JPH0949711A - 寸法測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、高い精度で被測定物の外寸を測定
できる寸法測定装置を提供することを目的とする。 【構成】 被測定物１０を搬送する搬送手段２０と、こ
の搬送手段２０の搬送経路中に設けられて、被測定物１
０の外寸を測定する測定ゲート３０とを備え、測定ゲー
ト３０は、測定光を発生させる光源４０，５０と、測定
光の光路上に順次配置された複数のビームスプリッタ４
２〜４７，５２〜５７とを内蔵して、複数の測定光を出
射窓３１ｄから出射させる出射枠部３１，３３と、複数
の測定光を受光して、測定光の遮断を検出する入射枠部
３２，３４とを備えている。そして、複数のビームスプ
リッタ４２〜４７，５２〜５７は、光源から離れるにつ
れて、光線の反射率を高くしたことを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数本の測定光が
ライン状に並んだ光束を被測定物に照射して、被測定物
で遮光される測定光を測定することによって、被測定物
の外寸を測定する寸法測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
特開平６−５０７２１号公報のものが知られている。こ
の文献に記載された従来の寸法測定装置は、図６に示す
ように、ローラーコンベヤ２００と、ローラーコンベヤ
２００の上方に設置され、複数本の測定光がライン状に
並んだ光束を出射する投光器２０１と、ローラーコンベ
ヤ２００のローラー２００ａとローラー２００ｂの間に
設置され、投光器２０１を出射した光束のそれぞれの測
定光を受光する受光器２０２とを備えている。そして、
投光器２０１の投光面には、複数の発光素子２０１ａが
配置され、これらの発光素子を均等に発光させることに
より、投光面からライン状の光束を出射させることがで
きる。

【０００３】直方体の被測定物２０３がローラーコンベ
ヤ２００上を搬送されて、投光器２０１を出射した光束
を横切った状態では、光束の一部の測定光が被測定物２
０３で遮光され、これらの測定光は受光器２０２まで到
達しない。本装置では、このように、受光器２０２で受
光されない測定光の本数を検出することによって、被測
定物２０３の幅を測定することができる。また、この測
定を被測定物２０３が一定距離移動する毎に行うことに
よって、被測定物２０３の長さを測定することができ
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
寸法測定装置においては、測定にあたって、投光器２０
１が備える多数の発光素子２０１ａを均等に発光させる
必要があり、各発光素子２０１ａの発光量の調整が難し
く問題であった。

【０００５】また、多数の発光素子２０１ａの一つでも
故障すると、測定値が不正確になる。このため、測定に
あたって、全ての発光素子２０１ａが正常に発光してい
るか否かを確認する必要があり、この作業に手間がかか
り問題であった。

【０００６】さらに、多数の発光素子２０１ａを備えて
いるため、発光素子２０１ａに故障が発生する率も高
く、問題であった。

【０００７】本発明は、このような問題を解決し、均等
な光強度の複数の測定光を被測定物に対して照射するこ
とにより、高い精度で且つ確実に被測定物の外寸を測定
できる寸法測定装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の寸法測定装置は、被測定物を搬送する搬送
手段と、搬送手段の搬送経路中に設けられて、被測定物
に複数の測定光を照射すると共に、被測定物によって遮
断される測定光を検出して、被測定物の外寸を測定する
枠形状の測定ゲートとを備える測定装置であって、測定
ゲートは、複数の測定光を出射窓から出射させる出射枠
部と、出射枠部を出射した複数の測定光を受光して、測
定光の遮断を検出する入射枠部とを備え、出射枠部の内
部には、この延在方向に沿って直進する測定光を発生さ
せる光源と、測定光の光路上に順次配置され、測定光の
一部の光を透過させると共に他の光を反射させて、各反
射光を出射窓からそれぞれ出射させる複数のビームスプ
リッタとを備え、各ビームスプリッタの反射率は、出射
窓から出射させる各測定光の光強度がほぼ等しくなるよ
うに、光源から離れるにつれて、順次高くなるように設
定されたことを特徴としている。

【０００９】本発明の寸法測定装置によれば、光源から
出射した測定光は、出射枠部の内部を延在方向に沿って
直進し、光源に最も近いビームスプリッタに入射する。
ビームスプリッタは、測定光の一部の光を透過させると
共に他の光を反射させる。このため、ビームスプリッタ
で反射した測定光は、出射窓から外部に出射して、入射
枠部に向けて直進する。また、ビームスプリッタを透過
した測定光は、次のビームスプリッタに向けて直進す
る。

【００１０】このように、測定光は、各ビームスプリッ
タに順次入射して、測定光の一部は、各ビームスプリッ
タで反射する。そして、各ビームスプリッタで反射した
複数の測定光が、入射枠部に向けて直進し、出射枠部と
入射枠部との間に、複数の測定光からなる光束が形成さ
れる。出射枠部を出射した各測定光は、入射枠部に到達
し、入射枠部では、測定光の入射が検出される。ここ
で、出射枠部と入射枠部との間を被測定物が通過する
と、一部の測定光が遮断される。よって、被測定物によ
る測定光の遮断を、入射枠部で検出することにより、被
測定物の外寸を測定できる。

【００１１】特に、各ビームスプリッタの反射率は、光
源から離れるにつれて、反射率を高く設定している。こ
のため、出射枠部と入射枠部との間に形成される光束の
各測定光の光強度をほぼ等しくすることができ、入射枠
部での測定光の入射の検出が容易となる。また、各測定
光の間隔が狭ければ、測定光間の隙間は、光線の波動性
により相殺される。このため、光束は、幅の広い一本の
平行光となり、この平行光には、測定光間の隙間による
測定の死角が存在しないので、高い精度で被測定物の外
寸を測定することができる。

【００１２】ここで、測定ゲートは、搬送経路を挟んで
起立する一対の縦枠と、縦枠の上端間及び下端間を架け
渡す一対の横枠とを備え、縦枠の一方と横枠の一方とが
別体をなす出射枠部であると共に、縦枠の他方と横枠の
他方とが別体をなす入射枠部であるとよい。

【００１３】また、測定ゲートは、搬送手段の搬送面を
挟んで起立する一対の縦枠と、縦枠の上端間及び下端間
を架け渡す一対の横枠とを備え、縦枠の一方と横枠の一
方とで一体的なＬ字型の出射枠部を構成すると共に、縦
枠の他方と横枠の他方とで一体的なＬ字型の入射枠部を
構成し、Ｌ字型の出射枠部の一端には、光源が設けられ
ると共に、出射枠部のコーナー部には、光源から出射さ
せた測定光をＬ字型の出射枠部の他端に向けて直進させ
る反射鏡が設けられているとよい。

【００１４】さらに、測定ゲートは、搬送手段の搬送面
を挟んで起立する一対の縦枠と、縦枠の上端間及び下端
間を架け渡す一対の横枠とを備え、縦枠の一方及び横枠
の一方とで一体的なＬ字型の出射枠部を構成すると共
に、縦枠の他方及び横枠の他方とで一体的なＬ字型の入
射枠部を構成し、出射枠部のコーナー部には、光源と、
光源から出射させた測定光を出射枠部の両端に向けて分
岐して直進させる分岐用ビームスプリッタとが設けられ
ているとよい。

【００１５】

【発明の実施の形態】

（第１の実施形態）以下、本発明の好適な実施形態につ
いて添付図面を参照して説明する。なお、説明において
同一要素には同一符号を用い、重複する説明は省略す
る。図１は、本発明の第１の実施形態に係る寸法測定装
置を示す斜視図である。図１に示すように、寸法測定装
置１は、被測定物１０を搬送する搬送手段２０と、搬送
手段２０の搬送経路Ｒ中に設けられ、被測定物１０の外
寸を測定する測定ゲート３０とを備えている。搬送手段
２０は、一対のベルトコンベヤ２１，２２を備えてお
り、各ベルトコンベヤ２１，２２は、端部２１ａ，２２
ａ同士を対向させて配置されている。そして、これらの
ベルトコンベヤ２１，２２の間に、測定ゲート３０が配
置されている。

【００１６】測定ゲート３０は、内部が空洞の４本の四
角柱を組み合わせた枠形状を有しており、搬送手段２０
の搬送経路Ｒを挟んで起立する左枠（縦枠）３１と、右
枠（縦枠）３２とを備えている。また、測定ゲート３０
は、左枠３１の上端３１ａと右枠３２の上端３２ａとを
架け渡す上枠（横枠）３３と、左枠３１の下端３１ｂと
右枠３２の下端３２ｂとを架け渡す下枠（横枠）３４と
を備えている。そして、これらの枠３１〜３４が取り囲
む測定面Ａを被測定物１０が通過することにより、被測
定物１０の外寸を測定することができる。なお、左枠３
１と上枠３３とは、各々別体をなす出射枠部Ｂであり、
右枠３２と下枠３４とは、各々別体をなす入射枠部Ｃで
ある。

【００１７】左枠３１の下端３１ｂには、左枠３１の延
在方向に沿って直進する測定光を発生させる光源４０が
内蔵されている。そして、光源４０の光路Ｄ上には、コ
リメートレンズ４１と複数のビームスプリッタ４２〜４
７とが、光源４０側から順次配置されている。各ビーム
スプリッタ４２〜４７の入射面４２ａ〜４７ａと測定面
Ａとは、交差させる関係を有しており、各ビームスプリ
ッタ４２〜４７は、光源４０から出射させた測定光の光
路Ｄに対して約４５度の角度で、且つ、入射面４２ａ〜
４７ａが下枠３４方向を向くように、傾けて固定されて
いる。

【００１８】また、各ビームスプリッタ４２〜４７は、
入射光の一部の光を透過させると共に他の光を反射させ
るように機能する。さらに、右枠３２に対向する側の左
枠３１の側面３１ｃには、透明ガラスで覆われた出射窓
３１ｄが形成されている。このため、各ビームスプリッ
タ４２〜４７の入射面４２ａ〜４８ａで反射した各測定
光は、出射窓３１ｄを通過して、右枠３２に向けて直進
する。左枠３１に対向する側の右枠３２の側面３２ｃに
は、複数のホドダイオード（図示せず）が延在方向に沿
って５ｍｍ間隔で配置されている。そして、これらのホ
トダイオードの受光面には、外乱光の入射を防止するた
めのスリットとフィルタが取り付けられている。よっ
て、左枠３１の出射窓３１ｄを通過した各測定光は、測
定面Ａに沿って直進し、右枠３２の各ホトダイオードに
入射する。そして、各ホトダイオードは、各測定光の入
射を検出する。

【００１９】同様に、右枠３２の上端３２ａには、上枠
３３の延在方向に沿った測定光を発生させる光源５０が
内蔵されている。そして、光源５０の光路Ｅ上には、コ
リメートレンズ５１と複数のビームスプリッタ５２〜５
７とが、光源５０側から順次配置されている。各ビーム
スプリッタ５２〜５７の入射面５２ａ〜５７ａと、測定
面Ａとは、交差させる関係を有しており、各ビームスプ
リッタ５２〜５７は、光源５０から出射させた測定光の
光路Ｅに対して約４５度の角度で、且つ、入射面５２ａ
〜５７ａが右枠３２方向を向くように、傾けて固定され
ている。

【００２０】また、各ビームスプリッタ５２〜５７は、
入射光の一部の光を透過させると共に他の光を反射させ
るように機能する。さらに、上枠３３の下面３３ａに
は、透明ガラスで覆われた出射窓（図示せず）が形成さ
れている。このため、各ビームスプリッタ５２〜５７の
入射面５２ａ〜５７ａで反射した各測定光は、上枠３３
の下面３３ａに形成された出射窓を通過して、下枠３４
に向けて直進する。下枠３４の上面３４ａには、複数の
ホトダイオード６０が下枠３４の延在方向に沿って５ｍ
ｍ間隔で配置されている。そして、これらのホトダイオ
ード６０の受光面には、外乱光の入射を防止するための
スリットとフィルタが取り付けられている。よって、上
枠３３の出射窓を通過した各測定光は、測定面Ａに沿っ
て直進し、下枠３４の各ホトダイオード６０に入射す
る。そして、各ホトダイオード６０は、各測定光の入射
を検出する。

【００２１】なお、上述した寸法測定装置１の各構成部
材としては、具体的には次のものが用いられている。ま
ず、光源４０，５０には、１２Ｖ、２０Ｗのハロゲン球
が用いられている。また、コリメートレンズ４１，５１
には、直径１５０ｍｍ、厚さ２０ｍｍ、焦点距離３５０
ｍｍのレンズが用いられている。さらに、ビームスプリ
ッタ４２〜４７，５２〜５７には、縦２００ｍｍ、横２
０ｍｍ、厚さ１．５ｍｍ、中心波長６８０ｎｍのスプリ
ッタが用いられている。

【００２２】図２に示すように、ビームスプリッタ４２
〜４７の透過率及び反射率は、ビームスプリッタ４２が
（９０％、１０％）、ビームスプリッタ４３が（８９
％、１１％）、ビームスプリッタ４４が（８７．５％、
１２．５％）、ビームスプリッタ４５が（８５．７％、
１４．３％）、ビームスプリッタ４６が（８３．３％、
１６．７％）、ビームスプリッタ４７が（８０．０％、
２０．０％）である。

【００２３】このように、各ビームスプリッタ４２〜４
７の反射率は、光源４０から離れるにつれて、高くなっ
ている。このため、各ビームスプリッタ４２〜４７にお
ける反射光の光強度は、ほぼ等しくなる。具体的には、
光源４０での測定光の光強度を１００とした場合、各ビ
ームスプリッタ４２〜４７で反射した測定光の光強度は
各々１０となる。このように、ほぼ均一な光強度の測定
光が右枠３２の各ホトダイオードに入射されるので、各
ホトダイオードは、測定光の入射を容易に検出すること
ができる。また、各測定光の光強度が均一なので、全て
のホトダイオードについて同一の受光感度の調整を行え
ばよく、各ホトダイオードの受光感度の調整が容易にな
る。

【００２４】なお、各ビームスプリッタ５２〜５７の透
過率及び反射率は、各ビームスプリッタ４２〜４７と各
々同一であり、各ビームスプリッタ５２〜５７は、光源
５０から離れるにつれて、光線の反射率を高くしてい
る。

【００２５】図３に示すように、各ビームスプリッタ４
２〜４７は、接近して配置されており、コリメートレン
ズ４１によって平行光に変換された測定光は、各ビーム
スプリッタ４２〜４７で順次反射して、複数本の測定光
の光束が形成される。このように、各ビームスプリッタ
４２〜４７は、接近して配置されているため、各ビーム
スプリッタ４２〜４７で反射した測定光同士の間隔は、
非常に狭くなる。このため、ある程度の距離が離れたと
ころでは、光線の波動性によって、測定光間の隙間が相
殺され、光束全体が一本の幅の広い（９００〜１１００
ｍｍ）平行光となる。このように、本実施形態の寸法測
定装置１は、幅の広い平行光を用いて被測定物１０の外
寸を測定しているので、死角となる領域が少なくなり、
高い精度で被測定物１０の外寸を測定することができ
る。

【００２６】なお、各ビームスプリッタ５２〜５７も、
各ビームスプリッタ４２〜４７と同様に、接近して配置
されている。このため、各ビームスプリッタ４２〜４７
で反射した各測定光によって一本の平行光が形成され
る。

【００２７】（第２の実施形態）次に、本発明の第２の
実施形態に係る寸法測定装置を説明する。図４は、本発
明の第２の実施形態に係る寸法測定装置２を示す斜視図
である。この第２の実施形態が図１に示す第１の実施形
態と異なるのは、左枠３１と上枠３３とで一体的なＬ字
型の出射枠部Ｂを構成し、且つ、右枠３２と下枠３４と
で一体的なＬ字型の前記入射枠部Ｃを構成している点
と、左枠３１の上端（コーナー部）３１ａに、反射鏡７
２が設けられている点である。なお、第１の実施形態と
同一又は同等な構成部分については同一符号を付し、そ
の説明は省略する。

【００２８】図４に示すように、測定ゲート３０の左枠
３１の下端３１ｂには、左枠３１の延在方向に沿って直
進する測定光を発生させる光源７０が内蔵されている。
そして、光源７０の光路Ｄ上には、コリメートレンズ７
１と複数のビームスプリッタ７３〜７８と反射鏡７２と
が、光源７０側から順次配置されている。さらに、反射
鏡７２で反射した測定光の光路Ｅ上にビームスプリッタ
７９〜８４が、反射鏡７２側から順次配置されている。

【００２９】各ビームスプリッタ７３〜７８の入射面７
３ａ〜７８ａと測定面Ａとは、交差させる関係を有して
おり、各ビームスプリッタ７３〜７８は、光源７０から
出射させた測定光の光路Ｄに対して約４５度の角度で、
且つ、入射面７３ａ〜７８ａが下枠３４方向を向くよう
に、傾けて固定されている。また、各ビームスプリッタ
７９〜８４の入射面７９ａ〜８４ａと測定面Ａとは、交
差させる関係を有しており、各ビームスプリッタ７９〜
８４は、反射鏡７２で反射した測定光の光路Ｅに対して
約４５度の角度で、且つ、入射面７９ａ〜８４ａが左枠
３１方向を向くように、傾けて固定されている。

【００３０】このため、光源７０から出射させた測定光
の一部は、ビームスプリッタ７３〜７８を順次透過し
て、反射鏡７２に入射する。そして、反射鏡７２に入射
した測定光は、右枠３２の上端３２ａに向けて反射し
て、測定光の一部がビームスプリッタ７９〜８４を順次
透過する。各ビームスプリッタ７３〜８４は、光源７０
から離れるにつれて、反射率を順次高くしている。よっ
て、各ビームスプリッタ７３〜８４を反射して、出射窓
３１ｄから外部に出射する各測定光の光強度は、ほぼ等
しくなり、各ホトダイオード６０による測定光の入射の
検出が容易になる。

【００３１】（第３の実施形態）次に、本発明の第３の
実施形態に係る寸法測定装置を説明する。図５は、本発
明の第３の実施形態に係る寸法測定装置３を示す斜視図
である。この第３の実施形態が図１に示す第１の実施形
態と異なるのは、左枠３１と上枠３３とで一体的なＬ字
型の出射枠部Ｂを構成し、且つ、右枠３２と下枠３４と
で一体的なＬ字型の入射枠部Ｃを構成している点と、左
枠３１の上端（コーナー部）３１ａに、光源９０、コリ
メートレンズ９１、及び透過率と反射率が等しい分岐用
ビームスプリッタ９２が設けられている点である。な
お、第１の実施形態と同一又は同等な構成部分について
は同一符号を付し、その説明は省略する。

【００３２】図５に示すように、測定ゲート３０の左枠
３１の上端３１ａには、上枠３３の延在方向に沿って直
進する測定光を発生させる光源９０が内蔵されている。
そして、光源９０の光路Ｅ上には、コリメートレンズ９
１と複数のビームスプリッタ９２〜９８が、光源９０側
から順次配置されている。さらに、分岐用ビームスプリ
ッタ９２で反射した測定光の光路Ｄ上にビームスプリッ
タ９９〜１０４が、分岐用ビームスプリッタ９２側から
順次配置されている。

【００３３】各ビームスプリッタ９３〜９８の入射面９
３ａ〜９８ａと測定面Ａとは、交差させる関係を有して
おり、各ビームスプリッタ９３〜９８は、光源９０から
出射させた測定光の光路Ｄに対して約４５度の角度で、
且つ、入射面９３ａ〜９８ａが左枠３１方向を向くよう
に、傾けて固定されている。また、各ビームスプリッタ
９９〜１０４の入射面９９ａ〜１０４ａと測定面Ａと
は、交差させる関係を有しており、各ビームスプリッタ
９９〜１０４は、分岐用ビームスプリッタ９２で反射し
た測定光の光路Ｅに対して約４５度の角度で、且つ、入
射面９９ａ〜１０４ａが上枠３３方向を向くように、傾
けて固定されている。

【００３４】このため、光源９０から出射させた測定光
の約５０％が、分岐用ビームスプリッタ９２を透過し
て、透過光の一部が更にビームスプリッタ９３〜９８を
順次透過する。また、光源９０から出射させた測定光の
約５０％が、分岐用ビームスプリッタ９２で反射して、
反射光の一部が更にビームスプリッタ９９〜１０４を順
次透過する。ビームスプリッタ９３〜９８は、光源９０
から離れるにつれて、反射率を順次高くしている。同様
に、ビームスプリッタ９９〜１０４は、光源９０から離
れるにつれて、反射率を順次高くしている。よって、各
ビームスプリッタ９３〜１０４を反射して、出射窓３１
ｄから外部に出射する各測定光の光強度はほぼ等しくな
り、各ホトダイオード６０による測定光の入射の検出が
容易になる。

【００３５】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ことなく、種々の変形が可能である。例えば、最終段の
ビームスプリッタ４７，５７，８４，９８，１０４の代
わりに、反射鏡を用いてもよい。このように、最終段の
ビームスプリッタの代わりに反射鏡を用いれば、測定光
を無駄なく利用することができる。

【００３６】また、上記実施形態では、複数のホトダイ
オード６０を所定間隔に並べて、測定光を検出している
が、幅の広い一枚のライン状の光センサを用いてもよ
い。

【００３７】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の寸
法測定装置は、被測定物を搬送する搬送手段と、この搬
送手段の搬送経路中に設けられて、被測定物の外寸を測
定する測定ゲートとを備え、測定ゲートは、測定光を発
生させる光源と、測定光の光路上に順次配置された複数
のビームスプリッタとを内蔵して、複数の測定光を出射
窓から出射させる出射枠部と、複数の測定光を受光し
て、測定光の遮断を検出する入射枠部とを備えている。
そして、複数のビームスプリッタは、光源から離れるに
つれて、光線の反射率を高くしたことを特徴としてい
る。

【００３８】このため、出射枠部と入射枠部との間に形
成される光束の各測定光の光強度がほぼ等しくなり、入
射枠部での測定光の入射の検出が容易となる。また、各
測定光の間隔が狭ければ、測定光間の隙間は、光線の波
動性により相殺され、光束は、幅の広い一本の平行光と
なる。よって、この幅の広い平行光を用いて被測定物の
外寸を測定すれば、死角となる領域が少なくなり、高い
精度で被測定物の外寸を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態に係る寸法測定装置を
示す斜視図である。

【図２】各ビームスプリッタの透過率と反射率との関係
を示す図である。

【図３】各ビームスプリッタの配置を示す平面図であ
る。

【図４】本発明の第２の実施形態に係る寸法測定装置を
示す斜視図である。

【図５】本発明の第３の実施形態に係る寸法測定装置を
示す斜視図である。

【図６】従来の寸法測定装置を示す斜視図である。

【符号の説明】

１０…被測定物、２０…搬送手段、３０…測定ゲート、
３１，３２…縦枠、３１ａ…上端（コーナー部）、３１
ｄ…出射窓、３３，３４…横枠、４０，５０，７０，９
０…光源、４２〜４７，５２〜５７，７３〜８４，９３
〜１０４…ビームスプリッタ、７２…反射鏡、９２…分
岐用ビームスプリッタ、Ｂ…出射枠部、Ｃ…入射枠部、
Ｒ…搬送経路。

【手続補正書】

【提出日】平成７年８月７日

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図６

【補正方法】変更

【補正内容】

【図６】

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物を搬送する搬送手段と、前記搬
   送手段の搬送経路中に設けられて、前記被測定物に複数
   の測定光を照射すると共に、前記被測定物によって遮断
   される前記測定光を検出して、前記被測定物の外寸を測
   定する枠形状の測定ゲートとを備える寸法測定装置にお
   いて、 前記測定ゲートは、複数の前記測定光を出射窓から出射
   させる出射枠部と、前記出射枠部を出射した複数の前記
   測定光を受光して、前記測定光の遮断を検出する入射枠
   部とを備え、 前記出射枠部の内部には、この延在方向に沿って直進す
   る前記測定光を発生させる光源と、前記測定光の光路上
   に順次配置され、前記測定光の一部の光を透過させると
   共に他の光を反射させて、各反射光を前記出射窓からそ
   れぞれ出射させる複数のビームスプリッタとを備え、 前記各ビームスプリッタの反射率は、前記出射窓から出
   射させる前記各測定光の光強度がほぼ等しくなるよう
   に、前記光源から離れるにつれて、順次高くなるように
   設定されたことを特徴とする寸法測定装置。
2. 【請求項２】 前記測定ゲートは、前記搬送経路を挟ん
   で起立する一対の縦枠と、前記縦枠の上端間及び下端間
   を架け渡す一対の横枠とを備え、 前記出射枠部は、前記縦枠の一方と前記横枠の一方とが
   別体をなし、前記入射枠部は、前記縦枠の他方と前記横
   枠の他方とが別体をなすことを特徴とする請求項１記載
   の寸法測定装置。
3. 【請求項３】 前記測定ゲートは、前記搬送手段の搬送
   面を挟んで起立する一対の縦枠と、前記縦枠の上端間及
   び下端間を架け渡す一対の横枠とを備え、 前記縦枠の一方と前記横枠の一方とで一体的なＬ字型の
   前記出射枠部を構成すると共に、前記縦枠の他方と前記
   横枠の他方とで一体的なＬ字型の前記入射枠部を構成
   し、 前記Ｌ字型の出射枠部の一端には、前記光源が設けられ
   ると共に、前記出射枠部のコーナー部には、前記光源か
   ら出射させた前記測定光を前記Ｌ字型の出射枠部の他端
   に向けて直進させる反射鏡が設けられていることを特徴
   とする請求項１記載の寸法測定装置。
4. 【請求項４】 前記測定ゲートは、前記搬送手段の搬送
   面を挟んで起立する一対の縦枠と、前記縦枠の上端間及
   び下端間を架け渡す一対の横枠とを備え、 前記縦枠の一方及び前記横枠の一方とで一体的なＬ字型
   の前記出射枠部を構成すると共に、前記縦枠の他方及び
   前記横枠の他方とで一体的なＬ字型の前記入射枠部を構
   成し、 前記出射枠部のコーナー部には、前記光源と、前記光源
   から出射させた前記測定光を前記出射枠部の両端に向け
   て分岐して直進させる分岐用ビームスプリッタとが設け
   られたことを特徴とする請求項１記載の寸法測定装置。