JPH0933198A - ミサイル試験方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ミサイル（５０）をまずミサイル（５０）性能
組込み試験によって試験する。試験は発射サイトからの
信号によりサービス状態で励起されるものであり、ミサ
イルへの内部アクセスを要しないものとする。 【解決手段】不満足なミサイル性能状態が検出されたと
きは、アクセスカバー（６３）が外されてデータの内部
源に接続がとられ、組込み試験が繰返されて不満足なミ
サイル性能の原因である内部部品がどれかを判断し、部
品が修理される。アクセスカバーを外しての試験が繰返
され、性能が満足されるとアクセスカバーが置き換えら
れて、試験が繰返される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明はミサイルの試験、
とくに満足すべきもしくは不満足なミサイル性能の存在
を判断し、部品レベルでの不満足なミサイル性能の原因
を隔離するための試験方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】航空機によって搭載される空対空ミサイ
ルのようなミサイルは複雑な装置であり、その部品は組
立時、運用動作の直前及び運用中にさえも入念に試験さ
れねばならない。不満足な状態が検出されるならば、余
裕のあるシステム又は代替の処理過程を用いて問題の原
因もしくは問題周辺の作業片（ワーク）のいずれかを修
理することができる。別な場合には、修理もしくは代替
の過程に実現性がなく、唯一の代替策は完全な信頼性が
求められる状態ではミサイルを使用しないこととなる。

【０００３】製造工程の際の試験は、通常はよく制御さ
れた状態の下で行われ、ミサイルの全部への完全なアク
セスができる。満足なミサイルがその後一般に出荷され
て、恐らくは長時間にわたって倉庫か発射サイトの近く
に保管される。ミサイルを貯蔵庫から移動するときに、
通常は試験される。発射サイトに配備されるときに再び
試験されるのが望ましい。

【０００４】貯蔵庫から移動する際、あるいは発射サイ
トでの−これを“フィールド状態”という−試験は、工
場で実行される試験よりも乏しい制御可能状態にある。
試験は、ミサイル上にある外部コネクタから得ることが
できる情報だけにアクセスするものである。さらに、フ
ィールド試験はその目的が制限されている。第１はミサ
イルが動作可能な状態にあるかどうかを判断することで
ある。第２はミサイルを動作可能な状態に置くように比
較的直接的な修理をすることであり、これはミサイルが
不満足な状態にあるときに部品モジュールを置き換える
ことなどによる。

【０００５】フィールド試験を達成するための道具（ツ
ール）が使用でき、かつ動作できる。ある種の高価でな
い試験ユニットは大層機能レベルが低く、ミサイル回路
構成中に組込まれている特定の試験によってミサイルが
満足な状態にあるかどうかを示すことができるだけであ
る。こういった試験装置は一般に欠陥の原因についての
手掛かりを与えない。他のものは高度に複雑であり、何
百万ドルものコストを要し、フィールド状態での維持が
難しい。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】したがって、ミサイル
のフィールド試験装置及び方法であって、満足な動作状
態を表示し、かつまたその動作状態を補正する助けとな
るものが求められている。この発明はこの求めに応じ、
関係ある利点を提供するものである。

【０００７】この発明はミサイルの試験のための方法と
装置とを提供する。この発明はミサイルのフィールド試
験にとくに適している。ミサイルシステムに対する不満
足な動作状態が検出されるときは、この発明はミサイル
の部分レベルで問題を隔離することができる。欠陥のあ
る部品を検出したときは、多くの場合、それを別の部品
で置き換えるか、別な何らかの直接的な修理が実行でき
る。ミサイルはそこでその部分とミサイルシステムのレ
ベルで再試験されて、ミサイルの動作準備を確かなもの
とする。この発明の装置は中庸の費用の装置を用いて比
較的高度の試験の徹底を達成する。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明によると、試験
方法は、運用状態で発射サイトから発射されるミサイル
とともに作動できるものである。ミサイルには少なくと
も２つの内部部品部と、その間で通じているワイヤハー
ネスとがある。少なくとも１つのカバーをとったミサイ
ルコネクタが各部品部に対してあり、ミサイルのアクセ
スカバーを取り外したときにだけアクセスできるように
している。ミサイルにはさらに外部ミサイルへその緒
（umbilical)コネクタがあり、運用動作の際には発射前
に発射サイトと通信をし、またミサイルデータリンク受
信機があって、運用動作では発射後に発射サイトからの
通信を受領する。

【０００９】外部試験装置は試験制御器で成る。少なく
とも２つの試験用のカバーをとった部品レベルの試験ラ
インがあり、カバーをとったミサイルコネクタの各々に
対して１つ当てられている。カバーをとった部品レベル
の試験ラインの各々は、第１の端部として試験制御器と
通じているものと、第２の端部としてカバーをとった部
品レベルの試験ラインコネクタであって、カバーをとっ
たミサイルコネクタのそれぞれ１つとかみ合うようにさ
れているものとを備えている。試験装置はさらにへその
緒ラインを有し、その第１の端部は試験制御器と通じ、
第２の端部は外部ミサイルへその緒コネクタとかみ合う
ようにされた試験装置へその緒コネクタを備えている。
試験装置はまた、試験制御器と通じている試験装置デー
タリンク送信機と、電源及び制御回路で、運用動作中に
発射サイトから試験制御器に対してミサイルが使用でき
る電力レベルを供給するものと、試験制御器によって制
御できる気圧供給源とを備えている。気圧供給源はミサ
イルの電気機械的部品の動作のロックを気圧によって解
くことができる。

【００１０】試験装置はカバーをつけた試験シーケンス
を第１に実行することにより使用される。オペレータは
試験装置へその緒コネクタを外部ミサイルへその緒コネ
クタに接続し、試験装置データリンク送信機をミサイル
データリンク受信機と通信するための位置に位置決めす
る。指令があると、試験制御器はミサイル組込み試験の
性能をへその緒ラインとミサイルデータリンク受信機と
を介して励起し、ミサイル組込み試験の結果を評価して
不満足なミサイル試験性能の存在を判断する。

【００１１】不満足なミサイル性能を検出した場合は、
カバーをとった試験シーケンスが実行される。オペレー
タはミサイルアクセスカバーを取り外し、カバーをとっ
た部品レベルの試験ラインコネクタの各々をそれぞれの
カバーをとったミサイルコネクタに接続する。試験制御
器はへその緒ラインとミサイルデータリンク受信機とを
介してミサイル組込み試験の性能を励起し、この時に試
験装置カバー取り外し部品レベル試験ラインを介してデ
ータを収集し、ミサイル組込み試験の結果を評価して部
品レベルで不満足なミサイル性能の原因を隔離する。

【００１２】多くの場合、カバーをとった試験は部品又
はワイヤハーネスの１つの故障の隔離ができるようにす
る。不満足な状態の原因は使用できる資源を用いること
ができる場合は修繕される。試験装置はその後は上述の
試験装置とは逆の順序シーケンスで使われる：まず、第
２のカバーをとった試験が行われてミサイル部品が作動
することを確かめ、次に、アクセスカバーを再び閉じた
後に、ミサイル性能が満足なものであることを確かめる
ために第２のカバーをつけた試験が行われる。

【００１３】この発明のやり方は使用できる組込みミサ
イル試験の最適使用と他の試験を選択する際の融通性と
を組合わせるようにしている。基本的なミサイルの機能
性は、予めプログラムされてミサイル内に配線されてい
る組込み試験で判断される。これらの試験は、発射サイ
トがミサイルの機能性をその発射前の状態ではミサイル
のへその緒を介して、また発射後の状態ではデータリン
クを介して試験できるように設計されている。

【００１４】この発明の方法は、ミサイルの発射前組込
み試験を、アクセスカバーを閉じた状態でこれに関する
発射サイト動作をシュミレートすることによって励起す
るものである。もし問題が見つかると、アクセスカバー
が開かれて、付加の接続がミサイル内の内部コネクタに
作られて、２つの組込み試験が繰返される。付加のデー
タが得られることで、修理の可能な程度の不満足な動作
の原因が隔離される。

【００１５】この発明はカバーをとった試験で各種の追
加のデータが得られるようにしている。典型的なミサイ
ルは誘導部と制御部、そしてこの２部を接続し、外部の
へその緒コネクタと通じているワイヤハーネスとを有し
ている。例えば、誘導部における多くの問題は組込み試
験の際にテレメータ試験データを監視することによって
検出できる。制御部における典型的な問題は、ミサイル
の制御サーフェスのロックを解き、移動させる（気圧供
給源からの気圧と試験制御器からの制御信号を用いてす
る）ことにより、制御サーフェスの位置表示器を監視し
ながら識別することができる。ワイヤハーネスはある位
置で接続が解かれることがあり、誘導部と制御部との間
の連続性試験はこの問題の位置決めができる。発射での
外部通信は発射サイクルをシュミレートすることにより
評価することができる。もっとも有用な特定形式のデー
タがミサイル部品の不満足な動作に対して収集されて解
析される。選ばれる特定のデータは解析されるミサイル
システムとそのミサイルシステム内の色々な形の欠陥の
相対的確率とに依存することになる。

【００１６】この発明はこうして試験装置と、その使用
の方法とを提供し、比較的手頃なコストで高い試験の完
全性を達成できるようにしている。この発明の特徴と利
点とは以下に詳述する実施例と付属の図面とから明らか
になろう。

【００１７】

【発明の実施の形態】図１はこの発明の方法の好ましい
実施例を示し、図２はミサイル及び試験装置と、試験の
際のその相互接続モードを示す。ミサイル５０が用意さ
れる（２０）。その正常な運用時には、ミサイルは発射
サイトから発射され、発射サイトは航空機、地上基地も
しくは海艇となり得る。ミサイル５０にはミサイル本体
５２と、その中に収納された内部構造とを含む。ミサイ
ル内部には多数のサブシステムがあるが、この発明の理
解のために、ミサイルは誘導部５４、制御部５６、そし
て２部５４，５６の間に延在するワイヤハーネス５８と
をもつとしてミサイルをとらえることとする。誘導部５
４はミサイルの鼻の中のターゲット探査器と、発射サイ
トもしくは別な場所と通信するのに必要とされるエレク
トロニクスを含む。制御部はロケットモータのような推
力用エンジンと可動制御サーフェス６０で気圧式アクチ
ュエータのロックを解き、ミサイル５０の方向を案内す
るための刺激を用意することにより回転することができ
るものとを含む。ワイヤハーネス５８は２つの部分５
４，５６の間を電気的に結んでいる。

【００１８】少なくとも１つ、一般には数個のカバーを
とったミサイルの電気コネクタ６１が各部品部に備えて
ある。カバーをとったミサイルコネクタは物理的にはミ
サイル５０の本体５２の内部にあり、ミサイルアクセス
カバー６３により保護されている。好ましくは、単一の
アクセスカバー６３が拡がっていてミサイルの前部で誘
導部コネクタを覆い、ワイヤハーネスを覆い、またミサ
イルの後部近くで制御部コネクタを覆っているのがよ
い。カバーをとったミサイルコネクタ６１にアクセスす
るにはコネクタを覆うアクセスカバー６３を取り外して
行う。カバーをとったミサイルコネクタ６１は各種形式
の情報とデータとの電気的通信を提供するが、後に特定
のカバーをとった試験の実施に関連して述べる。

【００１９】運用段階では、発射前にミサイル５０はへ
その緒（umbilical)コネクタ６２でミサイル５０の本体
５２の側面でアクセスできるようになっているものを介
して発射サイトと通信をする。内部的には、へその緒コ
ネクタはワイヤハーネス５８と通じているから、信号は
誘導部５４と発射サイトとの間、及び制御部５６と発射
サイトとの間で通信することができる。発射のときに
は、外部のへその緒ライン（図示せず）で発射サイトま
で延びているものがへその緒コネクタ６２から分離され
る。発射後は、ミサイル５０は発射サイト（もしくは情
報を受ける他の位置）からミサイルデータリンク受信機
６４を介して通信を受ける。受信機６４は好ましくは後
向きのアンテナと無線周波数のビーム状信号とを介して
動作するが、光ファイバ受信機もしくは他の形式の受信
機、あるいはミサイルと発射サイトとの間で２ウェイ通
信ができるトランシーバであってもよい。

【００２０】外部試験装置７０が用意される（２２）。
試験装置７０は好ましくは３つの主要部品すなわち試験
制御器７２、電源７４、及び気圧供給源７６で成る。試
験制御器７２の内部部品及び回路構成はある程度は実行
すべきカバーをとった試験の正確な内容に依存し、部品
と回路とについては実施例について後に記述する。

【００２１】少なくとも２つの試験用のカバーをとった
部品レベルの試験ライン７８が用意され、カバーをとっ
たミサイルコネクタ６１の各々に１つ当てられる。カバ
ーをとった部品レベルの試験ライン７８には第１の端部
があって試験制御器７２と通じており、また第２の端部
があってそこにはカバーをとった部品レベルの試験ライ
ンコネクタ８０があり、コネクタ８０はカバーをとった
ミサイルコネクタ６１のそれぞれの１つとかみ合うよう
にされている。図２では、３つの試験ライン７８，７８
´，７８´´が示されている。試験ライン７８，７８´
´は誘導部５４内のそれぞれのコネクタ６１，６１´´
と通じており、試験ライン７８´は制御部５６内のそれ
が関係するコネクタ６１´と通じている。試験ライン７
８，７８´はシステム通信試験で使用され、試験ライン
７８´´は、後に記述するように誘導制御器の詳細な評
価に使用される。さらに、試験ライン７８´は制御部５
６との接続も含んでいる。

【００２２】へその緒ライン８２は第１の端部が試験制
御器７２と通じ、第２の端部が試験装置へその緒コネク
タ８４でミサイルへその緒コネクタ６２とかみ合うよう
にされたもの有している。

【００２３】試験装置７０は試験装置データリンク送信
機８６で試験制御器７２と通じているものを含んでい
る。試験装置データリンク送信機８６は、２つが対面す
る関係（無線周波数のビームで通信をするため）にある
とき、もしくは他の通信関係に置かれたとき、ミサイル
データリンク受信機６４と通信ができるように互換性を
もつように選択されている。この形態では、データリン
ク送信機８６はフード（無響性材料で裏打ちがされてい
る）内にマウントされた無線送信用アンテナを含み、ミ
サイルデータリンク受信機６４のアンテナと対面する関
係に置かれている。発射サイトの発射後通信をミサイル
５０とする場合は、他の手段なら光ファイバトランシー
バのようなトランシーバが適当な形式である。

【００２４】電源と制御回路７４とは試験制御器７２に
電力を供給して試験制御器７２を動作させ、ミサイル５
０の特定の試験を実行するのに試験制御器７２が必要と
する電力を用意する。例えば、試験制御器７２から特定
形式の電力を、へその緒ライン８２を経由して、ミサイ
ル５０へ送って特定の事象と試験とが生ずるようにする
必要があろう。電源及び制御回路７４はすべての必要と
される電力を供給する。特別な事例については実施例に
関係して後述する。

【００２５】気圧供給源７６は試験制御器７２によって
制御されて気体圧力をミサイル５０に送って制御サーフ
ェスのロックを解く。一度ロックが解かれると、電気又
は気圧によるアクチュエーションを要する部品の試験、
とくに制御サーフェスを作動させるモータの試験が成し
遂げられる。気圧系ライン８８は気圧供給源７６から気
圧コネクタ９０にまで延びていて、気圧コネクタ９０は
ミサイル５０上の整合するミサイル気圧系コネクタ９２
とかみ合うようにされている。

【００２６】ミサイル５０は試験を完遂するためにミサ
イル支持台９４に置くのが望ましいが、これは必要条件
ではない（２４）。ミサイル支持台９４は構造的に一番
強いところでミサイルを支持し、コネクタとカバーへの
アクセスが自由にできるようにする。代って、ミサイル
５０は別の場所、例えば発射サイト（すなわち軍需品置
場）の近くとか、出荷用コンテナに格納されて試験を受
けることができる。

【００２７】カバーをつけた試験が実行される（２
６）。“カバーをつけた（カバーオン）”と“カバーを
とった（カバーオフ）”とは、アクセスカバー６３が取
り付けられているかと取り外されているかとを言う。カ
バーをつけた試験はすぐに実行でき、アクセスカバーが
取り付けられた状態では通常の運用で外部からアクセス
できるミサイルの接続のみが試験に使用できる。カバー
をつけた試験はミサイルが点火できる状態にあるかどう
かを全体として報告することになる。

【００２８】実施例のカバーをつけた試験では、試験の
オペレータがへその緒コネクタ８４をコネクタ６２に接
続し、送信機８６と受信機６４のアンテナを通信できる
関係に位置決めする。（外部気圧系ライン８８はここで
は接続されない）。試験制御器７２はミサイル５０を励
起して、それ自体の組込み試験（ビルトイン テスト，
ＢＩＴ）を実行する。ここで“励起（stimulate)”とい
ったのは、試験制御器７２が正しい外部からの刺激を送
ることによってＢＩＴ試験を実行させるようにすること
を意味する。第１のＢＩＴ（３秒ＢＩＴ）で発射前の電
子回路のものは、レリーズ同意信号を不活性とするのと
同時に、４００Ｈｚ電力を電源７４から、試験制御器７
２を経て、へその緒ライン８２を経てからミサイル５０
に至るように供給する。誘導部５４はこの信号の組合わ
せを認知して第１のＢＩＴの開始を呼び出す。図３を参
照して、第１のＢＩＴはＣＰＵ１００（好ましくは４８
６応用のマイクロコンピュータ形式のもの）はＭＩＬ標
準１５５３バス制御器１０２を指令して４００Ｈｚ電力
信号とレリーズ同意信号の不在とを、へその緒ライン８
２、へその緒コネクタ８４，６２を経由してミサイル５
０に通信させる。

【００２９】へその緒ライン８２は関連する１５５３符
号化シリアルデータバスをバス制御器１０２用として備
えている。ミサイル５０が第１のＢＩＴを実行すると、
ＣＰＵ１００はミサイル５０から、へその緒ライン８２
とバス制御器１０２とを介してミサイルの動作及び応答
を受け、それを関連するメモリ１０４に記憶する。もし
第１のＢＩＴが満足な結果をもたらせば、ミサイル５０
の誘導部５４は適切に作動し、かつワイヤハーネス５８
と通じていると結論される。もし第１のＢＩＴが不満足
であれば、誘導部５４が適切に作動しないか、あるいは
ワイヤハーネス５８と通じていないかと結論される。

【００３０】第２の組込み試験（ＢＩＴ）である５秒Ｂ
ＩＴは上述の第１のＢＩＴ（３秒ＢＩＴ）を再実行し、
追加の２秒間延長で試験機がデータリンクメッセージを
送信できるようにし、一層完全なＢＩＴがミサイル性能
に行われるようにする。第２のＢＩＴは第１のＢＩＴが
満足であったときにのみ実行される。ミサイルは実際に
は発射されない。その代り、試験装置７０は発射したミ
サイルの動作、主としてデータリンク受信機６４の使用
をシュミレートし、航法システムがミサイル発射の前に
試験できるようにする。第２のＢＩＴの根底にある仮定
は、ミサイル５０が、発射後の状態の下で受信機６４を
介して後方データリンク情報を受けているということで
ある。ただし、１５５３バス制御器１０２を経由する通
信は以前として活性が保たれている。発射後のミサイル
５０との通信の試験はこうしてデータリンク６４／８６
を用いて達成される。適切なデータリンクインターフェ
ース１０６が用意されている。この種のインターフェー
ス１０６は既知であり、通常の動作で発射サイト制御器
内で使用されて、データリンク６４を経由してミサイル
と通信がされる。ＣＰＵ１００はミサイル５０から１５
５３バス制御器１０２とインターフェース１０６を介し
てミサイルの動作と応答を受け、それらのことが関連す
るメモリ１０４に記憶される。もし第２のＢＩＴが不満
足な結果を（第１のＢＩＴ試験が満足な結果を出した後
に）出したときは、ワイヤハーネス５８と試験制御器７
２との間でデータリンク６４を経由した通信をするデー
タリンクシステム内に欠陥が存在すると結論づけられ
る。

【００３１】２つの組込み試験（ＢＩＴ）自体はよく知
られた技術であり、高性能ミサイルシステム内部のハー
ドウェアとソフトウェア内で用意されて、適当な外部刺
激に応答してミサイルサブシステムの自己試験ができる
ようにしている。ＢＩＴは発射サイトで励起され、ミサ
イルが発射の準備ができていることをチェックする。こ
の場合に、試験装置７０がＢＩＴを励起する。ＢＩＴは
非常に高速に、３−５秒でそれぞれ実行されて、ＢＩＴ
の繰返しはさしたる遅延を生じさせない。この発明の効
果は、使用できるＢＩＴと一緒に動作する点にある。

【００３２】ＢＩＴが実行されるときは、試験制御器７
２がへその緒ライン８２を介してＢＩＴの結果を受領す
る。２つのＢＩＴが満足なものであれば、それによって
ミサイルは完全に作動するものと表示され、ミサイルは
運用状態にあると判断される（２８）。他方、もし性能
劣化もしくは完全な故障のいずれかの表示があると、ミ
サイルは不満足な状態にあると判断される。ある場合に
は、ＢＩＴの結果を用いてその性質が判断され、ＢＩＴ
により特定の故障が識別された場合には、ミサイル修理
が直ちに効果をもたらすように行われるようにする。こ
の場合、ミサイルは表示された故障部品を交換して修理
されて、カバーをつけた試験２６が繰返される。

【００３３】ＢＩＴからの情報は、不満足状態の存在だ
けを表示してその理由の表示をしないので、別な試験を
して問題の原因を隔離して可能な修理作業ができるよう
にする必要がある。不満足な状態が検出される場合には
カバーをとった試験を実行する（３０）。この試験で
は、試験のオペレータがミサイルのアクセスカバー６３
を取り外し、１又は複数のコネクタ８０をそれぞれのコ
ネクタ６１に接続する。試験制御器７２は第１及び第２
のＢＩＴの性能を励起する。（前に記述したインターフ
ェース及び性能で第１及び第２のＢＩＴに関わるものは
試験のこの部分では維持されている。）ここで、追加の
データが試験制御器７２に得られることになり、カバー
をとった部品レベルの試験ラインを介してミサイル内部
の各種サブシステムの応答についてのデータが得られ
る。

【００３４】カバーをとった試験で得られるデータは、
第１及び第２のＢＩＴによって得られて前に記述された
データに加えて、３つの形式があることになる。第１
は、誘導部５４の特定動作が試験ライン７８´´（プラ
グ８０´´／６１´´を介して誘導部５４に接続された
もの）を経て得ることができる。第２は、連続性チェッ
クを経て、ワイヤハーネス５８を通る情報の通信が得ら
れる。連続性チェックはそれぞれのコネクタ８０／６１
及び８０´／６１´を経由して機能している試験ライン
７８と７８´との間で実行される。例えば、もし第１の
ＢＩＴが実行されて、誘導部試験ライン７８´´が故障
を表示すると、システムのその部分で故障が追跡され
る。他方、試験中にある誘導部試験ライン７８´´が誘
導部５４の動作が適切であることを表示し、かつライン
７８と７８´との間の通信チェックがハーネス５８を経
由しての誘導部５４からの通信の欠如を表示するとき
は、システムのその部分に対して故障が追跡される。第
３のデータ形式は制御部５６の動作に関係し、試験ライ
ン７８´内の幾つかのラインとそれが関係するコネクタ
８０´／６１´を介して得られる。この形式のデータに
は、例えば、各種の制御サーフェス６０に対して電気的
な駆動の発動ができるようにする位置制御器と、制御サ
ーフェス６０の動きの実際量を検知する位置センサのも
のが含まれている。これらの制御器とセンサとは通常は
ミサイル制御部の一部となっている。

【００３５】図３を参照して、制御器のチェックはＣＰ
Ｕ１００により実行され、誘導部インターフェース１０
８を経て誘導部５４から情報を受けて行われる。インタ
ーフェース１０８は誘導部５４と通信をするのに標準シ
リアル・インターフェース・カード、試験ライン７８´
´及びそれが関係するプラグ８０´´／６１´´を経由
している。ＣＰＵ１００は通信インターフェース１１０
を用いて通信チェックを実行し、通信インターフェース
１１０は、試験ライン７８，７８´との間でそれぞれの
プラグ８０／６１，８０´／６１´を通って試験信号を
効果的に供給している。試験信号には２つの形式があ
る。その１は電圧であり連続性を判断するために単に加
えられ、例えばワイヤハーネス内部で電線又はコネクタ
の非接触による欠陥があるかどうかだけを判断する。別
な場合は、符号化したディジタル信号が送られて、連続
性がある場合について、ワイヤハーネス５８とその関連
の内部コネクタを通って通信されるディジタル信号の形
状又は振幅の劣化を生じさせているある種の故障がある
かどうかが判断される。

【００３６】制御部５６のチェックはＣＰＵ１００によ
って達成され、ＣＰＵ１００は気圧供給源７６を作動さ
せて制御サーフェス６０のロックを解き、かつ電気的指
令を制御サーフェスドライブに送って制御サーフェスを
動かす。制御サーフェス６０の位置は帰還電圧（一般に
はシャフト位置に比例する）として検知され、ＣＰＵ１
００に戻って通信され、そのときに制御部インターフェ
ース１１２が介在し、試験ライン７８´とコネクタ８０
´／６１´内のラインが動作する。制御サーフェス位置
制御器は一般にアナログ信号で、制御器インターフェー
ス１１２にはディジタル対アナログ変換器があって、こ
れらの信号をアナログ形態に変換する。こうして、例え
ば試験の論理にしたがい、もし指令信号が特定の制御サ
ーフェスドライブに到達していながらシャフトが動かな
いというのであれば、その故障はドライブの動作から隔
離される。

【００３７】特定形式の追加のデータであって、誘導部
試験（試験ライン７８´´）を経て得られるものは、特
定のミサイル形式での一番ありそうな故障モードについ
ての経験に依存することになる。特定のミサイルシステ
ムは誘導部５４に極めて故障に陥り易い部品を有するこ
とがあり、誘導部試験過程はこういったよくありそうな
故障が発生したかどうかを評価するように選ばれてい
る。この発明の効果として、よくありそうな故障状態と
事象の組合わせとについての特定の試験がＣＰＵ１００
内にプログラムされていて、ライン７８´´とコネクタ
８０´´／６１´´内の特定のピン接続を介して試験で
きるようにしていることが挙げられる。ある種のミサイ
ルでよく試験されるような幾つかの例を挙げることがで
きる。誘導部５４内のテレメータＢＩＴデータ流が監視
され、符号化したデータ流としてＣＰＵ１００に送られ
る。この試験データは不満足な状態が誘導部内の特定の
部品によって生じ、その特定の部品が問題を生じさせて
いるかどうかを識別するために一層有力な基礎を提供す
る。同様に、制御部５６の特定の試験が制御サーフェス
６０での特定の動きを試みることにより行われる。この
ときは気圧供給源７６の動作を指令し、電気的な刺激を
与え、制御サーフェスが、前に述べたように所望の位置
まで動いたかどうかを測定することが行われる。

【００３８】カバーをとった試験の１つである発射サイ
クル試験は、大層な気配りと注意とを要する。この点で
記述する試験には、ミサイルが現実に点火されたり、あ
るいはその状態が非可逆的に変化するような信号の試験
を含めないこととしている。発火状態とするアーミング
プラグ９６は、ミサイルの発射と飛翔とを動作する運用
装置へ指令信号を接続することによりミサイルの動作が
物理的にできるようにする。この指令信号の例としてス
キブ（squib)パルス（電池点火及び発射器作動用のパル
ス）とロケットモータ点火指令とが含まれる。

【００３９】発射サイクル試験を実施するためには、各
アーミングプラグ９６はミサイルから取り外され、試験
制御器７２内のレセプタクル９８内に挿入される。試験
制御器７２からの信号はＢＩＴの性能を励起するもので
あるが、ここでは発射シーケンスを励起するものであ
り、しかも信号は運用装置からではなく試験制御器７２
によって受領される点が異なる。試験制御器７２内にア
ーミングプラグ９６を設置することはミサイルの実際の
発射を回避する。

【００４０】図３を参照すると、ＣＰＵ１００は発射サ
イクル制御器１１４の動作を指令する。発射サイクル制
御器１１４はアーミングプラグレセプタクル９８を含
み、そこにアーミングプラグ９６が物理的に挿入されな
ければ発射サイクル試験は実施できない。アーミングプ
ラグ９６がミサイル５０から取り外されると、内部の発
射指令の回路が開かれるから、実際の発射は起こり得な
い。アーミングプラグ９６がレセプタクル９８内に挿入
されると、発射サイクル制御器はＣＰＵ１００の指令の
下に発射同意信号を発生する。第１及び第２のＢＩＴは
４００Ｈｚ電力の印加と発射同意（しかし発射指令はミ
サイル内にアーミングプラグがないことにより物理的に
阻止されている）とによって実行され、発射同意なしに
前に実行されたところとなる。発射同意が存在すると、
次のような追加のミサイル動作特徴がチェックできるよ
うになる。すなわち、ミサイルの電池、ファイヤ内部ス
キブ、及びミサイルのロケットモータのファイヤを可能
とする信号上の電圧のチェックである。

【００４１】実施例では、試験制御器７２は標準のＶＸ
Ｉ構造にしたがって動作し、前に述べた機能と部品とを
動作可能とし、その解析ができるようにするために使わ
れる使用可能な支援機能が用いられる。ＣＰＵ１００は
実施例ではプログラマブル４８６計算機であり、動作及
び／又はデータ処理のための遠隔端末１２０を備えるこ
とができるようにしている。もし望むならば、全試験工
程を遠隔制御することができ、あるいはデータの解析が
ＣＰＵ１００内部でされ得るよりももっと詳細に遠隔地
点で実行できるようにデータを送信することもできる。
事象検知カード（イベント・センス・カード）１２２に
は事象の相対的なタイミングを検知する時計が含まれて
いて、ミサイルの発射に必要とされるような時間シーケ
ンスを検知し、また事象の時間的な相互関係を判断する
ための時間的なタグ付与（タイム・タギング）ができる
ようにしている。事象の実際の検知は前に述べたように
誘導インターフェース１０８を介して達成されるが、事
象検知カードはタイミング相互関係が評価できるように
している。ＴＴＬ Ｉ／Ｏ論理カード１２４は事象を達
成するのにＣＰＵとインターフェースとによって必要と
される離散的な信号を発生する。この離散的な信号は、
例えば電源７４によって送出された電圧レベルを変調し
て、へその緒ライン８２を通ってミサイルに送るために
使用される。リレースイッチングカード１２６はＣＰＵ
１００によって動作されて通信インターフェース１１０
から電圧を測定するディジタルマルチメータ１２８への
連続性チェック信号を切替える。これらの電圧は次に評
価のためにＣＰＵ１００に送り戻される。

【００４２】カバーをとった試験はシーケンスをもって
実行され、まずＢＩＴ試験が繰返しされ、次に発射サイ
クル試験、制御部試験、連続性試験と続き、不満足な性
能の原因が見つかるまで続けられていく。故障がこれら
の試験の１つで検出されたときは、その先の試験は問題
が正されるまでは保留される。何も原因が識別されない
か、識別された原因が入手できる処理資源で救済（補
修）されないときには、その、ミサイルは運用外とされ
る（３２）。他方、カバーをとった試験が問題の根源を
識別し、その根源が入手できる機能により補正し得るも
のであるときは、そのミサイルは修理される（３４）。
修理はときとして欠陥のあるモジュール又はカードを除
去し、それを機能するモジュール又はカードと交換する
作業を含む。

【００４３】第２のカバーをとった試験が実施される
（３６）。第２のカバーをとった試験３６は、実施され
る試験に関してはカバーをとった試験３０と同じであ
る。第２のカバーをとった試験をする目的は不満足な状
態が救済（補修）されたことを、ミサイルアクセスカバ
ー６３がまだ取り外されたままで、検証することであ
る。不満足な状態は複数の欠陥部品が原因で生じたこと
もあるし、またある問題が他の問題に隠れていたことも
あり得る。カバーをとった試験を繰返すと、こういった
状態が識別される。もしＢＩＴがさらなる不満足がない
状態にあるときは、オペレータはコネクタ８０と６１と
を外し、ミサイルにアーミングプラグ９６を再び設置し
て、ミサイルアクセスカバー６３を再びはめる。

【００４４】第２のカバーをつけた試験が実施される
（３８）。ＢＩＴは試験制御器７２によって励起され
る。この試験結果が満足であれば、へその緒ライン８２
が外され、データリンク送信用アンテナ８６とフードと
が取り除かれてミサイルは運用にかけられる（４０）。
もし試験結果が満足するものでなければ、ミサイルは運
用から外され（４２）、検出され得ない問題があり、現
段階では修理できない問題があるとされる。

【００４５】

【発明の効果】この発明の効果は課題、解決手段のとこ
ろでも触れたところであるが、さらに次のことが指摘で
きる。この発明は特定のミサイル形式に対するシュミレ
ーションの実行を変え、特に故障モードと故障確率とが
知られている形式のＡＭＲＡＡＭ（最新式中距離空対空
ミサイル）用のシュミレーションに適したものとした。
比較的中庸のコストで簡単に持ち運びのできる試験装置
７０も全試験の９２％を実行できることが見積もられて
いる。さらに複雑な試験装置でコストがその１０倍でも
っと小型のもので、９５％の実行ができると推定してい
る。こうしてこの発明はほとんど完全な試験が良く行
え、しかも価格と信頼性の面で大きな前進がみられる。

【００４６】発明の特定の実施例について記述したが、
いろいろな変形や性能の強化はこの発明の思想の範囲で
可能であり、その範囲は特許請求の範囲に記載したとこ
ろである。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の方法を示す構成図である。

【図２】この発明の装置の模式図である。

【図３】試験制御器の模式図である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アール・ウインストン・モンク アメリカ合衆国、アリゾナ州 85715、タ クソン、イー・プラチタ・カスケーダ 9421

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 運用動作の際に発射サイトから発射され
   るミサイルの動作性能を試験する方法であって： （１）発射サイトから運用状態で発射されるミサイルを
   準備して、ミサイルには、（ａ）少なくとも２つの内部
   部品部と、それらの間を結ぶワイヤハーネスと、少なく
   とも１つのカバーをとったミサイルコネクタとを備え、
   該ミサイルコネクタは、ミサイルアクセスカバーを外し
   たときだけアクセスできるようにした部品部の各々に備
   えるようにし、かつ（ｂ）運用動作中で発射の前に発射
   サイトと通信をする外部ミサイルへその緒コネクタと、
   （ｃ）運用動作中で発射の後に発射サイトと通信をする
   ミサイルデータリンク受信機とを備え； （２）（ａ）試験制御器と、（ｂ）少なくとも２つの試
   験カバーをとった部品レベルの試験ラインであって、カ
   バーをとったミサイルコネクタの各々に１つ宛あり、各
   カバーをとった部品レベルの試験ラインは第１の端部が
   試験制御器と通じており、また第２の端部がカバーをと
   った部品レベルの試験ラインを備えて、カバーをとった
   ミサイルコネクタのそれぞれの１つとかみ合うようにさ
   れた試験ラインと、（ｃ）第１の端部が試験制御器と通
   じており、第２の端部が外部のミサイルへその緒コネク
   タとかみ合うようにされた試験装置のへその緒コネクタ
   を有するへその緒ラインと、（ｄ）試験制御器と通じて
   いる試験装置データリンク送信機と、（ｅ）運用動作の
   際に発射サイトからミサイルに対して使用できる試験制
   御器電力レベルを供給する電源と、（ｆ）試験制御器に
   よって制御される気圧供給源であって、ミサイルの電気
   機械部品に対して気圧によりロックを解きまた動作可能
   とする気圧供給源とで成る外部試験装置を準備する段階
   と； （３）カバーをつけた試験シーケンスを、（ａ）オペレ
   ータが試験装置データリンク送信機を外部ミサイルへそ
   の緒コネクタに接続し、（ｂ）オペレータが試験装置デ
   ータリンク送信機をミサイルデータリンク受信機と通信
   する位置に置き、（ｃ）試験制御器がへその緒ラインと
   ミサイルデータリンク受信機を介してミサイル組込み試
   験の性能を励起し、（ｄ）試験制御器がミサイル組込み
   試験の結果を評価して不満足なミサイル試験性能の存在
   を判断することにより実行する段階と；不満足なミサイ
   ル性能を検出する場合には （４）（ａ）オペレータがミサイルのアクセスカバーを
   外し、（ｂ）オペレータが各カバーをとった部品レベル
   の試験ラインコネクタをそれぞれカバーをとったミサイ
   ルコネクタに接続し、（ｃ）試験制御器がへその緒ライ
   ンとミサイルデータリンク受信機とを介してミサイル組
   込み試験の性能を励起して、カバーをとった部品レベル
   の試験ラインを介してデータを収集し、（ｄ）試験制御
   器がミサイル組込み試験の結果を評価して、部品レベル
   における不満足なミサイル性能の原因を隔離するように
   カバーをとった試験シーケンスを実行する段階とで構成
   されるミサイルの動作性能を試験する方法。
2. 【請求項２】 カバーをとった試験シーケンスを実行す
   る段階の後に、オペレータが少なくとも１つのミサイル
   の部品を修理する追加の段階を含む請求項１記載の方
   法。
3. 【請求項３】 オペレータが修理する段階の後に、 試験制御器がへその緒ラインとミサイルデータリンク受
   信機とを介してミサイル組込み試験の性能を励起し、か
   つ試験装置のカバーをとった部品レベルの試験ラインを
   介してデータを収集し、ミサイル組込み試験の結果を評
   価して、不満足なミサイル性能の原因が部品レベルで補
   正されたかを判断し、もし不満足なミサイル性能の原因
   が部品レベルで補修された場合には、 オペレータが各カバーをとった部品レベルの試験ライン
   コネクタとそれぞれのカバーをとったミサイルコネクタ
   との接続を解き、かつミサイルアクセスカバーを再び置
   くことによって第２のカバーをとった試験シーケンスを
   実行する段階を含む請求項２記載の方法。
4. 【請求項４】 第２の試験シーケンスを実行する段階の
   後に、 試験制御器が、へその緒ラインとミサイルデータリンク
   受信機とを介してミサイル組込み試験の性能を励起し、
   かつミサイル組込み試験の結果を評価して不満足な試験
   性能の原因が補正されたかどうかを判断し、不満足なミ
   サイル試験性能の原因が補正された場合には、 オペレータが、試験装置へその緒コネクタと外部ミサイ
   ルへその緒コネクタとの接続を解き、かつ試験装置デー
   タリンク送信機をミサイルデータリンク受信機と通信を
   するための位置から移動させることによって第２のカバ
   ーをつけた試験シーケンスを実行する段階を含む請求項
   ３記載の方法。
5. 【請求項５】 ミサイルを用意する段階は、誘導部と制
   御部とそれらの間にのびているワイヤハーネスとを有す
   るミサイルを用意する段階を含む請求項１記載の方法
6. 【請求項６】 カバーをとった試験シーケンスを実行す
   る段階は、誘導部からテレメータ組込み試験データ流を
   監視する段階を含む請求項５記載の方法。
7. 【請求項７】 カバーをとった試験シーケンスを実行す
   る段階は発射サイトをシュミレートする段階を含む請求
   項５記載の方法。
8. 【請求項８】 カバーをとった試験シーケンスを実行す
   る段階は、気圧供給源を利用して制御部の制御サーフェ
   スのロックを解く段階を含む請求項５記載の方法。
9. 【請求項９】 カバーをとった試験シーケンスを実行す
   る段階はワイヤハーネスの連続性試験を実行する段階を
   含む請求項５記載の方法。
10. 【請求項１０】 ミサイルを用意する段階は、航空機か
    ら発射される運用状態のミサイルを用意する段階を含む
    請求項１記載の方法。