JPH09232212A - 現像装置 - Google Patents
現像装置Info
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- JPH09232212A JPH09232212A JP8037890A JP3789096A JPH09232212A JP H09232212 A JPH09232212 A JP H09232212A JP 8037890 A JP8037890 A JP 8037890A JP 3789096 A JP3789096 A JP 3789096A JP H09232212 A JPH09232212 A JP H09232212A
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Abstract
除去することが可能な現像装置を提供することである。 【解決手段】 待機ポット4の内側に洗浄ノズル30を
設ける。洗浄ノズル30の洗浄液吐出路31の先端は、
現像ノズル9の先端部に向けて配置されている。洗浄ノ
ズル30から洗浄液を吐出すると、現像ノズル9の先端
部に付着した現像液の液滴が洗い流され、ドレイン配管
21から排出される。
Description
晶装置のガラス基板等の基板上に形成された感光性膜に
現像液を供給して現像処理を行う現像装置に関する。
回転塗布して基板上の感光性膜を現像する回転処理部
と、基板上に現像液を供給する現像ノズルとを備えてい
る。現像ノズルは、回動自在に設けられた現像ノズルア
ームに取り付けられており、基板の上方と待機位置との
間を移動することができる。
に移動し、基板上の感光性膜に現像液を供給する。供給
された現像液は、基板の回転によって基板上の全面に塗
り広げられ、感光性膜と接触して現像を行う。
現像ノズルアームの回動により基板の上方から退いた待
機位置に移動する。現像ノズルが待機位置に退避してい
る間に、回転処理部では、さらに基板表面の洗浄処理や
乾燥処理が行われる。一連の現像処理が終了すると、処
理済の基板が回転処理部から搬出され、新たな基板が供
給される。
現像ノズルのノズル孔付近の現像液は、大気にさらされ
ており、現像液中の水分が蒸発して現像液の濃度が変化
したり、変質したりする。このために、再び現像処理を
開始する前には、予め現像ノズルの先端部分の現像液を
吐出して排出し(プリディスペンス処理)、現像ノズル
中に供給されている現像液を均一化させている。
ルのノズル孔の近傍に現像液の液だれが生じ、液滴とな
って付着する。また、時間が経過すると、現像液の液滴
は結晶化してパーティクル(粒子)となって現像ノズル
の先端部に付着する。
ノズルを基板の上方に移動させて現像処理を開始した場
合、液滴が基板上に落下すると、現像むらが発生する。
また、パーティクルが基板上に落下すると、現像不均一
が生じる原因となる。
除去を行う方法が提案されている。図8は、液滴除去部
材を用いた液滴の除去動作を示す説明図である。このよ
うな方法は、例えば特開平4−30521号公報に示さ
れている。すなわち、この現像装置では、現像ノズル4
0の下面に付着した液滴42を除去するために、液滴除
去板41を用いている。液滴除去板41は、現像ノズル
40の移動経路の途中に設けられている。そして、液滴
除去板41の先端部は現像ノズル40の下面とわずかに
隙間を保持しつつ、現像ノズル40の下面に付着した液
滴42に接触しうるように形成されている。
には、現像ノズル40の下面に付着した液滴42が液滴
除去板41によって掻き取られる。これによって現像ノ
ズル40の下面の液滴42あるいはパーティクルを除去
している。
生産性の向上を図るために基板の大型化が進み、これに
伴って製造歩留りの向上がますます重要となってきてい
る。このような背景から、現像装置においても、液滴や
パーティクルの落下による現像むらや現像不均一等の発
生を極力防止することが要求される。
は、液滴除去板41の先端が現像ノズル40の下面に付
着した液滴42に接触するものの、現像ノズル40の下
面には直接接触しない。このために、現像ノズル40の
下面に微小な液滴42が残存する。残存した少量の現像
液は短時間で結晶化し易くなり、パーティクルを生じや
すい。また、現像ノズル40の外周面に付着した液滴4
2は除去されにくく、そのまま付着している場合が生じ
る。
やパーティクルは、上述したように現像むらや現像不均
一の原因となるため、現像ノズル40からより完全に除
去されることが望まれる。
した現像液を確実に除去することが可能な現像装置を提
供することである。
発明に係る現像装置は、基板の上方から現像液を供給す
る位置と、基板上から退いた待機位置との間を移動可能
に設けられた現像ノズルを備えた現像装置であって、待
機位置にある現像ノズルの先端部に向かって洗浄液を吐
出する洗浄液吐出手段を備えたものである。
に係る現像装置の構成において、待機位置には、上方が
開放されかつ底部に廃液を排出するための配管が接続さ
れた容器が配置されており、洗浄液吐出手段が容器の内
部に設けられているものである。
に係る現像装置の構成において、現像ノズルは、先端が
閉じられた筒状に形成されかつ先端近傍の外周面に現像
液を吐出するための複数のノズル孔を有し、洗浄液吐出
手段が、現像ノズルの側方から現像ノズルの先端近傍の
外周面に向かって洗浄液を吐出する位置に固定されてい
るものである。
に係る現像装置の構成において、待機位置にある現像ノ
ズルの先端部に近接して配置された吸引口と排気手段に
接続される排気口とを有し、現像ノズルの先端部に付着
した現像液の液滴を吸引口から吸引して排気口から排出
する液滴吸引手段をさらに備えたものである。
て、現像ノズルの先端部に付着した現像液の液滴は、洗
浄液吐出手段から吐出された洗浄液によって洗い流され
る。このため、現像ノズルの先端部に付着した現像液が
基板上に落下したり、あるいは結晶化してパーティクル
となって基板上に落下したりすることによって現像むら
や現像不均一が生じることを防止することができる。
は、洗浄液吐出手段が容器の内部に設けられており、か
つ容器の底部には廃液を排出するための配管が接続され
ている。したがって、洗浄液が周囲に飛散することがな
く、また洗浄後の廃液を効率良く処理することができ
る。
は、洗浄液吐出手段から現像ノズルの先端近傍の外周面
に向かって洗浄液を吐出することができる。このため、
現像液が最も付着しやすい部分の洗浄を行うことがで
き、それによって現像ノズルの先端部から確実に現像液
の液滴を除去することができる。
は、現像ノズルの先端に近接した液滴吸引手段をさらに
備えている。液滴吸引手段は、現像ノズルの先端部に付
着した現像液の液滴、あるいは洗浄後に付着した洗浄液
の液滴を吸引して排出することができる。このため、現
像ノズルの先端部から現像液の液滴を除去するととも
に、洗浄液の液滴も完全に除去することができる。
現像装置の平面図である。現像装置は、基板1を吸引保
持して回転させ、現像、リンス、および乾燥の各処理を
行う回転処理部2と、回転軸8を中心に基板1の上方と
待機位置との間を回動する現像ノズルアーム3と、現像
ノズルアーム3の待機位置に配置された待機ポット4と
を備えている。さらに、現像装置は、現像後の基板表面
を洗浄するためのリンス液を供給するリンス液供給ノズ
ル5と、現像前の基板上にプリウエット液(純水)を供
給するためのプリウエット液供給ノズル6と、基板上の
塵埃等を飛散させるためのN2 ガス噴射ノズル7とを備
えている。
ムおよびその周辺部の斜視図である。現像ノズルアーム
3の基部は回転軸8に固定されており、先端部には2つ
の現像ノズル9が設けられている。2つの現像ノズル9
には、異なる種類の現像液を供給するための現像液供給
ライン(図示せず)が個別に接続されている。各現像液
供給ラインは、現像ノズルアーム3の内部に配置され、
それぞれ異なる種類の現像液を供給するための供給手段
に接続されている。
図3に示すように、現像ノズル9はその先端部10が閉
じられた円筒形状に形成されており、先端部10近傍の
外周面には、複数のノズル孔11が形成されている。
供給された現像液は、閉じられた先端部10によってそ
の勢いがせき止められ、さらに流れ方向が曲げられてノ
ズル孔11から外方へ吐出される。このために、図1に
示す基板1の上方位置において、現像ノズル9は基板1
上に現像液を緩やかに供給することができる。
は、待機ポット4が配置されている。待機ポット4は、
上方が開放された中空の樹脂製容器から形成されてお
り、その底面には、現像液の廃液等を排出するためのド
レン配管21が接続されている。
ズル9の両側に対向するように複数個の洗浄ノズル30
が配置されている。各洗浄ノズル30は、直方体形状の
本体の内部に形成された洗浄液吐出路31を有してい
る。
の外周面に向けられており、現像ノズル9のノズル孔1
1が形成された高さにほぼ等しくなるように洗浄ノズル
30の固定位置が調整されている。
給配管32に接続されている。図4は、洗浄液供給配管
32の配管系統図である。図4に示すように、洗浄液供
給配管32は、リンス液供給源36から延び、空気弁3
3を介して洗浄ノズル30に導かれている。なお、図1
において示したリンス液供給ノズル5には、同じリンス
液供給源36からリンス液供給配管34が導かれ、その
途中に空気弁35が設けられている。
よびリンス液供給ノズル5からのリンス液吐出動作は、
現像コントローラ37によって制御されている。現像コ
ントローラ37は、空気弁33あるいは空気弁35の開
閉動作を制御することによって、洗浄ノズル30から洗
浄液を吐出させ、リンス液供給ノズル5からリンス液を
基板1上に吐出させる。なお、本実施例において、洗浄
液およびリンス液としては共に純水が用いられる。
0が本発明の洗浄液吐出手段を構成する。次に、洗浄ノ
ズル30の洗浄工程を含む現像装置の動作について説明
する。
ると、現像ノズルアーム3が基板1の上方位置から待機
ポット4の上方の待機位置に回動し、待機状態となる。
図3において、現像ノズル9はその先端部10が閉じら
れており、ノズル孔11が先端部10のやや上方の外周
面に形成されている。したがって、この待機位置におい
て、ノズル孔11から吐出された現像液がノズル孔11
の下方外周面および先端部10の下面に液滴42となっ
て付着している。
像処理が終了した基板1のリンス処理および乾燥処理が
行われる。その後、さらに、基板1の交換作業が行わ
れ、新たな基板1が回転処理部2に装着される。
浄ノズル30から洗浄液が吐出され、現像ノズル9の先
端部に付着した現像液の液滴42が洗い流され、ドレン
配管21を通して排出される。洗浄液が純水の場合に
は、現像ノズル9のノズル孔11の内部近傍の現像液
は、純水によって希釈される。基板1の現像処理の初期
に基板1上に供給される現像液は、所定濃度よりも薄め
の現像液であっても問題がなく、むしろ好ましい場合が
ある。したがって、現像ノズル9の洗浄処理により希釈
された現像ノズル9内の現像液を廃棄する必要がなく、
これによって、現像処理開始前のプリディスペンス処理
を省略することができる。
方に回動し、再び現像処理が開始される。以下、上記の
動作が繰り返して行われる。このように、本実施例によ
る現像装置では、現像ノズル9の先端部に付着した現像
液の液滴を洗い流すことができる。このため、現像液の
液滴やパーティクルの落下によって基板1上の感光性膜
に現像むらや現像不均一が生じることを防止することが
できる。
装置は、第1の実施例による現像装置に対して、現像ノ
ズルの先端に付着した液滴を吸引して除去する構成をさ
らに加えたものである。以下の説明においては、第1の
実施例の現像装置の説明に用いた図1および図2を再び
参照する。さらに、図5は、図2におけるX−X線断面
図であり、図6は図2におけるY−Y線断面図である。
待機ポット4の内面には、複数の洗浄ノズル30が固定
されている。洗浄ノズル30の構成および動作について
は、第1の実施例の洗浄ノズル30と同様であるため、
ここでの説明は省略する。
15が配置されている。図5および図6において、液だ
れ吸引ノズル15は、2つの現像ノズル9にそれぞれ対
応した2つの吸引ノズル部19aを備えている。吸引ノ
ズル部19aの内部には吸引路16aが形成されてい
る。
が配置されている。多孔質部材18は、上面側と下面側
とを通気する多数の孔が内部に形成された材料、例えば
金属メッシュ、焼結金属、多孔質樹脂等により形成され
る。多孔質部材18は、中央部分が開口されたキャップ
17によって吸引ノズル部19aの上端に取り付けられ
ている。
本体19の内部に形成された排気路16bに連通されて
いる。液だれ吸引ノズル15の排気口19bには排気配
管20が接続されている。図7は、液だれ吸引ノズル1
5の排気ラインの構成図である。図7において、排気配
管20はエゼクタ22に接続され、さらに気水分離ボッ
クス24に接続されている。エゼクタ22は、エゼクタ
22内に導入した圧縮空気23によって負圧を発生さ
せ、液だれ吸引ノズル15の吸引ノズル部19aの先端
近傍の外気を排気配管20を通して吸引し、気水分離ボ
ックス24に送り出す。
ル15から吸引された外気を気体分と液体分とに分離
し、液体分を排水ライン25に排出し、気体分を排気ラ
イン26に排出する。この排気ライン26は、さらに工
場内等に設けられた排気ラインに接続される。したがっ
て、工場内の排気ラインの排気能力が高ければ、エゼク
タ22を省略しても構わない。
ノズル15の動作についてさらに説明する。この洗浄ノ
ズル30による洗浄動作および液だれ吸引ノズル15に
よる液滴除去動作は、現像ノズル9が待機状態にある間
に行われる。
した現像ノズル9の先端部には現像液の液滴が付着して
おり、その一部は時間の経過とともに結晶化しパーティ
クルとなって付着している。
し、現像ノズル9の先端部に付着した液滴やパーティク
ルを洗い流す。洗浄後には、現像ノズル9の先端部に洗
浄液の液滴が残存する。
する。図5および図6において、現像ノズル9の先端部
10と多孔質部材18の両面との間隔は、液滴が多孔質
部材18の上面に接触し得る程度に、例えば0.5mm
に調整されている。したがって、多孔質部材18の上面
に接触した液滴は、表面張力の影響および多孔質部材1
8の孔の毛管現象によって多孔質部材18側に引き付け
られる。
質部材18の下面側から吸引され、外気とともに多孔質
部材18の孔を通して液だれ吸引ノズル15の内部に吸
い込まれる。多孔質部材18の孔は狭いため、外気は高
速で吸引路16aの内部に吸い込まれる。このため、多
孔質部材18の表面近傍での吸引力が増大し、現像ノズ
ル9の先端部10のみならず、ノズル孔11近傍の外周
面に付着した洗浄液の液滴も十分に吸引して除去するこ
とができる。
では、現像ノズル9の先端部が洗浄液によって洗浄され
るとともに、液だれ吸引ノズル15によって、洗浄後に
現像ノズル9に付着した洗浄液も吸引して除去される。
したがって、待機状態において、現像ノズル9の先端部
は清浄な状態に保たれる。このために、現像液の液滴の
落下による現像むら等の発生を防止することができる。
また、第1の実施例の場合と同様に、プリディスペンス
処理を省略することができる。
動作と、液だれ吸引ノズル15の吸引動作とは同時に行
なってもよい。 (第3の実施例)第3の実施例による現像装置は、第1
の実施例による現像装置または第2の実施例による現像
装置の構成に対して図8に示す液滴除去部材をさらに組
み合わせたものである。
ム3の先端部に取り付けられた現像ノズル9が通過する
移動経路のいずれかの位置に、液滴除去部材を設置す
る。液滴除去部材は、移動中の現像ノズル9の先端部か
らわずかに離れるとともに、先端部の下面に付着した液
滴に接触し得るように配置される。これによって、現像
ノズル9が回動する際に、液滴のみに接触して除去する
ことができる。
の、あるいは櫛状の先端形状を有するものなどを適用す
ることができる。なお、上記の第1〜第3の実施例によ
る現像装置では、2系統の現像ノズル9,9を有する現
像装置を例に説明したが、現像ノズル9が1系統の現像
装置に対しても本発明を適用することができる。この場
合には、洗浄ノズル30あるいは液だれ吸引ノズル15
は、1つの現像ノズル9に対応する構成を備えればよ
い。
る。
X−X線断面図である。
X−X線断面図である。
Y−Y線断面図である。
である。
除去動作を示す説明図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 基板の上方から現像液を供給する位置
と、基板上から退いた待機位置との間を移動可能に設け
られた現像ノズルを備えた現像装置であって、 前記待機位置にある前記現像ノズルの先端部に向かって
洗浄液を吐出する洗浄液吐出手段を備えたことを特徴と
する現像装置。 - 【請求項2】 前記待機位置には、上方が開放されかつ
底部に廃液を排出するための配管が接続された容器が配
置されており、 前記洗浄液吐出手段は、前記容器の内部に設けられてい
ることを特徴とする請求項1記載の現像装置。 - 【請求項3】 前記現像ノズルは、先端が閉じられた筒
状に形成されかつ先端近傍の外周面に現像液を吐出する
ための複数のノズル孔を有し、 前記洗浄液吐出手段は、前記現像ノズルの側方から前記
現像ノズルの先端近傍の外周面に向かって前記洗浄液を
吐出する位置に配置されていることを特徴とする請求項
2記載の現像装置。 - 【請求項4】 前記待機位置にある前記現像ノズルの先
端部に近接して配置された吸引口と、排気手段に接続さ
れる排気口とを有し、前記現像ノズルの先端部に付着し
た現像液の液滴を前記吸引口から吸引して前記排気口か
ら排出する液滴吸引手段をさらに備えたことを特徴とす
る請求項1記載の現像装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3789096A JP3453022B2 (ja) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 現像装置 |
KR1019970004733A KR100235103B1 (ko) | 1996-02-26 | 1997-02-17 | 현상장치 및 현상방법(developing apparatus and developing method) |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3789096A JP3453022B2 (ja) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 現像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09232212A true JPH09232212A (ja) | 1997-09-05 |
JP3453022B2 JP3453022B2 (ja) | 2003-10-06 |
Family
ID=12510143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3789096A Expired - Fee Related JP3453022B2 (ja) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 現像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3453022B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11329955A (ja) * | 1998-05-19 | 1999-11-30 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置および処理方法 |
JP2003505881A (ja) * | 1999-07-21 | 2003-02-12 | ステアーグ ミクロテヒ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 基板を処理するための装置 |
KR20120016011A (ko) * | 2010-08-12 | 2012-02-22 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 액 처리 장치, 액 처리 방법 및 기억 매체 |
US9927760B2 (en) | 2012-05-22 | 2018-03-27 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Development processing device |
-
1996
- 1996-02-26 JP JP3789096A patent/JP3453022B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP4651252B2 (ja) * | 1999-07-21 | 2011-03-16 | アイメック | 基板を処理するための装置 |
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US9927760B2 (en) | 2012-05-22 | 2018-03-27 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Development processing device |
US10960426B2 (en) | 2012-05-22 | 2021-03-30 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Development processing device |
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---|---|
JP3453022B2 (ja) | 2003-10-06 |
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