JPH09197733A

JPH09197733A - 画像形成装置

Info

Publication number: JPH09197733A
Application number: JP8024858A
Authority: JP
Inventors: Masaki Tokuhashi; 正樹徳橋; Yoshiaki Miyashita; 義明宮下
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1996-01-19
Filing date: 1996-01-19
Publication date: 1997-07-31

Abstract

(57)【要約】【課題】感光体の静電履歴が画像形成のたびに異なり、
感光体の表面電位を検知し正確にプロセス条件を制御す
ることができない場合がある。そこで、静電履歴を一定
に保つようにする。【解決手段】調整手段５１は感光体２０１に対するイレ
ース光照射タイミングを調整して感光体２０１の静電履
歴を一定に保ち、静電履歴の変化による影響を無くす。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は画像形成装置、特
に適正濃度の画像形成に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】画像形成装置において、感光体の静電特
性は環境、経時使用条件等によって変化する。この変化
に対して、例えば特開昭６３-237075号公報に掲載され
た画像濃度調整装置においては画像が記録された感光体
の表面電位と画像が記録された基準部材の表面電位とを
比較し、その差に応じて作像プロセス条件を制御するこ
とにより、安定した適正濃度の画像が得られるようにし
ている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、感光体
の表面電位は前回の画像形成状態によって異なる場合が
あり、かかる場合には、感光体の表面電位を検知し正確
にプロセス条件を制御することができない。これは感光
体の静電特性、各種照射光の分光特性及び各種照射光並
びにコロナチャージがトナー層を介して感光体に当たる
か否か等により異なる。例えば、図１３に示すようにあ
るシステムでは前回イレース光の照射を受けた部分の表
面電位は受けなかった部分の表面電位より数十ボルト高
くなる。図１３のＢ部分はＡ部分の感光体２０１の１周
後を示している。図１３の３Ｂ部分は１周前にイレース
光の照射を受けていないため、表面電位がイレース光の
照射を受けた部分より低くなっている。図１３のＣ部
分，Ｄ部分，Ｇ部分，Ｈ部分及びＫ部分も同様に１周前
にイレース光の照射を受けていないために表面電位が低
くなっている。

【０００４】このような現象は表面電位の検出によりプ
ロセス条件を制御する場合に限らず、表面電位が一定で
あると仮定して制御を行う装置、例えば、感光体上に潜
像を作成し、その表面電位に応じて付着したトナー像を
光学的に検出することによってトナー付着量を制御する
画像濃度制御装置に対しても影響を及ぼす。

【０００５】この発明はかかる短所を解消するためにな
されたものであり、感光体の静電履歴を考慮することに
より、適確な画像形成プロセスを行うことを目的とす
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明に係る画像形成
装置は、調整手段と表面電位検出手段と画像形成条件制
御手段を有し、調整手段は感光体に対するイレース光照
射タイミングを調整して感光体の静電履歴を一定に保
ち、表面電位検出手段は感光体表面の電位を検出し、画
像形成条件制御手段は感光体表面の電位を表面電位検出
手段から入力し、入力した感光体表面電位を基に画像形
成条件を変更して、常に最適な濃度で画像形成を行う。

【０００７】また、画像形成装置は、表面電位検出手段
と補正手段と画像形成条件制御手段を有し、表面電位検
出手段は感光体表面の電位を検出し、補正手段は表面検
出手段が検出した感光体表面の電位を基に感光体表面の
静電履歴の変化による画像形成条件に対する影響を補正
し、画像形成条件制御手段は感光体表面の電位を表面電
位検出手段から入力し、入力した電位を基に画像形成条
件を変更して、常に最適な濃度で画像形成を行う。

【０００８】さらに、補正手段は感光体表面の静電履歴
の変化による電位変化値を測定し、測定した電位変化値
を基に感光体表面の静電履歴の変化による画像形成条件
に対する影響を補正して、光学系の経時の汚れなどの影
響を補正する。

【０００９】

【発明の実施の形態】この発明の画像形成装置は、感光
体上に形成したトナー像を転写紙に転写する画像形成装
置において、適正濃度の画像を形成するものである。

【００１０】適正濃度の画像を形成するためには、予備
走査時に感光体の電位を原稿による部分と白色基準版に
よる部分とで読み込み、その差の応じて濃度を調整する
ようにすればよいが、感光体の帯電状態がイレース光の
照射を受けた部分と受けなかった部分で異なることか
ら、正確に濃度調整できない場合があった。この発明の
画像形成装置は、感光体の帯電状態を常に等しくするこ
とにより、正確な濃度調整を行うものである。

【００１１】画像形成装置は、例えば調整手段と表面電
位検出手段と画像形成条件制御手段を有する。調整手段
は感光体に対するイレース光の照射タイミングを調整し
て感光体の静電履歴を１周前の感光体の静電履歴と同じ
にする。予めイレース光の照射タイミングを制御して静
電履歴を同じにするので、画像形成制御手段は基準部材
による像が形成された感光体表面の電位を表面電位検出
手段から入力し、入力した電位を基に画像形成条件を変
更して、適確な濃度調整を行うことができる。なお、上
記静電履歴は、感光体表面の残留電位の状態を示す。ま
た、画像形成制御手段による画像形成条件の変更とは、
例えば感光体の白色部の基準となる白基準部の反射光に
よる像が形成された部分の電位（以下、「白部電位」と
いう。）と黒色部の基準となる黒基準部の反射光による
像が形成された部分の電位（以下、「黒部電位」とい
う。）との差を一定に保つようにしても良いし、白部電
位と原稿表面の平均電位との差を基に濃度調整を行うよ
うにしても良い。また、濃度調整は原稿を照射する照射
ランプの照射光の強度を変えたり、感光体を帯電する帯
電用コロナチャージャに供給する電力を変えたりして行
う。

【００１２】また、画像形成装置は、表面電位検出手段
と補正手段と画像形成条件制御手段を有し、表面電位検
出手段は感光体表面の電位を検出し、補正手段は表面検
出手段が検出した感光体表面の電位を基に感光体表面の
静電履歴の変化による画像形成条件に対する影響を補正
してもよい。画像形成条件制御手段は、例えば基準部材
による像が形成された感光体表面の電位を表面電位検出
手段から入力し、入力した電位を基に画像形成条件を変
更して、常に最適な濃度で画像形成を行う。なお、補正
手段による補正は、例えば残留電位を検出して、検出し
た残留電位を基に白部電位及び黒部電位を調整して、両
電位の差を一定に保つ。

【００１３】さらに、残留電位等は使用状況等に応じて
変化するので、補正手段は感光体表面の静電履歴の変化
による電位変化値を測定し、測定した電位変化値を基に
感光体表面の静電履歴の変化による画像形成条件に対す
る影響を補正して、さらに正確に濃度調整を行うことが
できる。

【００１４】

【実施例】図１はこの発明の一実施例の画像形成装置の
構成図である。図に示すように、画像形成装置は画像読
取装置１と作像装置２を有する。画像読取装置１は原稿
台１０１、黒基準部１０２、白基準部１０３、露光ラン
プ１０４、第１ミラー１０５、第２ミラー１０６、第３
ミラー１０７、集光レンズ１０８、第４ミラー１０９、
第５ミラー１１０及び、第６ミラー１１１を備える。原
稿台１０１はコンタクトガラス等から成り、複写する原
稿を置載する部分である。黒基準部１０２は原稿濃度調
整の黒色の基準となる部分で、白基準部１０３は白色の
基準となる部分である。露光ランプ１０４及び第１ミラ
ー１０５は第１キャリッジ（不図示）に搭載され、第１
キャリッジと共に原稿走査範囲を往復動する。露光ラン
プ１０４は原稿台１０１上の原稿を露光し、第１ミラー
１０５は原稿からの反射光を第２ミラー１０６に向けて
反射する。第２ミラー１０６及び第３ミラー１０７は第
１キャリッジの半分の速度で移動する第２キャリッジ
（不図示）に搭載され、第２キャリッジと共に往復動す
る。第２ミラー１０６は第１ミラー１０５からの反射光
を第３ミラー１０７に向けて反射し、第３ミラー１０７
は第２ミラー１０６からの反射光を結像レンズ１０８に
向けて反射する。結像レンズ１０８は第３ミラー１０７
からの反射光を収束する。第４ミラー１０９は結像レン
ズ１０８を経由した反射光を第５ミラー１１０に向けて
反射する。第５ミラー１１０は第４ミラー１０９からの
反射光を第６ミラー１１１に向けて反射する。第６ミラ
ー１１１は第５ミラー１１０からの反射光を作像装置２
に向けて反射する。

【００１５】作像装置２は感光体２０１、帯電用コロナ
チャージャ２０２、イレーサ２０３、現像装置２０４、
転写用コロナチャージャ２０５、分離用コロナチャージ
ャ２０６、クリーニング装置２０７、除電器２０８及び
電位センサ２１０を備える。電位センサ２１０は感光体
２０１の表面の電位を検出する表面電位検出手段として
の働きをするもので、例えば図２に示すように感光体２
０１の表面電位に相当する電荷の電気力線により内部の
電極２１０ｂに誘起された電位を増幅して出力する。

【００１６】さらに、画像形成装置は、図３に示すよう
に電流検知回路３、現像バイアス電源４及びメイン制御
回路５を備える。電流検知回路３は感光体２０１のドラ
ム軸に所定の電圧を印加し、感光体２０１表面を帯電す
る。現像バイアス電源４はメイン制御回路５の制御によ
り、所定の電圧で電力供給を行う。メイン制御回路５は
調整手段５１、電位センサ校正部５０２及び画像形成条
件制御手段５３を有する。調整手段５１は１周前の感光
体２０１にイレース光を照射したタイミングを記憶し、
感光体２０１に対するイレース光照射タイミングを調整
して感光体２０１の静電履歴を１周前の感光体の静電履
歴と同じにする。電位センサ校正手段５２はメインスイ
ッチ（不図示）がオンとなったときに基準電圧を感光体
２０１に印加し、電位センサ２１０の出力特性を求め、
校正値を算出する部分である。画像形成条件制御部５３
は電位センサ２１０の出力を基に画像濃度を調整する部
分である。

【００１７】上記構成の画像形成装置で画像読み取り及
び画像形成を行う場合の動作概要について説明する。

【００１８】複写する原稿を原稿台１０１に乗せ、操作
表示部（不図示）のスタートスイッチを押下すると、感
光体ドラム２０１はメインモータ（不図示）の駆動力に
より回転駆動し、帯電用コロナチャージャ２０２は感光
体ドラム２０１を一様に帯電する。また、露光ランプ１
０４は第１キャリッジと共に移動し、原稿台１０１上の
原稿を露光する。原稿は露光ランプ１０４からの光を反
射し、第１ミラー１０５、第２ミラー１０６及び第３ミ
ラー１０７は原稿からの反射光を順に反射して結像レン
ズ１０８に向けて送る。結像レンズ１０８は第３ミラー
１０７からの反射光を感光体２０１上で焦点を結ぶよう
に収束する。第４ミラー１０９、第５ミラー１１０及び
第６ミラー１１１は結像レンズ１０８からの光を感光体
２０１に向けて反射して画像露光し、感光体２０１上に
静電潜像を形成する。イレーサ２０３は感光体２０１上
の静電潜像の不要領域を除電する。現像装置２０４は不
要領域が除電された感光体２０１上の静電潜像を現像し
てトナー像とする。

【００１９】一方、画像形成装置は給紙装置（不図示）
等から供給された用紙を感光体２０１上のトナー像に合
わせて搬送する。転写用コロナチャージャ２０５は感光
体２０１上のトナー像を搬送されてきた用紙に転写す
る。分離用コロナチャージャ２０６は用紙を感光体２０
１から分離する。定着装置（不図示）は用紙上のトナー
像を定着する。除電ランプ２０８は用紙が分離された後
の感光体２０１上の残留トナーを除去して、次の画像形
成動作に備える。

【００２０】次に、画像形成動作の前工程で感光体２０
１の表面の静電履歴を１周前の感光体２０１の表面の静
電履歴と同じ状態にする場合について、図４のシグナル
チャートを参照して説明する。

【００２１】図４のＢ部分はＡ部分の感光体２０１の１
周後を示している。図３Ｂ部分は１周前にイレース光の
照射を受けていないため、表面電位がイレース光の照射
を受けた部分より低くなっている。図４のＣ部分及びＤ
部分も同様に１周前にイレース光の照射を受けていない
ために表面電位が低くなっている。調整手段５１は画像
形成の前工程でイレース光照射タイミングを、図に示す
ように周期的に同じくすることにより、感光体２０１の
静電履歴を同じにしている。これにより、静電履歴の変
化を防止し、正確に濃度調整することができる。

【００２２】次に、他の実施例として、図５に示すよう
にメイン制御回路５が電位センサ校正手段５２、画像形
成条件制御手段５３及び補正手段５４を備える場合につ
いて説明する。補正手段５４は静電潜像電位制御部５４
１及び静電履歴差測定部５４２を有する。静電潜像電位
制御部５４１は、図５に示すようにＶＲ測定部５４１
ａ、ＶＤ調整部５４１ｂ及びＶＬ調整部５４１ｃを有す
る。ＶＲ測定部５４１ａはイレース光照射後の感光体２
０１上の残留電位を測定する。ＶＤ調整部５４１ｂはＶ
Ｒ測定部が測定した感光体２０１上の残留電位を基に帯
電用コロナチャージャ２０２による帯電出力を調整す
る。ＶＬ調整部５４１ｃはＶＤ調整部５４１ｂはＶＲ測
定部が測定した感光体２０１上の残留電位を基に露光ラ
ンプ１０４による露光出力を調整する。静電履歴差測定
部５４２は感光体２０１の表面の電位差を測定し記憶す
る。

【００２３】上記構成の画像形成装置で画像形成処理を
行うときは、図６のフローチャートに示すように電位セ
ンサ校正手段５２は基準電圧を感光体２０１に印加して
電位センサの出力特性を調べ、電位センサ２１０の出力
に対する感光体２０１との距離及びセンサ面の汚れなど
の影響を校正する（ステップＳ１）。ＶＲ測定部５４１
ａは感光体２０１上の残留電位を測定し（ステップＳ
２）、ＶＤ調整部５４１ｂはＶＲ測定部５４１ａが測定
した感光体２０１上の残留電位を基に帯電用コロナチャ
ージャ２０２による帯電出力を調整する（ステップＳ
３）。ＶＬ調整部５４１ｃはＶＲ測定部５４１ａが測定
した感光体２０１上の残留電位を基に露光ランプ１０４
による露光出力を調整する（ステップＳ４）。その後、
静電履歴差測定部５４２は感光体２０１上のイレース光
を照射した部分の帯電電位とイレース光を照射しなかっ
た部分の帯電電位との差を測定し、メモリ（不図示）に
記憶する（ステップＳ５）。

【００２４】次に、上記電位センサ校正手段５２の動作
を、図７のフローチャートを参照してさらに詳しく説明
する。

【００２５】メイン制御回路５の電位センサ校正手段５
２が電位センサ校正信号を出力すると、電流検知回路３
内のリレー３２がオフになり、リレー３１がオンになる
（ステップＳ１１）。電位センサ校正手段５２はトリガ
２をオンにして、現像バイアス電源４から100Ｖの電力
を感光体２０１の軸に印加する（ステップＳ１２）。電
位センサ校正手段５２は電位センサ２１０から100Ｖの
電力を印加した状態での感光体２０１の表面電位を読み
取る（ステップＳ１３）。次に電位センサ校正手段５２
はトリガ１をオンにして、現像バイアス電源４から800
Ｖの電力を感光体２０１の軸に印加し（ステップＳ１
４）、電位センサ２１０から800Ｖの電力を印加した状
態での感光体２０１の表面電位を読み取る（ステップＳ
１５）。電位センサ２１０の出力特性は、図８に示すよ
うになることから、電位センサ校正手段５２は100Ｖの
電力を印加した状態での感光体２０１の表面電位と800
Ｖの電力を印加した状態での感光体２０１の表面電位を
基に電位センサの出力特性を求め校正値をメモリに記憶
する（ステップＳ１６）。その後、電位センサ校正手段
５２は電位センサ校正信号をオフにして、電流検知回路
３のリレー３２をオンにし、リレー３１をオフにし、電
位センサ２１０の校正処理を終了する（ステップＳ１
７）。このように、電流センサ２１０の出力特性を求め
校正値を算出するので、電流センサ２１０のセンサ面の
汚れなどで精度が変化した場合に校正することができ
る。

【００２６】次に、黒基準部１０２を露光して感光体２
０１上に作像した部分の電位（以下、「黒部電位」とい
う。）ＶＤを残留電位を基に調整する動作を、図９のフ
ローチャートを参照して説明する。

【００２７】静電潜像電位制御部５４１のＶＲ測定部５
４１ａは第１キャリッジを黒基準部１０２に移動し（ス
テップＳ２１）、露光ランプ１０４をオンにする（ステ
ップＳ２２）。なお、この時の露光ランプ１０４の光量
は前回画像形成したときと同じ光量になるように制御す
る。

【００２８】ＶＲ測定部５４１ａはイレーサ２０３をオ
ンにして感光体２０１にイレース光を照射した後に残留
電位ＶＲを測定する（ステップＳ２３）。ＶＤ調整部５
４１ｂは黒部電位ＶＤを測定し（ステップＳ２４）、測
定した黒部電位ＶＤが目標値である「ＶＲ＋770」Ｖの
プラスマイナス５％以内か否かを調べる（ステップＳ２
５）。黒部電位ＶＤがＶＤ＜0。95×（ＶＲ＋770）のと
きはＶＤ調整部５４１ｂは帯電用コロナチャージャ２０
２による帯電出力を１％上げ（ステップＳ２６）、残留
電位ＶＲの測定処理から繰り返す。また、黒部電位ＶＤ
がＶＤ＞1.05×（ＶＲ＋770）のときはＶＤ調整部５４
１ｂは帯電用コロナチャージャ２０２による帯電出力を
１％下げ（ステップＳ２７）、残留電位ＶＲの測定処理
から繰り返す。黒部電位ＶＤが「ＶＲ＋770」Ｖのプラ
スマイナス５％以内になると、ＶＤ調整部５４１ｂはそ
の帯電用コロナチャージャ２０２による帯電出力値をメ
モリに記憶した後（ステップＳ２８）、露光ランプ１０
４をオフにし（ステップＳ２９）、第１キャリッジをホ
ームポジションに戻して（ステップＳ３０）、黒部電位
ＶＤの調整処理を終了する。

【００２９】次に、白基準部１０３を露光して感光体２
０１上に作像した部分の電位（以下、「白部電位」とい
う。）ＶＬを残留電位を基に調整する動作を、図１０の
フローチャートを参照して説明する。

【００３０】白部電位ＶＬを調整する場合の動作も既に
説明した黒部電位ＶＤを調整する場合と同様に、ＶＬ調
整部５４１ｃは第１キャリッジを白基準部１０３に移動
し、前回画像形成したときと同じ光量で露光ランプ１０
４をオンにした後（ステップＳ４１）、白部電位ＶＬを
測定し（ステップＳ４２）、測定した白部電位ＶＬが目
標値である「ＶＬ＋130」Ｖのプラスマイナス５％の範
囲以内か否かを調べる（ステップＳ４３）。白部電位Ｖ
ＬがＶＬ＜0。95×（ＶＲ＋130）のときは、ＶＬ調整部
５４１ｃは露光ランプ１０４による露光出力を１％上げ
（ステップＳ４４）、残留電位ＶＲの測定処理から繰り
返す。また、白部電位ＶＬがＶＬ＞1.05×（ＶＲ＋13
0）のときはＶＬ調整部５４１ｃは露光ランプ１０４に
よる露光出力を１％下げ（ステップＳ４５）、残留電位
ＶＲの測定の処理から繰り返す。白部電位ＶＬが「ＶＲ
＋130」Ｖのプラスマイナス５％以内になると、ＶＬ調
整部５４１ｃはその露光ランプ１０４による露光出力値
をメモリに記憶した後、露光ランプ１０４をオフにし
（ステップＳ４６，Ｓ４７）、第１キャリッジをホーム
ポジションに戻して、白部電位ＶＬの調整処理を終了す
る。適正な画像を得るためには黒部電位ＶＤと白部電位
ＶＬとの差を常に一定に保つ必要があり、又、残留電位
ＶＲは露光出力を上げても無くすことはできないが、こ
のように、黒部電位ＶＤと白部電位ＶＬを調整すること
により、その電位差を一定に保つことができる。なお、
残留電位ＶＲを黒部電位ＶＤと白部電位ＶＬに加えるこ
とで表面電位は一様に残留電位ＶＲ分上昇するが、現像
バイアスに残留電位ＶＲ分を加えることで上昇分を補正
している。

【００３１】次に、イレース光を照射した部分と照射し
ていない部分との電位差（以後、「静電履歴差」とい
う。）を測定する場合の動作について、図１１のフロー
チャートを参照して説明する。

【００３２】静電履歴差測定部５４２は第１キャリッジ
を黒部基準部１０２の位置に移動した後（ステップＳ５
１）、露光ランプ１０４及びイレーサ２０３をオンにす
る（ステップＳ５２）。なお、上記動作中は現像装置２
０４は停止している。静電履歴差測定部５４２は感光体
の２周目の途中でイレーサ２０３をオフにして（ステッ
プＳ５３）、感光体２０１表面のイレース光を照射した
部分の電位ＶＤ₁を測定し、メモリに記憶する（ステッ
プＳ５４）。

【００３３】次に、静電履歴差測定部５４２は露光ラン
プ１０４をオンにし、イレーサ２０３をオフにした状態
で、感光体２０１を回転し、感光体２０１の２周目の途
中で感光体２０１表面のイレース光を照射していない部
分の電位ＶＤ₂を測定しメモリに記憶する（ステップＳ
５５，Ｓ５６）。静電履歴差測定部５４２は上記のよう
にして求めたイレース光を照射した部分の電位ＶＤ₁か
らイレース光を照射していない部分の電位ＶＤ₂を引き
（ステップＳ５７）、その差をメモリに記憶する（ステ
ップＳ５８）。その後、静電履歴差測定部５４２は露光
ランプ１０４をオフにし（ステップＳ５９）、第１キャ
リッジをホームポジションに戻して（ステップＳ６
０）、静電履歴差測定処理を終了する。このように、イ
レース光を照射した部分の電位ＶＤ₁とイレース光を照
射していない部分の電位ＶＤ₂との差をメモリに記憶す
るので、確実に静電履歴差を一定に保つことができ、さ
らに適確な濃度で画像形成を行うことができる。

【００３４】次に、画像形成装置で複写処理する場合の
調整処理について、図１２のフローチャートを参照して
説明する。

【００３５】画像形成条件制御手段５３は一定枚数の複
写処理を行うたびに（ステップＳ７１，Ｓ７２）、既に
説明したように黒基準部１０２を露光した帯電電位を測
定し（ステップＳ７３）、この測定値と黒部電位ＶＤの
目標値との差を基に帯電用コロナチャージャ２０２によ
る帯電出力を演算し調整する（ステップＳ７４，Ｓ７
５）。なお、露光ランプ光量は既に説明した白部電位Ｖ
Ｌ調整処理で決定した光量とする。画像形成装置はこの
動作を指定された複写枚数の複写が終了するまで繰り返
す（ステップＳ７６）。これにより、感光体２０１の帯
電状態が複写する度に変化していく場合であっても、そ
の影響を補正して濃度調整することができる。ここで、
現像バイアスは、例えば「ＶＬ＋250」Ｖとなってい
る。したがって、残留電位ＶＲの変動以外に給紙時間及
びリピートコピー等の影響による感光体２０１の感度変
動も、白部電位ＶＬにより検知され現像バイアスにフィ
ードバックすることができる。

【００３６】このように、経時的な露光ランプ２０１の
光量低下、光学系の汚れ、帯電用コロナチャージャ２０
２の出力変動、感光体２０１の感度の変動及び残留電位
の変動等による静電潜像の電位変動を電位センサ２１０
で検知し、帯電、露光、現像の各プロセスにフィードバ
ックすることで、常に安定した画像を得ることができ
る。また、静電潜像が安定することによりＰセンサ（不
図示）によるトナー濃度制御も安定する。

【００３７】

【発明の効果】この発明は以上説明したように、感光体
に対するイレース光の照射タイミングを調整して感光体
の静電履歴を前回の感光体の静電履歴と同じにするの
で、感光体表面の電位を基に画像形成条件を変更して、
常に適確な濃度で画像形成を行うことができる。

【００３８】また、感光体表面の電位を基に感光体表面
の静電履歴の変化による画像形成条件に対する影響を補
正するので、最適な濃度で画像形成を行うことができる
と共に、静電履歴を１周前と同じにするための前処理が
必要なく、画像形成速度が遅くなることを防止できる。

【００３９】さらに、感光体表面の静電履歴の変化によ
る電位変化値を測定し、測定した電位変化値を基に感光
体表面の静電履歴の変化による画像形成条件に対する影
響を補正して、光学系の経時の汚れなどによる影響を補
正するので、さらに適確な濃度で画像形成を行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例を示す構成図である。

【図２】電位センサの構成図である。

【図３】制御部分の構成図である。

【図４】イレース光の照射タイミングを示すシグナルチ
ャートである。

【図５】他の実施例の制御部分の構成図である。

【図６】補正概略動作を示すフローチャートである。

【図７】電位センサ校正動作を示すフローチャートであ
る。

【図８】センサ出力特性を示す波形図である。

【図９】残留電位測定及び黒部電位調整動作を示すフロ
ーチャートである。

【図１０】白部電位調整動作を示すフローチャートであ
る。

【図１１】静電履歴測定動作を示すフローチャートであ
る。

【図１２】複写時の補正動作を示すフローチャートであ
る。

【図１３】従来のイレース光の照射タイミングを示すシ
グナルチャートである。

【符号の説明】

１画像読取装置１０２黒基準部１０３白基準部１０４露光ランプ２作像装置２０１感光体２０２帯電用コロナチャージャ２０３イレーサ２０４現像装置２０５転写用コロナチャージャ２０７クリーニング装置２０８除電器２０８２１０電位センサ３電流検知回路４現像バイアス電源５メイン制御回路５１調整手段５２電位センサ校正部５３画像形成条件制御手段５４補正手段５４１静電潜像電位制御部５４１ａＶＲ測定部５４１ｂＶＤ調整部５４１ｃＶＬ調整部５４２静電履歴差測定部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】感光体表面の電位を検出する表面電位検
出手段と表面電位検出手段が検出した感光体表面の電位
を基に画像形成条件を変更する画像形成条件制御手段を
有する画像形成装置において、感光体に対するイレース
光の照射タイミングを調整して感光体表面の静電履歴を
一定に保つ調整手段を有することを特徴とする画像形成
装置。
【請求項２】感光体表面の電位を検出する表面電位検
出手段と表面電位検出手段が検出した感光体表面の電位
を基に画像形成条件を変更する画像形成条件制御手段を
有する画像形成装置において、表面電位検出手段が検出
した感光体表面の電位を基に感光体表面の静電履歴の変
化による画像形成条件に対する影響を補正する補正手段
を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項３】補正手段は感光体表面の静電履歴の変化
による電位変化値を測定し、測定した電位変化値を基に
感光体表面の静電履歴の変化による画像形成条件に対す
る影響を補正する請求項２記載の画像形成装置。