JPH09211836A - カラー画像検査装置 - Google Patents

カラー画像検査装置

Info

Publication number
JPH09211836A
JPH09211836A JP1439496A JP1439496A JPH09211836A JP H09211836 A JPH09211836 A JP H09211836A JP 1439496 A JP1439496 A JP 1439496A JP 1439496 A JP1439496 A JP 1439496A JP H09211836 A JPH09211836 A JP H09211836A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
coordinate system
school
color
displacement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP1439496A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Yagi
邦夫 八木
Shinji Kawashima
晋司 川嶋
Tomokazu Taniguchi
智一 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
D S GIKEN KK
Original Assignee
D S GIKEN KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by D S GIKEN KK filed Critical D S GIKEN KK
Priority to JP1439496A priority Critical patent/JPH09211836A/ja
Publication of JPH09211836A publication Critical patent/JPH09211836A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 製版工程中の修正ミスのみならず、原版フィ
ルム作成後から印刷完了までの段階で発生するミスをも
含めた広範囲の検査を行うことができるカラー画像検査
装置およびカラー画像検査方法を提供する。 【解決手段】 初校画像および再校画像のそれぞれに座
標系X−Yとそれを反時計回りに45度回転した座標系
U−Vを備え、両画像の区画ごとに座標系についての
R,G,Bの色成分和を求め、さらにそれぞれの射影和
の波形を求めてその初校画像と再校画像の射影和の波形
の一致度を求め、座標系X−Yにおける初校画像と再校
画像の一致度が座標系X−Yにおけるしきい値sxyよ
り小さく、かつ座標系U−Vにおける初校画像と再校画
像の一致度が、座標系U−Vにおけるしきい値suv2
より大きいときには座標系X−Yによる変位を座標系U
−Vにおける変位で補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】基準物と対象物の画像をカラ
ー撮像手段によって捉え、基準物から得られた画像を基
準画像とするとともに、対象物から得られた画像を対象
画像とし、それら基準画像と対象画像とを比較して検査
するカラー画像検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】周知のように、製版工程においては、図
14に示すように、あらかじめ指定された印刷指定内容
に応じてイエロー(Y)、マゼンタ(M)、シアン
(C)、スミ(K)の4版の原版フィルムF1(F1
Y,F1M,F1C,F1K)を作成し、その原版フィルム
F1を用いて焼付・現像処理を行うことで印刷版P1
(P1Y,P1M,P1C,P1K)を作成している。そし
て、こうして作成された印刷版P1により刷られる印刷
物が印刷指定内容と一致するかどうかを検査するため
に、印刷版P1から試し刷り、つまり校正刷り(初校)
PS1を印刷し、この校正刷りPS1を印刷指定内容と
照らし合わせる。この段階で、印刷指定内容と合致して
いない箇所を発見すると、製版工程に戻って原版フィル
ムF2(F2Y,F2M,F2C,F2K)および印刷版P
2(P2Y,P2M,P2C,P2K)を新たに作成し、さ
らに印刷版P2から校正刷り(再校)PS2を印刷して
いる。なお、修正がさらに必要な場合には、上記と同様
にして、さらに修正した原版フィルムF3(F3Y,F
3M,F3C,F3K)を用いて焼付・現像することで印
刷版P3(P3Y,P3M,P3C,P3K)を作成し、こ
れらの印刷版P3から校正刷り(三校)PS3を印刷し
ている。
【0003】このような修正作業は手作業であり、しか
も複雑な作業が要求されるため、印刷指定内容と合致し
ていない箇所(修正必要箇所)が適切に修正されなかっ
たり、当該修正必要箇所以外の部分を誤って修正してし
まうなどの修正ミスを犯し易い。
【0004】そこで、従来より、このようなミスを検査
する装置が数多く提案されている。例えば、特開平5−
281697号公報や特開平7−271009号公報に
記載の装置では、最初に作成された原版フィルムの画像
と、修正済原版フィルムの画像とを読み込んで、両画像
を比較し、一致・不一致を検出しており、この検出結果
に基づいて修正内容が適切であるか否かを作業者が判定
(検査)可能となっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記特開平
5−281697号公報に記載の装置をはじめとして従
来においては、修正前の原版フィルムを基準物とする一
方、修正後の原版フィルムを対象物とし、基準物と対象
物を比較しているため、次のような問題がある。すなわ
ち、原版フィルム作成後、実際の印刷物を刷るまでに
は、焼付・現像や校正および印刷工程が存在しており、
単に原版フィルム同士を検査したのみでは、焼付工程で
の焼付ミスや校正および印刷工程での印刷ミスを検査す
ることができない。
【0006】この発明は従来技術における上記の問題を
解決するために行なわれたものであって、製版工程中の
修正ミスのみならず、原版フィルム作成後から印刷完了
までの段階で発生するミスをも含めた広範囲の検査を行
うことができるカラー画像検査装置およびカラー画像検
査方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、第1の発明では、基準物と対象物の画像をカラー撮
像手段によって捉え、前記基準物から得られた画像を基
準画像とするとともに、前記対象物から得られた画像を
対象画像として、前記基準画像と前記対象画像とを比較
して検査するカラー画像検査装置を対象として、(a)前
記基準画像と前記対象画像のそれぞれについて、画素ご
とに複数の色成分を加算した色成分和を求める色成分加
算手段と、(b)前記基準画像と前記対象画像とを相対的
に種々変位させ、前記変位のそれぞれにおいて前記基準
画像および前記対象画像の各画素の前記色成分和の空間
的分布の一致度を判定し、前記一致度が最大のものを最
適変位として決定する最適変位決定手段と、(c)前記最
適変位だけ相対的に変位させた状態で前記基準画像と前
記対象画像との画像を相互に比較することにより、前記
基準画像と前記対象画像との画像の差異を検出する差異
検出手段とを設けている。
【0008】また、第2の発明では、第1の発明の装置
において、前記最適変位決定手段が、(b-1)前記変位の
それぞれにおいて、前記基準画像および前記対象画像を
小区画に分割して基準区画画像と対象区画画像とを得る
区画画像作成手段と、(b-2)前記変位のそれぞれにおい
て、所定の2次元直交座標系の各軸方向に前記色成分和
を加算射影する処理を前記基準区画画像と前記対象区画
画像とに適用することにより、基準波形と対象波形とを
得る色成分和加算手段と、(b-3)前記変位のそれぞれに
おいて、前記基準波形と前記対象波形とを比較すること
により前記基準波形と前記対象波形との一致の程度を判
定する比較手段と、(b-4)前記変位のそれぞれについて
の前記一致度が最も高い変位を前記最適変位として決定
する変位決定手段とを備えている。
【0009】さらに、第3の発明では、第2の発明の装
置において、前記2次元直交座標系として、あらかじめ
優先座標系とその他の座標系とに分類され、かつそれぞ
れの座標軸の方向が互いに異なる複数の2次元直交座標
系が規定されている。
【0010】そして、前記色成分和加算手段が、前記優
先座標系と前記その他の座標系との各軸について前記基
準波形と前記対象波形とを求める手段とされている。ま
た、これに応じて、前記変位決定手段が、前記優先座標
系における前記一致の程度が第1の閾値より小さく、か
つ前記その他の座標系における前記一致の程度が第2の
閾値より大きいときには、前記優先座標系での前記一致
の程度に応じて特定される適正変位を、前記その他の座
標系での前記一致の程度に応じて特定される適正変位で
補正して前記最適変位を決定する手段とされている。
【0011】さらに、第4の発明では、第3の発明の装
置において、前記その他の座標系は、前記優先座標系を
相対的に45度回転した座標系とされている。
【0012】
【発明の実施の形態】
<1.実施の形態の全体構成>図1は、この発明にかか
るカラー画像検査装置のひとつの実施の形態の部分外観
図であり、後述する各図との方向関係を明確にするため
に、XYZ直角座標軸が示されている。このカラー画像
検査装置1では、本体2の上面に透明ガラス板3が取り
付けられており、この透明ガラス板3上に校正刷り,原
版フィルムや印刷版などの被読取物を載置可能となって
いる。また、本体2の上面には、透明ガラス板3より若
干大きな平面サイズを有するカバー部材4のY側端部が
透明ガラス板3の(+Y)側で連結されており、当該連
結部分を中心として揺動自在となっている。したがっ
て、作業者が透明ガラス板3の上に校正刷り、原版フィ
ルムおよび印刷版のいずれかの被読取物を載置し、カバ
ー部材4を透明ガラス板3上に倒すと、当該シート状の
被読取物が透明ガラス板3とカバー部材4との間に挟ま
れ、保持される。このようにこの実施の形態では、透明
ガラス板3とカバー部材4とで校正刷りなどの被読取物
を保持する保持手段が構成されている。
【0013】図2は、カバー部材4を透明ガラス板3上
に倒した状態での、図1のカラー画像検査装置1の断面
図である。本体2の内部において、底面側にベースフレ
ーム5が配置されており、このベースフレーム5上にX
Y駆動機構10が設けられている。このXY駆動機構1
0は、同図に示すように、X方向に伸びたX駆動ユニッ
ト11aと、Y方向に伸びたY駆動ユニット11bとで
構成されている。
【0014】X駆動ユニット11aでは、ボールネジ1
2aの一方端が図示を省略するベアリングで回転自在に
軸支されるとともに、他方端がX駆動用パルスモータ
(図示省略)に連結されている。また、このボールネジ
12aの中間部には、結合ブロック13aが螺合されて
いる。さらに、この結合ブロック13a上にY駆動ユニ
ット11bが固定されている。なお、このY駆動ユニッ
ト11bの基本構成はX駆動ユニット11aと同一であ
るため、ここでは、その説明を省略する。
【0015】このように構成されたXY駆動機構10で
は、X駆動用およびY駆動用パルスモータを制御するこ
とで、Y駆動ユニット11bのボールネジ(図示省略)
に螺合された結合ブロック13bをXおよびY方向に2
次元的に移動させることができる。
【0016】図3は、構造体50の構成を示す斜視図で
ある。同図に示すように、2次元的に移動自在な結合ブ
ロック13bには、照明ユニット20と、光学系30
と、カラーCCDカメラ40とを一体化してなる構造体
50が取り付けられている。
【0017】照明ユニット20では、円筒状の本体カバ
ー21内に丸型蛍光灯22が収められており、照明コン
トローラにより点灯・消灯が制御される。この丸型蛍光
灯22を点灯すると、丸型蛍光灯22からの照明光IL
が本体カバー21の上部に設けられた開口部23を通過
し、さらに透明ガラス板3を透過して被読取物(校正刷
り、原版フィルム、印刷版)Sの一部に入射する。この
ように、この実施の形態では、丸型蛍光灯22により照
明光ILを被読取物Sの一部を局部的に照明しているの
で、照明領域での照度分布を均一化することができる。
【0018】被読取物Sの照明領域で反射した光は光学
系30によりカラーCCDカメラ40に導かれる。この
光学系30は、ズームレンズと、当該ズームレンズを駆
動してズームレンズの倍率を変更するレンズ駆動用モー
タ32とで構成されており、モータコントローラにより
ズームレンズを駆動することで倍率を3段階に変更する
ことが可能となっている。
【0019】このように構成された構造体50では、照
明ユニット20により透明ガラス板3上に載置された被
読取物Sを局部的に均一照明するとともに、光学系30
により照明範囲の画像を適当に変倍し、当該画像をカラ
ーCCDカメラ40で撮像する。しかも、この構造体5
0は結合ブロック13bに取り付けられているため、上
記のようにして被読取物Sの局部的な画像を撮像しなが
らモータコントローラによりX駆動用およびY駆動用パ
ルスモータを制御して2次元的に構造体50を移動させ
ると、被読取物S上の全体画像を読み取ることができ
る。
【0020】図4は、このカラー画像検査装置1の電気
的構成を上記光学的構成および機構的構成の制御系とと
もに示す図である。
【0021】この装置は、制御演算装置61としてCP
Uおよびメモリを有するコンピュータユニットを備えて
いる。この制御演算装置61の入出力装置としては、カ
ラーCRT62,キーボード63,マウス64,モノク
ロプロッタ65およびカラープリンタ66が設けられて
いる。また、制御演算装置61は音声ユニットコントロ
ーラ67を介して音声ユニット68を制御して作業者に
対して音声メッセージを伝える。また、制御演算装置6
1は照明コントローラ69を介して丸型蛍光灯22の点
灯・消灯制御できる。また、カラーCCDカメラ40で
得られるRGB3色成分の画像信号(画像情報)は画像
入力回路70に与えられ、適当な画像処理を受けた後、
制御演算装置61に送られる。また、制御演算装置61
は、モータコントローラ71を介してレンズ駆動用モー
タ32を制御できるとともに、モータコントローラ72
を介してX駆動用およびY駆動用パルスモータ14a,
14bをそれぞれ制御できる。さらに、外部記録媒体と
して、磁気ディスク73が制御演算装置61に電気的に
接続されている。
【0022】次に、上記のように構成されたカラー画像
検査装置の動作について図5ないし図30を参照しつつ
説明する。
【0023】まず、図30の最上段に示すような流れで
校正刷り(初校)PS1を準備する。すなわち、あらか
じめ指定された印刷指定内容に応じて原版フィルムF1
(F1Y,F1M,F1C,F1K)を作成し、その原版フ
ィルムF1を用いて焼付・現像処理を行うことで印刷版
P1(P1Y,P1M,P1C,P1K)を作成した後、印
刷版P1から校正刷り(初校)PS1を印刷する。
【0024】こうして作成された初校PS1を作業者が
透明ガラス板3上に載置し、キーボード63あるいはマ
ウス64を操作して初校読み取り指示を選択すると、初
校読み取り処理が実行される(図5;ステップS1)。
【0025】図6は、初校読み取り処理を示すフローチ
ャートである。この初校読み取り処理では、作業者が初
校読み取りメニューを選択する(ステップS101)
と、カラーCRT62に読み取りパラメータの入力を作
業者に促す。この読み取りパラメータは、初校PS1の
読み取り処理のみならず、後で説明する再校PS2の読
み取り処理にも関係するものである。この読み取りパラ
メータは「JOB名」、「構成紙サイズ」、「読み取り
解像度」、…などで構成されており、作業者がキーボー
ド63あるいはマウス64を操作して入力可能となって
いる。そして、作業者が読み取りパラメータを設定する
(ステップS102)と、これらの読み取りパラメータ
にしたがってステップS103〜S109を実行して初
校PS1上のカラー画像を読み取る。
【0026】このステップS103で、モータコントロ
ーラ71を介してレンズ駆動用モータ32を制御し、ズ
ームレンズの倍率を設定するとともに、モータコントロ
ーラ72を介してX駆動用およびY駆動用パルスモータ
14a,14bをそれぞれ制御してカラーCCDカメラ
40を含む構造体50を原点位置に復帰させる。そし
て、ステップS104で、カラーCCDカメラ40が読
取開始位置(カメラ初期位置)に位置するように、構造
体50を移動させる。
【0027】続いてステップS105で、カラーCCD
カメラ40により初校PS1上の画像を撮像し、当該画
像に関連するRGB3色成分の画像信号(画像情報)を
画像入力回路70に与え、適当に画像処理した後、制御
演算装置61のメモリ(図示省略)に記憶させる。こう
して、ステップS103で設定した倍率に応じた画像サ
イズで初校PS1上の画像の一部(1フレーム分の画
像)を読み取ることができる。
【0028】このように、この実施の形態では、カラー
CCDカメラ40により画像の一部のみを読み取るよう
に構成しているので、画像全体を上記1フレーム単位で
XおよびY方向に分割し、カラーCCDカメラ40をX
およびY方向に2次元的に移動させながら、各1フレー
ム分の画像を順次読み取るようにしている。
【0029】具体的には、ステップS106でY方向に
おけるカラーCCDカメラ40の移動回数がY方向に分
割した数(Y分割数)と一致したか否かを判別し、この
ステップS106で「No」と判別する間、ステップS
107でカラーCCDカメラ40をY方向に1フレーム
分だけ移動させた後、当該1フレーム分の画像を読み取
る(ステップS105)。一方、ステップS106で
「Yes」と判別すると、ステップS108に進む。
【0030】このステップS108でX方向におけるカ
ラーCCDカメラ40の移動回数がX方向に分割した数
(X分割数)と一致したか否かを判別し、このステップ
S108で「No」と判別すると、ステップS109で
カラーCCDカメラ40をX方向に1フレーム分だけ移
動させた後、当該1フレーム分の画像を読み取る(ステ
ップS105)。一方、ステップS108で「Yes」
と判別すると、ステップS110に進む。
【0031】このようにステップS105〜S109を
実行することで全フレームの画像を読み取ることがで
き、後述する検版処理において基準物となる初校PS1
の画像全体が読み取られる。その後で、ステップS11
0で読み取った初校PS1の画像をカラーCRT62に
表示する。そして、初校PS1の読み取りが終了したこ
とを音声ユニットコントローラ67を介して音声ユニッ
ト68より作業者に知らせる(音声アナウンス)。
【0032】上記のようにして初校PS1の読み取り処
理が完了すると、作業者は初校PS1を透明ガラス板3
から取り除いた後、初校PS1との比較の対象物たる再
校PS2を載置し、キーボード63あるいはマウス64
を操作して再校読み取り指示を選択すると、初校読み取
り処理が実行される(図5;ステップS2)。
【0033】図7は、再校読み取り処理を示すフローチ
ャートである。この再校読み取り処理では、作業者が再
校読み取りメニューを選択する(ステップS201)
と、ステップS102で設定された読み取りパラメータ
に基づきステップS202〜S208を実行して再校P
S2上の画像を読み取る。なお、ステップS202〜S
208のそれぞれは、先に説明したステップS103〜
S109に対応するものであり、被読取物が再校PS2
である点を除いて同一であるため、ここでは、それらの
処理内容の説明を省略する。
【0034】再校PS2の画像全体を読み取ると、読み
取った再校PS2の画像をカラーCRT62に表示した
(ステップS209)後、ステップS210で再校PS
2の読み取りが終了したことを音声ユニットコントロー
ラ67を介して音声ユニット68より作業者に知らせる
(音声アナウンス)。
【0035】上記のようにして再校PS2の読み取り処
理が完了すると、アライメント処理(図5;ステップS
3)を実行する。図8は、アライメント処理を示すフロ
ーチャートである。このアライメント処理では、作業者
が検版開始メニューを選択し(ステップS301)、さ
らにカラーCRT62上に表示された画像を見ながらマ
ウス64を操作してアライメントマークの概略位置を指
示する(ステップS302)ようになっている。通常、
製版−印刷工程での位置合わせのために、初校PS1お
よび再校PS2のそれぞれには、2個の十字マーク、い
わゆるトンボマークが印刷されており、これらをアライ
メントマークとして使用しているが、トンボマークが付
されていない場合やトンボマークが不鮮明である場合な
どには、画像の特徴部をアライメントマークとして利用
する。そこで、ステップS303で、アライメントマー
クとしてトンボマークを使用するのか、特徴部を利用す
るのかを作業者が選択し、その選択に応じてアライメン
ト基準座標を求める。
【0036】ステップS303で「トンボマーク」が選
択されると、ステップS304に進み、次のようにして
アライメント基準座標を求める。すなわち、図9に示す
ように、ステップS302で指定された領域A内では、
図9(a)に示すように、トンボマークRMが存在してお
り、各画素のRGB3色成分の色濃度をY方向に射影加
算すると、同図(b)に示すようなX方向における濃度分
布が得られる。また、同様にして、同図(c)に示すよう
なY方向における濃度分布が得られる。そして、この実
施の形態では、XおよびY方向のそれぞれにおいてトン
ボマークRMに対応して濃度が濃く最大の座標XC,YC
をアライメント基準座標としている。
【0037】一方、ステップS303で「特徴部」が選
択されると、ステップS305に進み、作業者がマウス
64を操作して特徴部の一点を指示し、この指示点の座
標をアライメント基準座標としている。
【0038】なお、ステップS304,305では、初
校PS1について2つのアライメント基準座標を、また
再校PS2について2つのアライメント基準座標を、そ
れぞれ求める。
【0039】そして、次のステップS306で、上記の
ようにして求められた4つのアライメント基準座標に基
づいて初校PS1に対する再校PS2の回転・移動量を
それぞれ演算する。続いて、ステップS307で再校P
S2の画像を回転・移動させて再校PS2が初校PS1
とを重ね合わせて両画像の一致・不一致の比較が可能と
なるように、再校PS2の画像情報(再校データ)を補
正する。
【0040】さらに、補正後の画像情報に基づき再校P
S2の画像全体をカラーCRT62に再表示する(ステ
ップS308)。
【0041】上記のようにしてアライメント処理が完了
すると、検版処理(図5;ステップS4)を行う。
【0042】図10は、検版処理を示すフローチャート
である。この検版処理では、作業者が「しきい値」,
「ゴミ取りサイズ」,「表示形式」,…などの検版条件
を設定する(ステップS401)と、初校PS1と再校
PS2との差異を検出する差異検出処理を実行する(ス
テップS402)。すなわち、初校PS1および再校P
S2の画像データをそれぞれ(n×m)個に分割し、分
割された領域ごとに初校PS1と再校PS2の画像を局
部的にマッチングさせながら両画像の差を計算し、その
差をステップS401で設定されたしきい値と比較す
る。そして、差がしきい値より大きい場合には、当該分
割領域において差異があるものと判別する。これによ
り、初校PS1と再校PS2との間で一致する一致箇所
と、両者PS1,PS2の間で不一致となる不一致箇所
とがそれぞれ検出される。なお、この不一致箇所につい
ては初校PS1に基づく修正により削除された減少箇所
と追加された増加箇所とがある。そして、ステップS4
01で設定された表示形式にしたがって差異表示の画像
を作成する。
【0043】差異検出処理(ステップS402)が完了
すると、ステップS403で輪郭抽出処理を行う。すな
わち、図11に示すように、初校PS1と再校PS2の
差がしきい値以上の画像データより連結したブロックB
(同図の斜線領域)を抽出する処理であり、初校PS1
と再校PS2との差異が大きい、例えば初校PS1にあ
った文字を校正により削除した場合には、当該文字サイ
ズに応じたブロックBが抽出される。また、微小なゴミ
が付着するなど校正に本質的に関係ない現象の結果、初
校PS1と再校PS2との差異が生じる場合には、比較
的微小なブロックBが生じる。このように初校PS1と
再校PS2との差が生じる原因の種類によってブロック
Bの大きさは大きく異なる。
【0044】輪郭抽出処理(ステップS403)が完了
すると、ステップS404に進み、輪郭抽出処理により
求められたブロックBの輪郭を構成する画素の数をカウ
ントし、ステップS401で設定されたゴミ取りサイズ
と比較する。その比較結果から、画素カウントがゴミ取
りサイズより多いブロックBについては、図12に示す
ように、ブロックBを取り囲む枠Fを仮想的に考え、こ
の枠Fを構成するX,Y座標のそれぞれについて最小位
置(Xmin,Ymin)および最大位置(Xmax,Ymax)を
求め、磁気ディスク73に格納する。
【0045】なお、以上の検版処理(図5;ステップS
4)については後に詳述する。
【0046】検版処理(図5;ステップS4)が完了す
ると、ステップS5(図5)に進み、検版処理の結果を
出力する。図13は出力処理を示すフローチャートであ
る。この出力処理では、作業者が出力メニューを選択
し、どのような形式で出力するかを決定する。そして、
ステップS502〜S511を実行して指定された出力
形式で出力する。
【0047】すなわち、まずステップS502で、モノ
クロプロッタ65へ枠を出力するか否かを判定し、「Y
es」と判定すると、ステップS404で求めた4つの
位置Xmin,Ymin,Xmax,Ymaxよりなる枠データを磁
気ディスク73から読み出し、プロッタ65によりブロ
ックBに対応する枠を描く(ステップS503)。一
方、ステップS502で「No」と判定した場合には、
ステップS504に進む。
【0048】このステップS504で、モノクロプロッ
タ65へ点を出力するか否かを判定し、「Yes」と判
定すると、ゴミ取りサイズよりも大きなブロックBにつ
いて、当該ブロックBを構成する画素の個々の位置座標
を求め、磁気ディスク73に格納するとともに、モノク
ロプロッタ65に位置座標を与えて各点をプロットする
(ステップS505)。一方、ステップS504で「N
o」と判定した場合には、ステップS506に進む。
【0049】このステップS506で、カラープリンタ
66に初校を出力するか否かを判定し、「Yes」と判
定すると、初校PS1の画像をカラープリンタ66に出
力する(ステップS507)。一方、ステップS506
で「No」と判定した場合には、ステップS508に進
む。
【0050】このステップS508で、カラープリンタ
66に再校PS2を出力するか否かを判定し、「Ye
s」と判定すると、再校PS2の画像をカラープリンタ
66に出力する(ステップS509)。一方、ステップ
S508で「No」と判定した場合には、ステップS5
10に進む。
【0051】このステップS510で、カラープリンタ
66に増減を出力するか否かを判定し、「Yes」と判
定すると、校正により追加された部分(増加部分)およ
び削除された部分(減少部分)の画像を一致箇所の画像
とともにカラープリンタ66に出力する(ステップS5
11)。一方、ステップS510で「No」と判定した
場合には、ステップS502に戻る。
【0052】こうして、指定された形式で検査結果が出
力される。
【0053】<2.実施の形態の検版処理>以下におい
て前述の検版処理(図5;ステップS4)についてより
詳細に説明する。
【0054】図5のステップS4の検版処理は図10の
フローチャートにその処理の概要が示されており、これ
に従ってより詳細に説明していく。
【0055】まず、ステップS401において作業者が
カラーCRT62に表示された以下のような入力項目に
従って検版条件を入力していく。
【0056】・しきい値・・・後に詳述する初校と再校
の画像の差異を判定する際の各色成分ごとの色調のしき
い値を指定する。
【0057】・ゴミ取りサイズ・・・後に詳述する初校
と再校の画素単位の差異が印刷上問題となるか、単なる
印刷ムラ等の問題のない差異であるかを識別する差異デ
ータのブロックの大きさのしきい値を指定する。
【0058】・表示形式・・・「初校と差異画像を重ね
て表示するか否か」と、初校と再校の画像の差異のうち
「再校のみに現れた画像のみ表示」、「再校でなくなっ
た画像のみ表示」「両方を表示」とを組み合わせて指定
する。
【0059】・表示方法・・・表示形式の選択項目で
「初校と差異画像を重ねて表示しない」を選択した場合
に「強調表示するか否か」や「ネガ表示かポジ表示」を
組み合わせて指定する。
【0060】・表示色・・・一致画像の表示色を「フル
カラー、白マスク、モノクロ」のいずれかに、また差異
画像の表示色を「フルカラー、モノクロ、赤、緑、青」
のいずれかに指定する。
【0061】・枠掛け・・・差異画像に重ねて表示する
枠の表示色や表示形式を指定する。
【0062】以上を指定してステップS401は終了す
る。
【0063】つぎに、ステップS402において、初校
と再校の画像の小区画ごとの局所的マッチングをしなが
ら、初校と再校の差異データを求めていく。
【0064】図14および図15は差異検出処理を示す
フローチャートである。以下、このフローチャートに従
って差異検出処理を説明していく。
【0065】まず、ステップS421では初校および再
校の画像データを各区画ごとに制御演算装置61内のメ
モリに読み込む。
【0066】図16は初校および再校の画像分割の説明
図である。なお、以下の説明図等においては、図の平面
内にX−Y座標系を設ける。
【0067】初校と再校は同じ区画に分割されてメモリ
内に記憶され、必要に応じて制御演算装置61内のCP
Uに読み出され、局所的マッチング等の各種処理を施さ
れる。なお、以下における各種処理はこのCPUにおい
てソフトウエア的に行われるものである。
【0068】局所的マッチング処理では図中の実線で区
切られた縦dy、横dxの長方形の区画を中心として初
校と再校の区画画像を比較するのであるが、局所的マッ
チングでは区画ごとに初校と再校の相対的位置を変位さ
せて最も一致する変位を求めるため、両画像とも実際に
はその区画の外側に点線で示されたX軸方向に幅Lx、
Y軸方向に幅Lyだけ周囲に広い領域の画像データを各
区画ごとにメモリに記憶する。但し、全体画像の外周の
部分では外側には画像がないので画像がない無地の画像
データを同様の幅だけ合成してメモリに記憶する。この
ようにして初校および再校の全区画の画像データをメモ
リに読み込むとステップS421は終了する。
【0069】つぎに、ステップS422においてステッ
プS421で読み込んだ初校の区画画像データを基に以
下で述べる射影和を求める。
【0070】図17は初校のXY方向の射影和の生成処
理を示すフローチャートである。このフローチャートは
ステップS422の処理をより詳細に示したものであ
る。
【0071】また、図18は初校および再校のXY方向
の射影和の生成の説明図である。以下図17のフローチ
ャートに従いながら図18を用いつつステップS422
の処理の説明を行っていく。
【0072】まず、ステップS4221では初校の1つ
の区画内の各画素ごとのR,G,Bの各色成分をそれぞ
れ加えた色成分和PGを求めてメモリに保存する。
【0073】つぎに、ステップS4222ではステップ
S4221で求めた色成分和PGの各画素行(後述)に
ついての和である射影和PXを求めて、メモリに記憶す
る。図18(a)は図16に示した全体画像の左下隅の
区画画像の例である。図中に示すX軸方向の区画画像内
の画素の並びを画素行とし、Y方向を画素列と定義す
る。この区画画像について求められた各画素の色成分和
PGを各画素行ごとに加えた射影和PXが示す波形が図
18(b)である。
【0074】つぎに、ステップS4223では同様に各
画素の色成分和PGを各画素列ごとに加えた射影和PY
を求めて、メモリに記憶する。この射影和PYが示す波
形が図18(c)である。この処理が終了すると図14
のステップS422の処理を終了する。
【0075】つぎに図14のステップS423におい
て、再校の各区画の画像に対してX軸およびY軸方向の
射影和SXおよびSYを求める。この処理はステップS
422と同様であり、各画素行ごとの射影和の波形は図
18(e)であり、各画素列ごとの射影和の波形は図1
8(f)である。
【0076】つぎに、ステップS424ではX方向の適
正変位およびX一致度を求める。図19はステップS4
24で行うX方向の適正変位およびX一致度の生成処理
を示すフローチャートである。以下、このフローチャー
トに従ってステップS424の処理を説明していく。
【0077】まず、ステップS4241において再校の
区画画像を変位させて初校の区画画像と局所的マッチン
グさせるための変位pの初期値として−Lxを代入す
る。
【0078】つぎにステップS4242において図14
のステップS422で求めたこの区画の射影和PXと、
ステップS423で求めたこの区画の画像をX方向に変
位p画素だけ変位させた射影和SX(p)をメモリから
読み出す。そしてステップS4243において各画素行
ごとに再校の射影和SX(p)と初校の射影和PXとの
差の絶対値を求め、それをこの区画内の全画素行に対し
て加算する。
【0079】つぎに、ステップS4244において変位
pに「1」を加算する。そして、ステップS4245に
おいて変位pがその最大値Lxより大きいか否かを判定
し、変位の最大値Lx以下であればステップS4241
に戻り、逆に最大値Lxより大きければステップS42
46に進む。
【0080】図20はX方向の適正変位決定の処理を示
す説明図である。ステップS4242〜ステップS42
45における処理によって図20(a)〜(e)に示す
ように、初校の区画画像とステップS4242で求めた
変位pだけ変位した再校の射影和SX(p)との各画素
行ごとの差の絶対値を求め、和SSXをとる処理を−L
x〜Lxの範囲の各変位pに対して行ったことになる。
【0081】つぎにステップS4246において和SS
Xが最小となる変位pを求め、この区画のX軸方向の適
正変位CXとし、メモリに記憶する。この様子を示した
のが図20(f)であり、異なる変位pに対する和SS
Xをプロットしたものである。図20(f)に示すよう
に和SSXが最小となる変位pを適正変位CXとしてメ
モリに記憶する。
【0082】つぎに、ステップS4247において、和
SSXの最小値に対する最大値の比をX一致度RXとし
て求め、メモリに記憶する。この処理が終了すると図1
4のステップS424の処理が終了する。
【0083】つぎに図14のステップS425におい
て、ステップS424と同様にY軸方向にも射影和の差
の絶対値の画素列ごとの和SSYを取り、最小となる適
正変位CYとY一致度RYを求める。
【0084】つぎに、ステップS426に進む。ステッ
プS426の処理の詳細は図21の初校のU軸およびV
軸方向の射影和の生成処理を示すフローチャートに示さ
れている。また、図22は初校および再校のU軸および
V軸方向の射影和生成の説明図である。図22に示すよ
うに、ここではこれまで用いてきた座標系X−Yに対し
て反時計回りに45度回転させた座標系U−Vに対して
座標系X−Yと同様の処理を行う。すなわち、初校の区
画画像において縦dy、横dxの長方形の区画に対して
その上辺と下辺にその頂点において接する正方形の領域
を考え、この領域に対してU方向およびV方向の射影和
PUおよびPVを求める。ただし、全体画像のY軸方向
の上端の区画ではその区画の上端から幅Lyだけ下方
に、下端の区画ではその区画の下端から幅Lyだけ上方
に狭まった領域に対して、その頂点において内接する正
方形の領域における射影和PUおよびPVを求めるもの
とする。図22は全体画像の左下隅の区画の例を示して
おり、上記のような場合を示している。同様にステップ
S427では再校の区画画像においてU方向およびV方
向の射影和SUおよびSVを求める。
【0085】つぎに、ステップS428に進む。図23
はステップS428のU方向の適正変位および一致度の
生成処理をより詳細に示すフローチャートである。この
フローチャートから分かるようにこのステップS428
においては、ステップS424と同様にU軸方向の局所
的マッチングを行い、U軸方向の適正変位CUや、U一
致度RUを求める。ただし、ここでは変位pは−Lu〜
Luの範囲で変位し、この変位の最大値LuはLu=L
x/2としている。
【0086】つぎにステップS429においてV方向の
適正変位CVおよびV一致度RVの生成処理を行うがこ
こでの処理はステップS428と同様である。ただし、
ここでは変位pは−Lv〜Lvの範囲で変位し、この変
位の最大値LvはLv=Ly/2としている。
【0087】つぎに、図15のステップS430に進
む。図24はステップS430のX方向の最適変位の決
定処理をより詳細に示すフローチャートである。なお、
このフローチャートにおいては、各一致度に対するしき
い値を用いているがこれらは予め磁気ディスク73に記
憶されているものを制御演算装置61内のメモリに読み
出してあるものを使用している。
【0088】まず、ステップS4301においてはX一
致度RX,U一致度RU,V一致度RVの一致度の良さ
を判定し、XおよびY一致度に対するしきい値sxyよ
りX一致度RXが小さく、かつUおよびV一致度に対す
る第一のしきい値suv1よりU一致度RUが小さく、
かつしきい値suv1よりV一致度RVが小さい場合に
はステップS4302に進み、そうでなければステップ
S4303に進む。なお、しきい値sxy,suv1は
それぞれ「1」より大きいが余り大きすぎない値が選ば
れている。
【0089】ステップS4302ではX一致度RX,U
一致度RU,V一致度RVが余り大きくとられていない
ことからも分かるように、X軸方向の適正変位CXにお
ける初校の区画画像と再校の区画画像との局所的マッチ
ングがあまりよい一致を示しておらず、また、Uおよび
V方向の局所的マッチングもあまりよい一致を示さなか
った場合に相当するので局所的マッチング不可能として
X方向の最適変位を「0」とするものである。
【0090】また、ステップS4303に至る場合には
X一致度RX,U一致度RU,V一致度RVのうちのい
ずれかがよい一致を示した場合に相当する。そして、ス
テップS4303ではUおよびV一致度を再度判定す
る。すなわち、UおよびV一致度より第二のしきい値s
uv2よりU一致度RUが小さく、かつしきい値suv2
よりV一致度RVが小さい場合にはステップS4304
に進み、そうでなければステップS4305に進む。な
お、しきい値suv2はしきい値suv1より大きい値が
選ばれている。
【0091】ステップS4304に至る場合はU一致度
RU,V一致度RVがどちらもしきい値suv2より小
さく、U方向およびV方向の局所的マッチングがあまり
よい一致を示さなかった場合に相当し、この場合はX方
向の局所的マッチングの結果得られた適正変位CXを最
適変位DXとする。
【0092】また、ステップS4305ではX方向の適
正変位CXにU方向およびV方向の適正変位CUおよび
CVのX軸方向への射影を加算した値をX方向の最適変
位DXとする。このようにしてX方向の最適変位DXを
補正することにより、最適変位DXがより正確に求めら
れる。その顕著な例を示したのが図25である。
【0093】図25はUV方向の射影和による補正が有
効な場合を示す説明図であり、ほぼ45度方向に直線状
に伸びた画像のみが区画画像中にある場合を示してい
る。この区画ではX方向の射影和SX(p)はこの区画
内の全画素行に渡って等しい値を取っているため、図1
4のステップS424で和SSXの最小値と最大値がほ
ぼ等しく正確な局所的マッチングが行えないが、V方向
の射影和にははっきりしたピークが現れている。したが
って、V方向の適正変位がはっきり求まり、V方向の一
致度RVが大きな値になるため、これによる最適変位の
補正が有効にきいてくる。
【0094】以上のようにステップS4302、ステッ
プS4304またはステップS4305が終了するとス
テップS430の処理は終了する。
【0095】つぎに、図15のステップS431におい
てY方向の最適変位の決定処理もステップS430と同
様である。
【0096】つぎに図15のステップS432において
初校および再校の全区画の処理が終了したかどうかの判
断を行い、終了していなければ次の区画の処理に移るた
めステップS421に戻る。逆に、終了していればステ
ップS433の処理に移る。
【0097】ステップS433では初校と再校の画像の
差異の位置を示す差異データを生成する。図26はステ
ップS433の差異データの生成処理をより詳細に示す
フローチャートである。また、図27は差異データの生
成処理の説明図である。
【0098】この図27(a)および(b)に示すよう
に、初校と再校に差異がある場合、図27(c)のよう
な両画像の差異部分のみ存在する位置を示したデータが
差異データである。すなわち、初校および再校の画素デ
ータはRGB各色成分を持ったデータであるが、差異デ
ータはメモリ上に各画素ごとに異なる領域を用意し、差
異のない画素に対応する領域には「0」を、差異のある
領域には「1」を記憶するものである。初期値としては
全領域に「0」が記憶されている。
【0099】以下、図27を用いながらステップS43
3の処理の詳細を説明していく。
【0100】まず、ステップS4330において、初校
および再校の全画素の画像からR,G,B各色成分ごと
に再校にあって初校にない画素の色成分を増色、初校に
あって再校にない画素の色成分を減色として記憶する。
【0101】つぎに、ステップS4331において全画
素に対して以下の処理が終了したかを判定し全画素終了
していたらステップS433の処理は終了する。逆に終
了していない場合にはステップS4332おいて、その
画素の各色成分の増色と減色の和と図10においてステ
ップS401で入力した、R,G,B各色成分のしきい
値とを比較し、いずれかの和がしきい値より大きい場合
にはステップS4333においてその画素に対応するメ
モリ内の領域に「1」を記憶する。逆にいずれの色成分
の和もしきい値以下の場合には次の画素データを読み込
むためにステップS4331に戻る。そして、前述のよ
うに全画素に対して以上の処理が終了するとステップS
433の処理を終了する。
【0102】つぎに図15のステップS434において
区画ごとに求められていた差異データからステップS4
01で入力された差異表示画像の表示色の全体画像デー
タを求めメモリに記憶する。そして以上で図10のステ
ップS402の処理は終了する。
【0103】つぎに、図10のステップS403の処理
に移る。ステップS403では差異データから差異のあ
る画素が隣接して連結したブロックBの抽出を行う。図
28はブロック抽出処理の説明図である。以下、図28
をもとにブロック抽出処理を説明していく。
【0104】まず、全体画像の左下隅をスタート画素と
し、Y軸方向に差異データが「1」である画素を検索し
ていき、1画素列分Y方向に差異データを検索し終わっ
たら、順次そのX軸方向の隣りの画素列を検索してく。
【0105】最初に「1」を見つけたメモリ内の領域に
対応する画素の座標をそのブロックBの始点とするとと
もにX軸方向およびY軸方向の最大値であるX最大値X
maxおよびY最大値Ymaxおよび最小値であるX最小値X
minおよびY最小値Yminとして記憶する。さらに、メモ
リ内のその領域のデータを検索済みとして「2」にす
る。
【0106】つぎに、検索の入射方向の45度右下方向
の画素を検索する。そしてそこが「1」でなければ始点
に隣接する周囲の領域を順に反時計回りに検索してい
く。逆に、「1」であればこの画素に対応するメモリ内
の領域のデータを「2」にする。そして、この画素の座
標のX成分とX最小値Xminと比較し、そのX最小値Xm
inより小さければそれを更新し、そうでなければ更新し
ない。同様に、X最大値Xmaxとも比較し、それより大
きい場合のみX最大値Xmaxを更新する。さらに、この
画素の座標のY成分もY最大値YmaxおよびY最小値Ym
inと比較し同様の判定によって更新する。
【0107】以上のような処理をそのブロックBの始点
に戻るまで繰返す。
【0108】そして、さらにつぎのブロックBの始点を
検索して、同様の処理を行っていき、差異データの全体
の検索が終了するとステップS403の処理は終了す
る。
【0109】なお、始点のみに対してはその入射方向の
右下から反時計回りに検索していき、その始点の上の画
素まで「1」の画素がなければこのブロックBの検索を
終了する。
【0110】つぎに、図10のステップS404に進
む。図29は枠作成処理の説明図である。このステップ
S404ではまずステップS403で求められた差異デ
ータのブロックBの画素数をブロックBごとにカウント
する。
【0111】まず、記憶されているX最小値Xminおよ
びY最小値YminをそのX成分およびY成分とする座標
位置からY軸の正方向に差異データが「2」である画素
と「2」の上となりにある「1」の画素の数を数えてい
く。
【0112】そして、数えた差異データ「1」は「2」
に替えていき、同様の処理を繰返しながらY軸方向の成
分がY最大値Ymaxである画素まで検索すると、順次そ
の右隣の画素列の検索に移り、最終的に、X成分がX最
大値XmaxでY成分がY最大値Ymaxである画素に対応す
る差異データに至るとこのブロックBの差異データのカ
ウントは終了する。
【0113】そして、このブロックBでのカウント数、
すなわちこのブロックBに含まれる差異データの画素数
がステップS401で指定したゴミ取りサイズより大き
ければこのブロックBの(Xmin,Ymin)および(Xma
x,Ymax)をこのブロックの枠の座標として磁気ディス
クに保存する。逆に、ゴミ取りサイズより大きくなけれ
ば保存しない。以上のような処理を各ブロックBに対し
て行い、全ブロックBに対して処理が終了するとステッ
プS404は終了する。
【0114】そして、以上で検版処理は終了する。
【0115】以上のように、この実施の形態によれば、
初校画像と再校画像をカラーCCDカメラで捉え、初校
画像と再校画像のそれぞれについて各画素ごとに複数の
色成分のそれぞれを加算した色成分和を求め、その色成
分和をもとに初校画像と再校画像を比較して検査する構
成としたので、初校と各色の印刷版や原版フィルム等と
いったカラー画像と単色画像とを比較したり、初校と再
校といったカラー画像同士を比較することができるた
め、製版工程中の修正ミスのみならず、原版フィルム作
成後から印刷完了までの段階で発生するミスをも含めた
広範囲の検査を行うことができる。
【0116】また、初校画像および再校画像のそれぞれ
に座標系X−Yとそれを反時計回りに45度回転した座
標系U−Vを備え、両画像の区画ごとに座標系について
のR,G,Bの色成分和を求めてその射影和の波形を求
め、さらに、その初校画像と再校画像の区画ごとの射影
和の波形の一致度を求め、そのうち座標系X−Yにおけ
る初校画像と再校画像の一致度が座標系X−Yにおける
しきい値sxyより小さく、かつ座標系U−Vにおける
初校画像と再校画像の一致度が、座標系U−Vにおける
しきい値suv2より大きいときには座標系X−Yによ
る変位を座標系U−Vにおける変位で補正する構成とし
たため、優先座標系に対して45度方向に伸びる画像に
対する処理を行うような最適変位が正確に求まらないよ
うな場合でも、座標系U−Vによる補正によって最適変
位が求まるため、より正確なカラー画像の検査を行うこ
とができる。
【0117】なお、上記実施の形態では初校と再校の比
較による検査を行う場合について説明したが、校正刷り
と印刷版や原版フィルム等との比較をすることも可能で
ある。その際には各色の印刷版や原版フィルムはモノト
ーンであるが、それらをカラーCCDカメラで撮像し各
色成分に対して色成分和を取り、局所的マッチング処理
を行う。そして、その場合にはステップS424、ステ
ップS425において単一の色成分を基にして一致度を
求めているため一致度に所定の倍率を掛ける。
【0118】また、初校および再校としてフルカラーを
想定したが2色刷り等の場合にもモノトーンの場合と同
様に扱える。
【0119】また、上記実施の形態では座標系として座
標系X−Yおよび座標系U−Vの2つの座標系を用いた
が、さらに多くの座標系を用いてそれによる補正を行う
構成としてもよい。
【0120】さらに、上記実施の形態では座標系X−Y
に対して45度回転した座標系U−Vを用いたがこの発
明はそれに限られるものではなく30度回転した座標系
等を用いてもよい。
【0121】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、基準
画像と対象画像のそれぞれについて各画素ごとの色成分
和の空間的分布の一致度に応じて基準画像と対象画像と
の比較のための最適の相対的変位を特定し、その上で基
準画像と対象画像を比較して検査する構成としたので、
初校と各色の印刷版や原版フィルム等といったカラー画
像と単色画像とを比較したり、初校と再校といったカラ
ー画像同士を比較することができるため、製版工程中の
修正ミスのみならず、原版フィルム作成後から印刷完了
までの段階で発生するミスをも含めた広範囲の検査を行
うことができる。
【0122】特に、前記色成分和の2次元直交座標系の
座標軸への加算射影を利用すれば、一致度が最大の変位
を特定する処理が容易となる。
【0123】さらに、複数の2次元直交座標系での一致
度の判定結果を組み合わせることによって、画像が伸び
る方向とひとつの座標系の座標軸とが一致するような場
合であっても、他の座標系での判定結果によってその補
正が可能である。
【0124】特に、互いに45度ずれた2つの座標系を
採用することによって、一方の座標系で見落とされる画
像の位置ズレを他方の座標系において最大の感度で検出
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかるカラー画像検査装置のひとつ
の実施の形態の部分外観図である。
【図2】カバー部材を透明ガラス板上に倒した状態で
の、図1のカラー画像検査装置の断面図である。
【図3】構造体の構成を示す斜視図である。
【図4】図1のカラー画像検査装置の電気的構成を上記
光学的構成および機構的構成の制御系とともに示す図で
ある。
【図5】図1のカラー画像検査装置の全体動作を示すフ
ローチャートである。
【図6】初校読み取り処理を示すフローチャートであ
る。
【図7】再校読み取り処理を示すフローチャートであ
る。
【図8】アライメント処理を示すフローチャートであ
る。
【図9】アライメント処理の内容を示す模式図である。
【図10】検版処理を示すフローチャートである。
【図11】検版処理の内容を示す模式図である。
【図12】検版処理の内容を示す模式図である。
【図13】出力処理を示すフローチャートである。
【図14】差異検出処理を示すフローチャートである。
【図15】差異検出処理を示すフローチャートである。
【図16】初校および再校の画像分割の説明図である。
【図17】初校のXY方向の射影和の生成処理を示すフ
ローチャートである。
【図18】初校および再校のXY方向の射影和生成の説
明図である。
【図19】X方向の適正変位および一致度の生成処理を
生成処理を示すフローチャートである。
【図20】X方向の適正変位決定の処理を示す説明図で
ある。
【図21】初校のUV方向の射影和の生成処理を示すフ
ローチャートである。
【図22】初校および再校のUV方向の射影和生成の説
明図である。
【図23】U方向の適正変位および一致度の生成処理を
生成処理を示すフローチャートである。
【図24】UV方向の射影和による補正が有効な場合を
示す説明図である。
【図25】X方向の最適変位の決定処理を示すフローチ
ャートである。
【図26】差異データの生成処理を示すフローチャート
である。
【図27】差異データの生成処理の説明図である。
【図28】ブロック抽出処理の説明図である。
【図29】枠作成処理の説明図である。
【図30】この発明の技術背景である製版工程−校正処
理の流れを示す模式図である。
【符号の説明】
40 カラーCCDカメラ(カラー撮像手段) 61 制御演算装置(差異検出手段) 73 磁気ディスク B ブロック CU,CV,CX,CY 適正変位 DX 最適変位 PG 色成分和 PU,PX,PY 射影和 RV 一致度 SSX,SSY 和 SU,SX,SY 射影和 Xmin,Ymin XおよびY最小値 Xmax,Ymax XおよびY最大値 dx 区画の横長 dy 区画の縦長 p 変位

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準物と対象物の画像をカラー撮像手段
    によって捉え、前記基準物から得られた画像を基準画像
    とするとともに、前記対象物から得られた画像を対象画
    像とし、前記基準画像と前記対象画像とを比較して検査
    するカラー画像検査装置であって、 (a) 前記基準画像と前記対象画像のそれぞれについて、
    画素ごとに複数の色成分を加算した色成分和を求める色
    成分加算手段と、 (b) 前記基準画像と前記対象画像とを相対的に種々変位
    させ、前記変位のそれぞれにおいて前記基準画像および
    前記対象画像の各画素の前記色成分和の空間的分布の一
    致度を判定し、前記一致度が最大のものを最適変位とし
    て決定する最適変位決定手段と、 (c) 前記最適変位だけ相対的に変位させた状態で前記基
    準画像と前記対象画像との画像を相互に比較することに
    より、前記基準画像と前記対象画像との画像の差異を検
    出する差異検出手段と、を備えることを特徴とするカラ
    ー画像検査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1のカラー画像検査装置におい
    て、 前記最適変位決定手段が、 (b-1) 前記変位のそれぞれにおいて、前記基準画像およ
    び前記対象画像を小区画に分割して基準区画画像と対象
    区画画像とを得る区画画像作成手段と、 (b-2) 前記変位のそれぞれにおいて、所定の2次元直交
    座標系の各軸方向に前記色成分和を加算射影する処理を
    前記基準区画画像と前記対象区画画像とに適用すること
    により、基準波形と対象波形とを得る色成分和加算手段
    と、 (b-3) 前記変位のそれぞれにおいて、前記基準波形と前
    記対象波形とを比較することにより前記基準波形と前記
    対象波形との一致の程度を判定する比較手段と、 (b-4) 前記変位のそれぞれにおける前記一致の程度のう
    ち最大のものに対する変位を前記最適変位として決定す
    る変位決定手段と、を備えることを特徴とするカラー画
    像検査装置。
  3. 【請求項3】 請求項2のカラー画像検査装置におい
    て、 前記2次元直交座標系として、あらかじめ優先座標系と
    その他の座標系とに分類され、かつそれぞれの座標軸の
    方向が互いに異なる複数の2次元直交座標系が規定され
    ており、 前記色成分和加算手段が、前記優先座標系と前記その他
    の座標系との各軸について前記基準波形と前記対象波形
    とを求める手段とされ、 前記変位決定手段が、前記優先座標系における前記一致
    の程度が第1の閾値より小さく、かつ前記その他の座標
    系における前記一致の程度が第2の閾値より大きいとき
    には、前記優先座標系での前記一致の程度に応じて特定
    される適正変位を、前記その他の座標系での前記一致の
    程度に応じて特定される適正変位で補正して前記最適変
    位を決定する手段とされていることを特徴とするカラー
    画像検査装置。
  4. 【請求項4】 請求項3のカラー画像検査装置におい
    て、 前記その他の座標系は、前記優先座標系を相対的に45
    度回転した座標系であることを特徴とするカラー画像検
    査装置。
JP1439496A 1996-01-30 1996-01-30 カラー画像検査装置 Withdrawn JPH09211836A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1439496A JPH09211836A (ja) 1996-01-30 1996-01-30 カラー画像検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1439496A JPH09211836A (ja) 1996-01-30 1996-01-30 カラー画像検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09211836A true JPH09211836A (ja) 1997-08-15

Family

ID=11859850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1439496A Withdrawn JPH09211836A (ja) 1996-01-30 1996-01-30 カラー画像検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09211836A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3515199B2 (ja) 欠陥検査装置
JP3242008B2 (ja) 製版プロセスにおける画像検査方法および画像検査装置
KR20050051535A (ko) 결함 검사 장치
JPH061173B2 (ja) 曲面性状検査装置
JPH0513443B2 (ja)
JPH09211836A (ja) カラー画像検査装置
EP0370527B1 (en) Method of and apparatus for inspecting substrate
JP2006234554A (ja) パターン検査方法およびパターン検査装置
JP3639803B2 (ja) カラー画像検査装置
EP0198571B1 (en) Method and system for patching original and extracting original-trimming data in scanner
JP3212502B2 (ja) カラー画像検査装置
JPH09197647A (ja) カラー画像検査装置およびカラー画像検査方法
JPS60200382A (ja) パタ−ン検査方法及び装置
JP3264020B2 (ja) 検査用データ作成方法および実装部品検査装置
JPH08194736A (ja) 現物照合機能を備えたcadシステム
JP3189308B2 (ja) はんだ付検査結果の表示方法およびその装置,はんだ付不良の修正方法,ならびにはんだ付検査装置
JPH113424A (ja) 画像検査装置
JP3119103B2 (ja) 検版装置
JPH0894534A (ja) パターン欠陥検出装置
JPH1139463A (ja) 画像読取り装置およびそれを用いた画像検査装置
JPH0634336A (ja) 回路基板パターンの寸法計測方法とその装置、並びに回路基板の良否選別方法とその装置
JPH0712748A (ja) 曲面形状検査装置
JPH0679155B2 (ja) 画像走査記録装置におけるレジスターマーク記録装置
JPS5891451A (ja) カラ−印刷における部分修正ポジフイルムの検査方法
JPH10162145A (ja) パターンマッチング法における登録パターンの中心座標データの補正データを演算する演算装置及びそれを用いるレーザ描画装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030401