JPH09192457A - 中空糸膜の検査方法及び中空糸膜モジュールの検査方法 - Google Patents

中空糸膜の検査方法及び中空糸膜モジュールの検査方法

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JPH09192457A
JPH09192457A JP2729596A JP2729596A JPH09192457A JP H09192457 A JPH09192457 A JP H09192457A JP 2729596 A JP2729596 A JP 2729596A JP 2729596 A JP2729596 A JP 2729596A JP H09192457 A JPH09192457 A JP H09192457A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 静圧的な検査では検出することの不可能な、
内包的な欠陥を有する中空糸膜を、簡単な構成で短時間
にしかも確実に検出する。 【構成】 欠陥部を有する中空糸膜3cの膜の外周表面
を加圧して膜の欠陥部3bをつぶして内径流路を閉塞さ
せ、中空糸膜の一方の開口端から中空糸膜の内径流路に
流体を供給し、他方の開口端において前記内径流路を通
過した流体を検出し、流体が検出されない中空糸膜を、
膜に欠陥部の存在するものとして特定することを特徴と
する中空糸膜の検査方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、中空糸膜の欠陥を
検出する方法及び、中空糸膜の束をケース内に装填した
中空糸膜モジュールの欠陥を検出する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、ケース内に挿入された多数本
の中空糸膜を、ケース開口部にて各中空糸膜の端末を開
口させた状態で封止剤により封止して封止部を形成し、
この封止部によりケース内部と外部を隔離して、供給さ
れるろ過対象流体の中に混在する除去対象物質(微粒子
成分)等を中空糸膜の膜によりろ過して取り除く中空糸
膜モジュールが知られている。
【0003】このような中空糸膜モジュールでは、例え
ば純水の製造、用水の滅菌・除濁、排水処理あるいは油
水分離等に用いられ、中空糸膜の欠陥や損傷(ピンホー
ルや亀裂、あるいは切断)等による微小リークでさえ、
中空糸膜モジュールを使用するシステムに致命的な影響
を与えることがある。従って、中空糸膜モジュールの信
頼性を向上・確保することは重要な課題である。
【0004】中空糸膜のリーク欠陥を検出する方法とし
ては、一例として中空糸膜を適切な液体(水あるいはア
ルコール水溶液等)で濡らした状態で、中空糸膜の膜の
外側から内側あるいは内側から外側へ所定圧力のエアを
供給し、その際のエア流量を測定してリークの有無を検
出する方法が採用されている。
【0005】この方法において、中空糸膜の膜の外側か
ら内側へエアを通過させる場合には、封止端面でのエア
透過流量の大小でリーク欠陥のある中空糸膜を特定する
ことが可能である。なお、この時のエア圧を中空糸膜モ
ジュールの使用される圧力程度に設定することで耐圧検
査も兼ね合わせて行うことが可能である。
【0006】また具体的な検出方法としては、例えば特
公平2−14084号公報に開示されたもので、中空糸
膜モジュールの各中空糸膜の端末の開口部より減圧吸引
し、中空糸膜の外表面より微粒子を含むエアを流入さ
せ、開口部から吸引したエアをパーティクルカウンタを
通過させ、その吸引エア中の塵等の微粒子の数を測定し
て欠陥の有無を検出する方法がある。
【0007】さらにその他の例として、特開昭53−1
34776号公報に開示されたもので、中空糸膜の外面
にガスを供給し、その中空糸膜の開口端部の欠陥箇所よ
りガスを漏洩させ、光学システムを用いてその漏洩ガス
の流出状況に応じた屈折現象により欠陥の有無を検出す
る方法がある。
【0008】そして上記に例示されたような欠陥検出方
法によって検出された欠陥の補修方法としては、例えば
特開昭53−134776号公報等に開示されたもの
で、流動性を備えた封止剤を開口端面のその欠陥位置に
滴下して封止する方法が一般的に採用されている。
【0009】しかしながら、上記のような検査方法では
完成直後の中空糸膜モジュールの状態を検査する方法と
しては効果的であるが、中空糸膜にこの様な検査では検
出されないもので、使用時の実際に圧力負荷が繰り返し
かかった場合に発現する内包的な膜欠陥がある場合に
は、これを検出することができない。
【0010】つまり、初期的な静圧による検査方法では
膜の内包的(潜在的)な欠陥部分を検出(あるいはリー
クさせる)ことができず、これをこのままシステムに使
用してしまうと実際の運転途中に内包的な欠陥が実害あ
る欠陥として発現してしまうことになる。従って、この
ような内包的な欠陥に関しては実際の使用に近似させた
圧力等の負荷をかけた状況下での耐久検査を行う必要が
あった。
【0011】一般的に膜欠陥の種類としては、偏肉、膜
厚の局所的に薄いもの、膜つぶれ・偏平等があり、これ
らの欠陥のリーク影響度と、初期的な静圧による検査方
法により検出可能か否かを表1にまとめる。
【0012】
【表1】 従って、表1によると膜つぶれ・偏平に対しては初期的
な静圧による検査方法では上記の理由により膜の欠陥部
分を検出することが不可能である。
【0013】膜つぶれ・偏平においてのリーク発生のメ
カニズムは、一旦つぶれて変形してしまった中空糸膜は
実際のシステムの運転中に内圧(膜の外側から内側へろ
過する「外圧ろ過」の場合は逆洗時、また、膜の内側か
ら外側へろ過する「内圧ろ過」の場合はろ過時)がかか
った場合に、膨らんで正常な形態へと戻るが、外圧が加
わった場合にはまたつぶれてしまう。これが繰り返され
ることにより膜つぶれの部位に屈曲による疲労が発生し
て最終的に破断に到ることになる。但し、膜つぶれ・偏
平等の欠陥が発生していない正常な部位においては、内
圧及び外圧の繰り返し負荷によっても形態が変化せずに
つぶれず、ダメージを受けることはない。
【0014】また、つぶれのように明らかな膜変形では
なく、微小な折れや偏平等の何らかの膜欠陥を有する場
合にも、ろ過と逆洗あるいはろ過と停止の繰り返しの際
に、中空糸膜自体の膨張と圧縮の繰り返しとなるので、
膜の破断が発生し易くなる傾向がある。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】以上のことから、より
信頼性の高い中空糸膜モジュールを得るには、全く欠陥
の存在しない中空糸膜モジュールを製作すること、もし
くは製作された中空糸膜モジュールの検査方法を静圧的
な検査のみならず、繰り返し圧力負荷を加えることによ
って検出される内包的な膜の欠陥まで検出・特定して補
修することが必要となる。
【0016】従って、製造工程の改善等で可能な限り欠
陥を発生させないようにすると共に、検査としては、静
圧的な検査と実使用に近似させた形態で中空糸膜モジュ
ールに繰り返し圧力負荷をかける耐圧耐久検査が必要と
なっている。
【0017】しかしながら、この耐圧耐久検査により膜
つぶれ・偏平等の欠陥部分をリークさせるためには、そ
の欠陥の程度に応じた検査時間(圧力負荷の繰り返し回
数)が必要となる。この検査時間を短縮するためには、
圧力負荷の1サイクルあたりの時間を短縮する方法や、
検査時の流入流体の温度を高める等の方法が採用されて
いるが、大幅な時間の短縮は望めない。
【0018】例えば、外径1.4mm,内径0.8mm
の中空糸膜(ポリスルホン限外ろ過膜で分画分子量50
000のもの)では、1サイクル当たり内圧ろ過60
秒,外圧ろ過60秒の繰り返しを行う耐圧耐久検査では
欠陥を発現させるために2時間から8時間もの検査時間
を必要としてしまい、検査工程に多大な時間と費用がか
かり経済的ではなかった。
【0019】本発明は上記従来技術の問題を解決するた
めになされたもので、その目的とするところは、静圧的
な検査では検出することの不可能な、内包的な欠陥を検
出する方法において、簡単な構成で短時間に検出するこ
とが可能な検査方法を開示することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明にあっては、中空糸膜の膜の外周表面を加圧し
て膜の欠陥部をつぶして膜の内径流路を閉塞させ、前記
中空糸膜の一方の開口端から中空糸膜の内径流路に流体
を供給し、他方の開口端において前記内径流路を通過し
た流体を検出し、流体が検出されない中空糸膜を、膜に
欠陥部の存在するものとして特定することを特徴とす
る。
【0021】また、中空糸膜の束を筒状のケース内に装
填し、ケース両端部において中空糸膜の束の端末を開口
した状態で封止する封止部を備えた中空糸膜モジュール
の検査方法において、前記ケース内部を加圧して中空糸
膜の欠陥部をつぶして膜の内径流路を閉塞させ、前記中
空糸膜モジュールの一方の封止部から中空糸膜に流体を
供給し、他方の封止部において前記中空糸膜を通過した
流体を検出し、流体が検出されない前記封止部の部位
を、欠陥部の存在する中空糸膜の開口端末の位置として
検出することを特徴とする。
【0022】従って、加圧することでつぶれて中空糸膜
の内径流路を閉塞する欠陥部を備えた中空糸膜を特定す
ることが可能となる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下に本発明による中空糸膜及び
中空糸膜モジュールの検査方法及びその装置を図示の実
施の形態に基づいて説明する。
【0024】図1は、検査対象となる中空糸膜モジュー
ル1であり、ハウジングケース2の内部に中空糸膜3を
備えている。中空糸膜3の端末はハウジングケース2の
両端部において、端末を開口した状態で封止部4a,4
bにより封止されている。
【0025】この中空糸膜モジュール1は膜の内側から
外側へろ過する内圧ろ過方式であり、両端の開口端5
a,5bのいずれか一方あるいは交互にろ過対象流体を
中空糸膜3の内径流路に流入させる。膜を透過した透過
流体はハウジングケース2の内部から流出口6a,6b
を経て中空糸膜モジュール1から流出する。
【0026】このような構成の中空糸膜モジュール1の
検査方法を図2に基づいて説明する。まず、中空糸膜モ
ジュール1内部の各中空糸膜3の切断部や破損箇所を検
査する通常の静圧的なリーク検査では、図2(a)のよ
うに流出口6aから加圧エアA3を供給する(流出口6
bは蓋部材6cにより塞がれている。)この時、各中空
糸膜のうちいずれかに切断部や破損箇所(リーク箇所)
がある場合には、その部分から著しいエアの透過が起こ
る。このエアは、この中空糸膜の内径流路を通って開口
端5a及び5bの両方から流出することとなる。この流
量を測定または検知することで、リークの有無を検出す
ることが可能である。
【0027】各中空糸膜の開口端末から流出するエアの
検出方法は、図示される動圧力計10の検出微細管10
aを開口端5aの各中空糸膜の開口端末に近接させるこ
とにより検出することが可能である。また、上記静圧的
なリーク検査方法でのエアの検出方法では、測定器具に
頼らず、開口端末に水や中性洗剤水溶液を滴下して、そ
れが吹き飛ばされるか否かを目視で確認することによっ
ても可能である。
【0028】次に、本発明の課題としている静圧的な検
査では検出することの不可能な、内包的な欠陥を検出す
る方法を説明する。図2(a)において、ハウジングケ
ース2の内部を一定の圧力に加圧することで、各中空糸
膜の外周表面を加圧して膜の欠陥部をつぶすために、流
出口6bを蓋部材6cにより塞ぎ、流出口6aから加圧
エアA3を流入させる。
【0029】この状態で検出エアA1を開口端5bから
各中空糸膜3の内径流路へと供給する。図2(b)は加
圧された中空糸膜モジュール1の内部の状態を説明する
図である。正常な中空糸膜3cは各々の内径流路が確保
されているので反対側の開口端5aから検出エアA2が
流出している。ところが、膜つぶれ等の欠陥部3bを持
つ欠陥部を有する中空糸膜3aは、欠陥部3bが加圧エ
アA3の圧力によりつぶれてその内径流路を閉塞させて
しまい、検出エアA1が反対側の開口端5aから流出し
ない。
【0030】先述した動圧力計10の検出微細管10a
を開口端5a表面を移動させ、検出エアの流出していな
い中空糸膜を見つけることで、欠陥部を有する中空糸膜
3aを特定することが可能である。
【0031】また、各々の中空糸膜の開口から検出エア
が流出しているか否かを検出する方法としては、動圧力
計による方法に限定されるものではなく様々な方法を採
用することが可能である。例えば、熱線流速計を検出微
細管10aの代わりに利用したり、特願平4−3164
80に記載されるような、微粒子を含む検出エアを供給
して、この微粒子を光学的に検出する方法等(レーザビ
ーム走査式微粒子検出法)も採用することが可能であ
る。
【0032】そして、検出された欠陥部を有する中空糸
膜3aを接着剤等で補修することで短時間の検査により
信頼性の高い中空糸膜モジュールを得る事ができる。
【0033】
【実施例】上記の実施の形態による効果を確認する為
に、本発明を適用した検査方法(加圧検査方式)による
検査と、従来の方法による検査(耐久検査方式)との比
較を行った。
【0034】(加圧検査方式)図2(a)に示した中空
糸膜モジュール1(有効長さ1m,膜面積6m2 )に故
意に膜つぶれの欠陥部を有する中空糸膜の糸を一本混入
させて製作し、3kg/cm2 の加圧エアA3を供給し
た状態で、検出エアA1を開口端5bから供給し、反対
側の開口端5aで流出する検出エアA2の流量レベルを
動圧力計10により検出する。
【0035】欠陥部を有する中空糸膜の糸は、開口端5
aの検出エアA2の流量レベルが低い位置に開口を持つ
中空糸膜として特定され、この中空糸膜を補修した。
【0036】補修した後に、中空糸膜モジュール1に7
0℃の温水をそれぞれ2kg/cm2 の内圧と外圧とな
るように60秒毎に繰り返して負荷させる耐久検査を行
ったが、60時間経過後まではリークの発生は起こらな
かった。
【0037】このことは、短時間の加圧検査により、膜
つぶれの欠陥部は確実に検出され、しかもその他の中空
糸膜には欠陥が存在しなかったことが、短時間で確認さ
れたことを意味する。
【0038】(耐久検査方式)加圧検査との比較を行う
意味で、上記と同じように故意に膜つぶれの欠陥部を有
する中空糸膜の糸を一本混入させて中空糸膜モジュール
を製作する。
【0039】この中空糸膜モジュールに、70℃の温水
をそれぞれ2kg/cm2 の内圧と外圧となるように6
0秒毎に繰り返して負荷させる耐久検査を行った。結果
は4時間経過した後に欠陥部からリークの発生が起き、
この欠陥部を有する中空糸膜の糸は、開口端5aの検出
エアA2の流量レベルが低い位置に開口を持つ中空糸膜
として特定された。
【0040】そして、この欠陥部を有する中空糸膜を補
修した後に、上記と同じ耐久検査を再度行ったところ、
60時間経過後まではリークの発生は起こらなかった。
【0041】このことは、膜つぶれの欠陥部は耐久検査
により欠陥として発現させて検出することが可能である
が、検出するまでの時間が長時間であり、しかも欠陥部
を欠陥として確実に発現させることが困難である。従っ
て、本発明による加圧検査方式と同等の信頼性を確保す
るためには長時間の検査が必要である。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、静圧的な検査では検出
することの不可能な内包的な欠陥、すなわち加圧するこ
とでつぶれて中空糸膜の内径流路を閉塞する欠陥部を備
えた中空糸膜を、短時間の検査により確実に特定するこ
とが可能となり、信頼性の高い中空糸膜及び中空糸膜モ
ジュールを得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明による検査方法を適用する中空糸
膜モジュールの一例の一部断面切断説明図である。
【図2】図2は、中空糸膜モジュールの欠陥検査方法の
概要説明図。
【符号の説明】
1 中空糸膜モジュール 2 ハウジングケース 3 中空糸膜 3a 欠陥部を有する中空糸膜 3b 欠陥部 3c 正常な中空糸膜 4a,4b 封止部 5a,5b 開口端 6a,6b 流出口 10 動圧力計 A1,A2 検出エア A3 加圧エア

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中空糸膜の膜の外周表面を加圧して膜の
    欠陥部をつぶして膜の内径流路を閉塞させ、 前記中空糸膜の一方の開口端から中空糸膜の内径流路に
    流体を供給し、他方の開口端において前記内径流路を通
    過した流体を検出し、 流体が検出されない中空糸膜を、膜に欠陥部の存在する
    ものとして特定することを特徴とする中空糸膜の検査方
    法。
  2. 【請求項2】 中空糸膜の束を筒状のケース内に装填
    し、ケース両端部において中空糸膜の束の端末を開口し
    た状態で封止する封止部を備えた中空糸膜モジュールの
    検査方法において、 前記ケース内部を加圧して中空糸膜の欠陥部をつぶして
    膜の内径流路を閉塞させ、 前記中空糸膜モジュールの一方の封止部から中空糸膜に
    流体を供給し、他方の封止部において前記中空糸膜を通
    過した流体を検出し、 流体が検出されない前記封止部の部位を、欠陥部の存在
    する中空糸膜の開口端末の位置として検出することを特
    徴とする中空糸膜モジュールの検査方法。
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