JPH09308976A - スキャニング式レーザマーキング装置 - Google Patents

スキャニング式レーザマーキング装置

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JPH09308976A
JPH09308976A JP8148524A JP14852496A JPH09308976A JP H09308976 A JPH09308976 A JP H09308976A JP 8148524 A JP8148524 A JP 8148524A JP 14852496 A JP14852496 A JP 14852496A JP H09308976 A JPH09308976 A JP H09308976A
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JP
Japan
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galvanometer
axis
voltage
scanning
scan mirror
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JP8148524A
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English (en)
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Takashi Moro
享司 茂呂
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Miyachi Technos Corp
Original Assignee
Miyachi Technos Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源投入直後のガルバノメータの不定な動作
を防止し、スキャン・ミラーの衝突による破損を防ぐ。 【解決手段】 電源投入開始時点から電源電圧VB が正
常動作保証電圧下限値[V1 ]に達する時点までの期間
中は、各演算増幅器40,42,48,52が不安定か
つ不定な状態にあり、演算増幅器52の出力電圧ESは
不定の値をとる。しかし、この動作不定期間中、リレー
スイッチ58がオフ状態に保持されているため、演算増
幅器52の出力端子は駆動コイル60と遮断されてお
り、駆動コイル60に不所望な駆動電流id が流れず、
X軸スキャン・ミラー24は静止したままでいる。電源
電圧VB の電圧レベルが正常動作保証電圧下限値[V1
]よりも高い監視値[V2 ]を越えると、ツェナー・
ダイオード64が導通してトランジスタ68がオンし、
リレースイッチ58がオン(導通)状態に切り替わる。
これにより、演算増幅器52の出力端子がリレースイッ
チ58を介して駆動コイル60に接続され、X軸ガルバ
ノメータ26は動作可能状態となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0010】
【発明の属する技術分野】本発明は、被加工物の表面上
でレーザ光のビームスポットをスキャンしながら所望の
パターンをマーキングするスキャニング式のレーザマー
キング装置に関する。
【0020】
【従来の技術】一般に、スキャニング式のレーザマーキ
ング装置は、レーザ光を発振出力するレーザ発振部と、
このレーザ発振部からのレーザ光をスキャン(走査)し
ながら被加工物に向けて集光照射するレーザ出射部と、
レーザ発振部およびレーザ出射部の各々の動作(レーザ
発振動作、スキャニング動作)を制御する制御部とを備
えている。
【0030】レーザ出射部には、X軸スキャン・ミラ
ー、Y軸スキャン・ミラー、X軸ガルバノメータ、Y軸
ガルバノメータおよび集光レンズ等が設けられる。レー
ザ発振部から来たレーザ光は、先ず一方のミラーたとえ
ばX軸スキャン・ミラーに入射して、そこで全反射して
から他方のミラー(Y軸スキャン・ミラー)に入射し、
このミラーで全反射してのち集光レンズを通って被加工
物の所定の表面(マーキング面)に集光照射する。
【0040】マーキング面上のレーザビームスポットの
位置は、X方向ではX軸スキャン・ミラーの振れ角によ
ってきまり、Y方向ではY軸スキャン・ミラーの振れ角
によってきまる。X軸スキャン・ミラーはX軸ガルバノ
メータの駆動でそのミラー回転軸を中心に左右の首振り
(回転)を行い、Y軸スキャン・ミラーはY軸ガルバノ
メータの駆動でそのミラー回転軸を中心に左右の首振り
(回転)を行う。X軸およびY軸ガルバノメータには、
制御部より両ミラーを振る角度を指示するスキャニング
制御信号が与えられる。
【0050】したがって、レーザ発振部からのレーザ光
が所定のタイミングで入ってくる度に、それと同期して
X軸およびY軸ガルバノメータがそれぞれX軸およびY
軸スキャン・ミラーを指示された角度に振ることによ
り、被加工物のマーキング面上の所望の位置にレーザ光
のビームスポットが集光照射される。そうすると、レー
ザ光の照射した位置付近では被加工物の表面がレーザエ
ネルギーにより局所的に加熱されて蒸発する。この蒸発
部分が所望のパターンを描くようにレーザビームスポッ
トをスキャンすると、被加工物のマーキング面に該描画
パターン(文字、記号、図形等)がマーキング(刻印)
される。
【0060】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなX軸およ
びY軸ガルバノメータの各筐体内には、回転子と固定子
が設けられ、回転子はミラーに一体に結合される。回転
子には可動鉄片型、可動マグネット型、可動コイル型等
がある。可動鉄片型や可動マグネット型では、固定子側
に駆動コイルが取り付けられ、可動コイル型では可動コ
イル自体が駆動コイルとなる。スキャニング制御信号に
応じた駆動電流を駆動コイルに供給することで、スキャ
ニング制御信号で指定する振れ角に回転子とこれに一体
結合されたスキャン・ミラーを回転振動(首振り)させ
るようにしている。
【0070】ところが、従来のこの種レーザマーキング
装置では、電源投入直後の立ち上げ時に、未だ制御部よ
りスキャニング制御信号がレーザ出射部に与えられてい
ない状況の下で、両ガルバノメータが不所望かつ不定な
動作を行い、X軸およびY軸スキャン・ミラーが互いに
衝突して破損するおそれがあった。また、互いに衝突し
ないまでも、各々のスキャン・ミラーが不定なタイミン
グで不定な角度に振れることで、ガルバノメータの故障
の原因になることがあった。
【0080】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、電源投入直後のガルバノメータの不定な動作を
防止し、スキャン・ミラー同士の衝突による破損等を防
ぎ、安全に動作するスキャニング式レーザマーキング装
置を提供することを目的とする。
【0090】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のうち請求項1に記載の発明は、所定の位
置で所定の向きに配置したスキャン・ミラーを介してレ
ーザ発振部からのレーザ光を被加工物のマーキング面に
照射し、制御部からのスキャニング制御信号に応じたガ
ルバノメータの駆動により前記スキャン・ミラーを振ら
せて、前記被加工物のマーキング面上で前記レーザ光の
ビームスポットをスキャンして所望の文字、記号または
図形をマーキングするようにしたスキャニング式レーザ
マーキング装置において、前記ガルバノメータに供給さ
れる電源電圧の電圧レベルが所定の監視値より低いか高
いかを監視する電圧監視手段と、前記電圧監視手段の監
視結果に基づいて、前記電源電圧の電圧レベルが前記監
視値よりも低い間は前記ガルバノメータの動作を禁止状
態とし、前記電源電圧の電圧レベルが前記監視値よりも
高い時に前記ガルバノメータを動作可能状態とするガル
バノメータ動作制御手段とを具備することを特徴とす
る。
【0100】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載のスキャニング式レーザマーキング装置におい
て、前記ガルバノメータ動作制御手段が、前記スキャン
・ミラーを駆動するための前記ガルバノメータ内の駆動
コイルと前記駆動コイルに駆動電流を供給するためのガ
ルバノメータ駆動回路の出力端子との間に接続されたス
イッチ手段を含むことを特徴とする。
【0110】また、請求項3に記載の発明は、請求項2
に記載のスキャニング式レーザマーキング装置におい
て、前記監視値を前記ガルバノメータ駆動回路の正常動
作保証電圧下限値と前記電源電圧の定常値との間の値に
選ぶことを特徴とする。
【0120】また、請求項4に記載の発明は、請求項1
〜3のいずれかに記載のスキャニング式レーザマーキン
グ装置において、前記スキャン・ミラーが互いに直交す
る軸で回転するX軸スキャン・ミラーおよびY軸スキャ
ン・ミラーを含み、前記ガルバノメータが前記X軸スキ
ャン・ミラーおよび前記Y軸スキャン・ミラーをそれぞ
れ駆動するためのX軸ガルバノメータおよびY軸ガルバ
ノメータを含むことを特徴とする。
【0130】
【発明の実施の形態】以下、添付図を参照して本発明の
一実施例を説明する。
【0140】図1に、この実施例によるスキャニング式
YAGレーザマーキング装置の外観を示す。このYAG
レーザマーキング装置は、制御ユニット10とレーザ発
振ユニット12とスキャニングユニット(レーザ出射
部)20とを有する。
【0150】制御ユニット10において、上部室13に
は制御用ディスプレイが設けられ、中間室(前扉14の
奥)にはスキャニング制御回路等を実装した制御基板が
設けられ、下部室(前扉16の奥)にはレーザ電源回路
やレーザ冷却装置等が内蔵されている。一方、中間室内
の制御基板上のスキャニング制御回路より発生されたス
キャニング制御信号は所定の信号線(図示せず)を介し
てスキャニングユニット20へ伝送される。
【0160】スキャニングユニット20は、レーザ発振
ユニット12の出射口に取り付けられている。ユニット
20の筐体内には、レーザ発振ユニット12からのレー
ザ光を作業台18上のマーキング加工点(つまり被加工
物Wのマーキング加工面)に向ける光学的スキャニング
機構と、制御ユニット10より信号線を介して伝送され
てきたスキャニング制御信号に応じて該光学的スキャニ
ング機構を駆動するスキャニング駆動部が内蔵されてい
る。
【0170】図2に、スキャニングユニット20内の光
学的スキャニング機構の構成例を示す。この光学的スキ
ャニング機構は、互いに直交する回転軸22a,24a
に取り付けられたX軸スキャン・ミラー22およびY軸
スキャン・ミラー24と、両ミラー22,24をそれぞ
れ回転振動(首振り)させるX軸ガルバノメータ26お
よびY軸ガルバノメータ28を有している。
【0180】スキャニングユニット20内に入って来た
レーザ発振ユニット12からのマーキング用のレーザ光
LAは、先ずX軸スキャン・ミラー22に入射して、そ
こで全反射してからY軸スキャン・ミラー24に入射
し、このミラー24で全反射してのちfθレンズ30を
通って被加工物Wのマーキング加工面に集光照射する。
マーキング面上のレーザスポットSPの位置は、X方向
においてはX軸スキャン・ミラー22の振れ角によって
決まり、Y方向においてはY軸スキャン・ミラー24の
振れ角によって決まる。
【0190】X軸スキャン・ミラー22はX軸ガルバノ
メータ26の駆動で矢印A,A’方向に回転振動(首振
り)し、Y軸スキャン・ミラー24はY軸ガルバノメー
タ28の駆動で矢印B,B’方向に回転振動(首振り)
するようになっている。
【0200】X軸ガルバノメータ26には、X軸スキャ
ン・ミラー22に結合された可動鉄片(回転子)と、こ
の可動鉄片に接続された制御バネと、固定子に取り付け
られた駆動コイルとが内蔵されている。後述するX軸ガ
ルバノメータ駆動回路よりX方向スキャニング制御信号
に応じた駆動電流が電気ケーブル32を介してX軸ガル
バノメータ26内の該駆動コイルに供給されることで、
該可動鉄片(回転子)が該制御バネに抗してX軸スキャ
ン・ミラー22と一体にX方向スキャニング制御信号の
指定する角度に振れるようになっている。
【0210】Y軸ガルバノメータ28も同様の構成を有
しており、Y軸ガルバノメータ駆動回路よりY方向スキ
ャニング制御信号に応じた駆動電流が電気ケーブル34
を介してY軸ガルバノメータ28内の駆動コイルに供給
されることで、Y軸ガルバノメータ28内の可動鉄片
(回転子)がY軸スキャン・ミラー24と一体にY方向
スキャニング制御信号の指定する角度に振れるようにな
っている。
【0220】したがって、レーザ発振ユニット12から
のレーザ光LAがスキャニングユニット20内に所定の
タイミングで入ってくる度に、それと同期して両ガルバ
ノメータ26,28がX方向およびY方向スキャニング
制御信号に応じてX軸スキャン・ミラー22およびY軸
スキャン・ミラー24をそれぞれ所定の角度で振ること
により、レーザ光LAのビームスポットSPがスキャニ
ングされ、被加工物Wのマーキング加工面に所望のパタ
ーン(文字、記号、図形等)がマーキングされる。
【0230】両ミラー22,24は互いに近接して配置
されているが、各々がスキャニング制御信号によって振
れ角を所定の限度内に制限されるため、正常に動作して
いる限り、互いに干渉または衝突することはない。
【0240】図3に、X軸ガルバノメータ26内の駆動
コイルに駆動電流を供給するためのX軸ガルバノメータ
駆動回路の構成例を示す。図4に、このX軸ガルバノメ
ータ駆動回路の作用を説明するための各部のタイミング
を示す。このX軸ガルバノメータ駆動回路はスキャニン
グユニット20内の回路基板に設けられている。
【0250】図3において、演算増幅器40の入力端子
には、X軸スキャン・ミラー22の振れ角を指示する制
御ユニット10からのX方向スキャニング制御信号AS
X が基準信号として入力される。一方、演算増幅器42
の入力端子には、X軸スキャン・ミラー22の現在位置
(振れ角)を表すX軸ガルバノメータ26内の位置セン
サ(図示せず)からのセンサ出力信号PSX がフィード
バック信号として入力される。これらの演算増幅器4
0,42は、増幅率1の電圧フォロアとして動作する。
【0260】演算増幅器40の出力端子は抵抗44を介
して演算増幅器48の非反転入力端子に接続され、演算
増幅器42の出力端子は抵抗46を介して演算増幅器4
8の反転入力端子に接続されている。演算増幅器48の
反転入力端子と出力端子との間には帰還抵抗49が接続
され、演算増幅器48の非反転入力端子とアース電位と
の間には抵抗45が接続されており、演算増幅器48は
差動増幅回路として動作する。
【0270】演算増幅器48の出力端子は、抵抗50を
介して演算増幅器52の非反転入力端子に接続されてい
る。演算増幅器52の反転入力端子は、バイアス抵抗5
4を介してアース電位に接続されるとともに帰還抵抗5
6を介して出力端子に接続されており、演算増幅器52
は両抵抗54,56の抵抗率で規定される所定の増幅率
を有する非反転増幅回路として動作する。
【0280】演算増幅器52の出力端子は、リレースイ
ッチ58および電気ケーブル32を介してX軸ガルバノ
メータ26内の駆動コイル60に電気的に接続されてい
る。
【0290】演算増幅器40,42,48,52の各々
には、制御ユニット10内の電源回路より直流の電源電
圧VB が供給される。
【0300】リレースイッチ58は、電源電圧監視回路
の監視結果にしたがってオン/オフ状態を切り替えるよ
うになっている。本実施例においては、電源電圧監視回
路がツェナー・ダイオード64、抵抗66およびNPN
トランジスタ68から構成され、X軸ガルバノメータ動
作制御回路がトランジスタ68、リレーコイル58aお
よび還流ダイオード70から構成されている。
【0310】上記直流電源電圧VB の電圧供給端子はツ
ェナー・ダイオード64および抵抗66を介してNPN
トランジスタ68のベース端子に接続され、トランジス
タ68のコレクタ端子はリレースイッチ58のリレーコ
イル58aを介して電源電圧VB の電圧供給端子に接続
され、トランジスタ68のエミッタ端子はアース電位に
接続されている。そして、電源電圧VB の電圧供給端子
とトランジスタ68のコレクタ端子との間にはリレーコ
イル58aと並列に還流ダイオード70が接続されてい
る。
【0320】かかる構成の電源電圧監視回路およびX軸
ガルバノメータ動作制御回路においては、電源電圧VB
が所定の監視値[V2 ]よりも低い間はツェナー・ダイ
オード64が導通せず、トランジスタ68はオフ状態に
あり、これによってリレースイッチ58はオフ(遮断)
状態を維持する。そして、電源電圧VB が該監視値[V
2 ]を越えると、ツェナー・ダイオード64が導通して
トランジスタ68がオンし、これによってリレーコイル
58aに電流が流れてリレースイッチ58がオン状態に
切り替わるようになっている。監視値[V2 ]は、演算
増幅器40,42,48,52の安全動作保証電圧の下
限値[V1 ]よりは高く、電源電圧VBの定常値または
定格値[VB ]よりは低い値に選ばれる。ツェナー・ダ
イオード64は、電圧V2 でツェナー降伏して導通する
定格を有するものが選ばれる。この実施例では、ツェナ
ー・ダイオードを用いたが、監視値[V2 ]の設定には
種々の形式の電圧監視回路を用いることができる。
【0330】このX軸ガルバノメータ駆動回路では、図
4に示すように、たとえば時刻t0で電源が投入される
と、電源電圧VB は0ボルトから次第に上昇し、間もな
くして定常値[VB ]に達する。この電源電圧VB が上
昇する過程で、電源投入開始時点(t0 )から電源電圧
VB が正常動作保証電圧下限値[V1 ]に達する時点
(t1 )までの期間(T1 )中は、各演算増幅器40,
42,48,52が不安定かつ不定な状態にあり、演算
増幅器52の出力電圧ESは不定の値をとる。
【0340】しかし、本実施例では、この動作不定期間
T1 中、リレースイッチ58はオフ状態に保持されてい
るため、演算増幅器52の出力端子は駆動コイル60と
遮断されており、駆動コイル60に不所望な駆動電流i
d が流れることはない。したがって、X軸ガルバノメー
タ26は実質的に非動作状態に置かれ、X軸スキャン・
ミラー22は静止したままでいる。
【0350】電源電圧VB の電圧レベルが正常動作保証
電圧下限値[V1 ]を越えると、各演算増幅器40,4
2,48,52が安定化して各々所要の動作を正常に行
える状態になる。
【0360】そして、電源電圧VB の電圧レベルが監視
値[V2 ]を越えた時点(t2 )で上記のようにツェナ
ー・ダイオード64が導通してトランジスタ68がオン
し、リレースイッチ58がオン(導通)状態に切り替わ
る。これにより、演算増幅器52の出力端子がリレース
イッチ58を介して駆動コイル60に接続され、X軸ガ
ルバノメータ26は動作可能状態となる。この直後、電
源電圧VB は定常または定格レベル[VB ]に達する。
【0370】かかる動作可能状態の下で、制御ユニット
10よりレーザ光LAと同期してX方向スキャニング制
御信号ASX が入力されると、X軸ガルバノメータ駆動
回路では次のような動作が行われる。
【0380】X方向スキャニング制御信号ASX は、演
算増幅器(電圧フォロア)40および抵抗44を介して
演算増幅器(差動増幅回路)48の非反転入力端子に入
力される。一方、X軸ガルバノメータ26内の位置セン
サからのセンサ出力信号(ミラー位置検出信号)PSX
が演算増幅器(電圧フォロア)42および抵抗46を介
して演算増幅器(差動増幅回路)48の反転入力端子に
入力される。
【0390】演算増幅器(差動増幅回路)48の出力端
子には、両入力信号ASX ,PSX間の差分または誤差
を表す誤差電圧esが得られる。この誤差電圧esは次
段の演算増幅器(非反転増幅回路)52で増幅され、そ
の出力端子に駆動電圧ESが得られる。この駆動電圧E
Sがオン状態のリレースイッチ58を介して駆動コイル
60に印加されることにより、駆動コイル60に駆動電
流id が流れる。
【0400】そうすると、X軸ガルバノメータ26内で
は、駆動電流id に応じた制御トルクが可動鉄片(回転
子)に作用することにより、可動鉄片(回転子)がX軸
スキャン・ミラー22と一体にX方向スキャニング制御
ASX により指定された角度に振れる。
【0410】なお、Y軸ガルバノメータ28内の駆動コ
イルに駆動電流を供給するためのY軸ガルバノメータ駆
動回路も、上記したX軸ガルバノメータ駆動回路と同じ
回路構成を有し、制御ユニット10からのY方向スキャ
ニング制御ASY に応じて上記と同様の動作を行う。
【0420】このように、本実施例のスキャニング式レ
ーザマーキング装置では、スキャニングユニット20に
おいてX軸ガルバノメータ駆動回路、Y軸ガルバノメー
タ駆動回路の出力端子とX軸ガルバノメータ26、Y軸
ガルバノメータ28内の駆動コイル60との間にリレー
スイッチ58を接続し、電源電圧VB の電圧レベルが
(正常動作保証電圧下限値[V1 ]よりは高い)所定の
監視値[V2 ]よりも低い間はガルバノメータ26,2
8の動作を禁止状態とし、電源電圧VB の電圧レベルが
監視値[V2 ]より高い時にガルバノメータ26,28
を動作可能状態としている。
【0430】これにより、電源投入直後、電源電圧VB
が正常動作保証電圧下限値[V1 ]よりも低い間(期間
T1 )にガルバノメータ駆動回路内の各部(特に演算増
幅器40,42,48,52)が一時的に不定な動作を
起こしても、図4に示すように、ガルバノメータ内の駆
動コイル60には駆動電流id が流れない。したがっ
て、スキャン・ミラー22,24が不定な振れ角で不所
望に回転振動して互いに衝突することはなく、両ミラー
22,24が破損するおそれはない。
【0440】因に、従来装置では、上記実施例における
リレースイッチ58、電源電圧監視回路、ガルバノメー
タ動作制御回路に相当する手段を持ち合わせていないた
め、図4において点線の枠FGで示す区間(期間T1 )
で不所望な電流(不定なため波形は図示せず)が流れ
る。この不定な電流は大きなラッシュ電流となることが
あり、スキャニング制御信号によって規制される範囲を
越えて両スキャン・ミラー22,24が勝手に大きく振
れてしまい、互いに干渉または衝突して破損することが
あった。
【0450】上記した実施例において、駆動コイル60
に対してアース電位はガルバノメータ駆動回路の他方の
出力端子でもある。したがって、リレースイッチ58を
駆動コイル60とアース電位との間に接続することも可
能である。また、リレースイッチ58の代わりにトラン
ジスタ・スイッチを使用することも可能である。上記実
施例における駆動回路、電源電圧監視回路、ガルバノメ
ータ動作制御回路等の構成は本発明の一例であり、種々
の変形が可能である。
【0460】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のスキャニ
ング式レーザマーキング装置においては、電源投入直後
のガルバノメータの不定な動作を防止し、スキャン・ミ
ラー同士の衝突を防ぎ、スキャン・ミラー等のスキャニ
ング機構の安全をはかることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるスキャニング式レーザ
マーキング装置の外観を示す斜視図である。
【図2】実施例におけるレーザマーキング装置のスキャ
ニングユニット内の光学的スキャニング機構およびスキ
ャニング駆動部の構成例を示す斜視図である。
【図3】実施例におけるガルバノメータ駆動回路の構成
例を示す回路図である。
【図4】実施例におけるガルバノメータ駆動回路の作用
を説明するためのタイミング図である。
【符号の説明】
10 制御ユニット 12 レーザ発振ユニット 20 スキャニングユニット 22 X軸スキャン・ミラー 24 Y軸スキャン・ミラー 26 X軸ガルバノメータ 28 Y軸ガルバノメータ 40,42,48,52 演算増幅器 58 リレースイッチ 60 駆動コイル 64 ツェナー・ダイオード 66 抵抗 68 トランジスタ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の位置で所定の向きに配置したスキ
    ャン・ミラーを介してレーザ発振部からのレーザ光を被
    加工物のマーキング面に照射し、制御部からのスキャニ
    ング制御信号に応じたガルバノメータの駆動により前記
    スキャン・ミラーを振らせて、前記被加工物のマーキン
    グ面上で前記レーザ光のビームスポットをスキャンして
    所望の文字、記号または図形をマーキングするようにし
    たスキャニング式レーザマーキング装置において、 前記ガルバノメータに供給される電源電圧の電圧レベル
    が所定の監視値より低いか高いかを監視する電源電圧監
    視手段と、 前記電源電圧監視手段の監視結果に基づいて、前記電源
    電圧の電圧レベルが前記監視値よりも低い間は前記ガル
    バノメータの動作を禁止状態とし、前記電源電圧の電圧
    レベルが前記監視値より高い時に前記ガルバノメータを
    動作可能状態とするガルバノメータ動作制御手段とを具
    備することを特徴とするスキャニング式レーザマーキン
    グ装置。
  2. 【請求項2】 前記ガルバノメータ動作制御手段が、前
    記スキャン・ミラーを駆動するための前記ガルバノメー
    タ内の駆動コイルと前記駆動コイルに駆動電流を供給す
    るためのガルバノメータ駆動回路の出力端子との間に接
    続されたスイッチ手段とを含むことを特徴とする請求項
    1に記載のスキャニング式レーザマーキング装置。
  3. 【請求項3】 前記監視値を前記ガルバノメータ駆動回
    路の正常動作保証電圧下限値と前記電源電圧の定常値と
    の間の値に選ぶことを特徴とする請求項2に記載のスキ
    ャニング式レーザマーキング装置。
  4. 【請求項4】 前記スキャン・ミラーが互いに直交する
    軸で回転するX軸スキャン・ミラーおよびY軸スキャン
    ・ミラーを含み、前記ガルバノメータが前記X軸スキャ
    ン・ミラーおよび前記Y軸スキャン・ミラーをそれぞれ
    駆動するためのX軸ガルバノメータおよびY軸ガルバノ
    メータを含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか
    に記載のスキャニング式レーザマーキング装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011103431A (ja) * 2009-10-16 2011-05-26 Tomoo Matsushita パターン形成装置
JP2012091224A (ja) * 2010-09-30 2012-05-17 Panasonic Electric Works Sunx Co Ltd レーザ加工装置

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