JPH0933353A - 放射測温方法およびその測温装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被接触状態で、被測定物体の温度測定を必要
とする各種製造プロセスにおいて使用される放射温度計
に関するものである。 【構成】 被測定物体面の法線に対し、２つの異なる角
度からそれぞれ該被測定対象面の放射輝度を検出し、該
２つの異なる角度からの放射輝度から温度を演算によっ
て求めることを特徴とする放射測温方法および装置。 【効果】 放射温度計を使用して、従来技術では、測定
誤差が大きく使用できなかった測定対象に対しても、正
確な温度測定を行うことができる。しかも複雑な機構を
必要としないので、装置を容易に構成することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、非接触状態で、被
測定物体の温度測定を必要とする各種製造プロセスにお
いて使用される放射温度計に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】放射温度計は、絶対零度以上の被測定物
体から放射される電磁波（主として可視光・赤外線）を
検出し、その量から被測定物体の温度を測定するもので
あり、放射温度計による温度計測法を一般に「放射測温
法」と称するが、従来行われている放射測温法には、以
下に説明するような問題点が存在した。これを放射測温
法の原理とともに説明する。

【０００３】被測定物体の温度をＴ［Ｋ］としたとき、
該物体から放射される分光放射輝度Ｌ_λは次式で表すこ
とができる。 Ｌ_λ＝ε（λ）Ｌ_ｂ，λ（Ｔ） ［Ｗ・ｓｒ^−１・ｍ^−３］ （１） ここで、λ＝波長［ｍ］、ε（λ）＝波長λにおける該
物体の分光放射率。Ｌ_ｂ，λ（Ｔ）は黒体分光放射輝度
でプランクの法則により、次式（２）で示される。 Ｌ_ｂ，λ（Ｔ）＝２ｃ_１λ^−５［ｅｘｐ（ｃ_２／λ・Ｔ）−１］^−１ ［Ｗ・ｓｒ^−１・ｍ^−３］ （２） λ・Ｔ＜２．９×１０^−３ ［ｍ・Ｋ］の条件のもとで
は、Ｌ_ｂ，λ（Ｔ）は非常によい精度で次式（３）のウ
イーンの公式で表すことができる。 Ｌ_ｂ，λ（Ｔ）＝２ｃ_１λ^−５ｅｘｐ（−ｃ_２／λ・Ｔ） ［Ｗ・ｓｒ^−１・ ｍ^−３］ （３） ここで、ｃ_１＝５．９５４８×１０^−１７［Ｗ・
ｍ^２］、ｃ_２＝０．０１４３８８ ［ｍ・Ｋ］で、それ
ぞれプランクの第１定数、第２定数と呼ばれている。

【０００４】放射測温法は、基本的に（１）式の左辺に
相当する物理量Ｌ_λを計測し、それを該物体の想定され
る放射率εで補正すること、すなわち比Ｌ_λ／εを求
め、この値を（２）式ないし（３）式を用いて逆算し、
被測定物体の温度Ｔを求める方法である。この際、放射
率εが既知で一定であれば、真温度Ｔが正確に得られる
が、一般に放射率εは変化するため得られる温度Ｔａは
変動する。ここで、該物体のεがΔεだけ変動したとす
ると、測温誤差ΔＴ＝Ｔ−Ｔａは近似的に（４）式で表
されることが知られている。 ΔＴ／Ｔ≒（Δε／ε）（λ・Ｔ／ｃ_２） （４）

【０００５】放射測温法の最大の弱点は、放射率が常に
介在するために測温誤差を生じることである。しかも、
該放射率εは波長、温度の関数であるが、同時に酸化膜
や表面粗度、油膜や種々の汚染物付着など、該物体表面
のさまざまな状態によって変化するために測温誤差を生
じ、かつ該測温誤差を一定に保つことさえも困難になる
ことである。

【０００６】そこで、この放射測温法の問題点を克服す
るために従来より、多くの考案がなされてきた。代表的
な例として「ジャーナル・オブ・ジ・アイアン アンド
スチール インスチチュート、第１６９巻２４５〜２
５０頁、表面温度測定のための放射温度計（Ｍ．Ｄ．Ｄ
ｒｕｒｙ，Ｋ．Ｐ．Ｐｅｒｒｙ ａｎｄ Ｔ．Ｌａｎｄ
：Ｐｙｒｏｍｅｔｅｒｓ ｆｏｒ Ｓｕｒｆａｃｅ
Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ，Ｊ
ｏｕｒｎａｌ ｏｆ ｔｈｅ Ｉｒｏｎ ａｎｄ Ｓｔ
ｅｅｌ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ，ｖｏｌ．１６９，（１９
５１）ｐ．２４５〜２５０）」に示されているように、
半球状の金メッキキャビテイを被測定物体面にかぶせ、
該物体の放射率を実効的に高めて黒体放射に近い状態を
実現する放射測温法がある。また本出願人が「鉄と鋼、
第６５巻９７〜１０６頁、温度と放射率の同時測定法と
その鉄鋼プロセスへの応用」に示したように、被測定物
体上方に何らかの反射体など補助設備を設置して反射と
放射の相互反射作用を利用して、変化する放射率を求
め、それによって温度を測定する、いわゆる温度と放射
率の同時計測法等がある。これらの方法は、いずれも放
射率変化によって生じる測温誤差を低減しようとするも
のであり、意義深いものではあるが、被測定物体面上に
反射体などを設置する必要があり、設備が複雑になるこ
とや走行中の被測定物体に応用するときに困難を生じる
という問題がある。

【０００７】一方、上記のような方法と異なり、被測定
物体からの放射情報だけから放射率問題を解決して測温
精度を向上させようとする手法がある。いくつかの波長
における該物体の放射輝度と予め実験ないし理論に基づ
いて得た該物体の分光放射率特性を組み合わせて該物体
の真温度を求めようとするものであり、多波長温度計と
よばれるものである。本手法は、補助設備を使用しない
ので、構造が簡単であり、製造プロセス等への応用に適
しており、現在盛んに研究開発が行われている。２色温
度計と称される放射測温法はこの種の代表的な放射温度
計である。いま、被測定物体の波長λ_１，λ_２における
分光放射率をそれぞれε（λ_１），ε（λ_２）とする
と、対応する分光放射輝度Ｌ_λ１ ，Ｌ_λ２はウイーン
の公式を利用してそれぞれ次のように表現できる。 Ｌ_λ１＝ε（λ_１）２ｃ_１λ_１ ^−５ ｅｘｐ（−ｃ_２／λ_１・Ｔ） （５） Ｌ_λ２＝ε（λ_２）２ｃ_１λ_２ ^−５ ｅｘｐ（−ｃ_２／λ_２・Ｔ） （６） 両式の比をＲとおけば、 Ｒ＝Ｌ_λ１／Ｌ_λ２＝ε_Ｒ・（λ_２／λ_１）^５ｅｘｐ（−ｃ_２／Λ・Ｔ） （７） となる。ここで、ε_Ｒ：放射率比（＝ε（λ_１）／ε
（λ_２））、Λ＝λ_１・λ_２／（λ_１−λ_２）。（７）
式は、（１）式と同じ形式で表現されている。（７）式
が２色温度計の出力形式であり、被測定物体が黒体、な
いし灰色体であればε_Ｒは１で、Ｒの値からただちに真
温度Ｔを求めることが可能である。また、２色温度計の
特徴としては、放射率ε（λ_１）とε（λ_２）が変化し
ても、放射率比ε_Ｒが一定で既知であれば、その値を
（７）式に代入し、逆算して真温度Ｔを次式（８）で求
めることができることにある。 Ｔ＝（ｃ_２／Λ）（Ｉｎ｛ε_Ｒ・（λ_２／λ_１）^５／Ｒ｝）^−１ （８） しかし、現実にはこの条件はほとんど満たされず、各波
長λ_１とλ_２での放射率ε（λ_１）とε（λ_２）が変動
するとき、ε_Ｒも変動し、単波長の放射温度計と同様な
測温誤差を引き起こす。この場合、（４）式と同様に測
温誤差ΔＴは、（９）式で示される。 ΔＴ／Ｔ≒（Δε_Ｒ／ε_Ｒ）（Λ・Ｔ／ｃ_２） （９） ここで、Δε_Ｒ：放射率比の変動。このように、２色温
度計は原理的に優れた特徴を持ちながら、現実的にはそ
の条件に合致した限られた場合にしか適用できなかっ
た。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記のよう
な問題点を解決したもので、２色温度計において放射率
比ε_Ｒが変化しても、ε_Ｒの値を刻々得る手法を併用し
て常にε_Ｒを求め、それによって真温度を求めることを
目的とするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、被測
定物体面の法線に対し、特定の角度θ１の方向から該測
定物体面を指向する２色放射計を設置するとともに、前
記角度θ１とは異なる角度θ２の方向から測定物体面を
指向し、かつ前記２色放射計の２つの中心波長λ１、λ
２のいずれかと同じ波長に合わせ、さらに温度に対する
出力特性が同一になるように調整された放射計を設置
し、該放射計の出力と、前記２色放射計の出力のうち該
放射計と同じ波長の出力の比から、２色放射計の放射率
比ε_Ｒを定めるようにしたことを特徴とするものであ
る。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明について添付図面に
より説明する。図１は本発明の構成を示す説明図、図２
は本発明により得られる信号の流れを示すブロック図、
図３は本発明を金属を測定対象とした場合に、該金属表
面の酸化膜生成とともに、放射率の方向特性が変化する
様子を示すグラフ、図４は本発明の測定装置の具体例、
図５は、冷延鋼板の分光放射率の変化を示すグラフ、図
６は該冷延鋼板の分光放射率の角度依存性を示すグラ
フ、図７は該冷延鋼板に対し本発明の原理の成り立つこ
とを示す特性式、図８は該冷延鋼板の酸化膜厚を本発明
の原理を利用して求める具体例を示している，図１にお
いて、１は金属等の被測定対象面、２は該被測定面１の
法線ｎに対し角度θ１の方向に設置された２色比放射計
であり、３は該２色比放射計２に設けた集光レンズ、４
は中心波長λ１およびλ２を透過するフィルタ５および
６を装着した回転セクター、７は該回転セクター４を駆
動するモーター、。８は光センサで角度θ１方向の該測
定対象からの波長λ１、λ２に対応する分光放射輝度Ｌ
_{λ１，θ１}，Ｌ_{λ２，θ１}を検出する。９は増幅回路、
１０は２色比放射計２の検出部である。また１１は前記
被測定対象面１の法線ｎに対し角度θ２の方向に設置さ
れた放射計である。１２は該放射計１１に設けた集光レ
ンズ、１３は中心波長λ１またはλ２の透過フィルタ
（本明細書においては以後、中心波長λ１のフィルタで
代表させて説明する）で、通常前記フィルタ４と同等の
特性を有している。１４は前記光センサ８と同等の特性
を有する光センサで、角度θ２方向の波長λ１に対応す
る放射輝度Ｌ_{λ１，θ２}を検出する。１５は増幅回路、
１６は放射計１１の検出部である。また、図２におい
て、１７は２色放射計２で検出された分光放射計輝度の
電気変換信号、１８は放射計１１で検出された分光放射
輝度の電気変換信号、１９は電気変換信号１７の２つの
信号の比Ｒ、すなわち２色輝度比Ｒを計算する演算部、
２０は該電気変換信号１７のうちの１つと、電気変換信
号１８の比、すなわち２角度輝度比Ｒｅを計算する演算
部、２２は該演算部２０の比Ｒｅと被測定対象面１の２
つの波長における分光放射率の比ε_Ｒとの関係を表す特
性式、２１は前記演算部１９で得られた電気変換信号１
７の２つの信号の比Ｒと前記ε_Ｒとの比を計算する演算
部、２３は該比演算部２１の結果から被測定対象面１の
温度Ｔを求める演算部、２４は該演算部２３により得ら
れた温度Ｔの表示部である。また、２５は該演算部２０
のＲｅから該測定対象面１の刻々の酸化膜厚さを求める
演算部、２６は該演算部２５によって得られた酸化膜厚
さの表示部である。２７は該演算部２０のＲｅと被測定
対象面１の１つの波長λ１における分光放射率ε
（λ_１，θ_１）との関係を表す特性式、２８は前記電気
変換信号１７の２つの信号のうちの１つと前記特性式２
７で得られた分光放射率ε（λ_１，θ_１）の比を計算す
る演算部、２９は該演算部２８の結果から被測定対象面
１の温度Ｔを求める演算部、３０は該演算部２９で得ら
れた温度Ｔの表示部である。

【００１１】図１と図２により本発明の原理を説明す
る。図１の２色比放射計２によって検出される２つの分
光放射輝度はそれぞれ前記（５）式および（６）式を参
考して次式で表すことができる。 Ｌ_{λ１，θ１}＝ε（λ_１，θ_１）２ｃ_１λ_１ ^−５ｅｘｐ（−ｃ_２／λ_１・Ｔ） （１０） Ｌ_{λ２，θ１}＝ε（λ_２，θ_１）２ｃ_１λ_２ ^−５ｅｘｐ（−ｃ_２／λ_２・Ｔ） （１１） ここで、ε（λ_１，θ_１）、ε（λ_２，θ_１）はそれぞ
れ角度θ_１で、中心波長λ_１、λ_２での分光放射率であ
る。これら分光放射輝度は電気変換信号１７に変換され
るが、ｋ_１、ｋ_２を比例定数としてそれぞれ次式で示す
ことができる。 Ｅ_{λ１，θ１}＝ｋ_１Ｌ_{λ１，θ１} （１２） Ｅ_{λ２，θ１}＝ｋ_２Ｌ_{λ２，θ１} （１３） 演算部１９での演算は、（１２）式および（１３）式の
比Ｒを求めるものであるから、（１０）式および（１
１）式を参照すると、 Ｒ＝Ｅ_{λ１，θ１}／Ｅ_{λ２，θ１} ＝ｋ・ε_Ｒ・（λ_２／λ_１）^５Ｅｘｐ（−ｃ_２／Λ・Ｔ） （１４） となる。ここで、ｋ＝ｋ_１／ｋ_２（＝一定）。一方、放
射計１１で検出される分光放射輝度は次式になる。 Ｌ_{λ１，θ２}＝ε（λ_１，θ_２）２ｃ_１λ_１ ^−５ｅｘｐ（−ｃ_２／λ_１・Ｔ） （１５） そこで該放射計１１の分光放射輝度は電気変換信号１８
に変換され、ｋ_１を比例定数として Ｅ_{λ１，θ２}＝ｋ_１Ｌ_{λ１，θ２} （１６） となる。演算部２０では、電気変換信号１７の１つの信
号Ｅ_{λ１，θ１}と電気変換信号１８の信号Ｅ_{λ１，θ２}
の比Ｒｅ、すなわち２つの角度での放射輝度比の演算で Ｒｅ＝Ｅ_{λ１，θ１}／Ｅ_{λ１，θ２}＝ε（λ_１，θ_１）／ε（λ_１，θ_２） （１７） が行われる。すなわち、Ｒｅは１つの中心波長λ_１で２
つの角度θ_１とθ_２での放射率の比となる。

【００１２】本発明の原理は（１７）式のＲｅ値と（１
４）式のε_Ｒ値の間に一定の関係が存在するときに成り
立つ。あらかじめＲｅとε_Ｒ値の関係を演算部２２にお
いて求めておけば、演算２０よりＲｅ値が得られたと
き、ただちにε_Ｒ値が演算２２で得られ、この値で（１
４）式の左辺のＲを割る演算を施せば、 Ｒ／ε_Ｒ＝ｋ・（λ_２／λ_１）^５Ｅｘｐ（−ｃ_２／Λ・Ｔ） （１８） となり、この処理が演算２１で行われる。ところで、該
（１８）式は温度Ｔ以外はすべて既知の値であるから、
該（１８）式を逆算して被測定対象面１の温度Ｔが
（８）式と同様に次式で得られる。 Ｔ＝（ｃ_２／Λ）［Ｉｎ｛ｋ・ε_Ｒ・（λ_２／λ_１）^５／Ｒ｝］^−１ （１９） （１９）式の演算処理が演算部２３でなされる。

【００１３】以上説明したように、従来の２色温度計で
は（９）式に示したように、放射率比ε_Ｒ値が変化して
測温誤差を生ずるが、本発明によれば放射率比ε_Ｒ値が
変化しても、Ｒｅとε_Ｒの関係を用いて刻々ε_Ｒ値を求
めることにより、正確な温度測定を行うことができる。

【００１４】

【実施例】上記のような理論に基づき本発明により、金
属表面の温度を測定する場合について説明する。図１に
示すように、先ず、被測定対象面１の法線ｎに対し角度
θ１の方向に２色放射計２を設置するとともに、該法線
ｎに対し角度θ２の方向に放射計１１を設置する。そこ
で、被測定対象面１から放射される電磁波を２色放射計
２の集光レンズ３、モーター７により回転する回転セク
ター４に取り付けたフィルタ５または６を透過させ、光
センサ９に受光する。さらに、該受光した放射輝度値を
増幅回路９により増幅し、検出部１０に入力させ、電気
変換信号１７として２色輝度比の演算部１９および２角
度輝度比の演算部２０に入力させる。一方、放射計１１
においても、被測定対象面１から放射される電磁波を集
光レンズ１２、フィルタ１３を透過させ、光センサ１４
に受光する。さらに該受光した放射輝度値を増幅回路１
５により増幅し、検出部１６に入力させ、電気変換信号
１８として２角度輝度比の演算部２０に入力させる。そ
こで、演算部１９において（１４）式の演算を行わせて
Ｒを得、演算部２０において（１７）式の演算を行わせ
てＲｅを得、さらにその結果を特性式２２に導入してＲ
ｅ−ε_Ｒの演算を行わせ、その結果をさらに（１４）式
の演算結果とともに演算部２１に導入して（１８）式の
演算を行い、温度を計算し、その結果を温度表示部２４
に表示する。

【００１５】上記のように、被測定対象面１が金属の場
合、加熱により、表面酸化が進行し、金属的な性質から
誘電的な性質にに変化し、このとき該測定対象面１の放
射率の方向特性が大きく変化する。図３は、その態様を
示すもので、金属面の場合、角度θが大きくなるにつれ
て放射率が増加し、８０°あたりで最大になる。一方、
酸化が進行すると、この傾向は緩和され、逆に金属酸化
物のような絶縁体ではθの増大とともに放射率は単調に
減少するようになる。従って前記の２角度輝度比の演算
２０により得られるＲｅ値から金属酸化膜成長に関する
情報を得ることができる。すなわち、上記温度測定と同
時に、前記の２角度輝度比の演算２０の結果は、被測定
対象面１の表面の酸化膜厚さの演算部２５に導入され、
刻々の酸化膜厚さが計算され、酸化膜厚さ表示部２６に
表示される。

【００１６】図４は、本発明の測定装置の具体例を示し
ている。被測定対象を冷延鋼板にとり、ＰｂＳｅをセン
サとする２色比放射計を角度θ１＝３０°に設置し、干
渉フィルタにより、検出波長をλ１＝２．３μｍ，λ２
＝３．７μｍに選び、角度θ２＝８０°に上記と同等の
ＰｂＳｅセンサと干渉フィルタを用い、検出波長をλ１
＝２．３μｍとした．図５は、図４の装置で該冷延鋼板
鋼板が加熱されたとき、酸化の進行とともに波長λ１＝
２．３μｍ，λ２＝３．７μｍでの分光放射率が急激に
変化している様子を示し、図６は、角度θ１＝３０°θ
２＝８０°において、λ１＝２．３μｍでの分光放射率
が加熱酸化により、同様に大きく変化する様子を示して
いる。図７は、このように分光放射率の大きな変化にも
かかわらず、この構成で得られたＲｅとε_Ｒの特性式
が、一意的な関係にあることが分かり、本発明の効果を
示している。図８は、図４の構成で得られたＲｅと該冷
延鋼板の酸化膜厚みの実測結果である。本発明によりＲ
ｅから酸化膜厚みを同時計測できる効果を具体的に示し
ている。

【００１７】本発明は、２色放射計型の温度計の分光放
射率比ε_Ｒを常時補正して真の温度測定を可能ならしめ
ることを目的としているが、被測定対象が特定の材料ま
たは種類に限定されたような場合、Ｒｅとε_Ｒの特性式
を求めておかなくても、図２においてＲｅとε（λ１，
θ１）との関係式２７を得ておくだけで、充分な計測精
度を得る放射温度計を実現することができる。すなわ
ち、Ｒｅから該２７よりε（λ１，θ１）を得、この値
を（１０）式に代入して該２８、該２９に示すように真
の温度Ｔを求めることができる．

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、放射計
を使用して、従来技術では、測定誤差が大きく使用でき
なかった測定対象に対しても、正確な温度測定を行うこ
とができる．しかも複雑な機構を必要としないので、装
置を容易に構成することができる等、その効果は大き
い．

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の構成を示す説明図。

【図２】本発明における信号の流れを示すブロック図。

【図３】金属の放射率の角度特性が、表面酸化の進行と
ともに絶縁体の放射率特性に変化していく様子を示した
図。

【図４】本発明の測定装置の実施具体例を示す図。

【図５】実施例として冷延鋼板の分光放射率の加熱によ
る変化を示す図。

【図６】実施例として２つの角度での冷延鋼板の分光放
射率が加熱とともに変化する様子を示す図。

【図７】実施例としての冷延鋼板のＲｅ−ε_Ｒの間の特
性式。

【図８】実施例としての冷延鋼板の酸化膜厚みとＲｅと
の関係を示す図。

【符号の説明】

１ 被測定対象面 ２ ２色比放射計 ３ 集光レンズ ４ 回転セクター ５ フィルタ ６ フィルタ ７ モーター ８ 光センサ ９ 増幅回路 １０ 検出部 １１ 放射計 １２ 集光レンズ １３ フィルタ １４ 光センサ １６ 増幅回路 １６ 検出部 １７ 電気変換信号 １８ 電気変換信号 １９ 演算部 ２０ 演算部 ２１ 演算部 ２２ 特性式 ２３ 演算部 ２４ 温度表示部 ２５ 演算部 ２６ 酸化膜厚さ表示部 ２７ 特性式 ２８ 演算部 ２９ 演算部 ３０ 温度表示部 ３１ 集光ミラー

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定対象面法線に対し、２つの異なる
   角度からそれぞれ該被測定対象面の放射輝度を検出し、
   該２つの異なる角度からの放射輝度から温度を演算によ
   って求めることを特徴とする放射測温方法。
2. 【請求項２】 請求項１において、被測定対象面法線に
   対し１つの角度θ１をθ１≦６０°にし、もう一方の角
   度θ２をθ２＞６０°に設定することを特徴とする放射
   測温方法。
3. 【請求項３】 請求項１および／または請求項２におい
   て、１つの角度θ１において異なる２つの中心波長λ
   １、λ２でそれぞれ分光放射輝度を検出し、もう一方の
   角度θ２では該中心波長の内の１つ、λ１での分光放射
   輝度を検出することを特徴とする放射測温方法。
4. 【請求項４】 請求項３において、１つの角度θ１にお
   いて得られる２つの分光放射輝度比Ｒを演算する機能を
   もつことを特徴とする放射測温方法。
5. 【請求項５】 請求項３において、２つの角度θ１、θ
   ２で１つの中心波長λ１で検出される２角度輝度比Ｒｅ
   を演算することを特徴とする放射測温法。
6. 【請求項６】 請求項５において、被測定対象の該２つ
   の中心波長λ１、λ２での放射率の比ε_Ｒと該２角度輝
   度比Ｒｅの間の特性式を内蔵し、演算で得られる該Ｒｅ
   とこの特性式から該放射率比ε_Ｒを出力する機能を有す
   ることを特徴とする放射測温方法。
7. 【請求項７】 請求項４において得られる該分光放射輝
   度比Ｒと、請求項６において得られる該放射率比ε_Ｒの
   間の演算比Ｒ／ε_Ｒを出力し、これから被測定対象物の
   温度を求めることを特徴とする放射測温方法。
8. 【請求項８】 請求項５において、該２角度輝度比Ｒｅ
   から、被測定対象物の酸化膜厚を推定する機能を有する
   放射測温方法。
9. 【請求項９】 請求項５において、該２角度輝度比Ｒｅ
   から被測定対象物の中心波長λ１、角度θ_１での放射率
   ε（λ１，θ１）を推定し、この放射率ε（λ１，θ
   １）を用いて波長帯λ１での検出放射輝度を補正し温度
   を求めることを特徴とする放射測温方法。
10. 【請求項１０】 被測定物体面の法線に対し、特定の角
    度θ１の方向から該被測定物体面を指向する２色比放射
    計を設置するとともに、前記角度θ１とは異なる角度θ
    ２の方向から被測定物体面を指向し、かつ前記２色放射
    計の２つの中心波長λ１またはλ２のいずれかと同じ波
    長に合わせ、さらに温度に対する出力特性が同一になる
    ように調整された放射計を設置し、該放射計の出力と、
    前記２色放射計の出力のうち該放射計と同じ波長の出力
    の比から、２色放射計の放射率比ε_Ｒを定めるようにし
    たことを特徴とする放射測温装置。