JPH0935358A

JPH0935358A - ライトテスト方法及び光学的情報記録再生装置

Info

Publication number: JPH0935358A
Application number: JP7182614A
Authority: JP
Inventors: Shunpei Kimura; 俊平木村
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1995-07-19
Filing date: 1995-07-19
Publication date: 1997-02-07

Abstract

(57)【要約】【課題】記録パワーの変動によって記録ピットが変化
し、情報記録の高速化や高密度化に十分対応できなかっ
た。【解決手段】光磁気ディスク１に記録パワーを変化さ
せて所定の信号を記録しその再生信号振幅に基づいてデ
ィスク１の高温レベル状態が始まる直前のパワーレベル
を検出するステップと、得られたパワーレベルをもとに
ディスク１に低温レベル状態を形成するパワーレベルＰ
Ｌを決定するステップと、ディスク１に長さの異なる信
号を記録パワーを変化させて記録し、その長さの異なる
信号の再生信号のピーク値とボトム値の中間値の差に基
づいてディスク１に高温レベル状態を形成するパワーレ
ベルＰＨ１を決定するステップと、ディスク１に所定の
信号を記録パワーを変化させて記録し、その再生微分信
号の正負の振幅の差に基づいて高温レベル状態を形成す
るパワーレベルＰＨ２を決定するステップとを具備す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学的情報記録に
おいて光源の多値制御の記録パワーを最適値に調整する
ためのライトテスト方法、及びそれを用いた光学的情報
記録再生装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、情報記録媒体に光ビームを照射し
て光学的に情報を記録あるいは再生する装置としては、
予め情報が記録された再生専用の記録媒体の再生を行う
再生専用の装置、記録膜を熱で開口して情報ピットを記
録する追記型の装置、媒体の結晶状態を変化させ、その
反射率の違いで情報を記録する装置、垂直磁化膜の磁化
の方向を変えて情報ピットを記録する書き換え型の装置
などがある。

【０００３】図１４はその中で書き換え型の光変調オー
バーライト方式の光磁気ディスク装置を示した構成図で
ある。図１４に於いて、１は情報記録媒体であるところ
の光磁気ディスクであり、ガラスやプラスチックなどの
透明基板上に磁性膜２が形成されている。光磁気ディス
ク１はスピンドルモータ３の回転軸に装填され、スピン
ドルモータ３の駆動によって所定の速度で回転する。光
磁気ディスク１の下面には、光学ヘッド４が配置され、
上面には光学ヘッド４と相対向してバイアスマグネット
１３が配置されている。光学ヘッド４内には、記録再生
光源の半導体レーザ５が設けられ、この半導体レーザ５
から射出された光ビームはコリメータレンズ６で平行化
された後偏光ビームスプリッタ７を透過して対物レンズ
８に入射する。入射した光ビームは対物レンズ８で絞ら
れ、微小光スポットとして光磁気ディスク１の磁性膜２
上に集光される。情報を記録する場合は、半導体レーザ
５の光ビームは情報信号に応じて変調され、光磁気ディ
スク１の情報トラック上に照射される。一方、情報記録
時は、バイアスマグネット１３から光磁気ディスク１に
一定方向の磁界が印加されており、この磁界の印加と変
調された光ビームの照射によって一連の情報が記録され
る。

【０００４】また、光磁気ディスク１に照射された光ビ
ームは媒体面で反射される。この反射光は再び対物レン
ズ８を通って偏光ビームスプリッタ７に入射し、その偏
光面でビームスプリッタ９側へ反射され、半導体レーザ
５の入射光と分離される。ビームスプリッタ９では入射
光束が２つの光束に分離され、一方の光束はセンサレン
ズ１０を介して光センサ１１で受光される。光センサ１
１の受光信号はＡＴ・ＡＦ回路（オートトラッキング、
オートフォーカス制御回路）１２に入力され、ＡＴ・Ａ
Ｆ回路１２ではその受光信号をもとにトラッキング誤差
信号及びフォーカス誤差信号が生成される。そして、得
られたトラッキング誤差信号、フォーカス誤差信号をも
とに対物レンズアクチュエータ１４を駆動し、対物レン
ズ８をトラッキング方向及びフォーカス方向に変位させ
ることで、トラッキング制御とフォーカス制御が行われ
る。

【０００５】一方、光磁気ディスク１の記録情報を再生
する場合は、半導体レーザ５の光ビームは記録ができな
い程度の再生パワーに設定され、その再生用光ビームを
目的のトラックに走査することで記録情報の再生が行わ
れる。即ち、再生用光ビームのディスク面からの反射光
は対物レンズ８、偏光ビームスプリッタ７、ビームスプ
リッタ９、センサレンズ１５を経由して光センサ１６で
受光される。光センサ１６の受光信号は図示しない再生
信号処理回路へ送られ、ここで所定の信号処理を行うこ
とで記録情報が再生される。勿論、再生時においても再
生光ビームの反射光は光センサ１１で受光され、ＡＴ・
ＡＦ回路１２ではその受光信号をもとにトラッキング制
御やフォーカス制御を行う。

【０００６】次に、図１４の装置における光変調オーバ
ーライト方式の記録プロセスについて説明する。なお、
この光変調オーバーライト方式については、例えば特開
昭６３−２３９６３７号公報に詳しく記載されている。
まず、光磁気ディスク１の磁性膜２は互いに交換結合し
た第１磁性層と第２磁性層からなっている。第１磁性層
の室温での保磁力は第２磁性層の保磁力よりも大きく、
また、第１磁性層のキュリー温度は第２磁性層のキュリ
ー温度よりも低くなっている。このディスク１に情報を
記録する場合は、キュリー温度の高い方の第２の磁性層
を一方向に初期化した後、光学ヘッド４からのレーザビ
ームの強度変調によってオーバーライトを行う。ここ
で、レーザビームとしては、第１種、第２種のパワーの
異なる２種類のレーザパワーが用いられる。第１種のレ
ーザパワーはディスク１を第１磁性層のキュリー温度ま
で昇温するだけのパワーレベル（低温レベル状態を形成
するパワーレベルＰＬ）、第２種のレーザパワーはディ
スク１を第２磁性層のキュリー温度まで昇温するだけの
パワーレベル（高温レベル状態を形成するパワーレベル
ＰＨ）である。

【０００７】具体的に説明すると、まずレーザビームの
２種のパワーレベルを情報に応じて変調し、第１種のレ
ーザパワー（ＰＬ）を照射した場合、キュリー温度の低
い第１磁性層の磁化のみが消失し、その照射部位におい
て後の冷却過程で発現してくる磁化は、キュリー温度の
高い方の第２磁性層との交換結合によって、初期化され
た第２磁性層に対し安定な方向に配向する。次いで、第
２種のレーザパワー（ＰＨ）を照射した場合は、その照
射部位においては第１、第２磁性層の磁化が消失し、そ
の後の冷却過程で発現してくる第２磁性層の磁化は、バ
イハス磁界の方向に配向する。そして、第１磁性層の磁
化は交換結合によって第２磁性層の磁化の向きに対して
安定な向きに配向し、情報の記録を行う。このように第
１種、第２種のレーザパワーを情報に応じて選択するこ
とにより、第１種のレーザパワーでは第１磁性層の磁化
が初期化方向に配向し、第２種のレーザパワーでは第１
磁性層の磁化がバイアス磁界の方向に配向して情報の記
録を行う。このようにして２種のレーザパワーを制御
し、この記録の際には、第１磁性層の記録前の磁化の状
態に関係なく、オーバーライトが可能となる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】図１４で説明した光磁
気ディスク装置は、前述のように光変調方式のオーバー
ライトによる装置であり、情報の記録の高速化の要求に
応えるべく、情報の消去を行うことなく、情報の記録を
行うことが可能である。また、最近においては、情報の
高密度化のために、記録ピットの両エッジに情報の意味
をもたせるピットエッジ記録が主流になってきている。
しかしながら、このように情報の記録を高速化し、情報
を高密度化するためには記録ピットを正確、かつ安定し
て記録する必要があるが、記録時の装置内温度変化、対
物レンズやディスクの汚れなどによって記録パワーが変
動してしまう。そのため、従来においては、記録パワー
の変動によって記録ピットが変化し、記録の高速化や高
密度化に十分に対応できないという問題があった。

【０００９】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、その目的は、装置内温度変化や対物レンズ、
記録媒体の汚れなどに関係なく、記録ピットを正確に記
録することを可能としたライトテスト方法及び光学的情
報記録再生装置を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、光源の
記録パワーを多値制御により制御して情報記録媒体に情
報を記録するに当り、前記記録媒体にライトテストを行
って前記光源の多値の記録パワーをそれぞれ最適値に調
整するライトテスト方法であって、前記記録媒体に記録
パワーを変化させて所定の信号を記録し、その再生信号
振幅に基づいて前記記録媒体の高温レベル状態が始まる
直前のパワーレベルを検出するステップと、得られたパ
ワーレベルをもとに前記記録媒体に低温レベル状態を形
成するパワーレベルを決定するステップと、前記記録媒
体に長さの異なる信号を記録パワーを変化させて記録
し、その長さの異なる信号の再生信号のピーク値とボト
ム値の中間値の差に基づいて前記記録媒体に高温レベル
状態を形成するパワーレベルを決定するステップとを有
することを特徴とするライトテスト方法によって達成さ
れる。

【００１１】本発明の目的は、光源の記録パワーを多値
制御により制御して情報記録媒体に情報を記録するに当
り、前記記録媒体にライトテストを行って前記光源の多
値の記録パワーをそれぞれ最適値に調整するライトテス
ト方法であって、前記記録媒体に記録パワーを変化させ
て所定の信号を記録し、その再生信号振幅に基づいて前
記記録媒体の高温レベル状態が始まる直前のパワーレベ
ルを検出するステップと、得られたパワーレベルをもと
に前記記録媒体に低温レベル状態を形成するパワーレベ
ルを決定するステップと、前記記録媒体に長さの異なる
信号を記録パワーを変化させて記録し、その長さの異な
る信号の再生信号のピーク値とボトム値の中間値の差に
基づいて前記記録媒体に高温レベル状態を形成する第１
のパワーレベルを決定するステップと、前記記録媒体に
所定の信号を記録パワーを変化させて記録し、その再生
信号の微分信号の正負の振幅値の差に基づいて前記記録
媒体に高温レベル状態を形成する第２のパワーレベルを
決定するステップとを有することを特徴とするライトテ
スト方法によって達成される。

【００１２】本発明の目的は、光学的情報記録媒体に光
源の記録パワーを多値制御により制御して情報を記録す
る光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体に記
録パワーを変化させて所定の信号を記録し、その再生信
号振幅に基づいて前記記録媒体の高温レベル状態が始ま
る直前のパワーレベルを検出する手段と、得られたパワ
ーレベルをもとに前記記録媒体に低温レベル状態を形成
するパワーレベルを決定する手段と、前記記録媒体に記
録パワーを変化させて長さの異なる信号を記録し、その
長さの異なる信号の再生信号のピーク値とボトム値の中
間値の差に基づいて前記記録媒体に高温レベル状態を形
成するパワーレベルを決定する手段とを有することを特
徴とする光学的情報記録再生装置によって達成される。

【００１３】本発明の目的は、光学的情報記録媒体に光
源の記録パワーを多値制御により制御して情報を記録す
る光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体に記
録パワーを変化させて所定の信号を記録し、その再生信
号振幅に基づいて前記記録媒体の高温レベル状態が始ま
る直前のパワーレベルを検出する手段と、得られたパワ
ーレベルをもとに前記記録媒体に低温レベル状態を形成
するパワーレベルを決定する手段と、前記記録媒体に記
録パワーを変化させて長さの異なる信号を記録し、その
長さの異なる信号の再生信号のピーク値とボトム値の中
間値の差に基づいて前記記録媒体に高温レベル状態を形
成する第１のパワーレベルを決定する手段と、前記記録
媒体に記録パワーを変化させて所定の信号を記録し、そ
の再生微分信号の正負の振幅の差に基づいて前記記録媒
体に高温レベル状態を形成する第２のパワーレベルを決
定する手段とを有することを特徴とする光学的情報記録
再生装置によって達成される。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の光学的情
報記録再生装置の一実施例を示した構成図である。な
お、図１では、図１４の従来装置と同一部分は同一符号
を付してその説明を省略する。即ち、図１において、光
磁気ディスク１、磁性膜２、スピンドルモータ３、ＡＴ
・ＡＦ回路１２は図１４のものと同じである。また、光
学ヘッド４においても、半導体レーザ５、コリメータレ
ンズ６、対物レンズ８、偏向ビームスプリッタ７及び
９、センサレンズ１０及び１５、光センサ１１及び１
６、対物レンズアクチュエータ１４からなっており、図
１４の光学ヘッド４と同じに構成されている。光学ヘッ
ド４は図示しない機構により光磁気ディスク１の半径方
向に移動して所望の情報トラックにアクセスできるよう
に構成されている。なお、本実施例では、記録データの
変調方式として（１−７）符号が採用され、光磁気ディ
スク１にデータを記録する場合は、記録データはＣＰＵ
１８により（１−７）符号によって符号化される。そし
て、半導体レーザ駆動回路２０では、符号化された記録
信号に応じて半導体レーザ５を駆動することで、一連の
情報が記録される。

【００１５】また、本実施例では、光センサ１６で得ら
れた再生信号の振幅を検出するための振幅検出回路１７
が設けられている。振幅検出回路１７は、詳しく後述す
るようにライトテストを行う場合に、光磁気ディスク１
の高温プロセスが始まる直前のパワー（ＰＨth）を検出
するために再生信号の振幅を検出するものである。再生
信号の振幅値はＣＰＵ１８内のＡ／Ｄ変換器でＣＰＵ１
８に取り込まれる。アシンメトリ検出回路１９は、詳し
く後述するようにライトテスト時に長さの異なる２つの
記録ピットの再生信号のアシンメトリ（対称性）を検出
するための回路である。即ち、アシンメトリ検出回路１
９の内部には、再生信号のピーク値とボトム値を検出し
て常にその中間値をスライスレベルとして検出するため
のスライスレベル自動追従回路が設けられており、所定
のロングマークとショートマークの再生信号の中間値
（スライスレベル）をそれぞれ検出し、その差を出力す
るものである。アシンメトリ検出回路１９の出力もＡ／
Ｄ変換器でＣＰＵ１８に取り込まれ、詳しく後述するよ
うに半導体レーザ５の多値のパワーレベルの調整に用い
られる。

【００１６】更に、本実施例では、再生信号を微分する
ための微分回路２１、微分回路２１で微分された信号の
プラス側とマイナス側の信号の振幅を検出するための微
分信号振幅検出回路２２が設けられている。微分信号振
幅検出回路２２で検出された振幅値も半導体レーザ５の
パワーレベルの調整に用いられる。ＣＰＵ１８は本実施
例の光学的情報記録再生装置の主制御部をなすプロセッ
サ回路であり、ＡＴ・ＡＦ回路１２、バイアスマグネッ
ト１３の駆動回路（図示せず）、スピンドルモータ３の
駆動回路（図示せず）などの各部を制御して情報の記録
や再生を行う。また、ＣＰＵ１８は詳しく後述するよう
に半導体レーザ５の記録パワーを最適パワーに調整する
ためのライトテストの制御を行う。

【００１７】図２は本実施例の半導体レーザ５の点灯波
形を示した図である。図２では一例として４Ｔパターン
を記録する場合のレーザ点灯波形を示している。図２に
おいて、ＰＬは光磁気ディスク１の磁性膜層２に低温レ
ベル状態（消去）を形成するためのパワーレベル、ＰＨ
１とＰＨ２は高温レベル状態（記録）を形成するための
パワーレベル、Ｐｒは再生パワーで、一定の値である。
Ｐｒは再生パワーであるが、情報の記録時はＰｂ（記録
パワーのボトム値）であって、このＰｂはＰＨ１の前に
０．５Ｔ、ＰＨ２の後に１．０Ｔ設けられている。ＰＨ
１の前の０．５Ｔは前のクーリングギャップ、ＰＨ２の
後の１．５Ｔは後のクーリングギャップと呼ばれてい
る。また、ＰＨ１は１．５Ｔ、ＰＨ２は０．５Ｔ間隔で
オン・オフするパルス点灯となっている。本実施例で
は、図２のようにＰＬ，ＰＨ１，ＰＨ２及びＰｒの４値
で半導体レーザ５の記録パワーを制御するものとし、ラ
イトテストによってこれらのＰＬ，ＰＨ１，ＰＨ２の値
をそれぞれ最適値に調整するものである。

【００１８】図３は記録パターンとレーザ点灯波形の対
応を示した図である。図３（ａ）は記録パターン、図３
（ｂ）はこれに対応したレーザ点灯波形であるが、本実
施例では記録パターンのスペースを記録する場合、図３
（ｂ）のように半導体レーザ５をＤＣ点灯するものとす
る。また、４Ｔマークを記録する場合は、図２で説明し
たようなレーザ点灯波形で記録し、２Ｔマークに対して
は、図３（ｂ）のようにＰＨ１のみの波形となる。３Ｔ
マークに対しては、図３（ｂ）のようにＰＨ１は２Ｔ，
４Ｔと同じであるが、ＰＨ２のパルス点灯が１つとな
る。以下、図３では示していないが、５Ｔマークに対し
てはＰＨ１は同じでＰＨ２のパルス点灯が３つとなり、
６Ｔマークに対してはＰＨ２のパルス点灯が４つ、７Ｔ
マークでは５つ、８Ｔマークでは６つというように増加
する。

【００１９】このようにＰＨ１を点灯し、その後にＰＨ
２をパルス点灯するのは、記録媒体の温度を所定温度に
維持し、温度が上りすぎないようにするためである。ま
た、前述したピットエッジ記録は、ピットのエッジ位置
に情報を持たせる記録方式であるが、このようにＰＨ１
とＰＨ２を制御することにより、ピットエッジの変動を
抑制することができる。従って、このようなレーザビー
ムの制御方法は、特にピットエッジ記録に好適に使用す
ることができる。なお、スペースに対しては、前述のよ
うにＰＬのＤＣ点灯である。本実施例では、前述のよう
に（１−７）符号を採用しており、最短ピットは２Ｔ、
最長ピットは８Ｔである。また、図３（ｃ）はスペース
をパルス点灯する場合のレーザ点灯波形であるが、これ
については詳しく後述する。

【００２０】次に、図１の装置で使用されるライトテス
トの一例を図４及び図５に基づいて説明する。このライ
トテストは、例えば図１の装置に光磁気ディスク１がセ
ットされたとき、即ちディスク１が交換されたときに行
うものとする。まず、本実施例のライトテストは大きく
分けて次の３つのステップからなっている。（１）光磁気ディスク１に低温レベル状態（消去）を形
成するレーザパワーレベルＰＬを決定するために、高温
状態が始まる直前のレーザパワーＰＨthを検出する処理
を行う。（２）光磁気ディスク１に高温レベル状態（記録）を形
成するレーザパワーレベルＰＨ１を求める処理を行う。（３）光磁気ディスク１に高温レベル状態を形成するた
めのもう一方のレーザパワーレベルＰＨ２を求める処理
を行う。

【００２１】まず、（１）のパワーレベルＰＬを求める
方法について説明する。図４において、ライトテストを
行う場合、ＣＰＵ１８は各部を制御して光学ヘッド４を
光磁気ディスク１の所定のライトテスト領域へアクセス
する（Ｓ１）。次いで、ＣＰＵ１８ではバイアスマグネ
ット１３の駆動回路と半導体レーザ駆動回路２０を制御
して、ライトテスト領域に消去用のバイアス磁界を印加
し、かつ消去用の光ビームを走査してライトテスト領域
の消去を行う（Ｓ２）。消去が終了すると、ＣＰＵ１８
は半導体レーザ５の記録パワーの初期値Ｐｗを設定する
（Ｓ３）。これは、例えば光磁気ディスク１のコントロ
ールトラックに記録されているＰＬを用いてこれを初期
値として設定する。

【００２２】記録パワーの初期値が決まると、ＣＰＵ１
８はその初期値のパワーでライトテスト領域に８Ｔ連続
パターンを記録し（Ｓ４）、続いて記録した８Ｔ連続パ
ターンを再生して再生信号の振幅レベルを検出する（Ｓ
５）。もちろん、この再生信号の振幅レベルは振幅検出
回路１７で検出される。得られた振幅レベルはＣＰＵ１
８内のＡ／Ｄ変換器でＣＰＵ１８に取り込まれ、内部メ
モリに格納される（Ｓ５）。ＣＰＵ１８はこのように初
期値での記録と再生が終了すると、記録パワーＰｗにΔ
Ｐｗを加えて記録パワーを所定量増加し（Ｓ６）、この
記録パワーで再度ライトテスト領域に８Ｔ連続パターン
を記録し（Ｓ４）、それを再生して再生信号の振幅レベ
ルを検出、記憶する（Ｓ５）。

【００２３】このようにＳ４〜Ｓ６の処理を繰り返し行
い、予め決められた所定の記録パワーになるまで記録パ
ワーを所定量づつ高くしていくと、図６に示すように記
録パワーと再生信号振幅のデータを得ることができる。
所定の記録パワーとしては、例えばディスク１のコント
ロールトラックに記録されているＰＨの２倍と決めれば
よい。図６について説明すると、記録パワーが低い場合
は、再生信号振幅はほとんど０であるが、ある記録パワ
ーから急激に立ち上がっている。この再生信号振幅の立
ち上がる記録パワーが求めるべき高温レベル状態が始ま
る直前のレーザパワーレベルＰＨthである。

【００２４】ここで、図６で説明した高温レベル状態が
始まる直前のＰＨthは媒体特性により温度変化に応じて
変化するという特性をもっている。そこで、本発明はこ
の特性に着目し、高温レベル状態が始まる直前のＰＨth
を検出し、それに基づいてＰＬ，ＰＨ１，ＰＨ２を決定
することにより、温度変化に応じて記録パワーを設定す
るというものである。ＣＰＵ１８はメモリに格納された
記録パワーと再生信号振幅のデータからＰＨthを求めて
メモリに格納する（Ｓ７）。以上で（１）のＰＨthを求
める処理が終了する。なお、本実施例では、前述のよう
に記録情報の変調方式として（１−７）符号を採用して
おり、このときの最長ピットである８Ｔを再生信号振幅
の検出に用いている。

【００２５】次に、（２）の高温レベル状態を形成する
ためのレーザパワーレベルＰＨ１を求める方法について
説明する。引き続いて、図４を参照して説明する。図４
において、まずＣＰＵ１８は先に得られたＰＨthを用い
て低温レベル状態を成形するためのレーザパワーレベル
ＰＬの値を算出する。これは、ＰＨthに所定の係数αを
乗じて、ＰＬ＝α×ＰＨthと算出する（Ｓ８）。但し、
αの条件は、ＰＬｍｉｎ／ＰＨth＜α＜１．０である。
以上でＰＬの値が決定する。

【００２６】続いて、ＣＰＵ１８は高温レベル状態を成
形するためのレーザパワーレベルＰＨ１の初期値をＰＨ
１＝ＰＨthとし（Ｓ９）、かつＰＨ１＝ＰＨ２として光
磁気ディスク１のライトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連
続パターンを記録する（Ｓ１０）。このときの記録条件
は、ＰＬ＝α×ＰＨth、ＰＨ１＝ＰＨ２＝ＰＨthであ
る。ＰＬは先に得られた値を用いるものとする。８Ｔは
前述のように（１−７）符号における最長ピット、２Ｔ
は最短ピットである。

【００２７】８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンを記録する
と、ＣＰＵ１８は各部を制御してそれを再生し、８Ｔパ
ターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（８Ｔ）、２Ｔ
パターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（２Ｔ）を検
出する（Ｓ１１）。即ち、アシンメトリ検出回路１９に
よって８Ｔ連続パターン、２Ｔ連続パターンの各再生信
号のピーク値とボトム値の中間値をそれぞれ検出する。
次いで、アシンメトリ検出回路１９では、８Ｔ連続パタ
ーンの再生信号のスライスレベルＳＬ（８Ｔ）と２Ｔ連
続パターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（２Ｔ）の
差ΔＳＬを検出し（Ｓ１２）、ＣＰＵ１８では得られた
ΔＳＬの値を内部のメモリに格納する（Ｓ１３）。

【００２８】ΔＳＬが得られると、ＣＰＵ１８はＰＨ１
にΔＰＨ１を加え（Ｓ１４）、その記録パワーで再度ラ
イトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンの記録
（Ｓ１０）、それを再生して２Ｔと８Ｔの連続パターン
のスライスレベルの検出（Ｓ１１）、その差のΔＳＬの
検出（Ｓ１２）、メモリへの格納を行う（Ｓ１３）。こ
のようにＣＰＵ１８はＳ１０〜Ｓ１４の処理を繰り返し
行い、ＰＨ１の値をΔＰＨ１づつ高くしていって、その
都度８Ｔ連続パターンの再生信号のスライスレベルＳＬ
（８Ｔ）と２Ｔ連続パターンの再生信号のスライスレベ
ルＳＬ（２Ｔ）の差ΔＳＬを検出する。この処理は、Ｐ
Ｈ１が所定の値になるまで繰り返し行う。図７はこのよ
うにして得られたＰＨ１とΔＳＬの関係を示したデータ
であり、ＳＬ（８Ｔ）−ＳＬ（２Ｔ）＝０となる時のＰ
Ｈ１の値がＰＨ１opt 、つまりＰＨ１の最適値として得
られる。図７は実際にＰＨ１を変化させて２Ｔ、８Ｔ連
続パターンを記録し、このときのΔＳＬを測定して得ら
れた実測データである。図７の実測データでは、ＰＨ１
が８ｍｗのときにΔＳＬは０となり、ＰＨ１opt は８ｍ
ｗであった。

【００２９】ここで、本実施例では、前述のように（１
−７）符号を採用し、その最長ピットである８Ｔと最短
ピットである２Ｔの２つの再生信号のスライスレベル
（ピーク値とボトム値の中間値）の差ΔＳＬを検出して
いる。これについて説明する。図８にＰＨ１の値の違い
による８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンの再生信号を示して
いる。まず、図８（ａ）はＰＨ１が最適値よりも低い場
合の再生信号波形で、８Ｔ連続パターンのスライスレベ
ルに対して２Ｔ連続パターンのスライスレベルが低いレ
ベルになっている。従って、この場合は、８Ｔ連続パタ
ーンと２Ｔ連続パターンのスライスレベルには図８
（ａ）のようにΔＳＬの差が生じる。これに対し、図８
（ｂ）はＰＨ１が最適値の場合の再生信号波形で、８Ｔ
連続パターンと２Ｔ連続パターンのスライスレベルは等
しくなっている。一方、図８（ｃ）はＰＨ１が最適値よ
りも高い場合で８Ｔ連続パターンのスライスレベルに対
して２Ｔ連続パターンのスライスレベルが高いレベルに
なっている。この場合は、８Ｔ連続パターンと２Ｔ連続
パターンのスライスレベルには図８（ｃ）のようにΔＳ
Ｌの差が生じる。

【００３０】次に、図８においては、最長ピットの８Ｔ
の再生信号は飽和状態にあり、この状態では８Ｔの再生
信号のピーク値とボトム値の中間値（スライスレベル）
は０と見なすことができる。そこで、本実施例では、８
Ｔを基準に２Ｔを正確な長さの２Ｔに記録できるよう
に、ＰＨ１の値を変化させてΔＳＬが０になるときのＰ
Ｈ１を検出している。つまり、８Ｔの再生信号のスライ
スレベルは０とみなすことができるので、図８（ｂ）の
ように８Ｔと２Ｔのピットの再生信号のスライスレベル
の差ΔＳＬが０であれば、２Ｔの再生信号のスライスレ
ベルも０とみなすことができる。従って、このことは２
Ｔのピットを正確に２Ｔの長さに記録できたということ
であるので、このときのＰＨ１の値を最短ピットの２Ｔ
を正確に記録することができるＰＨ１の最適パワーレベ
ルとして得ることができる。

【００３１】最後に、（３）の高温レベル状態を形成す
るためのもう一方のレーザパワーレベルＰＨ２を求める
方法について説明する。図４のＳ１３は図５のＳ１５に
続いているので、ここからは図５を参照して説明する。
図５において、まずＣＰＵ１８は先に得られた結果から
ＰＨ１の値をＰＨ１opt と設定し、ＰＨ２の初期値を
０．８×ＰＨ１opt と設定する（Ｓ１５）。続いて、Ｃ
ＰＵ１８はこの記録条件で光磁気ディスク１のライトテ
スト領域に８Ｔ連続パターンを記録する（Ｓ１６）。こ
のときの記録条件は、ＰＬ＝α×ＰＨth、ＰＨ１＝ＰＨ
１opt 、ＰＨ２＝０．８×ＰＨ１opt である。

【００３２】次に、ＣＰＵ１８は各部を制御してライト
テスト領域に記録された８Ｔ連続パターンを再生する
（Ｓ１７）。得られた再生信号は微分回路２１で微分さ
れ（Ｓ１７）、微分信号振幅検出回路２２では８Ｔ連続
パターンの微分信号のプラス側の振幅（ｄ／ｄｔ（Ｌ
Ｅ））、マイナス側の振幅（ｄ／ｄｔ（ＴＥ））が検出
される（Ｓ１８）。つまり、微分信号振幅検出回路２２
によって８Ｔ連続パターンの微分信号の前エッジ、後エ
ッジの傾きが検出される。得られた振幅値はＡ／Ｄ変換
器でＣＰＵ１８に取り込まれる。ここで、再生信号を微
分しているのは、再生信号の傾きの度合を検出するため
であるが、これについては後述する。

【００３３】次いで、ＣＰＵ１８では、微分信号振幅検
出回路２２で得られた８Ｔ連続パターンの微分信号のプ
ラス側の振幅（ｄ／ｄｔ（ＬＥ））とマイナス側の振幅
（ｄ／ｄｔ（ＴＥ））の差が０であるかどうかを判断し
て（Ｓ１９）、０でなければ得られた差の値をメモリに
格納する。また、ＰＨ２にΔＰＨ２を加えて再度ライト
テスト領域に８Ｔ連続パターンの記録（Ｓ１６）、８Ｔ
連続パターンの再生、微分（Ｓ１７）、微分信号のプラ
ス側とマイナス側の振幅の検出（Ｓ１８）、その差が０
かどうかの判断を行う（Ｓ１９）。ＣＰＵ１８はこのよ
うにＳ１６〜Ｓ１９の処理を繰り返し行い、ＰＨ２の値
をΔＰＨ２づつ高くしていって、その都度８Ｔ連続パタ
ーンの微分信号のプラス側の振幅（ｄ／ｄｔ（ＬＥ））
とマイナス側の振幅（ｄ／ｄｔ（ＴＥ））の差の値が０
であるかどうかを判断していく。そして、Ｓ１９におい
て、ｄ／ｄｔ（ＬＥ）−ｄ／ｄｔ（ＴＥ）＝０となった
ときに、そのときのＰＨ２の値をＰＨ２の最適値ＰＨ２
opt として決定する（Ｓ２１）。

【００３４】図９にＰＨ２の値を徐々に高くした場合の
８Ｔ連続パターンの微分信号のプラス側振幅とマイナス
側振幅の差の変化を示している。図９は実際にＰＨ２の
値を変えて８Ｔ連続パターンを記録して、その再生、微
分信号の正負の振幅値の差を測定した実測データであ
る。図９の例では、ＰＨ２が８ｍｗのときに微分信号の
プラス側とマイナス側の振幅の差が０となり、ＰＨ２の
最適パワーは８．０ｍｗであった。以上でＰＬ，ＰＨ
１，ＰＨ２の最適値が決定し（Ｓ２２）、ライトテスト
を終了する。半導体レーザ５の多値の記録パワーは、各
々ライトテストで得られた最適値に設定され、以後その
最適記録パワーで情報の記録を行う。

【００３５】ここで、本実施例では、前述のように最長
ピット（８Ｔ）の再生信号の微分信号のプラス側とマイ
ナス側の振幅を検出し、それに基づいてＰＨ２の最適値
を決定している。これについて説明する。図１０にＰＨ
２の値の違いによる８Ｔ連続パターンの再生信号とその
微分信号を示している。まず、図１０（ａ）はＰＨ２が
最適値よりも低い場合の信号波形で、８Ｔ連続パターン
の再生信号の右肩が下がったようになっている。つま
り、前エッジＬＥより後エッジＴＥの傾きが緩くなって
おり、理想的な楕円形のピットが形成されていないこと
を示している。因みに、この場合は、逆涙型のピットが
記録されている。この８Ｔ連続パターンの再生信号を微
分すると、図１０（ａ）の様な微分波形になり、プラス
側の振幅ｄ／ｄｔ（ＬＥ）の方がマイナス側の振幅ｄ／
ｄｔ（ＴＥ）より大きくなる。

【００３６】図１０（ｂ）はＰＨ２の最適値と等しい場
合の信号波形で、８Ｔ連続パターンの再生信号が正負対
称な形になっている。この場合は、前エッジＬＥと後エ
ッジＴＥの傾きが等しくなり、理想的な楕円形のピット
が形成されていることを示している。この８Ｔ連続パタ
ーンの再生信号を微分すると、図１０（ｂ）の様な微分
波形になり、プラス側の振幅ｄ／ｄｔ（ＬＥ）とマイナ
ス側の振幅ｄ／ｄｔ（ＴＥ）が等しくなる。最後に、図
１０（ｃ）はＰＨ２が最適値よりも高い場合の信号波形
で、８Ｔ連続パターンの再生信号の右肩が上がったよう
になっている。この場合は、前エッジＬＥより後エッジ
ＴＥの傾きが急峻になっており、理想的な楕円形のピッ
トが形成されていない状態にある。因みに、このときは
涙形のピットが記録されている。この８Ｔ連続パターン
の再生信号を微分すると、図１０（ｃ）の様な微分波形
になり、プラス側の振幅ｄ／ｄｔ（ＬＥ）の方がマイナ
ス側の振幅ｄ／ｄｔ（ＴＥ）よりも小さくなる。

【００３７】このように再生信号の前エッジ、後エッジ
の傾きとピットの形状には相関関係があり、前エッジと
後エッジの傾きからピットが理想的に記録されているか
どうかがわかる。そこで、本実施例では、８Ｔ連続パタ
ーンを理想的なピット形状で記録するために、ＰＨ２を
変化させて記録し、再生信号の前エッジと後エッジの傾
きが等しくなる記録パワーＰＨ２opt を検出している。
即ち、８Ｔ連続パターンの再生信号の微分信号のプラス
側の振幅（ｄ／ｄｔ（ＬＥ））とマイナス側の振幅（ｄ
／ｄｔ（ＴＥ））が等しくなる記録パワーを検出するこ
とで、ＰＨ２の最適値ＰＨ２opt を決定している。

【００３８】次に、本願発明者は、以上のようなライト
テストで得られたＰＨ１とＰＨ２の値が適切かどうかを
確認するために、次のような確認実験を行った。以下、
その実験結果について説明する。まず、光磁気ディスク
１に線速１２．５６ｍ／ｓ（回転数３０００ｒｐｍ、記
録半径位置４０．０ｍｍ）で、最高周波数が９．８３Ｍ
Ｈｚとなるような（１−７）変調のランダム信号をＰＨ
１とＰＨ２を各々変化させて記録し、その再生信号の立
ち上がりエッジのジッターと立ち下がりエッジのジッタ
ーを測定した。なお、ＰＨthは６．０ｍｗであって、α
＝０．９としてＰＬ＝５．４ｍｗに設定した。このと
き、両エッジのジッターの悪い方の値をピックアップ
し、プロットしたところ図１１のような結果が得られ
た。即ち、図１１においては、横軸がＰＨ１、縦軸がＰ
Ｈ２であり、ＰＨ１とＰＨ２で示される位置がどの程度
のジッターであるかを表わした、いわばＰＨ１−ＰＨ２
におけるジッターのマップを作成した。

【００３９】また、図１１においては、再生信号のジッ
ターを６段階に分けており、１．５５〜１．６０ｎｓの
範囲が最もジッターのよい領域、１．８０〜１．８５ｎ
ｓの範囲が最もジッターの悪い領域として示している。
従って、図１１のようにＰＨ１とＰＨ２の各位置でジッ
ターをプロットすると、ジッターの等高線のような形で
ＰＨ１とＰＨ２を評価することができる。つまり、図１
１のマップの等高線の低いところが最もジッターの小さ
い領域であり、これから外周にいくほどジッターが大き
くなっている。よって、図１１においては、×印で示す
位置、即ちＰＨ１が８．２ｍｗ、ＰＨ２が８．０５ｍｗ
の組み合わせのときが、ジッター量が最も小さくなる記
録条件である。

【００４０】これに対し、●印で示す位置は前述のよう
なライトテストによって得られたＰＨ１とＰＨ２の位置
を示している。即ち、図７に示したようにΔＳＬが０に
なるときのＰＨ１は８．０ｍｗ、図９に示したように微
分信号のプラス側振幅とマイナス側振幅の差が０となる
ときのＰＨ２は８．０ｍｗであるので、図１１のマップ
上でその位置を示すと、●印の位置となる。そこで、実
験で得られたＰＨ１，ＰＨ２の最適条件、即ちジッター
量の最も小さくなる条件と、本発明の最適条件を比較す
ると、図１１から明らかなように×印の位置と●印の位
置はほぼ一致していることがわかる。このことは、本発
明のライトテスト方法を用いれば、各々のピットを正確
に記録できることを意味しており、多値制御における記
録パワーの調整が正確であることを確認できたものであ
る。

【００４１】次に、ディスク１の線速度がどの記録位置
でも一定の場合は、記録パワーを変える必要はないが、
例えばＣＡＶ方式のようにディスク１の記録位置によっ
て線速度が異なる場合は、それに応じて半導体レーザ５
の記録パワーを変える必要がある。図１２にこの場合の
ディスク１の記録半径位置（線速）と記録パワーの関係
を示しており、線速度と記録パワーの間には比例関係が
ある。従って、このような場合は、図４，図５で説明し
たライトテストは、例えばディスク１の内周、中周、外
周で行うものとし、各位置で得られたＰＬ，ＰＨ１，Ｐ
Ｈ２の値をメモリに格納しておき、それに基づいて直線
近似によりディスク１の半径位置に応じてＰＬ，ＰＨ
１，ＰＨ２の値を変えるものとする。また、ライトテス
トはディスク１が交換されるごとに行うと説明したが、
これに限らず、情報の記録前に必ず行ってもよいし、あ
るいはディスク１がセットされた後も一定時間ごとに定
期的に行ってもよい。

【００４２】なお、以上の実施例では、レーザ点灯波形
を図２のような点灯波形としたが、本発明はこれに限定
されるものではなく、例えば図１３（ａ）、図１３
（ｂ）、あるいは図１３（ｃ）のような点灯波形であっ
てもよい。図１３（ａ）〜（ｃ）は図２と同様に４Ｔパ
ターンを記録するときのレーザ点灯波形を示している。
図２との違いは、図１３（ａ）は再生パワーのＰｒをＰ
Ｈ２の後に１．５Ｔ分加えている点が異なっている。ま
た、図１３（ｂ）は図１３（ａ）のＰＨ２を連続点灯と
し、図１３（ｃ）は再生パワーは図２と同じであるが、
ＰＨ２を図１３（ｂ）と同様に連続点灯としている。い
ずれにおいても、本発明のライトテストによって各パワ
ーレベルを最適値に調整することが可能である。

【００４３】また、実施例では、図３（ｂ）の様にスペ
ースに対してはＤＣ点灯であると説明したが、本発明は
図３（ｃ）のようにスペースをパルス点灯する場合にも
適用することができる。但し、この場合は、スペースは
パルス点灯であるので、高温プロセスの始まるＰＨthの
値からＰＬのレベルをＰＬ＝α×ＰＨthとして決定する
ときに、α′の値はα′＞１．０となる。このように低
温レベル状態をパルス点灯で形成する場合は、低温レベ
ルのレーザパワー制御の精度を高められる利点がある。

【００４４】更に、実施例では、高温プロセスの始まる
直前のＰＨthを求める方法として、８Ｔ連続パターンを
記録し、その再生信号振幅が立ち上がる記録パワーをＰ
Ｈthとして求めると説明したが、テストパターンの８Ｔ
連続信号のマーク部分を１／２Ｔの長さのパルス点灯で
行ってもよい。この場合は、ＰＨthの値から得られたＰ
Ｌのレベルは、ＰＬ＝β×ＰＨthとなり、このときの係
数βはβ＜１．０となる。

【００４５】また、実施例では、半導体レーザ５の記録
パワーをＰＬ，ＰＨ１，ＰＨ２，Ｐｒ（＝Ｐｂ）の４値
で制御する４値制御の場合のライトテストを例として説
明したが、本発明はこれに限ることなく、例えばＰＬ，
ＰＨ，Ｐｒ（＝Ｐｂ）の３値で制御する３値制御の場合
にも適用することができる。この３値制御の場合は、ラ
イトテストは次のように行う。まず、図４のＳ１からＳ
８までは４値制御の場合と同じで、ＰＨthを検出し、そ
れに基づいてＰＬを設定する。次に、高温レベル状態を
形成するパワーレベルはＰＨのみであるので、図４のＳ
９でＰＨ＝ＰＨthとし、Ｓ１０でそのＰＨのパワーレベ
ルで８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンを記録する。

【００４６】続いてＳ１１で８Ｔ，２Ｔ連続パターンを
再生して８Ｔと２Ｔの再生信号のスライスレベルを検出
し、Ｓ１２で８Ｔと２Ｔのスライスレベルの差ΔＳＬを
検出し、得られたΔＳＬの値をメモリに格納する（Ｓ１
３）。そして、Ｓ１０〜Ｓ１３の動作をＰＨ１の値をΔ
ＰＨづつ高くしていってＰＨの値が所望の値になるまで
繰り返し、その都度８Ｔ連続パターンの再生信号のスラ
イスレベルＳＬ（８Ｔ）と２Ｔ連続パターンの再生信号
のスライスレベルＳＬ（２Ｔ）の差ΔＳＬを検出する
と、図７のようなデータが得られる。この結果からＳＬ
（８Ｔ）−ＳＬ（２Ｔ）＝０となる時のＰＨの値を最適
パワーレベルＰＨopt として得ることができる。以上で
ＰＬとＰＨの最適値が求まり、３値制御の場合のライト
テストを終了する。このように本発明は３値制御の場合
のライトテストにも適用が可能である。更に、実施例で
は、（１−７）符号に適用した例を説明したが、本発明
はこれ以外の変調方式にも適用できることは言うまでも
ない。

【００４７】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、次の効果
がある。（１）記録媒体の高温レベル状態が始まる直前のパワー
レベルを検出し、検出されたパワーレベルに基づいて低
温レベル状態を形成するパワーレベルを決定することに
より、装置内温度変化に応じて記録パワーを最適パワー
レベルに設定することが可能となり、温度変化や対物レ
ンズ、媒体等の汚れなどによらず、安定して記録ピット
を記録することができる。（２）長さの異なる信号を記録し、その再生信号のピー
ク値とボトム値の中間値の差に基づいて高温レベル状態
を形成するパワーレベルを決定するので、最短ピットを
正確にその長さに記録することができる。（３）所定の信号を記録し、その再生微分信号の正負の
振幅に基づいて高温レベル状態を形成するパワーレベル
を決定するので、最長ピットであっても正確にその長さ
に記録することができる。（４）従って、装置内温度変化や媒体の汚れなどによら
ず、最短ピットから最長ピットまでを正確に記録するこ
とが可能となり、これによってジッター量の小さい情報
の記録を実現することができ、情報記録の高速化や高密
度化にも対応することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光学的情報記録再生装置の一実施例を
示した構成図である。

【図２】図１の実施例の４Ｔパターンを記録するときの
レーザ点灯波形を示した図である。

【図３】図１の実施例の記録パターンとレーザ点灯波形
を対応して示した図である。

【図４】本発明のライトテスト方法の一実施例を示した
フローチャートである。

【図５】本発明のライトテスト方法の一実施例を示した
フローチャートである。

【図６】高温レベル状態が始まる直前のレーザパワーレ
ベルＰＨthを求める方法を説明するための図である。

【図７】高温レベル状態を形成するパワーレベルＰＨ１
と、２Ｔ，８Ｔの再生信号振幅におけるピーク値とボト
ム値の中間値の差ΔＳＬとの関係を示した図である。

【図８】ＰＨ１の違いによる８Ｔ連続、２Ｔ連続パター
ンの再生信号を示した信号波形図である。

【図９】高温レベル状態を形成するパワーレベルＰＨ２
と、２Ｔ，８Ｔの再生微分信号におけるプラス側とマイ
ナス側振幅値の差との関係を示した図である。

【図１０】ＰＨ２の違いによる８Ｔ連続パターンの再生
信号及びその微分信号を示した信号波形図である。

【図１１】ＰＨ１とＰＨ２の確認実験結果を示した図で
ある。

【図１２】ディスクの記録半径位置と記録パワーの関係
を示した図である。

【図１３】４Ｔパターンのレーザ点灯波形の他の例を示
した図である。

【図１４】従来例の光磁気ディスク装置を示した図であ
る。

【符号の説明】

１光磁気ディスク２磁性膜３スピンドルモータ４光学ヘッド５半導体レーザ８対物レンズ１１，１６光センサ１３バイアスマグネット１２ＡＴ／ＡＦ回路１７振幅検出回路１８ＣＰＵ１９アシンメトリ検出回路２０半導体レーザ駆動回路２１微分回路２２微分信号振幅検出回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源の記録パワーを多値制御により制御
して情報記録媒体に情報を記録するに当り、前記記録媒
体にライトテストを行って前記光源の多値の記録パワー
をそれぞれ最適値に調整するライトテスト方法であっ
て、前記記録媒体に記録パワーを変化させて所定の信号
を記録し、その再生信号振幅に基づいて前記記録媒体の
高温レベル状態が始まる直前のパワーレベルを検出する
ステップと、得られたパワーレベルをもとに前記記録媒
体に低温レベル状態を形成するパワーレベルを決定する
ステップと、前記記録媒体に長さの異なる信号を記録パ
ワーを変化させて記録し、その長さの異なる信号の再生
信号のピーク値とボトム値の中間値の差に基づいて前記
記録媒体に高温レベル状態を形成するパワーレベルを決
定するステップとを有することを特徴とするライトテス
ト方法。
【請求項２】光源の記録パワーを多値制御により制御
して情報記録媒体に情報を記録するに当り、前記記録媒
体にライトテストを行って前記光源の多値の記録パワー
をそれぞれ最適値に調整するライトテスト方法であっ
て、前記記録媒体に記録パワーを変化させて所定の信号
を記録し、その再生信号振幅に基づいて前記記録媒体の
高温レベル状態が始まる直前のパワーレベルを検出する
ステップと、得られたパワーレベルをもとに前記記録媒
体に低温レベル状態を形成するパワーレベルを決定する
ステップと、前記記録媒体に長さの異なる信号を記録パ
ワーを変化させて記録し、その長さの異なる信号の再生
信号のピーク値とボトム値の中間値の差に基づいて前記
記録媒体に高温レベル状態を形成する第１のパワーレベ
ルを決定するステップと、前記記録媒体に所定の信号を
記録パワーを変化させて記録し、その再生信号の微分信
号の正負の振幅値の差に基づいて前記記録媒体に高温レ
ベル状態を形成する第２のパワーレベルを決定するステ
ップとを有することを特徴とするライトテスト方法。
【請求項３】請求項１又は請求項２に記載のライトテ
スト方法において、前記低温レベル状態を形成するパワ
ーレベルは、前記高温レベル状態が始まる直前のパワー
レベルに所定の係数を乗算することによって決定するこ
とを特徴とするライトテスト方法。
【請求項４】光学的情報記録媒体に光源の記録パワー
を多値制御により制御して情報を記録する光学的情報記
録再生装置において、前記記録媒体に記録パワーを変化
させて所定の信号を記録し、その再生信号振幅に基づい
て前記記録媒体の高温レベル状態が始まる直前のパワー
レベルを検出する手段と、得られたパワーレベルをもと
に前記記録媒体に低温レベル状態を形成するパワーレベ
ルを決定する手段と、前記記録媒体に記録パワーを変化
させて長さの異なる信号を記録し、その長さの異なる信
号の再生信号のピーク値とボトム値の中間値の差に基づ
いて前記記録媒体に高温レベル状態を形成するパワーレ
ベルを決定する手段とを有することを特徴とする光学的
情報記録再生装置。
【請求項５】光学的情報記録媒体に光源の記録パワー
を多値制御により制御して情報を記録する光学的情報記
録再生装置において、前記記録媒体に記録パワーを変化
させて所定の信号を記録し、その再生信号振幅に基づい
て前記記録媒体の高温レベル状態が始まる直前のパワー
レベルを検出する手段と、得られたパワーレベルをもと
に前記記録媒体に低温レベル状態を形成するパワーレベ
ルを決定する手段と、前記記録媒体に記録パワーを変化
させて長さの異なる信号を記録し、その長さの異なる信
号の再生信号のピーク値とボトム値の中間値の差に基づ
いて前記記録媒体に高温レベル状態を形成する第１のパ
ワーレベルを決定する手段と、前記記録媒体に記録パワ
ーを変化させて所定の信号を記録し、その再生微分信号
の正負の振幅の差に基づいて前記記録媒体に高温レベル
状態を形成する第２のパワーレベルを決定する手段とを
有することを特徴とする光学的情報記録再生装置。