JP3694338B2 - 光磁気ディスク装置 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は光磁気ディスク装置に係わり、特に光磁気ディスクの内周から外周に渡って同一記録条件でマークを記録する光磁気ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、計算機の外部記憶装置として光ディスクが開発され、実用化されつつある。光ディスクには光磁気型、相変化型、有機系(有機材料)型等がある。かかる光ディスクでは、半導体レーザを波長程度まで微小スポットとして絞り込み、データを媒体上に記録するもので、大容量記録と可換性という大きな特徴を有している。特に、ISO規格により標準化が行なわれた5インチ、3.5インチの光ディスク装置は、高機能ワークステーションから個人ユーザレベルまで幅広く利用が見込まれている。
【0003】
光ディスクのうち書き換え可能な光磁気ディスクは基板上にTbFeCo等のアモルファス磁性薄膜等を被着したものであり、磁性膜の磁化反転に必要な保磁力が温度の上昇に応じて小さくなる性質(キューリ点で保磁力は零)を利用する。すなわち、レーザビームを照射してディスク媒体の温度を2000C付近まで上昇させて保磁力を弱めた状態で弱磁界を掛けて磁化方向を制御して記録、消去するものである。従って、図2(a)に示すように、磁性膜5上の磁化方向が下向きの状態において、書き込みコイル6により上方向の磁界を掛け、図2(b)に示すように磁化方向を反転したい部分にレーザビームLBを対物レンズOLを介して照射すると、該部分の磁化方向が反転して上方向になり、情報の記録ができる。又、情報の読み取りに際しては、図2(c)に示すようにy軸方向の偏光面を有するレーザビームLBを磁性膜5に照射すると、磁気カー効果により磁化方向が下向きの部分では時計方向に偏光面がθK回転した反射光LB0が得られ、磁化方向が上向きの部分では反時計方向に偏光面がθK回転した反射光LB1が得られる。従って、反射光の偏光状態を検出することにより磁化の向き、換言すれば情報を読み取ることができる。
【0004】
図3は3.5インチの光磁気ディスクの構成説明図であリ、図3(a)は概略平面図、図3(b)は一部概略断面図である。光磁気ディスク11は同心円状又はスパイラル状のトラックを片面当たり10,000トラック備えており、全トラックは扇型に25セクタに分割されている。各セクタSTは例えば512バイトで構成され、先頭部にはアドレスフィールドAF(ID領域)が設けられ、以降にデータフィールドDF(MO領域:magneto-optical領域)が設けられている。アドレスフィールドAFには、セクタマーク、クロック抽出用VFOパターン、アドレスマーク、トラックアドレス、セクタアドレス等のアドレス情報が記録され、データフィールドDFにはクロック抽出用のVFOパターンと位相合わせ用のシンクバイトSYNC及びデータDATAが格納されるようになっている。又、アクセス可領域(記憶領域)の内側と外側にディフェクトマネージメントエリアDMAが設けられ、更にその内外周にインナコントロールトラック、アウタコントロールトラックTRcが設けられている。
【0005】
光磁気ディスク11は図3(b)に示すように、透明なプラスチック層(基板)PLSの上に記録層(磁性膜)MGFを被着し、更にその上に保護層PRFを形成して構成され、アドレスフィールドAF(ID領域)は予めスタンピングによりピットPT(凹凸)によりプリフォーマッティングされている。
記録すべきデータは、光ディスクの記録特性に適した形式(RLL(2,7)符号)のデータに変調され、変調データのビット”1”に対応する媒体上の位置にマークを記録する。尚、RLL(2,7)符号はビット”1”とビット”1”の間に入る”0”の個数が2〜7まで変化するもので、入力データと符号化後のデータは以下のようになる。
"1"の部分がマーク、"0"の部分が非マークとなり、(2),(3)で示す記録パターンの場合、すなわち、"1"と"1"の間に入る"0"の個数が2個の場合、マークが最高密度になる。又、データ記録変調法としてはRLL(2,7)符号のほかにRLL(1,7)符号もあり、記録変調方式に応じて最高密度の記録パターンも変わる。
【0006】
図4は光磁気ディスク装置の記録・再生用ヘッド(光磁気ヘッド)の基本構成図である。211は半導体レ−ザ−、212はコリメートレンズ、213は真円補正プリズム、214は半導体レ−ザ−からの光を透過し、ディスクから反射した光を信号検出側に反射するビームスプリッター、215は光をディスク(図示せず)に導く反射ミラー、216は二次元アクチュエ−タで、図示しないが対物レンズや該対物レンズをトラッキング及びフォーカシング方向に微調整するトラッキングコイル、フォーカシングコイル及びデータ書き込みコイル等を備えている。217は反射光をデータ検出側に導く反射ミラー、218は1/2波長板であり入射光の偏光面を45度回転させ、後段の偏光ビームスプリッターでの透過光と反射光の量を1:1にする働きを有している。219は収束レンズ、2110は偏光ビームスプリッター、2111はP波成分検出器、2112はS波成分検出器である。偏光ビームスプリッター2110は入射面に平行の光(P波成分)を透過し、入射面に垂直な光(S波成分)を反射する特性を有している。
【0007】
従って、入射光の偏光状態を透過光量及び反射光量の変化として検出することができる。すなわち、MO領域の読取位置における磁化方向(情報ビットの”0”、”1”)に応じて磁気カー効果により戻り光の偏光面が図5(a)に示すように時計方向あるいは反時計方向にθK回転し、1/2波長板218で偏光面を45度回転される。このため、図5(b)に示すように、偏光ビームスプリッター2110から出力されるP波成分(透過光)及びS波成分(反射光)は情報が"1(マーク)"の時、P波成分がS波成分より大きくなり、情報が"0(非マーク)"の時、P波成分がS波成分より小さくなる。従って、P波成分検出器2111より図5(c)に示す信号RDS1,が出力され、S波成分検出器2112より図5(c)に示す信号RDS2(信号RDS1と極性が反転している)が出力され、これら信号RDS1,RDS2を差動増幅器に入力すると同位相のノイズが除去された再生信号RDSが得られる。
【0008】
プリフォーマット部(ID領域)にはピットの凹凸により情報が記録されており、磁化の向きは下向きあるいは上向きの一方に固定されている。従って、プリフォーマト部からの戻り光の偏光面は常に時計方向あるいは反時計方向の一方の方向(反時計方向とする)にθK回転している。又。戻り光の大きさは読取位置の凹凸形状によりレーザ光の回折が生じるため、読取位置が凸部か凹部かにより変化する。この戻り光の偏光面を1/2波長板218で45度回転すると、図6に示すようになる。このため、P波成分検出器2111より信号RDS1が出力され、S波成分検出器2112より信号RDS2が出力され、これら信号RDS1,RDS2の位相差が一致する。従って、プリフォーマット部ではMO領域の情報の読み取りから異なり、これら信号の和を演算することにより情報(マークの凹凸情報)を読み取ることができる。
【0009】
ところで、従来の光磁気ディスクでは、記録時のレーザパワーをディスク外周部に行く程大きくし、あるいは記録パルス幅(レーザビームをオン・オフする記録パルスのデューティ)を広くするなど記録条件を変えて記録している。これは、以下の▲1▼〜▲3▼の理由によるものである。
▲1▼光磁気ディスクでは回転数一定で、かつ、一定周波数あるいは一定転送速度で記録するため、ディスク内周部は記録密度が高くなる。このため、最適パワーよりも大きなパワー(オーバパワー)で記録すると、ビット干渉のため振幅が小さくなってしまう。ここで、ビット干渉とは記録時のレーザパワーが大きいとき、記録されたビット(マーク)も大きくなり隣のビットとの間隔が狭くなって綺麗にビット同士が分離できなくなることを言う。
従って、内周部でビット干渉が生じないように、あるいは生じてもエラーへの寄与を小さくできるパワーで記録する必要がある。
【0010】
▲2▼光磁気ディスクでは回転数一定で、かつ、一定周波数あるいは一定転送速度で記録するため、ディスク外周部では記録密度が低下し、ビット同士の間隔は内周部に比べて1.6〜2倍程度広くなる。このため、内周部のようにビット干渉が生じることがないので、記録時のレーザパワーを大きくすることにより再生信号振幅を大きくでき、再生時のエラーを少なくできる。
▲3▼これまでの実験結果から、記録時のレーザパワーは媒体速度のX乗(例えばX=1/2)に比例するという考えが広まっており、外周部程記録パワーを大きくするという方法が常識化している。
【0011】
以上の点から、これまでの記録方法ではディスク内周部から外周部にかけて記録条件を変えて記録を行うという方法を取っている。実際には、回路上の制約からレーザパワーあるいは記録パルス幅を半径値に応じて連続的に変えることが難しく、このため、ディスクを半径方向にいくつかの領域に区切り、領域毎に記録条件を変えるようにしている。例えば、ディスクを半径方向に内周から外周にかけて5つのゾーンに分割し、内周では記録パワーを小さく、かつ記録パルス幅を狭くし、外周へ行くほど記録パワーを大きく、かつ記録パルス幅を広くする。
【0012】
図7は従来の光磁気ディスク装置の構成図である。11は光磁気ディスク、21は光磁気ヘッド、31はスピンドルモータ、41aは装置全体の制御を行うコントローラ、41bはコントローラからの指示に従って光磁気ヘッドを所定の位置に位置決めすると共にフォーカシングサーボ、トラッキングサーボ制御を行うサーボ制御部、41cはレーザのパワーや記録パルス幅を制御するレーザダイオード制御部(LD制御部)、41dはスピンドルモータの回転制御を行うスピンドルモータ制御部、41eは光磁気ディスクにデータを記録するデータ記録回路、41fは光磁気ディスクから読み取ったデータを再生する再生回路、41gはバイアス磁石、41hはバイアス磁石制御部である。
光磁気ディスク11を内周部から約2000トラック毎に区切って5つのゾーンを構成した時、ゾーン毎の記録パワー、記録パルス幅を予めコントローラ41aのROM41a-1に記憶しておく。
【0013】
図8は光磁気ヘッド21に設けられるレーザダイオード駆動回路の構成図である。51はレーザダイオード、52は読取電流制御回路、53は記録電流制御回路、54は書き込みスイッチ、55はイレーズ電流制御回路、56はイレーズスイッチ、57は記録信号制御回路、58はイレーズ信号制御回路である。
各電流制御回路52、53、55はそれぞれ読取電流、記録電流、イレーズ電流値を制御できるようになっており、特に、記録電流制御回路53はLD制御部41cからの記録電流設定値(レーザパワー)に基づいて指令された電流値となるように制御する。記録信号制御回路57はLD制御部41cから指令されるパルス幅設定値WPWとなるように記録信号WSのパルス幅制御を行う。すなわち、データ書き込み時(書き込みゲート信号WGTオン時)、書き込みデータDTに基づいて一定記録周波数で設定パルス幅の記録信号WSを出力する。書き込みスイッチ54は記録信号WSに基づいてオン・オフしてレーザ光をオン・オフする。イレーズ信号制御回路58は消去時(イレーズゲート信号EGTオン時)、イレーズスイッチ59をオンして所定セクタの消去を行う。
【0014】
コントローラ41aはホストからデータ読み出し指令を受けると、サーボ制御部41bにより光磁気ヘッド21を指令されたアドレスに位置決めさせ、該光磁気ヘッドをして記録信号を読み取らせる。光磁気ヘッド21は読み取った信号をデータ再生回路41fに入力し、再生回路は入力された信号よりデータを再生してコントローラ41aに入力し、コントローラは該データをホストに入力する。又、コントローラ41aはホストからデータ書き込み指令(ライトコマンド、ライトデータ)を受けると、サーボ制御部41bにより光磁気ヘッド21を目的セクタへ位置決させ、しかる後、LD制御部107よりイレーズゲート信号EGTを発生して目的セクタの消去を行う。ついで、目的セクタがどのゾーンに属するかをそのセクタのID部におけるトラック番号から判断し、該ゾーンの設定値(記録パワー、パルス幅)をROM41a-1から読み出し、LD制御部41cに入力する。これにより、LD制御部41cは書き込みゲート信号WGT、パルス幅設定値WPW、記録電流設定値LSPをレーザダイオード駆動回路に入力し、記録パワーと記録パルス幅を制御する。又、コントローラ41aはデータ記録回路41eよりライトデータDTを出力させる。記録信号制御回路57(図8)は書き込みゲート信号WGTがオン時、ライトデータDTに基づいて一定記録周波数で設定パルス幅の記録信号WSを発生し、設定された記録パワーのレーザ光をオン・オフして光磁気ディスク11に書き込む。
書き込み終了後、コントローラ41aはもう一度目的セクタにヘッドを位置決めし、記録されたデータが正しいかどうかをチェックする。この場合、データが正しければ、ライトコマンドを正常に終了した旨をホストに返し、データが正しくなければ、異常終了を返す。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】
かかる従来の記録方法では、領域の区切り方をどのようにするかを検討する必要があり、しかも、各領域での最適な記録パワー、記録パルス幅を設定する必要があり、さらには、それらの値を設定、切り換えを行うハードウェア、ソフトウェアが必要となる問題があった。
又、従来の記録方法では、記録時に目的セクタの所属領域を求め、該所属領域により記録パワー、記録パルス幅を決定する必要があるため、かかる処理に時間を要し、高速書き込み上問題があった。
以上から、本発明の目的は、内周部から外周部まで同一条件で記録ができる光磁気ディスク装置を提供することである。
本発明の別の目的は、従来方法で必要とされている記録条件の設定、切り換えを行うハードウェアやそれに伴うソフトウェアを不要とし、コスト的に有利な光磁気ディスク装置を提供することである。
本発明の更に別の目的は、簡単な制御で、しかも高速記録ができる光磁気ディスク装置を提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】
図1は本発明の原理説明図である。
101は光ディスクで例えば光磁気ディスク、102はスピンドルモータ、103は光学ヘッド、105は装置全体の制御を行うコントローラ、106はコントローラからの指示に従って光磁気ヘッドを所定の位置に位置決めすると共にフォーカシングサーボ、トラッキングサーボ制御を行うサーボ制御部、107はLD制御部、108はスピンドルモータの回転制御を行うスピンドルモータ制御部、109は光磁気ディスクにデータを記録するデータ記録回路である。
【0017】
【作用】
光磁気ディスク101を一定回転速度で回転しながらレーザ光を略円形に絞ってディスク面に照射してマークを記録する。この場合、記録信号のパルス幅を十分に短くし、かつ、レーザ光の記録パワーを一定値にし、ディスクの全面において同一記録パルス幅、同一記録パワーでマーク(データの"1"に相当)を記録する。記録信号のパルス幅は、所定の周速においてレーザ光の光ディスクに対する移動量が、光ディスクに記録するマーク長の60%以下になるように設定する。あるいは、記録信号のパルス幅は、所定の周速においてレーザ光の光ディスクに対する移動量が、光ディスクに記録するマーク間隔の30%以下になるように設定する。又、記録パワーとしては光磁気ディスクに最高密度でマークを記録した時に再生信号振幅が最大になるようにする。このように内周部から外周部まで同一条件で記録するようにしたから、従来方法で必要とされている記録条件の設定、切り換えを行うハードウェアやそれに伴うソフトウェアを不要にでき、しかも簡単な制御で、かつ高速に光磁気ディスクへデータを記録できる。
【0018】
【実施例】
(a) 記録条件の考察
光磁気ディスクへの記録の際に、マークの有無により情報(”1”,”0”)を記録する方式において、記録条件を考察し、以下の結論を得た。
「記録信号のパルス幅が十分に短ければ、ディスクの移動速度(線速度)によらず、必要な記録パワー(感度)は一定である。」
かかる結論が導出された理由を以下に説明する。
【0019】
(イ)非常にサイズの小さいビーム(レーザ光)を仮定し、非常に短い時間T0でパワーP0のビームを静止している媒体に照射した場合を考える。媒体のある部分(ビームを照射した点)に照射されたエネルギー(T0×P0)はいずれ熱伝導により拡散され、その部分の温度は低下する。熱が拡散する過程において、ビームを照射した点の周囲に記録に必要な温度以上に温度が上昇した部分が生じ、その部分にマークが記録される。この場合、ある程度以上のエネルギーを照射すれば光のビーム径が小さくてもある程度の大きさ(直径a)のマークを形成することができる。
媒体への記録は光エネルギーによる加熱・温度上昇を利用するもので、原理的にはトータルエネルギーが同じであれば(T×P=一定)、同じ大きさのマークを記録できるはずである。熱の拡散時間が光パルス幅Tに比べて十分大きい場合にはこのことが成り立つ。しかし、熱の拡散時間が早く、拡散時間が光パルス幅Tに比べて小さい場合には、このことが成り立たなくなる。単位時間に与えるエネルギーが単位時間に拡散するエネルギーと同じであればどれだけ長時間光を照射しても温度上昇が生じないことを考えれば明白である。
(ロ)上記(イ)の現象を見直して見ると、ビーム径の小さな光スポットを用いてもエネルギーP×Tを大きくすることにより、ある程度の大きさのマークを形成することが可能であり、又、パルス幅が熱の拡散時間に比べて小さいと仮定できる限りにおいて、パルス幅T×パワーPが一定であれば、同じ大きさのマークを形成できることになる。
【0020】
(ハ)次に媒体が速度vで移動している場合を考える。照射した光によりビームはT×vだけ媒体上を移動する。前記直径aより移動距離T×vが十分に小さい時には照射した熱は直径aのほぼ中心に与えられると考えて良く、従って、形成されるマークもほぼ直径aになると考えて良い。
(ニ)(ハ)ではビーム径が小さいと仮定した。しかし、実際のビームでは中心部分が最も強度が大きいことを考えるとビーム径がある程度の大きさを持っていても(ハ)の仮定が成り立つ。
(ホ)この仮定が成り立つ限りにおいて、すなわち、十分に短いパルスを用いれば、媒体上のどの位置、どのような媒体移動速度でも、記録条件を変える必要が無いことになる。
【0021】
例えば、直径90mmの光磁気ディスクを回転数3600rpmで回転した場合について考察する。この媒体を使用すると、最内周での線速度は約9m/s、最外周での線速度は約15m/sとなる。この時、記録信号のパルス幅15ns〜55nsで媒体がどの程度移動するかを最内周(9m/s)と最外周(15m/s)で比較すると図9に示すようになる。最小マークは0.75μmであるから図9より、パルス幅が長いとマーク長(=0.75μm)よりも長い移動部分(=0.825μm)にわたり光が照射され、パルス幅が小さいと最小マーク長より短い移動部分に光が照射されることがわかる。
さらに図10を用いて説明する。図10は図9の図表に示された値を図形化したものである。ここでは、媒体が静止している状態で記録した場合のマークの大きさを基準にして考え、記録パルス幅が25nsの場合と、55nsの場合を示した。(a)は線速度が9m/sの場合であり、(b)は線速度が15m/sの場合であり、斜線部は媒体が静止している場合におけるマークを示し、MS,MEはそれぞれ媒体が静止している場合のマーク先端、マーク終端を示している。259、2515はそれぞれ25nsの間に9m/s、15m/sで媒体(マーク)が移動した時のマーク終端、559、5515はそれぞれ55nsの間に9m/s、15m/sで媒体(マーク)が移動した時のマーク終端である。
【0022】
線速度9m/s、15m/sの場合のマークを比較すると、記録パルス幅が長い(55ns)程マーク長の差は大きく、記録パルス幅が短い(25ns)程マーク長の差が小さい。これより、パルス幅が25nsより更に短くなればマーク長の差は短くなり、媒体が静止している状態に近ずいていく。従って、十分に短い記録パルスを用いれば、媒体上のどの位置、どのような媒体の移動速度でも記録条件を変える必要がないことが予想できる。
以上の仮定を確認すべく以下の実験を行った。
【0023】
(b) 記録条件の実験的考察
測定には、市販されている直径90mmの光磁気ディスク(図11)を用いた。この光磁気ディスク媒体は、レーザ光の案内溝を成型により形成したポリカーボネート基板11a上に屈折率2程度の誘電体膜11b、希土類−遷移金属非晶質合金からなる垂直磁性膜11c、誘電体膜11d、反射膜11eを積層し、樹脂保護膜11fで覆ったものであり、誘電体膜11b,11d、垂直磁性膜11c、反射膜11eはそれぞれ窒化シリコンSiN、TbFeCo、アルミニウムAlが用いられている。希土類−遷移金属非晶質合金からなる垂直磁性膜11cは特にTbFeCoに限定されるものではなく、例えば、DyFeCo,TbDyFeCo,GdDyFeCo,NdDyFeCo,GdTbFeCo等の材料を用いることができる。
【0024】
測定装置として、780nmの波長の半導体レーザを光源とする光ディスクテスタを用いた。対物レンズのNAは0.53であり、出射ビームの絞り込んだ位置でのビームの半径幅は0.78μmである。スピンドルの回転数は3600rpmまで可変であり、レーザパワーは記録膜の位置で18mWまで出射可能である。この測定装置は、外部から発光パターンを二値化入力することにより任意のパルス幅で媒体上にマークを記録することが可能である。記録方式は(2,7)RLLマークポジション方式を用い、記録周波数は6.00MHz一定とし、9m/sの時にマーク同士の間隔が最内周部、最高密度で記録した時、約1.5μm、マーク長が約0.75μmとなるようにした。マーク同士の間隔とはマーク中心間距離である。又、マーク長とはマークの長さ(マーク径)であるが、装置毎にバラツキがある。
かかる測定装置により、記録信号のパルス幅を一定として光磁気ディスク媒体の回転速度を変えてマークを記録し、記録後、再生信号振幅を測定して記録パワーの依存性を調べた。その結果を図12〜図15に示す。
【0025】
・記録パルス幅が25nsの場合
図12では記録パルス幅を25nsとし記録パワーを変えて再生信号振幅の変化をプロットしてある。パルス幅が25nsの場合、媒体の移動速度が9m/s〜15m/sまで変化させても再生信号振幅の立上り部分のパワー依存性はほぼ同じであることが判る。ただし、9m/sの時はビット干渉のためパワーを大きくして行くと振幅が小さくなってゆき、記録パワーが15mWを越えると振幅が低下する。この場合、再生信号振幅が良好に得られる範囲を140mV以上とすると記録パワーは約8mW〜17mWの範囲となる。従って、記録パワーを12.5mWにすると、±4.5mWのマージンがあり、この程度のマージンがあれば、環境温度が低温(00C)〜高温(600C)まで変化してもデータを十分に記録できる。尚、装置の仕様として00C〜600Cまでの環境温度下で使用可能とする必要がある。
【0026】
図13は図12と同じ条件でパルス幅を35nsとした時の実験結果であり、図14はパルス幅を45ns、図15はパルス幅を55nsとした時の実験結果である。記録パルス幅が55nsになると媒体の移動速度が9m/sの場合と15m/sの場合で立上り部分のパワー依存性が変化しており、線速度の違いによる感度の変化が起っていることが判る。この場合、再生信号振幅として140mV以上必要とすると記録パワーは7mW〜10mWの範囲しかなく、この程度のマージンでは、環境温度が低温近傍や高温近傍の場合、再生信号振幅が140mV以下となり内周部と外周部を同一記録条件(同一記録パワー、同一記録パルス幅)で記録を行うことが困難となる。
【0027】
以上の実験では、9〜15m/sの媒体移動速度の範囲では45nsまでのパルス幅であれば十分パルス幅が短いとみなすことができ、同一記録条件で記録することが可能と考えられる。最内周部(線速度9m/s)での記録パルス幅25ns〜45nsを長さに換算すると図9より0.225〜0.405μmであり、最内周部でのマーク間隔(1.5μm)の15%〜27%である。以上から、十分にパルス幅が短いと見做すことができる記録パルス幅は最高密度で記録される内周部のマーク間隔の約30%以下と考えられる。これをマーク長(=0.75μm)で表現すると、マークのバラツキはあるが、記録パルス幅はマーク長の約60%以下が適していると言える。又、記録パワーは最高密度で記録される内周部において最大の再生信号振幅が得られるようにする。
【0028】
(c) 本発明の光磁気ディスク装置の構成
図16は本発明の光磁気ディスク装置の構成図、図17はレーザダイオード駆動回路の構成図である。図16において、101は光磁気ディスク、102はスピンドルモータ、103は光磁気ヘッド、104はバイアス磁石、105は装置全体の制御を行うコントローラ、106はコントローラからの指示に従って光磁気ヘッドを所定の位置に位置決めすると共にフォーカシングサーボ、トラッキングサーボ制御を行うサーボ制御部、107はLD制御部、108はスピンドルモータの回転制御を行うスピンドルモータ制御部、109は光磁気ディスクにデータを記録するデータ記録回路、110は光磁気ディスクから読み取ったデータを再生する再生回路、111はバイアス磁石制御部、120はホストである。
【0029】
図17において、201はレーザダイオード、202は読取電流制御回路、203は記録電流制御回路、204は書き込みスイッチ、205はイレーズ電流制御回路、206はイレーズスイッチ、207は記録信号制御回路、208はイレーズ信号制御回路である。各電流制御回路202、203、205はそれぞれ読取電流、記録電流、イレーズ電流値を制御できるようになっており、特に、記録電流制御回路203は記録パワーが設定値となるように記録電流値を一定に制御する。記録信号制御回路207は書き込み時(書き込みゲート信号WGTオン時)、書き込みデータDTに基づいて予め設定された記録周波数及びパルス幅の記録信号WSを発生し、書き込みスイッチ204は記録信号WSに基づいてオン・オフしてレーザ光をオン・オフする。イレーズ信号制御回路208は消去時(イレーズゲート信号EGTオン時)、イレーズスイッチ209をオンして所定セクタの消去を行う。
【0030】
予め、内周部から外周部まで同一記録条件で記録するための、記録電流値(記録パワー)及びパルス幅となるように記録電流制御回路203と記録信号制御回路207を調整しておく。尚、記録パワー、記録信号のパルス幅は例えば、12mW、25nsとする。
コントローラ105はホスト120からデータ書き込み指令(ライトコマンド、ライトデータ)を受けると、サーボ制御部106により光磁気ヘッド103を目的セクタへ位置決めさせ、しかる後、LD制御部107よりイレーズゲート信号EGTを発生して目的セクタの消去を行う。消去完了後、コントローラ105はLD制御部107より書き込みゲート信号WGTを発生させ、又、記録回路109よりライトデータDTを出力させる。記録信号制御回路207(図17)は書き込みゲート信号WGTがオン時、ライトデータDTに基づいて一定記録周波数で設定パルス幅の記録信号WSを発生し、レーザ光をオン・オフして光磁気ディスクに書き込む。
【0031】
書き込みが終了すると、コントローラ105は再度目的セクタにヘッドを位置決めし、記録されたデータを読み出して正しいかどうかをチェックする。この場合、データが正しければ、ライトコマンドを正常に終了した旨をホストに返し、データが正しくなければ、異常終了を返す。
以上のように、本発明の光磁気ディスク装置は、従来装置のようにレーザのパワー制御や記録信号のパルス幅制御を行う必要がない。このため、記録電流制御回路203や記録信号制御回路207の構成が簡単になり、しかも、ゾーン毎に記録パワーや記録パルス幅を記憶するROMが不要となる。又、従来例のように目的セクタがどのゾーンに属するか判別し、それに基づいて記録パワーや記録パルス幅を切り換える制御が不要であり、この結果、記録制御を簡単に、かつ高速に行うことができる。
以上本発明を光磁気ディスクに適用した場合について説明したが、本発明は他の光ディスクにも適用できるものである。
【0032】
(d) 変形例
以上では、光ディスクをゾーンに分割しない場合であるが、光ディスクを複数のゾーンに分け、ゾーン毎に周波数を変えて記録すると共に、各ゾーンの記録パルスのパルス幅を該ゾーンの最内周部に最高密度でマークを記録した時のマーク長又はマーク間隔に対して十分短くする。例えば、光ディスクを10ゾーン程度に分割して各ゾーン毎の最内周部に最高密度でマークを記録した時のマーク間隔に対して十分短いパルス幅で記録すれば、最内周部でビット干渉が生じることがない。又、この際、最内周部から最外周部にかけて最高密度で記録した場合、約6.90MHz〜12.00MHzの範囲で記録周波数をゾーン毎に変えるようする。このようにすれば、外周に向かう程記録周波数を高くするので高密度記録を図ることができる。
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は請求の範囲に記載した本発明の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明はこれらを排除するものではない。
【0033】
【発明の効果】
以上本発明の光ディスク装置によれば、記録パルスのパルス幅を十分に短く、かつ、レーザ光の記録パワーを一定値にし、ディスクの全面において同一記録パルス幅、同一記録パワーでマーク("1"に相当する)を記録するようにしたから、従来方法で必要とされている記録条件の設定、切り換えを行うハードウェアやそれに伴うソフトウェアを不要とし、コスト的に有利で、しかも簡単な制御で光ディスクへの記録ができる。
又、本発明の光ディスク装置によれば、書き込みに先立って、所属ゾーン毎に記録パワー及び記録パルス幅の制御をする必要がないため、高速の書き込みができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】光磁気ディスクの書き込み・読み取り説明図である。
【図3】光磁気ディスク媒体の構成図である。
【図4】光磁気ヘッドの構成図である。
【図5】MO領域情報読取原理説明図である。
【図6】プリフォーマット情報読取原理説明図である。
【図7】従来の光磁気ディスク装置の構成図である。
【図8】レーザダイオード駆動回路の構成図である。
【図9】記録条件を考察するための図表である。
【図10】記録条件を考察するための説明図である。
【図11】本発明の光磁気ディスク媒体の構成図である。
【図12】記録パルス幅が25nsの場合の記録パワー・再生信号振幅特性図である。
【図13】記録パルス幅が35nsの場合の記録パワー・再生信号振幅特性図である。
【図14】記録パルス幅が45nsの場合の記録パワー・再生信号振幅特性図である。
【図15】記録パルス幅が55nsの場合の記録パワー・再生信号振幅特性図である。
【図16】本発明に係る光磁気ディスク装置の構成図である。
【図17】本発明に係るレーザダイオード駆動回路の構成図である。
【符号の説明】
101・・光磁気ディスク
102・・スピンドルモータ
103・・光磁気ヘッド
105・・コントローラ
106・・サーボ制御部
107・・LD制御部
108・・スピンドルモータ制御部
109・・データ記録回路
Claims (2)
- 光磁気ディスクを回転させる回転手段と、レーザ光源から発光されたレーザ光を前記光磁気ディスク面に照射してマークを記録する手段とを備え、マークの有無により情報を記録するマークポジション方式の光磁気ディスク装置において、
前記記録手段は、前記光磁気ディスクの内周側及び外周側の、いずれの領域の記録に際しても、前記レーザ光の記録パワーPを一定とし、かつ記録パルスのパルス幅Tを一定として、一定の記録エネルギー(P×T)を与えることでマークを記録すると共に、
最内周部に最高密度でマークを記録した時のマーク長の60%以下になるように前記記録パルスのパルス幅を設定する、
ことを特徴とする光磁気ディスク装置。 - 光磁気ディスクを回転させる回転手段と、レーザ光源から発光されたレーザ光を前記光磁気ディスク面に照射してマークを記録する手段とを備え、マークの有無により情報を記録するマークポジション方式の光磁気ディスク装置において、
前記記録手段は、前記光磁気ディスクの内周側及び外周側の、いずれの領域の記録に際しても、前記レーザ光の記録パワーPを一定とし、かつ記録パルスのパルス幅Tを一定として、一定の記録エネルギー(P×T)を与えることでマークを記録すると共に、
最内周部に最高密度でマークを記録した時のマーク間隔の30%以下になるように前記記録パルスのパルス幅を設定する、
ことを特徴とする光磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29075594A JP3694338B2 (ja) | 1993-12-27 | 1994-11-25 | 光磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5-330659 | 1993-12-27 | ||
JP33065993 | 1993-12-27 | ||
JP29075594A JP3694338B2 (ja) | 1993-12-27 | 1994-11-25 | 光磁気ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07235094A JPH07235094A (ja) | 1995-09-05 |
JP3694338B2 true JP3694338B2 (ja) | 2005-09-14 |
Family
ID=26558220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29075594A Expired - Lifetime JP3694338B2 (ja) | 1993-12-27 | 1994-11-25 | 光磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3694338B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201313751D0 (en) | 2013-08-01 | 2013-09-18 | Renishaw Plc | Rotation Detection Apparatus |
-
1994
- 1994-11-25 JP JP29075594A patent/JP3694338B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07235094A (ja) | 1995-09-05 |
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