JPH09274082A - 測距方法及び測距装置 - Google Patents

測距方法及び測距装置

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JPH09274082A
JPH09274082A JP8083420A JP8342096A JPH09274082A JP H09274082 A JPH09274082 A JP H09274082A JP 8083420 A JP8083420 A JP 8083420A JP 8342096 A JP8342096 A JP 8342096A JP H09274082 A JPH09274082 A JP H09274082A
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JP
Japan
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signal
pulse
light
distance
section
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JP8083420A
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English (en)
Inventor
Yuji Okamoto
祐司 岡本
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 CW変調方式の測距においてより少ない発光
パワーで測距できるようにする。 【解決手段】 発光パルスをPN符号(バーカーコード
等)を使ってコード化し、受信部においてそのコードに
よってパルス圧縮を行い、パルス振幅を伸長する事によ
り信号成分比率を高める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、自ら光を発生して
対象物からの反射光を利用するアクティブタイプの光学
測距装置に関し、特にCW(連続)変調光を使用して反
射光信号の位相ずれ量から距離を計測する測距方法及び
測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光を使った測距技術としては、パ
ルスレーザ光を使用して目標までのパルス光の往復時間
を検出して測距する方式と、連続(CW)変調光を使用
して、放射光と反射光の位相ずれ量から距離を検出する
方式の2つに大別される。
【0003】前者は、比較的長い距離を計測する場合に
使用され、後者は比較的短い距離をより正確に計測する
場合に使用され、通常光波測距儀と呼ばれるものが含ま
れる。本発明は後者の分類にはいるため、ここでは後者
の技術について述べる。
【0004】図4は、従来のCW(連続)変調方式の測
距の構成を示すブロック図であり、全体構成は、連続変
調光を出す送信系と反射光を受ける受信系、位相差検出
系及び信号処理部からなる。
【0005】送信系は、交流の基本周波数信号を発生す
る基本周波数発振部1、ドライバ3及び発光部4から構
成される。また、受信系は、反射光を受ける受光部5、
AC結合15及び増幅器10からなる。
【0006】位相差検出系は、前記基本周波数と僅かに
周波数が異なるビートダウン周波数を発生するビートダ
ウン用発振部8、混合器9,10を有し、前記基本周波
数信号と受信信号を混合しローパスフィルタ11,12
を介して低周波信号とし、各出力の位相ずれを検出する
位相差検出部13からなる。
【0007】そして、信号処理部14は得られた位相差
信号から目標までの距離を計算する。
【0008】CW変調方式を使った測距はリフレクタを
使用しない場合距離数十m以下で使用する。その理由
は、連続変調光の放射・検出には比較的強いパワーを必
要とし、距離が長くなると反射光を検出できなくなって
しまうからである。。又この方式では、放射光と反射光
の位相ずれを検出し、それを距離に換算しているが、正
確な測距を行う為には、反射光のパワーを一定にする
か、或いは、反射光のパワー変動に応じて補正を加える
必要がある。これは、位相差検出の過程において、光の
検出・増幅、周波数低減化(ビートダウン)及び、放射
光ドライブ信号との位相差の検出が行われるが、反射光
レベルが変化する場合、アンプ回路、フィルタ回路の特
性上、目標までの距離が変わらなくとも位相ずれ量が変
化してしまうからである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術における第
1の問題点は、正確な測距をする為により大きな発光パ
ワーを必要とする事である。
【0010】その理由は、前述の如く、連続変調光を使
用している為であり、且つ測距精度を上げる為に、さら
に大きな発光パワーを必要とするからである。
【0011】第2の問題点は、反射光のパワーが不充分
な場合、位相ノイズの影響を受けやすく測距誤差が生じ
やすい事である。
【0012】その理由は、位相ずれ量を決定する為に受
信信号のゼロクロス点を検出しているが、この方式はノ
イズの影響を受けやすいからである。
【0013】本発明の目的は、より小さな発光パワーで
の測距を可能とし、装置の小型・軽量化及び低消費電力
化をはかるとともに、目標からの反射波強度が小さい場
合でも測距値の誤差を低減することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の測距方法は、基
本周期の送信信号をPNパルスコード信号により連続変
調を行い変調信号をパルス光として送信し、反射光の受
信信号を前記PNパルスコードに対応する遅延合成手段
によりパルス圧縮を行った後に送受信号の位相差に基づ
き目標までの距離を測定することを特徴とする。
【0015】また、本発明の測距装置は、放射光を時系
列のPNパルスコード信号に変調し、基本周波数の周期
で繰り返し送信する手段(図1の2)と、受信したパル
ス列をパルス圧縮し、基本周波数を取り出す手段(図1
の7)とを有する。そして、前記変調部は送信信号をバ
ーカーコード信号により、変調するように構成するのが
好適である。
【0016】前記手段により本発明は以下のように作用
する。即ち、PNコードに変調された時系列パルス光
は、受光部で受光され増幅された後パルス圧縮部にはい
る。この時時系列パルス光は、n個のデータであり、パ
ルス圧縮部には受信パルスのパルス幅が1/nに圧縮さ
れ、パルス振幅がn倍に伸長される。
【0017】従ってS/N比が大きく改善されて受信パ
ルス検出が容易となり、その結果、出力パワーを抑えて
も反射光の検出が可能となる。又、受信信号をコードに
より復調する為、単純ノイズの影響を受けにくい。
【0018】上記の如くS/N比が改善される為、目標
からの反射光が変化する場合でも位相ずれの影響は軽減
される。
【0019】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
【0020】図1を参照すると、本発明の実施の形態
は、以下で表わされる。全体の概略としては、変調光を
出す送信系、反射光を受ける受信系及び位相差検出系及
び信号処理部から構成される。
【0021】送信系としては、基本周波数発振部1、符
号変調部2、ドライバ3及び発光部4より構成される。
符号変調部2は、あらかじめ設定した符号数nの時系列
パルスコード(PN符号系列であり、バーカーコード等
がある)で送信光の変調をかける部分である。なおバー
カーコードは有限なn個の+,−の符号で構成した時、
その信号系列(X1 ,X2 ,…,Xn )が、次の関係式
を満足するものである。
【0022】
【数1】 受信系としては受光部5、AC結合器15、増幅器6、
パルス圧縮部7で構成される。パルス圧縮部7は受光し
たパルスコードを同期検波し、設定された時系列パルス
コードでパルス幅を1/nに圧縮し、パルス振幅をn倍
に伸長する。
【0023】位相差検出系としては、基本周波数SBと
わずかに周波数が異なるビートダウン用周波数SDを混
合する混合器9及びローパスフィルタ11と、同様に受
信した基本周波数SCとビートダウン用周波数SDを混
合する混合器10及びローパスフィルタ12があり、ロ
ーパスフィルタ11,12の各出力から位相のずれを検
出する位相差検出部13から成る。
【0024】信号処理部14は得られた位相差から目標
までの距離を計算する。
【0025】次に本発明の実施の形態の動作について図
1,図2を参照して詳細に説明する。
【0026】基本周波数発振部1の発振周期と同じ繰り
返し周期Tで、設定したn個のバーカー符号系列に変調
された光が発光部4より送信される。目標からの反射光
が受光部5で受信され、AC結合器15及び増幅器6を
介してパルス圧縮部7に信号が入力される。
【0027】パルス圧縮部7は、同期検波回路を含み、
図2の要素から構成される。入力した信号Sは遅延回路
16においてT/nのタップで遅延され、合成器16の
1〜Pn の入力信号となる。この合成器16の出力S
1では、パルス幅は1/nに圧縮され、パルス振幅がn
倍となる。
【0028】これを比較器と波形成形器18を用いて比
較器のスレショールドを超えたパルスから基本周期Tの
信号SCを取り出す。この信号SCとビートダウン用発
振部8の信号SDを混合器10で混合し、ローパスフィ
ルタ12を通してビートダウンする。この時基本周波数
よりかなり低周波になるが、位相ずれ量は保存されてい
る。
【0029】送信側の信号も同様にビートダウンし、両
者の位相ずれ量を位相差検出部13で検出し、これを信
号処理部14で、目標までの往復の時間として距離を最
終的に割り出す。
【0030】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
【0031】図2,図3を参照すると本発明の実施例は
変調コードとしてバーカーコードを使用し、7個の符号
系列(+,+,+,−,−,+,−)又は(1,1,
1,0,0,1,0)を使用している。この符号系列を
マンチェスターコードに対応させたものが図3である。
合成器16の入力P1 〜P7 及び、出力S1は図3の如
くなりパルス振幅が7倍になっているのがわかる。この
S1をコンパレータ等を使って基準周期Tの信号に再生
したものが出力信号SCとなる。なお、発光素子として
は、半導体レーザ、受光素子としてはPINフォトダイ
オードを使用している。基本周波数は3.3MHz、パ
ルスコード周波数は23.3MHzとなる。
【0032】次に本発明の実施例の動作について図3を
参照して詳細に説明する。
【0033】送信系において、基本周波数発振部1の基
本周期Tは、
【0034】
【数2】 とし、ビット列は“1110010”の符号とし、これ
をマンチェスターコードとし、発光部1より発光する。
受信系においては、目標からの反射光が受光部で受光さ
れ、位相同期検波される。検波出力は遅延回路に入力
し、出力タップから順次
【0035】
【数3】 で遅延された信号が出力される。各出力は合成器17で
合成され、300nsec毎に振幅が伸長された信号S
1が出力される。これをコンパレータ18を通してTT
L信号に変換し、基本周期Tに一致したduty50%
の信号SCを再生する。この信号と送信側のドライブ信
号を各々ビートダウンした信号の位相差を位相差検出回
路13で検出し、信号処理部14で距離値に変換する。
【0036】以上説明したように、本発明の第1の実施
例では、パルス変調コードをバーカーコードとしたが、
バーカーコードのかわりにより一般的なPN符号を用い
たものも考えられる。又、発光素子としてはLED等を
使用することが可能である。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、送信信号
をPNパルスコード信号により変調を行ってパルス光を
送信し、反射光の受信信号をパルス圧縮処理を行った後
に送受信号の位相を比較して測距を行うことから、目標
に対する発射光及び反射光の送受信レベルが向上したこ
とと同様の効果があり、より少ない発光信号のパワーに
より測距を行うことができる。
【0038】また、送受信信号の大幅な増幅処理を必要
とせず、増幅処理によりもたらされる位相変化を低減す
ることができることから測距精度を改善できる。更に、
送受信号のコード化によりS/N比が改善され単純ノイ
ズによるマージン幅が増えノイズ信号に対する誤動作を
低減できるから装置の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の測距方式の一実施の形態を示すブロッ
ク図である。
【図2】本実施の形態のパルス圧縮部7の詳細な構成を
示す機能ブロック図である。
【図3】本実施の形態のパルス圧縮部7の動作を示すタ
イムチャートである。
【図4】従来のCW変調方式を使った測距装置のブロッ
ク図である。
【符号の説明】
1 基本周波数発振部 2 符号変調部 3 ドライバ 4 発光部 5 受光部 6 増幅器 7 パルス圧縮部 8 ビートダウン用発振部 9,10 混合器 11,12 ローパスフィルタ(LPF) 13 位相差検出部 14 信号処理部 15 AC結合器 16 タップ付遅延回路 17 合成器 18 比較器/波形成形器 π 位相反転器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基本周期の送信信号をPNパルスコード
    信号により連続変調を行い変調信号をパルス光として送
    信し、反射光の受信信号を前記PNパルスコードに対応
    する遅延合成手段によりパルス圧縮を行った後に送受信
    号の位相差に基づき目標までの距離を測定することを特
    徴とする測距方法。
  2. 【請求項2】 送信の基本周期を決定する発振部と、前
    記基本周期で送信信号を時系列のPNパルスコードに変
    調する変調部と、変調信号をパルス光に変換する発光部
    と、前記送信パルス光の、目標物からの反射光を受光す
    る受光部と、前記受信パルスを同期検波し遅延・圧縮処
    理して周期的パルスを発生するパルス圧縮部と、前記周
    期的パルスの位相ずれを検出する位相差検出部と、前記
    位相ずれ量を距離に換算する信号処理部とからなる測距
    装置。
  3. 【請求項3】 前記変調部は送信信号をバーカーコード
    信号により変調することを特徴とする請求項2記載の測
    距装置。
JP8083420A 1996-04-05 1996-04-05 測距方法及び測距装置 Pending JPH09274082A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007517204A (ja) * 2003-12-29 2007-06-28 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド レーザスキャナ、ならびに光学式スキャンおよびレーザスキャナ環境の測定のための方法
JP2009128299A (ja) * 2007-11-27 2009-06-11 Nippon Soken Inc 物体方位検出装置及び物体方位検出システム
JP2010054373A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nissan Motor Co Ltd 照射光抽出装置及び方法

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Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

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Effective date: 19981020