JPH09247160A - 回線試験装置及び方法 - Google Patents
回線試験装置及び方法Info
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- JPH09247160A JPH09247160A JP4996396A JP4996396A JPH09247160A JP H09247160 A JPH09247160 A JP H09247160A JP 4996396 A JP4996396 A JP 4996396A JP 4996396 A JP4996396 A JP 4996396A JP H09247160 A JPH09247160 A JP H09247160A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】折り返し点を複数回にわたり変更しながら回線
試験を行うことなく、間欠障害の被擬区間も特定でき、
長時間試験も容易にでき、低稼働で故障までに至らない
エラーや間欠故障の被擬区間を特定する。 【解決手段】中継交換装置から、両加入者交換装置で折
り返し、または両終端装置で折り返し、または両端末で
折り返す試験ループを構成し、中継交換装置の送信装置
から試験セル（フレーム）にシーケンス番号を付与して
順次送出し、交換装置に設けられた試験セル監視機能で
試験セルを監視し、損失した試験セルのシーケンス番号
が保持されている試験ループ上の試験セル監視機能内の
蓄積エリアを検出することにより、被擬区間の特定を行
う。
試験を行うことなく、間欠障害の被擬区間も特定でき、
長時間試験も容易にでき、低稼働で故障までに至らない
エラーや間欠故障の被擬区間を特定する。 【解決手段】中継交換装置から、両加入者交換装置で折
り返し、または両終端装置で折り返し、または両端末で
折り返す試験ループを構成し、中継交換装置の送信装置
から試験セル（フレーム）にシーケンス番号を付与して
順次送出し、交換装置に設けられた試験セル監視機能で
試験セルを監視し、損失した試験セルのシーケンス番号
が保持されている試験ループ上の試験セル監視機能内の
蓄積エリアを検出することにより、被擬区間の特定を行
う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、故障に至らないエ
ラーや間欠故障の発生した区間を特定することができる
回線試験装置及びその試験方法に関する。
ラーや間欠故障の発生した区間を特定することができる
回線試験装置及びその試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の回線試験方法で、故障に至らない
エラーや間欠故障等が発生したときに、故障点の区間を
特定するためには、複数回の試験を行う等、面倒な操作
が必要であり、しかも結局、故障点の区間を特定できな
いこともあった。図５は、従来の回線試験方法を実施す
る場合の一例を示す装置構成図であり、図６は、図５に
おける試験機能部の詳細ブロック図である。ここでは、
固定長セルを用いたＡＴＭ方式による回線試験方法を説
明する。図５において、５５０と５５６は端末装置、５
５１と５５５は通信網を終端する終端装置、５５２と５
５４は端末を収容する加入者交換装置、５５３は加入者
交換装置間の中継交換を行う中継交換装置、５０１，５
１２，５０６及び５０７は端末装置と終端装置を接続す
るケーブル、５０２，５１１，５０５及び５０８は終端
装置と加入者交換装置を接続する伝送路、５０３，５１
０，５０４及び５０９は加入者交換装置と中継交換装置
を接続する中継伝送路、５１３，５１４，５１５，５１
６，５１７及び５１８は折り返し設定を実施された時の
折り返し経路、Ｔは試験セル送出部、試験セル受信部及
び試験結果判定部からなる試験機能部である。図６にお
いて、６００は試験機能部Ｔ、６０３，６０４は送信お
よび受信される試験セル、６０１は送出する試験セルの
ペイロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与
し、当該シーケンス番号を初期値から１ずつ増加させな
がら発生送出する機能を備えた試験セル送出部Ｓ、６０
２は受信セルのペイロードフィールドの一部に書き込ま
れたシーケンス番号を読出す機能を備えた試験セル受信
部Ｒ、６０５は試験セル受信部Ｒで読出したシーケンス
番号が欠落せずに連続して受信されていることを確認し
て、導通試験の成否を判定する試験結果判定部Ｃであ
る。
エラーや間欠故障等が発生したときに、故障点の区間を
特定するためには、複数回の試験を行う等、面倒な操作
が必要であり、しかも結局、故障点の区間を特定できな
いこともあった。図５は、従来の回線試験方法を実施す
る場合の一例を示す装置構成図であり、図６は、図５に
おける試験機能部の詳細ブロック図である。ここでは、
固定長セルを用いたＡＴＭ方式による回線試験方法を説
明する。図５において、５５０と５５６は端末装置、５
５１と５５５は通信網を終端する終端装置、５５２と５
５４は端末を収容する加入者交換装置、５５３は加入者
交換装置間の中継交換を行う中継交換装置、５０１，５
１２，５０６及び５０７は端末装置と終端装置を接続す
るケーブル、５０２，５１１，５０５及び５０８は終端
装置と加入者交換装置を接続する伝送路、５０３，５１
０，５０４及び５０９は加入者交換装置と中継交換装置
を接続する中継伝送路、５１３，５１４，５１５，５１
６，５１７及び５１８は折り返し設定を実施された時の
折り返し経路、Ｔは試験セル送出部、試験セル受信部及
び試験結果判定部からなる試験機能部である。図６にお
いて、６００は試験機能部Ｔ、６０３，６０４は送信お
よび受信される試験セル、６０１は送出する試験セルの
ペイロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与
し、当該シーケンス番号を初期値から１ずつ増加させな
がら発生送出する機能を備えた試験セル送出部Ｓ、６０
２は受信セルのペイロードフィールドの一部に書き込ま
れたシーケンス番号を読出す機能を備えた試験セル受信
部Ｒ、６０５は試験セル受信部Ｒで読出したシーケンス
番号が欠落せずに連続して受信されていることを確認し
て、導通試験の成否を判定する試験結果判定部Ｃであ
る。
【０００３】端末装置５５０と５５６間の通信におい
て、故障までに至らないエラーや間欠故障等が発生した
が、警報転送等では故障点の特定ができなかった場合に
は、次の（１）〜（６）の手順で終端装置５５１と５５
５間の被擬区間を特定していた。 （１）先ず、中継交換装置５５３と端末装置５５０間の
導通を確認するために、Ｔ−５１０−５１１−５１２−
５１３−５０１−５０２−５０３−Ｔの経路で試験ルー
プを構成する。図６における試験セル受信部（Ｒ）６０
２を受信可能状態にし、試験セル送出部（Ｓ）６０１か
らペイロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与
して、当該シーケンス番号を初期値１から１ずつ増加さ
せながら試験セルを、例えば１，０００，０００個発生
して送出する。試験セル受信部６０２で読出した試験セ
ルのシーケンス番号を図６の試験結果判定部（Ｃ）６０
５に渡して、当該試験結果判定部６０５において受信セ
ルのシーケンス番号が欠落することなく、連続して受信
していることを確認することにより導通試験が正常であ
ったことを判断する。 （２）次に、図５の中継交換装置５５３と終端装置５５
１間の導通を確認するために、Ｔ−５１０−５１１−５
１４−５０２−５０３−Ｔで試験ループを構成する。図
６における試験セル受信部６０２を、受信可能状態にす
る。試験セル送出部６０１からペイロードフィールドの
一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を
初期値１から１ずつ増加させながら試験セルを、例えば
１，０００，０００個を発生させて送出する。試験セル
受信部６０２で読出した試験セルのシーケンス番号を試
験結果判定部６０５に渡し、当該試験結果判定部６０５
において受信セルのシーケンス番号が欠落することなく
連続して受信していることを確認することにより、導通
試験が正常であったと判断する。
て、故障までに至らないエラーや間欠故障等が発生した
が、警報転送等では故障点の特定ができなかった場合に
は、次の（１）〜（６）の手順で終端装置５５１と５５
５間の被擬区間を特定していた。 （１）先ず、中継交換装置５５３と端末装置５５０間の
導通を確認するために、Ｔ−５１０−５１１−５１２−
５１３−５０１−５０２−５０３−Ｔの経路で試験ルー
プを構成する。図６における試験セル受信部（Ｒ）６０
２を受信可能状態にし、試験セル送出部（Ｓ）６０１か
らペイロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与
して、当該シーケンス番号を初期値１から１ずつ増加さ
せながら試験セルを、例えば１，０００，０００個発生
して送出する。試験セル受信部６０２で読出した試験セ
ルのシーケンス番号を図６の試験結果判定部（Ｃ）６０
５に渡して、当該試験結果判定部６０５において受信セ
ルのシーケンス番号が欠落することなく、連続して受信
していることを確認することにより導通試験が正常であ
ったことを判断する。 （２）次に、図５の中継交換装置５５３と終端装置５５
１間の導通を確認するために、Ｔ−５１０−５１１−５
１４−５０２−５０３−Ｔで試験ループを構成する。図
６における試験セル受信部６０２を、受信可能状態にす
る。試験セル送出部６０１からペイロードフィールドの
一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を
初期値１から１ずつ増加させながら試験セルを、例えば
１，０００，０００個を発生させて送出する。試験セル
受信部６０２で読出した試験セルのシーケンス番号を試
験結果判定部６０５に渡し、当該試験結果判定部６０５
において受信セルのシーケンス番号が欠落することなく
連続して受信していることを確認することにより、導通
試験が正常であったと判断する。
【０００４】（３）次に、図５の中継交換装置５５３と
加入者交換装置５５２間の導通を確認するために、Ｔ−
５１０−５１５−５０３−Ｔで試験ループを構成する。
図６における試験セル受信部６０２を、受信可能状態に
する。次に、試験セル送出部６０１からペイロードフィ
ールドの一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケン
ス番号を初期値から１ずつ増加させながら試験セルを、
例えば１，０００，０００個を発生させて、送出する。
試験セル受信部６０２で読出した試験セルのシーケンス
番号を試験結果判定部６０５に渡して、当該試験結果判
定部６０５において受信セルのシーケンス番号が欠落す
ることなく連続して受信していることを確認することに
より、導通試験が正常であったと判断する。 （４）一方、図５の中継交換装置５５３と端末装置５５
６間の導通を確認するために、Ｔ−５０４−５０５−５
０６−５１８−５０７−５０８−５０９−Ｔの経路で試
験ループを構成する。図６の試験セル受信部６０２を受
信可能状態にする。図６の試験セル送出部６０１からペ
イロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与し、
当該シーケンス番号を初期値１から１ずつ増加させなが
ら試験セルを、例えば１，０００，０００個を発生させ
て送出する。試験セル受信部６０２で読出した試験セル
のシーケンス番号を試験結果判定部６０５に渡し、当該
試験結果判定部６０５において受信セルのシーケンス番
号が欠落することなく連続して受信していることを確認
することにより、導通試験が正常であったと判断する。
加入者交換装置５５２間の導通を確認するために、Ｔ−
５１０−５１５−５０３−Ｔで試験ループを構成する。
図６における試験セル受信部６０２を、受信可能状態に
する。次に、試験セル送出部６０１からペイロードフィ
ールドの一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケン
ス番号を初期値から１ずつ増加させながら試験セルを、
例えば１，０００，０００個を発生させて、送出する。
試験セル受信部６０２で読出した試験セルのシーケンス
番号を試験結果判定部６０５に渡して、当該試験結果判
定部６０５において受信セルのシーケンス番号が欠落す
ることなく連続して受信していることを確認することに
より、導通試験が正常であったと判断する。 （４）一方、図５の中継交換装置５５３と端末装置５５
６間の導通を確認するために、Ｔ−５０４−５０５−５
０６−５１８−５０７−５０８−５０９−Ｔの経路で試
験ループを構成する。図６の試験セル受信部６０２を受
信可能状態にする。図６の試験セル送出部６０１からペ
イロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与し、
当該シーケンス番号を初期値１から１ずつ増加させなが
ら試験セルを、例えば１，０００，０００個を発生させ
て送出する。試験セル受信部６０２で読出した試験セル
のシーケンス番号を試験結果判定部６０５に渡し、当該
試験結果判定部６０５において受信セルのシーケンス番
号が欠落することなく連続して受信していることを確認
することにより、導通試験が正常であったと判断する。
【０００５】（５）次に、図５の中継交換装置５５３と
終端装置５５５間の導通を確認するために、Ｔ−５０４
−５０５−５１７−５０８−５０９−Ｔの経路で試験ル
ープを構成する。図６の試験セル受信部６０２を受信可
能状態にし、試験セル送出部６０１からペイロードフィ
ールドの一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケン
ス番号を初期値１から１ずつ増加させながら試験セル
を、例えば１，０００，０００個を発生させて送出す
る。試験セル受信部６０２で読出した試験セルのシーケ
ンス番号を試験結果判定部６０５に渡し、当該試験結果
判定部６０５において受信セルのシーケンス番号が欠落
することなく連続して受信していることを確認すること
により、導通試験が正常であったと判断する。 （６）次に、図５の中継交換装置５５３と加入者交換装
置５５４間の導通を確認するために、Ｔ−５０４−５１
６−５０９−Ｔの経路で試験ループを構成する。図６の
試験セル受信部６０２を受信可能状態にする。図６の試
験セル送出部６０１からペイロードフィールドの一部に
シーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を初期値
１から１ずつ増加させながら試験セルを、例えば１，０
００，０００個を発生させ送出する。試験セル受信部６
０２で読出した試験セルのシーケンス番号を試験結果判
定部６０５に渡し、当該試験結果判定部６０５において
受信セルのシーケンス番号が欠落することなく連続して
受信していることを確認することにより、導通試験が正
常であったと判断する。
終端装置５５５間の導通を確認するために、Ｔ−５０４
−５０５−５１７−５０８−５０９−Ｔの経路で試験ル
ープを構成する。図６の試験セル受信部６０２を受信可
能状態にし、試験セル送出部６０１からペイロードフィ
ールドの一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケン
ス番号を初期値１から１ずつ増加させながら試験セル
を、例えば１，０００，０００個を発生させて送出す
る。試験セル受信部６０２で読出した試験セルのシーケ
ンス番号を試験結果判定部６０５に渡し、当該試験結果
判定部６０５において受信セルのシーケンス番号が欠落
することなく連続して受信していることを確認すること
により、導通試験が正常であったと判断する。 （６）次に、図５の中継交換装置５５３と加入者交換装
置５５４間の導通を確認するために、Ｔ−５０４−５１
６−５０９−Ｔの経路で試験ループを構成する。図６の
試験セル受信部６０２を受信可能状態にする。図６の試
験セル送出部６０１からペイロードフィールドの一部に
シーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を初期値
１から１ずつ増加させながら試験セルを、例えば１，０
００，０００個を発生させ送出する。試験セル受信部６
０２で読出した試験セルのシーケンス番号を試験結果判
定部６０５に渡し、当該試験結果判定部６０５において
受信セルのシーケンス番号が欠落することなく連続して
受信していることを確認することにより、導通試験が正
常であったと判断する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ような回線試験方法を実施すると、次のような問題点が
発生する。すなわち、折り返し点を複数回にわたって
変更しながら回線試験を実施する必要があること、間
欠障害の場合には、被擬区間が特定できないこと、長
時間の試験が困難であること、同時に複数の区間の試
験を実施するのは困難であること、等である。本発明の
目的は、これら従来の課題を解決し、故障までに至らな
いエラーや間欠故障の発生した被擬区間を特定する場合
に、低稼働で被擬区間を特定することが可能な回線試験
装置及び方法を提供することにある。
ような回線試験方法を実施すると、次のような問題点が
発生する。すなわち、折り返し点を複数回にわたって
変更しながら回線試験を実施する必要があること、間
欠障害の場合には、被擬区間が特定できないこと、長
時間の試験が困難であること、同時に複数の区間の試
験を実施するのは困難であること、等である。本発明の
目的は、これら従来の課題を解決し、故障までに至らな
いエラーや間欠故障の発生した被擬区間を特定する場合
に、低稼働で被擬区間を特定することが可能な回線試験
装置及び方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の回線試験装置では、試験セルまたはフレー
ムのペイロード部（ユーザデータ部）にシーケンス番号
を記入するフィールドを設け、そのフィールドにシーケ
ンス番号を初期値から１ずつ増加させながら記入し、試
験セルまたはフレームを発生させて送出する機能、及び
その試験セルまたはフレームを受信消滅する機能を備え
た試験セル（フレーム）送受信機能を、図１に示す中継
交換装置１５３内に設け、図１に示すＡ，Ｂ、Ｃ，Ｄ、
Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ、Ｉ，Ｊ、Ｋ，Ｌ中を通過する試験セル
またはフレームを監視するモニタ機能、及び損失した試
験セルまたはフレームのシーケンス番号を蓄積する損失
セル（フレーム）蓄積エリア及びその試験セル毎または
フレーム毎のシーケンス番号の連続性で損失を判定し、
シーケンス番号の欠落が判明した場合にのみ、損失セル
（フレーム）蓄積エリアにシーケンス番号を書き込む試
験セル（フレーム）監視機能を、図１に示すＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ内にそれぞれ
設ける。そして、回線試験構成としては、図１に示すＴ
ＳＴ−Ｊ−１１０−Ｋ−Ｌ−１１５−Ａ−Ｂ−１０３−
Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１１６−Ｇ−Ｈ−１０９−Ｉ
−ＴＳＴの試験ループ、またはＴＳＴ−Ｊ−１１０−Ｋ
−Ｌ−１１１−１１４−１０２−Ａ−Ｂ−１０３−Ｃ−
Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１０５−１１７−１０８−Ｇ−Ｈ
−１０９−Ｉ−ＴＳＴの試験ループ、またはＴＳＴ−Ｊ
−１１０−Ｋ−Ｌ−１１１−１１２−１１３−１０１−
１０２−Ａ−Ｂ−１０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１
０５−１０６−１１８−１０７−１０８−Ｇ−Ｈ−１０
９−Ｉ−ＴＳＴの試験ループを構成し、損失した試験セ
ルのシーケンス番号が保持されている当該試験ループ上
のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ中
に具備されている損失セル蓄積エリアを相互比較するこ
とにより、被擬区間の特定を行うことを特徴としてい
る。
め、本発明の回線試験装置では、試験セルまたはフレー
ムのペイロード部（ユーザデータ部）にシーケンス番号
を記入するフィールドを設け、そのフィールドにシーケ
ンス番号を初期値から１ずつ増加させながら記入し、試
験セルまたはフレームを発生させて送出する機能、及び
その試験セルまたはフレームを受信消滅する機能を備え
た試験セル（フレーム）送受信機能を、図１に示す中継
交換装置１５３内に設け、図１に示すＡ，Ｂ、Ｃ，Ｄ、
Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ、Ｉ，Ｊ、Ｋ，Ｌ中を通過する試験セル
またはフレームを監視するモニタ機能、及び損失した試
験セルまたはフレームのシーケンス番号を蓄積する損失
セル（フレーム）蓄積エリア及びその試験セル毎または
フレーム毎のシーケンス番号の連続性で損失を判定し、
シーケンス番号の欠落が判明した場合にのみ、損失セル
（フレーム）蓄積エリアにシーケンス番号を書き込む試
験セル（フレーム）監視機能を、図１に示すＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ内にそれぞれ
設ける。そして、回線試験構成としては、図１に示すＴ
ＳＴ−Ｊ−１１０−Ｋ−Ｌ−１１５−Ａ−Ｂ−１０３−
Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１１６−Ｇ−Ｈ−１０９−Ｉ
−ＴＳＴの試験ループ、またはＴＳＴ−Ｊ−１１０−Ｋ
−Ｌ−１１１−１１４−１０２−Ａ−Ｂ−１０３−Ｃ−
Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１０５−１１７−１０８−Ｇ−Ｈ
−１０９−Ｉ−ＴＳＴの試験ループ、またはＴＳＴ−Ｊ
−１１０−Ｋ−Ｌ−１１１−１１２−１１３−１０１−
１０２−Ａ−Ｂ−１０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１
０５−１０６−１１８−１０７−１０８−Ｇ−Ｈ−１０
９−Ｉ−ＴＳＴの試験ループを構成し、損失した試験セ
ルのシーケンス番号が保持されている当該試験ループ上
のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ中
に具備されている損失セル蓄積エリアを相互比較するこ
とにより、被擬区間の特定を行うことを特徴としてい
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を、図面に
より詳細に説明する。本実施例では、固定長セルを用い
てＡＴＭ方式に適用して実施した場合を説明する。な
お、フレームを用いたフレームリレー方式の場合も全く
同じように実施することが可能である。図１は、本発明
の一実施例を示す回線試験方法を用いた回線試験ループ
の構成図である。図１において、１５０と１５６は端末
装置、１５１と１５５は通信網を終端する終端装置、１
５２と１５４は端末を収容する加入者交換装置、１５３
は加入者交換装置の中継を行う中継交換装置、１０１，
１１２，１０６及び１０７は端末と終端装置を接続する
ケーブル、１０２，１１１，１０５及び１０８は終端装
置と加入者交換装置を接続する伝送路、１０３，１１
０，１０４及び１０９は加入者交換装置と中継交換装置
を接続する中継伝送路、１１３，１１４，１１５，１１
６，１１７及び１１８は折り返し設定状態での折り返し
経路、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，
Ｌはモニタ機能及び試験セル監視機能及び損失セル蓄積
エリアからなる試験機能部、１６０は各交換装置の操作
及び監視を行うオペレーション装置、ＴＳＴは試験セル
送受信機能である。
より詳細に説明する。本実施例では、固定長セルを用い
てＡＴＭ方式に適用して実施した場合を説明する。な
お、フレームを用いたフレームリレー方式の場合も全く
同じように実施することが可能である。図１は、本発明
の一実施例を示す回線試験方法を用いた回線試験ループ
の構成図である。図１において、１５０と１５６は端末
装置、１５１と１５５は通信網を終端する終端装置、１
５２と１５４は端末を収容する加入者交換装置、１５３
は加入者交換装置の中継を行う中継交換装置、１０１，
１１２，１０６及び１０７は端末と終端装置を接続する
ケーブル、１０２，１１１，１０５及び１０８は終端装
置と加入者交換装置を接続する伝送路、１０３，１１
０，１０４及び１０９は加入者交換装置と中継交換装置
を接続する中継伝送路、１１３，１１４，１１５，１１
６，１１７及び１１８は折り返し設定状態での折り返し
経路、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，
Ｌはモニタ機能及び試験セル監視機能及び損失セル蓄積
エリアからなる試験機能部、１６０は各交換装置の操作
及び監視を行うオペレーション装置、ＴＳＴは試験セル
送受信機能である。
【０００９】図２は、図１におけるモニタ機能及び試験
セル監視機能及び損失セル蓄積エリアの詳細構成図であ
る。図２において、２００は試験機能部、２０１は試験
機能部２００を通過する試験セルを監視するモニタ機能
部、２０３は交換装置内の記憶装置、２０４は記憶装置
２０３に割り当てられた損失セル蓄積エリアである。ま
た、損失セル蓄積エリア２０４内のＳＥＱ１，ＳＥＱ
２，・・・，ＳＥＱｎは損失した試験セルのシーケンス
番号を保持する蓄積テーブル、２０２はモニタ機能で読
出された試験セルのペイロード部のシーケンス番号の連
続性を監視し、損失が発生した場合にのみ当該試験セル
のシーケンス番号を損失セル蓄積エリア２０４に保持す
る機能を備えた試験セル監視機能部である。これらの試
験機能部２００が、中継交換装置１５３、加入者交換装
置１５２，１５４にそれぞれ４個ずつ設けられている。
図３は、図１における試験セル送受信機能の詳細ブロッ
ク図である。図３において、３００は試験セル送受信機
能部、３０１は試験セルのペイロードフィールドの一部
にシーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を初期
値から１ずつ増加させながら発生させ、送出する機能を
備えた試験セル送出部、３０２は試験セル受信消滅部、
３０３はペイロードフィールドの一部にシーケンス番号
を付与され、試験セル送出部３０１から送出された試験
セル、３０４は前述の試験ルートから返ってきた試験セ
ルである。なお、試験セル受信消滅部３０２は、図２で
示した試験機能部２００と同等の機能を包含することも
可能である。このような試験セル送受信機能３００が、
中継交換装置１５３に設けられている。
セル監視機能及び損失セル蓄積エリアの詳細構成図であ
る。図２において、２００は試験機能部、２０１は試験
機能部２００を通過する試験セルを監視するモニタ機能
部、２０３は交換装置内の記憶装置、２０４は記憶装置
２０３に割り当てられた損失セル蓄積エリアである。ま
た、損失セル蓄積エリア２０４内のＳＥＱ１，ＳＥＱ
２，・・・，ＳＥＱｎは損失した試験セルのシーケンス
番号を保持する蓄積テーブル、２０２はモニタ機能で読
出された試験セルのペイロード部のシーケンス番号の連
続性を監視し、損失が発生した場合にのみ当該試験セル
のシーケンス番号を損失セル蓄積エリア２０４に保持す
る機能を備えた試験セル監視機能部である。これらの試
験機能部２００が、中継交換装置１５３、加入者交換装
置１５２，１５４にそれぞれ４個ずつ設けられている。
図３は、図１における試験セル送受信機能の詳細ブロッ
ク図である。図３において、３００は試験セル送受信機
能部、３０１は試験セルのペイロードフィールドの一部
にシーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を初期
値から１ずつ増加させながら発生させ、送出する機能を
備えた試験セル送出部、３０２は試験セル受信消滅部、
３０３はペイロードフィールドの一部にシーケンス番号
を付与され、試験セル送出部３０１から送出された試験
セル、３０４は前述の試験ルートから返ってきた試験セ
ルである。なお、試験セル受信消滅部３０２は、図２で
示した試験機能部２００と同等の機能を包含することも
可能である。このような試験セル送受信機能３００が、
中継交換装置１５３に設けられている。
【００１０】図４は、本発明に使用される試験セルの構
成例を示す図である。図４において、４００は試験セル
のシーケンス番号を記入するＳＥＱフィールドで、例え
ば５バイト長を確保している。Ｐａｙｌｏａｄは、ペイ
ロードフィールドである。試験セルのヘッダ部（Ｈｅａ
ｄｅｒ）は、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｉ．３６１に示されている
構成であって、ＶＰＩはＶｉｒｔｕａｌ Ｐａｔｈ Ｉ
Ｄ、ＶＣＩはＶｉｒｔｕａｌ Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ
ＩＤ、ＰＴはＰａｙｌｏａｄＴｙｐｅ、ＣＬＰはＣｅｌ
ｌ Ｌｏｓｓ Ｐｒｉｏｒｉｔｙ、ＨＥＣはＨｅａｄｅ
ｒ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｎｔｒｏｌである。図７は、図１
に示した交換装置の操作、監視を行うオペレーション装
置の詳細ブロック図である。図７において、７００はオ
ペレーション装置、７０１はオペレーション装置に備え
られた記憶装置、７０２は試験結果収集エリア、７０２
Ａ，７０２Ｂ、・・・、７０２Ｌは試験セルの損失の有
無を示す試験結果収集フラグである。
成例を示す図である。図４において、４００は試験セル
のシーケンス番号を記入するＳＥＱフィールドで、例え
ば５バイト長を確保している。Ｐａｙｌｏａｄは、ペイ
ロードフィールドである。試験セルのヘッダ部（Ｈｅａ
ｄｅｒ）は、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｉ．３６１に示されている
構成であって、ＶＰＩはＶｉｒｔｕａｌ Ｐａｔｈ Ｉ
Ｄ、ＶＣＩはＶｉｒｔｕａｌ Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎ
ＩＤ、ＰＴはＰａｙｌｏａｄＴｙｐｅ、ＣＬＰはＣｅｌ
ｌ Ｌｏｓｓ Ｐｒｉｏｒｉｔｙ、ＨＥＣはＨｅａｄｅ
ｒ Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｎｔｒｏｌである。図７は、図１
に示した交換装置の操作、監視を行うオペレーション装
置の詳細ブロック図である。図７において、７００はオ
ペレーション装置、７０１はオペレーション装置に備え
られた記憶装置、７０２は試験結果収集エリア、７０２
Ａ，７０２Ｂ、・・・、７０２Ｌは試験セルの損失の有
無を示す試験結果収集フラグである。
【００１１】以下、固定長セルを用いるＡＴＭ方式の場
合を例にとって説明する。図１において、一方の端末１
５０と他方の端末１５６の間の通信で、故障まで至らな
いエラーや、間欠故障等が発生したが、警報転送等では
故障点の特定ができなかった場合には、一方の終端装置
１５１と他方の終端装置１５５間において、次の手順
（１）〜（５）で被擬区間を特定する。 （１）回線試験ルートとして、ここでは図１に示すＴＳ
Ｔ−Ｊ−１１０−Ｋ−Ｌ−１１１−１１４−１０２−Ａ
−Ｂ−１０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１０５−１１
７−１０８−Ｇ−Ｈ−１０９−Ｉ−ＴＳＴで構成する。
例えば、回線試験用の論理パスとして、ユーザーパスと
同一の物理回線上で、ユーザーパスと同一のＶＰＩ値及
びＶＣＩ値を使用して回線試験用の論理パスを構成す
る。なお、回線試験用の論理パスとして、ユーザーパス
と同一の物理回線上で、回線試験用に別途、ＶＰＩ値及
びＶＣＩ値を使用して回線試験用の論理パスを構成する
ことも可能である。 （２）図１に示した各交換装置１５２，１５３，１５４
内の試験機能部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，
Ｊ，Ｋ，Ｌに備えられている試験セルモニタ機能２０１
及び試験セル監視機能２０２（以上、図２参照）を動作
させ、損失セル蓄積エリア２０４を全て‘０’に初期化
する。
合を例にとって説明する。図１において、一方の端末１
５０と他方の端末１５６の間の通信で、故障まで至らな
いエラーや、間欠故障等が発生したが、警報転送等では
故障点の特定ができなかった場合には、一方の終端装置
１５１と他方の終端装置１５５間において、次の手順
（１）〜（５）で被擬区間を特定する。 （１）回線試験ルートとして、ここでは図１に示すＴＳ
Ｔ−Ｊ−１１０−Ｋ−Ｌ−１１１−１１４−１０２−Ａ
−Ｂ−１０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１０５−１１
７−１０８−Ｇ−Ｈ−１０９−Ｉ−ＴＳＴで構成する。
例えば、回線試験用の論理パスとして、ユーザーパスと
同一の物理回線上で、ユーザーパスと同一のＶＰＩ値及
びＶＣＩ値を使用して回線試験用の論理パスを構成す
る。なお、回線試験用の論理パスとして、ユーザーパス
と同一の物理回線上で、回線試験用に別途、ＶＰＩ値及
びＶＣＩ値を使用して回線試験用の論理パスを構成する
ことも可能である。 （２）図１に示した各交換装置１５２，１５３，１５４
内の試験機能部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，
Ｊ，Ｋ，Ｌに備えられている試験セルモニタ機能２０１
及び試験セル監視機能２０２（以上、図２参照）を動作
させ、損失セル蓄積エリア２０４を全て‘０’に初期化
する。
【００１２】（３）図１に示す試験セル送受信機能部Ｔ
ＳＴ内の試験セル受信部Ｒを動作させ、当該試験セル送
受信機能ＴＳＴからペイロード部にシーケンス番号を記
入するフィールド（４００）を設けて、当該フィールド
にシーケンス番号を初期値１から１ずつ増加させなが
ら、例えば１，０００，０００個の試験セルを発生さ
せ、上記回線試験ルートに送出する。 （４）例えば、図１において、試験セル送受信装置ＴＳ
Ｔから送出されたシーケンス番号１０００を付与した試
験セルが、中継伝送路１０９において１個損失したもの
と仮定する。このとき、中継交換装置１５３内の試験機
能部Ｉ中の試験セル監視機能部２０２において、シーケ
ンス番号１０００が検出されないため、当該シーケンス
番号１０００を付与した試験セルは損失したものと判断
し、当該シーケンス番号１０００を試験機能部Ｉ内の損
失セル蓄積エリア２０４（図２参照）の蓄積テーブルＳ
ＥＱ１に書き込み、それを保持する。しかし、試験機能
部Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈでは、
損失セルは検出されないため、損失セル蓄積エリア２０
４にはシーケンス番号は保持されていない。
ＳＴ内の試験セル受信部Ｒを動作させ、当該試験セル送
受信機能ＴＳＴからペイロード部にシーケンス番号を記
入するフィールド（４００）を設けて、当該フィールド
にシーケンス番号を初期値１から１ずつ増加させなが
ら、例えば１，０００，０００個の試験セルを発生さ
せ、上記回線試験ルートに送出する。 （４）例えば、図１において、試験セル送受信装置ＴＳ
Ｔから送出されたシーケンス番号１０００を付与した試
験セルが、中継伝送路１０９において１個損失したもの
と仮定する。このとき、中継交換装置１５３内の試験機
能部Ｉ中の試験セル監視機能部２０２において、シーケ
ンス番号１０００が検出されないため、当該シーケンス
番号１０００を付与した試験セルは損失したものと判断
し、当該シーケンス番号１０００を試験機能部Ｉ内の損
失セル蓄積エリア２０４（図２参照）の蓄積テーブルＳ
ＥＱ１に書き込み、それを保持する。しかし、試験機能
部Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈでは、
損失セルは検出されないため、損失セル蓄積エリア２０
４にはシーケンス番号は保持されていない。
【００１３】（５）試験セル送出完了の後、図７に示す
オペレーション装置７００から図１に示す各交換装置１
５２，１５３，１５４に具備された損失セル蓄積エリア
２０４（図２参照）の蓄積テーブルＳＥＱ１，ＳＥＱ
２，・・，ＳＥＱｎにシーケンス番号が保持されている
か否かを、Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，
Ｈ，Ｉの順序で確認する。例えば、損失セル蓄積エリア
２０４にシーケンス番号が保持されていた場合には、オ
ペレーション装置７００に具備された記憶装置７０１
（図７参照）に割り当てた各モニタ点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，
Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ毎の試験結果収集フラ
グ７０２Ａ，７０２Ｂ，・・７０２Ｌにフラグ１を書き
込む。本実施例では、Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，
Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉの順序で損失シーケンス番号を確認
すると、Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ
内の損失セル蓄積エリア２０４には、シーケンス番号は
保持されていないので、試験結果収集エリア７０２内の
試験結果収集フラグ７０２Ａ，７０２Ｂ，７０２Ｃ，７
０２Ｄ，・・・７０２Ｌには１は書き込まれないが、前
述の（４）の説明で、中継伝送路１０９で試験セルが損
失したという仮定により、試験機能部Ｉ中の損失セル蓄
積エリア２０４の蓄積テーブルＳＥＱ１には、シーケン
ス番号１０００が保持されていることが判明するので、
試験結果収集フラグ７０２Ｉにフラグ１を書き込む。
オペレーション装置７００から図１に示す各交換装置１
５２，１５３，１５４に具備された損失セル蓄積エリア
２０４（図２参照）の蓄積テーブルＳＥＱ１，ＳＥＱ
２，・・，ＳＥＱｎにシーケンス番号が保持されている
か否かを、Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，
Ｈ，Ｉの順序で確認する。例えば、損失セル蓄積エリア
２０４にシーケンス番号が保持されていた場合には、オ
ペレーション装置７００に具備された記憶装置７０１
（図７参照）に割り当てた各モニタ点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，
Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ毎の試験結果収集フラ
グ７０２Ａ，７０２Ｂ，・・７０２Ｌにフラグ１を書き
込む。本実施例では、Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，
Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉの順序で損失シーケンス番号を確認
すると、Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ
内の損失セル蓄積エリア２０４には、シーケンス番号は
保持されていないので、試験結果収集エリア７０２内の
試験結果収集フラグ７０２Ａ，７０２Ｂ，７０２Ｃ，７
０２Ｄ，・・・７０２Ｌには１は書き込まれないが、前
述の（４）の説明で、中継伝送路１０９で試験セルが損
失したという仮定により、試験機能部Ｉ中の損失セル蓄
積エリア２０４の蓄積テーブルＳＥＱ１には、シーケン
ス番号１０００が保持されていることが判明するので、
試験結果収集フラグ７０２Ｉにフラグ１を書き込む。
【００１４】試験機能部Ｉの試験結果収集フラグ７０２
Ｉには、試験セルが損失したことを示すフラグが保持さ
れており、かつ前段の試験機能部Ｈの試験結果収集フィ
ールドより手前には、フラグが保持されていないことに
より、区間Ｈ−Ｉを被擬区間として特定する。オペレー
ション装置７００の試験結果収集エリア７０２は、交換
装置１５２，１５３，１５４に包含して試験結果を判定
することができるのは勿論である。すなわち、本実施例
では、１度の回線試験の実施だけで、故障までに至らな
いエラーや間欠故障の発生した被擬区間を特定すること
ができる。実施例では、固定長セルを用いたＡＴＭ方式
に適用した場合を説明したが、フレームを用いるフレー
ムリレー方式に適用した場合でも全く同じであることは
勿論である。また、試験ルートとして、終端装置１５
１，１５５で折り返すルートで説明したが、その他に
も、ＴＳＴ−Ｊ−１１０−Ｋ−Ｌ−１１５−Ａ−Ｂ−１
０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１１６−Ｇ−Ｈ−１０
９−Ｉ−ＴＳＴの試験ルート、つまり加入者交換装置１
５２，１５４で折り返すルート、及びＴＳＴ−Ｊ−１１
０−Ｋ−Ｌ−１１１−１１２−１１３−１０１−１０２
−Ａ−Ｂ−１０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１０５−
１０６−１１８−１０７−１０８−Ｇ−Ｈ−１０９−Ｉ
−ＴＳＴの試験ルート、つまり端末装置１５０，１５６
で折り返すルートを使用した回線試験も実施することが
できるのは勿論である。また、実施例では、試験セルま
たはフレーム送受信機能ＴＳＴを中継交換装置１５３内
に配置したが、送受信機能を交換装置の外部に取り付け
ることも可能である。
Ｉには、試験セルが損失したことを示すフラグが保持さ
れており、かつ前段の試験機能部Ｈの試験結果収集フィ
ールドより手前には、フラグが保持されていないことに
より、区間Ｈ−Ｉを被擬区間として特定する。オペレー
ション装置７００の試験結果収集エリア７０２は、交換
装置１５２，１５３，１５４に包含して試験結果を判定
することができるのは勿論である。すなわち、本実施例
では、１度の回線試験の実施だけで、故障までに至らな
いエラーや間欠故障の発生した被擬区間を特定すること
ができる。実施例では、固定長セルを用いたＡＴＭ方式
に適用した場合を説明したが、フレームを用いるフレー
ムリレー方式に適用した場合でも全く同じであることは
勿論である。また、試験ルートとして、終端装置１５
１，１５５で折り返すルートで説明したが、その他に
も、ＴＳＴ−Ｊ−１１０−Ｋ−Ｌ−１１５−Ａ−Ｂ−１
０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１１６−Ｇ−Ｈ−１０
９−Ｉ−ＴＳＴの試験ルート、つまり加入者交換装置１
５２，１５４で折り返すルート、及びＴＳＴ−Ｊ−１１
０−Ｋ−Ｌ−１１１−１１２−１１３−１０１−１０２
−Ａ−Ｂ−１０３−Ｃ−Ｄ−１０４−Ｅ−Ｆ−１０５−
１０６−１１８−１０７−１０８−Ｇ−Ｈ−１０９−Ｉ
−ＴＳＴの試験ルート、つまり端末装置１５０，１５６
で折り返すルートを使用した回線試験も実施することが
できるのは勿論である。また、実施例では、試験セルま
たはフレーム送受信機能ＴＳＴを中継交換装置１５３内
に配置したが、送受信機能を交換装置の外部に取り付け
ることも可能である。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
故障までに至らないエラーや間欠故障の発生した被擬区
間を特定するための回線試験を、折り返し点を複数回に
わたって変更しながら回線試験を実施することがなく、
低稼働で実施ことができる。
故障までに至らないエラーや間欠故障の発生した被擬区
間を特定するための回線試験を、折り返し点を複数回に
わたって変更しながら回線試験を実施することがなく、
低稼働で実施ことができる。
【図１】本発明の一実施例を示す回線試験ルートの構成
図である。
図である。
【図２】図１における各交換装置に配備されたモニタ機
能、損失セル監視機能及び損失セル蓄積エリアを有する
試験機能部の詳細ブロック図である。
能、損失セル監視機能及び損失セル蓄積エリアを有する
試験機能部の詳細ブロック図である。
【図３】図１における試験セル送受信機能の詳細ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図４】本発明で使用される試験セルの構造図である。
【図５】従来の回線試験方法を示す試験ルートの構成図
である。
である。
【図６】図５における試験セル送受信機能部の詳細ブロ
ック図である。
ック図である。
【図７】図１におけるオペレーション装置の詳細ブロッ
ク図である。
ク図である。
【符号の説明】 １０１，１１２，１０６，１０７…端末と終端装置を接
続するケーブル、１０２，１１１，１０５，１０８…終
端装置と加入者交換装置間の伝送路、１０３，１１０,
１０４,１０９…中継交換装置と加入者交換装置間の伝
送路、１５０，１５６…端末装置、１５１，１５４…加
入者交換装置。１５３…中継交換装置、１６０…オペレ
ーション装置、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，
Ｊ，Ｋ，Ｌ…試験機能部、ＴＳＴ…試験セル（フレー
ム）送受信部、２００…試験機能部、２０１…モニタ機
能部、２０２…試験セル（フレーム）監視部、２０３…
記憶装置、２０４…損失セル（フレーム）蓄積エリア、
２０５…試験セル、ＳＥＱ１，ＳＥＱ２，・・，ＳＥＱ
ｎ…蓄積テーブル、３００…試験セル（フレーム）送受
信部、３０１…試験セル送信部、３０２…試験セル受信
部、３０３，３０４…試験セル（フレーム） ４００…シーケンスフィールド部、７００…オペレーシ
ョン装置、７０１…記憶装置、７０２…試験結果収集エ
リア、７０１Ａ，７０１Ｂ，・・・，７０１Ｌ…試験結
果収集フラグ。
続するケーブル、１０２，１１１，１０５，１０８…終
端装置と加入者交換装置間の伝送路、１０３，１１０,
１０４,１０９…中継交換装置と加入者交換装置間の伝
送路、１５０，１５６…端末装置、１５１，１５４…加
入者交換装置。１５３…中継交換装置、１６０…オペレ
ーション装置、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，
Ｊ，Ｋ，Ｌ…試験機能部、ＴＳＴ…試験セル（フレー
ム）送受信部、２００…試験機能部、２０１…モニタ機
能部、２０２…試験セル（フレーム）監視部、２０３…
記憶装置、２０４…損失セル（フレーム）蓄積エリア、
２０５…試験セル、ＳＥＱ１，ＳＥＱ２，・・，ＳＥＱ
ｎ…蓄積テーブル、３００…試験セル（フレーム）送受
信部、３０１…試験セル送信部、３０２…試験セル受信
部、３０３，３０４…試験セル（フレーム） ４００…シーケンスフィールド部、７００…オペレーシ
ョン装置、７０１…記憶装置、７０２…試験結果収集エ
リア、７０１Ａ，７０１Ｂ，・・・，７０１Ｌ…試験結
果収集フラグ。
Claims (4)
- 【請求項１】固定長のセルを用いるＡＴＭ方式、または
フレームを用いるフレームリレー方式により通信を行う
交換機に具備された回線試験装置であって、 ペイロード部にシーケンス番号が記入された試験セルま
たはフレームの損失判定のため、試験ループの複数箇所
に配置され、該試験セル毎またはフレーム毎のシーケン
ス番号の連続性をそれぞれ判定し、シーケンス番号の欠
落により、損失したと判断された試験セルまたはフレー
ムのシーケンス番号を蓄積エリアに保持する試験セルま
たはフレーム監視機能部と、 該試験セルまたはフレームのシーケンス番号を初期値か
ら１ずつ増加させながら複数の試験セルまたはフレーム
を発生し、発生した該試験セルまたはフレームを上記試
験ループに順次送出するとともに、該試験ループを巡環
して戻ってきた該試験セルまたはフレームを受信・消滅
する試験セルまたはフレーム送受信機能部と、 上記試験セルまたはフレーム監視機能部の蓄積エリアに
保持されている欠落試験セルまたはフレームのシーケン
ス番号を読出し、試験セルまたはフレーム監視機能部対
応の記憶エリアに、読出されたシーケンス番号の有無を
記憶して、被擬区間特定のための情報とする試験結果収
集機能部とを有することを特徴とする回線試験装置。 - 【請求項２】請求項１に記載の回線試験装置において、
前記試験セルまたはフレームのペイロード部にシーケン
ス番号を記入するフィールドを設け、 当該フィールドにシーケンス番号を初期値から１ずつ増
加させながら試験セルまたはフレームを発生させ、該試
験セルまたはフレームを試験ループに送出するととも
に、当該セルまたはフレームを受信・消滅させる試験セ
ルまたはフレーム送受信機能部を、交換装置の外部に取
り付けることを特徴とする回線試験装置。 - 【請求項３】回線試験機能部を具備する交換装置を用
い、固定長のセルを用いるＡＴＭ方式、またはフレーム
を用いるフレームリレー方式により通信を行う通信シス
テムの回線試験方法において、 ユーザ端末を含むユーザ通信回線、または回線終端装置
におけるユーザ端末を切り離すような折り返し状態のユ
ーザ通信回線、またはユーザ端末を収容する加入者交換
装置においてユーザ端末を切り離すような折り返し状態
のユーザ通信回線が、それぞれ構成する試験ループ上の
一点に試験セルまたはフレームを送受信する試験セルま
たはフレーム送受信機能部を配置し、 該試験セルまたはフレーム送受信機能部からシーケンス
番号を付与した試験セルまたはフレームを発生して、該
試験セルまたはフレームを上記試験ループに送出し、上
記回線試験機能部を含む該試験ループを巡環して戻って
きた該試験セルまたはフレームを該試験セルまたはフレ
ーム送受信機能部により受信・消滅することを特徴とす
る回線試験方法。 - 【請求項４】請求項３に記載の回線試験方法において、
前記試験ループ上を通過する試験セルまたはフレームを
前記回線試験機能部によりモニタし、該試験セルまたは
フレームのペイロード部に記入されたシーケンス番号の
連続性を監視し、該シーケンス番号に欠落があった場合
には、該試験セルまたはフレームの損失とみなし、該試
験セルまたはフレームのシーケンス番号を該回線試験機
能部内に備えられた損失セルまたはフレーム蓄積エリア
に保持し、 該試験セルまたはフレームの送出完了後、該試験ループ
を構成する上記回線試験機能部内の試験セルまたはフレ
ーム蓄積エリアを該試験ループ上の試験セルの進行方向
の順に損失シーケンス番号の有無を確認し、最初にシー
ケンス番号が保持された損失セルまたはフレーム蓄積エ
リアを有する交換装置の回線試験機能部と該機能部の前
段の交換装置の回線試験機能部の間を被擬区間として特
定することを特徴とする回線試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4996396A JP3131945B2 (ja) | 1996-03-07 | 1996-03-07 | 回線試験装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4996396A JP3131945B2 (ja) | 1996-03-07 | 1996-03-07 | 回線試験装置及び方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09247160A true JPH09247160A (ja) | 1997-09-19 |
| JP3131945B2 JP3131945B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=12845688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4996396A Expired - Fee Related JP3131945B2 (ja) | 1996-03-07 | 1996-03-07 | 回線試験装置及び方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3131945B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6925062B2 (en) | 1999-12-17 | 2005-08-02 | Nec Corporation | ATM test equipment operable as source and responder for conducting multiple tests |
| WO2010098300A1 (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-02 | 日本電気株式会社 | 通信ネットワーク管理システム、方法、及び管理計算機 |
| US7894368B2 (en) | 2002-12-06 | 2011-02-22 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | OVPN system, OVPN terminating device, collective controlling device, and optical communication network |
-
1996
- 1996-03-07 JP JP4996396A patent/JP3131945B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6925062B2 (en) | 1999-12-17 | 2005-08-02 | Nec Corporation | ATM test equipment operable as source and responder for conducting multiple tests |
| US7894368B2 (en) | 2002-12-06 | 2011-02-22 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | OVPN system, OVPN terminating device, collective controlling device, and optical communication network |
| WO2010098300A1 (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-02 | 日本電気株式会社 | 通信ネットワーク管理システム、方法、及び管理計算機 |
| US8750134B2 (en) | 2009-02-25 | 2014-06-10 | Nec Corporation | Communication network management system and method and management computer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3131945B2 (ja) | 2001-02-05 |
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