JPH09232703A - Chip mounted printed-wiring board - Google Patents

Chip mounted printed-wiring board

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JPH09232703A
JPH09232703A JP6535896A JP6535896A JPH09232703A JP H09232703 A JPH09232703 A JP H09232703A JP 6535896 A JP6535896 A JP 6535896A JP 6535896 A JP6535896 A JP 6535896A JP H09232703 A JPH09232703 A JP H09232703A
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JP
Japan
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insulating resin
wiring board
chip
printed wiring
weight
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Application number
JP6535896A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoichi Haruta
要一 春田
Takeya Matsumoto
健也 松本
Hiroshi Niitsuma
裕志 新妻
Hideki Hiraoka
秀樹 平岡
Masahiro Fujiwara
正裕 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toagosei Co Ltd
Original Assignee
Toagosei Co Ltd
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Publication date
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    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To relax a stress between a bare chip and a resin-impregnated glass- cloth laminated board by a method wherein conductor circuits are formed on an insulative resin layer on the resin-impregnated laminated board and bumps on a chip component are connected with electrodes on the conductor circuits. SOLUTION: An internal layer board 1 of a glass epoxy laminated board having conductor circuits 2 is prepared and the circuits 2 are blackened. Then, the resin layer side of a copper-clad insulating sheet formed with a resin layer 3 is superposed on one surface of this board 1 and laminating of the insulating sheet and the board 1 is conducted to form a copper-clad laminated board panel. Microscopic holes are provided in prescribed positions on a copper foil on the surface of the layer 3 by selective etching and a resin composition under the holes is dissolved to form blind via holes. Then, an electroless copper plating and an electrical copper plating are applied to the blind via holes to form plated blind via holes 8. Then, after the copper foil on the surface of the layer 3 is etched, an electroless gold plating is applied to the copper foil to provide conductor patterns and electrodes 4 for bump connection use.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は高密度実装に適した
チップ実装プリント配線板に関するものである。特に半
導体ベアチップ実装時の加熱による熱応力を緩和し、半
導体チップの接続信頼性に優れたプリント配線板を提供
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip mounting printed wiring board suitable for high density mounting. In particular, the present invention provides a printed wiring board that is excellent in connection reliability of a semiconductor chip by relaxing thermal stress due to heating when mounting a semiconductor bare chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器の小型化、多機能化に伴って、
現在プリント配線板はより高密度化の方向に進んでい
る。例えば、導体回路の細線化、高多層化;スルーバイ
アホール、ブラインドバイアホールまたはバリードバイ
アホール等のインタースティシャルバイアホールを含む
スルーホールの小径化;小型チップ部品の表面実装によ
る高密度実装等が挙げられる。
2. Description of the Related Art As electronic devices have become smaller and more multifunctional,
Currently, printed wiring boards are moving toward higher densities. For example, thinning conductor circuits and increasing the number of layers; reducing the diameter of through holes including through via holes, blind via holes, and interstitial via holes such as balled via holes; and high-density mounting by surface mounting of small chip components. Is mentioned.

【0003】高密度化実装としては、有機材料を使用し
たマルチチップモジュールMCM−L、さらに高密度化
実装になるとセラミックを使用したMCM−C、また基
板材料を問わず、セラミック、シリコンウエハ、金属板
上に回路を多層化させたMCM−D等が多く使用され
る。これらは高密度の必要度と経済性を考慮して選択し
設計されている。つまりMCM−L、MCM−C、MC
M−Dになるに従って実装密度は大きくなる反面高価に
なっている。
For high-density mounting, a multi-chip module MCM-L using an organic material, MCM-C using ceramic for higher-density mounting, and ceramics, silicon wafers, metals regardless of the substrate material are used. MCM-D and the like in which circuits are multilayered on a board are often used. These are selected and designed in consideration of the need for high density and economy. That is, MCM-L, MCM-C, MC
The mounting density increases as the size becomes MD, but it is expensive.

【0004】価格を重視する場合にはMCM−Lを使用
するのが好ましい。その場合MCM−Lは通常ベース材
料に汎用性のあるガラスエポキシ積層板、ガラスクロス
ポリイミド積層板またはビスマレイミド積層板等の樹脂
含浸ガラスクロス積層板を使用する。しかしながら、半
導体ベアチップと上記の積層板は熱膨張、収縮率に整合
性がない。例えばガラスエポキシ基材の熱膨張係数は
1.5×10-5/℃でシリコンでは2.6×10-4/℃
となり1桁違うことになり、収縮時の応力も大きくな
る。
When price is important, it is preferable to use MCM-L. In that case, MCM-L usually uses a resin-impregnated glass cloth laminate such as a glass epoxy laminate, a glass cloth polyimide laminate or a bismaleimide laminate, which is a versatile base material. However, the semiconductor bare chip and the above-mentioned laminated plate are not compatible with each other in thermal expansion and contraction rates. For example, the coefficient of thermal expansion of glass epoxy base material is 1.5 × 10 -5 / ° C and that of silicon is 2.6 × 10 -4 / ° C.
The difference is an order of magnitude, and the stress during contraction also increases.

【0005】MCM−Lの代表的なものは、ベアチップ
のはんだバンプや金バンプと積層板上の導体回路間を接
続し、ベアチップを封止剤で被覆している。この工程に
おいて140℃〜170℃で数十分加熱すると冷却後樹
脂には収縮応力が残り、MCMとしてそり・ねじれが発
生し樹脂にクラックが生じやすくなる。またバンプ接続
部分にも応力が集中し破損しやすくなることからベアチ
ップ実装の信頼性が十分に得られなかった。
A typical MCM-L is one in which a solder bump or a gold bump of a bare chip is connected to a conductor circuit on a laminated plate and the bare chip is covered with a sealant. In this step, if heating is performed at 140 ° C. to 170 ° C. for several tens of minutes, shrinkage stress remains in the resin after cooling, and warping / twisting occurs as MCM, and cracking easily occurs in the resin. In addition, the stress is concentrated on the bump connection portion and the damage tends to occur, so that the reliability of bare chip mounting cannot be sufficiently obtained.

【0006】一方、一般に絶縁性樹脂を難燃化する場合
には、通常臭素化化合物を添加する。その場合該樹脂中
には臭素イオンや臭素化化合物製造時に混入する塩素イ
オン等のイオン性不純物が存在し、高温吸湿化でイオン
が移行して半導体ベアチップのアルミ配線の腐食という
問題も発生していた。
On the other hand, generally, in the case of making an insulating resin flame-retardant, a brominated compound is usually added. In that case, ionic impurities such as bromine ions and chlorine ions mixed in during the production of brominated compounds are present in the resin, and the ion migration due to high temperature moisture absorption causes a problem of corrosion of aluminum wiring of the semiconductor bare chip. It was

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記従来法の
欠点をなくし、信頼性の高いチップ実装プリント配線板
を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention eliminates the above-mentioned drawbacks of the conventional method and provides a highly reliable chip-mounted printed wiring board.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、樹脂含浸ガラ
スクロス積層板の片面または両面に、加熱時にゴム弾性
を有する絶縁性樹脂の層を形成し、該絶縁性樹脂の層の
上に導体回路を形成し、該導体回路のパッドにチップ部
品のバンプを接続してなるチップ実装プリント配線板に
より、第一の目的であるベアチップと樹脂含浸ガラスク
ロス積層板との応力緩和を達成するものである。
According to the present invention, a layer of an insulating resin having rubber elasticity when heated is formed on one surface or both surfaces of a resin-impregnated glass cloth laminate, and a conductor is formed on the insulating resin layer. A chip mounting printed wiring board formed by forming a circuit and connecting bumps of a chip component to the pads of the conductor circuit achieves the first purpose of stress relaxation between the bare chip and the resin-impregnated glass cloth laminate. is there.

【0009】すなわち、はんだや金めっき等のバンプを
有するベアチップをプリント配線板の導体回路からなる
パッドに実装する場合にはバンプを加熱および加圧して
接続する。その場合、加熱した状態で加圧すると絶縁性
樹脂がゴム状となるため、バンプの高さのばらつきがあ
っても導体回路の各パッドが追随し、冷却後も応力が集
中することがなくなり、バンプの接続信頼性が向上する
ことになる。また、ベアチップ実装後、封止剤で被覆す
るときに150℃程度まで加熱した場合、積層板上に加
熱時にゴム状となる絶縁性樹脂の層が存在し、その絶縁
性樹脂の層の上の導体回路からなるパッドには加熱中の
応力集中はなく、冷却時にも絶縁性樹脂により応力が分
散され、封止剤にはクラックが入り難く、バンプ接続部
分へ応力集中による破損も防止できる。
That is, when a bare chip having a bump such as solder or gold plating is mounted on a pad composed of a conductor circuit of a printed wiring board, the bump is heated and pressed to be connected. In that case, since the insulating resin becomes rubber-like when pressed in a heated state, each pad of the conductor circuit follows even if there are variations in the height of the bumps, and stress is not concentrated even after cooling. The bump connection reliability will be improved. In addition, after the bare chip is mounted, when it is heated up to about 150 ° C. when it is covered with the sealant, there is an insulating resin layer which becomes rubber-like on the laminated plate, and the insulating resin layer is formed on the insulating resin layer. There is no stress concentration on the pad made of the conductor circuit during heating, the stress is dispersed by the insulating resin even during cooling, cracks are less likely to occur in the encapsulant, and damage to the bump connection portion due to stress concentration can be prevented.

【0010】加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂と
は、常温では固体状であり、140℃以上でその動的粘
弾性率E’が1×109 dyn/cm2 以下となるもの
である。
The insulating resin having rubber elasticity when heated is solid at room temperature and has a dynamic viscoelastic modulus E ′ of 1 × 10 9 dyn / cm 2 or less at 140 ° C. or higher.

【0011】第二の本発明は、表面に導体回路を有する
樹脂含浸ガラスクロス積層板からなる内層基板の片面ま
たは両面に、加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂の層
を形成し、該絶縁性樹脂の層の上に表面の導体回路を形
成し、該絶縁性樹脂の層を貫通して内層基板上の導体回
路と表面の導体回路とをめっきで接続させてなり、かつ
表面の導体回路の電極にチップ部品のバンプを接続して
なるブラインドバイアホールを有するチップ実装プリン
ト配線板である。
In a second aspect of the present invention, a layer of an insulating resin having rubber elasticity when heated is formed on one or both sides of an inner layer substrate composed of a resin-impregnated glass cloth laminate having a conductor circuit on the surface, A conductor circuit on the surface is formed on a resin layer, the conductor circuit on the inner layer substrate and the conductor circuit on the surface are connected by plating through the insulating resin layer, and the conductor circuit on the surface is formed. It is a chip mounting printed wiring board having a blind via hole formed by connecting a bump of a chip component to an electrode.

【0012】上記のブラインドバイアホールを設けた高
密度多層プリント配線板は、ベアチップ実装が可能であ
り、かつ前述と同様層間の絶縁性樹脂の応力緩和効果に
より、バンプの接続信頼性が向上することになる。
The high-density multilayer printed wiring board provided with the blind via holes described above can be mounted on bare chips, and the connection reliability of bumps can be improved by the stress relaxation effect of the insulating resin between layers as described above. become.

【0013】第三の本発明は、第一または第二の本発明
を構成する、加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂とし
て、(1) アクリル酸および/またはメタクリル酸(以下
「(メタ)アクリル酸」と称する。)と、(メタ)アク
リル酸エステルとを主成分とする線状重合体(以下「未
変性アクリル系ポリマー」と称する。)であって、その
構成成分である(メタ)アクリル酸に由来するカルボキ
シル基の一部にグリシジル基およびC=C不飽和二重結
合を有する化合物を付加させた重合物(以下「第1成
分」と称する。)、(2) 末端にC=C不飽和二重結合を
有する重合性化合物(以下「第2成分」と称する。)、
並びに(3) 加熱および/または活性エネルギー線の照射
によりC=C不飽和二重結合の重合を開始させ得る重合
開始剤(以下「第3成分」と称する。)からなるアルカ
リ可溶性の樹脂組成物を使用するものであり、これによ
りブラインドバイアホールの形成が、後述のとおり該樹
脂組成物をアルカリ溶解する方法で極めて容易になさ
れ、しかも応力緩和が可能で、信頼性の高いブラインド
バイアホールを有するチップ実装プリント配線板が得ら
れる。
The third aspect of the present invention is (1) acrylic acid and / or methacrylic acid (hereinafter referred to as "(meth) acrylic") as the insulating resin having rubber elasticity when heated, which constitutes the first or second aspect of the present invention. Acid)) and a (meth) acrylic acid ester as a main component (hereinafter referred to as “unmodified acrylic polymer”), which is a constituent (meth) acrylic. A polymer obtained by adding a compound having a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond to a part of a carboxyl group derived from an acid (hereinafter referred to as "first component"), (2) C = C at the terminal A polymerizable compound having an unsaturated double bond (hereinafter referred to as "second component"),
And (3) an alkali-soluble resin composition comprising a polymerization initiator capable of initiating the polymerization of a C = C unsaturated double bond by heating and / or irradiation with an active energy ray (hereinafter referred to as "third component") Therefore, the blind via hole is formed very easily by the method of dissolving the resin composition with an alkali as described below, and stress relaxation is possible, and the blind via hole has high reliability. A chip-mounted printed wiring board is obtained.

【0014】第四の本発明は、第一または第二の本発明
の加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂として、(1) 前
記未変性アクリル系ポリマーであってその構成成分であ
る(メタ)アクリル酸に由来するカルボキシル基の一部
にグリシジル基およびC=C不飽和二重結合を有する化
合物と、グリシジル基を有するハロゲン化フェニル化合
物とを付加させた重合体(以下「第1’成分」と称す
る。)、(2) 前記第2成分、(3) 前記第3成分、並びに
(4) −OH基を有する無機イオン交換体(以下「第4成
分」と称する。)からなるアルカリ可溶性の樹脂組成物
を使用するものである。第四の本発明では難燃化組成で
しかもベアチップの腐食防止が可能となり、信頼性の高
いブラインドバイアホールを有するチップ実装プリント
配線板が得られる。
A fourth aspect of the present invention provides an insulating resin having rubber elasticity when heated according to the first or second aspect of the present invention, including (1) the unmodified acrylic polymer as a constituent component thereof (meth). A polymer obtained by adding a compound having a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond to a part of a carboxyl group derived from acrylic acid and a halogenated phenyl compound having a glycidyl group (hereinafter referred to as "first 'component"). (2) the second component, (3) the third component, and
(4) An alkali-soluble resin composition comprising an inorganic ion exchanger having a —OH group (hereinafter referred to as “fourth component”) is used. In the fourth aspect of the present invention, it is possible to obtain a chip-mounted printed wiring board which has a flame retardant composition and can prevent corrosion of bare chips, and which has a highly reliable blind via hole.

【0015】第1’成分を選択して絶縁性樹脂組成物に
難燃性を付与した場合に、ハロゲン等が不純物として混
入されるため該組成物の純度が低下し、絶縁信頼性や導
体の腐食等の問題が発生し易くなる。そこで−OH基を
有する無機イオン交換体をさらに添加して不純物イオン
を捕捉することにより該問題を解決することができる。
When flame retardancy is imparted to the insulating resin composition by selecting the 1'component, halogen and the like are mixed as impurities, so that the purity of the composition is lowered and the insulation reliability and the conductor Problems such as corrosion easily occur. Therefore, the problem can be solved by further adding an inorganic ion exchanger having an —OH group to trap impurity ions.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】第三または第四の本発明における
未変性アクリル系ポリマーは、例えばメチルアクリレー
トおよび/またはメチルメタクリレート(以下「アクリ
レートおよび/またはメタクリレート」を「(メタ)ア
クリレート」と称する。)、ブチル(メタ)アクリレー
ト、ヘキシル(メタ)アクリレート、ヒドロキシエチル
(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)ア
クリレートまたはテトラヒドロフルフリル(メタ)アク
リレート等の(メタ)アクリル酸エステル、並びに(メ
タ)アクリル酸を、所望の組成比率で、溶媒、好ましく
はイソプロピルアルコール、エチレングリコールモノエ
チルエーテルまたはプロピレングリコールモノメチルエ
ーテル等のアルコール系溶媒に溶解し、アゾビスイソブ
チロニトリルまたはベンゾイルパーオキサイド等を開始
剤とし、共重合させることにより得ることができる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The unmodified acrylic polymer in the third or fourth aspect of the present invention is, for example, methyl acrylate and / or methyl methacrylate (hereinafter “acrylate and / or methacrylate” is referred to as “(meth) acrylate”). ), Butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate or tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate and the like, and (meth) acrylic acid Is dissolved in a solvent, preferably an alcohol solvent such as isopropyl alcohol, ethylene glycol monoethyl ether or propylene glycol monomethyl ether, at a desired composition ratio, and azobisisobutyronitrile or And the initiator benzoyl peroxide and the like, can be obtained by copolymerizing.

【0017】未変性アクリル系ポリマーには、(メタ)
アクリル酸および(メタ)アクリル酸エステル以外の単
量体として、これら以外のスチレンまたはアクリロニト
リル等のビニル系単量体を、未変性アクリル系ポリマー
を構成する全モノマーのうち25モル%以下の割合で共
重合させることも可能であり、ビニル系単量体のうちス
チレンを使用すると耐熱性が上がるので好ましい。
The unmodified acrylic polymer includes (meth)
As monomers other than acrylic acid and (meth) acrylic acid esters, vinyl monomers such as styrene and acrylonitrile other than these are used in a proportion of 25 mol% or less of all monomers constituting the unmodified acrylic polymer. Copolymerization is also possible, and it is preferable to use styrene among vinyl monomers because heat resistance is increased.

【0018】未変性アクリル系ポリマーの好ましい分子
量(ゲルパーミュエーションクロマトグラフによるスチ
レン換算重量平均分子量)は、10,000〜100,
000で、より好ましくは20,000〜70,000
である。分子量が小さ過ぎると耐熱性および耐湿性等が
低下し、分子量が大き過ぎるとアルカリ溶解性が低下す
る。
The preferred molecular weight of the unmodified acrylic polymer (styrene-equivalent weight average molecular weight by gel permeation chromatography) is 10,000 to 100,
000, more preferably 20,000 to 70,000
It is. If the molecular weight is too small, the heat resistance and moisture resistance will decrease, and if the molecular weight is too large, the alkali solubility will decrease.

【0019】また、(メタ)アクリル酸と(メタ)アク
リル酸エステルの比率は、アルカリ可溶性の点で最終の
樹脂組成物としての酸価が0.5〜3.0の範囲内とな
る値に調整することが好ましく、酸の一部がグリシジル
基を有するエチレン性不飽和化合物およびグリシジル基
を有するハロゲン化フェニル化合物との付加に利用され
ることを考慮すると、(メタ)アクリル酸は未変性アク
リル系ポリマーを構成する全モノマーのうち25〜60
モル%であることが好ましい。なお、第三または第四の
本発明の樹脂組成物において、アルカリ可溶性とは、通
常のソルダーレジストの除去等に使用する条件、すなわ
ち0.1〜1重量%の炭酸ソーダ水溶液を用いて30〜
40℃で、溶解することを指す。
Further, the ratio of (meth) acrylic acid to (meth) acrylic ester is such that the acid value of the final resin composition is within the range of 0.5 to 3.0 in view of alkali solubility. Considering that a part of the acid is used for addition with an ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group and a halogenated phenyl compound having a glycidyl group, (meth) acrylic acid is an unmodified acrylic acid. 25-60 of all the monomers that make up the base polymer
Preferably it is mol%. In addition, in the resin composition of the third or fourth aspect of the present invention, the term "alkali-soluble" means that the conditions used for usual removal of a solder resist or the like, that is, 30 to 30% by using an aqueous solution of sodium carbonate of 0.1 to 1% by weight.
Dissolves at 40 ° C.

【0020】第三または第四の本発明の第1成分は、未
変性アクリル系ポリマー中に共重合させた(メタ)アク
リル酸に由来するカルボキシル基に、グリシジル基およ
びC=C不飽和二重結合を有する化合物を付加させたも
のである。さらに難燃性を必要とする場合は、前記化合
物に加えグリシジル基を有するハロゲン化フェニル化合
物を付加させて、前記第1’成分とすることが好まし
い。以下これら化合物について説明する。
The first component of the third or fourth aspect of the present invention comprises a carboxyl group derived from (meth) acrylic acid copolymerized in an unmodified acrylic polymer, a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond. A compound having a bond is added. Further, when flame retardancy is required, it is preferable to add a halogenated phenyl compound having a glycidyl group to the above compound to form the first component. These compounds will be described below.

【0021】グリシジル基およびC=C不飽和二重結合
を有する化合物としては、グリシジル(メタ)アクリレ
ート、アリルグリシジルエーテル、ビニルベンジルグリ
シジルエーテルおよび4−グリシジルオキシ−3,5−
ジメチルベンジルアクリルアミド等が挙げられ、これら
の中では、酸への付加反応が容易な点からグリシジル
(メタ)アクリレートが好ましい。本発明ではこの化合
物が未変性アクリル系ポリマーに付加した状態で第2成
分と架橋を起こすため、耐熱性および耐湿性が大幅に向
上するものと考えられる。
Examples of the compound having a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond include glycidyl (meth) acrylate, allyl glycidyl ether, vinylbenzyl glycidyl ether and 4-glycidyloxy-3,5-.
Glycidyl (meth) acrylate is preferred among these, from the viewpoint that the addition reaction to the acid is easy. In the present invention, it is considered that the heat resistance and the humidity resistance are significantly improved because the compound cross-links with the second component in a state of being added to the unmodified acrylic polymer.

【0022】グリシジル基およびC=C不飽和二重結合
を有する化合物の付加量は、未変性アクリル系ポリマー
を構成する全モノマーの10〜25モル%とすることが
好ましい。10モル%未満では、耐熱性や耐湿性が充分
に発揮されず、また25モル%を超えると、未変性アク
リル系ポリマー中に(メタ)アクリル酸が多過ぎること
になり、該ポリマーの物性が低下するため、いずれも好
ましくない。
The addition amount of the compound having a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond is preferably 10 to 25 mol% of all the monomers constituting the unmodified acrylic polymer. If it is less than 10 mol%, heat resistance and moisture resistance will not be sufficiently exhibited, and if it exceeds 25 mol%, the amount of (meth) acrylic acid in the unmodified acrylic polymer will be too large, and the physical properties of the polymer will be low. Both of them are not preferable because they decrease.

【0023】グリシジル基を有するハロゲン化フェニル
化合物の付加量は、未変性アクリル系ポリマーを構成す
る全モノマーの5〜25モル%とすることが好ましい。
5モル%未満では、難燃性が充分に発揮されず、また2
5モル%を超えると、はんだ耐熱性が悪くなり、いずれ
も好ましくない。
The addition amount of the halogenated phenyl compound having a glycidyl group is preferably 5 to 25 mol% of all the monomers constituting the unmodified acrylic polymer.
If it is less than 5 mol%, the flame retardancy is not sufficiently exerted, and 2
If it exceeds 5 mol%, the solder heat resistance is deteriorated, which is not preferable.

【0024】グリシジル基を有するハロゲン化フェニル
化合物としては、ジブロモフェニルグリシジルエーテ
ル、トリブロモフェニルグリシジルエーテル、ジクロロ
フェニルグリシジルエーテルおよびジブロモクレジルグ
リシジルエーテル等1分子中にグリシジル基を2個以上
有する化合物、並びにテトラブロモビスフェノールAの
ジグリシジルエーテル等のように、1分子中にグリシジ
ル基を2個以上有する化合物が挙げられるが、後者の化
合物は(メタ)アクリル酸への付加反応プロセスにおい
て、1分子中の複数のグリシジル基が反応することによ
りゲル化が起こり易く、反応のコントロールが困難なた
め、前者の化合物の使用がより好ましい。またハロゲン
原子としては少量でも良好な難燃性が得られる点で臭素
が好ましい。
Examples of the halogenated phenyl compound having a glycidyl group include a compound having two or more glycidyl groups in one molecule such as dibromophenylglycidyl ether, tribromophenylglycidyl ether, dichlorophenylglycidyl ether and dibromocresylglycidyl ether, and tetra A compound having two or more glycidyl groups in one molecule, such as diglycidyl ether of bromobisphenol A, can be mentioned. The latter compound is used in the addition reaction process to (meth) acrylic acid and a plurality of compounds in one molecule can be used. It is more preferable to use the former compound because the reaction of the glycidyl group of (1) causes gelation and the reaction is difficult to control. In addition, as the halogen atom, bromine is preferable because a small amount of halogen atom can provide good flame retardancy.

【0025】本発明の絶縁性樹脂に難燃性を付与するた
めには、前記第1’成分を用いる代わりに、前記第1成
分に臭素化フェノール化合物のグリシジルエーテルと
(メタ)アクリル酸との反応物を配合して使用すること
もできるが、樹脂への相溶性が悪いとの理由から、第
1’成分の使用の方がより好ましい。なお、該反応物を
第1’成分を用いた絶縁性樹脂に配合して、さらに難燃
性を高めることも可能である。
In order to impart flame retardancy to the insulating resin of the present invention, a glycidyl ether of a brominated phenol compound and (meth) acrylic acid are used as the first component instead of the first 'component. Although the reaction product can be blended and used, it is more preferable to use the 1'component because it has poor compatibility with the resin. It is also possible to further enhance the flame retardancy by blending the reaction product with an insulating resin containing the first 'component.

【0026】次に、第2成分としての末端にC=C不飽
和二重結合を有する重合性化合物について説明する。こ
れは、末端にアクリロイル基および/またはメタクリロ
イル基(以下「(メタ)アクリロイル基」と称す
る。)、アリル基或いはビニル基等を有し、紫外線等の
活性エネルギー線の照射および/または加熱により重合
(架橋)を起こし得る化合物である。
Next, the polymerizable compound having a C = C unsaturated double bond at the terminal as the second component will be described. It has an acryloyl group and / or a methacryloyl group (hereinafter referred to as “(meth) acryloyl group”), an allyl group or a vinyl group at the terminal, and is polymerized by irradiation with active energy rays such as ultraviolet rays and / or heating. It is a compound capable of causing (crosslinking).

【0027】具体的には二重結合が1個のメチル(メ
タ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、2−
エチルヘキシル(メタ)アクリレート、ヒドロキシエチ
ル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)
アクリレートまたは2−ヒドロキシ−3−フェノキシプ
ロピル(メタ)アクリレート等の単官能(メタ)アクリ
レート類;スチレンまたはアクリロニトリル等のビニル
基を有する化合物が挙げられる。二重結合が2個のもの
では、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレー
ト、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポ
リエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプ
ロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ビスフェ
ノールA型エポキシのジ(メタ)アクリレートまたはウ
レタン(メタ)アクリレート等のジ(メタ)アクリレー
ト類;ジアリルフタレートまたはビスフェノールAのジ
アリルエーテル等アリル化合物類が挙げられる。また、
二重結合が3個以上のものでは、トリメチロールプロパ
ントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールト
リ(メタ)アクリレートまたはジペンタエリスリトール
ヘキサ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
Specifically, methyl (meth) acrylate having one double bond, butyl (meth) acrylate, 2-
Ethylhexyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth)
Examples thereof include monofunctional (meth) acrylates such as acrylate or 2-hydroxy-3-phenoxypropyl (meth) acrylate; and compounds having a vinyl group such as styrene or acrylonitrile. With two double bonds, 1,3-butanediol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, and bisphenol A type epoxy can be used. Examples thereof include di (meth) acrylates such as di (meth) acrylate or urethane (meth) acrylate; and allyl compounds such as diallyl phthalate or diallyl ether of bisphenol A. Also,
When the number of double bonds is 3 or more, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, etc. may be mentioned.

【0028】上記重合性化合物のうち、二重結合が3個
以上の化合物を使用すると、架橋密度が高くなり、耐熱
性は増すが硬化後の樹脂は硬くて脆く、銅はくや基板へ
の密着性が悪くなる。一方、二重結合が2個以下の化合
物ではこの逆で、密着性は良くなるが、耐熱性が悪くな
る。従って、3個以上の化合物と2個以下の化合物を3
0重量部/70重量部〜70重量部/30重量部の範囲
で混合・配合するのが好ましい。また第1成分または第
1’成分との相溶性の点から、二重結合2個の化合物と
してはウレタン(メタ)アクリレートまたはポリエチレ
ングリコールジ(メタ)アクリレートが、3個の化合物
としてはトリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレ
ートまたはペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレ
ートが好ましい。第2成分の配合量は、第1成分または
第1’成分並びに第2成分の合計量を基準として、20
〜50重量%の範囲が耐熱性と密着性の点から好まし
い。
When a compound having three or more double bonds is used among the above-mentioned polymerizable compounds, the crosslink density is increased and the heat resistance is increased, but the resin after curing is hard and brittle, and it is difficult to form a copper foil or a substrate. Adhesion becomes poor. On the other hand, in the case of a compound having two or less double bonds, the adhesion is improved, but the heat resistance is deteriorated. Therefore, 3 or more compounds and 2 or less compounds
It is preferable to mix and blend in the range of 0 parts by weight / 70 parts by weight to 70 parts by weight / 30 parts by weight. Further, from the viewpoint of compatibility with the first component or the first component, urethane (meth) acrylate or polyethylene glycol di (meth) acrylate is used as the compound having two double bonds, and trimethylolpropane is used as the compound having three double bonds. Tri (meth) acrylate or pentaerythritol tri (meth) acrylate is preferred. The blending amount of the second component is 20 based on the total amount of the first component or the first ′ component and the second component.
The range of ˜50 wt% is preferable from the viewpoint of heat resistance and adhesion.

【0029】第3成分である重合開始剤のうち、活性エ
ネルギー線による重合開始剤としては、芳香族ケトンの
ベンゾフェノン、ミヒラーケトン、キサントン、チオキ
サントンまたは2−エチルアントラキノン;アセトフェ
ノン類としてアセトフェノン、トリクロロアセトフェノ
ン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、1
−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンゾイ
ンイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテ
ルまたは2,2−ジエトキシアセトフェノン等;ジケト
ン類としてベンジルまたはメチルベンゾイルフォルメー
ト等が挙げられ、その配合量は第1成分または第1’成
分並びに第2成分の合計量100重量部に対して0.5
〜10重量部が好ましい。0.5重量部未満では硬化が
不十分となり耐熱性が劣り、10重量部を超えると組成
物中に分解物が多く残り可塑剤的な効果が発現してやは
り耐熱性が劣り易くなる。なお活性エネルギー線のうち
電子線を用いて硬化させる場合はこの重合開始剤を省い
てもよい。
Among the polymerization initiators as the third component, as the polymerization initiator by active energy rays, aromatic ketones such as benzophenone, Michler's ketone, xanthone, thioxanthone or 2-ethylanthraquinone; acetophenones as acetophenone, trichloroacetophenone, 2 -Hydroxy-2-methylpropiophenone, 1
-Hydroxycyclohexyl phenyl ketone, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, 2,2-diethoxyacetophenone, etc .; examples of the diketone include benzyl or methylbenzoyl formate, and the amount thereof is the first component or the first 'component and 0.5 based on 100 parts by weight of the total amount of the second component
-10 parts by weight is preferred. If the amount is less than 0.5 part by weight, curing is insufficient and the heat resistance is poor. If the amount is more than 10 parts by weight, a large amount of decomposed products remain in the composition and a plasticizer effect is exhibited, and the heat resistance tends to be poor. When the curing is performed using an electron beam among the active energy rays, this polymerization initiator may be omitted.

【0030】加熱による開始剤としては、有機過酸化物
系またはアゾビス系が挙げられ、保存安定性を得るため
には分解開始温度が高いものが好ましい。例としてジク
ミルパーオキサイド、t−ブチルクミルパーオキサイ
ド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオ
キシ)ヘキサンまたは2,5−ジメチル−2,5−ジ
(t−ブチルパーオキシ)ヘキシン等が挙げられる。そ
の配合量は、第1成分または第1’成分並びに第2成分
の合計量100重量部に対して0.5〜10重量部が好
ましい。0.5重量部未満では硬化が不十分となり耐熱
性が劣り、10重量部を超えると組成物中に分解物が多
く残り可塑剤的な効果が発現してやはり耐熱性が劣り易
くなる。
The heating initiator may be an organic peroxide type or an azobis type initiator, and one having a high decomposition initiation temperature is preferable for obtaining storage stability. Examples are dicumyl peroxide, t-butyl cumyl peroxide, 2,5-dimethyl-2,5-di (t-butylperoxy) hexane or 2,5-dimethyl-2,5-di (t-butylperoxide). (Oxy) hexyne and the like. The blending amount thereof is preferably 0.5 to 10 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the first component or the first 'component and the second component. If the amount is less than 0.5 part by weight, curing is insufficient and the heat resistance is poor. If the amount is more than 10 parts by weight, a large amount of decomposed products remain in the composition and a plasticizer effect is exhibited, and the heat resistance tends to be poor.

【0031】絶縁性樹脂組成物を硬化させるには活性エ
ネルギー線または加熱のいずれの手段を用いてもよい
が、活性エネルギー線だけでは耐熱性が十分に上がらな
い場合が多いので、加熱による硬化を併用することが好
ましい。
Any means of active energy rays or heating may be used to cure the insulating resin composition. However, since heat resistance is not sufficiently increased only by active energy rays in many cases, curing by heating is not recommended. It is preferable to use them together.

【0032】本発明の絶縁性樹脂組成物に難燃性を持た
せるには、グリシジル基を有するハロゲン化フェニル化
合物を側鎖に導入した重合体を主成分とするのに加え
て、リンまたはリン系難燃剤を少量配合することが好ま
しい。本来は難燃化機能に乏しいリンまたはリン系難燃
剤を少量配合することによって、難燃性に関する相乗効
果が生じ、ハロゲン化フェニル化合物の必要導入量が低
減されて、樹脂組成物の耐熱性および電気的な絶縁性を
損なうことなく、良好な難燃性を具備させ得ることがで
きる。
In order to impart flame retardancy to the insulating resin composition of the present invention, phosphorus or phosphorus is used in addition to the main component being a polymer having a halogenated phenyl compound having a glycidyl group introduced into its side chain. It is preferable to add a small amount of the flame retardant. By adding a small amount of phosphorus or a phosphorus-based flame retardant, which originally has a poor flame retardant function, a synergistic effect regarding flame retardancy occurs, the required introduction amount of a halogenated phenyl compound is reduced, and heat resistance of the resin composition and Good flame retardancy can be provided without impairing electrical insulation.

【0033】ここでリン系難燃剤とは、通常、難燃性を
付与するための添加剤として多用されているリン化合物
であり、リン酸エステル系として、トリフェニルホスフ
ェート、トリクレジルホスフェート、クレジルジフェニ
ルホスフェートまたはトリブチルホスフェート等、また
含ハロゲンリン酸エステルとしてトリスクロロエチルエ
チルホスフェート、トリスジクロロプロピルホスフェー
トまたはトリス(トリブロモフェニル)ホスフェート等
が挙げられる。さらに化合物ではなく、純粋なリンその
ものである赤リンも使用可能である。
Here, the phosphorus-based flame retardant is a phosphorus compound that is often used as an additive for imparting flame retardancy. As a phosphoric acid ester-based compound, triphenyl phosphate, tricresyl phosphate, and cresyl phosphate are used. Examples thereof include dil diphenyl phosphate or tributyl phosphate, and examples of the halogen-containing phosphate ester include trischloroethyl ethyl phosphate, tris dichloropropyl phosphate, tris (tribromophenyl) phosphate and the like. Furthermore, red phosphorus, which is pure phosphorus itself, can be used instead of the compound.

【0034】本発明に使用する絶縁性樹脂組成物におけ
るハロゲンおよびリンの総含有量は、第1成分または第
1’成分、第2成分、第3成分並びにリンまたはリン系
難燃剤の合計量を基準にして、ハロゲンが2〜20重量
%で、リンが0.2〜5重量%が好ましい。ハロゲンの
含有量が2重量%未満では難燃性が不十分であり、20
重量%を超えるとはんだ耐熱性が悪くなる。またリンの
含有量が0.2重量%未満では同様に難燃性が不十分に
なり、5重量%を超えると耐熱性、耐湿性および電気絶
縁性が悪くなる。またより好ましいハロゲンの含有量は
8〜15重量%で、より好ましいリンの含有量は0.5
〜2重量%である。なおハロゲンの中では、前記のよう
に難燃性の効果の点で臭素が最も好ましい。
The total content of halogen and phosphorus in the insulating resin composition used in the present invention is the total amount of the first component or the first 'component, the second component, the third component and the phosphorus or phosphorus flame retardant. 2 to 20% by weight of halogen and 0.2 to 5% by weight of phosphorus are preferable. If the halogen content is less than 2% by weight, the flame retardancy is insufficient, and
If it exceeds 5% by weight, the soldering heat resistance becomes poor. When the content of phosphorus is less than 0.2% by weight, the flame retardancy is also insufficient, and when it exceeds 5% by weight, heat resistance, moisture resistance and electric insulation deteriorate. The more preferable halogen content is 8 to 15% by weight, and the more preferable phosphorus content is 0.5.
~ 2% by weight. Among the halogens, bromine is most preferable from the viewpoint of flame retardancy as described above.

【0035】さらに本発明に使用する絶縁性樹脂組成物
には、通常使用されるようなタルク、炭カル等の無機充
填材、或いはレベリング剤、消泡剤等の添加剤を追加し
てもよい。
Further, the insulating resin composition used in the present invention may be added with an inorganic filler such as talc or calcium carbonate which is usually used, or an additive such as a leveling agent or a defoaming agent. .

【0036】第4の本発明では前記第1’成分、第2成
分および第3成分からなる絶縁性樹脂組成物中に第4成
分として−OH基を有する無機イオン交換体を配合させ
ることにより、金属導体の腐食による故障を防止する効
果を好ましく付加することができる。
In the fourth aspect of the present invention, an inorganic ion exchanger having an —OH group is blended as a fourth component into the insulating resin composition consisting of the first component, the second component and the third component, The effect of preventing failure due to corrosion of the metal conductor can be preferably added.

【0037】イオン交換体としては、全イオン交換体、
有機イオン交換体または無機イオン交換体等があるが、
耐熱性に優れた−OH基を有する無機イオン交換体が適
している。さらに詳しくは−OH基を有する無機陽イオ
ン交換体および−OH基を有する無機陰イオン交換体を
併せて含有させることにより、イオン不純物の影響をよ
り効果的に防止することができる。−OH基を有する無
機イオン交換体によるイオン捕捉作用は下記の通りであ
る。
As the ion exchanger, all ion exchangers,
There are organic ion exchangers or inorganic ion exchangers,
An inorganic ion exchanger having an —OH group having excellent heat resistance is suitable. More specifically, by including an inorganic cation exchanger having an —OH group and an inorganic anion exchanger having an —OH group together, the influence of ionic impurities can be more effectively prevented. The ion trapping action of the inorganic ion exchanger having a —OH group is as follows.

【0038】金属イオン捕捉用の無機陽イオン交換体を
RO- + 、金属イオンをM+ OH- の水酸基型で表す
と、イオン交換は次のようになり、結果として水を生成
する。 RO- + +M+ OH- →RO- + +H2 O …(a) 上記のイオンを捕捉する反応は、イオン交換反応である
が、無機イオン交換体の特徴として、逆反応は起こり難
く、一般には一度捕捉されたイオンは遊離し難い。これ
はRO- + の結合がRO- + になった後のO−M間
の結合は共有結合性が強いためと思われる。
[0038] Inorganic cation exchanger for metal ion capturing RO - H +, a metal ion M + OH - expressed in hydroxyl type, the ion exchange is as follows, to produce water as a result. RO H + + M + OH → RO M + + H 2 O (a) The reaction for trapping the above-mentioned ions is an ion exchange reaction, but as a characteristic of the inorganic ion exchanger, the reverse reaction is unlikely to occur. Generally, the ions that have been once captured are difficult to release. It is considered that this is because the bond between O and M after the RO - H + bond becomes RO - M + has a strong covalent bond.

【0039】ハロゲン等のイオン性不純物に対しては。
−OH基を有する無機陰イオン交換体をR’+ OH-
ハロゲンイオンをH+ - の酸型で表すと次のような反
応となり、結果として水を生成する。 R’+ OH- +H+ - →R’+ - +H2 O …(b) 中性塩の場合には、上記の(a)(b)の反応が同時に起こ
る。
For ionic impurities such as halogen.
R ′ + OH , an inorganic anion exchanger having a —OH group,
When the halogen ion is represented by the acid form of H + X −, the following reaction occurs, resulting in the production of water. R ′ + OH + H + X → R ′ + X + H 2 O (b) In the case of a neutral salt, the above reactions (a) and (b) occur simultaneously.

【0040】第四の本発明の絶縁性樹脂組成物に配合さ
せる無機イオン交換体の量は、該樹脂組成物に対して、
0.1〜15重量%が好ましく、より好ましくは0.1
〜10重量%である。無機イオン交換体の粒度は、イオ
ン捕捉速度や目的とする捕捉イオン交換体との接触を大
きくするために細かい方が望ましく、好ましい平均粒度
は10μm以下であり、より好ましくは5μm以下であ
る。
The amount of the inorganic ion exchanger to be blended with the insulating resin composition of the fourth aspect of the present invention is, based on the resin composition.
0.1 to 15% by weight is preferable, and 0.1 is more preferable.
10 to 10% by weight. The particle size of the inorganic ion exchanger is preferably fine in order to increase the rate of ion trapping and the intended contact with the trapped ion exchanger, and the average particle size is preferably 10 μm or less, more preferably 5 μm or less.

【0041】用いられる無機イオン交換体としては、
金、銀、銅、鉛、白金およびカドミウム等の金属イオン
に高選択性を有するアンチモン酸(Sb2 5 ・nH2
O)、ニオブ酸(Nb2 5 ・nH2 O)並びにタンタ
ル酸に代表される五価金属の含水酸化物;銅およびアル
ミニウム等に高選択性を有するリン酸ジルコニウムに代
表される不溶性四価金属リン酸塩;ハロゲンイオンに高
選択性を有する含水酸化硝酸ビスマスおよび含水酸化鉛
で代表される含水金属酸化物、鉛ヒドロキシアパタイト
含水酸化硝酸ビスマスで代表されるアパタイト類並びに
ハイドロタルサイト類等が挙げられる。
As the inorganic ion exchanger used,
Antimonic acid (Sb 2 O 5 · nH 2) having high selectivity for metal ions such as gold, silver, copper, lead, platinum and cadmium
O), niobate (Nb 2 O 5 · nH 2 O) and hydrous oxides of pentavalent metals typified by tantalic acid; insoluble tetravalent typified by zirconium phosphate having high selectivity for copper and aluminum. Metal phosphates; hydrous metal oxides represented by hydrated bismuth oxide nitrate and hydrous lead oxide having high selectivity for halogen ions, apatites represented by lead hydroxyapatite bismuth oxide hydrated nitrate, hydrotalcites, etc. Can be mentioned.

【0042】金属イオン捕捉用としては、その他タリウ
ム酸、モリブデン酸およびタングステン酸等、ハロゲン
イオン捕捉用としては、含水酸化鉄、含水酸化スズ、含
水酸化アルミニウム、含水酸化ジルコニウムおよび含水
酸化チタン等が挙げられる。これらの無機イオン交換体
のうち、アンチモン酸で代表される五価金属の含水酸化
物は、銀、銅、カドミウム、鉛、金および白金のイオ
ン、特に銀イオンの捕捉に優れている。また、亜ヒ酸ジ
ルコニウムで代表される四価金属の亜ヒ酸塩は銅イオン
の捕捉に優れている。
Others such as thallic acid, molybdic acid and tungstic acid are used for capturing metal ions, and hydrous iron oxide, hydrous tin oxide, hydrous aluminum oxide, hydrous zirconium oxide and hydrous titanium oxide are used for capturing halogen ions. To be Among these inorganic ion exchangers, hydrous oxides of pentavalent metals represented by antimonic acid are excellent in capturing ions of silver, copper, cadmium, lead, gold and platinum, particularly silver ions. Arsenite, a tetravalent metal typified by zirconium arsenite, is excellent in capturing copper ions.

【0043】一方、ハロゲンイオン捕捉用としては、含
水酸化硝酸ビスマス、含水酸化鉛、鉛ヒドロキシアパタ
イトおよび水酸化リン酸鉛が有用であり、中でも−OH
基を一部NO3 基に置換したものは、特に優れている。
これら無機イオン交換体は、金属イオン捕捉用のものを
単独に使用しても良く、ハロゲンイオン捕捉用のものと
併用しても良い。しかしながら黒化処理した内層基板上
の絶縁樹脂組成物に使用する場合は、金属イオン捕捉剤
が黒化処理上の酸化銅への腐食等の影響を及ぼすことも
あり、ハロゲンイオン捕捉剤のみの方が好ましい。ま
た、−OH基を有する無機イオン交換体としては、2種
以上の金属元素を含む複合物(例えばアンチモン酸マン
ガンやアンチモン酸スズ等)やそれらの混合物も使用可
能である。
On the other hand, hydrated bismuth nitrate, hydrated lead, lead hydroxyapatite and lead oxyhydroxide are useful for capturing halogen ions.
Those in which some of the groups are replaced with NO 3 groups are particularly excellent.
As these inorganic ion exchangers, those for trapping metal ions may be used alone, or those for trapping halogen ions may be used in combination. However, when used in the insulating resin composition on the blackened inner layer substrate, the metal ion scavenger may affect the corrosion of copper oxide during the blackening treatment, so that only the halogen ion scavenger is used. Is preferred. Further, as the inorganic ion exchanger having an —OH group, a composite containing two or more kinds of metal elements (for example, manganese antimonate or tin antimonate) or a mixture thereof can be used.

【0044】本発明のチップ実装プリント配線板におい
て、樹脂含浸ガラスクロス積層板または該積層板からな
る内層基板に、加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂の
層を形成する方法としては、前記積層板または前記内層
基板に絶縁性樹脂を塗布し乾燥後銅はくを積層する方法
と、絶縁性樹脂を銅はくに塗布した銅張絶縁シートを作
成し、該シートを前記積層板または前記内層基板に積層
する方法が挙げられるが、工程が簡略なことから後者の
方法が好ましい。
In the chip-mounted printed wiring board of the present invention, a method of forming an insulating resin layer having rubber elasticity during heating on a resin-impregnated glass cloth laminated board or an inner layer substrate formed of the laminated board is the laminated board. Alternatively, a method of applying an insulating resin to the inner layer substrate and drying and laminating a copper foil, and a copper clad insulating sheet in which an insulating resin is applied to the copper foil are created, and the sheet is applied to the laminated plate or the inner layer substrate. A method of laminating may be mentioned, but the latter method is preferable because the steps are simple.

【0045】本発明のチップ実装プリント配線板におけ
る、加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂の層の厚みは
30〜70μmが好ましい。30μm未満では絶縁性が
不十分で、70μmを超えるとはんだ耐熱性が悪くなり
いずれも好ましくない。なお、樹脂性樹脂を銅はくに塗
布した銅張絶縁シートを作成し、該シートを樹脂含浸ガ
ラスクロス積層板または該積層板からなる内層基板に積
層する際の、該絶縁性樹脂の銅はくへの塗布厚は、40
〜100μm(乾燥後の厚み)が適当である。
In the chip-mounted printed wiring board of the present invention, the thickness of the insulating resin layer having rubber elasticity when heated is preferably 30 to 70 μm. If it is less than 30 μm, the insulating property is insufficient, and if it exceeds 70 μm, the solder heat resistance becomes poor, which is not preferable. Incidentally, when a copper clad insulating sheet is prepared by applying a resinous resin to a copper foil and the sheet is laminated on a resin-impregnated glass cloth laminate or an inner layer substrate made of the laminate, the copper foil of the insulating resin is used. The coating thickness on the
-100 μm (thickness after drying) is suitable.

【0046】第二、第三および第四の本発明のブライン
ドバイアホールを有するチップ実装プリント配線板の製
造方法において、ブラインドバイアホールは種々の方法
で設けることができるが、絶縁性樹脂がアルカリ可溶性
の場合は次の方法が工程が簡略で好ましい。すなわち、
内層基板に絶縁性樹脂を介して表面銅はくを積層した銅
張積層板パネルを作成し、選択エッチングで表面の銅は
くの所定の位置に微細穴を設け、該微細穴の下の樹脂組
成物をアルカリ溶解してブラインドバイアホールを形成
する方法である。なお、第二の本発明で絶縁性樹脂がア
ルカリ不溶性の場合は、通常のドリル加工によりブライ
ンドバイアホールを形成することができる。
In the method for manufacturing a chip-mounted printed wiring board having a blind via hole according to the second, third and fourth aspects of the present invention, the blind via hole can be provided by various methods, but the insulating resin is alkali-soluble. In the case of, the following method is preferable because the steps are simple. That is,
A copper clad laminate panel is prepared by laminating a surface copper foil on an inner layer substrate via an insulating resin, and a fine hole is formed at a predetermined position of the copper foil on the surface by selective etching, and a resin under the fine hole is formed. It is a method of forming a blind via hole by dissolving a composition with an alkali. In addition, in the second aspect of the present invention, when the insulating resin is insoluble in alkali, the blind via hole can be formed by ordinary drilling.

【0047】ブラインドバイアホールにめっきを形成す
る方法としては、通常の無電解銅めっきおよび電気銅め
っきを施す方法が挙げられるが、ダイレクトプレーティ
ング法も使用できる。
As a method of forming a plating in the blind via hole, there can be mentioned a usual method of performing electroless copper plating and electrolytic copper plating, but a direct plating method can also be used.

【0048】[0048]

【実施例】以下、実施例を挙げて本発明をさらに詳細に
説明する。なお、チップ実装プリント配線板の製造方法
の説明のために、図1〜図3を掲げた。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to examples. It should be noted that FIGS. 1 to 3 are provided for explaining the method for manufacturing the chip-mounted printed wiring board.

【0049】実施例1 (第1成分の合成)n−ブチルメタクリレート40重量
部、メチルメタクリレート15重量部、スチレン15重
量部、ヒドロキシエチルメタクリレート10重量部、メ
タクリル酸20重量部およびアゾビスイソブチルニトリ
ル2重量部からなる混合物を、窒素ガス雰囲気下で温度
80℃に保持したプロピレングリコールモノメチルエー
テル120重量部中に5時間かけて滴下した。1時間熟
成後、さらにアゾビスイソブチルニトリル0.5重量部
を加えて2時間熟成することによりカルボキシル基含有
メタクリル樹脂を合成した。次に空気を吹き込みなが
ら、グリシジルメタクリレート20重量部、テトラブチ
ルアンモニウムブロマイド1.5重量部、さらに重合禁
止剤としてハイドロキノン0.15重量部を加えて温度
80℃で8時間反応させて分子量50,000〜70,
000、酸価1.8meq/g、不飽和基濃度1.14
モル/kgのカルボキシル基を有するベースレジンを合
成した。
Example 1 (Synthesis of First Component) 40 parts by weight of n-butyl methacrylate, 15 parts by weight of methyl methacrylate, 15 parts by weight of styrene, 10 parts by weight of hydroxyethyl methacrylate, 20 parts by weight of methacrylic acid and 2 of azobisisobutylnitrile. The mixture of 1 part by weight was added dropwise to 120 parts by weight of propylene glycol monomethyl ether kept at a temperature of 80 ° C. in a nitrogen gas atmosphere over 5 hours. After aging for 1 hour, 0.5 part by weight of azobisisobutylnitrile was further added and the mixture was aged for 2 hours to synthesize a methacrylic resin having a carboxyl group. Next, while blowing in air, 20 parts by weight of glycidyl methacrylate, 1.5 parts by weight of tetrabutylammonium bromide, and 0.15 parts by weight of hydroquinone as a polymerization inhibitor were added and reacted at a temperature of 80 ° C. for 8 hours to give a molecular weight of 50,000. ~ 70,
000, acid value 1.8 meq / g, unsaturated group concentration 1.14
A base resin having a mol / kg carboxyl group was synthesized.

【0050】(絶縁性樹脂組成物Aの調製)上記第1成
分を50重量部、第2成分としてポリエチレングリコー
ルジアクリレート(東亞合成(株)製アロニックスM−
260)20重量部およびウレタンアクリレート(東亞
合成(株)製アロニックスM−1600)20重量部、
第3成分のうち熱重合開始剤としてジクミルパーオキサ
イド(日本油脂(株)製パークミルD)1.5重量部、
光重合開始剤として2−メチル−〔4−(メチルチオ)
フェニル〕−2−モリフォリノ−1−プロパノン(チバ
ガイギー社製イルガキュア907)3重量部、並びに光
重合促進剤p−ジメチルアミノ安息香酸エチル(日本化
薬(株)製カヤキュアEPA)2重量部をよく混合し
て、絶縁性樹脂組成物Aを調製した。該組成物の動的粘
弾性スペクトルを測定したところ、図4のとおりとな
り、140℃でE’=108.5 dyn/cm2 であっ
た。なお、図4の動的粘弾性スペクトルは、岩本製作所
(株)製粘弾性スペクトロメーターVES−FIIIを
用い、初期加重30g、周波数10Hzの条件で測定し
たものである。
(Preparation of Insulating Resin Composition A) 50 parts by weight of the above-mentioned first component, and polyethylene glycol diacrylate as a second component (Aronix M- manufactured by Toagosei Co., Ltd.)
260) 20 parts by weight and 20 parts by weight of urethane acrylate (Aronix M-1600 manufactured by Toagosei Co., Ltd.),
1.5 parts by weight of dicumyl peroxide (Parkmill D manufactured by NOF CORPORATION) as a thermal polymerization initiator in the third component,
2-methyl- [4- (methylthio) as a photopolymerization initiator
3 parts by weight of [phenyl] -2-morpholino-1-propanone (Irgacure 907 manufactured by Ciba-Geigy) and 2 parts by weight of a photopolymerization accelerator ethyl p-dimethylaminobenzoate (Kayacure EPA manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) are mixed well. Then, the insulating resin composition A was prepared. When the dynamic viscoelastic spectrum of the composition was measured, it was as shown in FIG. 4 and was E ′ = 10 8.5 dyn / cm 2 at 140 ° C. The dynamic viscoelastic spectrum in FIG. 4 was measured using a viscoelastic spectrometer VES-FIII manufactured by Iwamoto Seisakusho Co., Ltd. under the conditions of an initial load of 30 g and a frequency of 10 Hz.

【0051】(プリント配線板の作成)上記の絶縁性樹
脂組成物Aを18μm厚の銅はくのマット面にバーコー
ターにより印刷し、90℃オーブン中で10分乾燥させ
て70μmの厚さの樹脂層3を形成した銅張絶縁シート
を作成した。
(Preparation of Printed Wiring Board) The insulating resin composition A described above was printed on a matte surface of a copper foil having a thickness of 18 μm by a bar coater, dried in an oven at 90 ° C. for 10 minutes, and having a thickness of 70 μm. A copper-clad insulating sheet having the resin layer 3 formed was prepared.

【0052】アンクラッドの0.6mm厚ガラスエポキ
シ積層板1に上記銅張絶縁シートの樹脂側を重ね、80
℃のメタルロールによりラミネートを行って銅張積層板
パネルを作成した。銅はくを選択エッチングした後、無
電解金めっきを施して導体回路パターンおよびピッチ8
0μmのバンプ接続用の電極4を設けたプリント配線板
を作成した(図2)。
The resin side of the above copper clad insulating sheet was overlaid on the unclad 0.6 mm thick glass epoxy laminate 1 and
A copper clad laminate panel was prepared by laminating with a metal roll at ℃. After selective etching of copper foil, electroless gold plating is applied to form conductor circuit pattern and pitch 8
A printed wiring board provided with electrodes 4 for bump connection of 0 μm was prepared (FIG. 2).

【0053】(プリント配線板の作成)半導体チップ5
に松下電器産業(株)製のバンプボンダーPanase
rtASTBで80μmピッチの金からなるスタッドバ
ンプ6を形成した。次にフリップチップボンダーPan
asert FCB−Sで上記スタッドバンプに導電性
接着剤9を転写した後に上記プリント配線板の電極4に
位置合わせを行った後マウントして、半導体チップを実
装したプリント配線板を作成した。
(Creation of Printed Wiring Board) Semiconductor Chip 5
Bump bonder Panase manufactured by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Stud bumps 6 made of gold having a pitch of 80 μm were formed by rtASTB. Next, flip chip bonder Pan
After the conductive adhesive 9 was transferred to the stud bumps using the assert FCB-S, the electrodes 4 of the printed wiring board were aligned and then mounted to prepare a printed wiring board on which a semiconductor chip was mounted.

【0054】次にプリント配線板と半導体チップの隙間
に球状のシリカフィラーを充填した熱硬化性エポキシ樹
脂からなる封止剤7を毛細管現象により充填させた。そ
の後、150℃30分間の加熱を行い該封止剤を硬化さ
せた。
Next, a gap between the printed wiring board and the semiconductor chip was filled with a sealing agent 7 made of a thermosetting epoxy resin filled with a spherical silica filler by a capillary phenomenon. Then, the sealing agent was cured by heating at 150 ° C. for 30 minutes.

【0055】作成した半導体チップ5を実装したプリン
ト配線板を温度サイクル125℃30分、−65℃30
分を1サイクルとして500サイクルまで試験を行った
がバンプ接続部の電気導通は正常であった。121℃9
7%、2気圧のプレッシャークッカーテスト(以下「P
CT」と称する。)を行った結果、半導体バンプの周辺
のアルミニウム配線には異常が見られなかった。UL9
4の燃焼試験を行うと94V−1であった。
The printed wiring board on which the semiconductor chip 5 thus prepared is mounted is subjected to a temperature cycle of 125 ° C. for 30 minutes and −65 ° C. for 30 minutes.
The test was conducted up to 500 cycles with one minute as one cycle, but the electrical continuity of the bump connection portion was normal. 121 ° C 9
7%, 2 atm pressure cooker test (hereinafter “P
"CT". As a result, no abnormality was found in the aluminum wiring around the semiconductor bump. UL9
When the combustion test of No. 4 was performed, it was 94V-1.

【0056】実施例2 実施例1で作成した絶縁性樹脂組成物Aを18μm厚の
銅はくのマット面にバーコーターにより印刷し、90℃
オーブン中で10分乾燥させて70μmの厚さの樹脂層
3を形成した銅張絶縁シートを作成した。
Example 2 The insulating resin composition A prepared in Example 1 was printed on a matte surface of a copper foil having a thickness of 18 μm by a bar coater, and the temperature was 90 ° C.
It was dried in an oven for 10 minutes to prepare a copper-clad insulating sheet on which a resin layer 3 having a thickness of 70 μm was formed.

【0057】35μm導体回路2を有する0.6mm厚
のガラスエポキシ積層板の内層基板1を用意し、前記導
体回路に通常の方法で黒化処理を行った。次にこの内層
基板の片面に前記の銅張絶縁シートの樹脂側を重ね、8
0℃のメタルロールによりラミネートを行って銅張積層
板パネルを作成した。選択エッチングで表面の銅はくの
所定の位置に微細穴を設け、該微細穴の下の樹脂組成物
を0.1重量%の炭酸ソーダを用い40℃でアルカリ溶
解してブラインドバイアホールを形成した。次に無電解
銅めっきおよび電気銅めっきを施してめっきブラインド
バイアホール8を形成した。次いで表面の銅はくを選択
エッチングした後無電解金めっきを施して導体回路パタ
ーンおよびピッチ80μmのバンプ接続用の電極4を設
けたプリント配線板を作成した(図3)。
An inner layer substrate 1 of a glass epoxy laminate having a thickness of 0.6 mm having a conductor circuit 2 of 35 μm was prepared, and the conductor circuit was blackened by a usual method. Next, lay the resin side of the copper clad insulation sheet on one side of this inner layer substrate,
Lamination was performed with a metal roll at 0 ° C. to prepare a copper clad laminate panel. A fine hole is formed at a predetermined position of the copper foil on the surface by selective etching, and the resin composition under the fine hole is alkali-dissolved at 40 ° C. using 0.1 wt% sodium carbonate to form a blind via hole. did. Next, electroless copper plating and electrolytic copper plating were performed to form plated blind via holes 8. Then, the copper foil on the surface was selectively etched and then electroless gold plated to prepare a printed circuit board having a conductor circuit pattern and electrodes 4 for bump connection with a pitch of 80 μm (FIG. 3).

【0058】実施例1と同様の方法で半導体チップを本
実施例のプリント配線板にマウントして図1に示すよう
な半導体チップを実装したプリント配線板を作成した。
A semiconductor chip was mounted on the printed wiring board of this embodiment in the same manner as in Example 1 to prepare a printed wiring board having the semiconductor chip mounted thereon as shown in FIG.

【0059】該配線板を温度サイクル125℃30分、
−65℃30分を1サイクルとして500サイクルまで
試験を行ったがバンプ接続部の電気導通は正常であっ
た。そして、内層基板の導体回路と外層電極間に直流電
圧50ボルトを印可して85℃、相対湿度85%の条件
で3,000時間処理したが絶縁抵抗の劣化は殆どなく
1012〜1013Ωあった。121℃97%、2気圧のP
CTを行った結果、半導体バンプの周辺のアルミニウム
配線には異常が見られなかった。UL94の燃焼試験を
行うと94V−1レベルであった。
The wiring board was subjected to a temperature cycle of 125 ° C. for 30 minutes,
The test was conducted up to 500 cycles with one cycle of −65 ° C. for 30 minutes, but the electrical continuity of the bump connection portion was normal. Then, a DC voltage of 50 V was applied between the conductor circuit of the inner layer substrate and the outer layer electrode and treated for 3,000 hours under the conditions of 85 ° C. and relative humidity of 85%, but there was almost no deterioration in insulation resistance and the resistance was 10 12 to 10 13 Ω. there were. 121 ° C 97%, 2 atm P
As a result of CT, no abnormality was found in the aluminum wiring around the semiconductor bump. When the UL94 combustion test was performed, it was 94V-1 level.

【0060】実施例3 (第1’成分の合成)n−ブチルメタクリレート30重
量部、メチルメタクリレート13重量部、スチレン10
重量部、ヒドロキシエチルメタクリレート5重量部、メ
タクリル酸42重量部およびアゾビスイソブチルニトリ
ル1重量部からなる混合物を、窒素ガス雰囲気下で温度
80℃に保持したプロピレングリコールモノメチルエー
テル120重量部中に5時間かけて滴下した。1時間熟
成後、アゾビスイソブチルニトリル0.5重量部を加え
て2時間熟成することにより分子量50,000〜7
0,000のカルボキシル基含有メタクリル樹脂を合成
した。次に空気を吹き込みながら、ジブロモフェニルグ
リシジルエーテルおよびジブロモクレジルグリシジルエ
ーテルの混合物(日本化薬(株)製Broc−C)50
重量部、グリシジルメタクリレート20重量部、テトラ
ブチルアンモニウムブロマイド1.5重量部、さらに重
合禁止剤としてハイドロキノン0.15重量部を加えて
80℃で8時間反応させて、酸価2.0meq/g、不
飽和当量0.83モル/kgのカルボキシル基を有する
第1’成分を合成した。
Example 3 (Synthesis of 1'component) 30 parts by weight of n-butyl methacrylate, 13 parts by weight of methyl methacrylate, 10 parts of styrene
Parts by weight, 5 parts by weight of hydroxyethyl methacrylate, 42 parts by weight of methacrylic acid and 1 part by weight of azobisisobutyronitrile in 120 parts by weight of propylene glycol monomethyl ether kept at a temperature of 80 ° C. under a nitrogen gas atmosphere for 5 hours. It dripped over. After aging for 1 hour, 0.5 part by weight of azobisisobutylnitrile was added and aging was performed for 2 hours to give a molecular weight of 50,000 to 7
10,000 carboxyl group-containing methacrylic resins were synthesized. Next, while blowing air, a mixture of dibromophenyl glycidyl ether and dibromocresyl glycidyl ether (Broc-C manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 50
Parts by weight, 20 parts by weight of glycidyl methacrylate, 1.5 parts by weight of tetrabutylammonium bromide, and 0.15 parts by weight of hydroquinone as a polymerization inhibitor, and reacted at 80 ° C. for 8 hours to give an acid value of 2.0 meq / g. A 1'component having a carboxyl group having an unsaturated equivalent of 0.83 mol / kg was synthesized.

【0061】この第1’成分を構成するモノマーのう
ち、メタクリル酸の量は全モノマーの50.7モル%で
あり、このうち14.6モル%にグリシジルメタクリレ
ートを付加させ、16.1モル%にジブロモフェニルグ
リシジルエーテルおよびジブロモクレジルグリシジルエ
ーテルを付加させ、残る20.0モル%が未変成の酸と
して存在していることになる。
Of the monomers constituting the 1'component, the amount of methacrylic acid was 50.7 mol% of all the monomers, of which 14.6 mol% was added with glycidyl methacrylate to give 16.1 mol%. Is added with dibromophenyl glycidyl ether and dibromo cresyl glycidyl ether, and the remaining 20.0 mol% is present as unmodified acid.

【0062】(絶縁性樹脂組成物Bの調製)上記第1’
成分を50重量部、第2成分としてポリエチレングリコ
ールジアクリレート(東亞合成(株)製アロニックスM
−260)20重量部およびウレタンアクリレート(東
亞合成(株)製アロニックスM−1600)20重量
部、第3成分のうち熱重合開始剤としてジクミルパーオ
キサイド(日本油脂(株)製パークミルD)1.5重量
部、光重合開始剤として2−メチル−〔4−(メチルチ
オ)フェニル〕−2−モリフォリノ−1−プロパノン
(チバガイギー社製イルガキュア907)3重量部、並
びにリン系難燃剤としてトリフェニルホスフェート1
4.4重量部をよく混合して、難燃性を有する絶縁性樹
脂組成物を調製した。この組成物の臭素含有量は8.4
重量%、リン含有量は1.0重量%である。−OHを有
する無機イオン交換体としてアンチモン酸チタンおよび
ハロゲンイオン捕捉用として水酸化リン酸鉛からなる混
合物(重量比6:4)1.0重量部を予めペンタエリス
トールトリアクリレートに添加し、3本ロール等により
十分に混合して絶縁性樹脂組成物を調製した。該絶縁性
樹脂組成物の動的粘弾性スペクトルを測定したところ、
前記絶縁性樹脂組成物Aより低く、130℃において
E’=108.5 dyn/cm2 、140℃においてE’
=108.3 dyn/cm2 であった。
(Preparation of Insulating Resin Composition B) First '
50 parts by weight of the component, and polyethylene glycol diacrylate as the second component (Aronix M manufactured by Toagosei Co., Ltd.)
-260) 20 parts by weight and urethane acrylate (Aronix M-1600 manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 20 parts by weight, and dicumyl peroxide (Perky Mill D manufactured by NOF CORPORATION) as a thermal polymerization initiator in the third component 1 0.5 parts by weight, 2-methyl- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propanone (Irgacure 907 manufactured by Ciba-Geigy) as a photopolymerization initiator, and triphenyl phosphate as a phosphorus-based flame retardant. 1
4.4 parts by weight were mixed well to prepare a flame-retardant insulating resin composition. The bromine content of this composition is 8.4.
The weight% and the phosphorus content are 1.0% by weight. 1.0 parts by weight of a mixture of titanium antimonate as an inorganic ion exchanger having —OH and lead hydroxide phosphate for capturing halogen ions (weight ratio 6: 4) was added to pentaerythritol triacrylate in advance, and 3 The insulating resin composition was prepared by thoroughly mixing with a main roll or the like. When the dynamic viscoelastic spectrum of the insulating resin composition was measured,
Lower than that of the insulating resin composition A, E ′ at 130 ° C. = 10 8.5 dyn / cm 2 , E ′ at 140 ° C.
= 10 8.3 dyn / cm 2 .

【0063】上記の絶縁性樹脂組成物Bを、マット処理
した18μm厚の銅はくのマット面にスクリーン印刷に
より印刷し、90℃オーブン中で10分乾燥させて70
μmの厚さの樹脂層2を形成した銅張絶縁シートを作成
した。
The insulating resin composition B was printed by screen printing on the matte surface of a 18 μm-thick copper foil that had been mat-treated and dried in an oven at 90 ° C. for 10 minutes.
A copper clad insulating sheet having a resin layer 2 having a thickness of μm was prepared.

【0064】次に実施例2と同様にプリント配線板を作
成し、かつ実施例1と同様の半導体チップ5をマウント
して、半導体チップを実装したプリント配線板を作成さ
せた。
Next, a printed wiring board was prepared in the same manner as in Example 2, and the same semiconductor chip 5 as in Example 1 was mounted to prepare a printed wiring board on which the semiconductor chips were mounted.

【0065】該プリント配線板を温度サイクル125℃
30分、−65℃30分を1サイクルとして500サイ
クルまで試験を行ったがバンプ接続部の電気導通は正常
であった。そして、内層基板の導体回路と外層電極間に
直流電圧50ボルトを印可して85℃、相対湿度85%
の条件で2,000時間処理したが絶縁抵抗の劣化は殆
どなく1012〜1013Ωあった。121℃97%、2気
圧のPCTを行った結果、半導体バンプ間には異常が見
られなかった。UL94の燃焼試験を行うと94V−0
であった。
The printed wiring board was subjected to a temperature cycle of 125 ° C.
The test was conducted up to 500 cycles with one cycle consisting of 30 minutes and −65 ° C. for 30 minutes, but the electrical continuity of the bump connection portion was normal. Then, a DC voltage of 50 V is applied between the conductor circuit of the inner layer substrate and the outer layer electrode at 85 ° C. and a relative humidity of 85%.
However, there was almost no deterioration in insulation resistance and the resistance was 10 12 to 10 13 Ω. As a result of performing PCT at 121 ° C. 97% and 2 atm, no abnormality was found between the semiconductor bumps. When UL94 combustion test is performed, 94V-0
Met.

【0066】比較例1 35μmの銅はく回路を有するの0.6mm厚ガラスエ
ポキシ積層板の銅はくに無電解金めっきを施して導体回
路パターンおよびピッチ80μmのバンプ接続用の電極
を設けたプリント配線板を作成した。
Comparative Example 1 A print in which a copper foil of a 0.6 mm-thick glass epoxy laminate having a copper foil circuit of 35 μm was electrolessly plated with gold to provide a conductor circuit pattern and electrodes for bump connection with a pitch of 80 μm. A wiring board was created.

【0067】実施例2と同様に本比較例の上記プリント
配線板に半導体チップをマウントして、半導体チップを
実装したプリント配線板を作成した。該プリント配線板
を温度サイクル125℃30分、−65℃30分を1サ
イクルとして100サイクルまで試験を行ったがバンプ
接続部の電気導通不良が発生した。
As in Example 2, a semiconductor chip was mounted on the printed wiring board of this comparative example to prepare a printed wiring board on which the semiconductor chip was mounted. The printed wiring board was tested up to 100 cycles with a temperature cycle of 125 ° C. for 30 minutes and −65 ° C. for 30 minutes as one cycle, but defective electrical continuity of the bump connection portion occurred.

【0068】比較例2 実施例3の絶縁性樹脂組成物Bのうち第4成分の−OH
基を有する無機イオン交換体を除いた絶縁性樹脂組成物
Cを作成し、18μm銅はくのマット面に塗布して90
℃10分で乾燥させて銅張絶縁シートを作成した。
Comparative Example 2 Of the insulating resin composition B of Example 3, the fourth component, —OH
An insulating resin composition C excluding the inorganic ion exchanger having a group was prepared and applied to a matte surface of a 18 μm copper foil to obtain 90
A copper clad insulating sheet was prepared by drying at 10 ° C. for 10 minutes.

【0069】実施例2と同様にピッチ80μmのバンプ
接続用の電極を設けたプリント配線板を作成した。そし
て、実施例1と同様に本比較例の上記プリント配線板に
半導体チップをマウントして、半導体チップを実装した
プリント配線板を作成した。
In the same manner as in Example 2, a printed wiring board provided with electrodes for bump connection having a pitch of 80 μm was prepared. Then, as in Example 1, a semiconductor chip was mounted on the printed wiring board of this comparative example to prepare a printed wiring board having the semiconductor chip mounted thereon.

【0070】該プリント配線板を温度サイクル125℃
30分、−65℃30分を1サイクルとして500サイ
クルまで試験を行ったがバンプ接続部の電気導通の異常
はなかった。しかしながら、内層基板の導体回路と外層
電極間に直流電圧50ボルトを印可して85℃、相対湿
度85%の条件で500時間処理したした結果、層間の
絶縁抵抗は初期1013〜1014Ωが1011〜1012Ωま
で下がった。また、121℃97%、2気圧のPCTを
行った結果、半導体バンプ周辺のアルミニウム配線には
樹枝状のデンドライトが観察された。
The printed wiring board was subjected to a temperature cycle of 125 ° C.
The test was conducted up to 500 cycles with 30 minutes and -65 ° C. 30 minutes as one cycle, but there was no abnormality in the electrical continuity of the bump connection portion. However, as a result of applying a DC voltage of 50 V between the conductor circuit of the inner layer substrate and the outer layer electrode and treating it at 85 ° C. and a relative humidity of 85% for 500 hours, the insulation resistance between the layers is initially 10 13 to 10 14 Ω. It fell to 10 11 to 10 12 Ω. Further, as a result of performing PCT at 121 ° C. 97% and 2 atm, dendritic dendrites were observed in the aluminum wiring around the semiconductor bumps.

【0071】[0071]

【発明の効果】上記のように本発明のプリント配線板に
使用する絶縁性樹脂は、加熱残留応力が小さいので半導
体チップ実装時に熱膨張係数の違う無機材料からなる半
導体と有機材料であるプリント配線板の接続信頼性が高
く、しかも半導体のアルミニウム配線を腐食させない。
このため、信頼性の高いプリント配線板が得られること
から工業上利用価値の高いものである。
As described above, since the insulating resin used in the printed wiring board of the present invention has a small residual heating stress, the printed wiring which is a semiconductor made of an inorganic material and an organic material having different thermal expansion coefficients when a semiconductor chip is mounted is used. The connection reliability of the board is high, and the aluminum wiring of the semiconductor does not corrode.
Therefore, a highly reliable printed wiring board can be obtained, which is of high industrial utility value.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例2におけるチップ実装プリント
配線板を示す概略断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a chip-mounted printed wiring board according to Embodiment 2 of the present invention.

【図2】本発明の実施例1における導体回路パターンお
よびバンプ接続用の電極を設けたプリント配線板を示す
概略断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a printed circuit board provided with a conductor circuit pattern and electrodes for bump connection in Example 1 of the present invention.

【図3】本発明の実施例2における導体回路パターンお
よびバンプ接続用の電極を設けたプリント配線板を示す
概略断面図である。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a printed circuit board provided with a conductor circuit pattern and electrodes for connecting bumps according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例1における絶縁性樹脂組成物を
測定した、動的粘弾性スペクトル図である。
FIG. 4 is a dynamic viscoelastic spectrum diagram obtained by measuring the insulating resin composition in Example 1 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 内装基板 2 導体回路 3 樹脂層 4 電極 5 半導体チップ 6 バンプ 7 封止剤 8 めっきブラインドバイアホール 9 導電接着剤 1 Interior board 2 Conductor circuit 3 Resin layer 4 Electrode 5 Semiconductor chip 6 Bump 7 Sealant 8 Plating blind via hole 9 Conductive adhesive

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 1/18 H01L 23/14 R (72)発明者 平岡 秀樹 愛知県名古屋市港区船見町1番地の1 東 亞合成株式会社名古屋総合研究所内 (72)発明者 藤原 正裕 愛知県名古屋市港区船見町1番地の1 東 亞合成株式会社名古屋総合研究所内Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Reference number within the agency FI Technical indication location H05K 1/18 H01L 23/14 R (72) Inventor Hideki Hiraoka 1-1 Funami-cho, Minato-ku, Nagoya-shi, Aichi Toagosei Co., Ltd. Nagoya Research Institute (72) Inventor Masahiro Fujiwara 1 1 Funami-cho, Minato-ku, Aichi Prefecture Nagoya City Toagosei Co., Ltd. Nagoya Research Institute

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 樹脂含浸ガラスクロス積層板の片面また
は両面に、加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂の層を
形成し、該絶縁性樹脂の層の上に導体回路を形成し、該
導体回路の電極にチップ部品のバンプを接続してなるチ
ップ実装プリント配線板。
1. A resin-impregnated glass cloth laminate is formed on one or both sides with an insulating resin layer having rubber elasticity when heated, and a conductor circuit is formed on the insulating resin layer. Chip-mounted printed wiring board consisting of bumps of chip parts connected to the electrodes of.
【請求項2】 表面に導体回路を有する樹脂含浸ガラス
クロス積層板からなる内層基板の片面または両面に、加
熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂の層を形成し、該絶
縁性樹脂の層の上に表面の導体回路を形成し、該絶縁性
樹脂の層を貫通して内層基板上の導体回路と表面の導体
回路とをめっきで接続させてなり、かつ表面の導体回路
の電極にチップ部品のバンプを接続してなるブラインド
バイアホールを有するチップ実装プリント配線板。
2. An insulating resin layer having rubber elasticity when heated is formed on one or both sides of an inner layer substrate made of a resin-impregnated glass cloth laminate having a conductor circuit on the surface, and the insulating resin layer is formed on the insulating resin layer. A conductor circuit on the surface is formed, and the conductor circuit on the inner layer substrate and the conductor circuit on the surface are connected by plating by penetrating the insulating resin layer, and the electrode of the surface conductor circuit is connected to the electrode of the chip component. Chip mounted printed wiring board having blind via holes formed by connecting bumps.
【請求項3】 加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂
が、(1) アクリル酸および/またはメタクリル酸と、ア
クリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステル
とを主成分とする線状重合体であって、その構成成分で
あるアクリル酸および/またはメタクリル酸に由来する
カルボキシル基の一部に、グリシジル基およびC=C不
飽和二重結合を有する化合物を付加させた重合体、(2)
末端にC=C不飽和二重結合を有する重合性化合物、並
びに(3) 加熱および/または活性エネルギー線の照射に
よりC=C不飽和二重結合の重合を開始させ得る重合開
始剤、からなるアルカリ可溶性の樹脂組成物であること
を特徴とする請求項1または請求項2のチップ実装プリ
ント配線板。
3. The insulating resin having rubber elasticity when heated is (1) a linear polymer containing acrylic acid and / or methacrylic acid and acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester as main components. A polymer in which a compound having a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond is added to a part of a carboxyl group derived from acrylic acid and / or methacrylic acid which are its constituents, (2)
A polymerizable compound having a C = C unsaturated double bond at the terminal, and (3) a polymerization initiator capable of initiating the polymerization of the C = C unsaturated double bond by heating and / or irradiation with an active energy ray The chip-mounted printed wiring board according to claim 1 or 2, which is an alkali-soluble resin composition.
【請求項4】 加熱時にゴム弾性を有する絶縁性樹脂
が、(1) アクリル酸および/またはメタクリル酸と、ア
クリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステル
とを主成分とする線状重合体であって、その構成成分で
あるアクリル酸および/またはメタクリル酸に由来する
カルボキシル基の一部に、グリシジル基およびC=C不
飽和二重結合を有する化合物と、グリシジル基を有する
ハロゲン化フェニル化合物とを付加させた重合体、(2)
末端にC=C不飽和二重結合を有する重合性化合物、
(3) 加熱および/または活性エネルギー線の照射により
C=C不飽和二重結合の重合を開始させ得る重合開始
剤、並びに(4) −OH基を有する無機イオン交換体、か
らなるアルカリ可溶性の樹脂組成物であることを特徴と
する請求項1または請求項2のチップ実装プリント配線
板。
4. The insulating resin having rubber elasticity when heated is (1) a linear polymer containing acrylic acid and / or methacrylic acid and acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester as main components. , A compound having a glycidyl group and a C = C unsaturated double bond, and a halogenated phenyl compound having a glycidyl group are added to a part of the carboxyl groups derived from acrylic acid and / or methacrylic acid which are its constituents. Polymer, (2)
A polymerizable compound having a C = C unsaturated double bond at the terminal,
(3) A polymerization initiator capable of initiating the polymerization of a C = C unsaturated double bond by heating and / or irradiation with an active energy ray, and (4) an inorganic ion exchanger having an -OH group, which is alkali-soluble. The chip-mounted printed wiring board according to claim 1 or 2, which is a resin composition.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012067306A (en) * 2011-10-13 2012-04-05 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition and semiconductor device produced using the resin composition

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012067306A (en) * 2011-10-13 2012-04-05 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition and semiconductor device produced using the resin composition

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