JPH095400A - Electronic equipment - Google Patents

Electronic equipment

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Publication number
JPH095400A
JPH095400A JP7155917A JP15591795A JPH095400A JP H095400 A JPH095400 A JP H095400A JP 7155917 A JP7155917 A JP 7155917A JP 15591795 A JP15591795 A JP 15591795A JP H095400 A JPH095400 A JP H095400A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
boundary scan
scan inspection
electronic equipment
integrated circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP7155917A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Susumu Ishizuka
晋 石塚
Atsushi Kukutsu
厚士 久々津
Takao Ogawara
敬生 大河原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH095400A publication Critical patent/JPH095400A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To provide an electronic equipment with a high reliability in use by accomplishing an inspection to determine whether a digital circuit of the electronic equipment operates normally or not easily and completely before the use of the equipment or at any desired time of a user. CONSTITUTION: Devices 3-11 necessary for accomplishing a boundary scan inspection designated as the standard of IEEE1149. 1-1990 are all built into electronic equipment (video camera body 13 in this example) so that the electronic equipment performs a self-diagnosing of its own digital circuit. An inspection starting switch 11 is interlocked to be closed when a power source switch 12 is closed to ensure that a boundary scan inspection is performed automatically when a power source is turned on. The boundary scan inspection is made possible time whenever necessary by single operation of the inspection starting switch 11 without regarding the power source switch 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、アイ・イー・イー・イ
ー(IEEE)1149.1−1990規格に定められ
ているバウンダリースキャン検査装置を有する集積回路
を用いた全ての電子機器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to all electronic equipment using an integrated circuit having a boundary scan inspection device defined in the IEEE 1149.1-1990 standard. Is.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビデオカメラやスチールカメラ等は二度
と無い瞬間を捉える、あるいは費用と時間をかけてロケ
ーションに行き撮影を行うので、いざ使用しようとした
時に故障が発見されるのは最悪の事態である。コンサー
トにおける音響機器なども同様である。しかし、経年劣
化などによる故障を完全に根絶することは不可能であ
る。このことは特に使用に際して故障が許されない放送
用、業務用など、プロフェッショナル用機器について大
きな問題であった。これを最大限避けるためには、万一
故障が発生した場合でも修理を行える、あるいはスペア
の機器に交換できる時点で、使用する電子機器を検査す
ることが必要である。このため、従来は電子機器の機能
を使用者が一つ一つ実際に動作させてみて、異常がない
か検査していた。しかし、これを行うには手間と時間を
必要とし、特に電子機器が多機能、高機能になるほど負
担は大きい。また電子機器内部の小さな故障等を完全に
カバーすることは難しい。また映像、音声信号のデジタ
ル化が進むにつれて、データラインの最下位ビットの欠
落という問題が生じる。これによる不具合などは通常の
使用では発見が困難であるが映像や音声の品質にとって
は重要な点である。
2. Description of the Related Art A video camera, a still camera, etc., captures an unprecedented moment, or spends money and time to go to a location for shooting, so it is the worst situation that a failure is discovered when trying to use it. is there. The same applies to audio equipment at concerts. However, it is impossible to completely eradicate failures due to aging. This has been a serious problem for professional equipment such as broadcasting equipment and business equipment, which are not tolerated when used. In order to avoid this as much as possible, it is necessary to inspect the electronic device to be used at the time when the device can be repaired or replaced with a spare device should a failure occur. For this reason, conventionally, the user actually operates the functions of the electronic devices one by one to inspect for any abnormality. However, this requires labor and time, and the more multifunctional and more sophisticated the electronic device is, the heavier the load is. Moreover, it is difficult to completely cover a small malfunction in the electronic device. Further, as the digitization of video and audio signals progresses, there arises a problem that the least significant bit of the data line is missing. Problems due to this are difficult to find in normal use, but they are important for the quality of video and audio.

【0003】ここで電子回路の不良検査の一方法とし
て、IEEE1149.1−1990規格として定めら
れているバウンダリースキャン検査が知られている。こ
れは検査装置をデジタル集積回路内部に設け、これを用
いて実装基板上において、デジタル回路の配線およびデ
ジタル集積回路の内部論理回路の検査を行うものであ
る。以下、バウンダリースキャン検査について図2を用
いて説明する。
As a method of inspecting a defect in an electronic circuit, a boundary scan inspection defined by the IEEE1149.1-1990 standard is known. This is to provide an inspection device inside the digital integrated circuit, and to inspect the wiring of the digital circuit and the internal logic circuit of the digital integrated circuit on the mounting substrate using the inspection device. The boundary scan inspection will be described below with reference to FIG.

【0004】電子機器33内の基板22にバウンダリー
スキャン検査装置(図示せず)を内蔵した集積回路21
が実装されている。この電子機器33に、バウンダリー
スキャン検査を実行するための装置群から成る検査器3
4を接続する。詳細には、集積回路21へ、バウンダリ
ースキャン検査装置を制御する検査バス制御装置23
を、4本ないし5本の検査バス24を介して接続する。
検査バス制御装置23は、バウンダリースキャン検査装
置に入力する検査信号を保持する第一の記憶装置25、
および信号の値を比較する比較器26に接続している。
比較器26はバウンダリースキャン検査の期待値を保持
する第二の記憶装置27、および不良の診断を行う診断
装置28に接続している。診断装置28は診断結果を視
覚的に表示する表示装置29に接続している。更に、検
査バス制御装置23、比較器26、診断装置28、表示
装置29はこれらを制御する主制御装置30に接続さ
れ、主制御装置30は操作部31を用いて操作を行う。
An integrated circuit 21 in which a boundary scan inspection device (not shown) is built in a substrate 22 in an electronic device 33.
Has been implemented. The electronic device 33 includes an inspector 3 including a group of devices for executing a boundary scan inspection.
Connect 4 Specifically, the inspection bus control device 23 for controlling the boundary scan inspection device is provided to the integrated circuit 21.
Are connected via four or five inspection buses 24.
The inspection bus control device 23 includes a first storage device 25 for holding an inspection signal input to the boundary scan inspection device,
And to a comparator 26 which compares the values of the signals.
The comparator 26 is connected to a second storage device 27 that holds an expected value of the boundary scan test and a diagnostic device 28 that diagnoses a defect. The diagnostic device 28 is connected to a display device 29 that visually displays the diagnostic result. Furthermore, the inspection bus control device 23, the comparator 26, the diagnosis device 28, and the display device 29 are connected to a main control device 30 that controls them, and the main control device 30 operates using the operation unit 31.

【0005】検査は、まず検査バス制御装置23が集積
回路21内のバウンダリースキャン検査装置を検査状態
にさせる。次に検査バス制御装置23が第一の記憶装置
25から検査用入力信号を読み取り、それをバウンダリ
ースキャン検査装置へ送信する。検査バス制御装置23
により制御されたバウンダリースキャン検査装置はデジ
タル回路の検査を行い、その結果を検査バス制御装置2
3へ出力する。検査結果は比較器26へ送信され、そこ
で第二の記憶装置27から読みとった検査の期待値と比
較される。比較結果を診断装置28に送信し、ここで不
良状況、不良箇所などを診断し、表示装置29に表示す
る。検査バス制御装置23、比較器26、診断装置2
8、表示装置29の動作は主制御装置30によって制御
され、主制御装置30の操作は操作部31で行う。
In the inspection, first, the inspection bus control device 23 puts the boundary scan inspection device in the integrated circuit 21 into the inspection state. Next, the inspection bus control device 23 reads the inspection input signal from the first storage device 25 and transmits it to the boundary scan inspection device. Inspection bus controller 23
The boundary scan inspection device controlled by the above performs inspection of the digital circuit, and the result is inspected by the inspection bus controller 2
Output to 3. The test result is transmitted to the comparator 26, where it is compared with the expected value of the test read from the second storage device 27. The comparison result is transmitted to the diagnostic device 28, where the defective condition, defective portion, etc. are diagnosed and displayed on the display device 29. Inspection bus control device 23, comparator 26, diagnostic device 2
8. The operation of the display device 29 is controlled by the main control device 30, and the operation of the main control device 30 is performed by the operation unit 31.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のバウンダリースキャン検査は製造時の不良発見および
修理補修時の不良箇所特定を目的としたものであり、こ
の検査を行うには、上に示したように集積回路に内蔵さ
れたバウンダリースキャン検査装置を制御する装置を被
検査機器に外部から接続する必要があった。従って、電
子機器使用者が容易にバウンダリースキャン検査を行う
ことは不可能であった。
However, the above-mentioned conventional boundary scan inspection is intended to detect a defect during manufacturing and to identify a defective portion during repair and repair. To perform this inspection, the above-mentioned method is used. As described above, it is necessary to externally connect the device for controlling the boundary scan inspection device built in the integrated circuit to the device under inspection. Therefore, it is impossible for the electronic device user to easily perform the boundary scan inspection.

【0007】本発明は、上記課題を解決するものであ
り、電子機器使用前あるいは使用者が望む時に、電子機
器のデジタル回路について正常か否かを容易かつ完全に
検査することにより、使用に際して信頼性の高い電子機
器を提供することを目的とする。
The present invention is intended to solve the above-mentioned problems, and makes it possible to easily and completely inspect whether or not a digital circuit of an electronic device is normal before the electronic device is used or when a user desires, thereby making it reliable in use. An object is to provide an electronic device having high property.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】そのために本発明の電子
機器は、自身のデジタル回路を自己診断できるよう、I
EEE1149.1−1990規格として定められてい
るバウンダリースキャン検査を行うのに必要な装置を全
て電子機器に内蔵し、電子機器の電源を入れると自動的
にバウンダリースキャン検査が行われるように、電源ス
イッチを閉にするとバウンダリースキャン検査開始スイ
ッチも閉になるよう連動させる構成としたものである。
To this end, the electronic equipment of the present invention is provided with I
All the devices necessary for performing the boundary scan inspection defined as the EEE1149.1-1990 standard are built into the electronic device, and when the electronic device is turned on, the boundary scan inspection is automatically performed. When the power switch is closed, the boundary scan inspection start switch is also closed.

【0009】[0009]

【作用】バウンダリースキャン検査を行うのに必要な装
置が全て電子機器に内蔵されているため、外部からなん
ら装置を接続する事無く、自身のデジタル回路の自己診
断を行うことができる。また、電源スイッチとバウンダ
リースキャン検査開始スイッチを連動させることによ
り、電子機器の電源を入れると自動的にバウンダリース
キャン検査が行われ、なんら特別な操作を行うことなく
電子機器使用前にバウンダリースキャン検査を行うこと
ができる。
Since all the devices necessary for performing the boundary scan inspection are built in the electronic device, the self-diagnosis of the digital circuit of itself can be performed without connecting any device from the outside. In addition, by interlocking the power switch and the boundary scan inspection start switch, the boundary scan inspection is automatically performed when the electronic device is turned on, and the boundary scan can be performed before using the electronic device without any special operation. Scan inspection can be performed.

【0010】[0010]

【実施例】本発明の一実施例を図1を用いて説明する。
ここでは、放送用デジタルビデオカメラを例に挙げる。
バウンダリースキャン検査装置(図示せず)を内蔵した
集積回路1が基板2に実装されており、バウンダリース
キャン検査装置を制御する検査バス制御装置3が、4本
ないし5本の検査バス4を介して集積回路1に接続され
ている。検査バス制御装置3はまた、バウンダリースキ
ャン検査装置に入力する検査信号を保持する第一の記憶
装置5、および信号の値を比較する比較器6に接続して
いる。比較器6はバウンダリースキャン検査の期待値を
保持する第二の記憶装置7、および不良の診断を行う診
断装置8に接続している。診断装置8は診断結果を視覚
的に表示する表示装置9に接続している。更に、検査バ
ス制御装置3、比較器6、診断装置8、表示装置9はこ
れらを制御する主制御装置10に接続され、主制御装置
10にはバウンダリースキャン検査を開始させる検査開
始スイッチ11が接続される。検査開始スイッチ11は
ビデオカメラ本体の電源スイッチ12と接続している。
以上記した装置は全てビデオカメラ本体13に内蔵され
ている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
Here, a digital video camera for broadcasting is taken as an example.
An integrated circuit 1 incorporating a boundary scan inspection device (not shown) is mounted on a substrate 2, and an inspection bus control device 3 for controlling the boundary scan inspection device connects four or five inspection buses 4 to each other. It is connected to the integrated circuit 1 through. The inspection bus control device 3 is also connected to a first storage device 5 for holding an inspection signal input to the boundary scan inspection device, and a comparator 6 for comparing the values of the signals. The comparator 6 is connected to a second storage device 7 that holds the expected value of the boundary scan test and a diagnostic device 8 that diagnoses a defect. The diagnostic device 8 is connected to a display device 9 which visually displays the diagnostic result. Further, the inspection bus control device 3, the comparator 6, the diagnostic device 8, and the display device 9 are connected to a main control device 10 for controlling them, and the main control device 10 has an inspection start switch 11 for starting a boundary scan inspection. Connected. The inspection start switch 11 is connected to the power switch 12 of the video camera body.
All the devices described above are built in the video camera body 13.

【0011】検査は、まず検査バス制御装置3が第一の
記憶装置5から検査用入力信号を読み取り、それをバウ
ンダリースキャン検査装置へ送信する。検査バス制御装
置3により制御されたバウンダリースキャン検査装置は
デジタル回路の検査を行い、その結果を検査バス制御装
置3へ出力する。検査結果は比較器6へ送信され、そこ
で第二の記憶装置7から読みとった検査の期待値と比較
される。比較結果を診断装置8に送信し、ここで不良状
況、不良箇所などを診断し、表示装置9に表示する。検
査バス制御装置3、比較器6、診断装置8、表示装置9
の動作は主制御装置10によって制御される。ビデオカ
メラ本体の電源スイッチ12を閉にすると検査開始スイ
ッチ11も閉になるため、電源を入れると自動的にバウ
ンダリースキャン検査が行われる。また、検査開始スイ
ッチ11を操作することにより、任意の時にバウンダリ
ースキャン検査を行うことができる。検査開始スイッチ
11を設けず、電源スイッチ12が検査開始スイッチ1
1を兼ねても良いが、独立に検査開始スイッチ11を設
けることにより、電源の入切を行わなくともバウンダリ
ースキャン検査ができるため、より有効である。
In the inspection, first, the inspection bus control device 3 reads the inspection input signal from the first storage device 5 and transmits it to the boundary scan inspection device. The boundary scan inspection device controlled by the inspection bus control device 3 inspects the digital circuit and outputs the result to the inspection bus control device 3. The test result is transmitted to the comparator 6, where it is compared with the expected value of the test read from the second storage device 7. The comparison result is transmitted to the diagnostic device 8, where the defective condition, defective portion, etc. are diagnosed and displayed on the display device 9. Inspection bus control device 3, comparator 6, diagnostic device 8, display device 9
The operation of is controlled by main controller 10. When the power switch 12 of the video camera main body is closed, the inspection start switch 11 is also closed. Therefore, when the power is turned on, the boundary scan inspection is automatically performed. Further, by operating the inspection start switch 11, the boundary scan inspection can be performed at any time. The inspection start switch 11 is not provided, and the power switch 12 is the inspection start switch 1
Although it may be combined with 1, it is more effective because the boundary scan inspection can be performed without turning the power on and off by providing the inspection start switch 11 independently.

【0012】以上により、本ビデオカメラの使用者は使
用前あるいは所望のときにいつでも、そのデジタル回路
の検査を容易に行うことができ、不慮の故障発生を低減
することができる。また、電源を入れる毎にデジタル回
路の検査が行われるので、定期検査の効果を有する。バ
ウンダリースキャン検査は不良箇所の特定も行えるた
め、故障が発見された場合にもメーカーのサービスマン
は迅速に修理を行うことが可能である。
As described above, the user of the video camera can easily inspect the digital circuit before use or when desired, and the occurrence of accidental failure can be reduced. Further, since the digital circuit is inspected every time the power is turned on, it has the effect of periodical inspection. Since the boundary scan inspection can also identify a defective part, even if a failure is found, the manufacturer's service person can quickly repair it.

【0013】なお、ここでは放送用デジタルビデオカメ
ラを例に挙げたが、本発明は、IEEE1149.1−
1990規格に定められているバウンダリースキャン検
査装置を有する集積回路を用いた全ての電子機器に対し
て有効である。更に、現在IEEEで審議中の114
9.4(デジタル回路検査用のバウンダリースキャン検
査をアナログ回路及びアナログ・デジタル混在回路に拡
張したアナログバウンダリースキャン検査)が規格化、
実現されれば、この発明を用いることによって電子機器
の大部分の回路を検査することが可能である。
Although a digital video camera for broadcasting is taken as an example here, the present invention is IEEE1149.1-.
It is effective for all electronic devices using an integrated circuit having a boundary scan inspection device defined in the 1990 standard. In addition, 114 currently under discussion in IEEE
9.4 (Analog boundary scan inspection that extends the boundary scan inspection for digital circuit inspection to analog circuits and analog / digital mixed circuits) is standardized,
If implemented, it is possible to test most circuits in electronic equipment by using the present invention.

【0014】[0014]

【発明の効果】電子機器の電源を入れる毎に自動的にバ
ウンダリースキャン検査が行われるため、デジタル回路
について定期検査を行っていることと等価であり、信頼
性向上につながる。また電子機器使用者はバウンダリー
スキャン検査開始スイッチによりいつでも希望の時にデ
ジタル回路検査を行うことができ、高信頼性が得られ
る。さらに特別な検査装置無しに、電子機器のデジタル
回路の検査が容易かつ完全に行えるため、電子機器準備
中、あるいは使用中に故障が発見される事態の起こる確
率を低減する。またディジタルのビット落ちなどの通常
は容易に検出できない故障に対してもこの検査は有効で
ある。更に、バウンダリースキャン検査は不良箇所の特
定も行えるため、故障が発見された場合にもメーカーの
サービスマンは迅速に修理を行うことが可能である。
Since the boundary scan inspection is automatically performed every time the electronic device is turned on, it is equivalent to the periodic inspection of the digital circuit, which leads to the improvement of reliability. Further, the electronic device user can perform the digital circuit inspection at any time by using the boundary scan inspection start switch, and high reliability can be obtained. Furthermore, since the digital circuit of the electronic device can be easily and completely inspected without a special inspection device, the probability of occurrence of a failure during the preparation or use of the electronic device is reduced. This test is also effective for faults that cannot normally be detected easily, such as digital bit loss. Further, since the boundary scan inspection can identify the defective portion, the serviceman of the manufacturer can promptly repair even if a failure is found.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例におけるバウンダリースキャ
ン検査を行う装置の構成を示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an apparatus for performing a boundary scan inspection according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来のバウンダリースキャン検査を行う装置の
構成を示すブロック図
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a conventional apparatus for performing boundary scan inspection.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 集積回路 2 基板 3 検査バス制御装置 4 検査バス 5 第一記憶装置 6 比較器 7 第二記憶装置 8 診断装置 9 表示装置 10 主制御装置 11 検査開始スイッチ 12 電源スイッチ 13 ビデオカメラ本体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 integrated circuit 2 substrate 3 inspection bus control device 4 inspection bus 5 first storage device 6 comparator 7 second storage device 8 diagnostic device 9 display device 10 main control device 11 inspection start switch 12 power switch 13 video camera body

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アイ・イー・イー・イー(IEEE)1
149.1−1990規格に定められるバウンダリース
キャン検査装置を内蔵する集積回路を有する電子機器に
おいて、バウンダリースキャン検査用入力信号を保持す
る第一の記憶装置と、バウンダリースキャン検査信号お
よび前記バウンダリースキャン検査装置を制御し、バウ
ンダリースキャン検査を実行する制御装置と、前記集積
回路のバウンダリースキャン検査結果の期待値を保持す
る第二の記憶装置と、前記期待値と前記集積回路のバウ
ンダリースキャン検査結果を比較する比較装置と、前記
比較装置の比較結果から前記電子機器の回路不良を診断
する診断装置と、前記診断装置の診断結果を表示する表
示装置と、前記制御装置を起動させ、バウンダリースキ
ャン検査を開始する検査開始スイッチを有し、前記電子
機器の電源スイッチを開から閉にしたとき、前記検査開
始スイッチが開から閉になるよう連動させることを特徴
とする電子機器。
1. An IEE (IEEE) 1
In an electronic device having an integrated circuit incorporating a boundary scan inspection device defined in the 149.1-1990 standard, a first storage device for holding a boundary scan inspection input signal, a boundary scan inspection signal and the boundary A control device for controlling the boundary scan inspection device to execute the boundary scan inspection, a second storage device for holding an expected value of the boundary scan inspection result of the integrated circuit, the expected value and the bound of the integrated circuit A comparison device that compares the results of the Dally scan inspection, a diagnosis device that diagnoses a circuit failure of the electronic device based on the comparison result of the comparison device, a display device that displays the diagnosis result of the diagnosis device, and the control device is activated. , A test start switch for starting a boundary scan test, and a power switch for the electronic device. When the closed from open, electronic apparatus, characterized in that to link to the examination start switch is from the open to the closed.
JP7155917A 1995-06-22 1995-06-22 Electronic equipment Pending JPH095400A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7870429B2 (en) 2007-06-22 2011-01-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Control apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7870429B2 (en) 2007-06-22 2011-01-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Control apparatus

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