JPH09288008A - 多点測色計 - Google Patents

多点測色計

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Publication number
JPH09288008A
JPH09288008A JP10025596A JP10025596A JPH09288008A JP H09288008 A JPH09288008 A JP H09288008A JP 10025596 A JP10025596 A JP 10025596A JP 10025596 A JP10025596 A JP 10025596A JP H09288008 A JPH09288008 A JP H09288008A
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JP
Japan
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optical axis
sample
light
colorimeter
reflection
Prior art date
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Application number
JP10025596A
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English (en)
Inventor
Koichi Terauchi
公一 寺内
Hideki Ishibashi
英樹 石橋
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な構成を有し、短時間で複数の測定点の
色彩測定を正確に行う。 【解決手段】 光軸方向変更光学系3は、走査ミラー3
1、モータ32及び反射ミラー33〜37を備えてい
る。この走査ミラー31は、モータ32のモータ軸に直
結された保持部32aによって所定の回転軸の回りに回
転可能に保持されている。反射ミラー33〜37は、上
記回転軸の周囲に回転方向に分散して配置され、各反射
面がそれぞれ所定の回転角度位置にあるときの走査ミラ
ー31の反射面と平行になる向きに配置されている。従
って、各回転角度位置にある走査ミラー31で反射し、
各反射ミラー33〜37で反射した照明光は、互いに平
行に試料4に入射する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、製造ライン上を流
れる試料上の複数点に対する色彩測定を行う多点測色計
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、製造ライン上を流れる塗装鋼板や
染色布などの幅広の試料の色検査を行う場合には、以下
のような構成が採用されている。 測色計を幅方向に移動させるためのスライド機構を製
造ラインの上方に配設し、幅方向の複数点で色彩測定を
行う。 測定領域の広い測色計を使用する。 例えば3台の測色計を用いて幅方向の中心部及び両端
部を測定するなどのように複数の測色計を使用する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記の場
合には、比較的重量が大きい測色計を移動させる必要が
あるためにスライド機構が要求され、かつ大型化すると
ともに、移動時間を要するため、迅速な測定が行えな
い。しかも、測色計を幅方向に移動させて複数点の色彩
測定を行っても、試料は製造ライン上を高速で流れてい
るので、測定点が斜行することとなり、ライン方向の同
一座標点における幅方向の色彩を比較して色検査を行う
ことはほぼ不可能である。
【0004】また、上記の場合には、各測定点の色彩
を比較することによって試料搬送方向の色むらの検出は
可能であるが、この方向に直交する幅方向の色むらの検
出は不可能となる。更に、測定領域を広くするためには
測色計から試料までの光路長を長くする必要があるの
で、測色計を製造ラインから離れた位置に設置させなけ
ればならないことから必要なスペースが大きくなる他、
受光する反射光の光量が低下することから所要レベルの
光量の反射光を受光するために照明用光源の光量を増大
する必要が生じるために光源が大型化し、これによって
測色計の大型化を招くこととなる。
【0005】また、上記の場合には、測定する点の数
の台数分だけ測色計が必要となり、設備の大型化のみな
らずコストが上昇する。更に、幅方向の色むらを精度良
く検出するためには各測色計間の個体差が充分に小さく
なければならないが、それを実現するために各測色計の
構成部品の光学特性を精度良く一致させるのは、多大な
労力と費用を要することとなってしまう。
【0006】本発明は、上記問題を解決するもので、簡
易な構成を有し、短時間で複数の測定点の色彩測定を正
確に行える多点測色計を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、試料面上の測
定点に向けられた照明光軸を有する照明手段と、上記測
定点に向けられた受光光軸を有する受光手段とを備え、
上記照明手段からの照明光による上記試料の測定点での
反射光を上記受光手段で受光して得られた受光データよ
り上記試料の反射特性を求める測色計において、上記照
明光軸及び受光光軸中に介設され、両光軸をそれぞれ上
記試料面上の複数の点に互いに平行にして向かわせる光
軸方向変更手段と、上記各点における上記試料の反射特
性をそれぞれ求める動作を行わせる動作制御手段とを備
えたものである(請求項1)。
【0008】この構成によれば、照明手段の照明光軸及
び受光手段の受光光軸は、光軸方向変更手段によって試
料面上の複数の点に互いに平行に向けられる。そして、
各点における試料の反射特性をそれぞれ求める動作が行
われる。
【0009】また、上記光軸方向変更手段は、上記両光
軸の向きを変更する第1反射ミラーと、上記第1反射ミ
ラーをその反射面に平行な回転軸を中心に回転させる回
転手段と、上記回転軸の周囲に配置され、上記第1反射
ミラーの回転によって変更された両光軸を上記試料面に
向かわせる複数の第2反射ミラーとからなる(請求項
2)。
【0010】この構成によれば、照明光軸及び受光光軸
は、反射面に平行な回転軸を中心に回転する第1反射ミ
ラーによって向きが変更され、複数の第2反射ミラーに
よって、上記変更された照明光軸は互いに平行に試料面
に向かい、上記変更された受光光軸は互いに平行に試料
面に向かう。
【0011】また、上記複数の第2反射ミラーは、上記
第1反射ミラーから上記各点までの光路長が一致する位
置にそれぞれ配設されている(請求項3)。
【0012】この構成によれば、第1反射ミラーから各
点までの光路長が等しいので照明光による試料面の各点
における照度が等しいものとなり、これによって試料面
の各点における反射特性の比較が可能になる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る多点測色計の
一実施形態の光学系を模式的に示す構成図である。図2
は光学系の光軸及び光軸方向を変更するモータの回転軸
の向きを説明する図で、光軸L1及び基準軸Mで形成さ
れる平面で切断した同実施形態の部分断面図である。図
3は光軸方向変更光学系3の各部の配置を示すモータの
回転軸方向から見た平面図である。この多点測色計は、
図1に示すように、照明光学系1、受光光学系2及び光
軸方向変更光学系3を備え、例えば製造工場に設けられ
ている図略の搬送ベルト上を方向4a(図2)に搬送さ
れる試料4の色彩を測定するものである。
【0014】照明光学系1は、光源部11及びレンズ1
2を備え、この光源部11は、内壁にMgOやBaSO4等の白
色拡散反射塗料が塗装され、内部のほぼ中心に配置され
た自然昼光に近似する分光分布を有するXeフラッシュラ
ンプ13(図4)と、Xeフラッシュランプ13の光を出
射するための先端開口にレンズ12を有する導光筒部1
4(図2)とを備えており、Xeフラッシュランプ13の
発光光を内壁で拡散反射して拡散光を生成し、この生成
された拡散光を導光筒部14を介してレンズ12から出
射するものである。なお、Xeフラッシュランプ13と導
光筒部14の間には図略の遮光板が介設され、Xeフラッ
シュランプ13の直射光を除く拡散光のみが導光筒部1
4に導かれるようになっている。
【0015】レンズ12は、図2に示すように、導光筒
部14の先端開口に設けられ、例えば光源部11の中心
と導光筒部14とを結ぶ線に一致する光軸L1(照明光
軸)を形成し、導光筒部14の先端開口から出射される
拡散光を集束して光軸方向変更光学系3に向けるもので
ある。
【0016】受光光学系2は、レンズ21及び受光部2
2を備え、このレンズ21は光軸L2(受光光軸)を形
成するもので、上記受光部22は、光軸L2上に設けら
れた先端開口にレンズ21が配置された導光筒部23
(図2)と、導光筒部23の基端側に臨むようにして配
設された後述する分光センサ24(図4)とを備えてい
る。そして、光軸L2に沿って光軸方向変更光学系3か
ら入射する試料4の反射光は、レンズ21で集束されて
受光部22の分光センサ24(図4)に導かれる。
【0017】図2において、当該装置においては、照明
領域より受光領域の方が小さくなるように設定されてい
る。
【0018】図1に戻って、光軸方向変更光学系3は、
走査ミラー31、モータ32及び反射ミラー33〜37
を備えている。この走査ミラー31は、モータ32のモ
ータ軸に反射面がモータ軸と直交するように取り付けら
れた保持部32aによって回転軸P(図2)の回りに回
転可能に保持されている。
【0019】反射ミラー33〜37は、図3に示すよう
に、回転軸Pの周囲に回転方向に分散して配置され、各
反射面がそれぞれ所定の回転角度位置にあるときの走査
ミラー31の反射面と平行になる向きに配置されてい
る。すなわち、反射ミラー33は、第1の回転角度位置
にあるときの走査ミラー31(図中A)の反射面と平行
になる向きに配置され、反射ミラー34は、第2の回転
角度位置にあるときの走査ミラー31(図中B)の反射
面と平行になる向きに配置され、反射ミラー35は、第
3の回転角度位置にあるときの走査ミラー31(図中
C)の反射面と平行になる向きに配置されており、同様
に、反射ミラー36は、第4の回転角度位置にあるとき
の走査ミラー31(図略)の反射面と平行になる向きに
配置され、反射ミラー37は、第5の回転角度位置にあ
るときの走査ミラー31(図略)の反射面と平行になる
向きに配置されている。従って、各回転角度位置にある
ときの走査ミラー31で反射し、対応する各反射ミラー
33〜37で反射した照明光は、互いに平行に入射す
る。
【0020】また、反射ミラー33〜37は、それぞれ
走査ミラー31から試料4までの光路長が等しくなるよ
うに走査ミラー31との離間距離が設定されて配設され
ている。従って、反射ミラー33〜37により試料4上
に入射される点は、一直線上に並ぶこととなる。
【0021】ここで、図2を用いて、走査ミラー31の
回転軸P及び光軸L1,L2の方向について説明する。
図2において、試料4上の点Qは光軸L1との交点を示
し、光軸L1と試料4の表面は角度θ1だけ傾斜してい
る。また、基準軸Mは、点Qを通る法線Nに対し、角度
θM(本実施形態ではθM=67.5°)だけ傾斜しており、
光軸L1に対し法線Nの方向に設定されている。そし
て、走査ミラー31の回転軸Pは、光軸L1及び基準軸
Mで形成される平面上であって、基準軸Mに直交する方
向に設定されている。また、光軸L2は、基準軸Mを対
称軸として光軸L1に対して線対称になるように設定さ
れ、光軸L2と試料4の表面は角度θ2だけ傾斜してお
り、本実施形態ではθ2−θ1=8°に設定されている。
【0022】図4は多点測色計の制御系を示すブロック
図である。分光センサ24は、レンズ21を介して入射
する試料4からの反射光の、波長毎、すなわち充分に狭
い波長幅毎の受光強度を検出するもので、得られた波長
毎の受光強度データは制御部5に送出される。発光回路
6は、Xeフラッシュランプ13を発光させるためのもの
で、駆動回路7は、トランジスタなどからなり、駆動パ
ルスを生成してパルスモータからなるモータ32に供給
するものである。
【0023】制御部5は、ROM51及びRAM52を
内蔵するマイクロコンピュータ等からなり、本測色計に
よる測定動作を制御するもので、発光回路6、駆動回路
7の駆動を制御する。ROM51は、制御プログラムや
予め設定されたデータ、例えば反射ミラー33〜37に
対応するためのモータ32に供給する駆動パルス等を記
憶するもので、RAM52は、データを一時的に保管す
るものである。
【0024】また、制御部5は、分光センサ24で得ら
れた波長λ毎の受光強度データから分光反射率R(λ)を
算出するものである。また、制御部5は、駆動回路7の
動作を制御してモータ32に供給するパルス数を制御す
ることによって走査ミラー31を第1〜第5の回転角度
位置に停止させるものである。
【0025】図5はこの多点測色計の動作手順を示すフ
ローチャートである。まず、モータ32に駆動回路7か
ら所定数の駆動パルスが供給されて走査ミラー31が第
1の回転角度位置に配置され(#100)、次いで、Xe
フラッシュランプ13が発光する(#110)。
【0026】この発光光が光源部11で拡散され、開口
14から出射される拡散光がレンズ12により集束され
て光軸L1に沿って導かれ、走査ミラー31及び反射ミ
ラー33で反射されて試料4の表面が照明される。次い
で、試料4の表面で反射した反射光の内、光軸L2に沿
った成分の反射光が反射ミラー33及び走査ミラー31
で反射され、レンズ21で集束されて、分光センサ24
に入射して受光される(#120)。そして、分光セン
サ24の受光データは制御部5に送出され、分光反射率
R(λ)が求められ、この分光反射率R(λ)はRAM52
に記憶される(#130)。
【0027】次いで、走査ミラー31の現在の回転角度
位置が第5の回転角度位置かどうかが判別され(#14
0)、第5の回転角度位置でなければ(#140でN
O)、モータ32に駆動回路7から所定数の駆動パルス
が供給されて、走査ミラー31の回転角度位置が変更さ
れる(#150)。この変更は、現在が第iの回転角度
位置であれば、第(i+1)の回転角度位置に変更され
る。但し、iは1〜4の整数である。
【0028】次いで、#110〜#140が繰り返さ
れ、#140でNOであれば、#150が行われて、#
110〜#140が繰り返される。なお、#120で
は、走査ミラー31が第2の回転角度位置にあるとき
は、照明光及び反射光は反射ミラー34で反射し、第3
の回転角度位置にあるときは反射ミラー35で反射し、
第4の回転角度位置にあるときは反射ミラー36で反射
し、第5の回転角度位置にあるときは反射ミラー37で
反射する。
【0029】そして、#130が終了したときに、走査
ミラー31の回転角度位置が第5の回転角度位置であれ
ば(#140でYES)、本ルーチンは終了する。
【0030】このように、光軸L1上に配置された回転
可能な走査ミラー31と、この走査ミラー31が第1〜
第5の回転角度位置にあるときに反射した照明光を反射
する反射ミラー33〜37とを備えるようにしたので、
簡易な構成で、試料4上の複数点の分光反射率R(λ)を
測定することができる。
【0031】また、モータ32により走査ミラー31を
第1〜第5の回転角度位置に回転させるようにしたの
で、短時間で試料4上の複数点の分光反射率R(λ)を測
定することができ、これによって、製造ライン上を流れ
る試料4の幅方向の分光反射率R(λ)を測定することが
できる。
【0032】なお、図3に示すように、所定の回転角度
位置にある走査ミラー31(図中D)で反射される光軸
L1上であって、走査ミラー31から試料4までの光路
長と等しい光路長の位置に白色校正板8を配置するよう
にしてもよい。これによって、製造ライン上を移動する
試料4に支障をきたすことなく、かつ、白色校正板8を
移動させることなく、単に走査ミラー31を回転させる
だけで容易に校正を行うことができる。
【0033】更に、白色校正板8を図3に示す位置から
多少ずらして配置し、走査ミラー31と白色校正板8の
間に、反射ミラー33〜37と同一の光学特性を有する
反射ミラーを設け、この反射ミラーで反射された光を白
色校正板8に入射させるようにしてもよい。これによっ
て校正の精度を向上することができる。
【0034】また、上記実施形態では、5個の反射ミラ
ー33〜37を配設し、試料4上の5か所の分光反射率
R(λ)を測定するようにしたが、本発明はこれに限られ
ず、任意のn個の反射ミラーを配設することにより、試
料4上のnか所の分光反射率R(λ)を測定することがで
きる。
【0035】また、反射方向が反射ミラー33〜37と
同一になるような曲率を有する湾曲した1枚の反射ミラ
ーで形成してもよい。この場合には、走査ミラー31か
ら白色校正板8への光路上に孔を穿設しておけばよい。
【0036】また、走査ミラー31を各回転角度位置で
停止させずに連続的に回転させ、各回転角度位置に一致
した時にXeフラッシュランプ13を同期して発光させる
ようにしてもよい。
【0037】また、上記実施形態では、反射ミラー33
〜37の反射面が、所定の各回転角度位置にあるときの
走査ミラー31の反射面と平行になる向きに反射ミラー
33〜37をそれぞれ配置し、これによって反射ミラー
33〜37により方向が変更された照明光及び反射光
は、試料4の測定面に対して図3中、直角になるように
しているが、これに限られず、少なくとも平行になるよ
うに反射ミラー33〜37と走査ミラー31との位置関
係が設定されていればよい。
【0038】また、図3中、走査ミラー31より左方に
のみ複数の反射ミラーを配設するとともに、その配設位
置を調整することによって、試料4上の測定点を等間隔
にすることができる。
【0039】また、上記実施形態において、制御部5
は、試料4の幅方向の各測定点の分光反射率R(λ)を比
較する機能を有するようにしてもよい。これによって試
料4の幅方向の色むらを検査することができる。
【0040】また、上記実施形態において、Xeフラッシ
ュランプ13の分光分布をROM51に予め記憶してお
くか、又はXeフラッシュランプ13の分光分布を検出す
るためのモニタ用分光センサを備えるとともに、ROM
51にスペクトル三刺激値を記憶しておき、制御部5
は、Xeフラッシュランプ13の分光分布と試料4の分光
反射率R(λ)とスペクトル三刺激値とから、試料4の物
体色の三刺激値を算出するようにしてもよい。
【0041】また、上記実施形態において、Xeフラッシ
ュランプ13に代えて、ハロゲンランプやタングステン
ランプなどのランプを用いても良い。
【0042】また、上記実施形態において、分光センサ
24に代えて、XYZセンサを用いて三刺激値を求める
ようにしても良い。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
照明手段の照明光軸及び受光手段の受光光軸を光軸方向
変更手段によって試料面上の複数の点に互いに平行に向
け、各点における試料の反射特性をそれぞれ求める動作
を行うようにしたので、簡易な構成で、試料面上の複数
の点における反射特性を求めることができる。
【0044】また、照明光軸及び受光光軸の向きを、反
射面に平行な回転軸を中心に回転する第1反射ミラーに
よって変更し、この変更された両光軸を、複数の第2反
射ミラーによって互いに平行に試料面に向かわせること
により、試料面上の複数の点における反射特性を容易に
求めることができる。
【0045】また、第1反射ミラーから各点までの光路
長が一致する位置に複数の第2反射ミラーを配設するこ
とにより、照明光による試料の各点における照度を等し
くすることができ、これによって試料面の各点における
反射特性の比較を正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る多点測色計の一実施形態の光学系
を模式的に示す構成図である。
【図2】光軸及びモータの回転軸の向きを説明する図
で、光軸L1及び基準軸Mで形成される平面で切断した
同実施形態の部分断面図である。
【図3】反射光学系の各部の配置を示すモータの回転軸
方向から見た平面図である。
【図4】多点測色計の制御系を示すブロック図である。
【図5】動作手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 照明光学系(照明手段) 11 光源部 12 レンズ 13 Xeフラッシュランプ 2 受光光学系(受光手段) 21 レンズ 22 受光部 24 分光センサ 3 光軸方向変更光学系(光軸方向変更手段) 31 走査ミラー(第1反射ミラー) 32 モータ(回転手段) 32a 保持部 33〜37 反射ミラー(第2反射ミラー) 4 試料 5 制御部(動作制御手段) 51 ROM 52 RAM 6 発光回路 7 駆動回路 8 白色校正板 L1 光軸(照明光軸) L2 光軸(受光光軸) M 基準軸

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料面上の測定点に向けられた照明光軸
    を有する照明手段と、上記測定点に向けられた受光光軸
    を有する受光手段とを備え、上記照明手段からの照明光
    による上記試料の測定点での反射光を上記受光手段で受
    光して得られた受光データより上記試料の反射特性を求
    める測色計において、上記照明光軸及び受光光軸中に介
    設され、両光軸をそれぞれ上記試料面上の複数の点に互
    いに平行にして向かわせる光軸方向変更手段と、上記各
    点における上記試料の反射特性をそれぞれ求める動作を
    行わせる動作制御手段とを備えたことを特徴とする多点
    測色計。
  2. 【請求項2】 上記光軸方向変更手段は、上記両光軸の
    向きを変更する第1反射ミラーと、上記第1反射ミラー
    をその反射面に平行な回転軸を中心に回転させる回転手
    段と、上記回転軸の周囲に配置され、上記第1反射ミラ
    ーの回転によって変更された両光軸を上記試料面に向か
    わせる複数の第2反射ミラーとからなることを特徴とす
    る請求項1記載の多点測色計。
  3. 【請求項3】 上記複数の第2反射ミラーは、上記第1
    反射ミラーから上記各点までの光路長が一致する位置に
    それぞれ配設されていることを特徴とする請求項2記載
    の多点測色計。
JP10025596A 1996-04-22 1996-04-22 多点測色計 Pending JPH09288008A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2314134A1 (en) * 2008-08-15 2011-04-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Monitoring light coming from different areas

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2314134A1 (en) * 2008-08-15 2011-04-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Monitoring light coming from different areas

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