JPH0945243A - 真空気密容器およびその製造方法 - Google Patents

真空気密容器およびその製造方法

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JPH0945243A
JPH0945243A JP7211417A JP21141795A JPH0945243A JP H0945243 A JPH0945243 A JP H0945243A JP 7211417 A JP7211417 A JP 7211417A JP 21141795 A JP21141795 A JP 21141795A JP H0945243 A JPH0945243 A JP H0945243A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 真空気密容器を歩留まりよく量産する。 【解決手段】 カソード基板とアノード基板とをそれぞ
れ多面取りにより製造し、多面取りカソード基板20
は、ステップS1において、複数枚の単一のカソード基
板30に切り離す。ステップS3において、切り離され
た複数枚のカソード基板30を多面取りのアノード基板
10の上に位置決めし、面付け(仮止め)を行う。これ
にステップS4でゲッタボックスを仮止めし、ステップ
5において、多面取りのアノード基板10、カソード基
板30およびゲッタボックス34を同時に封着する。次
いで、ステップS6において多面取りのアノード基板1
0をカットして、個別の容器に切り離す。このとき、両
基板は封着されているので、基板を切断するときにでる
切粉などの悪影響を受けることがない。その後、ステッ
プS7およびS8において、排気および封止を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、カソードが設けら
れるガラス基板とアノードが設けられるガラス基板とか
らなる真空気密容器の製造方法および該方法により製造
された真空気密容器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体微細加工技術を駆使して半
導体などの基板に冷陰極を内蔵したミクロンサイズの微
小真空構造を集積する真空マイクロエレクトロニクスが
注目を集めている。この真空マイクロエレクトロニクス
は、真空中での電子の高速性や、良好な軌道制御性ある
いは可干渉性などを利用することによって、高温や放射
線環境にも強い能動素子、あるいは電子の干渉性を利用
した高機能素子などを実現しようとするものであり、高
精細度平面型表示装置やセンサ、高周波増幅素子、マイ
クロ波素子など高機能素子への応用が考えられている。
【0003】このような高機能真空素子が格納される真
空気密容器の一構成例を、電界放出型表示素子などの高
精細度平面型表示装置を例にとって、図4に示す。この
図において、101はガラスなどからなるカソード基
板、102はカソード基板101上に形成されたカソー
ドであり、例えば、電界放出カソードなどの冷陰極であ
る。103はカソード基板101上に設けられたカソー
ド端子であり、カソード102と外部駆動回路との接続
のために設けられているものである。
【0004】また、104はガラスなどからなるアノー
ド基板、105は、アノード基板104上に形成され、
カソード102から放出された電子を捕集するためのア
ノードであり、表示装置の場合にはその上に蛍光体層が
塗布されている。106はアノード基板上に形成された
アノード端子であり、アノード105と外部駆動回路と
を接続するためのものである。そして、カソード基板1
01とアノード基板104は、カソード102とアノー
ド105とが対向し、かつ、アノード端子106とカソ
ード端子103が、それぞれ、対向する基板に重ならな
いように、配置され、フリットガラス107により封着
され、その内部は真空状態に保持されている。
【0005】従来、このような真空気密容器は、次のよ
うにして製造されていた。 イ.ガラス基板を規定の寸法に切断して洗浄・乾燥を行
い、その上にカソード102とカソード端子103を形
成し、カソード基板101を製造する。 ロ.同様に、ガラス基板上にアノード105とアノード
端子106を形成し、アノード基板104を製造する。 ハ.カソード基板101あるいはアノード基板104の
いずれか一方にフリットガラス107を取り付け、カソ
ード基板101とアノード基板104とを所定の位置に
重ね合わせる。 ニ.両基板の位置がずれないように治具で両基板を固定
し、封着炉に収容してフリットガラス107を溶融し
て、カソード基板101とアノード基板104とを封着
する。 ホ.排気を行い、内部を真空にし、排気孔部を気密封止
する。 ヘ.ゲッタフラッシュを行い、容器内の残留ガスを吸着
する。
【0006】また、上述した方法は、カソード基板とア
ノード基板を一枚ずつ製造するものであるが、これをよ
り効率的にするために、両基板を多面取りにより製造す
ることも行われている。すなわち、上記1あるいは2の
工程に替えて、複数枚のカソード基板あるいはアノード
基板に対応する大面積のガラス基板に、複数枚のカソー
ド基板あるいはアノード基板のパターンを同時に形成
し、その後にカッティングして、個別のカソード基板あ
るいはアノード基板に切り離すことにより、カソード基
板あるいはアノード基板を高速かつ大量に製造すること
も行われている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したように多面取
りを採用した場合、カソード基板およびアノード基板を
高速かつ大量に生産することができるが、パターンが形
成されたガラス基板をカッティングすることとなる。ガ
ラス基板をカッティングすると、ガラスの切粉やカケ、
ティッピングなどが発生し、これが、すでに形成されて
いるパターンに悪影響を及ぼすことが多い。カソード基
板については、レジストコートをしたままでカッティン
グをすることにより、ガラスの切粉などによる悪影響を
防ぐことが可能であるが、アノード基板には蛍光体層が
設けられているために、レジストコートをすることがで
きない。したがって、アノード基板については、表面に
切粉の影響を及ぼさないようにカットすることが非常に
困難であり、歩留まりが悪いものであった。
【0008】そこで、本発明は、真空気密容器を歩留ま
りよく量産できるようにすることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の真空気密容器の製造方法は、多面取りのカ
ソード基板を複数のカソード基板に切り離す工程と、単
一に分離されたカソード基板と、多面取りのアノード基
板とを面付けする工程と、面付けされた両基板を封着す
る工程と、複数のカソード基板が封着された多面取りの
アノード基板をカットして個別の容器に切り離す工程
と、切り離された各容器を個別に排気する工程とからな
るものである。
【0010】また、本発明の真空気密容器の他の製造方
法は、多面取りのカソード基板を複数の単一のカソード
基板に切り離す工程と、単一に分離されたカソード基板
と、多面取りのアノード基板とを面付けする工程と、面
付けされた両基板を封着・排気する工程と、複数のカソ
ード基板が封着され、排気された多面取りのアノード基
板をカットして個別の容器に切り離す工程とからなるも
のである。さらに、本発明の真空気密容器は、上述した
いずれかの真空気密容器の製造方法により製造されたも
のである。
【0011】多面取りのアノード基板に単一のカソード
基板を封着して容器を形成した後に、多面取りのアノー
ド基板をカットして個別の容器に切り離しているので、
ガラスをカッティングしたときに発生する切粉やカケ、
ティッピングなどがアノードに付着したり、真空容器内
に混入することを防止することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による、真空気密
容器の製造方法を示すフローチャートである。本発明に
おいては、アノード基板とカソード基板とは、いずれ
も、多面取りにより形成される。図1において、10は
多面取りのアノード基板であり、一枚の大面積のガラス
基板上に複数枚のアノード基板分のアノードパターンが
形成されているものである。また、20は多面取りのカ
ソード基板であり、同様に、一枚の大面積のガラス基板
上に複数枚のカソード基板分のカソードパターンが形成
されているものである。
【0013】この多面取りのカソード基板20は、レジ
ストコートをされた後、ステップS1において個々のカ
ソード基板に切り離され、複数枚の単一のカソード基板
30とされる。なお、レジストコートがされているため
に、カッティング時に生じる切粉などの悪影響は防止さ
れる。次に、ステップS2において、カソード基板30
に支柱が形成される。この支柱は、カソード基板とアノ
ード基板との間隔を大気圧に抗して所定の間隔に保持す
るために設けられるものである。なお、この支柱は多面
取りのアノード基板10の側に形成してもよい。
【0014】次に、ステップS3において、多面取りの
アノード基板10上の各アノードパターンの上に、所定
の位置合わせを行って複数枚のカソード基板30を配置
し、個別に面付けをする。この面付けは、多面取りのア
ノード基板10あるいはカソード基板30にフリットガ
ラスを取り付け、その一部をスポット加熱などにより仮
止めすることにより行われる。
【0015】次に、ステップS4において、仮止めされ
たカソード基板30の上からゲッタボックスが同様にし
て仮止めされる。ゲッタボックスは、その内部にゲッタ
が入れられているものであるが、それとともに、このゲ
ッタボックスには排気孔が設けられている。排気孔が設
けられているゲッタボックスをカソード基板に取り付け
ることにより、排気のためにカソード基板自体あるいは
アノード基板自体に孔を空けることを避けることができ
る。このため、カソード基板あるいはアノード基板に孔
を空けることにより生じる切粉やカケなどの悪影響を受
けることがない。
【0016】図2は、ステップS4が終了した状態を示
す平面図である。この図において、10は上述した多面
取りのアノード基板、30は上述した単一のカソード基
板である。また、31はカソード基板30上に設けられ
たカソード端子、32はカソード基板30上に設けられ
たゲート端子、34はゲッタボックス、35はゲッタボ
ックス33に設けられている排気孔、37はフリットガ
ラスである。なお、この図では、多面取りのアノード基
板10が4面取りである場合を示しているが、この面数
は個々の場合に応じて任意に決定することができるもの
である。
【0017】また、一点鎖線で示されているのは、後
に、多面取りのアノード基板10を切り離すときの切断
線であり、この一点鎖線で囲まれた部分11が単一のア
ノード基板となる。図示するように、カソード基板30
は、単一のアノード基板11とずらされた位置になるよ
うに重ねられている。これは、アノード基板11の上に
カソード基板30上に設けられたカソード端子31およ
びゲート端子32が重ねられて、カソード端子31およ
びゲート端子32に外部回路からの配線を行うことがで
きなくなることを防ぐためである。さらに、ゲッタボッ
クス33はアノード基板11とカソード基板30の両者
にまたがるように位置決めされている。
【0018】図3に、図2のA−A’断面図を示す。こ
の図において、11は上述したアノード基板、12はア
ノード基板1上に形成されたアノード、13はアノード
端子、30は上述したカソード基板、33はカソード、
31はカソード端子である。また、34は上述したゲッ
タボックス、35は上述した排気孔、36はゲッタ、3
7はフリットガラスである。
【0019】前記ステップS3およびS4において、こ
の図2および図3で示すように、カソード基板30およ
びゲッタボックス34が位置決めされて、多面取りのア
ノード基板10の上に仮止めされている。
【0020】続いて、ステップS5において、多面取り
のアノード基板10の上の所定の位置に仮止めされた4
枚のカソード基板30と4個のゲッタボックス34は、
電気炉などの封着炉に入れられて加熱され、封着され
る。すなわち、封着炉内で加熱されることにより、融点
の低いフリットガラス37が溶融され、多面取りのアノ
ード基板10とカソード基板30とゲッタボックス34
とが同時にシールされる。
【0021】次に、ステップS6において、多面取りの
アノード基板10のカッティングが行われる。すなわ
ち、図2の一点鎖線で多面取りのアノード基板10が切
り離される。このカッティングは、図2に示すように、
アノード基板11とカソード基板30とが位置をずらさ
れて重ね合わされているために、カソード基板30の側
からみて、一点鎖線の切断線が露出している部分につい
てはカソード基板30の側からカッティングすることが
できるが、一点鎖線の切断線がカソード基板30の下に
なっている部分については多面取りのアノード基板10
の側からカッティングすることが行われる。
【0022】このように、本発明によれば、ステップS
5において多面取りのアノード基板10にカソード基板
30およびゲッタボックス34を封着した後のステップ
S6において、カッティングが行われるために、ガラス
基板をカッティングしたときに出る切粉やカケなどがア
ノードに付着したり容器内部に混入することがない。し
たがって、歩留まりが低下することがない。
【0023】ステップS6により個々の容器に分離され
た後、ステップS7において、排気が行われる。これ
は、図3に示すように、ゲッタボックス34に設けられ
た排気孔35から排気を行うことにより、アノード基板
11とカソード基板30との間隙から、図3の矢印に示
すように内部の空気が排気されることにより行われる。
この後、ステップS7において、排気孔35が封止さ
れ、容器内部は真空状態にされる。
【0024】次に、ステップS7において、ゲッタフラ
ッシュが行われる。これは、高周波誘導加熱を行って、
ゲッタボックス34内に入れられているバリウムなどの
ゲッタ36をフラッシュさせることにより行われる。こ
れにより、金属バリウムの蒸着膜が容器内の残留ガスを
吸着し、容器内部が高真空状態にされる。以上の工程に
より、真空気密容器に入れられた電界放出型表示素子が
完成した。
【0025】なお、上記においては、ステップS5にお
いて封着した後、ステップS6においてカッティングを
行ったが、ステップS5の封着の後、ステップS7の排
気およびステップS8の排気孔の封止を、同一工程内に
おいて連続処理してもよい。この場合は、この連続処理
の後、ステップS6のカッティング処理を行うこととな
る。すなわち、ステップS5、ステップS7およびステ
ップS8を同一工程において連続処理し、次いで、ステ
ップS6、ステップS9の順に処理を行うこととなる。
この場合においても、封着が終了して真空気密容器が形
成されてから、カッティングが行われるために、ガラス
基板のカッティングによる悪影響を防ぐことができる。
【0026】なお、上記においては、電界放出型表示素
子の製造を例にとって説明したが、これに限られること
はなく、他の装置に用いられる真空気密容器の製造の場
合に本発明を適用することができることは明らかであ
る。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
多面取りを行っているために、大量に製造することがで
き、また、封着が終了した後に基板のカッティングを行
っているので、基板のカッティングによる悪影響を防ぐ
ことができ、真空気密容器を歩留まりよく量産すること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の真空気密容器の製造方法の一実施例を
説明するためのフローチャートである。
【図2】本発明の真空気密容器の製造方法の途中段階に
おける状態を示す図である。
【図3】本発明の真空気密容器の断面図である。
【図4】真空気密容器の断面図である。
【符号の説明】
10 多面取りのアノード基板 11、104 単一のアノード基板 12、105 アノード 13、106 アノード端子 20 多面取りのカソード基板 30、101 単一のカソード基板 31、103 カソード端子 32 ゲート端子 33、102 カソード 34 ゲッタボックス 35 排気孔 36 ゲッタ 37、107 フリットガラス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蒔田 吉生 千葉県茂原市大芝629 双葉電子工業株式 会社内 (72)発明者 門脇 晃 千葉県茂原市大芝629 双葉電子工業株式 会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 次の(a)から(e)の工程からなる、
    真空気密容器の製造方法。 (a) 多面取りのカソード基板を複数枚の単一のカソ
    ード基板に切り離す工程 (b) 多面取りのアノード基板に前記(a)において
    切り離された複数枚のカソード基板を面付けする工程 (c) 前記(b)において面付けされた、多面取りの
    アノード基板と複数枚のカソード基板とを封着する工程 (d) 前記(c)において複数枚のカソード基板が封
    着された多面取りのアノード基板をカットして個別の容
    器に切り離す工程 (e) 前記(d)において切り離された各容器を個別
    に排気し、封止する工程
  2. 【請求項2】 次の(a)から(d)の工程からなる、
    真空気密容器の製造方法。 (a) 多面取りのカソード基板を複数枚の単一のカソ
    ード基板に切り離す工程 (b) 多面取りのアノード基板に前記(a)において
    切り離された複数枚のカソード基板を面付けする工程 (c) 前記(b)において面付けされた、多面取りの
    アノード基板と複数枚のカソード基板とを封着、排気、
    封止する工程 (d) 前記(c)において複数枚のカソード基板が封
    着、排気、封止された多面取りのアノード基板をカット
    して個別の容器に切り離す工程
  3. 【請求項3】 請求項1あるいは請求項2に記載の製造
    方法により製造された真空気密容器。
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