JPH098328A - 圧力センサ - Google Patents
圧力センサInfo
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- JPH098328A JPH098328A JP15962695A JP15962695A JPH098328A JP H098328 A JPH098328 A JP H098328A JP 15962695 A JP15962695 A JP 15962695A JP 15962695 A JP15962695 A JP 15962695A JP H098328 A JPH098328 A JP H098328A
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- thin film
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Abstract
(57)【要約】
【目的】歪みゲージの位置ずれに対する出力の変動を抑
えることができる圧力センサを提供することを目的とす
る。 【構成】ボディ2に接着されたインシュレータ11に
は、略L字状に屈曲形成された板バネ12,13が設け
られている。板バネ12,13の一端はそれぞれインシ
ュレータ11に固着され、他端はそれぞれセンサチップ
9の両端上面に押圧されている。センサチップ9は、そ
の両端に加わる板バネ12,13の押圧力によってダイ
アフラム4に対して押圧保持される。
えることができる圧力センサを提供することを目的とす
る。 【構成】ボディ2に接着されたインシュレータ11に
は、略L字状に屈曲形成された板バネ12,13が設け
られている。板バネ12,13の一端はそれぞれインシ
ュレータ11に固着され、他端はそれぞれセンサチップ
9の両端上面に押圧されている。センサチップ9は、そ
の両端に加わる板バネ12,13の押圧力によってダイ
アフラム4に対して押圧保持される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は圧力センサに関するもの
である。
である。
【0002】
【従来の技術】図6(a)は従来の薄膜歪みゲージ式圧
力センサ(以下、単に圧力センサという)50の正面
図、図6(b)は圧力センサ50の断面図である。図6
(a)に示すように、圧力センサ50のボディ51には
ダイアフラム52が形成され、そのダイアフラム52に
はセンサチップ53が固着されている。センサチップ5
3は、接着剤による接着、又は陽極接合等の方法により
ダイアフラム52に固着され、導入孔54から導入され
た流体の圧力によってダイアフラム52と共に撓むよう
になっている。
力センサ(以下、単に圧力センサという)50の正面
図、図6(b)は圧力センサ50の断面図である。図6
(a)に示すように、圧力センサ50のボディ51には
ダイアフラム52が形成され、そのダイアフラム52に
はセンサチップ53が固着されている。センサチップ5
3は、接着剤による接着、又は陽極接合等の方法により
ダイアフラム52に固着され、導入孔54から導入され
た流体の圧力によってダイアフラム52と共に撓むよう
になっている。
【0003】図6(b)に示すように、センサチップ5
3の上面には、薄膜歪みゲージR1〜R4が形成されて
いる。薄膜歪みゲージR1〜R4は、センサチップ53
の撓みによる応力によって圧縮又は伸長され、その圧縮
又は伸長に応じて抵抗値が変化する。従って、薄膜歪み
ゲージR1〜R4の抵抗値は、検出しようとする流体の
圧力に応じて変化するようになっている。
3の上面には、薄膜歪みゲージR1〜R4が形成されて
いる。薄膜歪みゲージR1〜R4は、センサチップ53
の撓みによる応力によって圧縮又は伸長され、その圧縮
又は伸長に応じて抵抗値が変化する。従って、薄膜歪み
ゲージR1〜R4の抵抗値は、検出しようとする流体の
圧力に応じて変化するようになっている。
【0004】図7に示すように、薄膜歪みゲージR1〜
R4は、薄膜歪みゲージR1,R3が直列に接続されて
分圧抵抗を構成し、薄膜歪みゲージR2,R4が直列に
接続されて分圧抵抗を構成している。そして、流体の圧
力に応じて変化した薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値
による分圧電圧が出力電圧として圧力センサ50外部へ
出力するようになっている。
R4は、薄膜歪みゲージR1,R3が直列に接続されて
分圧抵抗を構成し、薄膜歪みゲージR2,R4が直列に
接続されて分圧抵抗を構成している。そして、流体の圧
力に応じて変化した薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値
による分圧電圧が出力電圧として圧力センサ50外部へ
出力するようになっている。
【0005】ところで、ダイアフラム52はボディ51
と一体に形成されており、そのダイアフラム52にセン
サチップ53が固着されている。そのため、センサチッ
プ53は、ダイアフラム52に対して流体の圧力Pが加
わると、図8(a)に示すように、両端が固定された固
定梁と同様に、センサチップ53の中央部が周辺部に対
して大きく撓む。すると、センサチップ53には、図8
(b)に示すように、その中央部上面には両端へ引っ張
る張力が発生し、周辺部上面には圧縮力が発生する。そ
して、薄膜歪みゲージR1,R2は張力が働く領域に形
成され、薄膜歪みゲージR3,R4は圧縮力が働く領域
に形成されている。従って、薄膜歪みゲージR1〜R4
は張力又は圧縮力によってそれらの抵抗値が変化し、圧
力センサ50は、各薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値
の変化による分圧電圧を出力電圧として出力する。
と一体に形成されており、そのダイアフラム52にセン
サチップ53が固着されている。そのため、センサチッ
プ53は、ダイアフラム52に対して流体の圧力Pが加
わると、図8(a)に示すように、両端が固定された固
定梁と同様に、センサチップ53の中央部が周辺部に対
して大きく撓む。すると、センサチップ53には、図8
(b)に示すように、その中央部上面には両端へ引っ張
る張力が発生し、周辺部上面には圧縮力が発生する。そ
して、薄膜歪みゲージR1,R2は張力が働く領域に形
成され、薄膜歪みゲージR3,R4は圧縮力が働く領域
に形成されている。従って、薄膜歪みゲージR1〜R4
は張力又は圧縮力によってそれらの抵抗値が変化し、圧
力センサ50は、各薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値
の変化による分圧電圧を出力電圧として出力する。
【0006】図9は、流体の圧力Pが加わった時のセン
サチップ53の長手方向の位置における応力(張力又は
圧縮力)によるセンサチップ53の歪み量を示す特性図
である。センサチップ53の歪み量は、張力が加わる場
所で引っ張りの方向に最も大きく、圧縮力が加わる場所
で圧縮方向に最も大きくなる。そして、薄膜歪みゲージ
R1,R2は中央から距離aの位置に形成され、薄膜歪
みゲージR3,R4は中央から距離bの位置に形成され
ている。センサチップ53がその長手方向にずれると、
各薄膜歪みゲージR1〜R4の歪み量が大きく変化する
ので、各薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値の変化も大
きく変化する。そのため、センサチップ53をダイアフ
ラム52に固定する場合には、高い位置決め精度が要求
される。
サチップ53の長手方向の位置における応力(張力又は
圧縮力)によるセンサチップ53の歪み量を示す特性図
である。センサチップ53の歪み量は、張力が加わる場
所で引っ張りの方向に最も大きく、圧縮力が加わる場所
で圧縮方向に最も大きくなる。そして、薄膜歪みゲージ
R1,R2は中央から距離aの位置に形成され、薄膜歪
みゲージR3,R4は中央から距離bの位置に形成され
ている。センサチップ53がその長手方向にずれると、
各薄膜歪みゲージR1〜R4の歪み量が大きく変化する
ので、各薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値の変化も大
きく変化する。そのため、センサチップ53をダイアフ
ラム52に固定する場合には、高い位置決め精度が要求
される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、センサ
チップ53は、位置合わせされた後に接着剤等によって
ダイアフラム52に固着されているため位置決めが難し
く、センサチップ53の位置がずれる場合がある。する
と、各薄膜歪みゲージR1〜R4の歪み量は大きく変化
し、出力電圧が中央に固着した場合に比べて大きく変動
する。通常、各薄膜歪みゲージR1〜R4は、出力電圧
の変動が小さくなるように補正するように配置されてい
る。しかし、歪み量の変化が大きいと、薄膜歪みゲージ
R1〜R4の配置では出力電圧の変動を補正しきれなく
なるという問題があった。
チップ53は、位置合わせされた後に接着剤等によって
ダイアフラム52に固着されているため位置決めが難し
く、センサチップ53の位置がずれる場合がある。する
と、各薄膜歪みゲージR1〜R4の歪み量は大きく変化
し、出力電圧が中央に固着した場合に比べて大きく変動
する。通常、各薄膜歪みゲージR1〜R4は、出力電圧
の変動が小さくなるように補正するように配置されてい
る。しかし、歪み量の変化が大きいと、薄膜歪みゲージ
R1〜R4の配置では出力電圧の変動を補正しきれなく
なるという問題があった。
【0008】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、センサチップの位置ず
れに対する出力電圧の変動を抑えることができる圧力セ
ンサを提供することにある。
れたものであって、その目的は、センサチップの位置ず
れに対する出力電圧の変動を抑えることができる圧力セ
ンサを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項1に記載の発明は、ボディに形成され、流体
の圧力によってたわむダイアフラムと、その上面に圧電
変換素子が形成され、ダイアフラムのたわみによる応力
を検出した検出信号を出力するセンサチップと、前記セ
ンサチップ両端を前記ダイアフラムに対して押圧保持す
る押圧部材とを備えたことを要旨とする。
め、請求項1に記載の発明は、ボディに形成され、流体
の圧力によってたわむダイアフラムと、その上面に圧電
変換素子が形成され、ダイアフラムのたわみによる応力
を検出した検出信号を出力するセンサチップと、前記セ
ンサチップ両端を前記ダイアフラムに対して押圧保持す
る押圧部材とを備えたことを要旨とする。
【0010】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の圧力センサにおいて、前記ボディには、前記ダイアフ
ラムに対する前記センサチップの位置を決定するための
位置決め部が形成された位置決めリングを備えたことを
要旨とする。
の圧力センサにおいて、前記ボディには、前記ダイアフ
ラムに対する前記センサチップの位置を決定するための
位置決め部が形成された位置決めリングを備えたことを
要旨とする。
【0011】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の圧力センサにおいて、前記押圧部材は、前記ボ
ディに固着されたインシュレータと、前記インシュレー
タに取着され、前記センサチップを押圧保持する弾性体
とから構成される。
に記載の圧力センサにおいて、前記押圧部材は、前記ボ
ディに固着されたインシュレータと、前記インシュレー
タに取着され、前記センサチップを押圧保持する弾性体
とから構成される。
【0012】
【作用】従って、請求項1に記載の発明によれば、上面
に圧電変換素子が形成されたセンサチップは、流体の圧
力によってダイアフラムのたわみによる応力を検出し検
出信号を出力する。そのセンサチップは、その両端が押
圧部材によってダイアフラムに対して押圧保持される。
に圧電変換素子が形成されたセンサチップは、流体の圧
力によってダイアフラムのたわみによる応力を検出し検
出信号を出力する。そのセンサチップは、その両端が押
圧部材によってダイアフラムに対して押圧保持される。
【0013】請求項2に記載の発明によれば、ボディに
は位置決めリングさ備えられ、センサその位置決めリン
グに形成された位置決め部によってダイアフラムに対す
るセンサチップの位置が決定される。
は位置決めリングさ備えられ、センサその位置決めリン
グに形成された位置決め部によってダイアフラムに対す
るセンサチップの位置が決定される。
【0014】請求項3に記載の発明によれば、押圧部材
は、ボディに固着されたインシュレータと、インシュレ
ータに取着され、センサチップを押圧保持する弾性体と
から構成される。
は、ボディに固着されたインシュレータと、インシュレ
ータに取着され、センサチップを押圧保持する弾性体と
から構成される。
【0015】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図1〜
図5に従って説明する。図2は本実施例の圧力センサ1
の平面図であり、図1は圧力センサ1の断面図である。
図5に従って説明する。図2は本実施例の圧力センサ1
の平面図であり、図1は圧力センサ1の断面図である。
【0016】圧力センサ1のボディ2には断面円形の導
入孔3が形成され、その導入孔3の一端にはダイアフラ
ム4がボディ2と一体に形成されている。ダイアフラム
4は、導入孔3へ導入された流体の圧力によってたわむ
ようになっている。
入孔3が形成され、その導入孔3の一端にはダイアフラ
ム4がボディ2と一体に形成されている。ダイアフラム
4は、導入孔3へ導入された流体の圧力によってたわむ
ようになっている。
【0017】また、ボディ2には、凹部5がダイアフラ
ム4の周囲に形成されており、その凹部5内には位置決
めリング6が収容されている。位置決めリング6には、
その中心方向に向かって位置決め部7,8が突出形成さ
れており、その位置決め部7,8の先端はそれぞれダイ
アフラム4の周辺部上面に配置されている。
ム4の周囲に形成されており、その凹部5内には位置決
めリング6が収容されている。位置決めリング6には、
その中心方向に向かって位置決め部7,8が突出形成さ
れており、その位置決め部7,8の先端はそれぞれダイ
アフラム4の周辺部上面に配置されている。
【0018】また、圧力センサ1には、センサチップ9
が設けられている。センサチップ9は流体の圧力による
ダイアフラム4のたわみによる応力を検出し、その検出
結果を出力するようになっている。
が設けられている。センサチップ9は流体の圧力による
ダイアフラム4のたわみによる応力を検出し、その検出
結果を出力するようになっている。
【0019】センサチップ9はシリコン基板よりなり、
長方形板状に形成されている。センサチップ9の長手方
向両端は位置決め部7,8の先端部分と重なるように配
置され、その位置決め部7,8によってセンサチップ9
の中心がダイアフラム4の中心と一致するように配置さ
れるようになっている。また、ダイアフラム4の上面
(図2において上面であって、図1において左側)に
は、凸部4aが形成されている。ダイアフラム4がたわ
むと、そのたわみによる応力は凸部4aによってセンサ
チップ9の中央部にのみ加わるようになっている。
長方形板状に形成されている。センサチップ9の長手方
向両端は位置決め部7,8の先端部分と重なるように配
置され、その位置決め部7,8によってセンサチップ9
の中心がダイアフラム4の中心と一致するように配置さ
れるようになっている。また、ダイアフラム4の上面
(図2において上面であって、図1において左側)に
は、凸部4aが形成されている。ダイアフラム4がたわ
むと、そのたわみによる応力は凸部4aによってセンサ
チップ9の中央部にのみ加わるようになっている。
【0020】図2に示すように、センサチップ9上面に
は薄膜歪みゲージR1〜R4が形成されている。薄膜歪
みゲージR1〜R4にはセンサチップ9のたわみによっ
て張力又は圧縮力が加わり、その張力又は圧縮力によっ
て抵抗値が変化するようになっている。そして、薄膜歪
みゲージR1,R2は主に張力によってそれらの抵抗値
が大きく変化するように形成され、薄膜歪みゲージR
3,R4は主に圧縮力によってそれらの抵抗値が大きく
変化するように形成されている。
は薄膜歪みゲージR1〜R4が形成されている。薄膜歪
みゲージR1〜R4にはセンサチップ9のたわみによっ
て張力又は圧縮力が加わり、その張力又は圧縮力によっ
て抵抗値が変化するようになっている。そして、薄膜歪
みゲージR1,R2は主に張力によってそれらの抵抗値
が大きく変化するように形成され、薄膜歪みゲージR
3,R4は主に圧縮力によってそれらの抵抗値が大きく
変化するように形成されている。
【0021】また、センサチップ9上面にはパッド10
a〜10fが形成されている。パッド10a,10c間
には薄膜歪みゲージR1,R3がパッド10bを介して
直列に接続され、パッド10d,10f間には薄膜歪み
ゲージR2,R4がパッド10eを介して直列に接続さ
れている。
a〜10fが形成されている。パッド10a,10c間
には薄膜歪みゲージR1,R3がパッド10bを介して
直列に接続され、パッド10d,10f間には薄膜歪み
ゲージR2,R4がパッド10eを介して直列に接続さ
れている。
【0022】また、圧力センサ1にはインシュレータ1
1が設けられている。インシュレータ11は例えばPB
T(ポリブチレンテレフタレート)等の樹脂製であっ
て、略円筒状に形成されていて、ボディ2の凹部5に挿
入されている。そして、インシュレータ11は、位置決
めリング6と共にボディ2に接着されている。
1が設けられている。インシュレータ11は例えばPB
T(ポリブチレンテレフタレート)等の樹脂製であっ
て、略円筒状に形成されていて、ボディ2の凹部5に挿
入されている。そして、インシュレータ11は、位置決
めリング6と共にボディ2に接着されている。
【0023】インシュレータ11には、板バネ12,1
3が設けられている。板バネ12,13は、例えばステ
ンレス製であって略L字状に屈曲形成されている。板バ
ネ12,13の一端はそれぞれインシュレータ11に固
着され、他端はそれぞれセンサチップ9の両端上面に押
圧されている。センサチップ9は、その両端に加わる板
バネ12,13の押圧力によってダイアフラム4に対し
て押圧保持されている。
3が設けられている。板バネ12,13は、例えばステ
ンレス製であって略L字状に屈曲形成されている。板バ
ネ12,13の一端はそれぞれインシュレータ11に固
着され、他端はそれぞれセンサチップ9の両端上面に押
圧されている。センサチップ9は、その両端に加わる板
バネ12,13の押圧力によってダイアフラム4に対し
て押圧保持されている。
【0024】そして、流体の圧力Pによってダイアフラ
ム4がたわむと、そのたわみによる応力は凸部4aによ
ってセンサチップ9の中央部に伝達される。このとき、
センサチップ9の両端には、板バネ12,13が押圧さ
れている。従って、センサチップ9は、図4(a)に示
すように、板バネ12,13が押圧された両端を支点と
する梁と同様にたわむ。すると、センサチップ9には、
図4(b)に示すように、上面全体に両端へ引っ張る張
力が発生する。そして、センサチップ9上面に形成され
た薄膜歪みゲージR1〜R4は、発生する張力によって
それらの抵抗値が変化する。ところで、薄膜歪みゲージ
R1,R2の抵抗値は主に張力によって変化するように
形成され、薄膜歪みゲージR3,R4の抵抗値は主に圧
縮力によって変化するように形成されている。従って、
薄膜歪みゲージR1,R2の抵抗値は張力、即ち、流体
の圧力に応じて変化し、薄膜歪みゲージR3,R4の抵
抗値はほとんど変化しないようになっている。
ム4がたわむと、そのたわみによる応力は凸部4aによ
ってセンサチップ9の中央部に伝達される。このとき、
センサチップ9の両端には、板バネ12,13が押圧さ
れている。従って、センサチップ9は、図4(a)に示
すように、板バネ12,13が押圧された両端を支点と
する梁と同様にたわむ。すると、センサチップ9には、
図4(b)に示すように、上面全体に両端へ引っ張る張
力が発生する。そして、センサチップ9上面に形成され
た薄膜歪みゲージR1〜R4は、発生する張力によって
それらの抵抗値が変化する。ところで、薄膜歪みゲージ
R1,R2の抵抗値は主に張力によって変化するように
形成され、薄膜歪みゲージR3,R4の抵抗値は主に圧
縮力によって変化するように形成されている。従って、
薄膜歪みゲージR1,R2の抵抗値は張力、即ち、流体
の圧力に応じて変化し、薄膜歪みゲージR3,R4の抵
抗値はほとんど変化しないようになっている。
【0025】図5は、流体の圧力Pが加わった時のセン
サチップ9の長手方向における応力によるセンサチップ
9の歪み量を示す特性図である。流体の圧力Pが加わっ
た時、センサチップ9の歪み量は、中央部で最も大き
く、両端に行く従って緩やかに減少する。従って、セン
サチップ9の位置がずれたとしても、センサチップ9の
歪み量はあまり変化しない。
サチップ9の長手方向における応力によるセンサチップ
9の歪み量を示す特性図である。流体の圧力Pが加わっ
た時、センサチップ9の歪み量は、中央部で最も大き
く、両端に行く従って緩やかに減少する。従って、セン
サチップ9の位置がずれたとしても、センサチップ9の
歪み量はあまり変化しない。
【0026】例えば、センサチップ9の位置がずれる
と、センサチップ9の中心から距離a離れた位置に形成
された歪みゲージR1は距離Δaだけ位置がずれる。こ
のとき、歪みゲージR1の抵抗値の変化は、距離Δaに
対応してΔRだけ位置ずれによって変化する。この変化
量ΔRは、図9に示す従来の圧力センサ50の変化量Δ
Rに比べて少なくなる。そのため、薄膜歪みゲージR
1,R2の抵抗値は、センサチップ9の位置ずれによる
変化量が従来に比べて少なくなるので、センサチップ9
からの出力電圧の変化は少なくなる。
と、センサチップ9の中心から距離a離れた位置に形成
された歪みゲージR1は距離Δaだけ位置がずれる。こ
のとき、歪みゲージR1の抵抗値の変化は、距離Δaに
対応してΔRだけ位置ずれによって変化する。この変化
量ΔRは、図9に示す従来の圧力センサ50の変化量Δ
Rに比べて少なくなる。そのため、薄膜歪みゲージR
1,R2の抵抗値は、センサチップ9の位置ずれによる
変化量が従来に比べて少なくなるので、センサチップ9
からの出力電圧の変化は少なくなる。
【0027】また、インシュレータ11には、端子14
a〜14fが設けられている。各端子14a〜14f
は、センサチップ9上面に形成されたパッド10a〜1
0fと、それぞれワイヤ15a〜15fを介して電気的
に接続されている。
a〜14fが設けられている。各端子14a〜14f
は、センサチップ9上面に形成されたパッド10a〜1
0fと、それぞれワイヤ15a〜15fを介して電気的
に接続されている。
【0028】図3に示すように、端子14a〜14fに
は基板16が接続されている。基板16には種々の電子
部品が搭載されて増幅回路部17が構成されている。増
幅回路部17は、増幅回路部17はコネクタ部18に設
けられた外部端子19から供給される駆動電源に基づい
て動作し、センサチップ9から出力される出力電圧を増
幅し、外部端子19を介して外部へ出力するようになっ
ている。
は基板16が接続されている。基板16には種々の電子
部品が搭載されて増幅回路部17が構成されている。増
幅回路部17は、増幅回路部17はコネクタ部18に設
けられた外部端子19から供給される駆動電源に基づい
て動作し、センサチップ9から出力される出力電圧を増
幅し、外部端子19を介して外部へ出力するようになっ
ている。
【0029】次に、上記のように構成された圧力センサ
1の作用を説明する。圧力センサ1のダイアフラム4
は、導入孔3から導入された流体の圧力Pに応じてたわ
む。センサチップ9の中央部にはダイアフラム4のたわ
みによる応力が凸部4aを介して伝達される。そして、
センサチップ9は、板バネ12,13が押圧された両端
を支点としてたわむ。すると、薄膜歪みゲージR1〜R
4にはたわみによる張力が加えられ、その張力に応じて
それらの抵抗値が変化する。抵抗値が変化した薄膜歪み
ゲージR1〜R4は、増幅回路部から供給される駆動電
源をそれら薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値による分
圧抵抗による分圧電圧を生成し、その分圧電圧をワイヤ
15b,15e及び端子14b,14eを介して出力電
圧として増幅回路部17へ出力する。増幅回路部17
は、入力した出力電圧を増幅し、外部端子19を介して
外部へ出力する。
1の作用を説明する。圧力センサ1のダイアフラム4
は、導入孔3から導入された流体の圧力Pに応じてたわ
む。センサチップ9の中央部にはダイアフラム4のたわ
みによる応力が凸部4aを介して伝達される。そして、
センサチップ9は、板バネ12,13が押圧された両端
を支点としてたわむ。すると、薄膜歪みゲージR1〜R
4にはたわみによる張力が加えられ、その張力に応じて
それらの抵抗値が変化する。抵抗値が変化した薄膜歪み
ゲージR1〜R4は、増幅回路部から供給される駆動電
源をそれら薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値による分
圧抵抗による分圧電圧を生成し、その分圧電圧をワイヤ
15b,15e及び端子14b,14eを介して出力電
圧として増幅回路部17へ出力する。増幅回路部17
は、入力した出力電圧を増幅し、外部端子19を介して
外部へ出力する。
【0030】ところで、センサチップ9の位置がずれて
いると、薄膜歪みゲージR1〜R4には、センサチップ
9のずれ(歪み量)に応じた張力が加えられ、それらの
抵抗値はその張力に応じた値となる。そして、センサチ
ップ9の歪み量は、ダイアフラム4の中心からなだらか
に変化し、その変化量は従来に比べて少なくなってい
る。従って、薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値の変化
も従来に比べて少なくなり、その抵抗値の変化による分
圧電圧の変化は、薄膜歪みゲージR1〜R4の配置によ
って補正できる範囲となる。
いると、薄膜歪みゲージR1〜R4には、センサチップ
9のずれ(歪み量)に応じた張力が加えられ、それらの
抵抗値はその張力に応じた値となる。そして、センサチ
ップ9の歪み量は、ダイアフラム4の中心からなだらか
に変化し、その変化量は従来に比べて少なくなってい
る。従って、薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値の変化
も従来に比べて少なくなり、その抵抗値の変化による分
圧電圧の変化は、薄膜歪みゲージR1〜R4の配置によ
って補正できる範囲となる。
【0031】上記したように、本実施例の圧力センサ1
によれば、センサチップ9をインシュレータ11に取着
した板バネ12,13の弾性力によってダイアフラム4
に対して押圧保持するようにした。その結果、位置ずれ
に対するセンサチップ9の歪み量の変化を少なくするこ
とができ、薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値の変化を
従来に比べて少なくすることができるので、出力電圧の
変動を押さえることができる。
によれば、センサチップ9をインシュレータ11に取着
した板バネ12,13の弾性力によってダイアフラム4
に対して押圧保持するようにした。その結果、位置ずれ
に対するセンサチップ9の歪み量の変化を少なくするこ
とができ、薄膜歪みゲージR1〜R4の抵抗値の変化を
従来に比べて少なくすることができるので、出力電圧の
変動を押さえることができる。
【0032】尚、本発明は以下のように変更してもよ
く、その場合にも同様の作用及び効果が得られる。 1)上記実施例では、弾性体として板バネ12,13を
用いて実施したが、コイルスプリング等のバネを用いて
実施してもよい。また、バネ以外に、エアークッショ
ン、ゴム等を用いて実施してもよい。
く、その場合にも同様の作用及び効果が得られる。 1)上記実施例では、弾性体として板バネ12,13を
用いて実施したが、コイルスプリング等のバネを用いて
実施してもよい。また、バネ以外に、エアークッショ
ン、ゴム等を用いて実施してもよい。
【0033】2)上記実施例では、ステンレス製の板バ
ネ12,13を用いたが、ベリリウム銅等の他の材質を
用いて実施してもよい。 3)上記実施例では、センサチップ9の上面に薄膜歪み
ゲージR1〜R4を形成したが、拡散歪みゲージを形成
して実施してもよい。
ネ12,13を用いたが、ベリリウム銅等の他の材質を
用いて実施してもよい。 3)上記実施例では、センサチップ9の上面に薄膜歪み
ゲージR1〜R4を形成したが、拡散歪みゲージを形成
して実施してもよい。
【0034】以上、この発明の各実施例について説明し
たが、各実施例から把握できる請求項以外の技術思想に
ついて、以下にそれらの効果とともに記載する。 イ)請求項3に記載の圧力センサにおいて、前記弾性体
は板バネ12,13である。この構成によると、センサ
チップ9を容易に押圧保持することが可能となる。
たが、各実施例から把握できる請求項以外の技術思想に
ついて、以下にそれらの効果とともに記載する。 イ)請求項3に記載の圧力センサにおいて、前記弾性体
は板バネ12,13である。この構成によると、センサ
チップ9を容易に押圧保持することが可能となる。
【0035】ロ)請求項1〜3、上記イ)に記載の圧力
センサにおいて、センサチップ9からの検出信号を増幅
する増幅回路部17が備えられている。この構成による
と、センサチップ9からの検出信号を容易に増幅し出力
することが可能となる。
センサにおいて、センサチップ9からの検出信号を増幅
する増幅回路部17が備えられている。この構成による
と、センサチップ9からの検出信号を容易に増幅し出力
することが可能となる。
【0036】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、歪
みゲージの位置ずれに対する出力の変動を抑えることが
可能な圧力センサを提供することができる。
みゲージの位置ずれに対する出力の変動を抑えることが
可能な圧力センサを提供することができる。
【図1】 一実施例の圧力センサの断面図。
【図2】 一実施例の圧力センサの平面図。
【図3】 一実施例の圧力センサ全体を示す断面図。
【図4】 (a) は圧力を受けたときのセンサチップの概
略図、(b) は(a) のセンサチップに加わる応力を示す説
明図。
略図、(b) は(a) のセンサチップに加わる応力を示す説
明図。
【図5】 一実施例の圧力センサの特性図。
【図6】 (a) は従来の圧力センサの平面図、(b) は
(a) の断面図。
(a) の断面図。
【図7】 センサチップの回路図。
【図8】 (a) は圧力を受けたときの従来のセンサチッ
プの概略図、(b) は(a) のセンサチップに加わる応力を
示す説明図。
プの概略図、(b) は(a) のセンサチップに加わる応力を
示す説明図。
【図9】 従来の圧力センサの特性図。
2…ボディ、4…ダイアフラム、6…位置決めリング、
7,8…位置決め部、9…センサチップ、11…押圧部
材としてのインシュレータ、12,13…押圧部材,弾
性体としての板バネ、17…増幅回路部、R1〜R4…
圧電変換素子としての薄膜歪みゲージ。
7,8…位置決め部、9…センサチップ、11…押圧部
材としてのインシュレータ、12,13…押圧部材,弾
性体としての板バネ、17…増幅回路部、R1〜R4…
圧電変換素子としての薄膜歪みゲージ。
Claims (3)
- 【請求項1】 ボディ(2)に形成され、流体の圧力に
よってたわむダイアフラム(4)と、 その上面に圧電変換素子(R1〜R4)が形成され、ダ
イアフラム(4)のたわみによる応力を検出した検出信
号を出力するセンサチップ(9)と、 前記センサチップ(9)両端を前記ダイアフラムに対し
て押圧保持する押圧部材(11〜13)とを備えた圧力
センサ。 - 【請求項2】 請求項1に記載の圧力センサにおいて、 前記ボディ(2)には、前記ダイアフラム(3)に対す
る前記センサチップ(9)の位置を決定するための位置
決め部(7,8)が形成された位置決めリング(6)を
備えた圧力センサ。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載の圧力センサにお
いて、 前記押圧部材は、 前記ボディ(2)に固着されたインシュレータ(11)
と、 前記インシュレータ(11)に取着され、前記センサチ
ップ(9)を押圧保持する弾性体(12,13)とから
構成された圧力センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15962695A JPH098328A (ja) | 1995-06-26 | 1995-06-26 | 圧力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15962695A JPH098328A (ja) | 1995-06-26 | 1995-06-26 | 圧力センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH098328A true JPH098328A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15697837
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15962695A Pending JPH098328A (ja) | 1995-06-26 | 1995-06-26 | 圧力センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH098328A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014112350A1 (ja) * | 2013-01-17 | 2014-07-24 | パナソニック株式会社 | 圧力センサ |
-
1995
- 1995-06-26 JP JP15962695A patent/JPH098328A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014112350A1 (ja) * | 2013-01-17 | 2014-07-24 | パナソニック株式会社 | 圧力センサ |
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