JPH09187707A - Coating method and coating apparatus employed therefor - Google Patents

Coating method and coating apparatus employed therefor

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JPH09187707A
JPH09187707A JP34463596A JP34463596A JPH09187707A JP H09187707 A JPH09187707 A JP H09187707A JP 34463596 A JP34463596 A JP 34463596A JP 34463596 A JP34463596 A JP 34463596A JP H09187707 A JPH09187707 A JP H09187707A
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孝之 戸島
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a coating method by which a coating film can be formed uniformly on the surface of a material to be coated and a coating material which is stuck to the back side during spin coating can be removed and to provide a coating apparatus to be employed for the method. SOLUTION: This apparatus is an apparatus to form a coating film on the surface of a material 4 to be coated by supplying a coating material to the surface of the material 4 to be coated. The coating apparatus has a treatment container 10 having an aperture 20a formed in the center and a contact part 30 positioned in the surrounding of the aperture 20a. The apparatus also has an axial part extended upward through the aperture 20a and a holding means 31 installed in the upper end of the axial part and including a holding part for the material 4 to be coated. Moreover, the apparatus has elevating and lowering means 14, 33 to bring the material 4 to be coated into contact with the contact part 30 by relatively elevating or lowering the treatment container 10 and the holding part. Further, the apparatus has a first rotating and driving means 40 to rotate and drive the treatment container 10 of which the contact part 30 contact the material 4 to be coated and to unitedly rotate the treatment container and the material 4 to be coated. Furthermore, the apparatus has a second rotating and driving means 32 to rotate the holding part by which the material 4 to be coated is held. The apparatus further has a cleaning apparatus to clean the back side of the material 4 to be coated which is held by the holding part and rotated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被塗布材を処理容
器内に収納し、被塗布材を回転させながら塗布材を塗布
する塗布装置、例えば、半導体製造装置に於いてウエハ
上にレジストを塗布する塗布方法及びそれに用いる塗布
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coating apparatus for storing a material to be coated in a processing container and applying the coating material while rotating the material to be coated, such as a semiconductor manufacturing apparatus, in which a resist is applied onto a wafer. The present invention relates to a coating method for coating and a coating device used for the coating method.

【0002】[0002]

【背景技術】半導体製造装置に於いては、ウエハ上にレ
ジストを塗布する場合、処理容器の内部に配置した回転
可能なスピンヘッド上にウエハを載置固定し、ウエハを
回転させながらレジスト液をウエハ表面に供給してレジ
スト塗布処理を行っている(特公昭53−37189)
2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing apparatus, when applying a resist on a wafer, the wafer is placed and fixed on a rotatable spin head arranged inside a processing container, and the resist solution is applied while rotating the wafer. It is supplied to the wafer surface for resist coating (Japanese Patent Publication No. 53-37189).
.

【0003】一方、近年一枚のウエハに形成できるチッ
プ数を増大させるために、従来主流であった6インチウ
エハに代えて、より大口径の例えば8インチウエハを使
用する要望が高まっている。あるいは、液晶画面に対応
すべく、効率良くチップを確保できる角型ウエハの使用
等も要望されている。
On the other hand, in recent years, in order to increase the number of chips that can be formed on one wafer, there has been an increasing demand for using a larger-diameter, for example, an 8-inch wafer instead of the conventional 6-inch wafer. Alternatively, there is a demand for the use of a square wafer that can efficiently secure chips in order to cope with a liquid crystal screen.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】一般に、大口径のウエ
ハにレジストを薄く均一に塗布するためには、塗布材の
粘度を変えるか、あるいは被塗布材の回転数を上げるか
のいずれかが考えられていた。
Generally, in order to apply the resist thinly and uniformly on a large-diameter wafer, it is generally considered to either change the viscosity of the coating material or increase the rotation speed of the coating material. Had been.

【0005】塗布装置側で上記要望に答えるためには、
被塗布材の回転数を上げるしか方法が無かったが、回転
数を上げた場合には、ウエハの中心と周縁とで回転速度
(接線方向の速度)が大きく異なってしまう。そして、
特に周囲空間との速度差が著しいウエハの周縁部の速度
が所定値を越えると、塗布材である溶剤の蒸発が促進さ
れ、周縁部でのレジスト塗布均一性がかえって損なわれ
てしまうことが本発明者等によって確認された。
In order to respond to the above demands on the coating apparatus side,
The only method was to increase the number of rotations of the material to be coated, but when the number of rotations was increased, the rotation speed (tangential speed) was greatly different between the center and the peripheral edge of the wafer. And
In particular, if the speed at the peripheral edge of the wafer, where the speed difference from the surrounding space is remarkable, exceeds a predetermined value, evaporation of the solvent as a coating material is accelerated, and the uniformity of resist coating at the peripheral edge is rather impaired. Confirmed by the inventors.

【0006】このように、大口径のウエハにレジストを
塗布するにあたり、ウエハの回転数で対処するのみで
は、レジスト塗布範囲に自ずと制限があり、8インチウ
エハ等の大口径ウエハのレジストを確実に行うことがで
きなかった。
As described above, when applying a resist to a large-diameter wafer, the resist application range is naturally limited only by coping with the number of rotations of the wafer, and the resist of a large-diameter wafer such as an 8-inch wafer is surely removed. Could not do.

【0007】ところで、特開昭61−194829号公
報によれば、塗布膜の品質を安定化させるため、処理容
器内部に溶剤の蒸気流を強制導入する技術が提案されて
いるが、この技術でも大口径ウエハのレジストを確実に
行い得ないことが本発明者等によって確認された。
By the way, Japanese Patent Laid-Open No. 61-194829 proposes a technique for forcibly introducing a vapor stream of a solvent into the processing container in order to stabilize the quality of the coating film. It has been confirmed by the present inventors that the resist on the large-diameter wafer cannot be reliably performed.

【0008】ここで、特開昭51−39737号公報及
び特開昭60−143871号公報には、ウエハが配置
される処理容器を、ウエハと同一方向に回転駆動する技
術が開示されている。これらの技術によれば、ウエハ上
の溶剤の蒸発の促進がおさえられ、ウエハ周縁部にてレ
ジスト塗布の均一性を高めることができる。
Here, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 51-39737 and 60-143871 disclose techniques for rotationally driving a processing container in which a wafer is placed in the same direction as the wafer. According to these techniques, the promotion of evaporation of the solvent on the wafer is suppressed, and the uniformity of resist application at the peripheral portion of the wafer can be improved.

【0009】ここで、ウエハ周縁部での塗布膜の均一性
が高められる際に、塗布材の一部はウエハの裏面に回り
込み、ウエハ裏面側を汚染することが知られている。こ
のために、特開昭60−143871号公報では、ウエ
ハの裏面にレジストシンナーを供給して、ウエハの裏面
を洗浄するようにしている。
Here, it is known that when the uniformity of the coating film on the peripheral portion of the wafer is enhanced, a part of the coating material wraps around the back surface of the wafer and contaminates the back surface side of the wafer. For this reason, in JP-A-60-143871, a resist thinner is supplied to the back surface of the wafer to clean the back surface of the wafer.

【0010】このように、ウエハの裏面を洗浄すること
は、レジスト回転塗布工程の後にウエハを搬送する際
に、この搬送部材の汚染を防止し、かつ、この搬送を安
定して行うために必要であるばかりか、パーティクルの
原因となるウエハの汚染を次工程に持ち込まないことか
ら重要である。
Thus, cleaning the back surface of the wafer is necessary in order to prevent contamination of the carrying member and to carry out the carrying stably when carrying the wafer after the resist spin coating process. In addition, it is important because it does not bring the contamination of the wafer that causes particles into the next process.

【0011】しかしながら、従来装置によれば、回転塗
布時にウエハの裏面に廻り込んだ塗布材の全てが、裏面
洗浄工程にて洗浄されないことがあった。
However, according to the conventional apparatus, all of the coating material that has come around the back surface of the wafer during spin coating may not be cleaned in the back surface cleaning step.

【0012】そこで、本発明の目的とするところは、上
述した従来の問題点を解決し、大口径の被塗布材に対し
てもその表面の所望範囲に確実に塗布材を塗布し、しか
も汚染された被塗布材の裏面を確実に洗浄することがで
きる塗布方法及びそれに用いる塗布装置を提供すること
にある。
Therefore, the object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, to reliably coat a coating material having a large diameter in a desired range on the surface of the coating material, and to prevent contamination. An object of the present invention is to provide a coating method capable of surely cleaning the back surface of the applied material and a coating apparatus used for the coating method.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】特許請求の範囲第1項の
発明に係る塗布方法は、被塗布材を回転して塗布材を塗
布する塗布方法において、前記被塗布材の裏面を保持部
により保持して、前記保持部と処理容器との相対的移動
により、前記処理容器内に前記被塗布材を配置する工程
と、前記保持部での保持位置よりも外側の位置にて前記
被塗布材の裏面を前記処理容器に当接させ、かつ、前記
処理容器及び前記被塗布材を一体で同一方向に回転し
て、前記被塗布材表面に供給された前記塗布材により塗
布膜を形成する回転塗布工程と、前記塗布膜が形成され
た前記被塗布材の裏面を前記保持部により保持し、前記
保持部を回転させて前記被塗布材の裏面を洗浄する裏面
洗浄工程と、を有することを特徴とする。
A coating method according to the invention of claim 1 is a coating method of rotating a coating material to coat the coating material, wherein the back surface of the coating material is held by a holding portion. The step of holding and arranging the material to be coated in the processing container by the relative movement of the holding portion and the processing container, and the material to be coated at a position outside the holding position in the holding portion. A rotation in which the back surface of the processing container is brought into contact with the processing container, and the processing container and the coating material are integrally rotated in the same direction to form a coating film by the coating material supplied to the surface of the coating material. A coating step, and a back surface cleaning step of holding the back surface of the coating material on which the coating film is formed by the holding portion and rotating the holding portion to wash the back surface of the coating material. Characterize.

【0014】特許請求の範囲第1項の発明によれば、以
下の(イ)(ロ)の作用効果を有する。

(イ)処理容器内に被塗布材を配置した後に、回転塗
布工程及び裏面洗浄工程を行っている。ここで、被塗布
材を回転させて被塗布材の裏面を洗浄する裏面洗浄工程
では、塗布膜が形成された被塗布材の裏面を、回転塗布
工程での支持位置よりも内側の位置にて支持している。
このため、回転塗布時に被塗布材が支持されていた箇所
に塗布材が回り込んだとしても、裏面洗浄工程ではこの
部分を露出させて洗浄することができる。従って、回転
塗布時に塗布材が回り込むことで汚染される被塗布材の
裏面を、裏面洗浄工程にて確実に洗浄することができ
る。
According to the invention of claim 1, the following operational effects (a) and (b) are obtained.

(A) After the material to be coated is placed in the processing container, the spin coating step and the back surface cleaning step are performed. Here, in the back surface cleaning step of rotating the material to be coated to clean the back surface of the material to be coated, the back surface of the material to be coated on which the coating film is formed is located at a position inside the supporting position in the rotation coating step. I support you.
For this reason, even if the coating material wraps around the portion where the coating material was supported during spin coating, this portion can be exposed and cleaned in the back surface cleaning step. Therefore, the back surface of the material to be coated, which is contaminated by the coating material wrapping around during spin coating, can be reliably cleaned in the back surface cleaning step.

【0015】(ロ)被塗布材と共に処理容器も同一方向
に回転しているので、被塗布材と処理容器との回転の相
対速度差が小さくなり(同一回転数とすれば相対的速度
差は零である)、大口径の被塗布材であっても周縁部で
の蒸発が抑制され、所望領域内に確実に塗布材の塗布を
実行することができる。さらに、蒸発量を低減できるの
で、被塗布材に滴下すべき塗布材の量を反射的に減少す
ることができる。
(B) Since the processing vessel is rotating in the same direction as the material to be coated, the relative speed difference between the rotation of the material to be coated and the processing container is small (the relative speed difference is the same for the same number of rotations). Even if the material to be coated has a large diameter, evaporation at the peripheral edge is suppressed, and the coating material can be reliably applied in the desired region. Further, since the evaporation amount can be reduced, the amount of the coating material to be dropped on the coating material can be reflectively reduced.

【0016】特許請求の範囲第2項の発明に係る塗布方
法は、中央に形成された開口及び該開口の周囲に配置さ
れた当接部を有する処理容器と、前記開口を介して上方
に延びる軸部及び該軸部の上端に形成された保持部を有
する保持手段とを有する塗布装置を用いて、被塗布材の
表面に塗布材を塗布するにあたり、前記処理容器の上方
位置に前記保持部を配置して、前記被塗布材の裏面を保
持部に保持させる工程と、前記被塗布材を保持した前記
保持部と前記処理容器とを相対的に昇降させ、前記被塗
布材の裏面を前記処理容器の前記当接部に当接させる工
程と、前記保持手段の保持力により、前記被塗布材の裏
面を前記当接部に密着させる工程と、前記処理容器を前
記被塗布材と一体で同一方向に回転させて、前記被塗布
材表面に供給された前記塗布材により前記被塗布材上に
塗布膜を形成する回転塗布工程と、その後、塗布膜が形
成された前記被塗布材を回転させながら、前記被塗布材
の裏面を洗浄する裏面洗浄工程と、を有することを特徴
とする。
In the coating method according to the second aspect of the invention, a processing container having an opening formed at the center and an abutting portion arranged around the opening, and extending upward through the opening. When applying the coating material on the surface of the material to be coated by using a coating device having a shaft portion and a holding means having a holding portion formed at the upper end of the shaft portion, the holding portion is located above the processing container. And a step of holding the back surface of the material to be coated in a holding portion, and the holding portion holding the material to be coated and the processing container are moved up and down relatively, and the back surface of the material to be coated is A step of bringing the processing container into contact with the contact portion; a step of bringing the back surface of the coating material into close contact with the contact portion by the holding force of the holding means; and the processing container integrally with the coating material. It is rotated in the same direction and supplied to the surface of the coated material. A spin coating step of forming a coating film on the coating material by the coating material, and a back surface cleaning step of subsequently cleaning the back surface of the coating material while rotating the coating material having the coating film formed thereon. , Are included.

【0017】特許請求の範囲第2項の発明によれば、特
許請求の範囲第1項の上記(ロ)と同様の作用効果を奏
することができる。
According to the invention of claim 2, it is possible to obtain the same operational effect as the above (b) of claim 1.

【0018】加えて、保持手段は被塗布材の裏面と非接
触になっているが、被塗布材と保持手段との間の領域
で、被塗布材の裏面に当接部を密着させるのみてシール
されるので、被塗布材を処理容器側に密着支持すること
ができる。さらに、当接部の存在により、回転塗布時
に、塗布材が被塗布材の裏面の当接部領域より半径方向
内方に飛散及び付着することを防止できる。
In addition, the holding means is not in contact with the back surface of the material to be coated, but only the contact portion is brought into close contact with the back surface of the material to be coated in the region between the material to be coated and the holding means. Since it is sealed, the material to be coated can be closely supported on the processing container side. Furthermore, the presence of the contact portion can prevent the coating material from scattering and adhering inward in the radial direction from the contact portion region on the back surface of the material to be coated during spin coating.

【0019】特許請求の範囲第3項の発明に係る塗布方
法は、特許請求の範囲第2項において、前記裏面洗浄工
程は、前記保持手段により前記被塗布材を保持し、か
つ、前記保持手段により前記被塗布材を回転させること
を特徴とする。
The coating method according to the invention of claim 3 is the coating method according to claim 2, wherein the back surface cleaning step holds the material to be coated by the holding means, and the holding means. The coating material is rotated by.

【0020】特許請求の範囲第3項の発明によれば、こ
の裏面洗浄工程では、被塗布材は保持手段にのみ保持さ
れている。この保持手段による保持位置は、回転塗布時
の当接部の位置より内側の位置となる。このため、裏面
洗浄工程では、回転塗布時の当接部が当接されていた被
塗布材の裏面領域が露出され、この領域に廻りこんだ塗
布材を確実に除去できる。
According to the invention of claim 3, in the back surface cleaning step, the material to be coated is held only by the holding means. The holding position by this holding means is a position inside the position of the contact portion during spin coating. Therefore, in the back surface cleaning step, the back surface region of the material to be coated, which the contact portion during the spin coating was in contact with, is exposed, and the coating material that has entered this region can be reliably removed.

【0021】これにより、その後、被塗布材を搬送する
際、あるいは次工程にて処理する際に、被塗布材の裏面
に付着した塗布材により、支持部等が汚染されることを
防止できる。
This makes it possible to prevent the support portion and the like from being contaminated by the coating material adhering to the back surface of the coating material when the coating material is subsequently transported or processed in the next step.

【0022】特許請求の範囲第4項の発明に係る塗布装
置は、被塗布材の表面に塗布材を供給して、前記被塗布
材を回転することにより前記塗布材により前記表面に塗
布膜を形成する塗布装置において、中央に形成された開
口と、該開口の周囲に配置された当接部とを有する処理
容器と、前記開口を介して上方に延びる軸部及び該軸部
の上端に設けられた前記被塗布材の保持部を有する保持
手段と、前記処理容器と前記保持部とを相対的に昇降さ
せて、前記被塗布材を前記当接部に当接させる昇降手段
と、前記当接部に前記被塗布材が当接された前記処理容
器を回転駆動して、前記処理容器及び前記被塗布材を一
体回転させて前記塗布膜を形成する第1の回転駆動手段
と、前記塗布膜が形成された前記被塗布材を保持する前
記保持部を回転させる第2の回転駆動手段と、前記保持
部に保持されて回転される前記被塗布材の裏面を洗浄す
る洗浄器と、を有することを特徴とする。
The coating apparatus according to the invention of claim 4 supplies the coating material to the surface of the coating material and rotates the coating material to form a coating film on the surface by the coating material. In the coating apparatus to be formed, a processing container having an opening formed in the center and an abutting portion arranged around the opening, a shaft portion extending upward through the opening, and provided on an upper end of the shaft portion. Holding means having a holding portion for the coated material, elevating means for moving the processing container and the holding portion relative to each other to bring the coated material into contact with the contact portion, A first rotation driving unit that rotationally drives the processing container in which the coating material is in contact with a contact portion to integrally rotate the processing container and the coating material to form the coating film; Rotate the holding part that holds the coated material on which the film is formed. A second rotation drive means that is characterized by having a a scrubber for cleaning the back surface of the object to be coated material is rotated held by the holding unit.

【0023】特許請求の範囲第4項の発明によれば、被
塗布材の表面に塗布膜を形成させる場合には、第1の回
転駆動手段により被塗布材を回転させ、その後被塗布材
の裏面を洗浄する場合には、第2の回転駆動手段により
被塗布材を回転させることで裏面洗浄を行っている。こ
こで、第1の回転駆動手段は、被塗布材及び処理容器を
一体的に回転させることができるので、被塗布材と共に
処理容器を同一方向に回転させれば、処理容器と被塗布
材との回転の相対速度差が小さくなり、大口径の被塗布
材であっても周縁部での蒸発が抑制され、所望領域内に
確実に塗布材の塗布を実行することができる。また、蒸
発量を低減できるので、被塗布材に滴下すべき塗布材の
量を反射的に減少することができる。
According to the invention of claim 4, when the coating film is formed on the surface of the material to be coated, the material to be coated is rotated by the first rotation drive means, and then the material to be coated is rotated. When cleaning the back surface, the back surface cleaning is performed by rotating the material to be coated by the second rotation driving means. Here, since the first rotation driving means can integrally rotate the material to be coated and the processing container, if the processing container and the material to be coated are rotated in the same direction, the processing container and the material to be coated can be rotated. The relative speed difference between the rotations becomes small, the evaporation at the peripheral edge is suppressed even for a large-diameter coating material, and the coating material can be reliably applied in the desired region. Moreover, since the amount of evaporation can be reduced, the amount of the coating material to be dropped on the coating material can be reflectively reduced.

【0024】特許請求の範囲第5項の発明に係る塗布装
置は、特許請求の範囲第4項において、前記当接部は、
回転塗布中に前記被塗布材より飛散した前記塗布材が、
前記被塗布材の裏面領域のうち前記当接部の内側領域に
付着することを防止する塗布材付着防止手段として兼用
されることを特徴とする。
The coating apparatus according to the invention of claim 5 is the coating device according to claim 4, wherein the contact portion is
The coating material scattered from the coating material during spin coating,
It is characterized in that it is also used as a coating material adhesion preventing means for preventing the material from being adhered to the inner area of the abutting portion in the back surface area of the material to be coated.

【0025】特許請求の範囲第5項の発明によれば、塗
布材付着防止手段により、回転塗布時の当接部が当接さ
れていた被塗布材の裏面領域が露出され、この領域に廻
りこんだ塗布材を確実に除去できる。これにより、その
後、被塗布材を搬送する際、あるいは次工程にて処理す
る際に、被塗布材の裏面に付着した塗布材により、支持
部等が汚染されることを防止できる。
According to the invention of claim 5, the coating material adhesion preventing means exposes the back surface region of the coating material to which the contact portion at the time of spin coating was abutted, and the area around this region is exposed. It is possible to reliably remove the dented coating material. This makes it possible to prevent the support part and the like from being contaminated by the coating material attached to the back surface of the coating material when the coating material is subsequently conveyed or processed in the next step.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施例を参
照して具体的に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the embodiments shown in the drawings.

【0027】図面は、実施例装置の断面図である。The drawing is a cross-sectional view of the embodiment apparatus.

【0028】同図において、この実施例装置はその基本
的枠組みとして、下側ベース1,上側ベース2及び両ベ
ース1,2を離間して平行に固定する支柱3,3を有し
ている。
In this figure, the apparatus of this embodiment has a lower base 1, an upper base 2 and columns 3 and 3 for fixing the bases 1 and 2 in parallel with each other so as to be spaced apart from each other.

【0029】被塗布材の一例であるウエハ4を載置固定
する処理容器10は、塗布時は密閉され、かつ、塗布時
以外は離間可能な第1,第2の容器11,12から構成
されている。
A processing container 10 for mounting and fixing a wafer 4, which is an example of a material to be coated, is composed of first and second containers 11 and 12 that are closed during coating and can be separated from each other except during coating. ing.

【0030】上側に配置される第1の容器11は、取り
付けベース10A,13Aを介して可動板13に支持さ
れ、同図の2点鎖線で示す位置まで上昇できるようにな
っている。前記可動板13は、前記上側ベース2に固定
された第2の昇降駆動手段である昇降駆動部14の軸1
5に連結され、かつ、ガイド軸16の一端を固着すると
共にその他端側を前記上側ベース2に設けた案内材17
に摺動自在に支持することで、前述した昇降移動が可能
となっている。尚、前記取り付けベース10A,13A
は、ベアリング18を介して互いに回転自在となってい
る。この取付ベースA,13A及びベアリング182よ
り、第1の容器11を回転自在に支持する従動案内部材
を構成している。また、第1の容器11の周縁部にはパ
ッキン19が設けられ、前記処理容器10の密閉性を確
保できるようになっている。
The first container 11 arranged on the upper side is supported by the movable plate 13 via the mounting bases 10A and 13A, and can be raised to the position shown by the chain double-dashed line in FIG. The movable plate 13 is provided with a shaft 1 of a lifting drive unit 14 as a second lifting drive unit fixed to the upper base 2.
5 and a guide member 17 having one end of a guide shaft 16 fixed thereto and the other end provided on the upper base 2.
As described above, the above-described up-and-down movement is enabled by slidably supporting the base. The mounting bases 10A and 13A
Are rotatable with each other via a bearing 18. The mounting bases A and 13A and the bearing 182 constitute a driven guide member that rotatably supports the first container 11. Further, a packing 19 is provided on a peripheral portion of the first container 11 so that the processing container 10 can be hermetically sealed.

【0031】下側の第2の容器12は、下記の構成によ
り成る第1の回転駆動手段又は容器回転駆動手段として
の回転駆動機構部40によって支持されている。即ち、
前記下側ベース1には支持台20が固定され、この支持
台20の周りでベアリング21を介して回転可能な被回
転駆動軸である回転ブロック22が設けられている。そ
して、前記第2の容器12はこの回転ブロック22に固
定されて一体的に回転できるようになっている。また、
前記回転ブロック22の周囲には、第1のプーリ23が
固着されている。
The second container 12 on the lower side is supported by a rotation drive mechanism section 40 as a first rotation drive means or a container rotation drive means having the following structure. That is,
A support base 20 is fixed to the lower base 1, and a rotation block 22 which is a rotation driven shaft rotatable around the support base 20 via a bearing 21 is provided. The second container 12 is fixed to the rotating block 22 so that it can rotate integrally. Also,
A first pulley 23 is fixed around the rotation block 22.

【0032】一方、前記下側ベース1には、第2のモー
タ24が配置され、回転駆動軸である出力軸25の周囲
には第2のプーリ26が固着されている。そして、前記
第1,第2のプーリ23,26に張架部材であるベルト
27を懸架することで、第2のモータ24の回転力を前
記回転ブロック22に伝達するようになっている。この
ように、第2のモータ24からの回転動力は張架部材で
あるベルト27を介して、第2の容器12側に伝達され
るようになっているので、第2のモータ24側にて発生
した熱が第2の容器12側に伝達されることを低減でき
る。これにより塗布特性に影響を与える塗布環境温度の
変動を防止できる。
On the other hand, a second motor 24 is arranged on the lower base 1, and a second pulley 26 is fixed around the output shaft 25 which is a rotary drive shaft. By suspending a belt 27 as a tension member between the first and second pulleys 23 and 26, the rotational force of the second motor 24 is transmitted to the rotary block 22. As described above, the rotational power from the second motor 24 is transmitted to the second container 12 side via the belt 27 that is a stretching member. Transfer of the generated heat to the second container 12 side can be reduced. As a result, it is possible to prevent a change in the coating environment temperature that affects the coating characteristics.

【0033】前記第2の容器12の中心領域には、この
第2の容器12の内面より突出して当接部として機能す
る中空円盤状の真空吸着部30が設けられ、処理容器1
0内に配置されるウエハ4を真空吸着できるようになっ
ている。尚、この真空吸着部30は第2の容器12にネ
ジ等によって固着されているので、第2の容器12と共
に一体的に回転させることができる。また、前記真空吸
着部30の内側には、保持手段としてのスピンチャック
31が配置されている。このスピンチャック31は、前
記支持台20の中心に穿設された中空部を構成する孔2
0Aに挿通され軸部を有し、この軸部が前記下側ベース
1に昇降自在に支持された第1のモータ32に連結され
ている。この孔20Aは、第2の容器12の真空吸着部
30の内側にて開口している。スピンチャック31はこ
の開口を介して上方に伸びる前記軸部の上端側に、ウエ
ハ4を保持できる保持部を有し、本実施例ではこの保持
部を真空吸引部として構成している。尚、前記下側ベー
ス1には、昇降駆動部33,ガイド軸34が第1のモー
タ32の両側に固定され、第1のモータ32を支持する
支持枠35の一方を第1の昇降駆動手段である前記昇降
駆動部33の昇降軸33Aに固着し、その他方をベアリ
ング36を介して前記ガイド軸34に沿って摺動自在に
支持している。この結果、前記スピンチャック31は昇
降可能であると共に回転可能となっている。また、この
スピンチャック31には、図示しないコンプレッサが連
結され、ウエハ4を真空吸着可能であり、さらに、前記
真空吸着部30での吸着を可能とするために、真空吸着
部30に連通する負圧経路を兼用している。 尚、本実
施例装置では塗布材の滴下部を図示していないが、この
滴下部は前記第1の容器11が同図の2点鎖線に示す位
置に上昇した際に、ウエハ4の上方に移動し、ここで所
定量の塗布材(本実施例ではレジスト材)をウエハ4の
中心部に滴下し、その後初期位置に復帰移動するように
なっている。
In the central region of the second container 12, there is provided a hollow disk-shaped vacuum adsorption part 30 which projects from the inner surface of the second container 12 and functions as an abutting part.
The wafer 4 placed in the chamber 0 can be vacuum-sucked. Since the vacuum suction unit 30 is fixed to the second container 12 with screws or the like, the vacuum suction unit 30 can be integrally rotated with the second container 12. Further, a spin chuck 31 as a holding means is disposed inside the vacuum suction unit 30. The spin chuck 31 is provided with a hole 2 forming a hollow portion formed at the center of the support base 20.
The lower base 1 is connected to a first motor 32 supported by the lower base 1 so as to be able to move up and down. The hole 20 </ b> A is open inside the vacuum suction part 30 of the second container 12. The spin chuck 31 has a holding portion capable of holding the wafer 4 on the upper end side of the shaft portion extending upward through the opening. In the present embodiment, the holding portion is configured as a vacuum suction portion. An elevating drive unit 33 and a guide shaft 34 are fixed to both sides of the first motor 32 on the lower base 1, and one of the support frames 35 supporting the first motor 32 is connected to a first elevating drive unit. Is fixed to an elevating shaft 33A of the elevating drive unit 33, and the other is slidably supported along the guide shaft 34 via a bearing 36. As a result, the spin chuck 31 is vertically movable and rotatable. Further, a compressor (not shown) is connected to the spin chuck 31 so that the wafer 4 can be vacuum-sucked. Further, in order to enable suction by the vacuum suction unit 30, a negative pressure is connected to the vacuum suction unit 30. The pressure path is also used. In the apparatus of the present embodiment, the dropping portion of the coating material is not shown, but this dropping portion is located above the wafer 4 when the first container 11 is raised to the position shown by the two-dot chain line in FIG. Then, a predetermined amount of a coating material (a resist material in the present embodiment) is dropped on the center of the wafer 4 and then returns to the initial position.

【0034】以上のように構成された実施例装置の作用
について説明する。
The operation of the embodiment apparatus configured as described above will be described.

【0035】先ず、昇降駆動部14を駆動して第1の容
器11を図示の2点鎖線に示す位置まで上昇させ、処理
容器10を解放した状態で、ウエハ4の設定及び前記滴
下部によるレジスト材の滴下を順次行う。その後、昇降
駆動部14の駆動によって第1の容器11を下降させ
て、第1,第2の容器11,12によって処理容器10
を密閉する。
First, the elevating and lowering drive unit 14 is driven to raise the first container 11 to the position shown by the chain double-dashed line in the figure, and the processing container 10 is released. The material is dropped in sequence. After that, the first container 11 is lowered by the driving of the elevation drive unit 14, and the processing container 10 is moved by the first and second containers 11 and 12.
Seal.

【0036】次に、図示しないコンプレッサを駆動し、
スピンチャック31を介して真空吸着部30を吸着可能
とし、図示のようにこの真空吸着部30によってウエハ
4を吸着する(尚、この状態ではスピンチャック31は
同図に示すように真空吸着部30の吸着面より下がった
位置に待機されている)。スピンチャック31は、ウエ
ハ4の裏面と非接触となっているが、このウエハ4とス
ピンチャック31との間の領域は、ウエハ4と真空吸着
部30とが密着することでシールされるので、前記領域
を負圧にしてウエハ4を第2の容器12側に密着支持す
ることができる。この後、設定されたウエハ4の口径,
レジスト材の粘度,塗布すべき膜厚等の特性によって定
められる回転数で前記第2のモータ24を駆動する。そ
うすると、この第2のモータ24の回転力は出力軸2
5,第2のプーリ26,ベルト27,第1のプーリ23
を介して回転ブロック22に伝達され、この回転ブロッ
ク22が回転することになる。
Next, a compressor (not shown) is driven,
The vacuum suction unit 30 can be suctioned via the spin chuck 31 and the wafer 4 is suctioned by the vacuum suction unit 30 as shown in the drawing (in this state, the spin chuck 31 is in the vacuum suction unit 30 as shown in FIG. Waiting at a position below the suction surface of). Although the spin chuck 31 is not in contact with the back surface of the wafer 4, the region between the wafer 4 and the spin chuck 31 is sealed by the close contact between the wafer 4 and the vacuum suction unit 30. The wafer 4 can be tightly supported on the second container 12 side by setting the area to a negative pressure. Thereafter, the set diameter of the wafer 4 is set,
The second motor 24 is driven at a rotation speed determined by characteristics such as the viscosity of the resist material and the film thickness to be applied. Then, the rotational force of the second motor 24 is
5, second pulley 26, belt 27, first pulley 23
Is transmitted to the rotary block 22 via the rotary shaft, and the rotary block 22 rotates.

【0037】回転ブロック22が回転されると、この回
転ブロック22に固着されている第2の容器12及び真
空吸着部30が共に一体的に回転することになる。ま
た、第1の容器11は、前記昇降駆動部14によって第
2の容器12に押圧され、かつ、ベアリング18を介し
て回転自在となっているので、第2の容器12と共に一
体的に回転することになる。
When the rotary block 22 is rotated, the second container 12 and the vacuum suction unit 30 fixed to the rotary block 22 are integrally rotated. Further, the first container 11 is pressed by the second container 12 by the elevation drive unit 14 and is rotatable via the bearing 18, so that the first container 11 rotates integrally with the second container 12. Will be.

【0038】この結果、前記真空吸着部30に真空吸着
されているウエハ4及び処理容器10が一体的に回転
し、ウエハ4と共に処理容器10内の周囲空間をも同速
度で同一方向に回転することになる。
As a result, the wafer 4 and the processing container 10, which are vacuum-sucked by the vacuum suction portion 30, rotate integrally, and the peripheral space in the processing container 10 rotates with the wafer 4 in the same direction at the same speed. It will be.

【0039】ここで、従来より大口径のウエハ4の周縁
部まで確実にレジスト材を塗布できなかった主たる原因
は、ウエハ4を高速回転させた際に、ウエハ4の周縁部
とその周囲空間との速度差が著しく大きくなるからであ
る。本実施例装置によれば、上述したようにしてウエハ
4と共にその周囲空間をも一体的に回転しているので、
上記速度差は零となり、ウエハ4の周縁部でのレジスト
材の蒸発が抑制されるので、大口径のウエハ4であって
もその周縁部まで確実にレジスト材を塗布することが可
能となる。この回転塗布工程では、ウエハ4上の余分な
レジスト材は、ウエハの周縁部より裏面側に回り込み、
ウエハ4の裏面が汚染されることになる。但し、本実施
例では真空吸着部30の存在により、レジスト材は、こ
の真空吸着部30よりも半径方向内方に飛散することが
防止される。
Here, the main reason why the resist material cannot be reliably applied to the peripheral portion of the large-diameter wafer 4 as compared with the prior art is that when the wafer 4 is rotated at a high speed, the peripheral portion of the wafer 4 and its surrounding space are This is because the difference in speed becomes extremely large. According to the apparatus of the present embodiment, as described above, the surrounding space is also integrally rotated together with the wafer 4.
Since the speed difference becomes zero and evaporation of the resist material at the peripheral portion of the wafer 4 is suppressed, even if the wafer 4 has a large diameter, the resist material can be surely applied to the peripheral portion. In this spin coating process, excess resist material on the wafer 4 wraps around the wafer from the periphery to the back side,
The back surface of the wafer 4 will be contaminated. However, in the present embodiment, the resist material is prevented from being scattered inward in the radial direction from the vacuum suction portion 30 due to the presence of the vacuum suction portion 30.

【0040】所定時間の上記塗布動作を実行した後、第
2のモータ24の駆動を停止し、昇降駆動部14を駆動
して第1の容器11を図示の2点鎖線の位置まで上昇さ
せ、処理容器10を解放する。この後、下側ベース1に
取り付けられた昇降駆動部33を駆動し、第1のモータ
36を上昇させることで、ウエハ4を吸着しながらスピ
ンチャック31を上昇させ、ウエハ4を処理容器10よ
り取り出して図示の2点鎖線の位置に設定する。この状
態で、ウエハ4の裏面を洗浄する洗浄器(図示せず)を
ウエハ4の裏面側に移動設定し、第1のモータ36を駆
動することでウエハ4を回転しつつ裏面洗浄を実行し、
以後の処理工程に移行することになる。この裏面洗浄工
程では、ウエハ4は、スピンチャック31にのみ保持さ
れている。このスピンチャック31によるウエハ4の裏
面保持位置は、上述した回転塗布時におけるウエハ4の
支持位置(真空吸着部30による支持位置)よりも内側
となっている。従ってこの裏面洗浄工程では、回転塗布
時に真空吸着部30にて保持された位置が露出され、回
転塗布時にこの領域に廻り込んだレジスト材をも除去す
ることが可能となる。これにより、その後ウエハ4を搬
送する際、あるいは次工程にて処理する際に、ウエハ4
の裏面に付着したレジスト材により、搬送アーム、サセ
プタなどが汚染されることを防止できる。
After executing the coating operation for a predetermined time, the driving of the second motor 24 is stopped and the elevating and lowering drive unit 14 is driven to raise the first container 11 to the position shown by the chain double-dashed line in the figure. The processing container 10 is released. Thereafter, by driving the elevation drive unit 33 attached to the lower base 1 and raising the first motor 36, the spin chuck 31 is raised while the wafer 4 is being sucked, and the wafer 4 is removed from the processing container 10. It is taken out and set at the position indicated by the two-dot chain line in the figure. In this state, a cleaning device (not shown) for cleaning the back surface of the wafer 4 is moved to the back surface side of the wafer 4 and the first motor 36 is driven to perform the back surface cleaning while rotating the wafer 4. ,
It will shift to the subsequent processing steps. In this back surface cleaning step, the wafer 4 is held only by the spin chuck 31. The position at which the back surface of the wafer 4 is held by the spin chuck 31 is inside the position at which the wafer 4 is supported during rotation coating (the position at which the wafer 4 is supported by the vacuum suction unit 30). Therefore, in the back surface cleaning step, the position held by the vacuum suction unit 30 during the spin coating is exposed, and it is possible to remove the resist material that has wrapped around this area during the spin coating. Thus, when the wafer 4 is subsequently transferred or processed in the next step, the wafer 4
It is possible to prevent the transfer arm, the susceptor, and the like from being contaminated by the resist material attached to the back surface of the substrate.

【0041】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention.

【0042】前記実施例では塗布材の滴下部としてウエ
ハ4の上方領域内外に移動走査できるいわゆるノズルス
キャン方式を採用している。これに代えて、第1の容器
11の中心部に滴下部を固定した固定方式を採用するこ
とも可能である。
In the above-mentioned embodiment, a so-called nozzle scan system is adopted as the coating material dropping portion, which is capable of moving and scanning inside and outside the upper region of the wafer 4. Instead of this, it is also possible to adopt a fixing method in which the dripping part is fixed to the center of the first container 11.

【0043】また、前記実施例では従来よりあるスピン
チャック31に加えて、真空吸着部30を第2の容器1
2と共に回転自在に設け、処理容器10とウエハ4との
回転駆動機構を兼用しているので、周囲空間とウエハ4
との回転速度は同一となる点で優れているが、必ずしも
この構成には限定されない。例えば、真空吸着部30を
設けずに、処理容器10内でのウエハ4の吸着及び回転
をスピンチャック31によって行うこともできる。この
場合、周囲空間との回転速度を物理的に同一にすること
は駆動源を異にするので困難であろうが、少なくとも前
記相対速度差は従来よりも大幅に低減されるので、同様
に本発明の効果を奏することができる。また、処理容器
10の回転駆動機構40として、前記実施例ではプー
リ,ベルト方式によったが、他の種々の回転駆動手段に
置換できることはいうまでもない。さらに、本発明が適
用される塗布装置としては、必ずしも半導体ウエハへの
レジスト塗布に限らず、マスクへのレジスト塗布等種々
の塗布装置に適用可能であり、特に被塗布材の隅々まで
塗布が可能となるので、液晶画面等の角型ウエハへの塗
布にも優れた効果を発揮することができる。
In addition, in the above-described embodiment, in addition to the conventional spin chuck 31, the vacuum suction unit 30 is provided in the second container 1.
2 and is rotatable together with the processing container 10 and the wafer 4.
Are excellent in that they have the same rotational speed, but are not necessarily limited to this configuration. For example, without providing the vacuum suction unit 30, the suction and rotation of the wafer 4 in the processing container 10 can be performed by the spin chuck 31. In this case, it would be difficult to make the rotational speed of the surrounding space physically the same as that of the driving source, but at least the relative speed difference is greatly reduced as compared with the conventional one, so that the same The effects of the invention can be achieved. Further, in the above-described embodiment, the rotation driving mechanism 40 of the processing container 10 is of a pulley or belt type, but it is needless to say that various other rotation driving means can be used. Further, the coating device to which the present invention is applied is not limited to coating a resist on a semiconductor wafer, but can be applied to various coating devices such as a resist coating on a mask. Since it becomes possible, an excellent effect can be exhibited also in application to a square wafer such as a liquid crystal screen.

【0044】[0044]

【発明の効果】特許請求の範囲第1項の発明によれば、
裏面洗浄工程では、被塗布材の裏面を回転塗布時よりも
内側の位置で支持するで、回転塗布時の被塗布材の支持
領域に塗布材が回り込んだとしても、裏面洗浄時にこの
部分を露出させて洗浄することができる。
According to the invention of the first aspect of the invention,
In the back surface cleaning step, since the back surface of the material to be coated is supported at a position inside the spin coating, even if the coating material wraps around within the support area of the material to be coated during spin coating, this portion should be covered during the back surface cleaning. It can be exposed and washed.

【0045】また、特許請求の範囲第1項及び第2項の
各発明によれば、被塗布材と処理容器とが同一方向に回
転しているので、被塗布材と処理容器との回転の相対速
度差が小さくなり、蒸発量を低減でき、塗布材の使用量
を削減できる。
According to the inventions of claims 1 and 2, since the material to be coated and the processing container rotate in the same direction, the rotation of the material to be coated and the processing container can be prevented. The relative speed difference becomes small, the evaporation amount can be reduced, and the usage amount of the coating material can be reduced.

【0046】特に、特許請求の範囲第2項の発明では、
被塗布材を簡単に処理容器側に密着支持でき、また、当
接部により、回転塗布時に塗布材が被塗布材の裏面の当
接部領域より半径方向内方に飛散及び付着することを防
止できる。
Particularly, in the invention of claim 2,
The material to be coated can be easily and closely supported on the processing container side, and the contact portion prevents the coating material from scattering and adhering inward in the radial direction from the contact portion area on the back surface of the material to be coated during spin coating. it can.

【0047】特許請求の範囲第3項の発明によれば、被
塗布材は保持手段にのみ保持されているので、裏面洗浄
工程では、回転塗布時の当接部が当接されていた被塗布
材の裏面領域が露出され、この領域に廻りこんだ塗布材
を確実に除去し、その後、被塗布材を搬送する際、ある
いは次工程にて処理する際に、支持部等の汚染を防止で
きる。
According to the third aspect of the invention, since the material to be coated is held only by the holding means, in the back surface cleaning step, the contact portion at the time of spin coating is in contact. The back surface area of the material is exposed, and the coating material that has circulated to this area can be reliably removed, and then, when the material to be coated is transported or is processed in the next step, it is possible to prevent contamination of the support portion and the like. .

【0048】特許請求の範囲第4項の発明によれば、第
1の回転駆動手段は、被塗布材及び処理容器を一体的に
回転できるので、被塗布材と共に処理容器を同一方向に
回転させれば、処理容器と被塗布材との回転の相対速度
差が小さくなり、大口径の被塗布材であっても周縁部で
の蒸発が抑制される。また、蒸発量を低減できるので、
被塗布材に滴下すべき塗布材の量を反射的に減少するこ
とができる。
According to the invention of the fourth aspect, the first rotation driving means can integrally rotate the material to be coated and the processing container, so that the processing container is rotated in the same direction together with the material to be coated. In this case, the relative speed difference between the rotation of the processing container and the material to be coated is reduced, and evaporation of the material to be coated having a large diameter is suppressed at the peripheral portion. Also, since the amount of evaporation can be reduced,
The amount of the coating material to be dropped on the coating material can be reduced reflectively.

【0049】特許請求の範囲第5項の発明によれば、塗
布材付着防止手段により、回転塗布時の当接部が当接さ
れていた被塗布材の裏面領域が露出され、この領域に廻
りこんだ塗布材を確実に除去できる。
According to the invention of claim 5, the coating material adhesion preventing means exposes the back surface region of the coating material to which the contact portion at the time of spin coating was in contact, and the area around this region is exposed. It is possible to reliably remove the dented coating material.

【0050】[0050]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例装置の概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view of an apparatus according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 被塗布材 10 処理容器 11 第1の容器 12 第2の容器 14 第2の回転駆動手段 30 真空吸着部(当接部) 31 スピンチャック(保持手段) 40 第1の回転駆動手段 4 Coating Material 10 Processing Container 11 First Container 12 Second Container 14 Second Rotation Drive Unit 30 Vacuum Suction Unit (Contact Unit) 31 Spin Chuck (Holding Unit) 40 First Rotation Drive Unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大森 伝 東京都港区赤坂5丁目3番6号 東京エレ クトロン株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Omori Den 5-3-6 Akasaka, Minato-ku, Tokyo Tokyo Electron Co., Ltd.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被塗布材を回転して塗布材を塗布する塗
布方法において、 前記被塗布材の裏面を保持部により保持して、前記保持
部と処理容器との相対的移動により、前記処理容器内に
前記被塗布材を配置する工程と、 前記保持部での保持位置よりも外側の位置にて前記被塗
布材の裏面を前記処理容器に当接させ、かつ、前記処理
容器及び前記被塗布材を一体で同一方向に回転して、前
記被塗布材表面に供給された前記塗布材により塗布膜を
形成する回転塗布工程と、 前記塗布膜が形成された前記被塗布材の裏面を前記保持
部により保持し、前記保持部を回転させて前記被塗布材
の裏面を洗浄する裏面洗浄工程と、を有することを特徴
とする塗布方法。
1. A coating method for applying a coating material by rotating the coating material, wherein the back surface of the coating material is held by a holding portion, and the treatment is performed by relative movement of the holding portion and a processing container. A step of arranging the material to be coated in a container, and bringing the back surface of the material to be coated into contact with the processing container at a position outside the holding position of the holding part, and A rotation coating step of integrally rotating the coating material in the same direction to form a coating film by the coating material supplied to the surface of the coating material, and a back surface of the coating material having the coating film formed thereon. And a back surface cleaning step of cleaning the back surface of the material to be coated by holding it by a holding section and rotating the holding section.
【請求項2】 中央に形成された開口及び該開口の周囲
に配置された当接部を有する処理容器と、前記開口を介
して上方に延びる軸部及び該軸部の上端に形成された保
持部を有する保持手段とを有する塗布装置を用いて、被
塗布材の表面に塗布材を塗布するにあたり、 前記処理容器の上方位置に前記保持部を配置して、前記
被塗布材の裏面を保持部に保持させる工程と、 前記被塗布材を保持した前記保持部と前記処理容器とを
相対的に昇降させ、前記被塗布材の裏面を前記処理容器
の前記当接部に当接させる工程と、 前記保持手段の保持力により、前記被塗布材の裏面を前
記当接部に密着させる工程と、 前記処理容器を前記被塗布材と一体で同一方向に回転さ
せて、前記被塗布材表面に供給された前記塗布材により
前記被塗布材上に塗布膜を形成する回転塗布工程と、 その後、塗布膜が形成された前記被塗布材を回転させな
がら、前記被塗布材の裏面を洗浄する裏面洗浄工程と、
を有することを特徴とする塗布方法。
2. A processing container having an opening formed in the center and an abutting portion arranged around the opening, a shaft portion extending upward through the opening, and a holding member formed at an upper end of the shaft portion. When applying the coating material to the surface of the material to be coated using a coating device having a holding unit having a section, the holding section is arranged above the processing container to hold the back surface of the material to be coated. A step of holding the coating material, and a step of relatively moving the holding portion holding the coating material and the processing container, and bringing the back surface of the coating material into contact with the contact portion of the processing container. The step of bringing the back surface of the material to be coated into close contact with the contact portion by the holding force of the holding means, and rotating the processing container integrally with the material to be coated in the same direction to form a surface of the material to be coated. Coating film on the coated material by the supplied coating material A spin coating step of forming, subsequently, while rotating the coating the film is formed the coating material, the back surface cleaning step for cleaning the back surface of the object to be coated material,
And a coating method.
【請求項3】 特許請求の範囲第2項において、 前記裏面洗浄工程は、前記保持手段により前記被塗布材
を保持し、かつ、前記保持手段により前記被塗布材を回
転させることを特徴とする塗布方法。
3. The back surface cleaning step according to claim 2, wherein the holding means holds the coated material and the holding means rotates the coated material. Application method.
【請求項4】 被塗布材の表面に塗布材を供給して、前
記被塗布材を回転することにより前記塗布材により前記
表面に塗布膜を形成する塗布装置において、 中央に形成された開口と、該開口の周囲に配置された当
接部とを有する処理容器と、 前記開口を介して上方に延びる軸部及び該軸部の上端に
設けられた前記被塗布材の保持部を有する保持手段と、 前記処理容器と前記保持部とを相対的に昇降させて、前
記被塗布材を前記当接部に当接させる昇降手段と、 前記当接部に前記被塗布材が当接された前記処理容器を
回転駆動して、前記処理容器及び前記被塗布材を一体回
転させて前記塗布膜を形成する第1の回転駆動手段と、 前記塗布膜が形成された前記被塗布材を保持する前記保
持部を回転させる第2の回転駆動手段と、 前記保持部に保持されて回転される前記被塗布材の裏面
を洗浄する洗浄器と、を有することを特徴とする塗布装
置。
4. A coating device for supplying a coating material to the surface of a coating material and rotating the coating material to form a coating film on the surface by the coating material, wherein an opening formed at the center A processing container having a contact portion arranged around the opening, and a holding means having a shaft portion extending upward through the opening and a holding portion for the coated material provided at an upper end of the shaft portion. An elevating means for moving the processing container and the holding part relative to each other to bring the coated material into contact with the contact portion; and the coated material contacting the contact portion. First rotation driving means for rotating the processing container to integrally rotate the processing container and the material to be coated to form the coating film; and holding the material to be coated having the coating film formed thereon. Second rotation driving means for rotating the holding portion, A cleaning device for cleaning the back surface of the material to be held and rotated, the coating device.
【請求項5】 特許請求の範囲第4項において、 前記当接部は、回転塗布中に前記被塗布材より飛散した
前記塗布材が、前記被塗布材の裏面領域のうち前記当接
部の内側領域に付着することを防止する塗布材付着防止
手段として兼用されることを特徴とする塗布装置。
5. The abutting portion according to claim 4, wherein the coating material scattered from the coating material during spin coating is the contact area of the back surface area of the coating material. A coating device which is also used as a coating material adhesion preventing means for preventing adhesion to an inner region.
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