JPH09318533A - ガス分析計 - Google Patents
ガス分析計Info
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- JPH09318533A JPH09318533A JP16090696A JP16090696A JPH09318533A JP H09318533 A JPH09318533 A JP H09318533A JP 16090696 A JP16090696 A JP 16090696A JP 16090696 A JP16090696 A JP 16090696A JP H09318533 A JPH09318533 A JP H09318533A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 51
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 コンデンサマイクロホン型検出器の感度変化
による指示影響を低減できるガス分析計を提供する。 【解決手段】 光源8,9、リファレンスセル2、サン
プルセル3およびコンデンサマイクロホン型検出器1を
有し、チョッパー7を前記光源およびコンデンサマイク
ロホン型検出器間に設けコンデンサマイクロホン型検出
器1に印加されるバイアス電圧(HV)をチョッパー7
の断続基本周波数とは異なる周波数で変化させるように
構成するとともに、前記コンデンサマイクロホン型検出
器による出力信号から前記基本周波数の交流成分の第1
整流信号と前記異なる周波数の交流成分の第2整流信号
とを各別に取り出して、その第1整流信号を第2整流信
号で除する補正手段を有する信号処理回路6を設ける。
による指示影響を低減できるガス分析計を提供する。 【解決手段】 光源8,9、リファレンスセル2、サン
プルセル3およびコンデンサマイクロホン型検出器1を
有し、チョッパー7を前記光源およびコンデンサマイク
ロホン型検出器間に設けコンデンサマイクロホン型検出
器1に印加されるバイアス電圧(HV)をチョッパー7
の断続基本周波数とは異なる周波数で変化させるように
構成するとともに、前記コンデンサマイクロホン型検出
器による出力信号から前記基本周波数の交流成分の第1
整流信号と前記異なる周波数の交流成分の第2整流信号
とを各別に取り出して、その第1整流信号を第2整流信
号で除する補正手段を有する信号処理回路6を設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、コンデンサマイ
クロホン型検出器を使用したガス分析計に関するもの
で、コンデンサマイクロホン型検出器の感度変化(感度
ドリフト)による指示影響を低減できるガス分析計に関
する。
クロホン型検出器を使用したガス分析計に関するもの
で、コンデンサマイクロホン型検出器の感度変化(感度
ドリフト)による指示影響を低減できるガス分析計に関
する。
【0002】
【従来の技術】コンデンサマイクロホン型検出器を使用
したガス分析計の従来例として、光源50からの照射光
を一定周期(基本周波数)で断続するためのチョッパー
55を設けて構成された、いわゆるダブルセルタイプで
光断続方式によるものを図8に示す。図8において、光
源50から出た赤外線は、サンプルセル51とリファレ
ンスセル52をそれぞれ通る。両セル51,52に入射
する赤外線は光量バランサー53により略等しい量に調
整されている。そして、リファレンスセル52には、N
2 などの不活性ガスが封入されているので、リファレン
スセル52を通過する赤外線は吸収されずに常に一定光
量の光エネルギーがコンデンサマイクロホン型検出器5
4に到達する一方、サンプルセル51を通過する赤外線
は測定対象成分の濃度に対応した吸収が起こり、したが
って、サンプルガス51を通過した光エネルギーとリフ
ァレンスガス52を通過した光エネルギーのエネルギー
差が生じるとともに、リファレンスセル52およびサン
プルセル51を通過する赤外線は、チョッパー55で断
続されているため、コンデンサ膜56が振動する。そし
て、この振動による静電容量の変化量に基づいてサンプ
ルガス中の測定対象成分の濃度信号を得ることができ
る。
したガス分析計の従来例として、光源50からの照射光
を一定周期(基本周波数)で断続するためのチョッパー
55を設けて構成された、いわゆるダブルセルタイプで
光断続方式によるものを図8に示す。図8において、光
源50から出た赤外線は、サンプルセル51とリファレ
ンスセル52をそれぞれ通る。両セル51,52に入射
する赤外線は光量バランサー53により略等しい量に調
整されている。そして、リファレンスセル52には、N
2 などの不活性ガスが封入されているので、リファレン
スセル52を通過する赤外線は吸収されずに常に一定光
量の光エネルギーがコンデンサマイクロホン型検出器5
4に到達する一方、サンプルセル51を通過する赤外線
は測定対象成分の濃度に対応した吸収が起こり、したが
って、サンプルガス51を通過した光エネルギーとリフ
ァレンスガス52を通過した光エネルギーのエネルギー
差が生じるとともに、リファレンスセル52およびサン
プルセル51を通過する赤外線は、チョッパー55で断
続されているため、コンデンサ膜56が振動する。そし
て、この振動による静電容量の変化量に基づいてサンプ
ルガス中の測定対象成分の濃度信号を得ることができ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この濃度信号は、コン
デンサマイクロホン型検出器56からプリアンプ57に
入力した後、バンドパスアンプ58、整流回路59およ
び平滑回路60を介して出力されていたけれども、コン
デンサマイクロホン型検出器54においては、周囲温度
変化や気圧変化、コンデンサマイクロホン60(図9参
照)を構成するコンデンサ膜56の張り具合の経時変化
等によって感度変化(感度ドリフト)が生じて指示影響
を受けるおそれがあった。このため、適宜、感度校正が
必要であった。なお、図9は、プリアンプ57の回路構
成の一例を示し、61は、コンデンサマイクロホン型検
出器54の定電圧電源部で、例えば、図10に示すよう
に、150ボルトのバイアス電圧(HV)を常時検出器
54に印加する。
デンサマイクロホン型検出器56からプリアンプ57に
入力した後、バンドパスアンプ58、整流回路59およ
び平滑回路60を介して出力されていたけれども、コン
デンサマイクロホン型検出器54においては、周囲温度
変化や気圧変化、コンデンサマイクロホン60(図9参
照)を構成するコンデンサ膜56の張り具合の経時変化
等によって感度変化(感度ドリフト)が生じて指示影響
を受けるおそれがあった。このため、適宜、感度校正が
必要であった。なお、図9は、プリアンプ57の回路構
成の一例を示し、61は、コンデンサマイクロホン型検
出器54の定電圧電源部で、例えば、図10に示すよう
に、150ボルトのバイアス電圧(HV)を常時検出器
54に印加する。
【0004】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、コンデンサマイクロホン型検出
器の感度変化による指示影響を低減できるガス分析計を
提供することにある。
たもので、その目的は、コンデンサマイクロホン型検出
器の感度変化による指示影響を低減できるガス分析計を
提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、セルに対してリファレンスガスとサン
プルガスとが一定周期(基本周波数)で供給され、前記
リファレンスガスを通過した光源からの光および前記サ
ンプルガスを通過した光源からの光に対するコンデンサ
マイクロホン型検出器を設け、かつ、前記コンデンサマ
イクロホン型検出器による出力信号から前記リファレン
スガスを通過した光エネルギーと前記サンプルガスを通
過した光エネルギーとのエネルギー差に相当する交流成
分を取り出し、その交流成分の変化量に基づいて前記サ
ンプルガス中の測定対象成分の濃度を測定するように構
成してあるガス分析計において、前記コンデンサマイク
ロホン型検出器に印加されるバイアス電圧を前記基本周
波数とは異なる周波数で変化させるように構成するとと
もに、前記コンデンサマイクロホン型検出器による出力
信号から前記基本周波数の交流成分の第1整流信号と前
記異なる周波数の交流成分の第2整流信号とを各別に取
り出して、その第1整流信号を第2整流信号で除する補
正手段、または、それと等価な補正手段を有する信号処
理回路を設けてある。
め、この発明は、セルに対してリファレンスガスとサン
プルガスとが一定周期(基本周波数)で供給され、前記
リファレンスガスを通過した光源からの光および前記サ
ンプルガスを通過した光源からの光に対するコンデンサ
マイクロホン型検出器を設け、かつ、前記コンデンサマ
イクロホン型検出器による出力信号から前記リファレン
スガスを通過した光エネルギーと前記サンプルガスを通
過した光エネルギーとのエネルギー差に相当する交流成
分を取り出し、その交流成分の変化量に基づいて前記サ
ンプルガス中の測定対象成分の濃度を測定するように構
成してあるガス分析計において、前記コンデンサマイク
ロホン型検出器に印加されるバイアス電圧を前記基本周
波数とは異なる周波数で変化させるように構成するとと
もに、前記コンデンサマイクロホン型検出器による出力
信号から前記基本周波数の交流成分の第1整流信号と前
記異なる周波数の交流成分の第2整流信号とを各別に取
り出して、その第1整流信号を第2整流信号で除する補
正手段、または、それと等価な補正手段を有する信号処
理回路を設けてある。
【0006】また、この発明は、別の観点から、光源、
リファレンスセル、サンプルセルおよびコンデンサマイ
クロホン型検出器を有し、かつ、前記光源から前記リフ
ァレンスセルおよびサンプルセルに入射する光あるいは
前記両セルを通過した光を一定周期(基本周波数)で断
続するためのチョッパーを前記光源およびコンデンサマ
イクロホン型検出器間に設け、前記コンデンサマイクロ
ホン型検出器による出力信号からリファレンスガスを通
過した光エネルギーとサンプルガスを通過した光エネル
ギーとのエネルギー差に相当する交流成分を取り出し、
その交流成分の変化量に基づいて前記サンプルガス中の
測定対象成分の濃度を測定するように構成してあるガス
分析計において、前記コンデンサマイクロホン型検出器
に印加されるバイアス電圧を前記基本周波数とは異なる
周波数で変化させるように構成するとともに、前記コン
デンサマイクロホン型検出器による出力信号から前記基
本周波数の交流成分の第1整流信号と前記異なる周波数
の交流成分の第2整流信号とを各別に取り出して、その
第1整流信号を第2整流信号で除する補正手段、また
は、それと等価な補正手段を有する信号処理回路を設け
てあることを特徴とするガス分析計を提供する。
リファレンスセル、サンプルセルおよびコンデンサマイ
クロホン型検出器を有し、かつ、前記光源から前記リフ
ァレンスセルおよびサンプルセルに入射する光あるいは
前記両セルを通過した光を一定周期(基本周波数)で断
続するためのチョッパーを前記光源およびコンデンサマ
イクロホン型検出器間に設け、前記コンデンサマイクロ
ホン型検出器による出力信号からリファレンスガスを通
過した光エネルギーとサンプルガスを通過した光エネル
ギーとのエネルギー差に相当する交流成分を取り出し、
その交流成分の変化量に基づいて前記サンプルガス中の
測定対象成分の濃度を測定するように構成してあるガス
分析計において、前記コンデンサマイクロホン型検出器
に印加されるバイアス電圧を前記基本周波数とは異なる
周波数で変化させるように構成するとともに、前記コン
デンサマイクロホン型検出器による出力信号から前記基
本周波数の交流成分の第1整流信号と前記異なる周波数
の交流成分の第2整流信号とを各別に取り出して、その
第1整流信号を第2整流信号で除する補正手段、また
は、それと等価な補正手段を有する信号処理回路を設け
てあることを特徴とするガス分析計を提供する。
【0007】この発明では、コンデンサマイクロホン型
検出器に印加されるバイアス電圧を前記基本周波数とは
異なる周波数で変化させるように構成し、処理回路にお
いては、コンデンサマイクロホン型検出器による出力信
号から前記基本周波数の交流成分の第1整流信号と前記
異なる周波数の交流成分の第2整流信号とを各別に取り
出して、その第1整流信号を第2整流信号を除算処理し
た後、サンプルガスに含まれる測定対象成分の濃度値を
得るよう構成されている。よって、前記両交流成分に同
等に(同じ割合で)含まれているコンデンサマイクロホ
ン型検出器の周囲温度変化や気圧変化、コンデンサマイ
クロホンを構成するコンデンサ膜の張り具合の経時変化
等が相殺されることになるため、除算後のサンプルガス
中の測定対象成分の濃度信号からは、それら影響を確実
かつ効果的に除外できる。
検出器に印加されるバイアス電圧を前記基本周波数とは
異なる周波数で変化させるように構成し、処理回路にお
いては、コンデンサマイクロホン型検出器による出力信
号から前記基本周波数の交流成分の第1整流信号と前記
異なる周波数の交流成分の第2整流信号とを各別に取り
出して、その第1整流信号を第2整流信号を除算処理し
た後、サンプルガスに含まれる測定対象成分の濃度値を
得るよう構成されている。よって、前記両交流成分に同
等に(同じ割合で)含まれているコンデンサマイクロホ
ン型検出器の周囲温度変化や気圧変化、コンデンサマイ
クロホンを構成するコンデンサ膜の張り具合の経時変化
等が相殺されることになるため、除算後のサンプルガス
中の測定対象成分の濃度信号からは、それら影響を確実
かつ効果的に除外できる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態を、図
面に基づいて説明する。図1は、この発明の第1の実施
形態によるガス分析計の全体を示し、図2は、信号処理
回路のブロック回路図を、図3は、前記信号処理回路に
おける各部の信号図を、それぞれ示す。
面に基づいて説明する。図1は、この発明の第1の実施
形態によるガス分析計の全体を示し、図2は、信号処理
回路のブロック回路図を、図3は、前記信号処理回路に
おける各部の信号図を、それぞれ示す。
【0009】この実施形態では、チョッパー装置7を駆
動させた場合に、リファレンスガスRを通過した光エネ
ルギーとサンプルガスSを通過した光エネルギーとのエ
ネルギー差の検出が10Hzの基本周波数(光断続周波
数)で行われる一方、コンデンサマイクロホン型検出器
1の電源部4に印加される高電圧(例えば、150ボル
ト)のバイアス電圧の電圧変調が例えば5Hzの周波数
で行われるよう構成されたダブルセルタイプの光断続方
式によるガス分析計を採用している。
動させた場合に、リファレンスガスRを通過した光エネ
ルギーとサンプルガスSを通過した光エネルギーとのエ
ネルギー差の検出が10Hzの基本周波数(光断続周波
数)で行われる一方、コンデンサマイクロホン型検出器
1の電源部4に印加される高電圧(例えば、150ボル
ト)のバイアス電圧の電圧変調が例えば5Hzの周波数
で行われるよう構成されたダブルセルタイプの光断続方
式によるガス分析計を採用している。
【0010】図1において、1は、サンプルガスSに含
まれる測定対象成分ガスの濃度を検出するためのコンデ
ンサマイクロホン型検出器で、N2 等のリファレンスガ
スRが封入されたリファレンスセル2およびサンプルガ
スSが連続供給されるサンプルセル3の後段に設けられ
ている。4は、前記検出器1に高いバイアス電圧、例え
ば、150ボルトのバイアス電圧(以下、HVという)
を印加するための電源部で、コントローラー5からの例
えば5Hzの周波数を有する電圧変調信号(HVチョッ
ピング信号)に基づいて、前記HVが前記基本周波数
(光断続周波数)とは異なる周波数(5Hz)で変調す
るように構成されている。
まれる測定対象成分ガスの濃度を検出するためのコンデ
ンサマイクロホン型検出器で、N2 等のリファレンスガ
スRが封入されたリファレンスセル2およびサンプルガ
スSが連続供給されるサンプルセル3の後段に設けられ
ている。4は、前記検出器1に高いバイアス電圧、例え
ば、150ボルトのバイアス電圧(以下、HVという)
を印加するための電源部で、コントローラー5からの例
えば5Hzの周波数を有する電圧変調信号(HVチョッ
ピング信号)に基づいて、前記HVが前記基本周波数
(光断続周波数)とは異なる周波数(5Hz)で変調す
るように構成されている。
【0011】前記コントローラー5は、両セル2,3お
よび検出器1間に設けたチョッパー装置7、検出器1の
後段に設けた信号処理回路6および検出器1の電源部4
に対して、それぞれ、チョッパー駆動信号(5Hzの信
号)(2枚羽根12a,12bを用いた図4参照)、そ
れに対応する前記基本周波数(光断続周波数:10H
z)および電圧変調信号(HVチョッピング信号:5H
zの信号)などの所定の制御信号を発する。
よび検出器1間に設けたチョッパー装置7、検出器1の
後段に設けた信号処理回路6および検出器1の電源部4
に対して、それぞれ、チョッパー駆動信号(5Hzの信
号)(2枚羽根12a,12bを用いた図4参照)、そ
れに対応する前記基本周波数(光断続周波数:10H
z)および電圧変調信号(HVチョッピング信号:5H
zの信号)などの所定の制御信号を発する。
【0012】一方、光源8,9へ作動用電圧を供給する
ための光源用定電圧電源10を設けて光源8,9からは
両セル2,3に一定強度の光(例えば、赤外線)を照射
させ、両セル2,3を通過した光、つまり、リファレン
スガスRを通過した光エネルギーとサンプルガスSを通
過した光エネルギーとのエネルギー差の検出が、チョッ
パー装置7を設けたことにより、10Hzの基本周波数
(光断続周波数)で行われる。
ための光源用定電圧電源10を設けて光源8,9からは
両セル2,3に一定強度の光(例えば、赤外線)を照射
させ、両セル2,3を通過した光、つまり、リファレン
スガスRを通過した光エネルギーとサンプルガスSを通
過した光エネルギーとのエネルギー差の検出が、チョッ
パー装置7を設けたことにより、10Hzの基本周波数
(光断続周波数)で行われる。
【0013】前記チョッパー装置7は、駆動用モーター
11とそれにより回転駆動される羽根体12とから構成
されている。この実施形態では、基本周波数(光断続周
波数:10Hz)の半分の周波数(5Hz)でHVの電
圧変調を行うために、羽根体12を、その一回転の間
に、両セル2,3を通過して検出器1に入射する光につ
いて、それぞれ、その全てを検出器1に入射させる状態
と、その全てを遮断する状態とに1回ずつ切換わるよう
対称2枚羽根型の2枚羽根12a,12b(図4参照)
で構成してあり、上述したようにモーター11を5Hz
で回転できるよう前記チョッパー駆動信号がコントロー
ラー5で制御されている。このように羽根12a,12
bは、それぞれ5Hzで回転するので、基本周波数であ
る光断続周波数は、上述したように、10Hz(=2×
5Hz)になる。
11とそれにより回転駆動される羽根体12とから構成
されている。この実施形態では、基本周波数(光断続周
波数:10Hz)の半分の周波数(5Hz)でHVの電
圧変調を行うために、羽根体12を、その一回転の間
に、両セル2,3を通過して検出器1に入射する光につ
いて、それぞれ、その全てを検出器1に入射させる状態
と、その全てを遮断する状態とに1回ずつ切換わるよう
対称2枚羽根型の2枚羽根12a,12b(図4参照)
で構成してあり、上述したようにモーター11を5Hz
で回転できるよう前記チョッパー駆動信号がコントロー
ラー5で制御されている。このように羽根12a,12
bは、それぞれ5Hzで回転するので、基本周波数であ
る光断続周波数は、上述したように、10Hz(=2×
5Hz)になる。
【0014】なお、羽根体12として、図5に示すよう
に、一回転の間に、両セル2,3を通過して検出器1に
入射する光について、一方の光を検出器1に入射させる
状態と、他方の光を遮断する状態とに1回ずつ切換わる
1枚羽根12cで形成されているものを採用してもよ
い。そして、羽根体の形状はこれらに限らず、HVの電
圧変調の目標周波数とモーターの回転数に応じて適宜構
成できる。
に、一回転の間に、両セル2,3を通過して検出器1に
入射する光について、一方の光を検出器1に入射させる
状態と、他方の光を遮断する状態とに1回ずつ切換わる
1枚羽根12cで形成されているものを採用してもよ
い。そして、羽根体の形状はこれらに限らず、HVの電
圧変調の目標周波数とモーターの回転数に応じて適宜構
成できる。
【0015】また、Hは、信号処理回路6からの出力信
号に対応する値(測定結果としての測定対象成分ガスの
濃度)を表示する表示器である。
号に対応する値(測定結果としての測定対象成分ガスの
濃度)を表示する表示器である。
【0016】更に、コンデンサマイクロホン型検出器1
から信号処理回路6へ入力される出力交流信号vについ
て説明すると、この交流信号v〔図3(イ)参照〕は、
チョッパー装置7による基本周波数(光断続周波数:1
0Hz)の交流成分v1〔図3(ロ)参照〕と、それと
は異なる電圧変調信号(HVチョッピング信号:5H
z)に基づく周波数5Hzの交流成分v2〔図3(ハ)
参照〕とが重畳されている。しかも、両交流成分v1,
v2には、共に、検出器1の周囲温度変化や気圧変化、
コンデンサマイクロホンを構成するコンデンサ膜の張り
具合の経時変化等が同等に(同じ割合で)関与してい
る。
から信号処理回路6へ入力される出力交流信号vについ
て説明すると、この交流信号v〔図3(イ)参照〕は、
チョッパー装置7による基本周波数(光断続周波数:1
0Hz)の交流成分v1〔図3(ロ)参照〕と、それと
は異なる電圧変調信号(HVチョッピング信号:5H
z)に基づく周波数5Hzの交流成分v2〔図3(ハ)
参照〕とが重畳されている。しかも、両交流成分v1,
v2には、共に、検出器1の周囲温度変化や気圧変化、
コンデンサマイクロホンを構成するコンデンサ膜の張り
具合の経時変化等が同等に(同じ割合で)関与してい
る。
【0017】而して、図2に示す前記信号処理回路6
は、検出器1からの検出信号を増幅して異なる周波数を
有する交流成分v1,v2同士を重畳された交流信号v
(=v1+v2)を取り出すためのプリアンプ13と、
このプリアンプ13の出力交流信号vから基本周波数
(光断続周波数:10Hz)の交流成分v1を分離して
取り出すための第1バンドパスアンプ14と、出力交流
信号vから電圧変調信号(HVチョッピング信号:5H
z)に基づく周波数5Hzの交流成分v2を分離して取
り出すための第2バンドパスアンプ15と、バンドパス
アンプ14から出力される交流成分v1を同期整流して
第1整流信号|v1|を得るための第1整流回路16
と、バンドパスアンプ15から出力される交流成分v2
を同期整流して第2整流信号|v2|を得るための第2
整流回路17と、第1平滑回路18を介して入力する第
1整流信号|v1|に基づく第1信号aを、第2平滑回
路19を介して入力する第2整流信号|v2|に基づく
第2信号bで除算処理するための除算回路20とで構成
され、その除算回路20からの出力信号v3がサンプル
ガスに含まれる測定対象成分の濃度値として表示器Hに
表示される。なお、第1,2バンドパスアンプ14,1
5、第1,2整流回路16,17および除算回路20か
ら補正手段が構成されている。
は、検出器1からの検出信号を増幅して異なる周波数を
有する交流成分v1,v2同士を重畳された交流信号v
(=v1+v2)を取り出すためのプリアンプ13と、
このプリアンプ13の出力交流信号vから基本周波数
(光断続周波数:10Hz)の交流成分v1を分離して
取り出すための第1バンドパスアンプ14と、出力交流
信号vから電圧変調信号(HVチョッピング信号:5H
z)に基づく周波数5Hzの交流成分v2を分離して取
り出すための第2バンドパスアンプ15と、バンドパス
アンプ14から出力される交流成分v1を同期整流して
第1整流信号|v1|を得るための第1整流回路16
と、バンドパスアンプ15から出力される交流成分v2
を同期整流して第2整流信号|v2|を得るための第2
整流回路17と、第1平滑回路18を介して入力する第
1整流信号|v1|に基づく第1信号aを、第2平滑回
路19を介して入力する第2整流信号|v2|に基づく
第2信号bで除算処理するための除算回路20とで構成
され、その除算回路20からの出力信号v3がサンプル
ガスに含まれる測定対象成分の濃度値として表示器Hに
表示される。なお、第1,2バンドパスアンプ14,1
5、第1,2整流回路16,17および除算回路20か
ら補正手段が構成されている。
【0018】このように、除算回路20によって第1信
号aを第2信号bで除算処理したので、第1信号aおよ
び第2信号bに同等に(同じ割合で)含まれている前述
した検出器1の周囲温度変化や気圧変化、コンデンサマ
イクロホンを構成するコンデンサ膜の張り具合の経時変
化等が相殺されることになるため、その除算回路20か
らの濃度信号出力からは、その影響が確実かつ効果的に
除外される。したがって、コンデンサマイクロホン型検
出器1の周囲温度変化や気圧変化、コンデンサマイクロ
ホンを構成するコンデンサ膜の張り具合の経時変化等が
生じても、それらによる感度ドリフト影響は、出力信号
v3中に含まれることはなく、よって、指示計には常に
サンプルガスの濃度に精度良く対応した値が指示される
ことになる。
号aを第2信号bで除算処理したので、第1信号aおよ
び第2信号bに同等に(同じ割合で)含まれている前述
した検出器1の周囲温度変化や気圧変化、コンデンサマ
イクロホンを構成するコンデンサ膜の張り具合の経時変
化等が相殺されることになるため、その除算回路20か
らの濃度信号出力からは、その影響が確実かつ効果的に
除外される。したがって、コンデンサマイクロホン型検
出器1の周囲温度変化や気圧変化、コンデンサマイクロ
ホンを構成するコンデンサ膜の張り具合の経時変化等が
生じても、それらによる感度ドリフト影響は、出力信号
v3中に含まれることはなく、よって、指示計には常に
サンプルガスの濃度に精度良く対応した値が指示される
ことになる。
【0019】なお、上記実施形態では、基本周波数とし
て光断続周波数を採用したものを示したが、基本周波数
としてガスチョッピング周波数を採用したこの発明の第
2の実施形態を図6に示す。
て光断続周波数を採用したものを示したが、基本周波数
としてガスチョッピング周波数を採用したこの発明の第
2の実施形態を図6に示す。
【0020】すなわち、図6は、光源8,9およびガス
流通セル21,22を設けるとともに、切換え弁23を
設け、この切換え弁23の制御により、両セル21,2
2内へサンプルガスSとリファレンスガスRとを一定周
期で交互に切換え導入できるように構成された、いわゆ
るダブルセルタイプの流体変調方式によるガス分析計を
示す。なお、この実施形態でも、上記第1の実施形態で
用いたのと同じ信号処理回路6(図2参照)を用いてお
り、上記第1の実施形態で用いた符号と同一符号のもの
は、同一または相当物である。
流通セル21,22を設けるとともに、切換え弁23を
設け、この切換え弁23の制御により、両セル21,2
2内へサンプルガスSとリファレンスガスRとを一定周
期で交互に切換え導入できるように構成された、いわゆ
るダブルセルタイプの流体変調方式によるガス分析計を
示す。なお、この実施形態でも、上記第1の実施形態で
用いたのと同じ信号処理回路6(図2参照)を用いてお
り、上記第1の実施形態で用いた符号と同一符号のもの
は、同一または相当物である。
【0021】この実施形態では、基本周波数としてガス
チョッピング周波数を採用している。つまり、コントロ
ーラー5は、切換え弁23、信号処理回路6および検出
器1の電源部4に対して、それぞれ、弁切換信号(1H
zの信号)、それに対応する前記基本周波数(ガスチョ
ッピング周波数:1Hz)および電圧変調信号(HVチ
ョッピング信号:2Hzの信号)などの所定の制御信号
を発する。
チョッピング周波数を採用している。つまり、コントロ
ーラー5は、切換え弁23、信号処理回路6および検出
器1の電源部4に対して、それぞれ、弁切換信号(1H
zの信号)、それに対応する前記基本周波数(ガスチョ
ッピング周波数:1Hz)および電圧変調信号(HVチ
ョッピング信号:2Hzの信号)などの所定の制御信号
を発する。
【0022】そして、信号処理回路6の第1バンドパス
アンプ14では1Hzの交流成分を取り出し、第2バン
ドパスアンプ15では2Hzの交流成分を取り出すこと
ができ、除算回路20によって第1信号aを第2信号b
で除算処理したので、検出器1の感度変化影響を受けな
いガス濃度信号を得ることができる。
アンプ14では1Hzの交流成分を取り出し、第2バン
ドパスアンプ15では2Hzの交流成分を取り出すこと
ができ、除算回路20によって第1信号aを第2信号b
で除算処理したので、検出器1の感度変化影響を受けな
いガス濃度信号を得ることができる。
【0023】図7は、光源9および1個のガス流通セル
24を設けるとともに、切換え弁30を設け、この切換
え弁30の制御により、セル24内へサンプルガスSと
リファレンスガスRとを一定周期で交互に切換え導入で
きるように構成された、いわゆるシングルセルタイプの
流体変調方式によるガス分析計を示す。なお、この実施
形態でも、上記第1,2の実施形態で用いたのと同じ信
号処理回路6を用いており、上記第1,2の実施形態で
用いた符号と同一符号のものは、同一または相当物であ
る。この場合でも、上記第2の実施形態と同様に、基本
周波数としてガスチョッピング周波数を採用すること
で、コントローラー5は、切換え弁30、信号処理回路
6および検出器1の電源部4に対して、それぞれ、弁切
換信号(1Hzの信号)、それに対応する前記基本周波
数(ガスチョッピング周波数:1Hz)および電圧変調
信号(HVチョッピング信号:2Hzの信号)などの所
定の制御信号を発する。
24を設けるとともに、切換え弁30を設け、この切換
え弁30の制御により、セル24内へサンプルガスSと
リファレンスガスRとを一定周期で交互に切換え導入で
きるように構成された、いわゆるシングルセルタイプの
流体変調方式によるガス分析計を示す。なお、この実施
形態でも、上記第1,2の実施形態で用いたのと同じ信
号処理回路6を用いており、上記第1,2の実施形態で
用いた符号と同一符号のものは、同一または相当物であ
る。この場合でも、上記第2の実施形態と同様に、基本
周波数としてガスチョッピング周波数を採用すること
で、コントローラー5は、切換え弁30、信号処理回路
6および検出器1の電源部4に対して、それぞれ、弁切
換信号(1Hzの信号)、それに対応する前記基本周波
数(ガスチョッピング周波数:1Hz)および電圧変調
信号(HVチョッピング信号:2Hzの信号)などの所
定の制御信号を発する。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、この発明において
は、コンデンサマイクロホン型検出器に印加されるバイ
アス電圧を一定周期で変化させて基本周波数とは異なる
周波数の交流成分を得、基本周波数の交流成分の第1整
流信号と前記異なる周波数の交流成分の第2整流信号と
を各別に取り出して、その第1整流信号を第2整流信号
で除することでコンデンサマイクロホン型検出器の感度
変化影響を受けないガス濃度信号を得ることができると
ともに、従来行っていたような感度校正を不要にできる
利点を有する。
は、コンデンサマイクロホン型検出器に印加されるバイ
アス電圧を一定周期で変化させて基本周波数とは異なる
周波数の交流成分を得、基本周波数の交流成分の第1整
流信号と前記異なる周波数の交流成分の第2整流信号と
を各別に取り出して、その第1整流信号を第2整流信号
で除することでコンデンサマイクロホン型検出器の感度
変化影響を受けないガス濃度信号を得ることができると
ともに、従来行っていたような感度校正を不要にできる
利点を有する。
【図1】この発明の第1の実施形態を示す全体構成説明
図である。
図である。
【図2】上記実施形態における信号処理回路のブロック
回路図である。
回路図である。
【図3】上記実施形態における信号処理回路の各部の信
号図である。
号図である。
【図4】上記実施形態におけるチョッパー装置を示す図
である。
である。
【図5】上記実施形態におけるチョッパー装置の他の例
を示す図である。
を示す図である。
【図6】この発明の第2の実施形態を示す全体構成説明
図である。
図である。
【図7】この発明の第3の実施形態を示す全体構成説明
図である。
図である。
【図8】従来例を示す全体構成説明図である。
【図9】従来例で用いたプリアンプの回路図である。
【図10】従来例で用いたバイアス電圧の特性図であ
る。
る。
1…コンデンサマイクロホン型検出器、2…リファレン
スセル、3…サンプルセル、4…検出器の電源部、5…
コントローラー、6…信号処理回路、7…チョッパー装
置、8,9…光源、11…モーター、13…プリアン
プ、14…第1バンドパスアンプ、15…第2バンドパ
スアンプ、16…第1整流回路、17…第2整流回路、
20…除算回路、a…第2信号、b…第2信号。
スセル、3…サンプルセル、4…検出器の電源部、5…
コントローラー、6…信号処理回路、7…チョッパー装
置、8,9…光源、11…モーター、13…プリアン
プ、14…第1バンドパスアンプ、15…第2バンドパ
スアンプ、16…第1整流回路、17…第2整流回路、
20…除算回路、a…第2信号、b…第2信号。
Claims (2)
- 【請求項1】 セルに対してリファレンスガスとサンプ
ルガスとが一定周期(基本周波数)で供給され、前記リ
ファレンスガスを通過した光源からの光および前記サン
プルガスを通過した光源からの光に対するコンデンサマ
イクロホン型検出器を設け、かつ、前記コンデンサマイ
クロホン型検出器による出力信号から前記リファレンス
ガスを通過した光エネルギーと前記サンプルガスを通過
した光エネルギーとのエネルギー差に相当する交流成分
を取り出し、その交流成分の変化量に基づいて前記サン
プルガス中の測定対象成分の濃度を測定するように構成
してあるガス分析計において、前記コンデンサマイクロ
ホン型検出器に印加されるバイアス電圧を前記基本周波
数とは異なる周波数で変化させるように構成するととも
に、前記コンデンサマイクロホン型検出器による出力信
号から前記基本周波数の交流成分の第1整流信号と前記
異なる周波数の交流成分の第2整流信号とを各別に取り
出して、その第1整流信号を第2整流信号で除する補正
手段、または、それと等価な補正手段を有する信号処理
回路を設けてあることを特徴とするガス分析計。 - 【請求項2】 光源、リファレンスセル、サンプルセル
およびコンデンサマイクロホン型検出器を有し、かつ、
前記光源から前記リファレンスセルおよびサンプルセル
に入射する光あるいは前記両セルを通過した光を一定周
期(基本周波数)で断続するためのチョッパーを前記光
源およびコンデンサマイクロホン型検出器間に設け、前
記コンデンサマイクロホン型検出器による出力信号から
リファレンスガスを通過した光エネルギーとサンプルガ
スを通過した光エネルギーとのエネルギー差に相当する
交流成分を取り出し、その交流成分の変化量に基づいて
前記サンプルガス中の測定対象成分の濃度を測定するよ
うに構成してあるガス分析計において、前記コンデンサ
マイクロホン型検出器に印加されるバイアス電圧を前記
基本周波数とは異なる周波数で変化させるように構成す
るとともに、前記コンデンサマイクロホン型検出器によ
る出力信号から前記基本周波数の交流成分の第1整流信
号と前記異なる周波数の交流成分の第2整流信号とを各
別に取り出して、その第1整流信号を第2整流信号で除
する補正手段、または、それと等価な補正手段を有する
信号処理回路を設けてあることを特徴とするガス分析
計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16090696A JPH09318533A (ja) | 1996-06-01 | 1996-06-01 | ガス分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16090696A JPH09318533A (ja) | 1996-06-01 | 1996-06-01 | ガス分析計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09318533A true JPH09318533A (ja) | 1997-12-12 |
Family
ID=15724902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16090696A Pending JPH09318533A (ja) | 1996-06-01 | 1996-06-01 | ガス分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09318533A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007502407A (ja) * | 2003-08-11 | 2007-02-08 | センセエアー アーベー | 測定誤差を補償する方法およびこのための電子配置 |
KR100788795B1 (ko) * | 2006-08-29 | 2007-12-27 | 김성호 | 광 음향 검출기를 이용한 이산화탄소 농도 측정장치 |
JP2008256433A (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-23 | Akoo:Kk | マイクロホンユニット、騒音計及び音響校正器 |
-
1996
- 1996-06-01 JP JP16090696A patent/JPH09318533A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007502407A (ja) * | 2003-08-11 | 2007-02-08 | センセエアー アーベー | 測定誤差を補償する方法およびこのための電子配置 |
KR100788795B1 (ko) * | 2006-08-29 | 2007-12-27 | 김성호 | 광 음향 검출기를 이용한 이산화탄소 농도 측정장치 |
JP2008256433A (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-23 | Akoo:Kk | マイクロホンユニット、騒音計及び音響校正器 |
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