JPH09219387A - 減圧処理装置 - Google Patents
減圧処理装置Info
- Publication number
- JPH09219387A JPH09219387A JP2498496A JP2498496A JPH09219387A JP H09219387 A JPH09219387 A JP H09219387A JP 2498496 A JP2498496 A JP 2498496A JP 2498496 A JP2498496 A JP 2498496A JP H09219387 A JPH09219387 A JP H09219387A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- substrate
- lower chamber
- upper chamber
- processing apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
率が向上できる減圧処理装置の提供。 【解決手段】 減圧処理装置10において、上側チャン
バ12、下側チャンバ14、減圧手段および駆動手段
(下側チャンバ駆動部20)を備える。上側チャンバ1
2は装置筺体11に固定され、下側チャンバ14のみが
上昇降下を行い、チャンバ室の開閉動作が行われる。下
側チャンバ14には基板16を支持する支持部15が配
設され、下側チャンバ14の昇降に伴い支持部15が基
板16を上下に移動する。下側チャンバ14には1系統
の駆動手段が連結され、チャンバ室には減圧手段が連結
される。
Description
し、特にチャンバ室内において基板に減圧処理を行う減
圧処理装置に関する。さらに詳細には、本発明は、液晶
表示装置のガラス基板、プリント配線基板、半導体基
板、フォトマスクのガラス基板、サーマルヘッド製造用
のセラミックス基板などの基板に減圧乾燥処理を行う減
圧処理装置に関する。
略構成図である。この減圧処理装置はチャンバ室(真空
室または減圧室)を形成する上側チャンバ1および下側
チャンバ2を備える。上側チャンバ1には上側チャンバ
駆動部3が連結され、上側チャンバ駆動部3は上下方向
に上側チャンバ1の昇降動作を行う。上側チャンバ駆動
部3は空気圧シリンダーで構成される。下側チャンバ2
は装置筺体に固定される。下側チャンバ2の中央部分に
はリフトピン4が貫通し、このリフトピン4の上側先端
部はチャンバ室内を上下方向に移動できる。リフトピン
4は図示しない基板搬送装置から搬送された未処理の基
板5を受け取り、また処理済みの基板5を基板搬送装置
に受け渡す。リフトピン4はピン駆動部6に連結され、
このピン駆動部6によりリフトピン4の昇降動作が行わ
れる。ピン駆動部6はモータとこのモータの回転運動を
上下方向の運動に変換する変換部とを備える。前記リフ
トピン4と下側チャンバ2との間にはベローズ7が配設
され、双方の間の密閉性が確保されている。また、下側
チャンバ2の周縁部分にはOリング8が配設され、上側
チャンバ1と下側チャンバ2とが閉止された際に双方の
間の密閉性が確保される。
においては以下の手順で減圧処理が行われる。まず、上
側チャンバ1が上側チャンバ駆動部3により上昇し、チ
ャンバ室が開放状態に維持される。この開放状態に維持
された上側チャンバ1と下側チャンバ2との間に図示し
ない基板搬送装置の搬送アームにより未処理の基板5が
搬送される。この基板5はピン駆動部6によるリフトピ
ン4の上昇でリフトピン4に受け取られる。基板5を受
け取り基板搬送装置の搬送アームが退避した後、リフト
ピン4は下降し、減圧処理位置まで基板5が移動する。
次に、上側チャンバ駆動部3により上側チャンバ1が下
降し、下側チャンバ2にOリング8を介して上側チャン
バ1が当接することによりチャンバ室が閉止される。こ
の動作が終了すると、チャンバ室が密閉され、チャンバ
室内に基板5が収納される。
(例えば、真空装置)に連接され、この減圧装置により
チャンバ室内が減圧され、基板5に減圧処理が行われ
る。減圧処理は、例えば基板5の表面に塗布されたフォ
トレジスト薄膜の乾燥処理、洗浄された基板5の乾燥処
理など、減圧状態において基板5に行われる乾燥処理で
ある。
順により、まず上側チャンバ駆動部3により上側チャン
バ1が上昇する。次に、リフトピン4により処理済みの
基板5が上昇し、基板搬送装置の搬送アームにこの処理
済みの基板5が受け渡される。そして、この処理済みの
基板5は基板搬送装置により次段に搬送される。
おいては、以下の点の配慮がなされていない。
1の昇降動作を行う上側チャンバ駆動部3およびリフト
ピン4の昇降動作を行うピン駆動部6の合計2系統の駆
動部が配設される。このため、部品点数が増大しかつ駆
動機構が複雑になるので、減圧処理装置の構造が複雑化
しかつ大型になる。
2とリフトピン4との間の密閉性を確保するベローズ7
および上側チャンバ1と下側チャンバ2との間の密閉性
を確保するOリング8が配設される。このため、チャン
バ室の密閉性を確保する複数の部品が必要になり、部品
点数が増大するので、減圧処理装置の構造が複雑化しか
つ大型になる。
チャンバ駆動部3により昇降動作を行う上側チャンバ1
が減圧処理位置よりも上方に存在する。駆動する部分は
パーティクルの発生源になり易く、このパーティクルが
基板5の表面に付着した場合には基板5が不良品になる
確率が高くなるので、生産効率が低下する。同様に、前
述のベローズ7内にはパーティクルが蓄積し易く、この
蓄積部分がパーティクルの発生源になり易い。
ズ7は溶接構造を有する金属材料で形成されるので、リ
フトピン4の繰り返し動作により溶接部分が劣化し易
く、チャンバ室内と外部との間で圧力漏れの原因となる
リークパスが発生し易い。このため、チャンバ室内の減
圧効率が低下し、生産効率が低下する。また、リークパ
スを防止するためにベローズ7を定期的に交換しなくて
はならないので、メンテナンス作業回数が増加する。
たものである。従って、本発明は、構造が簡素化でき、
小型化でき、かつ生産効率が向上できる減圧処理装置の
提供を目的とする。
に、請求項1に記載される発明は、チャンバ室内の基板
を減圧処理する減圧処理装置において、所定の位置に固
定された上側チャンバと、前記上側チャンバに下方から
連結して前記チャンバ室を形成する下側チャンバと、前
記下側チャンバに設けられ、基板を下方から支持する支
持部と、前記下側チャンバが上側チャンバと連結する位
置とこの位置より下側の位置との間で、前記下側チャン
バおよび支持部を一体に上側チャンバに対して昇降させ
る昇降手段と、前記チャンバ室内を減圧する減圧処理手
段と、を備えたことを特徴とする。
は、減圧処理装置において、以下の作用効果が得られ
る。
バが装置筺体に取付けられ、他方の下側チャンバのみの
昇降動作によりチャンバ室の開閉が行われる。基板は下
側チャンバの支持部に支持され、下側チャンバの上昇に
伴い基板がチャンバ室内に搬入される。また、下側チャ
ンバの下降に伴い基板はチャンバ室内から搬出される。
従って、下側チャンバを駆動する1系統の駆動手段によ
りチャンバ室の開閉が行えるとともにチャンバ室内に基
板が搬入できかつチャンバ室内から基板が搬出できるの
で、部品点数が減少できかつ駆動機構が簡素化され、簡
易な構造を有する減圧処理装置が実現できる。
基板を支持する支持部は下側チャンバの昇降動作に伴い
前記チャンバ室内に移動するので、下側チャンバと支持
部との間を密閉する部品(例えば、ベローズ)が無くな
る。従って、部品点数が減少でき、密閉構造が簡素化で
きるので、簡易な構造を有する減圧処理装置が実現でき
る。また、密閉する部品は消耗品であり、この消耗品が
削減できる。
けられ、チャンバ室内に搬入される基板(減圧処理が行
われる基板)よりも上方には動作を行う部品、機構等が
無くなる。従って、チャンバ室内近傍において動作部
品、動作機構から発生するパーティクルが無くなるの
で、不良品の発生が減少でき、生産効率が向上できる減
圧処理装置が実現できる。
部品が無くなり、密閉する部品に蓄積されるパーティク
ルが無くなる。従って、パーティクルに起因する不良品
の発生が減少でき、生産効率が向上できる減圧処理装置
が実現できる。
が減少し、密閉部品において発生するリークパスの発生
確率が減少するので、チャンバ室内の密閉性が向上でき
る。従って、チャンバ室内と外部との間の圧力漏れが減
少し、減圧効率が向上できるので、生産効率が向上でき
る減圧処理装置が実現できる。
記載の減圧処理装置において、前記上側チャンバの位置
を調整する調整手段を有することを特徴とする。
減圧処理装置について説明する。
置の正面図、図2は前記減圧処理装置の右側側面図、図
3は前記減圧処理装置の上面図である。本実施形態に係
る減圧処理装置10は基板16の減圧乾燥処理を行う。
本実施形態において基板16には液晶表示装置の矩形形
状を有するガラス基板が使用される。なお、本発明にお
いては、基板16にプリント配線基板、半導体基板(珪
素基板、化合物基板のいずれも含む)、フォトマスクの
ガラス基板、サーマルヘッド製造用のセラミックス基板
などの矩形形状または円形形状を有する基板が使用でき
る。
10は装置筺体(装置フレーム)11、上側チャンバ1
2、下側チャンバ14、下側チャンバ駆動部20を備え
る。図4は前記上側チャンバ12の上面図、図5は図4
に示すF5−F5切断線部分で切った断面図、図6は図
4に示すF6−F6切断線部分で切った断面図である。
図4乃至図6に示すように、前記上側チャンバ12は平
面形状が矩型形状を有する上側チャンバ本体12Aを備
える。この上側チャンバ本体12Aは同様な矩形形状で
一回り小さい基板16を内部に収納でき、かつチャンバ
室(真空室または減圧室)の一部を形成する空間スペー
スを有する。上側チャンバ本体12Aの下部は開口さ
れ、この開口された部分は下側からチャンバ室内に基板
16を搬入しかつチャンバ室内から下側に基板16を搬
出できる基板搬入搬出口として使用される。
には内部の空間スペース(チャンバ室)に通じる減圧口
12Bが各々配設される。本実施形態において上側チャ
ンバ本体12Aの1つの側面には2個の減圧口12Bが
配設され、上側チャンバ本体12Aには合計8個の減圧
口12Bが配設される。1個の減圧口が配設される場合
に比べて複数の減圧口12Bが配設されかつ分散して配
設されるので、チャンバ室内の減圧効率が高められる。
前記複数個配設された減圧口12Bは各々連結管21を
通して一旦上側チャンバ本体12Aの上部において集束
され、この連結管21が集束された部分から各々連結管
21は図示しない減圧装置(真空装置)に連結される。
であって下側チャンバ14に当接しこの下側チャンバ1
4に連結する部分にはチャンバ室の密閉性を確保する密
閉部材22が配設される。本実施形態において密閉部材
22にはOリングが使用される。
装置筺体11に取り付けられ固定される。上側チャンバ
12と装置筺体11との間には微調整部材13が設けら
れ、この微調整部材13により上側チャンバ12の固定
位置の微調整が行える。微調整部材13は、上側チャン
バ12の上側チャンバ本体12Aに固定された雌ねじ、
装置筺体11に固定され逆ねじで形成される雌ねじ、お
よび各々の雌ねじにねじ込まれた雄ねじにより構成され
る。つまり、微調整部材13は中央部分の雄ねじを回転
させることによりこの回転に応じて装置筺体11に対し
上側チャンバ12を上側にまたは下側に微動できる。
示すように前記上側チャンバ12よりも下側に配設さ
れ、この下側チャンバ14は基板16よりも一回り大き
な矩形形状を有する。下側チャンバ14はチャンバ室の
他の一部を形成し、この下側チャンバ14と上側チャン
バ12とが閉止することにより密閉空間を有するチャン
バ室が形成される。下側チャンバ14と上側チャンバ1
2との間には密閉部材22が介在される。
が支持できる支持部15が取り付けられ固定される。支
持部15は例えば基板16を単純に支持するだけの複数
の支持ピンで構成され、基板16を安定に支持するため
に例えば4本の支持ピンが配設される。支持部15は下
側チャンバ14の昇降動作に応じて(伴い)昇降動作を
行い、この支持部15は待機位置と基板減圧処理位置と
の間の範囲において基板16を搬送する。前記基板減圧
処理位置は上側チャンバ12の上側チャンバ本体12A
の内部に設定され、この基板減圧処理位置は下側チャン
バ14と上側チャンバ12との間の連結が行われ、かつ
基板16に減圧処理が行われる位置である。前記待機位
置は前記基板減圧処理位置よりも下方に位置し、この待
機位置は下側チャンバ14の昇降動作に伴い前記基板減
圧処理位置(上側チャンバ12内)に基板16を搬入す
る際または基板減圧処理位置から搬出する際の位置であ
る。なお、前記基板減圧処理位置と待機位置との間に
は、基板搬送装置と支持部15との間で基板16の受け
取りおよび受け渡しを行う基板受取受渡位置が設定され
る。
11に取り付けられ固定された下側チャンバ駆動部20
が連結される。下側チャンバ駆動部20は下側チャンバ
14のみを駆動する1系統の駆動源であり、この下側チ
ャンバ駆動部20は、基本的には下側チャンバ14の支
持部15に搭載された基板16を待機位置と基板減圧処
理位置との間で昇降させる。本実施形態において下側チ
ャンバ駆動部20は、直列接続された2段構成の空気圧
シリンダーで構成される。直列接続された下側の空気圧
シリンダーは待機位置と基板受取受渡位置との範囲で基
板16を昇降させる。上側の空気圧シリンダーは、基板
受取受渡位置と基板減圧処理位置との間で基板16を昇
降させる。なお、本発明においては、下側チャンバ駆動
部20は、空気圧シリンダーに限定されず、油圧シリン
ダーを使用してもよい。また、下側チャンバ駆動部20
は、モーターおよびモーターの回転運動を下側チャンバ
14の昇降運動に変換する変換部で構成してもよい。
17が固定され、このガイド棒17は、ガイドフレーム
18にガイドされガイドフレーム18に対して上下方向
にスライドできる。ガイドフレーム18は、フレーム支
持棒19を介して装置筺体11に取り付けられ固定され
る。下側チャンバ14においては、ガイドフレーム18
にガイドされるガイド棒17のスライドに従って上下方
向に昇降する。
圧処理装置10の減圧処理動作について説明する。
10において、下側チャンバ14は最も下方向に移動
し、下側チャンバ14の支持部15の上側先端は待機位
置に保持される。つまり、上側チャンバ12と下側チャ
ンバ14との間は離間し、チャンバ室は開放状態に設定
される。基板搬送装置の搬送ユニットは未処理の基板1
6を減圧処理装置10まで搬送する。搬送ユニットは図
2、図7(A)および図7(B)に示すように吸着孔3
1を有する基板搬送用ハンド30を備え、このハンド3
0上に基板16が吸着保持され、基板16の搬送が行わ
れる。減圧処理装置10に搬送された基板16は基板受
取受渡位置において搬送ユニットのハンド30から支持
部15に受け取られる。この基板16の受け取りは図1
および図2に示す待機位置に待機していた支持部15が
基板受取受渡位置まで上昇することにより行われる。支
持部15の上昇動作は下側チャンバ14の上昇動作に伴
い行われ、下側チャンバ14の上昇動作は下側チャンバ
駆動部(下側の空気圧シリンダー)20により行われ
る。下側チャンバ14はガイドフレーム18にガイドさ
れるガイド棒17のスライドに従って上昇する。
受渡位置から退避すると支持部15がさらに上昇し、基
板16は基板受取受渡位置から基板減圧処理位置まで支
持部15により押し上げられる。この結果、基板16は
上側チャンバ12の内部に搬入され収納される。同時
に、上側チャンバ12と下側チャンバ14とが密閉部材
22を介して連結され、チャンバ室が閉止される。同様
に支持部15の上昇動作は下側チャンバ14の移動に伴
い行われ、下側チャンバ14の上昇動作は下側チャンバ
駆動部(上側空気圧シリンダー)20により行われる。
連接された減圧装置により減圧され、基板16に減圧乾
燥処理が施される。減圧乾燥処理が終了すると下側チャ
ンバ14と上側チャンバ12との間の連結が解除され、
チャンバ室が開放されるとともに、下側チャンバ14の
下降動作が行われ、この下側チャンバ14の下降に伴い
支持部15の下降動作が行われる。支持部15の下降動
作により基板減圧処理位置から基板受取受渡位置まで処
理済みの基板16が移動し、基板16が上側チャンバ1
2内から搬出される。前記下側チャンバ14の下降動作
は下側チャンバ駆動部20により行われる。
基板受取受渡位置において支持部15から搬送ユニット
のハンド30に受け渡される。この処理済みの基板16
は搬送ユニットにより次段に搬送される。この後、支持
部15は待機位置まで移動する。
小型化でき、かつ生産効率が向上できる減圧処理装置が
提供できる。
図である。
ある。
面図である。
面図である。
送ユニットの上面図である。
ある。
ャンバ本体、12B減圧口、13 微調整部材、14
下側チャンバ、15 支持部、16 基板、17 ガイ
ド棒、18 ガイドフレーム、20 下側チャンバ駆動
部、21 連結管。
Claims (2)
- 【請求項1】 チャンバ室内の基板を減圧処理する減圧
処理装置において、 所定の位置に固定された上側チャンバと、 前記上側チャンバに下方から連結して前記チャンバ室を
形成する下側チャンバと、 前記下側チャンバに設けられ、基板を下方から支持する
支持部と、 前記下側チャンバが上側チャンバと連結する位置とこの
位置より下側の位置との間で、前記下側チャンバおよび
支持部を一体に上側チャンバに対して昇降させる昇降手
段と、 前記チャンバ室内を減圧する減圧手段と、 を有することを特徴とする減圧処理装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の減圧処理装置におい
て、 前記上側チャンバの位置を調整する調整手段を有するこ
とを特徴とする減圧処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02498496A JP3394860B2 (ja) | 1996-02-13 | 1996-02-13 | 減圧処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02498496A JP3394860B2 (ja) | 1996-02-13 | 1996-02-13 | 減圧処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09219387A true JPH09219387A (ja) | 1997-08-19 |
JP3394860B2 JP3394860B2 (ja) | 2003-04-07 |
Family
ID=12153254
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02498496A Expired - Fee Related JP3394860B2 (ja) | 1996-02-13 | 1996-02-13 | 減圧処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3394860B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002054472A1 (fr) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Yoshiharu Yamamoto | Appareil pour nettoyer une plaquette de semi-conducteur |
-
1996
- 1996-02-13 JP JP02498496A patent/JP3394860B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002054472A1 (fr) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Yoshiharu Yamamoto | Appareil pour nettoyer une plaquette de semi-conducteur |
JPWO2002054472A1 (ja) * | 2000-12-28 | 2004-05-13 | 山本 義治 | 半導体基板の洗浄装置 |
US7216656B2 (en) | 2000-12-28 | 2007-05-15 | Yoshiharu Yamamoto | Semiconductor substrate cleansing apparatus |
JP4902091B2 (ja) * | 2000-12-28 | 2012-03-21 | 義治 山本 | 半導体基板の洗浄装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3394860B2 (ja) | 2003-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5223001A (en) | Vacuum processing apparatus | |
KR100244041B1 (ko) | 기판처리장치 | |
US7690881B2 (en) | Substrate-processing apparatus with buffer mechanism and substrate-transferring apparatus | |
WO2003071600A1 (fr) | Mecanisme de transport pour substrats, utilise dans un systeme de traitement de semi-conducteurs | |
KR100900870B1 (ko) | 진공 처리 장치 | |
KR20040097054A (ko) | 기판의 교체방법 | |
KR101464039B1 (ko) | 기판 반송 용기의 개폐 장치, 덮개의 개폐 장치 및 반도체 제조 장치 | |
JP3597321B2 (ja) | 減圧乾燥装置 | |
KR102200250B1 (ko) | 풉 로드락 도어가 구비된 로드포트모듈 및 로드포트모듈 도어와 풉 로드락 도어의 개폐방법 | |
JP2007069991A (ja) | 昇降機構および搬送装置 | |
JP5351317B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP4645696B2 (ja) | 被処理体の支持機構及びロードロック室 | |
JP3394860B2 (ja) | 減圧処理装置 | |
US20020182870A1 (en) | Substrate processing apparatus and a method for fabricating a semiconductor device by using same | |
KR102616246B1 (ko) | 처리액을 공급 및 회수하는 기판 처리 장치 | |
KR100873967B1 (ko) | 완충메카니즘을 갖는 반도체 제조장치 및 반도체 웨이퍼의완충방법 | |
KR20120115146A (ko) | 로딩 유닛 및 처리 시스템 | |
JPH05109863A (ja) | 機械式インターフエース装置 | |
JPH10303099A (ja) | 基板処理装置 | |
JP4533462B2 (ja) | 処理方法 | |
TW555676B (en) | Wafer handling system and apparatus | |
JP2010010259A (ja) | 真空処理装置 | |
JP2000144430A (ja) | 真空処理装置及びマルチチャンバ型真空処理装置 | |
JP2010027810A (ja) | 真空搬送装置 | |
JPH05243366A (ja) | 真空処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090131 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090131 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100131 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100131 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 7 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100131 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110131 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110131 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |