened by the amount that such wiring is not pulled back, and the wiring efficiency is surely improved. Therefore, it is possible to realize the electronic component mounting apparatus M1 having a high processing speed.
【0027】また、本実施例では、ビルドアップ層B1
,B2 を構成する層間絶縁層8a,8bの形成におい
て、酸等に難溶性の感光性樹脂と酸等に可溶性の耐熱性
樹脂粒子とからなるアディティブ用接着剤が使用されて
いる。そのため、露光時にバイアホール形成用凹部の底
面に現像残りが生じにくい。よって、従来よりも小径の
バイアホール11を容易にかつ確実に形成することがで
きる。勿論、アディティブ法によって形成される導体層
9a,9bは、従来のサブトラクティブ法に従って形成
されるものに比べてファインなものになる。即ち、前記
のような構成は、電子部品搭載用基板1の小型化にとっ
て極めて好都合である。Further, in this embodiment, the buildup layer B1
, B2 are formed by using an additive adhesive composed of a photosensitive resin hardly soluble in acid or the like and heat-resistant resin particles soluble in acid or the like. Therefore, it is difficult for an undeveloped residue to occur on the bottom surface of the via hole forming recess during exposure. Therefore, it is possible to easily and surely form the via hole 11 having a smaller diameter than the conventional one. Of course, the conductor layers 9a and 9b formed by the additive method are finer than those formed by the conventional subtractive method. That is, the above configuration is extremely convenient for downsizing the electronic component mounting substrate 1.
【0028】さらに、この電子部品搭載用基板1では、
両面板2の導体層3,4ばかりでなく、ビルドアップ層
B1 ,B2 の導体層9a,9bにも配線が形成されてい
るという特徴がある。このため、両面板2にスルーホー
ル6があったとしても、配線に特に悪影響を及ぼすもの
ではなく、従来のように配線可能なスペースを確保する
必要もなくなる。このことは、電子部品搭載用基板1の
大型化を確実に回避できることを意味する。Further, in this electronic component mounting substrate 1,
The wiring is formed not only on the conductor layers 3 and 4 of the double-sided plate 2 but also on the conductor layers 9a and 9b of the buildup layers B1 and B2. For this reason, even if the double-sided plate 2 has the through hole 6, it does not particularly affect the wiring, and it is not necessary to secure a space for wiring as in the conventional case. This means that the electronic component mounting board 1 can be surely prevented from increasing in size.
【0029】そして、この電子部品搭載用基板1では、
表面S1 及び裏面S2 にほぼ同じ厚さのビルドアップ層
B1 ,B2 が設けられている。このため、両面板2の両
側に付加する応力の大きさがほぼ等しくなり、結果とし
て応力が互いに相殺されやすくなる。よって、反りにく
い電子部品搭載用基板1を実現することができる。Then, in this electronic component mounting substrate 1,
Build-up layers B1 and B2 having substantially the same thickness are provided on the front surface S1 and the back surface S2. Therefore, the magnitudes of the stresses applied to both sides of the double-sided plate 2 become substantially equal, and as a result, the stresses tend to cancel each other. Therefore, it is possible to realize the electronic component mounting substrate 1 which is hard to warp.
【0030】なお、本発明は例えば次のように変更する
ことが可能である。 (1)図2には、別例の電子部品搭載用基板18上にベ
アチップC1 を搭載してなる電子部品搭載装置M2 が示
されている。この電子部品搭載用基板18では、表面S
1 側だけに3層構造のビルドアップ層B3 が設けられて
いる。一方、第2のパッド群を構成するパッド13は、
裏面S2 側に形成された導体層4に接続されている。そ
して、裏面S2 側の導体層4は、全体的にソルダーレジ
スト19によって被覆されている。このような構成であ
っても、実施例と同様の作用効果を奏する。The present invention can be modified as follows, for example. (1) FIG. 2 shows an electronic component mounting apparatus M2 in which a bare chip C1 is mounted on an electronic component mounting substrate 18 of another example. In this electronic component mounting substrate 18, the surface S
The build-up layer B3 having a three-layer structure is provided only on the 1st side. On the other hand, the pads 13 forming the second pad group are
It is connected to the conductor layer 4 formed on the back surface S2 side. The conductor layer 4 on the back surface S2 side is entirely covered with the solder resist 19. Even with such a configuration, the same operational effect as that of the embodiment can be obtained.
【0031】(2)ビルドアップ層B1 〜B3 の積層数
(層間絶縁層8a,8bの層数)は2層または3層に限
定されることはなく、1層のみまたは4層,5層,6
層,7層,8層…であってもよい。また、表面S1 側の
積層数及び裏面S2 側の積層数は、必ずしも同一でなく
てもよい。(2) The number of build-up layers B1 to B3 (the number of layers of the interlayer insulating layers 8a and 8b) is not limited to two layers or three layers, but only one layer or four layers, five layers, 6
It may be a layer, a 7 layer, an 8 layer ... Further, the number of stacked layers on the front surface S1 side and the number of stacked layers on the back surface S2 side do not necessarily have to be the same.
【0032】(3)ベース基板として両面板2を使用し
た実施例に代え、4層板,5層板,6層板,7層板,8
層板等の多層板を使用してもよい。なお、低コスト化を
優先したい場合には両面板2を選択することが有利であ
り、さらなる高密度化・小型化を達成したい場合には多
層板を選択することが有利である。(3) Instead of the embodiment using the double-sided plate 2 as the base substrate, a 4-layer plate, a 5-layer plate, a 6-layer plate, a 7-layer plate, 8
You may use multilayer boards, such as a layer board. In addition, it is advantageous to select the double-sided plate 2 when priority is given to cost reduction, and it is advantageous to select a multi-layer plate when it is desired to achieve higher density and size reduction.
【0033】(4)第2の接続端子群を構成するパッド
13上には、実施例のバンプ14に代えてピン等を設け
ることが可能である。また、バンプ14もピンも設けな
い構成とすることも勿論可能である。(4) Pins or the like can be provided on the pads 13 forming the second connection terminal group, instead of the bumps 14 of the embodiment. Further, it is of course possible to adopt a configuration in which neither the bump 14 nor the pin is provided.
【0034】(5)部品搭載エリアは実施例のように1
つのみであってもよく、または複数であってもよい。 (6)第2のパッド群を構成するパッド13は、裏面S
2 側のビルドアップ層B2 の全体にわたって設けられて
いてもよい。この構成であると、より多くのパッド13
を配置することができる。(5) The component mounting area is 1 as in the embodiment.
There may be only one or a plurality. (6) The back surface S of the pad 13 that constitutes the second pad group is
It may be provided over the entire buildup layer B2 on the second side. With this configuration, more pads 13
Can be arranged.
【0035】(7)ビルドアップ層B1 〜B3 を構成す
る導体層9a,9bは、無電解銅めっき以外の金属めっ
き(例えば、無電解ニッケルめっきや無電解金めっきな
ど)であってもよい。また、めっきのような化学的成膜
方法によって形成される金属層に代え、例えばスパッタ
リング等の物理的薄膜方法によって形成される金属層を
選択することも可能である。(7) The conductor layers 9a and 9b constituting the buildup layers B1 to B3 may be metal plating other than electroless copper plating (for example, electroless nickel plating or electroless gold plating). Further, instead of the metal layer formed by a chemical film forming method such as plating, it is possible to select a metal layer formed by a physical thin film method such as sputtering.
【0036】(8)電子部品搭載用基板1上に搭載され
る電子部品は、実施例のベアチップ2のほかに、例えば
BGA,QFN,ショートピンを持つPGA等の半導体
パッケージであってもよい。(8) The electronic component mounted on the electronic component mounting substrate 1 may be a semiconductor package such as BGA, QFN, or PGA having a short pin, in addition to the bare chip 2 of the embodiment.
【0037】(9)熱硬化性樹脂を感光化した樹脂、熱
可塑性樹脂及び耐熱性樹脂の組み合わせ(R1 +R2 +
R3 )は、実施例の組み合わせ以外にも、以下に列挙さ
れるようなものであってもよい。即ち、R1 +R2 +R
3 =エポキシアクリレート+PES+アミノ樹脂,エポ
キシアクリレート+PSF+EP,エポキシアクリレー
ト+フェノキシ樹脂+EP,エポキシアクリレート+P
E+EP,エポキシアクリレート+PSF+アミノ樹
脂,エポキシアクリレート+フェノキシ樹脂+アミノ樹
脂,エポキシアクリレート+PE+アミノ樹脂,エポキ
シアクリレート+PES+アミノ樹脂及びEP,エポキ
シアクリレート+PSF+アミノ樹脂及びEP,エポキ
シアクリレート+フェノキシ樹脂+アミノ樹脂及びE
P,エポキシアクリレート+PE+アミノ樹脂及びE
P,感光性PI+PES+EP,感光性PI+PES+
アミノ樹脂,感光性PI+PSF+EP,感光性PI+
フェノキシ樹脂+EP,感光性PI+PE+EP,感光
性PI+PSF+アミノ樹脂,感光性PI+フェノキシ
樹脂+アミノ樹脂,感光性PI+PE+アミノ樹脂,感
光性PI+PES+アミノ樹脂及びEP,感光性PI+
PSF+アミノ樹脂及びEP,感光性PI+フェノキシ
樹脂+アミノ樹脂及びEP,感光性PI+PE+アミノ
樹脂及びEP,エポキシアクリレート及び感光性PI+
PES+アミノ樹脂,エポキシアクリレート及び感光性
PI+PSF+EP,エポキシアクリレート及び感光性
PI+フェノキシ樹脂+EP,エポキシアクリレート及
び感光性PI+PE+EP,エポキシアクリレート及び
感光性PI+PSF+アミノ樹脂,エポキシアクリレー
ト及び感光性PI+フェノキシ樹脂+アミノ樹脂,エポ
キシアクリレート及び感光性PI+PE+アミノ樹脂,
エポキシアクリレート及び感光性PI+PES+アミノ
樹脂及びEP,エポキシアクリレート及び感光性PI+
PSF+アミノ樹脂及びEP,エポキシアクリレート及
び感光性PI+フェノキシ樹脂+アミノ樹脂及びEP,
エポキシアクリレート及び感光性PI+PE+アミノ樹
脂及びEP。勿論、ここに列挙されなかったその他の可
能な組み合わせであっても許容される。(9) A combination of a resin obtained by sensitizing a thermosetting resin, a thermoplastic resin and a heat resistant resin (R1 + R2 +
R3) may be those listed below in addition to the combinations of the examples. That is, R1 + R2 + R
3 = epoxy acrylate + PES + amino resin, epoxy acrylate + PSF + EP, epoxy acrylate + phenoxy resin + EP, epoxy acrylate + P
E + EP, epoxy acrylate + PSF + amino resin, epoxy acrylate + phenoxy resin + amino resin, epoxy acrylate + PE + amino resin, epoxy acrylate + PES + amino resin and EP, epoxy acrylate + PSF + amino resin and EP, epoxy acrylate + phenoxy resin + amino resin and E
P, epoxy acrylate + PE + amino resin and E
P, Photosensitive PI + PES + EP, Photosensitive PI + PES +
Amino resin, photosensitive PI + PSF + EP, photosensitive PI +
Phenoxy resin + EP, photosensitive PI + PE + EP, photosensitive PI + PSF + amino resin, photosensitive PI + phenoxy resin + amino resin, photosensitive PI + PE + amino resin, photosensitive PI + PES + amino resin and EP, photosensitive PI +
PSF + amino resin and EP, photosensitive PI + phenoxy resin + amino resin and EP, photosensitive PI + PE + amino resin and EP, epoxy acrylate and photosensitive PI +
PES + amino resin, epoxy acrylate and photosensitive PI + PSF + EP, epoxy acrylate and photosensitive PI + phenoxy resin + EP, epoxy acrylate and photosensitive PI + PE + EP, epoxy acrylate and photosensitive PI + PSF + amino resin, epoxy acrylate and photosensitive PI + phenoxy resin + amino resin, epoxy Acrylate and photosensitive PI + PE + amino resin,
Epoxy acrylate and photosensitive PI + PES + amino resin and EP, epoxy acrylate and photosensitive PI +
PSF + amino resin and EP, epoxy acrylate and photosensitive PI + phenoxy resin + amino resin and EP,
Epoxy acrylate and photosensitive PI + PE + amino resin and EP. Of course, other possible combinations not listed here are also acceptable.
【0038】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した実施例及び別例によって把握
される技術的思想をその効果とともに以下に列挙する。 (1) 請求項1〜3のいずれかにおいて、前記ビルド
アップ層はベース基板の両面に設けられていること。こ
の構成であると、より配線効率を向上できかつ反りが生
じにくくなる。Here, in addition to the technical ideas described in the claims, the technical ideas grasped by the above-described embodiments and other examples will be listed below together with their effects. (1) In any one of claims 1 to 3, the build-up layers are provided on both sides of a base substrate. With this configuration, the wiring efficiency can be further improved and warpage is less likely to occur.
【0039】(2) 請求項1において、前記層間絶縁
層は、25%アクリル化したエポキシアクリレート、P
ES、エポキシ樹脂粒子(5.5μm及び0.5μmの
混合物)及び感光性モノマーからなること。この構成で
あると、よりいっそう配線効率を向上できる。(2) In claim 1, the interlayer insulating layer is 25% acrylated epoxy acrylate, P
Consists of ES, epoxy resin particles (mixture of 5.5 μm and 0.5 μm) and photosensitive monomer. With this configuration, the wiring efficiency can be further improved.
【0040】(3) 技術的思想(2) において、エポキ
シ樹脂粒子をメラミン樹脂粒子に代えたこと。この構成
であると、よりいっそう配線効率を向上できる。なお、
本明細書中において使用した技術用語を次のように定義
する。(3) In the technical idea (2), the epoxy resin particles are replaced with melamine resin particles. With this configuration, the wiring efficiency can be further improved. In addition,
The technical terms used in this specification are defined as follows.
【0041】「酸あるいは酸化剤: 表面粗化工程にお
いて使用されるクロム酸、クロム酸塩、過マンガン塩、
塩酸、リン酸、ギ酸、硫酸、フッ酸等を指す。」"Acid or oxidizing agent: chromic acid, chromate, permanganate, used in the surface roughening step,
Refers to hydrochloric acid, phosphoric acid, formic acid, sulfuric acid, hydrofluoric acid and the like. "
【0042】[0042]
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜4に記
載の発明によれば、全体の大型化を回避しつつ配線効率
を向上させることができる電子部品搭載用基板を提供す
ることができる。特に、請求項2〜4に記載の発明によ
れば、全体の大型化をより確実に回避することができ
る。As described above in detail, according to the inventions described in claims 1 to 4, it is possible to provide an electronic component mounting substrate capable of improving wiring efficiency while avoiding an increase in size of the whole. You can In particular, according to the invention described in claims 2 to 4, it is possible to more surely avoid the increase in size of the whole.
【図1】実施例の電子部品搭載用基板を示す概略断面
図。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an electronic component mounting substrate of an embodiment.
【図2】別例の電子部品搭載用基板を示す概略断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing another example of an electronic component mounting board.
【図3】従来例の電子部品搭載用基板を示す概略断面
図。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a conventional electronic component mounting substrate.
1,18…電子部品搭載用基板、8a,8b…層間絶縁
層、9a…内層導体層、11…バイアホール、12,1
3…接続端子としてのパッド、S1 …表面、S2 …裏
面、B1 ,B2 ,B3 …ビルドアップ層。1, 18 ... Substrate for mounting electronic parts, 8a, 8b ... Interlayer insulating layer, 9a ... Inner conductor layer, 11 ... Via hole, 12, 1
3 ... Pads as connection terminals, S1 ... Front surface, S2 ... Back surface, B1, B2, B3 ... Buildup layer.
Claims (4)
た複数の接続端子からなる第1の接続端子群と、裏面側
の外周部に形成された複数の接続端子からなる第2の接
続端子群とが電気的に接続されてなる電子部品搭載用基
板において、 前記第1の接続端子群は、酸あるいは酸化剤に難溶性の
感光性樹脂と酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒
子とからなる層間絶縁層及び内層導体層を交互に積層し
てなるビルドアップ層の最外層に形成されてなり、前記
第1の接続端子群と前記第2の接続端子群とをつなぐ前
記内層導体層は、前記層間絶縁層に形成されたバイアホ
ールによって接続されつつ、基板外周部に向かって常に
順方向にかつ遠心的に配線されてなる電子部品搭載用基
板。1. A first connection terminal group composed of a plurality of connection terminals formed in a dense state in a central portion on the front surface side, and a second connection terminal composed of a plurality of connection terminals formed on an outer peripheral portion on the back surface side. In the electronic component mounting substrate, in which a connection terminal group is electrically connected, the first connection terminal group is a photosensitive resin that is hardly soluble in an acid or an oxidant and a heat-resistant resin that is soluble in an acid or an oxidant The inner layer formed on the outermost layer of a buildup layer formed by alternately laminating an interlayer insulating layer and an inner conductor layer composed of particles, and connecting the first connection terminal group and the second connection terminal group. A board for mounting electronic parts, wherein the conductor layers are connected by via holes formed in the interlayer insulating layer and are always wired in a forward direction toward the outer peripheral portion of the board in a centrifugal manner.
溶性であって熱硬化性樹脂を感光化した樹脂及び熱可塑
性樹脂の複合樹脂と、酸あるいは酸化剤の可溶性の耐熱
性樹脂粒子とからなる請求項1に記載の電子部品搭載用
基板。2. The interlayer insulating layer is a composite resin of a resin and a thermoplastic resin, which are hardly soluble in an acid or an oxidant and have a thermosetting resin sensitized, and a heat-resistant resin particle in which an acid or an oxidant is soluble. The electronic component mounting substrate according to claim 1, comprising:
硬化性樹脂を感光化した樹脂は、エポキシアクリレート
及び感光性ポリイミドから選択される少なくともいずれ
か1つの樹脂であり、前記熱可塑性樹脂は、ポリエーテ
ルスルホン、ポリスルホン、フェノキシ樹脂及びポリエ
チレンのうちから選択される少なくともいずれか1つの
樹脂である請求項2に記載の電子部品搭載用基板。3. The resin which is sparingly soluble in an acid or an oxidant and which is obtained by sensitizing a thermosetting resin is at least one resin selected from epoxy acrylate and photosensitive polyimide. The electronic component mounting board according to claim 2, wherein is at least one resin selected from polyether sulfone, polysulfone, phenoxy resin, and polyethylene.
びエポキシ樹脂粒子のうちから選択される少なくともい
ずれか1つである請求項2または3に記載の電子部品搭
載用基板。4. The electronic component mounting substrate according to claim 2, wherein the heat resistant resin particles are at least one selected from amino resin particles and epoxy resin particles.
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