JPH09210897A - 耐候性試験装置 - Google Patents
耐候性試験装置Info
- Publication number
- JPH09210897A JPH09210897A JP3425196A JP3425196A JPH09210897A JP H09210897 A JPH09210897 A JP H09210897A JP 3425196 A JP3425196 A JP 3425196A JP 3425196 A JP3425196 A JP 3425196A JP H09210897 A JPH09210897 A JP H09210897A
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- Pending
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】試料表面の温度を設定温度に維持し、また４５
０ｎｍ以上の波長域を加えた自然状態の暴露試験を行な
う。 【解決手段】試験装置本体１１の内部に収納してなる紫
外線光源２１と試料台１５の間に、紫外線と可視光を透
過する仕切板１４を配置し、また同仕切板の下側に短波
長をカットするフィルター１７を配置し、さらにフィル
ターと試料台の間に冷却風を送るようにして耐候性試験
装置を構成する。
０ｎｍ以上の波長域を加えた自然状態の暴露試験を行な
う。 【解決手段】試験装置本体１１の内部に収納してなる紫
外線光源２１と試料台１５の間に、紫外線と可視光を透
過する仕切板１４を配置し、また同仕切板の下側に短波
長をカットするフィルター１７を配置し、さらにフィル
ターと試料台の間に冷却風を送るようにして耐候性試験
装置を構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は耐候性試験装置の改
良に関する。
良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来一般に実施されている耐候性試験装
置は、図３に示すように、耐候性試験装置本体１の内部
に４キロワット程度の紫外線放射ランプ２を装着し、同
紫外線放射ランプの下側に紫外線を透過する仕切板３を
配置し、さらに仕切板３の下側の試料室４に試料台５を
設け、紫外線放射ランプからの紫外線を試料に投射し、
試料の耐候性を試験することが実施されている。ところ
で従来の試料の中、塗料は４５０ｎｍ以下の紫外線に吸
収する特性を有する。
置は、図３に示すように、耐候性試験装置本体１の内部
に４キロワット程度の紫外線放射ランプ２を装着し、同
紫外線放射ランプの下側に紫外線を透過する仕切板３を
配置し、さらに仕切板３の下側の試料室４に試料台５を
設け、紫外線放射ランプからの紫外線を試料に投射し、
試料の耐候性を試験することが実施されている。ところ
で従来の試料の中、塗料は４５０ｎｍ以下の紫外線に吸
収する特性を有する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかるに近年は４５０
ｎｍ以上の波長域に吸収特性を有する塗料が開発されて
いるが、上記した耐候性試験装置は、上限が試料劣化に
影響を及ぼす４５０ｎｍ以上の波長域をカットする特性
であるので、４５０ｎｍ以上の波長域に吸収特性を有す
る試料については、試験することができない欠点があ
る。また４５０ｎｍ以上の波長域に吸収特性を有しない
フィルターとすると、試料の表面温度が上昇し試験する
ことができない欠点がある。
ｎｍ以上の波長域に吸収特性を有する塗料が開発されて
いるが、上記した耐候性試験装置は、上限が試料劣化に
影響を及ぼす４５０ｎｍ以上の波長域をカットする特性
であるので、４５０ｎｍ以上の波長域に吸収特性を有す
る試料については、試験することができない欠点があ
る。また４５０ｎｍ以上の波長域に吸収特性を有しない
フィルターとすると、試料の表面温度が上昇し試験する
ことができない欠点がある。
【０００４】本発明は上記の点に鑑み発明したものであ
って、試料表面の温度上昇を一定以下に抑えることがで
き、さらに４５０ｎｍ以上の波長域を加えた試験を行な
うことができる耐候性試験装置を提供することを目的と
する。
って、試料表面の温度上昇を一定以下に抑えることがで
き、さらに４５０ｎｍ以上の波長域を加えた試験を行な
うことができる耐候性試験装置を提供することを目的と
する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために次の構成とする。つまり請求項１に記載の発
明は、紫外線放射放電ランプを有し、紫外線と紫外線域
より長い波長の光を試料に照射する耐候性試験装置に関
する。また試験装置本体の内部に収納してなる紫外線光
源と試料台の間に、紫外線と可視光を透過する仕切板を
設け、また同仕切板の下側に短波長をカットするフィル
ターを配置して構成してある。またフィルターと試料台
の間に冷却風を送るように構成してある。
するために次の構成とする。つまり請求項１に記載の発
明は、紫外線放射放電ランプを有し、紫外線と紫外線域
より長い波長の光を試料に照射する耐候性試験装置に関
する。また試験装置本体の内部に収納してなる紫外線光
源と試料台の間に、紫外線と可視光を透過する仕切板を
設け、また同仕切板の下側に短波長をカットするフィル
ターを配置して構成してある。またフィルターと試料台
の間に冷却風を送るように構成してある。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下本発明の耐候性試験装置を図
１および図２について説明する。図１および図２におい
て、１１は試験装置本体であって、試験試料室１２と光
源収納室１３を有して構成してある。１４は試験試料室
１２と光源収納室１３を仕切る仕切板であって、紫外線
と可視光を透過する。同仕切板は試験試料室１２と光源
収納室１３を仕切り、試験試料室内の温度状態を維持す
る。
１および図２について説明する。図１および図２におい
て、１１は試験装置本体であって、試験試料室１２と光
源収納室１３を有して構成してある。１４は試験試料室
１２と光源収納室１３を仕切る仕切板であって、紫外線
と可視光を透過する。同仕切板は試験試料室１２と光源
収納室１３を仕切り、試験試料室内の温度状態を維持す
る。
【０００７】１５は試験試料室１２の内部に収納してな
る試料台であって、高さを可変できるように構成してあ
る。１６は試料台１５の上部に配置してなる試料であっ
て、例えばプラスチック，金属表面の塗膜，ゴムであ
る。１７は仕切板１４と試料台１５の間に配置してなる
短波長をカットするフィルターであって、図２に示すよ
うに、２９５ｎｍ以下の短波長をカットするように構成
してある。
る試料台であって、高さを可変できるように構成してあ
る。１６は試料台１５の上部に配置してなる試料であっ
て、例えばプラスチック，金属表面の塗膜，ゴムであ
る。１７は仕切板１４と試料台１５の間に配置してなる
短波長をカットするフィルターであって、図２に示すよ
うに、２９５ｎｍ以下の短波長をカットするように構成
してある。
【０００８】１８はフィルター１７と試料台１５の間に
温風または冷却風を送るための送風機であって、試料台
１５の上部がたえず設定温度になるように構成してあ
る。１９は送風機１８の内部に配置してなるヒーターで
あって、フィルター１７と試料台１５の間に温風を送る
ときに使用する。２０は送風機１８の内部に配置してな
る冷却器であって、フィルター１７と試料台１５の間に
冷却風を送るときに使用する。また温風と冷却風を一定
のサイクルごとに送り試験することも実施される。
温風または冷却風を送るための送風機であって、試料台
１５の上部がたえず設定温度になるように構成してあ
る。１９は送風機１８の内部に配置してなるヒーターで
あって、フィルター１７と試料台１５の間に温風を送る
ときに使用する。２０は送風機１８の内部に配置してな
る冷却器であって、フィルター１７と試料台１５の間に
冷却風を送るときに使用する。また温風と冷却風を一定
のサイクルごとに送り試験することも実施される。
【０００９】２１は光源収納室１３に収納してなる紫外
線放射放電ランプであって、例えば４キロワットの光源
を用いて構成してある。また同紫外線放射放電ランプは
水冷ジャケット２２に収納して構成してある。２３は紫
外線放射放電ランプ２１を覆って構成してなる主反射板
である。２４は光源収納室１３内で、紫外線放射放電ラ
ンプ２１の下側に配置してなる補助反射板である。
線放射放電ランプであって、例えば４キロワットの光源
を用いて構成してある。また同紫外線放射放電ランプは
水冷ジャケット２２に収納して構成してある。２３は紫
外線放射放電ランプ２１を覆って構成してなる主反射板
である。２４は光源収納室１３内で、紫外線放射放電ラ
ンプ２１の下側に配置してなる補助反射板である。
【００１０】上記した耐候性試験装置の試料台に、例え
ばプラスチック，金属表面の塗膜，ゴムのいずれか一つ
を載置し、フィルター１７と試料台１５の間に温風また
は冷却風を送りながら紫外線放射放電ランプ２１を点灯
する。また耐候性試験は、例えば紫外線照射による試験
と結露による試験を一定のサイクル毎に行なう。
ばプラスチック，金属表面の塗膜，ゴムのいずれか一つ
を載置し、フィルター１７と試料台１５の間に温風また
は冷却風を送りながら紫外線放射放電ランプ２１を点灯
する。また耐候性試験は、例えば紫外線照射による試験
と結露による試験を一定のサイクル毎に行なう。
【００１１】
【発明の効果】上記した本発明によると、試料表面の温
度を設定温度に維持し、さらに４５０ｎｍ以上の波長域
を加えた自然状態の暴露試験を行なうことができる特別
な効果を有する。
度を設定温度に維持し、さらに４５０ｎｍ以上の波長域
を加えた自然状態の暴露試験を行なうことができる特別
な効果を有する。
【図１】本発明に係る耐候性試験装置の正面図。
【図２】図１の耐候性試験装置のフィルターの特性図。
【図３】従来の耐候性試験装置の正面図。
１１ 試験装置本体 １２ 試験試料室 １３ 光源収納室 １４ 仕切板 １５ 試料台 １６ 試料 １７ フィルター １８ 送風機 １９ ヒーター ２０ 冷却器 ２１ 紫外線放射放電ランプ ２２ 水冷ジャケッ ２３ 主反射板 ２４ 補助反射板
Claims (1)
- 【請求項１】紫外線放射放電ランプを有し、紫外線と紫
外線域より長い波長の光を試料に照射する耐候性試験装
置において、 試験装置本体の内部に収納してなる紫外線光源と試料台
の間に、紫外線と可視光を透過する仕切板を設け、同仕
切板の下側に短波長をカットするフィルターを配置し、
さらにフィルターと試料台の間に冷却風を送るように構
成したことを特徴とする耐候性試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3425196A JPH09210897A (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 耐候性試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3425196A JPH09210897A (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 耐候性試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09210897A true JPH09210897A (ja) | 1997-08-15 |
Family
ID=12408958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3425196A Pending JPH09210897A (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 耐候性試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09210897A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102439414A (zh) * | 2009-04-28 | 2012-05-02 | 爱斯佩克株式会社 | 结露试验装置及结露试验方法 |
| CN102866098A (zh) * | 2012-08-04 | 2013-01-09 | 无锡科隆试验设备有限公司 | 一种周期浸润试验箱 |
| CN103196818A (zh) * | 2013-03-19 | 2013-07-10 | 同济大学 | 沥青紫外线光老化强度分区测试方法 |
| CN103792179A (zh) * | 2013-12-17 | 2014-05-14 | 兰州空间技术物理研究所 | 薄膜材料在轨暴露试验形变在线测试探头及其测试的方法 |
| US8822962B2 (en) | 2011-03-16 | 2014-09-02 | Iwasaki Electric Co., Ltd. | Ultraviolet irradiator and ultraviolet irradiating apparatus using the same |
-
1996
- 1996-01-30 JP JP3425196A patent/JPH09210897A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102439414A (zh) * | 2009-04-28 | 2012-05-02 | 爱斯佩克株式会社 | 结露试验装置及结露试验方法 |
| US8763480B2 (en) | 2009-04-28 | 2014-07-01 | Espec Corp. | Dew formation testing device and dew formation testing method |
| EP2426478B1 (en) * | 2009-04-28 | 2023-03-08 | Espec Corp. | Condensation testing device and condensation testing method |
| US8822962B2 (en) | 2011-03-16 | 2014-09-02 | Iwasaki Electric Co., Ltd. | Ultraviolet irradiator and ultraviolet irradiating apparatus using the same |
| CN102866098A (zh) * | 2012-08-04 | 2013-01-09 | 无锡科隆试验设备有限公司 | 一种周期浸润试验箱 |
| CN103196818A (zh) * | 2013-03-19 | 2013-07-10 | 同济大学 | 沥青紫外线光老化强度分区测试方法 |
| CN103792179A (zh) * | 2013-12-17 | 2014-05-14 | 兰州空间技术物理研究所 | 薄膜材料在轨暴露试验形变在线测试探头及其测试的方法 |
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