JPH09229772A - 光センサ - Google Patents

光センサ

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JPH09229772A
JPH09229772A JP8041103A JP4110396A JPH09229772A JP H09229772 A JPH09229772 A JP H09229772A JP 8041103 A JP8041103 A JP 8041103A JP 4110396 A JP4110396 A JP 4110396A JP H09229772 A JPH09229772 A JP H09229772A
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JP
Japan
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light
optical
color
light source
measured
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Pending
Application number
JP8041103A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Nishihara
一寛 西原
Takeshi Takao
健 鷹尾
Koji Inada
宏治 稲田
Takaaki Douko
隆明 道古
Mitsutoshi Nomura
光俊 野村
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Idec Izumi Corp
Original Assignee
Idec Izumi Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Idec Izumi Corp filed Critical Idec Izumi Corp
Priority to JP8041103A priority Critical patent/JPH09229772A/ja
Publication of JPH09229772A publication Critical patent/JPH09229772A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G01N2021/3181Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using LEDs

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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定精度の高い光センサを提供する。 【解決手段】 発光ダイオードLG、LR、LBに近接
して、色合成プリズム4が配置される。発光ダイオード
LG、・・・と色合成プリズム4との間の各光路内に、
ホログラム拡散板2が挿入される。色合成プリズム4に
より統合された投光光路内に、ハーフミラー6、レンズ
8が配置される。制御部14は、発光ダイオードLG、
・・・を時分割で、順次発光させる。各色光は、順次、
ホログラム拡散板2で拡散された後、色合成プリズム4
により、点Q4を通りX方向に平行な光路を進行し、ハ
ーフミラー6で反射されY方向に向きを変え、レンズ8
を透過した後、ワークWに投射される。光源である発光
ダイオードLG、・・・の形状が、ホログラム拡散板2
によりぼかされ、ワークWへの入射光量が均一になる。
したがって、ワークWの色を高精度に測定できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光センサに関
し、特に、光センサの測定精度の向上に関する。
【0002】
【従来の技術】図8に示すように、製造ラインにおい
て、着色されたワーク(被測定物)を色ごとに振分ける
場合等にカラーセンサが用いられる。図9に、従来のカ
ラーセンサの構成を示す。従来のカラーセンサ30にお
いては、光源32で発せられた光は、光ファイバー34
aを介して、ワークWに向けて投光され、ワークWで反
射された光が光ファイバー34bを介して、受光部50
に到達する。
【0003】受光部50には、前面にR(赤色)カラー
フィルタ36aを装着した受光素子38a、G(緑色)
カラーフィルタ36bを装着した受光素子38b、B
(青色)カラーフィルタ36cを装着した受光素子38
cが配置されている。したがって、受光部50におい
て、反射光はR、G、B3つの色成分に分解されること
になる。分解された各色成分は、各色成分に対応するア
ンプ40a、40b、40c、およびA/D変換器42
を介し、マイクロプロセッサ44に入力される。
【0004】マイクロプロセッサ44は、各色成分の比
率(各受光素子38a、・・・が受光した光量の比率)
に基づいてワークWの色を演算により求め、求めた色と
予め登録された色とを比較することにより、ワークWの
色がどの登録色に最も近いかを判定する。判定出力は出
力回路46を介して出力される。判定のタイミングは位
置センサ56(図8参照)により与えられる。
【0005】図8に示すように、上述の判定出力に基づ
いて、各ゲート48a、48b、48cの開閉を行なう
ことにより、製造ラインのベルトコンベアV上におい
て、着色されたワークWの振分けを行なうことができ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来のカラーセンサ30には、次のような問題点があっ
た。ワークWが小さい場合やワークW上の色検出領域が
狭い場合には、ワークW上において小さい照光スポット
を実現するために、ワークWに投光される光をレンズ
(図示せず)により絞り込む必要がある。
【0007】しかしながら、光を絞り込むことにより、
ワークWに光源32の形(LEDの場合は発光部の形
状、電球の場合はフィラメントの形状等)が、明瞭に映
り込む。図10Aに、光源32がLEDである場合に、
ワークW上に映り込んだ照光パターン52を一点鎖線で
示す。すなわち、ワークWには、LED(図示せず)の
発光部に対応する高照度部52aおよびLEDのワイヤ
ボンディング部に対応する低照度部52bが、照光パタ
ーン52として形成される。図10Bに、照光パターン
52の断面P1−P1における、入射光量の分布状況を
示す。
【0008】一方、ワークWの表面に着色点が多数配置
され、着色点の配置密度により色の濃さを表現する場合
がある。このような場合、着色点の配置密度すなわちワ
ークWの色の濃さと、受光部50における受光光量とが
一致しない場合が生ずる。
【0009】図11Aに、着色点54a、・・・の配置
密度が小さい(色の薄い)ワークW1上に形成された照
光パターン52を示す。図11Bに、この場合における
受光部50(図9参照)の受光光量の分布状況を示す。
一方、図12Aに、着色点54a、・・・の配置密度が
大きい(色の濃い)ワークW2上に形成された照光パタ
ーン52を示す。図12Aにおいて、ワークW2上に形
成された照光パターン52の低照度部52bには、ほと
んど光があたっていない(図10参照)。したがって、
低照度部52b内にある着色点54eによる反射光量
は、極めて少ない。このため、図12Aの場合における
受光部50の受光光量の分布状況は、図12Bのように
なる。
【0010】前述の図11Bの斜線部の面積と図12B
の斜線部の面積とは、ほぼ同一である。すなわち、受光
部50の受光光量は、図11に示すワークW1の場合と
図12に示すワークW2の場合とでは、ほとんどかわら
ない。このように、従来のカラーセンサ30において
は、ワークWの色の濃さを誤って判定するなど、色の測
定精度が必ずしも高くなかった。
【0011】この発明は、このような従来のカラーセン
サの問題点を解決し、測定精度の高いカラーセンサ等の
光センサを提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1の光センサは、
光源、光源から発せられた光を、被測定物に投光する光
学手段、光学手段から投光されて被測定物により反射さ
れまたは被測定物を透過した光を受光し、受光量に応じ
た光電気信号を得る受光手段、を備えた光センサにおい
て、光源と被測定物との間の光路上に、光を拡散させる
光拡散手段を配置するよう、光学手段を構成したことを
特徴とする。
【0013】請求項2の光センサは、請求項1の光セン
サにおいて、前記光源の近傍に前記光拡散手段を配置す
るよう、前記光学手段を構成したことを特徴とする。
【0014】請求項3の光センサは、請求項1または請
求項2の光センサにおいて、前記光拡散手段として、光
の回折を利用して透過光を拡散させる拡散板を用いたこ
とを特徴とする。
【0015】請求項4の光センサは、請求項1ないし請
求項3の光センサにおいて、前記光源が、異なる色の光
を発する複数の光源であり、前記光学手段が、複数の光
源から発せられた各光の光路を統合することにより、被
測定物に対して投光される各光の光路を相互に一致させ
る光路統合手段を備え、所定の発光タイミングにしたが
って、各光源が時分割で発光するよう制御する発光制御
手段、前記受光手段において得られた光電気信号を、前
記発光タイミングに基づいて、時分割で振分けることに
より、各光源に対応する信号を得る受光制御手段、を設
けたことを特徴とする。
【0016】請求項5の光センサは、請求項4の光セン
サにおいて、前記光路統合手段として、光の干渉を利用
して前記各光を選択的に透過または反射する1以上の選
択透過反射膜を、光路上における各光の統合点に配置し
たことを特徴とする。
【0017】
【発明の効果】請求項1の光センサは、光源と被測定物
との間の光路上に、光を拡散させる光拡散手段を配置す
るよう構成したことを特徴とする。したがって、光源か
ら発せられた光が光拡散手段により拡散されるため、被
測定物に投光される光をレンズ等により絞り込んだ場合
であっても、被測定物に光源の形状が映り込むことはな
い。このため、被測定物上に形成される照光パターン内
において、入射光量がほぼ均一となる。
【0018】この結果、着色点の配置密度により色の濃
さを表現するような被測定物であっても、着色点の配置
密度と、被測定物上で反射して受光手段に取込まれた光
量との関係は一定となる。すなわち、被測定物の色の濃
さを忠実に読み取ることができ、測定精度を向上させる
ことができる。
【0019】請求項2の光センサは、光源の近傍に光拡
散手段を配置するよう構成したことを特徴とする。した
がって、光源から発せられる光の減衰を小さく抑えるこ
とができる。すなわち、光源の光度が比較的小さい場合
であっても、被測定物に到達する光の強度を維持するこ
とができ、測定精度を高く保つことができる。
【0020】請求項3の光センサは、光拡散手段とし
て、光の回折を利用して透過光を拡散させる拡散板を用
いたことを特徴とする。したがって、拡散板に到達した
光は、拡散板を透過する際、光の回折現象に基づき、ほ
とんど減衰することなく拡散する。このため、光源の光
度が比較的小さい場合であっても、被測定物に到達する
光の強度を維持することができ、測定精度を高く保つこ
とができる。
【0021】さらに、光の拡散角度を所望の値に設定す
る事ができる。このため、被測定物または被測定領域の
大きさ、表面状態等に対応した最適な拡散角度を選択す
る事ができる。すなわち、被測定物に応じた、より高い
測定精度を得ることができる。
【0022】請求項4の光センサは、異なる色の光を発
する複数の光源から発せられた各光の光路を統合するこ
とにより、被測定物に対して投光される各光の光路を相
互に一致させ、所定の発光タイミングにしたがって、各
光源が時分割で発光するよう制御し、受光手段において
得られた光電気信号を、発光タイミングに基づいて、時
分割で振分けることにより、各光源に対応する信号を得
ることを特徴とする。
【0023】したがって、異なる色の各光は同一の光路
を通って被測定物に投光される。このため、光センサと
被測定物の距離が多少ばら付いても、被測定物で反射し
た各光が受光手段で受光される際、受光手段に対してず
れるおそれはない。この結果、各光の比率を正確に把握
することができ、被測定物の色の測定精度を向上させる
ことができる。
【0024】さらに、各光源の発光を時分割で制御する
ことにより、受光手段をひとつにすることができる。こ
のため、受光手段を複数設ける場合に比べ、ひとつの受
光手段あたりの受光光量が多くなる。この結果、光源の
光度が比較的小さい場合であっても、被測定物に到達す
る光の強度を維持することができ、測定精度を高く保つ
ことができる。また、受光手段を複数設ける場合に比
べ、低コストでカラーセンサを製造することができる。
【0025】請求項5の光センサは、光の干渉を利用し
て各光を選択的に透過または反射する1以上の選択透過
反射膜を、光路上における各光の統合点に配置したこと
を特徴とする。したがって、選択透過反射膜の材質、膜
厚を適当に選ぶことにより、任意の波長の光を透過また
は反射させることができる。したがって、被測定物や光
源の色に対応した最適な選択透過反射膜を選ぶことがで
きる。すなわち、被測定物に応じた、より高い色測定精
度を得ることができる。
【0026】
【発明の実施の形態】図1に、この発明の一実施形態に
よる光センサであるカラーセンサ60の全体構成を示
す。カラーセンサ60は、光源として、緑色光を発する
光源である発光ダイオードLG、赤色光を発する光源で
ある発光ダイオードLR、青色光を発する光源である発
光ダイオードLBを備えている。
【0027】発光ダイオードLG、LR、LBに近接し
て、光路統合手段である色合成プリズム4が配置されて
いる。発光ダイオードLG、LR、LBと色合成プリズ
ム4との間の各光路内に、光拡散手段であるホログラム
拡散板2が、それぞれ挿入されている。色合成プリズム
4により統合された投光光路内に、ハーフミラー6、レ
ンズ8が配置されている。色合成プリズム4、ホログラ
ム拡散板2、ハーフミラー6、レンズ8により、光学手
段を構成している。
【0028】レンズ8から投光され、被測定物であるワ
ークWにより反射された反射光の光路内には、レンズ
8、ハーフミラー6、レンズ10、IRカットフィルタ
12、および受光手段であるフォトダイオードPDが配
置されている。制御部14は、発光ダイオードLG、L
R、LBの発光を制御するとともに、フォトダイオード
PDからの信号に基づいて、ワークWの色を判断する。
なお、IRカットフィルタ12を用いることにより、フ
ォトダイオードPDが外乱光(赤外領域)の影響を受け
るのを防止している。
【0029】図2にホログラム拡散板2の断面構成を示
す。ホログラム拡散板2は、光の回折を利用して透過光
を拡散させる拡散板である。ホログラム拡散板2の光源
側面2aとは反対側に、拡散面2bが設けられている。
拡散面2bは、ホログラフィー技術を用いて形成された
細かいピッチの凹凸を有する面であり、凹凸の平均ピッ
チを調整することにより、拡散角度φを調整することが
できる。凹凸の平均ピッチを大きくする事により拡散角
度φを小さくし、凹凸のピッチを小さくする事により拡
散角度φを大きくすることができる。
【0030】ホログラム拡散板2の光源側面2aから入
射した光は、ほとんど減衰することなく、拡散面2bに
おいて所定の拡散角度φに拡散された後、光路を進行す
る。図3Aに、ホログラム拡散板2を透過した光をワー
クWに投光した場合の、ワークW上に映り込んだ照光パ
ターン62を示す。図3Bに、照光パターン62の断面
P2−P2における、入射光量の分布状況を示す。光源
である発光ダイオードLG、LR、LBの形状(図10
参照)が、ホログラム拡散板2によりぼかされ、ワーク
Wへの入射光量が均一になっている。
【0031】図1に示すように、色合成プリズム4は、
ガラス体16、選択透過反射膜である誘電体多層膜1
8、ガラス体20、誘電体多層膜22およびガラス体2
4を、この順にL字状に配置したものである。誘電体多
層膜18および誘電体多層膜22の材質、膜厚を調整す
ることにより、光の干渉を利用して、種々の波長の光を
選択的に透過または反射することができる。
【0032】図4に、誘電体多層膜18および誘電体多
層膜22の光透過特性を表わす。図4Aの点Q1からX
方向に入射した光は誘電体多層膜18および誘電体多層
膜22を透過し、点Q4に到達する。入射光を白色光と
した場合、点Q4に到達した光の波長成分は、図4Bの
ように、中波長の成分が多くなっている。すなわち、図
4Aの点Q1から矢印にそって点Q4に至る光路は、緑
色成分を多く通すよう構成されている。
【0033】また、図5に、誘電体多層膜18の光反射
特性および誘電体多層膜22の光透過特性を表わす。図
5Aの点Q2からY方向に入射した光は誘電体多層膜1
8によってX方向に反射され、その後、誘電体多層膜2
2を透過し、点Q4に到達する。入射光を白色光とした
場合、点Q4に到達した光の波長成分は、図5Bのよう
に、長波長の成分が多くなっている。すなわち、図5A
の点Q2から矢印にそって点Q4に至る光路は、赤色成
分を多く通すよう構成されている。
【0034】同様に、図6に、誘電体多層膜22の光反
射特性を表わす。図6Aの点Q3からY方向に入射した
光は誘電体多層膜22によってX方向に反射され、点Q
4に到達する。入射光を白色光とした場合、点Q4に到
達した光の波長成分は、図6Bのように、短波長の成分
が多くなっている。すなわち、図6Aの点Q3から矢印
にそって点Q4に至る光路は、青色成分を多く通すよう
構成されている。
【0035】このように、色合成プリズム4において
は、誘電体多層膜18および誘電体多層膜22の材質、
膜厚を調整することにより、図1に示すように、点Q
1、Q2、Q3にそれぞれ配置された発光ダイオードL
G、LR、LBの発した光をほとんど減衰させることな
く、点Q4を通りX方向に平行な光路に統合することが
できる。
【0036】図7に制御部14のブロック図を示す。同
期回路64は、所定の発光タイミングに基づいて同期信
号G、R、Bを時分割で順次生成する。投光回路66
は、同期信号G、R、Bにしたがって、発光ダイオード
LG、LR、LBを時分割で順次発光させる。同期回路
64および投光回路66が、発光制御手段に対応する。
【0037】受光回路68は、フォトダイオードPDを
制御するとともに、フォトダイオードPDにより得られ
た光電気信号を増幅回路70に伝達する。増幅回路70
は、入力されたアナログ信号を増幅した後、受光制御手
段であるA/D変換器72に出力する。
【0038】A/D変換器72は、増幅回路70から入
力された増幅後のアナログ信号を、同期回路64が生成
する同期信号G、R、Bに基づいて、時分割で振分ける
ことにより、各発光ダイオードLG、LR、LBに対応
するアナログ信号を得るとともに、振分けられたアナロ
グ信号をデジタル信号に変換することにより、各発光ダ
イオードLG、LR、LBに対応するデジタル信号S
G、SR、SBを得る。
【0039】色演算回路74は、デジタル信号SG、S
R、SBに基づいて、フォトダイオードPDに入射した
光の色を演算する。比較器76は、メモリ78に予め記
憶されている基準色と入射光の色とを比較し、最も入射
光の色に近い基準色を、ワークWの色として出力回路8
2に送り込む。
【0040】出力回路82は、送り込まれたワークWの
色に基づいて、ゲート48a、・・・(図8参照)等の
外部機器を駆動する信号等を出力する。
【0041】基準色を登録する場合は、入力回路80を
介して、上述の基準色をメモリ78に登録するための信
号を、外部からのスイッチ等を利用して入力する。ま
た、入力回路80を介して、上述の基準色と入射光の色
とを比較するタイミングが、位置センサ56(図8参
照)等の外部機器等から入力される。
【0042】つぎに、図1に基づいて、カラーセンサ6
0の動作を説明する。制御部14は、発光ダイオードL
G、LR、LBを時分割で順次発光させる。まず、発光
ダイオードLGにおいて発せられた緑色光が、ホログラ
ム拡散板2で拡散された後、色合成プリズム4のガラス
体16、誘電体多層膜18、ガラス体20、誘電体多層
膜22およびガラス体24を透過し、点Q4を通るX方
向に平行な光路を進行する。緑色光は、点Q4において
ハーフミラー6で反射されてY方向に向きを変え、レン
ズ8を透過した後、ワークWに投射される。
【0043】前述のように(図3参照)、投射された緑
色光がワークW上に形成する照光パターン62において
は、光源である発光ダイオードLGの形状が、ホログラ
ム拡散板2によりぼかされ、ワークWへの入射光量が均
一になっていることがわかる。
【0044】投射された緑色光は、ワークWの色彩に応
じて、ワークWの表面で反射される。つまり、ワークW
の色彩が緑色成分を多く含む場合には、反射光量は多く
なる。ワークWで反射された緑色光は、再びレンズ8を
透過した後、ハーフミラー6を透過して、レンズ10お
よびIRカットフィルタ12を介して、フォトダイオー
ドPDに到達する。フォトダイオードPDは、受光した
緑色光の光量に対応した光電気信号を制御部14に送り
込む。
【0045】上述の緑色光と同様の手順により、時分割
で順次発光され、ワークWにより反射された赤色光、青
色光が、フォトダイオードPDで光電変換され、順次、
制御部14に送り込まれる。
【0046】図1に示すように、色合成プリズム4を用
いることにより、緑色光、赤色光、青色光は、すべて点
Q4を通るX方向に平行な光路を進行した後、ワークW
で反射され、ともに同一の反射光路を通ってフォトダイ
オードPDに到達する。つまり、ワークWで反射される
前後の光路は、レンズ8とワークWとの距離とは無関係
で、常に一定である。したがって、レンズ8とワークW
との距離が多少ばら付いても、各色光の光路のずれによ
る測定誤差は生じない。
【0047】制御部14は、順次送り込まれる、各色光
に対応した光電気信号に基づいて、位置センサ56(図
8参照)等の外部機器等から入力されるタイミングにし
たがって、ワークWの色を判定し、ゲート48a、・・
・(図8参照)等の外部機器を駆動するための信号等を
出力する。
【0048】なお、上述の実施形態においては、ホログ
ラム拡散板2を発光ダイオードLG、LR、LBの近傍
に配置したが、ホログラム拡散板2は、発光ダイオード
LG、LR、LBとワークWとの間の光路上であれば、
上記位置以外の位置に設けることもできる。
【0049】上述の実施形態においては、光の回折を利
用して透過光を拡散させる拡散板としてホログラム拡散
板2を用いたが、光の回折を利用して透過光を拡散させ
る拡散板としてホログラム拡散板2以外の拡散板を用い
ることもできる。また、光拡散手段として、光の回折を
利用して透過光を拡散させる拡散板以外に、乳白板、す
りガラス板等を用いることもできる。
【0050】また、光の干渉を利用して各光を選択的に
透過または反射する1以上の選択透過反射膜を光路上に
おける各光の統合点に配置する手段として、色合成プリ
ズム4を例示したが、該手段は色合成プリズム4に限定
されるものではない。また、選択透過反射膜として、誘
電体多層膜18、22を用いたが、選択透過反射膜は、
誘電体多層膜に限定されるものではない。
【0051】光路統合手段として、光の干渉を利用して
各光を選択的に透過または反射する1以上の選択透過反
射膜を、光路上における各光の統合点に配置する手段を
設けたが、光路統合手段は、上述の手段に限定されるも
のではない。
【0052】上述の実施形態においては、光学手段とし
て色合成プリズム4、ホログラム拡散板2、ハーフミラ
ー6、レンズ8を用いたが、光学手段は、これに限定さ
れるものではない。
【0053】上述の実施形態においては、受光手段とし
てフォトダイオードPDを用いたが、受光手段はフォト
ダイオードPDに限定されるものではなく、フォトトラ
ンジスタ等種々の光電変換素子を用いることができる。
【0054】上述の実施形態においては、発光制御手段
として同期回路64および投光回路66を用いたが、発
光制御手段はこれに限定されるものではない。また、受
光制御手段として、A/D変換器72を用いたが、受光
制御手段はこれに限定されるものではない。
【0055】また、上述の実施形態においては、光源と
して発光ダイオードLG、LR、LBを用いたが、光源
としてハロゲン球等を用いることもできる。光源として
ハロゲン球を用いる場合には、図1に示す色合成プリズ
ム4は不要となる。また、光源も一つでよい。したがっ
てこの場合、たとえば図9に示すカラーセンサ30の光
源32と光ファイバー34aとの間の光路33上に、上
述の光拡散手段を挿入して用いればよい。
【0056】また、上述の実施形態においては、反射型
のカラーセンサを例に説明したが、この発明は透過型の
カラーセンサに適用することもできる。また、カラーセ
ンサに限定されるものではなく、光センサ一般に適用さ
れるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態による光センサであるカ
ラーセンサの全体構成を示す図面である。
【図2】この発明の一実施形態によるカラーセンサに用
いられるホログラム拡散板の断面構成を示す図面であ
る。
【図3】ホログラム拡散板を透過した光の特性を説明す
るための図面である。
【図4】この発明の一実施形態によるカラーセンサに用
いられる色合成プリズム4に使用される誘電体多層膜の
光透過/反射特性を示す図面である。
【図5】この発明の一実施形態によるカラーセンサに用
いられる色合成プリズム4に使用される誘電体多層膜の
光透過/反射特性を示す図面である。
【図6】この発明の一実施形態によるカラーセンサに用
いられる色合成プリズム4に使用される誘電体多層膜の
光透過/反射特性を示す図面である。
【図7】この発明の一実施形態によるカラーセンサの制
御部を示すブロック図である。
【図8】製造ラインにおいて、着色されたワークを色ご
とに振分けるためにカラーセンサを用いた場合の説明図
である。
【図9】従来のカラーセンサの全体構成を示す図面であ
る。
【図10】従来のカラーセンサにより、ワーク上に投射
された照光パターンの説明をするための図面である。
【図11】従来のカラーセンサにより、ワーク上に投射
された照光パターンの説明をするための図面である。
【図12】従来のカラーセンサにより、ワーク上に投射
された照光パターンの説明をするための図面である。
【符号の説明】
2・・・・・ホログラム拡散板 4・・・・・色合成プリズム 6・・・・・ハーフミラー 8・・・・・レンズ LG・・・・緑色光を発する発光ダイオード LR・・・・赤色光を発する発光ダイオード LB・・・・青色光を発する発光ダイオード W・・・・・ワーク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 道古 隆明 大阪府大阪市淀川区西宮原1丁目7番31号 和泉電気株式会社内 (72)発明者 野村 光俊 大阪府大阪市淀川区西宮原1丁目7番31号 和泉電気株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源、 光源から発せられた光を、被測定物に投光する光学手
    段、 光学手段から投光されて被測定物により反射されまたは
    被測定物を透過した光を受光し、受光量に応じた光電気
    信号を得る受光手段、 を備えた光センサにおいて、 光源と被測定物との間の光路上に、光を拡散させる光拡
    散手段を配置するよう、光学手段を構成したことを特徴
    とする光センサ。
  2. 【請求項2】請求項1の光センサにおいて、 前記光源の近傍に前記光拡散手段を配置するよう、前記
    光学手段を構成したことを特徴とするもの。
  3. 【請求項3】請求項1または請求項2の光センサにおい
    て、 前記光拡散手段として、光の回折を利用して透過光を拡
    散させる拡散板を用いたことを特徴とするもの。
  4. 【請求項4】請求項1ないし請求項3の光センサにおい
    て、 前記光源が、異なる色の光を発する複数の光源であり、 前記光学手段が、複数の光源から発せられた各光の光路
    を統合することにより、被測定物に対して投光される各
    光の光路を相互に一致させる光路統合手段を備え、 所定の発光タイミングにしたがって、各光源が時分割で
    発光するよう制御する発光制御手段、 前記受光手段において得られた光電気信号を、前記発光
    タイミングに基づいて、時分割で振分けることにより、
    各光源に対応する信号を得る受光制御手段、 を設けたことを特徴とするもの。
  5. 【請求項5】請求項4の光センサにおいて、 前記光路統合手段として、光の干渉を利用して前記各光
    を選択的に透過または反射する1以上の選択透過反射膜
    を、光路上における各光の統合点に配置したことを特徴
    とするもの。
JP8041103A 1996-02-28 1996-02-28 光センサ Pending JPH09229772A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100444986B1 (ko) * 2001-09-29 2004-08-21 삼성전자주식회사 조명계 및 이를 채용한 프로젝터
JP4641105B2 (ja) * 2001-02-06 2011-03-02 大日本印刷株式会社 分光光度計、それに用いる試料用容器、および較正方法

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JP4641105B2 (ja) * 2001-02-06 2011-03-02 大日本印刷株式会社 分光光度計、それに用いる試料用容器、および較正方法
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