JPH09210860A - アコースティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置 - Google Patents
アコースティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置Info
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- JPH09210860A JPH09210860A JP8019141A JP1914196A JPH09210860A JP H09210860 A JPH09210860 A JP H09210860A JP 8019141 A JP8019141 A JP 8019141A JP 1914196 A JP1914196 A JP 1914196A JP H09210860 A JPH09210860 A JP H09210860A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 荷重の大小や回転機の回転態様が異なる軸受
であっても診断を行なうことができるＡＥを用いた回転
機軸受診断装置を提供すること。 【解決手段】 ＡＥセンサ１の検出信号は増幅、検波さ
れ、実効値回路４で実効値が算出されコンパレータ５か
らエレベータ巻上機の定速期間を定めるゲート信号がゲ
ート回路９へ出力される。制御部１６は前記ゲート信号
期間中の定められた期間において、実効値回路１３で算
出された実効値に基づいてしきい値を算出し、これをＤ
／Ａ変換器１１を介してコンパレータ１０ヘ出力する。
コンパレータ１０はゲート回路９を通過した信号のうち
しきい値以上の信号があるとき信号を出力し、この信号
により波形整形回路１２からパルスが出力される。この
パルスの数により軸受の可否が診断される。切換スイッ
チＳＷ1 、ＳＷ2 を切換えてゲートを用いないことによ
り連続運転の場合に適した診断ができる。
であっても診断を行なうことができるＡＥを用いた回転
機軸受診断装置を提供すること。 【解決手段】 ＡＥセンサ１の検出信号は増幅、検波さ
れ、実効値回路４で実効値が算出されコンパレータ５か
らエレベータ巻上機の定速期間を定めるゲート信号がゲ
ート回路９へ出力される。制御部１６は前記ゲート信号
期間中の定められた期間において、実効値回路１３で算
出された実効値に基づいてしきい値を算出し、これをＤ
／Ａ変換器１１を介してコンパレータ１０ヘ出力する。
コンパレータ１０はゲート回路９を通過した信号のうち
しきい値以上の信号があるとき信号を出力し、この信号
により波形整形回路１２からパルスが出力される。この
パルスの数により軸受の可否が診断される。切換スイッ
チＳＷ1 、ＳＷ2 を切換えてゲートを用いないことによ
り連続運転の場合に適した診断ができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、回転機の軸受の損
傷の有無を当該軸受を分解することなく診断するアコー
スティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置
に関する。
傷の有無を当該軸受を分解することなく診断するアコー
スティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】回転機の軸受に損傷が生じると回転機の
円滑な回転が阻害され、遂には回転不可能となり、当該
回転機を用いている設備全体を停止しなければならない
事態を生じる。このため、回転機軸受の損傷の有無の診
断は極めて重要であり、多くの設備では当該診断が定期
的に又は任意に行なわれる。この診断には、軸受を分解
してこれを構成する転動体、内輪、外輪等を１つ１つ検
査する手段と軸受を分解しないで診断する手段とがあ
る。後者の手段として、例えば特開昭６４−４９７０８
号公報等により良く知られているアコースティック・エ
ミッション（以下、ＡＥと称する。）を用いる手段があ
る。この手段は、回転機の駆動中に軸受から発生する応
力波を検出し、これを解析することにより軸受の損傷の
有無を診断する手段である。
円滑な回転が阻害され、遂には回転不可能となり、当該
回転機を用いている設備全体を停止しなければならない
事態を生じる。このため、回転機軸受の損傷の有無の診
断は極めて重要であり、多くの設備では当該診断が定期
的に又は任意に行なわれる。この診断には、軸受を分解
してこれを構成する転動体、内輪、外輪等を１つ１つ検
査する手段と軸受を分解しないで診断する手段とがあ
る。後者の手段として、例えば特開昭６４−４９７０８
号公報等により良く知られているアコースティック・エ
ミッション（以下、ＡＥと称する。）を用いる手段があ
る。この手段は、回転機の駆動中に軸受から発生する応
力波を検出し、これを解析することにより軸受の損傷の
有無を診断する手段である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記ＡＥを用いた診断
装置においては、検出されたＡＥデータを予め設定され
た設定値と比較し、設定値を超えたＡＥデータをチェッ
クする手法が用いられている。ところで、ＡＥデータの
レベルは軸受により異なり、荷重の大きい軸受で発生す
るＡＥのレベルは大きく、逆に、荷重の小さい軸受で発
生するＡＥのレベルは小さい。したがって、ＡＥを用い
た軸受の診断においては、診断対象の軸受の荷重を勘案
して上記設定値を設定しておく必要があり、設備内に複
数の軸受がある場合には、各軸受毎に設定値を定めてお
かなければならず、かつ、軸受の検査員は診断対象の軸
受毎にその軸受の上記設定値を確認して設定値を設定し
直さなければならず、いずれも面倒であるばかりでな
く、設定値を誤って設定するおそれもあり、診断対象軸
受の数が多ければ多いほど誤設定のおそれも多い。
装置においては、検出されたＡＥデータを予め設定され
た設定値と比較し、設定値を超えたＡＥデータをチェッ
クする手法が用いられている。ところで、ＡＥデータの
レベルは軸受により異なり、荷重の大きい軸受で発生す
るＡＥのレベルは大きく、逆に、荷重の小さい軸受で発
生するＡＥのレベルは小さい。したがって、ＡＥを用い
た軸受の診断においては、診断対象の軸受の荷重を勘案
して上記設定値を設定しておく必要があり、設備内に複
数の軸受がある場合には、各軸受毎に設定値を定めてお
かなければならず、かつ、軸受の検査員は診断対象の軸
受毎にその軸受の上記設定値を確認して設定値を設定し
直さなければならず、いずれも面倒であるばかりでな
く、設定値を誤って設定するおそれもあり、診断対象軸
受の数が多ければ多いほど誤設定のおそれも多い。
【０００４】さらに、回転機には、例えばエスカレータ
の回転機のように長時間一定速度で連続運転されるもの
や、例えばエレベータの巻上機のように断続回転するも
のもあるが、従来のＡＥを用いた軸受診断装置では、連
続運転される回転機の軸受の診断は可能であるが、断続
運転される回転機の軸受の診断はできないという問題が
あった。
の回転機のように長時間一定速度で連続運転されるもの
や、例えばエレベータの巻上機のように断続回転するも
のもあるが、従来のＡＥを用いた軸受診断装置では、連
続運転される回転機の軸受の診断は可能であるが、断続
運転される回転機の軸受の診断はできないという問題が
あった。
【０００５】本発明の目的は、上記従来技術における課
題を解決し、荷重の大小や回転機の回転態様の如何にか
かわらず、どのような軸受に対してもその診断を行なう
ことができるＡＥを用いた回転機軸受診断装置を提供す
ることにある。
題を解決し、荷重の大小や回転機の回転態様の如何にか
かわらず、どのような軸受に対してもその診断を行なう
ことができるＡＥを用いた回転機軸受診断装置を提供す
ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項１の発明は、回転機の回転によりその軸受か
ら発生するアコースティック・エミッションを検出する
検出器の検出値に基づいて前記軸受の良否を診断する回
転機軸受診断装置において、前記検出器の検出値の実効
値を求める実効値算出手段と、この実効値算出手段で得
られた実効値に応じて前記検出器の検出値に対するしき
い値を求めるしきい値算出手段と、このしきい値算出手
段で算出されたしきい値と前記検出器の検出値とを比較
して当該検出値が前記しきい値を超えたときパルスを出
力する比較手段と、この比較手段から出力されたパルス
を前記回転機の定速運転期間における所定期間だけ取り
込むデータ採取手段と、このデータ採取手段で取り込ま
れたパルスの数を記憶する記憶手段と、前記所定期間の
合計時間が予め定められた所定時間に達したとき前記記
憶手段に記憶されたパルス数に基づいて前記軸受の良否
を判断する判断手段とで構成される第１の軸受診断手段
と、前記実効値算出手段、前記しきい値算出手段、前記
比較手段、前記記憶手段、および前記判断手段を共有
し、これら各手段と、前記比較手段から出力されたパル
スを所定時間だけ取り込み前記記憶手段に出力する他の
データ採取手段とで構成される第２の軸受診断手段と、
前記第１の軸受診断手段および前記第２の軸受診断手段
のいずれかを選択する選択手段とを設けたことを特徴と
する。
め、請求項１の発明は、回転機の回転によりその軸受か
ら発生するアコースティック・エミッションを検出する
検出器の検出値に基づいて前記軸受の良否を診断する回
転機軸受診断装置において、前記検出器の検出値の実効
値を求める実効値算出手段と、この実効値算出手段で得
られた実効値に応じて前記検出器の検出値に対するしき
い値を求めるしきい値算出手段と、このしきい値算出手
段で算出されたしきい値と前記検出器の検出値とを比較
して当該検出値が前記しきい値を超えたときパルスを出
力する比較手段と、この比較手段から出力されたパルス
を前記回転機の定速運転期間における所定期間だけ取り
込むデータ採取手段と、このデータ採取手段で取り込ま
れたパルスの数を記憶する記憶手段と、前記所定期間の
合計時間が予め定められた所定時間に達したとき前記記
憶手段に記憶されたパルス数に基づいて前記軸受の良否
を判断する判断手段とで構成される第１の軸受診断手段
と、前記実効値算出手段、前記しきい値算出手段、前記
比較手段、前記記憶手段、および前記判断手段を共有
し、これら各手段と、前記比較手段から出力されたパル
スを所定時間だけ取り込み前記記憶手段に出力する他の
データ採取手段とで構成される第２の軸受診断手段と、
前記第１の軸受診断手段および前記第２の軸受診断手段
のいずれかを選択する選択手段とを設けたことを特徴と
する。
【０００７】又、請求項２の発明は、回転機の回転によ
りその軸受から発生するアコースティック・エミッショ
ンを検出する検出器の検出値に基づいて前記軸受の良否
を診断する回転機軸受診断装置において、前記検出器の
検出値の実効値を求める実効値算出手段と、この実効値
算出手段で得られた実効値に応じて前記検出器の検出値
に対するしきい値を求めるしきい値算出手段と、このし
きい値算出手段で算出されたしきい値と前記検出器の検
出値とを比較して当該検出値が前記しきい値を超えたと
きパルスを出力する比較手段と、この比較手段から出力
されたパルスを前記回転機の定速運転期間における所定
期間だけ取り込むデータ採取手段と、このデータ採取手
段で取り込まれたパルスの数を記憶する記憶手段と、前
記所定期間の合計時間が予め定められた所定時間に達し
たとき前記記憶手段に記憶されたパルス数に基づいて前
記軸受の良否を判断する判断手段とで構成される第１の
軸受診断手段と、前記記憶手段、前記しきい値算出手
段、および前記判断手段を共有し、これら各手段と、前
記実効値算出手段と同一の機能を有する他の実効値算出
手段と、前記比較手段と同一の機能を有する他の比較手
段と、前記比較手段から出力されたパルスを所定時間だ
け取り込み前記記憶手段に出力する他のデータ採取手段
とで構成される第２の軸受診断手段と、前記第１の軸受
診断手段と前記第２の軸受診断手段のいずれかを選択す
る選択手段とを設けたことを特徴とする。
りその軸受から発生するアコースティック・エミッショ
ンを検出する検出器の検出値に基づいて前記軸受の良否
を診断する回転機軸受診断装置において、前記検出器の
検出値の実効値を求める実効値算出手段と、この実効値
算出手段で得られた実効値に応じて前記検出器の検出値
に対するしきい値を求めるしきい値算出手段と、このし
きい値算出手段で算出されたしきい値と前記検出器の検
出値とを比較して当該検出値が前記しきい値を超えたと
きパルスを出力する比較手段と、この比較手段から出力
されたパルスを前記回転機の定速運転期間における所定
期間だけ取り込むデータ採取手段と、このデータ採取手
段で取り込まれたパルスの数を記憶する記憶手段と、前
記所定期間の合計時間が予め定められた所定時間に達し
たとき前記記憶手段に記憶されたパルス数に基づいて前
記軸受の良否を判断する判断手段とで構成される第１の
軸受診断手段と、前記記憶手段、前記しきい値算出手
段、および前記判断手段を共有し、これら各手段と、前
記実効値算出手段と同一の機能を有する他の実効値算出
手段と、前記比較手段と同一の機能を有する他の比較手
段と、前記比較手段から出力されたパルスを所定時間だ
け取り込み前記記憶手段に出力する他のデータ採取手段
とで構成される第２の軸受診断手段と、前記第１の軸受
診断手段と前記第２の軸受診断手段のいずれかを選択す
る選択手段とを設けたことを特徴とする。
【０００８】さらに、請求項３の発明は、回転機の回転
によりその軸受から発生するアコースティック・エミッ
ションを検出する検出器の検出値に基づいて前記軸受の
良否を診断する回転機軸受診断装置において、前記検出
器の検出値の実効値を求める実効値算出手段と、この実
効値算出手段で得られた実効値に応じて前記検出器の検
出値に対するしきい値を求めるしきい値算出手段と、こ
のしきい値算出手段で算出されたしきい値と前記検出器
の検出値とを比較して当該検出値が前記しきい値を超え
たときパルスを出力する比較手段と、この比較手段から
出力されたパルスを前記回転機の定速運転期間における
所定期間だけ取り込むデータ採取手段と、このデータ採
取手段で取り込まれたパルスの数を記憶する記憶手段
と、前記所定期間の合計時間が予め定められた所定時間
に達したとき前記記憶手段に記憶されたパルス数に基づ
いて前記軸受の良否を判断する判断手段とで構成される
第１の軸受診断手段と、前記記憶手段および前記判断手
段を共有し、これら各手段と、予め定められたしきい値
と前記検出器の検出値とを比較して当該検出値が前記し
きい値を超えたときパルスを出力する他の比較手段と、
当該他の比較手段から出力されたパルスを所定時間だけ
取り込み前記記憶手段に出力する他のデータ採取手段と
で構成される第２の軸受診断手段と、前記第１の軸受診
断手段と前記第２の軸受診断手段のいずれかを選択する
選択手段とを設けたことを特徴とする。
によりその軸受から発生するアコースティック・エミッ
ションを検出する検出器の検出値に基づいて前記軸受の
良否を診断する回転機軸受診断装置において、前記検出
器の検出値の実効値を求める実効値算出手段と、この実
効値算出手段で得られた実効値に応じて前記検出器の検
出値に対するしきい値を求めるしきい値算出手段と、こ
のしきい値算出手段で算出されたしきい値と前記検出器
の検出値とを比較して当該検出値が前記しきい値を超え
たときパルスを出力する比較手段と、この比較手段から
出力されたパルスを前記回転機の定速運転期間における
所定期間だけ取り込むデータ採取手段と、このデータ採
取手段で取り込まれたパルスの数を記憶する記憶手段
と、前記所定期間の合計時間が予め定められた所定時間
に達したとき前記記憶手段に記憶されたパルス数に基づ
いて前記軸受の良否を判断する判断手段とで構成される
第１の軸受診断手段と、前記記憶手段および前記判断手
段を共有し、これら各手段と、予め定められたしきい値
と前記検出器の検出値とを比較して当該検出値が前記し
きい値を超えたときパルスを出力する他の比較手段と、
当該他の比較手段から出力されたパルスを所定時間だけ
取り込み前記記憶手段に出力する他のデータ採取手段と
で構成される第２の軸受診断手段と、前記第１の軸受診
断手段と前記第２の軸受診断手段のいずれかを選択する
選択手段とを設けたことを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態に係る
ＡＥを用いたエレベータの巻上機軸受およびエスカレー
タの回転機軸受の診断装置のブロック図、図２はエレベ
ータの巻上機の側面図である。これらの図のように、本
実施の形態では、断続運転の典型例であるエレベータの
巻上機軸受診断装置を例示して説明する。最初に、図２
を用いてエレベータの巻上機の概略構成を説明する。図
２で２０はエレベータの巻上機を示す。２１、２２はエ
レベータの巻上機の軸受、２３は巻上機により駆動され
るシーブ、２４はシーブ２３に巻取られるロープ、２５
はロープ２４の一端に吊り下げられたエレベータの乗り
かごである。ロープ２４の他端にはカウンタエイトが吊
り下げられているが図示されていない。なお、１はＡＥ
センサであり、各軸受２１、２２の診断時にそれらに図
示のように取り付けられ、又は当接されることになる。
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態に係る
ＡＥを用いたエレベータの巻上機軸受およびエスカレー
タの回転機軸受の診断装置のブロック図、図２はエレベ
ータの巻上機の側面図である。これらの図のように、本
実施の形態では、断続運転の典型例であるエレベータの
巻上機軸受診断装置を例示して説明する。最初に、図２
を用いてエレベータの巻上機の概略構成を説明する。図
２で２０はエレベータの巻上機を示す。２１、２２はエ
レベータの巻上機の軸受、２３は巻上機により駆動され
るシーブ、２４はシーブ２３に巻取られるロープ、２５
はロープ２４の一端に吊り下げられたエレベータの乗り
かごである。ロープ２４の他端にはカウンタエイトが吊
り下げられているが図示されていない。なお、１はＡＥ
センサであり、各軸受２１、２２の診断時にそれらに図
示のように取り付けられ、又は当接されることになる。
【００１０】巻上機２０が一方向に回転駆動されると乗
りかご２５はロープ２４に巻き上げられて上昇し、他方
向に回転駆動されると乗りかご２５は下降する。巻上機
２０は、エレベータの運行中、乗客の指示に応じて指示
された階床に到達するまで一方向又は他方向に回転し、
指示された階床に到達すると停止するという断続運転を
繰り返す。
りかご２５はロープ２４に巻き上げられて上昇し、他方
向に回転駆動されると乗りかご２５は下降する。巻上機
２０は、エレベータの運行中、乗客の指示に応じて指示
された階床に到達するまで一方向又は他方向に回転し、
指示された階床に到達すると停止するという断続運転を
繰り返す。
【００１１】ここで、本実施の形態のＡＥを用いたエレ
ベータの巻上機軸受診断装置の構成を図１により説明す
る。図１で、１は図２に示すものと同じＡＥセンサ、２
はＡＥセンサ１の検出信号を増幅する増幅器、３は増幅
された検出信号を検波する検波回路、４は検出信号の実
効値（１／√２）を演算する実効値回路、５は実効値回
路４で得られた実効値と所定の設定値とを比較するコン
パレータ、６は前記設定値を設定する設定部である。こ
の設定部６に設定する設定値については後述する。
ベータの巻上機軸受診断装置の構成を図１により説明す
る。図１で、１は図２に示すものと同じＡＥセンサ、２
はＡＥセンサ１の検出信号を増幅する増幅器、３は増幅
された検出信号を検波する検波回路、４は検出信号の実
効値（１／√２）を演算する実効値回路、５は実効値回
路４で得られた実効値と所定の設定値とを比較するコン
パレータ、６は前記設定値を設定する設定部である。こ
の設定部６に設定する設定値については後述する。
【００１２】７は増幅器２で増幅された検出信号のうち
の特定の周波数信号（例えば60〜350 Ｈｚ）のみを通す
バイパスフィルタ、８は検波回路、９はコンパレータ５
から出力される高レベル信号の時間だけ開くゲート回
路、１０はゲート回路９を通った検出信号と設定値（後
述する）とを比較するコンパレータ、１１は当該設定値
を出力するＤ／Ａ変換器、１２はコンパレータ１０から
出力される信号を所定のパルス信号に変換する波形整形
回路である。１３は検波回路８の出力信号の実効値を演
算する実効値回路、１４、１５はＡ／Ｄ変換器である。
の特定の周波数信号（例えば60〜350 Ｈｚ）のみを通す
バイパスフィルタ、８は検波回路、９はコンパレータ５
から出力される高レベル信号の時間だけ開くゲート回
路、１０はゲート回路９を通った検出信号と設定値（後
述する）とを比較するコンパレータ、１１は当該設定値
を出力するＤ／Ａ変換器、１２はコンパレータ１０から
出力される信号を所定のパルス信号に変換する波形整形
回路である。１３は検波回路８の出力信号の実効値を演
算する実効値回路、１４、１５はＡ／Ｄ変換器である。
【００１３】ＳＷ1 は増幅器２と検波回路３との間に挿
入された切換スイッチであり、端子ａに切り換えられた
ときには増幅器２と検波回路３とを接続し、端子ｂに切
換えられたときには検波回路３以下の回路は切り離され
る。ＳＷ2 は検波回路８とゲート回路９との間に挿入さ
れた切換スイッチであり、端子ａに切り換えられたとき
には検波回路８とゲート回路９とを接続し、端子ｂに切
り換えられたときにはゲート回路９はバイパスされ、検
波回路８とコンパレータ１０とが直接接続される。図示
しないが、切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 は互いに連結さ
れ、同一端子側へ同時に切り換えられる。これら切換ス
イッチＳＷ1 、ＳＷ2 は断続運転される回転機の軸受の
診断と、連続運転される回転機の軸受の診断に対応して
設けられており、断続運転の軸受の診断の場合には端子
ａ側に、連続運転の軸受の診断の場合には端子ａ側に切
り換えられる。切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 の各切換え
状態での動作の詳細は後述する。
入された切換スイッチであり、端子ａに切り換えられた
ときには増幅器２と検波回路３とを接続し、端子ｂに切
換えられたときには検波回路３以下の回路は切り離され
る。ＳＷ2 は検波回路８とゲート回路９との間に挿入さ
れた切換スイッチであり、端子ａに切り換えられたとき
には検波回路８とゲート回路９とを接続し、端子ｂに切
り換えられたときにはゲート回路９はバイパスされ、検
波回路８とコンパレータ１０とが直接接続される。図示
しないが、切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 は互いに連結さ
れ、同一端子側へ同時に切り換えられる。これら切換ス
イッチＳＷ1 、ＳＷ2 は断続運転される回転機の軸受の
診断と、連続運転される回転機の軸受の診断に対応して
設けられており、断続運転の軸受の診断の場合には端子
ａ側に、連続運転の軸受の診断の場合には端子ａ側に切
り換えられる。切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 の各切換え
状態での動作の詳細は後述する。
【００１４】１６はマイクロコンピュータで構成される
制御部、１７は制御部１６からの信号をアナログ値に変
換するＤ／Ａ変換器、１８は所要の表示を行なう表示部
である。制御部１６は、入出力部１６１、所要の演算制
御を行なう中央処理ユニット（ＣＰＵ）１６２、ＣＰＵ
１６２の処理手順が格納されたリードオンリメモリ（Ｒ
ＯＭ）、演算制御の結果等を格納するランダムアクセス
メモリ（ＲＡＭ）１６４、検波回路８の出力信号を格納
する波形メモリ１６５、および計時を行なうクロック１
６６等により構成されている。
制御部、１７は制御部１６からの信号をアナログ値に変
換するＤ／Ａ変換器、１８は所要の表示を行なう表示部
である。制御部１６は、入出力部１６１、所要の演算制
御を行なう中央処理ユニット（ＣＰＵ）１６２、ＣＰＵ
１６２の処理手順が格納されたリードオンリメモリ（Ｒ
ＯＭ）、演算制御の結果等を格納するランダムアクセス
メモリ（ＲＡＭ）１６４、検波回路８の出力信号を格納
する波形メモリ１６５、および計時を行なうクロック１
６６等により構成されている。
【００１５】次に、本実施の形態の動作を、図３、図
４、図５および図６を参照して説明する。図３はエレベ
ータにおいて、ある階床から目的階床への運行を説明す
る図である。この図で、横軸には時間、縦軸にはエレベ
ータの速度（巻上機２０の回転速度に比例する）がとっ
てある。時刻ｔ1 である階床を出発したエレベータは図
示の線ＶA で示すように加速され、時刻ｔ2 で一定速度
ＶC となり、目的階床に近付いた時刻ｔ3 で線ＶD で示
すように減速され、時刻ｔ4 に至って停止する。時刻ｔ
1 〜ｔ4 はほとんどのエレベータの場合１分以内であ
る。このような運転が各階床間の移動毎に繰り返され
る。このエレベータの運転中、巻上機２０の各軸受２
１、２２で発生するＡＥは、エレベータの速度の増大に
伴って増加し、減少に伴って減少する。
４、図５および図６を参照して説明する。図３はエレベ
ータにおいて、ある階床から目的階床への運行を説明す
る図である。この図で、横軸には時間、縦軸にはエレベ
ータの速度（巻上機２０の回転速度に比例する）がとっ
てある。時刻ｔ1 である階床を出発したエレベータは図
示の線ＶA で示すように加速され、時刻ｔ2 で一定速度
ＶC となり、目的階床に近付いた時刻ｔ3 で線ＶD で示
すように減速され、時刻ｔ4 に至って停止する。時刻ｔ
1 〜ｔ4 はほとんどのエレベータの場合１分以内であ
る。このような運転が各階床間の移動毎に繰り返され
る。このエレベータの運転中、巻上機２０の各軸受２
１、２２で発生するＡＥは、エレベータの速度の増大に
伴って増加し、減少に伴って減少する。
【００１６】図２に示す巻上機２０の軸受２１の診断を
行なう場合、検査員は切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 を端
子ａ側にセットし、当該軸受２１にＡＥセンサ１を当接
する。ＡＥセンサ１は軸受２１が発する応力波を検出
し、これに比例した電気信号を検出信号として出力す
る。この検出信号は増幅器２で増幅され、検波回路３で
検波される。この検波されて出力される信号が図４に曲
線ＡE として示されている。当該図４では、横軸に時
間、縦軸に電圧がとってある。前述のように、検波され
たＡＥ信号はエレベータの速度の増減に応じてその電圧
レベルを増減する。検波回路３から出力された信号は実
効値回路４によりその実効値が演算され出力される。当
該実効値回路４の出力信号（実効値）が図４に符号ＥV
で示されている。実効値ＥV はコンパレータ５で、設定
部６に設定された設定値と比較される。
行なう場合、検査員は切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 を端
子ａ側にセットし、当該軸受２１にＡＥセンサ１を当接
する。ＡＥセンサ１は軸受２１が発する応力波を検出
し、これに比例した電気信号を検出信号として出力す
る。この検出信号は増幅器２で増幅され、検波回路３で
検波される。この検波されて出力される信号が図４に曲
線ＡE として示されている。当該図４では、横軸に時
間、縦軸に電圧がとってある。前述のように、検波され
たＡＥ信号はエレベータの速度の増減に応じてその電圧
レベルを増減する。検波回路３から出力された信号は実
効値回路４によりその実効値が演算され出力される。当
該実効値回路４の出力信号（実効値）が図４に符号ＥV
で示されている。実効値ＥV はコンパレータ５で、設定
部６に設定された設定値と比較される。
【００１７】ここで、設定部６に設定される設定値を図
５を用いて説明する。図５の（ａ）は図４に示す実効値
ＥV の波形を判り易く直線で示した図、図５の（ｂ）は
コンパレータ５の出力信号の波形図、図５の（ｃ）は診
断対象となるＡＥの検出信号の取り込み期間（後述す
る）を示す図である。本実施の形態では、エレベータの
加速期間および減速期間、即ち巻上機２０の回転速度が
小さい期間はＡＥの検出信号が小さくノイズが大きく影
響するので、これらの期間の信号は用いず、エレベータ
の定速期間におけるＡＥの検出信号を用いる。このた
め、設定部６には図５の（ａ）に示す２つの電圧ｖ1 、
ｖ2 が設定値として設定される。電圧ｖ1 は例えば300
ｍＶに、電圧ｖ2 は例えば200 ｍＶに選定される。
５を用いて説明する。図５の（ａ）は図４に示す実効値
ＥV の波形を判り易く直線で示した図、図５の（ｂ）は
コンパレータ５の出力信号の波形図、図５の（ｃ）は診
断対象となるＡＥの検出信号の取り込み期間（後述す
る）を示す図である。本実施の形態では、エレベータの
加速期間および減速期間、即ち巻上機２０の回転速度が
小さい期間はＡＥの検出信号が小さくノイズが大きく影
響するので、これらの期間の信号は用いず、エレベータ
の定速期間におけるＡＥの検出信号を用いる。このた
め、設定部６には図５の（ａ）に示す２つの電圧ｖ1 、
ｖ2 が設定値として設定される。電圧ｖ1 は例えば300
ｍＶに、電圧ｖ2 は例えば200 ｍＶに選定される。
【００１８】コンパレータ５は実効値回路４から出力さ
れる実効値信号を最初に設定値ｖ1と比較し、実効値信
号ＥV が設定値ｖ1 以上になったとき高レベル信号を出
力し、次いで、実効値信号を設定値ｖ2 と比較し、実効
値信号ＥV が設定値ｖ2 以下となったとき低レベル信号
を出力する。このコンパレータ５の出力信号（ゲート信
号）Ｇ1 が図５の（ｂ）に示されている。このゲート信
号Ｇ1 は、ゲート回路９および制御部１６へ出力され
る。このゲート信号Ｇ1 を用いてエレベータの定速期間
の把握の準備がなされる。なお、設定値ｖ1 と設定値ｖ
2 を異なる値としたのは、実際の実効値信号ＥVは図４
又は図５に示すように連続して増加、減少するものでは
なく、絶えず細かに増減しながら増加、減少してゆくの
で、両者を同一値とすると設定値付近でゲート信号のＯ
Ｎ、ＯＦＦが繰り返されて定速期間を把握することがで
きなくなるからである。
れる実効値信号を最初に設定値ｖ1と比較し、実効値信
号ＥV が設定値ｖ1 以上になったとき高レベル信号を出
力し、次いで、実効値信号を設定値ｖ2 と比較し、実効
値信号ＥV が設定値ｖ2 以下となったとき低レベル信号
を出力する。このコンパレータ５の出力信号（ゲート信
号）Ｇ1 が図５の（ｂ）に示されている。このゲート信
号Ｇ1 は、ゲート回路９および制御部１６へ出力され
る。このゲート信号Ｇ1 を用いてエレベータの定速期間
の把握の準備がなされる。なお、設定値ｖ1 と設定値ｖ
2 を異なる値としたのは、実際の実効値信号ＥVは図４
又は図５に示すように連続して増加、減少するものでは
なく、絶えず細かに増減しながら増加、減少してゆくの
で、両者を同一値とすると設定値付近でゲート信号のＯ
Ｎ、ＯＦＦが繰り返されて定速期間を把握することがで
きなくなるからである。
【００１９】一方、増幅器２から出力される検出信号は
バイパスフィルタ７を通過することにより、ノイズ成分
が除去され、次いで検波回路８により検波される。検波
された検出信号はゲート回路９に入力されるが、上述の
ように、ゲート回路９はゲート信号Ｇ1 が高レベルの期
間だけゲートを開いているので、当該期間の検出信号の
み通過してコンパレータ１０に入力される。コンパレー
タ１０は入力された検出信号とＤ／Ａ変換器１１から出
力されるしきい値信号とを比較して、検出信号が当該し
きい値信号以上のとき信号を出力する。当該しきい値信
号が図４に符号ＳH で示されている。このしきい値信号
ＳH は、制御部１６で実効値信号に所定の数を乗算し又
は所定の数を加算することにより算出され、上記Ｄ／Ａ
変換器１１を介して出力される。一例として、しきい値
信号ＳH は実効値信号の２倍の値とされる。制御部１６
におけるしきい値ＳH の作成については後述する。波形
整形回路１２はコンパレータ１０から１つの信号が出力
される都度、予め定められた大きさおよび幅の１つのパ
ルスを出力し、このパルスは制御部１６に入力される。
バイパスフィルタ７を通過することにより、ノイズ成分
が除去され、次いで検波回路８により検波される。検波
された検出信号はゲート回路９に入力されるが、上述の
ように、ゲート回路９はゲート信号Ｇ1 が高レベルの期
間だけゲートを開いているので、当該期間の検出信号の
み通過してコンパレータ１０に入力される。コンパレー
タ１０は入力された検出信号とＤ／Ａ変換器１１から出
力されるしきい値信号とを比較して、検出信号が当該し
きい値信号以上のとき信号を出力する。当該しきい値信
号が図４に符号ＳH で示されている。このしきい値信号
ＳH は、制御部１６で実効値信号に所定の数を乗算し又
は所定の数を加算することにより算出され、上記Ｄ／Ａ
変換器１１を介して出力される。一例として、しきい値
信号ＳH は実効値信号の２倍の値とされる。制御部１６
におけるしきい値ＳH の作成については後述する。波形
整形回路１２はコンパレータ１０から１つの信号が出力
される都度、予め定められた大きさおよび幅の１つのパ
ルスを出力し、このパルスは制御部１６に入力される。
【００２０】さらに、検波回路８で検波された検出信号
は実効値回路１３に入力され、この実効値回路１３で得
られた実効値がＡ／Ｄ変換器１４を経て制御部１６に入
力される。一方、検波回路８で検波された検出信号はＡ
／Ｄ変換器１５を経て直接制御部１６に入力される。
は実効値回路１３に入力され、この実効値回路１３で得
られた実効値がＡ／Ｄ変換器１４を経て制御部１６に入
力される。一方、検波回路８で検波された検出信号はＡ
／Ｄ変換器１５を経て直接制御部１６に入力される。
【００２１】次に、制御部１６の動作を図６に示すフロ
ーチャートを参照して説明する。ＣＰＵ１６２は入出力
部１６１を介して切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 が端子ａ
側に切り換えられているか否か判断する（図６に示す手
順Ｓ0 ）。このような判断手段は周知である。巻上機２
０の軸受２１の診断の場合には、前述のように、切換ス
イッチＳＷ1 、ＳＷ2 は端子ａ側に切り換えられてい
る。次に、ＣＰＵ１６２は入出力部１６１を介してコン
パレータ５の信号を取り込み、ゲート信号Ｇ1 が高レベ
ル（ゲート開信号）になったか否か判断する（手順Ｓ
1 ）。ゲート信号Ｇ1 が高レベルになるとＣＰＵ１６２
はクロック１６６を作動させて計時を開始する（手順Ｓ
2 ）。
ーチャートを参照して説明する。ＣＰＵ１６２は入出力
部１６１を介して切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 が端子ａ
側に切り換えられているか否か判断する（図６に示す手
順Ｓ0 ）。このような判断手段は周知である。巻上機２
０の軸受２１の診断の場合には、前述のように、切換ス
イッチＳＷ1 、ＳＷ2 は端子ａ側に切り換えられてい
る。次に、ＣＰＵ１６２は入出力部１６１を介してコン
パレータ５の信号を取り込み、ゲート信号Ｇ1 が高レベ
ル（ゲート開信号）になったか否か判断する（手順Ｓ
1 ）。ゲート信号Ｇ1 が高レベルになるとＣＰＵ１６２
はクロック１６６を作動させて計時を開始する（手順Ｓ
2 ）。
【００２２】ここで、クロック１６６による計時につい
て説明する。このクロック１６６により計時される時間
ｔ11、ｔ12（秒）が図５の（ｃ）に示されている。さき
に述べたように、図５の（ｂ）に示すゲート信号Ｇ1
は、設定値ｖ1 、ｖ2 により作成されるが、実際の実効
値信号ＥV からエレベータが定速期間に入った時点又は
定速期間が終了した時点を把握するのは困難である。そ
れ故、図５の（ａ）に示すように、設定値ｖ1 、ｖ2
は、定速期間に入る直前の実効値又は定速期間が終了し
た直後の実効値と考えられる値に選定されている。した
がって、ゲート信号Ｇ1 の高レベル期間の検出信号をそ
のまま取り込むと定速期間以外の期間の検出信号も取り
込むこととなり、ノイズの影響を受けるおそれがある。
て説明する。このクロック１６６により計時される時間
ｔ11、ｔ12（秒）が図５の（ｃ）に示されている。さき
に述べたように、図５の（ｂ）に示すゲート信号Ｇ1
は、設定値ｖ1 、ｖ2 により作成されるが、実際の実効
値信号ＥV からエレベータが定速期間に入った時点又は
定速期間が終了した時点を把握するのは困難である。そ
れ故、図５の（ａ）に示すように、設定値ｖ1 、ｖ2
は、定速期間に入る直前の実効値又は定速期間が終了し
た直後の実効値と考えられる値に選定されている。した
がって、ゲート信号Ｇ1 の高レベル期間の検出信号をそ
のまま取り込むと定速期間以外の期間の検出信号も取り
込むこととなり、ノイズの影響を受けるおそれがある。
【００２３】そこで、本実施の形態では図５の（ｃ）に
示すように、ゲート信号Ｇ1 の立上りから、確実に定速
期間に入ったとみなされる所定時間ｔ11を計時すること
により定速期間を捉え、所定時間ｔ11から、確実に定速
期間にあると考えられる所定時間ｔ12経過までのゲート
Ｇ2 を設けることにより、確実にエレベータの定速期間
を捕捉するものである。さらに、ゲートＧ2 を設けるこ
とにより、定速期間に達する前に又は定速期間に入って
短時間でエレベータの減速がなされる場合の検出信号の
取り込みを排除し、正確な判断に寄与するものである。
示すように、ゲート信号Ｇ1 の立上りから、確実に定速
期間に入ったとみなされる所定時間ｔ11を計時すること
により定速期間を捉え、所定時間ｔ11から、確実に定速
期間にあると考えられる所定時間ｔ12経過までのゲート
Ｇ2 を設けることにより、確実にエレベータの定速期間
を捕捉するものである。さらに、ゲートＧ2 を設けるこ
とにより、定速期間に達する前に又は定速期間に入って
短時間でエレベータの減速がなされる場合の検出信号の
取り込みを排除し、正確な判断に寄与するものである。
【００２４】ＣＰＵ１６２は所定の時間ｔ11秒が経過し
たか否かを判断し（手順Ｓ3 ）、経過すると実効値回路
１３から出力される実効値をＡ／Ｄ変換器１４、入出力
部１６１を介して取り込み（手順Ｓ4 ）、取り込んだ実
効値に基づいてしきい値を演算（例えば実効値の２倍）
し（手順Ｓ5 ）、これを入出力部１６１およびＤ／Ａ変
換器１１を介してコンパレータ１０へ出力する（手順Ｓ
6 ）。次いでＣＰＵ１６２は波形整形回路１２からのパ
ルスが入力されたか否かを判断し（手順Ｓ7 ）、入力さ
れた場合は、ＲＡＭ１６４に格納されている既に入力さ
れているパルス数に「１」を加算し（手順Ｓ8 ）、（ｔ
11＋ｔ12）秒が経過したか否かを（ゲートＧ2 期間が経
過したか否かを）判断する（手順Ｓ9 ）。手順Ｓ7 の処
理でパルスが入力されないと判断した場合は処理を手順
Ｓ9 へ移行させる。ＣＰＵ１６２は手順Ｓ9 の処理でゲ
ートＧ1 期間が経過していないと判断すると処理を手順
Ｓ4 へ戻して再び手順Ｓ4 〜Ｓ9 の処理を繰り返す。
たか否かを判断し（手順Ｓ3 ）、経過すると実効値回路
１３から出力される実効値をＡ／Ｄ変換器１４、入出力
部１６１を介して取り込み（手順Ｓ4 ）、取り込んだ実
効値に基づいてしきい値を演算（例えば実効値の２倍）
し（手順Ｓ5 ）、これを入出力部１６１およびＤ／Ａ変
換器１１を介してコンパレータ１０へ出力する（手順Ｓ
6 ）。次いでＣＰＵ１６２は波形整形回路１２からのパ
ルスが入力されたか否かを判断し（手順Ｓ7 ）、入力さ
れた場合は、ＲＡＭ１６４に格納されている既に入力さ
れているパルス数に「１」を加算し（手順Ｓ8 ）、（ｔ
11＋ｔ12）秒が経過したか否かを（ゲートＧ2 期間が経
過したか否かを）判断する（手順Ｓ9 ）。手順Ｓ7 の処
理でパルスが入力されないと判断した場合は処理を手順
Ｓ9 へ移行させる。ＣＰＵ１６２は手順Ｓ9 の処理でゲ
ートＧ1 期間が経過していないと判断すると処理を手順
Ｓ4 へ戻して再び手順Ｓ4 〜Ｓ9 の処理を繰り返す。
【００２５】ＣＰＵ１６２は手順Ｓ9 でゲートＧ1 期間
が経過したと判断すると、クロック１６６をリセットし
（手順Ｓ10）、次いでコンパレータ５からの低レベル信
号の出力（ゲートＧ1 閉）を待つ（手順Ｓ11）。低レベ
ル信号の出力があったとき、ＣＰＵ１６２は当該データ
採取が所定回数に達したか否か、即ち、ゲートＧ2 にお
ける検出信号採取の処理が所定回数に達したか否かを判
断する（手順Ｓ12）。この判断は、ゲートＧ2 の延べ時
間が所定時間（エスカレータ等連続運転の回転機軸受の
診断における検出信号の採取時間と同一時間）に達した
か否かを判断することと等しい。検出信号採取処理が所
定回数に達していない場合には、処理を手順Ｓ1 へ移行
させて次の巻上機２０の駆動を待つ。又、所定回数に達
している場合、ＣＰＵ１６２はＲＡＭ１６４に格納され
ているパルス数に基づいて軸受２１における損傷の有無
を従来と同様の手法で診断する処理を行なうとともに、
ＲＡＭ１６４に格納されているパルス数をリセットする
（手順Ｓ13）。なお、上記診断は、ＲＡＭ１６４に格納
されているパルス数と予め設定されたパルス数とを比較
し、前者が後者以上のとき損傷のおそれ有りと診断す
る。
が経過したと判断すると、クロック１６６をリセットし
（手順Ｓ10）、次いでコンパレータ５からの低レベル信
号の出力（ゲートＧ1 閉）を待つ（手順Ｓ11）。低レベ
ル信号の出力があったとき、ＣＰＵ１６２は当該データ
採取が所定回数に達したか否か、即ち、ゲートＧ2 にお
ける検出信号採取の処理が所定回数に達したか否かを判
断する（手順Ｓ12）。この判断は、ゲートＧ2 の延べ時
間が所定時間（エスカレータ等連続運転の回転機軸受の
診断における検出信号の採取時間と同一時間）に達した
か否かを判断することと等しい。検出信号採取処理が所
定回数に達していない場合には、処理を手順Ｓ1 へ移行
させて次の巻上機２０の駆動を待つ。又、所定回数に達
している場合、ＣＰＵ１６２はＲＡＭ１６４に格納され
ているパルス数に基づいて軸受２１における損傷の有無
を従来と同様の手法で診断する処理を行なうとともに、
ＲＡＭ１６４に格納されているパルス数をリセットする
（手順Ｓ13）。なお、上記診断は、ＲＡＭ１６４に格納
されているパルス数と予め設定されたパルス数とを比較
し、前者が後者以上のとき損傷のおそれ有りと診断す
る。
【００２６】ここで、切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 が端
子ｂ側へセットされる場合について説明する。エレベー
タでは断続運転が行なわれるので、上記のようにデータ
の採取も断続して行なわれる。これに対して、エスカレ
ータのような機械は連続運転が行なわれるので、データ
は連続して採取することが可能である。そして、データ
の断続的な採取より、連続採取の方がはるかに迅速な診
断ができるのは明らかである。本実施の形態では、上述
のように切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 を設け、連続運転
の回転機の軸受の診断においては、これらを端子ｂ側に
切り換えて検波回路３、実効値回路４、コンパレータ
５、ゲート回路９を無効にすることにより、連続したデ
ータの採取が可能なようにするものである。
子ｂ側へセットされる場合について説明する。エレベー
タでは断続運転が行なわれるので、上記のようにデータ
の採取も断続して行なわれる。これに対して、エスカレ
ータのような機械は連続運転が行なわれるので、データ
は連続して採取することが可能である。そして、データ
の断続的な採取より、連続採取の方がはるかに迅速な診
断ができるのは明らかである。本実施の形態では、上述
のように切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 を設け、連続運転
の回転機の軸受の診断においては、これらを端子ｂ側に
切り換えて検波回路３、実効値回路４、コンパレータ
５、ゲート回路９を無効にすることにより、連続したデ
ータの採取が可能なようにするものである。
【００２７】即ち、上記の手順Ｓ0 で切換スイッチＳＷ
1 、ＳＷ2 が端子ｂ側へ切り換えられている（連続運転
の回転機の軸受の診断）と判断すると、ＣＰＵ１６２は
クロック１６６を作動させて計時を開始する（手順
Ｓ14）。以後、手順Ｓ15〜Ｓ19において、さきに説明し
た手順Ｓ4 〜Ｓ8 と同一の処理を実行する。そして、手
順Ｓ20で予め定められた時間（診断に要するデータ採取
に充分な時間）が経過したか否か判断する。手順Ｓ18の
処理でパルスが入力されないと判断した場合は処理を手
順Ｓ20へ移行させる。ＣＰＵ１６２は手順Ｓ20の処理で
当該時間が経過していないと判断すると、処理を手順Ｓ
15へ戻して再び手順Ｓ15〜Ｓ20の処理を繰り返す。ＣＰ
Ｕ１６２は手順Ｓ20で当該時間が経過したと判断する
と、クロック１６６をリセットし（手順Ｓ21）、ＲＡＭ
１６４に格納されているパルス数に基づいて軸受２１に
おける損傷の有無を診断する処理を行なうとともに、Ｒ
ＡＭ１６４に格納されているパルス数をリセットする
（手順Ｓ13）。以上の処理により、連続運転の回転機の
軸受の診断が行なわれる。
1 、ＳＷ2 が端子ｂ側へ切り換えられている（連続運転
の回転機の軸受の診断）と判断すると、ＣＰＵ１６２は
クロック１６６を作動させて計時を開始する（手順
Ｓ14）。以後、手順Ｓ15〜Ｓ19において、さきに説明し
た手順Ｓ4 〜Ｓ8 と同一の処理を実行する。そして、手
順Ｓ20で予め定められた時間（診断に要するデータ採取
に充分な時間）が経過したか否か判断する。手順Ｓ18の
処理でパルスが入力されないと判断した場合は処理を手
順Ｓ20へ移行させる。ＣＰＵ１６２は手順Ｓ20の処理で
当該時間が経過していないと判断すると、処理を手順Ｓ
15へ戻して再び手順Ｓ15〜Ｓ20の処理を繰り返す。ＣＰ
Ｕ１６２は手順Ｓ20で当該時間が経過したと判断する
と、クロック１６６をリセットし（手順Ｓ21）、ＲＡＭ
１６４に格納されているパルス数に基づいて軸受２１に
おける損傷の有無を診断する処理を行なうとともに、Ｒ
ＡＭ１６４に格納されているパルス数をリセットする
（手順Ｓ13）。以上の処理により、連続運転の回転機の
軸受の診断が行なわれる。
【００２８】ここで、図５に示す波形メモリ１６５は、
検波回路８で検波された検出信号を取り込んで格納する
メモリであり、図６に示す処理は波形メモリ１６５への
検出信号の取り込み処理に適宜割り込んで実行される。
波形メモリ１６５に格納された波形データは、ＣＰＵ１
６２により取り出され、入出力部１６１およびＤ／Ａ変
換器１７を介して表示部１８に表示される。この場合、
波形メモリ１６５に格納される波形データの数は、表示
部１８の表示領域に表示し得るデータの数に比較しては
るかに多いので、波形メモリ１６５から取り出される波
形データは、上記表示領域に適合するように適宜の間隔
で間引きされて取り出され、表示されることとなる。
検波回路８で検波された検出信号を取り込んで格納する
メモリであり、図６に示す処理は波形メモリ１６５への
検出信号の取り込み処理に適宜割り込んで実行される。
波形メモリ１６５に格納された波形データは、ＣＰＵ１
６２により取り出され、入出力部１６１およびＤ／Ａ変
換器１７を介して表示部１８に表示される。この場合、
波形メモリ１６５に格納される波形データの数は、表示
部１８の表示領域に表示し得るデータの数に比較しては
るかに多いので、波形メモリ１６５から取り出される波
形データは、上記表示領域に適合するように適宜の間隔
で間引きされて取り出され、表示されることとなる。
【００２９】なお、上記実施の形態の説明では、断続運
転の回転機軸受の診断の場合に、固定された時間間隔ｔ
12のゲートＧ2 を用いる例について説明したが、これに
限ることはなく、ゲートＧ2 の時間間隔を固定しない手
段を用いることができる。そのためには、図６に示すフ
ローチャートにおける手順Ｓ7 〜Ｓ11の処理を次のよう
な処理とする。即ち、ゲート閉信号の入力があるまでパ
ルス信号が入力する毎にその時間をＲＡＭ１６４に記憶
し、ゲート閉信号の入力があったとき、その時点から所
定時間遡った時間以前に入力されたパルス数を採用す
る。そして、時間ｔ11から当該遡った時間までの時間間
隔を演算してＲＡＭ１６４に記憶しておき、手順Ｓ12の
処理では、記憶された時間の総計が所定時間に達したか
否かを判断すればよい。この手段により定速期間を充分
に活用することができ、診断をより一層迅速に行なうこ
とができる。
転の回転機軸受の診断の場合に、固定された時間間隔ｔ
12のゲートＧ2 を用いる例について説明したが、これに
限ることはなく、ゲートＧ2 の時間間隔を固定しない手
段を用いることができる。そのためには、図６に示すフ
ローチャートにおける手順Ｓ7 〜Ｓ11の処理を次のよう
な処理とする。即ち、ゲート閉信号の入力があるまでパ
ルス信号が入力する毎にその時間をＲＡＭ１６４に記憶
し、ゲート閉信号の入力があったとき、その時点から所
定時間遡った時間以前に入力されたパルス数を採用す
る。そして、時間ｔ11から当該遡った時間までの時間間
隔を演算してＲＡＭ１６４に記憶しておき、手順Ｓ12の
処理では、記憶された時間の総計が所定時間に達したか
否かを判断すればよい。この手段により定速期間を充分
に活用することができ、診断をより一層迅速に行なうこ
とができる。
【００３０】このように、本実施の形態では、ＡＥセン
サの検出信号から実効値を求め、この実効値に基づいて
検出信号に対するしきい値を作成するようにしたので、
診断対象の軸受の荷重が異なってもそれに伴って設定値
を変更する必要はなく、かつ、ゲートを設けて定速運転
時に検出信号を採取するようにしたので、断続運転され
るエレベータの巻上機の軸受の診断を行なうことができ
る。さらに、切換スイッチを用いて連続運転の回転機軸
受の診断の場合のデータ採取を連続して行なうようにし
たので、迅速な診断を行なうことができる。
サの検出信号から実効値を求め、この実効値に基づいて
検出信号に対するしきい値を作成するようにしたので、
診断対象の軸受の荷重が異なってもそれに伴って設定値
を変更する必要はなく、かつ、ゲートを設けて定速運転
時に検出信号を採取するようにしたので、断続運転され
るエレベータの巻上機の軸受の診断を行なうことができ
る。さらに、切換スイッチを用いて連続運転の回転機軸
受の診断の場合のデータ採取を連続して行なうようにし
たので、迅速な診断を行なうことができる。
【００３１】なお、上記実施の形態の説明では、断続運
転の回路と連続運転の回路を共有する例について説明し
たが、両者の回路を共有せずにそれぞれ独立した一連の
回路、即ち、図１で切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 を端子
ａ側にセットした場合に構成される回路と、端子ｂ側に
セットした場合に構成される回路とをそれぞれ別個に設
け、これら各独立した回路を増幅器２の次段に切換スイ
ッチを設けて切り換えるようにしてもよい。
転の回路と連続運転の回路を共有する例について説明し
たが、両者の回路を共有せずにそれぞれ独立した一連の
回路、即ち、図１で切換スイッチＳＷ1 、ＳＷ2 を端子
ａ側にセットした場合に構成される回路と、端子ｂ側に
セットした場合に構成される回路とをそれぞれ別個に設
け、これら各独立した回路を増幅器２の次段に切換スイ
ッチを設けて切り換えるようにしてもよい。
【００３２】さらに、エスカレータのように、どの機種
でも回転数がほとんど等しく、回転機軸受から発生する
応力波の大きさが機種毎に大きな差がない場合には、コ
ンパレータで比較するしきい値を、上述のような実効値
に対応した値ではなく、予め定められた一定の値に設定
しても支障なく診断を行なうことができる。この場合の
構成を図７に示す。
でも回転数がほとんど等しく、回転機軸受から発生する
応力波の大きさが機種毎に大きな差がない場合には、コ
ンパレータで比較するしきい値を、上述のような実効値
に対応した値ではなく、予め定められた一定の値に設定
しても支障なく診断を行なうことができる。この場合の
構成を図７に示す。
【００３３】図７は本発明の他の実施の形態に係るＡＥ
を用いたエレベータの巻上機およびエスカレータの回転
機軸受診断装置のブロック図である。この図で、図１に
示す部分と同一又は等価な部分には同一符号を付して説
明を省略する。７ｂはバイパスフィルタ、８ｂは検波回
路、１２ｂは波形整形回路であり、これらはバイパスフ
ィルタ７、検波回路８、波形整形回路１２と同一機能を
達成する。２０はしきい値を設定する設定部、２１は検
波回路８ｂの出力と設定部２０に設定されたしきい値と
を比較するコンパレータである。ＳＷは切換スイッチで
あり、エレベータの軸受診断の場合には端子ａ側に切り
換えられ、エスカレータの軸受診断の場合には端子ｂ側
に切り換えられる。端子ａには検波回路３およびバイパ
スフィルタ７が接続され、端子ｂにはバイパスフィルタ
７ｂが接続される。ＡＥセンサ１および増幅器２はエレ
ベータの軸受診断の場合およびエスカレータの軸受診断
の場合に共通である。
を用いたエレベータの巻上機およびエスカレータの回転
機軸受診断装置のブロック図である。この図で、図１に
示す部分と同一又は等価な部分には同一符号を付して説
明を省略する。７ｂはバイパスフィルタ、８ｂは検波回
路、１２ｂは波形整形回路であり、これらはバイパスフ
ィルタ７、検波回路８、波形整形回路１２と同一機能を
達成する。２０はしきい値を設定する設定部、２１は検
波回路８ｂの出力と設定部２０に設定されたしきい値と
を比較するコンパレータである。ＳＷは切換スイッチで
あり、エレベータの軸受診断の場合には端子ａ側に切り
換えられ、エスカレータの軸受診断の場合には端子ｂ側
に切り換えられる。端子ａには検波回路３およびバイパ
スフィルタ７が接続され、端子ｂにはバイパスフィルタ
７ｂが接続される。ＡＥセンサ１および増幅器２はエレ
ベータの軸受診断の場合およびエスカレータの軸受診断
の場合に共通である。
【００３４】エレベータの軸受診断の場合の動作はさき
に説明したとおりである。エスカレータの軸受診断の場
合、切換スイッチＳＷは端子ｂ側に切り換えられる。こ
の状態で、ＡＥセンサ１で検出された検出信号は増幅器
２で増幅され、バイパスフィルタ７ｂにおいて増幅され
た検出信号のうちの特定の周波数信号（例えば60〜350
Ｈｚ）のみが通過し、検波回路８ｂで検波され、コンパ
レータ２１に入力される。設定部２０には、さきに述べ
たように所定のしきい値が設定されており、コンパレー
タ２１は入力された検波信号と当該しきい値とを比較
し、しきい値以上の検波信号があるときは波形整形回路
１２ｂに信号を出力し、波形整形回路１２ｂはこの信号
の入力に応じて制御部１６へパルスを出力する。制御部
１６は予め定められた所定時間の間に入力したパルスを
加算し、この加算値に基づいてエスカレータの軸受の診
断を行なう。なお、設定部に設定されるしきい値は、手
動で設定してもよいし、制御部１６からのデータ入力に
より設定してもよい。このように、しきい値として一定
値を用いることにより、構成を簡素化することができ、
制御部の演算制御も簡素化することができる。
に説明したとおりである。エスカレータの軸受診断の場
合、切換スイッチＳＷは端子ｂ側に切り換えられる。こ
の状態で、ＡＥセンサ１で検出された検出信号は増幅器
２で増幅され、バイパスフィルタ７ｂにおいて増幅され
た検出信号のうちの特定の周波数信号（例えば60〜350
Ｈｚ）のみが通過し、検波回路８ｂで検波され、コンパ
レータ２１に入力される。設定部２０には、さきに述べ
たように所定のしきい値が設定されており、コンパレー
タ２１は入力された検波信号と当該しきい値とを比較
し、しきい値以上の検波信号があるときは波形整形回路
１２ｂに信号を出力し、波形整形回路１２ｂはこの信号
の入力に応じて制御部１６へパルスを出力する。制御部
１６は予め定められた所定時間の間に入力したパルスを
加算し、この加算値に基づいてエスカレータの軸受の診
断を行なう。なお、設定部に設定されるしきい値は、手
動で設定してもよいし、制御部１６からのデータ入力に
より設定してもよい。このように、しきい値として一定
値を用いることにより、構成を簡素化することができ、
制御部の演算制御も簡素化することができる。
【００３５】なお、上記各実施の形態の説明では、エレ
ベータやエスカレータの巻上機の軸受の診断について説
明したが、回転機の軸受であればどのような軸受にも適
用することができる。さらに、増幅回路、検波回路、お
よびバイパスフィルタ以外の機能はマイクロコンピュー
タで遂行することができる。
ベータやエスカレータの巻上機の軸受の診断について説
明したが、回転機の軸受であればどのような軸受にも適
用することができる。さらに、増幅回路、検波回路、お
よびバイパスフィルタ以外の機能はマイクロコンピュー
タで遂行することができる。
【００３６】さらに、近年、建造物内の各種設備（エレ
ベータ、エスカレータ、屋上水槽等）の保守は保守専門
の会社に委託することが多く、この場合、保守専門の会
社は当該設備について専門知識を有する保守員を、保守
契約をした各建造物に派遣して保守を行なわせることに
なる。そして、保守専門の会社では、保守作業について
の種々の処理を簡素化するため、各保守員に携帯型のコ
ンピュータを携行するシステムが採用されつつある。そ
こで、保守員が保守対象の回転機の軸受を診断する場
合、本実施の形態のうち、マイクロコンピュータで処理
できる構成を上記携帯型のコンピュータに収納すれば、
保守員が軸受診断のために携行するＡＥセンサ以外のマ
イクロコンピュータを使用しない構成を著しく簡素化す
ることができ、これらを収納するケースの重量と容量を
小型化して保守員の負担を軽減することができる。
ベータ、エスカレータ、屋上水槽等）の保守は保守専門
の会社に委託することが多く、この場合、保守専門の会
社は当該設備について専門知識を有する保守員を、保守
契約をした各建造物に派遣して保守を行なわせることに
なる。そして、保守専門の会社では、保守作業について
の種々の処理を簡素化するため、各保守員に携帯型のコ
ンピュータを携行するシステムが採用されつつある。そ
こで、保守員が保守対象の回転機の軸受を診断する場
合、本実施の形態のうち、マイクロコンピュータで処理
できる構成を上記携帯型のコンピュータに収納すれば、
保守員が軸受診断のために携行するＡＥセンサ以外のマ
イクロコンピュータを使用しない構成を著しく簡素化す
ることができ、これらを収納するケースの重量と容量を
小型化して保守員の負担を軽減することができる。
【００３７】
【発明の効果】以上述べたように、本発明では、ＡＥセ
ンサの検出信号から実効値を求め、この実効値に基づい
て検出信号に対するしきい値を作成するようにしたの
で、診断対象の軸受の荷重が異なっても、それに伴って
設定値を変更する必要はなく、診断を誤りなく容易に行
なうことができ、かつ、ゲートを設けて回転機の定速運
転時に検出信号を採取するようにしたので、断続運転さ
れる回転機の軸受の診断も正確に行なうことができる。
さらに、連続運転される回転機の軸受の診断に対して
は、ゲートを用いないようにしたので、迅速な診断を行
なうことができる。
ンサの検出信号から実効値を求め、この実効値に基づい
て検出信号に対するしきい値を作成するようにしたの
で、診断対象の軸受の荷重が異なっても、それに伴って
設定値を変更する必要はなく、診断を誤りなく容易に行
なうことができ、かつ、ゲートを設けて回転機の定速運
転時に検出信号を採取するようにしたので、断続運転さ
れる回転機の軸受の診断も正確に行なうことができる。
さらに、連続運転される回転機の軸受の診断に対して
は、ゲートを用いないようにしたので、迅速な診断を行
なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係るＡＥを用いたエレベ
ータの巻上機軸受およびエスカレータの回転機軸受診断
装置のブロック図である。
ータの巻上機軸受およびエスカレータの回転機軸受診断
装置のブロック図である。
【図２】エレベータの巻上機の側面図である。
【図３】エレベータの速度を示す図である。
【図４】検出信号、実効値信号およびしきい値信号を示
す図である。
す図である。
【図５】図１に示す回路に用いられるゲートを説明する
図である。
図である。
【図６】図１に示す制御部の動作を説明するフローチャ
ートである。
ートである。
【図７】本発明の他の実施の形態に係るＡＥを用いたエ
レベータの巻上機軸受およびエスカレータの回転機軸受
診断装置のブロック図である。
レベータの巻上機軸受およびエスカレータの回転機軸受
診断装置のブロック図である。
１ ＡＥセンサ ２ 増幅器 ３、８ 検波回路 ４、１３ 実効値回路 ５、１０ コンパレータ ７ バイパスフィルタ ９ ゲート回路 １２ 波形整形回路 １６ 制御部 １８ 表示部 ＳＷ1 、ＳＷ2 切換スイッチ
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｂ６６Ｂ 31/00 Ｂ６６Ｂ 31/00 Ｄ (72)発明者 中島 修二 茨城県日立市幸町三丁目２番２号 株式会 社日立エンジニアリングサービス内 (72)発明者 土田 健二 茨城県日立市幸町三丁目２番２号 株式会 社日立エンジニアリングサービス内 (72)発明者 鬼沢 文生 茨城県日立市幸町三丁目２番２号 株式会 社日立エンジニアリングサービス内
Claims (10)
- 【請求項１】 回転機の回転によりその軸受から発生す
るアコースティック・エミッションを検出する検出器の
検出値に基づいて前記軸受の良否を診断する回転機軸受
診断装置において、前記検出器の検出値の実効値を求め
る実効値算出手段と、この実効値算出手段で得られた実
効値に応じて前記検出器の検出値に対するしきい値を求
めるしきい値算出手段と、このしきい値算出手段で算出
されたしきい値と前記検出器の検出値とを比較して当該
検出値が前記しきい値を超えたときパルスを出力する比
較手段と、この比較手段から出力されたパルスを前記回
転機の定速運転期間における所定期間だけ取り込むデー
タ採取手段と、このデータ採取手段で取り込まれたパル
スの数を記憶する記憶手段と、前記所定期間の合計時間
が予め定められた所定時間に達したとき前記記憶手段に
記憶されたパルス数に基づいて前記軸受の良否を判断す
る判断手段とで構成される第１の軸受診断手段と、前記
実効値算出手段、前記しきい値算出手段、前記比較手
段、前記記憶手段、および前記判断手段を共有し、これ
ら各手段と、前記比較手段から出力されたパルスを所定
時間だけ取り込み前記記憶手段に出力する他のデータ採
取手段とで構成される第２の軸受診断手段と、前記第１
の軸受診断手段および前記第２の軸受診断手段のいずれ
かを選択する選択手段とを設けたことを特徴とするアコ
ースティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装
置。 - 【請求項２】 回転機の回転によりその軸受から発生す
るアコースティック・エミッションを検出する検出器の
検出値に基づいて前記軸受の良否を診断する回転機軸受
診断装置において、前記検出器の検出値の実効値を求め
る実効値算出手段と、この実効値算出手段で得られた実
効値に応じて前記検出器の検出値に対するしきい値を求
めるしきい値算出手段と、このしきい値算出手段で算出
されたしきい値と前記検出器の検出値とを比較して当該
検出値が前記しきい値を超えたときパルスを出力する比
較手段と、この比較手段から出力されたパルスを前記回
転機の定速運転期間における所定期間だけ取り込むデー
タ採取手段と、このデータ採取手段で取り込まれたパル
スの数を記憶する記憶手段と、前記所定期間の合計時間
が予め定められた所定時間に達したとき前記記憶手段に
記憶されたパルス数に基づいて前記軸受の良否を判断す
る判断手段とで構成される第１の軸受診断手段と、前記
記憶手段、前記しきい値算出手段、および前記判断手段
を共有し、これら各手段と、前記実効値算出手段と同一
の機能を有する他の実効値算出手段と、前記比較手段と
同一の機能を有する他の比較手段と、前記比較手段から
出力されたパルスを所定時間だけ取り込み前記記憶手段
に出力する他のデータ採取手段とで構成される第２の軸
受診断手段と、前記第１の軸受診断手段と前記第２の軸
受診断手段のいずれかを選択する選択手段とを設けたこ
とを特徴とするアコースティック・エミッションを用い
た回転機軸受診断装置。 - 【請求項３】 回転機の回転によりその軸受から発生す
るアコースティック・エミッションを検出する検出器の
検出値に基づいて前記軸受の良否を診断する回転機軸受
診断装置において、前記検出器の検出値の実効値を求め
る実効値算出手段と、この実効値算出手段で得られた実
効値に応じて前記検出器の検出値に対するしきい値を求
めるしきい値算出手段と、このしきい値算出手段で算出
されたしきい値と前記検出器の検出値とを比較して当該
検出値が前記しきい値を超えたときパルスを出力する比
較手段と、この比較手段から出力されたパルスを前記回
転機の定速運転期間における所定期間だけ取り込むデー
タ採取手段と、このデータ採取手段で取り込まれたパル
スの数を記憶する記憶手段と、前記所定期間の合計時間
が予め定められた所定時間に達したとき前記記憶手段に
記憶されたパルス数に基づいて前記軸受の良否を判断す
る判断手段とで構成される第１の軸受診断手段と、前記
記憶手段および前記判断手段を共有し、これら各手段
と、予め定められたしきい値と前記検出器の検出値とを
比較して当該検出値が前記しきい値を超えたときパルス
を出力する他の比較手段と、当該他の比較手段から出力
されたパルスを所定時間だけ取り込み前記記憶手段に出
力する他のデータ採取手段とで構成される第２の軸受診
断手段と、前記第１の軸受診断手段と前記第２の軸受診
断手段のいずれかを選択する選択手段とを設けたことを
特徴とするアコースティック・エミッションを用いた回
転機軸受診断装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至請求項３において、前記パ
ルスを取り込む前記所定期間は、前記実効値が予め設定
された設定値を超えた時点から第１の設定時間経過後に
始まり第２の設定時間が経過して終了する期間であるこ
とを特徴とするアコースティック・エミッションを用い
た回転機軸受診断装置。 - 【請求項５】 請求項１乃至請求項３において、前記パ
ルスを取り込む前記所定期間は、前記実効値が予め設定
された第１の設定値以上になった時点から第１の設定時
間経過後に始まり、前記実効値が予め定められた第２の
設定値以下になった時点から第２の設定時間だけ遡った
時点までの期間であることを特徴とするアコースティッ
ク・エミッションを用いた回転機軸受診断装置。 - 【請求項６】 請求項１乃至請求項３において、前記第
１の軸受診断部、前記第２の軸受診断部、および前記選
択手段は、１つのケースに収納されていることを特徴と
するアコースティック・エミッションを用いた回転機軸
受診断装置。 - 【請求項７】 請求項１乃至請求項３において、前記し
きい値算出手段、前記データ採取手段、前記他のデータ
採取手段、前記記憶手段、前記判断手段、および前記他
の判断手段は、コンピュータを用いて構成されているこ
とを特徴とするアコースティック・エミッションを用い
た回転機軸受診断装置。 - 【請求項８】 請求項１又は請求項２において、前記実
効値算出手段、前記他の実効値算出手段、前記しきい値
算出手段、前記比較手段、前記他の比較手段、前記デー
タ採取手段、前記他のデータ採取手段、前記記憶手段、
および前記判断手段は、コンピュータを用いて構成され
ていることを特徴とするアコースティック・エミッショ
ンを用いた回転機軸受診断装置。 - 【請求項９】 請求項３において、前記実効値算出手
段、前記しきい値算出手段、前記比較手段、前記他の比
較手段、前記データ採取手段、前記他のデータ採取手
段、前記記憶手段、および前記判断手段は、コンピュー
タを用いて構成されていることを特徴とするアコーステ
ィック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置。 - 【請求項１０】 請求項７乃至請求項９において、前記
コンピュータは、携帯型のコンピュータであることを特
徴とするアコースティック・エミッションを用いた回転
機軸受診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01914196A JP3325449B2 (ja) | 1996-02-05 | 1996-02-05 | アコースティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01914196A JP3325449B2 (ja) | 1996-02-05 | 1996-02-05 | アコースティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09210860A true JPH09210860A (ja) | 1997-08-15 |
| JP3325449B2 JP3325449B2 (ja) | 2002-09-17 |
Family
ID=11991186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01914196A Expired - Fee Related JP3325449B2 (ja) | 1996-02-05 | 1996-02-05 | アコースティック・エミッションを用いた回転機軸受診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3325449B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004076874A1 (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-10 | Thk Co., Ltd. | 状態検出装置及び状態検出方法並びに状態検出用プログラム及び情報記録媒体 |
| EP1674843A3 (en) * | 2004-12-24 | 2008-11-05 | JTEKT Corporation | Sensor-equipped rolling bearing unit |
| US7587299B2 (en) | 2000-11-06 | 2009-09-08 | Nsk Ltd. | Anomaly diagnosis apparatus and method of machine installation |
| CN104793539A (zh) * | 2015-04-15 | 2015-07-22 | 核工业理化工程研究院 | 基于脉冲的多节点选通监测系统 |
| US10018597B2 (en) | 2015-03-24 | 2018-07-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Detection system and detection method |
| CN109253795A (zh) * | 2018-10-31 | 2019-01-22 | 中广核检测技术有限公司 | 声场和声速测量装置 |
-
1996
- 1996-02-05 JP JP01914196A patent/JP3325449B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7587299B2 (en) | 2000-11-06 | 2009-09-08 | Nsk Ltd. | Anomaly diagnosis apparatus and method of machine installation |
| WO2004076874A1 (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-10 | Thk Co., Ltd. | 状態検出装置及び状態検出方法並びに状態検出用プログラム及び情報記録媒体 |
| US7555953B2 (en) | 2003-02-28 | 2009-07-07 | Thk Co., Ltd. | Condition-detecting device, method, and program, and information-recording medium |
| EP1674843A3 (en) * | 2004-12-24 | 2008-11-05 | JTEKT Corporation | Sensor-equipped rolling bearing unit |
| US10018597B2 (en) | 2015-03-24 | 2018-07-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Detection system and detection method |
| CN104793539A (zh) * | 2015-04-15 | 2015-07-22 | 核工业理化工程研究院 | 基于脉冲的多节点选通监测系统 |
| CN109253795A (zh) * | 2018-10-31 | 2019-01-22 | 中广核检测技术有限公司 | 声场和声速测量装置 |
| CN109253795B (zh) * | 2018-10-31 | 2020-08-18 | 中广核检测技术有限公司 | 声场和声速测量装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3325449B2 (ja) | 2002-09-17 |
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