JPH09170988A - 蛍光x線による溶液分析用装置 - Google Patents
蛍光x線による溶液分析用装置Info
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- JPH09170988A JPH09170988A JP8305138A JP30513896A JPH09170988A JP H09170988 A JPH09170988 A JP H09170988A JP 8305138 A JP8305138 A JP 8305138A JP 30513896 A JP30513896 A JP 30513896A JP H09170988 A JPH09170988 A JP H09170988A
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Abstract
し、オンラインでの単一相溶液の分析に適用することが
でき、装置ドリフトによる測定誤差を最小にし、分析す
べき溶液中の媒体変動又はガス相の存在についての検出
を可能にした分析装置。 【解決手段】 励起X線により溶液を励起し、励起した
溶液から放出された分光X線を分析するための励起及び
分析手段(12、14)、励起及び分光X線及び基準X
線に対し透明な領域(18)を有する溶液受容手段
(4、8、10)、及び溶液に対し外部にある基準素子
で、受容手段と一体になっており、前記領域とこの素子
との間に前記溶液が存在するような仕方で前記領域に相
対して配置され、励起放射線を受けた時、分光X線とは
異なった基準X線を放出することができ、基準X線及び
分光X線を分析して前記溶液の分析中に起き易い測定ド
リフトを補正することを可能にする、基準素子(6)、
を備えた分析装置。
Description
液を分析するための装置に関する。本発明は、重要な点
として、溶液中に少量で存在する元素をオンラインで蛍
光X線分析に適用することができる。本発明は、特に例
えば、ウラン及びプルトニウムのようなアクチニドを含
む溶液のオンライン分析に適用することができる。
いられるプラントでは、異なった処理工程から得られた
溶液内に存在する物質の濃度を知ることが必要である。
り、これらの物質を、それらが望ましくない箇所へ送ら
なくても良いようにすることができる。
を用いた装置により、現在、定性的及び定量的に分析す
ることができる。
ために、これらの元素を含む溶液を代表する試料を取る
ことが可能である。
透明な窓を備えた測定セル内で直接溶液を循環させるこ
とができる。
及び(3)を参照するが、それらは下に引用した文献
(4)のように、本明細書の最後に記載する。
fects )を避けることができるが〔文献(2)参照〕、
流体流量が大きい場合だけである。
置は、多かれ少なかれ、長期間の測定ドリフト(drift)
を受け易く、このドリフトは測定誤差をもたらし易い。
いる媒体の関数でもある。
で、分析すべき溶液に、基準として用いることができる
既知の元素を特定の量で添加することが知られている。
この問題について文献(4)を参照することができる。
程の遂行を乱すことなく溶液に元素を添加することはで
きない。
の欠点を矯正することである。
操作条件と異なった操作条件の影響を回避することがで
きる。
ngle phase solution )の分析に適用することができ
る。
を用い、それによって溶液がその基準素子によって汚染
されないようにすることにより、装置ドリフトによる測
定誤差を最小にすることができ、分析すべき溶液中の媒
体変動又はガス相の存在についての検出を可能にする。
は、溶液の蛍光X線分析を行うための装置において、 − 励起X線により溶液を励起し、それによって励起し
た溶液から放出された分光X線を分析するための励起及
び分析手段、 − 前記溶液を受容するための手段で、少なくとも一つ
の領域を有し、それを通過する前記励起及び分光X線に
対し透明な該領域を有する受容手段、及び − 前記溶液に対し外部にある基準素子で、前記受容手
段と一体になっており、前記領域とこの素子との間に前
記溶液が存在するような仕方で前記領域に相対して配置
され、この素子が前記励起放射線を受けた時、前記分光
X線とは異なった基準X線を放出することができ、然
も、前記領域が前記基準放射線に対し透明であり、前記
基準X線が前記分光X線と共に分析され、前記溶液の分
析中に、起き易い測定ドリフトを補正することができ
る、基準素子、を備えていることを特徴とする分析装置
にある。
様に関し、溶液受容手段は、流通導管で、その中を溶液
が循環し、励起X線、分光X線、及び基準X線に対し透
明な窓を備えている流通導管を有し、その窓が前記領域
を構成し、基準素子がこの流通導管と一体的に構成され
ている。
ができ、その測定セルは、溶液が通過するようになって
おり、窓を有し、基準素子がこの測定セルと一体的に作
られている。
過する小さな断面の領域を有するのが好ましい。これに
よって、流量が小さい時でも溶液の更新を可能にし、そ
れによって応答時間及び装置の閉塞が最小になる。
様により、溶液受容手段は、溶液を入れるための容器
で、励起X線、分光X線、及び基準X線に対し透明な材
料から作られた容器を有する。
eceptacle)にすることができる。
品であるのが好ましい。この部品はネジでもよい。
溶液を分析する場合には、この部品のための構造材料と
してジルコニウムを用いるのが有利である。
するためではない下に与える態様の例についての記載
を、図面を参照しながら読むことにより一層よく理解で
きるであろう。
として概略的に示されているが、オンラインで液体溶液
を蛍光X線分析するように考えられている。
測定セル4、及び基準素子6、を有する。
り、その導管を通って分析すべき溶液が循環し、図1で
は、溶液が測定セルに入る時に通るセルの一部分8と、
溶液がこの測定セルを出る時に通る別の部分10を見る
ことができる。
線を放出するための手段12(X線管)と、これらの励
起及び測定手段に含まれている蛍光X線検出のための手
段14(例えば、半導体)が図1に示されている。
線ビームの通過を可能にし、分析すべき溶液中に含まれ
ている元素(例えば、ウラン及びプルトニウムのような
アクチニド)から来た蛍光X線ビームが戻る時の通過を
可能にする開口16を有する。
体14によって検出された蛍光X線の分析を行うことが
できる。
直径及び検出器によって見られる蛍光ビームの有効直径
により決定される。
蛍光X線、励起X線を受けた時に素子6から放出される
基準X線に対し透明な窓18も配置されている。例え
ば、炭化硼素、B4 C、又は窒化硼素、又はベリリウム
の窓を用いる。
20も形成されている。
ている。
保持されており、その円環は窓18に対して押し付けら
れ、ネジ26によって測定セル4に固定されている。
8を有し、それを通って励起X線及び蛍光X線が通過
し、励起及び分析手段2がこの開口28に対して配置さ
れている。
大直径は、X線に対し透明な窓18の機械的性質を考慮
してセルに適用することができる最大圧力によって決定
される。
は、溶液の迅速な更新を可能にし、この溶液中に存在す
る元素の濃度の変化が起きた時に迅速な溶液の均質化を
可能にするのに充分小さい。
液導入管(部品8)の断面積、又は溶液排出管(部品1
0)の断面積の大きさ程度である。
り、測定が行われる場所で閉塞が最小になるようにする
ことができる。
は、50リットル/時未満の流量での応答時間に維持さ
れる。
えば、円盤の形で、測定セル4の開口16の密封を確実
に行えることにも注意されたい。
ング22の直径は、測定セル4が充分な圧力を維持でき
るような充分小さいものであることを特に述べておきた
い。
ング22の劣化を防ぐのに充分なX線吸収能力を有し、
測定セル4の密封を確実に行う。
ば、窓又はこの密封材を交換したい時)、窓18と密封
部材22との組立及び取り外しは容易に行えることに注
意すべきである。
行う場合には、信号増幅にドリフトが起きることがあ
る。このドリフトは、得られる蛍光X線スペクトルのエ
ネルギーの変位として現れる。
り、この増幅ドリフトを観察することができ、エネルギ
ースペクトル、特に基準線に近い蛍光線からくるピーク
をリセットするのに用いることができる。
る。
w)(更に下で与える例ではジルコニウム製)の形をして
いる。
に相対して測定セルに固定されており、その空洞は測定
セル4の本体に形成され、パイプ8及び10と連通して
おり、この空洞には開口16が与えられている。
って放出された蛍光X線は検出手段14によって検出さ
れる。
ネジから出た蛍光信号が検出手段によって有意な仕方で
検出されるのに充分な大きさであるが、それら手段を飽
和しない大きさに選択される。
に対し透明な材料で包んだ適当な材料の粉末(下で更に
与える例ではジルコニウム粉末)を用いることができ
る。
の強度は、計数統計によるピークの誤差が、結果で求め
られる誤差よりも少なくとも小さくなるのに充分な強度
でなければならない。
クとの干渉により、又は検出手段が受ける計数が余りに
も多くてそれらの飽和を起こすことにより、分析すべき
元素からのピークの分析を乱すものであってはならな
い。
元素のピークに近くて、然も、分析する必要のない化学
元素からのピークでなければならない。
素の蛍光X線による分析の場合には、基準素子は励起手
段及び試料の後に配置することもでき、元素が存在する
媒体について、又はガス相の存否についての情報を与え
るようなやり方で検出手段により検出される。
従って、この媒体の密度の変動の検出感度を改良するた
め、窓18からネジ6の距離及び幾何学的特性を最適に
することができることに注意すべきである。
で存在する重元素ウラン及びプルトニウムを分析するこ
とが望ましい場合、照射された燃料を再処理するための
方法を考えることができる。
X線−Lα1及びLα2線−の観察により元素分析を行
うことができる。
は、上記重元素のLα線から充分遠く離れており、これ
らの線が干渉することはない。
見え、互いに近接していて充分エネルギースペクトルの
リセットを行うことができる。
スにより照射されたウランの溶液で得られたスペクトル
を示している。
れており、y軸には計数として強度Iが表されている。
ルコニウムに対応する。
段には、通常のエネルギー分散分光計、又は元素の線
(X)のエネルギー分解能を可能にするどのような型の
装置でも含まれる。
ット・ダイアフラム(input diaphragm)及びエネルギー
フィルターが存在する。
は、X線管により励起する。それは、もしそのX線管が
一定の強度を持ち、媒体が変化しなければ、一定の蛍光
X線を出す。
ク(ジルコニウムからのピークB)の強度に対する分析
すべきピーク(ウランからのピークA)の強度の簡単な
比により、励起源(X線管)の変動の影響を無くすこと
ができる。
より行われる。第一工程では、標準溶液と照らし合わせ
て準位を定める。考察する信号は、基準素子からの強度
に対する決定すべき元素からの強度の比である。検量線
から得た係数により、未知の溶液の濃度を決定すること
ができる。
る。
コニウム信号I(Zr)の強度に対する比Rを取ること
により得られた検量線を示している。x軸にはmg/l
で表したウランの濃度Cが示されている。y軸には上述
の比Rが示してある。この比Rにより、X線管の変動に
よる影響を除くことができる。
に関する強度の変動を、取得数、Nacqの関数として
表した場合(曲線A)、及び10000倍した上述の比
Rの変動を、取得数の関数として表したもの(曲線B)
を示している。
5に示されている。
た信号は、X線管からの強度の変動の関数である。
である。この比はX線管からの強度の変動には無関係で
ある。
であるならば、励起源(X線管)の変動の影響をなくす
ため、同様なことを行うことができる。
全ての範囲をカバーしなければならない検定でこのこと
を考慮に入れる必要がある。
るならば、X線管から来るX−光子は一層深く溶液中に
侵入する。
する基準素子6を一層強く励起し、この素子から来る蛍
光X−光子は、ガス相で吸収されにくい。従って、基準
ピークの強度は大きくなる。
を有するガス相は、溶液中の元素の蛍光X線の強度を減
少する。
度に対し次の反対の効果を有する:溶液中の分析すべき
元素に関する線の強度が減少する。基準素子に関する線
の強度が増大する。
ると、溶液の相変動に対する情報を与えることができ
る。これは、測定値を誤らせることがあるガス相の存在
を認めさせることができる制御手段になる。
たもの)の変動を時間t(秒で表す)の関数として、ウ
ラン(曲線A)及びジルコニウム(曲線B)に関して示
している。ウラン及びジルコニウムに関する強度の変動
は同じグラフ上で分かるように示されており、ジルコニ
ウムに関する強度は10で割ってある。
られた場合と、ガス相を測定セル中へ送らなかった場合
について行なった。
示している。従って、図6のこの線Cの左側にある部分
は、測定セルへガス相が送られた場合に相当し、図6の
線Cの右側にある部分は、測定セル中へガス相を送らな
かった場合に相当する。
合について、分析すべき元素からきた信号と、基準素子
からきた信号の変動を、反対の方向に示している。
囲内でX線エネルギーに対し充分な透明性を有するどの
ような種類の容器でも、その中に入っている溶液の蛍光
X線分析を行うのに適用することもでき、蛍光X線分析
に使用されている通常のレセプタクルに入っていてもよ
いことは注目すべき点である。
る。
U.S. DEPARTMENT OF ENERGY, MONSANTO RESEARCH CORPO
RATION, August 1984 「溶解器溶液中の特定の核物質の
蛍光X線分析のための流通液体試料採取セルに用いるた
めの材料の選択及び試験」。
バーン(LAVERGNE)、G.ラマルク(LAMARQUE)、G.マス
(Mus)、COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE 、199
4年4月11日、フランス特許出願No.94 042
25=FR−A−2,718,528。「Appareil pou
r I'analyse en ligne de produits fluides polyphas
e's (An apparatus for the on-line analysis of poly
phase fluid products)」
ジル(VIGIL)、American Nuclear Society, Internatio
nal Topical Conference, Methods and Applications o
f Radionanalytical Chemistry, HAWAII, April 1994
「アクチニド汚染廃棄流を検査するためのオンライン・
エネルギー分散蛍光X線の開発」。
P.タラブ(TRABUC)、Ph.ルグ(LLUG)、R.ジォーエ
ン(JOUEN)、「全反射蛍光X線分光分析(TXRF);
放射性試料微量分析のための将来の方法」、CEA CADARA
CHE, CETAMA 「非破壊分析」、1993年9月29日及
び30日に開催されたCentre d'etudes, Valduc.での技
術討論中に与えられた交換情報集。
の概略的断面図である。
り、窓及び円環を除いてある。
スペクトルである。
ラフである。
流強度に対する、分析される溶液中に含まれるウランに
関する信号の変動、及びウラン/ジルコニウム比の変動
を示すグラフである。
させた場合と、させない場合とについての測定値を示す
グラフである。
Claims (9)
- 【請求項1】 蛍光X線により溶液を分析するための装
置において、 励起X線により溶液を励起し、それによって励起した溶
液から放出された分光X線を分析するための励起及び分
析手段(12、14)、 前記溶液を受容するための手段で、通過する前記励起及
び分光X線に対し透明な少なくとも一つの領域(18)
を有する受容手段(4、8、10)、及び前記溶液に対
し外部にある基準素子(6)で、前記受容手段と一体に
なっており、前記領域とこの素子との間に前記溶液が存
在するような仕方で前記領域に相対して配置され、この
素子が前記励起放射線を受けた時、前記分光X線とは異
なった基準X線を放出することができ、然も、前記領域
が前記基準放射線に対し透明であり、前記基準X線が前
記分光X線と共に分析され、前記溶液の分析中に起き易
い測定ドリフトを補正することを可能にする、基準素子
(6)、を備えていることを特徴とする分析装置。 - 【請求項2】 受容手段が、流通導管(8、10)で、
その中を溶液が循環し、励起X線、分光X線、及び基準
X線に対し透明な窓(18)を備えた流通導管を有し、
然も、前記窓が前記領域を構成し、基準素子が前記流通
導管と一体的に構成されている、請求項1に記載の装
置。 - 【請求項3】 流通導管に、溶液を通過させるための測
定セル(4)で、窓(18)を有する測定セルを配備
し、基準素子が前記測定セルと一体的に構成されてい
る、請求項2に記載の装置。 - 【請求項4】 窓(18)が存在する場所で、測定セル
(4)が溶液が通過する小さな断面の領域を有する、請
求項3に記載の装置。 - 【請求項5】 受容手段が、溶液を入れるための容器
で、励起X線、分光X線、基準X線に対し透明な材料で
作られた容器を有する、請求項1に記載の装置。 - 【請求項6】 容器が蛍光X線分析レセプタクルであ
る、請求項5に記載の装置。 - 【請求項7】 基準素子が、金属材料から作られた機械
的部品(6)である、請求項1に記載の装置。 - 【請求項8】 部品がネジ(6)である、請求項7に記
載の装置。 - 【請求項9】 材料がジルコニウムである、請求項7に
記載の装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014145617A (ja) * | 2013-01-28 | 2014-08-14 | Dkk Toa Corp | エネルギー分散型蛍光x線分析装置 |
JP2016090483A (ja) * | 2014-11-07 | 2016-05-23 | 三菱重工業株式会社 | 廃液中における金属酸化物の検出装置及び方法 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19820321B4 (de) * | 1998-05-07 | 2004-09-16 | Bruker Axs Gmbh | Kompaktes Röntgenspektrometer |
EP1232388A2 (en) | 1999-11-19 | 2002-08-21 | Battelle Memorial Institute | An apparatus for machine fluid analysis |
AUPQ893700A0 (en) * | 2000-07-24 | 2000-08-17 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | On-line x-ray diffraction analyser |
US6668039B2 (en) | 2002-01-07 | 2003-12-23 | Battelle Memorial Institute | Compact X-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis |
US6859517B2 (en) * | 2003-04-22 | 2005-02-22 | Battelle Memorial Institute | Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis |
US7184515B2 (en) * | 2004-09-24 | 2007-02-27 | Battelle Memorial Institute | Component specific machine wear determination with x-ray fluorescence spectrometry |
EP1811291B1 (en) * | 2004-11-08 | 2014-04-30 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Fluorescent x-ray analysis device |
WO2008007998A1 (fr) * | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Vladimir Alexeevich Gudovskikh | Analyseur à fluorescence x pour déterminer la teneur en soufre d'hydrocarbures liquides |
RU2479836C2 (ru) * | 2007-11-30 | 2013-04-20 | Икс-Рей Оптикал Системс, Инк. | Предварительно покрытые пленкой ячейки точного дозирования для рентгеноструктурного анализатора |
KR101073090B1 (ko) | 2009-08-28 | 2011-10-12 | 윤지훈 | 중성자 산란용 시료유지 장치 |
KR101073089B1 (ko) | 2009-08-28 | 2011-10-12 | 윤지훈 | X선 산란용 시료유지 장치 |
JP2011145162A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Japan Atomic Energy Agency | 流体中微粒子のx線検出法 |
JP6084222B2 (ja) * | 2011-08-15 | 2017-02-22 | エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド | 重質試料用の試料粘度/流量制御およびそのx線分析応用 |
DE102012110321A1 (de) * | 2012-10-29 | 2014-04-30 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | System zum Untersuchen von Motorenöl |
CN103278519B (zh) * | 2013-05-16 | 2015-09-30 | 北京乾达源科技有限公司 | 一种在线含硫分析装置 |
DE102014101226B4 (de) * | 2014-01-31 | 2015-11-05 | Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, dieses vertreten durch den Präsidenten der Bundesanstalt für Matrialforschung und -prüfung (BAM) | Totalreflektionsröntgenfluoreszenzmesszelle für die Untersuchung einer flüssigen Probe |
RU2573667C1 (ru) * | 2014-12-10 | 2016-01-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное объединение "СПЕКТРОН" | Поточный анализатор серы |
RU2594646C1 (ru) * | 2015-06-29 | 2016-08-20 | Совместное предприятие в форме закрытого акционерного общества "Изготовление, внедрение, сервис" | Автоматический рентгеновский анализатор пульп и растворов в потоке |
EP3196637B1 (en) * | 2016-01-20 | 2019-10-02 | Rense 't Hooft | Flow cell for analysing a fluid |
RU2624096C1 (ru) * | 2016-07-08 | 2017-06-30 | Совместное предприятие в форме закрытого акционерного общества "Изготовление, внедрение, сервис" | Устройство для рентгеновского флуоресцентного анализа пульп обогатительного производства |
WO2019218051A1 (en) * | 2018-05-18 | 2019-11-21 | Enersoft Inc. | Systems, devices, and methods for analysis of geological samples |
AU2019322935B2 (en) * | 2018-08-17 | 2022-03-10 | MicroTrace Pty. Ltd. | Apparatus for the measurement of mineral slurries |
RU2762533C2 (ru) * | 2021-07-29 | 2021-12-21 | Общество с ограниченной ответственностью "АНАЛИТНАУЧЦЕНТР" (ООО "АНАЛИТНАУЧЦЕНТР") | Устройство для рентгенорадиометрического анализа состава вещества в потоке |
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Family Cites Families (4)
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GB1400587A (en) * | 1972-09-15 | 1975-07-16 | British Petroleum Co | Flow-cell |
JPS53122484A (en) * | 1977-03-31 | 1978-10-25 | Shimadzu Corp | Liquid specimen vessel of fluorescent x-ray analyzer |
FR2718528B1 (fr) * | 1994-04-11 | 1996-04-26 | Commissariat Energie Atomique | Appareil pour l'analyse en ligne de produits fluides polyphasés. |
-
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-
2006
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014145617A (ja) * | 2013-01-28 | 2014-08-14 | Dkk Toa Corp | エネルギー分散型蛍光x線分析装置 |
JP2016090483A (ja) * | 2014-11-07 | 2016-05-23 | 三菱重工業株式会社 | 廃液中における金属酸化物の検出装置及び方法 |
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