JPH09162514A - Printed wiring board and its manufacture - Google Patents

Printed wiring board and its manufacture

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Publication number
JPH09162514A
JPH09162514A JP34505895A JP34505895A JPH09162514A JP H09162514 A JPH09162514 A JP H09162514A JP 34505895 A JP34505895 A JP 34505895A JP 34505895 A JP34505895 A JP 34505895A JP H09162514 A JPH09162514 A JP H09162514A
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JP
Japan
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copper
layer
plating
wiring board
printed wiring
Prior art date
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Pending
Application number
JP34505895A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masanori Tamaki
昌徳 玉木
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP34505895A priority Critical patent/JPH09162514A/en
Publication of JPH09162514A publication Critical patent/JPH09162514A/en
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To remarkably improve the heat cycle characteristic of a printed wiring board without sacrificing the adhesive property of the board by forming a copper alloy layer of a gradient alloy, the copper concentration of which becomes higher as going toward the lower surface of the alloy layer. SOLUTION: A copper alloy layer 7 formed on a copper-made lower layer conductor circuit 2 in a printed wiring board is made of a graded alloy, the copper concentration of which becomes higher as going toward the lower surface of the layer 7. Therefore, the adhesion between the circuit 2 and an upper-layer conductor circuit 8 having the copper alloy layer 7 can be improved without sacrificing the adhesion property of the layer 7 with an insulating resin layer. It is preferable to adjust the copper concentration so that the concentration can change within the range of 20-90atm% continuously or in stages from the upper surface side to the lower surface side of the layer 7. In addition, the thickness of the layer 7 is adjusted to 0.5-3μm. In a method for manufacturing the printed wiring board, the bath load of a plating bath is adjusted to 0.2-1.5dm<2> /l in order to form the copper alloy layer 7 having such a copper concentration gradient.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板と
その製造方法に関し、特に、アディティブ法により形成
した上層の導体と下層の導体との密着性を改善した、高
信頼性のプリント配線板について提案する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board and a method of manufacturing the same, and more particularly to a highly reliable printed wiring board having improved adhesion between an upper conductor and a lower conductor formed by an additive method. suggest.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子工業の進歩に伴い電子機器の
小型化あるいは高速化が進められており、このためプリ
ント配線板やLSIを実装する配線板についてもファイ
ンパターンによる高密度化に対応した高い信頼性が要求
されるようになってきた。
2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have been reduced in size and increased in speed with the progress of the electronic industry. Therefore, printed wiring boards and wiring boards on which LSIs are mounted have been made compatible with high density by fine patterns. High reliability has come to be required.

【0003】これに対し、アディティブ型プリント配線
板では、例えば導体と樹脂絶縁層との密着性を改善する
手段として、樹脂絶縁層の導体形成面側に、化学的エッ
チングによる微細な凹凸を設ける方法が知られている。
この方法によれば、樹脂絶縁層表面に設けた凹凸に銅め
っき等のめっき金属が充填されるので、その凹凸による
アンカー効果により、ピール強度を改善することができ
る。このようなアンカー効果によるピール強度の改善
は、一般に、破壊面積を大きくすること、導体金属また
は絶縁層樹脂の強度を大きくすることによってなされ
る。
On the other hand, in the additive type printed wiring board, as a means for improving the adhesion between the conductor and the resin insulating layer, for example, a method of forming fine irregularities by chemical etching on the conductor forming surface side of the resin insulating layer. It has been known.
According to this method, since the unevenness provided on the surface of the resin insulating layer is filled with the plating metal such as copper plating, the peeling strength can be improved by the anchor effect due to the unevenness. The improvement of the peel strength due to the anchor effect is generally performed by increasing the breaking area and the strength of the conductor metal or the insulating layer resin.

【0004】ところが、より高密度でパターン精度の高
い配線が要求されると、レジストの微小パターンを精度
良く形成するために、樹脂絶縁層の表面粗化によって形
成されるアンカーを小さくすることが必要となる。その
ため、上記の従来技術において、アンカーを小さくする
と、破壊面積が小さくなる結果、ピール強度が著しく低
下するという問題があった。
However, when wiring with higher density and higher pattern accuracy is required, it is necessary to reduce the size of the anchor formed by roughening the surface of the resin insulating layer in order to form a fine resist pattern with high accuracy. Becomes Therefore, in the above-mentioned conventional technique, when the anchor is made small, the fracture area becomes small, resulting in a problem that the peel strength is remarkably lowered.

【0005】この問題を解消するための手段として、絶
縁層樹脂の強度を大きくする方法が考えられるが、かか
る方法では、導体金属部分で破壊されるという新たな問
題を生じた。特に、このような破壊現象は、弾性率や降
伏点,あるいは引張り強さが一般に低い銅製の導体にお
いて顕著であった。
As a means for solving this problem, a method of increasing the strength of the insulating layer resin can be considered, but such a method causes a new problem that the conductive metal portion is broken. In particular, such a fracture phenomenon was remarkable in a conductor made of copper, which generally has a low elastic modulus, a yield point, or a tensile strength.

【0006】そこで、発明者は先に、導体金属の強度改
善に関し研究を行い、粗化面のアンカー窪みに充填され
る金属の少なくとも一部に、硬度に優れる合金めっき層
を用いることがピール強度の向上に有効であることを突
き止め、特開平6−318771号公報に開示のプリント配線
板を提案した。
[0006] Therefore, the inventor previously conducted research on improving the strength of the conductor metal, and it is preferable to use an alloy plating layer having excellent hardness for at least a part of the metal filled in the anchor depressions of the roughened surface. It was found that the printed wiring board disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-318771 is effective in improving the printed wiring board.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記提
案のプリント配線板では、導体の下側面に合金めっき層
(例えば、銅−ニッケル−リン合金層)を有するバイア
ホールを樹脂絶縁層に形成して下層導体の銅パッドと接
続する場合、前記銅−ニッケル−リン合金層は下層導体
の銅パッドとの密着性が悪いという新たな問題があるこ
とに気付いた。これは、上記合金めっき層が均一な組成
の共晶合金で形成されており、この共晶合金のニッケル
が銅と親和性が悪いことに起因していると考えられる。
すなわち、銅製の下層導体回路の上に、均一な組成の共
晶合金からなる合金めっき層を導体下側面に有する導体
回路を形成する場合、上層の合金めっき層は銅製の下層
導体との密着性が悪いという問題があった。
However, in the above-proposed printed wiring board, a via hole having an alloy plating layer (for example, a copper-nickel-phosphorus alloy layer) is formed on the lower surface of the conductor in the resin insulating layer. When connecting to the copper pad of the lower conductor, it was found that the copper-nickel-phosphorus alloy layer had a new problem of poor adhesion to the copper pad of the lower conductor. It is considered that this is because the alloy plating layer is formed of a eutectic alloy having a uniform composition, and nickel of this eutectic alloy has a poor affinity with copper.
That is, when forming a conductor circuit having an alloy plating layer made of a eutectic alloy with a uniform composition on the conductor lower surface on a copper lower layer conductor circuit, the upper alloy plating layer adheres to the copper lower layer conductor. There was a problem that was bad.

【0008】本発明の目的は、従来技術が抱えている上
記の問題を解消することにあり、特に、銅製の下層導体
回路と下側面に銅合金層を有する上層導体回路との密着
性を改善することにより、より高密度でパターン精度の
高い配線においてもピール強度等の信頼性に優れるプリ
ント配線板を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above problems of the prior art, and particularly to improve the adhesion between the lower conductor circuit made of copper and the upper conductor circuit having a copper alloy layer on the lower side surface. By doing so, it is possible to provide a printed wiring board that is excellent in reliability such as peel strength even in wiring having higher density and higher pattern accuracy.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】発明者は、上記目的の実
現に向けさらに鋭意研究を行った結果、以下に示す内容
を要旨構成とする本発明に想到した。すなわち、本発明
は、銅製の下層導体回路と、下側面に銅合金層を有する
上層導体回路とが、該合金層を介して電気的に接続され
ているプリント配線板において、前記銅合金層が、該合
金層の下面側ほど銅濃度の高い傾斜合金にて形成されて
いることを特徴とするプリント配線板である。なお、本
発明のプリント配線板において、上記銅合金層は、該合
金層の上面側から下面側に向けて、銅濃度が20〜90 atm
%、より好ましくは40〜80 atm%の範囲で連続的にある
いは段階的に高くなる傾斜合金にて形成されていること
が望ましく、その銅合金層は膜厚が 0.5〜3μmである
ことが望ましい。
As a result of further intensive research aimed at achieving the above object, the inventor has conceived the present invention having the following contents as its gist. That is, the present invention is a printed wiring board in which a lower conductor circuit made of copper and an upper conductor circuit having a copper alloy layer on the lower side surface are electrically connected via the alloy layer, wherein the copper alloy layer is The printed wiring board is characterized in that the lower side of the alloy layer is formed of a graded alloy having a higher copper concentration. In the printed wiring board of the present invention, the copper alloy layer has a copper concentration of 20 to 90 atm from the upper surface side to the lower surface side of the alloy layer.
%, More preferably in the range of 40 to 80 atm%, it is desirable to be formed of a graded alloy that increases continuously or stepwise, and the thickness of the copper alloy layer is desirably 0.5 to 3 μm. .

【0010】そして、上記本発明にかかるプリント配線
板の製造方法は、銅製の下層導体回路上に、下側面に銅
合金層を有する上層導体回路をめっき処理にて形成する
に際し、下面側ほど銅濃度の高い傾斜合金からなる銅合
金層を、めっき浴の浴負荷を調整することにより形成す
ることを特徴とする。なお、銅濃度が20〜90 atm%の範
囲で連続的にあるいは段階的に変化する傾斜合金からな
る銅合金層を形成するには、めっき浴の浴負荷を0.2dm2
/lを超え1.5dm2/l以下の範囲に調整することが望ま
しい。
Further, in the method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention, when the upper conductor circuit having the copper alloy layer on the lower side surface is formed on the lower conductor circuit made of copper by plating, the copper is lowered toward the lower surface. It is characterized in that a copper alloy layer made of a highly concentrated gradient alloy is formed by adjusting the bath load of the plating bath. In order to form a copper alloy layer composed of a graded alloy in which the copper concentration changes continuously or stepwise in the range of 20 to 90 atm%, the bath load of the plating bath should be 0.2 dm 2
It is desirable to adjust to a range of over 1 / l and 1.5 dm 2 / l or less.

【0011】ここで本発明において、下層導体回路と
は、プリント配線板のコア基材に相対的に近い側の導体
回路をいい、逆に、上層導体回路とは、コア基材に相対
的に遠い側の導体回路をいう。下側面または下面側と
は、プリント配線板のコア基材に相対的に近い側をい
う。
In the present invention, the lower-layer conductor circuit means a conductor circuit on the side relatively close to the core substrate of the printed wiring board, and conversely, the upper-layer conductor circuit relatively to the core substrate. A conductor circuit on the far side. The lower side surface or the lower surface side means the side relatively close to the core base material of the printed wiring board.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明のプリント配線板は、銅製
の下層導体回路上に形成する銅合金層を、該合金層の下
面側ほど銅濃度の高い傾斜合金にて構成した点に特徴が
ある。これにより、樹脂絶縁層との密着性を維持しつ
つ、銅製の下層導体回路と銅合金層を有する上層導体回
路との密着性を改善した、ピール強度等の信頼性に優れ
るプリント配線板を提供することができる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The printed wiring board of the present invention is characterized in that the copper alloy layer formed on the lower conductor circuit made of copper is composed of a graded alloy having a higher copper concentration on the lower surface side of the alloy layer. is there. As a result, a printed wiring board having excellent adhesion such as peel strength, which improves the adhesion between the lower conductor circuit made of copper and the upper conductor circuit having a copper alloy layer while maintaining the adhesion with the resin insulation layer, is provided. can do.

【0013】ここで、本発明のプリント配線板におい
て、銅合金層は、該合金層の上面側から下面側に向け
て、銅濃度が20〜90 atm%、より望ましくは40〜80 atm
%の範囲で連続的にあるいは段階的に高くなることが好
ましい。この理由は、前記範囲内では、抵抗値およびピ
ール強度に影響を及ぼすことなく、当該銅合金層の下層
銅導体との密着性向上を図ることができるからである。
なお、ここでいう銅濃度の atm%は、全原子数に占める
銅原子数の存在割合を示すものであり、蛍光X線分析装
置で測定したものである。また、連続的とは、浴負荷を
調整した同一のめっき液で処理した場合に得られるめっ
き皮膜であり、銅合金層の下面側から上面側に向けて銅
濃度が必ず変化している状態である。段階的とは、Cu/
Niの液濃度が異なる2つ以上のめっき液で処理したとき
に得られるめっき皮膜であり、銅合金層の下面側から上
面側に向けて銅濃度が一定値をとりながら階段状に変化
する場合をいう。即ち、横軸に銅合金層の下側面からの
距離、縦軸に銅濃度を表したグラフを作成すると、前者
は右下がりの曲線または直線を描き、後者は右下がりの
階段状のグラフを描く。
Here, in the printed wiring board of the present invention, the copper alloy layer has a copper concentration of 20 to 90 atm%, more preferably 40 to 80 atm from the upper surface side to the lower surface side of the alloy layer.
It is preferable to increase continuously or stepwise in the range of%. The reason for this is that within the above range, it is possible to improve the adhesion to the lower-layer copper conductor of the copper alloy layer without affecting the resistance value and peel strength.
Incidentally, the atm% of the copper concentration mentioned here indicates the existence ratio of the number of copper atoms in the total number of atoms, and is measured by a fluorescent X-ray analyzer. In addition, continuous means a plating film obtained when treated with the same plating solution with adjusted bath load, and when the copper concentration always changes from the lower surface side to the upper surface side of the copper alloy layer. is there. Stepwise means Cu /
A plating film obtained when treated with two or more plating solutions with different Ni solution concentrations, where the copper concentration changes stepwise from the bottom side to the top side of the copper alloy layer while maintaining a constant value. Say. That is, if a graph is created in which the horizontal axis represents the distance from the lower side surface of the copper alloy layer and the vertical axis represents the copper concentration, the former draws a downward-sloping curve or straight line, and the latter draws a downward-sloping staircase graph. .

【0014】このような銅濃度勾配をもつ銅合金層は、
その膜厚が 0.5〜3μmであることが望ましい。この理
由は、前記膜厚が 0.5μm未満では銅合金層のピール強
度が低下し、一方、3μmを超えると銅合金層の析出に
時間がかかり経済的ではないからである。
The copper alloy layer having such a copper concentration gradient is
It is desirable that the film thickness is 0.5 to 3 μm. The reason is that if the film thickness is less than 0.5 μm, the peel strength of the copper alloy layer decreases, while if it exceeds 3 μm, the copper alloy layer takes a long time to deposit, which is not economical.

【0015】本発明のプリント配線板の製造方法は、上
記のような銅濃度勾配をもつ銅合金層を形成するため
に、めっき浴の浴負荷を、望ましくは0.2dm2/lを超え
1.5dm2/l以下の範囲に調整する点に特徴がある。これ
により、銅濃度が20〜90 atm%の範囲で連続的にあるい
は段階的に変化する、傾斜合金からなる銅合金層を銅製
の下層導体回路上に形成することができ、銅製の下層導
体回路と上層導体回路の密着性を改善した、ピール強度
等の信頼性に優れるプリント配線板を提供することがで
きる。なお、めっき浴の浴負荷とは、単位めっき液当た
り、被めっき材のどれだけの面積をめっきしなければな
らないかを示すものであり、 浴負荷=(被めっき導体回路の面積:m2 )/(めっき
液の量:l) で表わされる。
In the method for producing a printed wiring board of the present invention, in order to form the copper alloy layer having the above-mentioned copper concentration gradient, the bath load of the plating bath is preferably set to exceed 0.2 dm 2 / l.
The feature is that it is adjusted within the range of 1.5 dm 2 / l or less. As a result, a copper alloy layer made of a graded alloy in which the copper concentration changes continuously or stepwise in the range of 20 to 90 atm% can be formed on the copper lower layer conductor circuit, and the copper lower layer conductor circuit can be formed. It is possible to provide a printed wiring board having improved reliability such as peel strength, which has improved adhesion between the upper conductor circuit. The bath load of the plating bath indicates how much area of the material to be plated must be plated per unit plating solution, and bath load = (area of conductor circuit to be plated: m 2 ). / (Amount of plating solution: 1)

【0016】ここで、本発明方法において、めっき浴の
浴負荷を0.2dm2/lを超え1.5dm2/l以下の範囲に調整
する理由は、浴負荷が0.2dm2/l以下では、均一な組成
の銅合金層が析出し、一方、浴負荷が1.5dm2/lを超え
ると、銅合金層の基材側(下層導体側、下面側)のニッ
ケル量が多くなり、抵抗値の減少や銅合金層の下層銅導
体との密着性が低下してしまうからである。
[0016] In the present invention method, the reason for adjusting the range 0.2dm 2 / l beyond the 1.5 dm 2 / l or less a bath loading of the plating bath, at a bath load 0.2dm 2 / l or less, uniform If a copper alloy layer with a different composition is deposited, while the bath load exceeds 1.5 dm 2 / l, the amount of nickel on the base material side (lower conductor side, lower surface side) of the copper alloy layer will increase and the resistance value will decrease. This is because the adhesion with the lower copper conductor of the copper alloy layer is reduced.

【0017】本発明方法において、上記浴負荷に調整し
ためっき浴を用いる合金めっきは、以下の条件にて行う
ことが望ましい。すなわち、バブリング条件は、空気量
で40〜100 l/min とすることが望ましい。この理由
は、40l/min 未満では、めっき液の安定性が低下する
うえに、攪拌条件が十分ではない。一方 100l/min を
超えると、めっき液が安定過剰になり、合金めっきの析
出速度が低下してしまうからである。揺動条件は、1ス
トローク4cmで、7秒間に1回の割合で揺動することが
望ましい。この理由は、これよりも揺動条件が緩やかに
なると、バイヤホールやスルーホールへのめっき液の浸
透が悪くなり、これよりも揺動条件が激しくなると、基
板が撓んで互いに接触し易くなるからである。ショック
揺動条件は、変位長 5.5cmで、5秒間に1回の割合で揺
動することが望ましい。このようなショック揺動が必要
な理由は、めっき反応で発生したH2ガスが基板から離
脱するために、めっきのつき回りが良くなるからであ
る。なお、他のめっき条件については、常法に従って実
施することができ、特に限定されるものではない。
In the method of the present invention, alloy plating using a plating bath adjusted to the above-mentioned bath load is preferably performed under the following conditions. That is, it is desirable that the bubbling condition is 40 to 100 l / min in terms of air amount. The reason for this is that if it is less than 40 l / min, the stability of the plating solution is lowered and the stirring conditions are not sufficient. On the other hand, if it exceeds 100 l / min, the plating solution becomes excessively stable and the deposition rate of the alloy plating decreases. It is desirable that the rocking condition is that the stroke is 4 cm and the rocking is performed once every 7 seconds. The reason for this is that if the rocking conditions become gentler than this, the penetration of the plating solution into the via holes and through holes deteriorates, and if the rocking conditions become severer than this, the substrates will bend and will easily come into contact with each other. Is. The shock swing condition is a displacement length of 5.5 cm, and it is desirable to swing every 5 seconds. The reason why such shock swing is necessary is that the H 2 gas generated in the plating reaction is released from the substrate, so that the throwing power of the plating is improved. Note that other plating conditions can be carried out according to a conventional method and are not particularly limited.

【0018】以上説明したような本発明のプリント配線
板とその製造方法において、銅合金層を構成する銅以外
の金属は、銅と合金となるような金属の組み合わせであ
ればよく、特に、導通抵抗を低く維持する点から、ニッ
ケル、コバルト、銀、金およびスズから選ばれるいずれ
か少なくとも1種を用いることが望ましい。なかでも、
ニッケルおよびコバルトは、硬度に優れピール強度を改
善できることから、有利に用いることができる。
In the printed wiring board of the present invention and the method for manufacturing the same as described above, the metal other than copper constituting the copper alloy layer may be a combination of metals that form an alloy with copper. From the viewpoint of maintaining low resistance, it is desirable to use at least one selected from nickel, cobalt, silver, gold and tin. Above all,
Nickel and cobalt can be advantageously used because they have excellent hardness and can improve the peel strength.

【0019】また、本発明においては、より高密度でパ
ターン精度の高い配線を施すことから、その導体金属
は、電解めっきまたは無電解めっきが可能なものである
ことが好ましく、それ故に、Ni,Co,Cu,AuおよびAg、
ならびにSn,Pb, B,P,Cおよび遷移金属が用いられ
る。
Further, in the present invention, since a wiring having a higher density and a higher pattern accuracy is provided, it is preferable that the conductive metal be capable of electrolytic plating or electroless plating. Co, Cu, Au and Ag,
And Sn, Pb, B, P, C and transition metals are used.

【0020】なかでも、Cu−Ni−P合金は、強度と抵抗
特性に優れ、しかもそれのめっき浴では異常析出が少な
くめっき浴の安定性に優れる点で好適である。ここに、
Cuの供給源としては、水溶性のCu源であればよいが、好
ましくは、CuSO4, CuCl2, 酢酸銅, Cu(NO3)2が好適であ
る。Niの供給源としては、水溶源であればよいが、好ま
しくは、NiSO4, NiCl2, 酢酸ニッケル, Ni(NO3)2ある。
Among them, the Cu-Ni-P alloy is preferable in that it has excellent strength and resistance characteristics, and that its plating bath has less abnormal precipitation and the stability of the plating bath is excellent. here,
The source of Cu may be any water-soluble Cu source, but CuSO 4 , CuCl 2 , copper acetate, and Cu (NO 3 ) 2 are preferable. The supply source of Ni may be any water-soluble source, but NiSO 4 , NiCl 2 , nickel acetate, and Ni (NO 3 ) 2 are preferable.

【0021】本発明において、プリント配線板を構成す
る基板は、ガラスエポキシ基板、ポリイミド基板、ビス
マレイミドトリアジン樹脂基板、アルミナや窒化アルミ
ニウム、窒化珪素などのセラミック基板、鉄やアルミニ
ウム、ステンレスなどの金属基板などを用いることがで
きる。特に、基板の片面に銅箔を形成してなる銅張積層
板をエッチングして銅パターンを形成したものが最も一
般的に使用される。また、基板に無電解めっき用接着剤
層を形成し、これを粗化して接着剤層表面に粗化面を形
成し、ここに無電解めっきを施して銅パターンを形成し
たものも使用できる。
In the present invention, the substrate constituting the printed wiring board is a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide triazine resin substrate, a ceramic substrate of alumina, aluminum nitride, silicon nitride, etc., a metal substrate of iron, aluminum, stainless steel, etc. Etc. can be used. In particular, a copper clad laminate formed by forming a copper foil on one surface of a substrate is etched to form a copper pattern, which is most commonly used. It is also possible to use an adhesive layer for electroless plating formed on a substrate, roughening this to form a roughened surface on the surface of the adhesive layer, and subjecting this to electroless plating to form a copper pattern.

【0022】本発明において、プリント配線板の層間絶
縁層は、例えば、エポキシ樹脂やポリイミド樹脂、ビス
マレイミドトリアジン樹脂、フェノール樹脂などの熱硬
化性樹脂、これらの樹脂を感光化した感光性樹脂、ある
いはポリエーテルスルフォンなどの熱可塑性樹脂、熱可
塑性樹脂と熱硬化性樹脂の樹脂複合体、感光性樹脂と熱
可塑性樹脂の樹脂複合体を用いて構成される。このよう
な層間絶縁層は、その表面を酸化剤や酸、アルカリなど
で粗化処理することが有利であり、絶縁層表面に形成さ
れる凹凸面によって導体回路との密着性を改善すること
ができる。上記凹凸面の形成に有利な層間絶縁剤とし
て、無電解めっき用接着剤がある。この無電解めっき用
接着剤は、均一粗化ができ、かつ効果的なアンカー窪み
を形成できるという点から、酸あるいは酸化剤に対して
難溶性の耐熱性樹脂中に酸あるいは酸化剤に対して可溶
性の耐熱性樹脂粒子が分散されてなる接着剤が好適に用
いられる。即ち、酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹
脂粒子を粗化処理にて除去することにより、絶縁層表面
に蛸壺状のアンカーを形成でき、導体回路との密着性を
改善することができる。特に、L/S=50/50 (μm)以下
のファインパターンを得るためには、上記耐熱性樹脂粒
子は平均粒径10μm以下のものが望ましく、また、上記
樹脂絶縁層に形成するアンカー窪みの深さを15μm以下
にする必要があり、本発明にかかる合金めっきは、この
ような浅いアンカーでも高いピール強度(密着性)を得
ようとする場合に有効である。即ち、本発明にかかる合
金めっき、なかでもCu−Ni−P合金めっきは、析出性に
優れ、僅かの隙間にも侵入して微細なアンカー形状を有
する粗化面に対しても追従性よく析出する。それ故に、
合金めっきを施した後でも前記アンカー形状が残存し、
ここに二次めっきを施すことになるので、本発明にかか
る合金めっきは、上層の導体回路との密着性にも優れ
る。
In the present invention, the interlayer insulating layer of the printed wiring board is, for example, a thermosetting resin such as an epoxy resin, a polyimide resin, a bismaleimide triazine resin or a phenol resin, a photosensitive resin obtained by sensitizing these resins, or It is composed of a thermoplastic resin such as polyether sulfone, a resin composite of a thermoplastic resin and a thermosetting resin, or a resin composite of a photosensitive resin and a thermoplastic resin. It is advantageous to roughen the surface of such an interlayer insulating layer with an oxidizing agent, an acid, an alkali, etc., and it is possible to improve the adhesion with the conductor circuit by the uneven surface formed on the surface of the insulating layer. it can. An adhesive for electroless plating is an interlayer insulating agent advantageous for forming the uneven surface. This adhesive for electroless plating is capable of uniformly roughening and forming an effective anchor dent, so that it is resistant to acid or oxidant in heat-resistant resin that is hardly soluble in acid or oxidant. An adhesive agent in which soluble heat-resistant resin particles are dispersed is preferably used. That is, by removing the heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent by the roughening treatment, an octopus-shaped anchor can be formed on the surface of the insulating layer, and the adhesion with the conductor circuit can be improved. In particular, in order to obtain a fine pattern of L / S = 50/50 (μm) or less, it is desirable that the heat-resistant resin particles have an average particle size of 10 μm or less. The depth needs to be 15 μm or less, and the alloy plating according to the present invention is effective for obtaining high peel strength (adhesion) even with such a shallow anchor. That is, the alloy plating according to the present invention, in particular, the Cu-Ni-P alloy plating is excellent in the depositability, and is deposited even in a small gap with good followability even on a roughened surface having a fine anchor shape. To do. Therefore,
Even after applying the alloy plating, the anchor shape remains,
Since the secondary plating is applied here, the alloy plating according to the present invention is also excellent in the adhesiveness with the upper conductor circuit.

【0023】ここで、酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱
性樹脂としては、感光化した熱硬化性樹脂や感光化した
熱硬化性樹脂と、熱可塑性樹脂との複合体が望ましい。
感光化することにより、バイアホール形成用の開口部
が、露光、現像によって容易に形成できるからである。
また、熱可塑性樹脂と複合化することにより、靱性が向
上して、導体回路のピール強度向上、あるいはヒートサ
イクルによるバイアホール部分のクラック発生防止が実
現できるからである。具体的には、このような熱可塑性
樹脂との複合体としては、エポキシ樹脂をアクリル酸や
メタクリル酸などと反応させたエポキシアクリレート
と、ポリエーテルスルフォンとの複合体がよい。特に、
エポキシアクリレートは、全エポキシ基の20〜80%がア
クリル酸やメタクリル酸などと反応したものが望まし
い。
Here, as the heat-resistant resin which is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, a photosensitized thermosetting resin or a composite of a photosensitized thermosetting resin and a thermoplastic resin is desirable.
This is because the photosensitization can easily form the opening for forming the via hole by exposure and development.
In addition, by compounding with a thermoplastic resin, the toughness can be improved, the peel strength of the conductor circuit can be improved, and the generation of cracks in the via hole portion due to heat cycle can be prevented. Specifically, as a composite with such a thermoplastic resin, a composite of an epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid, methacrylic acid, or the like and a polyether sulfone is preferable. Especially,
The epoxy acrylate is preferably one in which 20 to 80% of all epoxy groups have reacted with acrylic acid or methacrylic acid.

【0024】前記耐熱性樹脂粒子としては、.平均粒
径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、.平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させて平均粒径を前記粉
末の3倍以上の大きさとした凝集粒子、.平均粒径が
10μm以下の耐熱性粉末樹脂粉末と、平均粒径が前記粉
末の1/5以下でかつ2μm以下の耐熱性樹脂粉末との
混合物、.平均粒径が2μm〜10μmの耐熱性樹脂粉
末の表面に、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末ま
たは無機粉末のいずれか少なくとも1種を付着させてな
る疑似粒子、から選ばれることが望ましい。これらは、
複雑なアンカーを形成できるからである。このような耐
熱性樹脂粒子を構成する樹脂としては、エポキシ樹脂や
アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹
脂)などを用いることができる。このうち、エポキシ樹
脂は、そのオリゴマーの種類、硬化剤の種類、架橋密度
を変えることにより、任意に酸や酸化剤に対する溶解度
を変えることができる。例えば、ビスフェノールA型エ
ポキシ樹脂オリゴマーをアミン系硬化剤で硬化処理した
ものは、酸化剤に溶解しやすい。一方、ノボラックエポ
キシ樹脂オリゴマーをイミダゾール系硬化剤で硬化させ
たものは、酸化剤に溶解しにくい。特に、アミノ樹脂粒
子を溶解除去する場合には、酸と酸化剤で交互に粗化処
理することが望ましい。
The heat-resistant resin particles include: Heat resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less ,. Average particle size is 2μ
Agglomerated particles obtained by aggregating a heat-resistant resin powder having a particle diameter of m or less to have an average particle size three times or more the size of the powder. Average particle size
A mixture of a heat-resistant resin powder having a particle diameter of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 1/5 or less and 2 μm or less of the powder ,. It is preferable that the heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm to 10 μm is selected from pseudo particles formed by adhering at least one of the heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less and the inorganic powder on the surface of the heat-resistant resin powder. . They are,
This is because a complicated anchor can be formed. Epoxy resin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin) or the like can be used as the resin constituting such heat-resistant resin particles. Among these, the epoxy resin can arbitrarily change the solubility in an acid or an oxidizing agent by changing the kind of the oligomer, the kind of the curing agent, and the crosslinking density. For example, a bisphenol A-type epoxy resin oligomer cured with an amine-based curing agent is easily dissolved in an oxidizing agent. On the other hand, a novolac epoxy resin oligomer cured with an imidazole-based curing agent is difficult to dissolve in an oxidizing agent. In particular, when the amino resin particles are dissolved and removed, it is desirable to carry out a roughening treatment alternately with an acid and an oxidizing agent.

【0025】本発明において、粗化処理に使用できる酸
としては、リン酸や塩酸、硫酸、有機酸(蟻酸や酢酸な
ど)などがあり、なかでも有機酸が望ましい。この理由
は、残留イオンが少なくマイグレーションが発生しにく
い。また、バイアホールから露出した内層導体回路を腐
食させにくいからである。酸化剤としては、クロム酸や
過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)などが望
ましい。
In the present invention, phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, organic acids (formic acid, acetic acid, etc.) and the like can be used as the acid used for the roughening treatment, and the organic acid is preferable. The reason is that there are few residual ions and migration is less likely to occur. Also, it is difficult to corrode the inner layer conductor circuit exposed from the via hole. As the oxidizing agent, chromic acid, permanganate (potassium permanganate, etc.) and the like are desirable.

【0026】なお、以上説明したような層間絶縁層は、
複数層で構成されてもよい。例えば、複数層にする場合
は次の形態がある。 (1)上層導体回路と下層導体回路の間に設けられてなる
層間絶縁層において、上層導体回路に近い側を、酸ある
いは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂中に酸あるいは酸化剤
に可溶性の耐熱性樹脂粒子が分散されてなる無電解めっ
き用接着剤とし、下層導体回路に近い側を、酸あるいは
酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂とした2層構造の層間絶縁
層。この構成では、無電解めっき用接着剤を粗化処理し
ても粗化しすぎて層間を短絡させてしまうことがない。
The interlayer insulating layer as described above is
It may be composed of a plurality of layers. For example, in the case of using a plurality of layers, there are the following modes. (1) In the interlayer insulating layer provided between the upper-layer conductor circuit and the lower-layer conductor circuit, the side close to the upper-layer conductor circuit is soluble in acid or oxidant in a heat-resistant resin that is hardly soluble in acid or oxidant. An interlayer insulating layer having a two-layer structure, which is an adhesive for electroless plating in which heat-resistant resin particles are dispersed, and a heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidant is used on the side close to the lower conductor circuit. With this configuration, even if the electroless plating adhesive is roughened, it is not roughened too much and short-circuiting between layers does not occur.

【0027】(2)上層導体回路と下層導体回路の間に設
けられてなる層間絶縁層において、下層導体回路間に充
填樹脂材を埋め込み、下層導体回路とこの充填樹脂材の
表面を同一平面になるようにし、この上に、酸あるいは
酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂層を形成し、さらにその上
に、酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂中に酸ある
いは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子が分散されてなる
無電解めっき用接着剤を形成した3層構造の層間絶縁
層。この構成では、下層導体回路間に充填樹脂材を充填
しているので、基板表面が平滑になり、厚さのバラツキ
により生じる現像不良はない。また、充填樹脂材にシリ
カなどの無機粒子を含有させることにより、硬化収縮を
低減して基板の反りを防止できる。なお、充填樹脂材と
しては無溶剤樹脂が望ましく、特に無溶剤エポキシ樹脂
が最適である。溶剤を使用すると、加熱した場合に残留
溶剤が気化して層間剥離の原因になるからである。
(2) In the interlayer insulating layer provided between the upper conductor circuit and the lower conductor circuit, a filling resin material is embedded between the lower conductor circuits, and the lower conductor circuit and the surface of the filling resin material are flush with each other. And a heat-resistant resin layer that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent is formed on top of this, and a heat-resistant resin that is soluble in an acid or an oxidizing agent in a heat-resistant resin that is poorly soluble in an acid or an oxidizing agent is further formed thereon. An interlayer insulating layer having a three-layer structure, in which an adhesive for electroless plating, in which functional resin particles are dispersed, is formed. In this configuration, since the filling resin material is filled between the lower layer conductor circuits, the surface of the substrate becomes smooth and there is no development failure caused by the variation in thickness. In addition, by including inorganic particles such as silica in the filler resin material, curing shrinkage can be reduced and the substrate warpage can be prevented. As the filling resin material, a solventless resin is desirable, and a solventless epoxy resin is particularly suitable. If a solvent is used, the residual solvent will evaporate when heated, causing delamination.

【0028】本発明において、プリント配線板を構成す
るめっきレジストとしては、市販品を用いることができ
るが、望ましくは、エポキシ樹脂をアクリル酸やメタク
リル酸などと反応させたエポキシアクリレートと、イミ
ダゾール硬化剤とからなる組成物、あるいはエポキシア
クリレートとポリエーテルスルホンとイミダゾール硬化
剤とからなる組成物が好適である。ここで、エポキシア
クリレートとポリエーテルスルホンとの比率は、50/50
〜80/20程度が望ましい。エポキシアクリレートが多す
ぎると可撓性が低下し、少なすぎると感光性、耐塩基
性、耐酸性および耐酸剤特性が低下するからである。ま
た、エポキシアクリレートは、全エポキシ基の20〜80%
がアクリル酸やメタクリル酸などと反応したものが望ま
しい。アクリル化率が高すぎるとOH基による親水性が高
くなって吸湿性が上がり、アクリル化率が低すぎると解
像度が低下するからである。さらに、基本骨格樹脂であ
るエポキシ樹脂としては、ノボラック型エポキシ樹脂、
例えばクレゾールノボラック型エポキシ樹脂およびフェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂が望ましい。架橋密度
が高く、硬化物の吸水率が 0.1%以下に調整でき、耐塩
基性に優れるからである。
In the present invention, a commercially available product can be used as the plating resist constituting the printed wiring board, but it is desirable to use an epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid or methacrylic acid, and an imidazole curing agent. And a composition comprising an epoxy acrylate, a polyether sulfone, and an imidazole curing agent are preferred. Here, the ratio of epoxy acrylate and polyether sulfone is 50/50.
Approximately 80/20 is desirable. This is because if the amount of epoxy acrylate is too large, the flexibility is lowered, and if it is too small, the photosensitivity, base resistance, acid resistance and acid resistance are lowered. Epoxy acrylate accounts for 20-80% of all epoxy groups.
It is desirable to react with acrylic acid or methacrylic acid. This is because if the degree of acrylate is too high, the hydrophilicity due to the OH group increases and the hygroscopicity increases, and if the degree of acrylate is too low, the resolution decreases. Furthermore, as the epoxy resin which is the basic skeleton resin, novolac type epoxy resin,
For example, cresol novolac type epoxy resin and phenol novolac type epoxy resin are desirable. This is because the crosslinking density is high, the water absorption of the cured product can be adjusted to 0.1% or less, and the base resistance is excellent.

【0029】本発明において、プリント配線板を構成す
るソルダーレジストとしては、市販品(例えば、タムラ
化研株式会社製、商品名:DSR-2200,1DX-5-5など)を用
いることができるが、望ましくは、フタロシアニングリ
ーンなどの色素およびイミダゾール硬化剤を含有させた
ノボラック型エポキシ樹脂のアクリレートが好適であ
る。
In the present invention, a commercially available product (eg, Tamura Kaken Co., Ltd., trade name: DSR-2200, 1DX-5-5) can be used as the solder resist constituting the printed wiring board. Desirably, an acrylate of a novolac type epoxy resin containing a dye such as phthalocyanine green and an imidazole curing agent is suitable.

【0030】[0030]

【実施例】【Example】

(実施例1) (1) 銅張積層板(図1(b) )にレジストフィルムを貼
り、露光現像してエッチングレジストを形成し、塩化第
二銅などのエッチング液でエッチング処理することによ
り、基板1の両面に導体回路2を形成した(図1(b) 参
照)。 (2) こうして形成した導体回路2の表面を常法にしたが
って黒化還元処理することにより、導体表面を粗面化し
た。 (3) 無溶剤のエポキシ樹脂(油化シェル製、E−807 )
100 重量部、シリカ(粒径 1.6μm)170 重量部、硬化
剤(四国化成製、2-E4MZ-CN )6重量部および消泡剤
1.5重量部を混合して絶縁材組成物(充填樹脂材3)と
し、これを前記(2)の処理を施した基板1の両面に、ロ
ールコーターを用いて塗布し、これを60℃,1時間で乾
燥し、さらに 150℃,10時間で硬化させた。その後、ベ
ルトサンダーにより、導体回路2の表面が1μm程度削
られるまで樹脂層を削り、基板表面を平滑化した(図1
(c) 参照)。 (4) このようにして露出した導体回路面に、銅−ニッケ
ル−リンからなる針状結晶の合金めっき(荏原製:イン
タープレートめっき)を施した。 (5) ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に
溶解したクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を70重量部、ポ
リエーテルスルフォン(PES )30重量部、イミダゾール
硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)4重量部、感
光性モノマーであるカプロラクトン変成トリス(アクロ
キシエチル)イソシアヌレート(東亜合成製、商品名:
アロニックスM325 )10重量部、光開始剤としてのベン
ゾフェノン(関東化学製)5重量部および光増感剤ミヒ
ラーケトン(関東化学製)0.5 重量部を、NMPを添加
しながら混合し、ホモディスパー攪拌機で粘度2000CPS
に調整し、続いて3本ロールで混練して層間絶縁剤を得
た。 (6) 一方、ジエチレングリコールジメチルエーテル(DM
DG)に溶解したクレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を70重
量部、ポリエーテルスルフォン(PES )30重量部、イミ
ダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)4重
量部、感光性モノマーであるカプロラクトン変成トリス
(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東亜合成製、
商品名:アロニックスM325 )10重量部、光開始剤とし
てのベンゾフェノン(関東化学製)5重量部および光増
感剤ミヒラーケトン(関東化学製)0.5 重量部の混合物
に、さらにメラミン樹脂粒子の平均粒径 5.5μmを35重
量部、平均粒径 0.5μmのものを5重量部を混合した
後、さらにNMPを添加しながら混合し、ホモディスパ
ー攪拌機で粘度2000CPS に調整し、続いて3本ロールで
混練して接着剤を得た。 (7) 前記(4) の処理を施した配線板に、最初に前記層間
絶縁剤をロールコータを用いて塗布して60℃で乾燥し、
次いで前記接着剤を塗布して60℃で乾燥させ、2層構成
の層間絶縁層4を形成した(図1(d) 参照)。 (8) 前記(7) の処理を施した配線板に、裏面に粘着剤の
付いたポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム
を貼り付けてO2から遮断し、100 μmφの黒円が印刷さ
れたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯 5
00mj/cm2で露光し、これをDMDGでスプレー現像処理する
ことにより、配線板上に100 μmφのバイアホールとな
る開口を形成した。さらに、この配線板を超高圧水銀灯
により約3000mj/cm2で露光し、100 ℃で1時間、その後
150℃で5時間の加熱処理(ポストベーク)を行うこと
により、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優
れた開口5を有する厚さ50μmの層間絶縁層4とした。
O2は光重合開始前のラジカルを失活させ、重合を阻害す
る。PETフィルムは、O2を遮断できる。 (9) こうして形成した層間絶縁層4の表面を、過マンガ
ン酸カリウム(pH=13)とリン酸を用いて交互に粗化処
理することにより、層間絶縁層4の表面に微細なアンカ
ーを多数有する粗化面を形成した(図1(e) 参照)。 (10)次に、無電解めっき金属の最初の析出に必要な触媒
核を付与した後、以下の手順にしたがって液状レジスト
を塗布し、露光現像を行った(図1(f) 参照)。 . DMDGに溶解したクレゾールノボラック型エポキシ樹
脂(日本化薬製、商品名:EOCN-103S )のエポキシ基25
%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量:
4000)、 PES(分子量:17000 )30重量部、イミダゾー
ル硬化剤(四国化成製、商品名:2PMHZ-PW)、感光性モ
ノマーであるアクリル化イソシアネート(東亜合成製商
品名:アロニックスM215 )、光開始剤としてのベンゾ
フェノン(関東化学製)および光増感剤ミヒラーケトン
(関東化学製)を、下記組成になるようにNMPを用い
て混合した後、ホモディスパー攪拌機で粘度3000CPS に
調整し、続いて3本ロールで混練して液状レジストを得
た。 樹脂組成物:感光性エポキシ/PES /M325/BP/MK/イ
ミダゾール=70/30/10/5/0.5 /5 .この液状レジストを前記(9) の層間絶縁層上にロー
ルコータを用いて塗布し、60℃で乾燥させて厚さ約30μ
mのレジスト層を形成した。 .そして、L/S=50/50の導体回路パターンが描画
されたマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯1000J
/cm2 で露光し、これをトリエチレングリコールジメチ
ルエーテル(DMTG)でスプレー現像処理することに
より、配線板上に導体回路パターン部の抜けためっき用
レジストを形成した。さらに超高圧水銀灯により6000J
/cm2 で露光し、1000℃で1時間、その後 150℃で3時
間の加熱処理を行うことにより、レジスト用樹脂を用い
た永久レジスト6を形成した。 (11)次に、永久レジスト6(めっきレジスト)を形成し
た配線板に銅−ニッケル−リンめっき(一次めっき)を
施した。なお、このめっき液の組成およびめっき条件を
表1および表2に示す。このようにして、図1に示すよ
うに、レジスト非形成部分であるバイアホール用開口部
5に厚さ約2μmの銅−ニッケル−リンめっきの薄膜7
を形成した(図1(f) 参照)。この合金めっき膜は、粗
化面に対する追従性に優れるため、粗化面の形状をその
ままトレースしてアンカーを形成しており(図2参
照)、この上層に銅めっきを施した場合でもその上層銅
導体は剥離しにくいことを確認した。この合金めっき膜
の析出時間と皮膜中の銅濃度の関係を調べた結果を図3
に示す。この図から明らかなように、銅濃度が、上側面
から下側面に向けて、60〜80atm%の範囲で連続的に変
化することがわかった。なお、銅濃度の測定は、蛍光X
線分析計によった。また同様の条件で、浴負荷を0.2dm2
/lにした場合を図3に、浴負荷を1.0dm2/lにした場
合を図4に示す。図3から明らかなように、浴負荷を0.
2dm2/lにすると、上面側と下面側とで銅濃度がほとん
ど変化しなくなることがわかる。一方、浴負荷を0.4dm2
/lにすると、銅濃度が上面側から下面側に向けて、め
っき膜厚さ0〜2μmで60〜80 atm%の範囲で連続的に
変化する。また、図4から明らかなように、浴負荷を1.
0dm2/lにすると、銅濃度が上面側から下面側に向け
て、めっき膜厚さ0〜2μmで40〜90 atm%の範囲で連
続的に変化することがわかる。
(Example 1) (1) By attaching a resist film to a copper clad laminate (FIG. 1 (b)), exposing and developing to form an etching resist, and performing an etching treatment with an etching solution such as cupric chloride, Conductor circuits 2 were formed on both sides of the substrate 1 (see FIG. 1 (b)). (2) The surface of the conductor circuit 2 thus formed was subjected to blackening reduction treatment according to a conventional method to roughen the conductor surface. (3) Solvent-free epoxy resin (Y-KA Shell, E-807)
100 parts by weight, 170 parts by weight of silica (particle size 1.6 μm), 6 parts by weight of curing agent (2-E4MZ-CN manufactured by Shikoku Kasei) and defoaming agent
1.5 parts by weight are mixed to form an insulating material composition (filling resin material 3), which is applied to both surfaces of the substrate 1 treated in (2) above by using a roll coater, and this is applied at 60 ° C. for 1 hour. It was dried for an hour and further cured at 150 ° C. for 10 hours. After that, the resin layer was ground by a belt sander until the surface of the conductor circuit 2 was ground by about 1 μm to smooth the surface of the substrate (FIG. 1).
(c)). (4) The conductor circuit surface thus exposed was subjected to needle-like crystal alloy plating (made by Ebara: interplate plating) made of copper-nickel-phosphorus. (5) 70 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), 30 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (Shikoku Kasei Co., Ltd., trade name: 2E4MZ-CN) 4 parts by weight, caprolactone modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (a product of Toagosei, trade name:
10 parts by weight of Aronix M325), 5 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator, and 0.5 parts by weight of photosensitizer Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) are added while adding NMP, and the viscosity is obtained with a homodisper stirrer. 2000 CPS
And then kneading with a three-roll mill to obtain an interlayer insulating agent. (6) On the other hand, diethylene glycol dimethyl ether (DM
DG) 70 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DG), 30 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole curing agent (Shikoku Kasei, trade name: 2E4MZ-CN) 4 parts by weight, caprolactone-modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (manufactured by Toagosei, a photosensitive monomer)
Product name: Aronix M325) 10 parts by weight, a mixture of 5 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.5 part by weight of photosensitizer Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku), and an average particle size of melamine resin particles. After mixing 35 parts by weight of 5.5 μm and 5 parts by weight of particles having an average particle size of 0.5 μm, NMP was further added, and the viscosity was adjusted to 2000 CPS with a homodisper stirrer, followed by kneading with a three-roll mill. I got an adhesive. (7) First, the wiring board that has been subjected to the treatment of (4) is coated with the interlayer insulating agent using a roll coater and dried at 60 ° C.,
Next, the adhesive was applied and dried at 60 ° C. to form an interlayer insulating layer 4 having a two-layer structure (see FIG. 1 (d)). (8) A photomask with a 100 μmφ black circle printed on it by attaching a polyethylene terephthalate (PET) film with an adhesive on the back side to the wiring board that has been subjected to the treatment in (7) above to block O 2 Super-high pressure mercury lamp 5
It was exposed at 00 mj / cm 2 and spray-developed with DMDG to form an opening to be a via hole of 100 μmφ on the wiring board. Furthermore, this wiring board was exposed with an ultra-high pressure mercury lamp at about 3000 mj / cm 2 , exposed at 100 ° C. for 1 hour, then
By performing a heat treatment (post-baking) at 150 ° C. for 5 hours, an interlayer insulating layer 4 having a thickness of 50 μm and having an opening 5 corresponding to a photomask film and having excellent dimensional accuracy was obtained.
O 2 deactivates radicals before the initiation of photopolymerization and inhibits polymerization. PET film can block O 2 . (9) By alternately roughening the surface of the interlayer insulating layer 4 thus formed using potassium permanganate (pH = 13) and phosphoric acid, a large number of fine anchors are formed on the surface of the interlayer insulating layer 4. To form a roughened surface (see FIG. 1 (e)). (10) Next, after providing the catalyst nuclei necessary for the first deposition of the electroless plated metal, a liquid resist was applied and exposed and developed according to the following procedure (see FIG. 1 (f)). . Epoxy group 25 of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: EOCN-103S) dissolved in DMDG
% Acrylated photosensitizing oligomer (Molecular weight:
4000), PES (molecular weight: 17,000) 30 parts by weight, imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Kasei, product name: 2 PMHZ-PW), acrylated isocyanate as a photosensitive monomer (product name: Aronix M215 manufactured by Toagosei), photo initiation Benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.) and photosensitizer Michler Ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.) were mixed with NMP so that the composition shown below was obtained, and the viscosity was adjusted to 3000 CPS with a homodisper stirrer. The mixture was kneaded with a roll to obtain a liquid resist. Resin composition: Photosensitive epoxy / PES / M325 / BP / MK / imidazole = 70/30/10/5 / 0.5 / 5. This liquid resist is applied on the interlayer insulating layer of (9) using a roll coater and dried at 60 ° C to a thickness of about 30μ.
m of resist layers were formed. . Then, a mask film on which a conductor circuit pattern of L / S = 50/50 is drawn is brought into close contact, and the ultra high pressure mercury lamp 1000J
/ Exposed with cm 2, by which the spraying developed with triethylene glycol dimethyl ether (DMTG), to form a plating resist dislodgement conductor circuit pattern portion on the wiring board. Furthermore, 6000J by ultra-high pressure mercury lamp
/ Exposed with cm 2, 1 hour at 1000 ° C., a heating treatment was performed at subsequent 3 hours at 0.99 ° C., to form a permanent resist 6 using a resist resin. (11) Next, the wiring board having the permanent resist 6 (plating resist) formed thereon was subjected to copper-nickel-phosphorus plating (primary plating). The composition and plating conditions of this plating solution are shown in Tables 1 and 2. In this way, as shown in FIG. 1, a copper-nickel-phosphorus-plated thin film 7 having a thickness of about 2 μm is formed in the via hole opening 5 which is a non-resist formation portion.
Was formed (see FIG. 1 (f)). Since this alloy plating film has excellent followability to the roughened surface, the anchor is formed by tracing the shape of the roughened surface as it is (see Fig. 2). Even when copper plating is applied to this upper layer, the upper layer It was confirmed that the copper conductor was difficult to peel off. Fig. 3 shows the results of an examination of the relationship between the deposition time of this alloy plating film and the copper concentration in the film.
Shown in As is clear from this figure, it was found that the copper concentration continuously changes from the upper surface to the lower surface in the range of 60 to 80 atm%. The copper concentration was measured by fluorescence X
According to a line analyzer. Also, under the same conditions, the bath load is 0.2 dm 2
/ L is shown in FIG. 3, and the bath load is 1.0 dm 2 / l in FIG. As is clear from FIG. 3, the bath load was set to 0.
It can be seen that when the concentration is 2 dm 2 / l, the copper concentration hardly changes between the upper surface side and the lower surface side. On the other hand, the bath load is 0.4 dm 2.
When it is set to 1 / l, the copper concentration continuously changes from the upper surface side to the lower surface side in the range of 60 to 80 atm% at the plating film thickness of 0 to 2 μm. Moreover, as is clear from FIG. 4, the bath load was 1.
It can be seen that when the concentration is 0 dm 2 / l, the copper concentration continuously changes from the upper surface side to the lower surface side in the range of 40 to 90 atm% at the plating film thickness of 0 to 2 μm.

【0031】[0031]

【表1】 [Table 1]

【0032】[0032]

【表2】 [Table 2]

【0033】(12)次に、めっきを施した配線板を水洗
し、その配線板に付着しためっき液を洗い流した。次い
で、ガラスエポキシ板を酸性溶液で処理する活性化処理
と同じ処理によって、銅−ニッケル−リンめっき薄膜7
表層の酸化皮膜を除去した。その後、Pd置換を行うこと
なく、銅−ニッケル−リン薄膜7の上に二次めっきを施
した(図1(g) 参照)。ここで、二次めっき用のめっき
浴としては、TEA を錯化剤として含む二次めっき用の無
電解銅めっき浴、具体的には表3に示す組成のめっき浴
を用いた。めっき条件は、めっき浴の温度:50〜70℃、
めっき浸漬時間:90〜360 分とし、めっき析出速度は6
μm/時間であった。このようにして、一次めっき膜で
ある銅−ニッケル−リンめっき薄膜7の表面に二次めっ
き膜である銅めっき膜8を形成した。即ち、2種の金属
層からなる導体パターンとバイアホール(上層導体回
路)が得られた。
(12) Next, the plated wiring board was washed with water and the plating solution adhering to the wiring board was washed away. Then, the copper-nickel-phosphorus plating thin film 7 is subjected to the same treatment as the activation treatment of treating the glass epoxy plate with an acidic solution.
The surface oxide film was removed. Then, secondary plating was performed on the copper-nickel-phosphorus thin film 7 without performing Pd substitution (see FIG. 1 (g)). Here, as the plating bath for secondary plating, an electroless copper plating bath for secondary plating containing TEA as a complexing agent, specifically, a plating bath having the composition shown in Table 3 was used. The plating conditions are: plating bath temperature: 50-70 ° C
Plating immersion time: 90 to 360 minutes, plating deposition rate is 6
It was μm / hour. In this way, the copper plating film 8 as the secondary plating film was formed on the surface of the copper-nickel-phosphorus plating thin film 7 as the primary plating film. That is, a conductor pattern composed of two kinds of metal layers and a via hole (upper layer conductor circuit) were obtained.

【0034】[0034]

【表3】 [Table 3]

【0035】(実施例2)基本的には実施例1と同様で
あるが、一次めっき液として表4の銅とコバルトの混合
めっき液を用い、表5に示すめっき条件にて一次めっき
を施した。得られた一次めっき皮膜は、Cu−Co−Pの合
金であり、その銅濃度は、上面側から下面側に向けて60
〜80 atm%の範囲で連続的に変化することがわかった。
Example 2 Basically the same as in Example 1, except that the mixed plating solution of copper and cobalt shown in Table 4 was used as the primary plating solution, and the primary plating was performed under the plating conditions shown in Table 5. did. The obtained primary plating film is a Cu-Co-P alloy, and its copper concentration is 60 from the upper surface side to the lower surface side.
It was found to change continuously in the range of ~ 80 atm%.

【0036】[0036]

【表4】 [Table 4]

【0037】[0037]

【表5】 [Table 5]

【0038】(比較例)基本的には実施例1と同様であ
るが、一次めっき液の浴負荷を0.1dm2/lとして一次め
っきを施した。その結果、実施例1に示す浴負荷を0.2d
m2/lの場合と同様に、銅濃度がほとんど均一であっ
た。
(Comparative Example) Basically the same as in Example 1, but the primary plating was performed with the bath load of the primary plating solution being 0.1 dm 2 / l. As a result, the bath load shown in Example 1 was 0.2d.
Similar to the case of m 2 / l, the copper concentration was almost uniform.

【0039】このようにして実施例1,2および比較例
1で得られたプリント配線板について、導体どうしの密
着性を調べるために、ヒートサイクル試験とピール強度
測定を行った。ヒートサイクル試験は、−65℃(15分)
→25℃(15分)→ 125℃(15分)を1サイクルとし、バ
イアホール部分の断線状態を光学顕微鏡で観察し、断線
を確認したサイクル数で評価した。また、ピール強度
は、JIS-C-6481に準拠して測定し評価した。
With respect to the printed wiring boards obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 in this manner, a heat cycle test and a peel strength measurement were conducted in order to examine the adhesion between conductors. Heat cycle test is -65 ° C (15 minutes)
→ 25 ° C (15 minutes) → 125 ° C (15 minutes) was set as one cycle, and the disconnection state of the via hole was observed with an optical microscope, and the number of cycles at which disconnection was confirmed was evaluated. The peel strength was measured and evaluated according to JIS-C-6481.

【0040】ヒートサイクル試験とピール強度測定の結
果を表6に併せて示す。この表に示す結果から明らかな
ように、本発明のプリント配線板の構成によれば、ヒー
トサイクル特性を大幅に改善できることを確認した。
The results of the heat cycle test and peel strength measurement are also shown in Table 6. As is clear from the results shown in this table, it was confirmed that the structure of the printed wiring board of the present invention can significantly improve the heat cycle characteristics.

【0041】[0041]

【表6】 [Table 6]

【0042】[0042]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、銅
製の下層導体回路上に形成する銅合金層を、下面側ほど
銅濃度の高い傾斜合金にて構成したので、層間絶縁層と
の密着性を維持しつつ、銅製の下層導体回路と銅合金層
を有する上層導体回路との密着性を改善することができ
る。これにより、より高密度でパターン精度の高い配線
においても、ヒートサイクル特性を大幅に改善したプリ
ント配線板を安定して提供することできる。
As described above, according to the present invention, since the copper alloy layer formed on the lower conductor circuit made of copper is composed of a graded alloy having a higher copper concentration on the lower surface side, it is possible to form an interlayer insulating layer. The adhesiveness between the lower conductor circuit made of copper and the upper conductor circuit having the copper alloy layer can be improved while maintaining the adhesiveness. As a result, it is possible to stably provide a printed wiring board having significantly improved heat cycle characteristics even in wiring having higher density and higher pattern accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明プリント配線板の一製造工程を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing one manufacturing process of a printed wiring board of the present invention.

【図2】本発明プリント配線板にかかる層間絶縁層の粗
化面に形成された合金めっき膜の (a)平面組織と (b)断
面組織を示す顕微鏡写真である。
FIG. 2 is a micrograph showing (a) a planar structure and (b) a cross-sectional structure of an alloy plating film formed on a roughened surface of an interlayer insulating layer according to the printed wiring board of the present invention.

【図3】合金めっき膜の析出時間と皮膜中の銅濃度の関
係を示すグラフである。
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the deposition time of an alloy plating film and the copper concentration in the film.

【図4】同じく合金めっき膜の析出時間と皮膜中の銅濃
度の関係を示すグラフである。
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the deposition time of the alloy plating film and the copper concentration in the film.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 導体回路(下層導体回路) 3 充填樹脂材 4 層間絶縁層(接着剤層) 5 バイアホール用開口 6 めっきレジスト 7 Cu−Ni−P合金めっき薄膜(銅合金層、一次めっき
皮膜) 8 Cuめっき膜(二次めっき皮膜)
1 Substrate 2 Conductor Circuit (Lower Layer Conductor Circuit) 3 Filling Resin Material 4 Interlayer Insulating Layer (Adhesive Layer) 5 Opening for Via Hole 6 Plating Resist 7 Cu-Ni-P Alloy Plating Thin Film (Copper Alloy Layer, Primary Plating Film) 8 Cu plating film (secondary plating film)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 銅製の下層導体回路と、下側面に銅合金
層を有する上層導体回路とが、該合金層を介して電気的
に接続されているプリント配線板において、 前記銅合金層が、該合金層の下面側ほど銅濃度の高い傾
斜合金にて形成されていることを特徴とするプリント配
線板。
1. A printed wiring board in which a lower conductor circuit made of copper and an upper conductor circuit having a copper alloy layer on a lower side surface are electrically connected through the alloy layer, wherein the copper alloy layer comprises: A printed wiring board, wherein the lower surface side of the alloy layer is formed of a graded alloy having a higher copper concentration.
【請求項2】 上記銅合金層は、該合金層の上面側から
下面側に向けて、銅濃度が20〜90 atm%の範囲で連続的
にあるいは段階的に高くなる傾斜合金にて形成されてい
ることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線板。
2. The copper alloy layer is formed of a graded alloy in which the copper concentration increases continuously or stepwise in the range of 20 to 90 atm% from the upper surface side to the lower surface side of the alloy layer. The printed wiring board according to claim 1, wherein:
【請求項3】 上記銅合金層は、膜厚が 0.5〜3μmで
ある請求項1または2に記載のプリント配線板。
3. The printed wiring board according to claim 1, wherein the copper alloy layer has a film thickness of 0.5 to 3 μm.
【請求項4】 プリント配線板の製造方法において、銅
製の下層導体回路上に、下側面に銅合金層を有する上層
導体回路をめっき処理にて形成するに際し、下面側ほど
銅濃度の高い傾斜合金からなる銅合金層を、めっき浴の
浴負荷を調整することにより形成することを特徴とする
プリント配線板の製造方法。
4. A method of manufacturing a printed wiring board, wherein when forming an upper conductor circuit having a copper alloy layer on a lower side surface on a lower conductor circuit made of copper by plating, a gradient alloy having a higher copper concentration on the lower surface side. Is formed by adjusting the bath load of the plating bath.
【請求項5】 めっき浴の浴負荷を 0.2m2/lを超え1.
5dm2/l以下の範囲に調整することにより、銅濃度が20
〜90 atm%の範囲で連続的にあるいは段階的に変化する
傾斜合金からなる銅合金層を形成することを特徴とする
請求項4に記載の製造方法。
5. The plating load of the plating bath exceeds 0.2 m 2 / l.
By adjusting the range to 5dm 2 / l or less, the copper concentration becomes 20
The manufacturing method according to claim 4, wherein the copper alloy layer is formed of a graded alloy that changes continuously or stepwise in the range of 90 to 90 atm%.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8533943B2 (en) 1998-09-28 2013-09-17 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for producing the same

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