JPS5871439A - 促進耐候性試験方法とその装置 - Google Patents
促進耐候性試験方法とその装置Info
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- JPS5871439A JPS5871439A JP17060981A JP17060981A JPS5871439A JP S5871439 A JPS5871439 A JP S5871439A JP 17060981 A JP17060981 A JP 17060981A JP 17060981 A JP17060981 A JP 17060981A JP S5871439 A JPS5871439 A JP S5871439A
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- Japan
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- wavelength
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
- G01N17/004—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light to light
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Ecology (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、太陽光にさらされて長期間使用される塗装品
や合成樹脂製品のような化学品の光沢低下や変色のよう
な品質劣化を実験室的に短期間に調べる促進耐候性試験
の方法と装置に関する。
や合成樹脂製品のような化学品の光沢低下や変色のよう
な品質劣化を実験室的に短期間に調べる促進耐候性試験
の方法と装置に関する。
従来のこの種の試験においては、人工光源のカーボンア
ーク、キセノンランプ又は螢光紫外線ランプから放射す
る光をフィルタを介して又は介せずに゛化学品の試料に
照射している。ところが、従来の試験の結果は、自然界
で実際に使用した結果と必ずしも合致せず、実際の使用
結果との相関性が高−とは言い難い。
ーク、キセノンランプ又は螢光紫外線ランプから放射す
る光をフィルタを介して又は介せずに゛化学品の試料に
照射している。ところが、従来の試験の結果は、自然界
で実際に使用した結果と必ずしも合致せず、実際の使用
結果との相関性が高−とは言い難い。
本発明の目的は、上記のような従来の欠点をな ゛
〈シ、寮際の使用結果との相関性の高い促進耐候性試験
方法と装置を提供することである。
〈シ、寮際の使用結果との相関性の高い促進耐候性試験
方法と装置を提供することである。
本発明者は、上記の目的を達成するため、先ず、光によ
る化学品の品質劣化について研究したところ、品質劣化
の程度は化学品が受ける光の波長に大きく依存している
ことを発見した。例えば、μチル型酸化チタン顔料を約
ｔｏ重量％含有したアミノ・アμキッド塗膜に分光した
光を各波長の光について同一条件で照射して、各波長の
光に対する塗膜の光沢低下量を測定したところ、第１図
に示すように、塗膜の光沢低下量は光の波長が約３ｊＯ
’ＩＬｍから短くなるに従って指数函数的に大きくなる
。ｔた、アクリμ塗膜などの他の塗膜やポリスチレンな
どの合成樹脂について同様に測定したところ、いずれに
ついても、光沢低下量は光の波長が３００％ｍ前後の長
さから短くなるに従って急激に大きくなる。即ち、光に
よる化学品の品質劣化は、化学品の種類によって異なる
波長依存性を有するが、いずれの化学品につφても、３
！Ｏｒｍ以下の波長に非常に強い一存性を有する。一方
、地表に到達する太陽光は、コタｏｖｘｓ以下の波長の
光を全く含まず、３００ ％ｍ以下の波長の光をはとん
ど含まないことが知られているので、太陽光による化学
品の品質劣化はその大部分が太陽光に含まれる３００〜
３３０％ｍの波長の光によって生ずるものと認められる
。
る化学品の品質劣化について研究したところ、品質劣化
の程度は化学品が受ける光の波長に大きく依存している
ことを発見した。例えば、μチル型酸化チタン顔料を約
ｔｏ重量％含有したアミノ・アμキッド塗膜に分光した
光を各波長の光について同一条件で照射して、各波長の
光に対する塗膜の光沢低下量を測定したところ、第１図
に示すように、塗膜の光沢低下量は光の波長が約３ｊＯ
’ＩＬｍから短くなるに従って指数函数的に大きくなる
。ｔた、アクリμ塗膜などの他の塗膜やポリスチレンな
どの合成樹脂について同様に測定したところ、いずれに
ついても、光沢低下量は光の波長が３００％ｍ前後の長
さから短くなるに従って急激に大きくなる。即ち、光に
よる化学品の品質劣化は、化学品の種類によって異なる
波長依存性を有するが、いずれの化学品につφても、３
！Ｏｒｍ以下の波長に非常に強い一存性を有する。一方
、地表に到達する太陽光は、コタｏｖｘｓ以下の波長の
光を全く含まず、３００ ％ｍ以下の波長の光をはとん
ど含まないことが知られているので、太陽光による化学
品の品質劣化はその大部分が太陽光に含まれる３００〜
３３０％ｍの波長の光によって生ずるものと認められる
。
次に、本発明者は、従来の試験において試料が受ける人
工光の分光分布を調べたところ、いずれの人工光も、太
陽光に含まれないコタ。ｚｍ以下の波長の光を含み、し
かも、３００ ％ｍ以下の波長の光の量が太陽光のそれ
より多く３００〜３２９％ｒｎの波長の光の量の数１０
％にも及び、化学品の品質劣化に大きな影響を与える３
３０％ｍ以下の波長の光の分光分布が太陽光のそれと相
当異なっていることを発見した。従って、従来の人工光
による試験結果が太陽光による実際の使用結果と合致し
な一原因は、主に３３０％ｍ以下の波長の光の分光分布
が太陽光のそれと異なることに起因しているものと認′
められる。
工光の分光分布を調べたところ、いずれの人工光も、太
陽光に含まれないコタ。ｚｍ以下の波長の光を含み、し
かも、３００ ％ｍ以下の波長の光の量が太陽光のそれ
より多く３００〜３２９％ｒｎの波長の光の量の数１０
％にも及び、化学品の品質劣化に大きな影響を与える３
３０％ｍ以下の波長の光の分光分布が太陽光のそれと相
当異なっていることを発見した。従って、従来の人工光
による試験結果が太陽光による実際の使用結果と合致し
な一原因は、主に３３０％ｍ以下の波長の光の分光分布
が太陽光のそれと異なることに起因しているものと認′
められる。
そこで、本発明者は、３ ｊ Ｏ％ｍ以下の波長の光の
分光分布が太陽光のそれと非常に近似した人工光を試料
に照射すれば、実際の使用結果との相関性の高い試験を
行うことができることに着眼したのである。
分光分布が太陽光のそれと非常に近似した人工光を試料
に照射すれば、実際の使用結果との相関性の高い試験を
行うことができることに着眼したのである。
本発明の促進耐候性試験方法において試料が人工光源か
ら受ける光は次の条件を満す分光分布を有する。
ら受ける光は次の条件を満す分光分布を有する。
（１）２２□ｚｍ以下の波長の光を含まない。
（２）３００′ＬＩｎ以下の波長の光の量が３００〜３
２０ ｓｒｎの波長の光の量の５％以下である。
２０ ｓｒｎの波長の光の量の５％以下である。
（３） 各波長の光の量が３３０ ％ｍの波長から短
波長側に向って連続的に減少する。
波長側に向って連続的に減少する。
（４） ３１０％ｒｎの波長の光の量を／とすれば、３
．２０ ｒｍの波長の光の量が、２ ｆ Ｏ，／ ０で
、３３０璽の波長の光の量が３±ＯＩＳである。
．２０ ｒｍの波長の光の量が、２ ｆ Ｏ，／ ０で
、３３０璽の波長の光の量が３±ＯＩＳである。
このような条件を満す人工光の分光分布は、化学品の品
質劣化に大きな影響を与えるＪ Ｓ Ｏ％ｍ以下の波長
の光について、従来の人工光の分光分布より太陽光のそ
れに近似しているので、本発明の試験結果は、従来の試
験結果より実際の使用結果との相関性が高い。
質劣化に大きな影響を与えるＪ Ｓ Ｏ％ｍ以下の波長
の光について、従来の人工光の分光分布より太陽光のそ
れに近似しているので、本発明の試験結果は、従来の試
験結果より実際の使用結果との相関性が高い。
また、本発明者は、７種又は２種以上の人工光源とフィ
ルタを適宜に組み合せて使用すれば、上記の条件を満す
分光分布を有する光を試料に照射することができること
に着眼したのである。
ルタを適宜に組み合せて使用すれば、上記の条件を満す
分光分布を有する光を試料に照射することができること
に着眼したのである。
本発明の促進耐候性試験装置は、試料に光を照射する１
種又Ｆｉコ種以上の人工光源を設け、人工光源と試料の
間にフイ〜りを設け、人工光源の放射光の分光分布とフ
ィルタの透過特性を、試料が受ける光の分光分布が上記
の条件を満すように選定している。
種又Ｆｉコ種以上の人工光源を設け、人工光源と試料の
間にフイ〜りを設け、人工光源の放射光の分光分布とフ
ィルタの透過特性を、試料が受ける光の分光分布が上記
の条件を満すように選定している。
この製電は、上記の条件を満す分光分布を有する人工光
を試料に照射して本発明の上記の方法の実施に使用する
ことができ、実際の使用結果との相関性の高い試験結果
を得ることができる。
を試料に照射して本発明の上記の方法の実施に使用する
ことができ、実際の使用結果との相関性の高い試験結果
を得ることができる。
次に、本発明の実施例について説明する。
本例の装置は、第２図に概略斜視図を示すように、光源
部（１）と試料部（５）を対置して構成される。
部（１）と試料部（５）を対置して構成される。
光源部（１）は、矩形状の取付枠（２）の上側片と下側
片の間に試料部（５）と対面する円柱状の第１ランプ（
３）と第２ランプ（４）を左右方向に交互に等間隔に並
列して取付け、試料部対面側と反べ側を反射板で閉鎖し
た取付枠（２） ′ｆ：左右方向に揺動する図示しない
クランク機構を設けている。試料部（５）は、試料室（
６）の前面開口に光源部の第１．７１ｇ２ランプ（３）
、 （４）と対面するフィルタ（７）を取付け、試料
室（６）内のフィルタ（７）後側位置に試料（９）を保
持する枠板（８）を取付け、試料室（６）内の一温度と
湿度を制御する図示しない空調装置を設けている。第１
．第２ランプ（３）。
片の間に試料部（５）と対面する円柱状の第１ランプ（
３）と第２ランプ（４）を左右方向に交互に等間隔に並
列して取付け、試料部対面側と反べ側を反射板で閉鎖し
た取付枠（２） ′ｆ：左右方向に揺動する図示しない
クランク機構を設けている。試料部（５）は、試料室（
６）の前面開口に光源部の第１．７１ｇ２ランプ（３）
、 （４）と対面するフィルタ（７）を取付け、試料
室（６）内のフィルタ（７）後側位置に試料（９）を保
持する枠板（８）を取付け、試料室（６）内の一温度と
湿度を制御する図示しない空調装置を設けている。第１
．第２ランプ（３）。
（４）とフイ〜り（７）及び試料（９）間の寸法は第３
図に示す通りである。第７ランプ（３）は、出力２０Ｗ
の真夏製螢光ランプＰＬ２０Ｂ、ＢＬＢであり、その分
光分布は、第を甲に示す通１りであって、分光放射照度
は、光の波長がＪ ！； ０ ′ｒＬｍで最大になり、
その波長より短波長又は長波長になるに従って大体減少
する。また、第２ランプ（４）は、出力２０Ｗの真夏製
螢光うンプＦＬコ０８・Ｅであり、その分光分布は、Ｖ
、Ｓ図に示す通りであって、分光“放射照度は、光の波
長が３ ／ ３； ｚｍで最大になり、その波長より短
波長又は長波長になるに従って概略減少する。フイμり
（７）は、鉄を添加した光学ガラス製であり、その透過
特性は、第６図に示す通シであって、透過率は、光の波
長がλり０１Ｌｍ以下で零にｔｂ、波長が２２ｏｓｍよ
シ長波長になるに従って増加する。
図に示す通りである。第７ランプ（３）は、出力２０Ｗ
の真夏製螢光ランプＰＬ２０Ｂ、ＢＬＢであり、その分
光分布は、第を甲に示す通１りであって、分光放射照度
は、光の波長がＪ ！； ０ ′ｒＬｍで最大になり、
その波長より短波長又は長波長になるに従って大体減少
する。また、第２ランプ（４）は、出力２０Ｗの真夏製
螢光うンプＦＬコ０８・Ｅであり、その分光分布は、Ｖ
、Ｓ図に示す通りであって、分光“放射照度は、光の波
長が３ ／ ３； ｚｍで最大になり、その波長より短
波長又は長波長になるに従って概略減少する。フイμり
（７）は、鉄を添加した光学ガラス製であり、その透過
特性は、第６図に示す通シであって、透過率は、光の波
長がλり０１Ｌｍ以下で零にｔｂ、波長が２２ｏｓｍよ
シ長波長になるに従って増加する。
本例の装置を使用する場合、試料室（６）内の枠板（８
）に板状の試料（９）を保持し、図示しない空調装置を
駆動して試料室（６）内の温度と湿度を制御し、一方、
図示しないクランク機構を駆動して取付枠（２）を左右
方向に揺動し、取付枠（２）内の第１．第２ランプ（３
） 、 （４）を点灯する。すると、試料（９）面と平
行に揺動する第・／、第２ランプ（３） ＊ （４）か
ら放射される光がフイμり（７）を経て試料（９）に均
等に照射される。
）に板状の試料（９）を保持し、図示しない空調装置を
駆動して試料室（６）内の温度と湿度を制御し、一方、
図示しないクランク機構を駆動して取付枠（２）を左右
方向に揺動し、取付枠（２）内の第１．第２ランプ（３
） 、 （４）を点灯する。すると、試料（９）面と平
行に揺動する第・／、第２ランプ（３） ＊ （４）か
ら放射される光がフイμり（７）を経て試料（９）に均
等に照射される。
試料（９）が受ける光の分光分布は、ｗＩＪ７図に示す
通りであって１次の条件を備えている。
通りであって１次の条件を備えている。
（１） コテ０′ｒＬ
コタ，ｔ ％ｍ以下の波長の光はほとんど含まない。
（２） ３ ０ ０ ｓｒｎ以下の波長の光の量が３
００〜３４０％ｍの波長や光の量の７％位である。
００〜３４０％ｍの波長や光の量の７％位である。
（３） 各波長の光の量即ち分光放射照度が３３０％
ｍの波長から短波長側に向って連続的に減少する。
ｍの波長から短波長側に向って連続的に減少する。
（４） Ｊ ／ ０ ’１’Ｌｍの波長の光の量即ち
分光放射照度を／とすると．３コｏ １Ｌｍの波長の光
の量か２７弱で．３３０％ｍの波長の光の量が２ｇ５強
である。
分光放射照度を／とすると．３コｏ １Ｌｍの波長の光
の量か２７弱で．３３０％ｍの波長の光の量が２ｇ５強
である。
（５） ３００−１１００ｓｍ （Ｆ）波長の光ノｔ
：Ａ！全ｆｆ長の光の量の５０％以上であり、ｕ ｏ
ｏ ′ｒＬｍを越える長波長の光がほとんどない。
：Ａ！全ｆｆ長の光の量の５０％以上であり、ｕ ｏ
ｏ ′ｒＬｍを越える長波長の光がほとんどない。
本例における上記のＳ条件を満す人工光の分光分布は、
前記した本発明における弘条件をすべて満足しており、
化学品の品質劣化に大きな影響を与える３ ｊ Ｏ ’
ｈｍ以下の波長の光について、太陽光の分光分布に近似
しているので、本例の試験結果は実際の使用結果との相
関性が高い。
前記した本発明における弘条件をすべて満足しており、
化学品の品質劣化に大きな影響を与える３ ｊ Ｏ ’
ｈｍ以下の波長の光について、太陽光の分光分布に近似
しているので、本例の試験結果は実際の使用結果との相
関性が高い。
本例において試料が受ける人工光は、ｌＩｏｏｍを越え
る長波長の光がほとんどない。長波長の光は、化学品の
品質劣化にほとんど影響を与えない一方，試料の温度を
上昇させて試料の温度制御な困難にすると共に、発光に
要するエネルギが多い。
る長波長の光がほとんどない。長波長の光は、化学品の
品質劣化にほとんど影響を与えない一方，試料の温度を
上昇させて試料の温度制御な困難にすると共に、発光に
要するエネルギが多い。
従って、本例の装置は、長波長の光を含む人工光を放射
する装置に比して、試料の温度制御が容品であると共に
、ランプの発光に要するエネμギが少なくて済み、製作
費と運転費が安い。
する装置に比して、試料の温度制御が容品であると共に
、ランプの発光に要するエネμギが少なくて済み、製作
費と運転費が安い。
なお、本例においては、化学品の品質劣化に大きな影響
を与える３００〜３ ３ ０ ’Ｉ１ｍの波長の人工光
の強度が太陽光の強いときの約−倍であり、年間を通じ
て計算すると、太陽光の約７５倍の光量が得られ、高い
促進性がある。
を与える３００〜３ ３ ０ ’Ｉ１ｍの波長の人工光
の強度が太陽光の強いときの約−倍であり、年間を通じ
て計算すると、太陽光の約７５倍の光量が得られ、高い
促進性がある。
＠７図は各波長の光に対する塗膜の光沢低下量を示す線
図であり、第一図は本発明の実施例の装置の概略斜視図
、第３図は同装置の一部平面図、第１図と第５図はそれ
ぞれ同装置の第１，＠コランプの放射光の分光分布を示
す線図、第６図社同装置のフィルタの透過特性な示す線
図、第７図は同装置の試料が受ける光の分光分布を示す
線図である。 Ｓ ：第１ランプ、人工光源 ４：第２ランプ、人工
光源□７：フイ〜タ ９：試 料第１図 波長（ｎｍ） 第２図 第４図 − ゛ 波長（ｎｍ） 第５図 波長（ｎｍ） ２２５− 波長（ｎｍ）
図であり、第一図は本発明の実施例の装置の概略斜視図
、第３図は同装置の一部平面図、第１図と第５図はそれ
ぞれ同装置の第１，＠コランプの放射光の分光分布を示
す線図、第６図社同装置のフィルタの透過特性な示す線
図、第７図は同装置の試料が受ける光の分光分布を示す
線図である。 Ｓ ：第１ランプ、人工光源 ４：第２ランプ、人工
光源□７：フイ〜タ ９：試 料第１図 波長（ｎｍ） 第２図 第４図 − ゛ 波長（ｎｍ） 第５図 波長（ｎｍ） ２２５− 波長（ｎｍ）
Claims (3)
- （１）試料が人工光源から受ける光が次の条件を満す分
光分布を有することを特徴とする促進耐候性試験方法。 ■ コタＱ ＞ｍ以下の波長の光を含まない。 ■ ３００ ’ｔＬ、ｍ以下の波長の光の量が３００〜
３２０ ′１′１．ｍの波長の光の量の５％以下である
。 ■ 各波長の光の量が３５０ ｚｍの波長から／ 短波長側に向って連続的に減少する。 ■ Ｊ ／ Ｏｓｍの波長の光の量を／とすれば、３２
０％ｍの波長の光の量が一±０． ／ ０で、３３０％
ｍの波長の光の量が３±０７まである。 - （２） 前記の分光分布が更に次の条件を満すことを
特徴とする特許請求σｙ範囲ｗＩＪ１項記載の促進耐候
性試験方法。 ■ ３００− ｌ１００ ’Ｌｍの波長の光の量が全波
長の光の量のざ０％以上である。 - （３） 試料に光を照射する７種又は２種以上の人工
光源を設け、人工光源と試料の間にフイμりを設け、人
工光源の放射光の分光分布とフイμりの透過特性を、試
料が受ける光の分光分布が特許請求の範囲第１項に記載
の条件を満すように選定したことを特徴とする促進耐候
性試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17060981A JPS5871439A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 促進耐候性試験方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17060981A JPS5871439A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 促進耐候性試験方法とその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5871439A true JPS5871439A (ja) | 1983-04-28 |
| JPH0160776B2 JPH0160776B2 (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=15908018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17060981A Granted JPS5871439A (ja) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | 促進耐候性試験方法とその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5871439A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60117128A (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-24 | Iwasaki Electric Co Ltd | 耐候性試験のプレ試験方法 |
| JPS63157647U (ja) * | 1987-04-02 | 1988-10-17 | ||
| WO2006020475A1 (en) * | 2004-08-09 | 2006-02-23 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
| KR100680397B1 (ko) | 2005-05-12 | 2007-02-08 | 현대자동차주식회사 | 자동차부품의 촉진내후성 시험방법 및 시험장치 |
| WO2007095319A3 (en) * | 2006-02-14 | 2007-11-08 | 3M Innovative Properties Co | Method of accelerated light stability testing and articles |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4523992Y1 (ja) * | 1965-10-30 | 1970-09-21 |
-
1981
- 1981-10-23 JP JP17060981A patent/JPS5871439A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4523992Y1 (ja) * | 1965-10-30 | 1970-09-21 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60117128A (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-24 | Iwasaki Electric Co Ltd | 耐候性試験のプレ試験方法 |
| JPH0480336B2 (ja) * | 1983-11-30 | 1992-12-18 | Iwasaki Denki Kk | |
| JPS63157647U (ja) * | 1987-04-02 | 1988-10-17 | ||
| JPH0435795Y2 (ja) * | 1987-04-02 | 1992-08-25 | ||
| WO2006020475A1 (en) * | 2004-08-09 | 2006-02-23 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
| US7124651B2 (en) | 2004-08-09 | 2006-10-24 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
| US7345750B2 (en) | 2004-08-09 | 2008-03-18 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
| KR100680397B1 (ko) | 2005-05-12 | 2007-02-08 | 현대자동차주식회사 | 자동차부품의 촉진내후성 시험방법 및 시험장치 |
| WO2007095319A3 (en) * | 2006-02-14 | 2007-11-08 | 3M Innovative Properties Co | Method of accelerated light stability testing and articles |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0160776B2 (ja) | 1989-12-25 |
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