JPH09223324A - 光記録又は光再生装置 - Google Patents
光記録又は光再生装置Info
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- JPH09223324A JPH09223324A JP8092724A JP9272496A JPH09223324A JP H09223324 A JPH09223324 A JP H09223324A JP 8092724 A JP8092724 A JP 8092724A JP 9272496 A JP9272496 A JP 9272496A JP H09223324 A JPH09223324 A JP H09223324A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は基板厚、トラックピッチ及びピット
長の異なる光ディスクを、アパーチャを選択的に介在さ
せて互換的に記録又は再生できる装置を提供するもので
ある。 【解決手段】 本発明では、半導体レーザ１より発せら
れる短波長のレーザビームをコリメータレンズ２にて平
行光とし、偏光ビームスプリッタ３、１／４波長板、を
介してトラッキング方向に長い透孔を有するアパーチャ
９ａに入射し、トラッキング方向に長いレーザビームを
トラッキング方向に変位する対物レンズ５に入射する。
長の異なる光ディスクを、アパーチャを選択的に介在さ
せて互換的に記録又は再生できる装置を提供するもので
ある。 【解決手段】 本発明では、半導体レーザ１より発せら
れる短波長のレーザビームをコリメータレンズ２にて平
行光とし、偏光ビームスプリッタ３、１／４波長板、を
介してトラッキング方向に長い透孔を有するアパーチャ
９ａに入射し、トラッキング方向に長いレーザビームを
トラッキング方向に変位する対物レンズ５に入射する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板厚と記録密度
の異なる複数種類の光ディスクを再生する光再生装置に
関する。
の異なる複数種類の光ディスクを再生する光再生装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ−ＲＯＭのように半導体レーザを用
いて情報を読み出す約１．２ｍｍの厚さの光ディスクが
提供されている。この種の光ディスクではピックアップ
用対物レンズにフォーカスサーボ及びトラッキングサー
ボをかけることにより、信号記録面のピット列にレーザ
ビームを照射させ、信号を再生している。また、最近で
は長時間の動画を記録するための高密度化が進んでい
る。
いて情報を読み出す約１．２ｍｍの厚さの光ディスクが
提供されている。この種の光ディスクではピックアップ
用対物レンズにフォーカスサーボ及びトラッキングサー
ボをかけることにより、信号記録面のピット列にレーザ
ビームを照射させ、信号を再生している。また、最近で
は長時間の動画を記録するための高密度化が進んでい
る。
【０００３】例えば、ＣＤ−ＲＯＭと同じ直径１２ｃｍ
の光ディスクに、片面で約５Ｇｂｙｔｅの情報を記録す
るＳＤ規格が提案されている。ＳＤのディスク厚は約
０．６ｍｍであり、これを両面貼り合わせることによ
り、１枚で約１０Ｇｂｙｔｅの情報を記録できる。ま
た、ＣＤ−ＲＯＭと同じ直径１２ｃｍの光ディスクに、
１層で約３．７Ｇｂｙｔｅの情報を記録するＭＭＣＤ規
格が提案されている。ＭＭＣＤのディスク厚は約１．２
ｍｍであり、２層構造にすることにより、片面で約７．
４Ｇｂｙｔｅの情報を記録できる。
の光ディスクに、片面で約５Ｇｂｙｔｅの情報を記録す
るＳＤ規格が提案されている。ＳＤのディスク厚は約
０．６ｍｍであり、これを両面貼り合わせることによ
り、１枚で約１０Ｇｂｙｔｅの情報を記録できる。ま
た、ＣＤ−ＲＯＭと同じ直径１２ｃｍの光ディスクに、
１層で約３．７Ｇｂｙｔｅの情報を記録するＭＭＣＤ規
格が提案されている。ＭＭＣＤのディスク厚は約１．２
ｍｍであり、２層構造にすることにより、片面で約７．
４Ｇｂｙｔｅの情報を記録できる。
【０００４】一方、光ピックアップの対物レンズは、対
象とするディスクの基板の厚さとレーザビーム波長とを
織り込んで設計してあり、設計と異なる厚さの光ディス
クを記録／再生しようとすると、当該光ディスクの情報
記録面にはビームスポットが集光せず、記録／再生が不
可能となる。例えば、０．６ｍｍの厚さの高密度ディス
ク用に設計されている対物レンズでは、１．２ｍｍの厚
さの標準密度のＣＤや高密度のＭＭＣＤの信号記録面に
はビームスポットが集光せず、信号を再生することがで
きない。
象とするディスクの基板の厚さとレーザビーム波長とを
織り込んで設計してあり、設計と異なる厚さの光ディス
クを記録／再生しようとすると、当該光ディスクの情報
記録面にはビームスポットが集光せず、記録／再生が不
可能となる。例えば、０．６ｍｍの厚さの高密度ディス
ク用に設計されている対物レンズでは、１．２ｍｍの厚
さの標準密度のＣＤや高密度のＭＭＣＤの信号記録面に
はビームスポットが集光せず、信号を再生することがで
きない。
【０００５】そこで、特開平５−３０３７６６号公報に
は、厚さ０．６ｍｍの薄型基板を有する高密度の光ディ
スクと、厚さ１．２ｍｍの標準厚の基板を有する標準密
度の光ディスクとを、１個の光ピックアップによって再
生できるようにする装置が提案されている。この技術は
短波長のレーザビームにて高密度のディスクを再生すべ
く設計された開口数０．６の対物レンズを用い、標準厚
で標準密度の光ディスクを再生する場合に、収差補正手
段にレーザビームの外周側を遮光して実行的な開口数を
減少させるアパーチャを付加したものを対物レンズの光
源側に介挿する装置である。
は、厚さ０．６ｍｍの薄型基板を有する高密度の光ディ
スクと、厚さ１．２ｍｍの標準厚の基板を有する標準密
度の光ディスクとを、１個の光ピックアップによって再
生できるようにする装置が提案されている。この技術は
短波長のレーザビームにて高密度のディスクを再生すべ
く設計された開口数０．６の対物レンズを用い、標準厚
で標準密度の光ディスクを再生する場合に、収差補正手
段にレーザビームの外周側を遮光して実行的な開口数を
減少させるアパーチャを付加したものを対物レンズの光
源側に介挿する装置である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】特開平５−３０３７６
６号公報の技術において、対物レンズはトラッキング制
御によりレーザビームの光軸に対してトラッキング方向
に変位する。しかし、アパーチャは、トラッキング制御
とは無関係にレーザビームの光軸に対し固定されてい
る。従って、アパーチャを介在した対物レンズが、アパ
ーチャが存在しない場合と同様のトラッキング範囲で変
位すると、レーザビームの光軸に対する対物レンズの光
軸のズレ量に応じて、信号記録面に照射されるビームス
ポットの変形の度合いが大きくなる。その理由は、アパ
ーチャによりレーザビームの径が小さくなる為、対物レ
ンズの変位量が相対的に拡大されたかの様に、ビームス
ポットが大きく変化する為である。
６号公報の技術において、対物レンズはトラッキング制
御によりレーザビームの光軸に対してトラッキング方向
に変位する。しかし、アパーチャは、トラッキング制御
とは無関係にレーザビームの光軸に対し固定されてい
る。従って、アパーチャを介在した対物レンズが、アパ
ーチャが存在しない場合と同様のトラッキング範囲で変
位すると、レーザビームの光軸に対する対物レンズの光
軸のズレ量に応じて、信号記録面に照射されるビームス
ポットの変形の度合いが大きくなる。その理由は、アパ
ーチャによりレーザビームの径が小さくなる為、対物レ
ンズの変位量が相対的に拡大されたかの様に、ビームス
ポットが大きく変化する為である。
【０００７】この照射スポットは、トラッキング方向に
もトラック方向にも変形するが、トラッキング方向の変
形はクロストークノイズの原因に、またトラック方向の
変形はジッタ悪化の原因となる。図３は、トラキッング
追随量に対するジッタ量を示す図であり、従来装置の場
合黒丸印を結んだグラフで示すように、対物レンズのト
ラッキング追従範囲が大きくなるに従って、対物レンズ
の中心と前記アパーチャの中心のずれが大きくなりジッ
タが急激に大きくなることが分かる。尚、白丸印を結ん
だグラフは、対物レンズに図２のアパーチャを貼り付け
た場合のジッタ量の変化を示す。
もトラック方向にも変形するが、トラッキング方向の変
形はクロストークノイズの原因に、またトラック方向の
変形はジッタ悪化の原因となる。図３は、トラキッング
追随量に対するジッタ量を示す図であり、従来装置の場
合黒丸印を結んだグラフで示すように、対物レンズのト
ラッキング追従範囲が大きくなるに従って、対物レンズ
の中心と前記アパーチャの中心のずれが大きくなりジッ
タが急激に大きくなることが分かる。尚、白丸印を結ん
だグラフは、対物レンズに図２のアパーチャを貼り付け
た場合のジッタ量の変化を示す。
【０００８】今後、現行密度で基板厚が約１．２ｍｍの
光ディスク（ＣＤ，ＣＤーＲＯＭ）と、高密度で基板厚
が約１．２ｍｍの光ディスク（ＭＭＣＤ）と、高密度で
基板厚が約０．６ｍｍの光ディスク（ＳＤ）とが併存す
ることが予想される。このため、ＣＤ等とＭＭＣＤとＳ
Ｄといった光ディスクを全て再生することが出来る光再
生装置が望まれる。本発明は、ＣＤ等とＭＭＣＤとＳＤ
といった光ディスクを、アパーチャを選択的に介在させ
る１個の光ピックアップにより再生する場合に、ジッタ
量を低減することを目的とする。
光ディスク（ＣＤ，ＣＤーＲＯＭ）と、高密度で基板厚
が約１．２ｍｍの光ディスク（ＭＭＣＤ）と、高密度で
基板厚が約０．６ｍｍの光ディスク（ＳＤ）とが併存す
ることが予想される。このため、ＣＤ等とＭＭＣＤとＳ
Ｄといった光ディスクを全て再生することが出来る光再
生装置が望まれる。本発明は、ＣＤ等とＭＭＣＤとＳＤ
といった光ディスクを、アパーチャを選択的に介在させ
る１個の光ピックアップにより再生する場合に、ジッタ
量を低減することを目的とする。
【０００９】また、ＣＤ、ＳＤ及びＳＤよりさらに高密
度の次世代ＳＤの互換再生及び互換記録を可能とする光
記録又は光再生装置を提供することを目的とするもので
ある。
度の次世代ＳＤの互換再生及び互換記録を可能とする光
記録又は光再生装置を提供することを目的とするもので
ある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、トラッキング
制御により基体に対して変位する対物レンズを用いて基
板厚又は記録密度の異なる光ディスクの信号記録面に発
光体が発するレーザビームを照射させるとともに、信号
記録面で反射されるレーザビームを光検出器へ導く光学
手段を備えた光記録又は光再生装置であって、再生する
光ディスクの基板厚又は記録密度に応じて、トラック方
向よりもトラッキング方向に長くなるようにレーザビー
ムの外側を遮光する絞り手段を設けることを特徴とす
る。
制御により基体に対して変位する対物レンズを用いて基
板厚又は記録密度の異なる光ディスクの信号記録面に発
光体が発するレーザビームを照射させるとともに、信号
記録面で反射されるレーザビームを光検出器へ導く光学
手段を備えた光記録又は光再生装置であって、再生する
光ディスクの基板厚又は記録密度に応じて、トラック方
向よりもトラッキング方向に長くなるようにレーザビー
ムの外側を遮光する絞り手段を設けることを特徴とす
る。
【００１１】また、本発明は、絞り手段がアパーチャで
あることを特徴とする。また、本発明は、前記アパーチ
ャが固定形状であり、アパーチャは、レーザビームの光
路に対して選択的に介挿することを特徴とする。また、
本発明は、アパーチャが機械的に長孔を形成する絞り手
段であることを特徴とする。
あることを特徴とする。また、本発明は、前記アパーチ
ャが固定形状であり、アパーチャは、レーザビームの光
路に対して選択的に介挿することを特徴とする。また、
本発明は、アパーチャが機械的に長孔を形成する絞り手
段であることを特徴とする。
【００１２】また、本発明は、アパーチャが電気的に長
孔を形成する絞り手段であることを特徴とする。また、
本発明は、電気的に長孔を形成する絞り手段が液晶であ
ることを特徴とする。また、本発明は、絞り手段が偏光
方向を回転させて透過させる偏光面切換手段と、特定方
向に偏光するレーザビームのみを透過させる偏光選択手
段とより成ることを特徴とする。
孔を形成する絞り手段であることを特徴とする。また、
本発明は、電気的に長孔を形成する絞り手段が液晶であ
ることを特徴とする。また、本発明は、絞り手段が偏光
方向を回転させて透過させる偏光面切換手段と、特定方
向に偏光するレーザビームのみを透過させる偏光選択手
段とより成ることを特徴とする。
【００１３】また、本発明は、偏光面切換手段がトラッ
ク方向よりもトラッキング方向に長くなるようにレーザ
ビームの外側の偏光面を切り換えることを特徴とする。
また、本発明は、偏光選択手段がトラック方向よりもト
ラッキング方向に長くなるようにレーザビームの外側を
遮光することを特徴とする。また、本発明は、偏光面切
換手段が電気的に偏光面を回転させることを特徴とす
る。
ク方向よりもトラッキング方向に長くなるようにレーザ
ビームの外側の偏光面を切り換えることを特徴とする。
また、本発明は、偏光選択手段がトラック方向よりもト
ラッキング方向に長くなるようにレーザビームの外側を
遮光することを特徴とする。また、本発明は、偏光面切
換手段が電気的に偏光面を回転させることを特徴とす
る。
【００１４】また、本発明は、偏光面切換手段がＴＮ型
液晶であることを特徴とする。また、本発明は、偏光面
切換手段が強誘電性型液晶であることを特徴とする。ま
た、本発明は、偏光面切換手段がＳＴＮ型液晶であるこ
とを特徴とする。また、本発明は、レーザビームが液晶
を通過することによってレーザビームの偏光方向が変化
しない状態で薄型の光ディスクの再生を行い、レーザビ
ームが液晶を通過することによってレーザビームの偏光
方向が変化する状態で標準厚の光ディスクの再生を行う
ことを特徴とする。
液晶であることを特徴とする。また、本発明は、偏光面
切換手段が強誘電性型液晶であることを特徴とする。ま
た、本発明は、偏光面切換手段がＳＴＮ型液晶であるこ
とを特徴とする。また、本発明は、レーザビームが液晶
を通過することによってレーザビームの偏光方向が変化
しない状態で薄型の光ディスクの再生を行い、レーザビ
ームが液晶を通過することによってレーザビームの偏光
方向が変化する状態で標準厚の光ディスクの再生を行う
ことを特徴とする。
【００１５】また、本発明は、液晶の内、レーザビーム
の光路に相当する領域にはギャップ剤が挿入されていな
いことを特徴とする。また、本発明は、液晶が封入され
る領域が複数に分割されており、レーザビームの光路に
相当する領域以外の領域にギャップ剤が挿入されている
ことを特徴とする。
の光路に相当する領域にはギャップ剤が挿入されていな
いことを特徴とする。また、本発明は、液晶が封入され
る領域が複数に分割されており、レーザビームの光路に
相当する領域以外の領域にギャップ剤が挿入されている
ことを特徴とする。
【００１６】また、本発明は、ギャップ剤の直径が４〜
１０μｍの範囲であることを特徴とする。また、本発明
は、ギャップ剤の直径が５〜７μｍの範囲であることを
特徴とする。また、本発明は、偏光面切換手段がポッケ
ルスセルであることを特徴とする光記録又は光再生装
置。
１０μｍの範囲であることを特徴とする。また、本発明
は、ギャップ剤の直径が５〜７μｍの範囲であることを
特徴とする。また、本発明は、偏光面切換手段がポッケ
ルスセルであることを特徴とする光記録又は光再生装
置。
【００１７】また、本発明は、偏光面切換手段が磁気的
に偏光面を回転させることを特徴とする。また、本発明
は、偏光面切換手段がファラディー素子であることを特
徴とする。また、本発明は、偏光方向が互いに直交する
２種類のレーザビームを出射する２個のレーザダイオー
ドを有し、偏光面切換手段が２種類のレーザビームを切
り換えるレーザ切換手段であることを特徴とする。
に偏光面を回転させることを特徴とする。また、本発明
は、偏光面切換手段がファラディー素子であることを特
徴とする。また、本発明は、偏光方向が互いに直交する
２種類のレーザビームを出射する２個のレーザダイオー
ドを有し、偏光面切換手段が２種類のレーザビームを切
り換えるレーザ切換手段であることを特徴とする。
【００１８】また、本発明は、発光体が別個に形成した
２個のレーザ素子を基盤上に固着させたことを特徴とす
る。また、本発明は、発光体が同一基盤上に２個のレー
ザ素子を同時に形成したことを特徴とする。また、本発
明は、偏光面切換手段がレーザダイオード自体を９０度
回転させるレーザ回転手段であることを特徴とする。
２個のレーザ素子を基盤上に固着させたことを特徴とす
る。また、本発明は、発光体が同一基盤上に２個のレー
ザ素子を同時に形成したことを特徴とする。また、本発
明は、偏光面切換手段がレーザダイオード自体を９０度
回転させるレーザ回転手段であることを特徴とする。
【００１９】また、本発明は、偏光選択手段が有機膜を
用いた偏光フィルタであることを特徴とする。また、本
発明は、偏光選択手段が内側にレーザビームの透過率を
低下させるフィルタを有することを特徴とする。また、
本発明は、偏光選択手段が偏光ガラスであることを特徴
とする。
用いた偏光フィルタであることを特徴とする。また、本
発明は、偏光選択手段が内側にレーザビームの透過率を
低下させるフィルタを有することを特徴とする。また、
本発明は、偏光選択手段が偏光ガラスであることを特徴
とする。
【００２０】また、本発明は、偏光選択手段が偏光選択
性ホログラムであることを特徴とする。また、本発明
は、偏光選択手段がゲストホスト素子であることを特徴
とする。また、本発明は、偏光選択手段が偏光ビームス
プリッタであることを特徴とする。
性ホログラムであることを特徴とする。また、本発明
は、偏光選択手段がゲストホスト素子であることを特徴
とする。また、本発明は、偏光選択手段が偏光ビームス
プリッタであることを特徴とする。
【００２１】また、本発明は、偏光選択手段が偏光選択
性回折格子であることを特徴とする。また、本発明は、
偏光選択手段の選択方向がレーザビームの偏光方向と一
致することを特徴とする。また、本発明は、レーザビー
ムを発する発光体と、偏光ビームスプリッタと、１／４
波長板とを有し、１／４波長板は、偏光ビームスプリッ
タと対物レンズの間に位置し、絞り手段は、１／４波長
板と前記対物レンズの間に設けることを特徴とする。
性回折格子であることを特徴とする。また、本発明は、
偏光選択手段の選択方向がレーザビームの偏光方向と一
致することを特徴とする。また、本発明は、レーザビー
ムを発する発光体と、偏光ビームスプリッタと、１／４
波長板とを有し、１／４波長板は、偏光ビームスプリッ
タと対物レンズの間に位置し、絞り手段は、１／４波長
板と前記対物レンズの間に設けることを特徴とする。
【００２２】また、本発明は、レーザビームを発する発
光体と、偏光ビームスプリッタと、１／４波長板とを有
し、１／４波長板は、偏光ビームスプリッタと前記対物
レンズの間に位置し、絞り手段は、発光体と前記偏光ビ
ームスプリッタの間、あるいは偏光ビームスプリッタと
前記１／４波長板の間に設けることを特徴とする。ま
た、本発明は、レーザビームを発する発光体と、ハーフ
ミラーとを有し、絞り手段は、ハーフミラーと対物レン
ズの間に設けることを特徴とする。
光体と、偏光ビームスプリッタと、１／４波長板とを有
し、１／４波長板は、偏光ビームスプリッタと前記対物
レンズの間に位置し、絞り手段は、発光体と前記偏光ビ
ームスプリッタの間、あるいは偏光ビームスプリッタと
前記１／４波長板の間に設けることを特徴とする。ま
た、本発明は、レーザビームを発する発光体と、ハーフ
ミラーとを有し、絞り手段は、ハーフミラーと対物レン
ズの間に設けることを特徴とする。
【００２３】また、本発明は、レーザビームを発する発
光体と、ハーフミラーとを有し、絞り手段は、発光体と
前記ハーフミラーの間に設けることを特徴とする。ま
た、本発明は、絞り手段がトラック方向に対してトラッ
キング方向を１.１倍以上長く設定した長孔であること
を特徴とする。また、本発明は、レーザビームの波長が
３５０〜７００ｎｍであることを特徴とする。
光体と、ハーフミラーとを有し、絞り手段は、発光体と
前記ハーフミラーの間に設けることを特徴とする。ま
た、本発明は、絞り手段がトラック方向に対してトラッ
キング方向を１.１倍以上長く設定した長孔であること
を特徴とする。また、本発明は、レーザビームの波長が
３５０〜７００ｎｍであることを特徴とする。
【００２４】また、本発明は、対物レンズのトラック方
向の実効的な開口数が０.２０〜０.６５であることを特
徴とする。また、本発明は、開口数が再生状態に応じて
可変できることを特徴とする。また、本発明は、長孔の
トラッキング方向両端が円弧状に形成されていることを
特徴とする。
向の実効的な開口数が０.２０〜０.６５であることを特
徴とする。また、本発明は、開口数が再生状態に応じて
可変できることを特徴とする。また、本発明は、長孔の
トラッキング方向両端が円弧状に形成されていることを
特徴とする。
【００２５】また、本発明は、長孔が長方形であること
を特徴とする。また、本発明は、長孔が六角形以上の多
角形であることを特徴とする。また、本発明は、絞り手
段がトラック方向に対してトラッキング方向を１.１〜
２倍以上長く設定した長孔であることを特徴とする。ま
た、本発明は、 絞り手段がトラック方向の長さに比
し、トラッキング方向の長さが１．２〜１.４倍である
ことを特徴とする。
を特徴とする。また、本発明は、長孔が六角形以上の多
角形であることを特徴とする。また、本発明は、絞り手
段がトラック方向に対してトラッキング方向を１.１〜
２倍以上長く設定した長孔であることを特徴とする。ま
た、本発明は、 絞り手段がトラック方向の長さに比
し、トラッキング方向の長さが１．２〜１.４倍である
ことを特徴とする。
【００２６】また、本発明は、 対物レンズが薄型ディ
スク基板に合わせて設計されており、絞り手段は、標準
厚の基板の光ディスクの再生時にはレーザビームの外側
を遮光することを特徴とする。また、本発明は、薄型の
光ディスクの基板の厚さが０．５５〜０.６５ｍｍで、
標準厚の光ディスクの基板の厚さが１．１〜１.３ｍｍ
であることを特徴とする。
スク基板に合わせて設計されており、絞り手段は、標準
厚の基板の光ディスクの再生時にはレーザビームの外側
を遮光することを特徴とする。また、本発明は、薄型の
光ディスクの基板の厚さが０．５５〜０.６５ｍｍで、
標準厚の光ディスクの基板の厚さが１．１〜１.３ｍｍ
であることを特徴とする。
【００２７】また、本発明は、レーザビームの波長が３
５０〜４５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
５〜０．６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.３６
〜０.４６若しくは０．２０〜０．３０となることを特
徴とする。また、本発明は、レーザビームの波長が３５
０〜４５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０.３６
〜０.６０であり、アパーチャを介挿することにより対
物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.２０〜
０.３０となることを特徴とする。
５０〜４５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
５〜０．６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.３６
〜０.４６若しくは０．２０〜０．３０となることを特
徴とする。また、本発明は、レーザビームの波長が３５
０〜４５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０.３６
〜０.６０であり、アパーチャを介挿することにより対
物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.２０〜
０.３０となることを特徴とする。
【００２８】また、本発明は、レーザビームの波長が４
１５〜４４５ｎｍであることを特徴とする。また、本発
明は、レーザビームの波長が４５０〜５５０ｎｍであ
り、対物レンズの開口数が０.５５〜０.６５であり、ア
パーチャを介挿することにより対物レンズのトラック方
向の実効的な開口数が０.４５〜０.５５若しくは０.２
５〜０.３５となることを特徴とする。
１５〜４４５ｎｍであることを特徴とする。また、本発
明は、レーザビームの波長が４５０〜５５０ｎｍであ
り、対物レンズの開口数が０.５５〜０.６５であり、ア
パーチャを介挿することにより対物レンズのトラック方
向の実効的な開口数が０.４５〜０.５５若しくは０.２
５〜０.３５となることを特徴とする。
【００２９】また、本発明は、レーザビームの波長が４
５０〜５５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０.４
５〜０.６０であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.２５
〜０.３５となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が５１７〜５４７ｎｍであることを
特徴とする。
５０〜５５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０.４
５〜０.６０であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.２５
〜０.３５となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が５１７〜５４７ｎｍであることを
特徴とする。
【００３０】また、本発明は、レーザビームの波長が６
２０〜６５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
５〜０．６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０．３０
〜０．４０となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が６３５〜６６５ｎｍであり、対物
レンズの開口数が０．５５〜０．６５であり、アパーチ
ャを介挿することにより対物レンズのトラック方向の実
効的な開口数が０．３１〜０．４１となることを特徴と
する。
２０〜６５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
５〜０．６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０．３０
〜０．４０となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が６３５〜６６５ｎｍであり、対物
レンズの開口数が０．５５〜０．６５であり、アパーチ
ャを介挿することにより対物レンズのトラック方向の実
効的な開口数が０．３１〜０．４１となることを特徴と
する。
【００３１】また、本発明は、 対物レンズが薄型ディ
スク基板に合わせて設計されており、絞り手段は、薄型
の基板の超高密度光ディスクの再生時にはレーザビーム
を遮光することなく、薄型の基板の高密度光ディスクの
再生時にはレーザビームの外側を遮光することを特徴と
する。また、本発明は、薄型の光ディスクの基板の厚さ
が０．５５〜０.６５ｍｍであることを特徴とする。
スク基板に合わせて設計されており、絞り手段は、薄型
の基板の超高密度光ディスクの再生時にはレーザビーム
を遮光することなく、薄型の基板の高密度光ディスクの
再生時にはレーザビームの外側を遮光することを特徴と
する。また、本発明は、薄型の光ディスクの基板の厚さ
が０．５５〜０.６５ｍｍであることを特徴とする。
【００３２】また、本発明は、薄型の基板の超高密度光
ディスクは、ピットの深さが６２〜８２ｎｍであり、ピ
ット長が０.２０〜０.３０μｍであり、トラックピッチ
が０.４２〜０.５８μｍであり、薄型の基板の高密度光
ディスクは、ピットの深さが９５〜１１５ｎｍであり、
ピット長が０.３８〜０.４２μｍであり、トラックピッ
チが０.６９〜０.７９μｍであることを特徴とする。
ディスクは、ピットの深さが６２〜８２ｎｍであり、ピ
ット長が０.２０〜０.３０μｍであり、トラックピッチ
が０.４２〜０.５８μｍであり、薄型の基板の高密度光
ディスクは、ピットの深さが９５〜１１５ｎｍであり、
ピット長が０.３８〜０.４２μｍであり、トラックピッ
チが０.６９〜０.７９μｍであることを特徴とする。
【００３３】また、本発明は、レーザビームの波長が３
５０〜４５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
５〜０．６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.３６
〜０.４６となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が４２０〜４５０ｎｍであることを
特徴とする。
５０〜４５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
５〜０．６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.３６
〜０.４６となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が４２０〜４５０ｎｍであることを
特徴とする。
【００３４】また、本発明は、薄型の基板の超高密度光
ディスクは、ピットの深さが７８〜９８ｎｍであり、ピ
ット長が０.２０〜０.３０μｍであり、トラックピッチ
が０.４２〜０.５８μｍであり、薄型の基板の高密度光
ディスクは、ピットの深さが９５〜１１５ｎｍであり、
ピット長が０.３８〜０.４２μｍであり、トラックピッ
チが０.６９〜０.７９μｍであることを特徴とする。
ディスクは、ピットの深さが７８〜９８ｎｍであり、ピ
ット長が０.２０〜０.３０μｍであり、トラックピッチ
が０.４２〜０.５８μｍであり、薄型の基板の高密度光
ディスクは、ピットの深さが９５〜１１５ｎｍであり、
ピット長が０.３８〜０.４２μｍであり、トラックピッ
チが０.６９〜０.７９μｍであることを特徴とする。
【００３５】また、本発明は、レーザビームの波長が４
５０〜５５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０.５
５〜０.６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.４５
〜０.５５となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が５１７〜５４７ｎｍであることを
特徴とする。
５０〜５５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０.５
５〜０.６５であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０.４５
〜０.５５となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が５１７〜５４７ｎｍであることを
特徴とする。
【００３６】また、本発明は、対物レンズが標準厚のデ
ィスクより浅く、薄型のディスクより深い位置にレーザ
ビームが集光するように設計されていることを特徴とす
る。また、本発明は、 薄型の光ディスクの基板の厚さ
が０．５５〜０.６５ｍｍであり、標準厚の光ディスク
の基板の厚さが１．１〜１.３ｍｍであることを特徴と
する。
ィスクより浅く、薄型のディスクより深い位置にレーザ
ビームが集光するように設計されていることを特徴とす
る。また、本発明は、 薄型の光ディスクの基板の厚さ
が０．５５〜０.６５ｍｍであり、標準厚の光ディスク
の基板の厚さが１．１〜１.３ｍｍであることを特徴と
する。
【００３７】また、本発明は、レーザビームの波長が６
２０〜６５０ｎｍであり、対物レンズは、深さ０．７か
ら０．９ｍｍの位置にレーザビームが集光するように設
計されていることを特徴とする。また、本発明は、レー
ザビームの波長が６３５〜６６５ｎｍであり、対物レン
ズは、深さ０．７から０．９ｍｍの位置にレーザビーム
が集光するように設計されていることを特徴とする。
２０〜６５０ｎｍであり、対物レンズは、深さ０．７か
ら０．９ｍｍの位置にレーザビームが集光するように設
計されていることを特徴とする。また、本発明は、レー
ザビームの波長が６３５〜６６５ｎｍであり、対物レン
ズは、深さ０．７から０．９ｍｍの位置にレーザビーム
が集光するように設計されていることを特徴とする。
【００３８】また、本発明は、対物レンズは、深さ０．
８ｍｍの位置にレーザビームが集光するように設計され
ていることを特徴とする。また、本発明は、対物レンズ
の開口数が０．５５〜０．６５であり、薄型の基板の光
ディスクの再生時には絞り手段により対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０．５０〜０．５４とな
り、標準厚の基板の光ディスクの再生時には絞り手段に
より対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０．
４３〜０．４７となることを特徴とする。
８ｍｍの位置にレーザビームが集光するように設計され
ていることを特徴とする。また、本発明は、対物レンズ
の開口数が０．５５〜０．６５であり、薄型の基板の光
ディスクの再生時には絞り手段により対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０．５０〜０．５４とな
り、標準厚の基板の光ディスクの再生時には絞り手段に
より対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０．
４３〜０．４７となることを特徴とする。
【００３９】また、本発明は、検出器から出力される再
生信号が再生する光ディスクに応じて再生出力特性を変
更する補正回路に入力されることを特徴とする。また、
本発明は、補正回路が超高域特性を強調しクロストーク
補正量を増加する回路を有することを特徴とする。ま
た、本発明は、対物レンズが１．２ｍｍ厚のディスク基
板に合わせて設計されており、絞り手段は、基板厚が
１．１５〜１.２５ｍｍの高密度光ディスクの再生時に
はレーザビームを遮光することなく、基板厚が１．１〜
１.３ｍｍの標準密度光ディスクの再生時にはレーザビ
ームの外側を遮光することを特徴とする。
生信号が再生する光ディスクに応じて再生出力特性を変
更する補正回路に入力されることを特徴とする。また、
本発明は、補正回路が超高域特性を強調しクロストーク
補正量を増加する回路を有することを特徴とする。ま
た、本発明は、対物レンズが１．２ｍｍ厚のディスク基
板に合わせて設計されており、絞り手段は、基板厚が
１．１５〜１.２５ｍｍの高密度光ディスクの再生時に
はレーザビームを遮光することなく、基板厚が１．１〜
１.３ｍｍの標準密度光ディスクの再生時にはレーザビ
ームの外側を遮光することを特徴とする。
【００４０】また、本発明は、レーザビームの波長が６
２０〜６５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
０〜０．５４であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０．３０
〜０．４０となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が６３５〜６６５ｎｍであり、対物
レンズの開口数が０．５０〜０．５４であり、アパーチ
ャを介挿することにより対物レンズのトラック方向の実
効的な開口数が０．３１〜０．４１となることを特徴と
する。
２０〜６５０ｎｍであり、対物レンズの開口数が０．５
０〜０．５４であり、アパーチャを介挿することにより
対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が０．３０
〜０．４０となることを特徴とする。また、本発明は、
レーザビームの波長が６３５〜６６５ｎｍであり、対物
レンズの開口数が０．５０〜０．５４であり、アパーチ
ャを介挿することにより対物レンズのトラック方向の実
効的な開口数が０．３１〜０．４１となることを特徴と
する。
【００４１】また、本発明は、波長６３０〜６４０ｎｍ
のレーザビームを発する前記発光素子がレーザビームの
偏光方向のずれ角を補償するように設置されていること
を特徴とする。また、本発明は、発光素子中の半導体レ
ーザが水平から３〜１０度の範囲で傾斜した台座に設置
されていることを特徴とする。
のレーザビームを発する前記発光素子がレーザビームの
偏光方向のずれ角を補償するように設置されていること
を特徴とする。また、本発明は、発光素子中の半導体レ
ーザが水平から３〜１０度の範囲で傾斜した台座に設置
されていることを特徴とする。
【００４２】また、本発明は、発光素子中の半導体レー
ザが水平から５〜７度の範囲で傾斜した台座に設置され
ていることを特徴とする。また、本発明は、発光素子が
基準位置に対し３〜１０度の範囲で回転して設置されて
いることを特徴とする。また、本発明は、発光素子が基
準位置に対し５〜７度の範囲で回転して設置されている
ことを特徴とする。
ザが水平から５〜７度の範囲で傾斜した台座に設置され
ていることを特徴とする。また、本発明は、発光素子が
基準位置に対し３〜１０度の範囲で回転して設置されて
いることを特徴とする。また、本発明は、発光素子が基
準位置に対し５〜７度の範囲で回転して設置されている
ことを特徴とする。
【００４３】
第１実施例 図１に、深さ０．６ｍｍの位置で焦点が合うように設計
された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許容誤差±
０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度の光ディ
スク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ（以下第１光ディスクと
称す）と、厚さ０．６（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄
型の基板を有する高密度の光ディスク、即ちＳＤ（以下
第２光ディスクと称す）の両者を再生する第１実施例の
光再生装置の光学系を示す。
された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許容誤差±
０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度の光ディ
スク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ（以下第１光ディスクと
称す）と、厚さ０．６（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄
型の基板を有する高密度の光ディスク、即ちＳＤ（以下
第２光ディスクと称す）の両者を再生する第１実施例の
光再生装置の光学系を示す。
【００４４】まず、基板厚０．６ｍｍの第２光ディスク
の再生動作について述べる。半導体レーザ１から出力さ
れる波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビーム
は、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、偏光ビー
ムスプリッタ３と、１／４波長板４とを介して対物レン
ズ５に入射する。なお、波長６３５ｎｍのレーザビーム
については、その範囲を６３５±５０ｎｍに設定しても
再生可能であった（以下の説明において、６３５ｎｍの
レーザ波長の範囲についてはこの範囲が適用できる）。
この対物レンズ５は、波長６３５ｎｍのレーザを用いて
厚さ０．６ｍｍの第２光ディスクの記録面に対してレー
ザビームが最適の集光照射状態となる様に設計された開
口数０．６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍ
ｍのレンズであり、図示省略したトラッキング制御機構
とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォー
カス方向に変位可能に支持されている。従って、前記対
物レンズ５を経たレーザビームは集光され、厚さ０．６
ｍｍのポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光
ディスクの信号記録面６０ａに照射される。記録面に形
成されるビームスポット径は０．９１（許容誤差±０．
１）μｍである。更に、前記信号記録面６０ａで反射さ
れたレーザビームは、前記基板６０、前記対物レンズ
５、前記１／４波長板４を介して戻り、前記偏光ビーム
スプリッタ３で反射され集光レンズ７により、光検出器
８の信号検出部に集光照射される。ここで、前記半導体
レーザ１、前記コリメータレンズ２、前記偏光ビームス
プリッタ３、前記１／４波長板４、前記集光レンズ７及
び前記光検出器８は、光ピックアップの基体に固定さ
れ、前記対物レンズ５は光ピックアップの基体に対して
可動できるようになっている（以下、同じ）。
の再生動作について述べる。半導体レーザ１から出力さ
れる波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビーム
は、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、偏光ビー
ムスプリッタ３と、１／４波長板４とを介して対物レン
ズ５に入射する。なお、波長６３５ｎｍのレーザビーム
については、その範囲を６３５±５０ｎｍに設定しても
再生可能であった（以下の説明において、６３５ｎｍの
レーザ波長の範囲についてはこの範囲が適用できる）。
この対物レンズ５は、波長６３５ｎｍのレーザを用いて
厚さ０．６ｍｍの第２光ディスクの記録面に対してレー
ザビームが最適の集光照射状態となる様に設計された開
口数０．６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍ
ｍのレンズであり、図示省略したトラッキング制御機構
とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォー
カス方向に変位可能に支持されている。従って、前記対
物レンズ５を経たレーザビームは集光され、厚さ０．６
ｍｍのポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光
ディスクの信号記録面６０ａに照射される。記録面に形
成されるビームスポット径は０．９１（許容誤差±０．
１）μｍである。更に、前記信号記録面６０ａで反射さ
れたレーザビームは、前記基板６０、前記対物レンズ
５、前記１／４波長板４を介して戻り、前記偏光ビーム
スプリッタ３で反射され集光レンズ７により、光検出器
８の信号検出部に集光照射される。ここで、前記半導体
レーザ１、前記コリメータレンズ２、前記偏光ビームス
プリッタ３、前記１／４波長板４、前記集光レンズ７及
び前記光検出器８は、光ピックアップの基体に固定さ
れ、前記対物レンズ５は光ピックアップの基体に対して
可動できるようになっている（以下、同じ）。
【００４５】次に、基板厚１．２ｍｍの第１光ディスク
の再生動作について述べる。この標準厚のディスクが再
生される場合には、対物レンズ５の光源側でアパーチャ
９ａが機械的に介挿される。この機械的介挿機構につい
ては図示していないが、プランジャ等で動く通常のスラ
イド機構を採用すれば良く特別な機構ではない。尚、ア
パーチャの介挿は、必ずしも機械的に行う必要はなく、
透明板または１／４波長板４に液晶シャッタを貼り付
け、この液晶シャッタにより電気的にトラッキング方向
に長い透孔を持つアパーチャを形成すれば機構部分を解
消でき、故障等に強くなる。いずれにしても、このアパ
ーチャは、レーザビームの光軸に対し、トラッキング制
御動作に連動することなくピックアップ本体に対して固
定的に位置決めされている。このアパーチャの透孔は、
図４に示す様な形状であり、トラック方向の長さａを
２．３５ｍｍ、トラッキング方向の長さｂを３．７ｍｍ
としている。その結果、対物レンズ５のトラック方向の
実効的開口数は、０．３５（許容誤差±０．０１）とな
った。また、トラッキング方向の透孔寸法に関しては
２．５８ｍｍ以上、即ちトラック方向の１．１倍以上の
範囲でジッタ抑制効果を確認できた。
の再生動作について述べる。この標準厚のディスクが再
生される場合には、対物レンズ５の光源側でアパーチャ
９ａが機械的に介挿される。この機械的介挿機構につい
ては図示していないが、プランジャ等で動く通常のスラ
イド機構を採用すれば良く特別な機構ではない。尚、ア
パーチャの介挿は、必ずしも機械的に行う必要はなく、
透明板または１／４波長板４に液晶シャッタを貼り付
け、この液晶シャッタにより電気的にトラッキング方向
に長い透孔を持つアパーチャを形成すれば機構部分を解
消でき、故障等に強くなる。いずれにしても、このアパ
ーチャは、レーザビームの光軸に対し、トラッキング制
御動作に連動することなくピックアップ本体に対して固
定的に位置決めされている。このアパーチャの透孔は、
図４に示す様な形状であり、トラック方向の長さａを
２．３５ｍｍ、トラッキング方向の長さｂを３．７ｍｍ
としている。その結果、対物レンズ５のトラック方向の
実効的開口数は、０．３５（許容誤差±０．０１）とな
った。また、トラッキング方向の透孔寸法に関しては
２．５８ｍｍ以上、即ちトラック方向の１．１倍以上の
範囲でジッタ抑制効果を確認できた。
【００４６】図１において、上述するアパーチャ９ａが
介挿されると、１／４波長板４を通過したレーザビーム
の外周側が遮光され点線で示した内周部分が対物レンズ
５に入射することになる。そして、厚さ１．２ｍｍのポ
リカーボネート製の基板６を通って、当該光ディスクの
信号記録面６ａに照射される。本実施例において形成さ
れるビームスポットはトラック方向に１．５（許容誤差
±０．１）μｍ、トラッキング方向に１．６（許容誤差
±０．１）μｍである。また、前記アパーチャ９ａの透
孔は、トラック方向よりもトラッキング方向にトラッキ
ング追従範囲の２倍程長くなっているので、前記対物レ
ンズ５がトラッキング方向に移動してもトラッキング方
向のスポット径は１．６（許容誤差±０．１）μｍ以上
になることはない。更に、前記信号記録面６ａで反射さ
れたレーザビームは、前記基板６、前記対物レンズ５、
前記１／４波長板４を介して戻り、前記偏光ビームスプ
リッタ３で反射され集光レンズ７により、光検出器８の
信号検出部に集光照射される。
介挿されると、１／４波長板４を通過したレーザビーム
の外周側が遮光され点線で示した内周部分が対物レンズ
５に入射することになる。そして、厚さ１．２ｍｍのポ
リカーボネート製の基板６を通って、当該光ディスクの
信号記録面６ａに照射される。本実施例において形成さ
れるビームスポットはトラック方向に１．５（許容誤差
±０．１）μｍ、トラッキング方向に１．６（許容誤差
±０．１）μｍである。また、前記アパーチャ９ａの透
孔は、トラック方向よりもトラッキング方向にトラッキ
ング追従範囲の２倍程長くなっているので、前記対物レ
ンズ５がトラッキング方向に移動してもトラッキング方
向のスポット径は１．６（許容誤差±０．１）μｍ以上
になることはない。更に、前記信号記録面６ａで反射さ
れたレーザビームは、前記基板６、前記対物レンズ５、
前記１／４波長板４を介して戻り、前記偏光ビームスプ
リッタ３で反射され集光レンズ７により、光検出器８の
信号検出部に集光照射される。
【００４７】前述する様に、本実施例のアパーチャ９ａ
を用いた場合のトラッキング追従範囲と２倍速再生時の
ジッタ量の関係が、図３の四角印を結ぶグラフで示され
ている。この図より明らかなように、円形アパーチャ９
に比してトラッキング追従範囲が拡大するに従ってジッ
タ量が大幅に改善されていることが分かる。また、波形
等価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もアパー
チャをアクチュエータに付加した場合（グラフ中の白
丸）と同等の値を得ることが出来る。
を用いた場合のトラッキング追従範囲と２倍速再生時の
ジッタ量の関係が、図３の四角印を結ぶグラフで示され
ている。この図より明らかなように、円形アパーチャ９
に比してトラッキング追従範囲が拡大するに従ってジッ
タ量が大幅に改善されていることが分かる。また、波形
等価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もアパー
チャをアクチュエータに付加した場合（グラフ中の白
丸）と同等の値を得ることが出来る。
【００４８】なお、本実施例装置には、１／４波長板４
と対物レンズ５の間には光路を９０度変えるための反射
ミラー（立ち上げミラー）が在るが、図を見易くするた
めに図示を省略している。この立ち上げミラーは、上記
のごとく光路を変えることにより、光ピックアップをコ
ンパクト化するものである。この立ち上げミラーは、１
／４波長板４と兼用するプリズムであってもよい。
と対物レンズ５の間には光路を９０度変えるための反射
ミラー（立ち上げミラー）が在るが、図を見易くするた
めに図示を省略している。この立ち上げミラーは、上記
のごとく光路を変えることにより、光ピックアップをコ
ンパクト化するものである。この立ち上げミラーは、１
／４波長板４と兼用するプリズムであってもよい。
【００４９】また、上記の例では、偏光ビームスプリッ
タ３と１／４波長板４を用いているが、これらに代えて
ハーフミラーを代用してもよい。また、本実施例におい
ては、図１の光学系に替えて図２４に示す光学系であっ
てもよい。この光学系における基板厚０.６ｍｍの第２
光ディスクの再生動作は次の通りである。半導体レーザ
１から出力される波長６３５ｎｍのレーザビームは、回
折格子２a、ハーフミラー３aを通してコリメータレンズ
２へ入り、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、立
ち上げミラー４aを介して対物レンズ５に入射する。こ
の対物レンズ５は、波長６３５ｎｍのレーザを用いて厚
さ０．６ｍｍの第２光ディスクの記録面に対してレーザ
ビームが最適の集光照射状態となる様に設計された開口
数０．６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍｍ
のレンズであり、図示省略したトラッキング制御機構と
フォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォーカ
ス方向に変位可能に支持されている。従って、前記対物
レンズ５を経たレーザビームは集光され、厚さ０．６ｍ
ｍのポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光デ
ィスクの信号記録面６０ａに照射される。記録面に形成
されるビームスポット径は０．９１（許容誤差±０．
１）μｍである。更に、前記信号記録面６０aで反射さ
れたレーザビームは、前記基板６０、前記対物レンズ
５、立ち上げミラー４a、コリメータレンズ２を介して
戻り、ハーフミラー３aで反射され集光レンズ７によ
り、光検出器８の信号検出部に集光照射される。基板厚
１.２ｍｍの第１光ディスクの再生動作は上記と同じで
あるので省略する。本光学系を用いると、図１に示す光
学系を用いた場合に比べ、部品点数を少なくでき、光ピ
ックアップを小さくできるとともに低コストにも繋が
る。
タ３と１／４波長板４を用いているが、これらに代えて
ハーフミラーを代用してもよい。また、本実施例におい
ては、図１の光学系に替えて図２４に示す光学系であっ
てもよい。この光学系における基板厚０.６ｍｍの第２
光ディスクの再生動作は次の通りである。半導体レーザ
１から出力される波長６３５ｎｍのレーザビームは、回
折格子２a、ハーフミラー３aを通してコリメータレンズ
２へ入り、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、立
ち上げミラー４aを介して対物レンズ５に入射する。こ
の対物レンズ５は、波長６３５ｎｍのレーザを用いて厚
さ０．６ｍｍの第２光ディスクの記録面に対してレーザ
ビームが最適の集光照射状態となる様に設計された開口
数０．６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍｍ
のレンズであり、図示省略したトラッキング制御機構と
フォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォーカ
ス方向に変位可能に支持されている。従って、前記対物
レンズ５を経たレーザビームは集光され、厚さ０．６ｍ
ｍのポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光デ
ィスクの信号記録面６０ａに照射される。記録面に形成
されるビームスポット径は０．９１（許容誤差±０．
１）μｍである。更に、前記信号記録面６０aで反射さ
れたレーザビームは、前記基板６０、前記対物レンズ
５、立ち上げミラー４a、コリメータレンズ２を介して
戻り、ハーフミラー３aで反射され集光レンズ７によ
り、光検出器８の信号検出部に集光照射される。基板厚
１.２ｍｍの第１光ディスクの再生動作は上記と同じで
あるので省略する。本光学系を用いると、図１に示す光
学系を用いた場合に比べ、部品点数を少なくでき、光ピ
ックアップを小さくできるとともに低コストにも繋が
る。
【００５０】また、前記アパーチャ９ａは半導体レーザ
１とコリメータレンズ２の間、コリメータレンズ２と偏
光ビームスプリッタ３の間、偏光ビームスプリッタ３と
１／４波長板４の間であってもよい。上述の実施例で
は、前記アパーチャ９ａのトラック方向の透孔の長さは
前記対物レンズ５の実効的な開口数がトラック方向に
０．３５になるように決定している。また、前記アパー
チャ９ａのトラッキング方向の透孔の長さはトラック方
向の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加える
ことにより決定している。
１とコリメータレンズ２の間、コリメータレンズ２と偏
光ビームスプリッタ３の間、偏光ビームスプリッタ３と
１／４波長板４の間であってもよい。上述の実施例で
は、前記アパーチャ９ａのトラック方向の透孔の長さは
前記対物レンズ５の実効的な開口数がトラック方向に
０．３５になるように決定している。また、前記アパー
チャ９ａのトラッキング方向の透孔の長さはトラック方
向の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加える
ことにより決定している。
【００５１】しかし、前記アパーチャ９ａのトラック方
向の透孔の長さを前記対物レンズ５の実効的な開口数が
トラック方向に０．３５以下になるように決定し、前記
アパーチャ９ａのトラッキング方向の透孔の長さをトラ
ック方向の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍を
加えることにより決定してもよい。ただし、この時前記
対物レンズ５のトラッキング方向の実効的な開口数が
０．３５より小さくならないようにする。
向の透孔の長さを前記対物レンズ５の実効的な開口数が
トラック方向に０．３５以下になるように決定し、前記
アパーチャ９ａのトラッキング方向の透孔の長さをトラ
ック方向の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍を
加えることにより決定してもよい。ただし、この時前記
対物レンズ５のトラッキング方向の実効的な開口数が
０．３５より小さくならないようにする。
【００５２】また、本実施例では、レーザビーム波長を
６３５ｎｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容
誤差±１５）ｎｍとする場合は、照射スポット径が０．
１μｍ程拡大するが、アパーチャ介挿による対物レンズ
５のトラック方向の実効的開口数を０．３６〜０．４１
とすることで、十分交換可能である。なお、波長６３５
ｎｍと６５０ｎｍのレーザビームについては、それぞ
れ、その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０±５０ｎｍに
設定しても再生可能であった。 第２実施例 図５に、深さ０．８ｍｍの位置で焦点が合うように設計
された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許容誤差±
０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度の光ディ
スク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ（以下第１光ディスクと
称す）と、厚さ０．６（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄
型の基板を有する高密度の光ディスク、即ちＳＤ（以下
第２光ディスクと称す）と、厚さ１．２（許容誤差±
０．０５）ｍｍの標準厚の基板を有する高密度の光ディ
スク、即ちＭＭＣＤ（以下第３光ディスクと称す）とを
再生する第２実施例の光再生装置の光学系を示す。図５
においては、矢印の方向がトラック方向である。
６３５ｎｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容
誤差±１５）ｎｍとする場合は、照射スポット径が０．
１μｍ程拡大するが、アパーチャ介挿による対物レンズ
５のトラック方向の実効的開口数を０．３６〜０．４１
とすることで、十分交換可能である。なお、波長６３５
ｎｍと６５０ｎｍのレーザビームについては、それぞ
れ、その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０±５０ｎｍに
設定しても再生可能であった。 第２実施例 図５に、深さ０．８ｍｍの位置で焦点が合うように設計
された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許容誤差±
０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度の光ディ
スク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ（以下第１光ディスクと
称す）と、厚さ０．６（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄
型の基板を有する高密度の光ディスク、即ちＳＤ（以下
第２光ディスクと称す）と、厚さ１．２（許容誤差±
０．０５）ｍｍの標準厚の基板を有する高密度の光ディ
スク、即ちＭＭＣＤ（以下第３光ディスクと称す）とを
再生する第２実施例の光再生装置の光学系を示す。図５
においては、矢印の方向がトラック方向である。
【００５３】本実施例において用いた対物レンズ５０
は、波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザを用い
て深さ０．８ｍｍの位置でレーザビームが最適の集光照
射状態となる様に設計された開口数０.６（許容誤差±
０.０５）、有効光束直径４ｍｍのレンズである。この
対物レンズ５０と波長６３５ｎｍのレーザビームを用い
て、基板厚０．６ｍｍの光ディスクに集光させるとき、
対物レンズ５０の実効的開口数と集光スポット径の関係
は図６のようになる。即ち、開口数０.６（許容誤差±
０．０５）の対物レンズを用いた時の実効的開口数が
０．５２のとき、集光スポット径は１（許容誤差±０．
１）μｍで極小となる。
は、波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザを用い
て深さ０．８ｍｍの位置でレーザビームが最適の集光照
射状態となる様に設計された開口数０.６（許容誤差±
０.０５）、有効光束直径４ｍｍのレンズである。この
対物レンズ５０と波長６３５ｎｍのレーザビームを用い
て、基板厚０．６ｍｍの光ディスクに集光させるとき、
対物レンズ５０の実効的開口数と集光スポット径の関係
は図６のようになる。即ち、開口数０.６（許容誤差±
０．０５）の対物レンズを用いた時の実効的開口数が
０．５２のとき、集光スポット径は１（許容誤差±０．
１）μｍで極小となる。
【００５４】従って、深さ０．８ｍｍの位置で合焦する
ように設計された開口数０．５２の対物レンズと波長６
３５ｎｍのレーザビームを用いると、第２光ディスクの
再生が可能である。また、この対物レンズと波長６３５
ｎｍのレーザビームを用いて、基板厚１．２ｍｍの光デ
ィスクに集光させるときは、対物レンズの開口数と集光
スポット径の関係は図７のようになる。即ち、開口数
０.６（許容誤差±０．０５）の対物レンズを用いた時
の実効的開口数が０．４５のとき、集光スポット径は
１．２（許容誤差±０．１）μｍで極小となる。
ように設計された開口数０．５２の対物レンズと波長６
３５ｎｍのレーザビームを用いると、第２光ディスクの
再生が可能である。また、この対物レンズと波長６３５
ｎｍのレーザビームを用いて、基板厚１．２ｍｍの光デ
ィスクに集光させるときは、対物レンズの開口数と集光
スポット径の関係は図７のようになる。即ち、開口数
０.６（許容誤差±０．０５）の対物レンズを用いた時
の実効的開口数が０．４５のとき、集光スポット径は
１．２（許容誤差±０．１）μｍで極小となる。
【００５５】従って、深さ０．８ｍｍの位置で合焦する
ように設計された開口数０．４５の対物レンズと波長６
３５ｎｍのレーザビームを用いると、第１光ディスクと
第３光ディスクの再生が可能である。まず、基板厚０．
６ｍｍの第２光ディスクの再生動作について述べる。こ
の薄型厚のディスクが再生される場合には、対物レンズ
５０の光源側でアパーチャ９bが機械的に介挿される。
この機械的介挿機構については図示していないが、プラ
ンジャ等で動く通常のスライド機構を採用すれば良く特
別な機構ではない。尚、アパーチャの介挿は、必ずしも
機械的に行う必要はなく、透明板または１／４波長板４
に液晶シャッタを貼り付け、この液晶シャッタにより電
気的にトラッキング方向に長い透孔を持つアパーチャを
形成すれば機構部分を解消でき、故障等に強くなる。い
ずれにしても、このアパーチャ９ｂは、レーザビームの
光軸に対し、トラッキング制御動作に連動することなく
ピックアップ本体に対して固定的に位置決めされてい
る。このアパーチャ９ｂの透孔は、図４に示す様な形状
であり、トラック方向の長さａを３.４７ｍｍ、トラッ
キング方向の長さｂを４ｍｍとしている。その結果、対
物レンズ５０のトラック方向の実効的開口数は、０．５
２（許容誤差±０．０２）となった。また、トラッキン
グ方向の透孔寸法に関しては３．８ｍｍ以上、即ちトラ
ック方向の１．１倍以上の範囲でジッタ抑制効果を確認
できた。
ように設計された開口数０．４５の対物レンズと波長６
３５ｎｍのレーザビームを用いると、第１光ディスクと
第３光ディスクの再生が可能である。まず、基板厚０．
６ｍｍの第２光ディスクの再生動作について述べる。こ
の薄型厚のディスクが再生される場合には、対物レンズ
５０の光源側でアパーチャ９bが機械的に介挿される。
この機械的介挿機構については図示していないが、プラ
ンジャ等で動く通常のスライド機構を採用すれば良く特
別な機構ではない。尚、アパーチャの介挿は、必ずしも
機械的に行う必要はなく、透明板または１／４波長板４
に液晶シャッタを貼り付け、この液晶シャッタにより電
気的にトラッキング方向に長い透孔を持つアパーチャを
形成すれば機構部分を解消でき、故障等に強くなる。い
ずれにしても、このアパーチャ９ｂは、レーザビームの
光軸に対し、トラッキング制御動作に連動することなく
ピックアップ本体に対して固定的に位置決めされてい
る。このアパーチャ９ｂの透孔は、図４に示す様な形状
であり、トラック方向の長さａを３.４７ｍｍ、トラッ
キング方向の長さｂを４ｍｍとしている。その結果、対
物レンズ５０のトラック方向の実効的開口数は、０．５
２（許容誤差±０．０２）となった。また、トラッキン
グ方向の透孔寸法に関しては３．８ｍｍ以上、即ちトラ
ック方向の１．１倍以上の範囲でジッタ抑制効果を確認
できた。
【００５６】図５において、上述するアパーチャ９ｂが
介挿されると、１／４波長板４を通過したレーザビーム
の外周側が遮光され点線で示した内周部分が対物レンズ
５０に入射することになる。そして、厚さ０．６ｍｍの
ポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光ディス
クの信号記録面６０ａに照射される。この時は、前述の
ように、信号記録面６０ａに形成されるビームスポット
径はトラック方向に１（許容誤差±０．１）μｍ、トラ
ッキング方向に１．１（許容誤差±０．１）μｍであ
る。また、前記アパーチャ９ｂの透孔は、トラック方向
よりもトラッキング方向にトラッキング追従範囲の２倍
程長くなっているので、前記対物レンズ５０がトラッキ
ング方向に移動してもトラッキング方向のスポット径は
１．１μｍ以上になることはない。更に、前記信号記録
面６０ａで反射されたレーザビームは、前記基板６０、
前記対物レンズ５０、前記１／４波長板４を介して戻
り、前記偏光ビームスプリッタ３で反射され集光レンズ
７により、光検出器８の信号検出部に集光照射される。
介挿されると、１／４波長板４を通過したレーザビーム
の外周側が遮光され点線で示した内周部分が対物レンズ
５０に入射することになる。そして、厚さ０．６ｍｍの
ポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光ディス
クの信号記録面６０ａに照射される。この時は、前述の
ように、信号記録面６０ａに形成されるビームスポット
径はトラック方向に１（許容誤差±０．１）μｍ、トラ
ッキング方向に１．１（許容誤差±０．１）μｍであ
る。また、前記アパーチャ９ｂの透孔は、トラック方向
よりもトラッキング方向にトラッキング追従範囲の２倍
程長くなっているので、前記対物レンズ５０がトラッキ
ング方向に移動してもトラッキング方向のスポット径は
１．１μｍ以上になることはない。更に、前記信号記録
面６０ａで反射されたレーザビームは、前記基板６０、
前記対物レンズ５０、前記１／４波長板４を介して戻
り、前記偏光ビームスプリッタ３で反射され集光レンズ
７により、光検出器８の信号検出部に集光照射される。
【００５７】次に、基板厚１．２ｍｍの第１光ディス
ク、第３光ディスクの再生動作について述べる。この標
準厚のディスクが再生される場合には、対物レンズ５０
の光源側でアパーチャ９ｃが機械的に介挿される。この
機械的介挿機構については図示していないが、プランジ
ャ等で動く通常のスライド機構を採用すれば良く特別な
機構ではない。尚、アパーチャの介挿は、必ずしも機械
的に行う必要はなく、透明板または１／４波長板４に液
晶シャッタを貼り付け、この液晶シャッタにより電気的
にトラッキング方向に長い透孔を持つアパーチャを形成
すれば機構部分を解消でき、故障等に強くなる。いずれ
にしても、このアパーチャ９ｃは、レーザビームの光軸
に対し、トラッキング制御動作に連動することなくピッ
クアップ本体に対して固定的に位置決めされている。こ
のアパーチャ９ｃの透孔は、図４に示す様な形状であ
り、トラック方向の長さａを３ｍｍ、トラッキング方向
の長さｂを４ｍｍとしている。その結果、対物レンズ５
０のトラック方向の実効的開口数は、０．４５（許容誤
差±０．０２）となった。また、トラッキング方向の透
孔寸法に関しては３．３ｍｍ以上、即ちトラック方向の
１．１倍以上の範囲でジッタ抑制効果を確認できた。
ク、第３光ディスクの再生動作について述べる。この標
準厚のディスクが再生される場合には、対物レンズ５０
の光源側でアパーチャ９ｃが機械的に介挿される。この
機械的介挿機構については図示していないが、プランジ
ャ等で動く通常のスライド機構を採用すれば良く特別な
機構ではない。尚、アパーチャの介挿は、必ずしも機械
的に行う必要はなく、透明板または１／４波長板４に液
晶シャッタを貼り付け、この液晶シャッタにより電気的
にトラッキング方向に長い透孔を持つアパーチャを形成
すれば機構部分を解消でき、故障等に強くなる。いずれ
にしても、このアパーチャ９ｃは、レーザビームの光軸
に対し、トラッキング制御動作に連動することなくピッ
クアップ本体に対して固定的に位置決めされている。こ
のアパーチャ９ｃの透孔は、図４に示す様な形状であ
り、トラック方向の長さａを３ｍｍ、トラッキング方向
の長さｂを４ｍｍとしている。その結果、対物レンズ５
０のトラック方向の実効的開口数は、０．４５（許容誤
差±０．０２）となった。また、トラッキング方向の透
孔寸法に関しては３．３ｍｍ以上、即ちトラック方向の
１．１倍以上の範囲でジッタ抑制効果を確認できた。
【００５８】図５において、上述するアパーチャ９ｃが
介挿されると、１／４波長板４を通過したレーザビーム
の外周側が遮光され一点鎖線で示した内周部分が対物レ
ンズ５０に入射することになる。そして、厚さ１．２ｍ
ｍのポリカーボネート製の基板６を通って、当該光ディ
スクの信号記録面６ａに照射される。この時は、前述の
ように、信号記録面６ａに形成されるビームスポット径
はトラック方向に１．２（許容誤差±０．１）μｍ、ト
ラッキング方向に１．３（許容誤差±０．１）μｍであ
る。また、前記アパーチャ９ｃの透孔は、トラック方向
よりもトラッキング方向にトラッキング追従範囲の２倍
程長くなっているので、前記対物レンズ５０がトラッキ
ング方向に移動してもトラッキング方向のスポット径は
１．３μｍ以上になることはない。更に、前記信号記録
面６ａで反射されたレーザビームは、前記基板６、前記
対物レンズ５０、前記１／４波長板４を介して戻り、前
記偏光ビームスプリッタ３で反射され集光レンズ７によ
り、光検出器８の信号検出部に集光照射される。
介挿されると、１／４波長板４を通過したレーザビーム
の外周側が遮光され一点鎖線で示した内周部分が対物レ
ンズ５０に入射することになる。そして、厚さ１．２ｍ
ｍのポリカーボネート製の基板６を通って、当該光ディ
スクの信号記録面６ａに照射される。この時は、前述の
ように、信号記録面６ａに形成されるビームスポット径
はトラック方向に１．２（許容誤差±０．１）μｍ、ト
ラッキング方向に１．３（許容誤差±０．１）μｍであ
る。また、前記アパーチャ９ｃの透孔は、トラック方向
よりもトラッキング方向にトラッキング追従範囲の２倍
程長くなっているので、前記対物レンズ５０がトラッキ
ング方向に移動してもトラッキング方向のスポット径は
１．３μｍ以上になることはない。更に、前記信号記録
面６ａで反射されたレーザビームは、前記基板６、前記
対物レンズ５０、前記１／４波長板４を介して戻り、前
記偏光ビームスプリッタ３で反射され集光レンズ７によ
り、光検出器８の信号検出部に集光照射される。
【００５９】このように、本実施例は、深さ０．８ｍｍ
の位置で合焦するように設計された開口数０．６の対物
レンズ５０を用いて、０．６ｍｍと１．２ｍｍの２種類
の基板厚のディスクを再生するものであるから、高域の
持ち上げ量が異なるため波形等価回路の切り換えも必要
となる。また、第２光ディスクや第３光ディスクの再生
時においては、スポット径は正規のスポット径よりもや
や大きいので、トラッキング方向の分解能もやや低下
し、隣接トラックからのクロストークが増加する可能性
がある。そのため、クロストーク除去回路を各々のディ
スクに対応して設け、それを切り換えることが好まし
い。
の位置で合焦するように設計された開口数０．６の対物
レンズ５０を用いて、０．６ｍｍと１．２ｍｍの２種類
の基板厚のディスクを再生するものであるから、高域の
持ち上げ量が異なるため波形等価回路の切り換えも必要
となる。また、第２光ディスクや第３光ディスクの再生
時においては、スポット径は正規のスポット径よりもや
や大きいので、トラッキング方向の分解能もやや低下
し、隣接トラックからのクロストークが増加する可能性
がある。そのため、クロストーク除去回路を各々のディ
スクに対応して設け、それを切り換えることが好まし
い。
【００６０】本実施例のように、図４に示すようなトラ
ック方向よりもトラッキング方向に長い透孔を持つアパ
ーチャ９ｂ、９ｃを用いると、円形の透孔を持つアパー
チャ９を用いるよりも、トラッキング追従範囲が拡大す
るに従ってジッタ量が大幅に改善される。また、波形等
価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もアパーチ
ャをアクチュエータに付加した場合と同等の値を得るこ
とが出来る。
ック方向よりもトラッキング方向に長い透孔を持つアパ
ーチャ９ｂ、９ｃを用いると、円形の透孔を持つアパー
チャ９を用いるよりも、トラッキング追従範囲が拡大す
るに従ってジッタ量が大幅に改善される。また、波形等
価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もアパーチ
ャをアクチュエータに付加した場合と同等の値を得るこ
とが出来る。
【００６１】なお、本実施例装置には、前記１／４波長
板４と対物レンズ５０の間には光路を９０度変えるため
の反射ミラー（立ち上げミラー）が在るが、図を見易く
するために図示を省略している。この立ち上げミラー
は、上記のごとく光路を変えることにより、光ピックア
ップをコンパクト化するものである。この立ち上げミラ
ーは、１／４波長板４と兼用するプリズムであってもよ
い。
板４と対物レンズ５０の間には光路を９０度変えるため
の反射ミラー（立ち上げミラー）が在るが、図を見易く
するために図示を省略している。この立ち上げミラー
は、上記のごとく光路を変えることにより、光ピックア
ップをコンパクト化するものである。この立ち上げミラ
ーは、１／４波長板４と兼用するプリズムであってもよ
い。
【００６２】また、上記の例では、偏光ビームスプリッ
タ３と１／４波長板４を用いているが、これらに代えて
ハーフミラーを代用してもよい。また、前記アパーチャ
９ｂ、９ｃは半導体レーザ１とコリメータレンズ２の
間、コリメータレンズ２と偏光ビームスプリッタ３の
間、偏光ビームスプリッタ３と１／４波長板４の間であ
ってもよい。
タ３と１／４波長板４を用いているが、これらに代えて
ハーフミラーを代用してもよい。また、前記アパーチャ
９ｂ、９ｃは半導体レーザ１とコリメータレンズ２の
間、コリメータレンズ２と偏光ビームスプリッタ３の
間、偏光ビームスプリッタ３と１／４波長板４の間であ
ってもよい。
【００６３】上述の実施例では、前記アパーチャ９ｃの
トラック方向の透孔の長さは前記対物レンズ５０の実効
的な開口数がトラック方向に０．４５になるように決定
している。また、前記アパーチャ９ｃのトラッキング方
向の透孔の長さはトラック方向の透孔の長さにトラッキ
ング追従範囲の２倍を加えることにより決定している。
しかし、前記アパーチャ９ｃのトラック方向の透孔の
長さを前記対物レンズ５０の実効的な開口数がトラック
方向に０．４５以下になるように決定し、前記アパーチ
ャ９ｃのトラッキング方向の透孔の長さをトラック方向
の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加えるこ
とにより決定してもよい。ただし、この時前記対物レン
ズ５０のトラッキング方向の実効的な開口数が０．４５
より小さくならないようにする。
トラック方向の透孔の長さは前記対物レンズ５０の実効
的な開口数がトラック方向に０．４５になるように決定
している。また、前記アパーチャ９ｃのトラッキング方
向の透孔の長さはトラック方向の透孔の長さにトラッキ
ング追従範囲の２倍を加えることにより決定している。
しかし、前記アパーチャ９ｃのトラック方向の透孔の
長さを前記対物レンズ５０の実効的な開口数がトラック
方向に０．４５以下になるように決定し、前記アパーチ
ャ９ｃのトラッキング方向の透孔の長さをトラック方向
の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加えるこ
とにより決定してもよい。ただし、この時前記対物レン
ズ５０のトラッキング方向の実効的な開口数が０．４５
より小さくならないようにする。
【００６４】また、前記アパーチャ９ｂのトラック方向
の透孔の長さは前記対物レンズ５０の実効的な開口数が
トラック方向に０．５２になるように決定している。ま
た、前記アパーチャ９ｂのトラッキング方向の透孔の長
さはトラック方向の透孔の長さにトラッキング追従範囲
の２倍を加えることにより決定しているが、対物レンズ
５０の有効光束直径４ｍｍを超える場合は、当該有効光
束直径４ｍｍでよい。
の透孔の長さは前記対物レンズ５０の実効的な開口数が
トラック方向に０．５２になるように決定している。ま
た、前記アパーチャ９ｂのトラッキング方向の透孔の長
さはトラック方向の透孔の長さにトラッキング追従範囲
の２倍を加えることにより決定しているが、対物レンズ
５０の有効光束直径４ｍｍを超える場合は、当該有効光
束直径４ｍｍでよい。
【００６５】しかし、前記アパーチャ９ｂのトラック方
向の透孔の長さを前記対物レンズ５０の実効的な開口数
がトラック方向に０．５２以下になるように決定し、前
記アパーチャ９ｂのトラッキング方向の透孔の長さをト
ラック方向の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍
を加えることにより決定してもよい。ただし、この時前
記対物レンズ５０のトラッキング方向の実効的な開口数
が０．５２より小さくならないようにする。
向の透孔の長さを前記対物レンズ５０の実効的な開口数
がトラック方向に０．５２以下になるように決定し、前
記アパーチャ９ｂのトラッキング方向の透孔の長さをト
ラック方向の透孔の長さにトラッキング追従範囲の２倍
を加えることにより決定してもよい。ただし、この時前
記対物レンズ５０のトラッキング方向の実効的な開口数
が０．５２より小さくならないようにする。
【００６６】また、本実施例では、深さ０．８ｍｍの位
置で合焦するように設計された対物レンズ５０を用いた
が、深さ０．７〜０．９ｍｍの位置で合焦するように設
計された対物レンズを用いても一応の再生は可能であ
る。また、本実施例では、レーザビーム波長を６３５ｎ
ｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容誤差±１
５）ｎｍとする場合は、照射スポット径が０．１μｍ程
拡大するが、十分交換可能である。なお、波長６３５ｎ
ｍと６５０ｎｍのレーザビームについては、それぞれ、
その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０±５０ｎｍに設定
しても再生可能であった。
置で合焦するように設計された対物レンズ５０を用いた
が、深さ０．７〜０．９ｍｍの位置で合焦するように設
計された対物レンズを用いても一応の再生は可能であ
る。また、本実施例では、レーザビーム波長を６３５ｎ
ｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容誤差±１
５）ｎｍとする場合は、照射スポット径が０．１μｍ程
拡大するが、十分交換可能である。なお、波長６３５ｎ
ｍと６５０ｎｍのレーザビームについては、それぞれ、
その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０±５０ｎｍに設定
しても再生可能であった。
【００６７】また、本実施例では、深さ０．８ｍｍの位
置で合焦するように設計された開口数０．６の対物レン
ズを用いたが、深さ１．２ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された開口数０．５２（許容誤差±０．０２）の
対物レンズを用いると、第１光ディスクと第３光ディス
クの２種類の光ディスクを安定に再生することができる
ようになる。即ち、第１光ディスクの再生時には、トラ
ック方向よりもトラッキング方向に長い透孔を持つ前記
アパーチャ９ｄを介挿し、第３光ディスクの再生時に
は、前記アパーチャ９ｄを除去する。この場合のアパー
チャの透孔の大きさは、対物レンズのトラック方向の実
効的開口数が０．３５（許容誤差±０．０３）になるよ
うに、図４において、トラック方向の長さａを２．３５
ｍｍ、トラッキング方向の長さｂを３．７ｍｍとする。
この場合、第１光ディスクの再生時には前記アパーチャ
９ｄを介挿しなくても一応の再生が可能であるが、前記
アパーチャ９ｄを介挿し対物レンズのトラック方向の実
効的開口数を０．３５にすると、基板が傾いた時や反っ
ている時に発生するコマ収差が小さくなるので良好な再
生が可能となる。 第３実施例 図８、図９に、深さ０．６ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許容誤
差±０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度の光
ディスク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭと、厚さ０．６（許
容誤差±０．０５）ｍｍの薄型の基板を有する高密度の
光ディスク、即ちＳＤの両者を再生する第３実施例の光
再生装置の光学系を示す。
置で合焦するように設計された開口数０．６の対物レン
ズを用いたが、深さ１．２ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された開口数０．５２（許容誤差±０．０２）の
対物レンズを用いると、第１光ディスクと第３光ディス
クの２種類の光ディスクを安定に再生することができる
ようになる。即ち、第１光ディスクの再生時には、トラ
ック方向よりもトラッキング方向に長い透孔を持つ前記
アパーチャ９ｄを介挿し、第３光ディスクの再生時に
は、前記アパーチャ９ｄを除去する。この場合のアパー
チャの透孔の大きさは、対物レンズのトラック方向の実
効的開口数が０．３５（許容誤差±０．０３）になるよ
うに、図４において、トラック方向の長さａを２．３５
ｍｍ、トラッキング方向の長さｂを３．７ｍｍとする。
この場合、第１光ディスクの再生時には前記アパーチャ
９ｄを介挿しなくても一応の再生が可能であるが、前記
アパーチャ９ｄを介挿し対物レンズのトラック方向の実
効的開口数を０．３５にすると、基板が傾いた時や反っ
ている時に発生するコマ収差が小さくなるので良好な再
生が可能となる。 第３実施例 図８、図９に、深さ０．６ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許容誤
差±０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度の光
ディスク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭと、厚さ０．６（許
容誤差±０．０５）ｍｍの薄型の基板を有する高密度の
光ディスク、即ちＳＤの両者を再生する第３実施例の光
再生装置の光学系を示す。
【００６８】図８、図９において、ＴＮ形液晶９１は図
１０に示すように外周部９１ａ、内周部９１ｂに分割さ
れている。該ＴＮ形液晶９１は、これらのそれぞれの領
域に対して電圧のオン・オフの制御が可能で、電圧を加
えている領域ではレーザビームの偏光方向を変えずにそ
のまま透過させ、電圧を加えていない領域ではレーザビ
ームの偏光方向を９０度変えて透過させる。開口数０．
６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍｍの対物
レンズの場合、このＴＮ形液晶９１の内周部９１ｂは、
トラック方向の長さｃを２．３５ｍｍ、トラッキング方
向の長さｄを３．７ｍｍとしている。その結果、対物レ
ンズ５のトラック方向の実効的開口数は、０．３５（許
容誤差±０．０１）となった。また、トラッキング方向
の寸法に関しては２．５８ｍｍ以上、即ちトラック方向
の１．１倍以上の範囲でジッタ抑制効果を確認できた。
１０に示すように外周部９１ａ、内周部９１ｂに分割さ
れている。該ＴＮ形液晶９１は、これらのそれぞれの領
域に対して電圧のオン・オフの制御が可能で、電圧を加
えている領域ではレーザビームの偏光方向を変えずにそ
のまま透過させ、電圧を加えていない領域ではレーザビ
ームの偏光方向を９０度変えて透過させる。開口数０．
６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍｍの対物
レンズの場合、このＴＮ形液晶９１の内周部９１ｂは、
トラック方向の長さｃを２．３５ｍｍ、トラッキング方
向の長さｄを３．７ｍｍとしている。その結果、対物レ
ンズ５のトラック方向の実効的開口数は、０．３５（許
容誤差±０．０１）となった。また、トラッキング方向
の寸法に関しては２．５８ｍｍ以上、即ちトラック方向
の１．１倍以上の範囲でジッタ抑制効果を確認できた。
【００６９】また、偏光フィルタ９２は図１１に示す構
造をしている。即ち、特定方向に偏光するレーザビーム
のみを透過させる偏光フィルム９２ａが透明ガラス９２
ｂにより全面的にはさまれている。本実施例において
は、偏光フィルム９２ａは、紙面に平行な偏光面を持つ
レーザビームのみを透過させるものとする。また、透明
ガラス９２ｂは、透明で光学特性の優れた物なら何でも
よく、例えば樹脂（ポリカーボネート、ＰＭＭＡ等）で
も構わない。軽い材質の物を使うとそれだけ対物レンズ
のトラッキング制御及びフォーカス制御を安定にするこ
とができる。
造をしている。即ち、特定方向に偏光するレーザビーム
のみを透過させる偏光フィルム９２ａが透明ガラス９２
ｂにより全面的にはさまれている。本実施例において
は、偏光フィルム９２ａは、紙面に平行な偏光面を持つ
レーザビームのみを透過させるものとする。また、透明
ガラス９２ｂは、透明で光学特性の優れた物なら何でも
よく、例えば樹脂（ポリカーボネート、ＰＭＭＡ等）で
も構わない。軽い材質の物を使うとそれだけ対物レンズ
のトラッキング制御及びフォーカス制御を安定にするこ
とができる。
【００７０】まず、基板厚０．６ｍｍで高密度の第２光
ディスクの再生動作について図９を用いて説明する。こ
の薄型の高密度光ディスクが再生される場合には、ＴＮ
型液晶９１の外周部９１ａ、内周部９１ｂに電圧を加え
ない。その結果、半導体レーザ１から出射される紙面に
垂直な方向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎ
ｍのレーザビームは、コリメータレンズ２で平行ビーム
にされ、ハーフミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶
９１により全面的に偏光方向を９０度変えられ紙面に平
行な方向に偏光するようになり、偏光フィルタ９２で遮
光されず全面的に透過し、対物レンズ５に入射する。こ
の対物レンズ５は、図示省略したトラッキング制御機構
とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォー
カス方向に変位可能に支持されている。従って、対物レ
ンズ５を経たレーザビームは集光され、ポリカーボネー
ト製の基板６０を通って、当該光ディスクの信号記録面
６０ａに照射される。更に、前記信号記録面６０ａの反
射ビームは、前記基板６０、前記対物レンズ５、前記偏
光フィルタ９２、前記ＴＮ型液晶９１を介して戻り、前
記ハーフミラー３１で半分が反射され、集光レンズ７に
より、光検出器８の信号検出部に集光照射される。この
時、信号記録面６０ａに形成されるビームスポット径は
０．９１（許容誤差±０．１）μｍである。
ディスクの再生動作について図９を用いて説明する。こ
の薄型の高密度光ディスクが再生される場合には、ＴＮ
型液晶９１の外周部９１ａ、内周部９１ｂに電圧を加え
ない。その結果、半導体レーザ１から出射される紙面に
垂直な方向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎ
ｍのレーザビームは、コリメータレンズ２で平行ビーム
にされ、ハーフミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶
９１により全面的に偏光方向を９０度変えられ紙面に平
行な方向に偏光するようになり、偏光フィルタ９２で遮
光されず全面的に透過し、対物レンズ５に入射する。こ
の対物レンズ５は、図示省略したトラッキング制御機構
とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォー
カス方向に変位可能に支持されている。従って、対物レ
ンズ５を経たレーザビームは集光され、ポリカーボネー
ト製の基板６０を通って、当該光ディスクの信号記録面
６０ａに照射される。更に、前記信号記録面６０ａの反
射ビームは、前記基板６０、前記対物レンズ５、前記偏
光フィルタ９２、前記ＴＮ型液晶９１を介して戻り、前
記ハーフミラー３１で半分が反射され、集光レンズ７に
より、光検出器８の信号検出部に集光照射される。この
時、信号記録面６０ａに形成されるビームスポット径は
０．９１（許容誤差±０．１）μｍである。
【００７１】次に、基板厚１．２ｍｍで標準密度の第１
光ディスクの再生動作について図８を用いて説明する。
この標準厚の標準密度光ディスクが再生される場合に
は、ＴＮ形液晶９１の外周部９１ａに電圧を加える。そ
の結果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な方
向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレー
ザビームは、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、
ハーフミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９１の外
周部９１ａに入射したレーザビームについては偏光方向
を変えられずに透過し、内周部９１ｂに入射したレーザ
ビームについては偏光方向を９０度変えられ透過し、偏
光フィルタ９２で外周部９１ａを透過した紙面に垂直な
方向に偏光するレーザビームが遮光され、内周部９１ｂ
を透過した紙面に平行な方向に偏光するレーザビームが
対物レンズ５に入射する。この対物レンズ５は、図示省
略したトラッキング制御機構とフォーカス制御機構によ
りトラッキング方向とフォーカス方向に変位可能に支持
されている。従って、対物レンズ５を経たレーザビーム
は集光され、ポリカーボネート製の基板６を通って、当
該光ディスクの信号記録面６ａに照射される。更に、前
記信号記録面６ａの反射ビームは、前記基板６、前記対
物レンズ５、前記偏光フィルタ９２、前記ＴＮ形液晶９
１を介して戻り、前記ハーフミラー３１で半分が反射さ
れ、集光レンズ７により、光検出器８の信号検出部に集
光照射される。この時、信号記録面６ａに形成されるビ
ームスポット径はトラック方向に１．５（許容誤差±
０．１）μｍ、トラッキング方向に１．６（許容誤差±
０．１）μｍである。
光ディスクの再生動作について図８を用いて説明する。
この標準厚の標準密度光ディスクが再生される場合に
は、ＴＮ形液晶９１の外周部９１ａに電圧を加える。そ
の結果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な方
向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレー
ザビームは、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、
ハーフミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９１の外
周部９１ａに入射したレーザビームについては偏光方向
を変えられずに透過し、内周部９１ｂに入射したレーザ
ビームについては偏光方向を９０度変えられ透過し、偏
光フィルタ９２で外周部９１ａを透過した紙面に垂直な
方向に偏光するレーザビームが遮光され、内周部９１ｂ
を透過した紙面に平行な方向に偏光するレーザビームが
対物レンズ５に入射する。この対物レンズ５は、図示省
略したトラッキング制御機構とフォーカス制御機構によ
りトラッキング方向とフォーカス方向に変位可能に支持
されている。従って、対物レンズ５を経たレーザビーム
は集光され、ポリカーボネート製の基板６を通って、当
該光ディスクの信号記録面６ａに照射される。更に、前
記信号記録面６ａの反射ビームは、前記基板６、前記対
物レンズ５、前記偏光フィルタ９２、前記ＴＮ形液晶９
１を介して戻り、前記ハーフミラー３１で半分が反射さ
れ、集光レンズ７により、光検出器８の信号検出部に集
光照射される。この時、信号記録面６ａに形成されるビ
ームスポット径はトラック方向に１．５（許容誤差±
０．１）μｍ、トラッキング方向に１．６（許容誤差±
０．１）μｍである。
【００７２】本実施例のように、図１０に示すような内
周部９１ｂがトラック方向よりもトラッキング方向に長
いＴＮ型液晶９１を用いると、内周部９１ｂが円形のＴ
Ｎ型液晶９１を用いるよりも、トラッキング追従範囲が
拡大するに従ってジッタ量が大幅に改善される。また、
波形等価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もＴ
Ｎ型液晶９１と偏光フィルタ９２をアクチュエータに付
加した場合と同等の値を得ることが出来る。
周部９１ｂがトラック方向よりもトラッキング方向に長
いＴＮ型液晶９１を用いると、内周部９１ｂが円形のＴ
Ｎ型液晶９１を用いるよりも、トラッキング追従範囲が
拡大するに従ってジッタ量が大幅に改善される。また、
波形等価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もＴ
Ｎ型液晶９１と偏光フィルタ９２をアクチュエータに付
加した場合と同等の値を得ることが出来る。
【００７３】また、本実施例装置には、偏光フィルタ９
２と対物レンズ５の間には光路を９０度変えるための反
射ミラー（立ち上げミラー）があるが、図を見易くする
ために図示を省略している。この立ち上げミラーは、上
記のごとく光路を変えることにより、光ピックアップを
コンパクト化するものである。また、本実施例では、ハ
ーフミラー３１を用いたが、偏光フィルタ９２と対物レ
ンズ５の間に１／４波長板を介挿して、ハーフミラー３
１の代わりに偏光ビームスプリッタを用いてもよい。こ
のような構成にすると、レーザビームの利用効率が向上
する。
２と対物レンズ５の間には光路を９０度変えるための反
射ミラー（立ち上げミラー）があるが、図を見易くする
ために図示を省略している。この立ち上げミラーは、上
記のごとく光路を変えることにより、光ピックアップを
コンパクト化するものである。また、本実施例では、ハ
ーフミラー３１を用いたが、偏光フィルタ９２と対物レ
ンズ５の間に１／４波長板を介挿して、ハーフミラー３
１の代わりに偏光ビームスプリッタを用いてもよい。こ
のような構成にすると、レーザビームの利用効率が向上
する。
【００７４】また、本実施例では、ＴＮ型液晶９１と偏
光フィルタ９２はハーフミラー３１と対物レンズ５の間
にあるが、ＴＮ型液晶９１と偏光フィルタ９２は、それ
ぞれ半導体レーザ１とコリメータレンズ２の間、コリメ
ータレンズ２とハーフミラー３１の間であってもよい。
また、ＴＮ型液晶９１と偏光フィルタ９２は必ずしも連
続的に位置する必要はなく、ＴＮ型液晶９１が偏光フィ
ルタ９２の光源側にあれば離れていても構わない。
光フィルタ９２はハーフミラー３１と対物レンズ５の間
にあるが、ＴＮ型液晶９１と偏光フィルタ９２は、それ
ぞれ半導体レーザ１とコリメータレンズ２の間、コリメ
ータレンズ２とハーフミラー３１の間であってもよい。
また、ＴＮ型液晶９１と偏光フィルタ９２は必ずしも連
続的に位置する必要はなく、ＴＮ型液晶９１が偏光フィ
ルタ９２の光源側にあれば離れていても構わない。
【００７５】また、本実施例では、偏光フィルタ９２を
用いたが、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、
偏光ガラス、偏光ビームスプリッタであってもよい。ま
た、前述するゲストホスト素子は、図２０に示すように
ゲストホスト型液晶を透孔の外側に設け、電圧を印加し
た場合にのみ偏光選択特性を呈する素子である。
用いたが、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、
偏光ガラス、偏光ビームスプリッタであってもよい。ま
た、前述するゲストホスト素子は、図２０に示すように
ゲストホスト型液晶を透孔の外側に設け、電圧を印加し
た場合にのみ偏光選択特性を呈する素子である。
【００７６】また、前述する偏光ガラスは、図２１に示
すようにガラス中に銀化合物を一定方向に配向させた状
態で、表面の外周を還元させて銀を析出させたものであ
り、還元させた銀膜が偏光特性を呈するものである。
尚、材料の銀については、偏光選択性を有するものであ
れば、他の金属材料であってもよい。但し、銀を用いた
この偏光ガラスは、偏光面が共通のレーザビームを１０
０％透過することが可能であり、通常の場合のように中
央の光孔部分において減光膜を設ける必要がなく、レー
ザビームの光束を絞った場合に、減光膜がないことによ
り十分な光量が得られると言う利点がある。
すようにガラス中に銀化合物を一定方向に配向させた状
態で、表面の外周を還元させて銀を析出させたものであ
り、還元させた銀膜が偏光特性を呈するものである。
尚、材料の銀については、偏光選択性を有するものであ
れば、他の金属材料であってもよい。但し、銀を用いた
この偏光ガラスは、偏光面が共通のレーザビームを１０
０％透過することが可能であり、通常の場合のように中
央の光孔部分において減光膜を設ける必要がなく、レー
ザビームの光束を絞った場合に、減光膜がないことによ
り十分な光量が得られると言う利点がある。
【００７７】また、本実施例では、ＴＮ型液晶９１を用
いたが、強誘電性型液晶、ＳＴＮ型液晶であってもよ
い。また、電気的に偏光面を回転させる方法であれば液
晶に限られず、ポッケルスセルを採用することも可能で
ある。また、磁気的に偏光面を回転させる素子としてフ
ァラデー素子も採用できる。前述する強誘電性型液晶
は、正の電圧を短時間加えるとレーザビームの偏光方向
を４５度回転させるようになり、その状態を保持する。
また、負の電圧を短時間加えると正の電圧を加えた時と
は逆の方向にレーザビームの偏光方向を４５度回転させ
るようになり、その状態を保持する。結果として、正の
電圧を加えたときと負の電圧を加えたときでは、透過後
のレーザビームの偏光方向には９０度の差がある。即
ち、出射時のレーザビームの偏光方向を本実施例におけ
る偏光方向より、あらかじめ４５度回転させておくと、
本実施例と同じ動作が可能となる。強誘電性型液晶を用
いると、電圧を加えるのは最初の短時間だけでよいので
省電力になる。
いたが、強誘電性型液晶、ＳＴＮ型液晶であってもよ
い。また、電気的に偏光面を回転させる方法であれば液
晶に限られず、ポッケルスセルを採用することも可能で
ある。また、磁気的に偏光面を回転させる素子としてフ
ァラデー素子も採用できる。前述する強誘電性型液晶
は、正の電圧を短時間加えるとレーザビームの偏光方向
を４５度回転させるようになり、その状態を保持する。
また、負の電圧を短時間加えると正の電圧を加えた時と
は逆の方向にレーザビームの偏光方向を４５度回転させ
るようになり、その状態を保持する。結果として、正の
電圧を加えたときと負の電圧を加えたときでは、透過後
のレーザビームの偏光方向には９０度の差がある。即
ち、出射時のレーザビームの偏光方向を本実施例におけ
る偏光方向より、あらかじめ４５度回転させておくと、
本実施例と同じ動作が可能となる。強誘電性型液晶を用
いると、電圧を加えるのは最初の短時間だけでよいので
省電力になる。
【００７８】また、前述するポッケルスセルは、図２２
に示すように電圧印加時にレーザビームの偏光面を回転
させるものである。このポッケルスセルは、印加電圧を
調整することにより偏光面の角度を変化させることがで
き、組立調整が容易である。また、前述するファラデー
素子は、図２３に示すように磁界の印加時にレーザビー
ムの偏光面を回転させるものである。このファラデー素
子は図より明らかな通り、光の通過方向と磁界の印加方
向が共通でありファラデー素子を支持する鏡筒にコイル
を巻き付けることにより偏光面を回転でき、組立構成が
簡単になる。
に示すように電圧印加時にレーザビームの偏光面を回転
させるものである。このポッケルスセルは、印加電圧を
調整することにより偏光面の角度を変化させることがで
き、組立調整が容易である。また、前述するファラデー
素子は、図２３に示すように磁界の印加時にレーザビー
ムの偏光面を回転させるものである。このファラデー素
子は図より明らかな通り、光の通過方向と磁界の印加方
向が共通でありファラデー素子を支持する鏡筒にコイル
を巻き付けることにより偏光面を回転でき、組立構成が
簡単になる。
【００７９】上述の実施例では、前記ＴＮ型液晶９１の
内周部のトラック方向の長さは前記対物レンズ５の実効
的な開口数がトラック方向に０．３５になるように決定
している。また、前記ＴＮ型液晶９１の内周部のトラッ
キング方向の長さはトラック方向の長さにトラッキング
追従範囲の２倍を加えることにより決定している。しか
し、前記ＴＮ型液晶９１の内周部のトラック方向の長さ
を前記対物レンズ５の実効的な開口数がトラック方向に
０．３５以下になるように決定し、前記ＴＮ型液晶９１
の内周部のトラッキング方向の透孔の長さをトラック方
向の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加えることに
より決定してもよい。ただし、この時前記対物レンズ５
のトラッキング方向の実効的な開口数が０．３５より小
さくならないようにする。
内周部のトラック方向の長さは前記対物レンズ５の実効
的な開口数がトラック方向に０．３５になるように決定
している。また、前記ＴＮ型液晶９１の内周部のトラッ
キング方向の長さはトラック方向の長さにトラッキング
追従範囲の２倍を加えることにより決定している。しか
し、前記ＴＮ型液晶９１の内周部のトラック方向の長さ
を前記対物レンズ５の実効的な開口数がトラック方向に
０．３５以下になるように決定し、前記ＴＮ型液晶９１
の内周部のトラッキング方向の透孔の長さをトラック方
向の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加えることに
より決定してもよい。ただし、この時前記対物レンズ５
のトラッキング方向の実効的な開口数が０．３５より小
さくならないようにする。
【００８０】また、本実施例においては、偏光フィルタ
９２では紙面に平行な偏光面を持つレーザビームのみを
透過させる偏光フィルム９２ａを用いたが、半導体レー
ザ１から出射されるレーザビームの偏光方向を本実施例
と逆にするかＴＮ型液晶９１の電圧のオン・オフを逆に
すると、紙面に垂直な偏光面を持つレーザビームのみを
透過させる偏光フィルムを用いることも可能である。
９２では紙面に平行な偏光面を持つレーザビームのみを
透過させる偏光フィルム９２ａを用いたが、半導体レー
ザ１から出射されるレーザビームの偏光方向を本実施例
と逆にするかＴＮ型液晶９１の電圧のオン・オフを逆に
すると、紙面に垂直な偏光面を持つレーザビームのみを
透過させる偏光フィルムを用いることも可能である。
【００８１】また、本実施例では、レーザビーム波長を
６３５ｎｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容
誤差±１５）ｎｍとする場合は、レーザビームスポット
が０．１μｍ程拡大するが、十分交換可能である。な
お、波長６３５ｎｍと６５０ｎｍのレーザビームについ
ては、それぞれ、その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０
±５０ｎｍに設定しても再生可能であった。
６３５ｎｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容
誤差±１５）ｎｍとする場合は、レーザビームスポット
が０．１μｍ程拡大するが、十分交換可能である。な
お、波長６３５ｎｍと６５０ｎｍのレーザビームについ
ては、それぞれ、その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０
±５０ｎｍに設定しても再生可能であった。
【００８２】また、本実施例では、深さ０.６ｍｍの位
置で焦点が合うように設計された対物レンズ５を用いた
が、深さ０.７ｍｍから深さ０.９ｍｍの間で焦点が合う
ように設計された対物レンズを用いてもよい。例えば、
深さ０.８ｍｍの位置で焦点が合うように設計された開
口数０.６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍ
ｍの対物レンズを用いる場合は、図２５におけるＴＮ型
液晶９１の第２領域９１ｃのトラック方向の長さｇを
３.４７ｍｍ、トラッキング方向の長さｄを４ｍｍとす
る。その結果、対物レンズ５のトラック方向の実効的開
口数は０.５２（許容誤差±０．０２）となり、第２光
ディスクの再生時に信号記録面６０aに形成されるビー
ムスポット径はトラック方向に１（許容誤差±０．１）
μｍ、トラッキング方向に１.１（許容誤差±０．１）
μｍとなる。次に、第１光ディスクの再生時には、図２
５におけるＴＮ型液晶９１の第３領域９１ｂのトラック
方向の長さｃを３ｍｍ、トラッキング方向の長さｄは上
記と同じ４ｍｍとする。その結果、対物レンズ５のトラ
ック方向の実効的開口数は０.４５（許容誤差±０．０
２）となり、第１光ディスクの再生時に信号記録面６a
に形成されるビームスポット径はトラック方向に１.２
（許容誤差±０．１）μｍ、トラッキング方向に１.３
（許容誤差±０．１）μｍとなるので、第１光ディスク
と同じ動作原理で、厚さ１.２（許容誤差±０．０５）
ｍｍの標準厚の基板を有する高密度の光ディスク、即ち
ＭＭＣＤの再生も可能となる。
置で焦点が合うように設計された対物レンズ５を用いた
が、深さ０.７ｍｍから深さ０.９ｍｍの間で焦点が合う
ように設計された対物レンズを用いてもよい。例えば、
深さ０.８ｍｍの位置で焦点が合うように設計された開
口数０.６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍ
ｍの対物レンズを用いる場合は、図２５におけるＴＮ型
液晶９１の第２領域９１ｃのトラック方向の長さｇを
３.４７ｍｍ、トラッキング方向の長さｄを４ｍｍとす
る。その結果、対物レンズ５のトラック方向の実効的開
口数は０.５２（許容誤差±０．０２）となり、第２光
ディスクの再生時に信号記録面６０aに形成されるビー
ムスポット径はトラック方向に１（許容誤差±０．１）
μｍ、トラッキング方向に１.１（許容誤差±０．１）
μｍとなる。次に、第１光ディスクの再生時には、図２
５におけるＴＮ型液晶９１の第３領域９１ｂのトラック
方向の長さｃを３ｍｍ、トラッキング方向の長さｄは上
記と同じ４ｍｍとする。その結果、対物レンズ５のトラ
ック方向の実効的開口数は０.４５（許容誤差±０．０
２）となり、第１光ディスクの再生時に信号記録面６a
に形成されるビームスポット径はトラック方向に１.２
（許容誤差±０．１）μｍ、トラッキング方向に１.３
（許容誤差±０．１）μｍとなるので、第１光ディスク
と同じ動作原理で、厚さ１.２（許容誤差±０．０５）
ｍｍの標準厚の基板を有する高密度の光ディスク、即ち
ＭＭＣＤの再生も可能となる。
【００８３】また、本実施例では、深さ０．６ｍｍの位
置で合焦するように設計された開口数０．６の対物レン
ズを用いたが、深さ１．２ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された開口数０．５２（許容誤差±０．０２）の
対物レンズを用いると、第１光ディスクと第３光ディス
クの２種類の光ディスクを安定に再生することができる
ようになる。即ち、第１光ディスクの再生時には、ＴＮ
型液晶９１の外周部９１ａに電圧を加え、第３光ディス
クの再生時には、ＴＮ型液晶９１の外周部９１ａに電圧
を加えない。この場合のＴＮ型液晶９１の内周部９１ｂ
の大きさは、対物レンズのトラック方向の実効的開口数
が０．３５（許容誤差±０．０３）になるように、図１
０において、トラック方向の長さｃを２．３５ｍｍ、ト
ラッキング方向の長さｄを３．７ｍｍとする。この場
合、第１光ディスクの再生時にはレーザビームの外周部
を遮光しなくても一応の再生が可能であるが、レーザビ
ームの外周部を遮光し、対物レンズのトラック方向の実
効的開口数を０．３５にすると、基板が傾いた時や反っ
ている時に発生するコマ収差が小さくなるので良好な再
生が可能となる。 第４実施例 図１２、図１３に、深さ０．６ｍｍの位置で焦点が合う
ように設計された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許
容誤差±０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度
の光ディスク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭと、厚さ０．６
（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄型の基板を有する高密
度の光ディスク、即ちＳＤの両者を再生する第４実施例
の光再生装置の光学系を示す。
置で合焦するように設計された開口数０．６の対物レン
ズを用いたが、深さ１．２ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された開口数０．５２（許容誤差±０．０２）の
対物レンズを用いると、第１光ディスクと第３光ディス
クの２種類の光ディスクを安定に再生することができる
ようになる。即ち、第１光ディスクの再生時には、ＴＮ
型液晶９１の外周部９１ａに電圧を加え、第３光ディス
クの再生時には、ＴＮ型液晶９１の外周部９１ａに電圧
を加えない。この場合のＴＮ型液晶９１の内周部９１ｂ
の大きさは、対物レンズのトラック方向の実効的開口数
が０．３５（許容誤差±０．０３）になるように、図１
０において、トラック方向の長さｃを２．３５ｍｍ、ト
ラッキング方向の長さｄを３．７ｍｍとする。この場
合、第１光ディスクの再生時にはレーザビームの外周部
を遮光しなくても一応の再生が可能であるが、レーザビ
ームの外周部を遮光し、対物レンズのトラック方向の実
効的開口数を０．３５にすると、基板が傾いた時や反っ
ている時に発生するコマ収差が小さくなるので良好な再
生が可能となる。 第４実施例 図１２、図１３に、深さ０．６ｍｍの位置で焦点が合う
ように設計された対物レンズを用いて、厚さ１．２（許
容誤差±０．１）ｍｍの標準厚の基板を有する標準密度
の光ディスク、即ちＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭと、厚さ０．６
（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄型の基板を有する高密
度の光ディスク、即ちＳＤの両者を再生する第４実施例
の光再生装置の光学系を示す。
【００８４】図１２、図１３において、偏光フィルタ９
４は図１４に示す構造をしている。即ち、偏光フィルム
９４ａが透明ガラス９４ｂによりはさまれ、偏光フィル
ム９４ａのない内周部にはレーザビームの透過率を低下
させるための偏光選択性のないフィルタ９４ｃが取り付
けられている。偏光フィルム９４ａは特定方向に偏光す
るレーザビームを透過させるが、それでも７０〜９０％
程度である。そのため、内周部においてもレーザビーム
の透過率を外周部と同じ程度まで低下させないと第１光
ディスクの再生時において集光特性が悪くなる。フィル
タ９４ｃを取り付けているのはそのためである。また、
透明ガラス９４ｂは、透明で光学特性の優れた物なら何
でもよく、例えば樹脂（ポリカーボネート、ＰＭＭＡ
等）でも構わない。軽い材質の物を使うとそれだけ対物
レンズのトラッキング制御及びフォーカス制御を安定に
することができる。
４は図１４に示す構造をしている。即ち、偏光フィルム
９４ａが透明ガラス９４ｂによりはさまれ、偏光フィル
ム９４ａのない内周部にはレーザビームの透過率を低下
させるための偏光選択性のないフィルタ９４ｃが取り付
けられている。偏光フィルム９４ａは特定方向に偏光す
るレーザビームを透過させるが、それでも７０〜９０％
程度である。そのため、内周部においてもレーザビーム
の透過率を外周部と同じ程度まで低下させないと第１光
ディスクの再生時において集光特性が悪くなる。フィル
タ９４ｃを取り付けているのはそのためである。また、
透明ガラス９４ｂは、透明で光学特性の優れた物なら何
でもよく、例えば樹脂（ポリカーボネート、ＰＭＭＡ
等）でも構わない。軽い材質の物を使うとそれだけ対物
レンズのトラッキング制御及びフォーカス制御を安定に
することができる。
【００８５】偏光フィルタ９４の偏光特性は図１５に示
すようになっている。即ち、前記偏光フィルタ９４は外
周部９４ｄでは、偏光フィルム９４ａにより特定方向に
偏光するレーザビームのみを７０〜９０％程度透過させ
る。また、内周部９４ｅではレーザビームの偏光方向に
関係なく外周部９４ｄと同じ透過率（７０〜９０％）で
透過させる。本実施例においては、外周部９４ｄでは紙
面に平行な偏光面を持つレーザビームのみを透過させる
ものとする。開口数０．６（許容誤差±０．０５）、有
効光束直径４ｍｍの対物レンズの場合、この偏光フィル
タ９４の内周部９４ｅは、トラック方向の長さｅを２．
３５ｍｍ、トラッキング方向の長さｆを３．７ｍｍとし
ている。その結果、対物レンズ５のトラック方向の実効
的開口数は、０．３５（許容誤差±０．０１）となっ
た。また、トラッキング方向の寸法に関しては２．５８
ｍｍ以上、即ちトラック方向の１．１倍以上の範囲でジ
ッタ抑制効果を確認できた。まず、基板厚０．６ｍｍで
高密度の第２光ディスクの再生動作について図１３を用
いて説明する。この薄型の高密度光ディスクが再生され
る場合には、ＴＮ型液晶９３に電圧を加えない。その結
果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な方向に
偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビ
ームは、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、ハー
フミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全
面的に偏光方向を９０度変えられ紙面に平行な方向に偏
光するようになり、偏光フィルタ９２で遮光されず全面
的に透過し、対物レンズ５に入射する。この対物レンズ
５は、図示省略したトラッキング制御機構とフォーカス
制御機構によりトラッキング方向とフォーカス方向に変
位可能に支持されている。従って、対物レンズ５を経た
レーザビームは集光され、ポリカーボネート製の基板６
０を通って、当該光ディスクの信号記録面６０ａに照射
される。更に、前記信号記録面６０ａの反射ビームは、
前記基板６０、前記対物レンズ５、前記偏光フィルタ９
４、前記ＴＮ型液晶９３を介して戻り、前記ハーフミラ
ー３１で半分が反射され、集光レンズ７により、光検出
器８の信号検出部に集光照射される。この時、信号記録
面６０ａに形成されるビームスポット径は０．９１（許
容誤差±０．１）μｍである。
すようになっている。即ち、前記偏光フィルタ９４は外
周部９４ｄでは、偏光フィルム９４ａにより特定方向に
偏光するレーザビームのみを７０〜９０％程度透過させ
る。また、内周部９４ｅではレーザビームの偏光方向に
関係なく外周部９４ｄと同じ透過率（７０〜９０％）で
透過させる。本実施例においては、外周部９４ｄでは紙
面に平行な偏光面を持つレーザビームのみを透過させる
ものとする。開口数０．６（許容誤差±０．０５）、有
効光束直径４ｍｍの対物レンズの場合、この偏光フィル
タ９４の内周部９４ｅは、トラック方向の長さｅを２．
３５ｍｍ、トラッキング方向の長さｆを３．７ｍｍとし
ている。その結果、対物レンズ５のトラック方向の実効
的開口数は、０．３５（許容誤差±０．０１）となっ
た。また、トラッキング方向の寸法に関しては２．５８
ｍｍ以上、即ちトラック方向の１．１倍以上の範囲でジ
ッタ抑制効果を確認できた。まず、基板厚０．６ｍｍで
高密度の第２光ディスクの再生動作について図１３を用
いて説明する。この薄型の高密度光ディスクが再生され
る場合には、ＴＮ型液晶９３に電圧を加えない。その結
果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な方向に
偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビ
ームは、コリメータレンズ２で平行ビームにされ、ハー
フミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全
面的に偏光方向を９０度変えられ紙面に平行な方向に偏
光するようになり、偏光フィルタ９２で遮光されず全面
的に透過し、対物レンズ５に入射する。この対物レンズ
５は、図示省略したトラッキング制御機構とフォーカス
制御機構によりトラッキング方向とフォーカス方向に変
位可能に支持されている。従って、対物レンズ５を経た
レーザビームは集光され、ポリカーボネート製の基板６
０を通って、当該光ディスクの信号記録面６０ａに照射
される。更に、前記信号記録面６０ａの反射ビームは、
前記基板６０、前記対物レンズ５、前記偏光フィルタ９
４、前記ＴＮ型液晶９３を介して戻り、前記ハーフミラ
ー３１で半分が反射され、集光レンズ７により、光検出
器８の信号検出部に集光照射される。この時、信号記録
面６０ａに形成されるビームスポット径は０．９１（許
容誤差±０．１）μｍである。
【００８６】次に、基板厚１．２ｍｍで標準密度の第１
光ディスクの再生動作について図１２を用いて説明す
る。この標準厚の標準密度光ディスクが再生される場合
には、ＴＮ型液晶９３に電圧を加える。その結果、半導
体レーザ１から出射される紙面に垂直な方向に偏光する
波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビームは、
コリメータレンズ２で平行ビームにされ、ハーフミラー
３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面的に偏
光方向を変えられずに透過し、偏光フィルタ９４で外周
部が遮光され内周部だけが対物レンズ５に入射する。こ
の対物レンズ５は、図示省略したトラッキング制御機構
とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォー
カス方向に変位可能に支持されている。従って、対物レ
ンズ５を経たレーザビームは集光され、ポリカーボネー
ト製の基板６を通って、当該光ディスクの信号記録面６
ａに照射される。更に、前記信号記録面６ａの反射ビー
ムは、前記基板６、前記対物レンズ５、前記偏光フィル
タ９４、前記ＴＮ型液晶９３を介して戻り、前記ハーフ
ミラー３１で半分が反射され、集光レンズ７により、光
検出器８の信号検出部に集光照射される。この時、信号
記録面６ａに形成されるビームスポット径はトラック方
向に１．５（許容誤差±０．１）μｍ、トラッキング方
向に１．６（許容誤差±０．１）μｍである。
光ディスクの再生動作について図１２を用いて説明す
る。この標準厚の標準密度光ディスクが再生される場合
には、ＴＮ型液晶９３に電圧を加える。その結果、半導
体レーザ１から出射される紙面に垂直な方向に偏光する
波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビームは、
コリメータレンズ２で平行ビームにされ、ハーフミラー
３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面的に偏
光方向を変えられずに透過し、偏光フィルタ９４で外周
部が遮光され内周部だけが対物レンズ５に入射する。こ
の対物レンズ５は、図示省略したトラッキング制御機構
とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォー
カス方向に変位可能に支持されている。従って、対物レ
ンズ５を経たレーザビームは集光され、ポリカーボネー
ト製の基板６を通って、当該光ディスクの信号記録面６
ａに照射される。更に、前記信号記録面６ａの反射ビー
ムは、前記基板６、前記対物レンズ５、前記偏光フィル
タ９４、前記ＴＮ型液晶９３を介して戻り、前記ハーフ
ミラー３１で半分が反射され、集光レンズ７により、光
検出器８の信号検出部に集光照射される。この時、信号
記録面６ａに形成されるビームスポット径はトラック方
向に１．５（許容誤差±０．１）μｍ、トラッキング方
向に１．６（許容誤差±０．１）μｍである。
【００８７】本実施例のように、図１５に示すような内
周部９４ｅがトラック方向よりもトラッキング方向に長
い偏光フィルタ９４を用いると、内周部９４ｅが円形の
偏光フィルタを用いるよりも、トラッキング追従範囲が
拡大するに従ってジッタ量が大幅に改善される。また、
波形等価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もＴ
Ｎ型液晶９３と偏光フィルタ９４をアクチュエータに付
加した場合と同等の値を得ることが出来る。
周部９４ｅがトラック方向よりもトラッキング方向に長
い偏光フィルタ９４を用いると、内周部９４ｅが円形の
偏光フィルタを用いるよりも、トラッキング追従範囲が
拡大するに従ってジッタ量が大幅に改善される。また、
波形等価回路等を用いることにより、再生ジッタ値もＴ
Ｎ型液晶９３と偏光フィルタ９４をアクチュエータに付
加した場合と同等の値を得ることが出来る。
【００８８】また、本実施例装置には、偏光フィルタ９
４と対物レンズ５の間には光路を９０度変えるための反
射ミラー（立ち上げミラー）があるが、図を見易くする
ために図示を省略している。この立ち上げミラーは、上
記のごとく光路を変えることにより、光ピックアップを
コンパクト化するものである。また、本実施例では、ハ
ーフミラー３１を用いたが、偏光フィルタ９４と対物レ
ンズ５の間に１／４波長板を介挿して、ハーフミラー３
１の代わりに偏光ビームスプリッタを用いてもよい。こ
のような構成にすると、レーザビームの利用効率が向上
する。
４と対物レンズ５の間には光路を９０度変えるための反
射ミラー（立ち上げミラー）があるが、図を見易くする
ために図示を省略している。この立ち上げミラーは、上
記のごとく光路を変えることにより、光ピックアップを
コンパクト化するものである。また、本実施例では、ハ
ーフミラー３１を用いたが、偏光フィルタ９４と対物レ
ンズ５の間に１／４波長板を介挿して、ハーフミラー３
１の代わりに偏光ビームスプリッタを用いてもよい。こ
のような構成にすると、レーザビームの利用効率が向上
する。
【００８９】また、本実施例では、ＴＮ型液晶９３と偏
光フィルタ９４はハーフミラー３１と対物レンズ５の間
にあるが、ＴＮ型液晶９３と偏光フィルタ９４は、それ
ぞれ半導体レーザ１とコリメータレンズ２の間、コリメ
ータレンズ２とハーフミラー３１の間であってもよい。
また、ＴＮ型液晶９３と偏光フィルタ９４は必ずしも連
続的に位置する必要はなく、ＴＮ型液晶９３が偏光フィ
ルタ９４の光源側にあれば離れていても構わない。
光フィルタ９４はハーフミラー３１と対物レンズ５の間
にあるが、ＴＮ型液晶９３と偏光フィルタ９４は、それ
ぞれ半導体レーザ１とコリメータレンズ２の間、コリメ
ータレンズ２とハーフミラー３１の間であってもよい。
また、ＴＮ型液晶９３と偏光フィルタ９４は必ずしも連
続的に位置する必要はなく、ＴＮ型液晶９３が偏光フィ
ルタ９４の光源側にあれば離れていても構わない。
【００９０】また、本実施例では、偏光フィルタ９４を
用いたが、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、
偏光ガラス、偏光ビームスプリッタであってもよい。ま
た、前述するゲストホスト素子は、図２０に示したよう
にゲストホスト型液晶を透孔の外側に設け、電圧を印加
した場合にのみ偏光選択特性を呈する素子である。
用いたが、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、
偏光ガラス、偏光ビームスプリッタであってもよい。ま
た、前述するゲストホスト素子は、図２０に示したよう
にゲストホスト型液晶を透孔の外側に設け、電圧を印加
した場合にのみ偏光選択特性を呈する素子である。
【００９１】また、前述する偏光ガラスは、図２１に示
したようにガラス中に銀化合物を一定方向に配向させた
状態で、表面の外周を還元させて銀を析出させたもので
あり、還元させた銀膜が偏光特性を呈するものである。
尚、材料の銀については、偏光選択性を有するものであ
れば、他の金属材料であってもよい。但し、銀を用いた
この偏光ガラスは、偏光面が共通のレーザビームを１０
０％透過することが可能であり、通常の場合のように中
央の光孔部分において減光膜を設ける必要がなく、レー
ザビームの光束を絞った場合に、減光膜がないことによ
り十分な光量が得られると言う利点がある。
したようにガラス中に銀化合物を一定方向に配向させた
状態で、表面の外周を還元させて銀を析出させたもので
あり、還元させた銀膜が偏光特性を呈するものである。
尚、材料の銀については、偏光選択性を有するものであ
れば、他の金属材料であってもよい。但し、銀を用いた
この偏光ガラスは、偏光面が共通のレーザビームを１０
０％透過することが可能であり、通常の場合のように中
央の光孔部分において減光膜を設ける必要がなく、レー
ザビームの光束を絞った場合に、減光膜がないことによ
り十分な光量が得られると言う利点がある。
【００９２】また、本実施例では、ＴＮ型液晶９３を用
いたが、強誘電性型液晶、ＳＴＮ型液晶であってもよ
い。また、電気的に偏光面を回転させる方法であれば液
晶に限られず、ポッケルスセルを採用することも可能で
ある。また、磁気的に偏光面を回転させる素子としてフ
ァラデー素子も採用できる。前述した強誘電性型液晶
は、正の電圧を短時間加えるとレーザビームの偏光方向
を４５度回転させるようになり、その状態を保持する。
また、負の電圧を短時間加えると正の電圧を加えた時と
は逆の方向にレーザビームの偏光方向を４５度回転させ
るようになり、その状態を保持する。結果として、正の
電圧を加えたときと負の電圧を加えたときでは、透過後
のレーザビームの偏光方向には９０度の差がある。即
ち、出射時のレーザビームの偏光方向を本実施例におけ
る偏光方向より、あらかじめ４５度回転させておくと、
本実施例と同じ動作が可能となる。強誘電性型液晶を用
いると、電圧を加えるのは最初の短時間だけでよいので
省電力になる。
いたが、強誘電性型液晶、ＳＴＮ型液晶であってもよ
い。また、電気的に偏光面を回転させる方法であれば液
晶に限られず、ポッケルスセルを採用することも可能で
ある。また、磁気的に偏光面を回転させる素子としてフ
ァラデー素子も採用できる。前述した強誘電性型液晶
は、正の電圧を短時間加えるとレーザビームの偏光方向
を４５度回転させるようになり、その状態を保持する。
また、負の電圧を短時間加えると正の電圧を加えた時と
は逆の方向にレーザビームの偏光方向を４５度回転させ
るようになり、その状態を保持する。結果として、正の
電圧を加えたときと負の電圧を加えたときでは、透過後
のレーザビームの偏光方向には９０度の差がある。即
ち、出射時のレーザビームの偏光方向を本実施例におけ
る偏光方向より、あらかじめ４５度回転させておくと、
本実施例と同じ動作が可能となる。強誘電性型液晶を用
いると、電圧を加えるのは最初の短時間だけでよいので
省電力になる。
【００９３】また、前述するポッケルスセルは、図２２
に示したように電圧印加時にレーザビームの偏光面を回
転させるものである。このポッケルスセルは、印加電圧
を調整することにより偏光面の角度を変化させることが
でき、組立調整が容易である。また、前述するファラデ
ー素子は、図２３に示したように磁界の印加時にレーザ
ビームの偏光面を回転させるものである。このファラデ
ー素子は図より明らかな通り、光の通過方向と磁界の印
加方向が共通でありファラデー素子を支持する鏡筒にコ
イルを巻き付けることにより偏光面を回転でき、組立構
成が簡単になる。
に示したように電圧印加時にレーザビームの偏光面を回
転させるものである。このポッケルスセルは、印加電圧
を調整することにより偏光面の角度を変化させることが
でき、組立調整が容易である。また、前述するファラデ
ー素子は、図２３に示したように磁界の印加時にレーザ
ビームの偏光面を回転させるものである。このファラデ
ー素子は図より明らかな通り、光の通過方向と磁界の印
加方向が共通でありファラデー素子を支持する鏡筒にコ
イルを巻き付けることにより偏光面を回転でき、組立構
成が簡単になる。
【００９４】上述の実施例では、前記偏光フィルタ９４
の内周部のトラック方向の長さは前記対物レンズ５の実
効的な開口数がトラック方向に０．３５になるように決
定している。また、前記偏光フィルタ９４の内周部のト
ラッキング方向の長さはトラック方向の長さにトラッキ
ング追従範囲の２倍を加えることにより決定している。
しかし、前記偏光フィルタ９４の内周部のトラック方
向の長さを前記対物レンズ５の実効的な開口数がトラッ
ク方向に０．３５以下になるように決定し、前記偏光フ
ィルタ９４の内周部のトラッキング方向の長さをトラッ
ク方向の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加えるこ
とにより決定してもよい。ただし、この時前記対物レン
ズ５のトラッキング方向の実効的な開口数が０．３５よ
り小さくならないようにする。
の内周部のトラック方向の長さは前記対物レンズ５の実
効的な開口数がトラック方向に０．３５になるように決
定している。また、前記偏光フィルタ９４の内周部のト
ラッキング方向の長さはトラック方向の長さにトラッキ
ング追従範囲の２倍を加えることにより決定している。
しかし、前記偏光フィルタ９４の内周部のトラック方
向の長さを前記対物レンズ５の実効的な開口数がトラッ
ク方向に０．３５以下になるように決定し、前記偏光フ
ィルタ９４の内周部のトラッキング方向の長さをトラッ
ク方向の長さにトラッキング追従範囲の２倍を加えるこ
とにより決定してもよい。ただし、この時前記対物レン
ズ５のトラッキング方向の実効的な開口数が０．３５よ
り小さくならないようにする。
【００９５】また、本実施例では、偏光フィルタ９４に
入射するレーザビームの偏光方向の切り換えをＴＮ型液
晶９３で行っているが、ＴＮ型液晶９３の代わりに半導
体レーザ自体で切り換えてもよい。レーザビームの偏光
方向を半導体レーザ自体で切り換える方法としては、例
えば図１６から図１９に示すような方法が考えられる。
入射するレーザビームの偏光方向の切り換えをＴＮ型液
晶９３で行っているが、ＴＮ型液晶９３の代わりに半導
体レーザ自体で切り換えてもよい。レーザビームの偏光
方向を半導体レーザ自体で切り換える方法としては、例
えば図１６から図１９に示すような方法が考えられる。
【００９６】図１６に示す方法は、偏光方向が互いに直
交する２種類のレーザビームを出射する２個のレーザ素
子を別個に形成し、１個の基盤上に固着させ、レーザビ
ームを切り換える方法である。図１７に示す方法は、偏
光方向が互いに直交する２種類のレーザビームを出射す
る２個のレーザ素子を同時に形成し、レーザビームを切
り換える方法である。
交する２種類のレーザビームを出射する２個のレーザ素
子を別個に形成し、１個の基盤上に固着させ、レーザビ
ームを切り換える方法である。図１７に示す方法は、偏
光方向が互いに直交する２種類のレーザビームを出射す
る２個のレーザ素子を同時に形成し、レーザビームを切
り換える方法である。
【００９７】図１８に示す方法は、１つのレーザ基盤を
９０度回転させ、偏光方向が互いに直交する２種類のレ
ーザビームを切り換える方法である。図１９に示す方法
は、偏光方向が互いに直交する２種類のレーザビームを
出射する２個の半導体レーザ１１、１２を用いて、レー
ザビームを切り換える方法である。図１９において、第
１半導体レーザ１１から出射された紙面に平行な方向に
偏光するレーザビームは偏光ビームスプリッタ３２を透
過し、光ディスクからの反射光は偏光ビームスプリッタ
３３を透過し、集光レンズ７１で集光され、光検出器８
１に照射し信号が検出される。また、第２半導体レーザ
１２から出射された紙面に垂直な方向に偏光するレーザ
ビームは偏光ビームスプリッタ３２で反射し、光ディス
クからの反射光は偏光ビームスプリッタ３３で反射し、
集光レンズ７２で集光され、光検出器８２に照射し信号
が検出される。その他の動作については、ＴＮ型液晶９
３を用いていないこと以外は、図１２及び図１３の説明
と同じなので省略する。図１９に示すように、２つの光
検出器８１及び８２を用いると、第１半導体レーザ１１
に対して光検出器の位置決めをした後に、該光検出器に
対して第２半導体レーザ１２の位置決めをするという動
作が不要となる。
９０度回転させ、偏光方向が互いに直交する２種類のレ
ーザビームを切り換える方法である。図１９に示す方法
は、偏光方向が互いに直交する２種類のレーザビームを
出射する２個の半導体レーザ１１、１２を用いて、レー
ザビームを切り換える方法である。図１９において、第
１半導体レーザ１１から出射された紙面に平行な方向に
偏光するレーザビームは偏光ビームスプリッタ３２を透
過し、光ディスクからの反射光は偏光ビームスプリッタ
３３を透過し、集光レンズ７１で集光され、光検出器８
１に照射し信号が検出される。また、第２半導体レーザ
１２から出射された紙面に垂直な方向に偏光するレーザ
ビームは偏光ビームスプリッタ３２で反射し、光ディス
クからの反射光は偏光ビームスプリッタ３３で反射し、
集光レンズ７２で集光され、光検出器８２に照射し信号
が検出される。その他の動作については、ＴＮ型液晶９
３を用いていないこと以外は、図１２及び図１３の説明
と同じなので省略する。図１９に示すように、２つの光
検出器８１及び８２を用いると、第１半導体レーザ１１
に対して光検出器の位置決めをした後に、該光検出器に
対して第２半導体レーザ１２の位置決めをするという動
作が不要となる。
【００９８】また、本実施例においては、偏光フィルタ
９４では紙面に平行な偏光面を持つレーザビームのみを
透過させる偏光フィルム９４ａを用いたが、半導体レー
ザから出射されるレーザビームの偏光方向を本実施例と
逆にするかＴＮ型液晶９３の電圧のオン・オフを逆にす
ると、紙面に垂直な偏光面を持つレーザビームのみを透
過させる偏光フィルムを用いることも可能である。
９４では紙面に平行な偏光面を持つレーザビームのみを
透過させる偏光フィルム９４ａを用いたが、半導体レー
ザから出射されるレーザビームの偏光方向を本実施例と
逆にするかＴＮ型液晶９３の電圧のオン・オフを逆にす
ると、紙面に垂直な偏光面を持つレーザビームのみを透
過させる偏光フィルムを用いることも可能である。
【００９９】また、本実施例では、レーザビーム波長を
６３５ｎｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容
誤差±１５）ｎｍとする場合は、レーザビームスポット
が０．１μｍ程拡大するが、十分交換可能である。な
お、波長６３５ｎｍと６５０ｎｍのレーザビームについ
ては、それぞれ、その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０
±５０ｎｍに設定しても再生可能であった。
６３５ｎｍとしたが、レーザビーム波長を６５０（許容
誤差±１５）ｎｍとする場合は、レーザビームスポット
が０．１μｍ程拡大するが、十分交換可能である。な
お、波長６３５ｎｍと６５０ｎｍのレーザビームについ
ては、それぞれ、その範囲を６３５±５０ｎｍ、６５０
±５０ｎｍに設定しても再生可能であった。
【０１００】また、本実施例では、深さ０.６ｍｍの位
置で焦点が合うように設計された対物レンズ５を用いた
が、深さ０.７ｍｍから深さ０.９ｍｍの間で焦点が合う
ように設計された対物レンズを用いてもよい。例えば、
深さ０.８ｍｍの位置で焦点が合うように設計された開
口数０.６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍ
ｍの対物レンズを用いる場合は、図２６における偏光フ
ィルタ９４ｆの第２領域９４ｇのトラック方向の長さｈ
を３.４７ｍｍ、トラッキング方向の長さｆを４ｍｍと
する。その結果、対物レンズ５のトラック方向の実効的
開口数は０.５２（許容誤差±０．０２）となり、第２
光ディスクの再生時に信号記録面６０aに形成されるビ
ームスポット径はトラック方向に１（許容誤差±０．
１）μｍ、トラッキング方向に１.１（許容誤差±０．
１）μｍとなる。次に、第１光ディスクの再生の時は、
図２６における偏光フィルタ９４ｄの第２領域９４eの
トラック方向の長さeを３ｍｍ、トラッキング方向の長
さｆは上記と同じ４ｍｍとする。その結果、対物レンズ
５のトラック方向の実効的開口数は０.４５（許容誤差
±０．０２）となり、第１光ディスクの再生時に信号記
録面６aに形成されるビームスポット径はトラック方向
に１.２（許容誤差±０．１）μｍ、トラッキング方向
に１.３（許容誤差±０．１）μｍとなるので、第１光
ディスクと同じ動作原理で、厚さ１.２（許容誤差±
０．０５）ｍｍの標準厚の基板を有する高密度の光ディ
スク、即ちＭＭＣＤの再生も可能となる。この場合に
は、再生される光ディスクの種類に応じて偏光フィルタ
９４ｄと９４ｆが機械的に選択介挿されることになる。
この機械的介挿機構については図示していないが、プラ
ンジャ等で動く通常のスライド機構を採用すればよく特
別な機構ではない。
置で焦点が合うように設計された対物レンズ５を用いた
が、深さ０.７ｍｍから深さ０.９ｍｍの間で焦点が合う
ように設計された対物レンズを用いてもよい。例えば、
深さ０.８ｍｍの位置で焦点が合うように設計された開
口数０.６（許容誤差±０．０５）、有効光束直径４ｍ
ｍの対物レンズを用いる場合は、図２６における偏光フ
ィルタ９４ｆの第２領域９４ｇのトラック方向の長さｈ
を３.４７ｍｍ、トラッキング方向の長さｆを４ｍｍと
する。その結果、対物レンズ５のトラック方向の実効的
開口数は０.５２（許容誤差±０．０２）となり、第２
光ディスクの再生時に信号記録面６０aに形成されるビ
ームスポット径はトラック方向に１（許容誤差±０．
１）μｍ、トラッキング方向に１.１（許容誤差±０．
１）μｍとなる。次に、第１光ディスクの再生の時は、
図２６における偏光フィルタ９４ｄの第２領域９４eの
トラック方向の長さeを３ｍｍ、トラッキング方向の長
さｆは上記と同じ４ｍｍとする。その結果、対物レンズ
５のトラック方向の実効的開口数は０.４５（許容誤差
±０．０２）となり、第１光ディスクの再生時に信号記
録面６aに形成されるビームスポット径はトラック方向
に１.２（許容誤差±０．１）μｍ、トラッキング方向
に１.３（許容誤差±０．１）μｍとなるので、第１光
ディスクと同じ動作原理で、厚さ１.２（許容誤差±
０．０５）ｍｍの標準厚の基板を有する高密度の光ディ
スク、即ちＭＭＣＤの再生も可能となる。この場合に
は、再生される光ディスクの種類に応じて偏光フィルタ
９４ｄと９４ｆが機械的に選択介挿されることになる。
この機械的介挿機構については図示していないが、プラ
ンジャ等で動く通常のスライド機構を採用すればよく特
別な機構ではない。
【０１０１】また、本実施例では、深さ０．６ｍｍの位
置で合焦するように設計された開口数０．６の対物レン
ズを用いたが、深さ１．２ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された開口数０．５２（許容誤差±０．０２）の
対物レンズを用いると、第１光ディスクと第３光ディス
クの２種類の光ディスクを安定に再生することができる
ようになる。即ち、第１光ディスクの再生時には、ＴＮ
型液晶９３に電圧を加え、第３光ディスクの再生時に
は、ＴＮ型液晶９３に電圧を加えない。この場合の偏光
フィルタ９４の内周部９４ｅの大きさは、対物レンズの
トラック方向の実効的開口数が０．３５（許容誤差±
０．０３）になるように、図１５において、トラック方
向の長さｅを２．３５ｍｍ、トラッキング方向の長さｆ
を３．７ｍｍとする。この場合、第１光ディスクの再生
時にはレーザビームの外周部を遮光しなくても一応の再
生が可能であるが、レーザビームの外周部を遮光し、対
物レンズのトラック方向の実効的開口数を０．３５にす
ると、基板が傾いた時や反っている時に発生するコマ収
差が小さくなるので良好な再生が可能となる。 第５実施例 上記第１〜第４実施例では、レーザビームの波長を５８
５〜６８５ｎｍ若しくは６００〜７００ｎｍとして説明
したが、これらの波長に限定されるものではなく、さら
に短波長のレーザビームであってもよく、３５０ｎｍ〜
７００ｎｍの範囲のレーザビームを利用できる。また、
対物レンズの実効的開口数は、上記第１〜第４実施例で
示した開口数に限定されるものではなく、０.２０〜０.
６５の範囲で設定可能である。さらに、対象とする光デ
ィスクは、基板厚１.２ｍｍの光ディスクと基板厚０.６
ｍｍで高密度の光ディスクとしたが、これらに限定され
るものではない。
置で合焦するように設計された開口数０．６の対物レン
ズを用いたが、深さ１．２ｍｍの位置で焦点が合うよう
に設計された開口数０．５２（許容誤差±０．０２）の
対物レンズを用いると、第１光ディスクと第３光ディス
クの２種類の光ディスクを安定に再生することができる
ようになる。即ち、第１光ディスクの再生時には、ＴＮ
型液晶９３に電圧を加え、第３光ディスクの再生時に
は、ＴＮ型液晶９３に電圧を加えない。この場合の偏光
フィルタ９４の内周部９４ｅの大きさは、対物レンズの
トラック方向の実効的開口数が０．３５（許容誤差±
０．０３）になるように、図１５において、トラック方
向の長さｅを２．３５ｍｍ、トラッキング方向の長さｆ
を３．７ｍｍとする。この場合、第１光ディスクの再生
時にはレーザビームの外周部を遮光しなくても一応の再
生が可能であるが、レーザビームの外周部を遮光し、対
物レンズのトラック方向の実効的開口数を０．３５にす
ると、基板が傾いた時や反っている時に発生するコマ収
差が小さくなるので良好な再生が可能となる。 第５実施例 上記第１〜第４実施例では、レーザビームの波長を５８
５〜６８５ｎｍ若しくは６００〜７００ｎｍとして説明
したが、これらの波長に限定されるものではなく、さら
に短波長のレーザビームであってもよく、３５０ｎｍ〜
７００ｎｍの範囲のレーザビームを利用できる。また、
対物レンズの実効的開口数は、上記第１〜第４実施例で
示した開口数に限定されるものではなく、０.２０〜０.
６５の範囲で設定可能である。さらに、対象とする光デ
ィスクは、基板厚１.２ｍｍの光ディスクと基板厚０.６
ｍｍで高密度の光ディスクとしたが、これらに限定され
るものではない。
【０１０２】図２７にブルーレーザ（波長：３５０〜４
５０ｎｍ、典型波長：４１５〜４４５ｎｍ、以下同じ）
を用いた時の厚さ１．２（許容誤差±０．１）ｍｍの標
準厚の基板を有する標準密度の光ディスク、即ちＣＤ、
ＣＤ−ＲＯＭ（以下、第１光ディスクと称す）と、厚さ
０．６（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄型の基板を有す
る高密度の光ディスク、即ちＳＤ（以下、第２光ディス
クと称す）と、厚さ０.６ｍｍ（許容誤差±０.０５）ｍ
ｍの薄型を有する超高密度の光ディスク、即ち高密度Ｓ
Ｄ（以下、第４光ディスクと称す）のピット長、ピット
深さ及びトラックピッチと、ビームスポット径と対物レ
ンズの開口数を示す。また、図２８にグリーンレーザ
（波長：４５０〜５５０ｎｍ、典型波長：５１７〜５４
７ｎｍ、以下同じ）を用いた時の第１、第２及び第４光
ディスクのピット長、ピット深さ、トラックピッチ、ビ
ームスポット径及び対物レンズの開口数を示す。ブルー
レーザを用いて上記第１光ディスク、第２光ディスク及
び第４光ディスクを再生するには、第１光ディスクに対
して対物レンズの実効的開口数を０.２０〜０.３０に、
第２光ディスクに対しては０.３６〜０.４６に、第４光
ディスクに対しては０.５５〜０.６５に設定する必要が
ある。対物レンズのトラック方向の実効的開口数の変化
は、上記第１〜第４実施例に示した方法で行うことがで
きる。従って、ブルーレーザを用いて第１光ディスク、
第２光ディスク及び第４光ディスクを再生することがで
きるが、このレーザビームでは、好ましくは第２光ディ
スクと第４光ディスクの再生に適している。
５０ｎｍ、典型波長：４１５〜４４５ｎｍ、以下同じ）
を用いた時の厚さ１．２（許容誤差±０．１）ｍｍの標
準厚の基板を有する標準密度の光ディスク、即ちＣＤ、
ＣＤ−ＲＯＭ（以下、第１光ディスクと称す）と、厚さ
０．６（許容誤差±０．０５）ｍｍの薄型の基板を有す
る高密度の光ディスク、即ちＳＤ（以下、第２光ディス
クと称す）と、厚さ０.６ｍｍ（許容誤差±０.０５）ｍ
ｍの薄型を有する超高密度の光ディスク、即ち高密度Ｓ
Ｄ（以下、第４光ディスクと称す）のピット長、ピット
深さ及びトラックピッチと、ビームスポット径と対物レ
ンズの開口数を示す。また、図２８にグリーンレーザ
（波長：４５０〜５５０ｎｍ、典型波長：５１７〜５４
７ｎｍ、以下同じ）を用いた時の第１、第２及び第４光
ディスクのピット長、ピット深さ、トラックピッチ、ビ
ームスポット径及び対物レンズの開口数を示す。ブルー
レーザを用いて上記第１光ディスク、第２光ディスク及
び第４光ディスクを再生するには、第１光ディスクに対
して対物レンズの実効的開口数を０.２０〜０.３０に、
第２光ディスクに対しては０.３６〜０.４６に、第４光
ディスクに対しては０.５５〜０.６５に設定する必要が
ある。対物レンズのトラック方向の実効的開口数の変化
は、上記第１〜第４実施例に示した方法で行うことがで
きる。従って、ブルーレーザを用いて第１光ディスク、
第２光ディスク及び第４光ディスクを再生することがで
きるが、このレーザビームでは、好ましくは第２光ディ
スクと第４光ディスクの再生に適している。
【０１０３】また、グリーンレーザを用いて第１光ディ
スク、第２光ディスク及び第４光ディスクを再生するに
は、第１光ディスクに対して対物レンズの実効的開口数
を０.２５〜０.３５に、第２光ディスクに対しては０.
４５〜０.５５に、第４光ディスクに対しては０.５５〜
０.６５に設定する必要がある。対物レンズのトラック
方向の実効的開口数の変化は、上記第１〜第４実施例に
示した方法で行うことができる。グリーンレーザを用い
た場合には第１光ディスクと第２光ディスクの再生に適
しているが、第４光ディスクも再生することができる。
スク、第２光ディスク及び第４光ディスクを再生するに
は、第１光ディスクに対して対物レンズの実効的開口数
を０.２５〜０.３５に、第２光ディスクに対しては０.
４５〜０.５５に、第４光ディスクに対しては０.５５〜
０.６５に設定する必要がある。対物レンズのトラック
方向の実効的開口数の変化は、上記第１〜第４実施例に
示した方法で行うことができる。グリーンレーザを用い
た場合には第１光ディスクと第２光ディスクの再生に適
しているが、第４光ディスクも再生することができる。
【０１０４】更に、ブルーレーザを用いて第１光ディス
クと第２光ディスクのみを再生するように構成すること
も可能であり、その場合には、対物レンズの開口数を
０.３６〜０.６０に設定し、長孔の実効的開口数を０.
２５〜０.３５の範囲に選択的に切り換えるだけでよ
い。また、グリーンレーザの場合には対物レンズの開口
数を０.４５〜０.６０に設定し、長孔の実効的開口数を
０.２０〜０.３０に切り換えるだけでよい。 第６実施例 上記第１〜第５実施例では、光ディスクの再生のみにつ
いて説明したが、本発明は、上記第１光ディスク、第２
光ディスク及び第４光ディスクの記録をも可能とするも
のである。即ち、レーザビームの波長が６８０（許容誤
差±１５）ｎｍ若しくは６５０（許容誤差±５０）ｎｍ
若しくは６３５（許容誤差±５０）ｎｍ若しくは５００
（許容誤差±５０）ｎｍ若しくは４００（許容誤差±５
０）ｎｍで、パワーが３０ｍＷの半導体レーザを用いれ
ば、上記第１〜第５実施例で説明した各ピックアップを
用い、ピックアップ中の対物レンズの実効的開口数を上
記第１〜第５実施例で示した各光ディスク、各波長に適
した実効的開口数に設定することにより第１光ディス
ク、第２光ディスク及び第４光ディスクの記録が可能で
ある。 第７実施例 前述する実施例では、アパーチャを記録又は再生する光
ディスクの基板厚や記録トラックピッチに応じて、長孔
の大きさを切り換えたが、長孔のサイズを多段に変化さ
せることができるように液晶の電極構造（図２９参照）
を変更し、図３０に示すように信号処理回路２０２中の
誤り検出回路２０３の出力を、誤り率検出回路２０４に
入力して一定期間内に発生する誤り率を求め、この誤り
率をコントローラ２０５に入力して、液晶ドライブ回路
２０６を制御することにより、ピックアップ２０１中の
液晶の長孔形状を変化させ、ジッタ量と相関のある前記
誤り率が最小となる様、液晶の長孔サイズを設定する様
にすれば、前述する実施例の様な面倒な設定は解消す
る。
クと第２光ディスクのみを再生するように構成すること
も可能であり、その場合には、対物レンズの開口数を
０.３６〜０.６０に設定し、長孔の実効的開口数を０.
２５〜０.３５の範囲に選択的に切り換えるだけでよ
い。また、グリーンレーザの場合には対物レンズの開口
数を０.４５〜０.６０に設定し、長孔の実効的開口数を
０.２０〜０.３０に切り換えるだけでよい。 第６実施例 上記第１〜第５実施例では、光ディスクの再生のみにつ
いて説明したが、本発明は、上記第１光ディスク、第２
光ディスク及び第４光ディスクの記録をも可能とするも
のである。即ち、レーザビームの波長が６８０（許容誤
差±１５）ｎｍ若しくは６５０（許容誤差±５０）ｎｍ
若しくは６３５（許容誤差±５０）ｎｍ若しくは５００
（許容誤差±５０）ｎｍ若しくは４００（許容誤差±５
０）ｎｍで、パワーが３０ｍＷの半導体レーザを用いれ
ば、上記第１〜第５実施例で説明した各ピックアップを
用い、ピックアップ中の対物レンズの実効的開口数を上
記第１〜第５実施例で示した各光ディスク、各波長に適
した実効的開口数に設定することにより第１光ディス
ク、第２光ディスク及び第４光ディスクの記録が可能で
ある。 第７実施例 前述する実施例では、アパーチャを記録又は再生する光
ディスクの基板厚や記録トラックピッチに応じて、長孔
の大きさを切り換えたが、長孔のサイズを多段に変化さ
せることができるように液晶の電極構造（図２９参照）
を変更し、図３０に示すように信号処理回路２０２中の
誤り検出回路２０３の出力を、誤り率検出回路２０４に
入力して一定期間内に発生する誤り率を求め、この誤り
率をコントローラ２０５に入力して、液晶ドライブ回路
２０６を制御することにより、ピックアップ２０１中の
液晶の長孔形状を変化させ、ジッタ量と相関のある前記
誤り率が最小となる様、液晶の長孔サイズを設定する様
にすれば、前述する実施例の様な面倒な設定は解消す
る。
【０１０５】また、長孔のトラック方向とトラッキング
方向の比は、少なくとも、１.１以上とすることが可能
であり、望ましくは１.１〜２.０、更に、望ましくは
１.２〜１.４とする必要がある。更に、長孔の形状につ
いてもトラッキング方向両端が円弧であるとしたが、図
３１に示す様に長方形若しくは六角形以上とすることが
できる。 第８実施例 上記第１〜第７実施例においては、基板厚０.６ｍｍの
第２光ディスクの再生時には、光源である半導体レーザ
から発せられるレーザビームの偏光面を９０度回転さ
せ、基板厚１.２ｍｍの第１光ディスクの再生時には、
前記レーザビームの偏光面を回転せずに光ディスクにレ
ーザビームを照射したが、これに限るものではなく、好
ましくは、基板厚０.６ｍｍの第２光ディスクの再生時
には、前記レーザビームの偏光面を回転せず、基板厚
１.２ｍｍの第１光ディスクの再生時には、前記レーザ
ビームの偏光面を９０度回転して光ディスクにレーザビ
ームを照射する。即ち、図３２に示すように、半導体レ
ーザ１から発せられるレーザビームの偏光面の方向と偏
光フィルタ９４の外周部９４ｂの偏光特性の方向とを一
致させた構成でレーザビームの外周部の遮光の有無によ
り第１光ディスクと第２光ディスクとを再生することに
なる。前記偏光フィルタ９４の内周部９４ａは偏光特性
を示さず、全面的にレーザビームを透過させる。
方向の比は、少なくとも、１.１以上とすることが可能
であり、望ましくは１.１〜２.０、更に、望ましくは
１.２〜１.４とする必要がある。更に、長孔の形状につ
いてもトラッキング方向両端が円弧であるとしたが、図
３１に示す様に長方形若しくは六角形以上とすることが
できる。 第８実施例 上記第１〜第７実施例においては、基板厚０.６ｍｍの
第２光ディスクの再生時には、光源である半導体レーザ
から発せられるレーザビームの偏光面を９０度回転さ
せ、基板厚１.２ｍｍの第１光ディスクの再生時には、
前記レーザビームの偏光面を回転せずに光ディスクにレ
ーザビームを照射したが、これに限るものではなく、好
ましくは、基板厚０.６ｍｍの第２光ディスクの再生時
には、前記レーザビームの偏光面を回転せず、基板厚
１.２ｍｍの第１光ディスクの再生時には、前記レーザ
ビームの偏光面を９０度回転して光ディスクにレーザビ
ームを照射する。即ち、図３２に示すように、半導体レ
ーザ１から発せられるレーザビームの偏光面の方向と偏
光フィルタ９４の外周部９４ｂの偏光特性の方向とを一
致させた構成でレーザビームの外周部の遮光の有無によ
り第１光ディスクと第２光ディスクとを再生することに
なる。前記偏光フィルタ９４の内周部９４ａは偏光特性
を示さず、全面的にレーザビームを透過させる。
【０１０６】まず、第２光ディスクの再生動作について
図３３を用いて説明する。この薄型の光ディスクが再生
される場合には、ＴＮ型液晶９３に電圧を印加する。そ
の結果、前記半導体レーザ１から発した紙面に垂直な方
向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレー
ザビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフ
ミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面
的に偏光方向を変えられずに透過する。その後、偏光フ
ィルタ９４で遮光されず全面的に透過し、対物レンズ５
に入射する。この対物レンズ５は、図示省略したトラッ
キング制御機構とフォーカス制御機構によりトラッキン
グ方向とフォーカス方向に変位可能に支持されている。
従って、対物レンズ５を経たレーザビームは集光され、
ポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光ディス
クの記録面６０ａに照射される。更に、前記記録面６０
ａで反射されたビームは、前記基板６０、前記対物レン
ズ５、前記偏光フィルタ９４、前記ＴＮ型液晶９３を介
して戻り、前記ハーフミラー３１で半分が反射され、集
光レンズ７により、光検出器８の信号検出部に集光照射
される。また、記録面６０ａに形成されるビームスポッ
ト径は、０.９１（許容誤差±０.１）μｍである。
図３３を用いて説明する。この薄型の光ディスクが再生
される場合には、ＴＮ型液晶９３に電圧を印加する。そ
の結果、前記半導体レーザ１から発した紙面に垂直な方
向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレー
ザビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフ
ミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面
的に偏光方向を変えられずに透過する。その後、偏光フ
ィルタ９４で遮光されず全面的に透過し、対物レンズ５
に入射する。この対物レンズ５は、図示省略したトラッ
キング制御機構とフォーカス制御機構によりトラッキン
グ方向とフォーカス方向に変位可能に支持されている。
従って、対物レンズ５を経たレーザビームは集光され、
ポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光ディス
クの記録面６０ａに照射される。更に、前記記録面６０
ａで反射されたビームは、前記基板６０、前記対物レン
ズ５、前記偏光フィルタ９４、前記ＴＮ型液晶９３を介
して戻り、前記ハーフミラー３１で半分が反射され、集
光レンズ７により、光検出器８の信号検出部に集光照射
される。また、記録面６０ａに形成されるビームスポッ
ト径は、０.９１（許容誤差±０.１）μｍである。
【０１０７】次に、第１光ディスクの再生動作について
図３４を用いて説明する。この標準厚の光ディスクが再
生される場合には、ＴＮ型液晶９３に電圧を加えない。
その結果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な
方向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレ
ーザビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハー
フミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全
面的に偏光方向を９０度変えられ紙面に平行な方向に偏
光するようになり、偏光フィルタ９４で外周部が遮光さ
れ、内周部だけが対物レンズ５に入射する。この対物レ
ンズ５は、図示省略したトラッキング制御機構とフォー
カス制御機構によりトラッキング方向とフォーカス方向
に変位可能に支持されている。従って、対物レンズ５を
経たレーザビームは集光され、ポリカーボネート製の基
板６を通って、当該光ディスクの記録面６ａに照射され
る。更に、前記記録面６ａで反射されたビームは、前記
基板６、前記対物レンズ５、前記偏光フィルタ９４、前
記ＴＮ型液晶９３を介して戻り、前記ハーフミラー３１
で半分が反射され、集光レンズ７により、光検出器８の
信号検出部に集光照射される。また、記録面６ａに形成
されるビームスポット径は、トラック方向に１.５（許
容誤差±０.１）μｍ、トラッキング方向に１.６（許容
誤差±０.１）μｍである。 第９実施例 上記第８実施例では、前記偏光フィルタ９４が内周部と
外周部にパターニングされている場合について述べた
が、これに限るものではなく、前記ＴＮ型液晶９３が内
周部と外周部にパターニングされていても良い。即ち、
図３５（ａ）に示すように、前記ＴＮ型液晶９３の外周
部９３ｂの領域のみにＴＮ型液晶と電圧印加用の透明電
極とが形成され、内周部９３ａにはＴＮ型液晶と透明電
極の両方が形成されていないパターンである。第２光デ
ィスクの再生動作について図３６を用いて説明する。こ
の薄型の光ディスクが再生される場合には、ＴＮ型液晶
９３の外周部９３ｂに電圧を印加する。その結果、前記
半導体レーザ１から発した紙面に垂直な方向に偏光する
波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビームは、
コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフミラー３１で
半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面的に偏光方向
を変えられずに透過する。その後、偏光フィルタ９４で
遮光されず全面的に透過し、対物レンズ５に入射する。
この対物レンズ５は、図示省略したトラッキング制御機
構とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォ
ーカス方向に変位可能に支持されている。従って、対物
レンズ５を経たレーザビームは集光され、ポリカーボネ
ート製の基板６０を通って、当該光ディスクの記録面６
０ａに照射される。その他の動作は図３３と同じなので
省略する。
図３４を用いて説明する。この標準厚の光ディスクが再
生される場合には、ＴＮ型液晶９３に電圧を加えない。
その結果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な
方向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレ
ーザビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハー
フミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全
面的に偏光方向を９０度変えられ紙面に平行な方向に偏
光するようになり、偏光フィルタ９４で外周部が遮光さ
れ、内周部だけが対物レンズ５に入射する。この対物レ
ンズ５は、図示省略したトラッキング制御機構とフォー
カス制御機構によりトラッキング方向とフォーカス方向
に変位可能に支持されている。従って、対物レンズ５を
経たレーザビームは集光され、ポリカーボネート製の基
板６を通って、当該光ディスクの記録面６ａに照射され
る。更に、前記記録面６ａで反射されたビームは、前記
基板６、前記対物レンズ５、前記偏光フィルタ９４、前
記ＴＮ型液晶９３を介して戻り、前記ハーフミラー３１
で半分が反射され、集光レンズ７により、光検出器８の
信号検出部に集光照射される。また、記録面６ａに形成
されるビームスポット径は、トラック方向に１.５（許
容誤差±０.１）μｍ、トラッキング方向に１.６（許容
誤差±０.１）μｍである。 第９実施例 上記第８実施例では、前記偏光フィルタ９４が内周部と
外周部にパターニングされている場合について述べた
が、これに限るものではなく、前記ＴＮ型液晶９３が内
周部と外周部にパターニングされていても良い。即ち、
図３５（ａ）に示すように、前記ＴＮ型液晶９３の外周
部９３ｂの領域のみにＴＮ型液晶と電圧印加用の透明電
極とが形成され、内周部９３ａにはＴＮ型液晶と透明電
極の両方が形成されていないパターンである。第２光デ
ィスクの再生動作について図３６を用いて説明する。こ
の薄型の光ディスクが再生される場合には、ＴＮ型液晶
９３の外周部９３ｂに電圧を印加する。その結果、前記
半導体レーザ１から発した紙面に垂直な方向に偏光する
波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザビームは、
コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフミラー３１で
半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面的に偏光方向
を変えられずに透過する。その後、偏光フィルタ９４で
遮光されず全面的に透過し、対物レンズ５に入射する。
この対物レンズ５は、図示省略したトラッキング制御機
構とフォーカス制御機構によりトラッキング方向とフォ
ーカス方向に変位可能に支持されている。従って、対物
レンズ５を経たレーザビームは集光され、ポリカーボネ
ート製の基板６０を通って、当該光ディスクの記録面６
０ａに照射される。その他の動作は図３３と同じなので
省略する。
【０１０８】次に、第１光ディスクの再生動作について
図３７を用いて説明する。この標準厚の光ディスクが再
生される場合には、ＴＮ型液晶９３の外周部９３ｂに電
圧を加えない。その結果、半導体レーザ１から出射され
る紙面に垂直な方向に偏光する波長６３５（許容誤差±
１５）ｎｍのレーザビームは、コリメータレンズ２で平
行にされ、ハーフミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液
晶９３により外周部９３ｂを通過するレーザビームのみ
が偏光方向を９０度変えられ紙面に平行な方向に偏光す
るようになり、偏光フィルタ９４で外周部が遮光され、
内周部だけが対物レンズ５に入射する。この対物レンズ
５は、図示省略したトラッキング制御機構とフォーカス
制御機構によりトラッキング方向とフォーカス方向に変
位可能に支持されている。従って、対物レンズ５を経た
レーザビームは集光され、ポリカーボネート製の基板６
を通って、当該光ディスクの記録面６ａに照射される。
その他の動作は図３４と同じなので省略する。
図３７を用いて説明する。この標準厚の光ディスクが再
生される場合には、ＴＮ型液晶９３の外周部９３ｂに電
圧を加えない。その結果、半導体レーザ１から出射され
る紙面に垂直な方向に偏光する波長６３５（許容誤差±
１５）ｎｍのレーザビームは、コリメータレンズ２で平
行にされ、ハーフミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液
晶９３により外周部９３ｂを通過するレーザビームのみ
が偏光方向を９０度変えられ紙面に平行な方向に偏光す
るようになり、偏光フィルタ９４で外周部が遮光され、
内周部だけが対物レンズ５に入射する。この対物レンズ
５は、図示省略したトラッキング制御機構とフォーカス
制御機構によりトラッキング方向とフォーカス方向に変
位可能に支持されている。従って、対物レンズ５を経た
レーザビームは集光され、ポリカーボネート製の基板６
を通って、当該光ディスクの記録面６ａに照射される。
その他の動作は図３４と同じなので省略する。
【０１０９】本第９実施例においては、前記ＴＮ型液晶
９３には、ＴＮ型液晶を形成した領域としない領域とが
存在するが、内周部と外周部での光の透過率に変化はな
いので、これによる再生特性への悪影響は生じない。 第１０実施例 上記第９実施例では、ＴＮ型液晶を一部分に用いた場合
について述べたが、これに限るものではなく、図３５
（ｂ）に示すようにぜＴＮ型液晶を内周部と外周部とに
パターニングし、各々独立に電圧を印加できるように透
明電極もパターニングした構造でもよい。第２光ディス
クの再生動作について図３８を用いて説明する。この薄
型の光ディスクが再生される場合には、ＴＮ型液晶９３
の内周部９３ａと外周部９３ｂとに電圧を印加する。そ
の結果、前記半導体レーザ１から発した紙面に垂直な方
向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレー
ザビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフ
ミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面
的に偏光方向を変えられずに透過する。その後、偏光フ
ィルタ９４で遮光されず全面的に透過し、対物レンズ５
に入射する。この対物レンズ５は、図示省略したトラッ
キング制御機構とフォーカス制御機構によりトラッキン
グ方向とフォーカス方向に変位可能に支持されている。
従って、対物レンズ５を経たレーザビームは集光され、
ポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光ディス
クの記録面６０ａに照射される。その他の動作は図３３
と同じなので省略する。
９３には、ＴＮ型液晶を形成した領域としない領域とが
存在するが、内周部と外周部での光の透過率に変化はな
いので、これによる再生特性への悪影響は生じない。 第１０実施例 上記第９実施例では、ＴＮ型液晶を一部分に用いた場合
について述べたが、これに限るものではなく、図３５
（ｂ）に示すようにぜＴＮ型液晶を内周部と外周部とに
パターニングし、各々独立に電圧を印加できるように透
明電極もパターニングした構造でもよい。第２光ディス
クの再生動作について図３８を用いて説明する。この薄
型の光ディスクが再生される場合には、ＴＮ型液晶９３
の内周部９３ａと外周部９３ｂとに電圧を印加する。そ
の結果、前記半導体レーザ１から発した紙面に垂直な方
向に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレー
ザビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフ
ミラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により全面
的に偏光方向を変えられずに透過する。その後、偏光フ
ィルタ９４で遮光されず全面的に透過し、対物レンズ５
に入射する。この対物レンズ５は、図示省略したトラッ
キング制御機構とフォーカス制御機構によりトラッキン
グ方向とフォーカス方向に変位可能に支持されている。
従って、対物レンズ５を経たレーザビームは集光され、
ポリカーボネート製の基板６０を通って、当該光ディス
クの記録面６０ａに照射される。その他の動作は図３３
と同じなので省略する。
【０１１０】次に、第１光ディスクの再生動作について
図３９を用いて説明する。この標準厚の光ディスクが再
生される場合には、ＴＮ型液晶９３の内周部９３ａには
電圧を印加し、外周部９３ｂには電圧を加えない。その
結果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な方向
に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザ
ビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフミ
ラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により外周部
９３ｂを通過するレーザビームのみが偏光方向を９０度
変えられ紙面に平行な方向に偏光するようになり、偏光
フィルタ９４で外周部が遮光され、内周部だけが対物レ
ンズ５に入射する。この対物レンズ５は、図示省略した
トラッキング制御機構とフォーカス制御機構によりトラ
ッキング方向とフォーカス方向に変位可能に支持されて
いる。従って、対物レンズ５を経たレーザビームは集光
され、ポリカーボネート製の基板６を通って、当該光デ
ィスクの記録面６ａに照射される。その他の動作は図３
４と同じなので省略する。
図３９を用いて説明する。この標準厚の光ディスクが再
生される場合には、ＴＮ型液晶９３の内周部９３ａには
電圧を印加し、外周部９３ｂには電圧を加えない。その
結果、半導体レーザ１から出射される紙面に垂直な方向
に偏光する波長６３５（許容誤差±１５）ｎｍのレーザ
ビームは、コリメータレンズ２で平行にされ、ハーフミ
ラー３１で半分が透過し、ＴＮ型液晶９３により外周部
９３ｂを通過するレーザビームのみが偏光方向を９０度
変えられ紙面に平行な方向に偏光するようになり、偏光
フィルタ９４で外周部が遮光され、内周部だけが対物レ
ンズ５に入射する。この対物レンズ５は、図示省略した
トラッキング制御機構とフォーカス制御機構によりトラ
ッキング方向とフォーカス方向に変位可能に支持されて
いる。従って、対物レンズ５を経たレーザビームは集光
され、ポリカーボネート製の基板６を通って、当該光デ
ィスクの記録面６ａに照射される。その他の動作は図３
４と同じなので省略する。
【０１１１】上記第８〜第１０実施例において、ＴＮ型
液晶に電圧を印加するとは、レーザビームがＴＮ型液晶
を通過することによってレーザビームの偏光面が変化し
ないことを意味し、ＴＮ型液晶に電圧を印加しないと
は、レーザビームがＴＮ型液晶を通過することによって
レーザビームの偏光面が回転することを意味する。ま
た、半導体レーザ１から発せられるレーザビームの偏光
方向は紙面に垂直な方向に限られず、紙面に平行な方向
であっても良い。この場合には、偏光フィルタ９４の偏
光特性の方向も紙面に平行な方向となる。
液晶に電圧を印加するとは、レーザビームがＴＮ型液晶
を通過することによってレーザビームの偏光面が変化し
ないことを意味し、ＴＮ型液晶に電圧を印加しないと
は、レーザビームがＴＮ型液晶を通過することによって
レーザビームの偏光面が回転することを意味する。ま
た、半導体レーザ１から発せられるレーザビームの偏光
方向は紙面に垂直な方向に限られず、紙面に平行な方向
であっても良い。この場合には、偏光フィルタ９４の偏
光特性の方向も紙面に平行な方向となる。
【０１１２】尚、偏光選択手段としては、偏光フィルタ
に限られず、上述の偏光選択性ホログラム、ゲストホス
ト素子、偏光ガラスを使用できることは言うまでもな
い。また、偏光面回転素子としては、ＴＮ型液晶に限ら
れず、上述のＳＴＮ型液晶、強誘電性型液晶、ポッケル
スセル、ファラデー素子を使用できることも言うまでも
ない。 第１１実施例 従来の半導体レーザのマウントへの設置においては、図
４０（ａ）に示すように水平なマウント１ｂに半導体レ
ーザ１を設置していた。この方式で設置された前記半導
体レーザから発せられる紙面に垂直な方向に偏光する波
長６３０〜６４０ｎｍのレーザビームは、実際には、図
４０（ｂ）に示すように紙面に垂直な方向から３〜１０
度（典型値：５〜７度）ずれているので、前記ＴＮ型液
晶９３、前記偏光フィルタ９４において所望の特性が得
られない。そこで、図４１（ａ）に示すように半導体レ
ーザを水平方向から３〜１０度、好ましくは、５〜７度
傾いたマウント２ｂ上に設置することにより図４１
（ｂ）に示すように紙面に垂直な方向に偏光するレーザ
ビームが得られ、前記ＴＮ型液晶９３による偏光面の回
転、前記偏光フィルタ９４による遮光において所望の特
性が得られる。
に限られず、上述の偏光選択性ホログラム、ゲストホス
ト素子、偏光ガラスを使用できることは言うまでもな
い。また、偏光面回転素子としては、ＴＮ型液晶に限ら
れず、上述のＳＴＮ型液晶、強誘電性型液晶、ポッケル
スセル、ファラデー素子を使用できることも言うまでも
ない。 第１１実施例 従来の半導体レーザのマウントへの設置においては、図
４０（ａ）に示すように水平なマウント１ｂに半導体レ
ーザ１を設置していた。この方式で設置された前記半導
体レーザから発せられる紙面に垂直な方向に偏光する波
長６３０〜６４０ｎｍのレーザビームは、実際には、図
４０（ｂ）に示すように紙面に垂直な方向から３〜１０
度（典型値：５〜７度）ずれているので、前記ＴＮ型液
晶９３、前記偏光フィルタ９４において所望の特性が得
られない。そこで、図４１（ａ）に示すように半導体レ
ーザを水平方向から３〜１０度、好ましくは、５〜７度
傾いたマウント２ｂ上に設置することにより図４１
（ｂ）に示すように紙面に垂直な方向に偏光するレーザ
ビームが得られ、前記ＴＮ型液晶９３による偏光面の回
転、前記偏光フィルタ９４による遮光において所望の特
性が得られる。
【０１１３】このレーザビームの偏光方向のずれの補償
は、前記半導体レーザを設置するマウントに傾斜を設け
る場合のみならず、水平なマウント上に半導体レーザを
設置した状態で、半導体レーザチップをずれ角の分だけ
回転させて設置しても良い。即ち、図４２に示すよう
に、従来の方式ではレーザビームの偏光方向は垂直方向
に対して３〜１０度（典型値：５〜７度）ずれているが
（図４２（ａ）、（ｂ））、本発明による方式では、下
側から見た半導体レーザチップが３〜１０度、好ましく
は、５〜７度回転しているので、レーザビームの偏光方
向は垂直となっている（図４２（ｃ）、（ｄ））。この
場合において、半導体レーザチップの回転は図４２
（ｃ）の切り込みを基準として回転する。上記において
は、レーザビームの偏光面は垂直に対して右側にずれて
いる場合について説明したが、レーザチップの作成方法
によっては左側にずれている場合も考えられるので、そ
の場合には上記の説明とは反対に傾斜を設けたり、回転
させるることになる。
は、前記半導体レーザを設置するマウントに傾斜を設け
る場合のみならず、水平なマウント上に半導体レーザを
設置した状態で、半導体レーザチップをずれ角の分だけ
回転させて設置しても良い。即ち、図４２に示すよう
に、従来の方式ではレーザビームの偏光方向は垂直方向
に対して３〜１０度（典型値：５〜７度）ずれているが
（図４２（ａ）、（ｂ））、本発明による方式では、下
側から見た半導体レーザチップが３〜１０度、好ましく
は、５〜７度回転しているので、レーザビームの偏光方
向は垂直となっている（図４２（ｃ）、（ｄ））。この
場合において、半導体レーザチップの回転は図４２
（ｃ）の切り込みを基準として回転する。上記において
は、レーザビームの偏光面は垂直に対して右側にずれて
いる場合について説明したが、レーザチップの作成方法
によっては左側にずれている場合も考えられるので、そ
の場合には上記の説明とは反対に傾斜を設けたり、回転
させるることになる。
【０１１４】また、本実施例により６３０〜６４０ｎｍ
のレーザビームの偏光面のずれ角を補償することによ
り、光ディスクの再生特性においてジッタが１％改善す
る。 第１２実施例 上記実施例においては、偏光選択手段として偏光フィル
タ、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、偏光ガ
ラスを用いるとして説明したが、これに限られず、図４
３に示すように、偏光選択性回折格子を用いても良い。
この偏光選択性回折格子は、一定方向に偏光するレーザ
ビームは、そのまま透過し、その他の方向に偏光するレ
ーザビームは回折により外側に逃がすように機能する。
従って、図４３に示すようにレーザビームの外周部は縦
方向に偏光するレーザビームに対しては、そのまま透過
し、横方向に偏光するレーザビームは回折により外側に
逃がし、中心部はレーザビームの偏光方向に関係なく透
過させる。これにより、縦方向に偏光するレーザビーム
は全面的に透過し、横方向に偏光するレーザビームは、
実質的に外周部を遮光されることになり、上記の偏光フ
ィルタ、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、偏
光ガラスと同様の機能を果たすことになる。 第１３実施例 本発明においては、液晶を偏光切換手段として用いてい
るが、当該液晶素子を２枚の平行なガラスの間に精密に
封入することは、光ディスクの記録／再生特性の面から
非常に重要である。通常は、封入する液晶中に直径５〜
７μｍ程度のビーズ玉を混入させ、２枚のガラスを平行
にしている。しかし、混入したビーズ玉がレーザビーム
に悪影響を及ぼし、記録／再生特性が低下する。そこ
で、図４４（ａ）に示すように、ＴＮ型液晶９３にはビ
ーズ玉２０２を混入せず、２つの封止剤２０１ａ、２０
１ｂの間に直径４〜１０μｍ、好ましくは、５〜７μｍ
のビーズ玉２０２を挿入し、２枚のガラス２０３を平行
にする。これにより、前記ＴＮ型液晶９３を４〜１０μ
ｍ、好ましくは、５〜７μｍの間隔で平行に保たれた２
枚のガラスの間に封入でき（図４４（ｂ）参照）、前記
ＴＮ型液晶９３中にビーズ玉２０２が混入しないので、
偏光切換手段による光ディスクの記録／再生特性の低下
はない。ビーズ玉の混入方式は図４４（ａ）に示すもの
に限らず、レーザビームの光路ではない部分にビーズ玉
を挿入する方式なら何でも良い。
のレーザビームの偏光面のずれ角を補償することによ
り、光ディスクの再生特性においてジッタが１％改善す
る。 第１２実施例 上記実施例においては、偏光選択手段として偏光フィル
タ、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、偏光ガ
ラスを用いるとして説明したが、これに限られず、図４
３に示すように、偏光選択性回折格子を用いても良い。
この偏光選択性回折格子は、一定方向に偏光するレーザ
ビームは、そのまま透過し、その他の方向に偏光するレ
ーザビームは回折により外側に逃がすように機能する。
従って、図４３に示すようにレーザビームの外周部は縦
方向に偏光するレーザビームに対しては、そのまま透過
し、横方向に偏光するレーザビームは回折により外側に
逃がし、中心部はレーザビームの偏光方向に関係なく透
過させる。これにより、縦方向に偏光するレーザビーム
は全面的に透過し、横方向に偏光するレーザビームは、
実質的に外周部を遮光されることになり、上記の偏光フ
ィルタ、偏光選択性ホログラム、ゲストホスト素子、偏
光ガラスと同様の機能を果たすことになる。 第１３実施例 本発明においては、液晶を偏光切換手段として用いてい
るが、当該液晶素子を２枚の平行なガラスの間に精密に
封入することは、光ディスクの記録／再生特性の面から
非常に重要である。通常は、封入する液晶中に直径５〜
７μｍ程度のビーズ玉を混入させ、２枚のガラスを平行
にしている。しかし、混入したビーズ玉がレーザビーム
に悪影響を及ぼし、記録／再生特性が低下する。そこ
で、図４４（ａ）に示すように、ＴＮ型液晶９３にはビ
ーズ玉２０２を混入せず、２つの封止剤２０１ａ、２０
１ｂの間に直径４〜１０μｍ、好ましくは、５〜７μｍ
のビーズ玉２０２を挿入し、２枚のガラス２０３を平行
にする。これにより、前記ＴＮ型液晶９３を４〜１０μ
ｍ、好ましくは、５〜７μｍの間隔で平行に保たれた２
枚のガラスの間に封入でき（図４４（ｂ）参照）、前記
ＴＮ型液晶９３中にビーズ玉２０２が混入しないので、
偏光切換手段による光ディスクの記録／再生特性の低下
はない。ビーズ玉の混入方式は図４４（ａ）に示すもの
に限らず、レーザビームの光路ではない部分にビーズ玉
を挿入する方式なら何でも良い。
【０１１５】また、２枚のガラスの間に挿入するギャッ
プ剤はビーズ玉に限られず、ファイバーを用いても良
い。
プ剤はビーズ玉に限られず、ファイバーを用いても良
い。
【０１１６】
【発明の効果】本発明によれば、対物レンズがトラッキ
ング制御をしても、トラッキング方向に長いレーザビー
ムが対物レンズに入射される為、照射スポットの形状変
化が少なく、ジッタ成分の発生を緩和することが出来
る。また、本発明によれば、対物レンズの光源側の空間
を有効に利用してアパーチャを介在させることが出来
る。
ング制御をしても、トラッキング方向に長いレーザビー
ムが対物レンズに入射される為、照射スポットの形状変
化が少なく、ジッタ成分の発生を緩和することが出来
る。また、本発明によれば、対物レンズの光源側の空間
を有効に利用してアパーチャを介在させることが出来
る。
【０１１７】また、本発明によれば、大きな開口数が要
求される薄型の基板の第２光ディスクに合わせて対物レ
ンズを設計し、標準厚の基板の光ディスクの再生時にア
パーチャを介在させることにより初めて両方のディスク
が記録又は再生可能になる。また、本発明によれば、ア
パーチャを物理的な移動により介挿する場合には、動作
点検が容易になり、電気的に形成される遮光体により選
択的に介挿する場合には摩耗等による故障が少なく組立
も容易になる。
求される薄型の基板の第２光ディスクに合わせて対物レ
ンズを設計し、標準厚の基板の光ディスクの再生時にア
パーチャを介在させることにより初めて両方のディスク
が記録又は再生可能になる。また、本発明によれば、ア
パーチャを物理的な移動により介挿する場合には、動作
点検が容易になり、電気的に形成される遮光体により選
択的に介挿する場合には摩耗等による故障が少なく組立
も容易になる。
【０１１８】また、本発明によれば、ＳＤと称される薄
型の高密度光ディスクと、ＣＤと称される標準厚の標準
密度光ディスクの両方が記録又は再生できる。また、本
発明によれば、ＳＤ再生用の約４ｍｍの対物レンズに所
定サイズの透孔を持つアパーチャを介在させて、ＣＤの
記録又は再生が可能になる。また、本発明によれば、約
４００ｎｍのレーザビームにより高密度ＳＤとＳＤとＣ
Ｄを記録又は再生できる。
型の高密度光ディスクと、ＣＤと称される標準厚の標準
密度光ディスクの両方が記録又は再生できる。また、本
発明によれば、ＳＤ再生用の約４ｍｍの対物レンズに所
定サイズの透孔を持つアパーチャを介在させて、ＣＤの
記録又は再生が可能になる。また、本発明によれば、約
４００ｎｍのレーザビームにより高密度ＳＤとＳＤとＣ
Ｄを記録又は再生できる。
【０１１９】また、本発明によれば、約５００ｎｍのレ
ーザビームにより高密度ＳＤとＳＤとＣＤを記録又は再
生できる。また、本発明によれば、約６３５ｎｍのレー
ザビームによりＳＤとＣＤの両方の記録又は再生が出来
る。また、本発明によれば、約６５０ｎｍのレーザビー
ムによりＳＤとＣＤの両方の記録又は再生が出来る。
ーザビームにより高密度ＳＤとＳＤとＣＤを記録又は再
生できる。また、本発明によれば、約６３５ｎｍのレー
ザビームによりＳＤとＣＤの両方の記録又は再生が出来
る。また、本発明によれば、約６５０ｎｍのレーザビー
ムによりＳＤとＣＤの両方の記録又は再生が出来る。
【０１２０】また、本発明によれば、光ディスク基板の
０．６ｍｍより深く１．２ｍｍより浅い位置で焦点が合
うように対物レンズを設計し、１．２ｍｍ厚の基板の光
ディスクの再生時にアパーチャを介在させることによ
り、ＳＤとＣＤ更にＭＭＣＤと称される標準厚の高密度
ディスクの記録又は再生が出来る。また、本発明によれ
ば、再生する光ディスクに応じて、再生信号の高域を強
調し、クロストーク補正量を増加することで、ＳＤとＣ
ＤとＭＭＣＤの３種類の光ディスクを安定に記録又は再
生出来る。
０．６ｍｍより深く１．２ｍｍより浅い位置で焦点が合
うように対物レンズを設計し、１．２ｍｍ厚の基板の光
ディスクの再生時にアパーチャを介在させることによ
り、ＳＤとＣＤ更にＭＭＣＤと称される標準厚の高密度
ディスクの記録又は再生が出来る。また、本発明によれ
ば、再生する光ディスクに応じて、再生信号の高域を強
調し、クロストーク補正量を増加することで、ＳＤとＣ
ＤとＭＭＣＤの３種類の光ディスクを安定に記録又は再
生出来る。
【０１２１】また、本発明によれば、光ディスク基板の
１．２ｍｍの位置で焦点が合うように対物レンズを設計
し、標準密度の光ディスクの再生時にアパーチャを介在
させることにより、ＣＤとＭＭＣＤの両方の記録又は再
生を安定にすることが出来る。また、本発明によれば、
トラック方向よりもトラッキング方向に長い長円形によ
り、複数の領域に分割された偏光面回転素子と、特定方
向に偏光するレーザビームのみを透過させる偏光選択素
子を全面的に設ける偏光選択手段を用いると、トラック
方向よりもトラッキング方向に長いレーザビームが対物
レンズに入射される為、照射スポットの形状変化が少な
く、ジッタ成分の発生を緩和することが出来る。
１．２ｍｍの位置で焦点が合うように対物レンズを設計
し、標準密度の光ディスクの再生時にアパーチャを介在
させることにより、ＣＤとＭＭＣＤの両方の記録又は再
生を安定にすることが出来る。また、本発明によれば、
トラック方向よりもトラッキング方向に長い長円形によ
り、複数の領域に分割された偏光面回転素子と、特定方
向に偏光するレーザビームのみを透過させる偏光選択素
子を全面的に設ける偏光選択手段を用いると、トラック
方向よりもトラッキング方向に長いレーザビームが対物
レンズに入射される為、照射スポットの形状変化が少な
く、ジッタ成分の発生を緩和することが出来る。
【０１２２】また、本発明によれば、ＴＮ型液晶又は強
誘電性型液晶又はＳＴＮ型液晶により偏光面を回転させ
ることが出来る。また、本発明によれば、ポッケルスセ
ルを光路中に設けることにより、ポッケルスセルに印加
する電圧に応じて偏光面の回転角度を任意に変えられ
る。また、本発明によれば、ファラデー素子を偏光面切
換手段として用い、光路方向にコイルを巻くことだけで
ファラデー素子に磁界を印加でき、印加する磁界の強さ
に応じて偏光面の回転角度を変えられる。
誘電性型液晶又はＳＴＮ型液晶により偏光面を回転させ
ることが出来る。また、本発明によれば、ポッケルスセ
ルを光路中に設けることにより、ポッケルスセルに印加
する電圧に応じて偏光面の回転角度を任意に変えられ
る。また、本発明によれば、ファラデー素子を偏光面切
換手段として用い、光路方向にコイルを巻くことだけで
ファラデー素子に磁界を印加でき、印加する磁界の強さ
に応じて偏光面の回転角度を変えられる。
【０１２３】本発明によれば、偏光ガラスを偏光選択手
段として用いることにより、通常は透過率を７０〜９０
％にするために必要である内周側のフィルタが不必要に
なる。また、本発明によれば、レーザビームの偏光方向
を選択的に変更させる偏光面切換手段と、特定方向に偏
光するレーザビームのみを透過させる偏光選択素子をト
ラック方向よりもトラッキング方向に長い内周部を除く
部分（外周部）に設ける偏光選択手段を用いると、トラ
ック方向よりもトラッキング方向に長いレーザビームが
対物レンズに入射される為、照射スポットの形状変化が
少なく、ジッタ成分の発生を緩和することが出来る。
段として用いることにより、通常は透過率を７０〜９０
％にするために必要である内周側のフィルタが不必要に
なる。また、本発明によれば、レーザビームの偏光方向
を選択的に変更させる偏光面切換手段と、特定方向に偏
光するレーザビームのみを透過させる偏光選択素子をト
ラック方向よりもトラッキング方向に長い内周部を除く
部分（外周部）に設ける偏光選択手段を用いると、トラ
ック方向よりもトラッキング方向に長いレーザビームが
対物レンズに入射される為、照射スポットの形状変化が
少なく、ジッタ成分の発生を緩和することが出来る。
【０１２４】また、本発明によれば、レーザビームの偏
光方向を半導体レーザ自体で切り換えることができる。
また、本発明によれば、偏光選択手段の内周部にフィル
タを付加することにより、内周部と外周部の透過率を等
しくすると、薄型光ディスクの記録又は再生時に、集光
特性が良くなる。
光方向を半導体レーザ自体で切り換えることができる。
また、本発明によれば、偏光選択手段の内周部にフィル
タを付加することにより、内周部と外周部の透過率を等
しくすると、薄型光ディスクの記録又は再生時に、集光
特性が良くなる。
【０１２５】また、本発明によれば、光ディスク基板の
１．２ｍｍの位置で焦点が合うように対物レンズを設計
し、標準密度の光ディスクの再生時に偏光選択手段で外
周部を遮光することにより、ＣＤとＭＭＣＤの両方の記
録又は再生を安定にすることが出来る。また、本発明に
よれば、レーザビームの偏光方向と偏光フィルタの選択
方向とを一致させることができるので、レーザビームの
偏光面を回転せずに薄型の光ディスクを、レーザビーム
の偏光面を回転させた状態で標準厚の光ディスクを再生
することができる。
１．２ｍｍの位置で焦点が合うように対物レンズを設計
し、標準密度の光ディスクの再生時に偏光選択手段で外
周部を遮光することにより、ＣＤとＭＭＣＤの両方の記
録又は再生を安定にすることが出来る。また、本発明に
よれば、レーザビームの偏光方向と偏光フィルタの選択
方向とを一致させることができるので、レーザビームの
偏光面を回転せずに薄型の光ディスクを、レーザビーム
の偏光面を回転させた状態で標準厚の光ディスクを再生
することができる。
【０１２６】また、本発明によれば、レーザビームの光
路中にはギャップ剤を挿入しないので、光記録又は光再
生の特性が低下しない。また、本発明によれば、波長６
３０〜６４０ｎｍのレーザビームの偏光面のずれを補償
することができる。
路中にはギャップ剤を挿入しないので、光記録又は光再
生の特性が低下しない。また、本発明によれば、波長６
３０〜６４０ｎｍのレーザビームの偏光面のずれを補償
することができる。
【図１】第１実施例における光学再生装置の光学系を模
式的に示す図である。
式的に示す図である。
【図２】従来の光学再生装置のアパーチャと対物レンズ
の関係を示す図である。
の関係を示す図である。
【図３】トラッキング追従範囲とジッタ量の関係を示す
図である。
図である。
【図４】本発明の光学再生装置のアパーチャと対物レン
ズの関係を示す図である。
ズの関係を示す図である。
【図５】第２実施例における光学再生装置の光学系を模
式的に示す図である。
式的に示す図である。
【図６】０．８ｍｍ用の対物レンズで０．６ｍｍ厚のデ
ィスク基板に集光させた場合の開口数と集光スポット径
の関係を示す図である。
ィスク基板に集光させた場合の開口数と集光スポット径
の関係を示す図である。
【図７】０．８ｍｍ用の対物レンズで１．２ｍｍ厚のデ
ィスク基板に集光させた場合の開口数と集光スポット径
の関係を示す図である。
ィスク基板に集光させた場合の開口数と集光スポット径
の関係を示す図である。
【図８】第３実施例において１．２ｍｍ厚の光ディスク
を再生する時の光学系を模式的に示す図である。
を再生する時の光学系を模式的に示す図である。
【図９】第３実施例において０．６ｍｍ厚の光ディスク
を再生する時の光学系を模式的に示す図である。
を再生する時の光学系を模式的に示す図である。
【図１０】第３実施例におけるＴＮ形液晶の平面図であ
る。
る。
【図１１】第３実施例における偏光フィルタの構成を示
す断面図である。
す断面図である。
【図１２】第４実施例において１．２ｍｍ厚の光ディス
クを再生する時の光学系を模式的に示す図である。
クを再生する時の光学系を模式的に示す図である。
【図１３】第４実施例において０．６ｍｍ厚の光ディス
クを再生する時の光学系を模式的に示す図である。
クを再生する時の光学系を模式的に示す図である。
【図１４】第４実施例における偏光フィルタの構成を示
す断面図である。
す断面図である。
【図１５】第４実施例における偏光フィルタの偏光特性
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図１６】第４実施例において２種類のレーザビームを
出射する半導体レーザの一例を示す説明図である。
出射する半導体レーザの一例を示す説明図である。
【図１７】第４実施例において２種類のレーザビームを
出射する半導体レーザの一例を示す説明図である。
出射する半導体レーザの一例を示す説明図である。
【図１８】第４実施例において２種類のレーザビームを
出射する半導体レーザの一例を示す説明図である。
出射する半導体レーザの一例を示す説明図である。
【図１９】第４実施例において２個の半導体レーザを用
いて光ディスクを再生するときの光学系を模式的に示す
図である。
いて光ディスクを再生するときの光学系を模式的に示す
図である。
【図２０】第３、４実施例におけるゲストホスト型液晶
の動作原理を示す説明図である。
の動作原理を示す説明図である。
【図２１】第３、４実施例における偏光ガラスの説明図
である。
である。
【図２２】第３、４実施例における偏光面切換手段であ
るポッケルスセルの模式的動作原理説明図である。
るポッケルスセルの模式的動作原理説明図である。
【図２３】第３、４実施例における偏光面切換手段であ
るファラデー素子の模式的動作原理説明図である。
るファラデー素子の模式的動作原理説明図である。
【図２４】第１実施例における光学再生装置の光学系を
模式的に示す図である。
模式的に示す図である。
【図２５】第３実施例におけるＴＮ形液晶の平面図であ
る。
る。
【図２６】第４実施例における偏光フィルタの偏光特性
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図２７】第５実施例における各光ディスクの定格値と
再生条件である。
再生条件である。
【図２８】第５実施例における各光ディスクの定格値と
再生条件である。
再生条件である。
【図２９】第７実施例における可変型長孔を示す模式図
である。
である。
【図３０】第７実施例において実効的開口数を光ディス
クに応じて可変する制御回路である。
クに応じて可変する制御回路である。
【図３１】第７実施例における長孔の他の形状を示す模
式図である。
式図である。
【図３２】第８実施例におけるレーザビームの偏光方向
と偏光フィルタの偏光特性の方向との関係を示す図であ
る。
と偏光フィルタの偏光特性の方向との関係を示す図であ
る。
【図３３】第８実施例における薄型の光ディスクの再生
動作を示す模式図である。
動作を示す模式図である。
【図３４】第８実施例における標準厚の光ディスクの再
生動作を示す模式図である。
生動作を示す模式図である。
【図３５】第９と第１０実施例におけるＴＮ型液晶にパ
ターニング方式を示す図である。
ターニング方式を示す図である。
【図３６】第９実施例における薄型の光ディスクの再生
動作を示す模式図である。
動作を示す模式図である。
【図３７】第９実施例における標準厚の光ディスクの再
生動作を示す模式図である。
生動作を示す模式図である。
【図３８】第１０実施例における薄型の光ディスクの再
生動作を示す模式図である。
生動作を示す模式図である。
【図３９】第１０実施例における標準厚の光ディスクの
再生動作を示す模式図である。
再生動作を示す模式図である。
【図４０】従来の半導体レーザの設置方向とレーザビー
ムの偏光方向を示す図である。
ムの偏光方向を示す図である。
【図４１】第１１実施例における半導体レーザの設置方
向とレーザビームの偏光方向を示す図である。
向とレーザビームの偏光方向を示す図である。
【図４２】第１１実施例における半導体レーザの設置方
向とレーザビームの偏光方向を示す図である。
向とレーザビームの偏光方向を示す図である。
【図４３】第１２実施例における偏光選択性回折格子を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図４４】第１３実施例における液晶の封入方式を示す
図である。
図である。
１、１１、１２ 半導体レーザ ２ コリメータレンズ ３、３２、３３ 偏光ビームスプリッタ ３１ ハーフミラー ４ １／４波長板 ５ ０．６ｍｍ用対物レンズ ５１ ０．８ｍｍ用対物レンズ ６ 標準厚光ディスク基板 ６ａ 標準厚光ディスク信号記録面 ６０ 薄型光ディスク基板 ６０ａ 薄型光ディスク信号記録面 ７、７１、７２ 集光レンズ ８、８１、８２ 光検出器 ９、９ａ、９b、９c アパーチャ ９１、９３ ＴＮ型液晶 ９２、９４ 偏光フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 市浦 秀一 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内
Claims (86)
- 【請求項１】 トラッキング制御により基体に対して変
位する対物レンズを用いて基板厚又は記録密度の異なる
光ディスクの信号記録面に発光体が発するレーザビーム
を照射させるとともに、該信号記録面で反射されるレー
ザビームを光検出器へ導く光学手段を備えた光記録又は
光再生装置であって、 再生する光ディスクの基板厚又は記録密度に応じて、ト
ラック方向よりもトラッキング方向に長くなるように前
記レーザビームの外側を遮光する絞り手段を、 設けることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２】 請求項１において、 前記絞り手段は、アパーチャであることを特徴とする光
記録又は光再生装置。 - 【請求項３】 請求項２において、 前記アパーチャは、固定形状であり、前記アパーチャ
は、前記レーザビームの光路に対して選択的に介挿する
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４】 請求項３において、 前記アパーチャは、機械的に長孔を形成する絞り手段で
あることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５】 請求項３において、 前記アパーチャは、電気的に長孔を形成する絞り手段で
あることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６】 請求項５において、 電気的に長孔を形成する絞り手段は、液晶であることを
特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７】 請求項１において、 前記絞り手段は、 偏光方向を回転させて透過させる偏光面切換手段と、 特定方向に偏光するレーザビームのみを透過させる偏光
選択手段と、 より成ることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項８】 請求項７において、 前記偏光面切換手段は、トラック方向よりもトラッキン
グ方向に長くなるように前記レーザビームの外側の偏光
面を切り換えることを特徴とする光記録又は光再生装
置。 - 【請求項９】 請求項７において、 前記偏光選択手段は、トラック方向よりもトラッキング
方向に長くなるように前記レーザビームの外側を遮光す
ることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項１０】 請求項８において、 前記偏光面切換手段は、電気的に偏光面を回転させるこ
とを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項１１】 請求項９又は１０において、 前記偏光面切換手段は、ＴＮ型液晶である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項１２】 請求項９又は１０において、 前記偏光面切換手段は、強誘電性型液晶である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項１３】 請求項９又は１０において、 前記偏光面切換手段は、ＳＴＮ型液晶である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項１４】 請求項１１又は１３において、 前記レーザビームが前記液晶を通過することによって前
記レーザビームの偏光方向が変化しない状態で薄型の光
ディスクの再生を行い、 前記レーザビームが前記液晶を通過することによって前
記レーザビームの偏光方向が変化する状態で標準厚の光
ディスクの再生を行うことを特徴とする光記録又は光再
生装置。 - 【請求項１５】 請求項１１から１４において、 前記液晶の内、前記レーザビームの光路に相当する領域
にはギャップ剤が挿入されていないことを特徴とする光
記録又は光再生装置。 - 【請求項１６】 請求項１５において、 前記液晶が封入される領域が複数に分割されており、 前記レーザビームの光路に相当する領域以外の領域にギ
ャップ剤が挿入されていることを特徴とする光記録又は
光再生装置。 - 【請求項１７】 請求項１６において、 前記ギャップ剤の直径は、４〜１０μｍの範囲であるこ
とを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項１８】 請求項１６において、 前記ギャップ剤の直径は、５〜７μｍの範囲であること
を特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項１９】 請求項９又は１０において、 前記偏光面切換手段は、ポッケルスセルである、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項２０】 請求項８又は９において、 前記偏光面切換手段は、磁気的に偏光面を回転させるこ
とを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２１】 請求項２０において、 前記偏光面切換手段は、ファラディー素子であることを
特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２２】 請求項９において、 偏光方向が互いに直交する２種類のレーザビームを出射
する２個のレーザダイオードを有し、 前記偏光面切換手段は、前記２種類のレーザビームを切
り換えるレーザ切換手段である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２３】 請求項２２において、 前記発光体は、別個に形成した２個のレーザ素子を基盤
上に固着させたことを 特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２４】 請求項２２において、 前記発光体は、同一基盤上に２個のレーザ素子を同時に
形成したことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２５】 請求項９において、 前記偏光面切換手段は、レーザダイオード自体を９０度
回転させるレーザ回転手段である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２６】 請求項９において、 前記偏光選択手段は、有機膜を用いた偏光フィルタであ
る、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２７】 請求項２６において、 前記偏光選択手段は、内側にレーザビームの透過率を低
下させるフィルタを有する、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項２８】 請求項９において、 前記偏光選択手段は、偏光ガラスである、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項２９】 請求項９において、 前記偏光選択手段は、偏光選択性ホログラムである、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項３０】 請求項９において、 前記偏光選択手段は、ゲストホスト素子である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項３１】 請求項９において、 前記偏光選択手段は、偏光ビームスプリッタである、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項３２】 請求項９において、 前記偏光選択手段は、偏光選択性回折格子である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。
- 【請求項３３】 請求項２６から３２において、 前記偏光選択手段の選択方向は、前記レーザビームの偏
光方向と一致することを特徴とする光記録又は光再生装
置。 - 【請求項３４】 請求項１において、 レーザビームを発する発光体と、 偏光ビームスプリッタと、 １／４波長板とを有し、 該１／４波長板は、前記偏光ビームスプリッタと前記対
物レンズの間に位置し、 前記絞り手段は、前記１／４波長板と前記対物レンズの
間に設ける、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項３５】 請求項１において、 レーザビームを発する発光体と、 偏光ビームスプリッタと、 １／４波長板とを有し、 該１／４波長板は、前記偏光ビームスプリッタと前記対
物レンズの間に位置し、 前記絞り手段は、前記発光体と前記偏光ビームスプリッ
タの間、あるいは前記偏光ビームスプリッタと前記１／
４波長板の間に設ける、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項３６】 請求項１において、 レーザビームを発する発光体と、 ハーフミラーとを有し、 前記絞り手段は、前記ハーフミラーと前記対物レンズの
間に設ける、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項３７】 請求項１において、 レーザビームを発する発光体と、 ハーフミラーとを有し、 前記絞り手段は、前記発光体と前記ハーフミラーの間に
設ける、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項３８】 請求項１から３７において、 前記絞り手段は、トラック方向に対してトラッキング方
向を１.１倍以上長く設定した長孔であることを特徴と
する光記録又は光再生装置。 - 【請求項３９】 請求項３８において、 前記絞り手段は、トラック方向に対してトラッキング方
向を１.１〜２.０倍以上長く設定した長孔であることを
特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４０】 請求項３９において、 前記絞り手段は、トラック方向の長さに比し、トラッキ
ング方向の長さが１．２〜１.４倍である、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４１】 請求項３８から４０において、 前記開口数は、再生状態に応じて可変できることを特徴
とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４２】 請求項３８から４１において、 前記長孔は、トラッキング方向両端が円弧状に形成され
ていることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４３】 請求項３８から４１において、 前記長孔は、長方形であることを特徴とする光記録又は
光再生装置。 - 【請求項４４】 請求項３８から４１において、 前記長孔は、六角形以上の多角形であることを特徴とす
る光記録又は光再生装置。 - 【請求項４５】 請求項３８から４４において、 前記レーザビームの波長は、３５０〜７００ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４６】 請求項３８から４４において、 前記対物レンズのトラック方向の実効的な開口数は、
０.２０〜０.６５であることを特徴とする光記録又は光
再生装置。 - 【請求項４７】 請求項３８から４６において、 前記対物レンズは、薄型ディスク基板に合わせて設計さ
れており、 前記絞り手段は、標準厚の基板の光ディスクの再生時に
はレーザビームの外側を遮光する、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４８】 請求項４７において、 前記薄型の光ディスクは、基板の厚さが０．５５〜０.
６５ｍｍで、前記標準厚の光ディスクは、基板の厚さが
１．１〜１.３ｍｍである、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項４９】 請求項４８において、 前記レーザビームの波長は、３５０〜４５０ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０．５５〜０．６５であ
り、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.３６〜０.４６若しくは
０．２０〜０．３０となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５０】 請求項４８において、 前記レーザビームの波長は、３５０〜４５０ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０.３６〜０.６０であり、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.２０〜０.３０となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５１】 請求項４９又は５０において、 前記レーザビームの波長は、４１５〜４４５ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５２】 請求項４８において、 前記レーザビームの波長は、４５０〜５５０ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０.５５〜０.６５であり、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.４５〜０.５５若しくは
０.２５〜０.３５となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５３】 請求項４８において、 前記レーザビームの波長は、４５０〜５５０ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０.４５〜０.６０であり、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.２５〜０.３５となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５４】 請求項５２又は５３において、 前記レーザビームの波長は、５１７〜５４７ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５５】 請求項４８において、 前記レーザビームの波長は、５８５〜６８５ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０.５５〜０.６５であり、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.３０〜０.４０となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５６】 請求項５５において、 前記レーザビームの波長は、６２０〜６５０ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５７】 請求項４８において、 前記レーザビームの波長は、６００〜７００ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０．５５〜０．６５であ
り、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０．３１〜０．４１とな
る、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５８】 請求項５７において、 前記レーザビームの波長は、６３５〜６６５ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項５９】 請求項３８から４６において、 前記対物レンズは、薄型ディスク基板に合わせて設計さ
れており、 前記絞り手段は、薄型の基板の超高密度光ディスクの再
生時にはレーザビームを遮光することなく、薄型の基板
の高密度光ディスクの再生時にはレーザビームの外側を
遮光する、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６０】 請求項５９において、 前記薄型の光ディスクは、基板の厚さが０．５５〜０.
６５ｍｍであることを特徴とする光記録又は光再生装
置。 - 【請求項６１】 請求項６０において、 前記薄型の基板の超高密度光ディスクは、ピットの深さ
が６２〜８２ｎｍであり、ピット長が０.２０〜０.３０
μｍであり、トラックピッチが０.４２〜０.５８μｍで
あり、 前記薄型の基板の高密度光ディスクは、ピットの深さが
９５〜１１５ｎｍであり、ピット長が０.３８〜０.４２
μｍであり、トラックピッチが０.６９〜０.７９μｍで
あることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６２】 請求項６１において、 前記レーザビームの波長は、３５０〜４５０ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０．５５〜０．６５であ
り、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.３６〜０.４６となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６３】 請求項６２において、 前記レーザビームの波長は、４２０〜４５０ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６４】 請求項６０において、 前記薄型の基板の超高密度光ディスクは、ピットの深さ
が７８〜９８ｎｍであり、ピット長が０.２０〜０.３０
μｍであり、トラックピッチが０.４２〜０.５８μｍで
あり、 前記薄型の基板の高密度光ディスクは、ピットの深さが
９５〜１１５ｎｍであり、ピット長が０.３８〜０.４２
μｍであり、トラックピッチが０.６９〜０.７９μｍで
あることを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６５】 請求項６４において、 前記レーザビームの波長は、４５０〜５５０ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０.５５〜０.６５であり、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０.４５〜０.５５となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６６】 請求項６５において、 前記レーザビームの波長は、５１７〜５４７ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６７】 請求項３８から４６において、 前記対物レンズは、標準厚のディスクより浅く、薄型の
ディスクより深い位置にレーザビームが集光するように
設計されている、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６８】 請求項６７において、 前記薄型の光ディスクは、基板の厚さが０．５５〜０.
６５ｍｍで、前記標準厚の光ディスクは、基板の厚さが
１．１〜１.３ｍｍである、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項６９】 請求項６８において、 前記レーザビームの波長は、５８５〜６８５ｎｍであ
り、 前記対物レンズは、深さ０．７から０．９ｍｍの位置に
レーザビームが集光するように設計されている、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７０】 請求項６９において、 前記レーザビームの波長は、６２０〜６５０ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７１】 請求項６８において、 前記レーザビームの波長は、６００〜７００ｎｍであ
り、 前記対物レンズは、深さ０．７から０．９ｍｍの位置に
レーザビームが集光するように設計されている、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７２】 請求項７１において、 前記レーザビームの波長は、６３５〜６６５ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７３】 請求項６９から７２において、 前記対物レンズは、深さ０．８ｍｍの位置にレーザビー
ムが集光するように設計されている、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７４】 請求項６８から７３において、 前記対物レンズの開口数は、０．５５〜０．６５であ
り、 薄型の基板の光ディスクの再生時には前記絞り手段によ
り前記対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が
０．５０〜０．５４となり、 標準厚の基板の光ディスクの再生時には前記絞り手段に
より前記対物レンズのトラック方向の実効的な開口数が
０．４３〜０．４７となる、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７５】 請求項６９から７４において、 検出器から出力される再生信号は、再生する光ディスク
に応じて再生出力特性を変更する補正回路に入力され
る、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７６】 請求項７５において、 前記補正回路は、超高域特性を強調しクロストーク補正
量を増加する回路を有する、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７７】 請求項３８から４６において、 前記対物レンズは、１．２ｍｍ厚のディスク基板に合わ
せて設計されており、 前記絞り手段は、基板厚が１．１５〜１.２５ｍｍの高
密度光ディスクの再生時にはレーザビームを遮光するこ
となく、基板厚が１．１〜１.３ｍｍの標準密度光ディ
スクの再生時にはレーザビームの外側を遮光する、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７８】 請求項７７において、 前記レーザビームの波長は、５８５〜６８５ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０．５０〜０．５４であ
り、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０．３０〜０．４０とな
る、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項７９】 請求項７８において、 前記レーザビームの波長は、６２０〜６５０ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項８０】 請求項７７において、 前記レーザビームの波長は、６００〜７００ｎｍであ
り、 前記対物レンズの開口数は、０．５０〜０．５４であ
り、 前記アパーチャを介挿することにより対物レンズのトラ
ック方向の実効的な開口数が０．３１〜０．４１とな
る、 ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項８１】 請求項８０において、 前記レーザビームの波長は、６３５〜６６５ｎｍである
ことを特徴とする光記録又は光再生装置。 - 【請求項８２】 請求項２３から２５において、 波長６３０〜６４０ｎｍのレーザビームを発する前記発
光素子は、前記レーザビームの偏光方向のずれ角を補償
するように設置されていることを特徴とする光記録又は
光再生装置。 - 【請求項８３】 請求項８２において、 前記発光素子中の半導体レーザは、水平から３〜１０度
の範囲で傾斜した台座に設置されていることを特徴とす
る光記録又は光再生装置。 - 【請求項８４】 請求項８２において、 前記発光素子中の半導体レーザは、水平から５〜７度の
範囲で傾斜した台座に設置されていることを特徴とする
光記録又は光再生装置。 - 【請求項８５】 請求項８２において、 前記発光素子は、基準位置に対し３〜１０度の範囲で回
転して設置されていることを特徴とする光記録又は光再
生装置。 - 【請求項８６】 請求項８２において、 前記発光素子は、基準位置に対し５〜７度の範囲で回転
して設置されていることを特徴とする光記録又は光再生
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8092724A JP3071141B2 (ja) | 1995-06-12 | 1996-04-15 | 光記録又は光再生装置 |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14474395 | 1995-06-12 | ||
| JP28192895 | 1995-10-30 | ||
| JP7-281928 | 1995-12-14 | ||
| JP7-326093 | 1995-12-14 | ||
| JP32609395 | 1995-12-14 | ||
| JP7-144743 | 1995-12-14 | ||
| JP8092724A JP3071141B2 (ja) | 1995-06-12 | 1996-04-15 | 光記録又は光再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09223324A true JPH09223324A (ja) | 1997-08-26 |
| JP3071141B2 JP3071141B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=27468064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8092724A Expired - Fee Related JP3071141B2 (ja) | 1995-06-12 | 1996-04-15 | 光記録又は光再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3071141B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998015952A1 (fr) * | 1996-10-08 | 1998-04-16 | Citizen Watch Co., Ltd. | Appareil optique |
| WO1999013464A1 (fr) * | 1997-09-10 | 1999-03-18 | Citizen Watch Co., Ltd. | Dispositif optique |
| US6563781B2 (en) | 1999-11-11 | 2003-05-13 | Fujitsu Limited | Optical information storage device and optical head |
| KR100628422B1 (ko) * | 1998-06-29 | 2006-09-28 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광 기록 매체 및 광 기록 재생 장치 |
-
1996
- 1996-04-15 JP JP8092724A patent/JP3071141B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998015952A1 (fr) * | 1996-10-08 | 1998-04-16 | Citizen Watch Co., Ltd. | Appareil optique |
| US6191829B1 (en) | 1996-10-08 | 2001-02-20 | Citizen Watch Co., Ltd. | Optical apparatus for optically rotating a portion of a polarization axis of a linearly polarized light |
| WO1999013464A1 (fr) * | 1997-09-10 | 1999-03-18 | Citizen Watch Co., Ltd. | Dispositif optique |
| US6437319B1 (en) * | 1997-09-10 | 2002-08-20 | Citizen Watch Co., Ltd. | Optical device |
| KR100628422B1 (ko) * | 1998-06-29 | 2006-09-28 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광 기록 매체 및 광 기록 재생 장치 |
| KR100776850B1 (ko) * | 1998-06-29 | 2007-11-16 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광 기록 매체 및 광 기록 재생 장치 |
| US6563781B2 (en) | 1999-11-11 | 2003-05-13 | Fujitsu Limited | Optical information storage device and optical head |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3071141B2 (ja) | 2000-07-31 |
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