JPH0954012A - 発光中心の位置検出装置 - Google Patents
発光中心の位置検出装置Info
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- JPH0954012A JPH0954012A JP20809295A JP20809295A JPH0954012A JP H0954012 A JPH0954012 A JP H0954012A JP 20809295 A JP20809295 A JP 20809295A JP 20809295 A JP20809295 A JP 20809295A JP H0954012 A JPH0954012 A JP H0954012A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】レーザダイオード等の発光点の中心を検出す
る。 【解決手段】２次元カメラ１０１の画像信号ａ１の量子
化された画像信号ａは画像メモリ部１０３に格納され、
メモリ部１０３のメモリ出力信号ａ３がＸ軸反転部１０
４でＹ軸を対称線として反転されたＸ軸反転画像信号ａ
４は、Ｘ軸画像シフト部１０でＸ軸方向にシフトされて
Ｘ軸シフト画像信号ａ５となる。Ｘ軸重なり検出部１０
６はメモリ出力信号ａ３とＸ軸シフト画像信号ａ５にお
ける、各画素の階調データの積を求め、Ｘ軸重なり面積
信号ａ６として出力する。Ｘ軸最大面積判定部１０７は
Ｘ軸重なり面積信号ａ６の各画素データの総和が最大と
なる時のＸ軸画像シフト部による画像シフト量を判定
し、Ｘ軸最大判定信号ａ７を出力する。Ｘ軸最大面積判
定部１０７が判定したＸ軸重なり面積信号ａ６から重み
付きで発光中心位置を算出する。Ｙ軸方向についても同
様に行う。
る。 【解決手段】２次元カメラ１０１の画像信号ａ１の量子
化された画像信号ａは画像メモリ部１０３に格納され、
メモリ部１０３のメモリ出力信号ａ３がＸ軸反転部１０
４でＹ軸を対称線として反転されたＸ軸反転画像信号ａ
４は、Ｘ軸画像シフト部１０でＸ軸方向にシフトされて
Ｘ軸シフト画像信号ａ５となる。Ｘ軸重なり検出部１０
６はメモリ出力信号ａ３とＸ軸シフト画像信号ａ５にお
ける、各画素の階調データの積を求め、Ｘ軸重なり面積
信号ａ６として出力する。Ｘ軸最大面積判定部１０７は
Ｘ軸重なり面積信号ａ６の各画素データの総和が最大と
なる時のＸ軸画像シフト部による画像シフト量を判定
し、Ｘ軸最大判定信号ａ７を出力する。Ｘ軸最大面積判
定部１０７が判定したＸ軸重なり面積信号ａ６から重み
付きで発光中心位置を算出する。Ｙ軸方向についても同
様に行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザダイオードや
発光ダイオード等の発光素子の発光中心位置を検出する
発光中心の位置検出装置に関する。
発光ダイオード等の発光素子の発光中心位置を検出する
発光中心の位置検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】特開昭６３−３１３０３１号公報に示さ
れている従来の発光素子の発光点位置測定装置は、レー
ザダイオードや発光ダイオードの発光点の中心位置を検
出する装置で発光素子を撮像する２次元カメラと、この
２次元カメラの画像信号を２値化処理する画像処理装置
と、この画像処理装置で得られた２値化画像信号をもと
にして発光中心を計算する発光点位置検出手段とを備え
ている。
れている従来の発光素子の発光点位置測定装置は、レー
ザダイオードや発光ダイオードの発光点の中心位置を検
出する装置で発光素子を撮像する２次元カメラと、この
２次元カメラの画像信号を２値化処理する画像処理装置
と、この画像処理装置で得られた２値化画像信号をもと
にして発光中心を計算する発光点位置検出手段とを備え
ている。
【０００３】２次元カメラで撮像され、画像処理装置で
２値化された発光素子の画像は、発光素子からカメラま
での距離（以後Ｚ軸距離という）によって図５のように
形を変える。図５（ａ），（ｂ）はＺ軸距離が適正な場
合であり、メッシュライン（図中の縦横の線）上の２値
化画像信号の変化点Ｃの数は最大で２である。図５
（ｃ），（ｄ）はＺ軸距離が適正値からずれた場合で、
変化点Ｃの数が３以上になるメッシュラインが出現す
る。
２値化された発光素子の画像は、発光素子からカメラま
での距離（以後Ｚ軸距離という）によって図５のように
形を変える。図５（ａ），（ｂ）はＺ軸距離が適正な場
合であり、メッシュライン（図中の縦横の線）上の２値
化画像信号の変化点Ｃの数は最大で２である。図５
（ｃ），（ｄ）はＺ軸距離が適正値からずれた場合で、
変化点Ｃの数が３以上になるメッシュラインが出現す
る。
【０００４】従ってこの測定装置では前記画像処理装置
で得られた２値化発光点像をメッシュライン上にて走査
しこのメッシュラインが２値化発光点像の縁部を横切る
変化点を検出し、少なくとも１つのメッシュラインにつ
いて３つ以上の変化点が検出された場合はＺ軸距離が測
定範囲外にあると判定する。各メッシュラインで変化点
が２つ以下ならばＺ軸距離が測定範囲内にあると判定
し、２値化画像の発光像の重心を求めてその重心を発光
点の中心とする。
で得られた２値化発光点像をメッシュライン上にて走査
しこのメッシュラインが２値化発光点像の縁部を横切る
変化点を検出し、少なくとも１つのメッシュラインにつ
いて３つ以上の変化点が検出された場合はＺ軸距離が測
定範囲外にあると判定する。各メッシュラインで変化点
が２つ以下ならばＺ軸距離が測定範囲内にあると判定
し、２値化画像の発光像の重心を求めてその重心を発光
点の中心とする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来の発光点の
位置検出装置は、２値化発光点像が２つ以上の像に分離
することはＺ軸距離が不適当な場合（カメラの焦点ボ
ケ）で測定不能の場合としているが、Ｚ軸距離が測定範
囲内からずれていない場合にも製品によっては製品内部
で反射を起こし、２値化発光点像が２つ以上の像に分離
することがあり、誤って動作することがあった。ただ
し、２値化発光点像が２つ以上の像に分離する理由につ
いては本発明の範ちゅうではないので省略する。
位置検出装置は、２値化発光点像が２つ以上の像に分離
することはＺ軸距離が不適当な場合（カメラの焦点ボ
ケ）で測定不能の場合としているが、Ｚ軸距離が測定範
囲内からずれていない場合にも製品によっては製品内部
で反射を起こし、２値化発光点像が２つ以上の像に分離
することがあり、誤って動作することがあった。ただ
し、２値化発光点像が２つ以上の像に分離する理由につ
いては本発明の範ちゅうではないので省略する。
【０００６】本発明は上記に対処したものであり２値化
発光点像が２つ以上の分離した場合でも安定して発光点
の中心位置の検出ができる発光中心の位置検出装置を提
供する事を目的としている。
発光点像が２つ以上の分離した場合でも安定して発光点
の中心位置の検出ができる発光中心の位置検出装置を提
供する事を目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の発光中心の位置
検出装置は、発光素子の画像を撮影しデジタル画像信号
を出力する画像入力部と、前記デジタル画像信号を入力
し前記発光素子の画像をＹ軸を対称線として反転したＸ
軸反転画像のＸ軸反転画像信号を出力するＸ軸反転部
と、前記Ｘ軸反転画像信号を入力し前記Ｘ軸反転画像を
Ｘ軸方向にシフトした画像のＸ軸シフト画像信号を出力
するＸ軸画像シフト部と、前記デジタル画像信号及び前
記Ｘ軸シフト画像信号を入力しＸ軸重なり面積信号を出
力するＸ軸重なり検出部と、前記Ｘ軸重なり面積信号か
ら最大面積位置を判定するＸ軸最大面積判定部と、前記
Ｘ軸重なり面積信号からＸ軸中心位置を重み付きで算出
するＸ軸中心演算部と、前記デジタル画像信号を入力し
前記発光素子の画像をＸ軸を対称線として反転したＹ軸
反転画像のＹ軸反転画像信号を出力するＹ軸反転部と、
前記Ｙ軸反転画像信号を入力し前記Ｙ軸反転画像をＹ軸
方向にシフトした画像のＹ軸シフト画像信号を出力する
Ｙ軸画像シフト部と、前記デジタル画像信号とＹ軸シフ
ト画像信号からＹ軸重なり面積信号を出力するＹ軸重な
り検出部と、前記Ｙ軸重なり面積信号から最大面積位置
を判定するＹ軸最大面積判定部と、前記Ｙ軸重なり面積
信号からＹ軸中心位置を重み付きで演算するＹ軸中心演
算部とを備えている。
検出装置は、発光素子の画像を撮影しデジタル画像信号
を出力する画像入力部と、前記デジタル画像信号を入力
し前記発光素子の画像をＹ軸を対称線として反転したＸ
軸反転画像のＸ軸反転画像信号を出力するＸ軸反転部
と、前記Ｘ軸反転画像信号を入力し前記Ｘ軸反転画像を
Ｘ軸方向にシフトした画像のＸ軸シフト画像信号を出力
するＸ軸画像シフト部と、前記デジタル画像信号及び前
記Ｘ軸シフト画像信号を入力しＸ軸重なり面積信号を出
力するＸ軸重なり検出部と、前記Ｘ軸重なり面積信号か
ら最大面積位置を判定するＸ軸最大面積判定部と、前記
Ｘ軸重なり面積信号からＸ軸中心位置を重み付きで算出
するＸ軸中心演算部と、前記デジタル画像信号を入力し
前記発光素子の画像をＸ軸を対称線として反転したＹ軸
反転画像のＹ軸反転画像信号を出力するＹ軸反転部と、
前記Ｙ軸反転画像信号を入力し前記Ｙ軸反転画像をＹ軸
方向にシフトした画像のＹ軸シフト画像信号を出力する
Ｙ軸画像シフト部と、前記デジタル画像信号とＹ軸シフ
ト画像信号からＹ軸重なり面積信号を出力するＹ軸重な
り検出部と、前記Ｙ軸重なり面積信号から最大面積位置
を判定するＹ軸最大面積判定部と、前記Ｙ軸重なり面積
信号からＹ軸中心位置を重み付きで演算するＹ軸中心演
算部とを備えている。
【０００８】
【発明の実施の形態】次に本発明について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００９】図１は本発明の実施の一形態のブロック図
である。
である。
【００１０】本形態は、レーザダイオード（以後ＬＤと
いう）を撮像する２次元カメラ１０１と２次元カメラ１
０１からの画像信号ａ１から８階調画像信号ａ２を出力
する画像処理部１０２と、８階調画像信号ａ２を一時保
存する画像メモリ部１０３と、画像メモリ部１０３のメ
モリ出力信号ａ３からＸ軸反転画像信号ａ４を出力する
Ｘ軸反転部１０４と、Ｘ軸反転画像信号ａ４からＸ軸方
向にシフトしたＸ軸シフト画像信号ａ５を出力するＸ軸
画像シフト部１０５と、メモリ出力信号ａ３とＸ軸シフ
ト画像信号ａ５とからＸ軸重なり面積信号ａ６を出力す
るＸ軸重なり検出部１０６と、Ｘ軸重なり面積信号ａ６
から最大面積位置を判定するＸ軸最大面積判定部１０７
と、Ｘ軸重なり面積信号ａ６からＸ軸中心位置を重み付
きで演算するＸ軸中心演算部１０８と、メモリ出力信号
ａ３からＹ軸反転画像信号ａ９を出力するＹ軸反転部１
０９と、Ｙ軸反転画像信号ａ９からＹ軸方向にシフトし
たＹ軸シフト画像信号ａ１０を出力するＹ軸画像シフト
部１１０と、メモリ出力信号ａ３とＹ軸シフト画像信号
ａ１０からＹ軸重なり面積信号ａ１１を出力するＹ軸重
なり検出部１１１と、Ｙ軸重なり面積信号ａ１１から最
大面積位置を判定すＹ軸最大面積判定部１１２と、Ｙ軸
重なり面積信号ａ１１からＹ軸中心位置を重み付きで演
算するＹ軸中心演算部１１３とから構成される。
いう）を撮像する２次元カメラ１０１と２次元カメラ１
０１からの画像信号ａ１から８階調画像信号ａ２を出力
する画像処理部１０２と、８階調画像信号ａ２を一時保
存する画像メモリ部１０３と、画像メモリ部１０３のメ
モリ出力信号ａ３からＸ軸反転画像信号ａ４を出力する
Ｘ軸反転部１０４と、Ｘ軸反転画像信号ａ４からＸ軸方
向にシフトしたＸ軸シフト画像信号ａ５を出力するＸ軸
画像シフト部１０５と、メモリ出力信号ａ３とＸ軸シフ
ト画像信号ａ５とからＸ軸重なり面積信号ａ６を出力す
るＸ軸重なり検出部１０６と、Ｘ軸重なり面積信号ａ６
から最大面積位置を判定するＸ軸最大面積判定部１０７
と、Ｘ軸重なり面積信号ａ６からＸ軸中心位置を重み付
きで演算するＸ軸中心演算部１０８と、メモリ出力信号
ａ３からＹ軸反転画像信号ａ９を出力するＹ軸反転部１
０９と、Ｙ軸反転画像信号ａ９からＹ軸方向にシフトし
たＹ軸シフト画像信号ａ１０を出力するＹ軸画像シフト
部１１０と、メモリ出力信号ａ３とＹ軸シフト画像信号
ａ１０からＹ軸重なり面積信号ａ１１を出力するＹ軸重
なり検出部１１１と、Ｙ軸重なり面積信号ａ１１から最
大面積位置を判定すＹ軸最大面積判定部１１２と、Ｙ軸
重なり面積信号ａ１１からＹ軸中心位置を重み付きで演
算するＹ軸中心演算部１１３とから構成される。
【００１１】図２（ａ）は画像メモリ部１０３に格納さ
れた画像信号ａ２のイメージ図である。図２（ｂ）は図
２（ａ）に示すイメージをはＸ軸反転部１０４でＹ軸を
対称線としてＸ座標＝０の線で反転したＸ軸反転画像信
号ａ４のイメージ図を示す。Ｘ軸及びＹ軸は２次元カメ
ラ１０１が撮像した画像の中心を通る直交座標軸であ
る。また図２（ｃ）はメモリ出力信号ａ３とＸ軸画像シ
フト部１０５によるシフト量が０であった時のＸ軸反転
画像信号ａ４を重ね合わせたＸ軸重なり面積信号ａ６の
イメージとして図２（ａ）と図２（ｂ）のイメージを重
ね合わせたイメージの図を示す。
れた画像信号ａ２のイメージ図である。図２（ｂ）は図
２（ａ）に示すイメージをはＸ軸反転部１０４でＹ軸を
対称線としてＸ座標＝０の線で反転したＸ軸反転画像信
号ａ４のイメージ図を示す。Ｘ軸及びＹ軸は２次元カメ
ラ１０１が撮像した画像の中心を通る直交座標軸であ
る。また図２（ｃ）はメモリ出力信号ａ３とＸ軸画像シ
フト部１０５によるシフト量が０であった時のＸ軸反転
画像信号ａ４を重ね合わせたＸ軸重なり面積信号ａ６の
イメージとして図２（ａ）と図２（ｂ）のイメージを重
ね合わせたイメージの図を示す。
【００１２】２次元カメラ１０１の画像信号ａ１は画像
処理部１０２で８階調画像信号ａ２に量子化され、画像
分解能±１２８画素のメモリを持つ画像メモリ部１０３
に格納される。メモリ出力信号ａ３はＸ軸反転部１０４
でＹ軸を対称線としてＸ座標＝０の線でＸ座標が反転さ
れたＸ軸反転画像信号ａ４となる。Ｘ軸画像シフト部１
０５はメモリ出力信号ａ３とＸ軸反転画像信号ａ４を重
ね合わせて重なり部の最大面積と最大となる位置を求め
るためにＸ軸反転画像信号ａ４を±１２８画素の範囲で
Ｘ軸方向にシフトしたＸ軸シフト画像信号ａ５を出力す
る。Ｘ軸重なり検出部１０６はメモリ出力信号ａ３とＸ
軸シフト画像信号ａ５における、各画素の階調データの
積を求め、Ｘ軸重なり面積信号ａ６の各画素データとし
て出力する。
処理部１０２で８階調画像信号ａ２に量子化され、画像
分解能±１２８画素のメモリを持つ画像メモリ部１０３
に格納される。メモリ出力信号ａ３はＸ軸反転部１０４
でＹ軸を対称線としてＸ座標＝０の線でＸ座標が反転さ
れたＸ軸反転画像信号ａ４となる。Ｘ軸画像シフト部１
０５はメモリ出力信号ａ３とＸ軸反転画像信号ａ４を重
ね合わせて重なり部の最大面積と最大となる位置を求め
るためにＸ軸反転画像信号ａ４を±１２８画素の範囲で
Ｘ軸方向にシフトしたＸ軸シフト画像信号ａ５を出力す
る。Ｘ軸重なり検出部１０６はメモリ出力信号ａ３とＸ
軸シフト画像信号ａ５における、各画素の階調データの
積を求め、Ｘ軸重なり面積信号ａ６の各画素データとし
て出力する。
【００１３】本発明の理解を容易にするために、さらに
図３，図４を用いて詳しく説明する。図３（ａ）におい
てメモリ出力信号ａ３は画像の中心を座標（０，０）と
し、中心からＸＹ方向にそれぞれ±１２８画素を有し、
各画素の階調をＭx,y で表す（Ｘ方向は右側をプラス，
左側をマイナス，Ｙ軸方向は上側をプラス，下側をマイ
ナスとし、Ｘ，Ｙは−１２８〜＋１２８の整数を表わ
す）。
図３，図４を用いて詳しく説明する。図３（ａ）におい
てメモリ出力信号ａ３は画像の中心を座標（０，０）と
し、中心からＸＹ方向にそれぞれ±１２８画素を有し、
各画素の階調をＭx,y で表す（Ｘ方向は右側をプラス，
左側をマイナス，Ｙ軸方向は上側をプラス，下側をマイ
ナスとし、Ｘ，Ｙは−１２８〜＋１２８の整数を表わ
す）。
【００１４】Ｘ軸反転部１０４ではメモリ出力信号ａ３
から、Ｘ＝０の線でＸ軸の符号を反転したＸ軸反転画像
信号ａ４を出力する。さらにＸ軸画像シフト部１０５で
はＸ軸反転画像信号ａ４から、座標系に対して画像を１
画素分移動させたＸ軸シフト画像信号ａ５を出力する
（例えば座標（０，０）の画素は座標（１，０）に移動
する）。図３（ｂ）においてＸ軸シフト画像信号ａ５に
よる各画素の階調をＭＳx,y で表わす。
から、Ｘ＝０の線でＸ軸の符号を反転したＸ軸反転画像
信号ａ４を出力する。さらにＸ軸画像シフト部１０５で
はＸ軸反転画像信号ａ４から、座標系に対して画像を１
画素分移動させたＸ軸シフト画像信号ａ５を出力する
（例えば座標（０，０）の画素は座標（１，０）に移動
する）。図３（ｂ）においてＸ軸シフト画像信号ａ５に
よる各画素の階調をＭＳx,y で表わす。
【００１５】Ｘ軸重なり面積信号ａ６はメモリ出力信号
ａ３とＸ軸シフト画像信号ａ５の同座標の画素データを
積として出力される。図３（ｃ）においてＸ軸重なり面
積信号ａ６の各画素の階調をＭＫx,y で表わし、メモリ
出力信号ａ３とＸ軸シフト画像信号ａ５とＸ軸重なり面
積信号ａ６との関係式を下記に示す。
ａ３とＸ軸シフト画像信号ａ５の同座標の画素データを
積として出力される。図３（ｃ）においてＸ軸重なり面
積信号ａ６の各画素の階調をＭＫx,y で表わし、メモリ
出力信号ａ３とＸ軸シフト画像信号ａ５とＸ軸重なり面
積信号ａ６との関係式を下記に示す。
【００１６】
【００１７】Ｘ軸最大面積判定部１０７はＸ軸重なり面
積信号ａ６の各画素データの総和を求める（以後、濃度
和Ｓという）。濃度和Ｓを求める式を下記に示す。
積信号ａ６の各画素データの総和を求める（以後、濃度
和Ｓという）。濃度和Ｓを求める式を下記に示す。
【００１８】
【００１９】この濃度和Ｓが最大となる時のＸ軸画像シ
フト部による画像シフト量を判定し、Ｘ軸最大判定信号
ａ７を出力する。シフト量と濃度和Ｓの関係を図４に示
す。Ｘ軸中心演算部１０８はＸ軸最大判定信号ａ７とＸ
軸重なり面積信号ａ６より、重なり面積が最大と判定し
た画像シフト量のＸ軸重なり面積信号から重み付きで発
光中心位置を演算し、Ｘ軸中心位置座標ａ８を出力す
る。
フト部による画像シフト量を判定し、Ｘ軸最大判定信号
ａ７を出力する。シフト量と濃度和Ｓの関係を図４に示
す。Ｘ軸中心演算部１０８はＸ軸最大判定信号ａ７とＸ
軸重なり面積信号ａ６より、重なり面積が最大と判定し
た画像シフト量のＸ軸重なり面積信号から重み付きで発
光中心位置を演算し、Ｘ軸中心位置座標ａ８を出力す
る。
【００２０】また、Ｙ軸反転画像信号ａ９を出力するＹ
軸反転部１０９，Ｙ軸シフト画像信号ａ１０を出力する
Ｙ軸画像シフト部１１０，Ｙ軸重なり面積信号ａ１１を
出力するＹ軸重なり検出部１１１，Ｙ軸最大判定信号ａ
１２を出力するＹ軸最大面積判定部１１２及びＹ軸中心
演算部１１３についてもＸ軸と同様に動作することによ
ってＹ軸中心位置座標ａ１３を出力し発光点の中心座標
を求める。
軸反転部１０９，Ｙ軸シフト画像信号ａ１０を出力する
Ｙ軸画像シフト部１１０，Ｙ軸重なり面積信号ａ１１を
出力するＹ軸重なり検出部１１１，Ｙ軸最大判定信号ａ
１２を出力するＹ軸最大面積判定部１１２及びＹ軸中心
演算部１１３についてもＸ軸と同様に動作することによ
ってＹ軸中心位置座標ａ１３を出力し発光点の中心座標
を求める。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明はＸ軸、Ｙ軸
を対称線として画像中心で反転させた画像と元の画像の
重なり量が最大となる位置の重心を発光中心として検出
できるため２次元カメラで撮像した発光点が２つ以上に
分離していたり変形していた場合でも精度良く発光点中
心が求められるという優れた効果を有する。
を対称線として画像中心で反転させた画像と元の画像の
重なり量が最大となる位置の重心を発光中心として検出
できるため２次元カメラで撮像した発光点が２つ以上に
分離していたり変形していた場合でも精度良く発光点中
心が求められるという優れた効果を有する。
【図１】本発明の実施の一形態のブロック図である。
【図２】（ａ）〜（ｃ）はそれぞれ図１に示す画像信号
ａ２によるイメージを示す図，Ｘ軸反転画像信号ａ４に
よるイメージを示す図及びＸ軸重なり面積信号によるイ
メージを示す図である。
ａ２によるイメージを示す図，Ｘ軸反転画像信号ａ４に
よるイメージを示す図及びＸ軸重なり面積信号によるイ
メージを示す図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）はそれぞれ図１に示す画像信号
ａ２による画素を示す図、Ｘ軸シフト画像信号ａ５によ
る画素を示す図及びＸ軸重なり面積信号ａ６による画素
を示す図である。
ａ２による画素を示す図、Ｘ軸シフト画像信号ａ５によ
る画素を示す図及びＸ軸重なり面積信号ａ６による画素
を示す図である。
【図４】図１に示すＸ軸画像シフト部１０５によるシフ
ト量とＸ軸最大面積判定部１０７により求めた濃度和Ｓ
の関係を示す図である。
ト量とＸ軸最大面積判定部１０７により求めた濃度和Ｓ
の関係を示す図である。
【図５】従来の発光中心の位置検出装置でのＺ軸距離が
測定範囲内であるか否かを説明する図である。
測定範囲内であるか否かを説明する図である。
１０１ ２次元カメラ １０２ 画像処理部 １０３ 画像メモリ部 １０４ Ｘ軸反転部 １０５ Ｘ軸画像シフト部 １０６ Ｘ軸重なり検出部 １０７ Ｘ軸最大面積判定部 １０８ Ｘ軸中心演算部 １０９ Ｙ軸反転部 １１０ Ｙ軸画像シフト部 １１１ Ｙ軸重なり検出部 １１２ Ｙ軸最大面積判定部 １１３ Ｙ軸中心演算部 ａ１ 画像信号 ａ２ ８階調画像信号 ａ３ メモリ出力信号 ａ４ Ｘ軸反転画像信号 ａ５ Ｘ軸シフト画像信号 ａ６ Ｘ軸重なり面積信号 ａ７ Ｘ軸最大判定信号 ａ８ Ｘ軸中心位置座標 ａ９ Ｙ軸反転画像信号 ａ１０ Ｙ軸シフト画像信号 ａ１１ Ｙ軸重なり面積信号 ａ１２ Ｙ軸最大判定信号 ａ１３ Ｙ軸中心位置座標
Claims (1)
- 【請求項１】 発光素子の画像を撮影しデジタル画像信
号を出力する画像入力部と、前記デジタル画像信号を入
力し前記発光素子の画像をＹ軸を対称線として反転した
Ｘ軸反転画像のＸ軸反転画像信号を出力するＸ軸反転部
と、前記Ｘ軸反転画像信号を入力し前記Ｘ軸反転画像を
Ｘ軸方向にシフトした画像のＸ軸シフト画像信号を出力
するＸ軸画像シフト部と、前記デジタル画像信号及び前
記Ｘ軸シフト画像信号を入力しＸ軸重なり面積信号を出
力するＸ軸重なり検出部と、前記Ｘ軸重なり面積信号か
ら最大面積位置を判定するＸ軸最大面積判定部と、前記
Ｘ軸重なり面積信号からＸ軸中心位置を重み付きで算出
するＸ軸中心演算部と、前記デジタル画像信号を入力し
前記発光素子の画像をＸ軸を対称線として反転したＹ軸
反転画像のＹ軸反転画像信号を出力するＹ軸反転部と、
前記Ｙ軸反転画像信号を入力し前記Ｙ軸反転画像をＹ軸
方向にシフトした画像のＹ軸シフト画像信号を出力する
Ｙ軸画像シフト部と、前記デジタル画像信号とＹ軸シフ
ト画像信号からＹ軸重なり面積信号を出力するＹ軸重な
り検出部と、前記Ｙ軸重なり面積信号から最大面積位置
を判定するＹ軸最大面積判定部と、前記Ｙ軸重なり面積
信号からＹ軸中心位置を重み付きで演算するＹ軸中心演
算部とを含むことを特徴とする発光中心の位置検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20809295A JP2720843B2 (ja) | 1995-08-15 | 1995-08-15 | 発光中心の位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20809295A JP2720843B2 (ja) | 1995-08-15 | 1995-08-15 | 発光中心の位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0954012A true JPH0954012A (ja) | 1997-02-25 |
| JP2720843B2 JP2720843B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=16550513
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20809295A Expired - Lifetime JP2720843B2 (ja) | 1995-08-15 | 1995-08-15 | 発光中心の位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2720843B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102564580A (zh) * | 2012-02-24 | 2012-07-11 | 天津大学 | 一种提高图像传感器灵敏度施加成形光的装置 |
| JP2014059295A (ja) * | 2012-08-14 | 2014-04-03 | Inst Of Optics & Electronics Chinese Academy Of Science | クロストークによる光斑重心のオフセットを除去する方法 |
-
1995
- 1995-08-15 JP JP20809295A patent/JP2720843B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102564580A (zh) * | 2012-02-24 | 2012-07-11 | 天津大学 | 一种提高图像传感器灵敏度施加成形光的装置 |
| JP2014059295A (ja) * | 2012-08-14 | 2014-04-03 | Inst Of Optics & Electronics Chinese Academy Of Science | クロストークによる光斑重心のオフセットを除去する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2720843B2 (ja) | 1998-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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