JPH09168120A - 固体撮像装置の欠陥補正方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥の位置を記憶する記憶容量を従来よりも
削減する。 【解決手段】 水平カウンタ４２に水平アドレス、垂直
カウンタ４３に垂直アドレス、フィールド識別（ＩＤ）
回路４４にフィールド識別信号が形成され、これらの形
成された信号がメモリ４５、４６、４７に供給される。
Ａ／Ｄ変換回路３からのデジタル映像信号が欠陥検出回
路４８に供給され、欠陥の検出信号がメモリ４５〜４７
に供給されて水平、垂直アドレス及びフィールド識別信
号が記憶される。識別回路４４からのフィールド識別信
号と、メモリ４７に記憶された識別信号が論理演算回路
４９に供給され、この論理出力信号が「１」加算回路５
０に供給されてメモリ４６に記憶された垂直アドレスに
「１」が加算される。加算された垂直アドレスと水平ア
ドレスが一致検出回路５１、５２に供給され、これらが
ともに一致したときに検出出力が欠陥補正回路４１に供
給される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば単板のＣＣ
Ｄを用いる固体撮像装置に使用して好適な欠陥補正方法
及び装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】例えば単板のＣＣＤを用いる固体撮像装
置においては、例えば図１０に示すようにモザイク状に
構成されたマゼンタ、グリーン、イエロー、シアンの色
フィルタを、各画素に対応して設けてカラー映像信号を
形成することが行われている。

【０００３】すなわち図１０において、例えばマゼン
タ、イエローの加算信号とグリーン、シアンの加算信号
とからは、赤の色差信号（Ｒ−Ｙ）と輝度信号（Ｙ）と
を形成することができる。また、例えばイエロー、グリ
ーンの加算信号とシアン、マゼンタの加算信号とから
は、青の色差信号（Ｂ−Ｙ）と輝度信号（Ｙ）とを形成
することができる。

【０００４】そこでこの図１０の固体撮像装置において
は、図面の右側に示すように、偶数、奇数のそれぞれの
フィールドで、隣接する２本の走査線を構成する画素の
信号を加算して取り出すようにしている。

【０００５】すなわち例えば偶数フィールドでは、イエ
ロー、シアンの色フィルタの設けられた走査線と、その
上側のマゼンタ、グリーンまたはグリーン、マゼンタの
色フィルタの設けられた走査線との各画素の信号を加算
して取り出す。また奇数フィールドでは、イエロー、シ
アンの色フィルタの設けられた走査線と、その下側のグ
リーン、マゼンタまたはマゼンタ、グリーンの色フィル
タの設けられた走査線との各画素の信号を加算して取り
出す。

【０００６】これによって、例えば偶数フィールドで
は、最初の走査線で赤の色差信号（Ｒ−Ｙ）と輝度信号
（Ｙ）とが取り出され、次の走査線で青の色差信号（Ｂ
−Ｙ）と輝度信号（Ｙ）とが取り出される。また奇数フ
ィールドでは、最初の走査線で青の色差信号（Ｂ−Ｙ）
と輝度信号（Ｙ）とが取り出され、次の走査線で赤の色
差信号（Ｒ−Ｙ）と輝度信号（Ｙ）とが取り出される。
これによって任意のカラー映像信号を形成することがで
きる。

【０００７】それと共に、それぞれのフィールドで加算
される走査線が上下に交替されることによって、実効的
な走査線の位置が１走査線の間隔で上下にシフトされ、
２フィールドでインターレースした映像信号を得ること
ができるものである。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで上述のような
固体撮像装置において、画素に生じる欠陥は避けられな
い問題である。このような欠陥の内で、例えば画素から
取り出される信号のレベルが低下する黒点の欠陥は画面
上で目立つことは少ない。ところが逆に画素から取り出
される信号のレベルが上昇する白点の欠陥は、画面上で
極めて目立つことになり、このような欠陥を補正する必
要が生じる。

【０００９】そこで従来から、予め欠陥の生じている画
素を検出して記憶しておき、例えば撮像時にその画素の
位置で前値ホールド等を用いて、欠陥を補正することが
行われている。このような欠陥補正においては、例えば
固体撮像装置の製作時に検出された欠陥の位置をＲＯＭ
等に記憶し、このＲＯＭ等を固体撮像装置と共に配給し
て、このＲＯＭ等に記憶された画素を補正することが行
われている。

【００１０】しかしながらこのような方法では、例えば
固体撮像装置の製作時に検出された欠陥は補正できるも
のの、その後に発生した欠陥は補正することができな
い。また、上述のような白点の欠陥は周囲の気温等によ
っても増減するものである。そこで本願発明者は、先に
このような欠陥を自動的に検出して補正する装置を提案
した。（特開平６−３１９０８４号公報、特開平６−３
１５１１２号公報等参照）

【００１１】ところがこのような欠陥補正において、例
えば図１１のＡのように奇数フィールドの位置（、
）に欠陥（×）が生じている場合に、この欠陥は奇
数、偶数の各フィールドでいずれも取り出される走査線
の１番に生じることになる。しかし例えば図１１のＢの
ように偶数フィールドの位置（、）に欠陥（×）を
生じている場合には、この欠陥は偶数フィールドでは取
り出される走査線の１番に生じるが、奇数フィールドで
は取り出される走査線の２番に生じることになる。

【００１２】すなわち欠陥の生じた位置によっては、そ
の取り出される走査線がフィールドによって異なってし
まう場合がある。このため従来の欠陥補正では、奇数、
偶数のそれぞれのフィールドについて欠陥の生じている
画素の位置を記憶する必要があり、これらの位置を記憶
する記憶容量が大量に必要になる恐れがあった。

【００１３】この出願はこのような点に鑑みて成された
ものであって、解決しようとする問題点は、従来の欠陥
補正では、偶数、奇数のそれぞれのフィールドについて
欠陥の生じている画素の位置を記憶するために、これら
の位置を記憶する記憶容量が大量に必要になる恐れがあ
ったというものである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】このため本発明において
は、欠陥の検出された画素のフィールド上のアドレスと
そのフィールドの識別信号を記憶し、この記憶されたア
ドレスと識別信号を用いて欠陥の補正を行うようにした
ものであって、これによれば、欠陥の位置を記憶する記
憶容量を従来よりも削減することができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】すなわち本発明においては、少な
くとも１フレーム分の画素数を有し、垂直方向の隣接す
る画素の信号を加算して出力すると共に、交互のフィー
ルドで加算される隣接画素を上下に交替してインターレ
ースの映像信号を得る固体撮像装置に対して、画素に生
じる欠陥を検出し、この欠陥の検出された画素のフィー
ルド上のアドレスと交互のフィールドの識別信号を記憶
し、この記憶されたフィールド上のアドレスとフィール
ドの識別信号を用いて欠陥の補正を行うものである。

【００１６】以下、図面を参照して本発明を説明する
に、図１は本発明による固体撮像装置の欠陥補正方法及
び装置を適用したＣＣＤカメラの一例の全体の構成を示
すブロック図である。

【００１７】この図１において、例えばレンズ系（図示
せず）を介して入射された映像光がＣＣＤ（固体撮像装
置）１で電気信号に変換される。この信号がサンプルホ
ールド（Ｓ／Ｈ）及びＡＧＣ回路２を通じてＡ／Ｄ変換
回路３に供給され、変換されたデジタル映像信号が欠陥
検出補正回路４に供給される。そしてこの欠陥検出補正
回路４の欠陥補正回路４１で補正された信号が信号処理
回路５に供給され、上述の色差信号と輝度信号とが形成
されて出力端子６に取り出される。

【００１８】また、装置の全体の制御を行うマイクロコ
ンピュータ（μ−ＣＯＭ）７が設けられる。このマイク
ロコンピュータ７からの信号がタイミング発生回路８に
供給されて、動作のための各種のタイミング信号が発生
される。さらにこのタイミング発生回路８からの信号が
ＣＣＤ駆動回路９に供給されて、ＣＣＤ１の駆動信号が
発生される。またタイミング発生回路８からの信号が同
期発生回路１０に供給されて、水平・垂直の同期信号等
が発生される。

【００１９】さらにこれらの同期信号が上述の信号処理
回路５に供給されると共に、欠陥検出補正回路４にも供
給される。そしてこの欠陥検出補正回路４において上述
のタイミング発生回路８からの画素クロック信号が水平
カウンタ４２に供給される。またこの水平カウンタ４２
は同期発生回路１０からの水平同期信号によってリセッ
トされる。これによってこの水平カウンタ４２には、Ｃ
ＣＤ１から取り出されたデジタル映像信号の画素の画面
上の水平アドレスが形成される。

【００２０】また同期発生回路１０からの水平同期信号
が垂直カウンタ４３に供給される。さらにこの垂直カウ
ンタ４３は同期発生回路１０からの垂直同期信号によっ
てリセットされる。これによってこの垂直カウンタ４３
には、ＣＣＤ１から取り出されたデジタル映像信号の画
素の画面上の垂直アドレスが形成される。

【００２１】さらに同期発生回路１０からの垂直同期信
号がフィールド識別（ＩＤ）回路４４に供給される。さ
らにこの識別回路４４には、同期発生回路１０からのフ
ィールド識別信号が供給される。これによってこの識別
回路４４には、ＣＣＤ１から取り出されたデジタル映像
信号のフィールド識別信号が形成される。そしてこれら
の形成された水平アドレス、垂直アドレス及びフィール
ド識別信号がメモリ４５、４６、４７に供給される。

【００２２】一方、上述のＡ／Ｄ変換回路３からのデジ
タル映像信号が欠陥検出回路４８に供給される。そして
この欠陥検出回路４８で画素の欠陥が検出されたとき
に、この欠陥の検出信号がメモリ４５、４６、４７に供
給され、そのときに供給されている水平アドレス、垂直
アドレス及びフィールド識別信号が記憶される。従って
これらのメモリ４５、４６、４７には、それぞれ欠陥の
検出された画素の水平及び垂直のフィールド上のアドレ
スとフィールドの識別信号が記憶される。

【００２３】さらに上述の識別回路４４からのフィール
ド識別信号と、メモリ４７に記憶された識別信号が論理
演算回路４９に供給される。この論理演算回路４９で
は、例えばメモリ４５に記憶された識別信号が偶数フィ
ールドで、識別回路４４からのフィールド識別信号が奇
数フィールドのときに論理信号が出力される。そしてこ
の論理出力信号が「１」加算回路５０に供給されて、メ
モリ４６に記憶された垂直アドレスに「１」が加算され
る。

【００２４】この加算回路５０からの「１」が加算され
た垂直アドレスと、垂直カウンタ４３からの垂直アドレ
スが一致検出回路５１に供給される。また、水平カウン
タ４２からの水平アドレスと、メモリ４５に記憶された
アドレスが一致検出回路５２に供給される。そしてこれ
らの一致検出信号がアンド回路５３に供給され、水平、
垂直アドレスがともに一致したときに、アンド出力が欠
陥補正回路４１に供給される。さらにこのアンド出力は
信号処理回路５にも供給される。

【００２５】従ってこの方法及び装置において、欠陥の
検出された画素のフィールド上のアドレスとそのフィー
ルドの識別信号が記憶される。さらに例えば記憶された
識別信号が偶数（他方の）フィールドで、映像信号のフ
ィールド識別信号が奇数（一方の）フィールドのときに
記憶された垂直アドレスに「１」が加算される。そして
この算出された垂直アドレスを用いて、奇数、偶数の両
方のフィールドで欠陥の補正を行うことができる。

【００２６】これによって、従来は、奇数、偶数のそれ
ぞれのフィールドについて欠陥の生じている画素の位置
を記憶する必要があり、これらの位置を記憶する記憶容
量が大量に必要になる恐れがあったものを、本発明によ
れば欠陥の検出された画素のフィールド上のアドレスと
そのフィールドの識別信号を記憶し、演算でそれぞれの
フィールドでの位置を求めるので、位置を記憶する記憶
容量を半減し、全体の回路規模をたとえば３／４程度に
することができる。

【００２７】さらに図２、図３は、上述の処理を行うた
めの基本的な動作アルゴリズムを示す。なおこの動作ア
ルゴリズムは、上述の特開平６−３１９０８４号公報に
開示された動作アルゴリズムに基づくものである。

【００２８】まず図２は欠陥検出時の処理のアルゴリズ
ムである。この図２において、ステップ〔１〕で検出動
作が開始されると、ステップ〔２〕で例えばＣＣＤ１の
撮像面の前面に設けられたアイリス１１が閉じられる。
さらにステップ〔３〕でタイミング発生回路８（ＴＧ）
がフレーム読み出しモードに切り換えられ、ステップ
〔４〕でＣＣＤ１がノーマルスキャン×１で駆動され
る。

【００２９】さらにステップ〔５〕で読み出しパルスが
停止されてＣＣＤ１の蓄積動作が行われる。そして所定
の蓄積動作の後にステップ〔６〕で第１フィールド、ス
テップ〔７〕で第２フィールドの読み出しが行われる。
またステップ〔８〕で読み出された各フィールドの信号
中の画素の欠陥が検出され、ステップ

〔９〕で検出され
た欠陥のレベルがホールドされる。

【００３０】そしてステップ〔１０〕でこのホールドさ
れた欠陥のレベルが比較され、ステップ〔１１〕でこの
レベルが判定され、ステップ〔１２〕でこのレベルが大
きいときはフィールドの識別信号が記憶される。さらに
ステップ〔１３〕でこの欠陥の位置の上述の水平アドレ
ス、垂直アドレス等からなるＡデータが記憶され、ステ
ップ〔１４〕でレベルデータが記憶される。

【００３１】さらにステップ〔１５〕で次の欠陥のレベ
ルが比較され、ステップ〔１６〕でそのレベルが判定さ
れ、ステップ〔１７〕でそのレベルが大きいときはフィ
ールドの識別信号が記憶される。またステップ〔１８〕
でこの欠陥の位置の上述の水平アドレス、垂直アドレス
等からなるＢデータが記憶され、ステップ〔１９〕でレ
ベルデータが記憶される。さらに同様の動作が、Ｃ、Ｄ
データについても行われ、ステップ〔２０〕で検出動作
が終了される。

【００３２】また、図３は欠陥補正時の処理のアルゴリ
ズムである。この図３において、ステップ〔２１〕でタ
イミング発生回路８がフィールド読み出しモードに切り
換えられ、ステップ〔２２〕で補正動作が開始される。
そしてステップ〔２３〕で上述のＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄデータ
が読み出され、ステップ〔２４〕で欠陥のアドレスが検
出される。さらにステップ〔２５〕で垂直アドレスの変
換が行われ、ステップ〔２６〕で補正パルスが発生さ
れ、ステップ〔２７〕で欠陥補正が行われる。

【００３３】このようにして、欠陥の検出、欠陥の位置
のアドレスの記憶、さらに欠陥の補正の処理が行われ
る。なお、上述の図２、図３のアルゴリズムの中で、ス
テップ〔１２〕、〔１７〕で示すフィールドの識別信号
の記憶、及びステップ〔２５〕で示す垂直アドレスの変
換の処理が、新たにこの発明で行われる部分である。

【００３４】さらに図４、図５は欠陥検出時のＣＣＤ駆
動のタイミングとＣＣＤ出力信号を示す。なお図４は蓄
積期間を６フィールドとした場合、図５は蓄積期間をｎ
フィールドとした場合である。またＣＣＤには、手振れ
補正等を行うために、本来の有効画面のフレームの画素
数よりも多い画素数が設けられている場合である。

【００３５】そこでこれらの図４、図５において、各図
の信号ＭＲＳＴは装置の起動の状態を示し、信号ＳＲＴ
は欠陥検出動作を行う期間を示している。また信号ＦＬ
Ｄはフィールド識別信号を表し、信号ＶＤ１は垂直同期
信号を表し、信号ＶＤ０は上述の本来よりも多い画素数
を全て読み出すために２フィールドを単位として設けら
れた垂直同期信号を表す。

【００３６】そしてこれらの図４、図５において、第１
及び第２フィールドの読み出しパルスＸＳＧ１及びＸＳ
Ｇ２をそれぞれ図示のように形成する。これによって図
４では６フィールドの蓄積動作が行われ、図５ではｎフ
ィールドの蓄積動作が行われ、ＣＣＤからはそれぞれ図
示のように出力（ｏｕｔ）が取り出される。これによっ
て図示の検出フィールドの期間に、第１及び第２フィー
ルドの全画素の信号が取り出される。なお、各図の信号
ＥＮＤは欠陥検出動作期間の終了を示す。

【００３７】また図６、図７は、例えばＮＴＳＣ方式の
検出時におけるフレーム読み出しの垂直ブランキング期
間の前後のタイミングを示している。なお、図６は奇数
フィールド、図７は偶数フィールドの場合である。そこ
でこれらの図６、図７において、各図の信号ＦＬＤはフ
ィールド識別信号を表し、信号ＢＬＫ／ＶＤは垂直同期
信号とブランキング期間を表し、信号ＨＤは水平同期信
号を表す。

【００３８】そしてこれらの図６、図７において、読み
出しパルスＳＧをそれぞれ図示のように形成することに
よって、信号ＩＤ及び信号ＶＣＬＫがそれぞれ図示のよ
うに形成され、ＣＣＤからはそれぞれ図示のように出力
（ｏｕｔ）が取り出される。なお、図中の黒帯の付され
た部分はＣＣＤ上のオプティカルブラックの部分を示し
ている。また信号ＰＢＬＫが図示のように形成され、垂
直カウンタの計数（ＶＣＮＴ）が図示のように行われ
る。

【００３９】従って上述の装置において、欠陥検出補正
回路４は具体的には図８に示すように構成される。すな
わち図８において、例えば上述のＡ／Ｄ変換回路３から
のデジタル映像信号（検査信号）がクランプ及びブラン
キング（ＣＬＰ／ＢＬＫ）回路８１に供給され、この回
路８１からの信号が検出比較器８２に供給される。この
比較出力（欠陥検出パルス）がデータ記憶制御部８３に
供給されると共に、上述の検査信号がデータ記憶制御部
８３にも供給される。

【００４０】また上述の信号ＸＶ１が垂直カウンタ８４
に供給されると共に、読み出しパルスＳＧがリセット端
子に供給される。さらに例えば上述のタイミング発生回
路８からのマスタークロック信号（ＣＫ）が水平カウン
タ８５に供給される。そしてこれらのカウント値がデー
タ記憶制御部８３に供給される。

【００４１】従ってこのデータ記憶制御部８３では上述
の検出パルスが供給されたときに、検査信号の欠陥レベ
ルデータとカウンタ８４、８５のカウント値が記憶され
る。そしてこの記憶されたカウント値と、カウンタ８
４、８５のカウント値が一致検出回路８６、８７に供給
される。さらにこれらのカウント値が共に一致したとき
の検出信号が出力される。

【００４２】さらに図９は、このデータ記憶制御部８３
の具体例を示すブロック図である。この図９において、
上述の欠陥レベルデータがセレクタを通じてレベルデー
タ記憶バンクＡ〜Ｄに供給されると共に、上述の欠陥検
出パルスがレベルデータ記憶バンクＡ〜Ｄに供給され
て、検出パルスが供給されたときの欠陥レベルデータが
レベルデータ記憶バンクＡ〜Ｄに記憶される。

【００４３】それと共に、供給される欠陥レベルデータ
がコンパレータに供給され、欠陥検出パルスのタイミン
グでレベルデータ記憶バンクＡ〜Ｄに記憶されたデータ
と比較される。そしてレベルデータ記憶バンクＡ〜Ｄ
に、常に最大のものから順に欠陥レベルデータが記憶さ
れるように制御が行われる。すなわちレベルデータ記憶
バンクＡ〜Ｄのデータが順次入れ替えられるようにセレ
クタの制御が行われる。

【００４４】さらにカウンタ８４、８５のカウント値
が、それぞれ垂直アドレスデータ記憶バンクＡ〜Ｄ及び
水平アドレスデータ記憶バンクＡ〜Ｄに供給される。ま
た上述のフィールド識別（ＩＤ）信号がフィールド識別
データ記憶バンクＡ〜Ｄに供給される。さらにこれらの
記憶バンクＡ〜Ｄがそれぞれセレクタを通じて上述のレ
ベルデータ記憶バンクＡ〜Ｄと同様に接続される。

【００４５】そしてこれらのセレクタが同時に制御され
ることによって、これらの垂直アドレス、水平アドレス
及びフィールド識別の各記憶バンクＡ〜Ｄの記憶データ
が、レベルデータ記憶バンクＡ〜Ｄと同様に、最大の欠
陥レベルデータのものから順に記憶されるように入れ替
え制御が行われる。

【００４６】さらにこれらの垂直アドレスデータ記憶バ
ンクＡ〜Ｄに記憶されたデータが、インクリメンタでフ
ィールド識別データ記憶バンクＡ〜Ｄに記憶されたデー
タに従って「１」が加算され、この加算されたデータが
一致検出回路８６に供給される。また水平アドレスデー
タ記憶バンクＡ〜Ｄに記憶されたデータが一致検出回路
８７に供給される。そしてこれらのデータが共に一致し
たときに補正パルス出力が取り出される。

【００４７】こうして上述の固体撮像装置の欠陥補正方
法及び装置によれば、少なくとも１フレーム分の画素数
を有し、垂直方向の隣接する画素の信号を加算して出力
すると共に、交互のフィールドで加算される隣接画素を
上下に交替してインターレースの映像信号を得る固体撮
像装置に対して、画素に生じる欠陥を検出し、この欠陥
の検出された画素のフィールド上のアドレスと交互のフ
ィールドの識別信号を記憶し、この記憶されたフィール
ド上のアドレスとフィールドの識別信号を用いて欠陥の
補正を行うことにより、欠陥の位置を記憶する記憶容量
を従来よりも削減することができるものである。

【００４８】

【発明の効果】この発明によれば、欠陥の検出された画
素のフィールド上のアドレスとそのフィールドの識別信
号が記憶される。さらに例えば記憶された識別信号が偶
数（他方の）フィールドで、映像信号のフィールド識別
信号が奇数（一方の）フィールドのときに記憶された垂
直アドレスに「１」が加算される。そしてこの算出され
た垂直アドレスを用いて、奇数、偶数の両方のフィール
ドで欠陥の補正を行うことができるようになった。

【００４９】これによって、従来は、奇数、偶数のそれ
ぞれのフィールドについて欠陥の生じている画素の位置
を記憶する必要があり、これらの位置を記憶する記憶容
量が大量に必要になる恐れがあったものを、本発明によ
れば欠陥の検出された画素のフィールド上のアドレスと
そのフィールドの識別信号を記憶し、演算でそれぞれの
フィールドでの位置を求めるので、位置を記憶する記憶
容量を半減し、全体の回路規模をたとえば３／４程度に
することができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の適用される固体撮像装置の欠陥補正装
置の一例の構成図である。

【図２】その動作の説明のための図である。

【図３】その動作の説明のための図である。

【図４】その動作の説明のための図である。

【図５】その動作の説明のための図である。

【図６】その動作の説明のための図である。

【図７】その動作の説明のための図である。

【図８】本発明の適用される固体撮像装置の欠陥補正装
置の要部の具体例の構成図である。

【図９】本発明の適用される固体撮像装置の欠陥補正装
置のさらに要部の具体例の構成図である。

【図１０】本発明の適用される固体撮像装置の説明のた
めの図である。

【図１１】その動作の説明のための図である。

【符号の説明】

１ ＣＣＤ（固体撮像装置） ２ サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）及びＡＧＣ回路 ３ Ａ／Ｄ変換回路 ４ 欠陥検出補正回路 ４１ 欠陥補正回路 ４２ 水平カウンタ ４３ 垂直カウンタ ４４ フィールド識別（ＩＤ）回路 ４５、４６、４７ メモリ ４８ 欠陥検出回路 ４９ 論理演算回路 ５０ 「１」加算回路 ５１、５２ 一致検出回路 ５３ アンド回路 ５ 信号処理回路 ６ 出力端子 ７ マイクロコンピュータ（μ−ＣＯＭ） ８ タイミング発生回路 ９ ＣＣＤ駆動回路 １０ 同期発生回路 １１ アイリス

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくとも１フレーム分の画素数を有
   し、垂直方向の隣接する画素の信号を加算して出力する
   と共に、交互のフィールドで上記加算される隣接画素を
   上下に交替してインターレースの映像信号を得る固体撮
   像装置に対して、 上記画素に生じる欠陥を検出し、 この欠陥の検出された画素のフィールド上のアドレスと
   上記交互のフィールドの識別信号を記憶し、 この記憶されたフィールド上のアドレスとフィールドの
   識別信号を用いて上記欠陥の補正を行うことを特徴とす
   る固体撮像装置の欠陥補正方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の固体撮像装置の欠陥補正
   方法において、 上記欠陥の検出された画素のフィールドが上記交互の一
   方のときは、両方のフィールドで上記アドレスを上記記
   憶された値とし、 上記欠陥の検出された画素のフィールドが上記交互の他
   方のときは、他方のフィールドで上記アドレスを上記記
   憶された値とすると共に一方のフィールドで上記記憶さ
   れたアドレスの垂直アドレスに１を加算した値とするこ
   とを特徴とする固体撮像装置の欠陥補正方法。
3. 【請求項３】 少なくとも１フレーム分の画素数を有
   し、垂直方向の隣接する画素の信号を加算して出力する
   と共に、交互のフィールドで上記加算される隣接画素を
   上下に交替してインターレースの映像信号を得る固体撮
   像装置に対して、 上記画素の信号を１画素ずつ読み出してその欠陥を検出
   する手段を設け、 この欠陥画素の検出されたときのフィールド上の読み出
   しアドレスと上記交互のフィールドの識別信号を記憶す
   る記憶手段を設け、 この記憶されたフィールド上のアドレスとフィールドの
   識別信号を用いて上記欠陥の補正を行う手段を有するこ
   とを特徴とする固体撮像装置の欠陥補正装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の固体撮像装置の欠陥補正
   装置において、 上記欠陥の検出された画素のフィールドが上記交互の一
   方のときは、両方のフィールドで上記記憶されたアドレ
   スを出力し、 上記欠陥の検出された画素のフィールドが上記交互の他
   方のときは、他方のフィールドで上記記憶されたアドレ
   スを出力すると共に一方のフィールドで上記記憶された
   アドレスの垂直アドレスに１を加算して出力する手段を
   有することを特徴とする固体撮像装置の欠陥補正装置。