JPH0921609A - 部品検査装置 - Google Patents

部品検査装置

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JPH0921609A
JPH0921609A JP17250195A JP17250195A JPH0921609A JP H0921609 A JPH0921609 A JP H0921609A JP 17250195 A JP17250195 A JP 17250195A JP 17250195 A JP17250195 A JP 17250195A JP H0921609 A JPH0921609 A JP H0921609A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学的検知手段により吸着部品の投影幅の検
出を行う装置において、その機能性を高めながらコンパ
クトな構成を達成する。 【解決手段】 ヘッドユニット5に、部品吸着用のノズ
ル部材21と、レーザユニット26とを搭載し、レーザ
ユニット26によって部品Pの投影幅を検出することに
より部品Pの吸着状態等を検査するようにした。レーザ
ユニット26は、ノズル部材21を挟んで対向配置され
る第1及び第2光学ユニットとから構成し、第1光学ユ
ニットに、レーザー発生部28,集光レンズ29及びデ
ィテクタ32を配設する一方で、第2光学ユニットに、
反射鏡30及び平行光形成レンズ31を配設した。そし
て、レーザー発生部28から照射した平面拡散光線La
を反射鏡30,平行光形成レンズ31を介して平行光線
Lbに変換してディテクタ32に照射するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、部品装着用のヘッ
ドユニットにより部品供給部から電子部品をピックアッ
プしてプリント基板上に装着するように構成された実装
機において、特に、吸着された部品の吸着状態等を検知
する部品検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、ノズル部材を有する部品装着用の
ヘッドユニットにより、テープフィーダー等の部品供給
部からIC等の小片状のチップ部品を吸着して位置決め
されているプリント基板上に移送し、プリント基板の所
定位置に装着するようにした実装機が一般に知られてい
る。
【0003】この種の装置では、例えば、上記ヘッドユ
ニットが平面上でX軸方向及びY軸方向に移動可能とさ
れるとともに、ノズル部材がZ軸方向に移動可能かつ回
転可能とされ、各方向の移動及び回転のための駆動機構
が設けられている。
【0004】また、部品の装着精度を高めるべく、ノズ
ル部材に吸着された部品の位置及び回転角等の吸着状態
を調べてこれらの誤差分に相当する補正量を求め、部品
の装着時に位置及び回転角の調整を行うことが行われて
いる。例えば、図16,17に示すようにレーザー等の
平行光線の照射部81a及び受光部81bをノズル部材
Nが通過する空間を挟んで対向配置した光学的検知手段
80が上記ヘッドユニットに装備され、ノズル部材Nに
吸着された部品Pに対して平行光線が照射されて当該部
品Pの投影幅が検出されることにより、これに基づいて
上記補正量が求められるようになっている。
【0005】このような光学的検知手段80では、一般
に、照射部81a内のレーザー発生源83において発生
されたレーザー光を集光レンズ84,ミラー86を介し
て平行光形成レンズ85に導き、ここで平行光線に変換
して受光部81aのラインセンサ82に向けて照射する
ようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような光学的検知
手段80では、部品の大きさ等に応じてその投影幅が適
切に検出され得るように平行光線の幅を設定する必要が
あり、例えば、対象が大型のチップ部品の場合であれ
ば、幅広の平行光線を照射することが要求される。とこ
ろが、光線幅は、レーザー発生源83から平行光形成レ
ンズ85までの光路長で決定されるので、光線幅を広げ
ようとすると上記光路長を長く設けることが要求され、
いきおい照射部81bが大型化(図15,16で左右方
向に大型化する)して構造上不利となる。そのため、照
射部81bをコンパクトに構成しつつ大型部品等の投影
像を適切に検出し得るようすることが望まれる。
【0007】また、上述のような補正量を求める処理で
は、通常、吸着した部品を平行光線の光路内の所定の検
出位置に配置した状態で部品を回転させつつ精密に投影
幅の検出を行い、これにより得られた投影幅データから
補正量を演算するようにしている。しかし、吸着した全
ての部品についてこのような処理を行うのは必ずしも効
率が良いとはいえず、例えば、装着時の補正の処理では
到底是正しきれないような状態で部品が吸着されている
ような場合には、上述のような精密な投影幅の検出を行
うことなく当該部品を廃棄等する方が効率的である。
【0008】従って、上記光学的検知手段80におい
て、精密な検査を行う前に、簡易的な方法により上述の
ような極端な吸着不良を検知できれば便利である。
【0009】また、複数のノズル部材をヘッドユニット
に搭載する場合、光学的検知手段80の平行光線の照射
方向にノズル部材が並設されていると、吸着された部品
の投影像を同時に検出することができない。そのため、
例えば、平行光線の照射方向に並設されたノズル部材を
さらに平行光線の幅方向にオフセットして配置すること
が考えられるが、これではヘッドユニットが幅方向(平
行光線の幅方向と同一方向)に大型化することになり、
多数のノズル部材を搭載する場合には構造上不利であ
る。
【0010】従って、平行光線の照射方向にノズル部材
を並設し、かつ各ノズル部材に吸着された部品の投影幅
を同時に検出できれば構造面でも、また実装効率の面で
も都合が良い。
【0011】本発明は、これらの問題を解決するために
なされたものであり、光学的検知手段により吸着部品の
投影幅の検出を行うように構成された装置において、そ
の機能性を高めながらもコンパクトな構成を達成するこ
とができる部品検査装置を提供することを目的としてい
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る部品検査
装置は、部品供給側と装着側とに亘って移動可能なヘッ
ドユニットに、部品吸着用のノズル部材と、吸着された
部品に平行光線を照射してその投影幅を検出する光学的
検知手段とを備えてなる実装機において、上記光学的検
知手段には、上記ノズル部材を挟んで相対向して配置さ
れる第1及び第2光学ユニットが設けられ、上記第1光
学ユニットに、第2光学ユニットに向けて平面方向に拡
がる光を照射する照射手段と、第2光学ユニット側から
の光を受光する受光手段とが上下に並設される一方、上
記第2光学ユニットに、上記照射手段の照射光を上記受
光手段に導くための光路を形成する光路形成手段と、上
記照射光から平行光線を形成する平行光形成レンズとが
設けられてなるものである。
【0013】この部品検査装置によれば、第1光学ユニ
ットの照射手段から照射された光、すなわち平面拡散光
が第2光学ユニットに照射され、ここで平行光形成レン
ズに導かれて平行光線に変換されるとともに、所定の光
路に沿って第1光学ユニットの受光手段に向けて導かれ
る。このように、照射手段と平行光形成レンズがそれぞ
れ異なるユニットに設けられているため、照射手段から
平行光形成レンズまでの光路を比較的長く確保すること
が可能となり、これによって光学的検知手段の大型化を
抑えつつ広幅の平行光線を確保することが可能となる。
【0014】請求項2に係る部品検査装置は、上記請求
項1記載の部品検査装置において、第1光学ユニットか
ら第2光学ユニットへ向かう平面拡散光の光路をノズル
部材の部品吸着部分が通過するときの投影幅検出に基づ
いて吸着不良を判別し、第2光学ユニットから第1光学
ユニットへ向かう平行光線の光路にノズル部材の部品吸
着部分が位置するときの投影幅検出に基づいて少なくと
も部品吸着位置のずれを求める部品認識処理手段を有す
るものである。
【0015】この部品検査装置によれば、請求項1のよ
うな構成によって第1光学ユニットと第2光学ユニット
との間に平行光線と平面拡散光が上下2層に形成される
ことを利用し、ノズル部材の部品吸着部分が平面拡散光
の光路を通過するときの投影幅検出に基づいて吸着不良
を判別するとともに、ノズル部材の部品吸着部分が平行
光線の光路に位置するときの投影幅検出に基づいて部品
吸着位置のずれ等を求めることが可能となる。そのた
め、平行光線の光路に部品を介在させて精密に部品の投
影幅を検出する処理を行う前に、当該部品の簡易的な検
査を行うことが可能となる。
【0016】請求項3に係る部品検査装置は、上記請求
項2記載の部品検査装置において、上記受光手段が上記
照射手段を挟んで配置される上下一対の受光部から構成
されるとともに、上記光路形成手段が上記照射手段の照
射光を上下両側の受光部に導くように構成され、平行光
形成レンズが少なくとも上側の受光部に導かれる光路に
設けられており、上記部品認識処理手段は、平面拡散光
の光路を部品が通過するときの吸着不良の判断を、下側
の受光部による投影検出に基づいて行うものである。
【0017】この部品検査装置によれば、平面拡散光線
を部品が遮るときの当該部品の投影幅を受光手段の上下
両方の受光部で検出することが可能となる。そのため、
平行光線にノズル部材のシャフト部分が介在する等して
投影幅の検出に邪魔となるような場合であっても下側の
受光部において投影幅の検出を行うことが可能となる。
【0018】請求項4に係る部品検査装置は、上記請求
項1記載の部品検査装置において、上記受光手段が上下
に並設される複数の受光部から構成され、一方、上記光
路形成手段が上記照射手段の照射光を上記各受光部にそ
れぞれ導くように構成され、各受光部に導かれる光が平
行光線となるように上記平行光形成レンズが配置される
とともに、複数のノズル部材の部品吸着状態を、ノズル
部材によって高さ位置を異ならせた状態で各受光部によ
る投影検出に基づいて行う部品認識処理手段を備えたも
のである。
【0019】この部品検査装置によれば、第1光学ユニ
ットと第2光学ユニットとの間に上下に複数の平行光線
が形成され、これらが各受光部でそれぞれ受光されるの
で、複数のノズル部材が平行光線の照射方向に並べて設
けられる場合であっても、各ノズル部材の高さが各々変
えられて吸着部品が各々異なる平行光線の光路に介在さ
せられた状態とされることで各部品の投影幅の検出が同
時に行われる。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について説明
する。
【0021】図1及び図2は、本発明に係る部品検査装
置の第1実施形態が適用される実装機の全体を概略的に
示している。同図に示すように、実装機の基台1上に
は、プリント基板搬送用のコンベア2が配置され、プリ
ント基板3がこのコンベア2上を搬送されて所定の装着
作業位置で停止されるようになっている。
【0022】上記基台1の上方には、部品装着用のヘッ
ドユニット5が装備されている。このヘッドユニット5
は、部品供給部4とプリント基板3が位置する部品装着
部とにわたって移動可能とされ、当実施形態ではX軸方
向(コンベア2の方向)およびY軸方向(水平面上でX
軸と直交する方向)に移動することができるようになっ
ている。すなわち、上記基台1上には、Y軸方向の固定
レール7と、Y軸サーボモータ9により回転駆動される
ボールねじ軸8とが配設され、上記固定レール7上にヘ
ッドユニット支持部材11が配置されて、この支持部材
11に設けられたナット部分12が上記ボールねじ軸8
に螺合している。また、上記支持部材11には、X軸方
向のガイド部材13と、X軸サーボモータ15により駆
動されるボールねじ軸14とが配設され、上記ガイド部
材13にヘッドユニット5が移動可能に保持され、この
ヘッドユニット5に設けられたナット部分(図示せず)
が上記ボールねじ軸14に螺合している。そして、Y軸
サーボモータ9の作動により上記支持部材11がY軸方
向に移動するとともに、X軸サーボモータ15の作動に
よりヘッドユニット5が支持部材11に対してX軸方向
に移動するようになっている。
【0023】上記ヘッドユニット5には、部品を吸着す
るためのノズル部材21が設けられている。ノズル部材
21は、上記ヘッドユニット5のフレームに対してZ軸
方向(上下方向)の移動及びR軸(ノズル中心軸)回り
の回転が可能に取付けられておりZ軸サーボモータ22
及びR軸サーボモータ24により作動させられるように
なっている。また、ノズル部材21にはバルブ等を介し
て負圧供給手段に接続されており、部品吸着時には、所
定のタイミングで負圧供給手段からの負圧がノズル部材
先端に供給されるようになっている。
【0024】また、上記ヘッドユニット5の下端部に
は、光学的検知手段を構成するレーザユニット26が設
けられている。このレーザユニット26は、ノズル部材
21により部品を吸着した状態においてその部品にレー
ザー光を照射し、その投影幅を検出するものであり、図
3及び図4に示すように、ノズル部材21が上下動する
ときに通過する空間を挾んで相対向する位置に第1及び
第2光学ユニット27a,27bを有している。
【0025】第1光学ユニット27aには、レーザーダ
イオード等のレーザー発生部28及び発生されたレーザ
ー光を平面拡散光線に変換する集光レンズ29から構成
される照射手段と、CCDラインセンサからなるディテ
クタ(受光手段)32とが設けられている。一方、第2
光学ユニット27bには、平面拡散光線から平行光線を
形成する平行光形成レンズ31と、第1光学ユニット2
7aで発生された照射光を第1光学ユニット27aに向
けて導くための光路を形成する直角ミラーからなる反射
鏡30とが設けられている。
【0026】すなわち、このレーザユニット26では、
図3の一点鎖線に示すように第1光学ユニット27aの
レーザー発生部28から集光レンズ29を経た平面拡散
光線が第2光学ユニット27bに向けて照射され、第2
光学ユニット27bの反射鏡30を介して平行光形成レ
ンズ31に入り、ここで平行光線に変換されて第1光学
ユニット27aのディテクタ32に導かれるようになっ
ている。従って、各光学ユニット27a,27bの間に
は、第1光学ユニット27aから第2光学ユニット27
bに照射される平面拡散光線Laと、第2光学ユニット
27bから第1光学ユニット27aに向かう平行光線L
bとが上下2層に形成されている。
【0027】部品検査時には、図3の破線及び図4に示
すように、ノズル部材21に吸着された部品Pが平行光
線Lbの光路内に介在された状態でその投影幅が精密に
検出され、これにより部品Pの吸着状態が検出されて補
正量等の演算が行われるのであるが、後に詳述するよう
に、平行光線Lb内を部品Pが通過する際に部品Pが平
面拡散光線Laを遮るときの投影幅が検出されることに
より、部品Pの吸着状態の簡易的な検出が行われるよう
になっている。
【0028】以上のように構成された実装機は、マイク
ロコンピュータを構成要素とする制御装置18を備え、
上記Y軸及びX軸サーボモータ9,15、ヘッドユニッ
ト5のノズル部材21に対するZ軸サーボモータ22、
R軸サーボモータ24及びレーザユニット26等はすべ
て上記制御装置18に電気的に接続され、この制御装置
18によって統括制御されるようになっている。
【0029】また、制御装置18には部品吸着状態の認
識のための演算処理等を行う部品認識処理手段19が備
えられていて、上記レーザユニット26のディテクタ3
2での受光状態に応じて出力される受光データ信号に基
づいて部品の投影幅、あるいはその中心位置等が演算さ
れるとともに、これらのデータに基づいてノズル部材2
1に吸着された部品の位置及び回転角が調べられてこれ
らの誤差分に相当する補正量が求められるようになって
いる。
【0030】次に、上記実装機による部品の実装動作の
一例について図5のフローチャートを用いて説明する。
【0031】上述の実装機において実装動作が開始され
ると、先ず、ヘッドユニット5が部品供給部4の上方に
配置された後ノズル部材21が下降され、これによりテ
ープフィーダーの所定の部品取出し部に繰り出された部
品Pがノズル部材21によって吸着される。また、この
動作中に上記レーザユニット26が作動されて、平行光
線Lbに形成された影幅の検出及びこの影幅の中心位置
の演算が行われる。
【0032】つまり、部品吸着のためにノズル部材21
が下降させられた状態では、例えば、図3の実線に示す
ように平面拡散光線Laがノズル部材21によって遮ら
れ、従って、ステップS2の処理では、ノズル部材21
の投影幅が検出されてその中心位置C1が求められる
(ステップS1,2)。
【0033】部品Pの吸着が完了すると、部品Pをレー
ザユニット26の所定の部品検査位置、つまり、図3の
破線に示すように平行光線Lbの光路内に配置すべくノ
ズル部材21が上昇させられる(ステップS3)。
【0034】ノズル部材21の上昇中も、ディテクタ3
2による影幅の検出は行われており、影幅が予め設定さ
れた値、具体的にはノズル先端の投影幅を示す値に達す
ると、この時点から部品投影幅のサンプリングが開始さ
れるとともに、影の縮小部分の位置が検出され、この位
置データ(位置H1)が記憶される(ステップS4,S
5)。つまり、ノズル先端の影幅の検出に基づいて部品
Pが平面拡散光線Laを通過し始めるタイミングが検知
され、これにより部品Pの投影幅のサンプリングが開始
される。
【0035】なお、部品Pの投影幅のサンプリングにお
いては、図6及び図7に示すように、平行光線Lbの光
路にノズル部材21が介在するが、部品Pが平面拡散光
線Laを遮ることによって形成される投影幅を検出する
ため、通常、当該投影幅はノズル部材21の径に比べて
十分広幅となり、従って、部品Pの投影幅の検出におい
て平行光線Lbの光路に介在するノズル部材21が邪魔
になるようなことがない。但し、部品の大きさが極めて
小さい場合等、ノズル部材21が投影幅の検出の邪魔に
なることがあり得るので、部品の大きさが所定値よりも
大きいか否かを判定(ステップS6)し、所定値よりも
小さい場合は、ステップS7〜S10を飛ばしてステッ
プS11に移行する。
【0036】部品Pの投影幅のサンプリングは、ノズル
部材21の上昇に伴い、部品Pの上下方向複数箇所に対
応して行われるようになっており、ステップS7では、
こうして得られた各投影幅データが閾値よりも大きいか
否かが判断される。そして、検出されたデータが閾値よ
りも小さい場合には、当該部品に吸着不良等が発生して
いるとして、以後の実装処理を行うことなく当該部品を
所定の排出箇所に移送する処理が行われて本フローチャ
ートが終了する(ステップS13)。
【0037】ここで、上記閾値は、実装部品が例えば平
面視で長方形であり、かつ厚みが短辺よりも小さい矩形
部品である場合には、その短辺の寸法と同程度の値とさ
れている。すなわち、ノズル部材21により部品Pの角
部が吸着されることによって部品Pが起立状態で吸着さ
れる、いわゆる立ち吸い現象が発生したような場合に
は、部品Pの投影幅が上記閾値よりも小さくなることが
多く、従って、このような吸着状態がステップS7にお
いて検出される。そして、このような吸着状態は、装着
時の補正の処理では到底是正しきれないものであり、そ
のため、以後の実装処理を行うことなくステップS13
に移行するようになっている。
【0038】上記ステップS7において、各投影幅デー
タが所定値よりも大きい場合には、投影幅データの最大
値に基づいて当該部品Pの中心位置C2が求められると
ともに、この中心位置C2と、ステップS2で求められ
たノズル部材21の中心位置C1との差が求められ、こ
の差が所定値よりも小さいか否かが判断される(ステッ
プS8〜ステップS9)。
【0039】つまり、ノズル部材21の吸着中心と部品
中心のずれが求められ、その値が所定値より小さいか否
かが判断される。ここで、この演算値が所定値よりも大
きいような場合、例えば、部品が斜めに立った状態(図
8参照;平面拡散光線Laの照射方向は紙面に直交する
方向)に吸着されている場合等は、不正常な吸着状態に
あることを意味するので、ステップS13に移行し、以
後の実装処理を行うことなく当該部品を所定の排出箇所
に移送する処理が行われる。
【0040】一方、ステップS9において演算値が所定
値より小さい場合には、ステップS10において影の消
失位置H2が求められ、この消失位置H2とステップS5
で求められた位置H1との差が所定値以下であるか否か
が判断される。この差は部品Pの厚みを意味し、当該部
品Pが図8に示すように立った状態で吸着されていると
きには厚みが増大して検出されるので、このような場合
には異常吸着であるとして以後の処理を行わずにステッ
プS13に移行される。
【0041】一方、ステップS10において演算値が所
定値より小さい場合には、平行光線Lbの光路内に部品
Pが達したところでノズル部材21の上昇が停止され、
ここで、精密な部品の認識が行われる。すなわち、平行
光線Lbの光路内に配置されている部品P(図3の破線
に示す)が回転させられつつ、その投影幅が精密に検出
され、投影幅が最小となったときの投影中心位置及び回
転角等に基づいてノズル部材21に対する部品Pの吸着
位置及び回転角が調べられ、その誤差分に相当する補正
量が求められる。そして、当該補正量を加味したヘッド
ユニット5の移動及びノズル部材21の回転が行われた
後、ノズル部材21が下降させられることによりプリン
ト基板3への部品Pの装着が行われる。こうして本フロ
ーチャートが終了する(ステップS11,12)。
【0042】このように上記実施形態の実装機では、レ
ーザユニット26に平面拡散光線La、平行光線Lbと
いった上下2層の光路を形成するようにしたので、吸着
部品の検査を行う際には、上述のように、吸着部品の検
査のために部品Pを平行光線Lbの光路に配置する過程
で、先ず、簡易的な処理、すなわち部品Pが平面拡散光
線Laを通過するときに形成される投影幅の検出に基づ
いて、装着時の補正の処理では到底是正しきれない吸着
状態にある部品を検出する処理を行い(上記ステップS
7,S9,S10)、その後、これに該当しない部品に
ついてのみ、平行光線Lbの光路内で部品Pの精密な投
影幅の検出を行って補正量を求める処理を行う(ステッ
プS11)といった検査手法を採用することができる。
従って、全ての部品を平行光線の光路中に配置して精密
な投影幅の検出を行っていた従来のこの種の装置と比較
すると部品吸着状態の検査処理をより効率良く行うこと
が可能であり、これによって実装効率を高めることがで
きる。
【0043】とりわけ、レーザユニット26に平面拡散
光線La及び平行光線Lbといった上下2層の光路を形
成する構造は、レーザー発生部28とディテクタ32を
共に第1光学ユニット27aに配置し、レーザー発生部
28から照射されたレーザ光を第2光学ユニット27b
の反射鏡30で反射させてディテクタ32に導くといっ
た極簡単な構造で達成されているため、レーザユニット
26の構造を複雑化したり大型化したりすることなく比
較的容易に上述のような検査手法を実施することができ
る。
【0044】しかも、上述のようなレーザユニット26
の構造では、レーザー発生部28と平行光形成レンズ3
1とがそれぞれ別々の光学ユニット27a,27bに分
けて配置されているため、レーザー発生部28から平行
光形成レンズ31までの光路長を比較的長く確保しなが
らも各光学ユニット27a,27bをコンパクトな構成
とすることができる。それ故に、大型のチップ部品の検
査を行うべく幅広の平行光線Lbが要求される場合であ
っても、レーザユニット26の大型化を招くようなこと
がないという利点がある。
【0045】すなわち、従来のこの種の装置(図16,
17に示す)のようにレーザー発生源と平行光形成レン
ズとが同一のユニット(照射部81b)に納められてい
る構造では、幅広の平行光線を得るべくレーザー発生源
から平行光形成レンズまでの光路長を長く確保しようと
すると、レーザー発生源と平行光形成レンズとが同一の
ユニットに納められているために当該ユニットが大型化
することになるが、上記レーザユニット26ではこのよ
うなことがない。従って、従来装置と同一幅の平行光線
を得る場合であれば、上述のように各光学ユニット27
a,27bをコンパクト化できる分、レーザユニット全
体を従来装置に比べてコンパクトな構成とすることがで
きる。
【0046】ところで、上記実施形態は、図6,7に示
すように、部品P、あるいはノズル部材21が平面拡散
光線Laを遮ることによって形成される部品の投影幅が
ノズル部材21の投影幅よりも十分広くなり、それ故
に、投影幅の検出に際してノズル部材21が邪魔になる
ことがないような場合に有効な例であるが、例えば、ノ
ズル部材21に対して部品Pが極めて小さく、それ故
に、部品Pの投影幅がノズル部材21の径よりも小さ
く、投影幅の検出に際してノズル部材21が邪魔になる
ような場合には、以下に説明する第2実施形態に係る構
成が有効となる。
【0047】図9は、第2実施形態に係るレーザユニッ
トの構造を概略的に示している。なお、以下の説明にお
いて、上記第1実施形態のレーザユニット26と同一機
能を果たすものについては同一符号を付して説明する。
【0048】この図に示すレーザユニット26Aの構成
は上記レーザユニット26と基本的に同一であるが、第
1光学ユニット27aのレーザー発生部28の下方にC
CDラインセンサからなるディテクタ33が設けられ、
また、第2光学ユニット27bに平面拡散光線Laの一
部を上記ディテクタ33に導くハーフミラー34及び反
射鏡35が設けられている点で上記レーザユニット26
と構成が相違している。
【0049】このレーザユニット26Aによれば、平面
拡散光線Laの一部がハーフミラー34及び反射鏡35
を介してディテクタ33に入るため、同図に示すよう
に、部品Pが平面拡散光線Laを通過するときの部品P
の投影幅をディテクタ32及びディテクタ33の双方で
検出することができる。従って、ノズル部材21に対し
て部品Pが極めて小さく、ディテクタ32による部品P
の投影幅の検出においてノズル部材21が邪魔になるよ
うな場合であっても、部品Pの投影幅をディテクタ33
により検出することで、部品Pの投影幅の検出を行うこ
とができる。
【0050】従って、第2実施形態のレーザユニット2
6Aによれば、部品Pの大きさとノズル部材21の径の
相対関係に左右されることなく部品Pの簡易的な検査に
おいて適切に部品Pの投影幅の検出を行うことができ、
この点で、上記第1実施形態のレーザユニット26より
も有利となる。
【0051】次に、本発明の第3実施形態について説明
する。
【0052】第3実施形態においては、上記ヘッドユニ
ット5に2本のノズル部材21a,21bが設けられ、
これらがX軸方向に一列に並べて搭載されるとともに、
レーザユニットが図10に示すような構成となってい
る。なお、以下の説明において、上記第1実施形態のレ
ーザユニット26と同一機能を果たすものについては同
一符号を付して説明する。
【0053】同図に示すレーザユニット26Bにおいて
も、ノズル部材21a,21bを挟んで第1及び第2光
学ユニット27a,27bが相対向して設けられ、第1
光学ユニット27aにレーザー発生部28,集光レンズ
29及びディテクタが、また、第2光学ユニット27b
に平行光形成レンズ31及び光路形成のための反射鏡が
それぞれ設けられている。この点において上記第1実施
形態のレーザユニット26と構成が共通している。
【0054】しかし、レーザユニット26Bでは、第1
光学ユニット27aのレーザー発生部28の上方に2つ
のディテクタ32a,32bが積層配置されている。ま
た、第2光学ユニット27bにおいて、第1光学ユニッ
ト27aから照射された平行光線Lbが平行光形成レン
ズ31を通って平行光線に変換された後、反射鏡36,
38及びハーフミラー37で反射させられて上下2層の
平行光線Lbに分光されてそれぞれ上記ディテクタ32
a,32bに照射されるようになっており、これらの点
において、上記第1実施形態のレーザユニット26と構
成が相違している。
【0055】この第3実施形態の構成によれば、図10
に示すように、平行光線Lbの照射方向下流側のノズル
部材21a(以下、下流側ノズル21aという)によっ
て吸着された部品Paが上側の平行光線Lbの光路内に
配置される一方、平行光線Lbの照射方向上流側のノズ
ル部材21b(以下、上流側ノズル21bという)によ
って吸着された部品Pbが下側の平行光線Lbの光路内
に配置され、これにより部品Pa,Pbの投影幅が同時
に検出される。
【0056】従って、平行光線Lbの照射方向に並設さ
れたノズル部材21a,21bにより吸着された部品の
検査を同時に行うことが可能となり、これによって実装
効率を高めることが可能となる。
【0057】但し、このような部品Pa,Pbの同時検
査も、吸着される部品の大きさに一定の条件が課せられ
ることによって可能となる。すなわち、上流側ノズル2
1bによって吸着された部品Pbの投影幅の検出につい
ては部品Paによってのみ平行光線Lbが遮られるた
め、特に部品の大きさの制限はないが(図11に示
す)、下流側ノズル21aによって吸着された部品Pa
の投影幅の検出については、上流側ノズル21bによっ
て平行光線Lbが遮られるため、部品Paの大きさが上
流側ノズル21bの径よりも大きい場合にのみ各部品P
aの適切な検査が可能となる(図12に示す)。従っ
て、部品Pa,Pbの同時検査を行う場合には、上述の
条件を満たした部品吸着が要求される。
【0058】ところで、上述の第3実施形態の変形例と
して、例えば、図13に示すようにうな構成を採用する
こともできる。この図に示す構成では、上記ヘッドユニ
ット5に8本のノズル部材40〜47が設けられてい
て、これらの各ノズル部材40〜47により吸着された
部品Pc〜Pjの吸着状態を上記レーザユニット26B
で検査するようになっている。
【0059】ノズル部材40〜47の配置について具体
的に説明すると、平行光線Lbの幅方向に4本のノズル
部材40〜43が一列に、かつ平行光線Lbの照射方向
に一定量だけ順次オフセットされた状態で配設されると
ともに(以下、下流側ノズル40〜43という)、これ
らの各下流側ノズル40〜43に対して平行光線Lbの
照射方向上流側に、上記各下流側ノズル40〜43と同
じ配列で、かつ各ノズル部材40〜43に対応して4本
のノズル部材44〜47(以下、上流側ノズル44〜4
7という)が配設されている。つまり、同図に示す構成
は、図10に示す実施形態の構成における、ノズル部材
21a,21bと同様の位置関係にある一対のノズル部
材を、平行光線Lbの幅方向に4対設け、それぞれ平行
光線Lbの照射方向に一定量オフセットした構成となっ
ている。
【0060】この実施形態の構成においても、図10に
示す実施形態と同様に、下流側ノズル40〜43により
吸着された部品Pc〜Pfが上側の平行光線Lbの光路
内に配置される一方、上流側ノズル44〜47によって
吸着された部品Pg〜Pjが下側の平行光線Lbの光路
内に配置されることによって各部品Pc〜Pjの投影幅
の検出が同時に行われる。
【0061】従って、この構成によれば、8本のノズル
部材40〜47によって吸着された部品Pc〜Pjの検
査を同時に行って実装効率を高めながらも、ヘッドユニ
ット5の大型化を好適に回避することができる。すなわ
ち、多数のノズル部材によって部品を吸着し、各部品の
検査を従来のこの種のレーザユニットを用いて同時に行
う場合には、各ノズル部材を平行光線の幅方向に並べて
配置することが要求されるが、上記実施形態の構成で
は、上述のようにノズル部材を平行光線Lbの照射方向
に2列に分けて配置することができるので、これにより
ヘッドユニットのY軸方向への大型化を従来構造の半分
程度に抑えることが可能となる。
【0062】なお、上記第1〜第3実施形態の構成は、
本発明に係る部品検査装置の代表的な実施形態であっ
て、その具体的な構成は本発明の要旨を逸脱しない範囲
で適宜変更可能である。
【0063】例えば、図10に示す第3実施形態の構成
において、X軸方向に3本、あるいはそれ以上のノズル
部材を一列に並べて設けるとともに、ノズル部材の数と
同じ数の平行光線Lbをレーザユニット26の各光学ユ
ニット27a,27bの間に積層形成し、平行光線Lb
の照射方向下流側のノズル部材によって吸着された部品
が上層の平行光線Lbの光路内に配置されるように、各
吸着部品をそれぞれ異なる平行光線Lbの光路内に配置
して部品の吸着状態を検査するようにしてもよい。これ
によれば、より多くのノズル部材により部品を吸着しつ
つ当該吸着部品の吸着状態を同時に検査することができ
るので、実装効率の点でより有利となる。その上、ノズ
ル部材がX軸方向に一列に並べられる構成を採用できる
ので、ヘッドユニットのY軸方向への大型化を抑えるこ
とができ、この点、図13に示す構成よりも有利とな
る。
【0064】但し、この構成の場合には、平行光線Lb
の照射方向最上流側のノズル部材以外のノズル部材に吸
着される部品の大きさが上記最上流側のノズル部材の径
よりも大きい場合にのみ適切な部品の投影幅の検出が行
われるので、この点に注意する必要がある。
【0065】また、図9に示す第3実施形態の構成にお
いて、反射鏡35の下流側に平行光形成レンズを配置し
てディテクタ33に照射される光を平行光線に変換する
ようにし、これによって拡散光線Laを挟む上下2層の
平行光線Lbを形成するようにしてもよい。この構成の
場合にも、図10,あるいは図13の実施形態と同様、
複数のノズル部材によって部品を装着する場合に有利な
構造となる。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の部品検査
装置においては、ノズル部材を挟む位置に第1及び第2
光学ユニットを対向配置し、第1光学ユニットに照射手
段及び受光手段を設ける一方、第2光学手段に平行光形
成レンズ及び光路形成手段を設け、これにより第1光学
ユニットから照射した平面拡散光を第2光学ユニットで
平行光線に変換し、再度第1光学ユニットに導いて受光
するようにしたので、照射手段から平行光形成レンズま
での光路を比較的長く確保することができる。そのた
め、光学的検知手段の大型化を抑えつつ広幅の平行光線
を適切に確保することができる。
【0067】また、上記構成において第1光学ユニット
と第2光学ユニットとの間に平行光線と平面拡散光が上
下2層に形成されることを利用し、ノズル部材の部品吸
着部分が平面拡散光の光路を通過するときの投影幅検出
に基づいて吸着不良を判別するとともに、ノズル部材の
部品吸着部分が平行光線の光路に位置するときの投影幅
検出に基づいて部品吸着位置のずれ等を求めるようにし
たので、平行光線の光路に部品を介在させて精密に部品
の投影幅を検出する処理を行う前に、当該部品の簡易的
な検査を行うことができる。
【0068】特に、受光手段を、照射手段を挟んで配置
される上下一対の受光部から構成して照射手段からの照
射光を上下両側の受光部に導くようにするとともに、平
面拡散光の光路を部品が通過するときの吸着不良の判断
を、下側の受光部による投影検出に基づいて行うように
すれば、平行光線にノズル部材のシャフト部分が介在す
る等して部品の投影幅の検出に邪魔となるような場合で
あっても当該投影幅の検出を適切に行うことができる。
【0069】また、受光手段を、上下に並設される複数
の受光部から構成し、照射手段の照射光を平行光線に変
換して各受光部で受光するようにするとともに、複数の
ノズル部材の部品吸着部分を、ノズル部材の高さ位置を
異なられせて各平行光線の光路に位置した状態で、各受
光部による投影検出に基づいて行うようにすれば、複数
のノズル部材が平行光線の照射方向に並べて設けられる
場合であっても、各部品の投影幅を同時に検出すること
が可能となり、その結果、実装効率をより良く高めるこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る部品検査装置の第1実施形態が適
用される実装機の構成を示す平面概略図である。
【図2】同正面図である。
【図3】レーザユニットの構成を示す要部正面図であ
る。
【図4】レーザユニットの構成を示す要部平面図であ
る。
【図5】実装動作の一例を説明するフローチャートであ
る。
【図6】レーザユニットによる部品検査を説明する説明
図である。
【図7】レーザユニットによる部品検査を説明する説明
図である。
【図8】ノズル部材による部品の吸着状態の一例を示す
概略図である。
【図9】第2実施形態に係る部品検査装置の構成を示す
要部正面図である。
【図10】第3実施形態に係る部品検査装置の構成を示
す要部正面図である。
【図11】図9の装置による部品検査を説明する説明図
である。
【図12】図9の装置による部品検査を説明する説明図
である。
【図13】第3実施形態に係る装置変形例を示す要部平
面図である。
【図14】図12の装置による部品検査を説明する説明
図である。
【図15】図12の装置による部品検査を説明する説明
図である。
【図16】従来の部品検査装置の一例を示す要部平面図
である。
【図17】従来の部品検査装置の一例を示す要部正面図
である。
【符号の説明】
5 ヘッドユニット 21 ノズル部材 26 レーザユニット 27a 第1光学ユニット 27b 第2光学ユニット 28 レーザー発生部 29 集光レンズ 30 反射鏡 31 平行光形成レンズ P 部品 La 平面拡散光線 Lb 平行光線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 部品供給側と装着側とに亘って移動可能
    なヘッドユニットに、部品吸着用のノズル部材と、吸着
    された部品に平行光線を照射してその投影幅を検出する
    光学的検知手段とを備えてなる実装機において、上記光
    学的検知手段には、上記ノズル部材を挟んで相対向して
    配置される第1及び第2光学ユニットが設けられ、上記
    第1光学ユニットに、第2光学ユニットに向けて平面方
    向に拡がる光を照射する照射手段と、第2光学ユニット
    側からの光を受光する受光手段とが上下に並設される一
    方、上記第2光学ユニットに、上記照射手段の照射光を
    上記受光手段に導くための光路を形成する光路形成手段
    と、上記照射光から平行光線を形成する平行光形成レン
    ズとが設けられてなることを特徴とする部品検査装置。
  2. 【請求項2】 第1光学ユニットから第2光学ユニット
    へ向かう平面拡散光の光路をノズル部材の部品吸着部分
    が通過するときの投影幅検出に基づいて吸着不良を判別
    し、第2光学ユニットから第1光学ユニットへ向かう平
    行光線の光路にノズル部材の部品吸着部分が位置すると
    きの投影幅検出に基づいて少なくとも部品吸着位置のず
    れを求める部品認識処理手段を有することを特徴とする
    請求項1記載の部品検査装置。
  3. 【請求項3】 上記受光手段が上記照射手段を挟んで配
    置される上下一対の受光部から構成されるとともに、上
    記光路形成手段が上記照射手段の照射光を上下両側の受
    光部に導くように構成され、平行光形成レンズが少なく
    とも上側の受光部に導かれる光路に設けられており、上
    記部品認識処理手段は、平面拡散光の光路を部品が通過
    するときの吸着不良の判断を、下側の受光部による投影
    検出に基づいて行うことを特徴とする請求項2記載の部
    品検査装置。
  4. 【請求項4】 上記受光手段が上下に並設される複数の
    受光部から構成され、一方、上記光路形成手段が上記照
    射手段の照射光を上記各受光部にそれぞれ導くように構
    成され、各受光部に導かれる光が平行光線となるように
    上記平行光形成レンズが配置されるとともに、複数のノ
    ズル部材の部品吸着状態を、各ノズル部材によって高さ
    位置を異ならせた状態で各受光部による投影検出に基づ
    いて行う部品認識処理手段を備えたことを特徴とする請
    求項1記載の部品検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012513595A (ja) * 2008-12-24 2012-06-14 パントロン・インストルメンツ・ゲーエムベーハー 光バリア

Cited By (4)

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